[go: up one dir, main page]

CN112805541A - 清洁和检测振动测量仪的清洁状况 - Google Patents

清洁和检测振动测量仪的清洁状况 Download PDF

Info

Publication number
CN112805541A
CN112805541A CN201880098445.4A CN201880098445A CN112805541A CN 112805541 A CN112805541 A CN 112805541A CN 201880098445 A CN201880098445 A CN 201880098445A CN 112805541 A CN112805541 A CN 112805541A
Authority
CN
China
Prior art keywords
cleaning
parameter
meter
stiffness
processing system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201880098445.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112805541B (zh
Inventor
蒂莫西·M·德罗斯特
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micro Motion Inc
Original Assignee
Micro Motion Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micro Motion Inc filed Critical Micro Motion Inc
Publication of CN112805541A publication Critical patent/CN112805541A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112805541B publication Critical patent/CN112805541B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F1/00Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
    • G01F1/76Devices for measuring mass flow of a fluid or a fluent solid material
    • G01F1/78Direct mass flowmeters
    • G01F1/80Direct mass flowmeters operating by measuring pressure, force, momentum, or frequency of a fluid flow to which a rotational movement has been imparted
    • G01F1/84Coriolis or gyroscopic mass flowmeters
    • G01F1/8409Coriolis or gyroscopic mass flowmeters constructional details
    • G01F1/8436Coriolis or gyroscopic mass flowmeters constructional details signal processing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F15/00Details of, or accessories for, apparatus of groups G01F1/00 - G01F13/00 insofar as such details or appliances are not adapted to particular types of such apparatus
    • G01F15/12Cleaning arrangements; Filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F25/00Testing or calibration of apparatus for measuring volume, volume flow or liquid level or for metering by volume
    • G01F25/10Testing or calibration of apparatus for measuring volume, volume flow or liquid level or for metering by volume of flowmeters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N11/00Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties
    • G01N11/10Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties by moving a body within the material
    • G01N11/16Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties by moving a body within the material by measuring damping effect upon oscillatory body
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N9/00Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
    • G01N9/002Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity using variation of the resonant frequency of an element vibrating in contact with the material submitted to analysis
    • G01N2009/006Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity using variation of the resonant frequency of an element vibrating in contact with the material submitted to analysis vibrating tube, tuning fork

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Measuring Volume Flow (AREA)

Abstract

提供了一种测量仪电子装置(20),其被配置成清洁振动测量仪(5)中的导管。测量仪电子装置(20)包括:接口(201),其被配置成向通信地耦接至测量仪电子装置(20)的测量仪组件(10)提供驱动信号并且从测量仪组件(10)接收一个或更多个传感器信号;以及处理系统(202),其通信地耦接至接口(201)。处理系统(202)被配置成根据所接收到的一个或更多个传感器信号来确定参数。处理系统(202)还被配置成基于该参数来进行以下操作中的至少之一:检测测量仪组件(10)的非清洁状况并且进入清洁模式;以及检测测量仪组件(10)的清洁状况并且进入非清洁模式。

Description

清洁和检测振动测量仪的清洁状况
技术领域
以下描述的实施方式涉及清洁振动测量仪,并且更特别地,涉及清洁振动测量仪和检测振动测量仪的清洁状况。
背景技术
诸如振动密度计和科里奥利流量计的振动传感器是通常已知的,并且用于测量流过流量计中的导管的材料的质量流量和其他信息。在美国专利4,109,524、美国专利4,491,025和Re.31,450中公开了示例性科里奥利流量计,所有这些都归J.E.Smith等人所有。这些流量计具有直的或弯曲的配置的一个或更多个导管。例如,科里奥利质量流量计中的每个导管配置都具有一组固有振动模式,导管配置可以是简单弯曲、扭转或耦接类型。可以驱动每个导管以优选的模式进行振荡。
材料从流量计的入口侧的连接的管道流入流量计,被引导通过导管,并且通过流量计的出口侧离开流量计。振动系统的固有振动模式部分地由导管和在导管内流动的材料的组合质量来限定。
当没有流量通过流量计时,施加至导管的驱动力使沿导管的所有点以相同的相位或小的“零偏移”进行振荡,所述相同的相位或小的“零偏移”是在零流量下测量的时间延迟。随着材料开始流过流量计,科里奥利力会使沿导管的每个点都具有不同的相位。例如,流量计的入口端处的相位滞后于集中式驱动器位置的相位,而出口处的相位超前于集中式驱动器位置的相位。导管上的拾取产生表示导管运动的正弦信号。处理从拾取输出的信号以确定拾取之间的时间延迟。两个或更多个拾取之间的时间延迟与流过导管的材料的质量流率成比例。
连接至驱动器的测量仪电子装置生成用于操作驱动器的驱动信号,并且根据从拾取接收到的信号来确定材料的质量流率和其他性质。驱动器可以包括许多公知的布置之一;然而,磁体和相对的驱动线圈在流量计行业中已经取得了巨大的成功。交流电被传递至驱动线圈,以用于使导管以所期望的流管幅度和频率振动。在本领域中还已知将拾取提供为非常类似于驱动器布置的磁体和线圈布置。然而,当驱动器接收到引起运动的电流时,拾取可以使用由驱动器提供的运动来感应电压。由拾取测量的时间延迟的幅度很小,通常以纳秒来测量。因此,有必要使换能器输出非常准确。
然而,振动测量仪中的不干净的状况可能会影响换能器的准确性。例如,振动测量仪中的被覆(coating)可能使拾取之间的时间延迟变化。因此,由流量计测量的性质可能不准确。此外,如果未检测到被覆并且未执行清洁处理,则由流量计进行的不准确测量值同样可能无法被检测到。此外,当执行清洁处理时,流量计可能是离线的,从而使采用流量计的系统停机。该停机由于需要人工干预而可能不必要的长;例如需要用户停止清洁处理。因此,存在清洁和检测振动测量仪的清洁状况的需要。
发明内容
提供了一种测量仪电子装置,该测量仪电子装置被配置成清洁振动测量仪中的导管。根据实施方式,该测量仪电子装置包括:接口,其被配置成向通信地耦接至测量仪电子装置的测量仪组件提供驱动信号并且从测量仪组件接收一个或更多个传感器信号;以及处理系统,其通信地耦接至接口。根据实施方式,处理系统被配置成根据所接收到的一个或更多个传感器信号来确定参数,并且基于该参数来进行以下操作中的至少之一:检测测量仪组件的非清洁状况并且进入清洁模式;以及检测测量仪组件的清洁状况并且进入非清洁模式。
提供了一种清洁振动测量仪中的导管的方法。根据实施方式,该方法包括:向测量仪组件提供驱动信号;从测量仪组件接收一个或更多个传感器信号;以及使用处理系统来确定所接收到的一个或更多个传感器信号的参数。根据实施方式,该方法还包括基于该参数进行以下操作中的至少之一:检测测量仪组件的非清洁状况并且将处理系统置于清洁模式;以及检测测量仪组件的清洁状况并且将处理系统置于非清洁模式。
各个方面
根据一方面,测量仪电子装置(20)被配置成清洁振动测量仪(5)中的导管,该测量仪电子装置包括:接口(201),其被配置成向通信地耦接至测量仪电子装置(20)的测量仪组件(10)提供驱动信号并且从测量仪组件(10)接收一个或更多个传感器信号;以及处理系统(202),其通信地耦接至接口(201)。处理系统(202)被配置成根据所接收到的一个或更多个传感器信号来确定参数。处理系统(202)还被配置成基于该参数来进行以下操作中的至少之一:检测测量仪组件(10)的非清洁状况并且进入清洁模式;以及检测测量仪组件(10)的清洁状况并且进入非清洁模式。
优选地,处理系统(202)还被配置成:如果参数的值基本上偏离参数的基准值,则检测到非清洁状况;以及如果参数的值基本上等于参数的基准值,则检测清洁状况。基准值与振动测量仪(5)的先前确定的清洁状况相关联。
优选地,处理系统(202)的清洁模式包括:处理系统(202)被配置成执行清洁例程。清洁例程包括迭代地并且重复地:确定所接收到的一个或更多个拾取信号的参数的值;将参数的值与参数的基准值进行比较;以及基于比较来检测非清洁状况。
优选地,处理系统(202)还被配置成:在测量仪电子装置(20)处于清洁模式的同时检测测量仪组件(10)的清洁状况;并且如果检测到清洁状况,则进入非清洁模式。
优选地,处理系统(202)被配置成进入清洁模式包括:处理系统(202)被配置成通过路径(26)发送指示处理系统(202)的清洁模式的清洁模式信号。
优选地,驱动信号包括谐振分量和至少一个非谐振分量,一个或更多个传感器信号包括至少一个分量,所述至少一个分量与驱动信号的至少一个非谐振分量对应,该参数根据驱动信号的至少一个非谐振分量和与驱动信号的至少一个非谐振分量对应的至少一个分量来确定,并且该参数是测量仪组件(10)的导管(130,130')的刚度、质量和阻尼中的一个。
优选地,所接收到的一个或更多个传感器信号包括右拾取信号和左拾取信号中的至少之一,并且该参数与右拾取信号和左拾取信号中的一个相关联。
优选地,根据一个或更多个传感器信号确定的参数包括一个或更多个传感器信号的驱动增益和测量仪组件的谐振频率中的一个。
根据一方面,一种清洁振动测量仪中的导管的方法包括:向测量仪组件提供驱动信号;从测量仪组件接收一个或更多个传感器信号;以及使用处理系统来确定所接收到的一个或更多个传感器信号的参数。该方法还包括基于该参数进行以下操作中的至少之一:检测测量仪组件的非清洁状况并且将处理系统置于清洁模式;以及检测测量仪组件的清洁状况并且将处理系统置于非清洁模式。
优选地,如果参数的值基本上偏离参数的基准值,则检测到非清洁状况,以及如果参数的值基本上等于参数的基准值,则检测到清洁状况。基准值与振动测量仪的先前确定的清洁状况相关联。
优选地,清洁模式包括清洁例程,该清洁例程包括迭代地并且重复地:确定所接收到的一个或更多个拾取信号的参数的值;将参数的值与参数的基准值进行比较;以及基于该比较来检测非清洁状况。
优选地,该方法还包括:在处于清洁模式的同时检测测量仪组件的清洁状况;并且如果检测到清洁状况,则进入非清洁模式。
优选地,将处理系统置于清洁模式包括:处理系统通过路径发送指示处理系统的清洁模式的信号。
优选地,驱动信号包括谐振分量和至少一个非谐振分量,一个或更多个传感器信号包括至少一个分量,所述至少一个分量与驱动信号的至少一个非谐振分量对应,该参数根据驱动信号的至少一个非谐振分量和与驱动信号的至少一个非谐振分量对应的至少一个分量来确定,并且该参数是测量仪组件的导管的刚度、质量和阻尼中的一个。
