[go: up one dir, main page]

JP2002228403A - 球面測定装置および球面測定方法 - Google Patents

球面測定装置および球面測定方法

Info

Publication number
JP2002228403A
JP2002228403A JP2001021198A JP2001021198A JP2002228403A JP 2002228403 A JP2002228403 A JP 2002228403A JP 2001021198 A JP2001021198 A JP 2001021198A JP 2001021198 A JP2001021198 A JP 2001021198A JP 2002228403 A JP2002228403 A JP 2002228403A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
ring
measuring
ball
rotating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001021198A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4814430B2 (ja
Inventor
Yoshiaki Murayama
義彰 村山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP2001021198A priority Critical patent/JP4814430B2/ja
Publication of JP2002228403A publication Critical patent/JP2002228403A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4814430B2 publication Critical patent/JP4814430B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】球欠リングをレンズ球面に倣わせ、球欠リング
の縁径が小さい場合でも、正確に測定レンズの球面半径
を測定する。 【解決手段】測定子2と、測定子2の軸心と同軸に一体
化された球欠リング1と、軸心にそれぞれ直交する2つ
の軸と、球欠リング1を2つの軸の各々の軸方向に移動
させる球欠リング移動手段と、前記球欠リングを前記2
つの軸の各々の軸回りに回動させる球欠リング回動手段
とを有する球面測定装置において、測定レンズ21をそ
の軸心回りに回動または回転させるレンズ回転手段2
2、23、24、27、30、44を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学素子であるレ
ンズの研削、研磨加工の際、光学表面の曲率半径を測定
する球面測定装置および球面測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、レンズの光学表面の曲率半径を測
定する球面測定装置には、特開平8−233505号公
報所載の技術がある。図9を用いてこの技術を説明す
る。図9において、球欠リング101と測定子102と
は、測定子102を軸心としてハンジング103に一体
化されている。ハウジング103の外周面には、横孔1
04が貫通しており、横孔104には軸受け105が固
定されている。ハウジング103の周囲には、十字状の
Xダイ106が配設され、Xダイ106の外周には、2
つの横孔107、108が貫通している。横孔107に
は、軸109が嵌合し、Xダイ106と軸109とは一
体化されている。軸109は軸受け105に嵌合し、ハ
ウジング103とXダイ106とが連結されている。X
ダイ106の横孔108には軸受け113が固定され、
軸受け113には軸112が嵌合している。Xダイ10
6の周囲には、Yダイ110が配設され、Yダイ110
の外周には、横孔111が貫通している。横孔111に
は、軸112が固定され、Yダイ110と軸112とは
一体化し、Xダイ106とYダイ110とは連結されて
いる。
【0003】Yダイ110の上方には、固定ダイ116
が配設され、固定ダイ116には、シャフト115が垂
設されている。一方、Yダイ110の上面には、軸受け
114が立設され、軸受け114には、シャフト115
が摺動自在に嵌合している。シャフト115の外周に
は、バネ117が巻回され、バネ117の弾発力によ
り、Yダイ110を下方に付勢している。また、測定子
102の上端には、テーパ状の嵌合部102aが形成さ
れ、固定ダイ116の中央に穿設されたすり鉢状の嵌合
孔116aに嵌合し、測定子102の落下を防止してい
る。
【0004】上記構成の球面測定装置では、ある一定の
圧力で被測定物であるレンズ118が球欠リング101
の縁に圧接されると、球欠リング101と一体化した測
定子102は、計測と同時に上に持ち上がり、バネ11
7が縮んで固定ダイ116の嵌合孔116aから測定子
102の嵌合部102aが外れて、位置決めが解除さ
れ、測定子102はスライド移動および回動し、球欠リ
ング101はレンズ118のレンズ球面118aに倣
い、球欠リング101の縁がレンズ球面118aに線接
触する。このとき、測定子102の先端部102bは、
レンズ球面118aに押されて上方へ変位し、図示しな
い測定子アンプ部に変位量を表示する。この変位量と球
欠リング101の縁径とにより、レンズの曲率半径を算
出する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】図10は、球欠リング
101に測定レンズ118が当て付いたときの球欠リン
グ付近の断面図である。レンズの曲率半径は、球欠リン
グ101の縁径と測定子102の先端部102bの変位
量から計算する。すなわち、図10に示すように、球欠
リング101の縁点121、122、および測定子10
2と測定レンズ118との接点123aを通る円の曲率
半径から算出する。ここで、測定子変位量に誤差が生
じ、接点123aが点123bの位置と認識されたとす
ると、曲率半径計算に誤差が生じる。球欠リング101
の縁径が大きい場合、測定子102の先端部の変位量誤
差が、測定レンズ118の曲率半径計算へ与える影響は
比較的少ない。しかし、球欠リング101の縁径が小さ
い場合は、大きな影響を及ぼし、変位量誤差を無視する
ことができない。
【0006】しかし、上記従来技術では、軸と軸受けと
の間のスライド、回転動作、およびレンズ表面上での球
欠リングの移動が停止することがあり、球欠リング10
1がレンズ球面118aに倣わないことがあった。図1
1は、球欠リング101が測定レンズ118へ当て付い
ていない状態を示す図である。この場合、測定子102
の先端部102bの変位量に誤差が発生する。しかも、
球欠リング101の縁径が小さくなると、許される変位
量の誤差は小さくなる。そのため、球欠リング101の
縁径が小さい場合の球面測定は精度が悪かった。
【0007】本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなさ
れたもので、請求項1または2に係る発明の課題は、球
欠リングをレンズ球面に倣わせ、球欠リングの縁径が小
さい場合でも、正確に測定レンズの球面半径を測定する
ことができる球面測定装置を提供することである。
【0008】請求項3または4に係る発明の課題は、正
確かつ容易に測定レンズの球面半径を測定することがで
きる球面測定方法を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1に係る発明は、測定子と、該測定子の軸心
と同軸に一体化された球欠リングと、前記軸心にそれぞ
れ直交する2つの軸と、前記球欠リングを前記2つの軸
の各々の軸方向に移動させる球欠リング移動手段と、前
記球欠リングを前記2つの軸の各々の軸回りに回動させ
る球欠リング回動手段とを有する球面測定装置におい
て、測定レンズをその軸心回りに回動または回転させる
レンズ回転手段を設けた。
【0010】請求項2に係る発明は、測定子と、該測定
子の軸心と同軸に一体化された球欠リングと、前記軸心
にそれぞれ直交する2つの軸と、前記球欠リングを前記
2つの軸の各々の軸方向に移動させる球欠リング移動手
段と、前記球欠リングを前記2つの軸の各々の軸回りに
回動させる球欠リング回動手段とを有する球面測定装置
において、測定レンズを振動させるレンズ振動手段を設
けた。
【0011】請求項3に係る発明は、球欠リングを位置
決めする工程と、前記球欠リングに測定レンズを当て付
ける工程と、前記球欠リングの位置決めを解除し前記球
欠リングに測定レンズを当て付けつつ測定子の軸心にそ
れぞれ直交する2つの軸の軸方向へ前記球欠リングを移
動させつつ前記2つの軸の軸回りに前記球欠リングを回
動させる球欠リング移動回動工程と、前記球欠リングに
測定レンズを当て付けつつ測定子先端部の変位を計測す
る球面計測工程とを有する球面測定方法において、前記
球欠リング移動回動工程と前記球面計測工程との間に、
前記球欠リングに測定レンズを当て付けつつ測定レンズ
をその軸心回りに回転または回動させる測定レンズ回転
工程を設けた。
【0012】請求項4に係る発明は、球欠リングを位置
決めする工程と、前記球欠リングに測定レンズを当て付
ける工程と、前記球欠リングの位置決めを解除し前記球
欠リングに測定レンズを当て付けつつ測定子の軸心にそ
れぞれ直交する2つの軸の軸方向へ前記球欠リングを移
動させつつ前記2つの軸の軸回りに前記球欠リングを回
動させる球欠リング移動回動工程と、前記球欠リングに
測定レンズを当て付けつつ測定子先端部の変位を計測す
る球面計測工程とを有する球面測定方法において、前記
球欠リング移動回動工程と前記球面計測工程との間に、
前記球欠リングに測定レンズを当て付けつつ振動させる
測定レンズ振動工程を設けた。
【0013】請求項1に係る発明の球面測定装置では、
測定レンズをその軸心回りに回動または回転させるレン
ズ回転手段を設けたことにより、測定レンズを球欠リン
グに当て付けて球欠リングの軸心にそれぞれ直交する2
つの軸方向に球欠リングを移動させ、前記2つの軸回り
に球欠リングを回動させた後、さらにレンズ回転手段に
より測定レンズをその軸心回りに回転または回動させ、
測定レンズのレンズ球面と球欠リングとを密着させる。
【0014】請求項2に係る発明の球面測定装置では、
測定レンズを振動させるレンズ振動手段を設けたことに
より、測定レンズを球欠リングに当て付けて球欠リング
の軸心にそれぞれ直交する2つの軸方向に球欠リングを
移動させ、前記2つの軸回りに球欠リングを回動させた
後、さらにレンズ振動手段により測定レンズに振動を与
え、測定レンズのレンズ球面と球欠リングとを密着させ
る。
【0015】請求項3に係る発明の球面測定方法では、
球欠リング移動回動工程と球面計測工程との間に、球欠
リングに測定レンズを当て付けつつ測定レンズをその軸
心回りに回転または回動させる測定レンズ回転工程を設
けたことにより、測定レンズを球欠リングに当て付けて
球欠リングの軸心にそれぞれ直交する2つの軸方向に球
欠リングを移動させ、前記2つの軸回りに球欠リングを
回動させた後、さらに、測定レンズ回転工程により測定
レンズをその軸心回りに回転または回動させ、測定レン
ズのレンズ球面と球欠リングとを密着させる。
【0016】請求項4に係る発明の球面測定方法では、
球欠リング移動回動工程と球面計測工程との間に、球欠
リングに測定レンズを当て付けつつ振動させる測定レン
ズ振動工程を設けたことにより、測定レンズを球欠リン
グに当て付けて球欠リングの軸心にそれぞれ直交する2
つの軸方向に球欠リングを移動させ、前記2つの軸回り
に球欠リングを回動させた後、さらに、測定レンズ振動
工程により測定レンズに振動を与え、測定レンズのレン
ズ球面と球欠リングとを密着させる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、具体的な実施の形態につい
て説明する。
【0018】(実施の形態1)図1〜図5は実施の形態
1を示し、図1は球面測定装置の斜視図、図2は球面測
定装置の上部の測定子配置部の分解斜視図、図3は球面
測定装置の下部のレンズ保持部の分解斜視図、図4は球
欠リングに測定レンズを当て付け、チャックを開放した
状態の球面測定装置の斜視図、図5はロッドシリンダに
より測定レンズを回動した状態の球面測定装置の斜視図
である。
【0019】図1において、球面測定装置は、主に、L
字状のベース41と、その中間部に配置された測定子配
置部と、下部に配置されたレンズ保持部と、上部に配置
されたチャック部と、側面部に配置されたレンズ回動部
とから構成されている。
【0020】まず、測定子配置部から説明する。図2に
おいて、球欠リング1は、ハウジング3へ螺着されてい
る。測定子2は、球欠リング1およびハウジング3へ嵌
挿され、ネジ14によってハウジング3へ固定されてい
る。測定子2の先端部2aは、図示しないアンプに変位
位置が表示される。ハウジング3は、Xダイ6にネジ1
5によって固定されている。Xダイ6の側面には、軸受
け孔4a、4bが穿設され、軸受け孔4a、4bには、
軸受け5a、5bが固着されている。軸受け5a、5b
には、2つの軸の一方としての軸9a、9bが嵌挿さ
れ、軸9a、9bは、さらにコの字状のYダイ10に穿
設された孔7a、7bに嵌挿され、ネジ16a、16b
により固定されている。軸9a、9bは、軸受け5a、
5bに対し、その軸方向に微小移動可能かつ回動可能に
なっている。軸受け5a、5bと軸9a、9bとにより
球欠リング移動手段および球欠リング回動手段の一方を
構成している。
【0021】また、Yダイ10には、コの字状の中間位
置に孔8が穿設され、孔8には2つの軸の他方としての
軸12が嵌挿され、ネジ17により固定されている。軸
12は、軸受け13に嵌挿され、軸受け13は、ベース
41(図1参照)に固着されている。軸12は、軸受け
13に対し、その軸方向に微小移動可能かつ回動可能に
なっている。軸12と軸受け13とにより、球欠リング
移動手段および球欠リング回動手段の他方を構成してい
る。このように、測定子配置部は、軸12および軸受け
13によりベース41に連結されている。
【0022】つぎに、レンズ保持部について説明する。
図1において、ベース41のL字状の水平部41aに
は、昇降シリンダ42が配設されている。昇降シリンダ
42の昇降ロッド49は、上下方向に進退自在で、先端
にはジョイント43が固着されている。一方、ベース4
1の垂直部41bには、ガイドレール50が固着され、
ガイドレール50には、ガイド45が上下動自在に嵌装
されている。ガイド45にはLベース26が取着され、
L字状の水平部下面には、ジョイント43が連結されて
いる。これにより、Lベース26は、昇降シリンダ42
により上下に駆動される。
【0023】図3において、Lベース26の垂直部下部
側面には、軸バネ受け27が螺着されている。Lベース
26の水平部中央には、軸受け穴32が穿設され、軸受
け穴32には、軸受け25が嵌着されている。軸受け2
5には、レンズ受け22が回動自在に嵌装され、レンズ
受け22には、レンズ受け穴31が穿設されており、測
定レンズ21が装着されるようになっている。レンズ受
け22の上部外周面には、ハネ23がネジ24によって
螺着されている。また、レンズ受け22の下部外周面に
は、バネ用ハネ28がネジ29により螺着されている。
軸バネ受け27とバネ用ハネ28との間には、バネ30
が張架されている。
【0024】つぎに、チャック部およびレンズ回動部に
ついて説明する。図1において、チャック部では、ベー
ス41の上部に、チャック46が配設され、測定子2を
初期位置に固定、開放するチャック爪48が開閉自在に
装備されている。また、レンズ回動部では、ベース41
の側面部に、ロッドシリンダ44が取着され、ロッド5
1が水平方向に進退自在に装備されている。ロッド51
は、レンズ保持部のレンズ受け22に取着されたハネ2
3の先端を押して、レンズ受け22に装着された測定レ
ンズ21を回動させる。レンズ受け22、ハネ23、バ
ネ用ハネ28、バネ30、軸バネ受け27およびロッド
シリンダ44によりレンズ回転手段を構成している。
【0025】つぎに、上記構成の球面測定装置の作用に
ついて説明する。図1に示すように、まず、球欠リング
を位置決めする工程として、チャック46を作動させ、
チャック爪48を閉じて、測定子2を把持し、球欠リン
グ1の位置を初期位置に固定する。レンズ受け22に測
定レンズ21を装着する。図4に示すように、球欠リン
グに測定レンズを当て付ける工程として、昇降シリンダ
42を作動させて、レンズ受け22を上昇させ、測定レ
ンズ21を球欠リング1及び測定子2の先端部2a(図
2参照)に所定の圧力で圧接させる。つぎに、球欠リン
グ移動回動工程として、チャック46のチャック爪48
を開放し、球欠リング1、測定子2およびハウジング3
を初期位置から開放する。すると、球欠リング1には、
測定レンズ21に対して、安定した位置に動こうとする
力、すなわち、測定レンズ21のレンズ球面21a(図
1参照)に倣おうとする外力が働き、Xダイ6は軸受け
5a、5b(図2参照)と軸9a、9b(図2参照)と
の間の摺動により微小移動し、Yダイ10は軸受け13
(図2参照)と軸12(図2参照)との間の摺動により
微小移動する。また、球欠リング1は、軸9a、9b、
軸12を軸として微小回動する。
【0026】球欠リング1の倣い動作が停止したところ
で、図5に示すように、測定レンズ回転工程として、ロ
ッドシリンダ44を作動させて、ロッド51を前進さ
せ、ハネ23の先端を押して、レンズ受け22および測
定レンズ21を回転させる。このとき、バネ30は、レ
ンズ受け22に取着されたバネ用ハネ28の回転により
伸ばされる。ロッドシリンダ44を後退方向に作動させ
ると、ロッド51は後退し、バネ30の引張り力によ
り、レンズ受け22および測定レンズ21は逆回転し、
初期の位置で停止する。この動作を1回以上行うことに
より、球欠リング1の縁が測定レンズ21のレンズ球面
21a(図3参照)に倣い、双方が密着し安定した状態
になる。ここで、球面計測工程として、測定子2の先端
部2a(図2参照)の変位量が、図示しないアンプに表
示され、測定レンズ21の曲率半径を算出することがで
きる。測定終了後、昇降シリンダ42を下方に作動させ
て、レンズ受け22を下降させ、チャック46のチャッ
ク爪48を閉塞状態にして、球欠リング1を初期位置に
固定し、測定レンズ21を取り出す。
【0027】なお、球欠リング1が測定レンズ21に倣
う前に、なにらかの原因で倣い動作が停止したとして
も、昇降シリンダ42による圧接後のロッドシリンダ4
4およびバネ30の働きにより、測定レン21が回転
し、球欠リング1は移動しようとする。球欠リング1が
移動しようとすると、各軸と各軸受けとの間に力が作用
する。測定レンズ21がさらに回転すると、球欠リング
1と測定レンズ21とは滑り動作を始める。すなわち、
倣い動作を再び始める。球欠リング1が倣いきらなかっ
た測定レンズ21も、もう一度、球欠リング1が倣い動
作を行い、安定した位置で停止する。これにより、確実
に、球欠リング1が測定レンズ21のレンズ球面21a
に倣い、互いに密着し、正確な曲率半径を算出すること
ができる。
【0028】本実施の形態によれば、測定レンズ21を
球欠リング1に当て付けて球欠リング21を水平方向に
微動および上下方向に微回動させた後、さらにレンズ回
転手段により測定レンズ21をその軸心回りに回転およ
び逆回転させ、測定レンズ21のレンズ球面21aと球
欠リング1とを密着させるので、球欠リング21の縁径
が小さい場合でも、正確に測定レンズの球面半径を測定
することができる。
【0029】本実施の形態では、測定レンズ21のレン
ズ回転手段を、レンズ受け22、ハネ23、バネ用ハネ
28、バネ30、軸バネ受け27およびロッドシリンダ
44で構成したが、これに限るものではなく、モータ、
回転シリンダ等で回動または回転させてもよい。
【0030】(実施の形態2)図6〜図8は実施の形態
2を示し、図6は球面測定装置の斜視図、図7は球面測
定装置の下部のレンズ保持部の分解斜視図、図8は変形
例の球面測定装置の斜視図である。本実施の形態は、実
施の形態1とは、レンズ回転手段に替えてレンズ振動手
段を、測定レンズ回転工程に替えて測定レンズ振動工程
を用いている点が異なり、その他の部分は同様のため、
異なる部分のみ説明し、同一の部材には同一の符号を付
し説明を省略する。
【0031】図6において、Lベース66は、ガイド4
5に固着されている。Lベース66のL字状の水平部上
面には、図7に示すように、2つのバカ孔66aが穿設
され、ネジ71、72によりレンズ受け62が固定され
ている。また、ベース41の垂直部41bの中央には、
レンズ振動手段としての、ロッドシリンダ44が配設さ
れ、ロッド51の先端がレンズ受け62の外周面を叩く
ように構成されている。その他の構成は実施の形態1と
同様である。
【0032】上記構成の球面測定装置の作用について、
実施の形態1と異なる部分のみ説明する。図6に示すよ
うに、球欠リング1と測定レンズ21とを圧接させ、チ
ャック46のチャック爪48を開放し、球欠リング1の
倣い動作が止まった後、測定レンズ振動工程として、ロ
ッドシリンダ44でレンズ受け62の外周面を叩き、振
動を与える。これにより、実施の形態1と同様に、昇降
シリンダ42による球欠リング1と測定レンズ21との
圧接時点で、球欠リング1が測定レンズ21のレンズ球
面21a(図3参照)に密着していなくても、振動を与
えることにより、球欠リング1の水平方向の微動と上下
方向の微回動が発生し、球欠リング1は測定レンズ21
のレンズ球面21aに密着する。
【0033】本実施の形態によれば、実施の形態1と同
様の効果に加え、球面測定装置の部品点数を削減し、安
価に製作することができる。
【0034】本実施の形態では、レンズ受け62に与え
る振動を、その外周面から与えるようにしたが、図8に
示すように、ロッドシリンダ44をベース41の水平部
41aに縦に配置し、ロッド51によりLベース66の
下面を叩いて、測定レンズ21の軸心方向に振動させて
もよい。また、レンズ受け62や測定レンズ21に与え
る振動を、超音波で振動するように構成してもよい。
【0035】
【発明の効果】請求項1に係る発明によれば、測定レン
ズを球欠リングに当て付けて球欠リングの軸心にそれぞ
れ直交する2つの軸方向に球欠リングを移動させ、前記
2つの軸回りに球欠リングを回動させた後、さらにレン
ズ回転手段により測定レンズをその軸心回りに回転また
は回動させ、測定レンズのレンズ球面と球欠リングとを
密着させるようにしたので、球欠リングをレンズ球面に
倣わせ、球欠リングの縁径が小さい場合でも、正確に測
定レンズの球面半径を測定することができる。
【0036】請求項2に係る発明によれば、測定レンズ
を球欠リングに当て付けて球欠リングの軸心にそれぞれ
直交する2つの軸方向に球欠リングを移動させ、前記2
つの軸回りに球欠リングを回動させた後、さらにレンズ
振動手段により測定レンズに振動を与え、測定レンズの
レンズ球面と球欠リングとを密着させるようにしたの
で、請求項1に係る発明と同様の効果に加え、球面測定
装置の部品点数を削減し、安価に製作することができ
る。
【0037】請求項3に係る発明によれば、測定レンズ
を球欠リングに当て付けて球欠リングの軸心にそれぞれ
直交する2つの軸方向に球欠リングを移動させ、前記2
つの軸回りに球欠リングを回動させた後、さらに、測定
レンズ回転工程により測定レンズをその軸心回りに回転
または回動させ、測定レンズのレンズ球面と球欠リング
とを密着させるようにしたので、正確かつ容易に測定レ
ンズの球面半径を測定することができる。
【0038】請求項4に係る発明によれば、測定レンズ
を球欠リングに当て付けて球欠リングの軸心にそれぞれ
直交する2つの軸方向に球欠リングを移動させ、前記2
つの軸回りに球欠リングを回動させた後、さらに、測定
レンズ振動工程により測定レンズに振動を与え、測定レ
ンズのレンズ球面と球欠リングとを密着させるようにし
たので、正確かつ容易に測定レンズの球面半径を測定す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態1の球面測定装置の斜視図である。
【図2】実施の形態1の球面測定装置の上部の測定子配
置部の分解斜視図である。
【図3】実施の形態1の球面測定装置の下部のレンズ保
持部の分解斜視図である。
【図4】実施の形態1の球欠リングに測定レンズを当て
付け、チャックを開放した状態の球面測定装置の斜視図
である。
【図5】実施の形態1のロッドシリンダにより測定レン
ズを回動した状態の球面測定装置の斜視図である。
【図6】実施の形態2の球面測定装置の斜視図である。
【図7】実施の形態2の球面測定装置の下部のレンズ保
持部の分解斜視図である。
【図8】実施の形態2の変形例の球面測定装置の斜視図
である。
【図9】従来技術の球面測定装置の概略構成図である。
【図10】従来技術の球面測定装置の問題点の説明図で
ある。
【図11】従来技術の球面測定装置の問題点の説明図で
ある。
【符号の説明】
1 球欠リング 2 測定子 21 測定レンズ 22 レンズ受け 23 ハネ 27 軸バネ受け 28 バネ用ハネ 30 バネ 44 ロッドシリンダ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定子と、該測定子の軸心と同軸に一体
    化された球欠リングと、前記軸心にそれぞれ直交する2
    つの軸と、前記球欠リングを前記2つの軸の各々の軸方
    向に移動させる球欠リング移動手段と、前記球欠リング
    を前記2つの軸の各々の軸回りに回動させる球欠リング
    回動手段とを有する球面測定装置において、 測定レンズをその軸心回りに回動または回転させるレン
    ズ回転手段を設けたことを特徴とする球面測定装置。
  2. 【請求項2】 測定子と、該測定子の軸心と同軸に一体
    化された球欠リングと、前記軸心にそれぞれ直交する2
    つの軸と、前記球欠リングを前記2つの軸の各々の軸方
    向に移動させる球欠リング移動手段と、前記球欠リング
    を前記2つの軸の各々の軸回りに回動させる球欠リング
    回動手段とを有する球面測定装置において、 測定レンズを振動させるレンズ振動手段を設けたことを
    特徴とする球面測定装置。
  3. 【請求項3】 球欠リングを位置決めする工程と、前記
    球欠リングに測定レンズを当て付ける工程と、前記球欠
    リングの位置決めを解除し前記球欠リングに測定レンズ
    を当て付けつつ測定子の軸心にそれぞれ直交する2つの
    軸の軸方向へ前記球欠リングを移動させつつ前記2つの
    軸の軸回りに前記球欠リングを回動させる球欠リング移
    動回動工程と、前記球欠リングに測定レンズを当て付け
    つつ測定子先端部の変位を計測する球面計測工程とを有
    する球面測定方法において、 前記球欠リング移動回動工程と前記球面計測工程との間
    に、前記球欠リングに測定レンズを当て付けつつ測定レ
    ンズをその軸心回りに回転または回動させる測定レンズ
    回転工程を設けたことを特徴とする球面測定方法。
  4. 【請求項4】 球欠リングを位置決めする工程と、前記
    球欠リングに測定レンズを当て付ける工程と、前記球欠
    リングの位置決めを解除し前記球欠リングに測定レンズ
    を当て付けつつ測定子の軸心にそれぞれ直交する2つの
    軸の軸方向へ前記球欠リングを移動させつつ前記2つの
    軸の軸回りに前記球欠リングを回動させる球欠リング移
    動回動工程と、前記球欠リングに測定レンズを当て付け
    つつ測定子先端部の変位を計測する球面計測工程とを有
    する球面測定方法において、 前記球欠リング移動回動工程と前記球面計測工程との間
    に、前記球欠リングに測定レンズを当て付けつつ振動さ
    せる測定レンズ振動工程を設けたことを特徴とする球面
    測定方法。
JP2001021198A 2001-01-30 2001-01-30 球面測定装置および球面測定方法 Expired - Fee Related JP4814430B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001021198A JP4814430B2 (ja) 2001-01-30 2001-01-30 球面測定装置および球面測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001021198A JP4814430B2 (ja) 2001-01-30 2001-01-30 球面測定装置および球面測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002228403A true JP2002228403A (ja) 2002-08-14
JP4814430B2 JP4814430B2 (ja) 2011-11-16

Family

ID=18886795

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001021198A Expired - Fee Related JP4814430B2 (ja) 2001-01-30 2001-01-30 球面測定装置および球面測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4814430B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017209026A1 (ja) * 2016-06-03 2017-12-07 オリンパス株式会社 形状測定装置および形状測定方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0743104A (ja) * 1993-07-30 1995-02-10 Olympus Optical Co Ltd 球面測定装置
JPH08233505A (ja) * 1995-02-24 1996-09-13 Olympus Optical Co Ltd 球面測定装置
JP2000035304A (ja) * 1998-07-17 2000-02-02 Olympus Optical Co Ltd 球面測定方法および球面測定装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0743104A (ja) * 1993-07-30 1995-02-10 Olympus Optical Co Ltd 球面測定装置
JPH08233505A (ja) * 1995-02-24 1996-09-13 Olympus Optical Co Ltd 球面測定装置
JP2000035304A (ja) * 1998-07-17 2000-02-02 Olympus Optical Co Ltd 球面測定方法および球面測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017209026A1 (ja) * 2016-06-03 2017-12-07 オリンパス株式会社 形状測定装置および形状測定方法
CN108700398A (zh) * 2016-06-03 2018-10-23 奥林巴斯株式会社 形状测定装置和形状测定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4814430B2 (ja) 2011-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4632962B2 (ja) 同軸度・直角度測定装置及びその方法
CN101310162B (zh) 测量头的调节装置
CN101887007B (zh) 剪力测试的无摩擦校正元件
JP5571007B2 (ja) 球体形状測定装置
JP5332009B2 (ja) 形状測定装置、及び形状測定方法
JP6358327B2 (ja) 光学素子の測定用ジグ、偏芯測定装置及び偏芯測定方法
JP3887188B2 (ja) プローブのアライメント調整装置、その装置を備えた測定機およびプローブのアライメント調整方法
CN110899582A (zh) 一种具有电动和手动操作的便携式探针折弯机
TW201105927A (en) Shape measuring device
JP2011085404A (ja) 検出器、及び測定機
JP4253403B2 (ja) 球面測定装置
CN109459627B (zh) 一种机器人化触控笔测试装置及方法
JP3162609U (ja) 薄板材用試験機
JP2002228403A (ja) 球面測定装置および球面測定方法
JP2001174252A (ja) 眼鏡の玉型形状測定装置
TWI621859B (zh) 量測系統
JP2009262241A (ja) 位置合わせ方法および位置合わせ支援装置ならびに位置合わせ支援プログラム
JP2019045312A (ja) スタイラス及び表面形状測定装置
JP2006153884A (ja) プローブ用の測定ヘッド
JP2003344192A (ja) 簡易静摩擦測定装置
JP2003172618A (ja) レンズ枠形状測定装置
JPH0854202A (ja) 球体の形状測定器
JP2003302218A (ja) 真円度測定装置
TWI858973B (zh) 具有翻轉機構的夾持量測裝置
JP2014058003A (ja) 校正治具及びロボット装置並びに校正治具を用いたロボット装置の校正方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080108

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100910

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100930

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101126

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110729

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110826

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140902

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees