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JP2001059857A - Circuit board inspecting device - Google Patents

Circuit board inspecting device

Info

Publication number
JP2001059857A
JP2001059857A JP11237154A JP23715499A JP2001059857A JP 2001059857 A JP2001059857 A JP 2001059857A JP 11237154 A JP11237154 A JP 11237154A JP 23715499 A JP23715499 A JP 23715499A JP 2001059857 A JP2001059857 A JP 2001059857A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit board
cable
fixture
holding means
clampers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11237154A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeaki Asakura
武明 朝倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP11237154A priority Critical patent/JP2001059857A/en
Publication of JP2001059857A publication Critical patent/JP2001059857A/en
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To secure reliability in electric connection by providing cable holding means to hold parts of cables to form conducting connection between a probe pin and inspecting means. SOLUTION: Probe pins 12P and 7P are each protruded and formed in the opposite surfaces of an upper-side fixture 12 and lower-side fixture 7 correspondingly to land patterns formed in one and the other surfaces of a circuit board 5. In addition, one ends of flat cables 13 and 14 are connected to one end sides of the upper-side fixture 12 and lower-side fixture 7 each via connectors 70. The flat cables 13 and 14 are connected to a personal computer 4 (inspecting means) via clampers 27 and 28 (cable holding means) as drooping. As a result, it is possible to prevent total self-weights from being loaded by the amount of held parts of the cables 13 and 14, to reduce stress to be exerted on connected parts, and to prevent the breaking of wires.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は回路基板検査装置に
装置に関し、例えばインサーキットテスタ(ICT:In
-Circuit Tester )等の回路基板検査装置に適用して好
適なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit board inspection apparatus, for example, an in-circuit tester (ICT).
-Circuit Tester).

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の回路基板検査装置におい
ては、回路配線板に実装された複数の電子部品につい
て、それぞれ電気的な特性値を測定してその良否の判別
検査を行うことにより、回路基板上での短絡及び開放、
電子部品の実装ミス、実装の欠落等を検出し得るように
なされている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a circuit board inspection apparatus of this type, a plurality of electronic components mounted on a circuit wiring board are each measured for electrical characteristic values and inspected for quality. Short circuit and open on circuit board,
It is designed to detect mounting errors of electronic components, missing mounting components, and the like.

【0003】図6は、従来の回路基板検査装置1を示
し、基台2上に基板保持部3及びパーソナルコンピュー
タ4が設けられ、当該基板保持部3において装填された
回路基板5の両面に実装された各電子部品(図示せず)
の接続状態をパーソナルコンピュータ4が判断し得るよ
うになされている。この場合、検査対象となる回路基板
5には、一面及び他面に形成された所定パターンのラン
ド(図示せず)に対応して予めはんだ付け処理が施され
ている。
FIG. 6 shows a conventional circuit board inspection apparatus 1 in which a board holder 3 and a personal computer 4 are provided on a base 2 and mounted on both sides of a circuit board 5 loaded in the board holder 3. Electronic components (not shown)
The personal computer 4 can judge the connection state of. In this case, the circuit board 5 to be inspected has been subjected to a soldering process in advance corresponding to lands (not shown) of a predetermined pattern formed on one surface and the other surface.

【0004】この基板保持部3は、架台6上に下側フィ
クスチャ7が固定されると共に、当該下側フィクスチャ
7を両側から挟むようにして一対の支持部材8が植立さ
れ、当該各支持部材8の上端には昇降駆動部9が設けら
れている。
In the substrate holding unit 3, a lower fixture 7 is fixed on a gantry 6, and a pair of support members 8 are planted so as to sandwich the lower fixture 7 from both sides. A lifting drive unit 9 is provided at the upper end of 8.

【0005】昇降駆動部9には、下端側からシリンダ
(図示せず)のスライドシャフト10が矢印a方向又は
これと逆方向に示す上下方向にスライドするようにシリ
ンダが内蔵されている。
The lifting drive unit 9 has a built-in cylinder such that a slide shaft 10 of a cylinder (not shown) slides from the lower end side in the direction of the arrow a or in the vertical direction shown in the opposite direction.

【0006】このシリンダ(図示せず)のスライドシャ
フト10の先端はベース板11の一面に固着され、当該
ベース板11の他面には上側フィクスチャ12が、下側
フィクスチャ7と対向する位置に位置決めした状態で固
定保持されている。これによりシリンダの駆動に応じて
スライドシャフト10がベース板11及び上側フィクス
チャ12と一体となって矢印a方向又はこれと逆方向に
昇降移動し得るようになされている。
A tip of a slide shaft 10 of this cylinder (not shown) is fixed to one surface of a base plate 11, and an upper fixture 12 is provided on the other surface of the base plate 11 at a position facing the lower fixture 7. And fixedly held. This allows the slide shaft 10 to move up and down in the direction of arrow a or in the opposite direction integrally with the base plate 11 and the upper fixture 12 in response to the driving of the cylinder.

【0007】この上側フィクスチャ12及び下側フィク
スチャ7の相対向する各面には、回路基板5の一面及び
他面に形成された各ランドパターン(図示せず)に対応
してそれぞれプローブピン(検針)12P、7Pが突出
形成されている。
[0007] Opposite surfaces of the upper fixture 12 and the lower fixture 7 have probe pins corresponding to land patterns (not shown) formed on one surface and the other surface of the circuit board 5, respectively. (Meter reading) 12P and 7P are formed to protrude.

【0008】また上側フィクスチャ12及び下側フィク
スチャ7の一側端には、それぞれコネクタ12C、7C
を介してフラットケーブル13、14の一端が接続さ
れ、当該フラットケーブル13、14は、基板保持部3
の架台6の高さ分だけ垂れ下がりながらその他端がパー
ソナルコンピュータ4と接続されている。
Also, connectors 12C and 7C are provided at one end of the upper fixture 12 and the lower fixture 7, respectively.
One ends of the flat cables 13 and 14 are connected to each other via the
The other end is connected to the personal computer 4 while hanging down by the height of the gantry 6.

【0009】この各フラットケーブル13、14は、上
側フィクスチャ12及び下側フィクスチャ7に形成され
た各プローブピン12P、7Pに対応してそれぞれコネ
クタ12C、7Cを介して導通接続された配線が束とな
って塩化ビニール等の外皮で被覆された構成からなる。
Each of the flat cables 13 and 14 has a wiring that is conductively connected through connectors 12C and 7C corresponding to each of the probe pins 12P and 7P formed on the upper fixture 12 and the lower fixture 7, respectively. It consists of a bundle covered with an outer skin such as vinyl chloride.

【0010】ここで実際に回路基板5を検査する場合、
当該回路基板5を下側フィクスチャ7の各プローブピン
7Pの先端が当該回路基板5の他面上の対応するランド
(図示せず)と当接するように位置決めして載置した
後、上側フィクスチャ12を矢印a方向と逆方向に下降
移動させることにより当該上側フィクスチャ12の各プ
ローブピン12Pの先端を回路基板5の一面上の対応す
るランドと当接させる。
Here, when actually inspecting the circuit board 5,
After positioning and mounting the circuit board 5 such that the tips of the probe pins 7P of the lower fixture 7 are in contact with the corresponding lands (not shown) on the other surface of the circuit board 5, the upper fixture is The tip of each probe pin 12P of the upper fixture 12 is brought into contact with a corresponding land on one surface of the circuit board 5 by moving the chair 12 downward in the direction opposite to the arrow a.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上側フィク
スチャ12及び下側フィクスチャ7の一側端に設けられ
たコネクタ12C、7Cとフラットケーブル13、14
との接続部分には、それぞれフラットケーブル13、1
4の自重分だけ負荷がかかることによってストレス(応
力)が生じる。
The connectors 12C and 7C and the flat cables 13 and 14 provided at one end of the upper fixture 12 and the lower fixture 7, respectively.
Are connected to the flat cables 13, 1
When a load is applied by its own weight of No. 4, stress (stress) is generated.

【0012】これらフラットケーブル13、14はそれ
ぞれ複数の配線が束になった構造を有するため、当該各
フラットケーブル13、14のコネクタ12C、7Cと
の接続部分にかかるストレスは、上側フィクスチャ12
及び下側フィクスチャ7とパーソナルコンピュータ4と
の距離に比例してそれぞれ増大する。
Each of the flat cables 13 and 14 has a structure in which a plurality of wirings are bundled, so that stress applied to the connection between the flat cables 13 and 14 and the connectors 12C and 7C is reduced by the upper fixture 12
And increases in proportion to the distance between the lower fixture 7 and the personal computer 4.

【0013】さらに上側フィクスチャ12の一側端に設
けられたコネクタ12Cとフラットケーブル13との接
続部分は、当該上側フィクスチャ12が昇降駆動部9に
よる駆動に応じて上下方向(矢印a方向又はこれと逆方
向)に昇降移動する度に可撓するため、その分のストレ
スがフラットケーブル13の自重によるストレスに加算
されて加わることとなる。
Further, the connecting portion between the connector 12C provided at one end of the upper fixture 12 and the flat cable 13 is moved up and down (in the direction of arrow a or Each time it moves up and down (in the opposite direction), it becomes flexible, so that stress is added to the stress due to the weight of the flat cable 13 and added.

【0014】この結果、上側フィクスチャ12及び下側
フィクスチャ7の一側端に設けられたコネクタ12C、
7Cとフラットケーブル13、14との各接続部分が、
上述のようなフラットケーブル13、14の自重やフィ
クスチャ12自体の昇降移動に起因して過大なストレス
がかかった場合には、その接続部分で断線するおそれが
あった。
As a result, the connectors 12C provided at one end of the upper fixture 12 and the lower fixture 7,
Each connecting portion between the 7C and the flat cables 13 and 14 is
If an excessive stress is applied due to the weight of the flat cables 13 and 14 and the vertical movement of the fixture 12 itself, there is a possibility that the connection may be broken.

