JP2001041821A - スリット像検出装置 - Google Patents
スリット像検出装置Info
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 33
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 17
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 52
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 7
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 6
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 102100027340 Slit homolog 2 protein Human genes 0.000 description 1
- 101710133576 Slit homolog 2 protein Proteins 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000001917 fluorescence detection Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
像検出装置を提供する。 【解決手段】 このスリット像検出装置は、第1スリッ
ト板2cを通過したスリット像を試料S上に投影するス
リット像投影光学系2を備えている。対物レンズ2f後
側焦点位置にはテレセントリック系を構成するようにガ
ルバノミラー3aが配置されており、さらに、この焦点
位置からみて第1スリット2cと共役な位置には第2ス
リット板2hが配置されている。したがって、これらは
共焦点光学系を構成している。
Description
るスリット像検出装置に関する。
の特許第2,558,864号公報に記載されている。
この装置は、試料を裏面側から一様に照明するととも
に、試料を透過した透過光像をスリット板上に一様に結
像させ、スリット板上に投影される透過光像をガルバノ
ミラーで走査することによってスリット像を切り出し、
このスリット像を分光し、分光した像をTVカメラで撮
影している。TVカメラで撮影された像は波長毎の試料
像として合成される。
来の装置においては、スリット板上に透過光像を投影す
ることによって、スリット像を切り出しているので、ス
リット像の輝度が弱く、したがって、TVカメラの撮像
面に投影される像の検出精度の向上が望まれてきた。半
導体や生物試料等の蛍光像等を撮像する場合には、励起
光を試料に照射し、励起光と、励起光によって発生した
蛍光とを分離する必要があり、このような場合において
も輝度向上が期待されている。勿論、光源のパワーを上
昇させれば、蛍光像の輝度を向上させることはできる
が、バックグラウンドノイズとなる励起光も増加し、本
質的には像の検出精度を向上させることができない。本
発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、
スリット像の検出精度を向上可能なスリット像検出装置
を提供することを目的とする。
め、本発明に係るスリット像検出装置は、第1スリット
を通過したスリット像を試料上に投影するスリット像投
影光学系と、スリット像投影光学系の対物レンズ後側焦
点位置に配置されたガルバノミラーと、焦点位置からみ
て第1スリットと共役な位置に配置された第2スリット
と、第2スリットを通過したスリット像を検出する撮像
装置とを備えることを特徴とする。
て試料上に投影され、対物レンズ後側焦点位置に配置さ
れたガルバノミラーにより、スリット長手方向と垂直に
走査される。試料からの蛍光等の反応光は、対物レンズ
により集められ、第2スリット上にスリット像を再び結
像する。
に配置されているため、これらは共焦点光学系を構成
し、スリット像照明光以外からの光の第2スリットの通
過を抑制し、像の解像度とコントラストを向上させる。
ある場合は、リレーレンズを付加することで、後側焦点
と共役位置をレンズ外部につくり、そこにガルバノミラ
ーを設置すればよい。
するための分光器を第2スリットと撮像装置との間の光
路内に備えることとすれば、スリット像を波長分解する
ことができる。
を撮像し、波長分解した像のデータをガルバノミラーの
走査駆動に同期して記憶する記憶装置を備えることとす
れば、記憶装置は波長毎のスリット像を試料位置と対応
づけて記憶することができる。
波長毎の試料像を合成する処理装置と、試料像を表示す
る表示器とを備えることとすれば、複数のスリット像を
合成してなる波長毎の試料像を表示器上に表示すること
ができる。
成しており、ストリーク管の出射面が撮像装置に対向し
ている場合には、スリット像を時間分解することができ
る。
