DE102006015358B4 - Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 64
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 25
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000009102 absorption Effects 0.000 description 8
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 8
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 5
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 210000004872 soft tissue Anatomy 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/48—Diagnostic techniques
- A61B6/484—Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/08—Auxiliary means for directing the radiation beam to a particular spot, e.g. using light beams
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4233—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
- A61B6/5282—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise due to scatter
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B42/00—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
- G03B42/02—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4021—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4064—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis specially adapted for producing a particular type of beam
- A61B6/4092—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis specially adapted for producing a particular type of beam for producing synchrotron radiation
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- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2207/00—Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
- G21K2207/005—Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast
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- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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Abstract
Description
- Die Erfindung betrifft ein Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen, bestehend aus einer Strahlenquelle mit einem Fokus, einer Detektoranordnung zur Detektion der Röntgenstrahlung und einem Satz röntgenoptischer Gitter, zur Bestimmung der Phasenverschiebung beim Durchtritt der Röntgenstrahlung durch ein Untersuchungsobjekt.
- In der Computertomographie werden allgemein tomographische Aufnahmen eines Untersuchungsobjektes, insbesondere eines Patienten, mit Hilfe von Absorptionsmessungen von Röntgenstrahlen, die das Untersuchungsobjekt durchdringen, vorgenommen, wobei in der Regel eine Strahlungsquelle kreisförmig oder spiralförmig um das Untersuchungsobjekt bewegt wird und auf der, der Strahlungsquelle gegenüberliegenden Seite ein Detektor, meistens ein mehrzelliger Detektor mit einer Vielzahl von Detektorelementen, die Absorption der Strahlung beim Durchtritt durch das Untersuchungsobjekt misst. Zur tomographischen Bilderstellung werden aus den gemessenen Absorptionsdaten aller gemessenen räumlichen Strahlen tomographische Schnittbilder oder Volumendaten rekonstruiert. Mit diesen computertomographischen Aufnahmen lassen sich sehr schön Absorptionsunterschiede in Objekten darstellen, allerdings werden Gebiete ähnlicher chemischer Zusammensetzung, die naturgemäß auch ein ähnliches Absorptionsverhalten aufweisen, nur ungenügend detailliert dargestellt.
- Es ist weiterhin bekannt, dass der Effekt der Phasenverschiebung beim Durchtritt eines Strahls durch ein Untersuchungsobjekt wesentlich stärker ist als der Absorptionseffekt der von der Strahlung durchdrungenen Materie. Derartige Phasenverschiebungen werden bekannter Weise durch die Verwendung von zwei interferometrischen Gittern gemessen. Bezüglich dieser interferometrischen Messmethoden wird beispielsweise auf OPTICS EXPRESS, „X-ray phase imaging with a grating interferometer“, T. Weitkamp et all, 2005, Vol.13, No. 16, S. 6296-6304 hingewiesen. Bei dieser Methode wird ein Untersuchungsobjekt von einer kohärenten Röntgenstrahlung durchstrahlt, anschließend durch ein Gitterpaar geführt und unmittelbar nach dem zweiten Gitter die Strahlungsintensität gemessen. Das erste Gitter erzeugt ein Interferenzmuster, das mit Hilfe des zweiten Gitters auf dem dahinterliegenden Detektor ein Moire-Muster abbildet. Wird das zweite Gitter geringfügig verschoben, so ergibt sich hieraus ebenfalls eine Verschiebung des Moire-Musters, also eine Änderung der örtlichen Intensität im dahinterliegenden Detektor, welche relativ zur Verschiebung des zweiten Gitters bestimmt werden kann. Trägt man für jedes Detektorelement dieses Gitters, das heißt für jeden Strahl, die Intensitätsänderung in Abhängigkeit vom Verschiebungsweg des zweiten Gitters auf, so lässt sich die Phasenverschiebung des jeweiligen Strahls bestimmen. Problematisch, und daher für die Praxis der Computertomographie größerer Objekte nicht anwendbar, ist, dass dieses Verfahren eine sehr kleine Strahlungsquelle fordert, da zur Ausbildung des Interferenzmusters eine kohärente Strahlung notwendig ist.
- Das in der oben genannten Schrift gezeigte Verfahren erfordert entweder eine Strahlungsquelle mit einem extrem kleinen Fokus, so dass ein ausreichender Grad an räumlicher Kohärenz in der verwendeten Strahlung vorliegt. Bei der Verwendung eines derart kleinen Fokus ist dann jedoch wiederum die zur Untersuchung eines größeren Objektes ausreichende Dosisleistung nicht gegeben. Es besteht aber auch die Möglichkeit, eine monochrom kohärente Strahlung, beispielsweise eine SynchrotronStrahlung als Strahlenquelle zu verwenden, hierdurch wird jedoch das CT-System im Aufbau sehr teuer, so dass eine breitgefächerte Anwendung nicht möglich ist.
- Dieses Problem lässt sich dadurch umgehen, dass innerhalb der Fokus-/Detektorkombination im Strahlengang, unmittelbar im Anschluss an den Fokus, ein erstes Absorptionsgitter angeordnet wird. Die Ausrichtung der Gitterlinien ist hierbei parallel zu den Gitterlinien des nach dem Untersuchungsobjekt folgenden Interferenz-Gitters.
- Die Schlitze des ersten Gitters erzeugen ein Feld von individuell kohärenten Strahlen einer bestimmten Energie, welches ausreicht, um mit Hilfe des in Strahlrichtung hinter dem Objekt angeordneten Phasengitters das an sich bekannte Interferenzmuster zu erzeugen.
- Auf diese Weise ist es möglich, Strahlenquellen zu verwenden, die Ausdehnungen besitzen, die normalen Röntgenröhren in CT-Systemen beziehungsweise Durchlicht-Röntgen-Systemen entsprechen, so dass zum Beispiel im Bereich der allgemeinen medizinischen Diagnostik nun mit Hilfe von Röntgen-Geräten auch gut differenzierte Weichteilaufnahmen gemacht werden können.
- Es hat sich bei der Realisierung einer solchen Röntgenvorrichtung zur Messung der Phasenverschiebung an großen Objekten, wie beispielsweise einem Patienten, gezeigt, dass ein grundsätzliches Problem darin besteht, ausreichend große Phasen- und Analysengitter herzustellen, so dass die bei solchen Untersuchungen notwendigen großen Detektoren hierdurch abgedeckt werden können. Ein weiteres Problem besteht darin, dass die erforderlichen Mechaniken zur Verschiebung der Analysengitter, insbesondere bei der Verwendung in einem Computertomographen, bei dem der Detektor mit hoher Geschwindigkeit rotiert, schwierig handelbar ist, so dass bei zu großen röntgenoptischen Gittern alleine aus der Instabilität des Gitters selbst so große Bewegungen entstehen können, dass diese zu starken Fehlern bei der Aufnahme der Phasenverschiebung führen.
- Ergänzend wird auf die Druckschriften
US 5,812,629 A , ,US 2005/02 86 680 A1 EP 1 731 099 A1 und Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Fokus/Detektor-System für eine Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen zu finden, welches es ermöglicht, mit röntgenoptischen Gittern geringerer Größe auszukommen und gleichzeitig auch geringere Ansprüche an die mechanische Stabilität der Gitter stellt.WO 2004 / 07 12 98 A1 - Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand abhängiger Ansprüche.
- Die Erfinder haben erkannt, dass es möglich ist, das Fokus/Detektor-System derart modular aufzubauen, dass im Strahlengang des Fokus einerseits ein einziges Quellengitter zur Erzeugung der quasi-kohärenten Strahlung verwendet wird, wobei auf der Detektorseite ein modular aufgebauter Satz an Phasen- und Analysengitter verwendet wird, wobei jedes einzelne Gitter eine Größe aufweist, die problemlos über eine normale Waferproduktion herstellbar ist. In der Regel handelt es sich hierbei um Wafergrößen von etwa 5 × 5 cm2 beziehungsweise ähnlich ausgebildete Wafer in der Größenordnung von 15 × 2 cm2. Unter Verwendung solcher kompakter Gitter ist es möglich, einzelne Module aufzubauen, die aus einem fokusseitigen Phasengitter, einem danach folgenden Analysengitter und einem direkt hinter dem Analysengitter angeordneten Teildetektor besteht, der in sich wiederum aus einer Vielzahl von einzelnen Detektorelementen besteht.
- Je nach Aufbau der Gitter/Detektor-Module ist es dann möglich, zur Messung der Phasenverschiebung eines das Untersuchungsobjekt durchlaufenden Strahls, das Analysengitter dieses Moduls individuell zu verschieben. Es besteht jedoch auch die Möglichkeit, für eine Reihe von Detektormodulen einen gemeinsamen Antrieb für die dort angeordneten Analysengitter vorzusehen. Es wird allerdings darauf hingewiesen, dass nach einer nicht erfindungsgemäßen Variante der Antrieb nicht unbedingte Voraussetzung für ein maßes Gitter/Detektor-Modul ist, da bei ausreichend örtlich auflösenden Detektoren, die Verschiebung des Analysengitters zur Messung der Phasenverschiebung nicht unbedingt notwendig ist.
- Entsprechend dem Grundgedanken der Erfindung, schlagen die Erfinder ein Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von projektiven oder tomographischen Phasenkontrastaufnahmen vor, welches mindestens aus folgenden Elementen besteht:
- - einer Strahlenquelle mit einem Fokus und einem fokusseitigen Quellengitter, welches im Strahlengang angeordnet ist und ein Feld von strahlweise kohärenten Röntgenstrahlen erzeugt,
- - und einer Detektoranordnung mit einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Detektormodulen mit seitlichen Wandungen, welche jeweils in Strahlrichtung hintereinander angeordnet aufweisen:
- - mindestens ein Phasengitter, zur Erzeugung eines ersten Interferenzmusters,
- - ein Analysengitter, zur Erzeugung eines weiteren Interferenzmusters,
- - wobei auf einer Seite zwischen dem Analysengitter und der Wandung ein Piezoelement angeordnet ist und auf der gegenüberliegenden Seite ein Federelement vorliegt,
- - und flächig angeordnete Detektorelemente,
- - wobei die einzelnen Gitterlinien aller Gitter parallel zueinander ausgerichtet sind,
- - und wobei ein Untersuchungsobjekt zwischen dem Quellengitter und dem Phasengitter anzuordnen ist.
- Wie oben beschrieben ermöglicht ein derartiger Aufbau eines Fokus/Detektor-Systems die Verwendung von relativ kleinen röntgenoptischen Gittern, die problemlos über eine gängige Waferproduktion herstellbar sind.
- Grundsätzlich besteht die Möglichkeit, die Modulvarianten unterschiedlich auszuführen, so können beispielsweise die durch die Gitterlinien gebildeten Gitterflächen der Phasen- und Analysengitter der Module parallel zueinander ausgerichtet werden, oder es besteht die Möglichkeit, die Gitterflächen jeweils senkrecht zu einem Strahl auszurichten, der vom Fokus zum Detektormodul verläuft und die Gitterflächen schneidet.
- In der erstgenannten Variante entsteht auf diese Weise eine gemeinsame Gitterfläche, sowohl für das Phasengitter als auch für das nachfolgende Analysengitter, gegebenenfalls auch für das danach folgende Detektorarray. Vorteilhaft kann eine derartige Ausführung insbesondere bei der Verwendung mit C-Bogen-Systemen oder bei der Verwendung in Röntgen-Systemen zur Erstellung von projektiven Aufnahmen sein. Ein Problem kann hierbei darin bestehen, dass nicht alle Module eines größeren Detektorsystems identisch ausgebildet sein können. Das heißt, es ist zwar möglich identische Gittersysteme zu verwenden, jedoch ist es notwendig, die einzelnen Gitter in unterschiedlich ausgestaltete Gehäuse „zu verpacken“.
- Die andere, zweitgenannte Variante erzeugt die Möglichkeit, dass beispielsweise bei einem CT-Detektor die einzelnen Gitterebenen tangential an einer Kugel oder Zylinderfläche um den Fokus angeordnet werden. Beispielsweise kann die Anordnung so erfolgen, dass der Strahl der die Gitterflächen jeweils senkrecht schneidet, der jeweilige Mittelstrahl ist, der die Gitterflächen in deren jeweiligem Mittelpunkt schneidet.
- Gemäß einer weiteren Variante der Anordnung, können die Gitter/Detektor-Module so angeordnet sein, dass die Mittelpunkte aller Phasengitterflächen den gleichen Abstand zum Fokus aufweisen. Das heißt die Gitter/Detektor-Module werden also über ein bestimmtes Segment hinweg sphärisch um den Fokus angeordnet. Vorteilhaft kann hierbei eine Ausbildung sein, bei der die Mittelpunkte aller Phasengitterflächen und/oder die Mittelpunkte aller Analysengitterflächen und/oder die Mittelpunkte aller Detektorflächen der einzelnen Module den gleichen Abstand zum Fokus aufweisen. Bei diesen Varianten wird jeweils davon ausgegangen, dass die Gitterflächen in sich eben ausgebildet sind. Es besteht jedoch auch die Möglichkeit, dass die Phasengitterflächen und/oder die Analysengitterflächen und/oder die Detektorflächen der einzelnen Gitter/Detektor-Module entsprechend einem Kugeloberflächensegment mit dem Fokus als Mittelpunkt ausgebildet werden.
- Eine weitere Variante des erfindungsgemäßen Fokus/DetektorSystems kann vorsehen, dass mindestens eine Vorrichtung zur Relativverschiebung mindestens eines Analysengitters gegenüber den Phasengittern senkrecht zur Strahlenrichtung und senkrecht zur Längsrichtung der Gitterlinien vorgesehen ist, die auf mindestens zwei Analysengitter mindestens zweier Gitter/Detektor-Module wirkt. Das bedeutet also, dass im Fokus/Detektor-System eine Antriebsvorrichtung oder Verstellvorrichtung vorliegt, die wenigstens zwei Analysengitter unterschiedlicher Detektormodule antreibt. Beispielsweise kann eine derartige Ausführung verwendet werden, wenn mehrere Analysengitter auf dem gleichen Radius beziehungsweise auf der gleichen Ebene angeordnet sind, so dass das Verschieben eines Analysengitters gleichzeitig mit dem Versatz der anderen auf dieser Ebene oder Sphäre angeordneten Analysengitter einher geht.
- Eine andere Variante kann vorsehen, dass je Gitter/DetektorModul eine eigene Antriebsvorrichtung für das Analysengitter vorgesehen ist, so dass diese Antriebsvorrichtung auch nur dieses Analysengitter bewegt. Als Antriebsvorrichtung können nicht erfindungsgemäß elektromotorische Antriebsvorrichtungen sowie erfindungsgemäß ein Piezoelement verwendet werden, welches einerseits sehr exakte Verschiebungswege erlaubt und auf der anderen Seite auch nur wenig anfällig gegen die hohen Zentrifugalkräfte, die in einem CT-Detektor wirken, ist.
- Betrachtet man die Anordnung der einzelnen Gitter/DetektorModule im Fokus/Detektor-System, so können diese beispielsweise schachbrettartig angeordnet werden. Dies wird eine bevorzugte Variante für Fokus/Detektor-Systeme sein, die für ein C-Bogen-System verwendet würden oder für die Verwendung in Röntgen-Systemen zur Erzeugung projektiver Aufnahmen.
- Besonders bevorzugt für CT-Systeme mit Detektoren, die in einer Gantry eingebaut werden, ist eine Anordnung, bei der die einzelnen Gitter/Detektor-Module in der Projektion vom Fokus aus gesehen eine einzige Zeile bilden. Derartige Detektormodule haben dann keine quadratische oder annähernd quadratische Ausbildung, sondern werden eher in z-Richtung des CT-Systems ausgerichtet sein, so dass der Detektor, der aufgrund der vielzeilig nebeneinander angeordneten Detektorelemente auch als Mehrzeilen- oder Vielzeilendetektor ausgebildet ist, jedoch nur eine einzige Zeile an Detektormodulen aufweist. Es wird jedoch darauf hingewiesen, dass auch andere Aufbaumöglichkeiten im Rahmen der Erfindung liegen.
-
- Hierbei bedeuten:
- po =
- Gitterperiode des Quellengitters
G0 , - p1 =
- Gitterperiode des Phasengitters
G1 , - p2 =
- Gitterperiode des Analysengitters
G2 , - d =
- Abstand des Phasengitters
G1 zum AnalysengitterG2 in Fächerstrahlgeometrie, - d≡ =
- Abstand des Phasengitters
G1 zum AnalysengitterG2 unter Parallelgeometrie, - 1 =
- Abstand des Quellengitters
G0 zum PhasengitterG1 , - λ =
- ausgewählte Wellenlänge der Strahlung,
- h1 =
- Steghöhe des Phasengitters
G1 in Strahlrichtung, - n =
- Brechungsindex des Gittermaterials des Phasengitters.
- Entsprechend dem Grundgedanken der Erfindung schlagen die Erfinder vor, dass die oben beschriebenen Fokus/Detektor-Systeme beispielsweise in einem Röntgen-System zur Erzeugung projektiver Phasenkontrastaufnahmen mit mindestens einem Fokus/Detektor-System verwendet werden.
- Außerdem können derartige Fokus/Detektor-Systeme in C-Bogen-Systemen genutzt werden, die zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen verwendet werden können.
