JP2002340947A - Mixer distortion measurement method and mixer distortion analysis method - Google Patents
Mixer distortion measurement method and mixer distortion analysis methodInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、高周波回路、IC
又はモジュールに設けられたミキサ回路を評価するため
の相互変調歪みの測定方法及び解析方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high-frequency circuit and an IC.
Alternatively, the present invention relates to a method for measuring and analyzing intermodulation distortion for evaluating a mixer circuit provided in a module.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、携帯電話の普及により移動体通信
及びそれに用いられる高周波(RadioFrequency :以
下、RFと称する)回路の重要性が大きくなっている。
RF回路において用いられるミキサは周波数変換という
重要な役割を担っているので、このミキサの基本特性が
RF回路の性能、ひいては無線機の性能を左右している
といっても過言ではない。このミキサにおいて最も重要
なRF特性の1つは相互変調歪み(Inter Modulation D
istortion )、特に3次相互変調歪み(以下、IM3と
称する)であるが、IM3の測定及び解析は非常に複雑
である。2. Description of the Related Art In recent years, with the spread of portable telephones, the importance of mobile communication and radio frequency (Radio Frequency: hereinafter referred to as RF) circuits used for the same has been increasing.
Since the mixer used in the RF circuit plays an important role of frequency conversion, it is no exaggeration to say that the basic characteristics of the mixer affect the performance of the RF circuit and, consequently, the performance of the radio. One of the most important RF characteristics of this mixer is Inter Modulation D (Inter Modulation D).
istortion), especially third-order intermodulation distortion (hereinafter referred to as IM3), but the measurement and analysis of IM3 is very complicated.
【0003】以下、ダウンミキサを対象として行なわれ
る従来のIM3測定方法について図面を参照しながら説
明する。Hereinafter, a conventional IM3 measuring method performed for a down mixer will be described with reference to the drawings.
【0004】図1は一般的なダウンミキサの回路構造を
基本的な構成要素に分けて示している。FIG. 1 shows a circuit structure of a general down mixer divided into basic components.
【0005】図1に示すように、ダウンミキサ100
は、RF信号が入力される端子RFinと、局部発信(L
ocal Oscillation:以下、LOと称する)信号が入力さ
れる端子LOinと、RF信号を増幅するRFアンプ部
101と、RFアンプ部101により増幅されたRF信
号及びLO信号を非線形性により各信号の周波数の差を
周波数として有する中間周波(Intermediate Frequency
:以下、IFと称する)信号に変換するミキサ部102
と、IF信号を増幅するIFアンプ部103と、IFア
ンプ部103により増幅されたIF信号が出力される端
子IFoutとを備えている。[0005] As shown in FIG.
Is a terminal RFin to which an RF signal is input, and a local oscillation (L
ocal Oscillation (hereinafter referred to as LO), a terminal LOin to which a signal is input, an RF amplifier 101 that amplifies an RF signal, and a frequency of each signal, which is obtained by nonlinearizing the RF signal and the LO signal amplified by the RF amplifier 101. Frequency (Intermediate Frequency)
: Hereinafter, referred to as IF)
And an IF amplifier 103 for amplifying the IF signal, and a terminal IFout from which the IF signal amplified by the IF amplifier 103 is output.
【0006】図2は従来のIM3測定方法におけるダウ
ンミキサの動作を示すスペクトラムである。尚、本明細
書において、スペクトラムとは、横軸に周波数を示し且
つ縦軸にパワーを示したグラフを意味する。FIG. 2 is a spectrum showing the operation of the down mixer in the conventional IM3 measuring method. In addition, in this specification, the spectrum means a graph in which the horizontal axis indicates frequency and the vertical axis indicates power.
【0007】図2に示すように、従来のIM3測定方法
においては、まず、端子RFinに、互いに近接した周
波数RF1及びRF2(RF2>RF1でRF2−RF
1=2Df)をそれぞれ有する2種類のRF信号を入力
する。また、端子LOinに、周波数RF1及びRF2
よりも小さい周波数LOを有するLO信号を入力する。
これにより、周波数RF1のRF信号に対して周波数I
F1(=RF1−LO)のIF信号が端子IFoutか
ら出力されると共に、周波数RF2のRF信号に対して
周波数IF2(=RF2−LO=IF1+2Df)のI
F信号が端子IFoutから出力される。このとき、各
素子(RFアンプ部101、ミキサ部102、IFアン
プ部103)の非線形性に起因して各素子においてIM
3信号成分が生じる結果、周波数IF1及びIF2のI
F信号に対して周波数IM3l(=2×IF1−IF2
=IF1−2Df)及びIM3u(=2×IF2−IF
1=IF2+2Df)のIM3信号が発生する。尚、こ
こで、DfはIF1又はIF2と比べて小さいので、周
波数IM3l及びIM3uは周波数IF1及びIF2と
同じIF帯域で測定可能である。As shown in FIG. 2, in the conventional IM3 measuring method, first, terminals RFin and RF2 (RF2> RF1 and RF2-RF1) are placed close to each other.
1 = 2Df) are input. In addition, the terminals LOin are connected to the frequencies RF1 and RF2.
An LO signal having a lower frequency LO is input.
As a result, the frequency I1
An IF signal of F1 (= RF1-LO) is output from a terminal IFout, and an I signal of frequency IF2 (= RF2-LO = IF1 + 2Df) is output from an RF signal of frequency RF2.
