DE2908757C2 - Abstandsänderungs-Meßanordnung - Google Patents
Abstandsänderungs-MeßanordnungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Abstandsänderungs-Meßanordnung
mit einem Licht-Sender-Empfänger, welcher ein Lichtbündel zu einer in einem Abstand befindlichen
Sollebene schickt, in oder nahe der sich eine Gegenstandsebene befindet, deren Abstand zum Licht-Sender-Empfänger
bestimmt werden soll, und von dem Gegenstand reflektiertes Licht empfängt und mittels eines
photoelektrischen Wandlers auswertet.
Es ist bekannt, daß Abstände auf die Bruchteile eines μ genau interferometrisch gemessen werden können.
Interferometer sind jedoch zu empfindlich, wenn es beispielsweise darum geht, die Dicke von Blechen in Walzwerken
messend zu verfolgen. Außerdem erfordern Interferometer spiegelnde Oberflächen, so daß bei der
Abstandsmessung von diffus reflektierenden Oberflächen spezielle Vorbehandlungen der Oberfläche notwendig
wären.
Mit rein mechanischen Tastern können Dickenänderungen unter 4 μ nur äußerst schwer und mit erheblichem
Aufwand erfaßt werden.
Das Ziel der vorliegenden Erfindung besteht nun darin, eine Abstandsänderungs-Meßanordnung zu schaffen,
mit der Abstandsänderungen, d. h. auch Dickenänderungen insbesondere von Blechen in Walzwerken mit hoher
Genauigkeit erfaßt werden können, wobei der Abstand des optischen Meßkopfes vom Objekt sehr groß gegen
den Betrag der Längenänderung sein kann. Insbesondere sollen Abstandsänderungen bis 1 μ herunter sicher
und problemlos erfaßt werden können.
Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung vor, daß im Sendeteil zur Erzeugung, eines beugungsbegrenzten
Lichtstrahls eine vom Beugungsbild eines La-
matisch in eine im Abstand (A) von dem Licht-Sender-Empfänger
(23) vorhandene Gegenstandsebene einregelt.
11. Anordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 10,
dadurch gekennzeichnet, daß die Lage der Sollebene periodisch verändert wird.
12. Anordnung nach Anspruch 11, dadurch gebegrenzter
Laser vorgesehen ist, welche bzw. welcher über ein Linsensystem in die Sollebene abgebildet ist,
und daß die Sollebene über ein Linsensystem auf eine photoelektrische Wandleranordnung mit einer Blende
abgebildet ist, welche den zum photoelektrischen Wandler verlaufenden Lichtstrom begrenzt.
Aus der DE-OS 16 73 927 ist ein Verfahren zur Wie-
dererkennung eines Meßkörpers oder seiner Position und Orientierung im Raum bekannt, bei dem die Intensitätsverteilung,
die bei der Streuung kohärenter Wellen am Meßkörper entsteht, in einem Teil des Raumes registriert
und gespeichert wird. Die durch Lageänderung des Meßkörpers verursachte veränderte Intensitätsverteilung
dient als Anzeigekriterium. Bei diesem Verfahren wird ein flächenhaftes Element des Meßkörpers mit
kohärentem Licht beleuchtet, was zu einer komplexen Struktur des reflektierten Lichtfeldes führt In der erfindungsgemälk-ii
Anordnung wird der Meßgegenstand in einem beugungsbegrenzten Punkt beleuchtet, was dazu
führt daß das Meßlicht in idealer Weise einfache Wellenstruktur hat nämlich dem Grundmodus des Wellenfeldes
entspricht. Dieser Lichtanteil kann in technisch einfacher Weise durch eine Kombination von Linsen
und Blenden exakt erfaßt werden. Bei den bekannten Verfahren aus der DE-OS 16 73 927 muß dagegen eine
flächenhafte Intensitätsverteilung in einem nhotografischen Medium registriert werden.
