JP2000231901A - 画像解析法による質量分析計又はそれを使用した質量分析方法 - Google Patents
画像解析法による質量分析計又はそれを使用した質量分析方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 画像解析法を用いて、長半減期を有する核種
であるカルシウム−４１、ニッケル−５９、塩素−３６
等の微量同位体の質量分析を行う方法。 【解決手段】 飛行時間型の質量分析計を使用し、その
イオン検出器からの出力を２次元の光信号に変換し、そ
れをパソコンに取り込み画像解析することにより質量ス
ペクトルを測定して目的とする同位体の質量分析を行う
ものであり、飛行時間型の質量分析計に用いられるマイ
クロチャンネルプレート（ＭＣＰ）に蛍光物質が塗布さ
れたアノード面を用いることにより、ＭＣＰに到達した
同位体イオンを２次元情報（位置情報及び強度）を待っ
た像に変換することが可能になり、飛行速度によって質
量弁別されたイオンを、掃引電極を使用してＭＣＰに到
達する位置を振り分けることによって、蛍光面上の光信
号の強度から同位体のイオン量を、そしてその位置情報
から時間、即ち質量の情報を得ることができる。
であるカルシウム−４１、ニッケル−５９、塩素−３６
等の微量同位体の質量分析を行う方法。 【解決手段】 飛行時間型の質量分析計を使用し、その
イオン検出器からの出力を２次元の光信号に変換し、そ
れをパソコンに取り込み画像解析することにより質量ス
ペクトルを測定して目的とする同位体の質量分析を行う
ものであり、飛行時間型の質量分析計に用いられるマイ
クロチャンネルプレート（ＭＣＰ）に蛍光物質が塗布さ
れたアノード面を用いることにより、ＭＣＰに到達した
同位体イオンを２次元情報（位置情報及び強度）を待っ
た像に変換することが可能になり、飛行速度によって質
量弁別されたイオンを、掃引電極を使用してＭＣＰに到
達する位置を振り分けることによって、蛍光面上の光信
号の強度から同位体のイオン量を、そしてその位置情報
から時間、即ち質量の情報を得ることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像解析法を用い
て、長半減期を有する核種であるカルシウム−４１、ニ
ッケル−５９、塩素−３６等の微量同位体の質量分析を
行う方法に関するものである。
て、長半減期を有する核種であるカルシウム−４１、ニ
ッケル−５９、塩素−３６等の微量同位体の質量分析を
行う方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、カルシウム−４１等の長い半減期
を有する核種を高感度に測定するためには、その崩壊に
伴う放射線を計測するよりも、その核種の原子を測定す
る方が有利であった。
を有する核種を高感度に測定するためには、その崩壊に
伴う放射線を計測するよりも、その核種の原子を測定す
る方が有利であった。
【０００３】そこで、この核種の原子を測定する方法と
して、今まではレーザー共鳴イオン化質量分析法（ＲＩ
ＭＳ）を用いることにより、同重体や分子イオンの干渉
を受けない、核種原子に関する微量の同位体の高感度分
析法についての基礎的な検討が行われてきた。
して、今まではレーザー共鳴イオン化質量分析法（ＲＩ
ＭＳ）を用いることにより、同重体や分子イオンの干渉
を受けない、核種原子に関する微量の同位体の高感度分
析法についての基礎的な検討が行われてきた。
【０００４】そのＲＩＭＳに用いる質量分析計で代表的
なものが飛行時間型質量分析計（ＴＯＦＭＳ：Ｔｉｍｅ
−ｏｆ−Ｆ１ｉｇｈｔ Ｍａｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔ
ｅｒ）であるが、それは、図１及び図２に示されるよう
に、原子化された試料を電場中（加速電極間）でイオン
化用レーザーによりイオン化し、得られたイオンをドリ
フト空間（電場等がない空間）において自由飛行させ、
この空間で軽いイオンから重いイオンの順番で飛行速度
によるイオンの質量弁別を行うものである。即ち、この
システムでは、ドリフト空間を経てマイクロチャンネル
プレート（ＭＣＰ）に到達したイオンがぶつかってでき
た電子をＭＣＰによって増倍し、その出力電子をアノー
ドに集めて検出し、図３に示されるように、その出力を
デジタルオシロスコープ等を用いて測定した。
なものが飛行時間型質量分析計（ＴＯＦＭＳ：Ｔｉｍｅ
−ｏｆ−Ｆ１ｉｇｈｔ Ｍａｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔ
ｅｒ）であるが、それは、図１及び図２に示されるよう
に、原子化された試料を電場中（加速電極間）でイオン
化用レーザーによりイオン化し、得られたイオンをドリ
フト空間（電場等がない空間）において自由飛行させ、
この空間で軽いイオンから重いイオンの順番で飛行速度
によるイオンの質量弁別を行うものである。即ち、この
システムでは、ドリフト空間を経てマイクロチャンネル
プレート（ＭＣＰ）に到達したイオンがぶつかってでき
た電子をＭＣＰによって増倍し、その出力電子をアノー
ドに集めて検出し、図３に示されるように、その出力を
デジタルオシロスコープ等を用いて測定した。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記レーザー共鳴イオ
ン化質量分析法（ＲＩＭＳ）においては、目的とする微
量の同位体の定量のためには、目的とする同位体と他の
同位体との存在比率を求めることが必要であった。しか
し、その存在比率を、レーザー共鳴イオン化質量分析計
のイオン検出器から得られる電流値に基づいて測定する
際には、その検出器のダイナミックレンジに限界がある
こと、又存在比率の高い同位体によって強電流が発生し
た直後の存在比率の低い同位体の電流測定における精度
が低いこと等の問題があって、ＲＩＭＳの性能が生かし
きれない場合が多かった。
ン化質量分析法（ＲＩＭＳ）においては、目的とする微
量の同位体の定量のためには、目的とする同位体と他の
同位体との存在比率を求めることが必要であった。しか
し、その存在比率を、レーザー共鳴イオン化質量分析計
のイオン検出器から得られる電流値に基づいて測定する
際には、その検出器のダイナミックレンジに限界がある
こと、又存在比率の高い同位体によって強電流が発生し
た直後の存在比率の低い同位体の電流測定における精度
が低いこと等の問題があって、ＲＩＭＳの性能が生かし
きれない場合が多かった。
【０００６】又、上記従来の飛行時間型の質量分析計に
おいては、レーザーによるイオン化に同期して各同位体
のイオンが検出される。例えば、カルシウムであれば４
０から４８の同位体が時間差をもって検出器に到達し、
その時最も大きな存在度のイオンと最も小さな存在度の
イオンの比が８ビット以上（２５６：１以上）である
と、測定レンジの中に入り切らないためにその両方を測
定することが不可能になる。即ち、大きい方を見ようと
すると小さな信号は測定できないし、又小さい方を見よ
うとすれば大さな方はオーバースケールで一定の値にな
ってしまうという問題があった。更に、この従来の分析
計では、数マイクロ秒の時間内にイオンが質量弁別され
て飛んでくるので、ナノ秒レベルの時間分解能がないと
正確な測定が不可能である。現在のデジタル信号処理で
は０．１ナノ秒の時間分解能を持つ製品が使用できる
が、信号強度の分解能については、高速のアナログ／デ
ジタル変換に限界があることから、８ビットが最高水準
になるという問題もある。
おいては、レーザーによるイオン化に同期して各同位体
のイオンが検出される。例えば、カルシウムであれば４
０から４８の同位体が時間差をもって検出器に到達し、
その時最も大きな存在度のイオンと最も小さな存在度の
イオンの比が８ビット以上（２５６：１以上）である
と、測定レンジの中に入り切らないためにその両方を測
定することが不可能になる。即ち、大きい方を見ようと
すると小さな信号は測定できないし、又小さい方を見よ
うとすれば大さな方はオーバースケールで一定の値にな
ってしまうという問題があった。更に、この従来の分析
計では、数マイクロ秒の時間内にイオンが質量弁別され
て飛んでくるので、ナノ秒レベルの時間分解能がないと
正確な測定が不可能である。現在のデジタル信号処理で
は０．１ナノ秒の時間分解能を持つ製品が使用できる
が、信号強度の分解能については、高速のアナログ／デ
ジタル変換に限界があることから、８ビットが最高水準
になるという問題もある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、これらの問題
を解決する方法として、飛行時間型の質量分析計を使用
し、そのイオン検出器からの出力を２次元の光信号に変
換し、それをパソコンに取り込み画像解析することによ
り質量スペクトルを測定して目的とする同位体の質量分
析を行うものである。即ち、飛行時間型の質量分析計に
用いられるマイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）に蛍
光物質が塗布されたアノード面を用いることにより、Ｍ
ＣＰに到達した同位体イオンを２次元情報（位置情報及
び強度）を待った像に変換することが可能になる。
を解決する方法として、飛行時間型の質量分析計を使用
し、そのイオン検出器からの出力を２次元の光信号に変
換し、それをパソコンに取り込み画像解析することによ
り質量スペクトルを測定して目的とする同位体の質量分
析を行うものである。即ち、飛行時間型の質量分析計に
用いられるマイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）に蛍
光物質が塗布されたアノード面を用いることにより、Ｍ
ＣＰに到達した同位体イオンを２次元情報（位置情報及
び強度）を待った像に変換することが可能になる。
【０００８】そこで、飛行速度によって質量弁別された
イオンを、掃引電極を使用してＭＣＰに到達する位置を
振り分けることによって、蛍光面上の光信号の強度から
同位体のイオン量を、そしてその位置情報から時間、即
ち質量の情報を得ることができる。更に、冷却型のＣＣ
Ｄカメラを用いることにより、画像を解析する手法にお
いては、光強度については１６ビット以上のダイナミッ
クレンジが使用可能であり、又正確な位置情報も同時に
扱うことが可能である。
イオンを、掃引電極を使用してＭＣＰに到達する位置を
振り分けることによって、蛍光面上の光信号の強度から
同位体のイオン量を、そしてその位置情報から時間、即
ち質量の情報を得ることができる。更に、冷却型のＣＣ
Ｄカメラを用いることにより、画像を解析する手法にお
いては、光強度については１６ビット以上のダイナミッ
クレンジが使用可能であり、又正確な位置情報も同時に
扱うことが可能である。
【０００９】本発明においては、速度による質量弁別が
行われた段階で、イオンの通過にタイミングを合わせて
掃引電極にパルス三角波を印加し、進行方向とは垂直方
向の電場変化を与え、それぞれの同位体の到達位置が掃
引され、ＭＣＰに到達してぶつかったイオンにより出力
電子を発生させ、この出力電子をＭＣＰ後方に配置され
た蛍光面に衝突させて蛍光面上の光点に変換し、その光
点をＣＣＤカメラで観測し、パソコンに転送して画像解
析が行われる。
行われた段階で、イオンの通過にタイミングを合わせて
掃引電極にパルス三角波を印加し、進行方向とは垂直方
向の電場変化を与え、それぞれの同位体の到達位置が掃
引され、ＭＣＰに到達してぶつかったイオンにより出力
電子を発生させ、この出力電子をＭＣＰ後方に配置され
た蛍光面に衝突させて蛍光面上の光点に変換し、その光
点をＣＣＤカメラで観測し、パソコンに転送して画像解
析が行われる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の分析方法の原理を図４に
基づいて説明する。飛行時間型の質量分析計に多く用い
られているマイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）に蛍
光面を読み出し系にしたものを用い、そのＭＣＰの前方
に正負に帯電させることのできる掃引電極を配置し、そ
の後方にＣＣＤカメラを配置する。
基づいて説明する。飛行時間型の質量分析計に多く用い
られているマイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）に蛍
光面を読み出し系にしたものを用い、そのＭＣＰの前方
に正負に帯電させることのできる掃引電極を配置し、そ
の後方にＣＣＤカメラを配置する。
【００１１】図５に示されるように、レーザーによりイ
オン化された同位体（nＭ+、n+1Ｍ+、n+2Ｍ+）がＭＣＰ
に向けて導入され、その質量の違いにより速度的に質量
弁別され、ＭＣＰの前に置かれた掃引電極により到達順
に電場を用いて分離され、その分離された同位体イオン
がＭＣＰに倍増されて蛍光面で光点となる。その光点を
ＣＣＤカメラにより記録する。その結果、蛍光面上の光
点の強度から同位体のイオン量を、そしてその位置情報
から質量の情報を得ることができる。
オン化された同位体（nＭ+、n+1Ｍ+、n+2Ｍ+）がＭＣＰ
に向けて導入され、その質量の違いにより速度的に質量
弁別され、ＭＣＰの前に置かれた掃引電極により到達順
に電場を用いて分離され、その分離された同位体イオン
がＭＣＰに倍増されて蛍光面で光点となる。その光点を
ＣＣＤカメラにより記録する。その結果、蛍光面上の光
点の強度から同位体のイオン量を、そしてその位置情報
から質量の情報を得ることができる。
【００１２】本発明の場合、図６に示されるように、時
間即ち質量の情報を検出器の位置情報に変換し、飛んで
きたイオンの数、即ち同位体の存在度の情報を光の強度
（明暗）に変換することができ、これらの情報を画像上
に固定することができる。そして、この画像上に固定さ
れている情報を後から処理することにより、高速変換処
理が不要となり、したがって、ダイナミックレンジを広
げることができることになる。
間即ち質量の情報を検出器の位置情報に変換し、飛んで
きたイオンの数、即ち同位体の存在度の情報を光の強度
（明暗）に変換することができ、これらの情報を画像上
に固定することができる。そして、この画像上に固定さ
れている情報を後から処理することにより、高速変換処
理が不要となり、したがって、ダイナミックレンジを広
げることができることになる。
【００１３】上記画像処理においては、測定する質量が
決まれば、任意波形装置の条件が決まる。そこで、画像
から質量を調べるよりも測定対象の質量が画像内にうま
く展開するようにしておく。即ち、例えば、カルシウム
−４０から４８の質量について調べられるようにしてお
くと、画像のこの部分がカルシウム−４０、この部分が
カルシウム−４２というように予め決まることになる。
又、試料元素の存在量は、発光の強度（実際は積算値）
を画像解析で計算して求めることができ、実際の操作と
しては、どの部分がどれだけ光っているかを解析するこ
とによって行われる。
決まれば、任意波形装置の条件が決まる。そこで、画像
から質量を調べるよりも測定対象の質量が画像内にうま
く展開するようにしておく。即ち、例えば、カルシウム
−４０から４８の質量について調べられるようにしてお
くと、画像のこの部分がカルシウム−４０、この部分が
カルシウム−４２というように予め決まることになる。
又、試料元素の存在量は、発光の強度（実際は積算値）
を画像解析で計算して求めることができ、実際の操作と
しては、どの部分がどれだけ光っているかを解析するこ
とによって行われる。
【００１４】本発明における掃引電極の役割は、飛んで
きたイオンの飛跡を到達順に変えることであり、イオン
は掃引電極の位置に来るまでには質量弁別が完全に行わ
れている。したがって、本発明においては、信号処理上
で生ずる分解能の低下を防ぎ、より忠実な飛行時間型の
質量分析を行うことができる。
きたイオンの飛跡を到達順に変えることであり、イオン
は掃引電極の位置に来るまでには質量弁別が完全に行わ
れている。したがって、本発明においては、信号処理上
で生ずる分解能の低下を防ぎ、より忠実な飛行時間型の
質量分析を行うことができる。
【００１５】本発明において、測定に使用されるＣＣＤ
カメラは、光の強度を１６ビット、６５５３６段階で測
定できるものであり、画像解析による処理を経ることに
よりその強度の分解能は１６ビット以上のレベルであ
る。
カメラは、光の強度を１６ビット、６５５３６段階で測
定できるものであり、画像解析による処理を経ることに
よりその強度の分解能は１６ビット以上のレベルであ
る。
【００１６】本発明において使用されるＭＣＰは、図７
ａ、ｂに示されるように、従来使用されている直径１２
マイクロメートルのガラス管を束ねて板状に形成したも
のであり、その読み出し面に蛍光面を用いたものであ
る。
ａ、ｂに示されるように、従来使用されている直径１２
マイクロメートルのガラス管を束ねて板状に形成したも
のであり、その読み出し面に蛍光面を用いたものであ
る。
【００１７】本発明の飛行時間型の質量分析計の構造
は、掃引電極に到達する前までの構造は従来の飛行時間
型の質量分析計と同じであるが、本発明においては、掃
引電極と読み出し系に蛍光面を用いたＭＣＰを使用する
点に特徴を有するものである。
は、掃引電極に到達する前までの構造は従来の飛行時間
型の質量分析計と同じであるが、本発明においては、掃
引電極と読み出し系に蛍光面を用いたＭＣＰを使用する
点に特徴を有するものである。
【００１８】
【実施例】質量分析計としては、図４に示されるよう
に、飛行時間型の質量分析計を使用し、そのフライトチ
ューブ（ドリフト空間）が２．５ｍの直線型のものが使
用された。その分析計には、そのフライトチユーブ内に
加速電極が設けられ、その直後とそれからｌｍの位置に
それぞれアインツェルレンズが配置され、そこで同位体
のイオン流が順次細く絞られる。又、フライトチユーブ
内のＭＣＰの５０ｃｍ前には、３ｍｍのスリットが設け
られた掃引電極が配置され、その電極は導入端子を経て
掃引回路に接続されている。
に、飛行時間型の質量分析計を使用し、そのフライトチ
ューブ（ドリフト空間）が２．５ｍの直線型のものが使
用された。その分析計には、そのフライトチユーブ内に
加速電極が設けられ、その直後とそれからｌｍの位置に
それぞれアインツェルレンズが配置され、そこで同位体
のイオン流が順次細く絞られる。又、フライトチユーブ
内のＭＣＰの５０ｃｍ前には、３ｍｍのスリットが設け
られた掃引電極が配置され、その電極は導入端子を経て
掃引回路に接続されている。
【００１９】その掃引回路は、任意波形発生装置（バイ
オメーション社：２７１７Ａ）と電圧増幅器（東陽テク
ニカ：ＨＶＡ４００）とから構成されている。イオンの
検出には、有効径２０ｍｍの蛍光面付きＭＣＰ（浜松ホ
トニクス製）を使用し、得られた光信号をＣＣＤカメラ
で記録した。
オメーション社：２７１７Ａ）と電圧増幅器（東陽テク
ニカ：ＨＶＡ４００）とから構成されている。イオンの
検出には、有効径２０ｍｍの蛍光面付きＭＣＰ（浜松ホ
トニクス製）を使用し、得られた光信号をＣＣＤカメラ
で記録した。
【００２０】同位体をイオン化する共鳴イオン化用レー
ザーとしてはエキシマレーザー及び色素レーザー（Ｌｕ
ｍｏｎｉｃｓＥＸ７４２及びＨＤ３００）が使用され
た。このレーザーによってイオン化される試料には、カ
ルシウム等のアルカリ土類又はアルカリ金属、又はその
化合物が使用され、その金属又は化合物はクヌッセンセ
ル（Ｋｈｕｄｓｅｎ ｃｅｌｌ（オメガトロン社：ＯＭ
Ｋ−０１０２）を使用して加熱され、イオン化された。
ザーとしてはエキシマレーザー及び色素レーザー（Ｌｕ
ｍｏｎｉｃｓＥＸ７４２及びＨＤ３００）が使用され
た。このレーザーによってイオン化される試料には、カ
ルシウム等のアルカリ土類又はアルカリ金属、又はその
化合物が使用され、その金属又は化合物はクヌッセンセ
ル（Ｋｈｕｄｓｅｎ ｃｅｌｌ（オメガトロン社：ＯＭ
Ｋ−０１０２）を使用して加熱され、イオン化された。
【００２１】本発明によれば、試料の加熱によりカルシ
ウムを原子化し、レーザー光によりイオン化し、その結
果生成した同位体のイオン流をフライトチューブに設け
られたレンズで収束させた後に、掃引電極に導入して掃
引し、その掃引されたイオン流をＭＣＰで倍増させた
後、蛍光面の光点として光信号に変換した。蛍光面上の
光点の光の強さからイオン量を測定でき、又その位置か
らその質量を測定することができた。
ウムを原子化し、レーザー光によりイオン化し、その結
果生成した同位体のイオン流をフライトチューブに設け
られたレンズで収束させた後に、掃引電極に導入して掃
引し、その掃引されたイオン流をＭＣＰで倍増させた
後、蛍光面の光点として光信号に変換した。蛍光面上の
光点の光の強さからイオン量を測定でき、又その位置か