【0015】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、電気的接続の信頼性を確保し得る回路基板検査装置
を提案しようとするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and it is an object of the present invention to propose a circuit board inspection apparatus capable of ensuring the reliability of electrical connection.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、所定状態に位置決めされた回路基
板の接続状態が正常であるか否かを検査する回路基板検
査装置において、位置決めされた回路基板の一面に形成
された配線パターンにおける各所定位置とそれぞれ一括
して接触する複数のプローブピンを有するプローブピン
保持手段と、回路基板の電気的特性を検査する検査手段
と、プローブピン保持手段を介して複数のプローブピン
及び検査手段間を導通接続するケーブルと、所定の高さ
位置に設けられ、ケーブルの一部を保持するケーブル保
持手段とを設けるようにした。
According to the present invention, there is provided a circuit board inspection apparatus for inspecting whether or not a connection state of a circuit board positioned in a predetermined state is normal. Probe pin holding means having a plurality of probe pins which collectively contact respective predetermined positions in a wiring pattern formed on one surface of a circuit board, inspection means for checking electrical characteristics of the circuit board, and probe pin holding means And a cable for conducting connection between the plurality of probe pins and the inspection means via the cable, and a cable holding means provided at a predetermined height and holding a part of the cable.

【0017】この結果この回路基板検査装置では、プロ
ーブピン保持手段とケーブルとの接続部分には、ケーブ
ル保持手段によってケーブルの一部が保持された分だけ
当該ケーブルの全自重がそのまま負荷されるのを回避す
ることができ、かくして当該接続部分にかかるストレス
を低減して断線が生じるのを未然に防止することができ
る。
As a result, in this circuit board inspection apparatus, the total weight of the cable is directly applied to the connection between the probe pin holding means and the cable by the amount of the cable held by the cable holding means. Can be avoided, and thus the stress applied to the connection portion can be reduced, thereby preventing the occurrence of disconnection.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施の形態を詳述する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0019】(1)本実施の形態による回路基板検査装
置の構成 図6との対応部分に同一符号を付して示す図1におい
て、20は全体として本発明を適用した回路基板検査装
置を示し、基台2上には基板保持部21及びパーソナル
コンピュータ4が設けられている。
(1) Configuration of a Circuit Board Inspection Apparatus According to the Present Embodiment In FIG. 1 in which the same reference numerals are assigned to parts corresponding to FIG. 6, reference numeral 20 denotes a circuit board inspection apparatus to which the present invention is applied as a whole. On the base 2, a substrate holding unit 21 and a personal computer 4 are provided.

【0020】この基板保持部21は、架台6上に下側フ
ィクスチャ7が固定されると共に、当該下側フィクスチ
ャ7を両側から挟むようにして一対の支持部材8が植立
され、当該各支持部材8の上端には昇降駆動部22が設
けられている。
In the substrate holding portion 21, the lower fixture 7 is fixed on the gantry 6, and a pair of support members 8 are erected so as to sandwich the lower fixture 7 from both sides. A lifting drive unit 22 is provided at the upper end of 8.

【0021】昇降駆動部22には、下端側からシリンダ
23のスライドシャフト23Aが矢印a方向又はこれと
逆方向に示す上下方向にスライドするようにシリンダ2
3が内蔵されている。このシリンダ23のスライドシャ
フト23Aの先端はベース板11の一面に固着され、当
該一面には位置出し用のガイドシャフト24の下端がス
ライドシャフト23Aと平行となるように固着されてい
る。このガイドシャフト24は昇降駆動部22に内蔵さ
れた軸受部材25にスライド自在に介挿されており、ベ
ース板11の水平度を確保し得るようになされている。
The vertical drive unit 22 is provided with a cylinder 2 so that the slide shaft 23A of the cylinder 23 slides from the lower end side in the vertical direction indicated by the arrow a or in the opposite direction.
3 is built-in. The distal end of the slide shaft 23A of the cylinder 23 is fixed to one surface of the base plate 11, and the lower end of the positioning guide shaft 24 is fixed to the one surface so as to be parallel to the slide shaft 23A. The guide shaft 24 is slidably inserted into a bearing member 25 built in the lifting drive unit 22 so that the levelness of the base plate 11 can be ensured.

【0022】このベース板11の他面には、上側フィク
スチャ12が下側フィクスチャ7と対向する位置に位置
決めした状態で固定保持されている。これによりシリン
ダ23の駆動に応じてスライドシャフト23A及びガイ
ドシャフト24がベース板11及び上側フィクスチャ1
2と一体となって矢印a方向又はこれと逆方向に昇降移
動し得るようになされている。
On the other surface of the base plate 11, an upper fixture 12 is fixedly held in a state where it is positioned at a position facing the lower fixture 7. As a result, the slide shaft 23A and the guide shaft 24 are moved by the driving of the cylinder 23 to the base plate 11 and the upper fixture 1.
2 so that it can move up and down in the direction of arrow a or in the direction opposite thereto.

【0023】この上側フィクスチャ12及び下側フィク
スチャ7の相対向する各面には、回路基板5の一面及び
他面に形成された各ランドパターン(図示せず)に対応
してそれぞれプローブピン(検針)12P、7Pが突出
形成されている。
The opposing surfaces of the upper fixture 12 and the lower fixture 7 have probe pins corresponding to land patterns (not shown) formed on one surface and the other surface of the circuit board 5, respectively. (Meter reading) 12P and 7P are formed to protrude.

【0024】かかる構成に加えて、この昇降駆動部22
には、側端部から外方に延長してクランパ支持板26が
一体に形成され、当該クランパ支持板26の下面26A
には、2つのクランパ27、28が所定の位置関係を保
つように固定保持されている。
In addition to the above configuration, the elevation drive unit 22
Is formed integrally with a clamper support plate 26 extending outward from the side end, and a lower surface 26A of the clamper support plate 26 is formed.
, Two clampers 27 and 28 are fixedly held so as to maintain a predetermined positional relationship.