- Des Weiteren und insbesondere bevorzugt schlagen die Erfinder vor, die beschriebenen Fokus/Detektor-Systeme in Röntgen-CT-Systemen zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrastaufnahmen einzusetzen, wobei diese Röntgen-CT-Systeme mindestens ein Fokus/Detektor-System, in der zuvor beschriebenen Art, oder auch mehrere Fokus/Detektor-Systeme besitzen können, die jeweils auf einer rotierbaren Gantry angeordnet sind. Werden mehrere Fokus/Detektor-Systeme verwendet, so können diese sowohl winkelversetzt als auch in Richtung der Systemachse des CT-Systems versetzt angeordnet werden. Kombinationen hierzu liegen ebenfalls im Rahmen der Erfindung.
- Zum Rahmen der Erfindung zählt auch ein Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen von einem Untersuchungsobjekt, vorzugsweise einem Patienten, mit einem erfindungsgemäßen Röntgen-CT-System, wobei zumindest die folgenden Verfahrensschritte durchgeführt werden:
- - das Untersuchungsobjekt wird mit mindestens einem modular aufgebauten Fokus/Detektor-System der zuvor beschriebenen Art kreis- oder spiralförmig abgetastet, wobei durch mindestens drei Intensitätsmessungen mit jeweils versetzt angeordneten Analysengittern die Phasenverschiebung der Strahlen beim Durchtritt durch das Objekt ermittelt werden,
- - für Strahlen, die aufgrund des modularen Aufbaus des Detektors nicht oder nicht genau gemessen werden können, wird die Phasenverschiebung durch benachbarte Werte interpoliert,
- - aus den gemessenen und den durch Interpolation ermittelten Phasenverschiebungen der Strahlen werden tomographische Phasenkontrastaufnahmen rekonstruiert.
- Auf diese Weise wird das Problem des modularen Aufbaus derartiger Fokus/Detektor-Systeme kompensiert, wonach aufgrund der nicht beliebigen Packungsdichte im Bereich der Stoßflächen der Detektormodule eine etwas ungleichmäßige Abtastung stattfindet. Durch eine entsprechend Interpolation dieser nicht gemessenen Werte kann ein entsprechender Ausgleich geschaffen werden.
- Im Folgenden wird die Erfindung anhand bevorzugter Ausführungsbeispiele mit Hilfe der Figuren näher beschrieben, wobei nur die zum Verständnis der Erfindung notwendigen Merkmale dargestellt sind. Hierbei werden die folgenden Bezugszeichen verwendet: 1: CT-System; 2: erste Röntgenröhre; 3: erster Detektor; 4: zweite Röntgenröhre; 5: zweiter Detektor; 6: Gantrygehäuse; 7: Patient; 8: Patientenliege; 9: Systemachse; 10: Steuer- und Recheneinheit; 11: Speicher; 12: Piezoelement; 13: Federelement; 14: Wandung des Gitter/Detektor-Moduls; D: gesamter Detektor;
Di : Detektor eines Gitter/Detektor-Moduls;Dx : Detektormodul; d: Abstand des PhasengittersG1 zum AnalysengitterG2 in Fächerstrahlgeometrie;d≡ : Abstand des PhasengittersG1 zum AnalysengitterG2 unter Parallelgeometrie;F1 : Fokus;G0 : Quellengitter;G1 ,G1i : Phasengitter;G2 ,G2i : Analysengitter;GDx : Gitter/DetektorModul;h0 :Steghöhe des Quellengitters;h1 : Steghöhe des Phasengitters;h2 : Steghöhe des Analysengitters; l: Abstand des QuellengittersG0 zum PhasengitterG1 ; n: Brechungsindex des Gittermaterials des Phasengitters;P : Patient;po : Gitterperiode des Quellengitters;p1 : Gitterperiode des Phasengitters;p2 : Gitterperiode des Analysengitters;Prgx : Programme; S: Systemachse;xG : Versatz des Analysengitters;λ : Wellenlänge der Röntgenstrahlen. - Die Figuren zeigen im Einzelnen:
-
1 : Schematische 3D-Darstellung eines Fokus/DetektorSystems mit Gittersatz zur Bestimmung von Phasenverschiebungen; -
2 : Schematische 3D-Darstellung eines Fokus/DetektorSystems mit drei Gitter/Detektor-Modulen; -
3 : Aufsicht auf einen CT-Detektor bestehend aus acht Gitter/Detektor-Modulen; -
4 : Querschnitt senkrecht zur Systemachse auf die Gitter/Detektor-Module des CT-Detektors aus3 ; -
5 : Aufsicht auf einen Detektor zur Aufnahme von projektiven Phasenkontrastaufnahmen bestehend aus 8x6 schachbrettartig zusammengesetzter Gitter/Detektor-Module; -
6 : 3D-Darstellung eines Fokus/Detektor-Systems eines C-Bogen-Systems mit ebenen Gittern und ebenem Detektor; -
7 : Schnitt durch ein Analysengitter mit Verschiebevorrichtung; -
8 : Röntgen-CT-System mit erfindungsgemäßen Fokus/Detektor-Systemen in 3D-Ansicht. - Die
1 zeigt eine schematische 3D-Darstellung eines Fokus/Detektor-Systems eines Röntgen-CTs mit einem im Strahlengang liegenden PatientenP als Untersuchungsobjekt. Der FokusF1 und der DetektorD sind auf einer hier nicht näher dargestellten Gantry angeordnet und bewegen sich kreisförmig um die SystemachseS . Wird zusätzlich während der Rotation des Fokus/Detektor-Systems eine Linearbewegung des PatientenP in Systemachsenrichtung durchgeführt, so entsteht eine an sich bekannte spiralförmige Abtastung des PatientenP . Im Strahlengang des Fokus/Detektor-Systems sind drei röntgenoptische GitterG0 ,G1 undG2 angeordnet, wobei das erste GitterG0 ,welches auch Quellengitter genannt wird, in unmittelbarer Nähe des FokusF1 angebracht ist und von der Röntgenstrahlung durchstrahlt wird. In Ausbreitungsrichtung der Röntgenstrahlung folgt danach das eigentliche Untersuchungsobjekt oder der PatientP . Vor dem auf der anderen Seite der Systemachse S liegenden DetektorD