像検出装置について説明する。同一要素には同一符号を
用いることとし、重複する説明は省略する。
成図である。光源1から出射された照明光は、スリット
像を形成する分光器付光学ユニット2によって集光さ
れ、シリンダレンズにより一方向を略平行光束化、もう
一方向を集束光化し、スキャナ3上に集束光化された光
の焦点が結ぶように配置されている。スリット像はスキ
ャナ3を介して試料S上に投影される。試料はステージ
4上に配置されている。照明光としてのスリット像はス
キャナドライバ5によってスキャナ3を駆動することに
よって試料S表面上をX方向に沿って走査する。スキャ
ナコントローラ6は、コンピュータ10からの指示に応
じてスキャナドライバ5を駆動するための同期信号を生
成する。なお、スリット像自身はY方向を長手方向とす
る。
射光、又は照明光が励起光である場合には試料内におい
て自己発生した光は、再びスキャナ3を介して分光器付
き光学ユニット2内に導入される。分光器付き光学ユニ
ット2は、試料Sからのスリット像を分光器に入力する
ことによって分光し、X方向に沿って波長分解されたス
リット像をTVカメラ(撮像装置)7上に投影する。T
Vカメラ7自身は、CCD等の固体撮像装置によって構
成されており、CCDの駆動信号はカメラコントローラ
8からこれに入力され、CCDからの映像信号はカメラ
コントローラ8を介してフレームグラバ9に入力され
る。
を配置してなるCCD撮像面上の特定の画素列の映像信
号から取り出す。特定の画素列からの映像信号が撮像面
の基準列から数えてt秒後にCCDから出力される場合
には、フレームグラバ9は基準列からt秒後の映像信号
のみをサンプリングしてコンピュータ10に入力する。
この画素列は、コンピュータ10によって特定する。
M10b及び記憶装置10cを備えており、システム全
体を制御している。コンピュータ10は、スキャナドラ
イバ5の揺動を制御するスキャナコントローラ6、フレ
ームグラバ9及び表示器11を制御する。勿論、スキャ
ナコントローラ6及びフレームグラバ9はコンピュータ
10によって構成することも可能である。
像で走査しながら、CCD撮像面上の特定の画素列(波
長に対応)の映像信号をフレームグラバ9でサンプリン
グしながら取り出して、記憶装置10cに格納する。す
なわち、スキャナ3の角度(試料S上のX方向スリット
像位置)、この位置における特定の波長λのスリット像
のデータが、コンピュータ10内の記憶装置10cに対
応づけて格納される。時刻t=1,2,3,4,5のと
き、試料S上のスリット像のX方向位置:X=1,2,
3,4,5であるとする。試料S上のスリット像のY方
向位置をYとし、波長をλとする。なお、これらの単位
は任意定数とする。
けるTVカメラ7の撮像面上の画像を示す説明図(図2
(a)〜(e))である。図3は、それぞれの時刻t=
1,2,3,4,5におけるスリット像をY方向積算し
たスペクトル分布を示すグラフ(図3(a)〜(e))
である。例えば、波長λ=2の試料像を得る場合、コン
ピュータ10は、図2におけるλ=2の画素列の映像信
号をサンプリングするようにフレームグラバ9に指示す
る。これにより、記憶装置10c内には、試料S上のX
方向スリット像位置における波長λ=2のスリット像の
データが、X方向に沿って得られることとなり、これら
を合成すると、波長λ=2における試料像が得られる。
された試料像を示す説明図である(図4(a)〜
(f))。図2〜図3に示されたデータは、表示器11
上に表示される。
内におけるデータ(X,Y,λ)を得ることができるの
で、コンピュータ10はこれらを再編成し、λとXとの
関係を示す画像を作成することができる。
TVカメラ7の撮像面上の画像を示す説明図である(図
5(a)〜(d))。図6は、それぞれの位置Y=1,
2,3,4におけるスリット像のスペクトル分布を示す
グラフである(図6(a)〜(d))。図6に示された
スペクトル(輝度I)分布を積算すると、図7に示すよ
うに、試料観察領域全域に亙る積算スペクトル分布を示
すグラフが得られる。
系について説明する。
れる光学系の斜視図である。この光学系は、光源1から
出射された光を平行光とするコリメータレンズ2aを備
えている。コリメータレンズ2aの光軸に垂直な平面
を、Y軸及びZ軸からなるYZ平面によって規定する。
コリメータレンズ2aから出射された光像は、Z軸方向
の光のみを集束させるシリンドリカルレンズ2bに入力
される。シリンドリカルレンズ2cの焦点位置には、Y
方向沿った開口を有する第1スリット2cが配置されて
いる。第1スリット2cを通過したスリット像は集束レ
ンズ2dによってスキャナ3を構成するガルバノミラー
3aに照射される。詳説すれば、ガルバノミラー3aの
反射面の揺動軸にスリット像は結像する。なお、集束レ
ンズ2dとガルバノミラー3aとの間の光路内には、ビ
ームスプリッタ2eが配置されている。
明光としてのスリット像は、対物レンズ2fによって集
束され、試料S面上に結像する。ガルバノミラー3a
は、回転角度が制御され揺動するので、試料Sの表面は
スリット像によってX方向に沿って走査される。ガルバ
ノミラー3aの反射面の揺動軸位置は、対物レンズ2f
の後側焦点位置に配置されており、これはテレセントリ
ック光学系を構成している。
である場合は蛍光等の自己発生光は対物レンズに捕えら
れ、ガルバノミラー3aにより、光源の方向へ戻され、
ビームスプリッタ2e及び集束レンズ2gを介して第2
スリット2h上に結像する。第2スリット2hは、Y方
向に沿った開口を有しており、試料位置から見て、第1
及び第2スリット2c,2hは共役な位置に配置され、
これらは共焦点光学系を構成している。第2スリット2
hを出射した光像は集光レンズ2iによって集光され、
透過型回折格子2jに照射される。回折格子2jは、入
射したスリット像をX方向に沿って波長分解、すなわち
分光して出射する。波長分解されたスリット像は、レン
ズ2kを介してTVカメラ7の撮像面上に結像する。
出装置は、第1スリット(スリット板)2cを通過した
スリット像を試料S上に投影するスリット像投影光学系
2と、スリット投影光学系2の対物レンズ2f後側焦点
位置に配置されたガルバノミラー3aと、この焦点位置
からみて第1スリット2cと共役な位置に配置された第
2スリット(スリット板)2hと、第2スリット2hを
通過したスリット像を検出する撮像装置2kとを備える
ことを特徴とする。
てガルバノミラー3aにより試料S上を走査する。試料
Sからの蛍光等の自己発生光は対物レンズに捕らえら
れ、ガルバノミラー3aにより再び元来た方向へと戻さ
れ、第2スリット上にスリット像を結像する。
役な位置に配置されているため、これらは共焦点光学系
を構成し、スリット像以外の光束の第2スリット2hの
通過を抑制し、像の解像度を向上させる。
2fの後側焦点位置に配置され絞りとして働いているの
で、テレセントリック光学系を構成し、試料Sを全視野
内において同様の条件で照明できるため、試料が反射物
体であっても、視野周辺において光量が落ちるようなこ
とはない。なお、対物レンズ2fの後側焦点位置はリレ
ーレンズ等で別の場所に移動させてもよい。
過したスリット像を分光するための分光器2jを第2ス
リット2hと撮像装置7との間の光路内に備えており、
スリット像を波長分解(分光)することができる。
長分解した像を撮像し、波長分解した像のデータをガル
バノミラー3aの走査駆動に同期して記憶する記憶装置
10cを備えており、記憶装置10cは波長毎のスリッ
ト像を試料位置と対応づけて記憶することができる。
記データに基づいて、波長毎の試料像を合成する処理装
置10と、試料像を表示する表示器11とを備えてお
り、複数のスリット像を合成してなる波長毎の試料像を
表示器11上に表示することができる。なお、本例の場
合、処理装置10は記憶装置10cを含む。
たが、これは光学部品2g、2h,2i,2j,2k及
び撮像装置7からなる受光光学系を試料Sの裏面側に配
置し、透過型の構成としてもよい。この場合、対物レン
ズ2gは、試料に対し対向して配置され、焦点位置は試
料中になる。ガルバノミラー3aは、2つの対物レンズ
の後側焦点にそれぞれ配置される。この場合においも、
第1及び第2スリット2c,2fは共役な関係にある。
なお、上記回折格子2jは、分光を行うものであれば、
プリズム、音響光学素子をもちることもできる。TVカ
メラ7は、CCDを用いたデジタルカメラを用いたが、
MOS型イメージセンサを用いたものでも良い。また、
各画素からのデータを読み出す前に積算してもよく(ピ
ンニング)、この場合には映像信号の読み出し速度を上
げ、波長分解能、画像分解能を下げる、あるいは速度を
一定にしたまま、S/Nを上げる効果が期待できる。
スリット(開口)幅を調整することもできる。上記スリ
ット像のデータは、各画素の輝度データと試料面上の位
置のデータであるので、全データを記憶装置10cに格
納しておけば、必要な時に、画像を再構成して表示する
ことができる。
分解構成に変形することができる。
のスリット像検出装置の光学系の斜視図である。装置構
成は、図1に示したものと略同一であり、上記が分光器
を用いて波長分解された複数のスリット像をTVカメラ
7で撮像するのに対し、以下では分光器の代わりにスト
リークカメラを用いて時間分解された複数のスリット像
をTVカメラ7を用いて撮像する。換言すれば、上記波
長分解の装置構成において、分光器を省略する代わりに
時間分解する構造を採用し、波長を時間と読み替えたも
のが本装置である。本装置においては、時間分解する構
造としてストリークカメラを用いる。すなわち、第2ス
リット2hがストリークカメラの入射面を構成してい
る。より詳細には、ストリークカメラは、入射面に第2
スリット2hを有するストリーク管12と、ストリーク
管12の出射面に対向するTVカメラ7と、ストリーク
管12から出射された画像をTVカメラ7に結合させる
カップリング光学系とからなる。
を光電変換した後、発生した光電子を偏向装置によって
周期的に偏向し、偏向方向に沿って光スリット像を電子
スリット像として偏向方向に時間分解し、この電子スリ
ット像を蛍光面に入射させる。蛍光面は電子スリット像
に応じて発光するので、ストリーク管12からは、偏向
方向(X方向)に沿って時間分解されたスリット像が出
射し、このスリット像はTVカメラ7上に投影されるこ
ととなる。
るスリット像を時間分解して検出する。コンピュータ1
0は照明光としてのスリット像が試料全面を走査するよ
うにガルバノミラー3を揺動させるので、全位置におけ
るスリット像の時間分解データが記憶装置10cに格納
される。照明光としてのスリット像の照射開始又は終了
時間から特定の時間T秒後のスリット像を、全ての位置
において合成すれば、光照射からT秒後の試料像を得る
ことができ、この試料像は表示機11に表示することが
できる。このような時間分解されたスリット像は、2光
子時間分解蛍光検出の際に有用である。以上のように、
本装置においては、第2スリット2hがストリーク管1
2の入射面を構成しており、ストリーク管12の出射面
は撮像装置7に対向しているので、スリット像を時間分
解することができる。
を向上可能なスリット像検出装置を提供することができ
る。
ラ7の撮像面上の画像を示す説明図である。
像のスペクトル分布を示すグラフである。
を示す説明図である。
の撮像面上の画像を示す説明図である。
スペクトル分布を示すグラフである。
示すグラフである。
図である。
検出装置の光学系の斜視図である。
系、2f…対物レンズ、3a…ガルバノミラー、3b…
揺動機構、2h…第2スリット板。
Claims (5)
- 【請求項1】 第1スリットを通過したスリット像を試
料上に投影するスリット像投影光学系と、前記スリット
像投影光学系の対物レンズ後側焦点位置に配置されたガ
ルバノミラーと、前記焦点位置からみて前記第1スリッ
トと共役な位置に配置された第2スリットと、前記第2
スリットを通過したスリット像を検出する撮像装置とを
備えることを特徴とするスリット像検出装置。 - 【請求項2】 前記第2スリットを通過したスリット像
を分光するための分光器を前記第2スリットと前記撮像
装置との間の光路内に備えることを特徴とする請求項1
に記載のスリット像検出装置。 - 【請求項3】 前記撮像装置は、前記スリット像を波長
分解した像を撮像し、前記波長分解した像のデータをガ
ルバノミラーの走査駆動に同期して記憶する記憶装置を
備えることを特徴とする請求項2に記載のスリット像検
出装置。 - 【請求項4】 前記記憶装置に記憶された前記データに
基づいて、波長毎の試料像を合成する処理装置と、該試
料像を表示する表示器とを備えることを特徴とする請求
項3に記載のスリット像検出装置。 - 【請求項5】 前記第2スリットは、ストリーク管の入
射面を構成しており、前記ストリーク管の出射面は前記
撮像装置に対向していることを特徴とする請求項1に記
載のスリット像検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11218685A JP2001041821A (ja) | 1999-08-02 | 1999-08-02 | スリット像検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11218685A JP2001041821A (ja) | 1999-08-02 | 1999-08-02 | スリット像検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001041821A true JP2001041821A (ja) | 2001-02-16 |
Family
ID=16723821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11218685A Pending JP2001041821A (ja) | 1999-08-02 | 1999-08-02 | スリット像検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001041821A (ja) |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060721 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080722 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Written amendment |
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|
| A02 | Decision of refusal |
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