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JP2002141661A - Manufacturing method for multi-layered printed wiring board - Google Patents

Manufacturing method for multi-layered printed wiring board

Info

Publication number
JP2002141661A
JP2002141661A JP2000336380A JP2000336380A JP2002141661A JP 2002141661 A JP2002141661 A JP 2002141661A JP 2000336380 A JP2000336380 A JP 2000336380A JP 2000336380 A JP2000336380 A JP 2000336380A JP 2002141661 A JP2002141661 A JP 2002141661A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
hole
layer
filling
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000336380A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Takeda
修 竹田
Hironobu Akata
広宣 赤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP2000336380A priority Critical patent/JP2002141661A/en
Publication of JP2002141661A publication Critical patent/JP2002141661A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a multi-layered printed wiring board which can obtain the multi-layered printed writing board with superior connection reliability since a through hole can be filled with a resin composition for filling the through hole so that its surface layer becomes flat. SOLUTION: This manufacturing method for the multi-layered printed wiring board includes a through hole forming process for forming the through hole in a substrate which has one layer of a semiconductor circuit and an inter-layer resin insulating layer each formed on both its surfaces, a conductor layer forming process for forming a conductor layer on the wall surface in the through hole and part of the surface of the inter-layer resin insulating layer, a resin filling process for filling the through hole having the conductor layer formed on its wall surface with the resin composition for filling the through hole by using a squeeze, and a through hole forming process for forming a through hole having the resin filler layer formed inside by drying and curing the resin composition for filling the through hole. The angle of the squeeze is set to 3 to 25 deg. in the resin filling process.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板の製造方法に関する。
[0001] The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、多層配線基板に対する高密度化の
要請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目さ
れている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば、
特公平4−55555号公報に開示されているような方
法により製造される。即ち、下層導体回路が形成された
コア基板上に、感光性樹脂からなる無電解めっき用接着
剤を塗布し、これを乾燥したのち露光、現像処理するこ
とにより、バイアホール用開口を有する層間樹脂絶縁層
を形成する。次いで、この層間樹脂絶縁層の表面を酸化
剤等による処理にて粗化した後、該感光性樹脂層に露
光、現像処理を施してめっきレジストを設け、その後、
めっきレジスト非形成部分に無電解めっき等を施してバ
イアホールを含む導体回路パターンを形成する。そし
て、このような工程を複数回繰り返すことにより、多層
化したビルドアップ配線基板が製造されるのである。
2. Description of the Related Art In recent years, a so-called build-up multilayer wiring board has attracted attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring board. This build-up multilayer wiring board, for example,
It is manufactured by a method as disclosed in Japanese Patent Publication No. 55555/1992. That is, an adhesive for electroless plating made of a photosensitive resin is applied onto the core substrate on which the lower conductive circuit is formed, and then dried and exposed and developed to form an interlayer resin having an opening for a via hole. An insulating layer is formed. Next, after the surface of the interlayer resin insulating layer is roughened by a treatment with an oxidizing agent or the like, the photosensitive resin layer is exposed and developed to provide a plating resist, and then,
A conductive circuit pattern including via holes is formed by applying electroless plating or the like to a portion where the plating resist is not formed. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board is manufactured.

【0003】このようなビルドアップ配線基板の製造方
法において、コア基板にスルーホールを形成する際に、
コア基板に貫通孔を形成し、該貫通孔の壁面に導体層を
形成するのみでは、スルーホール内に空隙ができること
となる。このような空隙を有するまま、層間樹脂絶縁層
の積層形成を行おうとすると、無電解めっき用接着剤を
塗布した際に、該無電解めっき用接着剤が空隙に流れこ
み、その結果、無電解めっき用接着剤からなる層に凹部
(窪み)やうねりが発生することとなる。このような凹
部等の発生は、接続不良の原因となり、ビルドアップ配
線基板の信頼性の低下に繋がるという問題があった。
In such a method of manufacturing a build-up wiring board, when a through hole is formed in a core board,
By simply forming a through hole in the core substrate and forming a conductor layer on the wall surface of the through hole, a void is formed in the through hole. If an attempt is made to form an interlayer resin insulation layer with such gaps, when the adhesive for electroless plating is applied, the adhesive for electroless plating flows into the gaps. Depressions (dents) and undulations are generated in the layer made of the plating adhesive. The occurrence of such a concave portion or the like causes a connection failure, and has a problem that the reliability of the build-up wiring board is reduced.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】そこで、このような問
題を解消するための技術として、空隙内をエポキシ樹脂
ペーストで充填する方法等が提案されている。具体的に
は、例えば、特開平10−200265号公報において
は、ビスフェノールF型エポキシ樹脂とシリカ等の無機
粒子とを含む樹脂充填材によってその内部が充填された
スルーホールを有する多層プリント配線板が開示されて
いる。
Accordingly, as a technique for solving such a problem, there has been proposed a method of filling the space with an epoxy resin paste. Specifically, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 10-200265, a multilayer printed wiring board having a through hole filled with a resin filler containing a bisphenol F type epoxy resin and inorganic particles such as silica is disclosed. It has been disclosed.

【0005】このようなスルーホール内に空隙を有さな
い多層プリント配線板を製造する際に、樹脂充填材の充
填はスキージ等を用いて行っている。このように、スキ
ージを用いて樹脂充填材を充填した場合、充填した樹脂
充填材の表層部の形状が、窪んだ形状になったり、盛り
上がった形状になったりすることがあった。
[0005] When manufacturing a multilayer printed wiring board having no voids in such through holes, the resin filler is filled using a squeegee or the like. As described above, when the resin filler is filled using the squeegee, the shape of the surface layer portion of the filled resin filler may be depressed or raised.

【0006】このように、充填した樹脂充填材の表層部
の形状が窪んだ形状になった場合、この樹脂充填材を硬
化し、さらに上層の層間樹脂絶縁層を形成した際に、該
層間樹脂絶縁層の表面の一部が窪んだ形状となり、得ら
れる多層プリント配線板の信頼性が低下するという問題
があった。また、充填した樹脂充填材の表層部の形状が
盛り上がった形状になった場合には、さらに上層の層間
樹脂絶縁層を形成した際に、層間樹脂絶縁層の表面の一
部が盛り上がった形状となり、これを解消するために
は、樹脂充填材を充填した後、樹脂充填材の表層部に研
磨処理を施し、樹脂充填材の表層部を平坦にする必要が
あった。
As described above, when the shape of the surface layer portion of the filled resin filler becomes depressed, the resin filler is cured, and when an upper interlayer resin insulating layer is formed, the interlayer resin is removed. There is a problem that a part of the surface of the insulating layer has a concave shape, and the reliability of the obtained multilayer printed wiring board is reduced. Also, when the shape of the surface layer portion of the filled resin filler becomes a raised shape, when the upper interlayer resin insulating layer is further formed, a part of the surface of the interlayer resin insulating layer becomes a raised shape. In order to solve this problem, after filling the resin filler, it is necessary to polish the surface layer of the resin filler to flatten the surface layer of the resin filler.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】そこで、本発明者らは、
鋭意検討した結果、多層プリント配線板の製造におい
て、スキージを用いて樹脂充填材を充填する際に、スキ
ージの角度を3〜25°に設定することにより、上記し
た問題を解消することができることを見いだし、本発明
を完成するに至った。
Means for Solving the Problems Accordingly, the present inventors have:
As a result of diligent studies, it has been found that the above problem can be solved by setting the angle of the squeegee to 3 to 25 ° when filling the resin filler using a squeegee in the production of a multilayer printed wiring board. They have found and completed the present invention.

【0008】即ち、本発明の多層プリント配線板の製造
方法は、その両面に導体回路と層間樹脂絶縁層とが一層
ずつ形成された基板に、貫通孔を形成する貫通孔形成工
程と、上記貫通孔内の壁面と、上記層間樹脂絶縁層の表
面の一部とに導体層を形成する導体層形成工程と、その
壁面に導体層が形成された上記貫通孔内に、スキージを
用いて貫通孔充填用樹脂組成物を充填する樹脂充填工程
と、上記貫通孔充填用樹脂組成物を乾燥、硬化し、その
内部に樹脂充填材層が形成されたスルーホールを形成す
るスルーホール形成工程とを含む多層プリント配線板の
製造方法であって、上記樹脂充填工程において、スキー
ジの角度を3〜25°に設定することを特徴とする。
That is, in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, a through-hole forming step of forming a through-hole in a substrate having a conductor circuit and an interlayer resin insulating layer formed on both surfaces thereof is provided. A conductor layer forming step of forming a conductor layer on the wall surface in the hole and a part of the surface of the interlayer resin insulating layer; and a through hole using a squeegee in the through hole in which the conductor layer is formed on the wall surface. A resin filling step of filling the resin composition for filling, and a through hole forming step of drying and curing the resin composition for filling a through hole to form a through hole having a resin filler layer formed therein. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, wherein in the resin filling step, an angle of a squeegee is set to 3 to 25 °.

【0009】また、本発明の多層プリント配線板の製造
方法において、上記樹脂充填工程で充填する上記貫通孔
充填用樹脂組成物は、エポキシ樹脂と硬化剤と無機粒子
とを含み、硬化後の上記無機粒子の含有比率が10〜5
0重量%の樹脂組成物であることが望ましい。
In the method for producing a multilayer printed wiring board according to the present invention, the resin composition for filling a through hole filled in the resin filling step contains an epoxy resin, a curing agent, and inorganic particles. The content ratio of the inorganic particles is 10 to 5
Desirably, the resin composition is 0% by weight.

【0010】また、上記多層プリント配線板の製造方法
は、上記スルーホール形成工程終了後、上記スルーホー
ルを覆う蓋めっき層を形成する蓋めっき層形成工程を有
することが望ましい。
It is preferable that the method of manufacturing a multilayer printed wiring board further includes a lid plating layer forming step of forming a lid plating layer covering the through hole after the through hole forming step.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明の多層プリント配線板の製
造方法は、その両面に導体回路と層間樹脂絶縁層とが一
層ずつ形成された基板に、貫通孔を形成する貫通孔形成
工程と、上記貫通孔内の壁面と、上記層間樹脂絶縁層の
表面の一部とに導体層を形成する導体層形成工程と、そ
の壁面に導体層が形成された上記貫通孔内に、スキージ
を用いて貫通孔充填用樹脂組成物を充填する樹脂充填工
程と、上記貫通孔充填用樹脂組成物を乾燥、硬化し、そ
の内部に樹脂充填材層が形成されたスルーホールを形成
するスルーホール形成工程とを含む多層プリント配線板
の製造方法であって、上記樹脂充填工程において、スキ
ージの角度を3〜25°に設定することを特徴とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention comprises a through hole forming step of forming a through hole in a substrate having a conductive circuit and an interlayer resin insulating layer formed on both surfaces thereof. A conductor layer forming step of forming a conductor layer on the wall surface in the through hole and a part of the surface of the interlayer resin insulating layer, and in the through hole in which the conductor layer is formed on the wall surface, using a squeegee A resin filling step of filling the resin composition for filling a through hole, and a through hole forming step of drying and curing the resin composition for filling a through hole to form a through hole having a resin filler layer formed therein. Wherein the angle of the squeegee is set to 3 to 25 ° in the resin filling step.

【0012】本発明の多層プリント配線板の製造方法で
は、スキージを用いて貫通孔充填用樹脂組成物を充填す
る際に、スキージの角度を3〜25°に設定しているた
め、貫通孔内を貫通孔充填用樹脂組成物で完全に充填す
るのは勿論のこと、貫通孔充填用樹脂組成物の表層部が
平坦になるように、貫通孔充填用樹脂組成物を充填する
ことができる。従って、貫通孔充填用樹脂組成物を充填
した後、さらに上層の層間樹脂絶縁層を形成した際に、
該層間樹脂絶縁層の表面は平坦となり、接続信頼性に優
れた多層プリント配線板を製造することができる。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, the angle of the squeegee is set to 3 to 25 ° when the resin composition for filling the through hole is filled with the squeegee. Can be completely filled with the resin composition for filling a through-hole, and the resin composition for filling a through-hole can be filled such that the surface layer of the resin composition for filling a through-hole becomes flat. Therefore, after filling the resin composition for filling through-holes, when further forming an upper interlayer resin insulation layer,
The surface of the interlayer resin insulating layer becomes flat, and a multilayer printed wiring board having excellent connection reliability can be manufactured.

【0013】以下、本発明の多層プリント配線板の製造
方法について説明する。なお、本発明の多層プリント配
線板の製造方法は、上記した貫通孔形成工程、導体層形
成工程、樹脂充填工程および樹脂充填材層形成工程を含
み、上記樹脂充填工程において、スキージを用いて樹脂
充填剤を充填する際に、スキージの角度を3〜25°に
設定することに特徴を有するものであるため、まず、こ
れらの工程について図面を参照しながら説明し、多層プ
リント配線板の全製造工程については後に説明する。
Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention will be described. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention includes the above-described through-hole forming step, conductive layer forming step, resin filling step, and resin filling material layer forming step. Since the method is characterized by setting the angle of the squeegee to 3 to 25 ° when filling the filler, first, these steps will be described with reference to the drawings, and the entire manufacturing of the multilayer printed wiring board will be described. The steps will be described later.

【0014】図1は、本発明の多層プリント配線板の製
造方法における貫通孔形成工程、導体層形成工程、樹脂
充填工程およびスルーホール形成工程の一実施形態を模
式的に示す部分断面図である。なお、図1中には、基板
の片面のみを示している。
FIG. 1 is a partial cross-sectional view schematically showing one embodiment of a through hole forming step, a conductor layer forming step, a resin filling step, and a through hole forming step in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention. . FIG. 1 shows only one surface of the substrate.

【0015】本発明の多層プリント配線板の製造方法で
は、貫通孔形成工程において、その両面に導体回路13
4(下層導体回路)と層間樹脂絶縁層150とが一層ず
つ形成された基板101に、貫通孔135を形成する
(図1(a)参照)。貫通孔135は、ドリル加工やレ
ーザ処理等により形成することができる。なお、基板の
材質が、ガラスエポキシ樹脂等の補強材を有するもので
ある場合には、ドリル加工により貫通孔を形成すること
が望ましい。また、貫通孔135の径は特に限定され
ず、多層プリント配線板の配線密度等を考慮して適宜選
択すればよいが、高密度配線基板では、通常、100〜
400μm程度である。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, in the step of forming a through-hole, conductive circuits 13 are provided on both surfaces thereof.
4 (lower conductive circuit) and the interlayer resin insulating layer 150 are formed in the substrate 101, and a through hole 135 is formed in the substrate 101 (see FIG. 1A). The through-hole 135 can be formed by drilling, laser processing, or the like. In addition, when the material of the substrate has a reinforcing material such as a glass epoxy resin, it is desirable to form the through holes by drilling. The diameter of the through-hole 135 is not particularly limited and may be appropriately selected in consideration of the wiring density of the multilayer printed wiring board.
It is about 400 μm.

【0016】また、層間樹脂絶縁層150にバイアホー
ルを形成する場合には、予め、バイアホール用開口15
2を形成しておく。バイアホール用開口152は、レー
ザ処理により形成することができ、層間樹脂絶縁層15
0が感光性樹脂からなるものである場合には、露光現像
処理よっても形成することができる。
When forming a via hole in the interlayer resin insulation layer 150, the via hole opening 15 is formed in advance.
2 is formed in advance. The via hole opening 152 can be formed by laser processing.
When 0 is made of a photosensitive resin, it can also be formed by exposure and development processing.

【0017】また、貫通孔形成後、該貫通孔の壁面にデ
スミア処理を施してもよい。デスミア処理を施すことに
より、後工程で形成する導体層との密着性が向上するか
らである。上記デスミア処理は、例えば、クロム酸、過
マンガン酸塩等の水溶液からなる酸化剤を使用して行う
ことができる。また、酸素プラズマ、CF4 と酸素との
混合プラズマ、コロナ放電等により処理してもよい。な
お、その両面に導体回路と層間樹脂絶縁層とが一層ずつ
形成された基板を作製する方法については、後述する。
After the formation of the through hole, the wall surface of the through hole may be subjected to desmear treatment. This is because by performing the desmear treatment, the adhesion to the conductor layer formed in a later step is improved. The desmear treatment can be performed using, for example, an oxidizing agent composed of an aqueous solution such as chromic acid and permanganate. Alternatively, the treatment may be performed by oxygen plasma, mixed plasma of CF 4 and oxygen, corona discharge, or the like. A method for manufacturing a substrate in which a conductor circuit and an interlayer resin insulating layer are formed on both surfaces thereof will be described later.

【0018】上記貫通孔形成工程終了後、上記導体層形
成工程を行う。即ち、貫通孔135の壁面と、層間樹脂
絶縁層150の表面の一部とに導体層を形成する(図1
(b)参照)。この工程で、貫通孔135の壁面に形成
した導体層は、スルーホール136を構成することとな
り、層間樹脂絶縁層150の表面の一部に形成した導体
層は、上層導体回路145やバイアホール146とな
る。また、本明細書では、必要に応じて、基板上に形成
した導体回路を下層導体回路といい、層間樹脂絶縁層上
に形成した導体回路を上層導体回路ということにより、
両者を区別することとする。
After the through hole forming step is completed, the conductor layer forming step is performed. That is, a conductor layer is formed on the wall surface of the through hole 135 and a part of the surface of the interlayer resin insulating layer 150 (FIG. 1).
(B)). In this step, the conductor layer formed on the wall surface of the through-hole 135 forms a through-hole 136, and the conductor layer formed on a part of the surface of the interlayer resin insulating layer 150 corresponds to the upper-layer conductor circuit 145 and the via-hole 146. Becomes In this specification, as necessary, a conductor circuit formed on a substrate is referred to as a lower conductor circuit, and a conductor circuit formed on an interlayer resin insulating layer is referred to as an upper conductor circuit.
The two will be distinguished.

【0019】上記導体層は、例えば、無電解めっき処理
により形成することができる。また、無電解めっき処理
に代えて、スパッタリング処理により導体層を形成して
もよく、両者を併用して複数層からなる導体層としても
よい。さらに、無電解めっき層の上に、電解めっき層を
積層することにより無電解めっき層と電解めっき層とか
らなる導体層を形成してもよい。
The conductor layer can be formed by, for example, electroless plating. Further, the conductor layer may be formed by a sputtering process instead of the electroless plating process, or both may be used together to form a conductor layer composed of a plurality of layers. Further, a conductor layer including an electroless plating layer and an electrolytic plating layer may be formed by laminating an electrolytic plating layer on the electroless plating layer.

【0020】これらのなかでは、無電解めっき層と電解
めっき層とからなる導体層が望ましく、特に、上層導体
回路となる導体層は、以下の理由により、このような構
成であることが望ましい。下層に無電解めっき層を形成
することにより、層間樹脂絶縁層表面に対する追従性に
優れた導体層を形成することができ、特に、層間樹脂絶
縁層の表面に粗化面を形成した場合には、該粗化面に対
する追従性および密着性に優れる導体層を形成すること
ができる。また、この無電解めっき層上に電解めっき層
を形成した場合には、該電解めっき層は無電解めっき層
に比べて柔らかく、展性に富むため、ヒートサイクル時
に基板に反りが発生したとしても、層間樹脂絶縁層の寸
法変化に追従することができる。従って、無電解めっき
層と電解めっき層とからなる導体回路を形成することに
より、接続信頼性に優れた多層プリント配線板を製造す
ることができる。
Of these, a conductor layer composed of an electroless plating layer and an electrolytic plating layer is desirable. In particular, a conductor layer constituting an upper conductor circuit desirably has such a configuration for the following reasons. By forming the electroless plating layer in the lower layer, it is possible to form a conductor layer having excellent followability to the surface of the interlayer resin insulating layer, and particularly when a roughened surface is formed on the surface of the interlayer resin insulating layer. Thus, a conductor layer having excellent followability and adhesion to the roughened surface can be formed. Further, when an electrolytic plating layer is formed on this electroless plating layer, the electrolytic plating layer is softer and more malleable than the electroless plating layer, so even if the substrate is warped during a heat cycle. Accordingly, it is possible to follow the dimensional change of the interlayer resin insulating layer. Therefore, by forming a conductor circuit composed of the electroless plating layer and the electrolytic plating layer, a multilayer printed wiring board having excellent connection reliability can be manufactured.

【0021】また、無電解めっき処理を行う場合には、
予め、被めっき部分に触媒を付与しておく。該触媒とし
ては、例えば、パラジウム等が挙げられる。
In the case of performing the electroless plating,
A catalyst is applied to a portion to be plated in advance. Examples of the catalyst include palladium and the like.

【0022】この工程で形成する導体層のうち、貫通孔
の壁面に形成する導体層は、スルーホールとなるため、
上記壁面の全体に均一に形成すればよいが、層間樹脂絶
縁層の表面の一部に形成する導体層は、上層導体回路
(バイアホールを含む)となるため、配線パターンに応
じて形成しなければならない。なお、層間樹脂絶縁層の
表面に配線パターンに応じた導体層を形成する方法につ
いては、後述する。
Among the conductor layers formed in this step, the conductor layer formed on the wall surface of the through hole becomes a through hole,
The conductive layer formed on a part of the surface of the interlayer resin insulating layer is an upper conductive circuit (including via holes), and therefore must be formed in accordance with the wiring pattern. Must. A method for forming a conductor layer according to the wiring pattern on the surface of the interlayer resin insulating layer will be described later.

【0023】また、導体層を形成した後には、該導体層
の表面の少なくとも一部に、粗化面を形成することが望
ましい。後工程で形成する樹脂充填材層や層間樹脂絶縁
層との密着性を向上させることができるからである。上
記粗化面を形成する方法としては、例えば、黒化(酸
化)−還元処理、エッチング処理、Cu−Ni−P針状
合金めっきによる処理などが挙げられる。
After forming the conductor layer, it is preferable to form a roughened surface on at least a part of the surface of the conductor layer. This is because the adhesion to the resin filler layer and the interlayer resin insulating layer formed in a later step can be improved. Examples of the method of forming the roughened surface include a blackening (oxidation) -reduction treatment, an etching treatment, and a treatment using a Cu-Ni-P needle-like alloy plating.

【0024】上記黒化(酸化)−還元処理の具体的な方
法としては、NaOH(10〜20g/l)、NaCl
2 (40〜50g/l)、Na3 PO4 (6〜15g
/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処
理、および、NaOH(2.7〜10g/l)、NaB
4 (1.0〜6.0g/l)を含む水溶液を還元浴と
する還元処理を行う方法等が挙げられる。
As a specific method of the above-mentioned blackening (oxidation) -reduction treatment, NaOH (10 to 20 g / l), NaCl
O 2 (40 to 50 g / l), Na 3 PO 4 (6 to 15 g
/ L), a blackening treatment using an aqueous solution containing (Na) (2.7 to 10 g / l), NaB
A method of performing a reduction treatment using an aqueous solution containing H 4 (1.0 to 6.0 g / l) as a reduction bath is exemplified.

【0025】上記エッチング処理に用いるエッチング液
としては、有機酸と第二銅錯体との混合溶液が望まし
い。上記有機酸と第二銅錯体との混合溶液をエッチング
液として用いる場合、該エッチング液と銅等からなる導
体層との酸素共存下における反応、即ち、下記反応式
(1)および(2)に示す反応が進行して、導体層がエ
ッチングされる。
As the etchant used for the above etching treatment, a mixed solution of an organic acid and a cupric complex is desirable. When a mixed solution of the above organic acid and a cupric complex is used as an etching solution, the reaction between the etching solution and a conductor layer made of copper or the like in the presence of oxygen, that is, the following reaction formulas (1) and (2) The illustrated reaction proceeds, and the conductor layer is etched.

【0026】[0026]

【化1】 Embedded image

【0027】なお、上記反応式(1)および(2)は、
導体層の材質が銅の場合に進行する反応式である。
The above reaction formulas (1) and (2) are
This is a reaction formula that proceeds when the material of the conductor layer is copper.

【0028】上記有機酸は、酸化銅を溶解させるために
配合させるものであり、具体例としては、例えば、蟻
酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロン酸、
アクリル酸、クロトン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク
酸、グルタル酸、マレイン酸、安息香酸、グリコール
酸、乳酸、リンゴ酸、スルファミン酸等が挙げられる。
これらは、単独で用いてもよく、2種以上併用してもよ
い。上記エッチング液において、上記有機酸の含有量
は、0.1〜30重量%が望ましい。酸化された銅の溶
解性を維持し、かつ、触媒安定性を確保することができ
るからである。なお、発生した第一銅錯体は、酸の作用
により溶解し、酸素と結合して第二銅錯体となって、再
び銅の酸化に寄与する。また、上記有機酸に加えて、ホ
ウフッ酸、塩酸、硫酸等の無機酸を添加してもよい。
The above-mentioned organic acid is added to dissolve copper oxide. Specific examples thereof include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, and the like.
Examples include acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, glycolic acid, lactic acid, malic acid, and sulfamic acid.
These may be used alone or in combination of two or more. In the etching solution, the content of the organic acid is desirably 0.1 to 30% by weight. This is because the solubility of the oxidized copper can be maintained and the stability of the catalyst can be ensured. Note that the generated cuprous complex is dissolved by the action of an acid and combines with oxygen to form a cupric complex, which again contributes to copper oxidation. Further, in addition to the above organic acids, inorganic acids such as borofluoric acid, hydrochloric acid and sulfuric acid may be added.

【0029】上記第二銅錯体としては、アゾール類の第
二銅錯体が望ましい。このアゾール類の第二銅錯体は、
金属銅等を酸化する酸化剤として作用する。アゾール類
としては、例えば、ジアゾール、トリアゾール、テトラ
ゾール等が挙げられる。これらのなかでも、イミダゾー
ル、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾー
ル、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニ
ルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾールが望まし
い。上記エッチング液において、上記第二銅錯体の含有
量は、1〜15重量%が望ましい。溶解性および安定性
に優れ、また、触媒核を構成するPd等の貴金属をも溶
解させることができるからである。
As the cupric complex, a cupric complex of an azole is desirable. This cupric complex of azoles is
It acts as an oxidizing agent that oxidizes metallic copper and the like. Examples of the azoles include diazole, triazole, tetrazole and the like. Among these, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, and 2-undecylimidazole are desirable. In the etching solution, the content of the cupric complex is desirably 1 to 15% by weight. This is because it is excellent in solubility and stability, and can also dissolve noble metals such as Pd constituting the catalyst core.

【0030】この有機酸と第二銅錯体との混合溶液から
なるエッチング液は、銅の溶解やアゾール類の酸化作用
を補助するために、フッ素イオン、塩素イオン、臭素イ
オン等を含んでいてもよい。上記ハロゲンイオンは、塩
酸や塩化ナトリウム等を混合溶液に添加することにより
供給することができる。なお、供給されるハロゲンイオ
ンの量は、0.01〜20重量%であることが望まし
い。この範囲のハロゲンイオンを含んでいるエッチング
液により形成された粗化面は、樹脂充填材層や層間樹脂
絶縁層との密着性に優れているからである。なお、上記
有機酸と第二銅錯体との混合溶液は、アゾール類の第二
銅錯体、有機酸、および、必要によりハロゲンイオンを
水に溶解して調製する。
The etching solution comprising the mixed solution of the organic acid and the cupric complex may contain fluorine ions, chlorine ions, bromine ions, etc. in order to dissolve copper and to assist the oxidizing action of azoles. Good. The halogen ions can be supplied by adding hydrochloric acid, sodium chloride, or the like to the mixed solution. The amount of the supplied halogen ions is preferably 0.01 to 20% by weight. This is because a roughened surface formed by an etching solution containing halogen ions in this range has excellent adhesion to the resin filler layer and the interlayer resin insulating layer. The mixed solution of the organic acid and the cupric complex is prepared by dissolving a cupric complex of an azole, an organic acid and, if necessary, a halogen ion in water.

【0031】上記めっき処理としては、例えば、硫酸銅
(1〜40g/l)、硫酸ニッケル(0.1〜6.0g
/l)、クエン酸(10〜20g/l)、次亜リン酸ナ
トリウム(10〜100g/l)、ホウ酸(10〜40
g/l)および界面活性剤(日信化学工業社製、サーフ
ィノール465)(0.01〜10g/l)を含むpH
=9の無電解めっき浴にて無電解めっきを施し、Cu−
Ni−P合金からなる粗化層を形成する方法等が挙げら
れる。この範囲で析出するめっき被膜の結晶構造は、針
状構造となるため、アンカー効果に優れるからである。
上記無電解めっき浴には、上記化合物に加えて錯化剤や
添加剤を加えてもよい。
As the plating treatment, for example, copper sulfate (1 to 40 g / l), nickel sulfate (0.1 to 6.0 g)
/ L), citric acid (10-20 g / l), sodium hypophosphite (10-100 g / l), boric acid (10-40 g / l)
g / l) and a surfactant (Surfynol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.) (0.01 to 10 g / l).
= 9 in the electroless plating bath, Cu-
A method of forming a roughened layer made of a Ni-P alloy is exemplified. This is because the crystal structure of the plating film deposited in this range has a needle-like structure, and thus has an excellent anchor effect.
A complexing agent or an additive may be added to the electroless plating bath in addition to the compound.

【0032】さらに、樹脂充填工程を行う。即ち、その
壁面に導体層136を形成した貫通孔135内に、スキ
ージを用いて貫通孔充填用樹脂組成物を充填する(図1
(c)参照)。本発明の多層プリント配線板の製造方法
では、この工程で貫通孔充填用樹脂組成物を充填する際
に、スキージの角度を3〜25°に設定する。
Further, a resin filling step is performed. That is, the resin composition for filling a through-hole is filled using a squeegee into the through-hole 135 having the conductor layer 136 formed on the wall surface thereof (FIG. 1).
(C)). In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, the angle of the squeegee is set to 3 to 25 ° when the resin composition for filling through holes is filled in this step.

【0033】図2(a)〜(c)は、スキージを用いて
貫通孔充填用樹脂組成物を充填した際の貫通孔充填用樹
脂組成物の形状を説明するための部分断面図である。ス
キージの角度を上記範囲に設定することにより、図2
(a)に示すように、貫通孔内を貫通孔充填用樹脂組成
物153で完全に充填するのは勿論のこと、貫通孔充填
用樹脂組成物の表層部153aが平坦になるように貫通
孔充填用樹脂組成物を充填することができる。このよう
に貫通孔充填用樹脂組成物を充填することにより、その
上に表面が平坦な層間樹脂絶縁層や所望の形状の上層導
体回路を積層形成することができ、その結果、接続信頼
性に優れる多層プリント配線板を得ることができる。ま
た、後工程で、表層部の平坦な樹脂充填材層を形成し、
さらに蓋めっき層を形成した場合には、該蓋めっき層と
スルーホールとを確実に接続することができ、さらに、
蓋めっき層上にバイアホールを形成した場合には、両者
を確実に接続することができる。なお、図2(a)にお
いて、110はスキージ、134は下層導体回路、15
0は層間樹脂絶縁層、136、145、146は導体層
を示す。また、本明細書において、スキージの角度と
は、導体回路と層間樹脂絶縁層とが1層ずつ形成された
基板の主面とスキージとのなす角を意味し、図2(a)
においては、θ1 がスキージ角度に該当する。
FIGS. 2A to 2C are partial cross-sectional views for explaining the shape of the resin composition for filling a through-hole when the resin composition for filling a through-hole is filled using a squeegee. By setting the angle of the squeegee to the above range,
As shown in (a), the through-hole is completely filled with the through-hole filling resin composition 153, and the through-hole is formed so that the surface layer portion 153a of the through-hole filling resin composition becomes flat. The filling resin composition can be filled. By filling the through-hole filling resin composition in this manner, an interlayer resin insulating layer having a flat surface and an upper-layer conductor circuit having a desired shape can be laminated thereon, and as a result, the connection reliability is improved. An excellent multilayer printed wiring board can be obtained. Also, in a later step, a flat resin filler layer at the surface layer is formed,
Further, when the lid plating layer is formed, the lid plating layer and the through hole can be reliably connected, and further,
When a via hole is formed on the cover plating layer, both can be reliably connected. In FIG. 2A, 110 is a squeegee, 134 is a lower conductor circuit, 15
0 denotes an interlayer resin insulation layer, 136, 145, and 146 denote conductor layers. In this specification, the angle of the squeegee means the angle between the main surface of the substrate on which the conductor circuit and the interlayer resin insulating layer are formed one by one and the squeegee, and FIG.
, Θ 1 corresponds to the squeegee angle.

【0034】スキージとしては、通常、後述する理由に
より、弾性体を使用するため、スキージの角度θ2 が2
5°を超えると、貫通孔充填用樹脂組成物を充填する際
に、スキージ210の一部が貫通孔内に入り込んでしま
い、図2(b)に示すように、充填した貫通孔充填用樹
脂組成物の表層部253aが窪んだ形状となってしま
う。このように、貫通孔充填用樹脂組成物の表層部25
3aが窪んだ形状となると、後工程で貫通孔充填用樹脂
組成物253を乾燥、硬化して形成した樹脂充填材層の
表層部の形状も窪んだ形状となり、この上に、さらに、
層間樹脂絶縁層や蓋めっき層を形成した場合には、層間
樹脂絶縁層の表面の一部が窪んだ形状となったり、蓋め
っき層とスルーホールとの接続が不充分であったり、表
面の平坦な蓋めっき層を形成することができず、その蓋
めっき層上にバイアーホールを形成することができなか
ったりする原因となる。なお、図2(b)において、2
34は下層導体回路、250は層間樹脂絶縁層、23
6、245、246は導体層を示す。
As the squeegee, an elastic body is usually used for the reason described later, so that the angle θ 2 of the squeegee is 2
If it exceeds 5 °, a part of the squeegee 210 will enter the through-hole when filling the resin composition for filling the through-hole, and as shown in FIG. The surface portion 253a of the composition has a concave shape. Thus, the surface layer portion 25 of the resin composition for filling through holes is formed.
When 3a has a depressed shape, the surface layer portion of the resin filler layer formed by drying and curing the through-hole filling resin composition 253 in a later step also has a depressed shape.
When an interlayer resin insulation layer or a cover plating layer is formed, a part of the surface of the interlayer resin insulation layer is depressed, the connection between the cover plating layer and the through hole is insufficient, A flat lid plating layer cannot be formed, and a via hole cannot be formed on the lid plating layer. Note that in FIG.
34 is a lower conductor circuit, 250 is an interlayer resin insulation layer, 23
6, 245 and 246 indicate conductor layers.

【0035】また、スキージの角度θ3 が3°未満で
は、貫通孔充填用樹脂組成物を抑え込むことが難しいた
め、図2(c)に示すように、充填した貫通孔充填用樹
脂組成物の表層部353aが盛り上がった形状となって
しまう。このように、貫通孔充填用樹脂組成物の表層部
353aが盛り上がった形状となると、後工程で貫通孔
充填用樹脂組成物353を乾燥、硬化して形成した樹脂
充填材層の表層部の形状も盛り上がった形状となり、こ
の上に、さらに、層間樹脂絶縁層や蓋めっき層を形成し
た場合には、層間樹脂絶縁層の表面の一部が盛り上がっ
た形状となったり、蓋めっき層とスルーホールとの接続
が不充分であったり、表面の平坦な蓋めっき層を形成す
ることができず、その蓋めっき層上にバイアーホールを
形成することができなかったりする原因となる。なお、
図2(c)において、310はスキージ、334は下層
導体回路、350は層間樹脂絶縁層、336、345、
346は導体層を示す。また、その表層部が盛り上がっ
た形状の貫通孔充填用樹脂組成物や樹脂充填材層の盛り
上がった部分を、ベルトサンダー研磨やバフ研磨等の研
磨処理を用いて平坦化した場合には、上記した問題点を
解消することができるが、製造工程数が増えるため、生
産効率が低下することとなる。望ましいスキージの角度
は、5〜15°である。
If the angle θ 3 of the squeegee is less than 3 °, it is difficult to suppress the resin composition for filling the through-holes. Therefore, as shown in FIG. The surface portion 353a has a raised shape. As described above, when the surface portion 353a of the resin composition for filling a through hole has a raised shape, the shape of the surface portion of the resin filler layer formed by drying and curing the resin composition 353 for filling a through hole in a later step is formed. When an interlayer resin insulation layer or a cover plating layer is further formed thereon, a part of the surface of the interlayer resin insulation layer is raised, or the cover plating layer and the through-hole are formed. This causes insufficient connection with the aluminum alloy, a lid plating layer having a flat surface cannot be formed, and a via hole cannot be formed on the lid plating layer. In addition,
In FIG. 2C, 310 is a squeegee, 334 is a lower conductor circuit, 350 is an interlayer resin insulation layer, 336 and 345,
346 indicates a conductor layer. Further, when the raised portion of the resin composition for filling the through-hole and the resin filler layer whose surface layer portion has a raised shape is flattened by using a polishing treatment such as belt sander polishing or buff polishing, the above is described above. Although the problem can be solved, the number of manufacturing steps increases, so that the production efficiency decreases. A desirable squeegee angle is 5 to 15 degrees.

【0036】上記スキージの材質は特に限定されない
が、弾力性を有し、導体層の凹凸に対する追従性が高い
ため、より確実に貫通孔内にのみ貫通孔充填用樹脂組成
物を充填することができる点からポリエチレン等のゴム
が望ましく、特に、硬度60°以上のゴムが望ましい。
また、導体層の凹凸に対する追従性を特に必要としない
場合には、金属やセラミック等からなるスキージを用い
てもよい。
The material of the squeegee is not particularly limited. However, since the squeegee has elasticity and has a high ability to follow irregularities of the conductor layer, it is possible to more reliably fill the through hole with the resin composition for filling the through hole. A rubber such as polyethylene is desirable from the viewpoint of being possible, and a rubber having a hardness of 60 ° or more is particularly desirable.
In addition, when it is not particularly necessary to follow the unevenness of the conductor layer, a squeegee made of metal, ceramic, or the like may be used.

【0037】また、上記スキージの形状としては、平
型、角型等の種々の形状が挙げられる。また、上記形状
のスキージに、適時切れ込み等を入れることにより貫通
孔充填用樹脂組成物の充填性を向上させることもでき
る。上記スキージの厚さは特に限定されないが、通常、
10〜30mmが望ましく、15〜25mmがより望ま
しい。繰り返し印刷を行っても、反りやたわみがないか
らである。
The squeegee may have various shapes such as a flat shape and a square shape. In addition, it is possible to improve the filling property of the resin composition for filling through-holes by appropriately making cuts or the like in the squeegee having the above shape. The thickness of the squeegee is not particularly limited, but usually,
10 to 30 mm is desirable, and 15 to 25 mm is more desirable. This is because there is no warping or bending even if printing is repeated.

【0038】また、この樹脂充填工程で充填する貫通孔
充填用樹脂組成物としては、例えば、エポキシ樹脂、イ
ミダゾール系硬化剤等の硬化剤、および、無機粒子を含
むもの等が挙げられる。上記エポキシ樹脂としては特に
限定されないが、ビスフェノール型エポキシ樹脂やノボ
ラック型エポキシ樹脂が望ましい。ビスフェノール型エ
ポキシ樹脂は、A型やF型の樹脂を選択することによ
り、希釈溶媒を使用しなくてもその粘度を調製すること
ができ、ノボラック型エポキシ樹脂は、高強度で耐熱性
や耐薬品性に優れ、無電解めっき液等の強塩基性溶液中
であっても分解せず、また、熱分解もしにくいからであ
る。また、ビスフェノール型エポキシ樹脂とクレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂とを混合して使用してもよ
い。
Examples of the resin composition for filling the through holes to be filled in the resin filling step include those containing epoxy resin, a curing agent such as an imidazole curing agent, and inorganic particles. The epoxy resin is not particularly limited, but is preferably a bisphenol-type epoxy resin or a novolak-type epoxy resin. The viscosity of bisphenol-type epoxy resin can be adjusted without using a diluting solvent by selecting A-type or F-type resin. Novolak-type epoxy resin has high strength, heat resistance and chemical resistance. This is because they are excellent in properties, do not decompose even in a strongly basic solution such as an electroless plating solution, and are hardly thermally decomposed. Further, a bisphenol type epoxy resin and a cresol novolak type epoxy resin may be mixed and used.

【0039】上記硬化剤としては、例えば、イミダゾー
ル系硬化剤、酸無水物硬化剤、アミン系硬化剤等が挙げ
られる。また、上記無機粒子としては、例えば、アルミ
ニウム化合物、カルシウム化合物、カリウム化合物、マ
グネシウム化合物、ケイ素化合物等からなるものが挙げ
られる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上併用
してもよい。
Examples of the curing agent include an imidazole-based curing agent, an acid anhydride-based curing agent, and an amine-based curing agent. Examples of the inorganic particles include those made of an aluminum compound, a calcium compound, a potassium compound, a magnesium compound, a silicon compound, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

【0040】上記無機粒子の形状は特に限定されず、球
状、楕円球状、破砕状、多面体状等が挙げられる。これ
らのなかでは、球状や楕円球状が望ましい。粒子の形状
に起因したクラックの発生を抑制することができるから
である。また、上記無機粒子は、シランカップリング剤
等により、コーティングされていてもよい。無機粒子と
エポキシ樹脂との密着性が向上するからである。
The shape of the inorganic particles is not particularly limited, and may be spherical, elliptical, crushed, polyhedral, and the like. Among these, a spherical shape and an elliptical spherical shape are desirable. This is because generation of cracks due to the shape of the particles can be suppressed. Further, the inorganic particles may be coated with a silane coupling agent or the like. This is because the adhesion between the inorganic particles and the epoxy resin is improved.

【0041】また、上記貫通孔充填用樹脂組成物は、硬
化後にその含有比率が10〜50重量%となる量の無機
粒子を含むことが望ましい。この範囲の量の無機粒子を
含むことにより、貫通孔充填用樹脂組成物は、貫通孔内
に充填するのに適した粘度を有することとなるととも
に、後工程を経て形成される樹脂充填材層と層間樹脂絶
縁層との間で、熱膨張係数の整合を図ることができる。
また、上記範囲の無機粒子を含む貫通孔充填用樹脂組成
物を用いて形成された樹脂充填材層は、無電解めっき時
の金属の析出性に優れるため、蓋めっき層を形成するの
に適している。
It is desirable that the resin composition for filling the through-holes contains inorganic particles in an amount of 10 to 50% by weight after curing. By including the inorganic particles in the amount in this range, the resin composition for filling through-holes has a viscosity suitable for filling in the through-holes, and a resin filler layer formed through a post-process. The thermal expansion coefficient can be matched between the substrate and the interlayer resin insulating layer.
In addition, the resin filler layer formed using the resin composition for filling through holes containing the inorganic particles in the above range is excellent in metal deposition during electroless plating, and thus is suitable for forming a lid plating layer. ing.

【0042】また、上記貫通孔充填用樹脂組成物中に
は、上記したエポキシ樹脂等以外に、他の熱硬化性樹脂
や熱可塑性樹脂等が含まれていてもよい。上記熱硬化性
樹脂としては、例えば、ポリイミド樹脂、フェノール樹
脂等が挙げられ、上記熱可塑性樹脂としては、例えば、
ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、4フッ化エ
チレン6フッ化プロピレン共重合体(FEP)、4フッ
化エチレンパーフロロアルコキシ共重合体(PFA)等
のフッ素樹脂、ポリエチレンテレフタレート(PE
T)、ポリスルフォン(PSF)、ポリフェニレンスル
フィド(PPS)、熱可塑型ポリフェニレンエーテル
(PPE)、ポリエーテルスルフォン(PES)、ポリ
エーテルイミド(PEI)、ポリフェニレンスルフォン
(PPES)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、
ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリオレフ
ィン系樹脂等が挙げられる。これらは、単独で用いても
よいし、2種以上を併用してもよい。なお、上記エポキ
シ樹脂に代えて、これらの樹脂を用いてもよい。
The above-mentioned resin composition for filling through-holes may contain other thermosetting resins, thermoplastic resins and the like in addition to the above-mentioned epoxy resin and the like. Examples of the thermosetting resin include, for example, a polyimide resin and a phenol resin, and examples of the thermoplastic resin include:
Fluororesins such as polytetrafluoroethylene (PTFE), tetrafluoroethylene hexafluoropropylene copolymer (FEP), and tetrafluoroethylene perfluoroalkoxy copolymer (PFA), polyethylene terephthalate (PE)
T), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfide (PPS), thermoplastic polyphenylene ether (PPE), polyether sulfone (PES), polyetherimide (PEI), polyphenylene sulfone (PPES), polyethylene naphthalate (PEN) ,
Examples thereof include polyether ether ketone (PEEK) and polyolefin resins. These may be used alone or in combination of two or more. These resins may be used instead of the epoxy resin.

【0043】また、上記貫通孔充填用樹脂組成物は、N
MP(ノルマルメチルピロリドン)、DMDG(ジエチ
レングリコールジメチルエーテル)、グリセリン、水、
シクロヘキサノール、シクロヘキサノン、メチルセルソ
ルブ、メチルセルソルブアセテート、メタノール、エタ
ノール、ブタノール、プロパノール等の溶剤を含んでい
てもよいが、溶剤を含まないものが望ましい。上記貫通
孔充填用樹脂組成物が溶剤を含んでいる場合、後の乾燥
工程で、この溶剤を除去しなければならないが、溶剤を
完全に除去することは難しく、貫通孔充填用樹脂組成物
内に溶剤が残留したまま、硬化処理を行うと、硬化時の
熱処理や後工程での熱処理によって、溶剤が揮発し、こ
れが、樹脂充填材層にクラックが発生したり、樹脂充填
材層と層間樹脂絶縁層等との間で剥離発生したりする原
因になることがある。
Further, the resin composition for filling a through-hole may include N
MP (normal methylpyrrolidone), DMDG (diethylene glycol dimethyl ether), glycerin, water,
A solvent such as cyclohexanol, cyclohexanone, methylcellosolve, methylcellosolve acetate, methanol, ethanol, butanol, and propanol may be contained, but a solvent containing no solvent is desirable. When the resin composition for filling a through-hole contains a solvent, the solvent has to be removed in a subsequent drying step, but it is difficult to completely remove the solvent, and the resin composition for filling a through-hole has a problem. When the curing treatment is performed with the solvent remaining in the resin, the solvent evaporates due to the heat treatment at the time of curing or the heat treatment in the post-process, and this may cause cracks in the resin filler layer, or the resin filler layer and the interlayer resin. It may cause peeling between the insulating layer and the like.

【0044】また、この樹脂充填工程では、必要に応じ
て、その壁面に導体層が形成された貫通孔内以外の部
分、例えば、上層導体回路非形成部やバイアホール内
に、貫通孔充填用樹脂組成物を充填してもよい。上記貫
通孔内以外の部分にも貫通孔充填用樹脂組成物を充填す
ることにより、上層導体回路が形成された基板の全表面
が平坦となるため、さらに層間樹脂絶縁層等を積層形成
した際に、この層間樹脂絶縁層の表面の形状をより平坦
にすることができるからである。
In this resin filling step, if necessary, a portion other than the inside of the through hole having the conductor layer formed on the wall surface thereof, for example, the upper layer conductor circuit non-formed portion or the via hole is filled with the through hole. It may be filled with a resin composition. By filling the resin composition for filling a through-hole into a portion other than the inside of the through-hole, the entire surface of the substrate on which the upper-layer conductor circuit is formed becomes flat, so that when an interlayer resin insulating layer or the like is further formed by lamination. This is because the surface of the interlayer resin insulating layer can be made flatter.

【0045】上記樹脂充填工程を行った後、さらに、ス
ルーホール形成工程を行う。即ち、上記樹脂充填工程で
充填した貫通孔充填用樹脂組成物153を乾燥、硬化
し、その内部に樹脂充填材層154が形成されたスルー
ホール137を形成する(図1(d)参照)。上記貫通
孔充填用樹脂組成物を乾燥する際の具体的な乾燥条件は
特に限定されず、貫通孔充填用樹脂組成物の組成等を考
慮して適宜選択すればよいが、通常、50〜180℃
で、20〜90分程度行う。
After performing the above resin filling step, a through hole forming step is further performed. That is, the resin composition 153 for filling the through hole filled in the resin filling step is dried and cured to form a through hole 137 in which the resin filler layer 154 is formed (see FIG. 1D). Specific drying conditions for drying the resin composition for filling a through-hole are not particularly limited, and may be appropriately selected in consideration of the composition of the resin composition for filling a through-hole. ° C
For about 20 to 90 minutes.

【0046】また、貫通孔充填用樹脂組成物の硬化条件
は特に限定されず、貫通孔充填用樹脂組成物の組成等を
考慮して適宜選択すればよいが、通常、50〜180℃
で、20〜90分間程度行う。また、ここで行う硬化処
理は、必要に応じて、順次低い温度から高い温度へと温
度を変化させて硬化させるステップ硬化であってもよ
い。
The curing conditions of the resin composition for filling the through-hole are not particularly limited, and may be appropriately selected in consideration of the composition of the resin composition for filling the through-hole.
For about 20 to 90 minutes. In addition, the curing treatment performed here may be step curing in which the temperature is gradually changed from a low temperature to a high temperature to perform curing as needed.

【0047】また、このスルーホール形成工程を行った
後、必要に応じて、スルーホール137を覆う蓋めっき
層を形成する蓋めっき層形成工程を行ってもよい。該蓋
めっき層を形成することにより、スルーホールの直上に
バイアホールを形成することができるからである。ま
た、本発明の多層プリント配線板の製造方法では、上記
した工程を経て形成した樹脂充填材層の表層部が平坦で
あるため、蓋めっき層を好適に形成することができる。
なお、バイアホール内に貫通孔充填用樹脂組成物を充填
し、乾燥、硬化を行った場合には、バイアホールを覆う
蓋めっき層を形成してもよい。
After performing the through hole forming step, a lid plating layer forming step of forming a lid plating layer covering the through hole 137 may be performed as necessary. By forming the cover plating layer, a via hole can be formed immediately above the through hole. In the method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, the surface layer of the resin filler layer formed through the above-described steps is flat, so that the cover plating layer can be suitably formed.
In addition, when the via hole is filled with the resin composition for filling a through hole and dried and cured, a lid plating layer covering the via hole may be formed.

【0048】このような貫通孔形成工程、導体層形成工
程、スキージを用いて貫通孔充填用樹脂組成物を充填す
る樹脂充填工程、および、スルーホール形成工程を行う
ことにより、その壁面に導体層が形成された貫通孔内
に、その表層部が平坦な樹脂充填材層を形成することが
できる。
By performing the through hole forming step, the conductor layer forming step, the resin filling step of filling the through hole filling resin composition using a squeegee, and the through hole forming step, the conductive layer is formed on the wall surface thereof. A resin filler layer having a flat surface layer portion can be formed in the through hole in which is formed.

【0049】次に、本発明の多層プリント配線板の製造
方法の全製造工程について、工程順に説明する。 (1)絶縁性基板を出発材料とし、まず、該絶縁性基板
上に下層導体回路を形成する。上記絶縁性基板として
は、例えば、ガラスエポキシ基板、ポリエステル基板、
ポリイミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹脂基
板、銅張積層板、RCC基板等が挙げられる。また、上
記下層導体回路は、例えば、上記絶縁性基板の表面に無
電解めっき処理等によりベタの導体層を形成した後、該
導体層上に導体回路パターンに対応したエッチングレジ
ストを形成し、その後、エッチング処理を施すことによ
り形成することができる。なお、無電解めっき処理を施
した後、電解めっきを施すことにより導体層の厚さを厚
くしてもよい。また、銅張積層板やRCC基板等を、ベ
タの導体層が形成された基板として用いてもよい。
Next, all steps of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention will be described in the order of steps. (1) Using an insulating substrate as a starting material, first, a lower conductor circuit is formed on the insulating substrate. As the insulating substrate, for example, a glass epoxy substrate, a polyester substrate,
Examples include a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a copper-clad laminate, and an RCC substrate. Further, the lower layer conductor circuit, for example, after forming a solid conductor layer by electroless plating or the like on the surface of the insulating substrate, forming an etching resist corresponding to the conductor circuit pattern on the conductor layer, , By performing an etching process. After the electroless plating is performed, the thickness of the conductor layer may be increased by performing the electrolytic plating. Further, a copper-clad laminate, an RCC substrate, or the like may be used as a substrate on which a solid conductor layer is formed.

【0050】また、上記した方法に代えて、例えば、以
下のような方法を用いてもよい。即ち、まず、無電解め
っき処理やスパッタリング処理等により、基板の表面に
薄い導体層を形成する。次に、薄い導体層上の導体回路
非形成部分にめっきレジストを形成し、めっきレジスト
非形成部分に、薄い導体層をめっきリードとして電気め
っき層を形成する。さらに、めっきレジスト剥離し、該
めっきレジスト下に存在していた薄膜導体層をエッチン
グ除去することにより基板上に下層導体回路を形成する
ことができる。
Instead of the above method, for example, the following method may be used. That is, first, a thin conductor layer is formed on the surface of the substrate by electroless plating, sputtering, or the like. Next, a plating resist is formed on a portion of the thin conductor layer where no conductor circuit is formed, and an electroplating layer is formed on the portion where the plating resist is not formed using the thin conductor layer as a plating lead. Further, the lower conductor circuit can be formed on the substrate by peeling off the plating resist and etching away the thin film conductor layer existing under the plating resist.

【0051】(2)次に、必要に応じて、下層導体回路
の表面の粗化処理を行う。粗化処理方法としては、例え
ば、上記した黒化(酸化)−還元処理、エッチング処
理、Cu−Ni−P針状合金めっきによる処理等を用い
ることができる。
(2) Next, if necessary, the surface of the lower conductor circuit is subjected to a roughening treatment. As the roughening treatment method, for example, the above-mentioned blackening (oxidation) -reduction treatment, etching treatment, treatment by Cu-Ni-P needle-like alloy plating, or the like can be used.

【0052】(3)次に、下層導体回路上に熱硬化性樹
脂や樹脂複合体からなる未硬化の樹脂絶縁層を形成する
か、または、熱可塑性樹脂からなる樹脂層を形成する。
上記未硬化の樹脂絶縁層は、未硬化の樹脂をロールコー
ター、カーテンコーター等により塗布して成形してもよ
く、また、未硬化(半硬化)の樹脂フィルムを熱圧着し
て形成してもよい。さらに、未硬化の樹脂フィルムの片
面に銅箔等の金属層が形成された樹脂フィルムを貼付し
てもよい。また、熱可塑性樹脂からなる樹脂層は、フィ
ルム状に成形した樹脂成形体を熱圧着することにより形
成することが望ましい。
(3) Next, an uncured resin insulating layer made of a thermosetting resin or a resin composite is formed on the lower conductor circuit, or a resin layer made of a thermoplastic resin is formed.
The uncured resin insulating layer may be formed by applying uncured resin by using a roll coater, a curtain coater, or the like, or may be formed by thermocompression bonding an uncured (semi-cured) resin film. Good. Further, a resin film in which a metal layer such as a copper foil is formed on one surface of an uncured resin film may be attached. The resin layer made of a thermoplastic resin is desirably formed by thermocompression bonding a resin molded body formed into a film.

【0053】上記未硬化の樹脂を塗布する場合には、樹
脂を塗布した後、加熱処理を施す。上記加熱処理を施す
ことにより、未硬化の樹脂を熱硬化させることができ
る。なお、上記熱硬化は、後述するバイアホール用開口
および貫通孔を形成した後に行ってもよい。
When the uncured resin is applied, a heat treatment is applied after the application of the resin. By performing the heat treatment, the uncured resin can be thermally cured. The heat curing may be performed after forming a via hole opening and a through hole described later.

【0054】また、上記樹脂フィルムを張り付けること
により層間樹脂絶縁層を形成する場合、該層間樹脂絶縁
層の形成は、真空ラミネーター等の装置を用い、減圧下
または真空下で樹脂フィルムを圧着し、その後、樹脂フ
ィルムを熱硬化することにより行う。なお、上記熱硬化
は、後述するバイアホール用開口および貫通孔を形成し
た後に行ってもよい。
When the interlayer resin insulating layer is formed by attaching the above resin film, the interlayer resin insulating layer is formed by pressing the resin film under reduced pressure or vacuum using a device such as a vacuum laminator. Thereafter, the heat treatment is performed by thermosetting the resin film. The heat curing may be performed after forming a via hole opening and a through hole described later.

【0055】また、フィルム状に成形した熱可塑性樹脂
を熱圧着して導体回路上に張り付ける場合も、真空ラミ
ネーター等の装置を用い、減圧下または真空下でフィル
ム状に成形した熱可塑性樹脂を圧着することが望まし
い。
Also, when the thermoplastic resin formed into a film is bonded by thermocompression bonding to a conductor circuit, the thermoplastic resin formed into a film under reduced pressure or vacuum may be applied using a device such as a vacuum laminator. It is desirable to crimp.

【0056】上記熱硬化性樹脂の具体例としては、例え
ば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、
ポリエステル樹脂、ビスマレイミド樹脂、ポリオレフィ
ン系樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂等が挙げられ
る。
Specific examples of the thermosetting resin include, for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin,
Examples thereof include a polyester resin, a bismaleimide resin, a polyolefin resin, and a polyphenylene ether resin.

【0057】上記エポキシ樹脂としては、例えば、クレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型
エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェ
ノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノール
ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノールF型エポキシ
樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエ
ン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール性水酸基
を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物、
トリグリシジルイソシアヌレート、脂環式エポキシ樹脂
等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種
以上併用してもよい。それにより、耐熱性等に優れるも
のとなる。
Examples of the epoxy resin include cresol novolak epoxy resin, bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, phenol novolak epoxy resin, alkylphenol novolak epoxy resin, biphenol F epoxy resin, and naphthalene epoxy resin. Resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, epoxidized product of condensate of phenols and aromatic aldehyde having phenolic hydroxyl group,
Triglycidyl isocyanurate, alicyclic epoxy resin and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Thereby, it becomes excellent in heat resistance and the like.

【0058】上記ポリオレフィン系樹脂としては、例え
ば、ポリエチレン、ポリスチレン、ポリプロピレン、ポ
リイソブチレン、ポリブタジエン、ポリイソプレン、シ
クロオレフィン系樹脂、これらの樹脂の共重合体等が挙
げられる。
Examples of the polyolefin resin include polyethylene, polystyrene, polypropylene, polyisobutylene, polybutadiene, polyisoprene, cycloolefin resin, and copolymers of these resins.

【0059】また、上記ポリオレフィン系樹脂の市販品
としては、例えば、住友スリーエム社製の商品名:15
92等が挙げられる。また、融点が200℃以上の熱可
塑型ポリオレフィン系樹脂を用いることができ、具体的
な市販品としては、例えば、三井石油化学工業社製の商
品名:TPX(融点240℃)、出光石油化学社製の商
品名:SPS(融点270℃)等が挙げられる。これら
のなかでは、誘電率および誘電正接が低く、GHz帯域
の高周波信号を用いた場合でも信号遅延や信号エラーが
発生しにくく、さらには、剛性等の機械的特性にも優れ
ている点からシクロオレフィン系樹脂が望ましい。
Examples of commercially available polyolefin-based resins include, for example, a product name: 15 available from Sumitomo 3M Limited.
92 and the like. Further, a thermoplastic polyolefin resin having a melting point of 200 ° C. or more can be used. Specific commercial products include, for example, trade names: TPX (melting point 240 ° C.) manufactured by Mitsui Petrochemical Industries, Ltd., and Idemitsu Petrochemical Co., Ltd. Trade name: SPS (melting point: 270 ° C.). Among them, cyclo-dielectric materials have low dielectric constant and dielectric loss tangent, are unlikely to cause signal delay and signal error even when a high-frequency signal in the GHz band is used, and are excellent in mechanical characteristics such as rigidity. Olefin resins are desirable.

【0060】上記シクロオレフィン系樹脂としては、2
−ノルボルネン、5−エチリデン−2−ノルボルネンま
たはこれらの誘導体からなる単量体の単独重合体または
共重合体等が望ましい。上記誘導体としては、上記2−
ノルボルネン等のシクロオレフィンに、架橋を形成する
ためのアミノ基や無水マレイン酸残基あるいはマレイン
酸変性したもの等が結合したもの等が挙げられる。上記
共重合体を合成する場合の単量体としては、例えば、エ
チレン、プロピレン等が挙げられる。
As the above cycloolefin resin, 2
Homopolymers or copolymers of monomers comprising -norbornene, 5-ethylidene-2-norbornene or derivatives thereof are desirable. As the above derivative, the above 2-
Examples include those in which an amino group for forming a crosslink, a maleic anhydride residue, or a maleic acid-modified one is bonded to a cycloolefin such as norbornene. Examples of monomers for synthesizing the copolymer include ethylene and propylene.

【0061】上記シクロオレフィン系樹脂は、上記した
樹脂の2種以上の混合物であってもよく、シクロオレフ
ィン系樹脂以外の樹脂を含むものであってもよい。ま
た、上記シクロオレフィン系樹脂が共重合体である場合
には、ブロック共重合体であってもよく、ランダム共重
合体であってもよい。
The cycloolefin resin may be a mixture of two or more of the above resins, or may contain a resin other than the cycloolefin resin. When the cycloolefin resin is a copolymer, it may be a block copolymer or a random copolymer.

【0062】また、上記シクロオレフィン系樹脂は、熱
硬化性シクロオレフィン系樹脂であることが望ましい。
加熱を行って架橋を形成させることにより、より剛性が
高くなり、機械的特性が向上するからである。上記シク
ロオレフィン系樹脂のガラス転移温度(Tg)は、13
0〜200℃であることが望ましい。
Further, the cycloolefin resin is preferably a thermosetting cycloolefin resin.
This is because by performing the heating to form the crosslinks, the rigidity is further increased and the mechanical properties are improved. The glass transition temperature (Tg) of the cycloolefin resin is 13
Desirably, the temperature is 0 to 200 ° C.

【0063】上記シクロオレフィン系樹脂は、既に樹脂
シート(フィルム)として成形されたものを使用しても
よく、単量体もしくは一定の分子量を有する低分子量の
重合体が、キシレン、シクロヘキサン等の溶剤に分散し
た未硬化溶液の状態であってもよい。また、樹脂シート
の場合には、いわゆるRCC(RESIN COATE
D COPPER:樹脂付銅箔)を用いてもよい。上記
シクロオレフィン系樹脂は、水酸化アルミニウム、水酸
化マグネシウム、リン酸エステル等の難燃剤を含むもの
であってもよい。
As the cycloolefin-based resin, those already formed as a resin sheet (film) may be used, and a monomer or a low-molecular-weight polymer having a constant molecular weight may be used as a solvent such as xylene or cyclohexane. It may be in the state of an uncured solution dispersed in. In the case of a resin sheet, a so-called RCC (RESIN COATE
D COPER: resin-coated copper foil). The cycloolefin-based resin may contain a flame retardant such as aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, and phosphate ester.

【0064】また、上記ポリオレフィン樹脂は、有機フ
ィラーを含むものであってもよい。上記有機フィラーを
含むことにより、例えば、層間樹脂絶縁層にレーザ光を
照射してバイアホール用開口を形成する際に、所望の形
状のバイアホール用開口を良好に形成することができ
る。上記有機フィラーとしては特に限定されるものでは
ないが、例えば、メラミン、フェノール樹脂、エポキシ
樹脂、ポリイミド樹脂、フッ素樹脂、PPO、PPE等
が挙げられる。これらの化合物は、単独で用いてもよ
く、2種以上併用してもよい。
The polyolefin resin may contain an organic filler. By including the organic filler, for example, when a via hole is formed by irradiating the interlayer resin insulating layer with laser light, a via hole opening having a desired shape can be formed well. The organic filler is not particularly restricted but includes, for example, melamine, phenol resin, epoxy resin, polyimide resin, fluororesin, PPO, PPE and the like. These compounds may be used alone or in combination of two or more.

【0065】上記有機フィラーの含有量は、5〜60重
量%が好ましい。上記有機フィラーの含有量が5重量%
未満であると、有機フィラーの含有量が少なすぎるた
め、レーザ光を照射した際に上記した役割を果たすこと
ができず、目的とする形状のバイアホール用開口等を形
成することができない場合がある。一方、有機フィラー
の含有量が60重量%を超えると、ポリオレフィン系樹
脂の特性が失われ、例えば、誘電率が高くなりすぎるこ
と等があるため好ましくない。より好ましい有機フィラ
ーの含有量は、14〜60重量%である。
The content of the organic filler is preferably 5 to 60% by weight. The content of the organic filler is 5% by weight
If it is less than 10%, the content of the organic filler is too small, so that the above-mentioned role cannot be fulfilled when irradiating the laser beam, and in some cases, it is not possible to form a via hole opening or the like having a desired shape. is there. On the other hand, if the content of the organic filler exceeds 60% by weight, the characteristics of the polyolefin-based resin are lost, and, for example, the dielectric constant may be excessively high. A more preferable content of the organic filler is 14 to 60% by weight.

【0066】上記有機フィラーの形状は特に限定され
ず、例えば、球状、多面形状等が挙げられるが、これら
のなかでは、クラックが発生しにくく、熱や熱衝撃によ
って層間樹脂絶縁層に応力が発生しても、その応力が緩
和されやすい点から、球状が好ましい。
The shape of the organic filler is not particularly limited, and may be, for example, a sphere or a polyhedral shape. Among these, cracks are unlikely to occur, and stress is generated in the interlayer resin insulating layer by heat or thermal shock. However, a spherical shape is preferable because the stress is easily alleviated.

【0067】また、上記有機フィラーの粒径は、0.0
5〜0.2μmが好ましい。上記有機フィラーの粒径が
0.05μm未満であると、粒径が小さすぎるため、均
一に有機フィラーを配合することが困難となる場合があ
り、一方、上記有機フィラーの粒径が0.2μmを超え
ると、有機フィラーの粒径が大きすぎるため、レーザ光
を照射した際に完全に分解除去されない場合が発生す
る。
The particle size of the organic filler is 0.0
5 to 0.2 μm is preferred. When the particle size of the organic filler is less than 0.05 μm, the particle size is too small, so that it may be difficult to mix the organic filler uniformly, while the particle size of the organic filler is 0.2 μm If the ratio exceeds the above range, the particle size of the organic filler may be too large, so that the organic filler may not be completely decomposed and removed when irradiated with laser light.

【0068】上記有機フィラーを配合する場合、その粒
径が異なる2種以上の有機フィラーを配合してもよい
が、余り多種類の粒径の異なる有機フィラーを配合する
と、有機フィラーが凝集しやすくなり、凝集物の径が
0.2μmを超え、0.2μmを超えるものを使用した
場合と同様の不都合が発生する場合があるので、径が異
なる有機フィラーを配合する場合には、2種類の配合に
留めることが望ましい。
When the above-mentioned organic filler is compounded, two or more kinds of organic fillers having different particle diameters may be compounded. However, if too many kinds of organic fillers having different particle diameters are mixed, the organic filler is liable to aggregate. When the size of the agglomerate exceeds 0.2 μm and the same inconvenience as the case where the agglomerate exceeds 0.2 μm is used, there are cases where two types of organic fillers having different diameters are blended. It is desirable to keep the formulation.

【0069】上記ポリフェニレンエーテル樹脂として
は、例えば、下記化学式(3)で表される繰り返し単位
を有する熱可塑性ポリフェニレンエーテル樹脂や下記化
学式(4)で表される繰り返し単位を有する熱硬化性ポ
リフェニレンエーテル樹脂等が挙げられる。
Examples of the polyphenylene ether resin include a thermoplastic polyphenylene ether resin having a repeating unit represented by the following chemical formula (3) and a thermosetting polyphenylene ether resin having a repeating unit represented by the following chemical formula (4): And the like.

【0070】[0070]

【化2】 Embedded image

【0071】(式中、nは、2以上の整数を表す。)(In the formula, n represents an integer of 2 or more.)

【0072】[0072]

【化3】 Embedded image

【0073】(式中、mは、2以上の整数を表す。ま
た、R1 、R2 は、メチレン基、エチレン基または−C
2 −O−CH2 −を表し、両者は同一であってもよい
し、異なっていてもよい。) また、上記化学式(3)で表される繰り返し単位を有す
る熱可塑性ポリフェニレンエーテル樹脂は、ベンゼン環
にメチル基が結合した構造を有しているが、本発明で用
いることのできるポリフェニレンエーテル樹脂として
は、上記メチル基が、エチル基等の他のアルキル基等で
置換された誘導体や、メチル基の水素がフッ素で置換さ
れた誘導体等であってもよい。
(In the formula, m represents an integer of 2 or more. R 1 and R 2 represent a methylene group, an ethylene group or a —C
Represents H 2 —O—CH 2 —, both of which may be the same or different. The thermoplastic polyphenylene ether resin having a repeating unit represented by the chemical formula (3) has a structure in which a methyl group is bonded to a benzene ring, and is a polyphenylene ether resin that can be used in the present invention. May be a derivative in which the above-mentioned methyl group is substituted with another alkyl group such as an ethyl group, or a derivative in which hydrogen of a methyl group is substituted with fluorine.

【0074】また、上記熱可塑性樹脂としては、例え
ば、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン等が挙げ
られる。また、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂との複合体
(樹脂複合体)としては、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂
とを含むものであれば特に限定されず、その具体例とし
ては、例えば、粗化面形成用樹脂組成物等が挙げられ
る。
Examples of the thermoplastic resin include polyether sulfone and polysulfone. Further, the composite of the thermosetting resin and the thermoplastic resin (resin composite) is not particularly limited as long as it contains a thermosetting resin and a thermoplastic resin, and specific examples thereof include, for example, And a resin composition for forming a roughened surface.

【0075】上記粗化面形成用樹脂組成物としては、例
えば、酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれる少なくと
も1種からなる粗化液に対して難溶性の未硬化の耐熱性
樹脂マトリックス中に、酸、アルカリおよび酸化剤から
選ばれる少なくとも1種からなる粗化液に対して可溶性
の物質が分散されたもの等が挙げられる。なお、上記
「難溶性」および「可溶性」という語は、同一の粗化液
に同一時間浸漬した場合に、相対的に溶解速度の早いも
のを便宜上「可溶性」といい、相対的に溶解速度の遅い
ものを便宜上「難溶性」と呼ぶ。
The resin composition for forming a roughened surface includes, for example, an uncured heat-resistant resin matrix which is hardly soluble in a roughening solution comprising at least one selected from acids, alkalis and oxidizing agents. Examples thereof include those in which a substance soluble in a roughening liquid comprising at least one selected from an acid, an alkali, and an oxidizing agent is dispersed. Note that the terms "sparingly soluble" and "soluble" are referred to as "soluble" for convenience when a substance having a relatively high dissolution rate is immersed in the same roughening solution for the same time, and the relative dissolution rate is relatively low. The slower one is called "poorly soluble" for convenience.

【0076】上記耐熱性樹脂マトリックスとしては、層
間樹脂絶縁層に上記粗化液を用いて粗化面を形成する際
に、粗化面の形状を保持できるものが好ましく、例え
ば、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、これらの複合体等が
挙げられる。また、感光性樹脂を用いることもできる。
The heat-resistant resin matrix is preferably a matrix capable of maintaining the shape of the roughened surface when the roughened surface is formed on the interlayer resin insulating layer using the roughening solution. , Thermoplastic resins, and composites thereof. Alternatively, a photosensitive resin can be used.

【0077】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリオレ
フィン樹脂、フッ素樹脂等が挙げられる。また、上記熱
硬化性樹脂を感光化する場合は、メタクリル酸やアクリ
ル酸等を用い、熱硬化基を(メタ)アクリル化反応させ
る。特にエポキシ樹脂の(メタ)アクリレートが望まし
い。さらに、1分子中に、2個以上のエポキシ基を有す
るエポキシ樹脂がより望ましい。上述の粗化面を形成す
ることができるばかりでなく、耐熱性等にも優れている
ため、ヒートサイクル条件下においても、導体回路に応
力の集中が発生せず、導体回路と層間樹脂絶縁層との間
で剥離が発生しにくい。
The thermosetting resin includes, for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyolefin resin, fluorine resin and the like. When the thermosetting resin is photosensitized, the thermosetting group is subjected to a (meth) acrylation reaction using methacrylic acid, acrylic acid, or the like. Particularly, a (meth) acrylate of an epoxy resin is desirable. Further, an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is more desirable. In addition to being able to form the above-described roughened surface, it is also excellent in heat resistance and the like, so that stress is not concentrated on the conductor circuit even under heat cycle conditions, and the conductor circuit and the interlayer resin insulation layer Peeling hardly occurs between the substrate and the substrate.

【0078】上記熱可塑性樹脂としては、例えば、フェ
ノキシ樹脂、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォ
ン、ポリフェニレンスルフォン、ポリフェニレンサルフ
ァイド、ポリフェニルエーテル、ポリエーテルイミド等
が挙げられる。これらは単独で用いてもよいし、2種以
上併用してもよい。
Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyether sulfone, polysulfone, polyphenylene sulfone, polyphenylene sulfide, polyphenyl ether, polyether imide and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

【0079】上記酸、アルカリおよび酸化剤から選ばれ
る少なくとも1種からなる粗化液に対して可溶性の物質
は、無機粒子、樹脂粒子、金属粒子、ゴム粒子、液相樹
脂および液相ゴムから選ばれる少なくとも1種であるこ
とが望ましい。
The substance soluble in the roughening liquid comprising at least one selected from the above-mentioned acids, alkalis and oxidizing agents is selected from inorganic particles, resin particles, metal particles, rubber particles, liquid resin and liquid rubber. It is desirable that it is at least one kind.

【0080】上記無機粒子としては、例えば、アルミニ
ウム化合物、カルシウム化合物、カリウム化合物、マグ
ネシウム化合物、ケイ素化合物等が挙げられる。これら
は単独で用いてもよいし、2種以上併用してもよい。
The inorganic particles include, for example, aluminum compounds, calcium compounds, potassium compounds, magnesium compounds, silicon compounds and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

【0081】上記アルミニウム化合物としては、例え
ば、アルミナ、水酸化アルミニウム等が挙げられ、上記
カルシウム化合物としては、例えば、炭酸カルシウム、
水酸化カルシウム等が挙げられ、上記カリウム化合物と
しては、例えば、炭酸カリウム等が挙げられ、上記マグ
ネシウム化合物としては、例えば、マグネシア、ドロマ
イト、塩基性炭酸マグネシウム、タルク等が挙げられ、
上記ケイ素化合物としては、例えば、シリカ、ゼオライ
ト等が挙げられる。これらは単独で用いてもよいし、2
種以上併用してもよい。
The aluminum compound includes, for example, alumina and aluminum hydroxide. The calcium compound includes, for example, calcium carbonate,
Calcium hydroxide and the like, as the potassium compound, for example, potassium carbonate and the like, as the magnesium compound, for example, magnesia, dolomite, basic magnesium carbonate, talc and the like,
Examples of the silicon compound include silica and zeolite. These may be used alone or 2
More than one species may be used in combination.

【0082】上記アルミナ粒子は、ふっ酸で溶解除去す
ることができ、炭酸カルシウムは塩酸で溶解除去するこ
とができる。また、ナトリウム含有シリカやドロマイト
はアルカリ水溶液で溶解除去することができる。
The alumina particles can be dissolved and removed with hydrofluoric acid, and calcium carbonate can be dissolved and removed with hydrochloric acid. Further, sodium-containing silica and dolomite can be dissolved and removed with an alkaline aqueous solution.

【0083】上記樹脂粒子としては、例えば、熱硬化性
樹脂、熱可塑性樹脂等からなるものが挙げられ、酸、ア
ルカリおよび酸化剤から選ばれる少なくとも1種からな
る粗化液に浸漬した場合に、上記耐熱性樹脂マトリック
スよりも溶解速度の早いものであれば特に限定されず、
具体的には、例えば、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素
樹脂、グアナミン樹脂等)、エポキシ樹脂、フェノール
樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリフェニレ
ン樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素樹脂、ビスマレイ
ミド−トリアジン樹脂等挙げられる。これらは、単独で
用いてもよく、2種以上併用してもよい。
Examples of the resin particles include those made of a thermosetting resin, a thermoplastic resin and the like. When immersed in a roughening liquid comprising at least one selected from acids, alkalis and oxidizing agents, There is no particular limitation as long as the dissolution rate is faster than the heat-resistant resin matrix,
Specifically, for example, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin, etc.), epoxy resin, phenol resin, phenoxy resin, polyimide resin, polyphenylene resin, polyolefin resin, fluororesin, bismaleimide-triazine resin and the like can be mentioned. . These may be used alone or in combination of two or more.

【0084】なお、上記エポキシ樹脂は、酸や酸化剤に
溶解するものや、これらに難溶性のものを、オリゴマー
の種類や硬化剤を選択することにより任意に製造するこ
とができる。例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂
をアミン系硬化剤で硬化させた樹脂はクロム酸に非常に
よく溶けるが、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂を
イミダゾール硬化剤で硬化させた樹脂は、クロム酸には
溶解しにくい。
The epoxy resin can be arbitrarily produced by dissolving in an acid or an oxidizing agent or hardly soluble in the same by selecting the type of oligomer and the curing agent. For example, a resin obtained by curing a bisphenol A-type epoxy resin with an amine-based curing agent is very soluble in chromic acid, but a resin obtained by curing a cresol novolac-type epoxy resin with an imidazole curing agent is not easily dissolved in chromic acid. .

【0085】上記樹脂粒子は予め硬化処理されているこ
とが必要である。硬化させておかないと上記樹脂粒子が
樹脂マトリックスを溶解させる溶剤に溶解してしまうた
め、均一に混合されてしまい、酸や酸化剤で樹脂粒子の
みを選択的に溶解除去することができないからである。
It is necessary that the resin particles have been previously cured. If not cured, the resin particles will dissolve in the solvent that dissolves the resin matrix, so they will be uniformly mixed, and it will not be possible to selectively dissolve and remove only the resin particles with an acid or oxidizing agent. is there.

【0086】上記金属粒子としては、例えば、金、銀、
銅、スズ、亜鉛、ステンレス、アルミニウム、ニッケ
ル、鉄、鉛等が挙げられる。これらは、単独で用いても
よく、2種以上併用してもよい。また、上記金属粒子
は、絶縁性を確保するために、表層が樹脂等により被覆
されていてもよい。
The metal particles include, for example, gold, silver,
Examples include copper, tin, zinc, stainless steel, aluminum, nickel, iron, lead, and the like. These may be used alone or in combination of two or more. The metal particles may have a surface layer coated with a resin or the like in order to ensure insulation.

【0087】上記ゴム粒子としては、例えば、アクリロ
ニトリル−ブタジエンゴム、ポリクロロプレンゴム、ポ
リイソプレンゴム、アクリルゴム、多硫系剛性ゴム、フ
ッ素ゴム、ウレタンゴム、シリコーンゴム、ABS樹脂
等が挙げられる。
Examples of the rubber particles include acrylonitrile-butadiene rubber, polychloroprene rubber, polyisoprene rubber, acrylic rubber, polysulfur-based rigid rubber, fluorine rubber, urethane rubber, silicone rubber, ABS resin and the like.

【0088】また、上記ゴム粒子として、例えば、ポリ
ブタジエンゴム、エポキシ変性、ウレタン変性、(メ
タ)アクリロニトリル変性等の各種変性ポリブタジエン
ゴム、カルボキシル基を含有した(メタ)アクリロニト
リル・ブタジエンゴム等を使用することもできる。これ
らのゴム粒子を使用することにより、該ゴム粒子が酸あ
るいは酸化剤に溶解しやすくなる。つまり、酸を用いて
ゴム粒子を溶解する際には、強酸以外の酸でも溶解する
ことができ、酸化剤を用いてゴム粒子を溶解する際に
は、比較的酸化力の弱い過マンガン酸でも溶解すること
ができる。また、クロム酸を用いた場合でも、低濃度で
溶解することができる。そのため、酸や酸化剤が層間樹
脂絶縁層表面に残留することがなく、後述するように、
粗化面形成後、塩化パラジウム等の触媒を付与する際
に、触媒が付与されなたかったり、触媒が酸化されたり
することがない。これらは、単独で用いてもよく、2種
以上併用してもよい。
As the rubber particles, for example, various modified polybutadiene rubbers such as polybutadiene rubber, epoxy-modified, urethane-modified, (meth) acrylonitrile-modified, and (meth) acrylonitrile-butadiene rubber containing a carboxyl group may be used. Can also. By using these rubber particles, the rubber particles are easily dissolved in an acid or an oxidizing agent. In other words, when dissolving the rubber particles using an acid, an acid other than a strong acid can be dissolved, and when dissolving the rubber particles using an oxidizing agent, permanganic acid having a relatively weak oxidizing power can be used. Can be dissolved. Even when chromic acid is used, it can be dissolved at a low concentration. Therefore, no acid or oxidizing agent remains on the surface of the interlayer resin insulating layer, and as described later,
When a catalyst such as palladium chloride is applied after the formation of the roughened surface, no catalyst is applied or the catalyst is not oxidized. These may be used alone or in combination of two or more.

【0089】上記可溶性の物質を、2種以上混合して用
いる場合、混合する2種の可溶性の物質の組み合わせと
しては、樹脂粒子と無機粒子との組み合わせが望まし
い。両者とも導電性が低くいため、層間樹脂絶縁層の絶
縁性を確保することができるとともに、難溶性樹脂との
間で熱膨張の調整が図りやすく、粗化面形成用樹脂組成
物からなる層間樹脂絶縁層にクラックが発生せず、層間
樹脂絶縁層と導体回路との間で剥離が発生しないからで
ある。
When two or more of the above-mentioned soluble substances are used in combination, the combination of the two soluble substances to be mixed is preferably a combination of resin particles and inorganic particles. Both have low conductivity, so that the insulation of the interlayer resin insulation layer can be ensured, the thermal expansion can be easily adjusted with the poorly soluble resin, and the interlayer resin made of the resin composition for forming a roughened surface can be easily obtained. This is because no crack occurs in the insulating layer, and no peeling occurs between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit.

【0090】上記液相樹脂としては、上記熱硬化性樹脂
の未硬化溶液を使用することができ、このような液相樹
脂の具体例としては、例えば、未硬化のエポキシオリゴ
マーとアミン系硬化剤の混合液等が挙げられる。上記液
相ゴムとしては、例えば、上記したポリブタジエンゴ
ム、エポキシ変性、ウレタン変性、(メタ)アクリロニ
トリル変性等の各種変性ポリブタジエンゴム、カルボキ
シル基を含有した(メタ)アクリロニトリル・ブタジエ
ンゴム等の未硬化溶液等を使用することができる。
As the liquid phase resin, an uncured solution of the thermosetting resin can be used. Specific examples of such a liquid phase resin include, for example, an uncured epoxy oligomer and an amine-based curing agent. And the like. Examples of the liquid phase rubber include the above-mentioned polybutadiene rubber, various modified polybutadiene rubbers such as epoxy-modified, urethane-modified and (meth) acrylonitrile-modified, and uncured solutions such as (meth) acrylonitrile-butadiene rubber containing a carboxyl group. Can be used.

【0091】上記液相樹脂や液相ゴムを用いて上記感光
性樹脂組成物を調製する場合には、耐熱性樹脂マトリッ
クスと可溶性の物質とが均一に相溶しない(つまり相分
離するように)ように、これらの物質を選択する必要が
ある。上記基準により選択された耐熱性樹脂マトリック
スと可溶性の物質とを混合することにより、上記耐熱性
樹脂マトリックスの「海」の中に液相樹脂または液相ゴ
ムの「島」が分散している状態、または、液相樹脂また
は液相ゴムの「海」の中に、耐熱性樹脂マトリックスの
「島」が分散している状態の感光性樹脂組成物を調製す
ることができる。
When the photosensitive resin composition is prepared using the liquid phase resin or liquid phase rubber, the heat-resistant resin matrix and the soluble substance are not uniformly compatible (that is, the phases are separated). As such, these materials need to be selected. By mixing a heat-resistant resin matrix and a soluble substance selected according to the above criteria, a state in which "islands" of liquid-phase resin or liquid-phase rubber are dispersed in the "sea" of the heat-resistant resin matrix Alternatively, a photosensitive resin composition in which "islands" of a heat-resistant resin matrix are dispersed in a "sea" of a liquid phase resin or a liquid phase rubber can be prepared.

【0092】そして、このような状態の感光性樹脂組成
物を硬化させた後、「海」または「島」の液相樹脂また
は液相ゴムを除去することにより粗化面を形成すること
ができる。
After the photosensitive resin composition in such a state is cured, the roughened surface can be formed by removing the "sea" or "island" liquid phase resin or liquid phase rubber. .

【0093】上記粗化液として用いる酸としては、例え
ば、リン酸、塩酸、硫酸、硝酸や、蟻酸、酢酸等の有機
酸等が挙げられるが、これらのなかでは有機酸を用いる
ことが望ましい。粗化処理した場合に、バイアホールか
ら露出する金属導体層を腐食させにくいからである。上
記酸化剤としては、例えば、クロム酸、クロム硫酸、ア
ルカリ性過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム等)の
水溶液等を用いることが望ましい。また、上記アルカリ
としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等の水溶
液が望ましい。
Examples of the acid used as the roughening solution include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid. Of these, it is preferable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. As the oxidizing agent, it is desirable to use, for example, an aqueous solution of chromic acid, chromic sulfuric acid, or an alkaline permanganate (such as potassium permanganate). As the alkali, an aqueous solution of sodium hydroxide, potassium hydroxide or the like is desirable.

【0094】上記可溶性の物質の平均粒径は、10μm
以下が望ましい。また、平均粒径が2μm以下の平均粒
径の相対的に大きな粗粒子と平均粒径が相対的に小さな
微粒子とを組み合わせて使用してもよい。即ち、平均粒
径が0.1〜0.5μmの可溶性の物質と平均粒径が1
〜2μmの可溶性の物質とを組み合わせる等である。
The average particle size of the soluble substance is 10 μm
The following is desirable. Further, coarse particles having a relatively large average particle diameter of 2 μm or less and fine particles having a relatively small average particle diameter may be used in combination. That is, a soluble substance having an average particle size of 0.1 to 0.5 μm and an average particle size of 1
Combination with a soluble substance of 22 μm, and the like.

【0095】このように、平均粒子が相対的に大きな粗
粒子と平均粒径が相対的に小さな微粒子とを組み合わせ
ることにより、無電解めっき膜の溶解残渣をなくし、め
っきレジスト下のパラジウム触媒量を少なくし、さら
に、浅くて複雑な粗化面を形成することができる。さら
に、複雑な粗化面を形成することにより、粗化面の凹凸
が小さくても実用的なピール強度を維持することができ
る。上記粗粒子は平均粒径が0.8μmを超え2.0μ
m未満であり、微粒子は平均粒径が0.1〜0.8μm
であることが望ましい。
As described above, the combination of the coarse particles having a relatively large average particle and the fine particles having a relatively small average particle diameter eliminates the dissolution residue of the electroless plating film and reduces the amount of the palladium catalyst under the plating resist. In addition, a shallow and complicated roughened surface can be formed. Further, by forming a complicated roughened surface, a practical peel strength can be maintained even if the unevenness of the roughened surface is small. The coarse particles have an average particle size of more than 0.8 μm and 2.0 μm.
m, the fine particles have an average particle size of 0.1 to 0.8 μm
It is desirable that

【0096】上記粗粒子と微粒子とを組み合わせること
により、浅くて複雑な粗化面を形成することができるの
は、使用する粒子径が粗粒子で平均粒径2μm未満であ
ると、これらの粒子が溶解除去されても形成されるアン
カーは浅くなり、また、除去される粒子は、相対的に粒
子径の大きな粗粒子と相対的に粒子径の小さな微粒子の
混合粒子であるから、形成される粗化面が複雑になるの
である。このような複雑な粗化面を形成することによ
り、浅い粗化面でも実用的なピール強度を維持すること
ができる。
By combining the above coarse particles and fine particles, it is possible to form a shallow and complex roughened surface because the coarse particles used when the average particle diameter is less than 2 μm. The anchor formed even when dissolved is removed becomes shallow, and the particles to be removed are formed by the mixture of coarse particles having a relatively large particle diameter and fine particles having a relatively small particle diameter. The roughened surface becomes complicated. By forming such a complicated roughened surface, a practical peel strength can be maintained even with a shallow roughened surface.

【0097】また、この場合、使用する粒子径が、粗粒
子で平均粒径2μm未満であると、粗化が進行しすぎて
空隙を発生させることはなく、形成した層間樹脂絶縁層
は層間絶縁性に優れている。なお、上記層間面形成用樹
脂組成物において、可溶性の物質の粒径とは、可溶性の
物質の一番長い部分の長さである。
In this case, if the particle diameter used is coarse and the average particle diameter is less than 2 μm, roughening does not proceed too much to generate voids, and the formed interlayer resin insulating layer is an interlayer insulating layer. Excellent in nature. In the resin composition for forming an interlayer surface, the particle size of the soluble substance is the length of the longest portion of the soluble substance.

【0098】また、粗粒子は平均粒径が0.8μmを超
え、2.0μm未満であり、微粒子は平均粒径が0.1
〜0.8μmであると、粗化面の深さは概ねRmax=
3μm程度となり、セミアディテイブ法では、無電解め
っき膜をエッチング除去しやすいだけではなく、無電解
めっき膜下のPd触媒をも簡単に除去することができ、
また、実用的なピール強度1.0〜1.3kg/cmを
維持することができる。
The coarse particles have an average particle diameter of more than 0.8 μm and less than 2.0 μm, and the fine particles have an average particle diameter of 0.1 μm.
When the thickness is approximately 0.8 μm, the depth of the roughened surface is approximately Rmax =
With the semi-additive method, not only the electroless plating film can be easily removed by etching, but also the Pd catalyst under the electroless plating film can be easily removed,
Further, a practical peel strength of 1.0 to 1.3 kg / cm can be maintained.

【0099】上記可溶性の物質の形状は特に限定され
ず、球状、破砕状等が挙げられる。また、上記可溶性の
物質の形状は、一様な形状であることが望ましい。均一
な粗さの凹凸を有する粗化面を形成することができるか
らである。
The shape of the soluble substance is not particularly limited, and examples thereof include a spherical shape and a crushed shape. Further, the shape of the soluble substance is desirably a uniform shape. This is because a roughened surface having unevenness with a uniform roughness can be formed.

【0100】上記粗化面形成用樹脂組成物は基板上等に
塗布することができるように有機溶剤を含有するもので
あってもよいが、基板上等に圧着することができるよう
にフィルム状に成形されたもの(以下、粗化面形成用樹
脂フィルムともいう)が望ましい。これは、層間樹脂絶
縁層を形成する際に、粗化面形成用樹脂組成物が液状で
ある場合には、混練工程や塗布工程において、温度や湿
度等の管理項目が多くなるのに対し、粗化面形成用樹脂
フィルムは、取り扱いが容易だからである。上記粗化面
形成用樹脂組成物が有機溶剤を含有する場合、その含有
量は、10重量%以下であることが望ましい。
The above-mentioned resin composition for forming a roughened surface may contain an organic solvent so that it can be applied on a substrate or the like. (Hereinafter also referred to as a resin film for forming a roughened surface) is desirable. This is because, when forming the interlayer resin insulation layer, if the resin composition for forming a roughened surface is in a liquid state, in a kneading step or a coating step, control items such as temperature and humidity increase, This is because the roughened surface forming resin film is easy to handle. When the above-mentioned resin composition for forming a roughened surface contains an organic solvent, the content is preferably 10% by weight or less.

【0101】上記粗化面形成用樹脂フィルムにおいて、
上記可溶性の物質は、上記耐熱性樹脂マトリックス中に
ほぼ均一に分散されていることが望ましい。均一な粗さ
の凹凸を有する粗化面を形成することができ、樹脂フィ
ルムにバイアホールやスルーホールを形成しても、その
上に形成する導体回路の金属層の密着性を確保すること
ができるからである。また、上記粗化面形成用樹脂フィ
ルムは、粗化面を形成する表層部だけに可溶性の物質を
含有するよう形成されていてもよい。それによって、粗
化面形成用樹脂フィルムの表層部以外は酸または酸化剤
にさらされることがないため、層間樹脂絶縁層を介した
導体回路間の絶縁性が確実に保たれる。
In the above resin film for forming a roughened surface,
It is desirable that the soluble substance is substantially uniformly dispersed in the heat resistant resin matrix. It is possible to form a roughened surface with unevenness of uniform roughness, and even if via holes and through holes are formed in the resin film, it is possible to secure the adhesion of the metal layer of the conductor circuit formed thereon. Because you can. Further, the above-mentioned resin film for forming a roughened surface may be formed so as to contain a soluble substance only in a surface layer portion forming a roughened surface. Thereby, since the portions other than the surface layer portion of the roughened surface forming resin film are not exposed to the acid or the oxidizing agent, the insulation between the conductor circuits via the interlayer resin insulating layer is reliably maintained.

【0102】上記粗化面形成用樹脂フィルムにおいて、
難溶性樹脂中に分散している可溶性の物質の配合量は、
粗化面形成用樹脂フィルムに対して、3〜40重量%が
望ましい。可溶性の物質の配合量が3重量%未満では、
所望の凹凸を有する粗化面を形成することができない場
合があり、40重量%を超えると、酸または酸化剤を用
いて可溶性の物質を溶解した際に、樹脂フィルムの深部
まで溶解してしまい、樹脂フィルムからなる層間樹脂絶
縁層を介した導体回路間の絶縁性を維持できず、短絡の
原因となる場合がある。
In the above resin film for forming a roughened surface,
The amount of the soluble substance dispersed in the hardly soluble resin is
The content is preferably 3 to 40% by weight based on the resin film for forming a roughened surface. If the amount of the soluble substance is less than 3% by weight,
In some cases, a roughened surface having desired irregularities cannot be formed. If the amount exceeds 40% by weight, when a soluble substance is dissolved using an acid or an oxidizing agent, the substance is dissolved to a deep portion of the resin film. In addition, the insulation between the conductor circuits via the interlayer resin insulation layer made of the resin film cannot be maintained, which may cause a short circuit.

【0103】上記粗化面形成用樹脂フィルムは、上記可
溶性の物質、上記耐熱性樹脂マトリックス以外に、硬化
剤、その他の成分等を含有していることが望ましい。上
記硬化剤としては、例えば、イミダゾール系硬化剤、ア
ミン系硬化剤、グアニジン系硬化剤、これらの硬化剤の
エポキシアダクトやこれらの硬化剤をマイクロカプセル
化したもの、トリフェニルホスフィン、テトラフェニル
ホスフォニウム・テトラフェニルボレート等の有機ホス
フィン系化合物等が挙げられる。
The above-mentioned resin film for forming a roughened surface desirably contains a curing agent and other components in addition to the above-mentioned soluble substance and the above-mentioned heat-resistant resin matrix. Examples of the curing agent include imidazole-based curing agents, amine-based curing agents, guanidine-based curing agents, epoxy adducts of these curing agents and those obtained by microencapsulating these curing agents, triphenylphosphine, and tetraphenylphosphonate. Organic phosphine-based compounds such as ammonium tetraphenylborate.

【0104】上記硬化剤の含有量は、粗化面形成用樹脂
フィルムに対して0.05〜10重量%であることが望
ましい。0.05重量%未満では、粗化面形成用樹脂フ
ィルムの硬化が不充分であるため、酸や酸化剤が粗化面
形成用樹脂フィルムに侵入する度合いが大きくなり、粗
化面形成用樹脂フィルムの絶縁性が損なわれることがあ
る。一方、10重量%を超えると、過剰な硬化剤成分が
樹脂の組成を変性させることがあり、信頼性の低下を招
いたりしてしまうことがある。
The content of the curing agent is desirably 0.05 to 10% by weight based on the resin film for forming a roughened surface. If the content is less than 0.05% by weight, the degree of curing of the roughened surface forming resin film is insufficient, so that the degree of penetration of acid or oxidizing agent into the roughened surface forming resin film increases. The insulation of the film may be impaired. On the other hand, when the content exceeds 10% by weight, an excessive curing agent component may modify the composition of the resin, which may cause a decrease in reliability.

【0105】上記その他の成分としては、例えば、粗化
面の形成に影響しない無機化合物あるいは樹脂等のフィ
ラーが挙げられる。上記無機化合物としては、例えば、
シリカ、アルミナ、ドロマイト等が挙げられ、上記樹脂
としては、例えば、ポリイミド樹脂、ポリアクリル樹
脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリフェニレン樹脂、メラ
ニン樹脂、オレフィン系樹脂等が挙げられる。これらの
フィラーを含有させることによって、熱膨脹係数の整合
や耐熱性、耐薬品性の向上等を図りプリント配線板の性
能を向上させることができる。
Examples of the other components include fillers such as inorganic compounds and resins which do not affect the formation of the roughened surface. As the inorganic compound, for example,
Examples of the resin include silica, alumina, and dolomite. Examples of the resin include a polyimide resin, a polyacryl resin, a polyamideimide resin, a polyphenylene resin, a melanin resin, and an olefin resin. By incorporating these fillers, the performance of the printed wiring board can be improved by matching the thermal expansion coefficient, improving heat resistance and chemical resistance, and the like.

【0106】また、上記粗化面形成用樹脂フィルムは、
溶剤を含有していてもよい。上記溶剤としては、例え
ば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン
等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブア
セテートやトルエン、キシレン等の芳香族炭化水素等が
挙げられる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上
併用してもよい。
Further, the resin film for forming a roughened surface is
A solvent may be contained. Examples of the solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, ethyl acetate, butyl acetate, and aromatic hydrocarbons such as cellosolve acetate, toluene, and xylene. These may be used alone or in combination of two or more.

【0107】また、上記層間樹脂絶縁層の厚さは特に限
定されないが、5〜50μmであることが望ましい。上
記厚さが5μm未満であると、上下に隣合う導体回路間
の絶縁性が維持できない場合があり、一方、50μmを
超えると、非貫通孔等を形成した際に、その底部に樹脂
残りが発生したり、その非貫通孔等の形状が底部に向か
って先細り形状になることがある。
The thickness of the interlayer resin insulation layer is not particularly limited, but is preferably 5 to 50 μm. When the thickness is less than 5 μm, insulation between the vertically adjacent conductor circuits may not be maintained. On the other hand, when the thickness is more than 50 μm, when a non-through hole or the like is formed, resin residue may remain on the bottom thereof. It may be generated or the shape of the non-through hole or the like may be tapered toward the bottom.

【0108】(4)次に、その材料として熱硬化性樹脂
や樹脂複合体を用いた層間樹脂絶縁層を形成する場合に
は、未硬化の樹脂絶縁層に硬化処理を施すとともに、バ
イアホール用開口を形成し、層間樹脂絶縁層とする。上
記バイアホール用開口は、レーザ処理により形成するこ
とが望ましい。上記レーザ処理は、上記硬化処理前に行
ってもよいし、硬化処理後に行ってもよい。また、感光
性樹脂からなる層間樹脂絶縁層を形成した場合には、露
光、現像処理を行うことにより、バイアホール用開口を
設けてもよい。なお、この場合、露光、現像処理は、上
記硬化処理前に行う。
(4) Next, when an interlayer resin insulating layer using a thermosetting resin or a resin composite as the material is formed, the uncured resin insulating layer is subjected to a hardening treatment and a via hole is formed. An opening is formed to form an interlayer resin insulation layer. The via hole opening is desirably formed by laser processing. The laser processing may be performed before the curing processing or may be performed after the curing processing. In the case where an interlayer resin insulating layer made of a photosensitive resin is formed, an opening for a via hole may be provided by performing exposure and development processes. In this case, the exposure and development processes are performed before the above-described curing process.

【0109】また、その材料として熱可塑性樹脂を用い
た層間樹脂絶縁層を形成する場合には、熱可塑性樹脂か
らなる樹脂層にレーザ処理によりバイアホール用開口を
形成し、層間樹脂絶縁層とすることができる。
When an interlayer resin insulating layer using a thermoplastic resin as the material is formed, a via hole opening is formed in the resin layer made of the thermoplastic resin by laser treatment to form an interlayer resin insulating layer. be able to.

【0110】このとき、使用するレーザとしては、例え
ば、炭酸ガスレーザ、エキシマレーザ、UVレーザ、Y
AGレーザ等が挙げられる。これらのレーザは、形成す
るバイアホール用開口や貫通孔の形状等を考慮して使い
分けてもよい。
At this time, as a laser to be used, for example, a carbon dioxide laser, an excimer laser, a UV laser,
An AG laser and the like can be mentioned. These lasers may be selectively used in consideration of the shape of a via hole opening or a through hole to be formed.

【0111】上記バイアホール用開口を形成する場合、
マスクを介して、ホログラム方式のエキシマレーザによ
るレーザ光照射することにより、一度に多数のバイアホ
ール用開口を形成することができる。また、短パルスの
炭酸ガスレーザを用いて、バイアホール用開口を形成す
ると、開口内の樹脂残りが少なく、開口周縁の樹脂に対
するダメージが小さい。
When forming the via hole opening,
By irradiating laser light with a hologram excimer laser through a mask, a large number of via hole openings can be formed at once. Further, when the via hole opening is formed using a short-pulse carbon dioxide laser, the amount of resin remaining in the opening is small, and the damage to the resin at the periphery of the opening is small.

【0112】また、光学系レンズとマスクとを介してレ
ーザ光を照射することにより、一度に多数のバイアホー
ル用開口を形成することができる。光学系レンズとマス
クとを介することにより、同一強度で、かつ、照射角度
が同一のレーザ光を複数の部分に同時に照射することが
できるからである。
By irradiating a laser beam through the optical system lens and the mask, a large number of via hole openings can be formed at once. This is because a plurality of portions can be simultaneously irradiated with laser light having the same intensity and the same irradiation angle through the optical lens and the mask.

【0113】上記マスクに形成された貫通孔は、レーザ
光のスポット形状を真円にするために、真円であること
が望ましく、上記貫通孔の径は、0.1〜2mm程度が
望ましい。また、上記炭酸ガスレーザを用いる場合、そ
のパルス間隔は、10-4〜10-8秒であることが望まし
い。また、開口を形成するためのレーザを照射する時間
は、10〜500μ秒であることが望ましい。
The through hole formed in the mask is desirably a perfect circle in order to make the spot shape of the laser beam a perfect circle, and the diameter of the through hole is desirably about 0.1 to 2 mm. When the carbon dioxide laser is used, the pulse interval is desirably 10 −4 to 10 −8 seconds. The time for irradiating the laser for forming the opening is preferably 10 to 500 μsec.

【0114】レーザ光にてバイアホール用開口を形成し
た場合、特に炭酸ガスレーザを用いた場合には、デスミ
ア処理を行うことが望ましい。上記デスミア処理は、ク
ロム酸、過マンガン酸塩等の水溶液からなる酸化剤を使
用して行うことができる。また、酸素プラズマ、CF4
と酸素の混合プラズマやコロナ放電等で処理してもよ
い。また、低圧水銀ランプを用いて紫外線を照射するこ
とにより、表面改質することもできる。また、上記バイ
アホール用開口の開口径は特に限定されないが、通常、
40〜200μmが望ましい。
When the opening for the via hole is formed by laser light, and particularly when a carbon dioxide laser is used, desmearing is preferably performed. The desmear treatment can be performed using an oxidizing agent composed of an aqueous solution such as chromic acid and permanganate. In addition, oxygen plasma, CF 4
It may be treated by a mixed plasma of oxygen and oxygen, corona discharge, or the like. The surface can also be modified by irradiating ultraviolet rays using a low-pressure mercury lamp. The diameter of the via hole opening is not particularly limited, but usually,
40 to 200 μm is desirable.

【0115】(5)次に、バイアホール用開口の内壁を
含む層間樹脂絶縁層の表面に、必要に応じて、酸または
酸化剤を用いて粗化面を形成する。上記酸としては、硫
酸、硝酸、塩酸、リン酸、蟻酸等が挙げられ、上記酸化
剤としては、クロム酸、クロム硫酸、過マンガン酸ナト
リウム等の過マンガン酸塩等が挙げられる。また、上記
粗化面の形成は、プラズマ処理等を用いて行ってもよ
い。
(5) Next, a roughened surface is formed on the surface of the interlayer resin insulating layer including the inner wall of the via hole opening, if necessary, using an acid or an oxidizing agent. Examples of the acid include sulfuric acid, nitric acid, hydrochloric acid, phosphoric acid, and formic acid. Examples of the oxidizing agent include chromic acid, chromic sulfuric acid, and permanganates such as sodium permanganate. Further, the formation of the roughened surface may be performed by using a plasma treatment or the like.

【0116】具体的には、層間樹脂絶縁層を粗化面形成
用樹脂組成物等を用いて形成した場合には、酸や酸化剤
を用いて粗化面を形成することが望ましく、ポリオレフ
ィン系樹脂等を用いて形成した場合には、プラズマ処理
等を用いて粗化面を形成することが望ましい。
Specifically, when the interlayer resin insulating layer is formed using a resin composition for forming a roughened surface, it is desirable to form the roughened surface using an acid or an oxidizing agent. When formed using a resin or the like, it is desirable to form a roughened surface using a plasma treatment or the like.

【0117】この粗化面は、層間樹脂絶縁層とその上に
形成する無電解めっき膜との密着性を高めるために形成
するものであり、上記層間樹脂絶縁層と上記無電解めっ
き膜との間に充分な密着性がある場合には形成しなくて
もよい。
The roughened surface is formed in order to enhance the adhesion between the interlayer resin insulating layer and the electroless plating film formed thereon, and the roughened surface is formed between the interlayer resin insulating layer and the electroless plating film. If there is sufficient adhesion between them, it is not necessary to form them.

【0118】その後、酸を用いて粗化面を形成した場合
はアルカリ等の水溶液を用い、酸化剤を用いて粗化面を
形成した場合は中和液を用いて、バイアホール用開口内
を中和する。この操作により酸や酸化剤を除去し、次工
程に影響を与えないようにする。このような(1)〜
(5)の工程を経ることにより、その両面に導体回路と
層間樹脂絶縁層とが一層ずつ形成された基板を作製する
ことができる。
Thereafter, when the roughened surface is formed using an acid, an aqueous solution of an alkali or the like is used, and when the roughened surface is formed using an oxidizing agent, a neutralizing solution is used to clean the inside of the via hole opening. Neutralize. By this operation, the acid and the oxidizing agent are removed so that the next step is not affected. Such (1) ~
Through the step (5), it is possible to manufacture a substrate in which a conductor circuit and an interlayer resin insulation layer are formed on both surfaces thereof.

【0119】(6)次に、上記した貫通孔形成工程を行
い、基板に貫通孔を形成する。なお、この貫通孔形成工
程は、上記(4)の工程を行った後に行い、上記(5)
の工程で、粗化面を形成する際に、同時に貫通孔の壁面
に粗化面を形成してもよい。
(6) Next, the above-described through hole forming step is performed to form a through hole in the substrate. This through-hole forming step is performed after the step (4) is performed, and the step (5) is performed.
When forming the roughened surface in the step, a roughened surface may be simultaneously formed on the wall surface of the through hole.

【0120】(7)次に、上記した導体層形成工程を行
い、上記貫通孔の壁面と上記層間樹脂絶縁層の表面の一
部とに導体層を形成する。ここでは、上述したように、
スルーホールを構成する導体層の形成と、上層導体回路
(バイアホールを含む)の配線パターンに応じた導体層
の形成とを行う。そこで、配線パターンに応じた導体層
の形成方法について、具体的に説明する。
(7) Next, the above-described conductor layer forming step is performed to form a conductor layer on the wall surface of the through hole and a part of the surface of the interlayer resin insulating layer. Here, as described above,
The formation of the conductor layer forming the through hole and the formation of the conductor layer according to the wiring pattern of the upper conductor circuit (including the via hole) are performed. Therefore, a method of forming a conductor layer according to a wiring pattern will be specifically described.

【0121】なお、上述したように、導体層の形成を無
電解めっき処理により行う場合は、パラジウム等の触媒
を予め付与しておく必要があるが、このとき、触媒を確
実に付与するため、触媒付与前に、酸素、窒素等のプラ
ズマ処理やコロナ処理等のドライ処理を施してもよい。
ドライ処理を施し、酸または酸化剤の残渣を除去すると
ともに層間樹脂絶縁層の表面を改質することにより、触
媒を確実に付与し、無電解めっき時の金属の析出、およ
び、無電解めっき層の層間樹脂絶縁層への密着性を向上
させることができ、特に、バイアホール用開口の底面に
おいて、大きな効果を得ることができる。
As described above, when the conductor layer is formed by electroless plating, it is necessary to apply a catalyst such as palladium in advance. Before applying the catalyst, a dry treatment such as a plasma treatment with oxygen or nitrogen or a corona treatment may be performed.
By applying a dry treatment to remove acid or oxidizing agent residues and modifying the surface of the interlayer resin insulation layer, a catalyst is reliably applied, and the metal is deposited during electroless plating, and the electroless plating layer is removed. The adhesion to the interlayer resin insulating layer can be improved, and a great effect can be obtained particularly at the bottom surface of the via hole opening.

【0122】まず、貫通孔の壁面に無電解めっき等によ
る導体層(薄膜導体層)を形成する際に、同時に、層間
樹脂絶縁層の表面(バイアホール用開口の内壁面を含
む)全体に薄膜導体層を形成する。次に、上記薄膜導体
層上の上層導体回路非形成部分にめっきレジストを形成
する。該めっきレジストは、例えば、感光性ドライフィ
ルム等を張り付け、露光現像処理を施すことにより形成
することができる。
First, when a conductor layer (thin film conductor layer) is formed on the wall surface of the through hole by electroless plating or the like, a thin film is simultaneously formed on the entire surface of the interlayer resin insulating layer (including the inner wall surface of the via hole opening). A conductor layer is formed. Next, a plating resist is formed on a portion of the thin film conductor layer where the upper conductor circuit is not formed. The plating resist can be formed, for example, by attaching a photosensitive dry film or the like and performing exposure and development processing.

【0123】次に、上記薄膜導体層をめっきリードとし
て電気めっきを行い、上記めっきレジスト非形成部に電
気めっき層を形成する。さらに、電気めっき層を形成し
た後、めっきレジストを剥離し、めっきレジスト下に存
在していた薄膜導体層をエッチングにより除去する。こ
こでは、エッチング液として、例えば、硫酸−過酸化水
素水溶液、過硫酸アンモニウム、過硫酸ナトリウム、過
硫酸カリウム等の過硫酸塩水溶液、塩化第二鉄、塩化第
二銅の水溶液、塩酸、硝酸、熱希硫酸等が挙げられる。
また、第二銅錯体と有機酸とを含有するエッチング液を
用いることもできる。
Next, electroplating is performed using the thin-film conductor layer as a plating lead to form an electroplating layer in the portion where the plating resist is not formed. Further, after forming the electroplating layer, the plating resist is peeled off, and the thin film conductor layer existing under the plating resist is removed by etching. Here, as the etching solution, for example, an aqueous solution of sulfuric acid-hydrogen peroxide, an aqueous solution of persulfate such as ammonium persulfate, sodium persulfate, and potassium persulfate, an aqueous solution of ferric chloride and cupric chloride, hydrochloric acid, nitric acid, and hot water And dilute sulfuric acid.
Further, an etching solution containing a cupric complex and an organic acid can also be used.

【0124】このような方法(第一の上層導体回路形成
方法)を用いることより、層間樹脂絶縁層上に上層導体
回路を形成することができ、また、同時に層間樹脂絶縁
層を挟んだ上下の導体回路間を電気的に接続するバイア
ホールを形成することもできる。なお、バイアホール用
開口を電気めっきで充填してフィールドビア構造として
もよく、また、電気めっき終了後、バイアホール用開口
に導電性ペースト等を充填し、その上に蓋めっき層を形
成してフィールドビア構造としてもよい。
By using such a method (first method for forming an upper-layer conductor circuit), an upper-layer conductor circuit can be formed on the interlayer resin insulation layer, and at the same time, the upper and lower layers with the interlayer resin insulation layer interposed therebetween can be formed. Via holes may be formed to electrically connect the conductor circuits. The via hole opening may be filled with electroplating to form a field via structure.After the electroplating, the via hole opening is filled with a conductive paste or the like, and a lid plating layer is formed thereon. A field via structure may be used.

【0125】また、上記した第一の上層導体回路形成方
法に代えて、以下のような方法(第二の上層導体回路形
成方法)を用いることにより上層導体回路を形成するこ
ともできる。即ち、まず、第一の上層導体回路形成方法
と同様に、貫通孔の壁面と層間樹脂絶縁層の表面全体に
薄膜導体層を形成する。
Further, an upper layer conductor circuit can be formed by using the following method (second upper layer conductor circuit formation method) instead of the above first upper layer conductor circuit formation method. That is, first, similarly to the first upper conductor circuit forming method, the thin film conductor layer is formed on the wall surface of the through hole and the entire surface of the interlayer resin insulating layer.

【0126】次に、上記薄膜導体層をめっきリードとし
て電気めっきを行い、上記薄膜導体層上全体に電気めっ
き層を形成する。さらに、上記電気めっき層上の上層導
体回路形成部分にエッチングレジストを形成する。該エ
ッチングレジストは、例えば、感光性ドライフィルム等
を張り付け、露光現像処理を施すことにより形成するこ
とができる。さらに、エッチングレジスト非形成部分下
に存在するの電気めっき層と薄膜導体層とをエッチング
により除去する。なお、エッチング液として第一の上層
導体回路形成方法で使用したものと同様のものを用いる
ことができる。このような第二の上層導体回路形成方法
を用いることよっても、層間樹脂絶縁層上に上層導体回
路を形成することができる。なお、第二の上層導体回路
形成方法においても、電気めっきを行う際に、バイアホ
ール用開口を充填してフィールドビア構造としてもよ
く、また、電気めっき終了後、バイアホール用開口に導
電性ペースト等を充填し、その上に蓋めっき層を形成し
てフィールドビア構造としてもよい。
Next, electroplating is performed using the thin-film conductor layer as a plating lead to form an electroplating layer over the entire thin-film conductor layer. Further, an etching resist is formed on the upper conductive circuit forming portion on the electroplating layer. The etching resist can be formed, for example, by attaching a photosensitive dry film or the like and performing exposure and development processing. Further, the electroplating layer and the thin film conductor layer existing under the portion where the etching resist is not formed are removed by etching. Note that the same etchant as that used in the first method for forming the upper conductor circuit can be used. By using such a second method for forming an upper conductor circuit, an upper conductor circuit can be formed on the interlayer resin insulating layer. In the second upper conductor circuit forming method, the field via structure may be formed by filling the via hole opening when performing the electroplating, and the conductive paste may be filled in the via hole opening after the electroplating is completed. Or the like, and a lid plating layer may be formed thereon to form a field via structure.

【0127】(8)次に、上記した樹脂充填工程を行
い、貫通孔内に、貫通孔充填用樹脂組成物を充填する。 (9)次に、上記したスルーホール形成工程を行い、そ
の内部に樹脂充填材層が形成されたスルーホールを形成
する。このようなスルーホールを形成することにより、
基板と層間樹脂絶縁層とを挟んだ2層の上層導体回路間
が電気的に接続されることとなる。なお、この2層の導
体回路に加えて基板の両面に形成された2層の下層導体
回路もスルーホールに接続し、計4層の導体回路をスル
ーホールを介して電気的に接続してもよい。また、スル
ーホールを形成した後、必要に応じて、上述したように
蓋めっき層を形成する。
(8) Next, the above-described resin filling step is performed to fill the through-hole with the resin composition for filling the through-hole. (9) Next, the above-described through-hole forming step is performed to form a through-hole in which a resin filler layer is formed. By forming such a through hole,
The two upper-layer conductor circuits sandwiching the substrate and the interlayer resin insulation layer are electrically connected. Note that, in addition to the two-layer conductor circuits, two-layer lower-layer conductor circuits formed on both sides of the substrate are also connected to the through holes, and a total of four layers of conductor circuits are electrically connected via the through holes. Good. After the formation of the through-hole, a lid plating layer is formed as necessary, as described above.

【0128】(10)次に、必要により、上記(2)に
記載した方法と同様の方法で導体回路の粗化処理を行っ
た後、(3)〜(9)の工程を繰り返すことにより、導
体回路と層間樹脂絶縁とが順次積層された基板を製造す
ることができる。なお、(3)〜(9)の工程を繰り返
す際には、スルーホールを形成してもよいし、形成しな
くてもよい。
(10) Next, if necessary, a roughening treatment of the conductor circuit is performed by the same method as described in the above (2), and then the steps (3) to (9) are repeated. A substrate in which a conductor circuit and an interlayer resin insulation are sequentially laminated can be manufactured. When the steps (3) to (9) are repeated, a through-hole may or may not be formed.

【0129】(11)次に、最上層の導体回路を含む基
板面にソルダーレジスト層を形成し、さらに、該ソルダ
ーレジスト層を開口して半田パッドを形成した後、上記
半田パッドに半田ペーストを充填し、リフローすること
により半田バンプを形成する。その後、外部基板接続面
に、ピンを配設したり、半田ボールを形成したりするこ
とにより、PGA(Pin Grid Array)やBGA(Ball Grid
Array) とする。
(11) Next, a solder resist layer is formed on the surface of the substrate including the uppermost conductive circuit, a solder pad is formed by opening the solder resist layer, and a solder paste is applied to the solder pad. Filling and reflowing form solder bumps. Then, pins are arranged on the connection surface of the external board, or solder balls are formed, so that a PGA (Pin Grid Array) or a BGA (Ball Grid Array) is formed.
Array).

【0130】上記ソルダーレジスト層は、例えば、ポリ
フェニレンエーテル樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素
樹脂、熱可塑性エラストマー、エポキシ樹脂、ポリイミ
ド樹脂等からなるソルダーレジスト組成物を用いて形成
することができ、これらの樹脂の具体例としては、例え
ば、層間樹脂絶縁層に用いた樹脂と同様の樹脂等が挙げ
られる。
The above-mentioned solder resist layer can be formed by using, for example, a solder resist composition composed of polyphenylene ether resin, polyolefin resin, fluororesin, thermoplastic elastomer, epoxy resin, polyimide resin and the like. Specific examples include, for example, the same resins as those used for the interlayer resin insulating layer.

【0131】また、上記以外のソルダーレジスト組成物
としては、例えば、ノボラック型エポキシ樹脂の(メ
タ)アクリレート、イミダゾール硬化剤、2官能性(メ
タ)アクリル酸エステルモノマー、分子量500〜50
00程度の(メタ)アクリル酸エステルの重合体、ビス
フェノール型エポキシ樹脂等からなる熱硬化性樹脂、多
価アクリル系モノマー等の感光性モノマー、グリコール
エーテル系溶剤などを含むペースト状の流動体が挙げら
れ、その粘度は25℃で1〜10Pa・sに調整されて
いることが望ましい。上記ノボラック型エポキシ樹脂の
(メタ)アクリレートとしては、例えば、フェノールノ
ボラックやクレゾールノボラックのグリシジルエーテル
をアクリル酸やメタクリル酸等と反応させたエポキシ樹
脂等が挙げられる。
Examples of the solder resist composition other than those described above include, for example, a novolak-type epoxy resin (meth) acrylate, an imidazole curing agent, a bifunctional (meth) acrylate monomer, and a molecular weight of 500 to 50.
A paste-like fluid containing a polymer of about 00 (meth) acrylate, a thermosetting resin such as a bisphenol-type epoxy resin, a photosensitive monomer such as a polyvalent acrylic monomer, a glycol ether-based solvent, and the like. It is desirable that the viscosity is adjusted to 1 to 10 Pa · s at 25 ° C. Examples of the (meth) acrylate of the novolak epoxy resin include an epoxy resin obtained by reacting glycidyl ether of phenol novolak or cresol novolak with acrylic acid, methacrylic acid, or the like.

【0132】上記2官能性(メタ)アクリル酸エステル
モノマーとしては特に限定されず、例えば、各種ジオー
ル類のアクリル酸やメタクリル酸のエステル等が挙げら
れ、その市販品としては、日本化薬社製のR−604、
PM2、PM21等が挙げられる。
The bifunctional (meth) acrylic acid ester monomer is not particularly restricted but includes, for example, acrylic acid and methacrylic acid esters of various diols, and commercially available products thereof are manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. R-604,
PM2, PM21 and the like.

【0133】また、上記ソルダーレジスト組成物は、エ
ラストマーや無機フィラーが配合されていてもよい。エ
ラストマーが配合されていることにより、形成されるソ
ルダーレジスト層は、エラスキマーの有する柔軟性およ
び反発弾性により、ソルダーレジスト層に応力が作用し
た場合でも、該応力を吸収したり、緩和したりすること
ができ、その結果、多層プリント配線板の製造工程や製
造した多層プリント配線板にICチップ等の電子部品を
搭載した後のソルダーレジスト層にクラックや剥離が発
生することを抑制でき、さらに、クラックが発生した場
合でも該クラックが大きく成長することができない。
The above solder resist composition may contain an elastomer or an inorganic filler. When the elastomer is blended, the formed solder resist layer absorbs or relieves the stress even when stress is applied to the solder resist layer due to the flexibility and rebound resilience of the elastomer. As a result, it is possible to suppress the occurrence of cracks and peeling in the solder resist layer after the electronic component such as an IC chip is mounted on the manufacturing process of the multilayer printed wiring board or the manufactured multilayer printed wiring board. Even when cracks occur, the crack cannot grow large.

【0134】上記ソルダーレジスト層を開口する方法と
しては、例えば、バイアホール用開口を形成する方法と
同様に、レーザ光を照射する方法等が挙げられる。
The method of opening the solder resist layer includes, for example, a method of irradiating a laser beam in the same manner as the method of forming a via hole opening.

【0135】また、ソルダーレジスト組成物として、感
光性のソルダーレジスト組成物を使用した場合には、ソ
ルダーレジスト層を形成した後、該ソルダーレジスト層
上にフォトレジストを載置し、露光現像処理を施すこと
により、ソルダーレジスト層を開口することができる。
When a photosensitive solder resist composition is used as the solder resist composition, after a solder resist layer is formed, a photoresist is placed on the solder resist layer and exposed and developed. By applying, the solder resist layer can be opened.

【0136】上記ソルダーレジスト層を開口することに
より露出した導体回路部分は、通常、ニッケル、パラジ
ウム、金、銀、白金等の耐食性金属により被覆すること
が望ましい。具体的には、ニッケル−金、ニッケル−
銀、ニッケル−パラジウム、ニッケル−パラジウム−金
等の金属により被覆層を形成することが望ましい。上記
被覆層は、例えば、めっき、蒸着、電着等により形成す
ることができるが、これらのなかでは、被覆層の均一性
に優れるという点からめっきが望ましい。
The conductor circuit portion exposed by opening the solder resist layer is usually desirably covered with a corrosion-resistant metal such as nickel, palladium, gold, silver, and platinum. Specifically, nickel-gold, nickel-
It is desirable to form the coating layer with a metal such as silver, nickel-palladium, nickel-palladium-gold, and the like. The coating layer can be formed by, for example, plating, vapor deposition, electrodeposition, and the like, and among these, plating is preferable because of excellent uniformity of the coating layer.

【0137】なお、製品認識文字などを形成するための
文字印刷工程やソルダーレジスト層の改質のために、酸
素や四塩化炭素などのプラズマ処理を適時行ってもよ
い。
In addition, a plasma treatment with oxygen, carbon tetrachloride, or the like may be performed as needed for a character printing process for forming product recognition characters or the like or for modifying a solder resist layer.

【0138】[0138]

【実施例】以下、本発明をさらに詳細に説明する。 (実施例1) A.層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムの作製 ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量46
9、油化シェルエポキシ社製エピコート1001)30
重量部、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポキ
シ当量215、大日本インキ化学工業社製 エピクロン
N−673)40重量部、トリアジン構造含有フェノー
ルノボラック樹脂(フェノール性水酸基当量120、大
日本インキ化学工業社製 フェノライトKA−705
2)30重量部をエチルジグリコールアセテート20重
量部、ソルベントナフサ20重量部に攪拌しながら加熱
溶解させ、そこへ末端エポキシ化ポリブタジエンゴム
(ナガセ化成工業社製 デナレックスR−45EPT)
15重量部と2−フェニル−4、5−ビス(ヒドロキシ
メチル)イミダゾール粉砕品1.5重量部、微粉砕シリ
カ2重量部、シリコン系消泡剤0.5重量部を添加しエ
ポキシ樹脂組成物を調製した。得られたエポキシ樹脂組
成物を厚さ38μmのPETフィルム上に乾燥後の厚さ
が50μmとなるようにロールコーターを用いて塗布し
た後、80〜120℃で10分間乾燥させることによ
り、層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを作製した。
The present invention will be described in more detail below. Example 1 A. Preparation of Resin Film for Interlayer Resin Insulation Layer Bisphenol A type epoxy resin (Epoxy equivalent 46
9. Yuka Shell Epoxy Epicoat 1001) 30
Parts by weight, 40 parts by weight of a cresol novolak type epoxy resin (epoxy equivalent: 215, Epicron N-673 manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) Light KA-705
2) 30 parts by weight were dissolved by heating in 20 parts by weight of ethyl diglycol acetate and 20 parts by weight of solvent naphtha while stirring, and epoxidized polybutadiene rubber (Denalex R-45EPT manufactured by Nagase Kasei Kogyo Co., Ltd.) was added thereto.
15 parts by weight, 1.5 parts by weight of a crushed product of 2-phenyl-4,5-bis (hydroxymethyl) imidazole, 2 parts by weight of finely divided silica, and 0.5 part by weight of a silicon-based antifoaming agent are added, and an epoxy resin composition is added. Was prepared. The resulting epoxy resin composition is applied on a 38 μm-thick PET film using a roll coater so that the thickness after drying becomes 50 μm, and then dried at 80 to 120 ° C. for 10 minutes to form an interlayer resin. A resin film for an insulating layer was produced.

【0139】B.貫通孔充填用樹脂組成物の調製 ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル社
製、分子量:310、YL983U)100重量部、表
面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒
径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下のS
iO2 球状粒子(アドテック社製、CRS 1101−
CE)72重量部およびレベリング剤(サンノプコ社製
ペレノールS4)1.5重量部を容器にとり、攪拌混
合することにより、その粘度が23±1℃で30〜60
Pa・sの樹脂充填材を調製した。なお、硬化剤とし
て、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E4MZ−
CN)6.5重量部を用いた。
B. Preparation of Resin Composition for Filling Through Holes 100 parts by weight of a bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., Ltd., molecular weight: 310, YL983U), the average particle size of which surface is coated with a silane coupling agent is 1.6 μm, S whose maximum particle diameter is 15 μm or less
iO 2 spherical particles (CRS 1101- manufactured by Adtech Co., Ltd.)
CE) 72 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco Co.) are placed in a container, and the mixture is stirred and mixed to have a viscosity of 30 to 60 at 23 ± 1 ° C.
A Pa · s resin filler was prepared. In addition, as a curing agent, an imidazole curing agent (2E4MZ- manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
6.5 parts by weight (CN).

【0140】C.多層プリント配線板の製造 (1)厚さ0.8mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる絶縁性基板
30の両面に18μmの銅箔32がラミネートされてい
る銅張積層板を出発材料とした(図3(A)参照)。ま
ず、この銅張積層板を下層導体回路パターン状にエッチ
ングすることにより、基板の両面に下層導体回路34を
形成した(図3(B)参照)。
C. Production of multilayer printed wiring board (1) Glass epoxy resin or BT with a thickness of 0.8 mm
A starting material was a copper-clad laminate in which an 18 μm copper foil 32 was laminated on both sides of an insulating substrate 30 made of (bismaleimide triazine) resin (see FIG. 3A). First, the copper-clad laminate was etched into a lower conductor circuit pattern to form lower conductor circuits 34 on both surfaces of the substrate (see FIG. 3B).

【0141】(2)下層導体回路34を形成した基板3
0を水洗いし、乾燥した後、NaOH(10g/l)、
NaClO2 (40g/l)、Na3 PO4 (6g/
l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処理、
および、NaOH(10g/l)、NaBH4 (6g/
l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を行い、下層
導体回路34の表面に粗化面34aを形成した(図3
(C)参照)。
(2) Substrate 3 on which lower conductor circuit 34 is formed
After washing with water and drying, NaOH (10 g / l),
NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO 4 (6 g / l)
a blackening treatment using an aqueous solution containing l) as a blackening bath (oxidizing bath);
And NaOH (10 g / l), NaBH 4 (6 g / l
3), a roughening surface 34a was formed on the surface of the lower conductor circuit 34 (FIG. 3).
(C)).

【0142】(3)次に、上記Aで作製した層間樹脂絶
縁層用樹脂フィルムを、温度50〜150℃まで昇温し
ながら、0.5MPaで真空圧着ラミネートして貼り付
け、樹脂フィルム層50αを形成した(図3(D)参
照)。さらに、樹脂フィルム層50αを貼り付けた基板
30に、ドリル加工により直径300μmの貫通孔35
を形成した(図3(E)参照)。
(3) Next, the resin film for an interlayer resin insulating layer prepared in the above A was laminated by vacuum compression bonding at 0.5 MPa while heating to a temperature of 50 to 150 ° C. Was formed (see FIG. 3D). Further, a through-hole 35 having a diameter of 300 μm is formed on the substrate 30 to which the resin film layer 50α is attached by drilling.
Was formed (see FIG. 3E).

【0143】(4)次に、樹脂フィルム層50α上に、
厚さ1.2mmの貫通孔が形成されたマスクを介して、
波長10.4μmのCO2 ガスレーザにて、ビーム径
4.0mm、トップハットモード、パルス幅8.0μ
秒、マスクの貫通孔の径1.0mm、1ショットの条件
で樹脂フィルム層50αに、直径80μmのバイアホー
ル用開口52を形成し、層間樹脂絶縁層50とした(図
4(A)参照)。
(4) Next, on the resin film layer 50α,
Through a mask in which a 1.2 mm thick through hole is formed,
Using a CO 2 gas laser with a wavelength of 10.4 μm, a beam diameter of 4.0 mm, a top hat mode, and a pulse width of 8.0 μ
Under the condition of a diameter of the through hole of the mask of 1.0 mm and one shot, an opening 52 for a via hole having a diameter of 80 μm was formed in the resin film layer 50α to form an interlayer resin insulating layer 50 (see FIG. 4A). .

【0144】(5)バイアホール用開口52を形成した
基板を、60g/lの過マンガン酸を含む80℃の溶液
に10分間浸漬し、貫通孔35の壁面にデスミア処理を
施すとともに、樹脂フィルム層50αの表面に存在する
エポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、バイアホ
ール用開口52の内壁面を含むその表面に粗化面50
a、52aを形成した(図4(B)参照)。
(5) The substrate in which the via hole opening 52 was formed was immersed in a solution containing 60 g / l of permanganic acid at 80 ° C. for 10 minutes, and the wall surface of the through-hole 35 was subjected to desmear treatment. By dissolving and removing the epoxy resin particles present on the surface of the layer 50α, the roughened surface 50 including the inner wall surface of the via hole opening 52 is formed.
a and 52a were formed (see FIG. 4B).

【0145】(6)次に、上記処理を終えた基板を、中
和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いした。さ
らに、粗面化処理(粗化深さ3μm)した該基板の表面
に、パラジウム触媒を付与することにより、層間樹脂絶
縁層50の表面(バイアホール用開口52の内壁面を含
む)、および、貫通孔35の壁面に触媒核を付着させた
(図示せず)。すなわち、上記基板を塩化パラジウム
(PbCl2 )と塩化第一スズ(SnCl 2 )とを含む
触媒液中に浸漬し、パラジウム金属を析出させることに
より触媒を付与した。
(6) Next, the substrate after the above processing is
It was immersed in a Japanese solution (manufactured by Shipley Co.) and then washed with water. Sa
Furthermore, the surface of the substrate subjected to a surface roughening treatment (roughening depth 3 μm)
By applying a palladium catalyst to the
The surface of the edge layer 50 (including the inner wall surface of the via hole opening 52)
And catalyst nuclei are attached to the wall surfaces of the through holes 35.
(Not shown). That is, palladium chloride
(PbClTwo ) And stannous chloride (SnCl) Two ) And
Immersed in a catalyst solution to precipitate palladium metal
More catalyst was applied.

【0146】(7)次に、以下の組成の無電解銅めっき
水溶液中に、基板を浸漬し、層間樹脂絶縁層50の表面
(バイアホール用開口52の内壁面を含む)、および、
貫通孔35の壁面に厚さ0.6〜3.0μmの無電解銅
めっき膜42を形成した(図4(C)参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 NiSO4 0.003 mol/l 酒石酸 0.200 mol/l 硫酸銅 0.030 mol/l HCHO 0.050 mol/l NaOH 0.100 mol/l α、α′−ビピリジル 100 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.10 g/l 〔無電解めっき条件〕 34℃の液温度で40分
(7) Next, the substrate is immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition, and the surface of the interlayer resin insulating layer 50 (including the inner wall surface of the via hole opening 52) and
An electroless copper plating film 42 having a thickness of 0.6 to 3.0 μm was formed on the wall surface of the through hole 35 (see FIG. 4C). [Electroless plating aqueous solution] NiSO 4 0.003 mol / l tartaric acid 0.200 mol / l copper sulfate 0.030 mol / l HCHO 0.050 mol / l NaOH 0.100 mol / l α, α'-bipyridyl 100 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.10 g / l [Electroless plating conditions] 40 minutes at a liquid temperature of 34 ° C

【0147】(8)次に、無電解銅めっき膜42が形成
された基板に市販の感光性ドライフィルムを張り付け、
マスクを載置して、100mJ/cm2 で露光し、0.
8%炭酸ナトリウム水溶液で現像処理することにより、
厚さ20μmのめっきレジスト43を設けた(図4
(D)参照)。
(8) Next, a commercially available photosensitive dry film is attached to the substrate on which the electroless copper plating film 42 has been formed.
A mask was placed and exposed at 100 mJ / cm 2 .
By developing with an 8% aqueous sodium carbonate solution,
A plating resist 43 having a thickness of 20 μm was provided (FIG. 4).
(D)).

【0148】(9)ついで、基板を50℃の水で洗浄し
て脱脂し、25℃の水で水洗後、さらに硫酸で洗浄して
から、以下の条件で電解めっきを施し、めっきレジスト
43非形成部に、厚さ20μmの電解銅めっき膜44を
形成した(図4(E)参照)。 〔電解めっき液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドGL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
(9) Next, the substrate was washed with water at 50 ° C., degreased, washed with water at 25 ° C., further washed with sulfuric acid, and then subjected to electrolytic plating under the following conditions to obtain plating resist 43. An electrolytic copper plating film 44 having a thickness of 20 μm was formed in the formation portion (see FIG. 4E). [Electroplating solution] Sulfuric acid 2.24 mol / l Copper sulfate 0.26 mol / l Additive 19.5 ml / l (Atotech Japan, Capparaside GL) [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes Temperature 22 ± 2 ℃

【0149】(10)さらに、めっきレジスト43を5
%KOHで剥離除去した後、そのめっきレジスト43下
の無電解めっき膜を硫酸と過酸化水素との混合液でエッ
チング処理して溶解除去し、スルーホール用導体層3
6、および、上層導体回路(バイアホール46を含む)
とした(図5(A)参照)。
(10) Further, the plating resist 43 is
% KOH, the electroless plated film under the plating resist 43 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the through-hole conductor layer 3 is removed.
6, and upper layer conductor circuit (including via hole 46)
(See FIG. 5A).

【0150】(11)次に、、スルーホール用導体層3
6等を形成した基板30をエッチング液に浸漬し、スル
ーホール用導体層36、および、上層導体回路(バイア
ホール46を含む)の表面に粗化面36a、46aを形
成した(図5(B)参照)。なお、エッチング液として
は、イミダゾール銅(II)錯体10重量部、グリコー
ル酸7重量部、塩化カリウム5重量部からなるエッチン
グ液(メック社製、メックエッチボンド)を使用した。
(11) Next, the conductor layer 3 for a through hole
6 is formed in an etching solution to form roughened surfaces 36a and 46a on the surfaces of the through-hole conductor layer 36 and the upper conductor circuit (including the via hole 46) (FIG. 5 (B)). )reference). In addition, as an etching solution, an etching solution (Mec etch bond, manufactured by Mec Co.) comprising 10 parts by weight of an imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride was used.

【0151】(12)次に、上記Bに記載した貫通孔充
填用樹脂組成物を調製した後、下記の方法により調製後
24時間以内に、その壁面にスルーホール用導体層36
を形成した貫通孔35内、および、基板30の片面のバ
イアホール46内に貫通孔充填用樹脂組成物を充填し
た。即ち、まず、ゴム製のスキージを用い、スキージの
角度を14°に設定して、貫通孔35内に貫通孔充填用
樹脂組成物を押し込んだ後、100℃、20分の条件で
乾燥させた。次に、バイアホール46に相当する部分が
開口したマスクを基板上に載置し、スキージを用いてバ
イアホール46内に貫通孔充填用樹脂組成物を充填し、
100℃、20分の条件で乾燥を行った。さらに、同様
にして、基板の他方の面のバイアホール46内にも貫通
孔充填用樹脂組成物を充填した。次いで、100℃で1
時間、150℃で1時間の加熱処理を行うことにより、
貫通孔充填用樹脂組成物を硬化させて樹脂充填材層54
を形成し、スルーホール37とした(図5(C)参
照)。
(12) Next, after preparing the resin composition for filling through-holes described in B above, the conductor layer 36 for through-holes was formed on the wall surface within 24 hours after the preparation by the following method.
The resin composition for filling a through hole was filled in the through hole 35 in which was formed and in the via hole 46 on one side of the substrate 30. That is, first, using a rubber squeegee, setting the angle of the squeegee to 14 ° and pushing the resin composition for filling the through-hole into the through-hole 35, followed by drying at 100 ° C. for 20 minutes. . Next, a mask having an opening corresponding to the via hole 46 is placed on the substrate, and the via hole 46 is filled with the through hole filling resin composition using a squeegee,
Drying was performed at 100 ° C. for 20 minutes. Further, similarly, the resin composition for filling a through-hole was filled in the via hole 46 on the other surface of the substrate. Then at 100 ° C
By performing the heat treatment at 150 ° C. for 1 hour,
The resin composition for filling the through holes is cured to form the resin filler layer 54.
To form a through hole 37 (see FIG. 5C).

【0152】(13)次に、層間樹脂絶縁層50の表
面、および、樹脂充填材層54の露出面に、上記(6)
と同様の処理を行いてパラジウム触媒(図示せず)を付
与した。次に、上記(7)と同様の条件で無電解めっき
処理を施し、層間樹脂絶縁層50の表面、および、樹脂
充填材層54の露出面に無電解めっき膜56を形成した
(図6(A)参照)。
(13) Next, on the surface of the interlayer resin insulation layer 50 and the exposed surface of the resin filler layer 54,
A palladium catalyst (not shown) was applied by performing the same treatment as described above. Next, an electroless plating process was performed under the same conditions as in the above (7) to form an electroless plating film 56 on the surface of the interlayer resin insulating layer 50 and on the exposed surface of the resin filler layer 54 (FIG. 6 ( A)).

【0153】(14)次に、上記(8)と同様の方法を
用いて、無電解めっき膜56上に、厚さ20μmのめっ
きレジストを設けた(図示せず)。さらに、上記(9)
と同様の条件で電解めっきを施して、めっきレジスト非
形成部に電解めっき膜57を形成した。その後、めっき
レジストと、その下に存在する無電解めっき膜56とを
除去し、スルーホール37上およびバイアホール46上
に、無電解めっき膜56と電解めっき膜57とからなる
蓋めっき層58を形成した(図6(B)参照)。
(14) Next, a plating resist having a thickness of 20 μm was provided on the electroless plating film 56 by the same method as in the above (8) (not shown). Furthermore, the above (9)
Electroplating was performed under the same conditions as described above to form an electroplated film 57 in the portion where the plating resist was not formed. Thereafter, the plating resist and the electroless plating film 56 existing thereunder are removed, and a cover plating layer 58 composed of the electroless plating film 56 and the electrolytic plating film 57 is formed on the through holes 37 and the via holes 46. It was formed (see FIG. 6B).

【0154】(15)次に、蓋めっき層58の表面に上
記(11)で用いたエッチング液(メックエッチボン
ド)を用いて粗化面58aを形成した(図6(C)参
照)。 (16)次に、上記(3)〜(11)の工程を繰り返す
ことにより、さらに上層の層間樹脂絶縁層60、導体回
路(バイアホール66を含む)を形成し、多層配線板を
得た(図6(D)参照)。なお、この工程では、スルー
ホールを形成しなかった。
(15) Next, a roughened surface 58a was formed on the surface of the lid plating layer 58 by using the etching solution (mech etch bond) used in the above (11) (see FIG. 6C). (16) Next, by repeating the above steps (3) to (11), an upper interlayer resin insulation layer 60 and a conductor circuit (including via holes 66) are further formed, and a multilayer wiring board is obtained ( FIG. 6D). In this step, no through hole was formed.

【0155】(17)次に、ジエチレングリコールジメ
チルエーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるよ
うに溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した
感光性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.6
7重量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%
のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、
商品名:エピコート1001)15.0重量部、イミダ
ゾール硬化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−C
N)1.6重量部、感光性モノマーである2官能アクリ
ルモノマー(日本化薬社製、商品名:R604)4.5
重量部、同じく多価アクリルモノマー(共栄化学社製、
商品名:DPE6A)1.5重量部、分散系消泡剤(サ
ンノプコ社製、S−65)0.71重量部を容器にと
り、攪拌、混合して混合組成物を調製し、この混合組成
物に対して光重合開始剤としてベンゾフェノン(関東化
学社製)2.0重量部、光増感剤としてのミヒラーケト
ン(関東化学社製)0.2重量部、を加えることによ
り、粘度を25℃で2.0Pa・sに調整したソルダー
レジスト組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計
(東京計器社製、DVL−B型)で60rpmの場合は
ローターNo.4、6rpmの場合はローターNo.3
によった。
(17) Next, a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) so as to have a concentration of 60% by weight was used. Oligomer for imparting properties (molecular weight: 4000) 46.6
7 parts by weight, 80% by weight dissolved in methyl ethyl ketone
Of bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.
Trade name: Epicoat 1001) 15.0 parts by weight, imidazole hardener (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-C)
N) 1.6 parts by weight, a bifunctional acrylic monomer which is a photosensitive monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 4.5
Parts by weight, also polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoei Chemical Co.,
A trade name: 1.5 parts by weight of DPE6A) and 0.71 parts by weight of a dispersion defoaming agent (manufactured by San Nopco, S-65) are placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition, and the mixed composition is prepared. Of benzophenone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photopolymerization initiator and 0.2 part by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photosensitizer at 25 ° C. A solder resist composition adjusted to 2.0 Pa · s was obtained. The viscosity was measured with a B-type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.) when the rotor No. was 60 rpm. In the case of 4, 6 rpm, the rotor No. 3
According to

【0156】(18)次に、多層配線基板の両面に、上
記ソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、
70℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理
を行い、ソルダーレジス組成物の層70αを形成した
(図7(A)参照)。次いで、ソルダーレジスト開口部
のパターンが描画された厚さ5mmのフォトマスクをソ
ルダーレジスト層に密着させて1000mJ/cm2
紫外線で露光し、DMTG溶液で現像処理し、200μ
mの直径の開口71を形成した。そして、さらに、80
℃で1時間、100℃で1時間、120℃で1時間、1
50℃で3時間の条件でそれぞれ加熱処理を行ってソル
ダーレジスト層を硬化させ、開口を有し、その厚さが2
0μmのソルダーレジスト層70を形成した(図7
(B)参照)。なお、上記ソルダーレジスト組成物とし
ては、市販のソルダーレジスト組成物を使用することも
できる。
(18) Next, the above-mentioned solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm.
A drying treatment was performed at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes to form a solder resist composition layer 70α (see FIG. 7A). Next, a 5 mm-thick photomask on which the pattern of the solder resist opening is drawn is brought into close contact with the solder resist layer, exposed to ultraviolet light of 1000 mJ / cm 2 , developed with a DMTG solution, and developed with a 200 μm solution.
An opening 71 having a diameter of m was formed. And furthermore, 80
1 hour at 100 ° C, 1 hour at 100 ° C, 1 hour at 120 ° C,
Heat treatment is performed at 50 ° C. for 3 hours to cure the solder resist layer.
A 0 μm solder resist layer 70 was formed (FIG. 7).
(B)). In addition, a commercially available solder resist composition can also be used as the solder resist composition.

【0157】(19)次に、ソルダーレジスト層70を
形成した基板を、塩化ニッケル(2.3×10-1mol
/l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8×10-1mol
/l)、クエン酸ナトリウム(1.6×10-1mol/
l)を含むpH=4.5の無電解ニッケルめっき液に2
0分間浸漬して、開口部71に厚さ5μmのニッケルめ
っき層72を形成した。さらに、その基板をシアン化金
カリウム(7.6×10 -3mol/l)、塩化アンモニ
ウム(1.9×10-1mol/l)、クエン酸ナトリウ
ム(1.2×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウ
ム(1.7×10 -1mol/l)を含む無電解金めっき
液に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッケルめっ
き層72上に、厚さ0.03μmの金めっき層74を形
成した(図7(C)参照)。
(19) Next, the solder resist layer 70 is
The formed substrate is coated with nickel chloride (2.3 × 10-1mol
/ L), sodium hypophosphite (2.8 x 10-1mol
/ L), sodium citrate (1.6 x 10-1mol /
2) in the electroless nickel plating solution having pH = 4.5 containing l)
Immerse in nickel for 0 minutes and put 5μm thick nickel
A plating layer 72 was formed. In addition, the substrate is
Potassium (7.6 × 10 -3mol / l), ammonium chloride
Um (1.9 × 10-1mol / l), sodium citrate
(1.2 × 10-1mol / l), sodium hypophosphite
(1.7 × 10 -1mol / l)
Immersed in the solution at 80 ° C for 7.5 minutes,
A gold plating layer 74 having a thickness of 0.03 μm is formed on the metal layer 72.
(See FIG. 7C).

【0158】(20)この後、基板のICチップを載置
する面のソルダーレジスト層70の開口71に、スズ−
鉛を含有するはんだペーストを印刷し、200℃でリフ
ローすることによりはんだバンプ(はんだ体)76を形
成し、他方のの面には、半田ペーストを印刷した後、導
電性接続ピン78を取り付けることにより、多層プリン
ト配線板を製造した(図8参照)。
(20) Thereafter, tin-tin is placed in the opening 71 of the solder resist layer 70 on the surface of the substrate on which the IC chip is to be mounted.
Solder paste containing lead is printed and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump (solder body) 76, and on the other surface, a solder paste is printed and a conductive connection pin 78 is attached. Thus, a multilayer printed wiring board was manufactured (see FIG. 8).

【0159】(実施例2)実施例1の(12)の工程に
おいて、スキージの角度を8°に設定して、貫通孔充填
用樹脂組成物を充填した以外は、実施例1と同様にして
多層プリント配線板を製造した。
(Example 2) In the same manner as in Example 1 except that the squeegee angle was set to 8 ° and the resin composition for filling through holes was filled in the step (12) of Example 1, A multilayer printed wiring board was manufactured.

【0160】(比較例1)実施例1の(12)の工程に
おいて、スキージの角度を30°に設定して、貫通孔充
填用樹脂組成物を充填した以外は、実施例1と同様にし
て多層プリント配線板を製造した。
(Comparative Example 1) In the same manner as in Example 1 except that the squeegee angle was set to 30 ° and the resin composition for filling through holes was filled in the step (12) of Example 1, A multilayer printed wiring board was manufactured.

【0161】(比較例2)実施例1の(12)の工程に
おいて、スキージの角度を2°に設定して、貫通孔充填
用樹脂組成物を充填した以外は、実施例1と同様にして
多層プリント配線板を製造した。
(Comparative Example 2) In the same manner as in Example 1, except that the squeegee angle was set to 2 ° and the resin composition for filling through holes was filled in the step (12) of Example 1, A multilayer printed wiring board was manufactured.

【0162】実施例1、2および比較例1、2で得られ
た多層プリント配線板について、樹脂充填材層の表層部
の形状の観察を下記の方法で行い、また、導通試験を行
った。結果を表1に示した。
With respect to the multilayer printed wiring boards obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2, the shape of the surface portion of the resin filler layer was observed by the following method, and a conduction test was performed. The results are shown in Table 1.

【0163】樹脂充填材層の表層部の形状観察 多層プリント配線板をスルーホールを含むように縦に切
断し、樹脂充填材層の表層部の形状を顕微鏡により観察
した。
[0163]Observation of the shape of the surface layer of the resin filler layer  Cut the multilayer printed wiring board vertically to include through holes
And observe the shape of the surface of the resin filler layer with a microscope
did.

【0164】[0164]

【表1】 [Table 1]

【0165】表1に示したように、実施例1、2の多層
プリント配線板では、樹脂充填材層の表層部の形状は平
坦であり、また、導通試験の結果も良好であった。これ
に対し、比較例1の多層プリント配線板は、樹脂充填材
層の表層部の形状は窪んだ形状であった。また、導通試
験を行ったところ導通不良が確認された。この導通不良
は、スルーホール用導体層と蓋めっき層との接続不良に
よるものと推定される。
As shown in Table 1, in the multilayer printed wiring boards of Examples 1 and 2, the shape of the surface portion of the resin filler layer was flat, and the result of the conduction test was good. On the other hand, in the multilayer printed wiring board of Comparative Example 1, the shape of the surface layer portion of the resin filler layer was depressed. In addition, when a conduction test was performed, conduction failure was confirmed. This poor conduction is presumed to be due to poor connection between the conductor layer for through-holes and the cover plating layer.

【0166】また、比較例2の多層プリント配線板は、
樹脂充填材層の表層部の形状は盛り上がった形状であっ
た。また、導通試験を行ったところ導通不良が確認され
た。この導通不良は、スルーホール用導体層と蓋めっき
層との接続不良によるものと推定される。
Further, the multilayer printed wiring board of Comparative Example 2
The shape of the surface layer portion of the resin filler layer was a raised shape. In addition, when a conduction test was performed, conduction failure was confirmed. This poor conduction is presumed to be due to poor connection between the conductor layer for through-holes and the cover plating layer.

【0167】[0167]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の多層プリ
ント配線板の製造方法では、スキージを用いて貫通孔充
填用樹脂組成物を充填する際に、スキージの角度を3〜
25°に設定しているため、貫通孔内を貫通孔充填用樹
脂組成物で完全に充填するのは勿論のこと、貫通孔充填
用樹脂組成物の表層部が平坦になるように、貫通孔充填
用樹脂組成物を充填することができるため、接続信頼性
に優れた多層プリント配線板を製造することができる。
As described above, in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, when the resin composition for filling through holes is filled with a squeegee, the angle of the squeegee is set to 3 to 10 degrees.
Since the angle is set to 25 °, the inside of the through-hole is completely filled with the through-hole filling resin composition, and the through-hole is formed so that the surface layer of the through-hole filling resin composition becomes flat. Since the filling resin composition can be filled, a multilayer printed wiring board having excellent connection reliability can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の工程の一部を示す部分断面図である。
FIGS. 1A to 1D are partial cross-sectional views showing a part of steps of a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a)〜(c)は、スキージを用いて貫通孔充
填用樹脂組成物を充填した際の貫通孔充填用樹脂組成物
の形状を説明するための部分断面図である。
FIGS. 2A to 2C are partial cross-sectional views illustrating the shape of the resin composition for filling a through hole when the resin composition for filling a through hole is filled using a squeegee.

【図3】(A)〜(E)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 3A to 3E are cross-sectional views illustrating some of the steps of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図4】(A)〜(E)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 4A to 4E are cross-sectional views illustrating some of the steps of a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図5】(A)〜(C)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5C are cross-sectional views illustrating some of the steps of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図6】(A)〜(D)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 6A to 6D are cross-sectional views illustrating some of the steps of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図7】(A)〜(C)は、本発明の多層プリント配線
板の製造方法の工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 7A to 7C are cross-sectional views illustrating some of the steps of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図8】本発明の多層プリント配線板の一実施形態を示
す断面図である。
FIG. 8 is a sectional view showing an embodiment of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

30 基板 32 銅箔 34 下層導体回路 35 貫通孔 52 バイアホール用開口 42 無電解めっき膜 43 めっきレジスト 44 電解めっき膜 50 層間樹脂絶縁層 54 樹脂充填材層 58 蓋めっき層 70 ソルダーレジスト層 76 半田バンプ 78 導電性ピン REFERENCE SIGNS LIST 30 substrate 32 copper foil 34 lower conductive circuit 35 through hole 52 via hole opening 42 electroless plating film 43 plating resist 44 electrolytic plating film 50 interlayer resin insulation layer 54 resin filler layer 58 lid plating layer 70 solder resist layer 76 solder bump 78 Conductive pin

フロントページの続き Fターム(参考) 5E317 AA24 BB01 BB11 CC31 CC53 CD23 CD27 GG01 GG09 5E346 AA02 AA04 AA12 AA15 AA29 AA32 AA42 AA43 CC04 CC09 CC32 CC55 DD22 EE13 EE19 FF01 FF13 FF14 FF17 FF23 FF27 GG01 GG07 GG15 GG17 GG27 GG28 HH07 HH11 Continued on the front page F-term (reference) 5E317 AA24 BB01 BB11 CC31 CC53 CD23 CD27 GG01 GG09 5E346 AA02 AA04 AA12 AA15 AA29 AA32 AA42 AA43 CC04 CC09 CC32 CC55 DD22 EE13 EE19 FF01 FF13 FF14 FF17 GG11 HGGFF

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 その両面に導体回路と層間樹脂絶縁層と
が一層ずつ形成された基板に、貫通孔を形成する貫通孔
形成工程と、前記貫通孔内の壁面と、前記層間樹脂絶縁
層の表面の一部とに導体層を形成する導体層形成工程
と、その壁面に導体層が形成された前記貫通孔内に、ス
キージを用いて貫通孔充填用樹脂組成物を充填する樹脂
充填工程と、前記貫通孔充填用樹脂組成物を乾燥、硬化
し、その内部に樹脂充填材層が形成されたスルーホール
を形成するスルーホール形成工程とを含む多層プリント
配線板の製造方法であって、前記樹脂充填工程におい
て、スキージの角度を3〜25°に設定することを特徴
とする多層プリント配線板の製造方法。
1. A through-hole forming step of forming a through-hole in a substrate having a conductor circuit and an interlayer resin insulating layer formed on each side thereof, a wall surface in the through-hole, A conductor layer forming step of forming a conductor layer on part of the surface, and a resin filling step of filling a through hole filling resin composition using a squeegee into the through hole in which the conductor layer is formed on the wall surface; A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising: drying and curing the resin composition for filling a through hole, and forming a through hole in which a resin filler layer is formed. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, wherein an angle of a squeegee is set at 3 to 25 ° in a resin filling step.
【請求項2】 前記樹脂充填工程で充填する前記貫通孔
充填用樹脂組成物は、エポキシ樹脂と硬化剤と無機粒子
とを含み、硬化後の前記無機粒子の含有比率が10〜5
0重量%の樹脂組成物である請求項1に記載の多層プリ
ント配線板の製造方法。
2. The resin composition for filling a through hole to be filled in the resin filling step includes an epoxy resin, a curing agent, and inorganic particles, and the content ratio of the inorganic particles after curing is 10 to 5
The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the resin composition is 0% by weight.
【請求項3】 前記スルーホール形成工程終了後、前記
スルーホールを覆う蓋めっき層を形成する蓋めっき層形
成工程を有する請求項1または2に記載の多層プリント
配線板の製造方法。
3. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1, further comprising a lid plating layer forming step of forming a lid plating layer covering the through hole after completion of the through hole forming step.
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