folgt zunächst das zweite GitterG1 , genannt Phasengitter. Danach folgt in Strahlungsrichtung das dritte GitterG2 , genannt Analysengitter, welches vorteilhaft unmittelbar vor dem DetektorD angeordnet ist. Der DetektorD verfügt über mindestens eine Zeile mit einer Vielzahl von Detektorelementen, vorzugsweise ist der DetektorD als Mehrzeilen- oder Vielzeilendetektor aufgebaut, der mit einer Vielzahl von parallel angeordneten Detektorzeilen mit jeweils einer Vielzahl von Detektorelementen ausgestattet ist. Die Verbindungslinien zwischen dem FokusF1 und den einzelnen Detektorelementen repräsentieren bei der Abtastung jeweils einen im Raum angeordneten Röntgenstrahl, dessen Intensitätsänderung durch das jeweilige Detektorelement gemessen wird. - Es wird darauf hingewiesen, dass im Fall von sogenannten C-Bogen-Geräten, die auch unter die Klasse der hier erwähnten CT-Systeme fallen, der Detektor
D nicht, wie gezeigt, als Zylindersegment um den FokusF1 ausgebildet ist, sondern eine ebene Form aufweist. Bei projektiven Röntgen-Systemen, die keine Bewegung um das Untersuchungsobjekt während der Abtastungen durchführen, ist in der Regel der DetektorD ebenfalls eben ausgebildet. - Die Linienorientierung der Gitter
G0 bisG2 ist so ausgebildet, dass die Gitterlinien aller drei Gitter parallel zueinander verlaufen. Vorteilhaft aber nicht notwendig ist es, wenn diese Gitterlinien außerdem parallel oder senkrecht zur SystemachseS orientiert sind. In den gezeigten Varianten sind die GitterG0 bisG2 eben ausgebildet und senkrecht zur Mittellinie zwischen Fokus- und Detektormittelpunkt ausgerichtet. - Das erste Gitter
G0 verfügt über eine Periodep0 der Gitterlinie und einer Höheh0 der Gitterstege. Entsprechend sind auch die GitterG1 undG2 mit einer Höheh1 beziehungsweiseh2 und einer Periodep1 beziehungsweisep2 ausgestattet. Zur Funktion des erfindungsgemäßen Verfahrens ist es notwendig, dass der Abstand1 zwischen dem GitterG0 und demG1 und der Abstandd zwischen dem GitterG1 und demG2 in einem bestimmten Verhältnis zueinander stehen. Es gilt hierbei - Der Abstand des Detektors
D1 mit seinen Detektorelementen vom letzten GitterG2 ist unerheblich. Die Höheh1 der Stege des Phasengitters sollte dabei so gewählt werden, dass entsprechend der betrachteten Wellenlängen, also der betrachteten Energie der Röntgenstrahlung und bezogen auf das jeweilige Gittermaterial die folgende Formel gilt: - Hierbei bezeichnet n den Brechungsindex des Gittermaterials und
λ die Wellenlängen der Röntgenstrahlen, bei der die Phasenverschiebung gemessen werden soll. Vorteilhaft wird dieses Gitter auf eine Energie eingestellt, die einer charakteristischen Linie im Röntgenspektrum der verwendeten Anode entspricht. - Die Höhe
h2 des Analysengitters muss ausreichend sein, um effektive Absorptionsunterschiede zwischen den von der Röntgenstrahlung durchstrahlten Stegen und den weitgehend freien Stellen des Gitters zu erzeugen, um auf der Rückseite ein entsprechendes Moire-Muster zu schaffen. -
- Wie aus dieser Darstellung ersichtlich wird, nehmen die Dimensionen des Phasengitters
G1 und des AnalysengittersG2 Größen an, die über die normale Produktion von Wafern kaum mehr darstellbar sind oder zumindestens nicht mehr kostengünstig durchführbar ist. Im Sinne der Erfindung wird daher vorgeschlagen, die GitterG1 undG2 modular aufzuteilen. Beispielsweise kann das geschehen, wie es in der1 angedeutet ist, nämlich es können die GitterG1 undG2 in Richtung der Systemachse unterteilt werden, so dass längliche Gitterelemente entstehen, die dann allerdings modulweise im Fokus/Detektor-Element befestigt werden müssen. In dieser schematischen Darstellung der1 sind die einzelnen Phasen- und Analysengitter so angeordnet, dass die Summe aller Phasengitter zusammen auf einer gemeinsamen Ebene liegt, während die Analysengitter der Module ebenfalls eine gemeinsame Gitterebene bilden. - In der
2 ist eine andere Variante dargestellt. Hier ist im gezeigten Fokus/Detektor-System - ähnlich wie in der1 - ebenfalls ein einziges QuellengitterG0 gezeigt, jedoch besteht das Fokus/Detektor-System auf der Detektorseite aus drei Gitter/Detektor-Modulen, wobei die Phasen- und Analysengitter und die Flächen der Detektorelemente jedes Moduls parallel zueinander ausgerichtet sind und alle drei Gitter/Detektor-Module fächerartig zum FokusF1 angeordnet sind. Jedes einzelne Modul besteht aus einem PhasengitterG1x , einem in Strahlenrichtung folgenden AnalysengitterG2x , mit dem unmittelbar danach folgenden DetektormodulDx , wobei jedes einzelne Detektormodul aus einer Vielzahl von schachbrettartig angeordneten Detektorelementen besteht, die hier allerdings nicht gezeigt sind. - Wird ein derartiger Aufbau des Fokus/Detektor-Systems verfeinert, so dass mehr Detektormodule verwendet werden, so ergibt sich in der Projektion vom Fokus aus gesehen eine Anordnung der Gitter/Detektor-Module, wie es in der
3 dargestellt ist. Hier sind acht fächerartig angeordnete Gitter/DetektorModule gezeigt, wobei die Ausrichtung der Gitterlinien in diesem Gitter/Detektor-Modulen senkrecht zur Systemachse vorliegt. - Schneidet man diese Anordnung senkrecht zur Systemachse, so ergibt sich eine Darstellung, wie in
4 . Diese4 zeigt die fächerartige Anordnung von acht Gitter/DetektorModulenGD1 bisGD8 , die in sich in diesem Schnitt rechteckig ausgebildet sind und jeweils ein PhasengitterG1x mit einem nachfolgenden AnalysengitterG2x und einem DetektormodulDx aufweisen. Wie aus dieser Figur ersichtlich ist, entsteht bei dieser Konstruktion auf der dem Fokus abgewandten Seite im Bereich der DetektormoduleDx jeweils eine Lücke. Ähnliche Lücken können beispielsweise alleine durch die endliche Dicke von Modulgehäusen entstehen. Solche Lücken führen auch zu Lücken bei der Abtastung oder zumindest zu Abtastfehlern und Artefakten. Hierfür ist es vorteilhaft derartige Bereiche durch Interpolationen zu überbrücken beziehungsweise so aneinander anzugleichen, dass Artefakte in der Bildgebung vermieden werden. Dies kann vorzugsweise schon bei der Erstellung vollständiger Projektionsdatensätze geschehen oder es können auch die fertigen Volumendatensätze entsprechend aufbereitet werden. - Während in den
3 und4 die Ausbildung eines Detektors für ein CT-System mit einer umlaufenden Gantry gezeigt wird, ist in der5 der Aufbau eines Fokus/Detektor-Systems für ein C-Bogen-System oder für ein einfaches projektives Röntgen-System dargestellt. Hier sind die einzelnen Gitter/Detektor-Module schachbrettartig angeordnet, wobei die Ausrichtung der Gitterlinien aller verwendeten Gitter gleich ist und der Ausrichtung des Quellengitters entspricht. - Die Anordnung solcher Gitter/Detektor-Module in dem gesamten Fokus/Detektor-System ist in der
6 dargestellt. Diese zeigt das erfindungsgemäße Fokus/Detektor-Modul mit einem flach und nahezu quadratisch ausgerichteten DetektorD , der aus einer Vielzahl von Gitter/Detektor-Modulen besteht, die in der Summe die Fläche des PhasengittersG1 und des nachfolgenden AnalysengittersG2 bilden. - Die
7 zeigt eine Detailaufnahme aus einem Gitter/Detektor-Modul im Bereich des Analysengitters im Schnitt senkrecht zu den Gitterlinien. Das AnalysengitterG2 ist beidseits in die Wandungen14 des Gitter/Detektor-Moduls eingespannt, wobei auf einer Seite zwischen den AnalysengitterG2i und der Wandung14 ein Piezoelement12 angeordnet ist und auf der gegenüberliegenden Seite ein Federelement13 vorliegt. Wird das Piezoelement12 mit einer entsprechenden Spannung beaufschlagt, so erfolgt eine LängsverschiebungxG des AnalysengittersG2i , die benötigt wird, um mit Hilfe von mindestens drei Messungen bei unterschiedlich ausgelenktem Analysengitter die Phasenverschiebung des Strahls an diesem Ort zu bestimmen. - Ein vollständiges Computer-CT-System zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist in der
8 dargestellt. Diese zeigt das CT-System1 , welches über ein erstes Fokus/Detektor-System mit einer Röntgenröhre2 und einem gegenüber liegenden Detektor3 verfügt, die auf einer nicht näher dargestellten Gantry in einem Gantrygehäuse6 angeordnet sind. Im Strahlengang des ersten Fokus/Detektor-Systems2 ,3 ist ein Gittersystem gemäß den1 bis3 angeordnet, so dass der Patient7 , der sich auf einer längs der Systemachse9 verschiebbaren Patientenliege8 befindet, in den Strahlengang des ersten Fokus/Detektor-Systems geschoben werden kann und dort abgetastet wird. Die Steuerung des CT-Systems wird durch eine Rechen- und Steuereinheit10 durchgeführt, in der in einem Speicher11 ProgrammePrg1 bisPrgn gespeichert sind, die die zuvor beschriebenen erfindungsgemäßen Verfahren durchführen und aus den gemessenen strahlenabhängigen Phasenverschiebungen und Absorptionen entsprechende tomographische Bilder rekonstruieren. - Optional kann anstelle des einzigen Fokus/Detektor-Systems ein zweites Fokus/Detektor-System im Gantrygehäuse angeordnet werden. Dieses ist in der
8 durch die gestrichelt gezeigte Röntgenröhre4 und den gestrichelt dargestellten Detektor5 angedeutet.
Claims (22)
- Fokus/Detektor-System (F1, D) einer Röntgenapparatur (1) zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen, mindestens bestehend aus: 1.1. einer Strahlenquelle (2) mit einem Fokus (F1) und einem fokusseitigen Quellengitter (G0) , welches im Strahlengang angeordnet ist und ein Feld von strahlweise kohärenten Röntgenstrahlen erzeugt, 1.2. und einer Detektoranordnung mit einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Gitter/Detektor-Modulen (GDx) mit seitlichen Wandungen (14), jeweils wobei die Gitter/Detektor-Module (GDx) in Strahlrichtung hintereinander angeordnet aufweisen: 1.2.1. mindestens ein Phasengitter (G1x), zur Erzeugung eines ersten Interferenzmusters, 1.2.2. ein Analysengitter (G2x), zur Erzeugung eines weiteren Interferenzmusters, 1.2.3. wobei auf einer Seite zwischen dem Phasengitter (G1x) oder dem Analysengitter (G2x) und der Wandung (14) ein Piezoelement (12) angeordnet ist und auf der gegenüberliegenden Seite ein Federelement (13) vorliegt, 1.2.4. und flächig angeordnete Detektorelemente (Dx) , 1.2.5. wobei die einzelnen Gitterlinien aller Gitter (G0, G1x, G2x) parallel zueinander ausgerichtet sind, 1.2.6. und wobei ein Untersuchungsobjekt (P, 7) zwischen dem Quellengitter (G0) und dem Phasengitter (G1) anzuordnen ist.
- Fokus/Detektor-System gemäß dem voranstehenden
Patentanspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die durch die Gitterlinien gebildeten Gitterflächen der Phasen- und Analysengitter der Module (GDx) parallel zueinander ausgerichtet sind. - Fokus/Detektor-System gemäß dem voranstehenden
Patentanspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Gitterflächen jeweils senkrecht zu einem Strahl ausgerichtet sind, der vom Fokus zum Gitter/DetektorModul verläuft und die Gitterflächen schneidet. - Fokus/Detektor-System gemäß dem voranstehenden
Patentanspruch 3 , dadurch gekennzeichnet, dass der Strahl, der die Gitterflächen jeweils senkrecht schneidet, der Mittelstrahl ist, der die Gitterflächen in deren jeweiligem Mittelpunkt schneidet. - Fokus/Detektor-System gemäß dem voranstehenden
Patentanspruch 4 , dadurch gekennzeichnet, dass die Gitter/Detektor-Module (GDx) so angeordnet sind, dass die Mittelpunkte aller Phasengitterflächen den gleichen Abstand zum Fokus (F1) aufweisen. - Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 4 bis5 , dadurch gekennzeichnet, dass die Gitter/Detektor-Module (GDx) so angeordnet sind, dass die Mittelpunkte aller Analysengitterflächen den gleichen Abstand zum Fokus (F1) aufweisen. - Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 4 bis6 , dadurch ge kennzeichnet, dass die Gitter/Detektor-Module (GDx) so angeordnet sind, dass die Mittelpunkte aller Detektorflächen, bestehend aus der Summe von flächig angeordneten Detektorelementen, den gleichen Abstand zum Fokus (F1) aufweisen. - Fokus/Detektor-System gemäß dem voranstehenden
Patentanspruch 4 , dadurch gekennzeichnet, dass die Phasengitterflächen jeweils auf einem Kugeloberflächensegment mit dem Fokus (F1) als Mittelpunkt ausgebildet sind. - Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 4 oder8 , dadurch g e kennzeichnet, dass die Analysengitterflächen jeweils auf einem Kugeloberflächensegment mit dem Fokus (F1) als Mittelpunkt ausgebildet sind. - Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 4 oder8 -9 , dadurch gekenn- zeichne t, dass die Detektorflächen eines Gitter/Detektor-Moduls (GDx), bestehend aus der Summe von flächig angeordneten Detektorelementen, jeweils auf einem Kugeloberflächensegment mit dem Fokus (F1) als Mittelpunkt verlaufen. - Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 1 bis10 , dadurch gekenn- zeichnet, dass mindestens eine Vorrichtung (12, 13) zur Relativverschiebung mindestens eines Analysengitters (G2x) gegenüber den Phasengittern (G1x) senkrecht zur Strahlenrichtung und senkrecht zur Längsrichtung der Gitterlinien vorgesehen ist, die auf mindestens zwei Analysengitter (G1x) mindestens zweier Gitter/Detektor-Module (GDx) wirkt. - Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 1 bis10 , dadurch gekennzeichnet, dass je Gitter/Detektor-Modul (GDx) eine Vorrichtung zur Relativverschiebung des Analysengitters dieses Gitter/Detektor-Moduls (GDx) gegenüber dem Phasengitter dieses Gitter/Detektor-Moduls (GDx) senkrecht zur Strahlenrichtung und senkrecht zur Längsrichtung der Gitterlinien vorgesehen ist. - Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 1 bis12 , da durch gekenn- zeichnet, dass die Gitter/Detektor-Module (GDx) in der Projektion vom Fokus (F1) aus gesehen schachbrettartig angeordnet sind. - Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 1 bis12 , dadurch gekenn- zeichnet, dass die Gitter/Detektor-Module (GDx) in der Projektion vom Fokus (F1) aus gesehen eine einzige Zeile bilden. - Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 1 bis12 , dadurch gekennzeichnet, dass die Gitter/Detektor-Module (GDx) derart ausgebildet und angeordnet sind, dass jedes Gitter/Detektor-Modul (GDx) und dessen Gitteranordnung (G1x, G2x) den folgenden geometrischen Bedingungen genügt: wobei gilt: po = Gitterperiode des Quellengitters G0, p1 = Gitterperiode des Phasengitters G1, p2 = Gitterperiode des Analysengitters G2, d = Abstand des Phasengitters G1 zum Analysengitter G2 in Fächerstrahlgeometrie, d≡ = Abstand des Phasengitters G1 zum Analysengitter G2 unter Parallelgeometrie, 1 = Abstand des Quellengitters G0 zum Phasengitter G1, λ = ausgewählte Wellenlänge der Strahlung, h1 = Steghöhe des Phasengitters G1 in Strahlrichtung, n = Brechungsindex des Gittermaterials des Phasengitters. - Röntgen-System zur Erzeugung projektiver Phasenkontrastaufnahmen mit mindestens einem Fokus/Detektor-System (F1, D)gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 1 bis15 . - Röntgen-C-Bogen-System zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit einem Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 1 bis15 , welches auf einem um das Untersuchungsobjekt (P, 7) rotierbaren C-Bogen angeordnet ist. - Röntgen-CT-System (1) zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit mindestens einem Fokus/Detektor-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 1 bis15 , welches auf einer um Gantry angeordnet ist. - Röntgen-System (1) gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 16 bis18 , dadurch gekennzeichne t, dass eine Recheneinheit (10) zur Steuerung der Analysengitter (G2x) und Berechnung der Phasenverschiebung (φ) aus mehreren Intensitätsmessungen des gleichen Strahls mit unterschiedlich versetzten Analysengittern (G2x) vorgesehen ist. - Röntgen-System gemäß einem der voranstehenden
Patentansprüche 16 bis19 , dadurch gekennzeich- net, dass es eine Rechen- und Steuereinheit (10) aufweist, die Programmcode (Prgx) enthält, welcher im Betrieb das Verfahren gemäß dem nachstehenden Verfahrensanspruch 22 ausführt. - Speichermedium eines Röntgen-Systems oder für ein Röntgen-System, wobei das Speichermedium (11) Programmcode (Prgx) enthält, welcher im Betrieb des Röntgen-Systems gemäß dem nachstehenden Verfahrens