Insbesondere soll bei einer vorteilhaften Weiterbildung
der Erfindung die Wandleranordnung eine zweite Modenblende und eine einen dahinter angeordneten
photoelektrischen Wandler umfassen. Die zweite Modenblende ist dabei vorzugsweise ein Abbild der ersten
Modenblende, und zwar insbesondere dann, wenn die Gegenstandsebene spiegelnd reflektierend ist.
Die Ausbildung kann aber auch so sein, daß die Wandleranordnung eine lineare Diodenanordnung umfaßt,
welche an eine elektrische Auswerteschaltung angeschlossen ist, in der die Dioden nacheinander getastet
werden und aus dem dabei gewonnenen Signalverlauf das Meßsignal und die Gesamtremission ermittelt werden.
Diese Ausbildung entspricht einer periodischen linearen Abtastung der Lichtintensität innerhalb eines
durch die Diodenanordnung gebildeten Spaltes. In der elektronischen Auswerteschaltung kann über die Flanken
der insbesondere Gauß'schen Intensitätsverteilung der Schwerpunkt der Intensitätsverteilung festgestellt
werden. Diese Ausführungsform hat den Vorteil, daß die äußerst genaue Einjustierung der zweiten Modenblende
entfallen kann, weil die räumliche Lage der Diodenanordnung in ihrer Längsrichtung nicht kritisch ist
Erfindungsgemäß wird also mittels eines Lasers bzw. einer bzw. zweier Modenblenden ein wohldefinierter
Lichtstrahl, im Idealfall ein beugungsbegrenzter Lichtstrahl, erzeugt. Vorzugsweise blenden die Modenblenden
lediglich die nullte Ordnung des auf ihnen vorhandenen Beugungsmusters aus. Die verwendeten Abbildungslinsen
müssen relativ hochwertig, d. h. korrigiert sein. Die Linsen haben eine relativ große Apertur.
Hat die das Lichtbündel auf das Meßobjekt konzentrierende Abbildungslinse eine Apertur A, so erzeugt sie
im Brennpunkt, d. h. in der Sollebene einen Brennfleck mit dem Radius
1.22Λ
Befindet sich in der Sollebene ein streuender Meßkörp?r,
so ist auch des von ihm ausgehend?; durch A\e.
Pupille der letzten Abbildungslinse hindurchtretende Licht beugungsbegrenzt und kann durch die zweite beugungsbegrenzende
Modenblende voll zum photoelektrischen Wandler gelangen. Befindet sich der streuende
Meßkörper dagegen außerhalb der Sollebene, so ist der Brennfleck vergrößert und das Streulicht ist nicht mehr
beugungsbegrenzt. Der Strahlungsfluß durch die zweite Modenblende nimmt entsprechend ab, und. zwar etwa
quadratisch mit dem Abstand der Gegenstandsebene, d. h. der Oberfläche des Meßkörpers, von der Sollebene.
Wird nun zunächst die erfindungsgemäße Meßanordnung so einjustiert, daß bei der Solidicke eines bestimmten
Gegenstandes, z. B. eines Bleches in einem Walzwerk ein bestimmter Strahlungsfiuß vom photoelektrischen
Wandler registriert wird, dann ergeben Dickerschwankungen
entsprechende Signalschwankungen am
ίο Ausgang einer elektronischen Auswerteschaltung. Dabei
kann die Nullstellung so gewählt werden, daß sich ein eindeutiger Zusammenhang zwischen der Materialdicke
und dem Signal ergibt (bias). Vorteilhafterweise ist das Sendelicht durch einen Modulator
moduliert Hierdurch können nicht nur die Einflüsse des Umgebungslichtes ausgeschaltet werden, sondern
es ist auch eine elektronische Trennung von Meß- und Vergleichslicht möglich, wobei das Vergleichslicht
dadurch erzeugt werden kann, daß im Licht-Sender-Empfänger ein Teil des Sendelichts abgezweigt und direkt
über einen zweiten Modulator der photoelektrischen Wandleranordnung zugeführt ist Durch unterschiedliche
Frequenzen der beiden Modulatoren können die von den durch sie hindurchgehenden Lichtbündein
erzeugten Signale elektrisch getrennt werden. Es ist auch möglich, die Modulatoren so im Meß- bzw.
