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JP2002252187A - Semiconductor wafer cutting device and semiconductor wafer cutting method using the same - Google Patents

Semiconductor wafer cutting device and semiconductor wafer cutting method using the same

Info

Publication number
JP2002252187A
JP2002252187A JP2001052180A JP2001052180A JP2002252187A JP 2002252187 A JP2002252187 A JP 2002252187A JP 2001052180 A JP2001052180 A JP 2001052180A JP 2001052180 A JP2001052180 A JP 2001052180A JP 2002252187 A JP2002252187 A JP 2002252187A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor wafer
wafer
cutting device
cutting
curved body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001052180A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tatsuya Shiromizu
達也 白水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2001052180A priority Critical patent/JP2002252187A/en
Publication of JP2002252187A publication Critical patent/JP2002252187A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 表面の汚染を防ぎ、簡単かつ敏速に半導体ウ
エハを切り出すことのできる半導体ウエハの切り出し装
置を得る。 【解決手段】 窪み5に半導体ウエハを設置する。ロー
ラー(曲面体)1のガイド3を溝8に嵌合し、ウエハ台
4の手前側からローラー1を押しつけながら、奥方向に
一回転させる。突起は、半導体ウエハを同一の劈開線上
の2箇所で順々にウエハを押圧し劈開して切り出す。
(57) [Problem] To provide a semiconductor wafer cutting device capable of cutting a semiconductor wafer easily and promptly while preventing surface contamination. SOLUTION: A semiconductor wafer is set in a depression 5. The guide 3 of the roller (curved body) 1 is fitted into the groove 8, and the roller 1 is rotated once in the depth direction while pressing the roller 1 from the near side of the wafer table 4. The projections cut the semiconductor wafer by sequentially pressing and cleaving the semiconductor wafer at two locations on the same cleavage line.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ等結
晶性薄膜を劈開する半導体ウエハの切出し装置およびこ
れを用いた半導体ウエハの切り出し方法に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor wafer cutting apparatus for cleaving a crystalline thin film such as a semiconductor wafer and a method for cutting a semiconductor wafer using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は、特開平6―204103号公報
に記載されている半導体ウエハ切出し装置を用いた切出
し方法を示す説明図である。図において、51はウエ
ハ、52は回転ブレード、53は冷却水ノズルである。
即ち、上記装置において、回転ブレード52を回転さ
せ、ウエハ51を研削して分割するが、研削片の飛散を
防ぐため、冷却水ノズル53より冷却水を流す。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is an explanatory diagram showing a cutting method using a semiconductor wafer cutting device described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-204103. In the figure, 51 is a wafer, 52 is a rotating blade, and 53 is a cooling water nozzle.
That is, in the above-described apparatus, the rotating blade 52 is rotated to grind and divide the wafer 51. In order to prevent scattering of the grinding pieces, cooling water flows from the cooling water nozzle 53.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ウエハ
を分析・評価するためのサイズに分割するまで、回転ブ
レード52を多数回往復させる必要があり時間がかかる
こと、また、冷却水により表面が汚染するため、表面汚
染の分析・評価の試料前処理には不向きであるという課
題があった。
However, it takes a long time to reciprocate the rotating blade 52 many times before dividing the wafer into a size for analysis and evaluation, and it takes a long time, and the surface is contaminated by cooling water. Therefore, there is a problem that it is not suitable for sample pretreatment for analysis and evaluation of surface contamination.

【0004】本発明はかかる課題を解消するためになさ
れたもので、表面の汚染を防ぎ、簡単かつ敏速に半導体
ウエハを切り出すことのできる半導体ウエハの切り出し
装置およびこれを用いた半導体ウエハの切り出し方法を
得ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and a semiconductor wafer cutting apparatus and a semiconductor wafer cutting method using the same capable of preventing surface contamination and cutting a semiconductor wafer easily and promptly. The purpose is to obtain.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明に係る第1の半導
体ウエハの切り出し装置は、半導体ウエハを載置するウ
エハ台と、曲面体の曲面に設けられ、上記半導体ウエハ
を押圧して劈開する突起とを備えたものである。
A first semiconductor wafer cutting apparatus according to the present invention is provided on a wafer table on which a semiconductor wafer is mounted and a curved surface of a curved body, and presses and cleaves the semiconductor wafer. And a projection.

【0006】本発明に係る第2の半導体ウエハの切り出
し装置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おい
て、ウエハ台の、少なくとも上記半導体ウエハの外周縁
部を支持する領域が、弾性物質よりなるものである。
According to a second apparatus for cutting a semiconductor wafer according to the present invention, in the first apparatus for cutting a semiconductor wafer, at least a region of the wafer table that supports an outer peripheral portion of the semiconductor wafer is made of an elastic material. It becomes.

【0007】本発明に係る第3の半導体ウエハの切り出
し装置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おい
て、突起は、半導体ウエハを、同一の劈開方向線上の2
箇所で押圧するように配置されているものである。
A third semiconductor wafer cutting device according to the present invention is the first semiconductor wafer cutting device according to the first semiconductor wafer cutting device.
It is arranged so as to be pressed at a location.

【0008】本発明に係る第4の半導体ウエハの切り出
し装置は、上記第3の半導体ウエハの切り出し装置おい
て、突起は、半導体ウエハの外周縁部を押圧するように
配置されているものである。
According to a fourth semiconductor wafer cutting device of the present invention, in the third semiconductor wafer cutting device, the projection is arranged so as to press the outer peripheral portion of the semiconductor wafer. .

【0009】本発明に係る第5の半導体ウエハの切り出
し装置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おい
て、突起はダイアモンド片のものである。
A fifth semiconductor wafer cutting device according to the present invention is the same as the first semiconductor wafer cutting device, wherein the projection is a diamond piece.

【0010】本発明に係る第6の半導体ウエハの切り出
し装置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おい
て、ウエハ台に、半導体ウエハを位置合わせするノッチ
合わせを設けたものである。
A sixth semiconductor wafer cutting device according to the present invention is the first semiconductor wafer cutting device, wherein a notch alignment for positioning the semiconductor wafer is provided on the wafer table.

【0011】本発明に係る第7の半導体ウエハの切り出
し装置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おい
て、曲面体は円柱または半円柱のものである。
A seventh semiconductor wafer cutting device according to the present invention is the first semiconductor wafer cutting device, wherein the curved body is a cylinder or a semi-column.

【0012】本発明に係る第1の半導体ウエハの切り出
し方法は、上記第1ないし第7のいずれかの半導体ウエ
ハの切り出し装置を用い、曲面体を回転し、突起により
半導体ウエハを押圧して劈開する方法である。
A first method for cutting a semiconductor wafer according to the present invention uses one of the first to seventh semiconductor wafer cutting devices described above, rotates a curved body, presses the semiconductor wafer with projections, and cleaves the semiconductor wafer. How to

【0013】本発明に係る第2の半導体ウエハの切り出
し方法は、上記第1の半導体ウエハの切り出し方法にお
いて、曲面体の回転方向が、半導体ウエハの劈開方向と
直交するようにウエハ台に半導体ウエハを載置する方法
である。
According to a second method for cutting a semiconductor wafer according to the present invention, in the first method for cutting a semiconductor wafer, the semiconductor wafer is placed on the wafer base such that the direction of rotation of the curved body is orthogonal to the direction of cleavage of the semiconductor wafer. This is a method of placing.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】実施の形態1.本発明の第1の実
施の形態の半導体ウエハの切り出し装置は、半導体ウエ
ハを載置するウエハ台と、曲面が上記半導体ウエハ面に
沿うように回転する曲面体に設けられた突起とを備えた
もので、上記曲面体の回転により上記突起が、上記半導
体ウエハを押圧して劈開するもので、従来のように回転
ブレード等を回転させてウエハを研削するものではない
ので、発熱も研削片の飛散もなく冷却水による表面汚染
が防止されるという効果がある。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 A semiconductor wafer cutting apparatus according to a first embodiment of the present invention includes a wafer table on which a semiconductor wafer is placed, and a projection provided on a curved body whose curved surface rotates along the semiconductor wafer surface. The protrusions are pressed by the rotation of the curved body to cleave the semiconductor wafer, and the wafer is not ground by rotating a rotating blade or the like as in the conventional method. There is an effect that surface contamination due to cooling water is prevented without scattering.

【0015】図1(a)〜(d)は、本発明の第1の実
施の形態の半導体ウエハの切り出し装置を説明する図
で、(a)は曲面体の斜視図、(b)はウエハ台の斜視
図、(c)はウエハ台の平面図、(d)は(c)のA―
A線断面図で、図中、1は曲面体であるローラー(円
柱)、2は例えばダイヤモンド片からなる突起、3はガ
イドである。また、4はウエハ台で、5は半導体ウエハ
を載置する窪み、7は曲面体1がこの上を回転する凸
部、6は半導体ウエハを位置合わせして載置するノッチ
合わせ、8は曲面体1のガイド3が嵌合し、曲面体1が
凸部7上を安定して回転するために設けられた溝であ
る。
FIGS. 1A to 1D are views for explaining a semiconductor wafer cutting apparatus according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1A is a perspective view of a curved body, and FIG. (C) is a plan view of the wafer table, and (d) is A- of (c).
In the figure, 1 is a roller (column) which is a curved body, 2 is a projection made of, for example, a diamond piece, and 3 is a guide. Reference numeral 4 denotes a wafer table, 5 denotes a depression for mounting a semiconductor wafer, 7 denotes a convex portion on which the curved body 1 rotates, 6 denotes a notch alignment for positioning and mounting the semiconductor wafer, and 8 denotes a curved surface. The groove is provided for fitting the guide 3 of the body 1 and for the curved body 1 to stably rotate on the convex portion 7.

【0016】曲面体1としては、例えば円柱または半円
柱等が用いられ、図1に示すように、上記曲面に設けた
突起と半導体ウエハとの接触領域に押圧力が集中するよ
うに曲面体を回転する。ウエハ台4の窪み5により、半
導体ウエハをウエハ台4に安定に載置することができ、
上記窪み5は半導体ウエハと略同じ大きさで、半導体ウ
エハと同一形状で平坦な窪みである。また、上記ウエハ
台4の少なくとも半導体ウエハの外周縁部を支持する領
域が、ゴム等の弾性物質よりなると、突起が半導体ウエ
ハを押圧した時に押圧力の周辺に押圧力と反対の力が生
じるため、半導体素子の劈開が容易になる。
As the curved body 1, for example, a cylinder or a semi-cylindrical column is used. As shown in FIG. 1, the curved body is formed so that the pressing force is concentrated on the contact area between the projection provided on the curved surface and the semiconductor wafer. Rotate. The semiconductor wafer can be stably mounted on the wafer table 4 by the recess 5 of the wafer table 4,
The depression 5 is substantially the same size as the semiconductor wafer, and is a flat depression having the same shape as the semiconductor wafer. Further, if at least a region of the wafer table 4 supporting the outer peripheral edge of the semiconductor wafer is made of an elastic material such as rubber, a force opposite to the pressing force is generated around the pressing force when the projection presses the semiconductor wafer. This facilitates cleavage of the semiconductor element.

【0017】また、突起2は半導体ウエハより硬度の高
い例えばダイヤモンド片が用いられる。図2は本実施の
形態の半導体ウエハの切り出し装置において、曲面体が
回転した時に突起が半導体ウエハを押圧する状態を示す
説明図で、図中、10は半導体ウエハ、12はウエハ外
周、13は曲面体の突起が当たる箇所で、上記曲面体の
曲面を平面展開した時の突起の配置に相当し、14は曲
面体1により劈開される劈開線である。図2に示すよう
に、曲面体の突起は、ウエハ台上を一回転する際に図2
中の×印13の示す位置でウエハを押圧するよう配置さ
れている。また、図2に示すように、突起は、半導体ウ
エハ10を、同一の劈開方向線上の2箇所で押圧するよ
うに配置され、かつ半導体ウエハの外周12の縁部を押
圧するように配置されることにより、容易に確実に、ま
た何往復もさせる必要がなく、短時間で劈開することが
できる。さらに、ウエハ台にノッチ合わせを設けると、
曲面体の回転方向が、半導体ウエハの劈開方向と直交す
るようにウエハ台に半導体ウエハを載置することが容易
となり、切り出しが容易になる。
The projections 2 are made of, for example, diamond pieces having higher hardness than the semiconductor wafer. FIG. 2 is an explanatory view showing a state in which the projection presses the semiconductor wafer when the curved body rotates in the semiconductor wafer cutting apparatus of the present embodiment. In the figure, reference numeral 10 denotes a semiconductor wafer, 12 denotes a wafer outer periphery, and 13 denotes a wafer outer periphery. At the position where the projection of the curved body comes into contact, this corresponds to the arrangement of the projections when the curved surface of the curved body is developed on a plane. Reference numeral 14 denotes a cleavage line cleaved by the curved body 1. As shown in FIG. 2, the projection of the curved body is caused by one rotation on the wafer table.
It is arranged to press the wafer at the position indicated by the mark 13 in the middle. Further, as shown in FIG. 2, the protrusions are arranged so as to press the semiconductor wafer 10 at two points on the same cleavage direction line, and are arranged so as to press the edge of the outer periphery 12 of the semiconductor wafer. This makes it possible to cleave in a short period of time easily and reliably without having to make a number of round trips. Furthermore, if notch alignment is provided on the wafer table,
It becomes easy to mount the semiconductor wafer on the wafer table so that the rotation direction of the curved body is orthogonal to the cleavage direction of the semiconductor wafer, and the cutting becomes easy.

【0018】図1に示す半導体ウエハの切り出し装置を
用い、ウエハのノッチをノッチ合わせ6に合わせて、ウ
エハ設置窪み5に裏面にシーリングしたウエハを設置す
る。次に、図1において、ローラー(曲面体)1のガイ
ド3を溝8に嵌合し、ウエハ台4の手前側からローラー
1を押しつけながら、奥方向に一回転させる。ウエハと
ダイヤモンド片2は図2において、ダイヤモンド片の当
たる箇所13の、下の方より2点ずつ順々にウエハと接
触し横に劈開線14で劈開して切り出す。
Using the semiconductor wafer cutting device shown in FIG. 1, the notch of the wafer is aligned with the notch alignment 6, and the wafer sealed on the back surface is set in the wafer setting recess 5. Next, in FIG. 1, the guide 3 of the roller (curved body) 1 is fitted into the groove 8, and the roller 1 is rotated once in the depth direction while pressing the roller 1 from the near side of the wafer table 4. In FIG. 2, the wafer and the diamond piece 2 are cut out along the cleavage line 14, which is in contact with the wafer two points at a time from the bottom at the point 13 where the diamond piece hits, and cuts laterally.

【0019】実施の形態2.図3は、曲面体1を回転し
た時に突起が半導体ウエハを押圧する状態を示す説明図
である。図において、16は実施の形態1で用いたロー
ラー(ローラーa)とは異なる配置に突起を配置したロ
ーラー(ローラーb)の突起が、半導体ウエハに当たる
箇所で、曲面体(ローラーb)の曲面を平面展開した時
の突起の配置に相当し、劈開線14の外周に当たるよう
に配置されている。実線17はローラーbにより劈開さ
れる劈開線である。即ち、図2において、ローラーaで
ウエハ横方向の劈開14を行った後、ウエハを90度回
転させ、ローラーbを同様に一回転することで、図3中
の実線17のように劈開され、ウエハは等間隔のウエハ
片に切出される。
Embodiment 2 FIG. 3 is an explanatory diagram showing a state in which the projection presses the semiconductor wafer when the curved body 1 is rotated. In the figure, reference numeral 16 denotes a portion where the projection of the roller (roller b) in which the projection is arranged differently from the roller (roller a) used in Embodiment 1 hits the semiconductor wafer, and the curved surface of the curved body (roller b) is It corresponds to the arrangement of the projections when developed on a plane, and is arranged so as to hit the outer periphery of the cleavage line 14. The solid line 17 is a cleavage line cleaved by the roller b. That is, in FIG. 2, after performing cleavage 14 in the lateral direction of the wafer with the roller a, the wafer is rotated 90 degrees, and the roller b is similarly rotated once, whereby the wafer is cleaved as shown by a solid line 17 in FIG. The wafer is cut into equally spaced wafer pieces.

【0020】[0020]

【実施例】実施例1.図1に示す実施の形態1の半導体
ウエハの切り出し装置において、窪み5を8インチウエ
ハサイズで深さ1mm、凸部7の高さを3mm、溝8を
深さ5mmとして、ゴム製のウエハ台4を作製した。ま
た、直径6.5cmで、図2に示されるようにダイヤモ
ンド片11を配置したプラスチック製ローラーaと、図
3に示されるようにダイヤモンド片11を配置したプラ
スチック製ローラーbを作製した。なお、切出し後のウ
エハ片が、一辺2.86cmの正方形になるよう、ロー
ラーaには12個、ローラーbには34個のダイヤモン
ド片11を配置した。ウエハ裏面に、ウエハ等サイズの
シールを貼り、実施の形態に基づく方法で、ウエハ切出
した結果、数mmの破損はあったものの、所期大きさの
ウエハ片を切り出すことができた。
[Embodiment 1] In the semiconductor wafer cutting apparatus according to the first embodiment shown in FIG. 1, a rubber wafer table is formed by setting the recess 5 to an 8-inch wafer size, the depth 1 mm, the height of the projection 7 to 3 mm, and the groove 8 to 5 mm. 4 was produced. Further, a plastic roller a having a diameter of 6.5 cm and a diamond piece 11 arranged as shown in FIG. 2 and a plastic roller b having a diamond piece 11 arranged as shown in FIG. 3 were produced. In addition, 12 pieces of the diamond pieces 11 were arranged on the roller a and 34 pieces of the diamond pieces 11 were arranged on the roller b so that the wafer piece after cutting was a square having a side of 2.86 cm. A seal of the same size as the wafer was stuck on the back surface of the wafer, and the wafer was cut out by the method according to the embodiment. As a result, although a few mm was damaged, a piece of the desired size wafer could be cut out.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明の第1の半導体ウエハの切り出し
装置は、半導体ウエハを載置するウエハ台と、曲面体の
曲面に設けられ、上記半導体ウエハを押圧して劈開する
突起とを備えたもので、表面の汚染を防ぎ、簡単かつ敏
速に半導体ウエハを切り出すことのできるという効果が
ある。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor wafer cutting apparatus having a wafer table on which a semiconductor wafer is mounted, and a projection provided on a curved surface of a curved body and pressing the semiconductor wafer to cleave the semiconductor wafer. Therefore, there is an effect that contamination of the surface can be prevented, and the semiconductor wafer can be cut out easily and promptly.

【0022】本発明の第2の半導体ウエハの切り出し装
置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おいて、
ウエハ台の、少なくとも上記半導体ウエハの外周縁部を
支持する領域が、弾性物質よりなるもので、特に切り出
しが正確になるという効果がある。
According to a second semiconductor wafer cutting device of the present invention, the first semiconductor wafer cutting device is the same as the first semiconductor wafer cutting device.
At least a region of the wafer table that supports the outer peripheral edge of the semiconductor wafer is made of an elastic material, which has an effect that cutting is particularly accurate.

【0023】本発明の第3の半導体ウエハの切り出し装
置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おいて、
突起は、半導体ウエハを、同一の劈開方向線上の2箇所
で押圧するように配置されているもので、特に切り出し
が正確になるという効果がある。
The third semiconductor wafer cutting apparatus according to the present invention is the first semiconductor wafer cutting apparatus,
The projections are arranged so as to press the semiconductor wafer at two points on the same cleavage direction line, and have an effect that cutting is particularly accurate.

【0024】本発明の第4の半導体ウエハの切り出し装
置は、上記第3の半導体ウエハの切り出し装置おいて、
突起は、半導体ウエハの外周縁部を押圧するように配置
されているもので、特に切り出しが正確になるという効
果がある。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the above-mentioned third semiconductor wafer cutting apparatus, wherein
The projections are arranged so as to press the outer peripheral edge of the semiconductor wafer, and have an effect that cutting is particularly accurate.

【0025】本発明の第5の半導体ウエハの切り出し装
置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おいて、
突起はダイアモンド片のもので、特に切り出しが正確に
なるという効果がある。
According to a fifth semiconductor wafer cutting device of the present invention, the first semiconductor wafer cutting device is the same as the first semiconductor wafer cutting device.
The projection is made of a diamond piece, and has an effect that cutting is particularly accurate.

【0026】本発明の第6の半導体ウエハの切り出し装
置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おいて、
ウエハ台に、半導体ウエハを位置合わせするノッチ合わ
せを設けたもので、特に切り出しが正確になるという効
果がある。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor wafer cutting apparatus according to the first aspect, wherein:
Since the notch alignment for aligning the semiconductor wafer is provided on the wafer table, there is an effect that cutting is particularly accurate.

【0027】本発明の第7の半導体ウエハの切り出し装
置は、上記第1の半導体ウエハの切り出し装置おいて、
曲面体は円柱または半円柱のもので、特に切り出しが正
確になるという効果がある。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a semiconductor wafer cutting apparatus according to the first aspect, wherein:
The curved body is of a cylindrical or semi-cylindrical shape, and has an effect that cutting is particularly accurate.

【0028】本発明の第1の半導体ウエハの切り出し方
法は、上記第1ないし第7のいずれかの半導体ウエハの
切り出し装置を用い、曲面体を回転し、突起により半導
体ウエハを押圧して劈開する方法で、表面の汚染を防
ぎ、簡単かつ敏速に半導体ウエハを切り出すことのでき
るという効果がある。
In a first method for cutting a semiconductor wafer according to the present invention, the curved surface is rotated and the semiconductor wafer is pressed by a projection to be cleaved by using any one of the first to seventh semiconductor wafer cutting devices. The method has the effect that contamination of the surface can be prevented and the semiconductor wafer can be cut out easily and promptly.

【0029】本発明の第2の半導体ウエハの切り出し方
法は、上記第1の半導体ウエハの切り出し方法におい
て、曲面体の回転方向が、半導体ウエハの劈開方向と直
交するようにウエハ台に半導体ウエハを載置する方法
で、表面の汚染を防ぎ、簡単かつ敏速に半導体ウエハを
切り出すことのできるという効果がある。
According to a second method for cutting a semiconductor wafer of the present invention, in the first method for cutting a semiconductor wafer, the semiconductor wafer is placed on a wafer base such that the direction of rotation of the curved body is orthogonal to the direction of cleavage of the semiconductor wafer. The mounting method has an effect that contamination of the surface can be prevented and a semiconductor wafer can be cut out easily and promptly.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1の実施の形態の半導体ウエハの
切り出し装置を説明する図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a semiconductor wafer cutting device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の第1の実施の形態の半導体ウエハの
切り出し装置において、曲面体が回転した時に突起が半
導体ウエハを押圧する状態を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory view showing a state in which a projection presses the semiconductor wafer when the curved body rotates in the semiconductor wafer cutting device according to the first embodiment of the present invention;

【図3】 本発明の第2の実施の形態の半導体ウエハの
切り出し装置において、曲面体が回転した時に突起が半
導体ウエハを押圧する状態を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory view showing a state in which a projection presses a semiconductor wafer when a curved body rotates in a semiconductor wafer cutting device according to a second embodiment of the present invention.

【図4】 従来の半導体ウエハ切出し装置を用いた切出
し方法を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory view showing a cutting method using a conventional semiconductor wafer cutting device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 曲面体、2 突起、4 ウエハ台、10 半導体ウ
エハ、12 ウエハ外周、13、16 突起配置、1
4、17 劈開線。
1 Curved body, 2 protrusions, 4 wafer stage, 10 semiconductor wafer, 12 wafer periphery, 13, 16 protrusion arrangement, 1
4, 17 cleavage line.

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体ウエハを載置するウエハ台と、曲
面体の曲面に設けられ、上記半導体ウエハを押圧して劈
開する突起とを備えた半導体ウエハの切り出し装置。
1. A semiconductor wafer cutting device comprising: a wafer table on which a semiconductor wafer is mounted; and a projection provided on a curved surface of a curved body and pressing and cleaving the semiconductor wafer.
【請求項2】 ウエハ台の、少なくとも上記半導体ウエ
ハの外周縁部を支持する領域が、弾性物質よりなること
を特徴とする請求項1に記載の半導体ウエハの切り出し
装置。
2. The semiconductor wafer cutting device according to claim 1, wherein at least a region of the wafer stage that supports an outer peripheral edge of the semiconductor wafer is made of an elastic material.
【請求項3】 突起は、半導体ウエハを、同一の劈開方
向線上の2箇所で押圧するように配置されていることを
特徴とする請求項1に記載の半導体ウエハの切り出し装
置。
3. The semiconductor wafer cutting device according to claim 1, wherein the projections are arranged so as to press the semiconductor wafer at two positions on the same cleavage direction line.
【請求項4】 突起は、半導体ウエハの外周縁部を押圧
するように配置されていることを特徴とする請求項3に
記載の半導体ウエハの切り出し装置。
4. The semiconductor wafer cutting device according to claim 3, wherein the projection is arranged so as to press an outer peripheral portion of the semiconductor wafer.
【請求項5】 突起はダイアモンド片であることを特徴
とする請求項1に記載の半導体ウエハの切り出し装置。
5. The semiconductor wafer cutting device according to claim 1, wherein the projection is a diamond piece.
【請求項6】 ウエハ台に、半導体ウエハを位置合わせ
するノッチ合わせを設けたことを特徴とする請求項1に
記載の半導体ウエハの切り出し装置。
6. The semiconductor wafer cutting apparatus according to claim 1, wherein a notch alignment for aligning the semiconductor wafer is provided on the wafer table.
【請求項7】 曲面体は円柱または半円柱であることを
特徴とする請求項1に記載の半導体ウエハの切り出し装
置。
7. The semiconductor wafer cutting device according to claim 1, wherein the curved body is a cylinder or a semi-cylinder.
【請求項8】 請求項1ないし請求項7のいずれかに記
載の半導体ウエハの切り出し装置を用い、曲面体を回転
し、突起により半導体ウエハを押圧して劈開する半導体
ウエハの切り出し方法。
8. A method for cutting a semiconductor wafer, comprising using the semiconductor wafer cutting device according to claim 1 to rotate a curved body and pressing the semiconductor wafer with projections to cleave the semiconductor wafer.
【請求項9】 曲面体の回転方向が、半導体ウエハの劈
開方向と直交するようにウエハ台に半導体ウエハを載置
することを特徴とする請求項8に記載の半導体ウエハの
切り出し方法。
9. The method for cutting out a semiconductor wafer according to claim 8, wherein the semiconductor wafer is placed on the wafer table such that the direction of rotation of the curved body is orthogonal to the cleavage direction of the semiconductor wafer.
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