【0025】また上側フィクスチャ12及び下側フィク
スチャ7の一側端には、それぞれコネクタ12C、7C
を介してフラットケーブル13、14の一端が接続さ
れ、当該フラットケーブル13、14は、それぞれ対応
するクランパ27、28を介して垂れ下がりながらその
他端がパーソナルコンピュータ4と接続されている。
Connectors 12C and 7C are provided on one end of the upper fixture 12 and the lower fixture 7, respectively.
The flat cables 13 and 14 are connected to the personal computer 4 at one end while hanging down via the corresponding clampers 27 and 28 respectively.

【0026】ここで実際に回路基板5を検査する場合、
当該回路基板5を下側フィクスチャ7の各プローブピン
7Pの先端が当該回路基板5の他面上の対応するランド
(図示せず)と当接するように位置決めして載置した
後、上側フィクスチャ12を矢印a方向と逆方向に下降
移動させることにより当該上側フィクスチャ12の各プ
ローブピン12Pの先端を回路基板5の一面上の対応す
るランドと当接させる。
Here, when actually inspecting the circuit board 5,
After positioning and mounting the circuit board 5 such that the tips of the probe pins 7P of the lower fixture 7 are in contact with the corresponding lands (not shown) on the other surface of the circuit board 5, the upper fixture is The tip of each probe pin 12P of the upper fixture 12 is brought into contact with a corresponding land on one surface of the circuit board 5 by moving the chair 12 downward in the direction opposite to the arrow a.

【0027】このときパーソナルコンピュータ4におい
ては、上側フィクスチャ12及び下側フィクスチャ7の
各プローブピン12P、7P間の電気的抵抗値をそれぞ
れ測定することにより、当該各ランド間を接続する配線
パターンの切断(オープン)や短絡(ショート)の有
無、並びに電子部品の実装ミス及び欠落等を検出するよ
うになされている。
At this time, the personal computer 4 measures the electrical resistance between the probe pins 12P, 7P of the upper fixture 12 and the lower fixture 7, respectively, to thereby determine the wiring pattern for connecting the lands. The presence or absence of disconnection (open) or short-circuit (short) of the electronic component, and mounting errors and omissions of electronic components are detected.

【0028】実際上まずパーソナルコンピュータ4は、
複数のプローブピン12P、7Pの中から導通すべき2
個のプローブピン間に定電流(又は定電圧)を与えるこ
とにより、当該プローブピン間の抵抗値(又は容量値)
を測定した後、当該抵抗値(又は容量値)が基準となる
抵抗値(又は容量値)の許容範囲内であるか否かを判断
する。続いてパーソナルコンピュータ4は、複数のプロ
ーブピン12P、7Pの全てに亘って順次2個のプロー
ブピン間の測定を行うことにより回路基板5の検査を行
うことができる。
In practice, first, the personal computer 4
2 to be conducted from among a plurality of probe pins 12P and 7P
By applying a constant current (or constant voltage) between the probe pins, the resistance value (or capacitance value) between the probe pins
Is measured, it is determined whether or not the resistance value (or capacitance value) is within an allowable range of a reference resistance value (or capacitance value). Subsequently, the personal computer 4 can inspect the circuit board 5 by sequentially measuring the two probe pins over all of the plurality of probe pins 12P and 7P.

【0029】(2)本実施の形態によるクランパの構成 このクランパ27、28は、図2(A)及び(B)に示
すように、それぞれクランパ支持板26に固定保持され
ている上側クランパ27A、28Aと、当該上側クラン
パ27A、28Aに対して近接する方向に付勢されなが
らスライド自在に保持された下側クランパ27B、28
Bとからなる。
(2) Structure of the clamper according to the present embodiment As shown in FIGS. 2A and 2B, the clampers 27 and 28 each have an upper clamper 27A fixedly held on a clamper support plate 26, 28A and lower clampers 27B, 28 slidably held while being urged in a direction approaching the upper clampers 27A, 28A.
B.

【0030】上側クランパ27A、28Aは、下側両端
部にそれぞれねじ穴27AH1 、28AH1 、27AH
2 、28AH2 が形成され、一端に鍔部29T、30T
が形成された取付ねじ29、30の他端をそれぞれ対応
するねじ穴27AH1 、28AH1 、27AH2 、28
AH2 に螺着することにより当該各取付ねじ29、30
をねじ止めするようになされている。また下側クランパ
27B、28Bは略凹部形状でなり、その両端部にはそ
れぞれ貫通穴27BH1 、28BH1 、27BH2 、2
8BH2 が形成されている。
The upper clampers 27A and 28A have screw holes 27AH 1 , 28AH 1 and 27AH at the lower ends.
2, 28 Ah 2 is formed, the flange portion 29T at one end, 30T
Screw holes 27AH 1, 28AH 1, 27AH 2 , 28 respectively corresponding to the other end of the mounting screws 29, 30 but are formed
The respective mounting screws 29 and 30 by screwing the AH 2
It is made to screw. The lower clamper 27B, 28B become substantially concave shape, each through hole 27BH 1 at its two ends, 28BH 1, 27BH 2, 2
8BH 2 is formed.

【0031】かくしてクランパ27、28は、取付ねじ
29、30をそれぞれコイルばね31、32及び下側ク
ランパ27B、28Bの貫通穴27BH1 、28B
1 、27BH2 、28BH2 を介して上側クランパ2
7A、28Aのねじ穴27AH1、28AH1 、27A
2 、28AH2 にねじ止めすることにより、下側クラ
ンパ27B、28Bを上側クランパ27A、28Aに対
して各コイルばね31、32の付勢力を持たせながらス
ライド自在に保持し得るようになされている。
[0031] Thus the clamper 27 and 28, the mounting screws 29 and 30 respectively coil springs 31, 32 and the lower clamper 27B, 28B of the through hole 27BH 1, 28B
H 1, 27BH 2, the upper clamper 2 via 28BH 2
7A, screw holes 27AH 1 of 28A, 28AH 1, 27A
By screwing in H 2, 28AH 2, configured so as to be able to hold the lower clamper 27B, and 28B upper clamper 27A, while having a biasing force of each coil spring 31 against 28A slidably I have.

【0032】これによりクランパ27、28は、通常時
には、下側クランパ27B、28Bが各コイルばね3
1、32の付勢に応じて上側クランパ27A、28Aに
対して当接保持されており、フラットケーブル13、1
4の掛合時には、図3(A)及び(B)に示すように、
下側クランパ27B、28Bがユーザの手によって上側
クランパ27A、28Aから離反する方向(矢印a方向
と逆方向)に引っ張られる力が与えられた場合でも、当
該引っ張り力を解除したときには下側クランパ27B、
28Bが各コイルばね31、32の付勢に応じて上側ク
ランパ27A、28Aに近接する方向に引き戻される。
As a result, the clampers 27 and 28 are normally operated so that the lower clampers 27B and 28B
The flat cables 13 and 1 are held in contact with the upper clampers 27A and 28A in accordance with the urging of the flat cables 13 and 32.
4, as shown in FIGS. 3A and 3B,
Even when the lower clampers 27B, 28B are pulled by the user in a direction in which the lower clampers 27B, 28B are separated from the upper clampers 27A, 28A (the direction opposite to the direction of the arrow a), when the pulling force is released, the lower clampers 27B are released. ,
28B is pulled back in a direction approaching the upper clampers 27A, 28A in accordance with the bias of the coil springs 31, 32.

【0033】さらに上側クランパ27A、28Aの中央
下端には板状のゴム材からなる滑り止め部材(以下、こ
れを上側滑り止め部材と呼ぶ)33が形成されると共
に、下側クランパ27B、28Bの凹部部分にも板状の
ゴム材からなる滑り止め部材(以下、これを下側滑り止
め部材と呼ぶ)34が形成されており、上側フィクスチ
ャ27A、28A及び下側クランパ27B、28Bが互
いに当接した状態にあるとき、上側滑り止め部材33及
び下側滑り止め部材34間は所定の間隙gを形成するよ
うになされている。
Further, a non-slip member (hereinafter, referred to as an upper non-slip member) 33 made of a plate-like rubber material is formed at the lower center of the upper clampers 27A and 28A, and the lower clampers 27B and 28B are formed. A non-slip member (hereinafter, referred to as a lower anti-slip member) 34 made of a plate-like rubber material is also formed in the concave portion, and the upper fixtures 27A and 28A and the lower clampers 27B and 28B abut against each other. When in contact with each other, a predetermined gap g is formed between the upper non-slip member 33 and the lower non-slip member 34.

【0034】(3)本実施の形態による動作及び効果 以上の構成において、この回路基板検査装置20では、
上側フィクスチャ12及び下側フィクスチャ7からそれ
ぞれコネクタ12C、7Cを介して引き出されたフラッ
トケーブル12、14を、昇降駆動部22の側端部に形
成されたクランパ支持板26に固定保持された2つのク
ランパ27、28を介してパーソナルコンピュータ4と
接続する。
(3) Operation and Effect of the Present Embodiment In the above configuration, the circuit board inspection apparatus 20
The flat cables 12 and 14 pulled out from the upper fixture 12 and the lower fixture 7 via the connectors 12C and 7C, respectively, are fixed and held on a clamper support plate 26 formed at the side end of the lifting drive unit 22. The personal computer 4 is connected via the two clampers 27 and 28.

【0035】このときクランパ27、28では、図4
(A)及び(B)に示すように、上側クランパ27A、
28A及び下側クランパ27B、28B間に介挿された
フラットケーブル13、14が、当該上側クランパ27
A、28A及び下側クランパ27B、28Bにそれぞれ
形成されたゴム材でなる上側滑り止め部材33及び下側
滑り止め部材34と当接することにより、当該上側滑り
止め部材33及び下側滑り止め部材34の摩擦力によっ
てフラットケーブル13、14はその当接位置に保持さ
れる。
At this time, the clampers 27 and 28
As shown in (A) and (B), the upper clamper 27A,
The flat cables 13 and 14 inserted between the lower clamper 28A and the lower clampers 27B and 28B
A, 28A and the lower clampers 27B, 28B, respectively, come into contact with the upper non-slip member 33 and the lower non-slip member 34 made of rubber material, so that the upper and the lower non-slip members 34 and 34 are brought into contact with each other. The flat cables 13 and 14 are held at the contact positions by the frictional force of

【0036】これにより上側フィクスチャ12及び下側
フィクスチャ7の一側端に設けられたコネクタ12C、
7Cとフラットケーブル13、14との接続部分は、そ
れぞれフラットケーブル13、14の自重分の負荷から
クランパ27、28の摩擦力の分だけ負荷を差し引いた
分の負荷がかかることになり、その分だけ当該接続部分
に生じるストレスを軽減することができる。
Thus, the connectors 12C provided at one end of the upper fixture 12 and the lower fixture 7,
The connection portion between the 7C and the flat cables 13 and 14 receives a load obtained by subtracting the load corresponding to the frictional force of the clampers 27 and 28 from the load of the own weight of the flat cables 13 and 14, respectively. Only the stress generated in the connection portion can be reduced.

【0037】ここで実際に回路基板5を検査する場合、
下側フィクスチャ7上に載置された回路基板5に対し
て、上側フィクスチャ12をシリンダ23の駆動に応じ
て矢印a方向又はこれと逆方向に昇降移動させたとき、
当該上側フィクスチャ12からコネクタ12Cを介して
引き出されたフラットケーブル13は、その上側フィク
スチャ12の昇降移動に応動して対応するクランパ27
の上側滑り止め部材33及び下側滑り止め部材34と摺
接する。
Here, when actually inspecting the circuit board 5,
When the upper fixture 12 is moved up and down with respect to the circuit board 5 placed on the lower fixture 7 in the direction of arrow a or in the direction opposite thereto in accordance with the driving of the cylinder 23,
The flat cable 13 pulled out from the upper fixture 12 via the connector 12C is moved in response to the upward and downward movement of the upper fixture 12, and the corresponding clamper 27 is moved.
Slidably contact the upper non-slip member 33 and the lower anti-slip member 34.

【0038】これにより上側フィクスチャ12の一側端
に設けられたコネクタ12Cとフラットケーブル13と
の接続部分は、当該上側フィクスチャ12の昇降移動に
かかわらず可撓しないため、当該接続部分にかかるスト
レスを軽減することができる。
As a result, the connection between the connector 12C provided at one end of the upper fixture 12 and the flat cable 13 is not flexible irrespective of the vertical movement of the upper fixture 12, so that the connection is applied to the connection. Stress can be reduced.

【0039】以上の構成によれば、この回路基板検査装
置20において、基板保持部21の昇降駆動部22の側
端に設けられたクランパ支持板26の下面26Aに各ク
ランパ27、28を設け、上側フィクスチャ12及び下
側フィクスチャ7の一側端からコネクタ12C、7Cを
介して引き出したフラットケーブル13、14をそれぞ
れ対応するクランパ27、28を介して保持するように
したことにより、当該上側フィクスチャ12及び下側フ
ィクスチャ7の一側端に設けられたコネクタ12C、7
Cとフラットケーブル13、14との接続部分にかかる
ストレスを軽減して当該接続部分で断線するのを未然に
防止することができ、かくして電気的接続の信頼性を確
保し得る回路基板検出装置20を実現することができ
る。
According to the above configuration, in the circuit board inspection apparatus 20, the respective clampers 27 and 28 are provided on the lower surface 26A of the clamper support plate 26 provided at the side end of the lifting drive unit 22 of the board holding unit 21. By holding the flat cables 13 and 14 pulled out from one end of the upper fixture 12 and the lower fixture 7 via the connectors 12C and 7C via the corresponding clampers 27 and 28, respectively, Connectors 12C and 7 provided at one end of the fixture 12 and the lower fixture 7
A circuit board detecting device 20 which can reduce the stress applied to the connection portion between the C and the flat cables 13 and 14 and prevent the disconnection at the connection portion, thereby ensuring the reliability of the electrical connection. Can be realized.

【0040】(4)他の実施の形態 なお上述の実施の形態においては、本発明による回路基
板検査装置として、所定状態に位置決めされた回路基板
5の接続状態が正常であるか否かを検査する回路基板検
査装置20を適用した場合について述べたが、本発明は
これに限らず、この他種々のケーブルを用いた回路基板
検査装置に広く適用することができる。
(4) Other Embodiments In the above embodiment, the circuit board inspection apparatus according to the present invention inspects whether the connection state of the circuit board 5 positioned in a predetermined state is normal. Although the case where the circuit board inspection apparatus 20 is applied has been described, the present invention is not limited to this, and can be widely applied to circuit board inspection apparatuses using various other cables.

【0041】また上述の実施の形態においては、位置決
めされた回路基板5の一面に形成された配線パターンに
おける各所定位置とそれぞれ一括して接触する複数のプ
ローブピン12P、7Pを有するプローブピン保持手段
として、基板保持部21における上側フィクスチャ12
及び下側フィクスチャ7をそれぞれ適用した場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、要は、複数のプロ
ーブピン12P、7Pを有しかつフラットケーブル1
3、14の引き出し部分を有するものであれば、この他
種々のプローブピン保持手段に広く適用することができ
る。
In the above-described embodiment, the probe pin holding means having the plurality of probe pins 12P and 7P collectively making contact with respective predetermined positions in the wiring pattern formed on one surface of the positioned circuit board 5 at a time. The upper fixture 12 in the substrate holding unit 21
And the lower fixture 7 are respectively applied, but the present invention is not limited to this, and the point is that the flat cable 1 has a plurality of probe pins 12P and 7P.
As long as it has three or four drawers, it can be widely applied to various other probe pin holding means.

【0042】さらに上述の実施の形態においては、回路
基板5の電気的特性を検査する検査手段として、パーソ
ナルコンピュータ4を適用した場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、要は、配線パターン間の導通状
態や回路基板5上に実装された種々の電子部品の電気的
特性を検査することができれば、この他種々の検査手段
に広く適用することができる。
Further, in the above-described embodiment, the case where the personal computer 4 is applied as the inspection means for inspecting the electrical characteristics of the circuit board 5 has been described.
The present invention is not limited to this. In short, the present invention is widely applicable to various other inspection means as long as the conduction state between wiring patterns and the electrical characteristics of various electronic components mounted on the circuit board 5 can be inspected. can do.

【0043】さらに上述の実施の形態においては、プロ
ーブピン保持手段を介して複数のプローブピン12P、
7P及びパーソナルコンピュータ(検査手段)4間を導
通接続するケーブルとして、フラットケーブル13、1
4を適用した場合について述べたが、本発明はこれに限
らず、この他種々のケーブルに広く適用することができ
る。
Further, in the above-described embodiment, a plurality of probe pins 12P,
Flat cables 13 and 1 are used as cables for electrically connecting between 7P and personal computer (inspection means) 4.
4 has been described, but the present invention is not limited to this, and can be widely applied to various other cables.

【0044】さらに上述の実施の形態においては、所定
の高さ位置に設けられ、フラットケーブル13、14の
一部を保持するケーブル保持手段として、基板保持部2
1の昇降駆動部22と一体形成さたクランパ支持板26
に固定保持されたクランパ27、28を適用した場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、要は、フラッ
トケーブル13、14の一部を保持することができれ
ば、この他種々のケーブル保持手段に広く適用すること
ができる。
Further, in the above-described embodiment, the board holding portion 2 is provided at a predetermined height position and serves as a cable holding means for holding a part of the flat cables 13 and 14.
1. A clamper support plate 26 integrally formed with the lifting drive unit 22
Although the case where the clampers 27 and 28 fixed and held are applied has been described, the present invention is not limited to this, and the point is that if a part of the flat cables 13 and 14 can be held, various other cable holding It can be widely applied to means.

【0045】この場合、クランパ27、28を形成する
上側クランパ27A、28A及び下側クランパ27B、
28Bの相対向面にゴム材からなる滑り止め材33、3
4を形成して、フラットケーブル13、14との当接部
分に所定の摩擦係数をもたせるようにした場合について
述べたが、滑り止め部材としては、フラットケーブル1
3、14が滑り落ちることなくかつ固定されない程度の
摩擦係数をもつ材質のものであれば種々の部材に広く適
用することができる。
In this case, the upper clampers 27A, 28A and the lower clampers 27B, which form the clampers 27, 28,
Non-slip members 33, 3 made of rubber material on opposite surfaces of 28B
4 has been described so as to give a predetermined coefficient of friction to the contact portions with the flat cables 13 and 14, but the flat cable 1 is used as a non-slip member.
As long as the members 3 and 14 are made of a material having a coefficient of friction such that they do not slide down and are not fixed, they can be widely applied to various members.

【0046】また例えば、図5に示すように、ケーブル
保持手段として、所定の高さ位置に設けられた支持部材
40にS字金具41を固定すると共に、当該S字金具4
1にチェーン42の一端を所望の長さ分だけ掛合させる
ようにして吊り下げておき、当該チェーン42の他方に
S字金具43を介してゴム材でなるトラック形状の環状
保持部材44を掛合させるようにしても良い。この場
合、当該環状保持部材44内において上述と同様にフラ
ットケーブル13、14の一部を保持することができ
る。さらにこの場合、チェーン42を用いたことによ
り、所望の高さ位置にフラットケーブル13、14を保
持することができ、この結果、当該高さ位置に応じて上
側フィクスチャ及び下側フィクスチャ(共にプローブピ
ン保持手段)とフラットケーブル13、14との接続部
分にかかるストレスをより一層軽減することができる。
For example, as shown in FIG. 5, as a cable holding means, an S-shaped fitting 41 is fixed to a support member 40 provided at a predetermined height position, and the S-shaped fitting 4 is fixed.
1 is suspended such that one end of the chain 42 is hooked by a desired length, and a track-shaped annular holding member 44 made of a rubber material is hooked on the other end of the chain 42 via an S-shaped bracket 43. You may do it. In this case, a part of the flat cables 13 and 14 can be held in the annular holding member 44 as described above. Further, in this case, by using the chain 42, the flat cables 13 and 14 can be held at a desired height position, and as a result, the upper fixture and the lower fixture (both are fixed) according to the height position. The stress applied to the connection between the probe pin holding means) and the flat cables 13 and 14 can be further reduced.

【0047】[0047]

【発明の効果】上述のように本発明によれば、回路基板
検査装置において、所定の高さ位置にケーブル保持手段
を設け、プローブピン保持手段を介して複数のプローブ
ピン及び検査手段間を導通接続するケーブルの一部をケ
ーブル保持手段を用いて保持するようにしたことによ
り、プローブピン保持手段とケーブルとの接続部分にか
かるストレスを低減して断線が生じるのを未然に防止す
ることができ、かくして電気的接続の信頼性を確保し得
る回路基板検査装置を実現することができる。
As described above, according to the present invention, in the circuit board inspection apparatus, the cable holding means is provided at a predetermined height position, and the plurality of probe pins and the inspection means are electrically connected via the probe pin holding means. By holding a part of the cable to be connected using the cable holding means, it is possible to reduce the stress applied to the connecting portion between the probe pin holding means and the cable, thereby preventing the occurrence of disconnection. Thus, it is possible to realize a circuit board inspection device capable of ensuring the reliability of the electrical connection.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施の形態による回路基板検査装置の構成を
示す略線的な側面図である。
FIG. 1 is a schematic side view showing a configuration of a circuit board inspection apparatus according to the present embodiment.

【図2】本実施の形態によるクランパの構成を示す正面
図及び側面図である。
FIG. 2 is a front view and a side view showing a configuration of a clamper according to the present embodiment.

【図3】本実施の形態によるクランパの構成を示す正面
図及び側面図である。
FIG. 3 is a front view and a side view showing a configuration of a clamper according to the present embodiment.

【図4】フラットケーブルの保持状態に説明に供する略
線図である。
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining a holding state of a flat cable.

【図5】他の実施の形態によるケーブル保持手段の構成
を示す略線図である。
FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a configuration of a cable holding unit according to another embodiment.

【図6】従来の回路基板検査装置の構成を示す略線的な
側面図である。
FIG. 6 is a schematic side view showing a configuration of a conventional circuit board inspection apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、20……回路基板検査装置、2……基台、3、21
……基板保持部、4……パーソナルコンピュータ、5…
…回路基板、7……下側フィクスチャ、7C、12C…
…コネクタ、7P、12P……プローブピン、9、22
……昇降駆動部、10、23A……スライドシャフト、
13、14……フラットケーブル、23……シリンダ、
24……ガイドシャフト、25……軸受部材、26……
クランパ支持板、27、28……クランパ、27A、2
8A……上側クランパ、27B、28B……下側クラン
パ、29、30……取付ねじ、31、32……コイルば
ね、33……上側滑り止め部材、34……下側滑り止め
部材、40……支持部材、41、43……S字金具、4
2……チェーン、44……環状保持部材。
1, 20 ... circuit board inspection device, 2 ... base, 3, 21
... board holding part, 4 ... personal computer, 5 ...
... circuit board, 7 ... lower fixture, 7C, 12C ...
... Connectors, 7P, 12P ... Probe pins, 9, 22
... Elevating drive unit, 10, 23A ... Slide shaft,
13, 14 ... flat cable, 23 ... cylinder,
24 ... guide shaft, 25 ... bearing member, 26 ...
Clamper support plate, 27, 28 ... clamper, 27A, 2
8A Upper clamper, 27B, 28B Lower clamper, 29, 30 Mounting screw, 31, 32 Coil spring, 33 Upper non-slip member, 34 Lower anti-slip member, 40 ... Support members, 41, 43 ... S-shaped fittings, 4
2... A chain, 44... An annular holding member.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】所定状態に位置決めされた回路基板の接続
状態が正常であるか否かを検査する回路基板検査装置に
おいて、 上記位置決めされた上記回路基板の一面に形成された配
線パターンにおける各所定位置とそれぞれ一括して接触
する複数のプローブピンを有するプローブピン保持手段
と、 上記回路基板の電気的特性を検査する検査手段と、 上記プローブピン保持手段を介して複数の上記プローブ
ピン及び上記検査手段間を導通接続するケーブルと、 所定の高さ位置に設けられ、上記ケーブルの一部を保持
するケーブル保持手段とを具えることを特徴とする回路
基板検査装置。
1. A circuit board inspection apparatus for inspecting whether a connection state of a circuit board positioned in a predetermined state is normal or not, wherein each predetermined pattern in a wiring pattern formed on one surface of the circuit board positioned in the predetermined state. A probe pin holding means having a plurality of probe pins each of which comes into contact with a position collectively; an inspection means for inspecting electrical characteristics of the circuit board; a plurality of the probe pins and the inspection via the probe pin holding means A circuit board inspection apparatus, comprising: a cable for electrically connecting between means; and a cable holding means provided at a predetermined height and holding a part of the cable.
【請求項2】上記ケーブル保持手段は、 上記ケーブルとの当接部分に所定の摩擦係数をもつ滑り
止め材を具えることを特徴とする請求項1に記載の回路
基板検査装置。
2. The circuit board inspection apparatus according to claim 1, wherein the cable holding means includes a non-slip material having a predetermined coefficient of friction at a contact portion with the cable.
【請求項3】上記ケーブル保持手段は、 上記高さ位置から吊り下げられ、所望の高さ位置で上記
ケーブルの一部を保持することを特徴とする請求項1に
記載の回路基板検査装置。
3. The circuit board inspection apparatus according to claim 1, wherein said cable holding means is suspended from said height position and holds a part of said cable at a desired height position.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112285523A (en) * 2019-07-24 2021-01-29 北京振兴计量测试研究所 Hybrid integrated circuit detection system and method
CN115436691A (en) * 2022-09-02 2022-12-06 内蒙古千隆电力有限责任公司 A live detection device for high-safety electrical equipment
CN116660799A (en) * 2023-05-29 2023-08-29 江西电缆有限责任公司 High-efficiency detection device and method for broken cores of cables

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