Vergleichslicht anzuordnen, daß abwechselnd das Meß- und das Vergleichslichtbündel getastet werden.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn der Abstand der Sollebene von dem Licht-Sender-Empfänger veränderbar
ist. Die Veränderung kann dabei durch optische Mittel z. B. eine in den konvergierenden Strahlengang
geschobene planparallele Platte erfolgen oder auch durch Verschiebung von Abbildungslinsen insbesondere
der Frontlinse entlang der optischen Achse. Auf diese Weise kann die Sollebene mit der die Oberfläche des
Meßobjektes bildenden Gegenstandsebene in Obereinstimmung gebracht werden. Dies kann z. B. am Beginn
einer Messung erfolgen. Abweichungen der Gegenstandsebene von der Sollebene ergeben dann entsprechende
Signaländerungen am Ausgang des photoelektrischen Wandlers bzw. der daran angeschlossenen Auswerteschaltung.
Nach einer bevorzugten Ausführungsform ist eine Regelschaltung vorgesehen, welche die Sollebene automatisch in eine im Abstand von dem Licht-Sender-Empfänger vorhandene Gegenstandsebene einregelt. Bei dieser Ausführungsform wird also die Sollebene der Gegenstandsebene automatisch nachgeführt. Der Grad der Nachführung kann dann in üblicher Weise als Maß für die Abweichung des Abstandes des Meßobjektes von dem Licht-Sender-Empfänger herangezogen werden.
Nach einer bevorzugten Ausführungsform ist eine Regelschaltung vorgesehen, welche die Sollebene automatisch in eine im Abstand von dem Licht-Sender-Empfänger vorhandene Gegenstandsebene einregelt. Bei dieser Ausführungsform wird also die Sollebene der Gegenstandsebene automatisch nachgeführt. Der Grad der Nachführung kann dann in üblicher Weise als Maß für die Abweichung des Abstandes des Meßobjektes von dem Licht-Sender-Empfänger herangezogen werden.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn die Lage der Sollebene periodisch verändert wird, und zwar vorzugsweise
so schnell, daß die Frequenz, mit der die Sollebene periodisch verschoben wird, groß gegen die Frequenz
etwaiger Dickenänderungen des abgetasteten Walzbleches ist. Hierdurch wird eine ständige Kontrolle des
Nullpunktes in der Auswerteschaltung möglich. Die dauernde Veränderung der Sollebene kann vorzugsweise
durch eine Modulation der Brennweite der Frontlinse erfolgen, was z. B. durch eine planparallele Platte veränderlicher
Dicke erfolgen kann. Es kann sich hier um einen optischen Teil handeln, der periodisch in den konvergierenden
Teil des Strahlenganges eingeschoben wird oder auch um eine rotierende planparallele Platte
mit sich über den Umfang keilförmig verändernder Dikke. Durch schnelle Rotation der Platte wird dann die
Brennweite der Frontlinse in der gewünschten Weise moduliert.
Nach einer bevorzugten praktischen Ausführungsform wird in der Auswerteschaltung das aus der periodischen
Veränderung der Sollebene resultierende Frequenzsignal in bezug auf die Phasenlage des Maximums
ausgewertet und diese Phasenlage als Maß für den Ort der Gegenstandsebene verwendet. Sobald nämlich die
Sollebene während ihrer periodischen Verschiebung senkrecht zu ihrer Ebene mit der Gegenstandsebene
zusammenfällt, erreicht das elektrische Signal am Ausgang des photoelektrischen Wandlers ein Maximum.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform umfaßt die Regelschaltung einen am Ort der zweiten
Modenblende angeordneten sehr empfindlichen Flankendetektor,
weicher auf konstanten Gradient geregelt wird.
