JP2002028578A - Sorting method and apparatus for component inspection, and component inspection apparatus - Google Patents
Sorting method and apparatus for component inspection, and component inspection apparatusInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、チップ部品等の微
小検査部品を検査結果に応じて選別する検査部品振分方
法及びその装置並びに部品検査装置に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for distributing inspection components for selecting a minute inspection component such as a chip component according to an inspection result, and a component inspection apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、情報通信やデジタルAV(オーデ
ィオビジュアル)分野における電子機器については電子
部品が高密度で実装されており、特に抵抗器、コンデン
サ、インダクタ等のチップ部品については極小化が進ん
でいる。現在、この種のチップ部品は1×0.5mmサイズの
ものが定着しているが、今後は、0.6×0.3mmサイズのも
のが主流になると予想されている。2. Description of the Related Art Conventionally, electronic components are mounted at a high density in electronic devices in the field of information communication and digital AV (audio visual), and chip components such as resistors, capacitors, inductors and the like have been miniaturized. In. At present, this type of chip component has a size of 1 x 0.5 mm, but in the future it is expected that 0.6 x 0.3 mm size will become mainstream.
【0003】上記チップ部品は、月産数千万個で量産さ
れることが予想されているため、そのような生産ペース
に対応して高速でチップ部品の外観検査を行うことので
きる検査装置が要望されている。Since it is expected that the above-mentioned chip parts will be mass-produced in the tens of millions per month, an inspection apparatus capable of performing a high-speed appearance inspection of the chip parts in correspondence with such a production pace. Requested.
【0004】この種のチップ部品の外観検査は、通常、
CCDカメラを用いた画像処理によって行われており、
吸引ノズルを用いてチップ部品を個別に空中を飛走さ
せ、高速で撮像し、撮像により得られた画像データを基
準形状と比較することにより外観検査を行うようになっ
ている。[0004] Inspection of the appearance of this kind of chip component is usually carried out.
It is performed by image processing using a CCD camera,
The chip components are individually flown in the air using a suction nozzle, imaged at high speed, and an appearance inspection is performed by comparing image data obtained by the imaging with a reference shape.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】上記検査方法によって
良否が判定されたチップ部品については、良品を回収し
て不良品を廃棄するが、高速画像処理による外観検査の
判定速度に常に同期して検査済みチップ部品を選別でき
る振分け方法は確立されておらず、振分けが判定速度に
追従できない場合が生じると、良品であっても不良品扱
いとして廃棄するために歩留まりが低いという問題があ
る。With respect to the chip parts judged to be good or bad by the above-mentioned inspection method, good parts are collected and defective parts are discarded, but the inspection is always performed in synchronization with the judgment speed of the appearance inspection by high-speed image processing. There is no established method for sorting used chip components, and if there is a case where the sorting cannot follow the determination speed, there is a problem that the yield is low because even good products are discarded as defective products.
【0006】本発明は以上のような従来のチップ部品の
検査方法における課題を考慮してなされたものであり、
高速画像処理による検査結果に応じてチップ部品を確実
に良品と不良品とに選別し、歩留まりを向上させること
のできる検査部品振分け方法及びその装置並びに部品検
査装置を提供することにある。The present invention has been made in consideration of the problems in the conventional chip component inspection method as described above,
It is an object of the present invention to provide an inspection component sorting method, an apparatus, and a component inspection device capable of reliably selecting a chip component as a non-defective product and a defective product in accordance with an inspection result by high-speed image processing and improving a yield.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】請求項1の本発明は、検
査済み部品を収容するための多数の収容孔が円形に配列
されている円盤状回転体を断続的に回転させながら、検
査処理から送出される検査済み部品をその収容孔内に順
次吸引して貯留していき、貯留されたその検査済み部品
を、検査処理判定時間以後に上記収容孔の移動経路先に
設けた良品排出口及び不良品排出口から選択的に吸引し
排出する検査部品振分け方法である。According to the first aspect of the present invention, an inspection process is performed while intermittently rotating a disk-shaped rotating body in which a large number of accommodation holes for accommodating inspected parts are circularly arranged. The inspected parts sent out from the storage hole are sequentially sucked and stored in the receiving hole, and the stored inspected parts are transferred to the non-defective outlet provided at the destination of the moving path of the receiving hole after the inspection processing determination time. And an inspection component distribution method of selectively sucking and discharging from a defective product discharge port.
【0008】請求項2の本発明は、検査済み部品を収容
するための多数の収容孔を円形に配列した円盤状回転体
と、検査処理から送出される検査済み部品をその収容孔
内に吸引する吸引通路と、その円盤状回転体を断続的に
回転させるモータと、上記収容孔に対応して設けられる
良品排出口及び不良品排出口と、検査結果に応じて上記
収容孔内の検査済み部品を上記良品排出口または上記不
良品排出口から選択的に吸引し排出する排出制御部とを
備え、上記収容孔に貯留された検査済み部品が、検査処
理判定時間以後に上記良品排出口または上記不良品排出
口から排出されるように上記各排出口が上記吸引通路か
ら所定角度離れた位置に設けられている検査部品振分装
置である。According to the present invention, there is provided a disk-shaped rotating body in which a large number of accommodation holes for accommodating inspected parts are arranged in a circle, and the inspected parts sent out from the inspection processing are sucked into the accommodation holes. Suction passage, a motor for intermittently rotating the disk-shaped rotator, a non-defective product outlet and a defective product discharge port provided corresponding to the accommodation hole, and an inspection in the accommodation hole according to an inspection result. A discharge control unit for selectively sucking and discharging a part from the non-defective product outlet or the defective product discharge port, wherein the inspected component stored in the accommodation hole is used for the non-defective product discharge port or after the inspection processing determination time. An inspection component sorting device wherein each of the outlets is provided at a position separated by a predetermined angle from the suction passage so as to be discharged from the defective outlet.
【0009】請求項3の本発明は、上記検査済み部品を
上記収容孔内の所定位置に吸引保持する手段が備えられ
ている検査部品振分装置である。According to a third aspect of the present invention, there is provided an inspection component distributing apparatus provided with means for sucking and holding the inspected component at a predetermined position in the accommodation hole.
【0010】請求項4の本発明は、検査エラーと判定さ
れた検査済み部品を吸引し排出するための検査エラー排
出口を有し、上記排出制御部は上記良品排出口、不良品
排出口または検査エラー排出口から検査済み部品を選択
的に吸引し排出する検査部品振分装置である。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an inspection error discharge port for sucking and discharging the inspected part determined as an inspection error, and the discharge control section includes the non-defective product discharge port, the defective product discharge port, or the inspection error discharge port. This is an inspection component sorting device for selectively sucking and discharging the inspected component from the inspection error outlet.
【0011】請求項5の本発明は、排出できなかった検
査済み部品を強制的に吸引し排出するための強制排出口
を有し、上記排出制御部は上記良品排出口、不良品排出
口、検査エラー排出口または強制排出口から検査済み部
品を選択的に吸引し排出する検査部品振分装置である。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a forcible discharge port for forcibly sucking and discharging the inspected component that has not been discharged, and the discharge control section includes the non-defective product discharge port, the defective product discharge port, This is an inspection component sorting device that selectively sucks and exhausts inspected components from an inspection error discharge port or a forced discharge port.
【0012】請求項6の本発明は、上記各収容孔に番号
が割り付けられ、上記検査結果をその番号と対応させて
記憶するメモリを有し、上記排出制御部は、上記収容孔
が上記各排出口で停止する毎に上記メモリを参照し、上
記各排出口から検査済み部品を排出するか否かを判断す
る部品検査振分装置である。According to a sixth aspect of the present invention, a number is assigned to each of the receiving holes, and a memory is provided for storing the inspection result in association with the number. This is a component inspection distribution device that refers to the memory each time the apparatus stops at a discharge port and determines whether to discharge a tested component from each of the discharge ports.
【0013】請求項7の本発明は、検査部品を吸引する
ことにより飛走させ、飛走中に撮像した検査部品の撮像
データを画像処理することによって外観検査を行い、検
査結果に基づいて検査済み部品を選別する部品検査装置
において、検査済み部品を収容するための多数の収容孔
を円形に配列した円盤状回転体と、その円盤状回転体を
回転自在に収容するハウジングと、そのハウジングに設
けられ検査処理から送出される検査済み部品を上記収容
孔内に吸引して取り込む吸引通路と、検査済み部品が上
記収容孔内に吸引される毎にその円盤状回転体を1収容
孔分回転させるモータと、上記収容孔に対応して設けら
れる良品排出口及び不良品排出口と、検査結果に応じて
上記収容孔内の検査済み部品を上記良品排出口または上
記不良品排出口から選択的に吸引し排出する排出制御部
とを備え、上記収容孔に取り込まれた検査済み部品が、
検査処理判定時間以後に上記良品排出口または上記不良
品排出口から排出されるように上記各排出口を上記吸引
通路から所定角度離れた位置に設けてなる部品検査装置
である。According to a seventh aspect of the present invention, the inspection part is caused to fly by sucking, the image data of the inspection part taken during the flight is subjected to image processing, and the appearance inspection is performed, and the inspection is performed based on the inspection result. In a component inspection device that sorts finished components, a disk-shaped rotating body in which a large number of receiving holes for receiving inspected components are arranged in a circle, a housing that rotatably houses the disk-shaped rotating body, and a housing A suction passage provided for sucking the inspected component sent from the inspection process into the accommodation hole, and rotating the disk-shaped rotating body by one accommodation hole each time the inspected component is sucked into the accommodation hole. The motor to be driven, the non-defective product outlet and the defective product discharge port provided corresponding to the storage hole, and the inspected part in the storage hole according to the inspection result can be used as the non-defective product output port or the defective product discharge port. And a discharge control unit for selectively sucking and discharging, inspected parts taken into said receiving hole,
A component inspection apparatus in which each of the outlets is provided at a position separated by a predetermined angle from the suction passage so that the outlet is discharged from the non-defective product outlet or the defective product outlet after an inspection processing determination time.
【0014】本発明において、検査部品の一例としては
抵抗器、コンデンサ、インダクタ等の微小チップ部品が
示される。In the present invention, a micro chip component such as a resistor, a capacitor and an inductor is shown as an example of the inspection component.
【0015】請求項1及び2の本発明に従えば、検査処
理から送出される検査済み部品が円盤状回転体の収容孔
内に順次貯留され、良否の判定がなされた検査済み部品
は、検査処理とは独立して且つ時間差を持って排出処理
されるため、検査処理と排出処理とを同期させる必要が
なく、検査済み部品の選別を確実に行うことができる。According to the first and second aspects of the present invention, the inspected parts sent out from the inspection processing are sequentially stored in the receiving holes of the disk-shaped rotating body, and the inspected parts for which the quality is determined are inspected. Since the discharge processing is performed independently of the processing and with a time lag, there is no need to synchronize the inspection processing and the discharge processing, and the inspected components can be reliably selected.
【0016】請求項3の本発明に従えば、吸引保持する
手段により検査済み部品を収容孔内の所定の位置に保持
することができるため、良品及び不良品の排出動作を確
実に行うことができる。According to the third aspect of the present invention, since the inspected component can be held at a predetermined position in the receiving hole by the suction holding means, the discharging operation of the non-defective product and the defective product can be reliably performed. it can.
【0017】請求項4の本発明に従えば、検査エラーが
発生すると、検査エラーとなった検査済み部品を不良品
排出口とは別に設けられた検査エラー排出口から排出す
ることができるため、再度、検査に供することができ
る。According to the present invention, when an inspection error occurs, the inspected component having the inspection error can be discharged from the inspection error discharge port provided separately from the defective product discharge port. It can be subjected to the inspection again.
【0018】請求項5の本発明に従えば、排出エラーが
発生すると、新たな検査済み部品を収容孔に吸引する前
に強制排出口から強制的に排出するため、収容孔内に二
重に検査済み部品が収容されることを防止できる。According to the fifth aspect of the present invention, when a discharge error occurs, a new inspected component is forcibly discharged from the forcible discharge port before being sucked into the storage hole. It is possible to prevent the inspected parts from being stored.
【0019】請求項6の本発明に従えば、検査部品の判
定結果が、各収容孔に割り付けられている番号と対応し
てメモリに記憶されるため、排出制御部はそのメモリに
記憶されている判定結果を読み出すことにより、独自に
検査済み部品の排出動作を実行することができる。According to the present invention, since the judgment result of the inspection component is stored in the memory in correspondence with the number assigned to each accommodation hole, the discharge control section is stored in the memory. By reading out the judgment result, the ejection operation of the inspected component can be executed independently.
【0020】請求項7の本発明に従えば、例えば吸引ノ
ズルによって検査部品が吸引され、先頭の検査部品から
順次飛走が行われると、飛走中の検査部品は例えばCC
Dカメラによって撮像され、撮像された画像データは高
速で画像処理される。次いで画像データを基準データと
比較することによって外観検査が行われ、検査部品の良
否が判定される。According to the present invention, when the inspection component is sucked by, for example, the suction nozzle, and the flight is performed sequentially from the first inspection component, the inspection component during flight is, for example, CC.
The image data is captured by the D camera, and the captured image data is processed at high speed. Next, an appearance inspection is performed by comparing the image data with the reference data, and the quality of the inspection component is determined.
【0021】撮像を終え検査処理判定待ちの検査部品は
検査済み部品として円盤状回転体の収容孔に一時的に収
容される。この円盤状回転体は検査済み部品が吸引され
る毎に1収容孔分回転するため、検査済み部品は順次収
容孔に貯留されていく。The inspection component that has finished imaging and is waiting for an inspection process is temporarily stored in the receiving hole of the disk-shaped rotating body as an inspected component. Since the disk-shaped rotator rotates by one accommodating hole each time the inspected component is sucked, the inspected components are sequentially stored in the accommodating holes.
【0022】検査済み部品を収容している収容孔が良品
搬出口または不良品排出口に移動すると、排出制御部は
外観検査の判定結果に基づいて良品排出口または不良品
排出口のいずれか一方を吸引し検査済み部品を排出す
る。それにより、検査済み部品について良品、不良品が
選別される。When the accommodation hole accommodating the inspected component moves to the non-defective product discharge port or the defective product discharge port, the discharge control unit performs one of the non-defective product discharge port and the defective product discharge port based on the result of the appearance inspection. And discharge the inspected parts. As a result, non-defective products and defective products are selected from the inspected components.
【0023】[0023]
【発明の実施の形態】以下、図面に示した実施の形態に
基づいて本発明を詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an embodiment shown in the drawings.
【0024】図1は、本発明に係る検査部品の一例であ
る角形チップ抵抗器1の外観を示したものである。この
角形チップ抵抗器(以下、チップ部品と呼ぶ)1は、長
辺0.6mm×短辺0.3mm×高さ0.3mmの微小部品からなり、
上面1aの両縁部に電極1b,1bが形成されている。FIG. 1 shows the appearance of a rectangular chip resistor 1 which is an example of a test component according to the present invention. This square chip resistor (hereinafter referred to as a chip component) 1 is composed of minute components having a long side of 0.6 mm, a short side of 0.3 mm and a height of 0.3 mm.
Electrodes 1b, 1b are formed on both edges of the upper surface 1a.
【0025】図2は本発明に係る部品検査装置の全体構
成を示したものであり、同図(a)は正面図、同図
(b)はステッピングモータ15に備えられた回転ディ
スク16の右側面図である。図2において、チップ部品
1は、内面に螺旋溝2aが形成されている円筒状ホッパ
ー2内に一旦蓄えられ、その円筒状ホッパー2を軸2b
まわりに回転させることにより、高周波振動機3上に支
持されたボウル4上に所定量ずつ投入される(矢印A参
照)。FIGS. 2A and 2B show the entire structure of the component inspection apparatus according to the present invention. FIG. 2A is a front view, and FIG. 2B is a right side of a rotary disk 16 provided in a stepping motor 15. FIG. In FIG. 2, a chip component 1 is temporarily stored in a cylindrical hopper 2 having a spiral groove 2a formed on an inner surface, and the cylindrical hopper 2 is mounted on a shaft 2b.
By rotating it around, it is thrown into the bowl 4 supported on the high-frequency vibrator 3 by a predetermined amount (see arrow A).
【0026】ボウル4の上面にはその周壁に沿ってスパ
イラル状に上昇するトラックが形成されており、そのト
ラックは外周側に向けて若干傾斜している。従って、ボ
ウル4を支持している高周波振動機3を駆動させると、
ボウル4上に投入されたチップ部品1は、トラック上を
矢印B方向に周回しながら移動し、その間にチップ部品
1の移送量が調節されるとともにその姿勢が整えられ
る。A track which rises spirally along the peripheral wall is formed on the upper surface of the bowl 4, and the track is slightly inclined toward the outer peripheral side. Therefore, when the high-frequency vibrator 3 supporting the bowl 4 is driven,
The chip component 1 placed on the bowl 4 moves while circling on the track in the direction of arrow B, during which the transfer amount of the chip component 1 is adjusted and its posture is adjusted.
【0027】上記トラックの終端は、リニアパーツフィ
ーダ5のトラフ5aに連絡されており、各チップ部品1
はそのトラフ5a上を直列に連なった状態で矢印C方向
に移動し、トラフ5aの先端に配置された無振動トラフ
6に受け渡される。この無振動トラフ6は、リニアパー
ツフィーダ5による振動を遮断して後述する撮像時のぶ
れを防止するためのものである。The end of the track is communicated with the trough 5a of the linear parts feeder 5, and each chip component 1
Moves in the direction of arrow C while being connected in series on the trough 5a, and is transferred to the non-vibration trough 6 arranged at the tip of the trough 5a. The non-vibration trough 6 is for preventing vibration caused by the linear parts feeder 5 to prevent blurring during imaging described later.
【0028】この無振動トラフ6の先端から距離L離れ
た位置に吸引ノズル7が対向配置され、無振動トラフ6
上を移動するチップ部品1の先頭から吸引が行われる。A suction nozzle 7 is disposed at a position away from the tip end of the vibration-free trough 6 by a distance L.
Suction is performed from the top of the chip component 1 moving above.
【0029】上記吸引ノズル7はジェットポンプ8に接
続されており、このジェットポンプ8は支柱9に支持さ
れている。支柱9は矢印D方向に移動できるようになっ
ており、上記した距離Lを調整することができるように
なっている。The suction nozzle 7 is connected to a jet pump 8, which is supported by a support 9. The support 9 can be moved in the direction of arrow D, and the distance L can be adjusted.
【0030】上記ジェットポンプ8は、図3に示すよう
に、圧縮空気を空気導入口8aから導入し、吐出パイプ
8bから高速で噴射させ、それによって吸引ノズル7の
吸引口7aから空気を同伴させて吸引する構成のもので
ある。従って、このジェットポンプ8が作動すると吸引
ノズル7に対向する無振動トラフ6からチップ部品1が
順次吸引され、距離Lを飛走した後、吸引ノズル7から
吸引されジェットポンプ8内を通過して吐出パイプ8b
から送り出される。なお、上記ジェットポンプ8は通常
の吸引通路で構成してもかまわない。As shown in FIG. 3, the jet pump 8 introduces compressed air from the air inlet 8a and jets it at a high speed from the discharge pipe 8b, thereby causing air to be entrained from the suction port 7a of the suction nozzle 7. It is a configuration of suction. Therefore, when the jet pump 8 is operated, the chip components 1 are sequentially sucked from the non-vibration trough 6 facing the suction nozzle 7, and after flying the distance L, are sucked from the suction nozzle 7 and pass through the jet pump 8. Discharge pipe 8b
Sent out from. Note that the jet pump 8 may be constituted by a normal suction passage.
【0031】図2において、無振動トラフ6と吸引ノズ
ル7との間には、チップ部品1の飛走中にその4側面を
撮像するためのCCDカメラ10が4基配置されてお
り、これらのCCDカメラ10は後述する画像処理部3
0に接続されている。In FIG. 2, between the non-vibration trough 6 and the suction nozzle 7, four CCD cameras 10 for imaging four side surfaces of the chip component 1 during its flight are arranged. The CCD camera 10 includes an image processing unit 3 described later.
Connected to 0.
【0032】詳しくは、無振動トラフ6からチップ部品
1が高速でリリースされる度に、通過センサS1,S2か
らトリガ信号が出力され、このトリガ信号を受けて図示
しない照明装置が発光し、空中を飛走するチップ部品1
は、4基のCCDカメラ10で撮影され、撮影された映
像は画像処理部30で高速処理される。なお、画像処理
時間は、上記トリガ信号が与えられた後、maxで50ミ
リsec以内である。More specifically, each time the chip component 1 is released from the non-vibration trough 6 at a high speed, a trigger signal is output from the passage sensors S 1 and S 2 , and an illumination device (not shown) emits light in response to the trigger signal. , Chip components flying in the air 1
Are photographed by the four CCD cameras 10, and the photographed images are processed at high speed by the image processing unit 30. Note that the image processing time is within 50 milliseconds at the maximum after the trigger signal is given.
【0033】また、ジェットポンプ8の吐出パイプ8b
はその下流側に配置される振分装置11に接続されてい
る。The discharge pipe 8b of the jet pump 8
Is connected to a sorting device 11 arranged downstream of the device.
【0034】この振分装置11は、アクリル樹脂からな
る透明の円盤状回転体12と、その円盤状回転体12を
回転自在に収容する同じくアクリル樹脂からなる透明の
ケーシング13とから主として構成されている。The distribution device 11 is mainly composed of a transparent disk-shaped rotator 12 made of an acrylic resin and a transparent casing 13 made of the same acrylic resin for rotatably accommodating the disk-shaped rotator 12. I have.
【0035】図4は上記ケーシング13を拡大して示し
たものであり、同図(a)はケーシング13の正面図、
同図(b)は右側面図である。FIG. 4 is an enlarged view of the casing 13. FIG. 4A is a front view of the casing 13, and FIG.
FIG. 2B is a right side view.
【0036】図4(a)において、ブロック状からなる
ケーシング13の略中央には、円盤状回転体12を収容
するための有底筒穴部13aが水平方向に形成されてい
る。ケーシング13の上面13bには吸引ノズル7から
放出されるエアを抜くためのエア抜き孔13cが垂直方
向に穿設されており、ケーシング13の後壁13dには
垂直軸V.Aを基準として時計回り方向に角度θ°毎に排
出口13e,13f,13gがこの順に形成されてい
る。In FIG. 4A, a bottomed cylindrical hole 13a for accommodating the disk-shaped rotary body 12 is formed in a horizontal direction substantially at the center of the casing 13 having a block shape. An air bleeding hole 13c for bleeding air discharged from the suction nozzle 7 is formed in the upper surface 13b of the casing 13 in a vertical direction, and a rear wall 13d of the casing 13 is clockwise with respect to the vertical axis VA. The outlets 13e, 13f, 13g are formed in this order at every angle θ °.
【0037】第1排出口13eは、検査エラー時におい
て検査済み部品としてのチップ部品1を排出するために
設けられており、第2排出口13fは不良品を排出する
ために設けられており、第3排出口13gは良品を排出
するために設けられている。The first discharge port 13e is provided for discharging the chip component 1 as the inspected component at the time of a test error, and the second discharge port 13f is provided for discharging a defective product. The third outlet 13g is provided for discharging a good product.
【0038】また、ケーシング13の右肩部13hには
有底筒穴部13aと連通する吸引通路13i及び吸引通
路13jがそれぞれ設けられている。これらの吸引通路
13i,13jは、後述する円盤状回転体12に設けら
れた収容孔12c1内を負圧にして収容孔12c内に収
容されたチップ部品1を所定の位置に保持しておくため
のものである。A suction passage 13i and a suction passage 13j communicating with the bottomed cylindrical hole 13a are provided in the right shoulder 13h of the casing 13, respectively. These suction passage 13i, 13j is holds the chip components 1 accommodated in the accommodating hole 12c and the disk-like rotary body accommodating hole 12c 1 provided 12 to be described later to the negative pressure in a predetermined position It is for.
【0039】なお、上記エア抜き孔13cは図2に示す
電磁弁20に接続され、第1〜第3排出口13e〜13
gはそれぞれ電磁弁21〜23に接続されている。これ
らの電磁弁20〜23は後述する排出制御部40によっ
て制御されるようになっており(図2参照)、開動作し
たときに図示しない真空ポンプと連通するようになって
いる。The air vent hole 13c is connected to the solenoid valve 20 shown in FIG.
g is connected to the solenoid valves 21 to 23, respectively. These solenoid valves 20 to 23 are controlled by a discharge control unit 40 described later (see FIG. 2), and communicate with a vacuum pump (not shown) when opened.
【0040】また、電磁弁21の吐出ポートは検査エラ
ー回収箱21aが接続され、電磁弁22には不良品回収
箱22aが、電磁弁23には良品回収箱23aがそれぞ
れ接続されている(図7参照)。The discharge port of the solenoid valve 21 is connected to an inspection error collection box 21a, the solenoid valve 22 is connected to a defective product collection box 22a, and the solenoid valve 23 is connected to a good product collection box 23a (FIG. 1). 7).
【0041】上記した各回収箱21a〜23aは同じ構
成からなり、箱状容器の上蓋に透明チューブが取り付け
られ、箱状容器の下部に設けられた複数の開口から空気
を逃がすようになっている。なお、回収箱内には通気性
を有するフィルタ、例えば連続気泡の軟質ウレタンを袋
状に形成したフィルタが内蔵されており、このフィルタ
内にチップ部品1を回収するようになっている。Each of the above-mentioned collection boxes 21a to 23a has the same configuration, a transparent tube is attached to the upper lid of the box-shaped container, and air is released from a plurality of openings provided at the lower part of the box-shaped container. . In addition, a filter having air permeability, for example, a filter in which open-cell soft urethane is formed in a bag shape is built in the collection box, and the chip component 1 is collected in the filter.
【0042】図4において、後壁13dにおける吐出パ
イプ8bの延長線上には円柱からなる金属製軸体13k
が埋設されており、吸引ノズル7から吸引されたチップ
部品1が衝突する部位の摩耗を防止するようになってい
る。また、13lはその金属製軸体13kを交換可能に
固定するためのねじである。また、このケーシング13
の前側開口は、図示しない蓋部材によって気密に封止さ
れる。In FIG. 4, a metal shaft 13k made of a cylinder is provided on an extension of the discharge pipe 8b on the rear wall 13d.
Is embedded so as to prevent wear of a portion where the chip component 1 sucked from the suction nozzle 7 collides. Reference numeral 131 denotes a screw for exchangeably fixing the metal shaft 13k. Also, this casing 13
Is hermetically sealed by a lid member (not shown).
【0043】図5及び図6は、上記ケーシング13内に
隙間m(図4(b)参照)を確保した状態で回転自在に
収容される円盤状回転体12を示したものであり、前側
及び後側円盤状部品12a,12bを組み合わせること
により構成されている。FIGS. 5 and 6 show the disk-shaped rotating body 12 rotatably accommodated in the casing 13 with a gap m (see FIG. 4B) secured. It is configured by combining the rear disk-shaped parts 12a and 12b.
【0044】図5において、前側円盤状部品12aは、
外周に沿った円周上に50個の貫通孔12c1が等間隔
に配設されており、各貫通孔12c1は前側円盤状部品
12aの胴部外面に並設された多数の通気孔12dを通
じて環状の隙間mと連通するようになっている。In FIG. 5, the front disk-shaped part 12a
On the circumference along the outer periphery 50 of the through-hole 12c 1 are arranged at regular intervals, a large number of vent holes 12d through holes 12c 1 are provided in parallel to the barrel outer surface of the front disc-shaped part 12a Through the annular gap m.
【0045】図6において、後側円盤状部品12bは、
上記貫通孔12c1と同数、同形状の貫通孔12c2を備
えているが、通気孔12dは備えていない。貫通孔12
c1と貫通孔12c2とを対向させて前側円盤状部品12
aと後側円盤状部品12bを組み合わせると、貫通孔1
2c1と貫通孔12c2が連通して撮像済みのチップ部品
1を収容する収容孔が形成される。また、後側円盤状部
品12bには回転軸14aが接続されている。In FIG. 6, the rear disk-shaped part 12b is
The through hole 12c 1 the same number is provided with the through hole 12c 2 of the same shape, the ventilation hole 12d is not provided. Through hole 12
c 1 and the through-hole 12 c 2 are opposed to each other so that
a and the rear disc-shaped part 12b, the through hole 1
2c 1 and the through hole 12c 2 is accommodating hole for accommodating the imaging already chip components 1 communicates is formed. Further, a rotating shaft 14a is connected to the rear disk-shaped component 12b.
【0046】この回転軸14aは、図2に示すように、
カップリング14bを介してステッピングモータ15の
出力軸15aに接続されている。ステッピングモータ1
5のモータ軸15bには円盤状回転体12の回転角を検
知するための回転ディスク16が取り付られており、こ
の回転ディスク16の外周部にフォトセンサ17が配置
されている。このフォトセンサ17から出力される信号
は排出制御部40に与えられる。As shown in FIG. 2, the rotating shaft 14a
It is connected to the output shaft 15a of the stepping motor 15 via the coupling 14b. Stepping motor 1
A rotating disk 16 for detecting the rotation angle of the disk-shaped rotating body 12 is attached to the motor shaft 15b of No. 5, and a photo sensor 17 is arranged on the outer periphery of the rotating disk 16. The signal output from the photo sensor 17 is given to the discharge control unit 40.
【0047】上記回転ディスク16の外周部には、図2
(b)に示すように、角度θ°毎に光透過部16a、光
遮断部16bが交互に形成されている。上記角度θ°
は、ケーシング13において第1〜第3の貫通孔13
e,13f,13gが配設されている角度θ°と一致さ
せている(図4(a)参照)。従って、ステッピングモ
ータ15を回転させ、θ°毎に変化するフォトセンサ1
7の受光量を監視することにより、円盤状回転体12の
収容孔12cが第1排出口13e、第2排出口13f、
第3排出口13gに到達したことを検知することができ
る。The outer periphery of the rotating disk 16 is
As shown in (b), the light transmitting portions 16a and the light blocking portions 16b are formed alternately at every angle θ °. The above angle θ °
Are the first through third through holes 13 in the casing 13.
The angles e, 13f, and 13g are matched with the arranged angle θ ° (see FIG. 4A). Therefore, the stepping motor 15 is rotated, and the photo sensor 1 changes every θ °.
7, the receiving hole 12c of the disc-shaped rotator 12 becomes the first outlet 13e, the second outlet 13f,
The arrival at the third outlet 13g can be detected.
【0048】また、吐出パイプ8bの出口部に、チップ
部品1が通過したことを検知するための通過センサ
S1,S2が備えられ、また、第1排出口13e〜第3排
出口13gにおけるチップ部品排出通路にも通過センサ
S3,S4が備えられている。前者の通過センサS1,S2
は撮像のためのトリガ信号を出力し、後者の通過センサ
S 3,S4は収容孔12cから排出されたチップ部品1の
個数をカウントするためのトリガ信号を出力する。な
お、上記通過センサは光電センサを使用することができ
る。なお、18は軸受けであり、19は上記した各要素
を支持するための架台である。A tip is provided at the outlet of the discharge pipe 8b.
Pass sensor for detecting that part 1 has passed
S1, STwoAre provided, and the first discharge port 13e to the third discharge port
Passage sensor for chip component discharge passage at outlet 13g
SThree, SFourIs provided. The former passage sensor S1, STwo
Outputs a trigger signal for imaging and the latter pass sensor
S Three, SFourOf the chip component 1 discharged from the accommodation hole 12c
A trigger signal for counting the number is output. What
Please note that the above pass sensor can use a photoelectric sensor.
You. Reference numeral 18 denotes a bearing, and 19 denotes each of the above-described elements.
It is a stand for supporting.
【0049】図7は画像処理部30及び振分処理部40
の構成を示したものである。同図において、チップ部品
1がCCDカメラ10の視野内に進むと、通過センサS
1,S2から画像処理部30の通過監視部30aに対して
信号が出力される。FIG. 7 shows the image processing unit 30 and the distribution processing unit 40.
This is a diagram showing the configuration of FIG. In FIG. 1, when the chip component 1 advances within the field of view of the CCD camera 10, the passage sensor S
1, the signal is outputted from the S 2 to the passage monitoring unit 30a of the image processing unit 30.
【0050】通過監視部30aは、CCDカメラ制御部
30bに対して撮像トリガ信号trgを出力し、CCDカ
メラ制御部30bは、第1〜第4のCCDカメラ10に
対して撮像指令を出力する。The passage monitoring unit 30a outputs an imaging trigger signal trg to the CCD camera control unit 30b, and the CCD camera control unit 30b outputs an imaging instruction to the first to fourth CCD cameras 10.
【0051】第1〜第4のCCDカメラ10は例えば1
秒間に20個ずつ飛走するチップ部品1の4側面につい
て撮像を行う。なお、このとき、撮像のタイミングに合
わせて発光ダイオードからなる照明装置(図示しない)
が発光する。The first to fourth CCD cameras 10 are, for example, 1
Imaging is performed on four side surfaces of the chip component 1 flying at a rate of 20 pieces per second. At this time, an illuminating device (not shown) composed of a light emitting diode according to the timing of imaging.
Emits light.
【0052】各CCDカメラ10によって撮像された画
像データP1〜P4は、画像メモリ30cに一時的に蓄え
られた後、良否判定部30dに送られる。[0052] Image data P 1 to P 4 captured by the CCD camera 10, after being temporarily stored in the image memory 30c, is sent to a quality judgment unit 30d.
【0053】良否判定部30dは、画像データP1〜P4
を、基準画像メモリ30eに予め記憶されている良品チ
ップ部品の4面の画像データと比較を行うことにより、
チップ部品1の外観について良否の判定を行ない、判定
結果を参照メモリ30fに記憶する。The pass / fail judgment unit 30d determines whether the image data P 1 to P 4
Is compared with the image data of the four surfaces of the non-defective chip component stored in advance in the reference image memory 30e.
The external appearance of the chip component 1 is determined to be good or bad, and the result of the determination is stored in the reference memory 30f.
【0054】参照メモリ30f内のテーブルには、円盤
状回転体12の収容孔12cの番地を示すインデックス
番号1〜50が予め記憶されており、検査結果はそのイ
ンデックス番号に対応させて順次記憶される。ただし、
円盤状回転体12の基準位置は図示しないセンサで認識
できるものとし、撮像されたチップ部品1が収容される
収容孔12cの番地の特定は、基準位置から回転移動し
た収容孔の数xをカウントすることによって把握するも
のとする。In the table in the reference memory 30f, index numbers 1 to 50 indicating addresses of the accommodation holes 12c of the disk-shaped rotating body 12 are stored in advance, and the inspection results are sequentially stored corresponding to the index numbers. You. However,
The reference position of the disc-shaped rotating body 12 is assumed to be recognizable by a sensor (not shown), and the address of the accommodation hole 12c in which the imaged chip component 1 is accommodated is determined by counting the number x of the accommodation hole rotated and moved from the reference position. By doing so.
【0055】一方、振分処理部40は、回転制御部40
aと排出制御部40bとを有し、回転制御部40aは、
通過センサS1,S2から信号が出力される度に収容孔1
2cを一つ回転させて次の空き収容孔12cを吐出パイ
プ8b下流側に待機させる。On the other hand, the distribution processing unit 40 includes a rotation control unit 40
a and a discharge control unit 40b, and the rotation control unit 40a
Each time a signal is output from the passage sensors S 1 and S 2, the receiving hole 1
The next empty accommodation hole 12c is made to stand by at the downstream side of the discharge pipe 8b by rotating one rotation of 2c.
【0056】排出制御部40bは、フォトセンサ17か
ら出力される信号を監視しており、回転ディスク16が
θ°回転する毎に、すなわち、収容孔12cが第1排出
口13e、第2排出口13f,第3排出口13gの各位
置に到達する毎に参照メモリ30fを参照し、その収容
孔12c内に収容されているチップ部品1の検査結果を
読み出す。The discharge control section 40b monitors the signal output from the photo sensor 17, and each time the rotating disk 16 rotates by θ °, that is, the receiving hole 12c is set to the first discharge port 13e and the second discharge port. The inspection result of the chip component 1 housed in the housing hole 12c is read out by referring to the reference memory 30f every time when it reaches each position of 13f and the third outlet 13g.
【0057】次に上記構成を有する部品検査装置の動作
について説明する。Next, the operation of the component inspection apparatus having the above configuration will be described.
【0058】円筒状ホッパー2から高周波振動機3のボ
ウル4上に定量ずつ投入されたチップ部品1は、ボウル
4上を周回する間にその姿勢が整えられてリニアパーツ
フィーダ5のトラフ5aに移送され、直列に連なった状
態で整列される。The chip component 1 put in a fixed amount from the cylindrical hopper 2 onto the bowl 4 of the high-frequency vibrator 3 is adjusted in its posture while rotating on the bowl 4 and is transferred to the trough 5 a of the linear parts feeder 5. And are arranged in series.
【0059】先頭のチップ部品1が無振動トラフ6の先
端から飛走を開始する時、通過センサS1,S2から画像
処理部30のCCDカメラ制御部30bに対して撮像ト
リガ信号trgが出力され、吸引ノズル7の吸引によって
飛走するチップ部品1の4側面が第1〜第4CCDカメ
ラ10によって撮像される。When the leading chip component 1 starts flying from the tip of the non-vibration trough 6, an imaging trigger signal trg is output from the passage sensors S 1 and S 2 to the CCD camera control unit 30b of the image processing unit 30. Then, four side surfaces of the chip component 1 flying by suction of the suction nozzle 7 are imaged by the first to fourth CCD cameras 10.
【0060】吸引されたチップ部品1は次いでジェット
ポンプ8を通過して振分装置11に送られる。この間、
画像処理部30は、撮像したチップ部品1の画像データ
を基準画像メモリ30e内の基準画像と比較することに
より外観検査について良否の判定を行ない、その判定結
果を収容孔12cのインデックス番号と対応させて参照
メモリ30fに記憶する。The sucked chip component 1 is then sent to the distribution device 11 through the jet pump 8. During this time,
The image processing unit 30 compares the captured image data of the chip component 1 with the reference image in the reference image memory 30e to determine the quality of the appearance inspection, and associates the determination result with the index number of the accommodation hole 12c. Stored in the reference memory 30f.
【0061】一方、振分装置11の回転制御部40a
は、通過センサS1,S2から信号が出力される毎に円盤
状回転体12を1収容孔分回転させ、吸引ノズル7から
吸引されるチップ部品1を順次、収容孔12cに貯留し
ていく。On the other hand, the rotation control unit 40a of the distribution device 11
Rotates the disc-shaped rotator 12 by one accommodating hole each time a signal is output from the passage sensors S 1 and S 2 , and sequentially stores the chip components 1 sucked from the suction nozzle 7 in the accommodating hole 12 c. Go.
【0062】チップ部品1を収容した収容孔12cが時
計まわりに断続的に回転するとき、排出制御部40bは
フォトセンサ17から出力される信号を監視しており、
回転ディスク16がθ°回転する毎に参照メモリ30f
を参照してその排出口に到達した収容孔12cに収容さ
れているチップ部品1の検査結果を読み出し、下記(a)
〜(c)のいずれかの排出動作を実行する。When the accommodating hole 12c accommodating the chip component 1 rotates intermittently clockwise, the discharge control unit 40b monitors the signal output from the photo sensor 17,
Each time the rotating disk 16 rotates by θ °, the reference memory 30f
The inspection result of the chip component 1 housed in the housing hole 12c reaching the outlet is read out with reference to (a) below.
(C) is executed.
【0063】(a) 第1排出口13eに到達した時、そ
の読み出した検査結果が検査エラーである場合にのみ電
磁弁21を開き収容孔12c内のチップ部品1を吸引排
出する。(A) When reaching the first discharge port 13e, the solenoid valve 21 is opened only when the read test result indicates a test error, and the chip component 1 in the accommodation hole 12c is suctioned and discharged.
【0064】(b) 第2排出口13fに到達した時、そ
の読み出した検査結果が不良品である場合にのみ電磁弁
22を開き収容孔12c内のチップ部品1を吸引排出す
る。(B) When reaching the second discharge port 13f, the solenoid valve 22 is opened only when the read inspection result is a defective product, and the chip component 1 in the accommodation hole 12c is suctioned and discharged.
【0065】(c) 第3排出口13gに到達した時、そ
の読み出した検査結果が良品である場合にのみ電磁弁2
3を開き収容孔12c内のチップ部品1を吸引排出す
る。(C) When reaching the third discharge port 13g, the solenoid valve 2 is turned on only when the read inspection result is a non-defective product.
3, the chip component 1 in the accommodation hole 12c is suctioned and discharged.
【0066】なお、電磁弁20については検査時におい
て常に開であり、吸引ノズル7から放出されるエアを継
続して排出するようになっている。The solenoid valve 20 is always open at the time of inspection, so that air discharged from the suction nozzle 7 is continuously discharged.
【0067】このように、画像処理部30と振分処理部
40とを独立して動作させるとともに、チップ部品1を
円盤状回転体12に多数配設された収容孔12c内に貯
留しつつ円盤状回転体12を回転させ、所定角度θ°離
れた位置、すなわち、画像処理終了後に順次、チップ部
品1を排出するように構成しているため、従来の振分け
装置のように画像処理と排出処理を同期させる必要がな
い。As described above, the image processing section 30 and the distribution processing section 40 operate independently, and the chip component 1 is stored in the accommodating holes 12c provided in the disc-shaped rotating body 12 while the disc component 1 is stored. Is rotated at a predetermined angle θ °, that is, the chip components 1 are sequentially discharged after the image processing is completed. Therefore, the image processing and the discharge processing are performed as in the conventional sorting device. There is no need to synchronize.
【0068】また、図8は上記した振分装置11の変形
例を示したものであり、同図(a)は正面図、同図
(b)はそのE−E矢視断面図である。なお、図2と同
じ構成要素については同一符号を付してその説明を省略
する。FIG. 8 shows a modification of the above-mentioned sorting device 11, wherein FIG. 8 (a) is a front view and FIG. 8 (b) is a sectional view taken along the line EE. The same components as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
【0069】同図に示す振分装置50において、透明樹
脂製ブロックからなるケーシング51の略中央には、円
板状回転体52を収容するための皿状凹部51aが水平
方向に形成されている。In the sorting device 50 shown in the figure, a dish-shaped concave portion 51a for accommodating the disk-shaped rotating body 52 is formed in the horizontal direction substantially at the center of a casing 51 made of a transparent resin block. .
【0070】この皿状凹部51a内に嵌合される透明樹
脂製からなる円盤状回転体52は、上記した円盤状回転
体12と同様に、収容孔52aが円周上に50個配設さ
れたものである。The disk-shaped rotator 52 made of transparent resin and fitted in the dish-shaped recess 51a has 50 accommodating holes 52a arranged on the circumference in the same manner as the disk-shaped rotator 12 described above. It is a thing.
【0071】ケーシング51の上部には吸引機構53が
設けられ、吸引ノズル7と連通してエア抜きを構成する
ようになっている。A suction mechanism 53 is provided above the casing 51, and communicates with the suction nozzle 7 to form an air vent.
【0072】図8(a)において、ケーシング51の後
壁には時計方向に角度θ1°回転した位置に第1排出口
51b、その第1排出口51bからθ2°ずつ回転した
位置に第2排出口51c、第3排出口51dが設けら
れ、その第3排出口51dからさらにθ3°回転した位
置に第4排出口51eが設けられている。In FIG. 8A, the first outlet 51b is rotated clockwise by an angle θ 1 ° on the rear wall of the casing 51, and the first outlet 51b is rotated by θ 2 ° from the first outlet 51b. A second discharge port 51c and a third discharge port 51d are provided, and a fourth discharge port 51e is provided at a position further rotated by 3 ° from the third discharge port 51d.
【0073】第1排出口51bは検査エラー時にチップ
部品1を吸引排出するために、第2排出口51cは不良
品を排出するために、第3排出口51dは良品を排出す
るために、第4排出口51eは排出エラーが生じた場合
に収容孔52a内に残存するチップ部品1を排出するた
めにそれぞれ設けられている。The first discharge port 51b is used to discharge the chip component 1 by suction when an inspection error occurs, the second discharge port 51c is used to discharge defective products, and the third discharge port 51d is used to discharge non-defective products. The four discharge ports 51e are provided for discharging the chip components 1 remaining in the accommodation hole 52a when a discharge error occurs.
【0074】上記エア抜き孔13cは電磁弁20に接続
され、第1〜第4排出口51b〜51eはそれぞれ電磁
弁21〜24に接続されており、これらの電磁弁20〜
24は排出制御部40bによって制御され(図2参
照)、開動作したときに図示しない真空ポンプと連通す
るようになっている。ただし、電磁弁24は本実施形態
で付加されたものである。なお、ケーシング51の前側
開口は、透明の蓋部材54によって気密に封止される。The air vent hole 13c is connected to the solenoid valve 20, and the first to fourth discharge ports 51b to 51e are connected to solenoid valves 21 to 24, respectively.
Reference numeral 24 is controlled by the discharge control unit 40b (see FIG. 2), and communicates with a vacuum pump (not shown) when the opening operation is performed. However, the solenoid valve 24 is added in this embodiment. The front opening of the casing 51 is hermetically sealed by a transparent lid member 54.
【0075】上記吸引機構53は、図9の拡大図に示す
ように、有底筒状部材53aと、その有底筒状部材53
aの筒軸上に配置される芯部材53bから主として構成
されている。As shown in the enlarged view of FIG. 9, the suction mechanism 53 includes a bottomed tubular member 53a and a bottomed tubular member 53a.
It is mainly composed of a core member 53b arranged on the cylindrical shaft of a.
【0076】有底筒状部材53aの底板部には貫通孔5
3cが形成されており、その貫通孔53c内に、芯部材
53bの先端に小径に形成されたニードル部53dが遊
嵌されている。従って貫通孔53c内面とニードル部5
3d外面との間に形成される環状の隙間nが吸引通路を
形成している。The bottom plate of the bottomed cylindrical member 53a has a through hole 5
A needle portion 53d having a small diameter formed at the tip of the core member 53b is loosely fitted in the through hole 53c. Therefore, the inner surface of the through hole 53c and the needle portion 5
An annular gap n formed between the outer surface and the 3d outer surface forms a suction passage.
【0077】矢印F方向に吸引が行われると、吸引ノズ
ル7から矢印G方向に吸引されたチップ部品1は円板状
回転体52の収容孔52a内に収容され、エアーは隙間
nを通じて矢印H方向に抜けるが、チップ部品1はニー
ドル部53aの先端面によって移動が阻止され収容孔5
2a内に留まることになる。When the suction is performed in the direction of arrow F, the chip component 1 sucked in the direction of arrow G from the suction nozzle 7 is stored in the storage hole 52a of the disc-shaped rotating body 52, and the air flows through the gap H through the arrow H. However, the tip part 1 is prevented from moving by the distal end face of the needle part 53a,
2a.
【0078】検査エラー、不良品、良品を排出する処理
については先に説明した実施形態と同様である。なお、
55は通過センサであり、チップ部品1が通過した時に
振分処理部40に対して信号を出力する。また、各排出
口の排出通路にも出口通過センサ(図示しない)が設け
られている。The processing for discharging inspection errors, defective products, and non-defective products is the same as in the above-described embodiment. In addition,
Reference numeral 55 denotes a passage sensor, which outputs a signal to the distribution processing unit 40 when the chip component 1 passes. An outlet passage sensor (not shown) is also provided in the discharge passage of each discharge port.
【0079】この場合の振分部40は、通過センサ55
を通過したチップ部品1の数をカウントするとともに、
出口通過センサを通過したチップ部品1の数もカウント
しており、両通過センサを通過したチップ部品の数が一
致しないときは、収容孔52a内にチップ部品が残存し
ているとみなし、収容孔52aが第4排出口51eに到
達する毎に吸引を行ない、残存するチップ部品1の排出
を行うようにしている。In this case, the distribution unit 40 includes a passage sensor 55
While counting the number of chip components 1 that passed
The number of chip components 1 that have passed through the exit passage sensor is also counted, and when the number of chip components that have passed through both passage sensors does not match, it is considered that chip components remain in the accommodation hole 52a and the accommodation hole Each time the nozzle 52a reaches the fourth discharge port 51e, suction is performed, and the remaining chip component 1 is discharged.
【0080】なお、本発明における検査部品は上記実施
形態では角形チップ抵抗器であっあ、これに限らず、角
形チップコンデンサ、角形チップインダクタ等の電子部
品に適用することができ、また、電子部品に限らず、吸
引ノズルによって吸引することができる形態のものであ
れば、任意の部品の外観検査に適用することができる。The inspection component in the present invention is a square chip resistor in the above embodiment, but is not limited to this, and can be applied to electronic components such as a square chip capacitor and a square chip inductor. The present invention is not limited to this, and can be applied to the appearance inspection of any part as long as it can be sucked by the suction nozzle.
【0081】[0081]
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
請求項1及び2の本発明によれば、検査処理から送出さ
れる検査済み部品を円盤状回転体の収容孔内に順次貯留
していき、良否の判定がなされた検査済み部品を、検査
処理とは独立して且つ時間差を持って排出処理するよう
にしたため、検査処理と排出処理とを同期させる必要が
なく、検査済み部品の選別を確実に行うことができる。As is apparent from the above description,
According to the first and second aspects of the present invention, the inspected components sent out from the inspection process are sequentially stored in the receiving holes of the disc-shaped rotating body, and the inspected components for which the quality is determined are subjected to the inspection process. Independently and with a time lag, the discharge processing is performed, so that it is not necessary to synchronize the inspection processing and the discharge processing, and the inspected components can be reliably selected.
【0082】請求項3の本発明によれば、吸引保持する
手段により検査済み部品を収容孔内の所定の位置に保持
することができるため、検査済み部品について良品及び
不良品の排出動作を確実に行うことができる。According to the third aspect of the present invention, since the inspected component can be held at a predetermined position in the receiving hole by the suction holding means, the discharging operation of the non-defective product and the defective product with respect to the inspected component is ensured. Can be done.
【0083】請求項4の本発明によれば、検査エラーが
発生すると、検査エラーとなった検査済み部品を不良品
排出口とは別に設けられた検査エラー排出口から排出す
ることができるため、再度、検査に供することができ
る。According to the fourth aspect of the present invention, when an inspection error occurs, the inspected component having the inspection error can be discharged from the inspection error discharge port provided separately from the defective product discharge port. It can be subjected to the inspection again.
【0084】請求項5の本発明によれば、排出エラーが
発生すると、新たな検査済み部品を吸引する前に強制排
出口から強制的に排出するため、収容孔内に二重に検査
済み部品が収容されることを防止できる。According to the fifth aspect of the present invention, when a discharge error occurs, a new inspected component is forcibly ejected from the forced ejection port before sucking a new inspected component. Can be prevented from being accommodated.
【0085】請求項6の本発明によれば、検査部品の判
定結果が、各収容孔に割り付けられている番号と対応し
てメモリに記憶されるため、排出制御部はそのメモリに
記憶されている判定結果を読み出すことにより、独自に
排出動作を実行することができる。According to the sixth aspect of the present invention, since the determination result of the inspection component is stored in the memory in correspondence with the number assigned to each of the receiving holes, the discharge control unit is stored in the memory. By reading the judgment result, the discharge operation can be executed independently.
【0086】請求項7の本発明によれば、例えば吸引ノ
ズルによって検査部品が吸引され、先頭の検査部品から
順次飛走が行われると、飛走中の検査部品は例えばCC
Dカメラによって撮像され、撮像された画像データは高
速で画像処理される。次いで画像データを基準データと
比較することによって外観検査が行われ、検査部品の良
否が判定される。According to the seventh aspect of the present invention, when the inspection component is sucked by, for example, the suction nozzle and the flying is performed sequentially from the leading inspection component, the flying inspection component becomes, for example, CC.
The image data is captured by the D camera, and the captured image data is processed at high speed. Next, an appearance inspection is performed by comparing the image data with the reference data, and the quality of the inspection component is determined.
【0087】撮像を終えて検査処理判定待ちの検査済み
部品は円盤状回転体の収容孔に一時的に収容される。こ
の円盤状回転体は検査済み部品が吸引される毎に1収容
孔分回転するため、検査済み部品は順次収容孔に貯留さ
れていく。The inspected component which has finished the imaging and is waiting for the inspection process determination is temporarily stored in the receiving hole of the disk-shaped rotating body. Since the disk-shaped rotator rotates by one accommodating hole each time the inspected component is sucked, the inspected components are sequentially stored in the accommodating holes.
【0088】検査済み部品を収容している収容孔が良品
搬出口または不良品排出口に移動すると、排出制御部は
外観検査の判定結果に基づいて良品排出口または不良品
排出口のいずれか一方を吸引し検査部品を排出する。そ
れにより、良品、不良品が選別される。When the accommodation hole accommodating the inspected component moves to the non-defective product discharge port or the defective product discharge port, the discharge control unit performs one of the non-defective product discharge port and the defective product discharge port based on the result of the appearance inspection. And discharge the inspection parts. Thereby, non-defective products and defective products are sorted out.
【図1】本発明の部品検査装置に供せされる検査部品の
形態を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a form of an inspection component provided to a component inspection apparatus of the present invention.
【図2】本発明に係る部品検査装置の構成を示す説明図
である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a configuration of a component inspection device according to the present invention.
【図3】図2に示すジェットポンプ8の構成を示す要部
拡大図である。FIG. 3 is an enlarged view of a main part showing a configuration of the jet pump 8 shown in FIG.
【図4】(a)は図2に示す振分装置11のケーシング正
面図、(b)はその右側面図である。4 (a) is a front view of a casing of the distribution device 11 shown in FIG. 2, and FIG. 4 (b) is a right side view thereof.
【図5】(a)はケーシング13内に嵌合される円盤状回
転体12の一方を示す正面図、(b)はその右側面図であ
る。5A is a front view showing one of the disk-shaped rotating bodies 12 fitted into a casing 13, and FIG. 5B is a right side view thereof.
【図6】(a)はケーシング13内に嵌合される円盤状回
転体12の他方を示す正面図、(b)はその右側面図であ
る。6 (a) is a front view showing the other of the disc-shaped rotating body 12 fitted into the casing 13, and FIG. 6 (b) is a right side view thereof.
【図7】図2に示す画像処理部30及び振分処理部40の構
成を示すブロック図である。FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of an image processing unit 30 and a distribution processing unit 40 shown in FIG.
【図8】(a)は振分装置11の変形例を示す正面図、
(b)はその右側面断面図である。FIG. 8A is a front view showing a modification of the distribution device 11,
(B) is a right side sectional view thereof.
【図9】図8(b)のH部拡大図である。FIG. 9 is an enlarged view of a portion H in FIG. 8 (b).
1 チップ部品 2 円筒状ホッパー 3 高周波振動機 4 ボウル 5 リニアパーツフィーダ 6 無振動トラフ 7 吸引ノズル 8 ジェットポンプ 10 CCDカメラ 11 振分装置 12 円盤状回転体 12c 部品収容部 13 ケーシング 13e 第1排出口 13f 第2排出口 13g 第3排出口 15 ステッピングモータ 30 画像処理部 40 振分け処理部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Chip component 2 Cylindrical hopper 3 High frequency vibrator 4 Bowl 5 Linear parts feeder 6 Non-vibration trough 7 Suction nozzle 8 Jet pump 10 CCD camera 11 Distributing device 12 Disc-shaped rotating body 12c Parts storage part 13 Casing 13e 1st discharge port 13f second discharge port 13g third discharge port 15 stepping motor 30 image processing section 40 distribution processing section
Claims (7)
容孔が円形に配列されている円盤状回転体を断続的に回
転させながら、検査処理から送出される検査済み部品を
その収容孔内に順次吸引して貯留していき、貯留された
その検査済み部品を、検査処理判定時間以後に上記収容
孔の移動経路先に設けた良品排出口及び不良品排出口か
ら選択的に吸引し排出することを特徴とする検査部品振
分け方法。1. An inspected component sent out from an inspection process is intermittently rotated while intermittently rotating a disk-shaped rotating body in which a large number of accommodation holes for accommodating an inspected component are circularly arranged. Then, the inspected parts that have been stored are selectively sucked and discharged from the non-defective product outlet and the defective product outlet provided at the moving path of the accommodation hole after the inspection processing determination time. Inspection part distribution method characterized by performing.
容孔を円形に配列した円盤状回転体と、検査処理から送
出される検査済み部品をその収容孔内に吸引する吸引通
路と、その円盤状回転体を断続的に回転させるモータ
と、上記収容孔に対応して設けられる良品排出口及び不
良品排出口と、検査結果に応じて上記収容孔内の検査済
み部品を上記良品排出口または上記不良品排出口から選
択的に吸引し排出する排出制御部とを備え、上記収容孔
に貯留された検査済み部品が、検査処理判定時間以後に
上記良品排出口または上記不良品排出口から排出される
ように上記各排出口が上記吸引通路から所定角度離れた
位置に設けられていることを特徴とする検査部品振分装
置。2. A disk-shaped rotator having a large number of accommodation holes for accommodating inspected components arranged in a circle, a suction passage for sucking the inspected components sent out from the inspection process into the accommodation holes, and A motor for intermittently rotating the disk-shaped rotator, a non-defective product outlet and a non-defective product outlet provided in correspondence with the storage hole, and a non-defective product outlet for inspecting a component in the storage hole according to a test result. Or a discharge control unit for selectively sucking and discharging the defective product from the defective product discharge port, and the inspected component stored in the accommodation hole is supplied from the non-defective product discharge port or the defective product discharge port after the inspection processing determination time. The inspection component distribution device, wherein each of the discharge ports is provided at a position separated by a predetermined angle from the suction passage so as to be discharged.
位置に吸引保持する手段が備えられている請求項2記載
の検査部品振分装置。3. The inspection component sorting apparatus according to claim 2, further comprising means for suction-holding the inspected component at a predetermined position in the accommodation hole.
吸引し排出するための検査エラー排出口を有し、上記排
出制御部は上記良品排出口、不良品排出口または検査エ
ラー排出口から検査済み部品を選択的に吸引し排出する
請求項2または3に記載の検査部品振分装置。4. An inspection error discharge port for sucking and discharging an inspected part determined as an inspection error, wherein the discharge control unit performs inspection from the non-defective product discharge port, the defective product discharge port, or the inspection error discharge port. The inspection component sorting apparatus according to claim 2, wherein the used component is selectively sucked and discharged.
に吸引し排出するための強制排出口を有し、上記排出制
御部は上記良品排出口、不良品排出口、検査エラー排出
口または強制排出口から検査済み部品を選択的に吸引し
排出する請求項2〜4のいずれかに記載の検査部品振分
装置。5. A forced discharge port for forcibly sucking and discharging the inspected parts that cannot be discharged, wherein the discharge control unit is configured to output the non-defective product, the defective product, the inspection error, or the compulsory discharge. The inspection component sorting apparatus according to any one of claims 2 to 4, wherein the inspected component is selectively sucked and discharged from the outlet.
記検査結果をその番号と対応させて記憶するメモリを有
し、上記排出制御部は、上記収容孔が上記各排出口で停
止する毎に上記メモリを参照し、上記各排出口から検査
済み部品を排出するか否かを判断する請求項2〜5のい
ずれかに記載の部品検査振分装置。6. A memory in which a number is assigned to each of the storage holes and the inspection result is stored in correspondence with the number, and the discharge control unit controls the storage hole to stop at each of the discharge holes. 6. The component inspection distribution device according to claim 2, wherein the memory is referenced to determine whether or not to discharge the inspected component from each of the outlets.
せ、飛走中に撮像した検査部品の撮像データを画像処理
することによって外観検査を行い、検査結果に基づいて
検査済み部品を選別する部品検査装置において、 検査済み部品を収容するための多数の収容孔を円形に配
列した円盤状回転体と、その円盤状回転体を回転自在に
収容するハウジングと、そのハウジングに設けられ検査
処理から送出される検査済み部品を上記収容孔内に吸引
して取り込む吸引通路と、検査済み部品が上記収容孔内
に吸引される毎にその円盤状回転体を1収容孔分回転さ
せるモータと、上記収容孔に対応して設けられる良品排
出口及び不良品排出口と、検査結果に応じて上記収容孔
内の検査済み部品を上記良品排出口または上記不良品排
出口から選択的に吸引し排出する排出制御部とを備え、
上記収容孔に取り込まれた検査済み部品が、検査処理判
定時間以後に上記良品排出口または上記不良品排出口か
ら排出されるように上記各排出口を上記吸引通路から所
定角度離れた位置に設けてなることを特徴とする部品検
査装置。7. A component for causing an inspection component to fly by sucking, performing image processing on image data of the inspection component captured during flight, and performing an appearance inspection, and selecting the inspected component based on the inspection result. In the inspection device, a disk-shaped rotating body in which a large number of receiving holes for housing inspected components are arranged in a circle, a housing for rotatably housing the disk-shaped rotating body, and a housing provided in the housing and transmitted from an inspection process. A suction passage for sucking the inspected component to be sucked into the accommodation hole, a motor for rotating the disk-shaped rotating body by one accommodation hole each time the inspected component is sucked into the accommodation hole, and A non-defective outlet and a non-defective outlet provided corresponding to the hole, and selectively inspecting and discharging the inspected parts in the receiving hole from the non-defective outlet or the defective outlet according to the inspection result. And a discharge control unit that,
Each of the outlets is provided at a position separated by a predetermined angle from the suction passage so that the inspected component taken into the housing hole is discharged from the non-defective product outlet or the defective product outlet after the inspection processing determination time. A parts inspection apparatus characterized by comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000217279A JP2002028578A (en) | 2000-07-18 | 2000-07-18 | Sorting method and apparatus for component inspection, and component inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000217279A JP2002028578A (en) | 2000-07-18 | 2000-07-18 | Sorting method and apparatus for component inspection, and component inspection apparatus |
Publications (1)
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|---|---|
| JP2002028578A true JP2002028578A (en) | 2002-01-29 |
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| JP2000217279A Withdrawn JP2002028578A (en) | 2000-07-18 | 2000-07-18 | Sorting method and apparatus for component inspection, and component inspection apparatus |
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Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011072952A (en) * | 2009-09-30 | 2011-04-14 | Unitec:Kk | Classification apparatus |
| JP2012039080A (en) * | 2010-08-11 | 2012-02-23 | Dnc Engineering Co Ltd | Led package inspection sorting device |
| JP2016068035A (en) * | 2014-09-30 | 2016-05-09 | 住友金属鉱山株式会社 | Gold line area imaging apparatus and control method thereof in table specific gravity sorter, and table specific gravity sorting system equipped with gold line area imaging apparatus |
| CN107063592A (en) * | 2016-12-29 | 2017-08-18 | 铜陵龙嘉机电有限公司 | One kind automation capacitor protector side wall and end face resistance to compression test sieve route selection |
| CN107063594A (en) * | 2016-12-29 | 2017-08-18 | 铜陵龙嘉机电有限公司 | Capacitor protector side wall and end face resistance to compression detecting system |
| CN111495772A (en) * | 2020-05-07 | 2020-08-07 | 龙南县方成科技有限公司 | Full-automatic SMD electrical sensing packaging machine |
| JP2022175745A (en) * | 2021-05-14 | 2022-11-25 | アンリツ株式会社 | Article inspection device |
-
2000
- 2000-07-18 JP JP2000217279A patent/JP2002028578A/en not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011072952A (en) * | 2009-09-30 | 2011-04-14 | Unitec:Kk | Classification apparatus |
| JP2012039080A (en) * | 2010-08-11 | 2012-02-23 | Dnc Engineering Co Ltd | Led package inspection sorting device |
| JP2016068035A (en) * | 2014-09-30 | 2016-05-09 | 住友金属鉱山株式会社 | Gold line area imaging apparatus and control method thereof in table specific gravity sorter, and table specific gravity sorting system equipped with gold line area imaging apparatus |
| CN107063592A (en) * | 2016-12-29 | 2017-08-18 | 铜陵龙嘉机电有限公司 | One kind automation capacitor protector side wall and end face resistance to compression test sieve route selection |
| CN107063594A (en) * | 2016-12-29 | 2017-08-18 | 铜陵龙嘉机电有限公司 | Capacitor protector side wall and end face resistance to compression detecting system |
| CN111495772A (en) * | 2020-05-07 | 2020-08-07 | 龙南县方成科技有限公司 | Full-automatic SMD electrical sensing packaging machine |
| CN111495772B (en) * | 2020-05-07 | 2021-05-04 | 龙南县方成科技有限公司 | A fully automatic SMD electric testing charter machine |
| JP2022175745A (en) * | 2021-05-14 | 2022-11-25 | アンリツ株式会社 | Article inspection device |
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