CN109444086A - 用于校准透光率检测设备的标准组件和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于校准透光率检测设备的标准组件和方法。该标准组件包括遮光基板和透光板，还包括至少一个遮光挡板；所述遮光基板上形成有镂空透光区，所述透光板盖设在所述遮光基板上，所述透光板封闭所述镂空透光区，透光率检测设备的光线透过所述镂空透光区，以测量透光区域的面积；所述遮光挡板被配置为能放置在所述透光板上与所述镂空透光区对应的位置处，以部分遮挡所述镂空透光区。所述标准组件被配置为能使透光率检测设备的光线透过所述镂空透光区，以测量透光区域的面积。

Description

用于校准透光率检测设备的标准组件和方法

技术领域

本发明属于透光率检测技术领域，具体地，本发明涉及一种用于校准透光率检测设备的标准组件和方法。

背景技术

消费类电子产品的相关技术近年来发展迅速，手机、平板电脑等电子设备已经被广泛的应用在人们的日常生活中，其所应用的环境越来越多样化。但是，其受到干扰、异物入侵等问题的可能性也明显上升。在这种情况下，需要具有更高的可靠性，才能够满足电子产品在各种环境中的应用需求。

微型扬声器是电子产品中的重要电子器件，其用于将电信号转换为声音。为了对微型扬声器和电子产品的内部结构进行保护，微型扬声器的出声口和/或泄声孔可以贴附有声学网布。声学网布自身的透气率等特性直接影响微型扬声器的声学性能。

为了对声学网布的透气率进行管控，保证声学网布的加工、性能一致性，需要对声学网布进行检测。在现有技术中，采用透光率检测的形式对声学网布的孔洞疏密程度、孔洞面积进行检测，进而能够反映声学网布的声学性能。但是现有的测试方式存在显著缺陷。第一，现有测试通常采用实际产品作为测试标准件，但实际产品的孔洞误差较大且不稳定，实际产品受到温度、放置时间、浮尘等影响，容易出现测试不准确的现象。第二，各个透光率检测设备由于存在机械误差、焦距不同等因素的影响，检测标准存在差异。各个透光率检测设备对声学网布的透光率的检测不同，造成检测结果的可靠性有限。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种改进的校准透光率检测设备的方案。

根据本发明的一个方面，提供了一种用于校准透光率检测设备的标准组件，包括：遮光基板和透光板，还包括至少一个遮光挡板；所述遮光基板上形成有镂空透光区，所述透光板盖设在所述遮光基板上，所述透光板封闭所述镂空透光区，透光率检测设备的光线透过所述镂空透光区，以测量透光区域的面积；所述遮光挡板被配置为能放置在所述透光板上与所述镂空透光区对应的位置处，以部分遮挡所述镂空透光区。

可选地，所述遮光挡板的面积等于镂空透光区的面积的三分之一或四分之一，所述标准组件包括二至四块所述遮光挡板。

可选地，所述镂空透光区和所述遮光挡板的尺寸误差小于0.008mm。

可选地，所述镂空透光区和遮光挡板的尺寸误差小于或等于0.005mm。

可选地，所述镂空透光区采用铣削加工形成于所述遮光基板上。

可选地，遮光挡板距离所述镂空透光区边缘形成有透光间隙。

可选地，所述遮光基板的对应所述透光板的表面上形成有容纳槽，所述透光板嵌于所述容纳槽中，所述透光板的上表面与所述遮光基板的对应所述透光板的表面齐平，所述镂空透光区形成在所述容纳槽中。

可选地，所述透光板粘接于所述遮光基板的一侧表面上。

可选地，透光板为无色亚克力透光板。

本发明还提供了一种校准透光检测设备的方法，所述方法采用上述标准组件，根据所述标准组件的镂空透光区的面积预先设定预定像素数据，将标准组件放置在透光率检测设备中，使透光率检测设备获得测试像素数据，对透光率检测设备进行调节，使所获得的测试像素数据与预定像素数据一致。

本发明的一个技术效果在于，透光率检测设备可以通过本发明提供的标准组件进行校准，从而使各个透光率检测设备具有统一的检测标准，有效满足了标准件的可复制性；同时，遮光挡板的设置，可以实现透光率设备校准时的多档位确认，保证校准的准确性。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