Die periodische Veränderung der Lage der Sollebene kann durch Anbringung der Abbildungslinse (Frontlinse)
an einem mechanischen, piezoelektrischen oder magnetostriktiven Schwinger oder auch durch Anordnung
einer rotierenden durchsichtigen Platte mit veränderlicher Stärke erfolgen.
In einfacher Weise ist eine Überwachung der Gesamtremission
möglich, wenn als Detektor eine flächenhafte Anordnung (z. B. Detektorzeile) verwendet wird,
die neben dem Signal im Meßkanal den Gesamtlichtfluß registriert
Durch Modulation des Meßstrahles und ein rauschunterdrückendes Signalauswerteverfahren (Filter, Phase-Looked-Loop)
kann die Meßempfindlichkeit gesteigert werden.
Bei den bisher beschriebenen Ausführungsformen können Dickenänderungen an undurchsichtigen, reflektierenden
und streuenden Körpern gemessen werden, wobei die Rückseite der an der erfinduhgsgemäßen Anordnung
vorbeigeführten Meßobjekte eine wohldefinierte Lage durch eine exakte Führung haben muß.
Der Erfindungsgedanke kann aber auch bei der Messung der Dicke transparenter Körper angewendet werden.
Dazu wird in die Nähe der Sollebene eine streuende oder reflektierende Fläche gebracht und die hinsichtlich
ihrer Dicke zu bestimmende durchsichtige Folie oder Platte zwischen die Frontlinse und die streuende
oder reflektierende Fläche gebracht Wesentlich ist daß die Folie sich im konvergierenden Teil des Strahlenganges
befindet Sofern die Folie oder durchsichtige Platte eine Dicke d und einen Brechungsindex η hat wird der
Lichtweg scheinbar um den Betrag d(n— 1) verlängert
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise anhand der Zeichnung beschrieben; in dieser zeigt
F i g. 1 eine schematische Darstellung einer erfindungsgemäßen Abstandsänderungs-Meßanordnung,
F i g. 2 eine schematische Ansicht einer linearen Diodenanordnung,
wie sie bei der Meßanordnung nach F i g. 1 verwendet werden kann, und
Fig.3 die bevorzugte, linear schwingende Anordnung der Frontlinse, wie sie bei der Meßanordnung nach
F i g. 1 verwendet wird.
Nach F i g. 1 sendet ein Laser 11 einen scharf gebündelten
monochromatischen Lichtstrahl 31 durch einen Modulator 22 zu einer Strahlerweiterungs-Linsenanordnung
13, 13'. Zwischen dem Mikroobjektiv 13' mit relativ kleiner Apertur und dem Objektiv 13 mit relativ
großer Apertur befindet sich an der Stelle, wo das Mikroobjektiv 13' das Laserlicht fokussiert erfindungsgemäß
eine Modenblende 12, welche von dem Beugungsbild der Laserlichtquelle 11 vorzugsweise nur die nullte
Ordnung ausblendet.
Somit tritt aus dem Objektiv 13, dessen Brennpunkt sich in der Modenblende 12 befindet, ein beugungsbegrenztes
paralleles Lichtbündel 32 aus, welches durch einen Strahlenteilerspiegel 33 hindurch zu einem am
Ausgang des Licht-Sender-Empfängers 23 befindlichen Abbildungslinse 14 gelangt. Über die Abbildungslinse 14
tritt das nunmehr konvergierende Lichtbündel 34 aus dem Gerät aus und wird in der gestrichelt angedeuteten
Sollebene 15 fokussiert. In der Sollebene 15 befindet sich die auch als Gegenstandsebene bezeichnete Oberfläche
eines bezüglich seines Abstandes A von dem Licht-Sender-Empfänger 23 zu bestimmenden Meßobjektes
35.
Das von der Oberfläche des Meßobjektes 35 spiegelnd oder gestreut reflektierte Licht wird wieder von
der Abbildungslinse 14 aufgenommen und über den Strahlenteilerspiegel 33 zu einem Empfangsobjektiv 16
umgelenkt, welches das parallele Lichtbündel in einer Blende 18 fokussiert. Die Meßempfindlichkeit ist besonders
hoch, wenn die Blende 18 ein exaktes Abbild der ersten Modenblende 12 ist. Sie läßt dann vorzugsweise
ebenfalls nur die nullte Ordnung des auf ihr entworfenen Beugungsbildes der Lichtquelle durch. Die Blende
18 und ein dahinter angeordneter photoelektrischer Wandler 19 bilden zusammen eine photoelektrische
Empfangsanordnung 17. Der photoelektrische Wandler 19 ist an eine elektronische Auswerteschaltung 26 angelegt,
der auch die Modulationssignale von zwei Modulatoren 22 bzw. 24 zugeführt sind.
Der Modulator 24 befindet sich in einem Vergleichsstrahlengang, welcher in der aus F i g. 1 ersichtlichen
Weise ebenfalls durch den Strahlenteiler 33 abgezweigt wird. Das Vergleichsstrahlenbündel 36 wird an einem
Retroreflektor 37 in sich zurückreflektiert und gelangt durch den Strahlenteilerspiegel 33 hindurch über das
Empfangsobjektiv 16 ebenfalls zur photoelektrischen Wandleranordnung 17. Durch entsprechende Tastung
bzw. Frequenzunterschiede der Modulatoren 22, 24 können die vom Meßobjekt 35 und vom Vergleichsbündel
36 stammenden elektrischen Signale in der Auswerteschaltung 26 getrennt werden.
Durch einen im Empfangsbündel angeordneten weiteren Strahlenteiler 38, welcher in F i g. 1 nur gestrichelt
angedeutet ist, kann ein Teil des Empfangsiichtes auch noch auf eine großflächige Detektoranordnung 28 gelenkt
werden, welche ebenfalls in der gestrichelt angedeuteten Weise mit der Auswerteschaltung 26 verbunden
ist und ein Maß für die Gesamtremission der Oberfläche des Meßobjektes 35 liefert. Auf diese Weise steht
in der Auswerteschaltung 26 ein der Gesamtremission des Meßobjektes 35 entsprechendes Bezugssignal zur
Verfugung.
Bevorzugt ist die Abbildungslinse 14 nach Fig. 1 in Richtung der optischen Achse 30 linear verschiebbar,
was dadurch angedeutet ist daß die Abbildungslinse 14 als auf einem Wagen 39 angeordnet dargestellt ist. Ein
Antriebsmotor im Wagen 39 ist über Leitungen 40 mit der Auswerteschaltung 26 verbunden. Weiter trägt der
Wagen 39 den Abgriff 41 eines Potentiometers 42, das ebenfalls an die Auswerteschaltung 26 angeschlossen
ist
Insgesamt bilden der Wagen 39 mit dem darin angeordneten
Antriebsmotor, das Potentiometer 42, die Auswerteschaltung 26 und die photoelektrische Wandleranordnung
17 mit den zugeordneten optischen Elementen eine Regelschaltung 25, welche so abgestimmt werden
kann, daß die Abbildungslinse 14 sich automatisch so
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weit verschiebt, bis ihr Brennpunkt bzw. die Sollebene 15 mit der Oberfläche bzw. Gegenstandsebene des
Meßobjektes 35 zusammenfällt. Die Brennpunktlage der Abbildungslinse bzw. Meßoptik 14 wird also ständig
mechanisch nachgeregelt. Bei nicht zu schnellen Dikkenänderungen des Meßobjektes 35, welches in Form
eines Bleches in einem Walzwerk an der Anordnung in Richtung des Pfeiles f vorbeibewegt zu denken ist, ist es
vorzuziehen, durch Nachregulierung der Abbildungslinse 14 den Brennfleck auf dem Meßobjekt 35 konstant zu
halten. In diesem Fall kann ein sehr empfindlicher Flankendetektor an der Modenblende 18 auf konstanten
Gradienten eingeregelt werden.
Gleichzeitig kann dieser langsamen Nachführung eine hochfrequente Schwingung der Abbildungslinse 14 in
Richtung ihrer optischen Achse 30 überlagert werden.