优选地,所接收到的一个或更多个传感器信号包括右拾取信号和左拾取信号中的至少之一,并且该参数与右拾取信号和左拾取信号中的一个相关联。
优选地,根据一个或更多个传感器信号确定的参数包括一个或更多个传感器信号的驱动增益和测量仪组件的谐振频率。
附图说明
在所有附图中,相同的附图标记表示相同的元件。应当理解,附图不一定是按比例的。
图1示出了振动测量仪5。
图2示出了用于清洁和检测振动测量仪的清洁状况的测量仪电子装置20。
图3示出了曲线图300,该曲线图示出了对振动测量仪的非清洁状况的检测。
图4示出了检测振动测量仪的清洁状况的方法400。
图5示出了清洁振动测量仪的方法500。
具体实施方式
图1至图5以及以下描述描绘了具体示例以教导本领域技术人员如何做出和使用清洁和检测振动测量仪的清洁状况的实施方式的最佳模式。出于教导本发明原理的目的,一些常规的方面已经被简化或省略。本领域技术人员将理解落入本说明书范围内的这些示例的变型。本领域技术人员将理解,以下描述的特征可以以各种方式组合以形成清洁和检测振动测量仪的清洁状况的多种变型。因此,以下描述的实施方式不限于以下描述的具体示例,而仅由权利要求及其等同方案限定。
图1示出了振动测量仪5。如图1所示,振动测量仪5包括测量仪组件10和测量仪电子装置20。测量仪组件10对处理材料的质量流率和密度进行响应。测量仪电子装置20经由传感器信号100连接至测量仪组件10,以通过路径26提供密度、质量流率和温度信息以及/或者其他信息。
测量仪组件10包括一对歧管150和150'、具有凸缘颈110和110'的凸缘103和103'、一对平行导管130和130'、驱动器180、电阻式温度检测器(RTD)190以及一对拾取传感器170l和170r。导管130和130'具有两个基本上直的入口支路131、131'和出口支路134、134',入口支路131、131'和出口支路134、134'在导管安装块120和120'处朝向彼此会聚。导管130、130'在沿其长度的两个对称位置处弯曲,并且在其整个长度上基本上平行。撑杆140和140'用于限定每个导管130、130'围绕其振荡的轴线W和W'。导管130、130'的支路131、131'和134、134'固定地附接至导管安装块120和120',并且这些安装块又固定地附接至歧管150和150'。这提供了穿过测量仪组件10的连续闭合的材料路径。
当具有孔102和102'的凸缘103和103'经由入口端104和出口端104'连接到运送被测量的处理材料的处理线(未示出)中时,材料通过凸缘103中的孔口101进入测量仪的入口端104,并且通过歧管150被引导至具有表面121的导管安装块120。在歧管150内,材料被分开并且通过导管130、130'输送。在离开导管130、130'时,处理材料在具有表面121'的块120'和歧管150'内重新结合成单个流,并且此后被输送至通过具有孔102'的凸缘103'连接至处理线(未示出)的出口端104'。
选择导管130、130'并将其适当地安装至导管安装块120、120',以分别具有关于弯曲轴线W--W和W'--W'的基本上相同的质量分布、惯性矩和杨氏模量。这些弯曲轴线穿过撑杆140、140'。由于导管的杨氏模量随温度而变化,并且这种变化影响流量和密度的计算,因此将RTD 190安装至导管130'以连续地测量导管130'的温度。导管130'的温度以及因此由于通过RTD 190的给定电流而在RTD 190两端出现的电压由通过导管130'的材料的温度控制。在RTD 190两端出现的温度相关的电压由测量仪电子装置20在公知的方法中使用以补偿由于导管温度的任何变化而引起的导管130、130'的弹性模量的变化。RTD 190通过引线195连接至测量仪电子装置20。
导管130、130'两者由驱动器180绕其相应弯曲轴线W和W'在相反的方向上驱动,并且在被称为流量测量仪的第一异相弯曲模式下被驱动。该驱动器180可以包括许多公知布置中的任何一种,例如安装至导管130'的磁体和安装至导管130的相对线圈,并且交流电通过该相对线圈以使两个导管130、130'振动。由测量仪电子装置20经由导线185将适当的驱动信号施加到驱动器180。
测量仪电子装置20接收导线195上的RTD温度信号,以及在承载左传感器信号165l和右传感器信号165r的传感器信号100上分别出现的左传感器信号和右传感器信号。测量仪电子装置20产生出现在导线185上、到驱动器180的并且使导管130、130'振动的驱动信号。测量仪电子装置20处理左传感器信号、右传感器信号和RTD信号,以计算通过测量仪组件10的材料的质量流率和密度。该信息与其他信息一起由测量仪电子装置20作为信号施加在路径26上。
可以根据下式来生成质量流率测量值
Figure BDA0003008011430000061
Figure BDA0003008011430000062
Δt项包括操作得出的(即,测量的)时间延迟值,其包括在拾取(pick-off)传感器信号之间存在的时间延迟,例如其中时间延迟是由于与通过振动测量仪5的质量流率有关的科里奥利效应引起的。测量的Δt项最终确定流动材料在其流动通过振动测量仪5时的质量流率。Δt0项包括零流量校准常数下的时间延迟。Δt0项通常在工厂确定并且被编程到振动测量仪5中。即使在流量条件正在改变的情况下,零流量Δt0下的时间延迟也不会改变。流量校准因子FCF与流量测量仪的刚度成比例。
问题在于导管可能随时间变化,其中初始工厂校准可能随着导管130、130'被腐蚀、侵蚀或以其他方式变化而随时间变化。因此,导管130、130'的刚度可以在振动测量仪5的寿命期间从初始代表性刚度值(或原始测量的刚度值)起变化。测量仪验证可以检测导管130、130'刚度的这样的变化,如下面所说明的。
图2示出了用于清洁和检测振动测量仪的清洁状况的测量仪电子装置20。测量仪电子装置20可以包括接口201和处理系统202。测量仪电子装置20例如接收来自测量仪组件10的振动响应。测量仪电子装置20处理振动响应,以获得流过测量仪组件10的流动材料的流动特性。
如先前所讨论的,流量校准因子FCF反映了流管的材料性质和截面性质。流过流量测量仪的流动材料的质量流率通过将测量的时间延迟(或相位差/频率)乘以流量校准因子FCF来确定。流量校准因子FCF可以与测量仪组件的刚度特性有关。如果测量仪组件的刚度特性变化,则流量校准因子FCF也将变化。因此,流量测量仪的刚度的变化将影响由流量测量仪生成的流量测量值的准确度。
接口201经由图1的传感器信号100接收来自拾取传感器170l、170r之一的振动响应。接口201可以执行任何必要的或期望的信号调节,例如任何方式的格式化、放大、缓冲等。替选地,信号调节中的一些或全部可以在处理系统202中执行。此外,接口201可以实现测量仪电子装置20与外部设备之间的通信。接口201能够进行任何方式的电子、光学或无线通信。接口201可以基于振动响应来提供信息。
在一个实施方式中,接口201与数字化仪(未示出)耦接,其中传感器信号包括模拟传感器信号。数字化仪对模拟振动响应进行采样并且使其数字化,并且产生数字振动响应。
处理系统202进行测量仪电子装置20的操作,并且处理来自测量仪组件10的流量测量值。处理系统202执行一个或更多个处理例程,从而处理流量测量值,以产生一个或更多个流量特性。处理系统202通信地耦接至接口201并且被配置成从接口201接收信息。
处理系统202可以包括通用计算机、微处理系统、逻辑电路或一些其他通用或定制处理设备。附加地或替选地,处理系统202可以分布在多个处理设备之中。处理系统202还可以包括任何方式的集成或独立的电子存储介质,例如存储系统204。
存储系统204可以存储参数例如测量仪验证参数以及数据、软件例程、恒定值和变量值。所存储的值可以是测量值、基准值等。基准值可以是在测量值之前确定的值,例如在工厂校准例程期间等确定的值。然而,可以采用任何合适的基准值。在一个实施方式中,存储系统204包括由处理系统202执行的例程,例如振动测量仪5的操作例程210和验证220。振动测量仪5的验证220可以包括将测量值与基准值进行比较。验证220可以检测振动测量仪5中的导管的清洁和/或非清洁状况。存储系统还可以存储统计值,例如标准偏差、置信区间等。
如以上所讨论的,验证220可以包括将参数的测量值与参数的基准值进行比较。例如,如果测量值基本上偏离基准值,则可以检测到故障状况例如振动测量仪的非清洁状况。如果测量值基本上等于参数的基准值,则可以检测到无故障状况例如清洁状况。如果基准值与先前确定的清洁状况相关联,则检测到的故障状况可以是非清洁状况,而检测到的非故障状况可以是清洁状况。上述参数可以是在验证220期间可以使用的任何参数。
例如,作为图2中所示参数的附加或替选,该参数可以是在验证220期间采用的驱动增益。该驱动增益测量使一个或更多个导管振动至期望的幅度以准确地测量科里奥利力所需的电压量。“干净的”振动测量仪在操作时可以具有稳定且相对低的驱动增益值(例如,在10%以下)。管的被覆可能会造成不平衡,这需要更多的电压或驱动增益才能维持所期望的幅度。一旦适当地清洁测量仪,则驱动增益可以恢复到稳定的被覆之前的值。验证220可以单独地或与下述其他参数一起采用或不采用基准驱动增益和测量的驱动增益,所述其他参数例如图2中所示的参数,将在下面对它们进行更详细地讨论。
存储系统204可以存储基准测量仪刚度230。基准测量仪刚度230可以在振动测量仪5的制造或校准期间或者在先前的重新校准期间确定。例如,可以在现场安装振动测量仪5之前,通过验证220来确定基准测量仪刚度230。基准测量仪刚度230表示导管130、130'在发生诸如侵蚀/腐蚀、损坏(例如,冻结、过度加压等)、被覆等的任何变化之前的刚度。基准测量仪刚度230可以是多个基准测量仪刚度测量值的平均。这样,基准测量仪刚度230可以具有将在下面更详细地讨论的相关联的分散特性(dispersion characteristic),其中基准测量仪刚度测量值可以变化。基准测量仪刚度测量值变化越多,则分散越大。
存储系统204可以存储测量仪刚度232。测量仪刚度232包括根据在振动测量仪5的操作期间生成的振动响应确定的刚度值。可以生成测量仪刚度232以验证振动测量仪5的适当操作。测量仪刚度232可以被生成以用于验证处理,其中测量仪刚度232用于验证振动测量仪5的适当且准确的操作的目的。类似于基准测量仪刚度230,测量仪刚度232可以是多个测量仪刚度测量值的平均。这样,测量仪刚度232可以具有相关联的分散特性,其中测量仪刚度测量值可以变化。测量仪刚度测量值变化越大,分散特性越大。
存储系统204可以存储刚度变化234。刚度变化234可以是通过比较基准测量仪刚度230和测量仪刚度232确定的值。例如,刚度变化234可以是基准测量仪刚度230与测量仪刚度232之间的差。在该示例中,负数可以指示导管130、130'的刚度自被现场安装以来增大。正数可以指示导管130、130'的物理刚度自基准测量仪刚度230被确定以来减小。
如可以理解的,可以以各种方式执行比较。例如,刚度变化234可以是测量仪刚度232与基准测量仪刚度230之间的差。因此,刚度的增大将引起正数,而刚度的减小将引起负数。附加地或替选地,可以采用由基准测量仪刚度230和/或测量仪刚度232得出或与基准测量仪刚度230和/或测量仪刚度232有关的值,例如采用诸如导管几何结构、尺寸等的其他值的比率。
如果测量仪刚度232与基准测量仪刚度230基本相同,则可以确定振动测量仪5或更具体地导管130、130'自其被制造、校准时起或从振动测量仪5上一次被重新校准时起相对未变化。替选地,在测量仪刚度232与基准测量仪刚度230显著不同的情况下,则可以确定导管130、130'已劣化并且可能不能准确且可靠地操作,例如在导管130、130'由于侵蚀、腐蚀、损坏(例如,冻结、过度加压等)、被覆或其他状况而变化的情况下。
如以上所讨论的,针对左拾取传感器170l和右拾取传感器170r两者确定基准测量仪刚度230和测量仪刚度232。即,基准测量仪刚度230和测量仪刚度232与左拾取传感器170l和右拾取传感器170r之间的导管130、130'的刚度成比例。因此,导管130、130'的不同状况可能引起类似的刚度变化234。例如,导管130、130'的侵蚀、腐蚀和/或损坏可能引起物理刚度的类似降低,这可以由负的或“低”的刚度变化234来指示。因此,当仅依赖于刚度变化234时,导管130、130'的特定状况可能是不可确定的。
然而,左拾取传感器170l和右拾取传感器170r可以各自具有它们自己的相关联刚度值。更具体地,如以上所讨论的,驱动器180向导管130、130'施加力,并且拾取传感器170l、170r测量所产生的偏转。导管130、130'在拾取传感器170l、170r的位置处的偏转量与在驱动器180与拾取传感器170l、170r之间的导管130、130'的刚度成比例。
因此,与左拾取传感器170l相关联的刚度与在驱动器180与左拾取传感器170l之间的导管130、130'的物理刚度成比例,并且与右拾取传感器170r相关联的刚度与在驱动器180与右拾取传感器170r之间的导管130、130'的物理刚度成比例。因此,如果在驱动器180与例如右拾取传感器170r之间存在侵蚀、腐蚀、损坏、被覆等,则与右拾取传感器170r相关联的刚度可能降低,而与左拾取传感器170l相关联的刚度可能不变。为了跟踪变化,存储系统204还可以包括与左拾取传感器170l和右拾取传感器170r相关联的刚度值。
例如,如图2所示,存储系统204包括基准LPO刚度240,其与在驱动器180与左拾取传感器170l在导管130、130'上的位置之间的导管130、130'的物理刚度成比例。类似地,存储系统204还包括基准RPO刚度250,其与在驱动器180与右拾取传感器170r在导管130、130'上的位置之间的导管130、130'的物理刚度成比例。基准LPO刚度240和基准RPO刚度250可以在现场安装振动测量仪5之前(例如,在振动测量仪5的制造或校准期间,或在先前的重新校准期间)通过验证220来确定。
存储系统204还包括LPO刚度242和RPO刚度252。LPO刚度242与在驱动器180与左拾取传感器170l的位置之间的、但在基准LPO刚度240被确定之后的导管130、130'的物理刚度成比例。类似地,RPO刚度252与在驱动器180与右拾取传感器170r的位置之间的、但在基准RPO刚度250被确定之后的导管130、130'的物理刚度成比例。