らその質量を測定することができた。
【００２２】
【発明の効果】本発明は、質量弁別されて飛んでくるイ
オンの測定強度におけるダイナミックレンジが広くなる
という本発明に特有の効果が生ずる。即ち、５桁以上の
存在度が異なる同位体も、同時に測定することが可能で
ある。これは、１個と１０００００個を同時に見ること
が可能である。従来法では、レンジを切り替えながらそ
れぞれの同位体を測定しなければならなかったので、測
定時間が短縮化されるという効果が生じる。
オンの測定強度におけるダイナミックレンジが広くなる
という本発明に特有の効果が生ずる。即ち、５桁以上の
存在度が異なる同位体も、同時に測定することが可能で
ある。これは、１個と１０００００個を同時に見ること
が可能である。従来法では、レンジを切り替えながらそ
れぞれの同位体を測定しなければならなかったので、測
定時間が短縮化されるという効果が生じる。
【００２３】又、飛行時間型の質量分析計の質量分析能
を忠実に処理することができるという本発明に特有の効
果が生じる。即ち、信号処理で生じるベースラインの乱
れ等がほとんどなく、具体的には、大量に存在する同位
体と接近した質量の同位体も精度よく測定できるという
効果が生じる。
を忠実に処理することができるという本発明に特有の効
果が生じる。即ち、信号処理で生じるベースラインの乱
れ等がほとんどなく、具体的には、大量に存在する同位
体と接近した質量の同位体も精度よく測定できるという
効果が生じる。
【００２４】更に又、本発明は、測定感度が高いという
効果も生じる。即ち、ＭＣＰの信号検出においては、光
に変換するほうが感度が高いので、１個のイオンがＭＣ
Ｐに入射すれば、１個の光スポットになる。これは、原
子個数計測が可能であることを意味している。
効果も生じる。即ち、ＭＣＰの信号検出においては、光
に変換するほうが感度が高いので、１個のイオンがＭＣ
Ｐに入射すれば、１個の光スポットになる。これは、原
子個数計測が可能であることを意味している。
【図１】 従来の飛行時間型の質量分析計の構成を示す
図である。
図である。
【図２】 従来の飛行時間型質量分析計の一般的な信号
処理システムを示す図である。
処理システムを示す図である。
【図３】 従来の飛行時間型の質量分析計の基本原理を
示す図である。
示す図である。
【図４】 本発明の飛行時間型の分析計の構成を示す図
である。
である。
【図５】 本発明の飛行時間型の分析計の掃引電極、Ｍ
ＣＰ及びＣＣＤカメラの配置構造を示す図である。
ＣＰ及びＣＣＤカメラの配置構造を示す図である。
【図６】 本発明の飛行時間型の質量分析計の信号シス
テムを示す図である。
テムを示す図である。
【図７】 マイクロチャネルプレートの構造を示す図で
ある。
ある。
Claims (2)
- 【請求項１】 フライトチューブ内の一端に、試料を原
子化するための試料セル、試料をイオン化するレーザー
システム、及びイオン化された原子を加速するための加
速電極を配置し、そのフライトチューブの他端にマイク
ロチャネルプレート（ＭＣＰ）を配置した飛行時間型の
質量分析計において、そのマイクロチャネルプレートの
前面に掃引電極を配置し、その後面に蛍光面を設け、フ
ライトチューブ内で飛行速度によって質量弁別されたイ
オンを掃引電極により電場変化を付与してＭＣＰに衝突
させ、その際に発生する出力電子を蛍光面で光変換し、
その光点をカメラで捕らえた後に画像処理することを特
徴とする試料元素の同位体組成を測定する分析計。 - 【請求項２】 飛行時間型質量分析計のフライトチュー
ブ内に、掃引電極及び蛍光面を備えたマイクロチャンネ
ルプレート（ＭＣＰ）を設け、測定すべき物質を加熱し
て原子化するとともにレーザーでイオン化し、そのイオ
ンをチューブ内で飛行速度により弁別し、そのイオンを
掃引電極を通すことにより電場を付与した後にＭＣＰに
衝突させて光変換し、その光点の画像解析を行って試料
元素の同位体組成を測定する分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11033799A JP2000231901A (ja) | 1999-02-12 | 1999-02-12 | 画像解析法による質量分析計又はそれを使用した質量分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11033799A JP2000231901A (ja) | 1999-02-12 | 1999-02-12 | 画像解析法による質量分析計又はそれを使用した質量分析方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000231901A true JP2000231901A (ja) | 2000-08-22 |
Family
ID=12396533
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11033799A Pending JP2000231901A (ja) | 1999-02-12 | 1999-02-12 | 画像解析法による質量分析計又はそれを使用した質量分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000231901A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003081632A1 (fr) * | 2002-03-25 | 2003-10-02 | Riken | Procede spectroscopique a diffusion ionique tridimensionnelle et dispositif spectroscopique |
| JP2007521616A (ja) * | 2003-07-03 | 2007-08-02 | オイ コーポレイション | 陽性粒子検出および陰性粒子検出の両方のための質量分析計 |
| JP2007242426A (ja) * | 2006-03-09 | 2007-09-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 飛行時間型質量分析装置 |
| WO2007138679A1 (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-06 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
| JP2014224775A (ja) * | 2013-05-16 | 2014-12-04 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 粒子分析法および粒子分析装置 |
| JP2017199698A (ja) * | 2011-09-30 | 2017-11-02 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 飛行時間型質量分析計用多重チャネル検出 |
| CN118919395A (zh) * | 2024-07-22 | 2024-11-08 | 金陵科技学院 | 具有时间切片功能的超小型光离子成像仪 |
-
1999
- 1999-02-12 JP JP11033799A patent/JP2000231901A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003081632A1 (fr) * | 2002-03-25 | 2003-10-02 | Riken | Procede spectroscopique a diffusion ionique tridimensionnelle et dispositif spectroscopique |
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| US7858937B2 (en) | 2006-05-30 | 2010-12-28 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
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