Dies kann in der aus F i g. 3 ersichtlichen Weise z. B. dadurch geschehen, daß die Linsenfassung an piezoelektrischen
oder magnetostriktiven Schwingern 29 aufgehängt ist, welche in Richtung der optischen Achse 30 zu
einer hochfrequenten mechanischen Schwingung angeregt werden. Dementsprechend schwankt die Abbildungslinse
14 bzw. die Sollebene 15 ständig in Richtung der optischen Achse 30 um die Nullage herum. In Verbindung
mit einer geeigneten elektrischen Auswertung in der Auswerteschaltung 26 (z. B. integrativ mit verschiedenen
Zeitkonstanten) kann das Oberflächenrauschen spezifisch eliminiert werden. Besonders vorteilhaft
ist es jedoch, daß durch diese Maßnahme die hochfrequent schwingende Sollebene 15 ständig die Oberfläehe
des Meßobjektes 35 erfassen kann, so daß durch geeignete elektronische Auswertung in der Schaltung
26 die jeweilige exakte Lage der Oberfläche des Meßobjektes 35 und damit indirekt auch die Dicke des Meßobjektes
35 auch während der langsamen Abstandsänderungen der Abbildungslinse 14 exakt erfaßt werden
können.
Die schwingende Anordnung der Abbildungslinse 14 kann auch ohne die langsame Nachführung dann angewandt
werden, wenn bei dem bezüglich seines Abstandes A zu messenden Meßobjektes 35 damit gerechnet
werden kann, daß seine Oberfläche sich innerhalb eines Bereiches befinden wird, der kleiner als die Schwingungsamplitude
der Abbildungslinse 14 ist.
Der Abstand A der Sollebene 15 von dem Licht-Sender-Empfänger
23 kann auch durch Einschieben einer gestrichelt angedeuteten planparallelen Platte 27 in den
konvergenten Teil des Meßstrahlenganges geändert werden. Statt der Blende 18 und des photoelektrischen
Wandlers 19 kann auch eine lineare Diodenanordnung 20 gemäß F i g. 2 in der Abbildungsebene der Sollebene
15 angeordnet werden. Die Dioden 21 sind an die Auswerteschaltung 26 angeschlossen, welche die Dioden 21
periodisch nacheinander tastet. In der Auswerteschaltung 26 kann jeweils das Maximum der Lichtintensität
innerhalb der Diodenanordnung 20 festgestellt werden. Außerdem kann hierdurch die Gesamtreflexion (Gesamtremission)
als Meßsignal herangezogen werden. Durch geeignete Auswertung wird somit gleichzeitig
die Gesamtremission und das Meßsignal geliefert. In diesem Fall erübrigt sich der durch den teildurchlässigen
Spiegel 38 und die Detektoranordnung 28 verwirklichte Referenzstrahlengang.
Wesentlich ist, daß die Dioden 21 der Diodenanordnung
20 in ihrer Ausdehnung quer zur Längsrichtung etwa der Ausdehnung der öffnung der Blende 18 entsprechen.
Der Bereich der Dioden 21, die die stärkste Lichtintensität empfangen, entspricht dem Ort der öffnung
der Blende 18; ihr Signal wird bei der Auswertung entsprechend herangezogen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (15)
1. Abstandsänderungs-Meßanordnung mit einem Licht-Sender-Empfänger, welcher ein Lichtbündel
zu einer in einem Abstand befindlichen Sollebene schickt, in oder nahe der sich eine Gegenstandsebene
befindet, deren Abstand zum Licht-Sender-Empfänger bestimmt werden soll, und von dem Gegenstand
reflektiertes Licht empfängt und mittels eines photoelektrischen Wandlers auswertet, dadurch
gekennzeichnet, daß im Sendeteil zur Erzeugung eines beugungsbegrenzten Lichtstrahls eine
vom Beugungsbild eines Lasers (11) beaufschlagte erste Modenblende (12) oder ein modenbegrenzter
Laser vorgesehen ist, welche bzw. welcher über ein Linsensystem (13,14) in die Sollebene (15) abgebildet
ist, und daß die Sollebene (15) über ein Linsensystem (14.16) auf eine photoelektrische Wandleranordnung
(17) mit einer Blende (18) abgebildet ist, welche den zum photoelektrischen Wandler (19)
verlaufenden Lichtstrom begrenzt
Z Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende (18) der Wandleranordnung
(17) zur Erzeugung eines beugungsbegrenzten Empfangsstrahls als zweite Modenblende ausgebildet ist.
