JP2002124950A - Memory control circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はFIFOメモリ制御
回路に関し、特にATM(Asynchronous
Transfer Mode:非同期転送モード)セル
を異なるブロック間で転送する際にUTOPIA(Un
iversal Test and Operatio
n PHY Interface for ATM)
I/F(インタフェース)等のFIFO(First−
In First−Out)メモリを使用する回路にお
けるFIFOメモリへのライト制御に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a FIFO memory control circuit, and more particularly to an ATM (Asynchronous) circuit.
Transfer Mode (Asynchronous Transfer Mode) When transferring cells between different blocks, UTOPIA (Un
versal Test and Operational
n PHY Interface for ATM)
FIFO (First-Interface) such as I / F (interface)
The present invention relates to write control to a FIFO memory in a circuit that uses an In First-Out memory.
【0002】[0002]
【従来の技術】ATMセルを異なるブロック間で転送す
る場合、FIFOメモリを介して行われることが多い。
これはATMが非同期転送であるためであり、またFI
FOメモリの使用によって簡易に速度変換を行えるから
である。ATM Forumで勧告化されているUTO
PIA I/FもFIFOメモリを利用したものであ
り、ATMセル転送に広く用いられている。2. Description of the Related Art In many cases, an ATM cell is transferred between different blocks via a FIFO memory.
This is because ATM is an asynchronous transfer.
This is because speed conversion can be easily performed by using the FO memory. UTO recommended by ATM Forum
The PIA I / F also uses a FIFO memory and is widely used for ATM cell transfer.
【0003】このFIFOメモリ周辺の構成を図7に示
す。この構成例は5つの処理ブロック、つまりFIFO
メモリ部1と、UTOPIA I/F部2と、WENB
(Write Enable)生成部7と、RENB
(Read Enable)生成部4と、タイミング調
整部5とから構成されている。FIG. 7 shows a configuration around the FIFO memory. This configuration example has five processing blocks, ie, FIFO
Memory unit 1, UTOPIA I / F unit 2, and WENB
(Write Enable) generation unit 7 and RENB
(Read Enable) generation unit 4 and timing adjustment unit 5.
【0004】FIFOメモリ部1はUTOPIA I/
Fの制御状態に応じてATMセルの蓄積を行い、UTO
PIA I/F部2はFIFOメモリ部1から読出した
データをUTOPIA I/Fへと変換する。[0004] The FIFO memory unit 1 has a UTOPIA I /
F stores ATM cells in accordance with the control state of F
The PIA I / F unit 2 converts the data read from the FIFO memory unit 1 into a UTOPIA I / F.
【0005】WENB生成部7はFIFOメモリ部1へ
書込むデータのライト制御を行い、RENB生成部4は
FIFOメモリ部1から読出すデータのリード制御を行
う。タイミング調整部5はFIFOメモリ部1に書込む
データの位相調整を行う。[0005] The WENB generation unit 7 controls the writing of data to be written to the FIFO memory unit 1, and the RENB generation unit 4 controls the reading of data read from the FIFO memory unit 1. The timing adjustment unit 5 adjusts the phase of data to be written in the FIFO memory unit 1.
【0006】WENB生成部7は図示せぬS−R F/
F(S−Rフリップフロップ)及び53カウンタによっ
て構成されており、S−R F/FはSOC(Star
tOf Cell:ATMセルの先頭を示す)−IN信
号入力によって“L”Set(ローレベルセット)さ
れ、SOC−IN信号入力から53カウント後に“H”
Set(ハイレベルセット)される。[0006] The WENB generation unit 7 generates an S-R F /
F (S-R flip-flop) and 53 counter, and the S-R F / F is connected to the SOC (Star).
tOf Cell: Indicates the beginning of the ATM cell) "L" Set (low level set) by the -IN signal input, and "H" after 53 counts from the SOC-IN signal input
Set (high level set).
【0007】このS−R F/F出力をWENB信号と
し、“L”区間でFIFOメモリ部1にWSOC(ライ
トSOC)、WDATA(ライトデータ)を書込む。但
し、ATMセルが切れ目なく転送される場合も想定し、
53カウント後の“H”Setと次に入力されたATM
セルのSOC−IN入力が同時に起こった場合に、WE
NB信号出力の“L”Setを優先としている。[0007] The S-RF / F output is used as a WENB signal, and WSOC (write SOC) and WDATA (write data) are written to the FIFO memory unit 1 in the "L" section. However, assuming that ATM cells are transferred without interruption,
"H" Set after 53 counts and ATM input next
When the SOC-IN inputs of the cells occur simultaneously, WE
“L” Set of the NB signal output is prioritized.
【0008】また、タイミング調整部5は入力されるS
OC−IN信号及びDATA−IN信号をWENB信号
の出力タイミングに合わせて位相調整し、それぞれWS
OC信号及びWDATA信号として出力する機能を有し
ており、何段かのD−F/F(D型フリップフロップ)
で構成されている。The timing adjusting unit 5 receives the input S
The phases of the OC-IN signal and the DATA-IN signal are adjusted according to the output timing of the WENB signal, and
It has a function of outputting as an OC signal and a WDATA signal, and has several stages of DF / F (D-type flip-flop).
It is composed of
【0009】尚、図7に示す従来の構成例において、A
TMセルは8バイトのパラレルデータで、1CLK(ク
ロック)当たり1バイトずつDATA−IN信号として
入力されるものとし、SOC−IN信号はATMセルの
先頭1バイトに1CLK幅だけ“H”となる信号である
ものとする。Incidentally, in the conventional configuration example shown in FIG.
The TM cell is 8-byte parallel data, and is input as a DATA-IN signal one byte at a time per 1 CLK (clock). The SOC-IN signal is a signal which becomes "H" for 1 CLK width in the first byte of the ATM cell. It is assumed that
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のFIF
Oメモリへのライト制御では、装置立上げの過渡状態や
ノイズ等の影響で、ATMセルの先頭以外にSOC−I
N信号が入力された場合、回路や装置が誤った動作シー
ケンスに遷移したり、またははまり込むことが予想され
る。The above-mentioned conventional FIF
In the write control to the O memory, the SOC-I other than the head of the ATM cell is added due to the influence of the transient state at the start of the device and noise.
When the N signal is input, it is expected that a circuit or a device transitions or enters an incorrect operation sequence.
【0011】この問題を引き起こす要因として、WEN
B生成部7のWENB信号の生成方法にあるという第1
の要因と、あるいは誤ってATMセルの先頭以外にSO
C−IN信号が入力された場合、その不正なWSOC信
号もFIFOメモリ部1にライトしてしまうという第2
の要因とがある。The cause of this problem is WEN
The first method that the B generation unit 7 has in the method of generating the WENB signal.
Of the ATM cell or by mistake
When the C-IN signal is input, the illegal WSOC signal is also written to the FIFO memory unit 1.
There are factors.
【0012】第1の要因はSOC−IN信号入力の都
度、WENB生成部7内の53カウンタに“0”をロー
ド(Load)する回路構成上の問題であり、不正SO
C信号の入力時に53バイト単位以上データを書込んで
しまう原因となっている。The first factor is a problem in the circuit configuration that loads (loads) "0" to the 53 counter in the WENB generation unit 7 every time the SOC-IN signal is input.
This causes data to be written in units of 53 bytes or more when the C signal is input.
【0013】図8は53バイト単位以上のデータをライ
トしてしまう場合のタイミングチャートである。従来の
ライト制御では、ATMセルgの書込み途中に入力され
る不正なSOC12信号やSOC13信号に対しても、
入力の都度、53カウンタに“0”をロードする。その
ため、53カウントの終了はSOC13信号から「5
3」数えた位置(53カウント目の位置)となり、AT
Mセルgのデータを越えた部分もFIFOメモリ部1に
書込んでしまう。FIG. 8 is a timing chart in the case where data of 53 bytes or more is written. In the conventional write control, an illegal SOC12 signal or an SOC13 signal input during the writing of the ATM cell g is
Each time an input is made, "0" is loaded into the 53 counter. Therefore, the end of 53 count is determined by the SOC13 signal from “5
3 ”counted position (53th count position), AT
A portion exceeding the data of the M cell g is also written into the FIFO memory unit 1.
【0014】この余分に書込まれた不正データはFIF
Oメモリ部1の読出し側で単純に53バイトずつデータ
を読出す場合の支障となり、書込まれたATMセル単位
にデータを読出すことができないという問題を引き起こ
す。この状態は自然復旧しないため、FIFOメモリ部
1のリセットまたは複雑な復旧回路が必要になるものと
予想される。The extra written illegal data is stored in the FIFO
This is a hindrance when data is simply read in units of 53 bytes on the read side of the O memory unit 1 and causes a problem that data cannot be read in units of written ATM cells. Since this state does not recover spontaneously, it is expected that a reset of the FIFO memory unit 1 or a complicated recovery circuit will be required.
【0015】また、第2の要因は誤ってATMセルの先
頭以外にSOC−IN信号が入力された場合、その不正
なWSOC信号もFIFOメモリ部1にライトしてしま
うことにある。ATMセルの先頭を示すSOC信号は、
VPI(Virtual Path Identifi
er)やVCI(Virtual ChannelId
entifier)の値(ATMセルのルーチング情報
を示す)の検出に使用されることも多い重要な信号であ
り、不正なSOC信号をそのまま読出して転送すること
は次ブロック回路の誤動作を引き起こし、正常なATM
セル転送に悪影響が及ぶことも考えられる。The second factor is that, when an SOC-IN signal is erroneously input at a position other than the head of an ATM cell, the incorrect WSOC signal is also written to the FIFO memory unit 1. The SOC signal indicating the beginning of the ATM cell is
VPI (Virtual Path Identifier)
er) and VCI (Virtual Channel Id)
This is an important signal that is often used to detect the value of the “entifier” (indicating the routing information of the ATM cell). Reading and transferring an incorrect SOC signal as it is causes a malfunction of the next block circuit and causes a malfunction. ATM
It is also conceivable that cell transfer may be adversely affected.
【0016】そこで、本発明の目的は上記の問題点を解
消し、FIFOメモリの書込み及び読出し制御が装置立
上げの過渡状態やノイズ等の影響で入力される不正デー
タによって誤った動作シーケンスに遷移またははまり込
むのを防止することができるFIFOメモリ制御回路を
提供することにある。Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problem, and to control the writing and reading of the FIFO memory to an erroneous operation sequence due to a transient state at the start of the apparatus or incorrect data input due to the influence of noise or the like. Another object of the present invention is to provide a FIFO memory control circuit which can prevent the memory from getting stuck.
【0017】[0017]
【課題を解決するための手段】本発明によるFIFOメ
モリ制御回路は、非同期転送モードのセルを異なるブロ
ック間で転送する際に前記セルの先頭を示すSOC(S
tart Of Cell)信号の検出に応答してメモ
リへの書込みを行うメモリ制御回路であって、前記メモ
リへのデータ書込みを常に前記SOC信号の検出からカ
ウントした1セル単位に行う機能を備えている。According to the FIFO memory control circuit of the present invention, when a cell in the asynchronous transfer mode is transferred between different blocks, an SOC (S) indicating the head of the cell is transferred.
A memory control circuit that writes data to a memory in response to detection of a signal of "start of cell", and has a function of always writing data to the memory in units of one cell counted from the detection of the SOC signal. .
【0018】本発明による他のFIFOメモリ制御回路
は、上記の機能のほかに、前記メモリへの書込み動作途
中に誤って入力された前記SOC信号を無効として処理
するマスク機能を具備している。Another FIFO memory control circuit according to the present invention has, in addition to the above functions, a mask function for invalidating the SOC signal input erroneously during the write operation to the memory.
【0019】すなわち、本発明のFIFOメモリ制御回
路は、ATM(Asynchronous Trans
fer Mode:非同期転送モード)セルの先頭以外
にSOC(Start Of Cell:ATMセルの
先頭を示す)−IN信号が入力された場合にも、FIF
O(First−In First−Out)メモリに
対して必ず53バイト単位(1セル単位)にデータを書
込むよう制御を行っている。That is, the FIFO memory control circuit of the present invention uses an ATM (Asynchronous Trans).
fer Mode: Asynchronous transfer mode) Even when a SOC (Start Of Cell: indicating the beginning of an ATM cell) -IN signal is input in addition to the head of the cell, the FIF
Control is performed such that data is always written to an O (First-In First-Out) memory in units of 53 bytes (in units of one cell).
【0020】より具体的に、本発明のFIFOメモリ制
御回路は、FIFOメモリと、FIFOメモリに対して
常に53バイト単位のデータを書込む制御手段と、53
バイト単位のデータ先頭以外に位置するSOC−IN信
号を不正なSOC信号としてマスクする手段とを有して
いる。More specifically, the FIFO memory control circuit of the present invention comprises: a FIFO memory; a control means for always writing data in units of 53 bytes to the FIFO memory;
Means for masking an SOC-IN signal located at a position other than the head of data in byte units as an incorrect SOC signal.
【0021】上記のような構成をとることで、本発明の
FIFOメモリ制御回路では、FIFOメモリへのデー
タ書込みを常に53バイト単位に行うよう制御している
ので、不正なデータが入力された場合においても、FI
FOメモリの読出し側では常に53バイトずつデータを
取出すだけでよく、複雑なリード制御が不要となる。With the above-described configuration, the FIFO memory control circuit of the present invention controls data writing to the FIFO memory in 53-byte units at all times. In the FI
On the read side of the FO memory, it is only necessary to always take out data in units of 53 bytes, and complicated read control is not required.
【0022】また、読出したデータの先頭には必ずSO
C信号が位置するようデータ先頭以外の不正なSOC信
号をマスクしているため、UTOPIA(Univer
sal Test and Operation PH
Y Interface for ATM) I/F
(インタェース)を介して接続される次ブロックに対し
て誤動作を引き起こすような不正データが送出されな
い。Also, the head of the read data must be SO
Since the illegal SOC signal other than the data head is masked so that the C signal is located, UTOPIA (Universal) is used.
sal Test and Operation PH
Y Interface for ATM) I / F
Unauthorized data that causes a malfunction to the next block connected via (Interface) is not transmitted.
【0023】よって、本発明はUTOPIA I/F等
で使用されるFIFOメモリの書込み及び読出し制御が
装置立上げの過渡状態やノイズ等の影響で入力される不
正データによって誤った動作シーケンスに遷移またはは
まり込むのを防止することが可能となる。Therefore, according to the present invention, the write and read control of the FIFO memory used in the UTOPIA I / F or the like transits to an erroneous operation sequence due to a transient state at the start of the apparatus or incorrect data input due to the influence of noise or the like. It is possible to prevent getting stuck.
【0024】また、これはUTOPIA I/Fを介し
て接続される次ブロックへ不正データを送出しないよう
制御することにもなり、次ブロックの誤動作防止にもつ
ながる。尚、ここで規定する不正データとは、FIFO
メモリから読出した53バイト単位のデータにおいて、
先頭にSOC信号が位置していないデータを示してい
る。This also controls not to send illegal data to the next block connected via the UTOPIA I / F, and prevents malfunction of the next block. The illegal data defined here is a FIFO
In the data of 53 bytes read from the memory,
The data at the beginning of which no SOC signal is located are shown.
【0025】[0025]
【発明の実施の形態】次に、本発明の一実施例について
図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施例によ
るFIFOメモリ制御回路の構成を示すブロック図であ
る。図1において、本発明の一実施例によるFIFOメ
モリ制御回路は6つの処理ブロック、つまりFIFOメ
モリ部1と、UTOPIA I/F部2と、WENB
(Write Enable)生成部3と、RENB
(Read Enable)生成部4と、タイミング調
整部5と、SOCマスク部6とから構成されている。つ
まり、本発明の一実施例はSOCマスク部6を追加し、
WENB生成部3にSOCマスク部6を制御するための
機能を追加した以外は図7に示す従来の技術と同様の構
成となっている。Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a FIFO memory control circuit according to one embodiment of the present invention. In FIG. 1, a FIFO memory control circuit according to one embodiment of the present invention includes six processing blocks, namely, a FIFO memory unit 1, a UTOPIA I / F unit 2, and a WENB.
(Write Enable) generation unit 3 and RENB
(Read Enable) generation unit 4, timing adjustment unit 5, and SOC mask unit 6. That is, in the embodiment of the present invention, the SOC mask unit 6 is added,
The configuration is the same as the conventional technology shown in FIG. 7 except that a function for controlling the SOC mask unit 6 is added to the WENB generation unit 3.
【0026】FIFOメモリ部1はUTOPIA I/
Fの制御状態に応じてATMセルの蓄積を行い、UTO
PIA I/F部2はFIFOメモリ部1から読出した
データをUTOPIA I/Fへと変換する。The FIFO memory unit 1 has a UTOPIA I /
F stores ATM cells in accordance with the control state of F
The PIA I / F unit 2 converts the data read from the FIFO memory unit 1 into a UTOPIA I / F.
【0027】WENB生成部3はFIFOメモリ部1へ
書込むデータのライト制御を行い、RENB生成部4は
FIFOメモリ部1から読出すデータのリード制御を行
う。タイミング調整部5はFIFOメモリ部1に書込む
データの位相調整を行う。SOCマスク部6は必要に応
じてSOC−IN信号をマスクする。The WENB generation unit 3 controls the writing of data to be written to the FIFO memory unit 1, and the RENB generation unit 4 controls the reading of data read from the FIFO memory unit 1. The timing adjustment unit 5 adjusts the phase of data to be written in the FIFO memory unit 1. The SOC mask unit 6 masks the SOC-IN signal as needed.
【0028】WENB生成部3は、従来の技術と同様
に、WENB信号を生成し、FIFOメモリ部1へのラ
イト制御を行っている。WENB生成部3はS−R F
/F(S−Rフリップフロップ)と53カウンタとから
なる基本構成は従来の技術と変わらず、SOC−IN信
号入力でWENB信号を“L”Set(ローレベルセッ
ト)し、53カウントでWENB信号を“H”Set
(ハイレベルセット)する。但し、一旦SOC−IN信
号を検出すると、53カウント前に次のSOC−IN信
号が検出されてもカウンタに「0」をロードしない回路
構成となっている。The WENB generation unit 3 generates a WENB signal and controls writing to the FIFO memory unit 1 in the same manner as in the prior art. The WENB generation unit 3 performs S-RF
/ F (SR flip-flop) and the 53 counter are the same as those in the prior art. The SOC-IN signal input sets the WENB signal to "L" Set (low level set), and the 53 count counts the WENB signal. To “H” Set
(High level set). However, once the SOC-IN signal is detected, the circuit configuration does not load "0" into the counter even if the next SOC-IN signal is detected 53 counts before.
【0029】また、WENB生成部3はFIFOメモリ
部1へ不正なSOC信号を書込まないよう、SOCマス
ク部6に対して制御も行っている。この制御はSOC−
IN信号の検出から「53」をカウントする期間中行わ
れ、入力されるSOC−IN信号をSOCマスク部6で
“L”にマスクすることによって行われる。Further, the WENB generation unit 3 also controls the SOC mask unit 6 so as not to write an incorrect SOC signal to the FIFO memory unit 1. This control is based on SOC-
This is performed during the period of counting “53” from the detection of the IN signal, and is performed by masking the input SOC-IN signal to “L” by the SOC mask unit 6.
【0030】図2は本発明の一実施例によるFIFOメ
モリ制御回路の動作を示すタイミングチャートである。
以下、図2に示す信号がSOC−IN信号及びDATA
−IN信号に入力された場合について説明する。FIG. 2 is a timing chart showing the operation of the FIFO memory control circuit according to one embodiment of the present invention.
Hereinafter, the signals shown in FIG. 2 are the SOC-IN signal and the DATA
The case where the signal is input to the −IN signal will be described.
【0031】先頭にSOC1信号が位置するATMセル
aがSOC−IN信号及びDATA−IN信号として入
力されると、WENB生成部3はSOC1信号の検出を
もってWENB信号を“L”にし、53カウントをスタ
ートする。SOC1信号及びATMセルaはWENB信
号の“L”区間でFIFOメモリ部1に書込まれるた
め、タイミング調整部6によってWENB信号との位相
調整が行われ、FIFOメモリ部1へ出力される。When the ATM cell a in which the SOC1 signal is located at the top is input as the SOC-IN signal and the DATA-IN signal, the WENB generator 3 sets the WENB signal to "L" upon detection of the SOC1 signal, and counts 53 counts. Start. Since the SOC1 signal and the ATM cell a are written into the FIFO memory unit 1 during the "L" section of the WENB signal, the phase adjustment with the WENB signal is performed by the timing adjustment unit 6 and output to the FIFO memory unit 1.
【0032】ATMセルaに連続して、SOC2信号を
先頭とするATMセルbが入力されると、53カウント
終了時のWENB信号の“H”Setと、SOC2信号
の検出による“L”Setとが同時に起こる。WENB
生成部3内部では“L”Setが優先となるため、WE
NB信号は“L”出力のままSOC2信号及びATMセ
ルbを連続してライト制御する。When an ATM cell b starting with the SOC2 signal is input successively to the ATM cell a, an "H" Set of the WENB signal at the end of 53 counts and an "L" Set by the detection of the SOC2 signal. Happen simultaneously. WENB
Since “L” Set has priority inside the generation unit 3, WE
The NB signal continuously controls the writing of the SOC2 signal and the ATM cell b while keeping the "L" output.
【0033】但し、ATMセルbの書込み途中に入力さ
れるSOC3信号及びSOC4信号はSOC2信号から
数えた53カウント中に入力されたSOC信号であるた
め、WENB生成部3内の53カウンタにおいてカウン
ト値を「0」にするためのロード信号に使用されること
はない。However, the SOC3 signal and the SOC4 signal input during the writing of the ATM cell b are the SOC signals input during the 53 counts counted from the SOC2 signal. Is not used for the load signal for setting “0” to “0”.
【0034】また、SOC3信号及びSOC4信号はW
ENB生成部3からの制御信号にしたがってSOCマス
ク部6においてマスクされるため、FIFOメモリ部1
に書込まれない。ATMセルbの最後はWENB生成部
3内の53カウンタが「53」を数え終えた位置にある
ため、この53カウント終了のタイミングをもってWE
NB信号を“H”Setし、ATMセルbの書込みを終
了する。The SOC3 signal and the SOC4 signal are W
The mask is masked in the SOC mask unit 6 in accordance with the control signal from the ENB generation unit 3, so that the FIFO memory unit 1
Not written to. Since the end of the ATM cell b is at the position where the 53 counter in the WENB generation unit 3 has finished counting "53", the WE is output at the timing when the 53 count ends.
The NB signal is set to "H", and the writing of the ATM cell b is completed.
【0035】ATMセルcの制御についても、上述した
ATMセルa及びATMセルbと同様に行われ、SOC
5信号の検出から書込みを開始する一連のライト制御を
継続する。The control of the ATM cell c is performed in the same manner as the above-described ATM cell a and ATM cell b.
A series of write control for starting writing after detection of five signals is continued.
【0036】図3は本発明の一実施例において正常なA
TMセルdが入力される前に、不正なSOC6信号及び
SOC7信号が入力された場合の動作を示すタイミング
チャートである。FIG. 3 shows a normal A in one embodiment of the present invention.
9 is a timing chart illustrating an operation when an incorrect SOC6 signal and an incorrect SOC7 signal are input before a TM cell d is input.
【0037】本発明の一実施例によるFIFOメモリ制
御回路においては、正常なSOC8信号でWENB信号
の生成を開始することができず、最初に入力されたSO
C6信号でWENB信号が生成されてしまう。In the FIFO memory control circuit according to one embodiment of the present invention, the generation of the WENB signal cannot be started with the normal SOC8 signal, and
The WENB signal is generated by the C6 signal.
【0038】また、WENB生成部3では便宜上、SO
C7信号及びSOC8信号を不正なSOC信号として処
理してマスク制御も行うため、ATMセルdはFIFO
メモリ部1に対して正常に書込むことができない。但
し、正常に書込むことができないATMセルは不正デー
タ直後のATMセルdのみであり、次に入力される正常
なSOC9信号及びATMセルeに対しては正常にライ
ト制御することが可能となっている。Further, for convenience, the WENB generation unit 3
Since the C7 signal and the SOC8 signal are processed as illegal SOC signals and mask control is also performed, the ATM cell d is FIFO-based.
Writing to the memory unit 1 cannot be performed normally. However, the only ATM cell that cannot be normally written is the ATM cell d immediately after the illegal data, and the normal write control can be normally performed on the next normal SOC9 signal and the ATM cell e to be input. ing.
【0039】また、不正データのライト制御も、先頭に
SOC信号が位置する53バイト単位(1セル単位)に
行われるため、FIFOメモリ部1に対するリード制御
も常に53バイト単位で行うことが可能となっている。Since the write control of the illegal data is also performed in units of 53 bytes (one cell unit) in which the SOC signal is located at the head, the read control for the FIFO memory unit 1 can always be performed in units of 53 bytes. Has become.
【0040】図4は図1のWENB生成部3とタイミン
グ調整部5とSOCマスク部6との回路構成を示す図で
ある。図4において、WENB生成部3はアンド回路3
1,42,43と、インバータ32,35,38〜41
と、S−RF/F(S−Rフリップフロップ)33と、
オア回路34と、カウンタ回路36,37とから構成さ
れている。FIG. 4 is a diagram showing a circuit configuration of the WENB generation unit 3, the timing adjustment unit 5, and the SOC mask unit 6 in FIG. In FIG. 4, the WENB generation unit 3 includes an AND circuit 3
1, 42, 43 and inverters 32, 35, 38 to 41
And an S-RF / F (SR flip-flop) 33,
An OR circuit 34 and counter circuits 36 and 37 are provided.
【0041】タイミング調整部5はD−F/F(D型フ
リップフロップ)51,52から構成され、SOCマス
ク部6はインバータ61と、アンド回路62,64と、
S−RF/F(S−Rフリップフロップ)63とから構
成されている。The timing adjusting section 5 is composed of DF / Fs (D-type flip-flops) 51 and 52, and the SOC masking section 6 includes an inverter 61, AND circuits 62 and 64,
And an S-RF / F (SR flip-flop) 63.
【0042】また、上記の回路構成において、CLKは
任意のクロック、RSTは“L”でリセットの信号であ
り、53カウンタとしては2個のカウンタ回路を使用し
て実現している。また、図4中に示したS−RF/F3
3,63の動作は図5に示す真理値表の通りとする。In the above circuit configuration, CLK is an arbitrary clock, RST is an "L" reset signal, and two counter circuits are used as the 53 counter. Further, the S-RF / F3 shown in FIG.
The operations of 3 and 63 are as shown in the truth table shown in FIG.
【0043】信号101は53カウント時(「0」から
カウントすると、「52」の値となった時)に“H”を
出力し、WENB信号の“H”Setに使用され、また
信号102は52カウント時(「0」からカウントする
と、「51」の値となった時)に“H”を出力し、不正
なSOC信号をマスクする信号103の“H”Setに
使用されている。The signal 101 outputs "H" at the time of counting 53 (when counting from "0", the value becomes "52"), and is used for the "H" Set of the WENB signal. At the time of 52 counts (when counting from “0”, the value becomes “51”), “H” is output and used for “H” Set of the signal 103 for masking an incorrect SOC signal.
【0044】図6は図4に示す回路構成を使用した場合
における動作を示すタイミングチャートである。不正な
SOC信号が入力された場合には、図6に示す信号10
3の“L”区間によってマスクされ、WSOC信号とし
て出力されない様子を示している。FIG. 6 is a timing chart showing the operation when the circuit configuration shown in FIG. 4 is used. When an incorrect SOC signal is input, the signal 10 shown in FIG.
3 shows a state in which the signal is masked by the “L” section and is not output as a WSOC signal.
【0045】このように、WENB生成部3とSOCマ
スク部6とによってFIFOメモリ部1へのATMセル
書込みを常に53バイト単位(1セル単位)となるよう
制御することによって、FIFOメモリ部1からATM
セルを読出す場合、不正なデータがFIFOメモリ部1
に書込まれた場合でも、常に53バイトずつ取出すだけ
でよく、複雑なリード制御が不要となる。As described above, the ATM cell writing to the FIFO memory unit 1 is controlled by the WENB generation unit 3 and the SOC mask unit 6 so that the ATM cell writing is always performed in units of 53 bytes (one cell unit). ATM
When reading a cell, incorrect data is stored in the FIFO memory unit 1
, It is only necessary to always take out 53 bytes at a time, and complicated read control is not required.
【0046】また、FIFOメモリ部1の書込み及び読
出し制御が、装置立上げの過渡状態やノイズ等の影響で
入力される不正データによって誤った動作シーケンスに
遷移したり、またははまり込むのを防止することができ
る。この場合、必要となる制御回路はわずかであり、回
路規模の増大を招くことはない。In addition, the write and read control of the FIFO memory unit 1 is prevented from transitioning into an erroneous operation sequence or being stuck due to incorrect data input due to a transient state at the start of the apparatus or the influence of noise or the like. be able to. In this case, only a small number of control circuits are required, and the circuit scale does not increase.
【0047】[0047]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、非
同期転送モードのセルを異なるブロック間で転送する際
にそのセルの先頭を示すSOC信号の検出に応答してメ
モリへの書込みを行うメモリ制御回路において、メモリ
へのデータ書込みを常にSOC信号の検出からカウント
した1セル(53バイト単位)単位に行うことによっ
て、FIFOメモリの書込み及び読出し制御が装置立上
げの過渡状態やノイズ等の影響で入力される不正データ
によって誤った動作シーケンスに遷移またははまり込む
のを防止することができるという効果がある。As described above, according to the present invention, when a cell in the asynchronous transfer mode is transferred between different blocks, writing to the memory is performed in response to the detection of the SOC signal indicating the head of the cell. In the memory control circuit, the data writing to the memory is always performed in units of one cell (53 byte unit) counted from the detection of the SOC signal, so that the writing and reading control of the FIFO memory can be performed in a transient state at the start of the apparatus or noise. There is an effect that it is possible to prevent transition or intrusion into an erroneous operation sequence due to illegal data input due to the influence.
【図1】本発明の一実施例によるFIFOメモリ制御回
路の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a FIFO memory control circuit according to one embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施例によるFIFOメモリ制御回
路の動作を示すタイミングチャートである。FIG. 2 is a timing chart showing an operation of the FIFO memory control circuit according to one embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施例において正常なATMセルが
入力される前に不正なSOC信号が入力された場合の動
作を示すタイミングチャートである。FIG. 3 is a timing chart showing an operation when an incorrect SOC signal is input before a normal ATM cell is input in one embodiment of the present invention.
【図4】図1のWENB生成部とタイミング調整部とS
OCマスク部との回路構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a WENB generation unit, a timing adjustment unit, and S in FIG. 1;
FIG. 3 is a diagram illustrating a circuit configuration with an OC mask unit.
【図5】図4のS−RF/Fの動作を表す真理値表を示
す図である。FIG. 5 is a diagram showing a truth table representing an operation of the S-RF / F in FIG. 4;
【図6】図4に示す回路構成を使用した場合における動
作を示すタイミングチャートである。6 is a timing chart showing an operation when the circuit configuration shown in FIG. 4 is used.
【図7】従来のFIFOメモリ制御回路の構成例を示す
ブロック図である。FIG. 7 is a block diagram illustrating a configuration example of a conventional FIFO memory control circuit.
【図8】従来のFIFOメモリ制御回路の動作を示すタ
イミングチャートである。FIG. 8 is a timing chart showing an operation of a conventional FIFO memory control circuit.
1 FIFOメモリ部 2 UTOPIA I/F部 3 WENB生成部 4 RENB生成部 5 タイミング調整部 6 SOCマスク部 31,42,43,62,64 アンド回路 32,35,38〜41,61 インバータ 33,63 S−RF/F 34 オア回路 36,37 カウンタ回路 51,52 D−F/F DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 FIFO memory part 2 UTOPIA I / F part 3 WENB generation part 4 RENB generation part 5 Timing adjustment part 6 SOC mask part 31,42,43,62,64 AND circuit 32,35,38-41,61 Inverter 33,63 S-RF / F 34 OR circuit 36, 37 Counter circuit 51, 52 DF / F
Claims (3)
ク間で転送する際に前記セルの先頭を示すSOC(St
art Of Cell)信号の検出に応答してメモリ
への書込みを行うメモリ制御回路であって、前記メモリ
へのデータ書込みを常に前記SOC信号の検出からカウ
ントした1セル単位に行う機能を有することを特徴とす
るメモリ制御回路。When transferring a cell in an asynchronous transfer mode between different blocks, an SOC (St) indicating the head of the cell is transferred.
art control circuit for writing data to a memory in response to detection of an "art of cell" signal, the memory control circuit having a function of always writing data to the memory in units of one cell counted from the detection of the SOC signal. Characteristic memory control circuit.
[Universal Test and Opera
tion PHY Interface for AT
M(Asynchronous Transfer M
ode)インタフェースのFIFO(First−In
First−Out)メモリを用いるようにしたこと
を特徴とする請求項1記載のメモリ制御回路。2. When transferring the cell, UTOPIA is used.
[Universal Test and Opera
Tion PHY Interface for AT
M (Asynchronous Transfer M)
mode) interface FIFO (First-In)
2. The memory control circuit according to claim 1, wherein a first-out (First-Out) memory is used.
入力された前記SOC信号を無効として処理するマスク
機能を含むことを特徴とするメモリ制御回路。3. A memory control circuit comprising a mask function for invalidating the SOC signal input erroneously during a write operation to the memory.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000311362A JP2002124950A (en) | 2000-10-12 | 2000-10-12 | Memory control circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000311362A JP2002124950A (en) | 2000-10-12 | 2000-10-12 | Memory control circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002124950A true JP2002124950A (en) | 2002-04-26 |
Family
ID=18791144
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| JP2000311362A Pending JP2002124950A (en) | 2000-10-12 | 2000-10-12 | Memory control circuit |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002124950A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8819325B2 (en) | 2011-02-11 | 2014-08-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Interface device and system including the same |
-
2000
- 2000-10-12 JP JP2000311362A patent/JP2002124950A/en active Pending
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