构成说明书的一部分的附图描述了本发明的实施例，并且连同说明书一起用于解释本发明的原理。

图1是本发明具体实施方式提供的标准组件的俯视结构示意图；

图2是本发明具体实施方式提供的标准组件的侧面剖视示意图；

图3是本发明提供的校准方法的步骤示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

本发明提供了一种标准组件，该标准组件具有可靠、不易变形的结构，透光率检测设备可以通过对该标准组件进行检测以对自身的检测条件进行校准。

如图1、2所示，本发明的用于校准透光率检测设备的标准组件包括遮光基板1、透光板2和至少一个遮光挡板3。遮光基板1采用不透光的材料制成，遮光基板1上形成有一片镂空的区域，该区域可以使光线穿过。图1和2示出了镂空透光区11在遮光基板1上的位置和形状，在这种实施方式中，所述镂空透光区11位于所述遮光基板1的中心区域，所述镂空透光区11呈矩形形状。将镂空透光区设置在遮光基板的中心区域能够使遮光基板整体的结构可靠性更高，更不易发生变形、损坏的情况。根据现有的加工工艺方式，将镂空透光区设计成矩形能够具有更高的尺寸精确度，进而使得对透光率检测设备的校准更精确。本发明并不对镂空透光区的形状和所在的位置进行严格限制，可以根据实际情况的需要进行调整。

如图2所示，所述透光板2盖设在所述遮光基板1上，所述透光板2将遮光基板1上的镂空透光区11的整个区域罩住，从而封闭所述镂空透光区11。所述透光板采用能够透光的材料制成，因此光线仍可以从所述镂空透光区处经所述透光板透射过去。

在实际对透光率检测设备进行校准时，可以使设备的光线从标准组件的一侧经镂空透光区和透光板处透射到标准组件的另一侧，其它区域则被所述遮光基板挡住，无法透过光线。在标准组件的另一侧，可以通过摄像机或其它拍摄设备对透过的光斑进行拍摄，进而通过像素数据计算透光区域的面积。不同的透光率检测设备由于各自存在的机械装配误差、对焦误差等原因，可能造成所拍摄到的像素点数量不同，进而计算得到的透光区域的面积也不同。在进行校准测试前，可以预先根据所述镂空透光区的实际面积大小，设计一项标准的预定像素数据。即对应于所述镂空透光区的实际面积，应拍摄出多少个像素点。之后，在实际进行校准测试时，可以通过透光率检测设备实际拍摄到测试像素数据，即实际拍摄到的像素数。将测试像素数据与预定像素数据进行比较，如果两者不一致或者差距超出了误差范围，则对被测的透光率检测设备进行调节，例如调节焦距、拍摄相机与承载台之间的相对位置等。最后，使得透光率检测设备拍摄到的测试像素数据与预定像素数据一致或者差值在误差范围之内。

对各台需要使用的透光率检测设备进行上述校准操作，即可使各个透光率检测设备的测试性能保持一致，提高对声学网布的检测的一致性。

本发明的技术效果在于，所述标准组件的结构可靠性高，不易发生变形、损坏的问题、并且易于使用，能够有效的辅助透光率检测设备进行透光率检测的校准。在现有的技术中，本申请的发明人也考虑采用已经加工好的透声网布作为标准组件对透光率检测设备进行校准检测。但是，透声网布易发生变形，孔洞的结构形状极易发生变形从而造成校准的标准发生改变。而且，透声网布一旦落上灰尘或异物，难以进行清理，异物会严重影响透声网布的透光率，从而造成校准的标准发生改变。已经通过注塑成型而嵌设在产品中的透声网布往往受到过压合作用力等因素的影响，透声网布的结构特点已发生了一定改变。因此，如果以这种完成加工后的透声网布作为校准标准组件，容易造成后续生产的透声网布性能不一致，难以实现性能管控。相对于现有技术，本发明提供的标准组件可靠性得到显著提升，更适用于大批量的生产加工。标准组件即使反复使用或者放置一段时间，均不会受到影响，镂空透光区不易变形。如果透光板上落上异物，也可以通过清洁手段去除异物，保证标准组件的透光面积不发生变化。