anspruch 22 ausführt. - Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen von einem Untersuchungsobjekt (P, 7), vorzugsweise einem Patienten, wobei zumindest die folgenden Verfahrensschritte durchgeführt werden: 22.1. das Untersuchungsobjekt (P, 7) wird mit mindestens einem modular aufgebauten Fokus/Detektor-System (F1, D) gemäß einem der
Ansprüche 1 bis15 kreis- oder spiralförmig abgetastet, wobei durch mindestens drei Intensitätsmessungen mit jeweils versetzt angeordneten Analysengittern (G2x) die Phasenverschiebung (φ) der Strahlen beim Durchtritt durch das Untersuchungsobjekt (P, 7) ermittelt wird, 22.2. für Strahlen, die aufgrund des modularen Aufbaues des Detektors (D) nicht oder nicht genau gemessen werden können, wird die Phasenverschiebung (φ) durch benachbarte Werte interpoliert, 22.3. aus den gemessenen und durch Interpolation ermittelten Phasenverschiebungen (φ) der Strahlen werden tomographische Phasenkontrastaufnahmen rekonstruiert.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102006015358.8A DE102006015358B4 (de) | 2006-02-01 | 2006-04-03 | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen |
| JP2007020092A JP5142539B2 (ja) | 2006-02-01 | 2007-01-30 | X線装置の焦点‐検出器システム |
| US11/700,042 US7522698B2 (en) | 2006-02-01 | 2007-01-31 | Focus/detector system of an X-ray apparatus for generating phase contrast recordings |
| CN2007100079507A CN101011251B (zh) | 2006-02-01 | 2007-02-01 | 用于产生相位对比图像的放射装置的焦点/检测器系统 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102006004976 | 2006-02-01 | ||
| DE102006004976.4 | 2006-02-01 | ||
| DE102006015358.8A DE102006015358B4 (de) | 2006-02-01 | 2006-04-03 | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102006015358A1 DE102006015358A1 (de) | 2007-08-09 |
| DE102006015358B4 true DE102006015358B4 (de) | 2019-08-22 |
Family
ID=38282298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE102006015358.8A Active DE102006015358B4 (de) | 2006-02-01 | 2006-04-03 | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7522698B2 (de) |
| JP (1) | JP5142539B2 (de) |
| DE (1) | DE102006015358B4 (de) |
Families Citing this family (99)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006063048B3 (de) * | 2006-02-01 | 2018-03-29 | Siemens Healthcare Gmbh | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen |
| DE102006017290B4 (de) * | 2006-02-01 | 2017-06-22 | Siemens Healthcare Gmbh | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur, Röntgen-System und Verfahren zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen |
| DE102006015358B4 (de) | 2006-02-01 | 2019-08-22 | Paul Scherer Institut | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen |
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| DE102006037254B4 (de) | 2006-02-01 | 2017-08-03 | Paul Scherer Institut | Fokus-Detektor-Anordnung zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit röntgenoptischen Gittern, sowie Röntgen-System, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-Computer-Tomographie-System |
| DE102006037281A1 (de) | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Siemens Ag | Röntgenoptisches Durchstrahlungsgitter einer Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen von einem Untersuchungsobjekt |
| DE102006017291B4 (de) | 2006-02-01 | 2017-05-24 | Paul Scherer Institut | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, Röntgensystem mit einem solchen Fokus/Detektor-System sowie zugehöriges Speichermedium und Verfahren |
| DE102006037256B4 (de) | 2006-02-01 | 2017-03-30 | Paul Scherer Institut | Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System |
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| DE102008048688B4 (de) | 2008-09-24 | 2011-08-25 | Paul Scherrer Institut | Röntgen-CT-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| R016 | Response to examination communication | ||
| R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: SIEMENS HEALTHCARE GMBH, DE Free format text: FORMER OWNERS: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT, 80333 MUENCHEN, DE; PAUL SCHERER INSTITUT, VILLIGEN, CH Owner name: PAUL SCHERER INSTITUT, CH Free format text: FORMER OWNERS: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT, 80333 MUENCHEN, DE; PAUL SCHERER INSTITUT, VILLIGEN, CH |
|
| R082 | Change of representative |
Representative=s name: MAIER, DANIEL OLIVER, DIPL.-ING. UNIV., DE Representative=s name: BERG, PETER, DIPL.-ING., DE |
|
| R016 | Response to examination communication | ||
| R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
| R006 | Appeal filed | ||
| R008 | Case pending at federal patent court | ||
| R010 | Appeal proceedings settled by withdrawal of appeal(s) or in some other way | ||
| R079 | Amendment of ipc main class |
Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: G01N0023040000 Ipc: G01N0023041000 |
|
| R082 | Change of representative |
Representative=s name: MAIER, DANIEL OLIVER, DIPL.-ING. UNIV., DE |
|
| R020 | Patent grant now final | ||
| R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: SIEMENS HEALTHINEERS AG, DE Free format text: FORMER OWNERS: PAUL SCHERER INSTITUT, VILLIGEN, CH; SIEMENS HEALTHCARE GMBH, MUENCHEN, DE Owner name: PAUL SCHERER INSTITUT, CH Free format text: FORMER OWNERS: PAUL SCHERER INSTITUT, VILLIGEN, CH; SIEMENS HEALTHCARE GMBH, MUENCHEN, DE |
|
| R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: SIEMENS HEALTHINEERS AG, DE Free format text: FORMER OWNERS: PAUL SCHERER INSTITUT, VILLIGEN, CH; SIEMENS HEALTHINEERS AG, MUENCHEN, DE |
|
| R082 | Change of representative |