同样如图2所示,存储系统204还包括LPO刚度变化244和RPO刚度变化254。LPO刚度变化244、RPO刚度变化254和基准LPO刚度240、基准RPO刚度250与LPO刚度242、RPO刚度252之间的差成比例。例如,负LPO刚度变化244可以指示驱动器180与左拾取传感器170l之间的导管130、130'的物理刚度已经增大。正LPO刚度变化244可以指示驱动器180与左拾取传感器170l之间的导管130、130'的物理刚度自基准LPO刚度240被确定以来已经减小。替选地,LPO刚度变化244和RPO刚度变化254可以是LPO刚度242和RPO刚度252与基准LPO刚度240和基准RPO刚度250之间的差。因此,例如,正LPO刚度变化244可以指示驱动器180与左拾取传感器170l之间的导管130、130'的物理刚度自基准LPO刚度240被确定以来已经增大。尽管LPO刚度变化244和RPO刚度变化254被描述为根据差来确定,但是可以采用根据基准LPO刚度240和基准RPO刚度250以及LPO刚度242和RPO刚度252得出的任何值或与基准LPO刚度240和基准RPO刚度250以及LPO刚度242和RPO刚度252有关的任何值,例如刚度值和诸如导管几何结构、尺寸等的其他值的比率。LPO刚度变化244和RPO刚度变化254可以以任何合适的单位表示,例如整数、比率、百分率等。
与左拾取传感器170l和右拾取传感器170r相关联的物理刚度的增大或减少可以指示导管130、130'的引起物理刚度变化的非清洁状况。例如,导管130、130'的内壁的被覆会使导管130、130'的物理刚度增大。特别地,例如左拾取传感器170l与驱动器180之间的导管130、130'的内壁的被覆会使左拾取传感器170l与驱动器180之间的导管130、130'的物理刚度增大。
此外,驱动器180与左拾取传感器170l之间的导管130、130'的物理刚度和驱动器180与右拾取传感器170r之间的导管130、130'的物理刚度的相对增大或减小另外可以指示导管130、130'的引起物理刚度变化的潜在状况。物理刚度的这种相对增大或减小可以由存储系统204中的刚度对称性260来指示。
刚度对称性260可以是指示例如LPO刚度变化244和RPO刚度变化254的相对值的任何一个或更多个合适的值。例如,LPO刚度变化244与RPO刚度变化254可以指示与左拾取传感器170l和右拾取传感器170r相关联的导管130、130'的物理刚度都增大,但例如与左拾取传感器170l相关联的物理刚度的增大大于与右拾取传感器170r相关联的物理刚度的增大。在一个示例中,刚度对称性260可以以百分率表示并且通过以下确定:
SMV对称性%=SMV刚度,LPO%-SMV刚度,RPO%;[2]
其中:
在该示例中,SMV刚度,LPO%是以百分率变化表示的LPO刚度变化244;以及
在该示例中,SMV刚度,RPO%是以百分率变化表示的RPO刚度变化254。
附加地或替选地,尽管以上讨论与测量仪刚度有关,但可以采用其他测量仪验证参数。例如,可以将残余柔性与基准残余柔性进行比较。残余柔性可以被限定为与一个振动模式相关联的频率响应的在另一振动模式的谐振频率处的部分。例如,可以将各种振动模式(例如,弯曲、扭转等)的频率响应表征为频率响应函数(例如,相对于频率的幅度响应)。频率响应函数通常以给定振动模式的谐振频率为中心,其幅度与距谐振频率的距离成比例地成斜坡地减小。例如,具有位于撑杆(brace bar)处的两个节点的一阶弯曲模式(例如,主异相弯曲模式)可以具有一阶弯曲模式谐振频率ω1。具有四个节点的二阶弯曲模式可以具有大于一阶弯曲模式谐振频率ω1的二阶弯曲模式谐振频率ω2。二阶弯曲模式的频率响应函数可以与一阶弯曲模式谐振频率ω1交叠。因此,由二阶弯曲模式引起的一阶弯曲模式的残余柔性是二阶弯曲模式的频率响应函数的位于一阶弯曲模式谐振频率ω1处的部分。如可以理解的,当侵蚀、腐蚀、损坏、被覆等发生时,给定模式的残余柔性值可能会变化,这是因为每个振动模式的频率响应将会变化。因此,残余柔性也可以用于识别振动测量仪的变化。
也可以采用阻尼。例如,测量仪验证可以将测量的阻尼值与基准阻尼值进行比较。阻尼可以用于检测被覆,因为阻尼可能不受侵蚀或腐蚀的影响。
类似地,可以将与左拾取传感器170l或右拾取传感器170r相关联的质量和与左拾取传感器170l或右拾取传感器170r相关联的基准质量进行比较。在一个示例中,可以采用预期质量。在一个示例中,基于校准的空气和水质量值以及处理流体的测量的或已知的密度的预期质量可以使用下式计算:
Figure BDA0003008011430000121
其中:
m预期是预期质量——即如果振动测量仪中没有发生变化则应当测量的质量;
m工厂,空气是在振动测量仪充满空气的情况下测量的质量;
ρ空气是空气的密度;
ρ是水的密度值;以及
ρ已知是被测量材料的密度。
预期质量m预期可以用于经由下式计算被表示为百分比的归一化质量偏差:
Figure BDA0003008011430000131
其中:
m测量是在测量仪验证期间测量的质量;以及
m偏差是测量的质量m测量与预期质量m预期的质量偏差。
如可以理解的,侵蚀、腐蚀、损坏、被覆等会影响振动测量仪中的导管的质量。因此,预期质量可以用于通过比较测量的质量与预期质量来检测振动测量仪的变化。
如以上所讨论的,在确定导管的状况时,也可以考虑导管的几何结构。例如,与直管相比,U形管可能在导管中的某些位置处相比于腐蚀更容易受到侵蚀。附加地或替选地,一些处理/导管组合可能更容易出现特定状况。例如,与采用腐蚀性材料的高温处理相比,在采用氮气的低温处理中,导管130、130'可能更容易损坏。因此,LPO刚度变化244、RPO刚度变化254和刚度对称性260或者使用这些值的方法可以包括例如其他值,例如与导管几何结构、构造、尺寸、处理变量等有关的因子。
同样如图2中可见,存储系统204还可以存储刚度标准偏差236、LPO刚度标准偏差246和RPO刚度标准偏差256。这些值可以根据例如包括基准测量仪刚度230和测量仪刚度232的测量仪刚度测量值来确定。例如,刚度标准偏差236可以是合并标准偏差。因此,刚度标准偏差236是测量仪刚度232变化程度的量度,其包括包含基准测量仪刚度230的测量仪刚度测量值。LPO刚度标准偏差246和RPO刚度标准偏差256也可以是合并标准偏差。
尽管图2中所示的示例使用了刚度标准差,但是还可以采用测量仪验证参数数据的变化和分散的其他量度。例如,可以采用方差代替标准偏差。即,刚度标准偏差236、LPO刚度标准偏差246和RPO刚度标准偏差256是示例性测量仪验证参数的分散值。附加地或替选地,可以使用集中趋势的其他量度,代替可以针对基准测量仪刚度230和测量仪刚度232采用的平均值。因此,基准测量仪刚度230和测量仪刚度232是示例性测量仪验证参数的集中趋势值。
存储装置还可以存储其他统计值,例如置信区间270。如下文将更详细地说明的,置信区间270可以基于t值272、显著性水平274和自由度276来计算。显著性水平274可以是例如通过验证220设置的标量值。显著性水平274可以被限定为在假设实际上为真时拒绝虚假设(例如,在振动测量仪中没有发生变化时检测到变化)的概率并且通常为小的值(例如,1%或0.01)。自由度276是根据用于确定例如刚度标准偏差236的样本数量来计算的。还示出了作为标量值的偏置死区(bias dead band)278,该标量值也可以通过验证220设置以确保振动测量仪中的偏置不会导致错误标记。
置信区间270可以检测振动测量仪5的物理刚度的小的变化,同时与例如先前在测量仪验证中使用的预定界限相比还减少错误警报的次数。此外,可以使用相对简单的数学运算来计算置信区间270,从而允许处理系统202使用采用相对简单的嵌入式代码的验证220来采用鲁棒的统计技术。
存储系统204还可以存储清洁例程280。清洁例程280可以包括各种步骤,例如,经由接口201和/或路径26发送清洁模式信号。清洁模式信号可以由测量仪电子装置20和/或振动测量仪5外部的设备使用,以例如向振动测量仪提供清洁溶液。附加地或替选地,接口201可以接收清洁溶液信号,该清洁溶液信号可以例如用信号通知正在向振动测量仪5提供清洁溶液。清洁溶液信号可以指示正在提供溶液、清洁溶液的组成(包括浓度、密度、温度等)以及/或者与清洁溶液有关的其他数据。因此,振动测量仪5的清洁可以是完全自动化的。清洁例程还可以包括执行验证220,如下面的讨论所指示的,该验证220可以验证测量仪组件10的清洁状况和/或非清洁状况。
图3示出了曲线图300,该曲线图示出了对振动测量仪的非清洁状况的检测。如图3所示,曲线图300包括测量仪验证计数器轴线310和百分比变化轴线320。测量仪验证计数器轴线310的范围为从0至约280,并且百分比变化轴线320的范围为从约-6%至约6%。曲线图300还示出了出口刚度曲线330a和入口刚度曲线330b。出口刚度曲线330a和入口刚度曲线330b可以分别与左拾取传感器170l和右拾取传感器170r相关联。因此,出口刚度曲线330a和入口刚度曲线330b可以分别对应于参照图2描述的LPO刚度变化244和RPO刚度变化254。
如在图3中可以看到的,出口刚度曲线330a和入口刚度曲线330b在约225的验证计数处发散。如可以理解的,出口刚度曲线330a增大,这指示测量仪组件10的出口周围的刚度可能已增大。入口刚度曲线330b减小,这指示测量仪组件10的入口周围的刚度可能已减小。如以上所讨论的,这可以解释为意味着在测量仪组件10中可能存在非清洁状况,例如被覆。如以上所讨论的,测量仪电子装置20可以进入清洁模式,在该清洁模式中清洁例程280可以执行诸如发送清洁模式信号、接收清洁溶液信号以及/或者执行验证220的步骤。
图4示出了检测振动测量仪的清洁状况的方法400。如图4所示,方法400包括在步骤410中提供驱动信号。驱动信号可以例如由测量仪电子装置20提供给图1所示的测量仪组件10。在步骤420中,方法400可以从测量仪组件接收一个或更多个传感器信号。所接收到的传感器信号可以是以上参照图1描述的传感器信号100。例如,所接收到的传感器信号可以包括左传感器信号165l和右传感器信号165r。在步骤430中,方法400使用处理系统来确定所接收到的一个或更多个传感器信号的参数。该参数可以包括测量仪刚度232、刚度变化234、LPO刚度242、LPO刚度变化244、RPO刚度252和/或RPO刚度变化254。如可以理解的,该参数还可以包括其他值,例如图2中所示的值。附加地或替选地,该参数可以是驱动增益,例如上面描述的驱动增益。在步骤440中,方法400基于该参数来检测测量仪组件的清洁状况并且将处理系统置于非清洁模式。非清洁模式可以包括例如执行以上参照图2描述的操作例程210。如可以理解的,操作例程210可以包括执行验证220以检测测量仪组件10的非清洁状况,以清洁振动测量仪。
图5示出了清洁振动测量仪的方法500。如图5所示,方法500在步骤510中向测量仪组件提供驱动信号。驱动信号可以例如由测量仪电子装置20提供给图1所示的测量仪组件10。在步骤520中,方法500可以从测量仪组件接收一个或更多个传感器信号。所接收到的传感器信号可以是以上参照图1描述的传感器信号100。例如,所接收到的传感器信号可以包括左传感器信号165l和右传感器信号165r。在步骤530中,方法500使用处理系统来确定所接收到的一个或更多个传感器信号的参数。该参数可以包括测量仪刚度232、刚度变化234、LPO刚度242、LPO刚度变化244、RPO刚度252和/或RPO刚度变化254。如可以理解的,该参数还可以包括其他值,例如图2中所示的值。在步骤540中,方法500基于该参数来检测测量仪组件的非清洁状况并且将处理系统置于清洁模式。清洁模式可以包括例如执行以上参照图2描述的清洁例程280。如可以理解的,清洁例程280可以包括执行验证220以检测测量仪组件10的清洁状况。
如可以理解的,如果参数的值基本上偏离参数的基准值,则方法400、500可以检测到非清洁状况,以及/或者如果参数的值基本上等于参数的基准值,则方法400、500可以检测到清洁状况。如以上所讨论的,基准值可以与振动测量仪的先前确定的清洁状况相关联。处理系统202的清洁模式包括处理系统202被配置成执行清洁例程。清洁例程可以包括迭代地并且重复地确定所接收到的一个或更多个拾取信号的参数的值;将参数的值与参数的基准值进行比较;以及基于比较来检测非清洁状况。
如可以理解的,驱动信号可以包括谐振分量和至少一个非谐振分量。一个或更多个传感器信号可以包括至少一个分量,所述至少一个分量与驱动信号的至少一个非谐振分量对应。因此,可以根据驱动信号的至少一个非谐振分量和与驱动信号的至少一个非谐振分量对应的至少一个分量来确定参数。附加地或替选地,根据一个或更多个传感器信号确定的参数可以包括一个或更多个传感器信号的驱动增益和测量仪组件的谐振频率中之一。该参数可以例如是测量仪组件的导管的刚度、质量和阻尼中之一,但可以采用任何合适的参数。
上面描述了振动测量仪5,特别是测量仪电子装置20,其被配置成清洁和检测测量仪组件10的清洁状况。因此,测量仪电子装置20或处理系统202可以进入清洁模式,在该清洁模式中,清洁例程280可以例如发送清洁模式信号和/或接收清洁溶液信号。因此,清洁例程280可以使振动测量仪5的清洁中的一些或全部自动化。也就是说,可以减少或消除与振动测量仪5的用户交互和/或干预,从而引起振动测量仪5和/或可以采用振动测量仪5的系统的更高效利用。
以上实施方式的详细描述不是由发明人设想的在本说明书范围内的所有实施方式的穷举性描述。实际上,本领域技术人员将认识到,可以将上述实施方式的某些元件进行各种组合或去除以产生其他的实施方式,并且这些其他实施方式落在本说明书的范围和教导内。对于本领域的普通技术人员明显的是,上述实施方式可以全部或部分地组合以产生在本说明书的范围和教导内的另外的实施方式。
因此,尽管在本文中出于说明性目的描述了具体的实施方式,但如本领域技术人员将认识到的,在本说明书的范围内的各种等效变型是可能的。本文中提供的教导可以应用于对振动测量仪的其他清洁和对振动测量仪的清洁状况的检测,而不仅应用于上述和附图中所示的实施方式。因此,上述实施方式的范围应由所附权利要求确定。

Claims (16)

1.一种测量仪电子装置(20),其被配置成清洁振动测量仪(5)中的导管,所述测量仪电子装置(20)包括:
接口(201),其被配置成向通信地耦接至所述测量仪电子装置(20)的测量仪组件(10)提供驱动信号并且从所述测量仪组件(10)接收一个或更多个传感器信号;以及
处理系统(202),其通信地耦接至所述接口(201),所述处理系统(202)被配置成:
根据所接收到的一个或更多个传感器信号来确定参数;以及
基于所述参数,进行以下操作中的至少之一:
检测所述测量仪组件(10)的非清洁状况并且进入清洁模式;以及
检测所述测量仪组件(10)的清洁状况并且进入非清洁模式。
2.根据权利要求1所述的测量仪电子装置(20),其中,所述处理系统(202)还被配置成:
如果所述参数的值基本上偏离所述参数的基准值,则检测到所述非清洁状况;以及
如果所述参数的值基本上等于所述参数的基准值,则检测到所述清洁状况;
其中,所述基准值与所述振动测量仪(5)的先前确定的清洁状况相关联。
3.根据权利要求1所述的测量仪电子装置(20),其中,所述处理系统(202)的所述清洁模式包括:所述处理系统(202)被配置成执行清洁例程,所述清洁例程包括迭代地并且重复地:
确定所接收到的一个或更多个拾取信号的参数的值;
将所述参数的值与所述参数的基准值进行比较;以及
基于所述比较来检测所述非清洁状况。
4.根据权利要求1所述的测量仪电子装置(20),其中,所述处理系统(202)还被配置成:
在所述测量仪电子装置(20)处于所述清洁模式的同时,检测所述测量仪组件(10)的所述清洁状况;并且
如果检测到所述清洁状况,则进入非清洁模式。
5.根据权利要求1所述的测量仪电子装置(20),其中,所述处理系统(202)被配置成进入所述清洁模式包括:所述处理系统(202)被配置成通过路径(26)发送指示所述处理系统(202)的所述清洁模式的清洁模式信号。
6.根据权利要求1所述的测量仪电子装置(20),其中:
所述驱动信号包括谐振分量和至少一个非谐振分量;
所述一个或更多个传感器信号包括至少一个分量,所述至少一个分量与所述驱动信号的所述至少一个非谐振分量对应;
所述参数根据所述驱动信号的所述至少一个非谐振分量和与所述驱动信号的所述至少一个非谐振分量对应的所述至少一个分量来确定;以及
所述参数是所述测量仪组件(10)的导管(130,130')的刚度、质量和阻尼中的一个。
7.根据权利要求1所述的测量仪电子装置(20),其中,所接收到的一个或更多个传感器信号包括右拾取信号和左拾取信号中的至少之一,并且所述参数与所述右拾取信号和所述左拾取信号中的一个相关联。
8.根据权利要求1所述的测量仪电子装置(20),其中,根据所述一个或更多个传感器信号确定的所述参数包括所述一个或更多个传感器信号的驱动增益和所述测量仪组件的谐振频率中的一个。
9.一种清洁振动测量仪中的导管的方法,所述方法包括:
向测量仪组件提供驱动信号;
从所述测量仪组件接收一个或更多个传感器信号;
使用处理系统来确定所接收到的一个或更多个传感器信号的参数;以及
基于所述参数,进行以下操作中的至少之一:
检测所述测量仪组件的非清洁状况并且将所述处理系统置于清洁模式;以及
检测所述测量仪组件的清洁状况并且将所述处理系统置于非清洁模式。
10.根据权利要求9所述的方法,其中:
如果所述参数的值基本上偏离所述参数的基准值,则检测到所述非清洁状况;以及
如果所述参数的值基本上等于所述参数的基准值,则检测到所述清洁状况;
所述基准值与所述振动测量仪的先前确定的清洁状况相关联。
11.根据权利要求9所述的方法,其中,所述清洁模式包括清洁例程,所述清洁例程包括迭代地并且重复地:
确定所接收到的一个或更多个拾取信号的参数的值;
将所述参数的值与所述参数的基准值进行比较;以及
基于所述比较来检测所述非清洁状况。
12.根据权利要求9所述的方法,还包括:
在处于所述清洁模式的同时,检测所述测量仪组件的所述清洁状况;以及
如果检测到所述清洁状况,则进入非清洁模式。
13.根据权利要求9所述的方法,其中,将所述处理系统置于所述清洁模式包括:所述处理系统通过路径发送指示所述处理系统的所述清洁模式的信号。
14.根据权利要求9所述的方法,其中:
所述驱动信号包括谐振分量和至少一个非谐振分量;
所述一个或更多个传感器信号包括至少一个分量,所述至少一个分量与所述驱动信号的所述至少一个非谐振分量对应;
所述参数根据所述驱动信号的所述至少一个非谐振分量和与所述驱动信号的所述至少一个非谐振分量对应的所述至少一个分量来确定;以及
所述参数是所述测量仪组件的导管的刚度、质量和阻尼中的一个。
15.根据权利要求9所述的方法,其中,所接收到的一个或更多个传感器信号包括右拾取信号和左拾取信号中的至少之一,并且所述参数与所述右拾取信号和所述左拾取信号中的一个相关联。
16.根据权利要求9所述的方法,其中,根据所述一个或更多个传感器信号确定的所述参数包括所述一个或更多个传感器信号的驱动增益和所述测量仪组件的谐振频率。
CN201880098445.4A 2018-10-08 2018-10-08 清洁和检测振动测量仪的清洁状况 Active CN112805541B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/US2018/054844 WO2020076284A1 (en) 2018-10-08 2018-10-08 Cleaning and detecting a clean condition of a vibratory meter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112805541A true CN112805541A (zh) 2021-05-14
CN112805541B CN112805541B (zh) 2024-08-20

