JP2000048392A - Optical pickup device - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 低価格で小型軽量かつ信頼性の高い光ピック
アップ装置を得る。
【解決手段】 プリズム3の第1の入出射面3aにはア
パーチャ及び回折格子が形成されており、第2の入出射
面3bにはホログラムが形成されている。光ビーム発生
部2が発生した光ビームは、アパーチャによって径が選
択された後、回折格子による回折現象によって3つの入
射ビームに分離される。入射ビームは、第1の斜面3c
によって反射された後、第2の斜面3dによって反射さ
れて第2の入出射面3bに到達する。そして、ホログラ
ムの回折現象によって集光されて、記録媒体1の表面に
照射ビームとして照射される。記録媒体1の表面で反射
した反射ビームはホログラムで集光され、第2の斜面3
dで偏向され、第1の斜面3cによって反射された後、
光検出部4で検出される。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To obtain a low-priced, compact, lightweight and highly reliable optical pickup device. SOLUTION: An aperture and a diffraction grating are formed on a first entrance / exit surface 3a of a prism 3, and a hologram is formed on a second entrance / exit surface 3b. After the diameter of the light beam generated by the light beam generation unit 2 is selected by the aperture, the light beam is separated into three incident beams by a diffraction phenomenon by the diffraction grating. The incident beam is incident on the first slope 3c.
After that, the light is reflected by the second inclined surface 3d and reaches the second input / output surface 3b. Then, the light is condensed by the hologram diffraction phenomenon, and is irradiated on the surface of the recording medium 1 as an irradiation beam. The reflected beam reflected on the surface of the recording medium 1 is condensed by the hologram, and the second slope 3
After being deflected by d and reflected by the first slope 3c,
The light is detected by the light detection unit 4.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、光ピックアップ
装置、特に、3ビーム法によるトラッキング誤差信号検
出方式によってトラッキング制御を行う光ピックアップ
装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup device, and more particularly to an optical pickup device that performs tracking control by a tracking error signal detection method using a three-beam method.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、光ディスクやフロッピーディスク
等の記録媒体の大容量化が推進されている。光ディスク
のトラックに記録されたデータは光ビームを用いて読み
出されるが、光ディスクの回転による面振れ等に追随し
て光ビームをトラック上のピット位置に保つために、半
導体レーザ等による光ビームを用いた光学的なトラッキ
ング制御が行われる。また、光ディスクのみならずフロ
ッピーディスク等の磁気ディスクにおいても、トラッキ
ング用のピット列を設けて光ディスクと同様の光学的な
トラッキング制御を行うことにより、データの読み出し
を確実なものとでき、記録媒体の信頼性を高めることが
できる。なお、フロッピーディスクに記録されたデータ
を読み出す際の光学的なトラッキング制御については、
例えば第58回応用物理学会学術講演会予稿集5a−Z
E−6や第45回応用物理学関係連合講演会予稿集29
p−ZK−2に記載されている。2. Description of the Related Art In recent years, increasing the capacity of recording media such as optical disks and floppy disks has been promoted. Data recorded on the optical disk track is read using a light beam, but a light beam from a semiconductor laser or the like is used to keep the light beam at the pit position on the track following surface deflection due to rotation of the optical disk. Optical tracking control is performed. Further, not only optical disks but also magnetic disks such as floppy disks can be provided with a tracking pit array and by performing the same optical tracking control as an optical disk, data can be read reliably, and Reliability can be improved. For optical tracking control when reading data recorded on a floppy disk,
For example, Proceedings of the 58th JSAP Academic Lecture Meeting 5a-Z
Proceedings of E-6 and the 45th Alliance Lectures on Applied Physics 29
It is described in p-ZK-2.
【0003】図23は、従来の光ピックアップ装置の構
成を示す模式図である。座標系を同図中に示すようにと
り、各構成要素について説明する。符号100は例えば
光ディスクやフロッピーディスク等の記録媒体であり、
トラッキング用のピット列が設けられている。符号10
1は例えば半導体レーザ等によって構成される光ビーム
発生部であり、光ビームを発生する。また、符号102
は回折格子であり、格子のピッチに応じて入射光の一部
を偏向し、これにより入射光を複数の光に分離する。ま
た、符号103はアパーチャであり、入射光のうち必要
な径の光のみを通過して他の光を遮断する。また、符号
104はビームスプリッタであり、同図に示すように、
プラスZ方向に進行する入射光はそのまま通過する一
方、マイナスZ方向に進行する入射光はマイナスY方向
に偏向する。また、符号105はレンズ、符号106は
光検出部である。FIG. 23 is a schematic diagram showing a configuration of a conventional optical pickup device. The coordinate system is set as shown in FIG. Reference numeral 100 denotes a recording medium such as an optical disk or a floppy disk,
A pit row for tracking is provided. Code 10
Reference numeral 1 denotes a light beam generator configured by, for example, a semiconductor laser or the like, which generates a light beam. Also, reference numeral 102
Is a diffraction grating, which deflects part of the incident light according to the pitch of the grating, thereby separating the incident light into a plurality of lights. Reference numeral 103 denotes an aperture, which passes only light having a required diameter among incident light and blocks other light. Reference numeral 104 denotes a beam splitter, as shown in FIG.
Incident light traveling in the plus Z direction passes through as it is, while incident light traveling in the minus Z direction is deflected in the minus Y direction. Reference numeral 105 denotes a lens, and reference numeral 106 denotes a light detection unit.
【0004】次に、動作について説明する。光ビーム発
生部101は光ビームを発生し、この光ビームは回折格
子102に照射される。回折格子102は、光ビーム発
生部101から照射された光ビームを、ゼロ次回折光に
対応するメインビームIB0、プラスX方向の成分を有
するプラス1次回折光に対応するサブビームIB+、及
びマイナスX方向の成分を有するマイナス1次回折光に
対応するサブビームIB−の3つの光ビームに分離す
る。回折格子102によって分離されたメインビームI
B0及びサブビームIB+,IB−は、アパーチャ10
3に入射される。そして、アパーチャ103によって必
要な径以外のビームは遮断され、必要な径の光ビームの
みがアパーチャ103を通過する。アパーチャ103を
通過したメインビームIB0及びサブビームIB+,I
B−は、ビームスプリッタ104を通過してレンズ10
5に照射される。レンズ105は、ビームスプリッタ1
04から照射されたメインビームIB0及びサブビーム
IB+,IB−を集光し、記録媒体100のピット列が
形成されている部分に、照射ビームとして照射する。記
録媒体100に照射された照射ビームは記録媒体100
の表面で反射し、その反射ビームはレンズ105で集光
され、ビームスプリッタ104によってマイナスY方向
に偏向されて、光検出部106で検出される。Next, the operation will be described. The light beam generator 101 generates a light beam, and the light beam is applied to the diffraction grating 102. The diffraction grating 102 converts the light beam emitted from the light beam generation unit 101 into a main beam IB0 corresponding to the zero-order diffracted light, a sub-beam IB + corresponding to the plus first-order diffracted light having a component in the plus X direction, and a minus X direction. The light beam is split into three light beams of a sub-beam IB- corresponding to the minus first-order diffracted light having the component. Main beam I separated by diffraction grating 102
B0 and sub-beams IB + and IB-
3 is incident. Then, beams other than the required diameter are blocked by the aperture 103, and only the light beam having the required diameter passes through the aperture 103. The main beam IB0 and the sub-beams IB +, I which have passed through the aperture 103
B- passes through the beam splitter 104 and passes through the lens 10
5 is irradiated. The lens 105 is the beam splitter 1
The main beam IB0 and the sub-beams IB + and IB- irradiated from the light source 04 are condensed and irradiated as an irradiation beam on a portion of the recording medium 100 where a pit row is formed. The irradiation beam applied to the recording medium 100
The reflected beam is condensed by the lens 105, deflected by the beam splitter 104 in the negative Y direction, and detected by the light detection unit 106.
【0005】図24は、記録媒体100の表面に照射ビ
ームが照射された状態を示す模式図である。記録媒体1
00の表面上には、3次元形状を有する複数のピット1
07が所定方向に配列された、トラッキング用のピット
列が設けられている。スポットS+,S0,S−は、そ
れぞれサブビームIB+、メインビームIB0、サブビ
ームIB−に対応するビームスポットである。同図に示
すように、スポットS+,S0,S−は、記録媒体10
0の表面上でX方向に並ぶ。このとき、スポットS+,
S0,S−が並ぶ方向は、ピット107が並ぶ方向に対
してわずかに傾けられている。なお、各スポットのスポ
ット径は、アパーチャ103とレンズ105とにより設
定される開口数(NA)によって決定される。FIG. 24 is a schematic view showing a state in which the surface of the recording medium 100 is irradiated with an irradiation beam. Recording medium 1
A plurality of pits 1 having a three-dimensional shape
There is provided a pit row for tracking in which 07 are arranged in a predetermined direction. The spots S +, S0, S- are beam spots corresponding to the sub beam IB +, the main beam IB0, and the sub beam IB-, respectively. As shown in the figure, spots S +, S0, S− are recorded on the recording medium 10.
0 in the X direction on the surface. At this time, spots S +,
The direction in which S0 and S− are arranged is slightly inclined with respect to the direction in which the pits 107 are arranged. The spot diameter of each spot is determined by the numerical aperture (NA) set by the aperture 103 and the lens 105.
【0006】図25は、光検出部106に反射ビームが
照射された状態を概略的に示す平面図である。光検出部
106は、メインビームIB0に対応する反射ビームR
B0を受光する受光部1060、サブビームIB+に対
応する反射ビームRB+を受光する受光部106+、及
びサブビームIB−に対応する反射ビームRB−を受光
する受光部106−を有している。受光部106+,1
06−にそれぞれ照射される反射ビームRB+,RB−
の照射量を電圧値に変換して差動増幅器の2つの入力端
子にそれぞれ入力することにより、差動増幅器の出力と
してトラッキング誤差信号を得ることができる。FIG. 25 is a plan view schematically showing a state in which a reflected beam is applied to the light detecting section 106. FIG. The light detection unit 106 outputs the reflected beam R corresponding to the main beam IB0.
It has a light receiving unit 1060 for receiving B0, a light receiving unit 106+ for receiving a reflected beam RB + corresponding to the sub beam IB +, and a light receiving unit 106- for receiving a reflected beam RB- corresponding to the sub beam IB-. Light receiving unit 106+, 1
06-reflected beams RB + and RB-
Is converted into a voltage value and input to the two input terminals of the differential amplifier, whereby a tracking error signal can be obtained as an output of the differential amplifier.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】従来の光ピックアップ
装置は以上のように構成されているため、光ピックアッ
プ装置を構成する素子数が多く、しかも各素子が独立に
構成されている。従って、低価格化、小型軽量化を図る
ことが困難であり、さらに、光学的な配置設定が困難で
量産性の点で不利という問題がある。Since the conventional optical pickup device is configured as described above, the number of elements constituting the optical pickup device is large, and each element is independently configured. Therefore, it is difficult to reduce the cost, reduce the size and weight, and furthermore, it is difficult to set the optical arrangement, which is disadvantageous in terms of mass productivity.
【0008】本発明はかかる問題を解決するために成さ
れたものであり、低価格で小型軽量かつ信頼性の高い光
ピックアップ装置を得ることを目的とするものである。The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide an inexpensive, compact, lightweight, and highly reliable optical pickup device.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】この発明のうち請求項1
に記載の光ピックアップ装置は、光源と、光源とトラッ
キング対象との間に配置され、光源から入射光を入射し
て、トラッキング対象へ照射光を照射するプリズムと、
照射光に対するトラッキング対象からの反射光を受光し
て、トラッキング誤差信号を得る光検出手段とを備え、
プリズムは、入射光を光源からプリズムの内部に入射す
るための入射面と、照射光をプリズムの内部からトラッ
キング対象に照射するための照射面と、プリズムの内部
に入射された入射光を反射するための第1の反射面とを
有し、入射面及び第1の反射面のいずれか一方には、入
射光を少なくとも3以上の複数の光に分離する光分離手
段が形成され、照射面には、複数の光のうちの3つの光
を集光して照射光を得る集光手段が形成されるものであ
る。Means for Solving the Problems Claim 1 of the present invention
The optical pickup device described in the above, a light source, disposed between the light source and the tracking target, incident light from the light source is incident, a prism that irradiates the tracking target with irradiation light,
Light detection means for receiving reflected light from the tracking target with respect to the irradiation light and obtaining a tracking error signal,
The prism reflects an incident surface for irradiating incident light from the light source to the inside of the prism, an irradiating surface for irradiating the irradiation light from the inside of the prism to the tracking target, and reflects the incident light incident to the inside of the prism And a first reflection surface for separating the incident light into at least three or more light beams on one of the incident surface and the first reflection surface. Is a device in which light condensing means for converging three of the plurality of lights to obtain irradiation light is formed.
【0010】また、この発明のうち請求項2に記載の光
ピックアップ装置は、請求項1に記載の光ピックアップ
装置であって、入射面には、光源が発する光のうち所定
の径を有する光のみを通過することにより入射光を得る
光径選択手段が形成されることを特徴とするものであ
る。According to a second aspect of the present invention, there is provided the optical pickup device according to the first aspect, wherein the light having a predetermined diameter out of the light emitted from the light source is provided on the incident surface. A light diameter selecting means for obtaining incident light by passing through only the light path.
【0011】また、この発明のうち請求項3に記載の光
ピックアップ装置は、請求項1に記載の光ピックアップ
装置であって、光分離手段は回折格子であり、該回折格
子は第1の反射面に形成されることを特徴とするもので
ある。According to a third aspect of the present invention, there is provided the optical pickup device according to the first aspect, wherein the light separating means is a diffraction grating, and the diffraction grating is a first reflection device. It is characterized by being formed on a surface.
【0012】また、この発明のうち請求項4に記載の光
ピックアップ装置は、請求項2に記載の光ピックアップ
装置であって、プリズムは、第1の反射面で反射された
入射光を反射して照射面に導くための第2の反射面をさ
らに有し、トラッキング対象からの反射光は、集光手段
を介してプリズムの内部に入射され、第2の反射面に
は、第1の反射面と第2の反射面との間を入射光が進行
する光路とは異なる光路を反射光が進行するように、プ
リズムの内部に入射された反射光を偏向するための偏向
手段が形成され、光検出手段は、偏向手段により偏向さ
れた反射光を受光することを特徴とするものである。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the optical pickup device according to the second aspect, wherein the prism reflects the incident light reflected by the first reflecting surface. A second reflection surface for guiding the light to the irradiation surface, and the reflected light from the tracking target is made incident on the inside of the prism via the condensing means, and the first reflection surface is provided on the second reflection surface. Deflection means for deflecting the reflected light incident inside the prism is formed such that the reflected light travels on an optical path different from the optical path on which the incident light travels between the surface and the second reflecting surface, The light detecting means receives the reflected light deflected by the deflecting means.
【0013】また、この発明のうち請求項5に記載の光
ピックアップ装置は、請求項4に記載の光ピックアップ
装置であって、第1及び第2の反射面の表面は、金属膜
によってそれぞれ覆われることを特徴とするものであ
る。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the optical pickup device according to the fourth aspect, wherein the surfaces of the first and second reflection surfaces are respectively covered with a metal film. It is characterized by being performed.
【0014】また、この発明のうち請求項6に記載の光
ピックアップ装置は、請求項1に記載の光ピックアップ
装置であって、集光手段は、鋸歯状の断面形状を有する
ホログラムであることを特徴とするものである。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an optical pickup device according to the first aspect, wherein the condensing means is a hologram having a sawtooth cross section. It is a feature.
【0015】[0015]
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は、本発明の
実施の形態1に係る光ピックアップ装置の構成を模式的
に示す側面図である。座標系を同図中に示すようにと
り、各構成要素について説明する。同図において、符号
1は例えば光ディスクやフロッピーディスク等の記録媒
体であり、トラッキング用のピット列が設けられてい
る。また、符号2は例えば半導体レーザ等によって構成
される光ビーム発生部であり、光ビームを発生する。ま
た、符号4は光検出部である。また、符号3は、光ビー
ム発生部2と記録媒体1との間に配置されたプリズムで
あり、例えばプラスチック材料等によって1ブロックと
して構成されている。同図に示すように、プリズム3
は、光ビーム発生部2及び光検出部4に対向する第1の
入出射面3aと、記録媒体1に対向する第2の入出射面
3bと、第1の入出射面3aと45°の角度を以て交わ
る第1の斜面3cと、第2の入出射面3bと45°の角
度を以て交わる第2の斜面3dとを有している。ここ
で、第1の入出射面3a及び第2の入出射面3bは光ビ
ームを通過する面であり、第1の斜面3c及び第2の斜
面3dは光ビームを内部反射する面である。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a side view schematically showing a configuration of the optical pickup device according to Embodiment 1 of the present invention. The coordinate system is set as shown in FIG. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a recording medium such as an optical disk or a floppy disk, which has a pit array for tracking. Reference numeral 2 denotes a light beam generation unit constituted by, for example, a semiconductor laser or the like, which generates a light beam. Reference numeral 4 denotes a light detection unit. Reference numeral 3 denotes a prism disposed between the light beam generator 2 and the recording medium 1, and is formed as one block of, for example, a plastic material. As shown in FIG.
The first input / output surface 3a facing the light beam generator 2 and the photodetector 4, the second input / output surface 3b facing the recording medium 1, and the first input / output surface 3a are at 45 °. It has a first slope 3c intersecting at an angle, and a second slope 3d intersecting at 45 ° with the second entrance / exit surface 3b. Here, the first entrance / exit surface 3a and the second entrance / exit surface 3b are surfaces through which the light beam passes, and the first slope 3c and the second slope 3d are surfaces which internally reflect the light beam.
【0016】図2〜4は、第1の入出射面3aの構造を
具体的に示す図である。第1の入出射面3aにはアパー
チャ5及び回折格子6が形成されており、図2はX方向
から、図3はY方向から、第1の入出射面3aのうちア
パーチャ5及び回折格子6が形成されている部分をそれ
ぞれ眺めたものに相当する。また、図4は、アパーチャ
5及び回折格子6をZ方向から眺めたものである。図2
〜4に示すように、第1の入出射面3aには、上面円の
径が底面円の径よりも小さい円錐状のテーパが形成され
ており、テーパの斜面部分がアパーチャ5として機能す
る。また、テーパの上面円には、Y方向に延在する凹凸
縞が形成されており、この凹凸縞が回折格子6として機
能する。FIGS. 2 to 4 are diagrams specifically showing the structure of the first entrance / exit surface 3a. An aperture 5 and a diffraction grating 6 are formed on the first entrance / exit surface 3a. FIG. 2 shows the aperture 5 and the diffraction grating 6 of the first entrance / exit surface 3a from the X direction and FIG. Is equivalent to looking at each of the portions where. FIG. 4 shows the aperture 5 and the diffraction grating 6 viewed from the Z direction. FIG.
As shown in FIGS. 1 to 4, a conical taper in which the diameter of the upper surface circle is smaller than the diameter of the bottom surface circle is formed on the first entrance / exit surface 3 a, and the slope portion of the taper functions as the aperture 5. On the upper surface circle of the taper, uneven fringes extending in the Y direction are formed, and the uneven fringes function as the diffraction grating 6.
【0017】図5〜7は、第2の斜面3dの構造を具体
的に示す図である。第2の斜面3dには回折格子7が形
成されており、図5は、第2の斜面3dのうち回折格子
7が形成されている部分をX方向から眺めたものに相当
する。また、図6はY方向から、図7はZ方向から、回
折格子7をそれぞれ眺めたものである。図5〜7に示す
ように、第2の斜面3dには、X方向に延在する凹凸縞
が形成されており、この凹凸縞が回折格子7として機能
する。FIGS. 5 to 7 are views specifically showing the structure of the second slope 3d. The diffraction grating 7 is formed on the second inclined surface 3d, and FIG. 5 corresponds to a portion of the second inclined surface 3d where the diffraction grating 7 is formed viewed from the X direction. 6 shows the diffraction grating 7 from the Y direction, and FIG. 7 shows the diffraction grating 7 from the Z direction. As shown in FIGS. 5 to 7, uneven stripes extending in the X direction are formed on the second slope 3 d, and the uneven stripes function as the diffraction grating 7.
【0018】図8〜10は、第2の入出射面3bの構造
を具体的に示す図である。第2の入出射面3bにはホロ
グラム8が形成されており、図8はX方向から、図9は
Y方向から、第2の入出射面3bのうちホログラム8が
形成されている部分をそれぞれ眺めたものに相当する。
また、図10は、ホログラム8をZ方向から眺めたもの
である。図8〜10に示すように、第2の入出射面3b
には、鋸歯状の断面形状を有するパターンがZ軸対称に
形成されており、このパターンがホログラム8として機
能する。このパターンは、ダイヤモンドバイト等による
機械加工(旋削)によって形成することができる。ま
た、図11は、ホログラムの他の構造を示す側面図であ
り、第2の入出射面3bのうちホログラム9が形成され
ている部分をX方向から眺めたものに相当する。図8に
は鋸歯状の断面形状を有するホログラム8を示したが、
図11に示すホログラム9のように、断面形状を階段状
にしてもよい。ホログラムは回折現象を利用して光ビー
ムを集光する機能を果たすものであり、鋸歯状の断面形
状を有するホログラム8の方が、階段状の断面形状を有
するホログラム9よりも集光効率は優れている。しか
し、ホログラム9はエッチング等によって形成すること
ができ、機械加工によって鋸歯状のパターンを形成でき
ない場合に有効である。なお、広い意味では、図1に示
したプリズム3全体をホログラムと称することもできる
が、本明細書においては、図8〜11に示したパターン
のみをホログラムと称する。FIGS. 8 to 10 are diagrams specifically showing the structure of the second entrance / exit surface 3b. A hologram 8 is formed on the second entrance / exit surface 3b. FIG. 8 shows a portion of the second entrance / exit surface 3b where the hologram 8 is formed, as viewed from the X direction and FIG. Equivalent to what you saw.
FIG. 10 shows the hologram 8 viewed from the Z direction. As shown in FIGS. 8 to 10, the second entrance / exit surface 3 b
A pattern having a sawtooth cross section is formed symmetrically with respect to the Z axis, and this pattern functions as the hologram 8. This pattern can be formed by machining (turning) using a diamond tool or the like. FIG. 11 is a side view showing another structure of the hologram, and corresponds to a portion of the second entrance / exit surface 3b where the hologram 9 is formed, viewed from the X direction. FIG. 8 shows the hologram 8 having a sawtooth cross section,
As in the hologram 9 shown in FIG. 11, the cross-sectional shape may be stepped. The hologram has a function of condensing a light beam by utilizing a diffraction phenomenon. The hologram 8 having a sawtooth cross-sectional shape has a higher light-collecting efficiency than the hologram 9 having a step-like cross-sectional shape. ing. However, the hologram 9 can be formed by etching or the like, and is effective when a sawtooth pattern cannot be formed by machining. In a broad sense, the entire prism 3 shown in FIG. 1 can be called a hologram, but in the present specification, only the patterns shown in FIGS.
【0019】次に、光ピックアップ装置の具体的な動作
について説明する。まず、光ビーム発生部2が光ビーム
を発生し(図1)、この光ビームはアパーチャ5に照射
される(図2)。アパーチャ5に照射された光ビームの
うち図2において破線で示した径が大きい外周部分は、
テーパの斜面部分に照射される。テーパの斜面部分に照
射された光ビームは、同図に示すように屈折され、光ピ
ックアップ動作には利用されない。一方、アパーチャ5
に照射された光ビームのうち図2において実線で示した
径が小さい中央部分は、テーパの上面円部分に照射さ
れ、光ピックアップ動作に利用される。このように、ア
パーチャ5は、光ビーム発生部2から照射された光ビー
ムの径を選択する機能を有しており、テーパの上面円の
径によって、光ピックアップ動作に利用される光ビーム
の径を設定することができる。Next, a specific operation of the optical pickup device will be described. First, the light beam generator 2 generates a light beam (FIG. 1), and this light beam is applied to the aperture 5 (FIG. 2). The outer peripheral portion having a large diameter indicated by a broken line in FIG.
The light is applied to the tapered slope. The light beam applied to the slope of the taper is refracted as shown in the figure, and is not used for the optical pickup operation. On the other hand, aperture 5
The central portion having a small diameter indicated by a solid line in FIG. 2 of the light beam irradiated to the taper is irradiated to the tapered upper surface circular portion and used for the optical pickup operation. As described above, the aperture 5 has a function of selecting the diameter of the light beam emitted from the light beam generating unit 2, and the diameter of the light beam used for the optical pickup operation is determined by the diameter of the tapered upper surface circle. Can be set.
【0020】図3に示すように、テーパの上面円部分に
は回折格子6が形成されている。従って、テーパの上面
円部分に照射された光ビームは、回折格子6による回折
現象によって、ゼロ次回折光に対応するメインビームI
B0、プラスX方向の成分を有するプラス1次回折光に
対応するサブビームIB+、及びマイナスX方向の成分
を有するマイナス1次回折光に対応するサブビームIB
−の3つの光ビームに分離され、入射ビームとしてプリ
ズム3の内部に入射される。プリズム3の内部に入射さ
れた入射ビームは、図1に示すように第1の斜面3cに
よってプラスY方向に反射され、第2の斜面3dに到達
する。As shown in FIG. 3, a diffraction grating 6 is formed on the upper circular portion of the taper. Therefore, the light beam applied to the upper circular portion of the taper is changed by the diffraction phenomenon by the diffraction grating 6 into the main beam I corresponding to the zero-order diffracted light.
B0, a sub-beam IB + corresponding to a plus first-order diffracted light having a component in the plus X direction, and a sub-beam IB corresponding to a minus first-order diffracted light having a component in the minus X direction
The light beam is split into three light beams of-and is incident on the inside of the prism 3 as an incident beam. The incident beam that has entered the prism 3 is reflected by the first slope 3c in the plus Y direction as shown in FIG. 1 and reaches the second slope 3d.
【0021】図5に示すように、第2の斜面3dには回
折格子7が形成されている。従って、第1の斜面3cか
ら第2の斜面3dに到達した入射ビームは、回折格子7
による回折現象によって分離され、図5において実線で
示す0次回折光の他に、例えば同図において破線で示す
ような1次回折光を生じる。これらの回折光は、図5に
示すように第2の斜面3dによって反射されて、第2の
入出射面3bに到達する。As shown in FIG. 5, a diffraction grating 7 is formed on the second slope 3d. Therefore, the incident beam that has reached the second slope 3d from the first slope 3c is
In addition to the 0th-order diffracted light shown by the solid line in FIG. 5, for example, the first-order diffracted light shown by the broken line in FIG. These diffracted lights are reflected by the second inclined surface 3d as shown in FIG. 5, and reach the second input / output surface 3b.
【0022】図9に示すように、第2の入出射面3bに
はホログラム8が形成されている。回折格子7による回
折現象によって生じた複数の回折光のうち、図5におい
て実線で示した0次回折光のみがホログラム8に照射さ
れる。そして、ホログラム8の回折現象によって集光さ
れて、図1に示すように記録媒体1の表面に照射ビーム
として照射される。このとき、ホログラム8に照射され
る照射ビームには、図9において実線で示すメインビー
ムIB0、破線で示すサブビームIB+、及び一点鎖線
で示すサブビームIB−の各成分が含まれている。メイ
ンビームIB0及びサブビームIB+,IB−は、ホロ
グラム8に入射する際の位置がそれぞれ異なるため、ホ
ログラム8から照射される照射ビームも、メインビーム
IB0に対応する照射ビーム、サブビームIB+に対応
する照射ビーム、及びサブビームIB−に対応する照射
ビームの3つのビームに分離される。As shown in FIG. 9, a hologram 8 is formed on the second entrance / exit surface 3b. Of the plurality of diffracted lights generated by the diffraction phenomenon by the diffraction grating 7, only the 0th-order diffracted light indicated by the solid line in FIG. Then, the light is condensed by the diffraction phenomenon of the hologram 8 and is irradiated as an irradiation beam on the surface of the recording medium 1 as shown in FIG. At this time, the irradiation beam applied to the hologram 8 includes components of a main beam IB0 shown by a solid line, a sub-beam IB + shown by a broken line, and a sub-beam IB- shown by a dashed line in FIG. Since the main beam IB0 and the sub-beams IB + and IB− have different positions when entering the hologram 8, the irradiation beam emitted from the hologram 8 is also an irradiation beam corresponding to the main beam IB0 and an irradiation beam corresponding to the sub-beam IB +. , And the irradiation beam corresponding to the sub-beam IB-.
【0023】図12は、記録媒体1の表面に照射ビーム
が照射された状態を示す模式図である。記録媒体1の表
面上には、3次元形状を有する複数のピット10が所定
方向に配列された、トラッキング用のピット列が設けら
れている。スポットS+,S0,S−は、それぞれサブ
ビームIB+、メインビームIB0、サブビームIB−
に対応するビームスポットである。同図に示すように、
スポットS+,S0,S−は、記録媒体1の表面上でX
方向に並ぶ。このとき、スポットS+,S0,S−が並
ぶ方向は、ピット10が並ぶ方向に対してわずかに傾け
られている。なお、各スポットのスポット径は、アパー
チャ5とホログラム8とにより設定される開口数(N
A)によって決定される。FIG. 12 is a schematic diagram showing a state in which the surface of the recording medium 1 is irradiated with an irradiation beam. On the surface of the recording medium 1, there is provided a pit row for tracking in which a plurality of pits 10 having a three-dimensional shape are arranged in a predetermined direction. The spots S +, S0, S− are respectively a sub beam IB +, a main beam IB0, and a sub beam IB−.
Is a beam spot corresponding to. As shown in the figure,
The spots S +, S0, and S− are X on the surface of the recording medium 1.
Line up in the direction. At this time, the direction in which the spots S +, S0, S- are arranged is slightly inclined with respect to the direction in which the pits 10 are arranged. The spot diameter of each spot is determined by the numerical aperture (N) set by the aperture 5 and the hologram 8.
A).
【0024】記録媒体1に照射された照射ビームは記録
媒体1の表面で反射し、その反射ビームはホログラム8
で集光されて、第2の斜面3dに到達する。図13は、
第2の斜面3dに反射ビームが照射された状態を示す側
面図であり、第2の斜面3dのうち回折格子7が形成さ
れている部分をX方向から眺めたものに相当する。ホロ
グラム8から第2の斜面3dに到達した反射ビームは、
第2の斜面3dによって偏向されて第1の斜面3cに到
達するが、このとき、回折格子7による回折現象によっ
て分離され、同図において実線で示す0次回折光の他
に、例えば同図において破線で示すような1次回折光を
生じる。反射ビームを検出するにあたっては、これらの
回折光のうち1次回折光を使用する。このように反射ビ
ームの検出に0次回折光ではなく1次回折光を使用する
ことにより、入射ビームが第1の斜面3cから第2の斜
面3dへ進行する光路と、反射ビームが第2の斜面3d
から第1の斜面3cへ進行する光路とを分離することが
できる。The irradiation beam applied to the recording medium 1 is reflected on the surface of the recording medium 1, and the reflected beam is applied to the hologram 8
And reaches the second slope 3d. FIG.
FIG. 9 is a side view showing a state where the reflected beam is irradiated on the second inclined surface 3d, and corresponds to a portion of the second inclined surface 3d where the diffraction grating 7 is formed, viewed from the X direction. The reflected beam that has reached the second slope 3d from the hologram 8 is
The light is deflected by the second inclined surface 3d and reaches the first inclined surface 3c. At this time, the light is separated by a diffraction phenomenon by the diffraction grating 7, and in addition to the 0th-order diffracted light shown by the solid line in FIG. A first-order diffracted light is generated as shown in FIG. In detecting the reflected beam, the first-order diffracted light among these diffracted lights is used. By using the first-order diffracted light instead of the zero-order diffracted light for the detection of the reflected beam in this manner, the optical path in which the incident beam travels from the first slope 3c to the second slope 3d and the reflected beam is shifted to the second slope 3d
And the optical path traveling to the first slope 3c can be separated.
【0025】第1の斜面3cに到達した反射ビームは、
図1に示すように第1の斜面3cで反射されて、第1の
入出射面3aのうちアパーチャ5が形成されていない部
分に到達する。そして、第1の入出射面3aによって屈
折されて、光検出部4に照射される。The reflected beam reaching the first slope 3c is
As shown in FIG. 1, the light is reflected by the first slope 3c and reaches a portion of the first entrance / exit surface 3a where the aperture 5 is not formed. Then, the light is refracted by the first entrance / exit surface 3 a and is irradiated on the light detection unit 4.
【0026】図14は、光検出部4に反射ビームが照射
された状態を概略的に示す平面図であり、Z方向から光
検出部4の受光面を眺めたものに相当する。光検出部4
は、メインビームIB0に対応する反射ビームRB0を
受光する受光部40、サブビームIB+に対応する反射
ビームRB+を受光する受光部4+、及びサブビームI
B−に対応する反射ビームRB−を受光する受光部4−
を有している。受光部4+,4−にそれぞれ照射される
反射ビームRB+,RB−の照射量を電圧値に変換して
差動増幅器の2つの入力端子にそれぞれ入力することに
より、差動増幅器の出力としてトラッキング誤差信号を
得ることができる。なお、光検出部4は、反射ビームと
して回折格子7における1次回折光を検出するため、非
点収差の影響で光検出部4の受光面上でのビームスポッ
トは楕円となる。従って、図14に示すように、受光部
40,4+,4−の形状をこれに合わせて長方形として
おくのが望ましい。FIG. 14 is a plan view schematically showing a state in which a reflected beam is applied to the light detecting section 4, and corresponds to a view of the light receiving surface of the light detecting section 4 from the Z direction. Light detector 4
Is a light receiving unit 40 for receiving the reflected beam RB0 corresponding to the main beam IB0, a light receiving unit 4+ for receiving the reflected beam RB + corresponding to the sub beam IB +, and the sub beam I
A light-receiving unit 4 for receiving a reflected beam RB- corresponding to B-
have. By converting the irradiation amounts of the reflected beams RB + and RB- respectively radiated to the light receiving units 4+ and 4- into voltage values and inputting them to the two input terminals of the differential amplifier, respectively, the tracking error is output as the differential amplifier output. A signal can be obtained. Since the light detection unit 4 detects the first-order diffracted light in the diffraction grating 7 as a reflected beam, the beam spot on the light receiving surface of the light detection unit 4 becomes elliptical due to the effect of astigmatism. Therefore, as shown in FIG. 14, it is desirable that the shape of the light receiving sections 40, 4+, 4- be rectangular in accordance with this.
【0027】また、図15は、プリズム3の構造を概略
的に示す側面図であり、X方向からプリズム3の全体を
眺めたものに相当する。同図に示すように、第1の入出
射面3aの表面に反射防止膜15を、第2の入出射面3
bの表面に反射防止膜16をそれぞれ設けてもよい。な
お、図15においてハッチングを施した部分は、反射防
止膜15,16の端部である。これにより、入射ビーム
や反射ビームが第1及び第2の入出射面3a,3bを通
過する際の反射を抑制することができ、光ビームの利用
効率を上げることができる。FIG. 15 is a side view schematically showing the structure of the prism 3 and corresponds to a view of the entire prism 3 viewed from the X direction. As shown in the figure, an antireflection film 15 is provided on the surface of the first entrance / exit surface 3a,
An anti-reflection film 16 may be provided on the surface b. In FIG. 15, hatched portions are ends of the antireflection films 15 and 16. Thereby, reflection when the incident beam or the reflected beam passes through the first and second entrance / exit surfaces 3a and 3b can be suppressed, and the utilization efficiency of the light beam can be increased.
【0028】このように本実施の形態1に係る光ピック
アップ装置によれば、光ピックアップ装置を構成する回
折格子6やホログラム8等の素子を、プリズム3として
1ブロックに形成したため、従来の光ピックアップ装置
と比較すると、低価格化及び小型軽量化を図ることがで
きる。また、一旦プリズム3として形成した後は、各素
子間の光学的な配置設定が不要であるため、量産性に優
れ、信頼性も高いという効果が得られる。As described above, according to the optical pickup device according to the first embodiment, the elements such as the diffraction grating 6 and the hologram 8 constituting the optical pickup device are formed in one block as the prism 3. Compared with the device, it is possible to reduce the cost and size and weight. Further, once the prism 3 is formed, there is no need to set the optical arrangement between the elements, so that the effect of excellent mass productivity and high reliability can be obtained.
【0029】実施の形態2.上記実施の形態1では、回
折格子6を第1の入出射面3aに形成する場合について
説明したが、第1の入出射面3aではなく第1の斜面3
cに形成してもよい。図16〜19は、本発明の実施の
形態2に係る光ピックアップ装置の構造を概略的に示す
図である。特に図16は、第1の入出射面3aのうちア
パーチャ5が形成されている部分と、第1の斜面3cの
うち回折格子12が形成されている部分とをX方向から
眺めたものに相当する。また、図17はY方向から、図
18はZ方向から、回折格子12をそれぞれ眺めたもの
である。さらに、図19は、回折格子12の断面構造を
示す断面図であり、図16に示すYZ方向から回折格子
12の断面を眺めたものに相当する。図16〜19に示
すように、第1の斜面3cには、図16に示すYZ方向
に延在する凹凸縞が形成されており、この凹凸縞が回折
格子12として機能する。また、第1の入出射面3aに
は、上記実施の形態1と同様の構造及び機能を有するア
パーチャ5が形成されている。なお、本実施の形態2に
係る光ピックアップ装置の他の構造は、上記実施の形態
1と同様である。Embodiment 2 In the first embodiment, the case where the diffraction grating 6 is formed on the first entrance / exit surface 3a has been described. However, instead of the first entrance / exit surface 3a, the first slope 3
c. 16 to 19 are diagrams schematically showing a structure of an optical pickup device according to Embodiment 2 of the present invention. In particular, FIG. 16 corresponds to a portion of the first entrance / exit surface 3a where the aperture 5 is formed and a portion of the first inclined surface 3c where the diffraction grating 12 is formed as viewed from the X direction. I do. 17 shows the diffraction grating 12 from the Y direction and FIG. 18 shows the diffraction grating 12 from the Z direction. Further, FIG. 19 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure of the diffraction grating 12, which corresponds to a cross-section of the diffraction grating 12 viewed from the YZ direction shown in FIG. As shown in FIGS. 16 to 19, the first inclined surface 3 c is formed with uneven stripes extending in the YZ directions shown in FIG. 16, and the uneven stripes function as the diffraction grating 12. An aperture 5 having the same structure and function as in the first embodiment is formed on the first entrance / exit surface 3a. The other structure of the optical pickup device according to the second embodiment is the same as that of the first embodiment.
【0030】次に、動作について説明する。図16に示
すように、アパーチャ5からプリズム3の内部に入射さ
れた入射ビームは、第1の斜面3cに到達した後、第1
の斜面3cによってプラスY方向に反射される。このと
き、第1の斜面3cには回折格子12が形成されてい
る。従って、図19に示すように、第1の斜面3cに到
達した入射ビームは、回折格子12による回折現象によ
って、ゼロ次回折光に対応するメインビームIB0、プ
ラスX方向の成分を有するプラス1次回折光に対応する
サブビームIB+、及びマイナスX方向の成分を有する
マイナス1次回折光に対応するサブビームIB−の3つ
の光ビームに分離される。Next, the operation will be described. As shown in FIG. 16, the incident beam that has entered the inside of the prism 3 from the aperture 5 reaches the first slope 3c,
Is reflected in the plus Y direction by the inclined surface 3c. At this time, the diffraction grating 12 is formed on the first slope 3c. Therefore, as shown in FIG. 19, the incident beam that has reached the first inclined surface 3c is converted into a main beam IB0 corresponding to the zero-order diffracted light and a plus first-order diffracted light having a component in the plus X direction by the diffraction phenomenon of the diffraction grating 12. And a sub-beam IB- corresponding to the minus first-order diffracted light having a component in the minus X direction.
【0031】光ピックアップ装置のその後の動作は上記
実施の形態1と同様である。即ち、回折格子12によっ
て分離されたメインビームIB0及びサブビームIB
+,IB−は、第2の斜面3dでプラスZ方向に反射さ
れ、ホログラム8で集光されて、記録媒体1に照射され
る。そして、記録媒体1からの反射ビームは、ホログラ
ム8を介してプリズム3の内部に入射した後、第2の斜
面3d及び第1の斜面3cでそれぞれ反射され、第1の
入出射面3aで屈折された後、光検出部4に照射され
る。The subsequent operation of the optical pickup device is the same as in the first embodiment. That is, the main beam IB0 and the sub beam IB separated by the diffraction grating 12
+, IB- are reflected in the plus Z direction on the second inclined surface 3d, condensed by the hologram 8, and radiated to the recording medium 1. Then, the reflected beam from the recording medium 1 enters the prism 3 through the hologram 8, is reflected by the second inclined surface 3d and the first inclined surface 3c, and is refracted by the first entrance / exit surface 3a. After that, the light is irradiated on the light detection unit 4.
【0032】図20は、記録媒体1の表面に照射ビーム
が照射された状態を概略的に示す平面図である。図16
に示したように本実施の形態2に係る光ピックアップ装
置においては、回折格子12を第1の入出射面3aでは
なく第1の斜面3cに形成した。このため、回折格子1
2によって分離されたメインビームIB0及びサブビー
ムIB+,IB−のそれぞれに対応するビームスポット
S00,S+,S−の並びは、図20に示すように記録
媒体1の表面において直線からずれる。記録媒体1の表
面におけるビームスポットS00,S+,S−の並びの
ずれ量は、プリズム3の構成によって定まる。従って、
光検出部4においてトラッキング誤差信号を得る際に、
ビームスポットS00,S+,S−の並びのずれ量を勘
案して、これを電気的に補正する処理を行うことによ
り、トラッキング誤差信号を適切に得ることができる。FIG. 20 is a plan view schematically showing a state in which the surface of the recording medium 1 is irradiated with an irradiation beam. FIG.
As described above, in the optical pickup device according to the second embodiment, the diffraction grating 12 is formed not on the first entrance / exit surface 3a but on the first slope 3c. Therefore, the diffraction grating 1
The arrangement of the beam spots S00, S +, S- corresponding to the main beam IB0 and the sub-beams IB +, IB- separated by 2 deviates from the straight line on the surface of the recording medium 1 as shown in FIG. The amount of misalignment of the beam spots S00, S +, S- on the surface of the recording medium 1 is determined by the configuration of the prism 3. Therefore,
When obtaining a tracking error signal in the light detection unit 4,
A tracking error signal can be appropriately obtained by performing a process of electrically correcting the misalignment of the beam spots S00, S +, and S- in consideration of the misalignment.
【0033】このように本実施の形態2に係る光ピック
アップ装置によれば、上記実施の形態1とは異なり、回
折格子12を第1の入出射面3aではなく第1の斜面3
cに形成した。従って、本実施の形態2において回折格
子12とホログラム8との間を入射ビームが進行する距
離は、上記実施の形態1において回折格子6とホログラ
ム8との間を入射ビームが進行する距離よりも短くな
る。従って、本実施の形態2に係る回折格子12の方
が、上記実施の形態1に係る回折格子6よりも、格子間
のピッチを大きく設定することが可能となる。As described above, according to the optical pickup device of the second embodiment, unlike the first embodiment, the diffraction grating 12 is not the first entrance / exit surface 3a but the first inclined surface 3a.
c. Therefore, the distance that the incident beam travels between the diffraction grating 12 and the hologram 8 in the second embodiment is longer than the distance that the incident beam travels between the diffraction grating 6 and the hologram 8 in the first embodiment. Be shorter. Therefore, the pitch between the gratings of the diffraction grating 12 according to the second embodiment can be set larger than that of the diffraction grating 6 according to the first embodiment.
【0034】実施の形態3.図21は、本発明の実施の
形態3に係る光ピックアップ装置のうち、第1の斜面3
cの構造を拡大して示す断面図である。同図に示すよう
に、第1の斜面3cの表面に、反射率の高いAIやAu
等の金属膜13を設ける。金属膜13は、蒸着等の方法
によってプリズム3の表面に付加することができる。な
お、図21においては、第1の斜面3cに回折格子12
が形成された上記実施の形態2を前提としたが、回折格
子12が形成されない上記実施の形態1における第1の
斜面3cの表面に金属膜13を設けることもできる。Embodiment 3 FIG. 21 shows the first slope 3 of the optical pickup device according to Embodiment 3 of the present invention.
It is sectional drawing which expands and shows the structure of c. As shown in the figure, AI or Au having a high reflectance is provided on the surface of the first slope 3c.
A metal film 13 is provided. The metal film 13 can be added to the surface of the prism 3 by a method such as vapor deposition. In FIG. 21, the diffraction grating 12 is provided on the first slope 3c.
However, the metal film 13 may be provided on the surface of the first slope 3c in the first embodiment where the diffraction grating 12 is not formed.
【0035】また、図22は、本発明の実施の形態3に
係る光ピックアップ装置のうち、第2の斜面3dの構造
を拡大して示す断面図である。同図に示すように、第2
の斜面3dの表面に金属膜14を設ける。金属膜14
は、金属膜13と同様に、AIやAu等から成り、蒸着
等の方法によってプリズム3の表面に付加することがで
きる。FIG. 22 is an enlarged sectional view showing the structure of the second inclined surface 3d in the optical pickup device according to the third embodiment of the present invention. As shown in FIG.
The metal film 14 is provided on the surface of the inclined surface 3d. Metal film 14
Is made of AI, Au, or the like, like the metal film 13, and can be added to the surface of the prism 3 by a method such as vapor deposition.
【0036】本実施の形態3に係る光ピックアップ装置
の他の構造及び動作は上記各実施の形態と同様である。Other structures and operations of the optical pickup device according to the third embodiment are the same as those of the above embodiments.
【0037】このように本実施の形態3に係る光ピック
アップ装置によれば、第1の斜面3c及び第2の斜面3
dの表面に、反射率の高い金属膜13,14をぞれぞれ
設けた。従って、回折格子12,7の原板の作成時やプ
リズム3の成形時において、第1の斜面3c及び第2の
斜面3dの表面が粗くなり、第1の斜面3cあるいは第
2の斜面3dで入射ビームや反射ビームの一部が散乱す
る場合であっても、その散乱光がプリズム3の外部に漏
れることを防止することができ、光ビームの利用効率を
上げることができる。As described above, according to the optical pickup device of the third embodiment, the first slope 3c and the second slope 3c
Metal films 13 and 14 having high reflectivity were provided on the surface of d. Therefore, when the original plates of the diffraction gratings 12 and 7 are formed or when the prism 3 is formed, the surfaces of the first inclined surface 3c and the second inclined surface 3d become rough, and the light is incident on the first inclined surface 3c or the second inclined surface 3d. Even when a part of the beam or the reflected beam is scattered, it is possible to prevent the scattered light from leaking to the outside of the prism 3, and it is possible to increase the utilization efficiency of the light beam.
【0038】具体的に、入射ビームに関しては、第1の
斜面3cで散乱される入射ビームのうち、金属膜13に
よって図1に示したY方向に反射されるもの、あるいは
第2の斜面3dで散乱される入射ビームのうち、金属膜
14によって図1に示したZ方向に反射されるものを光
ピックアップ動作に利用することができる。More specifically, as for the incident beam, of the incident beam scattered on the first slope 3c, the one reflected by the metal film 13 in the Y direction shown in FIG. 1 or on the second slope 3d. Among the scattered incident beams, those reflected by the metal film 14 in the Z direction shown in FIG. 1 can be used for the optical pickup operation.
【0039】また、反射ビームに関しては、第2の斜面
3dあるいは第1の斜面3cでそれぞれ散乱される反射
ビームのうち、金属膜14,13によって、散乱しない
正規の反射ビームが進行する方向にそれぞれ反射される
ものを光ピックアップ動作に利用することができる。Regarding the reflected beams, of the reflected beams scattered on the second inclined surface 3d or the first inclined surface 3c, respectively, in the direction in which the regular reflected beams not scattered by the metal films 14 and 13 travel. The reflected light can be used for the optical pickup operation.
【0040】[0040]
【発明の効果】この発明のうち請求項1に係るものによ
れば、入射光は光分離手段によって複数の光に分離さ
れ、そのうちの3つの光が集光手段で集光されてトラッ
キング対象へ照射される。そして、光検出手段がトラッ
キング対象からの反射光を検出することにより、トラッ
キング誤差信号を得ることができる。しかも、光分離手
段及び集光手段をプリズムとして1ブロックに形成する
ため、これらの各手段を独立に構成する従来の光ピック
アップ装置と比較すると、装置の低価格化及び小型軽量
化を図ることができるとともに、一旦プリズムとして成
形した後は光分離手段と集光手段との間の光学的な配置
設定が不要となる。According to the first aspect of the present invention, the incident light is separated into a plurality of lights by the light separating means, and three of the lights are condensed by the light condensing means and directed to the tracking target. Irradiated. Then, the tracking error signal can be obtained by detecting the reflected light from the tracking target by the light detecting means. In addition, since the light separating means and the light condensing means are formed as one prism as one block, the cost and size and weight of the apparatus can be reduced as compared with a conventional optical pickup device in which these means are independently configured. In addition to this, once formed as a prism, it is not necessary to set the optical arrangement between the light separating means and the light collecting means.
【0041】また、この発明のうち請求項2に係るもの
によれば、光径選択手段によって、光ピックアップ動作
に利用される入射ビームの径を設定することができる。
しかも、光径選択手段を光分離手段や集光手段と独立し
て形成するのではなく、光分離手段及び集光手段ととも
にプリズムとして1ブロックに形成するため、装置の低
価格化及び小型軽量化を一層促進することができる。According to the second aspect of the present invention, the diameter of the incident beam used for the optical pickup operation can be set by the light diameter selecting means.
In addition, since the light diameter selecting means is not formed independently of the light separating means and the condensing means, but is formed as a prism together with the light separating means and the condensing means, the cost and size and weight of the apparatus are reduced. Can be further promoted.
【0042】また、この発明のうち請求項3に係るもの
によれば、回折格子を第1の反射面に形成する。従っ
て、回折格子を入射面に形成する場合と比較すると、回
折格子と集光手段との間を入射光が進行する距離が短く
なるため、回折格子が入射光を分離する際の回折角が小
さくなり、回折格子の格子間のピッチを大きく設定する
ことができる。According to the third aspect of the present invention, the diffraction grating is formed on the first reflecting surface. Therefore, as compared with the case where the diffraction grating is formed on the incident surface, the distance that the incident light travels between the diffraction grating and the light condensing unit is shorter, so that the diffraction angle when the diffraction grating separates the incident light is smaller. That is, the pitch between the diffraction gratings can be set large.
【0043】また、この発明のうち請求項4に係るもの
によれば、偏向手段は、入射光が第1の反射面から第2
の反射面へ進行する光路と、反射光が第2の反射面から
第1の反射面へ進行する光路とを分離する。従って、入
射光の光路とは分離された光路を進行する反射光を光検
出手段が受光することによって、適切にトラッキング誤
差信号を得ることができる。しかも、偏向手段を光分離
手段や集光手段と独立して形成するのではなく、光分離
手段及び集光手段とともにプリズムとして1ブロックに
形成するため、装置の低価格化及び小型軽量化を一層促
進することができる。According to the fourth aspect of the present invention, the deflecting means allows the incident light to travel from the first reflecting surface to the second reflecting surface.
And the optical path in which reflected light travels from the second reflective surface to the first reflective surface. Therefore, the tracking error signal can be appropriately obtained by the photodetector receiving the reflected light traveling on the optical path separated from the optical path of the incident light. Moreover, since the deflecting means is not formed independently of the light separating means and the condensing means, but is formed as a prism together with the light separating means and the condensing means, the cost and size and weight of the apparatus can be further reduced. Can be promoted.
【0044】また、この発明のうち請求項5に係るもの
によれば、第1及び第2の反射面の表面を反射率の高い
金属膜によって覆うため、第1及び第2の反射面の表面
が粗くなり、第1及び第2の反射面の表面で入射光や反
射光の一部が散乱する場合であっても、その散乱光がプ
リズムの外部に漏れることを防止することができる。According to the fifth aspect of the present invention, since the surfaces of the first and second reflecting surfaces are covered with a metal film having a high reflectivity, the surfaces of the first and second reflecting surfaces are covered. Even if some of the incident light and the reflected light are scattered on the surfaces of the first and second reflection surfaces, it is possible to prevent the scattered light from leaking out of the prism.
【0045】また、この発明のうち請求項6に係るもの
によれば、集光手段であるホログラムの断面形状を鋸歯
状にすることにより、入射光の集光効率を上げることが
できる。According to the sixth aspect of the present invention, the hologram, which is the light condensing means, has a sawtooth cross section, so that the light condensing efficiency of the incident light can be increased.
【図1】 本発明の実施の形態1に係る光ピックアップ
装置の構成を模式的に示す側面図である。FIG. 1 is a side view schematically showing a configuration of an optical pickup device according to Embodiment 1 of the present invention.
【図2】 第1の入出射面の構造を具体的に示す図であ
る。FIG. 2 is a diagram specifically showing a structure of a first entrance / exit surface.
【図3】 第1の入出射面の構造を具体的に示す図であ
る。FIG. 3 is a view specifically showing a structure of a first entrance / exit surface.
【図4】 第1の入出射面の構造を具体的に示す図であ
る。FIG. 4 is a view specifically showing a structure of a first entrance / exit surface.
【図5】 第2の斜面の構造を具体的に示す図である。FIG. 5 is a view specifically showing a structure of a second slope.
【図6】 第2の斜面の構造を具体的に示す図である。FIG. 6 is a view specifically showing a structure of a second slope.
【図7】 第2の斜面の構造を具体的に示す図である。FIG. 7 is a view specifically showing a structure of a second slope.
【図8】 第2の入出射面の構造を具体的に示す図であ
る。FIG. 8 is a view specifically showing a structure of a second entrance / exit surface.
【図9】 第2の入出射面の構造を具体的に示す図であ
る。FIG. 9 is a view specifically showing a structure of a second entrance / exit surface.
【図10】 第2の入出射面の構造を具体的に示す図で
ある。FIG. 10 is a diagram specifically showing a structure of a second entrance / exit surface.
【図11】 ホログラムの他の構造を示す側面図であ
る。FIG. 11 is a side view showing another structure of the hologram.
【図12】 記録媒体の表面に照射ビームが照射された
状態を示す模式図である。FIG. 12 is a schematic diagram illustrating a state in which a surface of a recording medium is irradiated with an irradiation beam.
【図13】 第2の斜面に反射ビームが照射された状態
を示す側面図である。FIG. 13 is a side view showing a state where the second inclined surface is irradiated with a reflected beam.
【図14】 光検出部に反射ビームが照射された状態を
概略的に示す平面図である。FIG. 14 is a plan view schematically showing a state in which a light detection unit is irradiated with a reflected beam.
【図15】 プリズムの構造を概略的に示す側面図であ
る。FIG. 15 is a side view schematically showing a structure of a prism.
【図16】 本発明の実施の形態2に係る光ピックアッ
プ装置の構造を概略的に示す図である。FIG. 16 is a diagram schematically showing a structure of an optical pickup device according to a second embodiment of the present invention.
【図17】 本発明の実施の形態2に係る光ピックアッ
プ装置の構造を概略的に示す図である。FIG. 17 is a drawing schematically showing a structure of an optical pickup device according to Embodiment 2 of the present invention.
【図18】 本発明の実施の形態2に係る光ピックアッ
プ装置の構造を概略的に示す図である。FIG. 18 is a drawing schematically showing a structure of an optical pickup device according to Embodiment 2 of the present invention.
【図19】 本発明の実施の形態2に係る光ピックアッ
プ装置の構造を概略的に示す図である。FIG. 19 is a view schematically showing a structure of an optical pickup device according to Embodiment 2 of the present invention.
【図20】 記録媒体の表面に照射ビームが照射された
状態を概略的に示す平面図である。FIG. 20 is a plan view schematically showing a state in which the surface of a recording medium is irradiated with an irradiation beam.
【図21】 本発明の実施の形態3に係る光ピックアッ
プ装置のうち、第1の斜面の構造を拡大して示す断面図
である。FIG. 21 is an enlarged sectional view showing a structure of a first slope in the optical pickup device according to Embodiment 3 of the present invention.
【図22】 本発明の実施の形態3に係る光ピックアッ
プ装置のうち、第2の斜面の構造を拡大して示す断面図
である。FIG. 22 is an enlarged sectional view showing the structure of a second slope in the optical pickup device according to Embodiment 3 of the present invention.
【図23】 従来の光ピックアップ装置の構成を概略的
に示す図である。FIG. 23 is a view schematically showing a configuration of a conventional optical pickup device.
【図24】 記録媒体の表面に照射ビームが照射された
状態を概略的に示す平面図である。FIG. 24 is a plan view schematically showing a state in which a surface of a recording medium is irradiated with an irradiation beam.
【図25】 光検出部に反射ビームが照射された状態を
概略的に示す平面図である。FIG. 25 is a plan view schematically showing a state in which a light detection unit is irradiated with a reflected beam.
1 記録媒体、2 光ビーム発生部、3 プリズム、3
a 第1の入出射面、3b 第2の入出射面、3c 第
1の斜面、3d 第2の斜面、4 光検出部、5 アパ
ーチャ、6,7,12 回折格子、8,9 ホログラ
ム、13,14金属膜。1 recording medium, 2 light beam generator, 3 prism, 3
a first entrance / exit surface, 3b second entrance / exit surface, 3c first slope, 3d second slope, 4 photodetector, 5 aperture, 6, 7, 12 diffraction grating, 8, 9 hologram, 13 , 14 metal films.
フロントページの続き (72)発明者 火原 辰則 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 菅原 直人 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 5D119 AA01 AA04 AA40 AA43 BB03 DA01 DA05 EA02 JA07 JA13 JA30 JA47 Continued on the front page (72) Inventor Tatsunori Hihara 2-3-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo, Japan Mitsubishi Electric Corporation (72) Inventor Naoto Sugawa 2-3-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo, Mitsubishi F-term (reference) in Denki Co., Ltd. 5D119 AA01 AA04 AA40 AA43 BB03 DA01 DA05 EA02 JA07 JA13 JA30 JA47
Claims (6)
源から入射光を入射して、前記トラッキング対象へ照射
光を照射するプリズムと、 前記照射光に対する前記トラッキング対象からの反射光
を受光して、トラッキング誤差信号を得る光検出手段と
を備え、 前記プリズムは、前記入射光を前記光源から前記プリズ
ムの内部に入射するための入射面と、前記照射光を前記
プリズムの内部から前記トラッキング対象に照射するた
めの照射面と、前記プリズムの内部に入射された前記入
射光を反射するための第1の反射面とを有し、 前記入射面及び前記第1の反射面のいずれか一方には、
前記入射光を少なくとも3以上の複数の光に分離する光
分離手段が形成され、 前記照射面には、前記複数の光のうちの3つの光を集光
して前記照射光を得る集光手段が形成される光ピックア
ップ装置。1. A light source, a prism disposed between the light source and a tracking target, a prism that receives incident light from the light source and irradiates the tracking target with irradiation light, and a prism that irradiates the tracking target with the irradiation light. And a light detecting means for receiving a reflected light of the prism to obtain a tracking error signal, wherein the prism is configured to input the incident light from the light source to the inside of the prism; Having an irradiation surface for irradiating the tracking target from inside of the prism, and a first reflection surface for reflecting the incident light incident on the inside of the prism, wherein the incident surface and the first reflection On one of the faces,
A light separating means for separating the incident light into at least three or more lights is formed, and a light collecting means for collecting three lights of the plurality of lights to obtain the irradiation light on the irradiation surface. Optical pickup device on which is formed.
うち所定の径を有する光のみを通過することにより前記
入射光を得る光径選択手段が形成される、請求項1に記
載の光ピックアップ装置。2. The light incident surface according to claim 1, wherein a light diameter selecting means for obtaining the incident light by passing only light having a predetermined diameter out of the light emitted from the light source is formed on the incident surface. Optical pickup device.
折格子は前記第1の反射面に形成される、請求項1に記
載の光ピックアップ装置。3. The optical pickup device according to claim 1, wherein said light separating means is a diffraction grating, and said diffraction grating is formed on said first reflection surface.
射された前記入射光を反射して前記照射面に導くための
第2の反射面をさらに有し、 前記トラッキング対象からの前記反射光は、前記集光手
段を介して前記プリズムの内部に入射され、 前記第2の反射面には、前記第1の反射面と前記第2の
反射面との間を前記入射光が進行する光路とは異なる光
路を前記反射光が進行するように、前記プリズムの内部
に入射された前記反射光を偏向するための偏向手段が形
成され、 前記光検出手段は、前記偏向手段により偏向された前記
反射光を受光する、請求項2に記載の光ピックアップ装
置。4. The prism further includes a second reflection surface for reflecting the incident light reflected on the first reflection surface and guiding the incident light to the irradiation surface, and the reflection from the tracking target. Light is incident on the inside of the prism via the condensing means, and the incident light travels between the first reflection surface and the second reflection surface on the second reflection surface. A deflecting unit for deflecting the reflected light incident inside the prism is formed such that the reflected light travels along an optical path different from the optical path, and the light detection unit is deflected by the deflecting unit. The optical pickup device according to claim 2, wherein the optical pickup device receives the reflected light.
属膜によってそれぞれ覆われることを特徴とする、請求
項4に記載の光ピックアップ装置。5. The optical pickup device according to claim 4, wherein the surfaces of the first and second reflection surfaces are respectively covered with a metal film.
するホログラムであることを特徴とする、請求項1に記
載の光ピックアップ装置。6. The optical pickup device according to claim 1, wherein the light condensing means is a hologram having a sawtooth cross section.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10210888A JP2000048392A (en) | 1998-07-27 | 1998-07-27 | Optical pickup device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10210888A JP2000048392A (en) | 1998-07-27 | 1998-07-27 | Optical pickup device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000048392A true JP2000048392A (en) | 2000-02-18 |
Family
ID=16596762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10210888A Pending JP2000048392A (en) | 1998-07-27 | 1998-07-27 | Optical pickup device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000048392A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100855287B1 (en) * | 2000-07-19 | 2008-08-29 | 소니 가부시끼 가이샤 | Image playback device and image playback method |
-
1998
- 1998-07-27 JP JP10210888A patent/JP2000048392A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100855287B1 (en) * | 2000-07-19 | 2008-08-29 | 소니 가부시끼 가이샤 | Image playback device and image playback method |
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