3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Modenblende (18) ein Abbild
der ersten Modenblende (12) ist.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als photoelektrischer Wandler (19) eine
lineare Diodenanordnung (20) verwendet wird, welche an eine elektrische Auswerteschaltung (26)
angeschlossen ist, in der die Dioden (21) nacheinander getastet werden und aus dem dabei gewonnenen
Signalverlauf das Meßsignal und die Gesamtremission ermittelt werden.
5. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Sendelicht
durch einen Modulator (22) modulier; ist.
6. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß im Licht-Sender-Empfänger
(23) ein Teil des Sendelichtes abgezweigt und direkt über einen zweiten Modulator
(24) dem photoelektrischen Wandler (17) zugeführt ist.
7. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand
(A) der Sollebene (15) von dem Licht-Sender-Empfänger (23) veränderbar ist.
8. Anordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Veränderung durch eine in den
konvergierenden Strahlengang geschobene Platte (27) mit veränderlicher optischer Dicke erfolgt.
9. Anordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Veränderung durch Verschiebung
von Abbildungslinsen (14) entlang der optischen Achse (30) erfolgt.
10. Anordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß eine Regelschaltung t*yz\ i : iu a\ οιιι/\
kennzeichnet, daß in der Auswerteschaltung (26) das aus der periodischen Veränderung resultierende
Frequenzsignal in bezug auf die Phasenlage des Maximums ausgewertet und diese Phasenlage als Maß
für den Ort der Gegenstandsebene verwendet wird.
13. Anordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß die Regelschaltung (25) einen am Ort der zweiten Modenblende (18)
angeordneten sehr empfindlichen Flankendetektor
ίο umfaßt, welcher auf konstanten Gradienten geregelt
wird.
14. Anordnung nach einem der Ansprüche 11 bis
13, dadurch gekennzeichnet daß die periodische Veränderung der Lage der Sollebene (15) durch Anis
bringung der Abbildungslinse (14) an einem mechanischen, piezoelektrischen oder magnetostriktiven
Schwinger (29) erfolgt.
15. Anordnung nach einem der Ansprüche 11 bis
13, dadurch gekennzeichnet, daß die periodische Veränderung der Lage der Sollebene durch Anordnung
einer rotierenden durchsichtigen Platte (27) mit veränderlicher Stärke im konvergenten Teil des
Strahlenganges erfolgt.
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| DE2908757A DE2908757C2 (de) | 1979-03-06 | 1979-03-06 | Abstandsänderungs-Meßanordnung |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2908757A DE2908757C2 (de) | 1979-03-06 | 1979-03-06 | Abstandsänderungs-Meßanordnung |
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| DE2908757C2 true DE2908757C2 (de) | 1986-10-16 |
Family
ID=6064644
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2908757A Expired DE2908757C2 (de) | 1979-03-06 | 1979-03-06 | Abstandsänderungs-Meßanordnung |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4336997A (de) |
| EP (1) | EP0015506B1 (de) |
| JP (1) | JPS55124004A (de) |
| DE (1) | DE2908757C2 (de) |
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| EP0015506A1 (de) | 1980-09-17 |
| DE2908757A1 (de) | 1980-09-11 |
| JPS55124004A (en) | 1980-09-24 |
| EP0015506B1 (de) | 1984-06-06 |
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| OAP | Request for examination filed | ||
| OC | Search report available | ||
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
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|
| 8120 | Willingness to grant licences paragraph 23 | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |