JP2001060799A - Terminal alignment detection method and device - Google Patents
Terminal alignment detection method and deviceInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、端子整列検出方法
及びその装置に係り、特に、電子部品を回路基板上に実
装させる前において、吸着ヘッドに電子部品を吸着させ
た状態で電子部品の端子の整列状態を検出させるのに利
用する端子整列検出方法及びその装置に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for detecting terminal alignment, and more particularly to a method for detecting a terminal alignment of an electronic component in a state where the electronic component is sucked by a suction head before the electronic component is mounted on a circuit board. The present invention relates to a method and an apparatus for detecting terminal alignment used for detecting an alignment state of a terminal.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、このような分野の技術として、特
開平9−145333号公報がある。この公報に記載さ
れた装置は、電子部品の端子の配列方向に対して平行に
レーザービームを照射し、レーザービームを受光センサ
ーで受光させる構成を有している。そして、電子部品の
端子の配列状態の良否を判断する方法として、レーザー
光源から発せられた光のエネルギーと、受光素子が受け
入れた光のエネルギーとを比較演算し、光の遮光された
幅を先ず求める。その後、この幅と基準値との比較によ
って端子の配列の良否判定を行うようにしている。2. Description of the Related Art Conventionally, as a technique in such a field, there is JP-A-9-145333. The device described in this publication has a configuration in which a laser beam is irradiated in parallel to the arrangement direction of terminals of electronic components, and the laser beam is received by a light receiving sensor. Then, as a method for determining the quality of the arrangement state of the terminals of the electronic component, the energy of light emitted from the laser light source is compared with the energy of light received by the light receiving element, and the light-shielded width is first determined. Ask. Thereafter, the quality of the terminal arrangement is determined by comparing the width with the reference value.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】従来の端子曲がり検査
装置は、レーザービームを利用して電子部品の端子曲が
りを検査するものであり、このような検査は、一般的に
は、回路基板に電子部品を実装させる前として実施さ
れ、この場合、電子部品の搬送途中に検査用のステージ
が設けられており、この検査ステージに配置させたレー
ザー光源と受光素子とによって、端子の配列状態の良否
判定を行っている。従って、電子部品は、検査ステージ
を一旦通過させる必要があり、このようにすると、検査
用のスペースを別途設けなければならず、しかも、電子
部品を回路基板に実装させるまでの移動時間(タクトタ
イム)の増加につながり、電子部品の高速実装化に向け
ての問題点となっていた。A conventional terminal bending inspection apparatus uses a laser beam to inspect the terminal bending of an electronic component. Such an inspection is generally performed by using an electronic component on a circuit board. This is performed before mounting the components. In this case, a stage for inspection is provided in the middle of the transportation of the electronic components, and the laser light source and the light receiving element arranged on the inspection stage determine whether the arrangement state of the terminals is good. It is carried out. Therefore, it is necessary to pass the electronic component once through the inspection stage. In this case, a separate inspection space must be provided, and the moving time (tact time) required until the electronic component is mounted on the circuit board. ), Which has been a problem for high-speed mounting of electronic components.
【0004】本発明は、上述の課題を解決するためにな
されたもので、特に、電子部品の高速実装化を促進させ
るようにした端子整列検出方法及びその装置を提供する
ことを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and it is an object of the present invention to provide a terminal alignment detecting method and a device therefor, which facilitate high-speed mounting of electronic components.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】請求項1に係る本発明の
端子整列検出方法は、吸着ヘッドによって吸着させた電
子部品の端子の整列状態を検出する方法において、吸着
ヘッドを吸着位置から搭載位置まで移動させる途中で、
吸着ヘッドの進退方向に対して直交する水平方向に、吸
着ヘッドの下方を通過するように検査ステージを移動さ
せ、検査ステージ上に載置させた投光部から、端子の整
列方向に対して平行な光を端子に向けて出射させ、この
光を、検査ステージ上に載置させた受光部に受光させ
て、端子の整列状態を検出することを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a terminal alignment detecting method for detecting an alignment state of terminals of an electronic component sucked by a suction head. On the way to
The inspection stage is moved so that it passes below the suction head in the horizontal direction perpendicular to the direction in which the suction head moves, and the light emitting unit placed on the inspection stage is moved in parallel with the terminal alignment direction. The light is emitted toward the terminal, and the light is received by a light receiving unit mounted on the inspection stage to detect an alignment state of the terminal.
【0006】この端子整列検出方法において、吸着ヘッ
ドは、電子部品を吸着させる吸着位置から、電子部品を
回路基板上に実装させる搭載位置まで搬送させるが、こ
の搬送途中で、検査ステージは、吸着ヘッドの下を通過
するように、吸着ヘッドの進退方向に直交した水平方向
に移動する。この通過時において、検査ステージ上に配
置させた受光部から、電子部品の端子の整列方向に指向
させた光を、投光部に向けて出射させる。検査ステージ
をこのように可動させる結果、吸着ヘッドの移動中に電
子部品の端子の整列状態を検出することができる。すな
わち、吸着ヘッドによる電子部品の搬送と電子部品の端
子の整列状態の検出とを同時進行させることができる。
従って、電子部品を回路基板に実装させるまでの移動時
間(タクトタイム)を短縮することができ、電子部品の
高速実装化を可能にする。In this terminal alignment detecting method, the suction head transports an electronic component from a suction position at which the electronic component is sucked to a mounting position at which the electronic component is mounted on a circuit board. And moves in the horizontal direction perpendicular to the direction in which the suction head moves. During this passage, light directed in the direction in which the terminals of the electronic components are aligned is emitted from the light receiving unit disposed on the inspection stage toward the light emitting unit. As a result of moving the inspection stage in this manner, the alignment of the terminals of the electronic component can be detected while the suction head is moving. That is, the transport of the electronic component by the suction head and the detection of the alignment state of the terminals of the electronic component can be performed simultaneously.
Therefore, the moving time (tact time) required for mounting the electronic component on the circuit board can be reduced, and the electronic component can be mounted at a high speed.
【0007】請求項2に係る本発明の端子整列検出方法
及びその装置は、電子部品の端子の整列状態を検出する
装置において、電子部品を吸着する吸着ヘッドと、吸着
ヘッドを水平方向に進退させる第1の移動手段と、吸着
ヘッドを上下方向に移動させる第2の移動手段と、吸着
ヘッドの進退方向に対して直交する水平方向に移動する
検査ステージと、検査ステージ上に載置され、吸着ヘッ
ドによって吸着させた電子部品の端子の整列方向に対し
て平行な光を端子に向けて出射させる投光部と、投光部
に対向して検査ステージ上に載置させ、投光部からの光
を受光する受光部とを備えたことを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, there is provided a terminal alignment detecting method and apparatus for detecting a terminal alignment state of an electronic component, wherein the suction head sucks the electronic component and the suction head is moved in a horizontal direction. A first moving means, a second moving means for vertically moving the suction head, an inspection stage for moving in a horizontal direction perpendicular to the direction of movement of the suction head, and a suction stage mounted on the inspection stage, A light projecting unit that emits light parallel to the alignment direction of the terminals of the electronic components sucked by the head toward the terminals, and is placed on an inspection stage so as to face the light projecting units. A light receiving unit for receiving light.
【0008】この端子整列検出装置において、吸着ヘッ
ドは、第1の移動手段によって水平方向に進退すると共
に、第2の移動手段によって上下方向に昇降する。ま
た、この装置では、検査ステージを採用し、これに投光
部と受光部とを搭載し、検査ステージは、吸着ヘッドの
下を通過するように、吸着ヘッドの進退方向に対して直
交した水平方向に移動する。この移動時に、検査ステー
ジ上の受光部に向かって投光部から光を出射させ、この
光を、電子部品の端子の整列方向に指向させる。検査ス
テージをこのように可動させる結果、吸着ヘッドの移動
中に電子部品の端子の整列状態を検出することができ
る。すなわち、吸着ヘッドによる電子部品の搬送と、電
子部品の端子の整列状態の検出とを同時進行させること
ができる。従って、電子部品を吸着ヘッドで吸着して回
路基板に実装させるまでの移動時間(タクトタイム)を
短縮することができ、電子部品の高速実装化を可能にす
る。In this terminal alignment detecting device, the suction head moves in the horizontal direction by the first moving means and moves up and down by the second moving means. Further, this apparatus employs an inspection stage, on which a light emitting unit and a light receiving unit are mounted, and the inspection stage is arranged so as to pass under the suction head so as to be horizontal with respect to the moving direction of the suction head. Move in the direction. During this movement, light is emitted from the light projecting unit toward the light receiving unit on the inspection stage, and the light is directed in the direction in which the terminals of the electronic component are aligned. As a result of moving the inspection stage in this manner, the alignment of the terminals of the electronic component can be detected while the suction head is moving. That is, the transport of the electronic component by the suction head and the detection of the alignment state of the terminals of the electronic component can be performed simultaneously. Accordingly, it is possible to reduce a moving time (tact time) from when the electronic component is sucked by the suction head to when it is mounted on the circuit board, and high-speed mounting of the electronic component is enabled.
【0009】請求項3記載の端子整列検出装置におい
て、水平方向に延びる第1の移動手段は、基台と基台上
に配置させた移動ベースとの間を連結させ、上下方向に
延びる第2の移動手段は、移動ベースと吸着ヘッドとの
間を連結させ、移動ベースと検査ステージとの間を、第
1の移動手段の延在方向に対して直交する方向に水平に
延びる第3の移動手段により連結させると好ましい。こ
のような構成を採用すると、第1の移動手段によって、
基台上で移動ベースを水平方向に進退させることがで
き、第2の移動手段によって、移動ベースに対して吸着
ヘッドを上下に往復動させることができ、第3の移動手
段によって、検査ステージを、吸着ヘッドの進退方向に
対して直交する方向で吸着ヘッドの下を往復動させるこ
とができる。In the terminal alignment detecting device according to the third aspect, the first moving means extending in the horizontal direction connects the base and a moving base arranged on the base, and the second moving means extends in the vertical direction. The third moving means connects the moving base and the suction head, and extends horizontally between the moving base and the inspection stage in a direction orthogonal to the extending direction of the first moving means. It is preferable to connect by means. When such a configuration is adopted, the first moving means
The moving base can be moved forward and backward on the base in the horizontal direction, the suction head can be reciprocated up and down with respect to the moving base by the second moving means, and the inspection stage can be moved by the third moving means. In addition, it is possible to reciprocate beneath the suction head in a direction orthogonal to the direction of movement of the suction head.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明による端
子整列検出方法及びその装置の好適な実施形態について
詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of a terminal alignment detecting method and apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0011】端子整列検出装置1は、電子部品Sを回路
基板18に実装させる部品実装機の一部として利用され
るものであり、電子部品Sを回路基板18に実装させる
前において、電子部品Sの搬送途中で電子部品Sの端子
Pの整列状態を検出し、端子状態の良好な電子部品Sの
みを回路基板18上に実装させる装置として利用され
る。The terminal alignment detecting device 1 is used as a part of a component mounter for mounting the electronic component S on the circuit board 18. Before mounting the electronic component S on the circuit board 18, During the transportation of the electronic component S, the alignment state of the terminals P of the electronic component S is detected, and the electronic component S is used as a device for mounting only the electronic component S having a good terminal state on the circuit board 18.
【0012】図1〜図3に示すように、端子整列検出装
置1は、電子部品Sの真空吸着を行う吸着ヘッド2を有
し、この吸着ヘッド2の下端には、吸着ノズル3が設け
られている。吸着ヘッド2は、水平方向に延在する移動
ベース10上に立設させた支柱4に沿って上下動する。
また、支柱4と吸着ヘッド2とを第2の移動手段5を介
して連結させる。As shown in FIGS. 1 to 3, the terminal alignment detecting device 1 has a suction head 2 for performing vacuum suction of an electronic component S, and a suction nozzle 3 is provided at a lower end of the suction head 2. ing. The suction head 2 moves up and down along a column 4 erected on a moving base 10 extending in the horizontal direction.
Further, the column 4 and the suction head 2 are connected via the second moving means 5.
【0013】この第2の移動手段5はボールネジ機構か
らなり、この第2のボールネジ機構5は、支柱4に沿っ
て延在すると共に支柱7に固定させたACサーボモータ
6により回転するネジ軸7と、このネジ軸7に螺合する
雌ネジ部8とからなる。そして、吸着ヘッド2のヘッド
保持部2aが雌ネジ部8に固定され、吸着ヘッド2は、
リニアガイド9を介して上下に往復動する。従って、サ
ーボモータ6を作動させることで、ネジ軸7の回転量に
追従して吸着ヘッド2を所定量だけ上下動させることが
できる。The second moving means 5 comprises a ball screw mechanism. The second ball screw mechanism 5 extends along the column 4 and is rotated by an AC servomotor 6 fixed to the column 7. And a female screw portion 8 screwed to the screw shaft 7. Then, the head holding portion 2a of the suction head 2 is fixed to the female screw portion 8, and the suction head 2
It reciprocates up and down via the linear guide 9. Therefore, by operating the servo motor 6, the suction head 2 can be moved up and down by a predetermined amount following the rotation amount of the screw shaft 7.
【0014】また、移動ベース10は、基台11上で水
平方向に進退する。移動ベース10と基台11とは第1
の移動手段12を介して連結され、移動ベース10は、
リニアガイド16を介して水平方向に摺動する。この第
1の移動手段12は、ボールネジ機構からなり、この第
1のボールネジ機構12は、基台11に沿って延在する
と共に基台11に固定したACサーボモータ15により
回転するネジ軸13と、移動ベース10に固定されると
共にネジ軸13に螺合させた雌ネジ部14とからなる。
従って、サーボモータ15を作動させることで、ネジ軸
13の回転量に追従して移動ベース10を所定量だけ進
退させることができる。The moving base 10 moves forward and backward on the base 11 in the horizontal direction. The moving base 10 and the base 11 are the first
The moving base 10 is connected via moving means 12 of
It slides in the horizontal direction via the linear guide 16. The first moving means 12 comprises a ball screw mechanism. The first ball screw mechanism 12 extends along the base 11 and has a screw shaft 13 rotated by an AC servomotor 15 fixed to the base 11. And a female screw portion 14 fixed to the moving base 10 and screwed to the screw shaft 13.
Therefore, by operating the servomotor 15, the movable base 10 can be moved forward and backward by a predetermined amount following the rotation amount of the screw shaft 13.
【0015】この移動ベース10が進退する範囲は、吸
着ヘッド2が、電子部品Sを吸引する吸着位置Aから、
電子部品Sを回路基板18上に実装させる搭載位置Bま
で移動し得る範囲である(図3参照)。すなわち、第1
の移動手段12による移動ベース10の前進によって、
吸着ヘッド2を吸着位置Aまで水平に移動させ、第2の
移動手段5によって、吸着ヘッド2を降下させ、この一
連の動作によって吸着ノズル3に電子部品Sを吸着させ
る。The range in which the moving base 10 advances and retreats from the suction position A where the suction head 2 sucks the electronic component S.
This is a range in which the electronic component S can be moved to a mounting position B where the electronic component S is mounted on the circuit board 18 (see FIG. 3). That is, the first
Of the moving base 10 by the moving means 12 of
The suction head 2 is moved horizontally to the suction position A, the suction head 2 is lowered by the second moving means 5, and the suction nozzle 3 sucks the electronic component S by a series of operations.
【0016】その後、第2の移動手段5によって吸着ヘ
ッド2を上昇させ、第1の移動手段12による移動ベー
ス10の後退によって、吸着ヘッド2を搭載位置Bまで
水平に移動させる。そして、第2の移動手段5によって
吸着ヘッド2を下降させることで、電子部品Sを回路基
板18上に実装させる。このように、吸着ヘッド2は、
電子部品Sを吸着位置Aから搭載位置Bまで後退させな
がら移動することになる。Thereafter, the suction head 2 is raised by the second moving means 5, and the suction head 2 is horizontally moved to the mounting position B by the retreat of the moving base 10 by the first moving means 12. Then, the electronic component S is mounted on the circuit board 18 by lowering the suction head 2 by the second moving means 5. Thus, the suction head 2
The electronic component S moves while being retracted from the suction position A to the mounting position B.
【0017】ここで、吸着位置A側で供給される電子部
品Sは、良品ばかりでなく、端子Pの曲がった不良品も
混ざっており、端子不良のものを回路基板18上に実装
させることは極めて不都合である。Here, the electronic components S supplied on the suction position A side include not only non-defective products but also defective products with bent terminals P. It is not possible to mount defective terminals on the circuit board 18. It is extremely inconvenient.
【0018】そこで、吸着ヘッド2による電子部品Sの
搬送途中で、電子部品Sの端子Pの整列状態を検査す
る。すなわち、吸着ヘッド2による電子部品Sの搬送と
電子部品Sの端子Pの整列状態の検出とを同時進行させ
る。その結果として、電子部品Sを回路基板18に実装
させるまでの移動時間(タクトタイム)を短縮すること
ができ、電子部品Sの高速実装化を可能にする。Therefore, while the electronic component S is being conveyed by the suction head 2, the alignment of the terminals P of the electronic component S is inspected. That is, the conveyance of the electronic component S by the suction head 2 and the detection of the alignment state of the terminals P of the electronic component S are simultaneously advanced. As a result, the moving time (tact time) required for mounting the electronic component S on the circuit board 18 can be reduced, and the electronic component S can be mounted at a high speed.
【0019】具体的には、図1〜図5に示すように、吸
着ヘッド2で電子部品Sを搬送させる途中において、検
査ステージ20は、吸着ヘッド2の下を通るように、吸
着ヘッド2の進退方向に対して直交した方向に移動す
る。この検査ステージ20は、移動ベース10の裏面に
配置した第3の移動手段21によって、移動ベース10
に沿って往復動する。More specifically, as shown in FIGS. 1 to 5, while the electronic component S is being conveyed by the suction head 2, the inspection stage 20 moves under the suction head 2 so as to pass below the suction head 2. It moves in a direction perpendicular to the forward and backward directions. The inspection stage 20 is moved by the third moving means 21 disposed on the back surface of the moving base 10.
Reciprocate along.
【0020】検査ステージ20と移動ベース10とは第
3の移動手段21を介して連結され、リニアガイド22
を介して水平方向に摺動する。この第3の移動手段21
は、ボールネジ機構からなり、この第3のボールネジ機
構21は、第1の移動手段12のネジ軸13の延在方向
に対して直交した方向に水平に延びると共にACサーボ
モータ23により回転するネジ軸24と、検査ステージ
20に固定させると共にネジ軸24に螺合させた雌ネジ
部25とからなる。従って、サーボモータ23を作動さ
せることで、ネジ軸24の回転量に追従して検査ステー
ジ20を所定量だけ進退させることができる。The inspection stage 20 and the moving base 10 are connected via a third moving means 21 and a linear guide 22
Slides horizontally through. This third moving means 21
Comprises a ball screw mechanism. The third ball screw mechanism 21 extends horizontally in a direction perpendicular to the extending direction of the screw shaft 13 of the first moving means 12 and rotates by an AC servomotor 23. 24, and a female screw portion 25 fixed to the inspection stage 20 and screwed to the screw shaft 24. Therefore, by operating the servo motor 23, the inspection stage 20 can be moved forward and backward by a predetermined amount following the rotation amount of the screw shaft 24.
【0021】この検査ステージ20上には、レーザービ
ームの発生源として利用される投光部30と、レーザー
ビームを受光する受光部31とを、吸着ノズル3を挟む
ようにして対向配置させる。投光部30は、電子部品S
の端子Pに向けて光を照射させ、この光は、投光部30
から延びる光軸Gが、吸着ヘッド2で吸着状態にある電
子部品Sの端子Pの整列方向に対して平行に延びるよう
に出射される。従って、吸着ヘッド2の電子部品搬送中
に、検査ステージ20を移動させることで、投光部30
から出射させるレーザービームで端子Pの整列状態を順
次スキャンさせることができる。On the inspection stage 20, a light projecting section 30 used as a laser beam generating source and a light receiving section 31 for receiving the laser beam are arranged to face each other with the suction nozzle 3 interposed therebetween. The light projecting unit 30 includes the electronic component S
Light is emitted toward the terminal P of the
Are emitted so as to extend in parallel to the direction in which the terminals P of the electronic components S in the suction state by the suction head 2 are aligned. Therefore, by moving the inspection stage 20 while the electronic components are being conveyed by the suction head 2, the light emitting unit 30 is moved.
The terminal P can be sequentially scanned with the laser beam emitted from the terminal P.
【0022】このビームスキャンにあたって、投光部3
0からの光のエネルギーと、受光部31で受けた光のエ
ネルギーとを比較演算し、規定値より受光エネルギーが
小さい場合には、光を遮るものが規定以上存在する状
態、すなわち曲がった端子Pで光が遮光されている状態
であるから、電子部品不良と判断する。これにより、電
子部品Sの搬送途中で、不良電子部品Sを吸着ノズル3
から落下させ、不良品を所定の場所に集めるようにして
いる。In this beam scanning, the light projecting unit 3
The light energy from 0 and the light energy received by the light receiving unit 31 are compared and calculated, and if the received light energy is smaller than a specified value, a state in which a light blocking object exists more than specified, that is, the bent terminal P Is in a state where the light is blocked, it is determined that the electronic component is defective. Thereby, the defective electronic component S is sucked by the suction nozzle 3 while the electronic component S is being conveyed.
And collect the defective products in a predetermined place.
【0023】なお、レーザービームは、投受光間隔が1
0cm以上離れると、レーザービームの収束臨界値を越
えて広がってしまうことから、検出ミスが起こる可能性
がある。そこで、大型で矩形の電子部品Sをスキャン検
査する場合、電子部品Sの縦方向(長手方向)にレーザ
ー光を走らせるのではなく、電子部品Sの縦方向に光を
スキャンさせながら、電子部品Sの横方向に光を走らせ
ると好適である。The laser beam has a light emitting / receiving interval of 1 unit.
If the distance is 0 cm or more, the laser beam spreads beyond the convergence critical value of the laser beam, so that a detection error may occur. Therefore, when scanning and inspecting a large and rectangular electronic component S, the electronic component S is not scanned in the longitudinal direction (longitudinal direction) of the electronic component S, but is scanned while scanning the light in the longitudinal direction of the electronic component S. It is preferable to make light run in the lateral direction of S.
【0024】本発明は、前述した実施形態に限定される
ものではなく、例えば、光源として利用される投光部3
0は、レーザー光源に限定されず指向性の高いLEDで
あってもよい。また、検査対象となる端子Pは、ピン形
状のものに限らず、ボール形状のものであってもよい。The present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the light projecting unit 3 used as a light source
0 is not limited to the laser light source and may be an LED having high directivity. Further, the terminal P to be inspected is not limited to the pin-shaped terminal, but may be a ball-shaped terminal.
【0025】また、第1,第2及び第3の移動手段1
2,5,21は、前述したボールネジ機構に限定される
ものではなく、ベルト駆動機構、パルスモータやリニア
モータ等を利用したものであってもよい。すなわち、少
なくとも検査ステージ20が水平に保たれた状態や直線
移動を行える状態を維持するように、ガイドさせればよ
く、各移動手段の機構は前述したものに何ら限定される
ものではない。The first, second and third moving means 1
2, 5, and 21 are not limited to the ball screw mechanism described above, and may use a belt drive mechanism, a pulse motor, a linear motor, or the like. That is, the guide may be performed so as to maintain at least the state where the inspection stage 20 is kept horizontal or the state where the inspection stage 20 can perform linear movement, and the mechanism of each moving means is not limited to the above-described one.
【0026】[0026]
【発明の効果】本発明による端子整列検出方法は、吸着
ヘッドを吸着位置から搭載位置まで移動させる途中で、
吸着ヘッドの進退方向に対して直交する水平方向に、吸
着ヘッドの下方を通過するように検査ステージを移動さ
せ、検査ステージ上に載置させた投光部から、端子の整
列方向に対して平行な光を端子に向けて出射させ、この
光を、検査ステージ上に載置させた受光部に受光させ
て、端子の整列状態を検出することにより、電子部品の
高速実装化を促進させることができる。According to the terminal alignment detecting method of the present invention, while moving the suction head from the suction position to the mounting position,
The inspection stage is moved so that it passes below the suction head in the horizontal direction perpendicular to the direction in which the suction head moves, and the light emitting unit placed on the inspection stage is moved in parallel with the terminal alignment direction. The light is emitted toward the terminals, and the light is received by the light receiving unit placed on the inspection stage, and the alignment of the terminals is detected, thereby promoting high-speed mounting of electronic components. it can.
【0027】また、本発明による端子整列検出装置は、
電子部品を吸着する吸着ヘッドと、吸着ヘッドを水平方
向に進退させる第1の移動手段と、吸着ヘッドを上下方
向に移動させる第2の移動手段と、吸着ヘッドの進退方
向に対して直交する水平方向に移動する検査ステージ
と、検査ステージ上に載置され、吸着ヘッドによって吸
着させた電子部品の端子の整列方向に対して平行な光を
端子に向けて出射させる投光部と、投光部に対向して検
査ステージ上に載置させ、投光部からの光を受光する受
光部とを備えたことにより、電子部品の高速実装化を促
進させることができる。Further, the terminal alignment detecting device according to the present invention comprises:
A suction head for sucking the electronic component, a first moving means for moving the suction head in a horizontal direction, a second moving means for moving the suction head in a vertical direction, and a horizontal direction perpendicular to the moving direction of the suction head. An inspection stage that moves in the direction, a light-emitting unit that is mounted on the inspection stage, and emits, toward the terminals, light parallel to the alignment direction of the terminals of the electronic components sucked by the suction head, and a light-emitting unit. And a light receiving unit that receives the light from the light projecting unit and is mounted on the inspection stage in opposition to the electronic component, so that high-speed mounting of the electronic component can be promoted.
【図1】本発明に係る端子整列検出装置の一実施形態を
示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a terminal alignment detecting device according to the present invention.
【図2】図1に示した端子整列検出装置の正面図であ
る。FIG. 2 is a front view of the terminal alignment detecting device shown in FIG.
【図3】図1のIII−III線に沿う断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along the line III-III in FIG. 1;
【図4】本発明に係る端子整列検出装置の検査ステージ
の要部を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a main part of an inspection stage of the terminal alignment detecting device according to the present invention.
【図5】検査ステージの要部を示す正面図である。FIG. 5 is a front view showing a main part of the inspection stage.
1…端子整列検出装置、2…吸着ヘッド、5…第2のボ
ールネジ機構(第2の移動手段)、10…移動ベース、
11…基台、12…第1のボールネジ機構(第1の移動
手段)、20…検査ステージ、21…第3のボールネジ
機構(第3の移動手段)、30…投光部、31…受光
部、S…電子部品、P…端子。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Terminal alignment detection apparatus, 2 ... Suction head, 5 ... 2nd ball screw mechanism (2nd moving means), 10 ... Moving base,
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Base, 12 ... 1st ball screw mechanism (1st moving means), 20 ... Inspection stage, 21 ... 3rd ball screw mechanism (3rd moving means), 30 ... Light emitting part, 31 ... Light receiving part , S: electronic components, P: terminals.
Claims (3)
の端子の整列状態を検出する方法において、 前記吸着ヘッドを吸着位置から搭載位置まで移動させる
途中で、前記吸着ヘッドの進退方向に対して直交する水
平方向に、前記吸着ヘッドの下方を通過するように検査
ステージを移動させ、前記検査ステージ上に載置させた
投光部から、前記端子の整列方向に対して平行な光を前
記端子に向けて出射させ、この光を、前記検査ステージ
上に載置させた受光部に受光させて、前記端子の整列状
態を検出することを特徴とする端子整列検出方法。1. A method for detecting an alignment state of a terminal of an electronic component sucked by a suction head, wherein the suction head is orthogonal to a moving direction of the suction head while moving the suction head from a suction position to a mounting position. In the horizontal direction, the inspection stage is moved so as to pass below the suction head, and light parallel to the alignment direction of the terminals is directed from the light emitting unit mounted on the inspection stage to the terminals. And detecting the aligned state of the terminals by causing the light to be received by a light receiving unit mounted on the inspection stage.
置において、 前記電子部品を吸着する吸着ヘッドと、 前記吸着ヘッドを水平方向に進退させる第1の移動手段
と、 前記吸着ヘッドを上下方向に移動させる第2の移動手段
と、 前記吸着ヘッドの進退方向に対して直交する水平方向に
移動する検査ステージと、 前記検査ステージ上に載置され、前記吸着ヘッドによっ
て吸着させた前記電子部品の前記端子の整列方向に対し
て平行な光を前記端子に向けて出射させる投光部と、 前記投光部に対向して前記検査ステージ上に載置させ、
前記投光部からの光を受光する受光部とを備えたことを
特徴とする端子整列検出装置。2. An apparatus for detecting an alignment state of terminals of an electronic component, a suction head for sucking the electronic component, first moving means for moving the suction head in a horizontal direction, and moving the suction head in a vertical direction. A second moving means for moving the electronic component, a test stage moving in a horizontal direction perpendicular to the direction of movement of the suction head, and an electronic component mounted on the test stage and sucked by the suction head. A light projecting unit that emits light parallel to the direction in which the terminals are aligned toward the terminal, and placed on the inspection stage so as to face the light projecting unit;
A terminal alignment detecting device, comprising: a light receiving unit that receives light from the light emitting unit.
は、基台と前記基台上に配置させた移動ベースとの間を
連結させ、上下方向に延びる前記第2の移動手段は、前
記移動ベースと前記吸着ヘッドとの間を連結させ、前記
移動ベースと前記検査ステージとの間を、前記第1の移
動手段の延在方向に対して直交する方向に水平に延びる
第3の移動手段により連結させたことを特徴とする請求
項2記載の端子整列検出装置。3. The first moving means extending in the horizontal direction connects a base and a moving base arranged on the base, and the second moving means extending in the up-down direction comprises: A third moving unit that connects the moving base and the suction head, and extends horizontally between the moving base and the inspection stage in a direction orthogonal to an extending direction of the first moving unit; The terminal alignment detecting device according to claim 2, wherein the terminal alignment detecting device is connected by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11234151A JP2001060799A (en) | 1999-08-20 | 1999-08-20 | Terminal alignment detection method and device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11234151A JP2001060799A (en) | 1999-08-20 | 1999-08-20 | Terminal alignment detection method and device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001060799A true JP2001060799A (en) | 2001-03-06 |
Family
ID=16966458
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11234151A Pending JP2001060799A (en) | 1999-08-20 | 1999-08-20 | Terminal alignment detection method and device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001060799A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20150110887A (en) * | 2014-03-20 | 2015-10-05 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor inspecting apparatus and method of inspecting semiconductor device using the same |
| CN105592684A (en) * | 2014-11-11 | 2016-05-18 | Juki株式会社 | Electronic component mounting device |
-
1999
- 1999-08-20 JP JP11234151A patent/JP2001060799A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20150110887A (en) * | 2014-03-20 | 2015-10-05 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor inspecting apparatus and method of inspecting semiconductor device using the same |
| KR102153562B1 (en) * | 2014-03-20 | 2020-09-09 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor inspecting apparatus and method of inspecting semiconductor device using the same |
| CN105592684A (en) * | 2014-11-11 | 2016-05-18 | Juki株式会社 | Electronic component mounting device |
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