JP2001250250A - Optical pickup and tracking servo method - Google Patents
Optical pickup and tracking servo methodInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 メインビームとサブビームのプッシュプル信
号を用いたトラッキング誤差信号検出法において、光の
利用効率を低下させずに、対物レンズシフトやディスク
チルトにより発生するオフセットを、低コストでキャン
セルする方法を提供する。
【解決手段】 半導体レーザ1から出たレーザ光をコリ
メータレンズ2により平行光に変換し、グレーティング
3により、メインビーム30、サブビーム(+1次光)
31、サブビーム(−1次光)32に分割する。ビーム
スプリッタ4を通過した後、対物レンズ5により光ディ
スク6のトラック61上に集光させ、反射光を対物レン
ズ5を介してビームスプリッタ4で反射させ、集光レン
ズ7で、光検出器8(8A,8B,8C)に導く。
(57) [Problem] In a tracking error signal detection method using a push-pull signal of a main beam and a sub beam, an offset generated by an objective lens shift or a disc tilt can be reduced without lowering the light use efficiency. Provide a way to cancel at cost. SOLUTION: A laser beam emitted from a semiconductor laser 1 is converted into a parallel beam by a collimator lens 2, and a main beam 30 and a sub beam (+ 1st-order beam) are output by a grating 3.
31 and a sub-beam (-1st order light) 32. After passing through the beam splitter 4, the light is focused on the track 61 of the optical disc 6 by the objective lens 5, the reflected light is reflected by the beam splitter 4 via the objective lens 5, and the light is detected by the light detector 8 ( 8A, 8B, 8C).
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクや光カ
ード等の情報記録媒体に対して光学的に情報を記録再生
する光ピックアップに関するものである。また、トラッ
キング誤差信号に発生するオフセットを、容易にかつ低
コストで補正するトラッキングサーボ方法に関するもの
である。The present invention relates to an optical pickup for optically recording and reproducing information on an information recording medium such as an optical disk or an optical card. The present invention also relates to a tracking servo method for easily and inexpensively correcting an offset generated in a tracking error signal.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、光ディスクは多量の情報信号を高
密度で記録することができるため、オーディオ、ビデ
オ、コンピュータ等の多くの分野において利用が進めら
れている。特に最近は、動画情報などのように、コンピ
ュータ等で取り扱うデータ量が飛躍的に増大しており、
それに伴って、記録ピットやトラックピッチの縮小化に
よる光ディスクの大容量化が進んでいる。2. Description of the Related Art In recent years, optical discs are capable of recording a large amount of information signals at high density, and have been used in many fields such as audio, video, and computers. In particular, recently, the amount of data handled by computers and the like, such as video information, has increased dramatically.
Along with this, the capacity of optical disks has been increased by reducing recording pits and track pitches.
【0003】上記情報記録媒体においては、ミクロン単
位で記録された情報信号を再生するために、情報トラッ
クに対して光ビームを正確にトラッキングさせる必要が
ある。トラッキング誤差信号(TES)の検出方法とし
ては、種々の方法が知られているが、最も単純な方法と
して、プッシュプル法が知られている。In the above-mentioned information recording medium, it is necessary to accurately track a light beam with respect to an information track in order to reproduce an information signal recorded in units of microns. Various methods are known as a method for detecting a tracking error signal (TES), and the push-pull method is known as the simplest method.
【0004】以下に、プッシュプル法の検出原理と問題
点について説明する。対物レンズによる集光ビームが、
光ディスク上のトラック(またはピット)形成部分で反
射されると、反射光に回折パターンが現れる。[0004] The detection principle and problems of the push-pull method will be described below. The focused beam from the objective lens
When the light is reflected at a track (or pit) forming portion on the optical disk, a diffraction pattern appears in the reflected light.
【0005】この反射光のレンズ瞳面でのファーフィー
ルドパターンの強度分布の左右対称性を検出することに
より、トラッキング誤差信号を算出する方法をプッシュ
プル法という。A method of calculating the tracking error signal by detecting the left-right symmetry of the intensity distribution of the far field pattern of the reflected light on the lens pupil plane is called a push-pull method.
【0006】例えば図26に示す如く、半導体レーザ1
から出たレーザ光をコリメータレンズ2により平行光に
変換し、ビームスプリッタ4を通過した後、対物レンズ
5により記録媒体6のトラック61上に集光させて、反
射光を対物レンズ5を介してビームスプリッタ4で反射
させ、集光レンズ7でトラック方向に分割線を有する2
分割検出器11に導き、各分各部の信号を差動検出し
て、プッシュプル信号を得る。[0006] For example, as shown in FIG.
Is converted into parallel light by the collimator lens 2, passes through the beam splitter 4, and is condensed on the track 61 of the recording medium 6 by the objective lens 5, and reflected light passes through the objective lens 5. The light is reflected by the beam splitter 4 and has a dividing line in the track direction by the condenser lens 2.
The signal is guided to the division detector 11, and the signal of each section is differentially detected to obtain a push-pull signal.
【0007】ここで、図27に示すように、光ビームが
トラックの中央にある場合は、そのファーフィールドパ
ターンが左右同じ明るさとなるため、2分割光検出器の
差動信号は0となる(オントラック状態)。Here, as shown in FIG. 27, when the light beam is at the center of the track, the far field pattern has the same brightness on the left and right, and the differential signal of the two-segment photodetector becomes zero ( On-track state).
【0008】また、トラックの中心からずれると、その
量に従ってファーフィールドパターンの強度分布の左右
対称性が崩れるので、図27に示すようなプッシュプル
信号(トラッキング誤差信号)が得られる。[0008] When the track is deviated from the center of the track, the left-right symmetry of the intensity distribution of the far field pattern is destroyed in accordance with the amount thereof, so that a push-pull signal (tracking error signal) as shown in FIG. 27 is obtained.
【0009】ところが、図28(a)に示す如く、対物
レンズ5が移動した状態でトラッキングサーボを行う
と、2分割光検出器11上でのビームのファーフィール
ドパターンも移動するので、TESはオントラック状態
にもかかわらず、TESオフセットが発生する。However, as shown in FIG. 28A, when tracking servo is performed with the objective lens 5 moved, the far field pattern of the beam on the two-divided photodetector 11 also moves, so that TES is turned on. A TES offset occurs regardless of the track state.
【0010】また、図28(b)に示す如く、記録媒体
6が傾いた場合も同様に、2分割光検出器11上でビー
ムが移動するので、TESオフセットが発生する。Also, as shown in FIG. 28B, when the recording medium 6 is tilted, the beam moves on the two-segment photodetector 11, so that a TES offset occurs.
【0011】(従来例1)このオフセットをキャンセル
する方法として、複数ビームを用いた方法(差動プッシ
ュプル(DPP:Differential Push
Pull)法)が、特公平4−34212号公報に記
載されている。(Conventional Example 1) As a method of canceling this offset, a method using a plurality of beams (Differential Push Pull (DPP)) is used.
Pull) method) is described in Japanese Patent Publication No. 4-34212.
【0012】これについて、図29を用いて説明する。
光源1からの出射光をグレーティング3により3ビーム
に分割し、図30(a)に示すように、光ディスク6上
のトラックの接線方向にメインビーム30、サブビーム
の+1次光31、サブビームの−1次光32を配列させ
る。This will be described with reference to FIG.
The light emitted from the light source 1 is divided into three beams by the grating 3, and as shown in FIG. 30A, the main beam 30, the + first order light 31 of the sub beam, and the -1 of the sub beam in the tangential direction of the track on the optical disk 6. The next light 32 is arranged.
【0013】この時、それぞれのサブビーム31,32
はメインビーム30が集光するトラックに対して、1/
2トラックピッチだけ半径方向にずらして形成する。At this time, the respective sub beams 31 and 32
Is 1 / to the track where the main beam 30 converges.
It is formed shifted in the radial direction by two track pitches.
【0014】そして、図30(b)に示すように、メイ
ンビーム30、サブビーム31,32の反射光のファー
フィールドパターンをそれぞれトラック方向の分割線を
有する2分割光検出器8A,8B,8Cで受光する。Then, as shown in FIG. 30B, the far-field patterns of the reflected light of the main beam 30 and the sub-beams 31 and 32 are divided by two photodetectors 8A, 8B and 8C each having a dividing line in the track direction. Receive light.
【0015】また、各2分割光検出器8A,8B,8C
からの差信号すなわちプッシュプル信号PP30,PP
31,PP32を得る。図31に示すように、サブビー
ム(+1次光)31とサブビーム(−1次光)32のプ
ッシュプル信号PP31,PP32は、メインビーム3
0に対して1/2トラックピッチだけ半径方向にずれて
いるため、メインビーム30のプッシュプル信号P30
に対して、位相が180°ずれた(逆位相)信号とな
る。Each of the two split photodetectors 8A, 8B, 8C
, Ie, push-pull signals PP30, PP
31 and PP32. As shown in FIG. 31, the push-pull signals PP31 and PP32 of the sub beam (+1 order light) 31 and the sub beam (−1 order light) 32 are the main beam 3
0, the push-pull signal P30 of the main beam 30
Is 180 ° out of phase (opposite phase).
【0016】一方、図28で示した対物レンズシフトや
ディスクの傾きによるTESのオフセットに対しては同
相になる。従って、 PP=PP30−k(PP31+PP32) (1) の演算を行うことにより、上記オフセットをキャンセル
したプッシュプル信号を検出することができる。On the other hand, the phase of the TES caused by the shift of the objective lens and the tilt of the disk shown in FIG. Therefore, by performing the calculation of PP = PP30−k (PP31 + PP32) (1), the push-pull signal canceling the offset can be detected.
【0017】ここで、係数kは0次光30と+1次光3
1および−1次光32の光強度の違いを補正するための
もので、強度比が0次光:+1次光:−1次光=a:
b:bならば、係数k=a/(2b)である。Here, the coefficient k is 0th-order light 30 and + 1st-order light 3
This is for correcting the difference between the light intensities of the first and −1st order light 32, and the intensity ratio is 0th order light: + 1st order light: −1st order light = a:
b: If b, the coefficient k = a / (2b).
【0018】しかしながら、このDPP法は、サブビー
ムをメインビームに対してちょうど1/2トラックピッ
チだけディスクの半径方向にずらせて配置させる必要が
あるため、トラックピッチの異なる複数の種類の光ディ
スクを、1つの光ピックアップで再生する場合には問題
となる。However, in this DPP method, since it is necessary to dispose the sub beam with respect to the main beam by exactly 1/2 track pitch in the radial direction of the disc, a plurality of types of optical discs having different track pitches are used. This is a problem when reproducing with two optical pickups.
【0019】また、組立て調整時にグレーティングなど
を精度良く回転調整させなければならない。さらに、対
物レンズの移動位置が常に光ディスクの中心線上(半径
方向)になければならないという構成上の制約があり、
スイングアーム方式の光ピックアップには使用すること
ができないという欠点があった。Further, it is necessary to precisely rotate the grating or the like during assembly adjustment. Further, there is a structural restriction that the moving position of the objective lens must always be on the center line (radial direction) of the optical disk.
There is a disadvantage that it cannot be used for a swing arm type optical pickup.
【0020】(従来例2)これを解決する手段として、
特開平9−81942号公報には、オフセットの発生が
小さく、検出感度のトラック間隔に対する依存性が小さ
いトラッキング誤差検出方法が提案されている。(Conventional Example 2) As means for solving this,
Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-81942 proposes a tracking error detection method in which the occurrence of offset is small and the dependency of detection sensitivity on the track interval is small.
【0021】図32を用いてこの方法を説明する。レー
ザダイオード1から出射された光をグレーティング3で
3ビームに分割して対物レンズ5で集光させる点は、上
記従来例1のものと同じであるが、グレーティング3の
溝部の構造が上記のものとは異なる。This method will be described with reference to FIG. The point that the light emitted from the laser diode 1 is split into three beams by the grating 3 and condensed by the objective lens 5 is the same as that of the above-described conventional example 1, but the groove structure of the grating 3 is And different.
【0022】グレーティング3の溝部は、図33に示す
ように、トラック方向(y方向)の分割線により分割さ
れたラジアル方向の2つの領域3a,3bにおいて、周
期構造の位相差が180°異なっている。As shown in FIG. 33, the groove of the grating 3 has a phase difference of 180 ° in the periodic structure in two regions 3a and 3b in the radial direction divided by the dividing line in the track direction (y direction). I have.
【0023】これにより、溝部によって回折されたサブ
ビーム31および32において、トラック方向の分割線
で分割された2つの半円領域で180°の位相差が発生
する。このビームを対物レンズ5により光ディスク6上
に集光したスポットは、図34に示すように、2つの楕
円状サブスポットから構成される形状となる。As a result, in the sub beams 31 and 32 diffracted by the grooves, a phase difference of 180 ° occurs in the two semicircular regions divided by the dividing line in the track direction. The spot where this beam is focused on the optical disk 6 by the objective lens 5 has a shape composed of two elliptical sub-spots as shown in FIG.
【0024】このサブビーム31,32のプッシュプル
信号PP310は、図35に示すように、位相差を加え
ない場合のビーム(メインビームに相当)のプッシュプ
ル信号P30に比べて、位相差が180°異なる。As shown in FIG. 35, the push-pull signal PP310 of the sub-beams 31 and 32 has a phase difference of 180 ° compared to the push-pull signal P30 of the beam (corresponding to the main beam) when no phase difference is added. different.
【0025】そこで、図34に示すように、サブビーム
31,32をメインビーム30と同じトラック上に配置
しても、各ビームのプッシュプル信号は、図31ととも
に上述した従来例1のものと同様、メインビームのプッ
シュプル信号PP30に対して、サブビームのプッシュ
プル信号PP31,PP32の位相差は180°ずれた
信号となる。Therefore, as shown in FIG. 34, even if the sub beams 31 and 32 are arranged on the same track as the main beam 30, the push-pull signal of each beam is similar to that of the prior art 1 described above with reference to FIG. The phase difference between the sub-beam push-pull signals PP31 and PP32 is shifted by 180 ° with respect to the main beam push-pull signal PP30.
【0026】よって、上記従来例1のように、サブビー
ムをメインビームに対して1/2ピッチずらせて配置し
なくても、DPP信号を検出することができる。これに
より、トラックピッチの異なる複数の種類の光ディスク
を、1つの光ピックアップで再生することが可能にな
る。Therefore, the DPP signal can be detected without disposing the sub-beams by a half pitch with respect to the main beam as in the first conventional example. Thus, a plurality of types of optical disks having different track pitches can be reproduced by one optical pickup.
【0027】しかしながら、この従来例2においても、
同一トラックにサブビームが配置するように微調整する
必要があり、調整の簡素化には適さないという問題点が
ある。However, in the second conventional example,
It is necessary to make fine adjustments so that the sub-beams are arranged on the same track, which is not suitable for simplifying the adjustment.
【0028】(従来例3)さらに別の従来例として、特
開平10−162383号公報には、プッシュプルオフ
セットを低コストでキャンセルすることができる光ディ
スクの記録再生方法が提案されている。(Conventional Example 3) As another conventional example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-162383 proposes a recording / reproducing method for an optical disk capable of canceling a push-pull offset at low cost.
【0029】図36を用いてこの方法を説明する。レー
ザダイオード1から出射された光をグレーティング3で
3ビームに分割し対物レンズ5で集光させる点は、上記
従来例1,2のものと同じであるが、グレーティング3
の溝部を有効光束の中央部にのみ形成する点で上記のも
のとは異なる。This method will be described with reference to FIG. The point that the light emitted from the laser diode 1 is divided into three beams by the grating 3 and condensed by the objective lens 5 is the same as that of the prior art examples 1 and 2;
Is different from the above in that the groove is formed only at the center of the effective light beam.
【0030】グレーティング3の溝部は、図37に示す
ように、基板の中央部にのみ形成されているため、溝部
による+1次および−1次回折光のビーム径は有効光束
径(対物レンズの開口径)に比べて小さくなる。Since the groove of the grating 3 is formed only at the center of the substrate as shown in FIG. 37, the beam diameter of the + 1st-order and -1st-order diffracted light by the groove is the effective light beam diameter (the aperture diameter of the objective lens). ).
【0031】すなわち、回折された光に対する対物レン
ズの開口数が実質小さくなったことになる。グレーティ
ング3の0次光(メインビーム)は、対物レンズの開口
よりも大きく設定されているので、ディスク6上には対
物レンズの開口数で決まる回折限界のビームスポットが
形成される。That is, the numerical aperture of the objective lens for the diffracted light is substantially reduced. Since the zero-order light (main beam) of the grating 3 is set to be larger than the aperture of the objective lens, a diffraction-limited beam spot determined by the numerical aperture of the objective lens is formed on the disk 6.
【0032】メインビーム30としてトラックピッチに
対し適正な大きさのビームスポットが形成されるような
光学系を用いている場合、図38に示すように、サブビ
ーム31,32はトラックピッチに対して大きなビーム
スポットが形成される。When an optical system that forms a beam spot having an appropriate size with respect to the track pitch is used as the main beam 30, the sub beams 31 and 32 are large with respect to the track pitch as shown in FIG. A beam spot is formed.
【0033】半径方向の開口率によって定まる光学カッ
トオフ周波数がトラックピッチの空間周波数よりも大き
くなるように、グレーティング3の溝部の半径を決める
ことにより、サブビームの+1次および−1次光からは
トラッキング誤差信号(プッシュプル信号)を得ること
ができなくなる。By determining the radius of the groove of the grating 3 so that the optical cutoff frequency determined by the aperture ratio in the radial direction becomes higher than the spatial frequency of the track pitch, tracking from the + 1st order and -1st order light of the sub beam is performed. An error signal (push-pull signal) cannot be obtained.
【0034】しかし、対物レンズシフトなどによるオフ
セット信号は得られるため、上述の(1)式の演算によ
り、同様にオフセットキャンセルは可能になる。However, since an offset signal due to an objective lens shift or the like can be obtained, the offset can be similarly canceled by the calculation of the above equation (1).
【0035】これによれば、トラック横断による変調信
号が出ないため、サブビームをメインビームに対してち
ょうど1/2トラックピッチだけディスクの半径方向に
ずらせて配置させる必要がなく、また対物レンズの移動
位置が常に光ディスクの中心線上(半径方向)に設定す
る必要がなくなる。According to this, since no modulation signal is generated due to track traversal, it is not necessary to displace the sub beam with respect to the main beam by exactly 1/2 track pitch in the radial direction of the disk, and to move the objective lens. There is no need to always set the position on the center line (radial direction) of the optical disk.
【0036】[0036]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たグレーティングを用いた場合、0次光を含むメインビ
ームの光強度は、グレーティングの溝部では平坦部に対
して回折効率の分だけ減ってしまうため、グレーティン
グ外周部の平坦部の光強度が相対的に強くなる。However, when the above-described grating is used, the light intensity of the main beam including the zero-order light is reduced by the diffraction efficiency with respect to the flat portion in the groove portion of the grating. The light intensity of the flat portion on the outer periphery of the grating becomes relatively strong.
【0037】また、0次光の位相に関しても、溝部では
平坦部に対して光学的位相差が発生する。これによっ
て、メインビームのディスク上での集光ビーム形状が変
化し、記録再生特性が劣化する。Also, regarding the phase of the zero-order light, an optical phase difference is generated in the groove portion with respect to the flat portion. As a result, the shape of the condensed beam of the main beam on the disc changes, and the recording / reproducing characteristics deteriorate.
【0038】これを補正する方法として、平坦部にも中
央部とは回折方向の異なる回折格子を設け、0次光の強
度分布や位相差を均一にする方法も提案されているが、
その部分の回折光は利用しない(0次光のみ用いる)た
め、光が無駄になる。As a method of correcting this, a method has been proposed in which a diffraction grating having a diffraction direction different from that of the central portion is provided in the flat portion to make the intensity distribution and phase difference of the zero-order light uniform.
Since the diffracted light at that portion is not used (only the zero-order light is used), light is wasted.
【0039】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、光の利用効率を低下させずに、プッシュプル法
を利用したTESのオフセットを低コストでキャンセル
する方法を提供するものである。しかも、組立て調整を
大幅に簡略化することができ、異なるトラックピッチの
ディスクに対しても適応することが可能な光ピックアッ
プを提供するものである。The present invention has been made in view of the above problems, and provides a method of canceling a TES offset using a push-pull method at a low cost without lowering light use efficiency. . Moreover, the present invention provides an optical pickup that can greatly simplify the assembly adjustment and can be applied to disks having different track pitches.
【0040】[0040]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では以下の構成を有する。In order to achieve the above object, the present invention has the following arrangement.
【0041】本願の第1の発明は、少なくとも2つ以上
の光ビームを、対物レンズにより光ディスクに集光し、
その反射光をそれぞれ実質的にトラック方向の分割線で
分割して2分割検出器で受光し、各2分割検出器の差信
号すなわち各ビームのプッシュプル信号からトラッキン
グ誤差信号を生成する光ピックアップであって、一方の
光ビームにおいてプッシュプル信号の振幅がほぼ0にな
るように、光ビームの一部分に位相差を与えることを特
徴とする。According to a first aspect of the present invention, at least two or more light beams are focused on an optical disk by an objective lens.
The reflected light is substantially divided by a dividing line in the track direction and received by a two-divided detector, and an optical pickup that generates a tracking error signal from a difference signal of each two-divided detector, that is, a push-pull signal of each beam. A phase difference is given to a part of the light beam so that the amplitude of the push-pull signal becomes substantially zero in one light beam.
【0042】本願の第2の発明は、上記位相差を与える
光ビームのプッシュプル信号を用いて、もう一方の光ビ
ームのプッシュプル信号のオフセットを補正することを
特徴とする。The second invention of the present application is characterized in that the offset of the push-pull signal of the other light beam is corrected using the push-pull signal of the light beam giving the phase difference.
【0043】本願の第3の発明は、上記位相差を与える
光ビームにおいて、光ビーム中のプッシュプル信号に関
与する領域をAとし、位相差を与える領域をBとした場
合、領域Bの位相差と、領域Bとビームの中心を原点と
して対称な位置にある領域Cの位相差との和が180°
の整数倍であり、さらに領域Bと領域Cとの面積の和が
領域A全体の面積の略半分であることを特徴とする。According to a third aspect of the present invention, in the light beam giving the phase difference, when a region related to the push-pull signal in the light beam is A and a region giving the phase difference is B, the position of the region B The sum of the phase difference and the phase difference between the region B and the region C symmetrically positioned with respect to the origin of the beam center is 180 °.
, And the sum of the areas of the region B and the region C is substantially half of the area of the entire region A.
【0044】本願の第4の発明は、上記位相差を与える
光ビームにおいて、光ビームの中心を原点として、光デ
ィスクのラジアル方向をx方向、トラック方向をy方向
とすると、4象限のうちの1つの象限にのみ、略180
°の位相差を与えることを特徴とする。According to a fourth aspect of the present invention, in the light beam giving the phase difference, when the radial direction of the optical disk is the x direction and the track direction is the y direction with the center of the light beam as the origin, one of the four quadrants is obtained. Approximately 180 in one quadrant only
It is characterized by giving a phase difference of °.
【0045】本願の第5の発明は、上記位相差を与える
光ビームにおいて、光ビームの中心を原点として、光デ
ィスクのラジアル方向をx方向、トラック方向をy方向
とすると、4象限のうち第1象限と第3象限、または第
2象限と第4象限にのみ、略90°の位相差を与えるこ
とを特徴とする。According to a fifth aspect of the present invention, in the light beam giving the phase difference, when the radial direction of the optical disk is the x direction and the track direction is the y direction with the center of the light beam as the origin, the first of the four quadrants A phase difference of approximately 90 ° is provided only in the quadrant and the third quadrant, or only in the second quadrant and the fourth quadrant.
【0046】本願の第6の発明は、上記位相差を与える
光ビームにおいて、中心を通り光ディスクのラジアル方
向の分割線で分割された半円領域のうちプッシュプル信
号に関与する領域をDとし、位相差を与える領域をEと
した場合、領域Eの位相差と、領域Eとトラック方向の
中心線に対して対称な位置にある領域Fの位相差との和
が180°の整数倍であり、かつ領域Eと領域Fとの面
積の和が領域D全体の略半分であり、この半円領域のみ
を用いてプッシュプル信号を検出することを特徴とす
る。According to a sixth aspect of the present invention, in the light beam giving the phase difference, an area related to the push-pull signal in a semicircular area passing through the center and divided by a radial dividing line of the optical disk is defined as D, Assuming that the region providing the phase difference is E, the sum of the phase difference of the region E and the phase difference of the region E and the region F located symmetrically with respect to the center line in the track direction is an integral multiple of 180 °. In addition, the sum of the areas of the region E and the region F is substantially half of the entire region D, and the push-pull signal is detected using only this semicircular region.
【0047】本願の第7の発明は、上記プッシュプル信
号を検出する半円領域のうち、円周方向に略20°の扇
形領域に、180°の位相差を与えることを特徴とす
る。The seventh invention of the present application is characterized in that a phase difference of 180 ° is given to a sector of approximately 20 ° in the circumferential direction in the semicircular region for detecting the push-pull signal.
【0048】本願の第8の発明は、上記プッシュプル信
号を検出する半円領域のうち、片側の1/4円の中で、
トラック方向の幅がほぼ一定であるような略長方形領域
に、180°の位相差を与えることを特徴とする。According to an eighth aspect of the present invention, in the semicircular area for detecting the push-pull signal, one-fourth of the semicircular area includes:
It is characterized in that a phase difference of 180 ° is given to a substantially rectangular area whose width in the track direction is almost constant.
【0049】本願の第9の発明は、回折格子により光ビ
ームを0次光と、+1次光または−1次光との少なくと
も2つ以上の光ビームに分離するとともに、位相差を与
える部分の回折格子の周期構造を他の部分に比べてずら
して形成し、0次以外の回折光にのみ、位相差を付加す
ることを特徴とする。According to a ninth aspect of the present invention, a diffraction grating separates a light beam into at least two light beams of a 0th-order light, a + 1st-order light or a -1st-order light, and a part for giving a phase difference. The periodic structure of the diffraction grating is formed so as to be shifted from the other portions, and a phase difference is added only to the diffracted light other than the zero-order.
【0050】本願の第10の発明は、上記回折格子の中
で光ディスクのラジアル方向の幅がほぼ一定であるよう
な略長方形領域に、180°の位相差を与えることを特
徴とする。The tenth invention of the present application is characterized in that a phase difference of 180 ° is given to a substantially rectangular area in the diffraction grating where the radial width of the optical disk is almost constant.
【0051】本願の第11の発明は、上記回折格子の中
で実質的に+1次光のみに影響を与える領域と、−1次
光にのみ影響を与える領域とに、180°の位相差を与
えることを特徴とする。According to an eleventh aspect of the present invention, a phase difference of 180 ° is provided between a region in the diffraction grating substantially affecting only the + 1st order light and a region substantially affecting only the −1st order light. It is characterized by giving.
【0052】本願の第12の発明は、集積化ホログラム
レーザユニットを搭載していることを特徴とする。The twelfth invention of the present application is characterized in that an integrated hologram laser unit is mounted.
【0053】本願の第13の発明は、少なくとも2つ以
上の光ビームを対物レンズにより、情報記録媒体に集光
し、その反射光のうち少なくとも一方の光ビームについ
て実質的にトラック方向の分割線で分割して2分割検出
器で受光し、各2分割検出器の差信号すなわちプッシュ
プル信号を検出する光ピックアップであって、前記一方
の光ビームにおいてプッシュプル信号の振幅がほぼ0に
なるように、光ビームの一部分に位相差を与えるととも
に、前記差信号を対物レンズの位置検出信号に用いるこ
とを特徴とする。According to a thirteenth aspect of the present invention, at least two or more light beams are converged on an information recording medium by an objective lens, and at least one of the reflected light beams is substantially divided in a track direction. An optical pickup that receives light with a two-split detector and detects a difference signal between the two-split detectors, ie, a push-pull signal, wherein the amplitude of the push-pull signal in the one light beam is substantially zero. Preferably, a phase difference is given to a part of the light beam, and the difference signal is used as a position detection signal of the objective lens.
【0054】本願の第14の発明は、異なる規格の光デ
ィスク即ち異なるプッシュプルパターンが発生する光デ
ィスクに対して、サブビームのプッシュプル信号の振幅
がほぼ0になるように、サブビームの一部分に位相差を
与えることを特徴とする。According to a fourteenth aspect of the present invention, a phase difference is provided to a part of a sub-beam so that the amplitude of the push-pull signal of the sub-beam becomes almost zero for an optical disc of a different standard, ie, an optical disc in which a different push-pull pattern is generated. It is characterized by giving.
【0055】本願の第15の発明は、記録または再生を
行うメインビームと、少なくとも1つ以上のサブビーム
とを、対物レンズにより情報記録媒体に集光し、その反
射光をそれぞれ実質的にトラック方向の分割線で分割し
て2分割検出器で受光し、各2分割検出器の差信号すな
わち各ビームのプッシュプル信号を用いてトラッキング
を行うトラッキングサーボ方法であって、サブビームの
プッシュプル信号の振幅がほぼ0になるように、サブビ
ームの一部分に位相差を与えるるとともに、この差信号
を用いて、メインビームのトラッキング誤差信号のオフ
セットを補正することを特徴とする。According to a fifteenth aspect of the present invention, a main beam for recording or reproduction and at least one or more sub-beams are condensed on an information recording medium by an objective lens, and the reflected light is substantially in the track direction. A tracking servo method for performing tracking using a difference signal of each two-divided detector, that is, a push-pull signal of each beam, wherein the light is received by a two-divided detector and the amplitude of the push-pull signal of the sub-beam , A phase difference is given to a part of the sub beam so that the offset of the tracking error signal of the main beam is corrected using the difference signal.
【0056】[0056]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を用いて詳細に説明するが、上述した従来例と
同一部分には同一符号を付し、その説明は省略する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The same parts as those in the above-described conventional example are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
【0057】(第1の実施の形態)本発明の第1の実施
の形態について、図1乃至図8を用いて詳細に説明す
る。(First Embodiment) A first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.
【0058】例えば図1に示す如く、半導体レーザ1か
ら出たレーザ光をコリメータレンズ2により平行光に変
換し、グレーティング3によってメインビーム30、サ
ブビーム(+1次光)31、サブビーム(−1次光)3
2に分割する。For example, as shown in FIG. 1, a laser beam emitted from a semiconductor laser 1 is converted into a parallel beam by a collimator lens 2, and a main beam 30, a sub beam (+1 order beam) 31, and a sub beam (−1 order beam) are converted by a grating 3. ) 3
Divide into two.
【0059】ビームスプリッタ4を通過した後、対物レ
ンズ5により光ディスク6のトラック61上に集光さ
せ、反射光を対物レンズ5を介してビームスプリッタ4
で反射させ、集光レンズ7で光検出器8(8A,8B,
8C)に導く。After passing through the beam splitter 4, the light is focused on the track 61 of the optical disk 6 by the objective lens 5, and the reflected light is passed through the objective lens 5.
And the photodetector 8 (8A, 8B,
8C).
【0060】メインビーム30、サブビーム31,32
の反射光のファーフィールドパターンは、それぞれトラ
ック方向に相当する分割線を有する2分割光検出器8
A,8B,8Cで受光される。そして、各2分割光検出
器8A,8B,8Cからの差信号すなわちプッシュプル
信号PP30,PP31,PP32を得る。The main beam 30, the sub beams 31, 32
The two-part photodetector 8 has a far-field pattern of the reflected light of FIG.
Light is received at A, 8B and 8C. Then, difference signals from the two split photodetectors 8A, 8B, 8C, that is, push-pull signals PP30, PP31, PP32 are obtained.
【0061】ここで、本実施形態においては、グレーテ
ィング3の溝部の構造に特徴を有する。光ディスク6の
半径方向に相当する方向(以下、「ラジアル方向」とす
る)をx方向、それに直交するタンジェンシャル方向す
なわちトラックの長さ方向(以下、「トラック方向」と
する)をy方向とすると、グレーティング3の溝部は、
図1(b)に示すように、例えばx−y平面の第1象限
のみが他の領域に比べて、周期構造の位相差が180°
異なっている。Here, the present embodiment is characterized by the structure of the groove of the grating 3. A direction corresponding to the radial direction of the optical disk 6 (hereinafter, referred to as a “radial direction”) is defined as an x direction, and a tangential direction orthogonal thereto, that is, a track length direction (hereinafter, referred to as a “track direction”) is defined as a y direction. , The groove of grating 3
As shown in FIG. 1B, for example, only in the first quadrant on the xy plane, the phase difference of the periodic structure is 180 ° compared to other regions.
Is different.
【0062】これにより、溝部によって回折されたサブ
ビーム31,32においては、第1象限の部分だけ18
0°の位相差が発生する。As a result, in the sub beams 31 and 32 diffracted by the grooves, only the portion in the first quadrant is 18
A phase difference of 0 ° occurs.
【0063】このビームを対物レンズ5により光ディス
ク6上に集光したスポットは、図2(a)に示すような
形状になる。図2(a)は光ディスク上の3つのビーム
の平面図、図2(b)はサブビーム31をx−y軸に4
5°方向のx’−y’軸で切断した断面図である。The spot where this beam is condensed on the optical disk 6 by the objective lens 5 has a shape as shown in FIG. FIG. 2A is a plan view of three beams on the optical disk, and FIG.
It is sectional drawing cut | disconnected by the x'-y 'axis | shaft of 5 degree direction.
【0064】このとき、サブビーム31,32を用いた
プッシュプル信号PP31,PP32は、図3に示すよ
うに、位相差が加わらないメインビームのプッシュプル
信号PP30に比べて、振幅がほぼ0になる。At this time, as shown in FIG. 3, the amplitude of the push-pull signals PP31 and PP32 using the sub-beams 31 and 32 is substantially zero as compared with the push-pull signal PP30 of the main beam to which no phase difference is applied. .
【0065】これは、トラックの位置に関係なく、プッ
シュプル信号が検出されないので、図2(a)に示すよ
うに、サブビーム31,32をメインビーム30と同じ
トラック上に配置しても、また異なるトラック上に配置
してもほぼ同じ信号になる。Since the push-pull signal is not detected irrespective of the track position, as shown in FIG. 2A, even if the sub beams 31 and 32 are arranged on the same track as the main beam 30, Even if they are arranged on different tracks, the signals become almost the same.
【0066】一方、図28(a),(b)で示した対物
レンズシフトやディスクの傾きによるTESのオフセッ
トに対しては、図4に示すように、PP30とPP31
(PP32)はそれぞれ光量に応じてΔpおよびΔp’
だけ同じ側(同相)にオフセットが発生する。On the other hand, with respect to the TES offset due to the objective lens shift and the disc tilt shown in FIGS. 28A and 28B, PP30 and PP31 are used as shown in FIG.
(PP32) is Δp and Δp 'according to the light amount, respectively.
The offset occurs only on the same side (in-phase).
【0067】ゆえに、 PP3=PP30−k(PP31+PP32) の演算を行うことにより、上記オフセットをキャンセル
したプッシュプル信号PP3を検出することができる。Therefore, by performing the calculation of PP3 = PP30-k (PP31 + PP32), the push-pull signal PP3 canceling the offset can be detected.
【0068】ここで、係数kは0次光30と+1次光3
1および−1次光32の光強度の違いを補正するための
もので、強度比が0次光:+1次光:−1次光=a:
b:bならば、係数k=a/(2b)である。Here, the coefficient k is 0th-order light 30 and + 1st-order light 3
This is for correcting the difference between the light intensities of the first and −1st order light 32, and the intensity ratio is 0th order light: + 1st order light: −1st order light = a:
b: If b, the coefficient k = a / (2b).
【0069】本実施形態の場合、各サブビームのプッシ
ュプル信号振幅がほぼ0であるため、PP31及びPP
32の2つの信号を用いて演算する必要はなく、PP3
1またはPP32のどちらかのみを用いて、 PP3=PP30−2k(PP31) または、 PP3=PP30−2k(PP32) の演算によって、上記オフセットをキャンセルしたプッ
シュプル信号PP3を検出することもできる。In the case of the present embodiment, since the amplitude of the push-pull signal of each sub-beam is almost 0, PP31 and PP
It is not necessary to calculate using two signals of 32, PP3
The push-pull signal PP3 canceling the offset can be detected by the calculation of PP3 = PP30-2k (PP31) or PP3 = PP30-2k (PP32) using only either 1 or PP32.
【0070】また、各サブビームのプッシュプル信号P
P31またはPP32は、対物レンズのラジアル方向の
位置検出信号として利用することもできる。The push-pull signal P of each sub-beam
P31 or PP32 can also be used as a radial position detection signal of the objective lens.
【0071】ここで、サブビームのプッシュプル信号が
発生しない(振幅0)原理について説明する。Here, the principle that the push-pull signal of the sub-beam is not generated (amplitude 0) will be described.
【0072】図5に示すように、対物レンズにより周期
構造をもつトラック61に集光された光ビーム(サブビ
ーム31)は、0次回折光310と±1次回折光31
1,312に分かれて反射され、その重なり合う領域n
1,n2で互いに干渉して対物レンズ瞳上で回折パター
ン(プッシュプルパターン)を生じる。As shown in FIG. 5, the light beam (sub-beam 31) condensed on the track 61 having the periodic structure by the objective lens is composed of the 0th-order diffracted light 310 and the ± 1st-order diffracted light 31.
1, 312, which is reflected and overlaps the overlapping area n
1 and n2 interfere with each other to generate a diffraction pattern (push-pull pattern) on the objective lens pupil.
【0073】図6は対物レンズに入射するビームを示し
たもので、図1(b)のグレーティング3を用いた場合
には、第1象限の領域のみ入射光に180°の位相差
(位相進み)が発生する。FIG. 6 shows a beam incident on the objective lens. When the grating 3 shown in FIG. 1B is used, the phase difference (phase lead) of the incident light is 180 ° only in the first quadrant. ) Occurs.
【0074】図7は反射光(回折光)の対物レンズ瞳上
のビームパターンを2分割検出器8B上に投影したもの
であるが、回折光(反射光)は、第3象限において0次
光310が180°の位相進みを持ち(網目領域)、第
4象限において回折光311が180°の位相進みを持
つ(斜線領域)ようになる。FIG. 7 shows a beam pattern of reflected light (diffracted light) on the objective lens pupil projected onto the two-segment detector 8B. The diffracted light (reflected light) is a zero-order light in the third quadrant. 310 has a phase lead of 180 ° (mesh region), and the diffracted light 311 has a phase lead of 180 ° (hatched region) in the fourth quadrant.
【0075】ここで、仮にトラック方向の分割線mで分
割された2分割検出器8Bにラジアル方向の分割線nを
仮想的に考え、第1象限〜第4象限の検出領域をそれぞ
れ8B−a,8B−b,8B−c,8B−d、各領域の
出力をIa,Ib,Ic,Idとする。Here, it is assumed that a radial dividing line n is virtually assumed in the two-divided detector 8B divided by the track dividing line m, and the detection areas in the first to fourth quadrants are respectively 8Ba-a. , 8B-b, 8B-c, and 8B-d, and the outputs of the respective regions are Ia, Ib, Ic, and Id.
【0076】一般的に溝ディスクからの反射光(回折パ
ターン)は、次のように表すことができる。In general, the reflected light (diffraction pattern) from the groove disk can be expressed as follows.
【0077】 (0次光の複素振幅) A0=E0・exp(2πi) (2) (+1次光の複素振幅) A1=E1・exp{(ψ1+2πvt/vp)i} (3) (−1次光の複素振幅) A-1=E1・exp{(ψ1−2πvt/vp)i} (4) ここで、E0,E1,E-1はそれぞれ0次,1次,−1次
光の振幅、ψ1は0次と±1次光の位相差(溝深さに関
係するもの)、vtはトラック溝中心からの変位量、vp
vpはトラック溝のピッチ、である。(Complex amplitude of zero-order light) A 0 = E 0 · exp (2πi) (2) (Complex amplitude of + first-order light) A 1 = E 1 · exp {(ψ 1 + 2πv t / v p ) i } (3) (complex amplitude of −1st order light) A −1 = E 1 · exp {(ψ 1 -2πv t / v p ) i} (4) where E 0 , E 1 , E −1 are each zero-order, first-order, the amplitude of -1-order light, [psi 1 is the phase difference of the zero-order and ± 1-order light (those relating to groove depth), v t is the amount of displacement of the track groove center, vp
v p is the pitch of the track groove.
【0078】通常プッシュプル信号は、図7の検出器の
{(8B−a)+(8B−b)}と{(8B−c)+
(8B−d)}の出力(Ia+Ib)と(Ic+Id)
の差より算出する。Normally, the push-pull signal is obtained by the detectors {(8B-a) + (8B-b)} and {(8B-c) +
(8B-d)} output (Ia + Ib) and (Ic + Id)
Calculated from the difference between
【0079】各信号は、 IR=(Ia+Ib) =S0|E0・exp(2πi)|2+S1|E0・exp(2πi)+E1・e xp{(ψ1+2πvt/vp)i}|2 =E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1+2πvt/vp ) (5) IL=(Ic+Id) =S0|E0・exp(2πi)|2+S1|E0・exp(2πi)+E1・e xp{(ψ1−2πvt/vp)i}|2 =E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1−2πvt/vp) (6) となる。Each signal is expressed as follows: I R = (Ia + Ib) = S 0 | E 0 · exp (2πi) | 2 + S 1 | E 0 · exp (2πi) + E 1 · exp {(ψ 1 + 2πv t / v p ) i} | 2 = E 0 2 (S 0 + S 1) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos (ψ 1 + 2πv t / v p) (5) I L = (Ic + Id) = S 0 | E 0 · exp (2πi) | 2 + S 1 | E 0 · exp (2πi) + E 1 · e xp {(ψ 1 -2πv t / v p) i} | 2 = E 0 2 (S 0 + S 1) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos (ψ 1 -2πv t / v p ) (6)
【0080】ここで、S0は第1象限及び第4象限にお
いて、±1次光がなく0次光のみ存在する領域の面積
(第3象限及び第2象限においても同じ)であり、S1
は第1象限及び第4象限において、0次光と±1次光が
重なり合う部分の面積(第3象限及び第2象限において
も同じ)である。Here, S 0 is the area of a region where there is no ± first-order light and only zero-order light exists in the first and fourth quadrants (the same applies to the third and second quadrants), and S 1
Is the area of the portion where the zero-order light and the ± first-order light overlap in the first quadrant and the fourth quadrant (the same applies to the third quadrant and the second quadrant).
【0081】これより、プッシュプル信号PP31は、 PP31=IR−IL =4S1E0E1・sinψ1・sin(2πvt/vp) ( 7) となる。[0081] than this, the push-pull signal PP31 is, PP31 = I R -I L = 4S 1 E 0 E 1 · sinψ 1 · sin (2πv t / v p) and made (7).
【0082】次に、本実施形態のように、入射ビームの
一部に位相差を加えた場合のプッシュプル信号について
説明する。Next, the push-pull signal when a phase difference is added to a part of the incident beam as in the present embodiment will be described.
【0083】反射ビーム(回折パターン)の0次光に加
わる位相差を、θ1(図7の第4象限)、θ-1(図7の
第3象限)、反射ビーム(回折パターン)の1次光のう
ち0次光と干渉する部分に加わる位相差をδ1(図7の
第4象限)、反射ビーム(回折パターン)の−1次光の
うち0次光と干渉する部分に加わる位相差をδ-1(図7
の第3象限)とすると、各象限の光の複素振幅は、上記
(2)〜(4)式より、以下のようになる。The phase difference added to the zero-order light of the reflected beam (diffraction pattern) is represented by θ 1 (fourth quadrant in FIG. 7), θ −1 (third quadrant in FIG. 7), and 1 of the reflected beam (diffraction pattern). Δ 1 (fourth quadrant in FIG. 7) is a phase difference applied to a portion of the secondary light that interferes with the zero-order light. The phase difference is δ −1 (FIG. 7)
(The third quadrant), the complex amplitude of light in each quadrant is as follows from the above equations (2) to (4).
【0084】 (0次光の複素振幅:第1象限及び第4象限) A0=E0・exp{(2π+θ1)i} (8) (0次光の複素振幅:第3象限及び第2象限) A0=E0・exp{(2π+θ-1)i} (9) (+1次光の複素振幅:第1象限及び第4象限) A1=E1・exp{(ψ1+2πvt/vp+δ1)i} (10) (−1次光の複素振幅:第3象限及び第2象限) A-1=E1・exp{(ψ1−2πvt/vp+δ-1)i} (11) 図7に示すように、第4象限と第3象限のみに位相差が
加わった場合のプッシュプル信号PPbcを求める。(Complex amplitude of zero-order light: first quadrant and fourth quadrant) A 0 = E 0 · exp {(2π + θ 1 ) i} (8) (Complex amplitude of zero-order light: third quadrant and second quadrant) (Quadrant) A 0 = E 0 · exp {(2π + θ −1 ) i} (9) (complex amplitude of + 1st-order light: first and fourth quadrants) A 1 = E 1 · expex ({ 1 + 2πv t / v p + δ 1 ) i} (10) (complex amplitude of -1st order light: third quadrant and second quadrant) A −1 = E 1 · exp {(ψ 1 −2πv t / v p + δ −1 ) i (11) As shown in FIG. 7, the push-pull signal PPbc when the phase difference is applied only to the fourth and third quadrants is obtained.
【0085】検出器8B−bと8B−cの出力IbとI
cは、上記(8)〜(11)式を用いて、 Ib=1/2[S0|E0・exp{(2π+θ1)i}|2+S1|E0・exp {(2π+θ1)i}+E1・exp{(ψ1+2πvt/vp+δ1)i}|2] =1/2[E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1+2π vt/vp+δ1−θ1)] (12) Ic=1/2[S0|E0・exp{(2π+θ-1)i}|2+S1|E0・ex p{(2π+θ-1)i}+E1・exp{(ψ1−2πvt/vp+δ-1)i}|2 ] =1/2[E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1−2π vt/vp+δ-1−θ-1)] (13) と表される。Outputs Ib and Ib of detectors 8B-b and 8B-c
c is expressed by the following equations (8) to (11): Ib == [S 0 | E 0 · exp {(2π + θ 1 ) i} | 2 + S 1 | E 0 · exp {(2π + θ 1 ) i} + E 1 · exp { (ψ 1 + 2πv t / v p + δ 1) i} | 2] = 1/2 [E 0 2 (S 0 + S 1) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos (ψ 1 + 2π v t / v p + δ 1 -θ 1)] (12) Ic = 1/2 [S 0 | E 0 · exp {(2π + θ -1) i} | 2 + S 1 | E 0 · ex p {(2π + θ -1) i } + E 1 · exp {(ψ 1 -2πv t / v p + δ -1) i} | 2] = 1/2 [E 0 2 (S 0 + S 1) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos (ψ 1 -2π v t / v p + δ -1 -θ -1)] is expressed as (13).
【0086】ここで、図7においては、θ1=0、θ-1
=π(180°)、δ1=π(180°)、δ-1=0な
ので、Ib,Icはそれぞれ、 Ib=1/2[E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1+2 πvt/vp+π)] (14) Ic=1/2[E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1−2 πvt/vp−π)] (15) となり、プッシュプル信号PPbcは、 PPbc=Ib−Ic =2S1E0E1・sinψ1・sin{2π(vt/vp+1/2) } =−2S1E0E1・sinψ1・sin(2πvt/vp) (16 ) となる。Here, in FIG. 7, θ 1 = 0, θ −1
= Π (180 °), δ 1 = π (180 °), δ −1 = 0, so that Ib and Ic are respectively Ib = 1 / [E 0 2 (S 0 + S 1 ) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos ( ψ 1 +2 πv t / v p + π)] (14) Ic = 1/2 [E 0 2 (S 0 + S 1) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos (ψ 1 -2 πv t / v p -π)] (15) , and the push-pull signal PPbc is, PPbc = Ib-Ic = 2S 1 E 0 E 1 · sinψ 1 · sin {2π (v t / v p +1/2)} = -2S 1 E 0 E 1 · sinψ 1 · sin (2πv t / v p) and made (16).
【0087】位相差が関係しないPPabは、上述の式
(7)に1/2を乗算したもの(面積が半分になるた
め)と同じで、 PPad=2S1E0E1・sinψ1・sin(2πvt/vp) (17) となるので、図8に示すように、PPadとPPbc
は、溝深さ(ψ1に関連)に関係なく、1/2ピッチ即
ち位相が180°ずれた(逆位相)信号となる。[0087] PPab the phase difference is not relevant, the same as those obtained by multiplying 1/2 to the above equation (7) (the area is halved), PPad = 2S 1 E 0 E 1 · sinψ 1 · sin (2πv t / v p ) (17) As shown in FIG. 8, PPad and PPbc
Is a signal that is ピ ッ チ pitch or 180 ° out of phase (opposite phase) regardless of the groove depth (related to ψ1).
【0088】よって、最終的に得られる検出器8Bから
のプッシュプル信号は、 PP31=PPbc+PPad=0 となり、振幅が常に0となる。Therefore, the finally obtained push-pull signal from the detector 8B is PP31 = PPbc + PPad = 0, and the amplitude is always 0.
【0089】尚、本実施形態においては、第1象限のみ
に位相遅れが発生する場合について説明したが、これに
限らず、第2象限から第4象限の1つだけに位相遅れが
ある場合も当然同じ効果が得られる。また、与える位相
差は位相遅れでも位相進みでも同様の結果となる。In the present embodiment, the case where the phase delay occurs only in the first quadrant has been described. However, the present invention is not limited to this, and the case where only one of the second to fourth quadrants has the phase delay may be used. Naturally, the same effect can be obtained. Further, the same result is obtained regardless of the phase difference to be applied, whether the phase is delayed or the phase is advanced.
【0090】さらに、図1においては、1つの象限全体
に位相差がある場合を示したが、プッシュプル信号に関
与する領域は、図5に示す光ディスク溝部からの回折光
の重なり合う領域n1,n2であるので、象限全体に位
相差を加える必要はなく、例えば第1象限の領域n1の
部分にのみ位相差を加えれば十分に効果が得られる。Further, FIG. 1 shows the case where there is a phase difference in one quadrant as a whole. However, the regions related to the push-pull signal are the regions n1 and n2 where the diffracted light from the optical disk groove shown in FIG. 5 overlaps. Therefore, it is not necessary to add a phase difference to the entire quadrant. For example, if a phase difference is added only to the region n1 of the first quadrant, a sufficient effect can be obtained.
【0091】本実施形態により、サブビームのプッシュ
プル信号は溝深さに関係なく、振幅が0になる。すなわ
ち、トラック上のどの位置にあっても振幅が0であるの
で、上述した従来例1,2のように、3ビームの位置調
整(回折格子等の回転調整)が不要となるため、ピック
アップの組立て調整を大幅に簡略化することができる。According to the present embodiment, the amplitude of the push-pull signal of the sub-beam becomes zero regardless of the groove depth. That is, since the amplitude is 0 at any position on the track, the position adjustment (rotation adjustment of the diffraction grating or the like) of the three beams is not necessary as in the above-described conventional examples 1 and 2, and thus the pickup is not required. Assembly adjustment can be greatly simplified.
【0092】また、回折格子は光ビーム全体に対して設
けることができるので、上述した従来例3のように、メ
インビームの光強度分布が変化したり、光の利用効率が
低下することはない。さらに、異なるトラックピッチの
ディスクに対しても、全く問題無く適応することができ
る。Also, since the diffraction grating can be provided for the entire light beam, the light intensity distribution of the main beam does not change and the light use efficiency does not decrease as in the above-described conventional example 3. . Furthermore, the present invention can be applied to disks having different track pitches without any problem.
【0093】(第2の実施の形態)本発明の第2の実施
の形態について、図9乃至図13を用いて詳細に説明す
る。本実施形態の光ピックアップの構成は、図1に示し
たものと同じであるが、グレーティング3の溝部の構造
が異なる。(Second Embodiment) A second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. The configuration of the optical pickup of this embodiment is the same as that shown in FIG. 1, but the structure of the groove of the grating 3 is different.
【0094】本実施形態においては、図9に示すよう
に、第1象限と第3象限の部分の周期構造が他に比べ
て、+1/4ピッチだけずれている。これにより、図1
0に示すように、±1次光のサブビーム31,32にお
いて、第1象限と第3象限の部分の位相差が+90°だ
けずれる。In the present embodiment, as shown in FIG. 9, the periodic structure of the first quadrant and the third quadrant is shifted by + / pitch as compared with the others. As a result, FIG.
As shown in FIG. 0, the phase difference between the first quadrant and the third quadrant in the sub-beams 31 and 32 of ± 1 order light is shifted by + 90 °.
【0095】図7と同様、トラック方向の分割線mと仮
想分割線nとで分割された検出器8B上のビームパター
ンを図11に示す。第1象限と第3象限の部分では、メ
インビーム310側に位相差90°があり(網目領
域)、第4象限と第2象限の部分では、サブビーム31
1,312側に90°の位相差がある(斜線領域)。Similar to FIG. 7, FIG. 11 shows a beam pattern on the detector 8B divided by the dividing line m in the track direction and the virtual dividing line n. In the first quadrant and the third quadrant, there is a phase difference of 90 ° on the side of the main beam 310 (mesh area), and in the fourth quadrant and the second quadrant, the sub beam 31
There is a phase difference of 90 ° on the 1,312 side (shaded area).
【0096】この場合、第1象限と第2象限の1/4円
ビームどうしでのプッシュプル信号PPadは、位相差
を与えない場合のプッシュプル信号に比べて90°位相
がずれた信号となり、第4象限と第3象限の1/4円ビ
ームどうしのプッシュプル信号PPbcは、逆に−90
°位相がずれた信号となる。In this case, the push-pull signal PPad between the 1/4 circle beams in the first quadrant and the second quadrant is a signal whose phase is shifted by 90 ° as compared with the push-pull signal when no phase difference is given. On the contrary, the push-pull signal PPbc between the quarter-circle beams in the fourth and third quadrants is -90.
° The signal is out of phase.
【0097】ここで、サブビームのプッシュプル信号が
発生しない(振幅0)原理について、上記第1の実施の
形態と同様に説明する。Here, the principle that the push-pull signal of the sub-beam is not generated (amplitude 0) will be described in the same manner as in the first embodiment.
【0098】反射ビーム(回折パターン)の0次光に加
わる位相差を、θ1(図11の第1象限)、θ1’(図1
1の第4象限)、θ-1(図11の第2象限)、θ-1’
(図11の第3象限)、反射ビーム(回折パターン)の
1次光のうち0次光と干渉する部分に加わる位相差をδ
1(図11の第1象限)、δ1’(図11の第4象限)、
反射ビーム(回折パターン)の−1次光のうち0次光と
干渉する部分に加わる位相差をδ-1(図11の第2象
限)、δ-1’(図11の第3象限)、とすると、各象限
の光の複素振幅は、上記(8)〜(11)式を参考にし
て、 (0次光の複素振幅:第1象限) A0=E0・exp{(2π+θ1)i} (18) (0次光の複素振幅:第4象限) A0=E0・exp{(2π+θ1’)i} (19) (0次光の複素振幅:第3象限) A0=E0・exp{(2π+θ-1’)i} (20) (0次光の複素振幅:第2象限) A0=E0・exp{(2π+θ-1)i} (21) (+1次光の複素振幅:第1象限) A1=E1・exp{(ψ1+2πvt/vp+δ1)i} (22) (+1次光の複素振幅:第4象限) A1=E1・exp{(ψ1+2πvt/vp+δ1’)i} (23) (−1次光の複素振幅:第3象限) A-1=E1・exp{(ψ1−2πvt/vp+δ-1’)i} (24) (−1次光の複素振幅:第2象限) A-1=E1・exp{(ψ1−2πvt/vp+δ-1)i} (25) となる。The phase difference applied to the zero-order light of the reflected beam (diffraction pattern) is represented by θ 1 (first quadrant in FIG. 11) and θ 1 ′ (FIG. 1).
1 in the fourth quadrant), θ −1 (the second quadrant in FIG. 11), θ −1 ′
(3rd quadrant in FIG. 11), the phase difference added to the part of the primary light of the reflected beam (diffraction pattern) that interferes with the zero-order light is δ
1 (first quadrant in FIG. 11), δ 1 ′ (fourth quadrant in FIG. 11),
The phase difference applied to the part of the reflected beam (diffraction pattern) that interferes with the 0th-order light among the -1st-order light is δ −1 (second quadrant in FIG. 11), δ −1 ′ (third quadrant in FIG. Then, the complex amplitude of light in each quadrant is calculated by referring to the above equations (8) to (11). (Complex amplitude of zero-order light: first quadrant) A 0 = E 0 · exp {(2π + θ 1 ) i} (18) (complex amplitude of zero-order light: fourth quadrant) A 0 = E 0 · exp {(2π + θ 1 ') i} (19) (complex amplitude of zero-order light: third quadrant) A 0 = E 0 · exp {(2π + θ -1 ') i} (20) (Complex amplitude of zero-order light: second quadrant) A 0 = E 0 · exp {(2π + θ -1 ) i} (21) (+ 1st- order light of the complex amplitude: the first quadrant) a 1 = E 1 · exp {(ψ 1 + 2πv t / v p + δ 1) i} (22) (+1 order light of the complex amplitude: 1, the fourth quadrant) a 1 = E exp {(ψ 1 + 2πv t / v p + δ 1 ′) i} (23) (complex amplitude of the −1st order light: third quadrant) A −1 = E 1 · exp {(ψ 1 −2πv t / v p + δ −1 ′) i } (24) (complex amplitude of −1st order light: second quadrant) A −1 = E 1 · expex (ψ 1 −2πv t / v p + δ −1 ) i} (25)
【0099】図11においては、θ1=π/2(90
°)、θ1’=0、θ-1’=π/2(90°)、θ-1=
0、δ1=0、δ1’=π/2(90°)、δ-1=0、δ
-1’=π/2(90°)なので、Ia,Ib,Ic,I
dは、上記式(14)、(15)を参考にして、 Ia=1/2[E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1+2 πvt/vp−π/2)] (26) Ib=1/2[E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1+2 πvt/vp+π/2)] (27) Ic=1/2[E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1−2 πvt/vp−π/2)] (28) Id=1/2[E0 2(S0+S1)+E1 2S1+2E0E1S1・cos(ψ1−2 πvt/vp+π/2)] (29) となる。In FIG. 11, θ 1 = π / 2 (90
°), θ 1 '= 0, θ -1 ' = π / 2 (90 °), θ -1 =
0, δ 1 = 0, δ 1 ′ = π / 2 (90 °), δ −1 = 0, δ
-1 ′ = π / 2 (90 °), so Ia, Ib, Ic, I
d is the formula (14), (15) a with reference, Ia = 1/2 [E 0 2 (S 0 + S 1) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos (ψ 1 +2 πv t / v p -π / 2) ] (26) Ib = 1/2 [E 0 2 (S 0 + S 1) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos (ψ 1 +2 πv t / v p + π / 2)] (27 ) Ic = 1/2 [E 0 2 (S 0 + S 1) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos (ψ 1 -2 πv t / v p -π / 2 )] (28) Id = 1 /2 [E 0 2 (S 0 + S 1) + E 1 2 S 1 + 2E 0 E 1 S 1 · cos (ψ 1 -2 πv t / v p + π / 2)] (29 ).
【0100】そして、プッシュプル信号PPad,Pb
cは、 PPad=Ia−Id =2S1E0E1・sinψ1・sin{2π(vt/vp+1/4) } (30) PPbc=Ib−Ic =2S1E0E1・sinψ1・sin{2π(vt/vp−1/4) } (31) となるので、図12に示すように、PPadとPPbc
は、溝深さ(ψ1に関連)に関係なく、±1/4ピッチ
即ち位相が±90°ずれる。Then, the push-pull signals PPad, Pb
c is PPad = Ia−Id = 2S 1 E 0 E 1 · sinψ 1 · sin {2π (v t / v p +1/4)} (30) PPbc = Ib-Ic = 2S 1 E 0 E 1 · sinψ 1 · sin {2π (v t / v p -1/4)} and since (31), as shown in FIG. 12, PPad and PPbc
Is ± 1/4 pitch or ± 90 ° out of phase regardless of the groove depth (related to ψ1).
【0101】お互いの信号同士は、1/2ピッチ即ち位
相が180°異なっているので、最終的に得られる検出
器8Bからのプッシュプル信号は、 PP31=PPbc+PPad=0 となり、振幅が常に0となる。Since the signals are different in half pitch, that is, 180 degrees in phase, the finally obtained push-pull signal from the detector 8B is PP31 = PPbc + PPad = 0, and the amplitude is always 0. Become.
【0102】このように、4分割の対角領域に位相差を
与える構成では、x方向とy方向ともに、グレーティン
グの位置ずれ、レーザ出射光の位置ずれやトラッキング
による対物レンズシフトがある場合(ビーム中心とグレ
ーティング中心がずれた場合)でも、位相シフトする領
域の面積が変化しないので、有利である。As described above, in the configuration in which the phase difference is given to the diagonal region divided into four parts, the displacement of the grating, the displacement of the laser emission light, and the shift of the objective lens due to tracking (beam) in both the x and y directions. Even when the center is shifted from the center of the grating, the area of the phase-shifting region does not change, which is advantageous.
【0103】本実施形態においては、第1象限と第3象
限に位相進みが発生する場合を説明したが、これに限ら
ず、第2象限と第4象限に90°の位相差(位相進み)
を与えた場合、またそれぞれに−90°の位相差(位相
遅れ)を与えた場合でも同様の効果が得られる。In this embodiment, the case where the phase advance occurs in the first and third quadrants has been described. However, the present invention is not limited to this, and a phase difference of 90 ° (phase advance) occurs in the second and fourth quadrants.
And the same effect can be obtained even when a phase difference (phase lag) of −90 ° is given to each of them.
【0104】また、1つの象限全体に位相差がある場合
について示したが、プッシュプル信号に関与する領域
は、図5に示す光ディスク溝部からの回折光の重なり合
う領域n1,n2であるので、象限全体に位相差を加え
る必要はなく、例えば第1象限の領域n1の部分と第3
象限の領域n2の部分とに位相差を加えれば十分に効果
が得られる。Although the case where there is a phase difference in one quadrant as a whole is shown, the regions involved in the push-pull signal are the regions n1 and n2 where the diffracted light from the optical disk groove shown in FIG. 5 overlaps. It is not necessary to add a phase difference to the whole, for example, the portion of the region n1 in the first quadrant and the third
A sufficient effect can be obtained by adding a phase difference to the portion of the quadrant region n2.
【0105】さらに、図11に示すような位相差の組合
せに限らず、 θ1’+θ-1=nπ (n:整数) かつ θ1=θ-1’
=0 (この時、必ず δ1+δ-1=nπ かつ δ1’=
δ-1’=0 になる)となる組合せ、例えば図13に示
すように、入射光の第1象限の位相差45°、第3象限
の位相差135°のような場合であっても、プッシュプ
ル信号の振幅は0になる。Further, the present invention is not limited to the combination of phase differences as shown in FIG. 11, but θ 1 '+ θ -1 = nπ (n: integer) and θ 1 = θ -1 '
= 0 (At this time, be sure to set δ 1 + δ -1 = nπ and δ 1 '=
δ −1 ′ = 0), for example, as shown in FIG. 13, even if the phase difference of the incident light is 45 ° in the first quadrant and the phase difference is 135 ° in the third quadrant, The amplitude of the push-pull signal becomes zero.
【0106】即ち、円形の光ビーム全体を用いた従来の
プッシュプル信号検出においては、全光ビーム中のプッ
シュプル信号に関与する領域、すなわち溝からの反射光
(回折光)の0次光と±1次光とが重なり合う領域(お
互いが干渉する領域)をAとし、位相差を与える領域を
Bとすると、領域Bとビームの中心を原点として対称な
位置にある領域Cとの位相差の和が180°の整数倍で
あり、かつ領域Bと領域Cとの面積の和が領域Aの面積
の略半分程度に設定されれば、光ビーム全体のプッシュ
プル信号振幅はほぼ0になる。That is, in the conventional push-pull signal detection using the entire circular light beam, the region related to the push-pull signal in the entire light beam, that is, the zero-order light of the reflected light (diffracted light) from the groove and the Assuming that an area where the ± primary light overlaps (an area where they interfere with each other) is A and an area that gives a phase difference is B, the phase difference between the area B and the area C located symmetrically with respect to the origin of the center of the beam. If the sum is an integral multiple of 180 ° and the sum of the areas of the area B and the area C is set to approximately half the area of the area A, the push-pull signal amplitude of the entire light beam becomes almost zero.
【0107】例えば、図13に示すように、反射光の第
1象限の部分に位相差45°が加わるように入射光に位
相を与えた場合、ビームの中心を原点として対称な位置
にある領域すなわち第3象限の部分には135°位相差
が加わるように設定すれば、第1象限と第2象限の1/
4円ビームどうしのプッシュプル信号PPadは、位相
差を与えない場合のプッシュプル信号に比べて45°位
相がずれた信号となり、第4象限と第3象限の1/4円
ビームどうしのプッシュプル信号PPbcは、−135
°位相がずれた信号となる。For example, as shown in FIG. 13, when a phase is given to incident light so that a phase difference of 45 ° is added to a portion of the first quadrant of reflected light, a region symmetrically positioned with respect to the origin of the beam center. That is, if the phase difference is set to 135 ° in the third quadrant, 1/1 of the first quadrant and the second quadrant is set.
The push-pull signal PPad between the four circular beams is a signal whose phase is shifted by 45 ° as compared with the push-pull signal when no phase difference is given, and the push-pull signal between the quarter-beams in the fourth and third quadrants is used. The signal PPbc is -135.
° The signal is out of phase.
【0108】よって、全体のプッシュプル信号PP31
(=PPad+PPbc)は、お互いの位相差が180
°であるため、振幅が相殺されて実質的に振幅が0にな
る。Therefore, the entire push-pull signal PP31
(= PPad + PPbc) has a phase difference of 180
Because of °, the amplitudes cancel each other and the amplitude becomes substantially zero.
【0109】また、本実施形態においては、ビームを原
点を中心に4分割して各領域に位相差を与える例を示し
たが、これに限らず、多分割(4分割以上)にして位相
を与えてもよい。In this embodiment, the beam is divided into four parts around the origin to give a phase difference to each region. However, the present invention is not limited to this. May be given.
【0110】さらに、上記実施形態では、光ビームを検
出器上で2分割してプッシュプル信号を検出している
が、光ビームを多分割ホログラムやウェッジプリズムな
どにより分離して、異なる検出器に導いた後、各信号の
演算によりプッシュプル信号を検出する場合でも、全く
同様の効果が得られる。Furthermore, in the above embodiment, the push-pull signal is detected by dividing the light beam into two on the detector. However, the light beam is separated by a multi-divided hologram, a wedge prism, etc. After the derivation, exactly the same effect can be obtained even when the push-pull signal is detected by calculating each signal.
【0111】(第3の実施の形態)本発明の第3の実施
の形態について、図14乃至図20を用いて詳細に説明
する。ここでは、ピックアップ装置として、光源として
の半導体レーザ、3ビーム用グレーティング、サーボ信
号生成用ホログラムおよび光検出器を集積化したホログ
ラムレーザユニットに適用した場合の例について説明す
る。(Third Embodiment) A third embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. Here, an example will be described in which the pickup device is applied to a hologram laser unit in which a semiconductor laser as a light source, a three-beam grating, a hologram for generating a servo signal, and a photodetector are integrated.
【0112】図14に示すように、半導体レーザ1から
出射した光は、グレーティング3で3ビーム(メインビ
ームと±1次光のサブビーム)に分割され、ホログラム
素子9の0次回折光が、コリメートレンズ2と対物レン
ズ5を介して光ディスク6上に集光される。そして、そ
の戻り光はホログラム素子9により回折されて、光検出
器に導かれる。As shown in FIG. 14, the light emitted from the semiconductor laser 1 is divided into three beams (a main beam and a sub-beam of ± first-order light) by a grating 3, and the zero-order diffracted light of the hologram element 9 is converted into a collimator lens. The light is condensed on an optical disk 6 via an objective lens 5 and 2. Then, the returned light is diffracted by the hologram element 9 and guided to the photodetector.
【0113】ここで、ホログラム素子9は、図15に示
すように、光ディスク6のラジアル方向に対応するy方
向に延びる分割線9gと、この分割線9gの中心から光
ディスク6のラジアル方向と直交するx方向、つまり光
ディスク6のトラック方向に対応する方向に延びる分割
線9hとにより、3つの分割領域9a,9b,9cに分
割され、それぞれこれら各分割領域9a,9b,9cに
対応して、別個の格子が形成されている。Here, as shown in FIG. 15, the hologram element 9 has a dividing line 9g extending in the y-direction corresponding to the radial direction of the optical disk 6, and a direction perpendicular to the radial direction of the optical disk 6 from the center of the dividing line 9g. A division line 9h extending in the x direction, that is, a direction corresponding to the track direction of the optical disk 6, is divided into three division regions 9a, 9b, and 9c, each corresponding to each of the division regions 9a, 9b, and 9c. Are formed.
【0114】受光素子10は、フォーカス用2分割受光
領域10a,10bとトラッキング用受光領域10c,
10d,10e,10f,10g,10hとからなる。The light receiving element 10 has two divided light receiving areas 10a and 10b for focusing and a light receiving area 10c for tracking.
10d, 10e, 10f, 10g, and 10h.
【0115】合焦状態の時に、ホログラム素子9の分割
領域9aで回折されたメインビームが、分割線10y上
にビームP1を形成し、分割領域9b,9cで回折され
たメインビームが、それぞれ受光領域10c,10d上
にビームP2,P3を形成する。In the focused state, the main beam diffracted in the divided area 9a of the hologram element 9 forms a beam P1 on the division line 10y, and the main beams diffracted in the divided areas 9b and 9c are respectively received. Beams P2 and P3 are formed on regions 10c and 10d.
【0116】また、分割領域9aで回折された±1次の
サブビームは、それぞれ2分割受光領域10a,10b
の外側にビームP4,P5を形成し、分割領域9b,9
cで回折された±1次のサブビームは、それぞれ受光領
域10e,10f上にビームP6,P7を、受光領域1
0g,10h上にビームP8,P9を形成する。The ± first-order sub-beams diffracted by the divided area 9a are respectively divided into two divided light receiving areas 10a and 10b.
Beams P4 and P5 are formed outside the region 9b,
The ± 1st-order sub-beams diffracted by the light-receiving area 10e and 10f respectively emit beams P6 and P7 on the light-receiving area 10e and 10f.
Beams P8 and P9 are formed on 0g and 10h.
【0117】受光領域10a,10b,10c,10
d,10e,10f,10g,10hの出力信号を、そ
れぞれIa,Ib,Ic,Id,Ie,If,Ig,I
hとすると、フォーカス誤差信号FESを、シングルナ
イフエッジ法により、 (Ia−Ib) の演算で求める。Light receiving areas 10a, 10b, 10c, 10
The output signals of d, 10e, 10f, 10g, and 10h are output as Ia, Ib, Ic, Id, Ie, If, Ig, and I, respectively.
Assuming that h, the focus error signal FES is obtained by the calculation of (Ia-Ib) by the single knife edge method.
【0118】また、トラッキング誤差信号TESは、 TES=(Ic−Id)−k((If−Ih)+(Ie
−Ig)) により求める。The tracking error signal TES is given by TES = (Ic−Id) −k ((If−Ih) + (Ie)
-Ig)).
【0119】ここで、TESの(Ic−Id)はメイン
ビームのプッシュプル信号、(If−Ih),(Ie−
Ig)はそれぞれサブビーム±1次光のプッシュプル信
号である。Here, (Ic-Id) of TES is a push-pull signal of the main beam, (If-Ih), (Ie-
Ig) is a push-pull signal of each of the sub beams ± 1st order light.
【0120】上記第1の実施の形態と異なるのは、プッ
シュプル信号をビームの半分の光(ホログラム素子の分
割領域9b,9cのみの光)を用いている点である。こ
の場合に、サブビームのプッシュプル信号の振幅を0に
するための、グレーティングの構造を次に示す。The difference from the first embodiment is that the push-pull signal uses half the light of the beam (light of only the divided areas 9b and 9c of the hologram element). In this case, the structure of the grating for reducing the amplitude of the push-pull signal of the sub-beam to zero is shown below.
【0121】図15において、例えば復路にあるホログ
ラム素子の分割領域9b,9cに入射する光を第1象限
及び第2象限とすると、この第1象限と第2象限の光出
力の減算でのみプッシュプル信号振幅を打ち消して0に
する必要がある。In FIG. 15, for example, if the light incident on the divided areas 9b and 9c of the hologram element on the return path is the first quadrant and the second quadrant, the light is pushed only by subtracting the light output of the first quadrant and the second quadrant. It is necessary to cancel the pull signal amplitude to zero.
【0122】この場合、例えば図16に示すように、往
路の入射ビームにおいては、x−y座標系における円周
方向180°から200°付近のグレーティングの周期
構造を1/2ピッチずらせば、すなわち図17に示すよ
うに、位相差をπ(180°)ずらせば、プッシュプル
信号、(If−Ih)、(Ie−Ig)はそれぞれ振幅
がほぼ0になる。In this case, for example, as shown in FIG. 16, in the incident beam on the outward path, the periodic structure of the grating in the xy coordinate system from 180 ° to 200 ° in the circumferential direction is shifted by ピ ッ チ pitch, that is, As shown in FIG. 17, if the phase difference is shifted by π (180 °), the amplitudes of the push-pull signal, (If-Ih), and (Ie-Ig) become almost zero.
【0123】この場合の信号検出原理を次に示す。本実
施形態では、ホログラムにより光ビームを分割して、そ
れぞれを異なる検出器に導いているが、これはビームを
分割せずに検出器上に導き、検出器を分割する場合と同
じなので、説明を分かりやすくするために、上述した第
1及び第2の実施の形態と同様に、図18のような検出
器上のビームを用いて説明する。The principle of signal detection in this case will be described below. In the present embodiment, the light beam is divided by the hologram, and each light beam is guided to a different detector. However, this is the same as the case where the light beam is guided onto the detector without being divided and the detector is divided, so that the description will be made. For simplicity, the description will be made using a beam on a detector as shown in FIG. 18 as in the first and second embodiments.
【0124】図18の検出器においては、8B−aと8
B−dの光がそれぞれホログラムの分割領域9b,9c
で回折された光に相当する。また、図19は図18にお
いて位相差を加えた領域を次のように仮に分割したもの
として考える。In the detector shown in FIG.
Bd light is divided into hologram divided areas 9b and 9c, respectively.
Corresponds to the light diffracted by. In FIG. 19, it is assumed that the region to which the phase difference is added in FIG. 18 is temporarily divided as follows.
【0125】第1象限において、反射光の0次光中の位
相差を含む領域をSS2、それ以外をSS1とし、第2
象限において、反射光の−1次光中の位相差を含む領域
をSS3、それ以外をSS4とする。In the first quadrant, the region including the phase difference in the 0-order light of the reflected light is defined as SS2, the other region is defined as SS1, and the second region is defined as SS1.
In the quadrant, a region including a phase difference in the -1st order reflected light is defined as SS3, and the other region is defined as SS4.
【0126】そして、領域SS1,SS2,SS3,S
S4において、±1次光がなく0次光のみ存在する領域
の面積をS0-1,S0-2,S0-3,S0-4とし、0次光と±
1次光とが重なり合う部分の面積をS1-1,S1-2,S
1-3,S1-4とする。Then, the regions SS1, SS2, SS3, S
In S4, the area of the region where there is no ± first-order light but only the zero-order light is S 0−1 , S 0−2 , S 0−3 , S 0−4.
The area of the portion where the primary light overlaps is S 1-1 , S 1-2 , S
1-3 and S 1-4 .
【0127】ここでは、S1-1とS1-2の面積をほぼ等し
くなるような分割にする(本実施形態では、図18に示
すように、円周方向に20°程度分割する)。即ち、S
1-1=S1-2、S1-3=S1-4となるように分割する。[0127] Here, the approximately equal, such as dividing the area S 1-1 and S 1-2 (in this embodiment, as shown in FIG. 18 is divided approximately 20 ° in the circumferential direction). That is, S
Divide so that 1-1 = S 1-2 and S 1-3 = S 1-4 .
【0128】ここで、領域SS1〜SS4を、上記第1
の実施の形態として説明した図7における第1象限、第
2象限と考えた場合の式(12)〜(17)を参照すれ
ば、プッシュプル信号の振幅が0になることが容易に分
かる。Here, the regions SS1 to SS4 are defined by the first
By referring to the equations (12) to (17) in the case of considering the first quadrant and the second quadrant in FIG. 7 described as the embodiment, it can be easily understood that the amplitude of the push-pull signal becomes zero.
【0129】即ち、領域SS2,SS3で生成されるプ
ッシュプル信号と、領域SS1,SS4で生成されるプ
ッシュプル信号とは、振幅が同じであるが、位相差が1
80°ずれる。That is, the push-pull signals generated in the regions SS2 and SS3 and the push-pull signals generated in the regions SS1 and SS4 have the same amplitude but a phase difference of 1
80 ° off.
【0130】これは、プッシュプル信号に関与する領域
すなわち溝からの反射光(回折光)の0次光と±1次光
とが重なり合う領域(お互いが干渉する領域)におい
て、位相差を180°与えられた領域の光のプッシュプ
ル信号と、関係しない部分の光によるプッシュプル信号
との振幅がほぼ等しく、位相が180°ずれているため
に、全体としてプッシュプル信号の振幅が0になるため
に生じる。This is because the phase difference is 180 ° in a region related to the push-pull signal, that is, a region where the 0th-order light and ± 1st-order light of the reflected light (diffracted light) from the groove overlap (the region where they interfere with each other). Since the amplitude of the push-pull signal of the light in the given area and the push-pull signal of the light of the unrelated part are almost equal and the phases are shifted by 180 °, the amplitude of the push-pull signal becomes zero as a whole. Occurs.
【0131】尚、S0-2とS0-3、S0-1とS0-4はそれぞ
れ異なるが、(S0-1+S0-2)と(S0-3+S0-4)とは
等しいので、0次光のみ存在する領域の面積の直流成分
は減算すれば0になる。Although S 0-2 and S 0-3 are different from S 0-1 and S 0-4 , (S 0-1 + S 0-2 ) and (S 0-3 + S 0-4 ) Therefore, if the DC component of the area of the region where only the zero-order light exists is subtracted, it becomes zero.
【0132】このように、ビームの半分の光を用いて、
プッシュプル信号を検出するホログラムレーザユニット
においても、本発明を適用することができる。As described above, by using half the light of the beam,
The present invention can be applied to a hologram laser unit that detects a push-pull signal.
【0133】半円ビームを用いたプッシュプル信号検出
においては、半円ビーム中のプッシュプル信号に関与す
る領域、すなわち溝からの反射光(回折光)の0次光と
±1次光とが重なり合う領域(お互いが干渉する領域)
をDとし、位相差を与える領域をEとすると、領域Eと
トラック方向の中心線に対して対称な位置にある領域F
との位相差の和が180°の整数倍であり、かつ領域E
と領域Fとの面積の和が領域Dの面積の略半分程度に設
定されれば、光ビーム全体のプッシュプル信号振幅はほ
ぼ0になる。In the detection of a push-pull signal using a semi-circular beam, a region related to the push-pull signal in the semi-circular beam, that is, the 0th-order light and ± 1st-order light of the reflected light (diffracted light) from the groove is divided Overlapping areas (areas that interfere with each other)
Is defined as D, and the area providing the phase difference is defined as E. The area F is located symmetrically with respect to the area E with respect to the center line in the track direction.
Is an integral multiple of 180 ° and the region E
If the sum of the area of the area F and the area of the area F is set to approximately half the area of the area D, the amplitude of the push-pull signal of the entire light beam becomes almost zero.
【0134】また、位相差を与える領域は、図17に示
すものに限らず、図20のように、位相差180°を与
える領域を、y方向の幅が一定で、1つの象限内の干渉
領域の略半分程度の面積になるように設定しても、同様
の効果が得られる。The region where the phase difference is applied is not limited to the region shown in FIG. 17, but as shown in FIG. 20, the region where the phase difference is 180 ° is the same as the region where the width in the y direction is constant and which is within one quadrant. The same effect can be obtained even if the area is set to be about half the area.
【0135】このように、y方向の幅が一定であれば、
トラッキングにより対物レンズ即ち光ビームがラジアル
方向にシフトしても、干渉領域において位相差を与える
面積が変化しないので、位置ずれの影響を小さくするこ
とができる。As described above, if the width in the y direction is constant,
Even if the objective lens, that is, the light beam shifts in the radial direction due to tracking, the area that gives the phase difference in the interference region does not change, so that the influence of the position shift can be reduced.
【0136】(第4の実施の形態)本発明の第4の実施
の形態について、図21及び図22を用いて詳細に説明
する。(Fourth Embodiment) A fourth embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.
【0137】本実施形態のピックアップ装置は、第3の
実施の形態と同じくホログラムレーザユニットを用いた
構成で、さらにサブビームに与える位相差の精度を向上
させたものである。The pickup device of this embodiment has a configuration using a hologram laser unit as in the third embodiment, and further improves the accuracy of the phase difference given to the sub-beam.
【0138】図21は光学系を模式的に表したものであ
る。半導体レーザ1から出射した光は、グレーティング
3で3ビーム(メインビーム30と±1次光のサブビー
ム31及び32)に分割され、ホログラム素子9の0次
回折光が、コリメートレンズ2と対物レンズ5を介して
光ディスク6上に集光される。FIG. 21 schematically shows an optical system. The light emitted from the semiconductor laser 1 is split into three beams (a main beam 30 and sub-beams 31 and 32 of ± first-order light) by a grating 3, and the zero-order diffracted light of the hologram element 9 is transmitted through the collimator lens 2 and the objective lens 5. The light is condensed on the optical disk 6 via the optical disc 6.
【0139】次に、サブビームの位置ずれについて説明
する。サブビーム31,32はグレーティング3で分割
されるが、これは図21(a)に示すように、仮想光源
1−31,1−32から発した光と考えることができ
る。Next, the displacement of the sub beam will be described. The sub beams 31 and 32 are split by the grating 3, which can be considered as light emitted from the virtual light sources 1-31, 1-32, as shown in FIG.
【0140】よって、実質的に対物レンズ5に入射する
サブビーム光は、図21(b)に示すように、グレーテ
ィング3上及びホログラム9上で、メインビーム30と
ずれた部分の光を利用することになる。Therefore, as shown in FIG. 21 (b), the sub-beam light substantially incident on the objective lens 5 uses the light on the grating 3 and the hologram 9 which is shifted from the main beam 30. become.
【0141】このずれ量は、グレーティングやホログラ
ムの光軸方向の位置によって異なるが、小型に集積化し
たホログラムレーザユニットなどにおいては、比較的大
きな値になる。The amount of this shift varies depending on the position of the grating or hologram in the optical axis direction, but it becomes a relatively large value in a small integrated hologram laser unit or the like.
【0142】従って、上記第3の実施の形態のように、
メインビームの光軸中心に合わせて、グレーティング3
に位相差分布を与えたとしても、±1次光のサブビーム
においては、それぞれ中心からずれた位相差分布にな
る。Therefore, as in the third embodiment,
Grating 3 aligned with the center of the optical axis of the main beam
Even if a phase difference distribution is given to the sub-beams, the sub-beams of the ± 1st order light have phase difference distributions deviated from the respective centers.
【0143】ずれ量がビーム径に対して無視できる程度
に小さい場合は、光軸中心に位相差分布を与えれば、±
1次光に同じ位相分布が加わるとみなせるが、ずれ量が
大きい場合は、これを考慮して設計する必要がある。In the case where the amount of deviation is so small as to be negligible with respect to the beam diameter, if a phase difference distribution is given at the center of the optical axis, ±
Although it can be considered that the same phase distribution is added to the primary light, when the shift amount is large, it is necessary to design in consideration of this.
【0144】この場合の位相差分布について次に示す。
図21(b)に示すように、3分割ホログラム9でビー
ムのy方向の半円部分のみを使って、プッシュプル信号
を検出する場合は、このようなサブビームのy方向の位
置ずれの影響が、±1次ビームに不均等に加わる。本実
施形態は、このような場合に有効な位相差分布を与える
ものである。The phase difference distribution in this case will be described below.
As shown in FIG. 21B, when the push-pull signal is detected using only the semicircular portion of the beam in the y-direction by the three-division hologram 9, the influence of the displacement of the sub-beam in the y-direction is affected. , ± 1st order beams. The present embodiment provides an effective phase difference distribution in such a case.
【0145】図22(a)はグレーティング3の中でy
方向にほぼ均等な幅で帯状にビームのx方向の半円の端
の部分に位相差を与える場合を示す。また、図22
(b)はグレーティング3の中でy方向にほぼ均等な幅
で帯状にビームのx方向の半円の中央付近に位相差を与
える場合を示す。FIG. 22A shows y in grating 3.
A case where a phase difference is applied to the end portion of a semicircle in the x direction of the beam in a band shape with a substantially uniform width in the direction. FIG.
(B) shows a case where a phase difference is given near the center of a semicircle in the x direction of the beam in a band shape with a substantially uniform width in the y direction in the grating 3.
【0146】この幅は上記第3の実施の形態で示したサ
ブビームのプッシュプル信号振幅がほぼ0になるように
設定すればよい。この構成は、y方向(トラック方向)
に一様な位相差分布であるため、グレーティング上で実
質的にサブビームの位置がずれても、付加される位相差
分布は変化しない。よって、位相差分布の精度を向上さ
せることができる。The width may be set so that the amplitude of the push-pull signal of the sub-beam shown in the third embodiment becomes almost zero. This configuration is in the y direction (track direction).
Since the phase difference distribution is uniform, the added phase difference distribution does not change even if the position of the sub beam is substantially shifted on the grating. Therefore, the accuracy of the phase difference distribution can be improved.
【0147】図22(c)はグレーティング上でサブビ
ームの位置が実質的にずれることを利用して、実質的に
+1次のサブビーム31だけに位相差を付加する領域3
Aと、−1次のサブビーム32だけに位相差を付加する
領域3Bとに分けて、位相差分布を与えるものである。FIG. 22C shows a region 3 where a phase difference is added to only the + 1st-order sub-beam 31 by utilizing the fact that the position of the sub-beam is substantially shifted on the grating.
A and a region 3B in which a phase difference is added only to the -1 order sub-beam 32 to give a phase difference distribution.
【0148】このように、それぞれのサブビームに個別
に位相差分布を付加することができるため、本実施形態
のピックアップ装置のように、3分割のホログラムを用
いて±1次ビームのプッシュプル信号が不均等になる場
合であっても、各ビームに正確に位相差を付加すること
ができる。As described above, since the phase difference distribution can be individually added to each sub beam, the push-pull signal of the ± primary beam can be generated by using the three-divided hologram as in the pickup device of the present embodiment. Even in the case of non-uniformity, a phase difference can be accurately added to each beam.
【0149】(第5の実施の形態)本発明の第5の実施
の形態について、図23乃至図25を用いて詳細に説明
する。(Fifth Embodiment) A fifth embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.
【0150】本実施形態のピックアップ装置は、上記第
3及び第4の実施の形態と同じくホログラムレーザユニ
ットを用いた構成で、さらに異なるピッチや溝深さのデ
ィスクに対してもサブビームに与える位相差の精度を向
上させたものである。The pickup device of this embodiment uses a hologram laser unit similarly to the third and fourth embodiments, and provides a phase difference to be applied to the sub-beam even for disks having different pitches and groove depths. Is improved.
【0151】図23は光学系を模式的に表したもので、
基本的には図21と同じであるので、詳細な説明は省略
する。但し、ホログラム素子9は、図23(b),
(c)に示すように、4分割またはy方向の分割線で分
割された2分割を想定し、光ビーム全体を用いてプッシ
ュプル信号を検出する場合について説明する。FIG. 23 schematically shows an optical system.
Since it is basically the same as FIG. 21, detailed description is omitted. However, the hologram element 9 is different from that of FIG.
As shown in (c), a case where a push-pull signal is detected using the entire light beam will be described, assuming four divisions or two divisions divided by a division line in the y direction.
【0152】図23(b)に示すように、サブビーム3
1,32はグレーティング3上で実質的にメインビーム
30とずれた部分の光を利用することになる点は、上記
第3の実施の形態で説明したのと同様である。As shown in FIG. 23B, the sub-beam 3
The points 1 and 32 use the light substantially deviated from the main beam 30 on the grating 3 in the same manner as described in the third embodiment.
【0153】次に、異なる仕様の光ディスクに対するプ
ッシュプルの回折パターンについて説明する。同じ光ピ
ックアップ装置を用いて、異なる規格の光ディスクを記
録再生することが要求されているが、特に溝構造のピッ
チや深さが変化すると、プッシュプルパターンは大きく
異なる。Next, a push-pull diffraction pattern for optical disks having different specifications will be described. It is required to use the same optical pickup device to record / reproduce optical discs of different standards, but the push-pull pattern is greatly different especially when the pitch or depth of the groove structure changes.
【0154】例えば、溝ピッチが狭い場合のプッシュプ
ルパターンを、図24(a)(プッシュプル信号に関与
する領域n1,n2)、ピッチが広い場合を、図24
(b)(プッシュプル信号に関与する領域n3,n4)
にそれぞれ示す。For example, the push-pull pattern when the groove pitch is small is shown in FIG. 24A (regions n1 and n2 related to the push-pull signal).
(B) (regions n3 and n4 related to the push-pull signal)
Are shown below.
【0155】このように、回折パターンが大きく異な
り、しかもグレーティング3上で実質的にサブビームの
位置がメインビームとずれる場合には、最適な位相差分
布パターンも異なることになる。本実施形態は、このよ
うな場合に有効な位相差分布を与えるものである。As described above, when the diffraction patterns are largely different from each other and the position of the sub beam is substantially shifted from the main beam on the grating 3, the optimum phase difference distribution pattern is also different. The present embodiment provides an effective phase difference distribution in such a case.
【0156】図25に本実施形態の位相差分布を示す。
これは、グレーティング3の中で、ビームのx方向の半
円に対して、3C,3D,3Eの3つの領域に180°
の位相差を与える。FIG. 25 shows the phase difference distribution of the present embodiment.
This means that in the grating 3, 180 ° is formed in three regions of 3C, 3D and 3E with respect to the semicircle in the x direction of the beam.
Gives a phase difference of
【0157】この中で、領域3Dはサブビーム31及び
32の両方に対して位相差を付加し、領域3Cはサブビ
ーム32に対してのみ位相差を与え、逆に領域3Eはサ
ブビーム31に対してのみ位相差を与える。Among them, the area 3D adds a phase difference to both the sub beams 31 and 32, the area 3C gives a phase difference only to the sub beam 32, and the area 3E conversely applies a phase difference only to the sub beam 31. Give a phase difference.
【0158】また、領域3Dは、図24(a),(b)
で示した両者の回折パターンの重なり合う領域n2,n
4を含んでいる。それに対して、領域3Cは、サブビー
ム32のn4領域だけを含んでおり、領域3Eはサブビ
ーム31のn4領域だけを含んでいる。The area 3D is shown in FIGS. 24 (a) and 24 (b).
Areas n2 and n where both diffraction patterns shown by
4 is included. On the other hand, the region 3C includes only the n4 region of the sub beam 32, and the region 3E includes only the n4 region of the sub beam 31.
【0159】よって、例えば図24(a)に示すよう
に、ピッチの狭いディスクに対しては位相差付加領域3
Dの大きさや形状を最適化して、サブビーム31,32
の両方に対してプッシュプル信号振幅をほぼ0にする。Therefore, for example, as shown in FIG.
By optimizing the size and shape of D, the sub-beams 31, 32
, The amplitude of the push-pull signal is made substantially zero.
【0160】また、図24(b)に示すように、ピッチ
の広いディスクでのサブビーム31に対しては位相差付
加領域3Eと3Dの大きさや形状を最適化してプッシュ
プル信号振幅をほぼ0にし、サブビーム32に対しては
位相差付加領域3Cと3Dの大きさや形状を最適化し
て、プッシュプル信号振幅をほぼ0にする。As shown in FIG. 24 (b), for the sub-beam 31 on a disk having a wide pitch, the size and shape of the phase difference addition regions 3E and 3D are optimized to make the push-pull signal amplitude almost zero. For the sub beam 32, the size and shape of the phase difference addition regions 3C and 3D are optimized to make the push-pull signal amplitude substantially zero.
【0161】従って、グレーティング上で2つのサブビ
ームの位置が実質的にメインビームに対して異なる方向
にずれた場合でも、本実施形態のように互いに影響を与
えない位相差付加領域3C,3Eを設けることにより、
それぞれのサブビームに個別に位相差分布を付加するこ
とができるため、異なる規格の光ディスクに対しても、
各ビームに正確に位相差を付加することができる。Therefore, even when the positions of the two sub beams are substantially shifted from the main beam in different directions on the grating, the phase difference adding regions 3C and 3E which do not affect each other are provided as in the present embodiment. By doing
Since the phase difference distribution can be added to each sub beam individually, even for optical discs of different standards,
A phase difference can be accurately added to each beam.
【0162】尚、上記実施の形態においては、3ビーム
の±1次光に位相差を与える方法として、グレーティン
グの溝の周期構造を部分的にずらす方法について示した
が、本発明はこれに限ることはなく、実際に透過ガラス
板や位相差板を用いても良い。In the above-described embodiment, a method of partially shifting the periodic structure of the grooves of the grating has been described as a method of giving a phase difference to ± first-order light of three beams, but the present invention is not limited to this. Instead, a transmission glass plate or a phase difference plate may be actually used.
【0163】[0163]
【発明の効果】本発明によれば、プッシュプル法を利用
したTES検出において、光の利用効率を低下させず
に、対物レンズシフトやディスクチルトにより発生する
オフセットを低コストでキャンセルすることができる。According to the present invention, in the TES detection using the push-pull method, the offset generated by the objective lens shift or the disc tilt can be canceled at low cost without lowering the light use efficiency. .
【0164】サブビームのプッシュプル信号は溝深さに
関係なく、振幅が0で、対物レンズシフトやディスクチ
ルトによる検出器上でのビームシフト成分のみが検出さ
れる。The amplitude of the push-pull signal of the sub-beam is 0 irrespective of the groove depth, and only the beam shift component on the detector due to the objective lens shift or disc tilt is detected.
【0165】すなわち、サブビームがメインビームに対
して1/2ピッチに限らずどの位置にあっても、プッシ
ュプル信号の振幅が0であるので、サブビームの位置調
整(回折格子等の回転調整)が不要となり、ピックアッ
プの組立て調整を大幅に簡略化することができる。That is, since the amplitude of the push-pull signal is 0 regardless of the position of the sub beam, not limited to 1/2 pitch, with respect to the main beam, the position adjustment of the sub beam (rotation adjustment of the diffraction grating or the like) can be performed. This is unnecessary, and the assembling adjustment of the pickup can be greatly simplified.
【0166】また、回折格子は光ビーム全体に対して設
けることができるので、メインビームの光強度分布が変
化したり、光の利用効率が低下することはない。Also, since the diffraction grating can be provided for the entire light beam, the light intensity distribution of the main beam does not change and the light use efficiency does not decrease.
【0167】さらに、異なるトラックピッチのディスク
に対しても全く問題無く適応することができる。Further, the present invention can be applied to disks having different track pitches without any problem.
【0168】そしてまた、半分の光ビームを用いたプッ
シュプル信号検出においても適用することができるの
で、集積化したホログラムレーザユニットなどにも利用
することが可能となる。Further, since the present invention can be applied to push-pull signal detection using a half light beam, it can be used for an integrated hologram laser unit and the like.
【図1】本発明の第1の実施の形態の光ピックアップの
光学系を示す概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an optical system of an optical pickup according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の第1の実施の形態の光ピックアップを
用いた場合の光ディスク上でのビームスポット形状を示
す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a beam spot shape on an optical disk when the optical pickup according to the first embodiment of the present invention is used.
【図3】本発明の第1の実施の形態でのプッシュプル信
号を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating a push-pull signal according to the first embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第1の実施の形態において対物レンズ
がシフトした場合のプッシュプル信号を示す説明図であ
る。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a push-pull signal when the objective lens shifts in the first embodiment of the present invention.
【図5】光ディスクからの反射ビームの回折パターンを
示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a diffraction pattern of a reflected beam from an optical disc.
【図6】本発明の第1の実施の形態における対物レンズ
入射ビームの位相分布を示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating a phase distribution of an objective lens incident beam according to the first embodiment of the present invention.
【図7】本発明の第1の実施の形態における検出器上の
ビームの回折パターンを示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing a diffraction pattern of a beam on a detector according to the first embodiment of the present invention.
【図8】本発明の第1の実施の形態でのプッシュプル信
号の検出原理を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining a principle of detecting a push-pull signal according to the first embodiment of the present invention.
【図9】本発明の第2の実施の形態の光ピックアップの
回折格子の構造を示す説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram illustrating a structure of a diffraction grating of the optical pickup according to the second embodiment of the present invention.
【図10】本発明の第2の実施の形態における対物レン
ズ入射ビームの位相分布を示す説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram showing a phase distribution of an objective lens incident beam according to the second embodiment of the present invention.
【図11】本発明の第2の実施の形態における検出器上
のビームの回折パターンを示す説明図である。FIG. 11 is an explanatory diagram showing a diffraction pattern of a beam on a detector according to the second embodiment of the present invention.
【図12】本発明の第2の実施の形態でのプッシュプル
信号の検出原理を説明するための図である。FIG. 12 is a diagram for explaining a principle of detecting a push-pull signal according to the second embodiment of the present invention.
【図13】本発明の第2の実施の形態における対物レン
ズ入射ビームの位相分布の他のパターンを示す説明図で
ある。FIG. 13 is an explanatory diagram showing another pattern of the phase distribution of the objective lens incident beam in the second embodiment of the present invention.
【図14】本発明の第3の実施の形態の光ピックアップ
の光学系を示す概略構成図である。FIG. 14 is a schematic configuration diagram illustrating an optical system of an optical pickup according to a third embodiment of the present invention.
【図15】本発明の第3の実施の形態のホログラムレー
ザピックアップにおけるホログラムと光検出器の構造を
示す説明図である。FIG. 15 is an explanatory diagram showing the structure of a hologram and a photodetector in a hologram laser pickup according to a third embodiment of the present invention.
【図16】本発明の第3の実施の形態の回折格子の構造
を示す説明図である。FIG. 16 is an explanatory diagram illustrating a structure of a diffraction grating according to a third embodiment of the present invention.
【図17】本発明の第3の実施の形態における対物レン
ズ入射ビームの位相分布を示す説明図である。FIG. 17 is an explanatory diagram showing a phase distribution of an objective lens incident beam according to the third embodiment of the present invention.
【図18】本発明の第3の実施の形態における仮の検出
器上ビームパターンを示す説明図である。FIG. 18 is an explanatory diagram illustrating a temporary beam pattern on a detector according to the third embodiment of the present invention.
【図19】本発明の第3の実施の形態における検出器上
の仮の分割領域を示す説明図である。FIG. 19 is an explanatory diagram showing temporary divided regions on a detector according to the third embodiment of the present invention.
【図20】本発明の第3の実施の形態における他の位相
分布を示す説明図である。FIG. 20 is an explanatory diagram showing another phase distribution according to the third embodiment of the present invention.
【図21】本発明の第4の実施の形態のピックアップ光
学系とグレーティング及びホログラム上でのビーム位置
を示す説明図である。FIG. 21 is an explanatory diagram showing a pickup optical system and beam positions on a grating and a hologram according to a fourth embodiment of the present invention.
【図22】本発明の第4の実施の形態におけるグレーテ
ィング上の位相差付加パターンを示す説明図である。FIG. 22 is an explanatory diagram showing a phase difference addition pattern on a grating according to a fourth embodiment of the present invention.
【図23】本発明の第5実施の形態のピックアップ光学
系とグレーティング及びホログラム上でのビーム位置を
示す説明図である。FIG. 23 is an explanatory diagram showing a pickup optical system and beam positions on a grating and a hologram according to a fifth embodiment of the present invention.
【図24】異なる規格のディスクにおけるプッシュプル
パターンを示す説明図である。FIG. 24 is an explanatory diagram showing push-pull patterns on disks of different standards.
【図25】本発明の第5の実施の形態におけるグレーテ
ィング上の位相差付加パターンを示す説明図である。FIG. 25 is an explanatory diagram showing a phase difference addition pattern on a grating according to a fifth embodiment of the present invention.
【図26】従来の光ピックアップの光学系を示す概略構
成図である。FIG. 26 is a schematic configuration diagram showing an optical system of a conventional optical pickup.
【図27】プッシュプル信号について説明するための図
である。FIG. 27 is a diagram for describing a push-pull signal.
【図28】プッシュプル信号のオフセット発生原因を説
明するための図である。FIG. 28 is a diagram for explaining a cause of an offset occurrence of a push-pull signal.
【図29】従来例1の光ピックアップの光学系を示す概
略構成図である。FIG. 29 is a schematic configuration diagram showing an optical system of an optical pickup of Conventional Example 1.
【図30】従来例1における光ディスク上のビーム配列
と検出系の構成を示す説明図である。FIG. 30 is an explanatory diagram showing a beam arrangement on an optical disc and a configuration of a detection system in Conventional Example 1.
【図31】従来例1でのプッシュプル信号の検出原理を
説明するための図である。FIG. 31 is a diagram for explaining the principle of detecting a push-pull signal in Conventional Example 1.
【図32】従来例2の光ピックアップの光学系を示す概
略構成図である。FIG. 32 is a schematic configuration diagram showing an optical system of an optical pickup of Conventional Example 2.
【図33】従来例2の回折格子の構造を示す説明図であ
る。FIG. 33 is an explanatory view showing the structure of a diffraction grating of Conventional Example 2.
【図34】従来例2における光ディスク上のビーム配列
を示す説明図である。FIG. 34 is an explanatory diagram showing a beam arrangement on an optical disc in Conventional Example 2.
【図35】従来例2でのプッシュプル信号の検出原理を
説明するための図である。FIG. 35 is a diagram for explaining the principle of detecting a push-pull signal in Conventional Example 2.
【図36】従来例3の光ピックアップの光学系を示す概
略構成図である。FIG. 36 is a schematic configuration diagram showing an optical system of an optical pickup according to Conventional Example 3.
【図37】従来例3における回折格子の構造と光ディス
クへの集光ビームを示す説明図である。FIG. 37 is an explanatory diagram showing a structure of a diffraction grating and a focused beam on an optical disc in Conventional Example 3.
【図38】従来例3における光ディスク上のビーム配列
を示す説明図である。FIG. 38 is an explanatory diagram showing a beam arrangement on an optical disc in Conventional Example 3.
1 半導体レーザ 2 コリメータレンズ 3 3ビーム用回折格子 4 ビームスプリッタ 5 対物レンズ 6 ディスク 7 集光レンズ 8 光検出器 9 ホログラム 10 ホロレーザ用検出器 11 2分割検出器 30 0次回折光 31 +1次回折光 32 −1次回折光 61 トラック 310 サブビームの0次反射回折光 311 サブビームの+1次回折光 312 サブビームの−1次回折光 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor laser 2 Collimator lens 3 3 Beam diffraction grating 4 Beam splitter 5 Objective lens 6 Disk 7 Condensing lens 8 Photodetector 9 Hologram 10 Holographic laser detector 11 2-split detector 30 0th-order diffracted light 31 + 1st-order diffracted light 32 − 1st-order diffracted light 61 Track 310 0th-order reflected diffracted light of sub-beam 311 + 1st-order diffracted light of sub-beam 312 -1st-order diffracted light of sub-beam
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三木 錬三郎 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 平島 廣茂 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 Fターム(参考) 5D118 AA06 AA13 AA18 BA01 BA06 CA24 CD03 CF03 CG04 CG24 DA35 5D119 AA29 AA40 BA01 BA02 EA02 FA28 KA17 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor Miki Renzaburo 22-22, Nagaikecho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka Inside Sharp Corporation (72) Inventor Hiroshige Hirashima 22-22, Nagaikecho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka F-term (for reference) 5D118 AA06 AA13 AA18 BA01 BA06 CA24 CD03 CF03 CG04 CG24 DA35 5D119 AA29 AA40 BA01 BA02 EA02 FA28 KA17
Claims (15)
レンズにより光ディスクに集光し、その反射光をそれぞ
れ実質的にトラック方向の分割線で分割して2分割検出
器で受光し、各2分割検出器の差信号すなわち各ビーム
のプッシュプル信号からトラッキング誤差信号を生成す
る光ピックアップであって、 一方の光ビームにおいてプッシュプル信号の振幅がほぼ
0になるように、光ビームの一部分に位相差を与えるこ
とを特徴とする光ピックアップ。At least two or more light beams are condensed on an optical disk by an objective lens, and the reflected light is substantially divided by a dividing line in a track direction and received by a two-division detector. An optical pickup for generating a tracking error signal from a difference signal of a split detector, that is, a push-pull signal of each beam, wherein the optical pickup is positioned at a part of the light beam such that the amplitude of the push-pull signal becomes substantially zero in one of the light beams. An optical pickup characterized by providing a phase difference.
プル信号を用いて、もう一方の光ビームのプッシュプル
信号のオフセットを補正することを特徴とする前記請求
項1に記載の光ピックアップ。2. The optical pickup according to claim 1, wherein the offset of the push-pull signal of the other light beam is corrected using the push-pull signal of the light beam giving the phase difference.
光ビーム中のプッシュプル信号に関与する領域をAと
し、位相差を与える領域をBとした場合、領域Bの位相
差と、領域Bとビームの中心を原点として対称な位置に
ある領域Cの位相差との和が180°の整数倍であり、
さらに領域Bと領域Cとの面積の和が領域A全体の面積
の略半分であることを特徴とする前記請求項1又は2に
記載の光ピックアップ。3. In the light beam giving the phase difference,
When an area related to the push-pull signal in the light beam is A and an area that gives a phase difference is B, the phase difference between the area B and the area C that is symmetrical with respect to the area B and the center of the beam as the origin. The sum with the phase difference is an integral multiple of 180 °,
3. The optical pickup according to claim 1, wherein the sum of the area of the area B and the area C is substantially half of the area of the entire area A.
光ビームの中心を原点として、光ディスクのラジアル方
向をx方向、トラック方向をy方向とすると、4象限の
うちの1つの象限にのみ、略180°の位相差を与える
ことを特徴とする前記請求項1又は2に記載の光ピック
アップ。4. The light beam for providing a phase difference,
When the radial direction of the optical disk is the x direction and the track direction is the y direction with the center of the light beam as the origin, a phase difference of about 180 ° is given to only one of the four quadrants. Item 3. The optical pickup according to item 1 or 2.
光ビームの中心を原点として、光ディスクのラジアル方
向をx方向、トラック方向をy方向とすると、4象限の
うち第1象限と第3象限、または第2象限と第4象限に
のみ、略90°の位相差を与えることを特徴とする前記
請求項1又は2に記載の光ピックアップ。5. In the light beam giving the phase difference,
When the radial direction of the optical disk is the x direction and the track direction is the y direction with the center of the light beam as the origin, approximately 90 ° is applied only to the first and third quadrants or the second and fourth quadrants of the four quadrants. The optical pickup according to claim 1, wherein the optical pickup has a phase difference of:
中心を通り光ディスクのラジアル方向の分割線で分割さ
れた半円領域のうちプッシュプル信号に関与する領域を
Dとし、位相差を与える領域をEとした場合、領域Eの
位相差と、領域Eとトラック方向の中心線に対して対称
な位置にある領域Fの位相差との和が180°の整数倍
であり、かつ領域Eと領域Fとの面積の和が領域D全体
の略半分であり、この半円領域のみを用いてプッシュプ
ル信号を検出することを特徴とする前記請求項1又は2
に記載の光ピックアップ。6. In the light beam giving the phase difference,
When a region related to the push-pull signal is defined as D and a region providing a phase difference is defined as E in a semicircular region divided by a radial dividing line of the optical disk passing through the center, the phase difference between the region E and the region E And the phase difference of the region F located symmetrically with respect to the center line in the track direction is an integral multiple of 180 °, and the sum of the areas of the region E and the region F is approximately half of the entire region D. 3. The method according to claim 1, wherein the push-pull signal is detected using only the semicircular region.
An optical pickup according to claim 1.
域のうち、円周方向に略20°の扇形領域に、180°
の位相差を与えることを特徴とする前記請求項6に記載
の光ピックアップ。7. In the semicircular region for detecting the push-pull signal, a 180-degree region is formed in a sector region of approximately 20 degrees in the circumferential direction.
7. The optical pickup according to claim 6, wherein a phase difference of?
域のうち、片側の1/4円の中で、トラック方向の幅が
ほぼ一定であるような略長方形領域に、180°の位相
差を与えることを特徴とする前記請求項6に記載の光ピ
ックアップ。8. A phase difference of 180 ° is applied to a substantially rectangular area having a substantially constant width in the track direction in a quarter circle on one side of the semicircular area for detecting the push-pull signal. 7. The optical pickup according to claim 6, wherein the optical pickup is provided.
1次光または−1次光との少なくとも2つ以上の光ビー
ムとに分離するとともに、位相差を与える部分の回折格
子の周期構造を他の部分に比べてずらして形成し、0次
以外の回折光にのみ、位相差を付加することを特徴とす
る前記請求項1乃至8のいずれかに記載の光ピックアッ
プ。9. A diffraction grating converts a light beam into zero-order light and +
It is separated into at least two or more light beams of primary light or −1st order light, and the periodic structure of the diffraction grating at the portion providing the phase difference is formed shifted from the other portions to form a non-zero order light beam. 9. The optical pickup according to claim 1, wherein a phase difference is added only to the diffracted light.
アル方向の幅がほぼ一定であるような略長方形領域に、
180°の位相差を与えることを特徴とする前記請求項
9に記載の光ピックアップ。10. A substantially rectangular area in which the radial width of an optical disc is substantially constant in the diffraction grating.
The optical pickup according to claim 9, wherein a phase difference of 180 ° is provided.
のみに影響を与える領域と、−1次光にのみ影響を与え
る領域とに、180°の位相差を与えることを特徴とす
る前記請求項9に記載の光ピックアップ。11. A phase difference of 180 ° is given to a region in the diffraction grating that substantially affects only the + 1st order light and a region that only affects the −1st order light. The optical pickup according to claim 9.
載していることを特徴とする前記請求項1乃至11のい
ずれかに記載の光ピックアップ。12. The optical pickup according to claim 1, further comprising an integrated hologram laser unit.
レンズにより、情報記録媒体に集光し、その反射光のう
ち少なくとも一方の光ビームについて実質的にトラック
方向の分割線で分割して2分割検出器で受光し、各2分
割検出器の差信号すなわちプッシュプル信号を検出する
光ピックアップであって、 前記一方の光ビームにおいてプッシュプル信号の振幅が
ほぼ0になるように、光ビームの一部分に位相差を与え
るとともに、前記差信号を対物レンズの位置検出信号に
用いることを特徴とする光ピックアップ。13. At least two or more light beams are converged on an information recording medium by an objective lens, and at least one of the reflected light beams is divided substantially by a dividing line in a track direction into two parts. What is claimed is: 1. An optical pickup for receiving a detector and detecting a difference signal between two split detectors, that is, a push-pull signal, wherein a part of the light beam is arranged such that the amplitude of the push-pull signal becomes substantially zero in the one light beam. And a phase difference, and using the difference signal as a position detection signal of an objective lens.
ッシュプルパターンが発生する光ディスクに対して、サ
ブビームのプッシュプル信号の振幅がほぼ0になるよう
に、サブビームの一部分に位相差を与えることを特徴と
する前記請求項13に記載の光ピックアップ。14. An optical disc of a different standard, that is, an optical disc in which a different push-pull pattern is generated, wherein a phase difference is given to a part of the sub-beam so that the amplitude of the push-pull signal of the sub-beam becomes almost zero. The optical pickup according to claim 13.
と、少なくとも1つ以上のサブビームとを、対物レンズ
により情報記録媒体に集光し、その反射光をそれぞれ実
質的にトラック方向の分割線で分割して2分割検出器で
受光し、各2分割検出器の差信号すなわち各ビームのプ
ッシュプル信号を用いてトラッキングを行うトラッキン
グサーボ方法であって、 サブビームのプッシュプル信号の振幅がほぼ0になるよ
うに、サブビームの一部分に位相差を与えるるととも
に、この差信号を用いて、メインビームのトラッキング
誤差信号のオフセットを補正することを特徴とするトラ
ッキングサーボ方法。15. A main beam for recording or reproduction and at least one or more sub-beams are condensed on an information recording medium by an objective lens, and the reflected light is divided by a dividing line substantially in the track direction. A tracking servo method in which light is received by a two-split detector and tracking is performed using a difference signal of each two-split detector, that is, a push-pull signal of each beam, wherein the amplitude of the push-pull signal of the sub-beam is substantially zero. Wherein a phase difference is given to a part of the sub-beam and an offset of a tracking error signal of the main beam is corrected using the difference signal.
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