所述遮光挡板3由不透光的材料制成。如图1、2所示，所述遮光挡板3的面积小于所述镂空透光区11的面积，所述遮光挡板3可以放置在所述透光板2上，从而将一部分镂空透光区11遮住。被遮光挡板3遮住的区域不能够透过光线。在实际应用中，在对透光率检测设备进行调节以使测试像素数据与预定像素数据一致后，可以在与镂空透光区11对应的区域上盖设遮光挡板3，使标准组件上透光的区域的面积发生可控的变化。之后，再使已经过调节的透光率测试设备获取新的测试像素数据。将新的测试像素数据与之前获得的测试像素数据或预定像素数据进行比较，比较两者的差值是否与透光区域的面积的变化量相匹配。如果相匹配，则说明标准组件没有问题，被测的透光率检测设备也已校准至预定的状态。相反地，如果不匹配，一种可能是标准组件的与镂空透光区对应的透光板上可能有异物遮挡或者有划痕；另一种可能是被测透光率检测设备存在异常，需要进一步检查。通过采用标准的遮光挡板，能够进一步提高校准的准确性。所述遮光挡板的面积可以根据实际情况进行设计，本发明不对此进行限制。

可选地，所述遮光挡板的面积小于或等于镂空透光区的面积的三分之一。这样，标准组件可以包括至少两块遮光挡板。在进行重复测试时，在透光板上连续两次向透光板上追加放置遮光挡板，可以逐渐使透光面积减小。每次追加放置遮光挡板均获取一次测试像素数据，通过测试像素数据的变换过程与逐渐追加遮光挡板使透光面积逐渐减小的过程进行比较，也能够进一步验证透光率检测设备是否准确校准、标准组件和设备是否存在故障或异常状况。可选地，镂空透光区的面积为遮光挡板的面积的整数倍。例如，所述遮光挡板的面积等于镂空透光区的面积的三分之一或四分之一。本发明并不限制所述标准组件中包括几块所述遮光挡板。可选地，所述标准组件中可以包括两块至四块遮光挡板。在进行校准测试时，可以将两块至四块遮光挡板全部或部分依次追加盖设在镂空透光区上。

所述镂空透光区11的尺寸精确度对透光率检测设备的校准精确度有重要影响，本发明所述的镂空透光区11的尺寸误差应小于0.008mm。所述镂空透光区以及遮光挡板的尺寸精度会影响到校准的精确度，本发明提供了可选的尺寸误差范围，以减小测试像素数据与预定像素数据之间的误差，从而提高校准精确度。可选地，所述遮光挡板的尺寸误差小于0.008mm。优选地，在加工条件能够达到的情况下，所述镂空透光区和遮光挡板的尺寸误差小于或等于0.005mm。

优选地，每个放置在透光板上的遮光挡板都整体完全位于镂空透光区内，而不是有一部分盖在镂空透光区以外的区域。即，遮光挡板与镂空透光区的边缘之间形成有透光间隙。进一步地，每块遮光挡板之间也不要出现重叠。这样，每追加一块遮光挡板，镂空透光区被遮住的面积及等于遮光挡板的面积，透光面积以及测试像素数据的变化应呈线性变化特点。在遮光挡板的面积小于或等于镂空透光区的面积的四分之一的实施方式中，能够更便捷上实现上述追加盖遮光挡板的操作方式。在如图2所示的实施方式中，遮光挡板3的面积等于镂空透光区11的面积的四分之一。

可选地，如图2所示，所述遮光基板1的对应透光板的一侧表面上可以形成有容纳槽12，所述透光板2则嵌于所述容纳槽12中。所述透光板2上表面可以与所述遮光基板1的对应透光板的表面齐平。相应地，如图2所示，所述镂空透光区11则形成在所述容纳槽12中，镂空透光区11将所述容纳槽12与遮光基板1的另一侧表面连通。采用所述容纳槽的设计，能够使标准组件的结构更紧凑，透光板不会相对于遮光基板向外凸出。

可选地，所述透光板优选为无色的亚克力透光板。亚克力透光板具有良好的强度和硬度，不易发生变形也不易被划伤。并且，无色的亚克力板具有良好的透光性能。采用亚克力板能够提高校准的精确度，也能够提高标准组件的使用寿命。所述透光板可以通过粘接的方式固定在所述遮光基板的一侧表面上；或者，在遮光基板上形成有容纳槽的实施方式中，所述透光板卡接固定在所述遮光基板上。

优选地，所述遮光基板上的镂空透光区采用铣削加工的方式成型，铣削加工可以由CNC数控机床执行加工。遮光基板以及遮光挡板可以采用钢材制成。铣削加工的尺寸精度更高，能够提高标准组件的校准精确度。所述镂空透光区和遮光挡板的形状可以为矩形或圆形等，本发明不对此进行限制。

本发明还提供了一种校准透光率检测设备的方法，该方法能够对透光率检测设备的检测状况进行校准，从而使得各个设备得到的测试结构具有一致的标准。该方法采用本发明提供的标准组件。如图3所示，首先可以根据标准组件上的镂空透光区的面积设定预定像素数据。例如，对透过镂空透光区的光斑进行拍摄，预定可以拍摄到25000个像素点。之后，将标准组件放置在待校准的透光率检测设备上。透光率检测设备启动后，光线会从标准组件的一侧经过镂空透光区和透光板透射到另一侧，拍摄设备从另一侧拍摄光斑，透光率检测设备经过计算获得测试像素数据。例如，测试像素数据可能是25700个像素点。之后，通过对透光率检测设备进行调节，使得设备拍摄得到的像素数据变化为25000个像素点。

通过这种方式，对每台需要使用透光率检测设备进行统一校准，使得各台设备的检测标准一致，提高生产线的一致性。本发明并不限制，测试像素数据必须与预定像素数据一致，只要两者在合理的误差范围之内，既可以被认为是符合要求的，或者一致的。该误差范围可以根据对精确度的要求、加工精度的情况人为进行设定，本发明不对此进行限制。

优选地，本发明的校准步骤还包括重复校准的步骤，可以进一步检测是否校准准确。在完成上述调节步骤，使测试像素数据与预定像素数据一致后，在透光板上与镂空透光区对应的区域放置遮光挡板。遮光挡板优选为将其整个结构都覆盖在镂空透光区对应的区域上，这样，镂空透光区上能投光的面积被减小，减小的面积等于遮光挡板的面积。之后，获取新的测试像素数据，将新获得的测试像素数据与预定像素数据进行比较，判断像素数量的变化量是否与遮光挡板的面积相当。如果两者相当，则说明透光率检测设备和标准组件均没有问题。如果两者不相当，则说明设备可能存在缺陷，或者标准组件的透光板或镂空透光区处有异物或划痕。

上述盖设遮光挡板并进行对比的步骤可以重复进行多次，主次追加盖设的遮光挡板。进而统计测试像素数据的变化是否是线性的，以确定校准的准确性。

虽然已经通过示例对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上示例仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种用于校准透光率检测设备的标准组件，其特征在于，包括：遮光基板和透光板，还包括至少一个遮光挡板；所述遮光基板上形成有镂空透光区，所述透光板盖设在所述遮光基板上，所述透光板封闭所述镂空透光区，透光率检测设备的光线透过所述镂空透光区，以测量透光区域的面积；所述遮光挡板被配置为能放置在所述透光板上与所述镂空透光区对应的位置处，以部分遮挡所述镂空透光区。

2.根据权利要求1所述的标准组件，其特征在于，所述遮光挡板的面积等于镂空透光区的面积的三分之一或四分之一，所述标准组件包括二至四块所述遮光挡板。

3.根据权利要求2所述的标准组件，其特征在于，所述镂空透光区和所述遮光挡板的尺寸误差小于0.008mm。

4.根据权利要求3所述的标准组件，其特征在于，所述镂空透光区和遮光挡板的尺寸误差小于或等于0.005mm。

5.根据权利要求1所述的标准组件，其特征在于，所述镂空透光区采用铣削加工形成于所述遮光基板上。

6.根据权利要求1所述的标准组件，其特征在于，遮光挡板距离所述镂空透光区边缘形成有透光间隙。

7.根据权利要求1所述的标准组件，其特征在于，所述遮光基板的对应所述透光板的表面上形成有容纳槽，所述透光板嵌于所述容纳槽中，所述透光板的上表面与所述遮光基板的对应所述透光板的表面齐平，所述镂空透光区形成在所述容纳槽中。

8.根据权利要求1所述的标准组件，其特征在于，所述透光板粘接于所述遮光基板的一侧表面上。

9.根据权利要求1所述的标准组件，其特征在于，透光板为无色亚克力透光板。

10.一种校准透光率检测设备的方法，所述方法采用权利要求1-9任意之一所述的标准组件，其特征在于，根据所述标准组件的镂空透光区的面积预先设定预定像素数据，将标准组件放置在透光率检测设备中，使透光率检测设备获得测试像素数据，对透光率检测设备进行调节，使所获得的测试像素数据与预定像素数据一致。