Family

ID=63966140

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201880098445.4A Active CN112805541B (zh) 2018-10-08 2018-10-08 清洁和检测振动测量仪的清洁状况

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11796365B2 (zh)
EP (1) EP3864380B1 (zh)
JP (1) JP7090212B2 (zh)
CN (1) CN112805541B (zh)
WO (1) WO2020076284A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115773797A (zh) * 2023-02-10 2023-03-10 成都秦川物联网科技股份有限公司 智慧燃气流量修正方法、物联网系统、装置以及介质

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US12092503B2 (en) * 2019-09-25 2024-09-17 Micro Motion, Inc. Notification of events and apportioning of process data in a meter
DE102020132949A1 (de) 2020-12-10 2022-06-15 Endress+Hauser Flowtec Ag Verfahren zum Identifizieren von Belägen in einer Prozessanlage mit einem Coriolis Massedurchflussmessaufnehmer
DE102022134790A1 (de) * 2022-12-23 2024-07-04 Endress+Hauser Flowtec Ag Verfahren zum Reinigen eines Durchflussmessgerätes

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003194610A (ja) * 2001-12-21 2003-07-09 Nitto Seiko Co Ltd 質量流量計の付着物検出装置および洗浄装置
US20070186682A1 (en) * 2004-06-22 2007-08-16 Micro Motion, Inc. Meter electronics and method for detecting a residual material in a flow meter assembly
US20100206090A1 (en) * 2007-10-15 2010-08-19 Mirco Motion Inc Vibratory flow meter and method for determining a fluid temperature of a flow material
US20120123705A1 (en) * 2010-11-11 2012-05-17 Endress + Hauser Flowtec Ag Measuring system having a measuring transducer of vibration-type
US20160123792A1 (en) * 2014-10-31 2016-05-05 Invensys Systems, Inc. Method to provide a quality measure for meter verification results
CN105980816A (zh) * 2014-01-24 2016-09-28 高准公司 振动流量计量器以及用于计量器验证的方法和诊断法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US31450A (en) 1861-02-19 Improvement in tools used in the manufacture of iron
US4109524A (en) 1975-06-30 1978-08-29 S & F Associates Method and apparatus for mass flow rate measurement
US4491025A (en) 1982-11-03 1985-01-01 Micro Motion, Inc. Parallel path Coriolis mass flow rate meter
JP2004050900A (ja) * 2002-07-17 2004-02-19 Takata Corp 角度インジケータ及びチャイルドシート
CN101268340B (zh) * 2005-09-19 2010-11-03 微动公司 用于流量计的校验诊断的仪表电子器件和方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003194610A (ja) * 2001-12-21 2003-07-09 Nitto Seiko Co Ltd 質量流量計の付着物検出装置および洗浄装置
US20070186682A1 (en) * 2004-06-22 2007-08-16 Micro Motion, Inc. Meter electronics and method for detecting a residual material in a flow meter assembly
US20100206090A1 (en) * 2007-10-15 2010-08-19 Mirco Motion Inc Vibratory flow meter and method for determining a fluid temperature of a flow material
US20120123705A1 (en) * 2010-11-11 2012-05-17 Endress + Hauser Flowtec Ag Measuring system having a measuring transducer of vibration-type
CN105980816A (zh) * 2014-01-24 2016-09-28 高准公司 振动流量计量器以及用于计量器验证的方法和诊断法
US20160123792A1 (en) * 2014-10-31 2016-05-05 Invensys Systems, Inc. Method to provide a quality measure for meter verification results

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115773797A (zh) * 2023-02-10 2023-03-10 成都秦川物联网科技股份有限公司 智慧燃气流量修正方法、物联网系统、装置以及介质
US11867548B2 (en) 2023-02-10 2024-01-09 Chengdu Qinchuan Iot Technology Co., Ltd. Methods, Internet of Things systems, and mediums for correcting smart gas flow
US12276535B2 (en) 2023-02-10 2025-04-15 Chengdu Qinchuan Iot Technology Co., Ltd. Method for correcting reading of gas meter in smart gas, internet of things system, and medium thereof

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020076284A1 (en) 2020-04-16
JP2022500668A (ja) 2022-01-04
US11796365B2 (en) 2023-10-24
EP3864380B1 (en) 2024-11-27
JP7090212B2 (ja) 2022-06-23
CN112805541B (zh) 2024-08-20
US20210396566A1 (en) 2021-12-23
EP3864380A1 (en) 2021-08-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US12038317B2 (en) Vibratory flowmeter and methods and diagnostics for meter verification
EP3601963B1 (en) Determining a zero offset of a vibratory meter at a process condition
CN111033191B (zh) 检测和识别振动测量仪的变化
KR102631238B1 (ko) 2개의 베이스라인 미터 검증들에 기초한 진동계의 변화 검출
CN112805541B (zh) 清洁和检测振动测量仪的清洁状况
KR101018401B1 (ko) 강성 계수 또는 질량 계수 중 하나 이상을 결정하기 위한방법 및 계측 전자장치
KR102560585B1 (ko) 유량계의 강성 계수를 검증할 시기를 결정하기 위한 방법
KR102528999B1 (ko) 유량계에 대한 검증 진단들을 위한 미터 전자장치 및 방법들
HK40044475A (zh) 清洁和检测振动测量仪的清洁状况
HK40017126B (zh) 在过程条件下确定振动计的零点偏移
HK40017126A (zh) 在过程条件下确定振动计的零点偏移
HK1229420B (zh) 振动流量计量器以及用於计量器验证的方法和诊断法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: DE

Ref document number: 40044475

Country of ref document: HK

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant