NL8700851A - Werkwijze en inrichting voor het detecteren van zeer lage concentraties van een in een meetmedium aanwezige chemische component onder toepassing van oppervlakte-plasmonresonantie en elektrochemisch gestimuleerde adsorptie. - Google Patents
Werkwijze en inrichting voor het detecteren van zeer lage concentraties van een in een meetmedium aanwezige chemische component onder toepassing van oppervlakte-plasmonresonantie en elektrochemisch gestimuleerde adsorptie. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8700851A NL8700851A NL8700851A NL8700851A NL8700851A NL 8700851 A NL8700851 A NL 8700851A NL 8700851 A NL8700851 A NL 8700851A NL 8700851 A NL8700851 A NL 8700851A NL 8700851 A NL8700851 A NL 8700851A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- metal layer
- measuring
- measuring device
- detector
- measured
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 238000002198 surface plasmon resonance spectroscopy Methods 0.000 title claims description 15
- 239000000126 substance Substances 0.000 title claims description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 51
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 51
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 11
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 7
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 6
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 5
- 238000005102 attenuated total reflection Methods 0.000 claims description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000010790 dilution Methods 0.000 claims description 2
- 239000012895 dilution Substances 0.000 claims description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 13
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 10
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 9
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M potassium iodide Chemical compound [K+].[I-] NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 229910021607 Silver chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002156 adsorbate Substances 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 1
- 239000003480 eluent Substances 0.000 description 1
- 238000004401 flow injection analysis Methods 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 238000004128 high performance liquid chromatography Methods 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- OTYBMLCTZGSZBG-UHFFFAOYSA-L potassium sulfate Chemical compound [K+].[K+].[O-]S([O-])(=O)=O OTYBMLCTZGSZBG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052939 potassium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000012266 salt solution Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M silver monochloride Chemical compound [Cl-].[Ag+] HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 210000002700 urine Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
- G01N21/553—Attenuated total reflection and using surface plasmons
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/74—Optical detectors
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S436/00—Chemistry: analytical and immunological testing
- Y10S436/805—Optical property
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
7 * ï - N.O. 34293 Λ *
Werkwijze en inrichting voor het detecteren van zeer lage concentraties van een in een meetmedium aanwezige chemische component onder toepassing van oppervlakte-plasmonresonantie en elektrochemisch gestimuleerde adsorptie.
5
Aanvraagster noemt als uitvinder: drs J.J.F. van Veen
De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het detecteren van zeer lage concentraties van tenminste een in een 10 meetmedium aanwezige chemische component in een meetcel met als deel-wand daarvan een metaallaag met een uitwendig glasprisma, onder toepassing van het "oppervlakte-plasmonresonantie" effekt, waarbij via het prisma een in het invalsvlak gepolariseerde lichtstraal ingekoppeld wordt en na verzwakte totale reflektie uitgekoppeld wordt en de inten-15 siteit daarvan gemeten wordt waarbij de positie van de resonantiekromme daarin, onder invloed van de door de component veroorzaakte verandering in de diëlektrische constante van het meetmedium nabij de metaallaag, gemeten wordt.
De uitvinding heeft tevens betrekking op een inrich-20 ting voor het detecteren van zeer lage concentraties van tenminste een in een meetmedium aanwezige chemische component onder toepassing van het "oppervlakte-plasmonresonantie" effekt, welke meetinrichting voorzien is van een meetcel voor het meetmedium met een metaallaag als deelwand met een uitwendig glasprisma, een monochromatische lichtbron 25 voor het via het prisma inkoppelen van een, in het invalsvlak gepolariseerde lichtstraal om in de metaallaag een oppervlakte-plasmongolf aan te slaan, en een detector voor het meten van de bij verzwakte totale reflektie in de uitgekoppelde lichtstraal optredende intensiteit, waarbij de positie van de resonantiekromme daarin onder invloed van de door 30 de component veroorzaakte verandering in de diëlektrische constante van het meetmedium nabij de metaallaag verandert.
Het is uit het artikel "Surface plasmon resonance for gas detection and biosensing" van C. Nylander, B. Liedberg, I. Lundström in "Sensors and actuators" 4 (1983), biz. 299-304 bekend 35 om voor gasdetectie gebruik te maken van het zogenaamde oppervlakte-plasmonresonantie effekt. Hiermee kunnen kleine variaties in de diëlektrische constante van een gasvormig medium gemeten worden. Deze variaties zijn bijvoorbeeld een gevolg van de verandering in de samen- 8 7 C f ' ; 2 * stelling van het medium.
Bij de in bovengenoemd artikel beschreven werkwijze en inrichting kan een oppervlakte-plasmongolf in de dunne metaallaag, die een deelwand van de meetcel vormt, worden aangeslagen met behulp 5 van een in het invalsvlak gepolariseerde lichtstraal. De dikte van de metaallaag of film op het prisma moet zeer dun zijn. De excitatie vindt plaats bij een bepaalde invalshoek hetgeen kan worden waargenomen door de intensiteit van het verzwakte, totaal gereflekteerde licht te detecteren bij een veranderende invalshoek. Een verandering in de samenstel-10 ling van het meetmedium of in het gehalte van de te onderzoeken component in het meetmedium heeft een verandering in de diëlektrische constante tot gevolg waardoor de resonantiekromme verschuift naar een andere resonante invalshoek. Dit kan worden gebruikt voor een kwantitatieve detectie waarbij de intensiteit van het gereflekteerde licht 15 onder een vaste hoek gemeten wordt. De meest gevoelige wijze van detectie is om die intensiteit te meten op de flank van de resonantiekromme aangezien een verschuiving van de oppervlakte-plasmon resonantiekromme de grootste signaalverandering zal veroorzaken.
Een probleem bij bovengenoemde bekende werkwijze en 20 inrichting is de geringe selektiviteit.
De uitvinding beoogt dit nadeel te ondervangen en een werkwijze en inrichting aan te geven waarmee zeer geringe concentraties van componenten in een meetoplossing of medium op selektieve wijze kunnen worden gedetecteerd.
25 Dit wordt bij een werkwijze van de in de aanhef ge noemde soort volgens de uitvinding aldus bereikt dat een instelbare potentiaal tussen de als werkelektrode fungerende metaallaag en een refe-rentie-elektrode in de meetcel wordt aangelegd, waardoor een selektieve adsorptie van de component en een verhoogde concentratie daarvan aan de 30 metaallaag optreedt, zodat de verandering van de diëlektrische constante van het meetmedium nabij de metaallaag groter is en daardoor de genoemde concentratie gevoeliger meetbaar is.
Tevens wordt dit bij een inrichting van de in de aanhef genoemde soort volgens de uitvinding aldus bereikt dat de meetcel 35 bevat een referentie-elektrode en een tegenelektrode tegenover de als werkelektrode fungerende metaallaag, waarbij een instelbare potentiaal wordt aangelegd tussen de metaallaag en de referentie-elektrode om een selektieve adsorptie van de stof en een verhoogde concentratie daarvan aan de metaallaag teweeg te brengen zodat de verandering van de diëlek- “'· V- Λ v * U . ‘V - - ï % 3 5· trische constante van het meetmedium nabij de metaallaag groter is en daardoor de genoemde concentratie gevoeliger meetbaar is.
Bij een voordelige uitvoering volgens de uitvinding kan jodide met name op zeer selektieve en gevoelige wijze gedetecteerd 5 worden. Dit laatste is vooral van belang doordat jodide in voedingsmiddelen, urine of bloedplasma voorkomt in lage concentratie in het sub-ppb-gebied.
De uitvinding zal aan de hand van enkele uitvoeringsvormen nader worden toegelicht met verwijzing naar de tekeningen, waar-10 in dezelfde onderdelen in de verschillende figuren met dezelfde verwij-zingscijfers zijn aangeduid, en waarin: figuur 1 een schets toont van de bekende oppervlak-te-plasmongolfexcitatie in Kretschmann-configuratie; figuur 2 een oppervlakte-plasmonresonantie(OPR)kromme 15 toont die de gereflekteerde intensiteit als funktie van de invalshoek van een lichtstraal weergeeft voor twee waarden van de diëlektrische constante in het meetmedium; figuur 3 een schematische weergave van de meetinrich-ting volgens de uitvinding toont; 20 figuur 4 een uitvoeringsvoorbeeld toont van de meet- inrichting als doorstroomdetector: figuren 5a en 5b grafieken tonen resp. van de reso-nantiehoek versus potentiaal van twee oplossingen en van de resonantie-kromme bij één potentiaal van dezelfde oplossingen; en 25 figuur 6a een perspectivisch aanzicht toont van de meetinrichting met een arraygewijze uitvoering van de metaallaag en van de lichtbron-lichtdetectoropstelling; en figuur 6b een bovenaanzicht toont van de array van metaallagen en hun aansluitingen.
De oppervlakte-plasmonresonantie is een sinds kort 30 bekende optische techniek in het gebied van onderzoek naar chemische componenten. Onder de juiste omstandigheden zal de reflektiviteit van een dunne metaallaag gevoelig zijn voor variaties in het medium aan de ene zijde daarvan. Een oppervlakte-plasmongolf kan worden beschouwd als een dichtheidsgolf van het vrije elektronenplasma. Het type plasmongolf 35 dat in dit verband van belang is is de niet-stralende oppervlakte-plasmongolf. Een dergelijke oppervlakte-plasmongolf kan alleen door invallend monochromatisch licht aangeslagen worden dat in het invalsvlak is gepolariseerd. In dit verband wordt verwezen naar figuur 1. Hierin is met 1 een metaallaag, met 2 een glasprisma, met 3 een meetmedium of
87 C
¥ meetoplossing, met I0 een ingekoppelde lichtstraal en met Ir de na reflektie uitgekoppelde lichtstraal aangeduid.
Bij een bepaalde invalshoek van het licht, ingekoppeld via een prisma, zullen oppervlakte-plasmonen resonant aangeslagen 5 worden. Dit wordt waargenomen bij de meting van de intensiteit van het verzwakte totaal gereflekteerde licht als een zeer scherp minimum van de lichtreflektie wanneer de invalshoek gevarieerd wordt.
Nu heeft een verandering in het gehalte van de te onderzoeken verbinding of component in een medium een verandering in de 10 diëlektrische constante (van ij naar £2) tot gevolg waardoor de gehele resonantiekromme verschuift naar een andere resonante invalshoek (figuur 2). Deze positiewijziging zal alleen optreden bij verandering in de diëlektrische constante op zeer korte afstand van de metaallaag in de orde van de exitatiegolflengte.
15 Ofschoon men met deze werkwijze kleine variaties in de diëlektrische constante van een medium kan meten is de selektiviteit zeer gering of zelfs afwezig. Door gebruik te maken van elektrochemisch gestimuleerde adsorptie van de te onderzoeken component kan de selektiviteit verhoogd worden. Door een bepaald potentiaalverschil, gerela-20 teerd aan de te meten component, tussen de metaallaag en de meetoplossing aan te brengen kan de te meten component aan het metaaloppervlak geadsorbeerd worden. Daar de adsorptie veelal potentiaalafhankelijk is wordt hiermee een zekere selektiviteit verkregen. Aangezien de opper-vlakte-plasmonresonantie zich aan het grensvlak metaal-oplossing af-25 speelt zal door de plaatselijke concentratieverhoging, die optreedt bij adsorptie, tevens de gevoeligheid van de meting sterk toenemen.
Voor de genoemde elektrochemisch gestimuleerde adsorptie is het noodzakelijk dat het meetmedium geleidend is. Daartoe kan met een elektrolytoplossing gewerkt worden waarin de te onderzoeken 30 component of het adsorbaat is opgelost.
In figuur 3 is schematisch een oppervlakte-plasmon-resonantie meetinrichting met potentiaalinstelling aangegeven. Aan het oppervlak van de metaallaag 1 wordt onder toepassing van de Kretschmann-configuratie een oppervlakte-plasmongolf aangeslagen. De 35 aan het prisma 2 verbonden metaallaag is via een (niet-aangegeven) met goud gecoate messingring en een afsluitring gekoppeld aan de meetcel 6. In deze meetcel bevindt zich het meetmedium 3. Met behulp van een referentie-elektrode 9 (bijv. Ag/AgCl of SCE) met interne zoutbrug wordt een referentiepotentiaal Ure£ gevormd. Het potentiaalver- P V ^ A *; V j: - - ' - .· 1 h 5 % schil wordt aangelegd tussen de als werkelektrode fungerende metaallaag en de referentie-elektrode. Een eventuele stroomdoorgang vindt plaats tussen de werkelektrode 1 en de tëgenelektrode 10 van platina.
Verder geeft 12 een gepolariseerde laser aan, 13 een 5 grijsfilter, 14 een stappenmotor om de rotatietafel 15 met de daarop aangebrachte meetcel in de Kretschmann-configuratie te doen draaien. De drie eerdergenoemde elektroden zijn aangesloten op een potentiostaat 16 die gevoed wordt door een funktiegenerator 21. Het gereflekteerde licht passeert een lens 17 en valt in op de detector 18 die beide bevestigd 10 zijn aan de rotatie-as van de rotatietafel. Het uitgangssignaal van de detector 18 wordt toegevoerd aan een radiometer 19 die op zijn beurt een recorder 20 stuurt.
In figuur 4 is een voorbeeld gegeven van een meetin-richting volgens de uitvinding die als doorstroomdetector is uitge-15 voerd. Via de leidingen 30 en 31 wordt het meetmedium, waarin de te onderzoeken component is opgenomen, toegevoerd en afgevoerd. De meetcel of het meetvolume 6 wordt aan een zijde weer begrensd door de als werkelektrode fungerende metaallaag 1. Deze metaallaag is op èen micros-coopglaasje 5 aangebracht dat via immersie-olie 4 aan het prisma 2 is 20 gekoppeld. Met 7 is een afsluitring aangegeven en met 8 is een messing aansluitcontact van de metaallaag aangegeven. Met 9 en 10 zijn weer de referentie-elektrode en de tegenelektrode aangegeven.
Het resultaat van een aantal metingen zal nu besproken worden. Er is steeds gemeten met metaallagen of films van optimale 25 dikte, d.w.z. films waarvan de oppervlakte-plasmonresonantie kromme zo smal en diep mogelijk is. Voor goud bedraagt deze dikte ca. 450 A en voor zilver ca. 400 A. Plasmonresonantie krommen opgenomen aan waterige oplossingen zijn minder diep, zijn breder en hebben een grotere reso-nantiehoek. Ondanks de wat smallere resonantiepiek bij zilver heeft het 30 voordeel om goud als het elektrodemateriaal voor de oppervlakte-plasmonresonantie meting te gebruiken daar goud inerter is dan zilver. Dit is met name bij hoge elektrodepotentialen het geval. Uit metingen blijkt duidelijk de potentiaalafhankelijkheid van de 0FR kromme. Poten-tiaalverandering beïnvloedt namelijk de verdeling van de elektronen-35 dichtheid aan het grensvlak metaal-meetmedium en de struktuur van de ionogene dubbellaag.
Metingen aan verschillende zoutoplossingen onder toepassing van een goudfilm en van een zilverfilm als de metaallaag vertonen het genoemde potentiaalafhankelijke effekt.
f:7; ' ' ; .
» 6 i*
Adsorptie van jodide aan een goudfilm: metingen zijn uitgevoerd met verschillende oplossingen van kaliumjodide in 0,1 M.K2SO4. In figuur 5a is de resonantiehoek uitgezet als funktie van de potentiaal voor een oplossing van 10“^ M.KI in 5 0,1 M.K2SO4 (kromme a) en voor een 0,1 M.K2SO4 oplossing zonder KI (kromme b). Bij alle meetseries werden met jodide-oplossingen grotere veranderingen van 9res met UgQg waargenomen dan in het geval met oplossingen zonder jodide. Deze verandering werd groter bij toenemende concentratie van jodide. In figuur 5b zijn voor dezelfde 10 oplossing de beide resonantiekrommen aangegeven voor één potentiaal.
De bij de metingen bepaalde minimale concentratie van jodide bedroeg ca. 20 ppb. Op grond van verdere meetresultaten en op basis van berekeningen kan worden gesteld dat de werkwijze volgens de uitvinding nog gevoeliger is dan hierboven is aangegeven. Onder 15 dezelfde omstandigheden als de jodidemetingen werden geen signaalveranderingen gemeten voor oplossingen van 10~3 m.KCI of KBr, waarmee de buitengewone selektiviteit van deze techniek werd aangetoond.
De geschetste werkwijze en inrichting kan zoals ver-20 meld voor de bepaling van halogeniden, in het bijzonder jodide, maar ook voor meer stoffen, zoals organische verbindingen, gebruikt worden.
Door de meetinrichting als doorstroomdetector met klein detectorvolume 0^1 jil) uit te voeren kan de responstijd verkort worden. Tevens wordt hiermee de verbreding van de (chromatografische) 25 piek in de detector, m.a.w. de verdunning in de detector, van een in het draagmedium geïnjecteerd monster of component tot een minimum beperkt. Hierdoor is dit een uitstekende techniek voor hoge-druk vloeistofchromatografie en flowinjectie-analyse.
De selektiviteit kan verder verbeterd worden door in 30 plaats van een gesloten metaallaag een array of groepering van metaal-laagstroken 1 toe te passen waarop verschillende potentialen aangelegd worden. Hiertoe wordt verwezen naar figuur 6a. De in te koppelen lichtstralen worden met een array 22 van lichtbronnen opgewekt en de gereflekteerde lichtstralen worden dan met een lineaire fotodiode-array 35 23 gedetecteerd. In figuur 6b is een bovenaanzicht van de array van metaallaagstroken, verbonden met een aantal aansluitingen, waaraan de verschillende potentialen Ui tot Un worden aangelegd. Op deze wijze kunnen door middel van verschilmetingen op selektieve wijze twee of meer in het meetmedium aanwezige componenten gelijktijdig gemeten 'fL ;r ji ’ - * 7 * 9 worden zonder de potentiaal te moeten aftasten.
Bovendien heeft dit het voordeel dat veranderingen in diëlektrische constante van het meetmedium zelf of het loopmiddel (eluens), die niet het gevolg zijn van concentratieverandering van ad-5 sorbeerbare componenten, geëlimineerd worden. Dit kan gerealiseerd worden door een potentiaal te kiezen (als referentie), waarbij de verwachting is dat daar geen adsorptie plaats zal vinden van welke component ook. Bij toch optredende veranderingen in het oplosmiddel of meetmedium zal de signaalverandering bij deze referentiepotentiaal 10 gelijk zijn aan de signaalverandering van de te meten componenten.
?'(·-· ' ·: i
Claims (7)
1. Werkwijze voor het detecteren van zeer lage concentraties van tenminste een in een meetmedium aanwezige chemische component in een meetcel met als deelwand daarvan een metaallaag met een uitwendig glasprisma, onder toepassing van het oppervlakte-plasmonreso- 5 nantie effekt, waarbij via het prisma een in het invalsvlak gepolariseerde lichtstraal ingekoppeld en na verzwakte totale reflektie uitgekoppeld wordt en de intensiteit daarvan gemeten wordt waarbij de positie van de resonantiekromme daarin, onder invloed van de door de component veroorzaakte verandering in de diëlektrische constante van het 10 meetmedium nabij de metaallaag, gemeten wordt, met het kenmerk dat een instelbare potentiaal tussen de als werkelek-trode fungerende metaallaag en een referentieelektrode in de meetcel wordt aangelegd, waardoor een selektieve adsorptie van de component en een verhoogde concentratie daarvan aan de metaallaag optreedt, zodat de 15 verandering van de diëlektrische constante van het meetmedium nabij de metaallaag groter is en daardoor de genoemde concentratie gevoeliger meetbaar is.
2. Werkwijze volgens conclusie 1, m e t het kenmerk, dat verschillende instelbare potentialen aan een array 20 van metaallaagstroken worden aangelegd, dat gelijktijdig meerdere lichtstralen worden ingekoppeld en dat deze door de afzonderlijke metaallaagstroken gereflekteerde lichtstralen worden gemeten, waardoor een of meer verschilmetingen uitvoerbaar en derhalve twee of meer in het meetmedium aanwezige componenten naast elkaar meetbaar zijn.
3. Meetinrichting voor het detecteren van zeer lage concentraties van tenminste een in een meetmedium aanwezige chemische component onder toepassing van het oppervlakte-plasmonresonantie effekt, welke meetinrichting voorzien is van een meetcel voor het meetmedium met een metaallaag als deelwand met een uitwendig glasprisma, een 30 monochromatische lichtbron voor het via het prisma inkoppelen van een, in het invalsvlak gepolariseerde lichtstraal om in de metaallaag een oppervlakte-plasmongolf aan te slaan, en een detector voor het meten van de bij verzwakte totale reflektie in de uitgekoppelde lichtstraal optredende intensiteit, waarbij de positie van de resonantiekromme 35 daarin onder invloed van de door de component veroorzaakte verandering in de diëlektrische constante van het meetmedium nabij de metaallaag verandert, methet kenmerk, dat de meetcel bevat een referentie-elektrode en een tegenelektrode tegenover de als werk- E e f! r ·! i ·*♦ · « ft elektrode fungerende metaallaag, waarbij een instelbare potentiaal wordt aangelegd tussen de metaallaag en de referentie-elektrode om een selektieve adsorptie van de stof en een verhoogde concentratie daarvan aan de metaallaag teweeg te brengen zodat de verandering van de diëlek-5 trische constante van het meetmedium nabij de metaallaag groter is en daardoor de genoemde concentratie gevoeliger meetbaar is.
4. Meetinrichting volgens conclusie 1, m e t het kenmerk, dat de metaallaag van goud is.
5. Meetinrichting volgens conclusie 1, m e t het 10. e n m e r k, dat de metaallaag van zilver is.
6. Meetinrichting volgens conclusie 1, m e t het kenmerk, dat de meetinrichting als doorstroomdetector met klein detectorvolume (<I μΐ) is uitgevoerd waardoor de responstijd wordt verkort en verdunning van de component in de detector van een geïnjecteerd 15 monster wordt geminimaliseerd.
7. Meetinrichting volgens conclusie 1, m e t het kenmerk, dat de metaallaag als een array van metaal laags troken is uitgevoerd, waarbij aan de afzonderlijke metaallaagstroken ten opzichte van de referentie-elektrode verschillende potentialen worden aangelegd, 20 en dat de lichtbron, resp. de detector als een overeenkomstige licht-bronarray, resp. fotodiode-array is uitgevoerd, zodanig dat door middel van een verschilmeting meerdere stoffen tegelijk gemeten kunnen worden. f; - ΐ " t
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8700851A NL8700851A (nl) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | Werkwijze en inrichting voor het detecteren van zeer lage concentraties van een in een meetmedium aanwezige chemische component onder toepassing van oppervlakte-plasmonresonantie en elektrochemisch gestimuleerde adsorptie. |
| EP88200668A EP0286195A3 (en) | 1987-04-10 | 1988-04-07 | Method and apparatus for detecting low concentrations of (bio)- chemical components in a test medium using surface plasmon resonance |
| JP63088022A JPH01308946A (ja) | 1987-04-10 | 1988-04-09 | 表面プラズモン共鳴を使用して試験媒体中に存在する低濃度の生化学的成分を検出する方法及び装置 |
| US07/180,156 US4889427A (en) | 1987-04-10 | 1988-04-11 | Method and apparatus for detecting low concentrations of (bio) chemical components present in a test medium using surface plasmon resonance |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8700851 | 1987-04-10 | ||
| NL8700851A NL8700851A (nl) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | Werkwijze en inrichting voor het detecteren van zeer lage concentraties van een in een meetmedium aanwezige chemische component onder toepassing van oppervlakte-plasmonresonantie en elektrochemisch gestimuleerde adsorptie. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL8700851A true NL8700851A (nl) | 1988-11-01 |
Family
ID=19849841
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL8700851A NL8700851A (nl) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | Werkwijze en inrichting voor het detecteren van zeer lage concentraties van een in een meetmedium aanwezige chemische component onder toepassing van oppervlakte-plasmonresonantie en elektrochemisch gestimuleerde adsorptie. |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4889427A (nl) |
| EP (1) | EP0286195A3 (nl) |
| JP (1) | JPH01308946A (nl) |
| NL (1) | NL8700851A (nl) |
Families Citing this family (100)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1321488C (en) * | 1987-08-22 | 1993-08-24 | Martin Francis Finlan | Biological sensors |
| DE68907519T2 (de) * | 1988-05-10 | 1993-10-21 | Amersham Int Plc | Biosensoren. |
| EP0341928A1 (en) * | 1988-05-10 | 1989-11-15 | AMERSHAM INTERNATIONAL plc | Improvements relating to surface plasmon resonance sensors |
| GB8811919D0 (en) * | 1988-05-20 | 1988-06-22 | Amersham Int Plc | Biological sensors |
| GB8817710D0 (en) * | 1988-07-25 | 1988-09-01 | Ares Serono Res & Dev Ltd | Method of assay |
| SE8804074D0 (sv) * | 1988-11-10 | 1988-11-10 | Pharmacia Ab | Sensorenhet och dess anvaendning i biosensorsystem |
| SE462408B (sv) * | 1988-11-10 | 1990-06-18 | Pharmacia Ab | Optiskt biosensorsystem utnyttjande ytplasmonresonans foer detektering av en specific biomolekyl, saett att kalibrera sensoranordningen samt saett att korrigera foer baslinjedrift i systemet |
| GB2225850B (en) * | 1988-12-09 | 1992-12-23 | Emi Plc Thorn | Pressure sensing device |
| GB8906781D0 (en) * | 1989-03-23 | 1989-05-10 | Amersham Int Plc | Assay method using surface plasmon resonance spectrometry |
| US5547839A (en) | 1989-06-07 | 1996-08-20 | Affymax Technologies N.V. | Sequencing of surface immobilized polymers utilizing microflourescence detection |
| GB8916764D0 (en) * | 1989-07-21 | 1989-09-06 | Sambles John R | Surface plasmon optical sensor |
| ES2015430A6 (es) * | 1989-07-25 | 1990-08-16 | Cables Comunicaciones | Sensor de fibra optica basado en la excitacion de plasmones superficiales. |
| US5075551A (en) * | 1990-03-12 | 1991-12-24 | Fuji Electric Co., Ltd. | Infrared absorption enhanced spectroscopic apparatus |
| FI85768C (fi) * | 1990-07-04 | 1992-05-25 | Valtion Teknillinen | Foerfarande foer utfoerning av ytplasmonresonansmaetning samt i foerfarandet anvaendbar givare. |
| DE4024476C1 (nl) * | 1990-08-02 | 1992-02-27 | Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim, De | |
| GB9019123D0 (en) * | 1990-09-01 | 1990-10-17 | Fisons Plc | Analytical device |
| GB2248497B (en) * | 1990-09-26 | 1994-05-25 | Marconi Gec Ltd | An optical sensor |
| GB9102646D0 (en) * | 1991-02-07 | 1991-03-27 | Fisons Plc | Analytical device |
| US5196350A (en) * | 1991-05-29 | 1993-03-23 | Omnigene, Inc. | Ligand assay using interference modulation |
| DE69110032T2 (de) * | 1991-06-08 | 1995-12-21 | Hewlett Packard Gmbh | Verfahren und Gerät zur Feststellung und/oder Konzentrationsbestimmung von Biomolekülen. |
| SE9200917D0 (sv) * | 1991-08-20 | 1992-03-25 | Pharmacia Biosensor Ab | Assay method |
| GB9120000D0 (en) * | 1991-09-19 | 1991-11-06 | British Gas Plc | Optical sensing |
| US5351127A (en) * | 1992-06-17 | 1994-09-27 | Hewlett-Packard Company | Surface plasmon resonance measuring instruments |
| DE4244086C2 (de) * | 1992-12-24 | 1994-10-27 | Florin Ernst Ludwig | Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis von Oberflächenplasmonen |
| DE4310025A1 (de) * | 1993-03-27 | 1994-09-29 | Boehringer Mannheim Gmbh | Vorrichtung zur lateral aufgelösten Untersuchung einer lateral heterogenen ultradünnen Objektschicht |
| US5395587A (en) * | 1993-07-06 | 1995-03-07 | Smithkline Beecham Corporation | Surface plasmon resonance detector having collector for eluted ligate |
| DE4331596A1 (de) * | 1993-09-17 | 1995-03-23 | Boehringer Mannheim Gmbh | Verfahren zur quantitativen Analyse von Probenflüssigkeiten |
| JPH07159311A (ja) * | 1993-12-06 | 1995-06-23 | Toto Ltd | バイオセンサ |
| FI96800C (fi) * | 1994-02-16 | 1996-08-26 | Valtion Teknillinen | Laite analyysin suorittamiseksi |
| US5815278A (en) * | 1995-10-25 | 1998-09-29 | University Of Washington | Surface plasmon resonance light pipe sensing probe and related interface optics |
| AU7526496A (en) * | 1995-10-25 | 1997-05-15 | University Of Washington | Surface plasmon resonance electrode as chemical sensor |
| US5912456A (en) * | 1996-03-19 | 1999-06-15 | Texas Instruments Incorporated | Integrally formed surface plasmon resonance sensor |
| US5917607A (en) * | 1996-04-25 | 1999-06-29 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Surface plasmon sensor for multiple channel analysis |
| EP1650549A3 (en) * | 1996-04-30 | 2009-11-25 | FUJIFILM Corporation | Surface plasmon sensor |
| JPH09292334A (ja) * | 1996-04-30 | 1997-11-11 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面プラズモンセンサー |
| JP3578188B2 (ja) * | 1996-04-30 | 2004-10-20 | 富士写真フイルム株式会社 | 表面プラズモンセンサー |
| US6242264B1 (en) * | 1996-09-04 | 2001-06-05 | The Penn State Research Foundation | Self-assembled metal colloid monolayers having size and density gradients |
| JP3999292B2 (ja) * | 1996-09-04 | 2007-10-31 | 富士フイルム株式会社 | 表面プラズモンセンサー |
| GB9623820D0 (en) * | 1996-11-16 | 1997-01-08 | Secr Defence | Surface plasma resonance sensor |
| US5846843A (en) * | 1996-11-18 | 1998-12-08 | The University Of Toledo | Sensor using long range surface plasmon resonance with diffraction double-grating |
| SE9700384D0 (sv) * | 1997-02-04 | 1997-02-04 | Biacore Ab | Analytical method and apparatus |
| JP3739537B2 (ja) * | 1997-03-26 | 2006-01-25 | 大日本印刷株式会社 | 光学的分析装置用測定チップ |
| JPH10307104A (ja) * | 1997-05-07 | 1998-11-17 | Shimadzu Corp | Ｓｐｒセンサ |
| RU2141645C1 (ru) * | 1997-06-11 | 1999-11-20 | Никитин Петр Иванович | Способ исследования биологических, биохимических, химических характеристик сред и устройство для его осуществления |
| JP3437170B2 (ja) | 1997-12-12 | 2003-08-18 | ピーイー コーポレイション （エヌワイ） | 光学共鳴解析システム |
| US6200814B1 (en) | 1998-01-20 | 2001-03-13 | Biacore Ab | Method and device for laminar flow on a sensing surface |
| DE19805809C2 (de) * | 1998-02-12 | 2000-02-17 | Biotul Bio Instr Gmbh | Bestimmung der Oberflächenplasmonen-Resonanz mit Hilfe von örtlich oder zeitlich modifizierten Schichten |
| DE19814811C1 (de) * | 1998-04-02 | 1999-08-05 | Inst Physikalische Hochtech Ev | Anordnung für die Oberflächenplasmonen-Resonanz-Spektroskopie |
| CA2319429A1 (en) * | 1998-05-20 | 1999-11-25 | Graffinity Pharmaceutical Design Gmbh | Surface plasmon resonance sensor for the simultaneous measurement of a plurality of samples in fluid form |
| JP3399836B2 (ja) * | 1998-05-21 | 2003-04-21 | 富士写真フイルム株式会社 | 表面プラズモンセンサー |
| CA2351454A1 (en) * | 1998-11-20 | 2000-06-02 | Graffinity Pharmaceutical Design Gmbh | Measurement assembly for parallel readout of spr sensors |
| US6480282B1 (en) | 1999-05-06 | 2002-11-12 | University Of Washington | Capillary surface plasmon resonance sensors and multisensors |
| EP1194763A4 (en) * | 1999-05-17 | 2006-01-11 | Florida Internat | DETECTION OF SURFACE PLASMON RESONANCE WITH HIGH ANGLE RESOLUTION AND FAST RESPONSE TIME |
| US7167615B1 (en) | 1999-11-05 | 2007-01-23 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Resonant waveguide-grating filters and sensors and methods for making and using same |
| DE10006083B4 (de) * | 2000-02-11 | 2004-01-22 | INSTITUT FüR MIKROTECHNIK MAINZ GMBH | Verfahren zur quantitativen und/oder qualitativen Bestimmung von Schichtdicken sowie ein Mikroreaktionsgefäß und eine Titerplatte |
| US6728429B1 (en) | 2000-02-16 | 2004-04-27 | Biotell, Inc. | Optical detection |
| DE10008006C2 (de) | 2000-02-22 | 2003-10-16 | Graffinity Pharm Design Gmbh | SPR-Sensor und SPR-Sensoranordnung |
| CA2400828A1 (en) | 2000-02-22 | 2001-08-30 | Graffinity Pharmaceutical Design Gmbh | Spr sensor system |
| WO2002055993A2 (en) * | 2001-01-12 | 2002-07-18 | Univ Boston | Use of electrostatic fields to enhance surface plasmon resonance spectroscopy |
| EP1392504A4 (en) * | 2001-04-02 | 2008-03-05 | Agilent Technologies Inc | SENSOR SURFACES FOR DETECTING ANALYTES |
| AU2002258702A1 (en) * | 2001-04-02 | 2002-10-15 | Prolinx Incorporated | Systems and apparatus for the analysis of molecular interactions |
| AU2002249994A1 (en) * | 2001-04-19 | 2002-11-05 | Maven Technologies Llc. | Imaging apparatus and method |
| US6731388B1 (en) * | 2001-08-31 | 2004-05-04 | The University Of Toledo | Method of measuring surface plasmon resonance using interference structure of reflected beam profile |
| JP4208115B2 (ja) | 2001-09-12 | 2009-01-14 | 富士フイルム株式会社 | 全反射減衰を利用したセンサー |
| JP2003139694A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-05-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 測定プレート |
| KR100407821B1 (ko) * | 2001-11-23 | 2003-12-01 | 한국전자통신연구원 | 활성이온의 상향전이를 이용한 도파로-플라즈몬 공명 센서및 이미징 시스템 |
| EP1451558A1 (de) * | 2001-11-28 | 2004-09-01 | Graffinity Pharmaceuticals Aktiengesellschaft | Spr-sensorflächenträger |
| KR20030047567A (ko) * | 2001-12-11 | 2003-06-18 | 한국전자통신연구원 | 표면 플라즈몬 공명 센서 시스템 |
| DE10163657B4 (de) * | 2001-12-21 | 2008-05-08 | Gedig, Erk, Dr. | Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung dünner Schichten |
| JP3878872B2 (ja) * | 2002-03-25 | 2007-02-07 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 表面プラズモン共鳴センサ |
| US6816254B2 (en) * | 2002-07-29 | 2004-11-09 | Richert, Inc. | Flow cell clamp |
| CA2497289A1 (en) * | 2002-09-02 | 2004-03-11 | Medical Biosystems Ltd. | Biosensor |
| US6804007B2 (en) * | 2002-09-10 | 2004-10-12 | Reichert, Inc. | Apparatus for multiplexing two surface plasma resonance channels onto a single linear scanned array |
| US20040091397A1 (en) * | 2002-11-07 | 2004-05-13 | Corning Incorporated | Multiwell insert device that enables label free detection of cells and other objects |
| AU2002368516A1 (en) * | 2002-12-25 | 2004-07-22 | Proteoptics Ltd. | Surface plasmon resonance sensor |
| JP4076962B2 (ja) * | 2003-04-23 | 2008-04-16 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 差動式表面プラズモン共鳴現象測定装置及びその測定方法 |
| US7233391B2 (en) * | 2003-11-21 | 2007-06-19 | Perkinelmer Las, Inc. | Optical device integrated with well |
| KR100602492B1 (ko) * | 2004-03-15 | 2006-07-19 | 한국과학기술원 | 표면 플라즈몬 공진감지 시스템 |
| US7271885B2 (en) * | 2004-03-25 | 2007-09-18 | Perkinelmer Las, Inc. | Plasmon resonance measuring method and apparatus |
| US7193719B2 (en) * | 2004-05-17 | 2007-03-20 | Virginia Tech Intellectual Properties, Inc. | Device and method for tuning an SPR device |
| US7187446B2 (en) * | 2004-07-26 | 2007-03-06 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Measuring apparatus |
| US20060063274A1 (en) * | 2004-09-23 | 2006-03-23 | Schremp Donald J | Methods for manufacturing and using chemical array calibration devices |
| US20060215165A1 (en) * | 2004-12-15 | 2006-09-28 | Paul Melman | High sensitivity optical detection by temperature independent differential polarization surface plasmon resonance |
| US7349080B2 (en) * | 2004-12-30 | 2008-03-25 | Corning Incorporated | Label-independent detection of unpurified analytes |
| DE102007005147A1 (de) | 2007-02-01 | 2008-08-07 | Hofmann, Andreas | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung der Anheftung oder Ablösung lebender oder toter Zellen oder zellähnlicher Partikel oder sonstiger Oberflächenbelegung an Oberflächen mittels Plasmonenresonanz sowie Verwendung dieses Verfahrens und dieser Vorrichtung |
| US8743367B2 (en) * | 2007-05-21 | 2014-06-03 | Bio-Rad Laboratories Inc. | Optical resonance analysis using a multi-angle source of illumination |
| JP2009145189A (ja) * | 2007-12-13 | 2009-07-02 | Fujifilm Corp | バイオセンサー |
| RU2494374C2 (ru) | 2007-12-26 | 2013-09-27 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Устройство микроэлектронного датчика |
| KR100996450B1 (ko) * | 2008-08-21 | 2010-11-25 | 한국과학기술연구원 | 표면 플라즈몬 공명의 원리를 이용한 산소센서와 표면 플라즈몬 공명의 원리를 이용한 산소센서가 포함된 산소투과도 측정장치 |
| WO2010122547A1 (en) | 2009-04-20 | 2010-10-28 | Bio-Rad Laboratories Inc. | Non-scanning surface plasmon resonance ( spr) system |
| US8703439B1 (en) | 2011-01-31 | 2014-04-22 | Linda Lester | Point of care iodine sensor |
| FR2982027B1 (fr) * | 2011-10-26 | 2014-01-03 | Thibaut Mercey | Puce microstructuree pour analyse par resonance des plasmons de surface, dispositif d'analyse comprenant ladite puce microstructuree et utilisation dudit dispositif |
| US9423345B2 (en) | 2014-06-24 | 2016-08-23 | International Business Machines Corporation | Chemical sensors based on plasmon resonance in graphene |
| US9470632B2 (en) | 2014-07-29 | 2016-10-18 | International Business Machines Corporation | Plasmonic structure with enhanced bandwidth |
| KR101884091B1 (ko) * | 2016-11-30 | 2018-08-02 | 한국표준과학연구원 | 사다리꼴 입사구조 프리즘 입사형 실리콘 기반 액침 미세유로 측정장치 및 측정방법 |
| KR102292348B1 (ko) * | 2018-11-06 | 2021-08-25 | 한국과학기술원 | 광학 디바이스의 광효율 증대를 위한 격벽 구조체 및 이의 제조 방법 |
| CN112530298B (zh) * | 2020-12-08 | 2022-10-14 | 康佳集团股份有限公司 | 一种等离子体显示面板及显示装置 |
| CN113655034B (zh) * | 2021-08-02 | 2022-11-15 | 无锡简测生物科技有限公司 | 一种spr传感器和包括所述spr传感器的spr传感芯片、spr检测仪及其应用 |
| EP4420017A4 (en) * | 2021-10-18 | 2025-02-05 | Arizona Board of Regents on behalf of Arizona State University | AUTHENTICATION OF IDENTIFIERS BY LIGHT SCATTERING |
| CN114813654B (zh) * | 2022-04-18 | 2024-07-02 | 北京英柏生物科技有限公司 | 自黏贴片式spr传感芯片 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4647544A (en) * | 1984-06-25 | 1987-03-03 | Nicoli David F | Immunoassay using optical interference detection |
| GB8509492D0 (en) * | 1985-04-12 | 1985-05-15 | Plessey Co Plc | Optical assay |
-
1987
- 1987-04-10 NL NL8700851A patent/NL8700851A/nl not_active Application Discontinuation
-
1988
- 1988-04-07 EP EP88200668A patent/EP0286195A3/en not_active Withdrawn
- 1988-04-09 JP JP63088022A patent/JPH01308946A/ja active Pending
- 1988-04-11 US US07/180,156 patent/US4889427A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0286195A3 (en) | 1990-05-30 |
| US4889427A (en) | 1989-12-26 |
| JPH01308946A (ja) | 1989-12-13 |
| EP0286195A2 (en) | 1988-10-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| NL8700851A (nl) | Werkwijze en inrichting voor het detecteren van zeer lage concentraties van een in een meetmedium aanwezige chemische component onder toepassing van oppervlakte-plasmonresonantie en elektrochemisch gestimuleerde adsorptie. | |
| US5858799A (en) | Surface plasmon resonance chemical electrode | |
| US6330062B1 (en) | Fourier transform surface plasmon resonance adsorption sensor instrument | |
| US6124937A (en) | Method and device for combined absorption and reflectance spectroscopy | |
| Ho et al. | Application of white light-emitting diode to surface plasmon resonance sensors | |
| US9671327B2 (en) | Ultrasensitive biochemical sensing device and method of sensing analytes | |
| US6943887B2 (en) | Surface plasmon resonance sensor having real-time referencing | |
| Tanabe et al. | Enhanced surface plasmon resonance wavelength shifts by molecular electronic absorption in far-and deep-ultraviolet regions | |
| US9678009B2 (en) | Method for localized surface plasmon resonance sensing system | |
| EP2372343A1 (en) | Gas sensor, method for optically measuring the presence of a gas using the gas sensor and gas sensing system | |
| Schnippering et al. | Evanescent wave cavity-based spectroscopic techniques as probes of interfacial processes | |
| CN101294900B (zh) | 高精细度腔表面等离子体共振传感装置 | |
| US7057731B2 (en) | Measuring method and apparatus using attenuated total reflection | |
| Adányi et al. | Evanescent field effect–based nanobiosensors for agro-environmental and food safety | |
| Araguillin et al. | Comparative evaluation of wavelength-scanning Otto and Kretschmann configurations of SPR biosensors for low analyte concentration measurement | |
| Seidel et al. | Thermal lens detector system for capillary electrophoresis | |
| Dorozinsky et al. | Influence of technological factors on sensitivity of analytical devices based on surface plasmon resonance | |
| Singh et al. | Dielectric metasurface-assisted cavity ring-down spectroscopy for thin-film circular dichroism analysis | |
| Brink et al. | Near-infrared surface plasmon resonance in silicon-based sensor: new opportunities in sensitive detection of biomolecules from aqueous solutions by applying microstep for discriminating specific and non-specific binding | |
| EP3051277A2 (en) | Electric-field enhancement element, analysis device, and eletronic apparatus | |
| JP4173746B2 (ja) | 測定装置 | |
| Hanning et al. | A spectroscopic refractometer for temperature-independent refractive index detection | |
| US8367399B2 (en) | Method for measuring molecular interactions by measurement of light reflected by planar surfaces | |
| Kallay et al. | Techniques for the Study of Adsorption from Solution | |
| Abdallah et al. | Surface plasmons resonance technique for the detection of nicotine in cigarette smoke |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A1B | A search report has been drawn up | ||
| BV | The patent application has lapsed |