The F signal is output from the terminal IFout. At this time, due to the non-linearity of each element (RF amplifier section 101, mixer section 102, IF amplifier section 103), IM
As a result of the three signal components, I at the frequencies IF1 and IF2
For the F signal, the frequency IM31 (= 2 × IF1-IF2)
= IF1-2Df) and IM3u (= 2 × IF2-IF)
1 = IF2 + 2Df) IM3 signal is generated. Since Df is smaller than IF1 or IF2, frequencies IM31 and IM3u can be measured in the same IF band as frequencies IF1 and IF2.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】ところで、RFアンプ
部101においては、図2に示すように、周波数RF1
及びRF2のRF信号に対して周波数RFIM3l(=
2×RF1−RF2=RF1−2Df)及びRFIM3
u(=2×RF2−RF1=RF2+2Df)のIM3
信号成分が発生する。そして、ミキサ部102におい
て、周波数RFIM3lのIM3信号成分は周波数(R
FIM3l−LO)のIM3信号成分に変換されると共
に周波数RFIM3uのIM3信号成分は周波数(RF
IM3u−LO)のIM3信号成分に変換される。ここ
で、RFIM3l−LO=(RF1−LO)−2Df=
IF1−2Df=IM3lであり、RFIM3u−LO
=(RF2−LO)+2Df=IF2+2Df=IM3
uである。従って、最終的に端子IFoutから出力さ
れるIF信号のIM3、つまり周波数IM3l及びIM
3uのIM3信号は、RFアンプ部101で発生したI
M3信号成分と、ミキサ部102で発生したIM3信号
成分と、IFアンプ部103で発生したIM3信号成分
との合計となる。By the way, in the RF amplifier section 101, as shown in FIG.
And the frequency RFIM31 (=
2 × RF1-RF2 = RF1-2Df) and RFIM3
IM3 of u (= 2 × RF2-RF1 = RF2 + 2Df)
A signal component is generated. Then, in the mixer section 102, the IM3 signal component of the frequency RFIM31 has a frequency (R
FIM31-LO), and the IM3 signal component of the frequency RFIM3u is converted to the frequency (RF
IM3u-LO). Here, RFIM31-LO = (RF1-LO) -2Df =
IF1-2Df = IM31, RFIM3u-LO
= (RF2-LO) + 2Df = IF2 + 2Df = IM3
u. Therefore, the IM3 of the IF signal finally output from the terminal IFout, that is, the frequencies IM31 and IM31
3u IM3 signal is generated by the RF amplifier 101
It is the sum of the M3 signal component, the IM3 signal component generated by the mixer unit 102, and the IM3 signal component generated by the IF amplifier unit 103.
【0009】一方、近年の電子デバイスの微細化に伴っ
て、ダウンミキサ100は各素子(RFアンプ部10
1、ミキサ部102、IFアンプ部103)が一体的に
形成されたモジュール構成を有している場合が多くなっ
ているが、この場合、モジュール内にテスト用端子を設
けて各素子のIM3信号成分を測定することは困難であ
る。[0009] On the other hand, with the recent miniaturization of electronic devices, the downmixer 100 includes various elements (the RF amplifier unit 10).
1, a mixer unit 102 and an IF amplifier unit 103) often have a module configuration integrally formed. In this case, a test terminal is provided in the module to provide an IM3 signal of each element. It is difficult to measure the components.
【0010】すなわち、従来のIM3測定方法において
は、ミキサを構成する素子毎にIM3を分離して測定で
きないので、ミキサのどの部分でIM3が発生している
のかを解析することができないという問題がある。この
問題は、IM3の発生源を特定するためのミキサの検
査、又はIM3を低減するためのミキサの調整を行なえ
ないという新たな問題を招く。That is, in the conventional IM3 measuring method, since the IM3 cannot be separately measured for each element constituting the mixer, it is not possible to analyze in which part of the mixer the IM3 is generated. is there. This problem causes a new problem that the mixer cannot be inspected to identify the source of IM3 or the mixer cannot be adjusted to reduce IM3.
【0011】前記に鑑み、本発明は、ミキサを構成する
素子毎に相互変調歪みを分離して測定することを可能に
し、それによってミキサのどの部分で相互変調歪みが発
生しているのかを解析できるようにすることを目的とす
る。In view of the above, the present invention makes it possible to separate and measure intermodulation distortion for each element constituting a mixer, thereby analyzing which part of the mixer is causing intermodulation distortion. The purpose is to be able to.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明に係るミキサの歪み測定方法は、高周波信
号が入力される第1の端子と、局部発信信号が入力され
る第2の端子と、高周波信号を増幅する第1の増幅部
と、第1の増幅部により増幅された高周波信号及び局部
発信信号を各信号の周波数の差を周波数として有する中
間周波信号に変換するミキサ部と、中間周波信号を増幅
する第2の増幅部と、第2の増幅部により増幅された中
間周波信号が出力される第3の端子とを備えたダウンミ
キサに生じる相互変調歪みを測定するためのミキサの歪
み測定方法を前提とし、局部発信信号の周波数よりも大
きい周波数を有する第1の高周波信号と、局部発信信号
の周波数よりも小さい周波数を有する第2の高周波信号
とを第1の端子に同時に入力することによって、第3の
端子から出力される中間周波信号に対して生じる相互変
調歪みを測定する工程を備えている。In order to achieve the above object, a method for measuring distortion of a mixer according to the present invention comprises a first terminal to which a high-frequency signal is input and a second terminal to which a local oscillation signal is input. , A first amplifying unit for amplifying the high-frequency signal, and a mixer unit for converting the high-frequency signal and the local oscillation signal amplified by the first amplifying unit into an intermediate frequency signal having a frequency difference between the signals as a frequency. And a second amplifier for amplifying the intermediate frequency signal, and a third terminal for outputting the intermediate frequency signal amplified by the second amplifier, for measuring an intermodulation distortion generated in a down mixer. And a first high-frequency signal having a frequency higher than the frequency of the local oscillation signal and a second high-frequency signal having a frequency lower than the frequency of the local oscillation signal are connected to a first terminal. Same as By entering into, and a step of measuring the intermodulation distortion occurring to the intermediate frequency signal output from the third terminal.
【0013】本発明のミキサの歪み測定方法によると、
局部発信信号の周波数よりも大きい周波数を有する第1
の高周波信号と、局部発信信号の周波数よりも小さい周
波数を有する第2の高周波信号とを第1の端子に同時に
入力して相互変調歪みを測定するため、中間周波信号の
周波数帯域で測定される相互変調歪みは第2の増幅部で
発生した相互変調歪みのみになる。すなわち、第2の増
幅部で発生した相互変調歪みを、第1の増幅部及びミキ
サ部で発生した相互変調歪みと分離して測定することが
できる。このため、ミキサのどの部分で相互変調歪みが
発生しているのかを容易に解析できるので、例えば第2
の増幅部つまりIFアンプ部が不良かどうかの検査、又
は相互変調歪みを低減するためのIFアンプ部の調整を
容易に行なうことができる。According to the mixer distortion measuring method of the present invention,
A first having a frequency greater than the frequency of the local signal
And a second high-frequency signal having a frequency lower than the frequency of the local oscillation signal are simultaneously input to the first terminal to measure the intermodulation distortion, so that the measurement is performed in the frequency band of the intermediate frequency signal. The intermodulation distortion is only the intermodulation distortion generated in the second amplifier. That is, the intermodulation distortion generated in the second amplification unit can be measured separately from the intermodulation distortion generated in the first amplification unit and the mixer unit. For this reason, it is possible to easily analyze in which part of the mixer the intermodulation distortion is occurring.
Inspection of the amplifying unit, that is, the IF amplifier unit, is defective, or adjustment of the IF amplifier unit for reducing intermodulation distortion can be easily performed.
【0014】本発明に係るミキサの歪み解析方法は、高
周波信号が入力される第1の端子と、局部発信信号が入
力される第2の端子と、高周波信号を増幅する第1の増
幅部と、第1の増幅部により増幅された高周波信号及び
局部発信信号を各信号の周波数の差を周波数として有す
る中間周波信号に変換するミキサ部と、中間周波信号を
増幅する第2の増幅部と、第2の増幅部により増幅され
た中間周波信号が出力される第3の端子とを備えたダウ
ンミキサに生じる相互変調歪みを解析するためのミキサ
の歪み解析方法を前提とし、局部発信信号の周波数より
も大きく且つ互いに異なる周波数を有する2つの高周波
信号を第1の端子に同時に入力することによって、第3
の端子から出力される中間周波信号に対して生じる第1
の相互変調歪みを測定する工程と、局部発信信号の周波
数よりも大きい周波数を有する第1の高周波信号と、局
部発信信号の周波数よりも小さい周波数を有する第2の
高周波信号とを第1の端子に同時に入力することによっ
て、第3の端子から出力される中間周波信号に対して生
じる第2の相互変調歪みを測定する工程と、第1の相互
変調歪みと第2の相互変調歪みとを比較する工程とを備
えている。[0014] A distortion analysis method for a mixer according to the present invention includes a first terminal to which a high-frequency signal is input, a second terminal to which a local oscillation signal is input, and a first amplifying unit for amplifying the high-frequency signal. A mixer for converting the high-frequency signal and the local transmission signal amplified by the first amplifier to an intermediate frequency signal having a frequency difference between the signals as a frequency, a second amplifier for amplifying the intermediate frequency signal, The method is based on a mixer distortion analysis method for analyzing intermodulation distortion generated in a down-mixer having a third terminal to which an intermediate frequency signal amplified by the second amplifying unit is output. By simultaneously inputting two high-frequency signals having different frequencies from each other to the first terminal,
Of the intermediate frequency signal output from the terminal
Measuring a first high frequency signal having a frequency higher than the frequency of the local oscillation signal and a second high frequency signal having a frequency lower than the frequency of the local oscillation signal at a first terminal. Measuring the second intermodulation distortion generated for the intermediate frequency signal output from the third terminal by simultaneously inputting the first intermodulation distortion and the first intermodulation distortion. And a step of performing
【0015】本発明のミキサの歪み解析方法によると、
局部発信信号の周波数よりも大きく且つ互いに異なる周
波数を有する2つの高周波信号を第1の端子に同時に入
力して第1の相互変調歪みを測定するため、第1の相互
変調歪みとして、ダウンミキサ全体で発生した相互変調
歪みを測定することができる。また、局部発信信号の周
波数よりも大きい周波数を有する第1の高周波信号と、
局部発信信号の周波数よりも小さい周波数を有する第2
の高周波信号とを第1の端子に同時に入力して第2の相
互変調歪みを測定するため、第2の相互変調歪みとし
て、第2の増幅部で発生した相互変調歪みのみを測定す
ることができる。このため、第1の相互変調歪みと第2
の相互変調歪みとを比較することによって、第2の増幅
部で発生した相互変調歪み成分と、第1の増幅部及びミ
キサ部で発生した相互変調歪み成分とをそれぞれ分離し
て確認できるので、ミキサのどの部分で相互変調歪みが
発生しているのかを確実に解析できる。According to the distortion analysis method for a mixer of the present invention,
Since two high-frequency signals having frequencies higher than the frequency of the local oscillation signal and different from each other are simultaneously input to the first terminal and the first intermodulation distortion is measured, the entire downmixer is used as the first intermodulation distortion. Can be measured. A first high-frequency signal having a frequency higher than the frequency of the local oscillation signal;
A second signal having a frequency lower than the frequency of the local oscillation signal;
The second intermodulation distortion is measured by simultaneously inputting the high frequency signal to the first terminal and measuring the second intermodulation distortion. Therefore, it is necessary to measure only the intermodulation distortion generated in the second amplifier as the second intermodulation distortion. it can. For this reason, the first intermodulation distortion and the second
By comparing the intermodulation distortion component with the intermodulation distortion component generated by the second amplification unit and the intermodulation distortion component generated by the first amplification unit and the mixer unit, the intermodulation distortion component can be separately confirmed. It is possible to reliably analyze which part of the mixer is causing the intermodulation distortion.
【0016】本発明のミキサの歪み解析方法において、
第1の相互変調歪みと第2の相互変調歪みとの比較結果
に基づいて第2の増幅部の検査又は調整を行なう工程を
さらに備えていることが好ましい。In the method for analyzing distortion of a mixer according to the present invention,
It is preferable that the method further includes a step of inspecting or adjusting the second amplifying unit based on a comparison result between the first intermodulation distortion and the second intermodulation distortion.
【0017】このようにすると、ダウンミキサ全体で発
生した相互変調歪みに対する第2の増幅部つまりIFア
ンプ部で発生した相互変調歪みの度合いがわかるので、
例えばIFアンプ部が不良かどうかの検査、又は相互変
調歪みを低減するためのIFアンプ部の調整を確実に行
なうことができる。In this way, the degree of the intermodulation distortion generated in the second amplifying section, that is, the IF amplifier section with respect to the intermodulation distortion generated in the entire down mixer can be determined.
For example, it is possible to reliably test whether the IF amplifier unit is defective or to adjust the IF amplifier unit to reduce intermodulation distortion.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)以下、本発明
の第1の実施形態に係るミキサの歪み測定方法につい
て、図1に示すダウンミキサに生じるIM3を測定する
場合を例として図面を参照しながら説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (First Embodiment) Hereinafter, a method for measuring distortion of a mixer according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to an example in which IM3 generated in a down mixer shown in FIG. 1 is measured. This will be described with reference to FIG.
【0019】尚、第1の実施形態において、ダウンミキ
サ100は、各素子(RFアンプ部101、ミキサ部1
02、IFアンプ部103)が一体的に形成されたモジ
ュール構成を有しているものとする。In the first embodiment, the down-mixer 100 includes each element (the RF amplifier 101, the mixer 1
02, IF amplifier section 103) has a module configuration integrally formed.
【0020】図3は、第1の実施形態に係るミキサの歪
み測定方法におけるダウンミキサの動作を示すスペクト
ラムである。FIG. 3 is a spectrum showing an operation of the down mixer in the mixer distortion measuring method according to the first embodiment.
【0021】図3に示すように、第1の実施形態に係る
ミキサの歪み測定方法においては、まず、LO信号の周
波数LOよりも大きい周波数RF1(=LO+IF−D
f)のRF信号を端子RFinに入力すると同時にLO
信号の周波数LOよりも小さい周波数RF3(=LO−
IF−Df=RF1−2IF)のRF信号を端子RFi
nに入力する。また、周波数LOを有するLO信号を端
子LOinに入力する。これにより、周波数RF1のR
F信号に対して周波数IF1(=RF1−LO=IF−
Df)のIF信号が端子IFoutから出力されると共
に、周波数RF3のRF信号に対して周波数IF2(=
LO−RF3=IF+Df=IF1+2Df)のIF信
号が端子IFout出力される。このとき、周波数IF
1及びIF2のIF信号に対して周波数IM3l(=2
×IF1−IF2=IF1−2Df)及びIM3u(=
2×IF2−IF1=IF2+2Df)のIM3信号成
分が発生する。尚、ここで、Df(所定の周波数差)は
IF1又はIF2と比べて小さいので、周波数IM3l
及びIM3uは周波数IF1及びIF2と同じIF帯域
で測定可能である。As shown in FIG. 3, in the mixer distortion measuring method according to the first embodiment, first, a frequency RF1 (= LO + IF-D) higher than the frequency LO of the LO signal.
f) When the RF signal is input to the terminal RFin,
The frequency RF3 (= LO−) smaller than the frequency LO of the signal
IF-Df = RF1-2IF) RF signal to terminal RFi
Enter n. Further, an LO signal having a frequency LO is input to a terminal LOin. Thereby, R of frequency RF1 is obtained.
The frequency IF1 (= RF1-LO = IF-
Df) is output from the terminal IFout, and the frequency IF2 (=
An IF signal of LO-RF3 = IF + Df = IF1 + 2Df) is output from the terminal IFout. At this time, the frequency IF
1 and the IF signal of IF2, the frequency IM31 (= 2
× IF1-IF2 = IF1-2Df) and IM3u (=
An IM3 signal component of 2 × IF2-IF1 = IF2 + 2Df) is generated. Since Df (predetermined frequency difference) is smaller than IF1 or IF2, the frequency IM31
And IM3u can be measured in the same IF band as the frequencies IF1 and IF2.
【0022】次に、RFアンプ部101で発生するIM
3信号成分について説明する。Next, IM generated by the RF amplifier 101
The three signal components will be described.
【0023】図4は、周波数RF1及びRF3のRF信
号に対してRFアンプ部101で発生するIM3信号成
分を示している。FIG. 4 shows IM3 signal components generated by the RF amplifier unit 101 with respect to the RF signals of the frequencies RF1 and RF3.
【0024】図4に示すように、第1の実施形態におい
ては、周波数RF1及びRF3のRF信号に対して周波
数RFIM3l(=2RF3−RF1=RF3−2I
F)及びRFIM3u(=2RF1−RF3=RF1+
2IF)のIM3信号成分がRFアンプ部101で発生
する。そして、ミキサ部102において、周波数RFI
M3lのIM3信号成分は周波数(RFIM3l−L
O)のIM3信号成分に変換されると共に周波数RFI
M3uのIM3信号成分は周波数(RFIM3u−L
O)のIM3信号成分に変換される。ここで、RFIM
3l−LO=LO−IF−Df−2IF−LO=−3I
F−Dfであり、RFIM3u−LO=LO+IF−D
f+2IF−LO=3IF−Dfである。従って、最終
的に端子IFoutから出力されるIF信号のIM3、
つまり周波数IM3l及びIM3uのIM3信号には、
RFアンプ部101及びミキサ部102で発生した周波
数((RFIM3l−LO)及び(RFIM3u−L
O))のIM3信号成分は含まれていない。言い換える
と、端子IFoutから出力される周波数IM3l及び
IM3uのIM3信号はIFアンプ部103で発生した
IM3信号成分のみになる。As shown in FIG. 4, in the first embodiment, the frequency RFIM31 (= 2RF3-RF1 = RF3-2I) is applied to the RF signals of the frequencies RF1 and RF3.
F) and RFIM3u (= 2RF1-RF3 = RF1 +
2IF) IM3 signal component is generated in the RF amplifier unit 101. Then, in the mixer section 102, the frequency RFI
The M3 IM3 signal component has a frequency (RFIM31-L
O) into the IM3 signal component and the frequency RFI
The IM3 signal component of M3u has a frequency (RFIM3u-L
O) is converted to an IM3 signal component. Where RFIM
31-LO = LO-IF-Df-2IF-LO = -3I
F-Df, RFIM3u-LO = LO + IF-D
f + 2IF-LO = 3IF-Df. Therefore, IM3 of the IF signal finally output from the terminal IFout,
That is, the IM3 signals of the frequencies IM31 and IM3u include:
The frequencies ((RFIM31-LO) and (RFIM3u-L) generated by the RF amplifier 101 and the mixer 102
O)) does not include the IM3 signal component. In other words, the IM3 signals of the frequencies IM31 and IM3u output from the terminal IFout are only the IM3 signal components generated by the IF amplifier 103.
【0025】すなわち、第1の実施形態によると、IF
アンプ部103で発生したIM3信号成分を、RFアン
プ部101及びミキサ部102で発生したIM3信号成
分と分離して測定することができる。このため、ダウン
ミキサ100のどの部分でIM3が発生しているのかを
容易に解析できるので、例えばIFアンプ部103が不
良かどうかの検査、又は相互変調歪みを低減するための
IFアンプ部103の調整を容易に行なうことができ
る。That is, according to the first embodiment, the IF
The IM3 signal component generated by the amplifier 103 can be measured separately from the IM3 signal component generated by the RF amplifier 101 and the mixer 102. For this reason, since it is possible to easily analyze in which part of the down mixer 100 the IM3 is generated, for example, it is possible to check whether the IF amplifier unit 103 is defective or to use the IF amplifier unit 103 for reducing the intermodulation distortion. Adjustment can be easily performed.
【0026】尚、第1の実施形態において、相互変調歪
みとしてIM3(3次相互変調歪み)を測定したが、測
定対象の相互変調歪みは特に限定されるものではなく、
例えば5次相互変調歪み又は7次相互変調歪み等の他の
奇数次の相互変調歪みの測定についても同様に行なうこ
とができる。In the first embodiment, IM3 (third-order intermodulation distortion) was measured as intermodulation distortion, but the intermodulation distortion to be measured is not particularly limited.
For example, measurement of other odd-order intermodulation distortion such as fifth-order intermodulation distortion or seventh-order intermodulation distortion can be similarly performed.
【0027】また、第1の実施形態において、各素子が
一体的に形成されたモジュール構成を有するダウンミキ
サ100を対象としたが、ダウンミキサ100の構成は
特に限定されるものではない。Although the first embodiment is directed to the down mixer 100 having a module configuration in which each element is integrally formed, the configuration of the down mixer 100 is not particularly limited.
【0028】(第2の実施形態)以下、本発明の第2の
実施形態に係るミキサの歪み解析方法について図面を参
照しながら説明する。(Second Embodiment) A mixer distortion analysis method according to a second embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0029】図5は、図1に示すダウンミキサ(ダウン
ミキサ100)に対して第2の実施形態に係るミキサの
歪み解析方法を実施するためのミキサの歪み測定装置の
構成を示している。FIG. 5 shows a configuration of a mixer distortion measuring apparatus for performing the mixer distortion analysis method according to the second embodiment on the down mixer (down mixer 100) shown in FIG.
【0030】図5に示すように、異なる周波数の2種類
のRF信号を端子RFinに入力するために、端子RF
inには第1のRF信号源501と第2のRF信号源5
02とが接続されている。また、LO信号を端子LOi
nに入力するために、端子LOinにはLO信号源50
3が接続されている。さらに、端子IFoutから出力
されるIF信号を測定するために、端子IFoutには
スペクトラムアナライザ504が接続されている。As shown in FIG. 5, in order to input two kinds of RF signals of different frequencies to the terminal RFin, the terminal RFin
In the first RF signal source 501 and the second RF signal source 5
02 is connected. Also, the LO signal is supplied to the terminal LOi
n, the LO signal source 50 is connected to the terminal LOin.
3 are connected. Further, a spectrum analyzer 504 is connected to the terminal IFout in order to measure an IF signal output from the terminal IFout.
【0031】尚、第2の実施形態において、ダウンミキ
サ100は、各素子(RFアンプ部101、ミキサ部1
02、IFアンプ部103)が一体的に形成されたモジ
ュール構成を有しているものとする。Note that, in the second embodiment, the down mixer 100 includes each element (the RF amplifier section 101, the mixer section 1).
02, IF amplifier section 103) has a module configuration integrally formed.
【0032】図6は第2の実施形態に係るミキサの歪み
解析方法のフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart of a mixer distortion analysis method according to the second embodiment.
【0033】まず、ステップ1において、図2に示すよ
うな、従来のIM3測定方法を用いて、ダウンミキサ1
00全体で発生したIM3を測定する。具体的には、第
1のRF信号源501から端子RFinに周波数RF1
のRF信号を入力すると同時に、第2のRF信号源50
2から端子RFinに周波数RF1と近接した周波数R
F2(RF2>RF1でRF2−RF1=2Df)のR
F信号を入力する。また、LO信号源503から端子L
Oinに周波数RF1よりも小さい周波数LOを有する
LO信号を入力する。そして、周波数RF1のRF信号
に対して端子IFoutから出力される周波数IF1
(=RF1−LO)のIF信号と、周波数RF2のRF
信号に対して端子IFoutから出力される周波数IF
2(=RF2−LO)のIF信号とをスペクトラムアナ
ライザ504により測定すると共に、周波数IF1及び
IF2のIF信号に対して発生する周波数IM3l(=
2IF1−IF2=IF1−2Df)及びIM3u(=
2IF2−IF1=IF2+2Df)のIM3信号をス
ペクトラムアナライザ504により測定する。尚、ここ
で、Df(所定の周波数差)はIF1又はIF2と比べ
て小さいので、周波数IM3l及びIM3uを周波数I
F1及びIF2と同じIF帯域でスペクトラムアナライ
ザ504によって測定することができる。また、前述の
ように(「発明が解決しようとする課題」参照)、周波
数IM3l及びIM3uのIM3信号は、RFアンプ部
101で発生したIM3信号成分と、ミキサ部102で
発生したIM3信号成分と、IFアンプ部103で発生
したIM3信号成分との合計となる。すなわち、ステッ
プ1において、ダウンミキサ100全体で発生したIM
3(以下、第1の相互変調歪みと称する)として、周波
数IM3l及びIM3u(以下、IM3al及びIM3
auと称する)のIM3信号が得られる。First, in step 1, the down mixer 1 is used by using a conventional IM3 measuring method as shown in FIG.
The IM3 generated in the entire 00 is measured. Specifically, the frequency RF1 is supplied from the first RF signal source 501 to the terminal RFin.
Of the second RF signal source 50
From terminal 2 to terminal RFin, frequency R close to frequency RF1
R of F2 (RF2> RF1 and RF2-RF1 = 2Df)
Input the F signal. Further, the terminal L is supplied from the LO signal source 503 to the terminal L.
An LO signal having a frequency LO lower than the frequency RF1 is input to Oin. The frequency IF1 output from the terminal IFout with respect to the RF signal of the frequency RF1
(= RF1−LO) IF signal and frequency RF2 RF signal
Frequency IF output from terminal IFout for signal
2 (= RF2-LO) IF signal is measured by the spectrum analyzer 504, and the frequency IM31 (=
2IF1-IF2 = IF1-2Df) and IM3u (=
The IM3 signal of 2IF2-IF1 = IF2 + 2Df) is measured by the spectrum analyzer 504. Here, since Df (predetermined frequency difference) is smaller than IF1 or IF2, the frequencies IM31 and IM3u are set to the frequency I
It can be measured by the spectrum analyzer 504 in the same IF band as F1 and IF2. Further, as described above (see “Problems to be Solved by the Invention”), the IM3 signals of the frequencies IM31 and IM3u are composed of the IM3 signal component generated by the RF amplifier unit 101 and the IM3 signal component generated by the mixer unit 102. , And the IM3 signal component generated by the IF amplifier 103. That is, in step 1, IM generated in the entire down mixer 100
3 (hereinafter referred to as first intermodulation distortion) as frequencies IM31 and IM3u (hereinafter IM3al and IM3al).
au) is obtained.
【0034】次に、ステップ2において、図3に示すよ
うな、第1の実施形態に係るIM3測定方法を用いて、
IFアンプ部103で発生したIM3を測定する。具体
的には、第1のRF信号源501から端子RFinにL
O信号の周波数LOよりも大きい周波数RF1(RF1
=LO+IF−Df)のRF信号を入力すると同時に、
第2のRF信号源502から端子RFinにLO信号の
周波数LOよりも小さい周波数RF3(=LO−IF−
Df=RF1−2IF)のRF信号を入力する。また、
LO信号源503から端子LOinに周波数LOを有す
るLO信号を入力する。そして、周波数RF1のRF信
号に対して端子IFoutから出力される周波数IF1
(=RF1−LO=IF−Df)のIF信号と、周波数
RF3のRF信号に対して端子IFoutから出力され
る周波数IF2(=LO−RF3=IF+Df=IF1
+2Df)のIF信号とをスペクトラムアナライザ50
4により測定すると共に、周波数IF1及びIF2のI
F信号に対して発生する周波数IM3l(=2IF1−
IF2=IF1−2Df)及びIM3u(=2IF2−
IF1=IF2+2Df)のIM3信号をスペクトラム
アナライザ504により測定する。尚、ここで、Dfは
IF1又はIF2と比べて小さいので、周波数IM3l
及びIM3uを周波数IF1及びIF2と同じIF帯域
でスペクトラムアナライザ504によって測定すること
ができる。一方、第1の実施形態で説明したように、周
波数RF1及びRF3のRF信号を端子RFinに入力
した場合には、周波数IM3l及びIM3uのIM3信
号はIFアンプ部103で発生したIM3信号成分のみ
になる。言い換えると、周波数IM3l及びIM3uの
IM3信号には、RFアンプ部101及びミキサ部10
2で発生したIM3信号成分は含まれていない。従っ
て、ステップ2において、IFアンプ部103で発生し
たIM3(以下、第2の相互変調歪みと称する)とし
て、周波数IM3l及びIM3u(以下、IM3bl及
びIM3buと称する)のIM3信号が得られる。Next, in step 2, using the IM3 measuring method according to the first embodiment as shown in FIG.
The IM3 generated by the IF amplifier unit 103 is measured. Specifically, L from the first RF signal source 501 to the terminal RFin
The frequency RF1 (RF1) that is higher than the frequency LO of the O signal
= LO + IF-Df)
A frequency RF3 (= LO−IF−) smaller than the frequency LO of the LO signal is supplied from the second RF signal source 502 to the terminal RFin.
Df = RF1-2IF). Also,
An LO signal having a frequency LO is input from a LO signal source 503 to a terminal LOin. The frequency IF1 output from the terminal IFout with respect to the RF signal of the frequency RF1
(= RF1-LO = IF-Df) and a frequency IF2 output from the terminal IFout with respect to the RF signal of the frequency RF3 (= LO-RF3 = IF + Df = IF1)
+ 2Df) IF signal with a spectrum analyzer 50
4 and the I of the frequencies IF1 and IF2.
The frequency IM31 (= 2IF1-
IF2 = IF1-2Df) and IM3u (= 2IF2-
The IM3 signal of IF1 = IF2 + 2Df) is measured by the spectrum analyzer 504. Since Df is smaller than IF1 or IF2, the frequency IM31
And IM3u can be measured by spectrum analyzer 504 in the same IF band as frequencies IF1 and IF2. On the other hand, as described in the first embodiment, when the RF signals of the frequencies RF1 and RF3 are input to the terminal RFin, the IM3 signals of the frequencies IM31 and IM3u include only the IM3 signal component generated by the IF amplifier 103. Become. In other words, the RF amplifier unit 101 and the mixer unit 10 provide the IM3 signals of the frequencies IM31 and IM3u.
2 does not include the IM3 signal component generated. Therefore, in step 2, IM3 signals of frequencies IM31 and IM3u (hereinafter, referred to as IM3bl and IM3bu) are obtained as IM3 (hereinafter, referred to as second intermodulation distortion) generated in the IF amplifier unit 103.
【0035】次に、ステップ3において、ステップ1で
得られた第1の相互変調歪みと、ステップ2で得られた
第2の相互変調歪みとを比較する。Next, in step 3, the first intermodulation distortion obtained in step 1 is compared with the second intermodulation distortion obtained in step 2.
【0036】以上に説明したように、第2の実施形態に
よると、ダウンミキサ100全体で発生したIM3を第
1の相互変調歪みとして測定すると共にIFアンプ部1
03で発生したIM3を第2の相互変調歪みとして測定
した後、第1の相互変調歪みと第2の相互変調歪みとを
比較する。このため、IFアンプ部103で発生したI
M3と、RFアンプ部101及びミキサ部102で発生
したIM3とをそれぞれ分離して確認できるので、ダウ
ンミキサ100のどの部分でIM3が発生しているのか
を確実に解析できる。As described above, according to the second embodiment, the IM3 generated in the entire downmixer 100 is measured as the first intermodulation distortion, and the IF amplifier 1
After measuring IM3 generated in 03 as the second intermodulation distortion, the first intermodulation distortion is compared with the second intermodulation distortion. For this reason, the I
Since M3 and IM3 generated in the RF amplifier unit 101 and the mixer unit 102 can be separately confirmed, it is possible to reliably analyze in which part of the down mixer 100 the IM3 is generated.
【0037】尚、第2の実施形態において、第1の相互
変調歪みと第2の相互変調歪みとの比較結果に基づいて
IFアンプ部103の検査又は調整を行なってもよい。
このようにすると、ダウンミキサ100の全体で発生し
たIM3に対するIFアンプ部103で発生したIM3
の度合いがわかるので、例えばIFアンプ部103が不
良かどうかの検査、又はIM3を低減するためのIFア
ンプ部103の調整を確実に行なうことができる。In the second embodiment, the IF amplifier 103 may be inspected or adjusted based on the result of comparison between the first intermodulation distortion and the second intermodulation distortion.
By doing so, the IM3 generated in the IF amplifier unit 103 with respect to the IM3 generated in the entire down mixer 100
Therefore, for example, it is possible to reliably test whether the IF amplifier unit 103 is defective or to adjust the IF amplifier unit 103 to reduce IM3.
【0038】また、第2の実施形態において、相互変調
歪みとしてIM3(3次相互変調歪み)を測定したが、
測定対象の相互変調歪みは特に限定されるものではな
く、例えば5次相互変調歪み又は7次相互変調歪み等の
他の奇数次の相互変調歪みの測定についても同様に行な
うことができる。In the second embodiment, IM3 (third-order intermodulation distortion) was measured as intermodulation distortion.
The intermodulation distortion to be measured is not particularly limited. For example, measurement of other odd-order intermodulation distortion such as fifth-order intermodulation distortion or seventh-order intermodulation distortion can be similarly performed.
【0039】また、第2の実施形態において、各素子が
一体的に形成されたモジュール構成を有するダウンミキ
サ100を対象としたが、ダウンミキサ100の構成は
特に限定されるものではない。Although the second embodiment is directed to the down mixer 100 having a module configuration in which each element is integrally formed, the configuration of the down mixer 100 is not particularly limited.
【0040】また、第2の実施形態において、ダウンミ
キサ100全体で発生したIM3を測定した(ステップ
1)後、IFアンプ部103で発生したIM3を測定し
た(ステップ2)が、これに代えて、IFアンプ部10
3で発生したIM3を測定した後、ダウンミキサ100
全体で発生したIM3を測定してもよい。In the second embodiment, after measuring IM3 generated in the entire down mixer 100 (step 1), IM3 generated in the IF amplifier 103 is measured (step 2). , IF amplifier section 10
After measuring IM3 generated in the downmixer 3, the downmixer 100
The IM3 generated as a whole may be measured.
【0041】また、第2の実施形態において、ステップ
1及びステップ2で端子RFinに周波数RF1のRF
信号を入力したが、該RF信号の周波数をステップ1及
びステップ2で必ずしも同一にしなくてもよい。但し、
LO信号の周波数LO及び所定の周波数差Dfについて
は、ステップ1及びステップ2で同一にすることが好ま
しい。In the second embodiment, the RF of the frequency RF1 is applied to the terminal RFin in steps 1 and 2.
Although the signal is input, the frequency of the RF signal does not necessarily have to be the same in step 1 and step 2. However,
It is preferable that the frequency LO of the LO signal and the predetermined frequency difference Df be the same in Step 1 and Step 2.
【0042】[0042]
【発明の効果】本発明によると、中間周波信号の周波数
帯域で測定される相互変調歪みは第2の増幅部で発生し
た相互変調歪みのみになるので、第2の増幅部で発生し
た相互変調歪みを、第1の増幅部及びミキサ部で発生し
た相互変調歪みと分離して測定することができる。この
ため、ミキサのどの部分で相互変調歪みが発生している
のかを容易に解析できるので、例えば第2の増幅部つま
りIFアンプ部が不良かどうかの検査又は相互変調歪み
を低減するためのIFアンプ部の調整を容易に行なうこ
とができる。According to the present invention, since the intermodulation distortion measured in the frequency band of the intermediate frequency signal is only the intermodulation distortion generated in the second amplifier, the intermodulation distortion generated in the second amplifier is generated. The distortion can be measured separately from the intermodulation distortion generated in the first amplifier and the mixer. For this reason, it is possible to easily analyze in which part of the mixer the intermodulation distortion is occurring, so that, for example, the second amplifying unit, that is, the IF amplifier unit is inspected for defects or the IF for reducing the intermodulation distortion. The adjustment of the amplifier section can be easily performed.
【図1】一般的なダウンミキサの回路構造を基本的な構
成要素に分けて示した図である。FIG. 1 is a diagram showing a circuit structure of a general down mixer divided into basic components.
【図2】従来のIM3測定方法におけるダウンミキサの
動作を示すスペクトラムである。FIG. 2 is a spectrum showing an operation of a down mixer in a conventional IM3 measurement method.
【図3】本発明の第1の実施形態に係るミキサの歪み測
定方法におけるダウンミキサの動作を示すスペクトラム
である。FIG. 3 is a spectrum showing an operation of the down mixer in the mixer distortion measuring method according to the first embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第1の実施形態に係るミキサの歪み測
定方法において周波数RF1及びRF3のRF信号に対
してRFアンプ部で発生するIM3信号成分を示す図で
ある。FIG. 4 is a diagram showing IM3 signal components generated in an RF amplifier for RF signals of frequencies RF1 and RF3 in the mixer distortion measuring method according to the first embodiment of the present invention.
【図5】本発明の第2の実施形態に係るミキサの歪み解
析方法を実施するためのミキサの歪み測定装置の構成を
示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a mixer distortion measuring device for performing a mixer distortion analysis method according to a second embodiment of the present invention.
【図6】本発明の第2の実施形態に係るミキサの歪み解
析方法のフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart of a mixer distortion analysis method according to a second embodiment of the present invention.
100 ダウンミキサ 101 RFアンプ部 102 ミキサ部 103 IFアンプ部 501 第1のRF信号源 502 第2のRF信号源 503 LO信号源 504 スペクトラムアナライザ RFin 端子 LOin 端子 IFout 端子 REFERENCE SIGNS LIST 100 Down mixer 101 RF amplifier unit 102 Mixer unit 103 IF amplifier unit 501 First RF signal source 502 Second RF signal source 503 LO signal source 504 Spectrum analyzer RFin terminal LOin terminal IFout terminal
Claims (3)
局部発信信号が入力される第2の端子と、前記高周波信
号を増幅する第1の増幅部と、前記第1の増幅部により
増幅された前記高周波信号及び前記局部発信信号を前記
各信号の周波数の差を周波数として有する中間周波信号
に変換するミキサ部と、前記中間周波信号を増幅する第
2の増幅部と、前記第2の増幅部により増幅された前記
中間周波信号が出力される第3の端子とを備えたダウン
ミキサに生じる相互変調歪みを測定するためのミキサの
歪み測定方法であって、 前記局部発信信号の周波数よりも大きい周波数を有する
第1の高周波信号と、前記局部発信信号の周波数よりも
小さい周波数を有する第2の高周波信号とを前記第1の
端子に同時に入力することによって、前記第3の端子か
ら出力される前記中間周波信号に対して生じる相互変調
歪みを測定する工程を備えていることを特徴とするミキ
サの歪み測定方法。A first terminal to which a high-frequency signal is input;
A second terminal to which a local oscillation signal is input; a first amplification unit that amplifies the high-frequency signal; and a high-frequency signal amplified by the first amplification unit and the local oscillation signal, the frequency of each of the signals. A mixer for converting the intermediate frequency signal into an intermediate frequency signal having a frequency difference, a second amplifier for amplifying the intermediate frequency signal, and a third for outputting the intermediate frequency signal amplified by the second amplifier. And a terminal for measuring intermodulation distortion generated in a down-mixer, comprising: a first high-frequency signal having a frequency higher than a frequency of the local oscillation signal; and a local oscillation signal. And a second high-frequency signal having a frequency lower than that of the first terminal is simultaneously input to the first terminal, whereby a phase generated for the intermediate frequency signal output from the third terminal A method for measuring distortion of a mixer, comprising a step of measuring intermodulation distortion.
局部発信信号が入力される第2の端子と、前記高周波信
号を増幅する第1の増幅部と、前記第1の増幅部により
増幅された前記高周波信号及び前記局部発信信号を前記
各信号の周波数の差を周波数として有する中間周波信号
に変換するミキサ部と、前記中間周波信号を増幅する第
2の増幅部と、前記第2の増幅部により増幅された前記
中間周波信号が出力される第3の端子とを備えたダウン
ミキサに生じる相互変調歪みを解析するためのミキサの
歪み解析方法であって、 前記局部発信信号の周波数よりも大きく且つ互いに異な
る周波数を有する2つの高周波信号を前記第1の端子に
同時に入力することによって、前記第3の端子から出力
される前記中間周波信号に対して生じる第1の相互変調
歪みを測定する工程と、 前記局部発信信号の周波数よりも大きい周波数を有する
第1の高周波信号と、前記局部発信信号の周波数よりも
小さい周波数を有する第2の高周波信号とを前記第1の
端子に同時に入力することによって、前記第3の端子か
ら出力される前記中間周波信号に対して生じる第2の相
互変調歪みを測定する工程と、 前記第1の相互変調歪みと前記第2の相互変調歪みとを
比較する工程とを備えていることを特徴とするミキサの
歪み解析方法。2. A first terminal to which a high-frequency signal is input,
A second terminal to which a local oscillation signal is input; a first amplification unit that amplifies the high-frequency signal; and a high-frequency signal amplified by the first amplification unit and the local oscillation signal, the frequency of each of the signals. A mixer for converting the intermediate frequency signal into an intermediate frequency signal having a frequency difference, a second amplifier for amplifying the intermediate frequency signal, and a third for outputting the intermediate frequency signal amplified by the second amplifier. And a method for analyzing intermodulation distortion generated in a down mixer having the following terminals: a first high frequency signal having a frequency higher than a frequency of the local oscillation signal and different from each other, Measuring a first intermodulation distortion caused on the intermediate frequency signal output from the third terminal by simultaneously inputting the signals to the terminals; By simultaneously inputting a first high-frequency signal having a frequency greater than a number and a second high-frequency signal having a frequency lower than the frequency of the local oscillation signal to the first terminal, the third terminal Measuring a second intermodulation distortion generated with respect to the intermediate frequency signal output from the first and second intermodulation distortions; and comparing the first intermodulation distortion with the second intermodulation distortion. A distortion analysis method for a mixer.
互変調歪みとの比較結果に基づいて前記第2の増幅部の
検査又は調整を行なう工程をさらに備えていることを特
徴とする請求項2に記載のミキサの歪み解析方法。3. The method according to claim 2, further comprising a step of inspecting or adjusting the second amplifying unit based on a comparison result between the first intermodulation distortion and the second intermodulation distortion. A method for analyzing distortion of a mixer according to claim 2.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001144077A JP2002340947A (en) | 2001-05-15 | 2001-05-15 | Mixer distortion measurement method and mixer distortion analysis method |
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2001-05-15 JP JP2001144077A patent/JP2002340947A/en active Pending
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