CN111880163A - 发射装置性能检测方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种发射装置性能检测方法及系统。发射装置性能检测方法包括：以预设策略驱动待测发射装置发射出射光信号；接收出射光信号，获取出射光信号的性能参数；根据出射光信号的性能参数对待测发射装置进行筛选。发射装置的性能对激光雷达的测距能力有直接影响，尤其是发射装置的峰值功率。以预设策略驱动发射装置发射，通过出射光信号进行性能参数的测量，确保所有待测发射装置均处于相同的驱动环境中，获取到的性能参数仅仅与发射装置的自身性能有关。再根据获得的性能参数对发射装置进行筛选，将性能相近的发射装置筛选出来；筛选后的发射装置应用于激光雷达中，能够有效减少不同通道间的差异性，有利于提高激光雷达探测的准确性。

Description

发射装置性能检测方法及系统

技术领域

本发明涉及半导体激光器性能检测技术领域，特别是涉及一种发射装置性能检测方法及系统。

背景技术

激光雷达是通过发射特定波长和方向的出射激光和接收对应的反射激光，以实现对目标的位置、速度等特征信息探测的系统，目前已被广泛应用于测距系统、目标跟踪测量、武器制导、大气监测、测绘、预警、交通管理等领域。

发射装置可以包含激光器及驱动硬件等，驱动硬件驱动激光器正常发光。由于电子元器件的离散性，导致在相同控制策略时，激光器的性能不一致；此外，通常激光器要和对应的驱动硬件(如驱动电路)进行焊接相连。而厂商一般并不关注焊接差异和激光器自身性能的差异。而发射装置的差异性将直接导致激光雷达不同通道间的差异性。

发明内容

基于此，有必要针对目前发射装置筛选存在差异性的问题，提供一种发射装置性能检测方法及系统。

本发明提供了一种发射装置性能检测方法，包括：

以预设测量驱动待测发射装置发射出射光信号；

接收所述出射光信号，获取所述出射光信号的性能参数；

根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选。

在其中一个实施例中，所述接收所述出射光信号，获取所述出射光信号的性能参数，包括：

将所述出射光信号分成第一激光信号和第二激光信号；

接收所述第一激光信号得到所述出射光信号的脉宽，以及接收所述第二激光信号得到所述出射光信号的平均功率；

根据所述脉宽和所述平均功率计算得到所述出射光信号的峰值功率。

在其中一个实施例中，所述根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选，包括：

将所述出射信号的所述峰值功率与预设功率阈值进行比较，以及将所述出射信号的脉宽与预设脉宽阈值进行比较；

将对应的所述出射信号的所述峰值功率大于所述预设功率阈值且其所述脉宽小于所述预设脉宽阈值的所述待测发射装置分为第一组；

将对应的所述出射信号的所述峰值功率小于或等于所述预设功率阈值的所述待测发射装置，和/或对应的所述出射信号的所述脉宽大于或等于所述预设脉宽阈值的所述待测发射装置分为第二组。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测方法还包括：

在将所述峰值功率与所述预设功率阈值进行比较之前，根据功率调整系数对所述预设功率阈值进行调整。

在其中一个实施例中，同一型号的所述待测发射装置采用相同的所述功率调整系数。

在其中一个实施例中，利用功率计检测所述待测发射装置的平均功率；

所述功率调整系数是与所述功率计的接收口径相关的参数。

在其中一个实施例中，所述将所述出射光信号分成第一激光信号和第二激光信号，包括：

利用准直镜对所述待测发射装置发射的出射光信号进行准直，并将准直后的所述出射光信号出射至分光器，利用所述分光器将所述出射光信号分成所述第一激光信号和所述第二激光信号。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测方法还包括：

在以所述预设功率驱动所述待测发射装置之前，将所述待测发射装置固定于发射装置检测系统的基座。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种发射装置性能检测系统，包括：

待测发射装置，用于在预设策略驱动下发射出射光信号；

检测模块，用于接收所述出射光信号，并获取所述出射光信号的性能参数；

比较模块，与所述检测模块电连接，用于根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测系统还包括基座，所述基座中设置有卡槽，用于固定所述待测发射装置。

综上，本发明实施例提供了一种发射装置性能检测方法及系统。所述发射装置性能检测方法包括：以预设策略驱动待测发射装置发射出射光信号；接收所述出射光信号，获取所述出射光信号的性能参数；根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选。发射装置的性能对激光雷达的测距能力有直接影响，尤其是发射装置的峰值功率。以预设策略驱动发射装置发射，通过出射光信号进行性能参数的测量，确保所有待测发射装置均处于相同的驱动环境中，获取到的性能参数仅仅与发射装置的自身性能有关。再根据获得的性能参数对发射装置进行筛选，将性能相近的发射装置筛选出来；筛选后的发射装置应用于激光雷达中，能够有效减少不同通道间的差异性，有利于提高激光雷达探测的准确性。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种发射装置性能检测方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的第一种发射装置性能检测系统的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的第二种发射装置性能检测系统的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的第三种发射装置性能检测系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。

发射装置的激光器在驱动功率、重频等均相同的情况下，相同型号的发射装置发射的出射光信号的性能大致相同，但仍存在一定的不一致。发射装置发射的出射光信号用于探测时，出射光信号的脉宽影响测距精度，出射峰值功率影响测距能力。因此，需要对发射装置进行筛选，将性能相近的发射装置筛选出来；筛选后的发射装置应用于激光雷达中，能够有效减少不同通道间的差异性，有利于提高激光雷达探测的准确性。

请参见图1，本发明实施例提供了一种发射装置性能检测方法，请参见图1，所述发射装置性能检测方法包括：

步骤S110，以预设策略驱动待测发射装置发射出射光信号；

步骤S120，接收所述出射光信号，获取所述出射光信号的性能参数；

步骤S130，根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选。

本实施例中，所述预设策略包预设驱动功率和预设重频；以预设驱动功率和预设重频驱动所述待测发射装置，将所有待测发射装置置于相同的驱动环境中，可排除驱动环境因素对出射光信号的性能参数的会产生的影响，使得获取到的性能参数仅仅与发射装置的自身性能有关。由于发射装置的性能对激光雷达的测距能力有直接影响，尤其是发射装置的峰值功率和脉宽等性能参数；峰值功率可以由平均功率、脉宽和重频计算出来，因此本实施例中在重频相同的情况下，需要根据接收到的出射光信号获取所述出射信号的平均功率和脉宽，进而计算峰值功率。在确定峰值功率后，根据峰值功率和脉宽对发射装置进行筛选，将性能相近的发射装置筛选出来；筛选后的发射装置应用于激光雷达中，能够有效减少不同通道间的差异性，有利于提高激光雷达探测的准确性。

在其中一个实施例中，步骤S120：接收所述出射光信号，获取所述出射光信号的性能参数，包括：

将所述出射光信号分成第一激光信号和第二激光信号；

接收所述第一激光信号得到所述出射光信号的脉宽，以及接收所述第二激光信号得到所述出射光信号的平均功率；

根据所述脉宽和所述平均功率计算得到所述出射光信号的峰值功率。

可以理解的是，可以通过一个复合测量设备获取平均功率和脉宽，发射装置发射的出射光信号直接射向复合测量设备，并由复合测量设备进行测量。但是由于复合测量设备系统设计复杂，成本较高，因此本实施例通过对出射光信号进行分光处理，利用不同的接收设备分别获取平均功率和脉宽。通过对出射光信号进行分光处理得到的第一激光信号和所述第二激光信号。在一些实施例中，可利用分光棱镜，例如偏振分光棱镜、偏振分光平片，还可以利用双折射棱镜、中心开孔反射镜等进行分光。

本实施例中，通过分光处理将出射光信号分成第一激光信号和第二激光信号；然后通过光电探测器接收所述第一激光信号，并根据所述第一激光信号得到所述出射光信号的脉宽；以及，通过功率计接收所述第二激光信号，并根据所述第二激光信号得到所述出射光信号的平均功率；进一步的，根据预设重频以及获取的脉宽和平均功率计算峰值功率，其中计算公式为：峰值功率＝平均功率/(重频*脉宽)；最后，利用峰值功率和脉宽筛选出性能相近的发射装置。具体的，请参见图3和图4，包括第一检测单元220和第二检测单元230；其中，第一检测单元220用于接收第一激光信号，并根据所述第一激光信号确定待测发射装置的脉宽；第二检测单元230用于接收第二激光信号，并根据所述第二激光信号确定待测发射装置的平均功率。第一检测单元220可以包括光电探测器，通过光电探测器接收所述第一激光信号，进而根据所述第一激光信号得到所述出射光信号的脉宽；第二检测单元230可以包括功率计，通过功率计接收所述第二激光信号，进而根据所述第二激光信号得到所述出射光信号的平均功率。

在测量出射光信号的脉宽和平均功率时，由于光电探测器的灵敏度较高，只能接收出射光信号的很小一部分能量，否则光电探测器将过饱和；而功率计则接收大部分出射光信号的能量，可将功率计接收的第二激光信号的平均功率作为出射光信号的平均功率。在一个具体实施例中，可以选用偏振分光棱镜进行分光，偏振分光棱镜能够使P光透过、S光偏折。待测发射装置发射的出射信号中，P光的百分比大于99％，所以大部分的能量(P光)透过偏振分光棱镜成为第二激光信号，并到达功率计，极少部分能量(S光)通过偏振分光棱镜偏折后成为第一激光信号，并到达光电探测器，这样既能保证光电探测器过饱和，实现脉宽的检测，同时还能保证大部分的能量(P光)通过偏振分光棱镜到达到功率计端，实现平均功率的检测。

在其中一个实施例中，所述将所述出射光信号分成第一激光信号和第二激光信号，包括：

利用准直镜对所述待测发射装置发射的出射光信号进行准直，并将准直后的所述出射光信号出射至分光器，利用所述分光器将所述出射光信号分成所述第一激光信号和所述第二激光信号。

本实施例中，发射装置上的出光点放置到准直镜的焦点位置，经过所述准直镜的光束为准直光束，准直光束入射到偏振分光棱镜上，通过偏振分光棱镜分光处理将出射光信号分成第一激光信号和第二激光信号。可以理解，准直镜的主要作用是对出射光信号进行准直，使出射光信号由带有发散角的光束变为几乎平行的光束，并射向分光器；经过分光器后的第一激光信号和第二激光信号也是平行光，便于接收。而且，经过准直后，也可以压缩出射光信号的光斑尺寸，使所有出射光信号均能射入分光器，进而使得检测到的峰值功率更准确。在利用准直镜对出射光信号进行准直时，主要是根据功率计探头和光电探测器探头的尺寸来决定将出射光信号整形为什么形状。所述准直镜可以是非球柱面+球柱面组合，也可以是球透镜(组)，还可以是柱面镜+球透镜(组)等等，本实施例并不对所述准直镜的构成进行限定。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测方法还包括：

将准直后的所述出射光信号出射至分光器之前，利用光阑和探测器检测准直后的出射信号的光斑是否达到标准。

本实施例中，光阑设置在准直镜和分光器之间，探测器设置在光阑朝向准直镜的一侧。若准直后的出射光信号的光斑尺寸达到标准，则出射信号会全部通过光阑到达分光器；若准直后的出射光信号的光斑尺寸不达标，则部分光斑会超出光阑落在探测器上，探测器此时会产生相应的探测电信号；当探测器上产生探测电信号时，说明出射光信号没有全部进入分光器，检测条件发生变化导致不准确，需要调整准直镜，例如更换镜片，此外还可以调准直镜和激光器之间的距离。

在其中一个实施例中，所述根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选，包括：

将所述出射信号的所述峰值功率与预设功率阈值进行比较，以及将所述出射信号的脉宽与预设脉宽阈值进行比较；

将对应的所述出射信号的所述峰值功率大于所述预设功率阈值且其所述脉宽小于所述预设脉宽阈值的所述待测发射装置分为第一组；

将对应的所述出射信号的所述峰值功率小于或等于所述预设功率阈值的所述待测发射装置，和/或对应的所述出射信号的所述脉宽大于或等于所述预设脉宽阈值的所述待测发射装置分为第二组。

可以理解的是，出射光信号的脉宽影响测距精度，峰值功率影响测距能力。因此，需要根据出射光信号的峰值功率和脉宽对发射装置进行筛选，将性能相近的发射装置筛选出来。在根据峰值功率和脉宽对于每一批次的发射装置进行筛选时，需要同时满足：

一，所述待测发射装置的脉宽小于预设脉宽值。因为发射装置发射的出射光信号用于探测时，出射光信号的脉宽越小，测距的精度越高，所以为保证测距的精确定，必须将脉宽控制在一定范围内。如目前常用的发射装置的出射光信号的脉宽约为35ns、平均功率约为55mA，因此一般要将筛选出来的所述待测发射装置的脉宽控制在36ns以内，以提高一致性。本实施例中脉宽预设值为36ns，筛选出的第一组中发射装置的出射信号的脉宽均小于36ns。

二，所述待测发射装置的峰值功率大于预设功率阈值。可以理解，因为发射装置发射的出射光信号用于探测时，峰值功率会直接影响测距能力，峰值功率越高，测距能力越强。另外，发射装置需适配激光雷达系统的驱动电路，还需要具有一个与驱动电路适配的最小峰值功率Pmin，因此可以选择该最小峰值功率Pmin作为预设功率阈值。

本实施例中，可先将获取的峰值功率与预设功率阈值进行比较，确定其峰值功率大于预设功率阈值的出射光信号对应的发射装置，确定初步筛选出的发射装置；然后将初步筛选出的发射装置的脉宽与预设脉宽值进行比较，确定其脉宽小于预设脉宽值的发射装置，从而确定对应的所述出射信号的所述峰值功率大于所述预设功率阈值且其所述脉宽小于所述预设脉宽阈值的发射装置，并将其归为第一组，使得第一组内的发射装置具有相似的测距精度和测距能力，即第一组内的发射装置的性能相似；再将筛选后第一组中的发射装置应用于激光雷达中，能够有效减少不同通道间的差异性，有利于提高激光雷达探测的准确性。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测方法还包括：在将所述峰值功率与所述预设功率阈值进行比较之前，根据功率调整系数对所述预设功率阈值进行调整。

可以理解的是，考虑到检测系统及环境对检测结果的影响，检测得到的峰值功率大于实际/理论峰值功率，因此需要引入功率调整系数Q，通过功率调整系数Q调整预设功率阈值，提高筛选的准确度。其中功率调整系数Q与发射装置中的激光器的发散角、以及接收设备中的功率计的接收口径有关，例如，功率计接收口径越小功率调整系数Q值越大，激光器的发散角越大功率调整系数Q值越大。调整后的预设功率阈值为Q×Pmin。

在其中一个实施例中，同一型号的发射装置采用相同的功率调整系数。可以理解，当各个部件之间的位置关系固定不变时，检测系统及环境对检测结果的影响也是相对不变的；同一型号的发射装置，默认为其激光器的发散角也是相同，且采用同一检测系统获取平均功率时，所使用的功率计的口径也是恒定不变的，因此采用相同的功率调整系数对所述同一型号的发射装置进行调整，可消除人为因素造成的差异，提高筛选准确度。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测方法还包括：

在以所述预设功率驱动所述待测发射装置之前，将所述待测发射装置固定于所述发射装置检测系统的基座。

可以采用手持发射装置进行测试，但手持测量无法保证每次测量时出射光信号出射角度、发射装置与探测装置距离的一致性。更甚至，若采用光电探测器接收出射光信号进行测量，由于光电探测器比较敏感不能直射，需将出射光信号偏转一定角度射向光电探测器；手持发射装置无法保证每次测量偏转的角度相同，测量结果的准确性也无法保证。

为提高测试一致性，消除人为因素的影响，需要将发射装置固定。具体的，可通过设置基座，在进行检测之前，将待测发射装置放置在所述基座的卡槽中，利用所述卡槽固定所述待测发射装置，保证待测发射装置的出射光与光电探测器的接收面维持固定的角度，以及保证待测发射装置与功率计之间维持相对固定的距离，消除检测过程中的人为因素的影响，进一步提高检测的准确性。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测方法还包括：

在判定所述脉宽小于预设脉宽阈值且峰值功率大于所述预设功率阈值时，生成用于提示用户所述待测发射装置符合筛选要求的检测合格通知，并根据所述检测合格通知生成“已通过检测”的语音通知；以及

在判定所述脉宽大于或等于预设脉宽阈值，和/或，所述峰值功率小于或等于所述预设功率阈值时，生成用于提示用户所述待测发射装置不符合筛选要求的检测不合格通知，并根据所述检测不合格通知生成“未通过检测”的语音通知。

本实施例中，在判定所述待测发射装置符合筛选要求时生成“已通过检测”的语音通知，以及在判定所述待测发射装置不符合筛选要求时生成“未通过检测”的语音通知，便于工作人员及时便捷的获知检测结果。

基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种发射装置性能检测系统，请参见图2，所述发射装置性能检测系统包括待测发射装置100、检测模块200和比较模块300。

所述待测发射装置100用于在预设功率驱动下发射出射光信号。

所述检测模块200用于接收所述出射光信号，并获取所述出射光信号的性能参数。

所述比较模块300与所述检测模块200电连接，用于根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置100进行筛选。

本实施例中，所述预设策略包预设驱动功率和预设重频；以预设驱动功率和预设重频驱动所述待测发射装置，将所有待测发射装置置于相同的驱动环境中，可排除驱动环境因素对出射光信号的性能参数的会产生的影响，使得获取到的性能参数仅仅与发射装置的自身性能有关。由于发射装置的性能对激光雷达的测距能力有直接影响，尤其是发射装置的峰值功率和脉宽等性能参数；峰值功率可以由平均功率、脉宽和重频计算出来，因此本实施例中在重频相同的情况下，需要根据接收到的出射光信号获取所述出射信号的平均功率和脉宽，进而计算峰值功率。在确定峰值功率后，根据峰值功率和脉宽对发射装置进行筛选，将性能相近的发射装置筛选出来；筛选后的发射装置应用于激光雷达中，能够有效减少不同通道间的差异性，有利于提高激光雷达探测的准确性。

此外，通过设置比较模块300，可以实现自动计算所述待测发射装置的峰值功率，以及根据峰值功率和脉宽快速判断发射装置的性能，有利于提高发射装置的筛选速率。

可以理解的是，可以通过一个复合测量设备获取平均功率和脉宽，发射装置发射的出射光信号直接射向复合测量设备，并由复合测量设备进行测量。但是由于复合测量设备系统设计复杂，成本较高，因此本实施例通过对出射光信号进行分光处理，利用不同的接收设备分别获取平均功率和脉宽。请参见图3和图4，在其中一个实施例中所述检测模块包括第一检测单元220和第二检测单元230；其中，第一检测单元220用于接收所述第一激光信号，并根据所述第一激光信号确定所述待测发射装置的脉宽；所述第二检测单元230用于接收所述第二激光信号，并根据所述第二激光信号确定所述待测发射装置的平均功率。本实施例中，所述第一检测单元220可以包括光电探测器，通过光电探测器接收所述第一激光信号，进而根据所述第一激光信号得到所述出射光信号的脉宽；所述第二检测单元230可以包括功率计，通过功率计接收所述第二激光信号，进而根据所述第二激光信号得到所述出射光信号的平均功率。

基于上述利用不同的接收设备分别获取平均功率和脉宽的设计，为保证筛选准确性，本发明实施例对出射光信号进行分光处理，将出射光信号分成具有相同的光学特性的第一激光信号和所述第二激光信号，可消除因出射至不同接收设备上的激光信号具有不同的光学特性所导致的影响。基于此，在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测系统还包括分光器700，通过所述分光器700用于将所出射光信号分成所述第一激光信号和所述第二激光信号。

在其中一个实施例中，所述分光器700包括偏振分光棱镜、偏振分光平片、非偏振分光棱镜和中心开小孔的反射镜中的任一种。例如，图3和图4所示的发射装置性能检测系统中，选用偏振分光棱镜偏振分光棱镜作为分光器700，使得大部分的能量(P光)透过偏振分光棱镜到达功率计端，极少部分能量(S光)通过偏振分光棱镜反射到光电探测器端，这样既能保证光电探测器不饱和，实现脉宽的检测，同时还能保证大部分的能量(P光)通过偏振分光棱镜到达到功率计端，实现平均功率的检测。图3和图4所示的发射装置性能检测系统中，选用中心开小孔的反射镜作为分光器700时，极少部分能量透过小孔出射到光电探测器端，大部分能量通过中心开小孔的反射镜反射到功率计端。由此也可以看出，反射板性能检测系统中第一检测单元220和第二检测单元230的位置并非固定不变，其二者的位置主要由选用的分光器700来决定。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测系统还包括准直镜800。本实施例中利用所述准直镜800准直所述出射光信号。经准直后出射光信号由带有发散角的光束变为几乎平行的光束，并射向分光器；使经过分光器后的第一激光信号和第二激光信号也是平行光，便于接收。而且，经过准直后，也可以压缩出射光信号的光斑尺寸，使所有出射光信号均能射入分光器，进而使得检测到的峰值功率更准确。

在其中一个实施例中，所述发射装置检测系统还包括光阑(未图示)和探测器(未图示)，所述光阑位于准直镜和分光器之间，探测器设置在光阑朝向准直镜的一侧，通过光阑和探测器判断准直后的出射光信号的光斑尺寸是否达标，并在不达标时调整准直镜，例如更换镜片，以及调准直镜和激光器之间的距离，使得出射光信号全部入射分光器。

在其中一个实施例中，所述比较模块300还用于在将所述峰值功率与所述预设功率阈值进行比较之前，根据功率调整系数对所述预设功率阈值进行调整，以使调整后的预设功率阈值更准确。

在其中一个实施例中，所述同一型号的所述发射装置的功率调整系数相同。

在其中一个实施例中，所述比较模块300可以为集成芯片，利用一个芯片实现数据处理和比较功能。此外，还可以将功率计与所述光电探测器与电脑处理器连接，利用电脑处理器+软件方式实现筛选。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测系统还包括基座400，所述基座400中设置有卡槽，用于固定所述待测发射装置100，以消除检测过程中的人为因素的影响，进一步提高检测的准确性。本实施例中，检测模块200、比较模块300和基座400固定在测试基台上；其中，所述基座400通过螺钉或销钉固定于测试基台。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测系统还包括：

获取模块500，用于获取所述待测发射装置的标识信息；以及

存储模块600，与所述获取模块500和所述比较模块300分别电连接，用于根据所述待测发射装置的标识信息，存储所述待测发射装置的峰值功率和所述待测发射装置的脉宽。

可以理解，发射装置表面一般贴有标签，所述标签中包含标识信息，同时还包含所述标识信息的条形码或二维码，再或者所述标签为射频卡，因此可通过扫描的方式直接获取所述待测发射装置的标识信息。此外，所述获取模块500还可以为人机交互界面，通过人工输入该发射装置标识信息。此外，通过存储所述待测发射装置的峰值功率和所述待测发射装置的脉宽，可以在检测完后随时查看可符合筛选要求的发射装置，以及确定发射装置的合格率。

在其中一个实施例中，所述发射装置性能检测系统还包括声音告警模块900，所述声音告警模块与比较模块300电连接。

所述比较模块300，还用于在判定所述脉宽大于或等于预设脉宽阈值，和/或，所述峰值功率小于或等于所述预设功率阈值时，生成用于提示用户所述待测发射装置不符合筛选要求的检测不合格通知。

所述声音告警模块900，用于根据所述不检测合格通知生成“未通过检测”的语音通知，以及所述检测合格通知生成“已通过检测”的语音通知，便于工作人员及时获知检测结果。

综上，本发明实施例提供了一种发射装置性能检测方法及系统，其中发射装置性能检测方法包括：以预设策略驱动待测发射装置发射出射光信号；接收所述出射光信号，获取所述出射光信号的性能参数；根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选。发射装置的性能对激光雷达的测距能力有直接影响，尤其是发射装置的峰值功率。以预设策略驱动发射装置发射，通过出射光信号进行性能参数的测量，确保所有待测发射装置均处于相同的驱动环境中，获取到的性能参数仅仅与发射装置的自身性能有关。再根据获得的性能参数对发射装置进行筛选，将性能相近的发射装置筛选出来；筛选后的发射装置应用于激光雷达中，能够有效减少不同通道间的差异性，有利于提高激光雷达探测的准确性。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种发射装置性能检测方法，其特征在于，包括：

以预设策略驱动待测发射装置发射出射光信号；

接收所述出射光信号，获取所述出射光信号的性能参数；

根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选。

2.如权利要求1所述的反射板性能检测方法，其特征在于，所述接收所述出射光信号，获取所述出射光信号的性能参数，包括：

将所述出射光信号分成第一激光信号和第二激光信号；

接收所述第一激光信号得到所述出射光信号的脉宽，以及接收所述第二激光信号得到所述出射光信号的平均功率；

根据所述脉宽和所述平均功率计算得到所述出射光信号的峰值功率。

3.如权利要求2所述的反射板性能检测方法，其特征在于，所述根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选，包括：

将所述出射信号的所述峰值功率与预设功率阈值进行比较，以及将所述出射信号的脉宽与预设脉宽阈值进行比较；

将对应的所述出射信号的所述峰值功率大于所述预设功率阈值且其所述脉宽小于所述预设脉宽阈值的所述待测发射装置分为第一组；

将对应的所述出射信号的所述峰值功率小于或等于所述预设功率阈值的所述待测发射装置，和/或对应的所述出射信号的所述脉宽大于或等于所述预设脉宽阈值的所述待测发射装置分为第二组。

4.如权利要求3所述的发射装置性能检测方法，其特征在于，还包括：

在将所述峰值功率与所述预设功率阈值进行比较之前，根据功率调整系数对所述预设功率阈值进行调整。

5.如权利要求4所述的发射装置性能检测方法，其特征在于，同一型号的所述待测发射装置采用相同的所述功率调整系数。

6.如权利要求4所述的发射装置性能检测方法，其特征在于，利用功率计检测所述待测发射装置的平均功率；

所述功率调整系数是与所述功率计的接收口径相关的参数。

7.如权利要求2所述的发射装置性能检测方法，其特征在于，所述将所述出射光信号分成第一激光信号和第二激光信号，包括：

利用准直镜对所述待测发射装置发射的出射光信号进行准直，并将准直后的所述出射光信号出射至分光器，利用所述分光器将所述出射光信号分成所述第一激光信号和所述第二激光信号。

8.如权利要求1所述的发射装置性能检测方法，其特征在于，在以所述预设策略驱动所述待测发射装置之前，还包括：

将所述待测发射装置固定于发射装置检测系统的基座。

9.一种发射装置性能检测系统，其特征在于，包括：

待测发射装置，用于在预设策略驱动下发射出射光信号；

检测模块，用于接收所述出射光信号，并获取所述出射光信号的性能参数；

比较模块，与所述检测模块电连接，用于根据所述出射光信号的所述性能参数对所述待测发射装置进行筛选。

10.如权利要求9所述的发射装置性能检测系统，其特征在于，还包括基座，所述基座中设置有卡槽，用于固定所述待测发射装置。

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