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JP2003059909A - Discharge plasma treatment apparatus and processing method using the same - Google Patents

Discharge plasma treatment apparatus and processing method using the same

Info

Publication number
JP2003059909A
JP2003059909A JP2001248042A JP2001248042A JP2003059909A JP 2003059909 A JP2003059909 A JP 2003059909A JP 2001248042 A JP2001248042 A JP 2001248042A JP 2001248042 A JP2001248042 A JP 2001248042A JP 2003059909 A JP2003059909 A JP 2003059909A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrodes
discharge
discharge plasma
electrode
treated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001248042A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Satoshi Mayumi
聡 真弓
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sekisui Chemical Co Ltd filed Critical Sekisui Chemical Co Ltd
Priority to JP2001248042A priority Critical patent/JP2003059909A/en
Publication of JP2003059909A publication Critical patent/JP2003059909A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a discharge plasma treatment apparatus which has a plurality of discharge spaces, can avoid overlapped device facilities, and can generate a discharge plasma independently in each discharge space. SOLUTION: In the discharge plasma treatment apparatus, three or more opposing electrodes having at least one opposing surface of the counter electrodes covered with solid dielectric are used to apply an electric field to the region between the electrodes having two or more discharge spaces, and to generate a discharge plasma. Application ones of the plurality of electrodes are connected to a single power supply.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、放電プラズマ処理
装置に関し、特に複数枚の電極を使用した放電装置にお
いて印加電極への電源を共有化することで、設備の重複
を防ぎ、かつプラズマ放電を電極間で独立に制御できる
放電プラズマ処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric discharge plasma processing apparatus, and in particular, in an electric discharge apparatus using a plurality of electrodes, by sharing a power source for the applying electrodes, it is possible to prevent equipment duplication and to perform plasma discharge. The present invention relates to a discharge plasma processing apparatus that can control electrodes independently.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、低圧条件下でグロー放電プラ
ズマを発生させて被処理体の表面処理、又は被処理体上
に薄膜形成を行う方法が実用化されている。しかし、こ
れらの低圧条件下における処理は、真空チャンバー、真
空排気装置等が必要であり、表面処理装置は高価なもの
となり、大面積基板等を処理する際にはほとんど用いら
れていなかった。このため、大気圧近傍の圧力下で放電
プラズマを発生させる方法が提案されてきている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a method of generating a glow discharge plasma under a low pressure condition to surface-treat an object or to form a thin film on the object has been put into practical use. However, the treatment under these low pressure conditions requires a vacuum chamber, a vacuum exhaust device, etc., and the surface treatment device becomes expensive, and it has hardly been used when treating a large area substrate or the like. Therefore, a method of generating discharge plasma under a pressure near atmospheric pressure has been proposed.

【0003】一般的な常圧プラズマ処理方法としては、
特開平6−2149号公報、特開平7−85997号公
報等に記載されているように、主に処理槽内部におい
て、固体誘電体等で被覆した平行平板型電極間に被処理
体を設置し、処理槽に処理ガスを導入し、電極間に電圧
を印加し、発生したプラズマで被処理体を処理する方法
が採られている。このような方法によると、一つの放電
空間で被処理体を処理することになり、様々な処理要求
に対応できないという問題があった。
As a general atmospheric pressure plasma processing method,
As described in JP-A-6-2149 and JP-A-7-85997, an object to be processed is installed mainly inside a processing tank between parallel plate electrodes covered with a solid dielectric or the like. A method is adopted in which a processing gas is introduced into a processing tank, a voltage is applied between electrodes, and an object to be processed is treated with generated plasma. According to such a method, the object to be processed is processed in one discharge space, and there is a problem that various processing requirements cannot be met.

【0004】また、被処理体の特定部分のみにプラズマ
処理を行いやすく、しかも被処理物を連続的に処理する
ことができる装置として、先端にプラズマガス吹き出し
口を有するリモート型プラズマ処理装置が開発されてき
ている。例えば、特開平11−251304号公報及び
特開平11−260597号公報には、外側電極を備え
た筒状の反応管及び反応管の内部に内側電極を具備し、
両電極に冷却手段を設け、反応管内部でグロー放電を発
生させ、反応管からプラズマジェットを吹き出して被処
理体に吹きつけるプラズマ処理装置が開示されている。
しかしながら、上記装置においては、交流によって発生
したプラズマを利用しているため、高温化するものを冷
却するというプロセスを含まざるを得ず、効率を悪く
し、未だストリーマ放電が起こりやすいという問題を有
していると同時に、プラズマを発生させる放電空間が単
純な一室タイプのものであるので、半導体素子の製造工
程におけるCVD法による複合酸化物薄膜の形成、積層
薄膜の形成、エッチング処理、アッシング処理等の複雑
な処理に十分に対応できないという問題もあった。
Further, a remote type plasma processing apparatus having a plasma gas blow-out port at its tip has been developed as an apparatus which can easily perform plasma processing only on a specific portion of an object to be processed and can continuously process the object. Has been done. For example, in JP-A-11-251304 and JP-A-11-26097, a cylindrical reaction tube having an outer electrode and an inner electrode is provided inside the reaction tube,
There is disclosed a plasma processing apparatus in which both electrodes are provided with a cooling means, glow discharge is generated inside the reaction tube, and a plasma jet is blown from the reaction tube to blow it onto a target object.
However, in the above apparatus, since the plasma generated by the alternating current is used, it is unavoidable to include a process of cooling the one which becomes high temperature, which causes a problem that efficiency is deteriorated and streamer discharge is still likely to occur. At the same time, since the discharge space for generating plasma is a simple one-chamber type, complex oxide thin film formation, laminated thin film formation, etching treatment, and ashing treatment by the CVD method in the semiconductor element manufacturing process are performed. There is also a problem that it is not possible to sufficiently deal with complicated processing such as.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題に
鑑み、放電プラズマ処理装置において、複数の放電空間
を有しながらも、装置的に設備の重複を防ぎ、かつ、複
数の放電空間毎に独立で放電プラズマを発生させること
ができる装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above problems, the present invention is directed to a discharge plasma processing apparatus, which has a plurality of discharge spaces but prevents the equipment from duplicating equipment, and also has a plurality of discharge spaces. It is an object of the present invention to provide an apparatus capable of independently generating discharge plasma.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明者は、上記課題を
解決すべく鋭意研究した結果、電極板を3枚以上使用し
て放電空間を2つ以上設ける放電プラズマ処理装置にお
ける複数印加電極と電源との接続を共有化し、さらに、
好ましくは印加電圧ケーブルにスイッチを設けることに
より、設備の重複を防ぎ電極間で独立にプラズマ放電を
制御できることを見出し、本発明を完成させた。
As a result of intensive studies to solve the above-mentioned problems, the present inventor has found that a plurality of electrode plates are used in a discharge plasma processing apparatus in which two or more discharge spaces are provided by using three or more electrode plates. Sharing the connection with the power supply,
The present invention has been completed based on the finding that it is possible to prevent duplication of equipment and control plasma discharge independently between electrodes by preferably providing a switch on the applied voltage cable.

【0007】すなわち、本発明の第1の発明は、対向電
極の少なくとも一方の対向面が固体誘電体で被覆された
電極を3枚以上使用して放電空間を2つ以上設けた電極
間に電界を印加して放電プラズマを発生させる放電プラ
ズマ処理装置であって、複数の電極の印加電極を一つの
電源に接続してなることを特徴とする放電プラズマ処理
装置である。
That is, the first aspect of the present invention is to use an electric field between two electrodes having two or more discharge spaces by using three or more electrodes each having at least one opposing surface of the opposing electrode covered with a solid dielectric. Is a discharge plasma processing apparatus for generating discharge plasma by applying a voltage, wherein the application electrodes of a plurality of electrodes are connected to one power source.

【0008】また、本発明の第2の発明は、複数の電極
の印加電極を一つの電源に接続し、印加電極毎にON/
OFF制御をつけてなることを特徴とする第1の発明に
記載の放電プラズマ処理装置である。
In the second aspect of the present invention, the application electrodes of a plurality of electrodes are connected to one power source, and each of the application electrodes is turned ON / OFF.
The discharge plasma processing apparatus according to the first invention is characterized by being turned off.

【0009】また、本発明の第3の発明は、複数の電極
の印加電極を一つの電源に接続し、印加電極毎にON/
OFF制御をつけてなる印加電極と接地電極間で励起さ
れた処理ガスのプラズマを放電空間外に設置された被処
理基材に吹き付けてなることを特徴とする第1又は2の
発明に記載の放電プラズマ処理装置である。
Further, according to a third aspect of the present invention, the application electrodes of a plurality of electrodes are connected to one power source, and each of the application electrodes is turned ON / OFF.
The plasma of a processing gas excited between an application electrode and a ground electrode, which is controlled to be turned off, is sprayed onto a substrate to be processed installed outside the discharge space, according to the first or second invention. It is a discharge plasma processing apparatus.

【0010】また、本発明の第4の発明は、複数の電極
の印加電極を一つの電源に接続し、印加電極毎にON/
OFF制御をつけてなる印加電極と接地電極間に被処理
基材を設置し、電極間で励起された処理ガスで被処理基
材表面を処理することを特徴とする第1又は2の発明に
記載の放電プラズマ処理装置である。
In a fourth aspect of the present invention, the application electrodes of a plurality of electrodes are connected to one power source, and each of the application electrodes is turned ON / OFF.
In the first or second invention, the substrate to be treated is installed between an application electrode and a ground electrode which are controlled to be turned off, and the surface of the substrate to be treated is treated with a treatment gas excited between the electrodes. It is the discharge plasma processing apparatus described.

【0011】また、本発明の第5の発明は、複数の電極
の印加電極を一つの電源に接続し、印加電極毎にON/
OFF制御をつけてなる印加電極と接地電極間に被処理
基材を設置し、電極間で励起された処理ガスのプラズマ
で被処理基材表面を処理する装置であって、接地電極上
の被処理基材の両面を同時に放電プラズマ処理すること
を特徴とする第1又は2の発明に記載の放電プラズマ処
理装置である。
Further, in a fifth aspect of the present invention, the application electrodes of a plurality of electrodes are connected to one power source, and each of the application electrodes is turned ON / OFF.
An apparatus for treating a surface of a substrate to be treated with plasma of a process gas excited between the electrodes, the substrate to be treated being installed between an application electrode and a ground electrode, which are controlled to be off. The discharge plasma processing apparatus according to the first or second invention is characterized in that both surfaces of the processing base material are simultaneously subjected to discharge plasma processing.

【0012】また、本発明の第6の発明は、電界が、電
圧立ち上がり時間が10μs以下、電界強度が10〜1
000kV/cmのパルス状電界であることを特徴とす
る第1〜5のいずれかの発明に記載の放電プラズマ処理
装置である。
The sixth aspect of the present invention is that the electric field has a voltage rise time of 10 μs or less and an electric field strength of 10 to 1
The discharge plasma processing apparatus according to any one of the first to fifth aspects, wherein the electric field is a pulsed electric field of 000 kV / cm.

【0013】また、本発明の第7の発明は、第1〜6の
いずれかの発明に記載の放電プラズマ処理装置を用いて
被処理基材を処理する放電プラズマ処理方法である。
A seventh invention of the present invention is a discharge plasma processing method for processing a substrate to be processed using the discharge plasma processing apparatus according to any one of the first to sixth inventions.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明の放電プラズマ処理装置
は、対向する電極の少なくとも一方の対向面が固体誘電
体で被覆された3枚以上の複数の電極を用いて、対向す
る電極間に形成される放電空間を2つ以上設け、その放
電空間に処理ガスを流通させ、複数の印加電極に電界を
印加させる際、印加電極に接続する電源を共有化して、
一つの電源に接続して各電極毎に別個とせず、設備の重
複を防ぐことのできる装置である。また、大気圧近傍の
圧力下で、複数の放電空間に処理ガスを流通させ、各印
加電極毎に電界、好ましくはパルス状の電界を印加電圧
ケーブルにスイッチを設けて印加し、放電空間毎に発生
する放電プラズマを制御できるようにすることにより、
被処理基材を様々な用途向けに処理ができる装置であ
る。以下に詳細に本発明を説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The discharge plasma processing apparatus of the present invention uses three or more electrodes in which at least one opposing surface of the opposing electrodes is covered with a solid dielectric, and is formed between the opposing electrodes. When two or more discharge spaces are provided, the processing gas is circulated in the discharge spaces, and when an electric field is applied to the plurality of application electrodes, the power supply connected to the application electrodes is shared,
It is a device that can prevent duplication of equipment by connecting to one power source and not separately for each electrode. Further, under a pressure near the atmospheric pressure, a processing gas is circulated in a plurality of discharge spaces, and an electric field, preferably a pulsed electric field, is applied to each applied electrode by providing a switch on an applied voltage cable and applied to each discharge space. By making it possible to control the discharge plasma that is generated,
It is a device that can process the substrate to be processed for various purposes. The present invention will be described in detail below.

【0015】本発明の装置の一例を図で説明する。図1
は、3枚の電極を用い、2つの電極間に放電空間を形成
し、2つの放電空間で発生する放電プラズマで放電空間
外にある被処理基材を処理する装置を説明する模式的図
である。印加電極2及び3は電源1に印加電圧ケーブル
を介して接続されているが、それぞれのケーブルにスイ
ッチ5及び6が設けられている。ただし、図中には記載
されていないが、各電極の対向面は、固体誘電体で被覆
されている。接地電極4と印加電極2の間に放電空間7
を形成し、また接地電極4と印加電極3の間に放電空間
8を形成し、ロール12と13で移動される搬送ベルト
11上に載せられた被処理基材10が放電空間7及び8
で発生する放電プラズマで処理される。放電空間7及び
8は、スイッチ5及び6をON/OFF制御することに
より、放電条件を独立で制御することができる。最初の
プラズマのみで処理を行う場合は、5のスイッチをON
にしておき、6のスイッチをOFFにすることにより処
理を行う、また、その逆も可能であり、同時にONにし
て処理をさらに進ませることもできる。さらに、各放電
空間に別個の処理ガスを流通させることにより特殊な処
理を行うこともできる。
An example of the device of the present invention will be described with reference to the drawings. Figure 1
Is a schematic diagram illustrating an apparatus that uses three electrodes to form a discharge space between two electrodes and that processes a substrate to be processed outside the discharge space with discharge plasma generated in the two discharge spaces. is there. The application electrodes 2 and 3 are connected to the power supply 1 via an applied voltage cable, and switches 5 and 6 are provided on each cable. However, although not shown in the drawing, the facing surface of each electrode is covered with a solid dielectric. A discharge space 7 is provided between the ground electrode 4 and the application electrode 2.
And the discharge space 8 is formed between the ground electrode 4 and the application electrode 3, and the substrate 10 to be treated placed on the conveyor belt 11 moved by the rolls 12 and 13 is the discharge spaces 7 and 8.
Is treated with the discharge plasma generated in. The discharge conditions of the discharge spaces 7 and 8 can be independently controlled by ON / OFF controlling the switches 5 and 6. When processing only with the first plasma, turn on switch 5
Then, the process is performed by turning off the switch of 6, and vice versa, and it is possible to turn on the process at the same time to further advance the process. Further, special processing can be performed by circulating a separate processing gas in each discharge space.

【0016】図2は、3枚の電極を用い、2つの放電空
間を形成し、放電空間内を被処理基材を移動させ、放電
空間で発生する放電プラズマで処理する装置を説明する
模式的図である。印加電極2及び3は電源1に印加電圧
ケーブルを介して接続されているが、それぞれのケーブ
ルにスイッチ5及び6が設けられている。接地電極4は
ロール12と13で移動される搬送ベルトを兼ね、接地
電極4と印加電極2の間に放電空間7を形成し、また接
地電極4と印加電極3の間に放電空間8を形成し、ロー
ル12と13で移動される搬送ベルを兼ねた接地電極4
上に載せられた被処理基材10が放電空間7及び8で発
生する放電プラズマ中で処理される。ただし、図中には
記載されていないが、各電極の対向面は、固体誘電体で
被覆されている。放電空間7及び8は、スイッチ5及び
6をON/OFF制御することにより、放電条件を独立
で制御することができる。例えば、最初のプラズマのみ
で処理される場合は、5のスイッチをONにしておき、
6のスイッチをOFFにすることにより処理を行う、ま
た、その逆も可能であり、同時にONにして処理をさら
に進ませることもできる。さらに、各放電空間に別個の
処理ガスを流通させることにより特殊な処理を行うこと
もできる。
FIG. 2 is a schematic diagram for explaining an apparatus in which two discharge spaces are formed by using three electrodes, a substrate to be processed is moved in the discharge spaces, and the discharge plasma generated in the discharge space is used for processing. It is a figure. The application electrodes 2 and 3 are connected to the power supply 1 via an applied voltage cable, and switches 5 and 6 are provided on each cable. The ground electrode 4 also functions as a conveyor belt that is moved by the rolls 12 and 13, forms a discharge space 7 between the ground electrode 4 and the applying electrode 2, and forms a discharge space 8 between the ground electrode 4 and the applying electrode 3. And the ground electrode 4 also serving as a conveyor bell that is moved by the rolls 12 and 13.
The substrate 10 to be treated placed thereon is treated in the discharge plasma generated in the discharge spaces 7 and 8. However, although not shown in the drawing, the facing surface of each electrode is covered with a solid dielectric. The discharge conditions of the discharge spaces 7 and 8 can be independently controlled by ON / OFF controlling the switches 5 and 6. For example, when processing only with the first plasma, turn on the switch of 5,
The processing can be performed by turning off the switch of 6, and vice versa, and the processing can be further advanced by turning on at the same time. Further, special processing can be performed by circulating a separate processing gas in each discharge space.

【0017】図3は、3枚の電極を用い、2つの放電空
間を形成し、放電空間内を被処理基材を移動させ、放電
空間で発生する放電プラズマで被処理基材の表裏両面を
処理する装置を説明する模式的図である。印加電極2及
び3は電源1に印加電圧ケーブルを介して接続されてい
るが、それぞれのケーブルにスイッチ5及び6が設けら
れている。接地電極4はロール12と13で移動される
搬送ベルトを兼ね、接地電極4と印加電極2の間に放電
空間7を形成し、さらに、接地電極4’はロール12’
と13’で移動される搬送ベルトを兼ね、接地電極4’
と印加電極2の間に放電空間7’を形成し、また、接地
電極4及び4’と印加電極3の間に放電空間8を形成
し、ロール12と13で移動される搬送ベルを兼ねた接
地電極4上に載せられた被処理基材10の上面が放電空
間7及び7’で発生する放電プラズマ中で処理される。
同時に、接地電極4及び4’と印加電極3の間の放電空
間8で被処理基材10の裏面が処理される。ただし、図
中には記載されていないが、各電極の対向面は、固体誘
電体で被覆されている。この場合も必要に応じて、スイ
ッチ5又は6をON/OFFすることにより被処理基材
の表裏両面の所望の位置を処理することができる。さら
に、各放電空間に別個の処理ガスを流通させることによ
り特殊な処理を行うこともできる。
In FIG. 3, three electrodes are used to form two discharge spaces, a substrate to be treated is moved in the discharge space, and both sides of the substrate to be treated are discharged by discharge plasma generated in the discharge space. It is a schematic diagram explaining the apparatus which processes. The application electrodes 2 and 3 are connected to the power supply 1 via an applied voltage cable, and switches 5 and 6 are provided on each cable. The ground electrode 4 also serves as a conveyor belt that is moved by the rolls 12 and 13, forms a discharge space 7 between the ground electrode 4 and the application electrode 2, and further, the ground electrode 4'is a roll 12 '.
And the grounding electrode 4 ', which also serves as a conveyor belt to be moved by 13'
A discharge space 7'is formed between the application electrode 2 and the application electrode 2, and a discharge space 8 is formed between the ground electrodes 4 and 4'and the application electrode 3 and also serves as a conveyance bell moved by the rolls 12 and 13. The upper surface of the substrate 10 to be treated placed on the ground electrode 4 is treated in the discharge plasma generated in the discharge spaces 7 and 7 '.
At the same time, the back surface of the substrate 10 to be treated is treated in the discharge space 8 between the ground electrodes 4 and 4 ′ and the applying electrode 3. However, although not shown in the drawing, the facing surface of each electrode is covered with a solid dielectric. Also in this case, by turning ON / OFF the switch 5 or 6 as required, desired positions on both front and back surfaces of the substrate to be treated can be treated. Further, special processing can be performed by circulating a separate processing gas in each discharge space.

【0018】このように印加電源を共有化することによ
り、設備の重複を防ぐことができ、コストの低減と設備
の小型化が可能となる。さらに、それぞれの印加電圧ケ
ーブルにON/OFFスイッチを設け、独立の制御をす
ることにより、被処理基材毎の処理変更を容易に行うこ
とができる。また、搬送ベルトを兼ねる2種類の接地電
極の配置を工夫することにより被処理基材の両面を同時
に処理することができる利点を有する。
By sharing the applied power supply in this manner, it is possible to prevent the equipment from overlapping, and it is possible to reduce the cost and downsize the equipment. Furthermore, by providing an ON / OFF switch for each applied voltage cable and performing independent control, it is possible to easily change the treatment for each substrate to be treated. Further, there is an advantage that both surfaces of the substrate to be treated can be simultaneously treated by devising the arrangement of the two types of ground electrodes which also serve as the conveyor belt.

【0019】上記対向する電極の材質としては、銅、ア
ルミニウム等の金属単体、ステンレス、真鍮等の合金、
金属間化合物等からなるものが挙げられる。
The materials of the opposing electrodes are simple metals such as copper and aluminum, alloys such as stainless steel and brass,
Those made of intermetallic compounds and the like can be mentioned.

【0020】上記対向電極は、電界集中によるアーク放
電の発生を避けるために、対向電極間の距離が略一定と
なる構造であることが好ましい。この条件を満たす電極
構造としては、例えば、平行平板型、円筒対向平板型、
球対向平板型、双曲面対向平板型、同軸円筒型構造等が
挙げられるが、本発明では、3枚以上の電極を用いるこ
とから、平行平板型が好ましい。
The counter electrodes preferably have a structure in which the distance between the counter electrodes is substantially constant in order to avoid generation of arc discharge due to electric field concentration. As an electrode structure satisfying this condition, for example, a parallel plate type, a cylinder facing plate type,
Examples include a sphere-opposed flat plate type, a hyperboloid-opposed flat plate type, and a coaxial cylindrical structure. In the present invention, a parallel flat plate type is preferable because three or more electrodes are used.

【0021】上記電極を被覆する固体誘電体は、電極の
対向面の一方又は双方に設置される。この際、固体誘電
体と設置される側の電極とが密着し、かつ、接する電極
の対向面を完全に覆うようにする。固体誘電体によって
覆われずに電極同士が直接対向する部位があると、そこ
からアーク放電が生じやすい。
The solid dielectric covering the electrodes is placed on one or both of the facing surfaces of the electrodes. At this time, the solid dielectric and the electrode on the installed side are in close contact with each other, and the facing surface of the contacting electrode is completely covered. If there is a portion where the electrodes directly face each other without being covered with the solid dielectric, arc discharge easily occurs from there.

【0022】上記固体誘電体の形状は、シート状でもフ
ィルム状でもよいが、厚みが0.01〜4mmであるこ
とが好ましい。厚すぎると放電プラズマを発生するのに
高電圧を要し、薄すぎると電圧印加時に絶縁破壊が起こ
りアーク放電が発生しやすい。
The solid dielectric may have a sheet shape or a film shape, but preferably has a thickness of 0.01 to 4 mm. If it is too thick, a high voltage is required to generate discharge plasma, and if it is too thin, dielectric breakdown occurs when a voltage is applied and arc discharge easily occurs.

【0023】上記固体誘電体の材質としては、例えば、
ポリテトラフルオロエチレン、ポリエチレンテレフタレ
ート等のプラスチック、ガラス、二酸化珪素、酸化アル
ミニウム、二酸化ジルコニウム、二酸化チタン等の金属
酸化物、チタン酸バリウム等の複酸化物、及びこれらの
複層化したもの等が挙げられる。
As the material of the solid dielectric, for example,
Examples thereof include plastics such as polytetrafluoroethylene and polyethylene terephthalate, glass, metal oxides such as silicon dioxide, aluminum oxide, zirconium dioxide and titanium dioxide, complex oxides such as barium titanate, and those having a multilayer structure. To be

【0024】また、上記固体誘電体は、比誘電率が2以
上(25℃環境下、以下同じ)であることが好ましい。
比誘電率が2以上の誘電体の具体例としては、ポリテト
ラフルオロエチレン、ガラス、金属酸化膜等を挙げるこ
とができる。さらに高密度の放電プラズマを安定して発
生させるためには、比誘電率が10以上の固定誘電体を
用いことが好ましい。比誘電率の上限は特に限定される
ものではないが、現実の材料では18,500程度のも
のが知られている。比誘電率が10以上の固体誘電体と
しては、例えば、酸化チタニウム5〜50重量%、酸化
アルミニウム50〜95重量%で混合された金属酸化物
皮膜、または、酸化ジルコニウムを含有する金属酸化物
皮膜からなるものが好ましい。
The solid dielectric material preferably has a relative dielectric constant of 2 or more (in a 25 ° C. environment, the same applies hereinafter).
Specific examples of the dielectric material having a relative dielectric constant of 2 or more include polytetrafluoroethylene, glass, metal oxide film and the like. In order to stably generate high-density discharge plasma, it is preferable to use a fixed dielectric having a relative dielectric constant of 10 or more. Although the upper limit of the relative permittivity is not particularly limited, it is known that the actual dielectric constant is about 18,500. As the solid dielectric having a relative dielectric constant of 10 or more, for example, a metal oxide film mixed with 5 to 50% by weight of titanium oxide and 50 to 95% by weight of aluminum oxide, or a metal oxide film containing zirconium oxide. Those consisting of are preferred.

【0025】上記電極間の距離は、固体誘電体の厚さ、
印加電圧の大きさ、プラズマを利用する目的等を考慮し
て適宜決定されるが、0.1〜50mmであることが好
ましく、より好ましくは5mm以下である。50mmを
超えると、均一な放電プラズマを発生させ難い。
The distance between the electrodes depends on the thickness of the solid dielectric,
Although it is appropriately determined in consideration of the magnitude of the applied voltage, the purpose of utilizing plasma, etc., it is preferably 0.1 to 50 mm, more preferably 5 mm or less. When it exceeds 50 mm, it is difficult to generate uniform discharge plasma.

【0026】上記電極間には、電界が印加され、プラズ
マを発生させるが、パルス電界を印加することが好まし
く、特に、電界の立ち上がり及び/又は立ち下がり時間
が、10μs以下である電界が好ましい。10μsを超
えると放電状態がアークに移行しやすく不安定なものと
なり、パルス電界による高密度プラズマ状態を保持しに
くくなる。また、立ち上がり時間及び立ち下がり時間が
短いほどプラズマ発生の際のガスの電離が効率よく行わ
れるが、40ns未満の立ち上がり時間のパルス電界を
実現することは、実際には困難である。より好ましくは
50ns〜5μsである。なお、ここでいう立ち上がり
時間とは、電圧(絶対値)が連続して増加する時間、立
ち下がり時間とは、電圧(絶対値)が連続して減少する
時間を指すものとする。
An electric field is applied between the electrodes to generate plasma, but a pulsed electric field is preferably applied, and an electric field having a rise and / or fall time of the electric field of 10 μs or less is particularly preferable. If it exceeds 10 μs, the discharge state easily shifts to an arc and becomes unstable, and it becomes difficult to maintain the high-density plasma state due to the pulsed electric field. Further, the shorter the rise time and the fall time are, the more efficiently the gas is ionized at the time of plasma generation, but it is actually difficult to realize a pulsed electric field having a rise time of less than 40 ns. It is more preferably 50 ns to 5 μs. Note that the rising time referred to here means the time when the voltage (absolute value) continuously increases, and the falling time means the time when the voltage (absolute value) continuously decreases.

【0027】上記パルス電界の電界強度は、10〜10
00kV/cmとなるようにするのが好ましい。電界強
度が10kV/cm未満であると処理に時間がかかりす
ぎ、1000kV/cmを超えるとアーク放電が発生し
やすくなる。
The electric field strength of the pulse electric field is 10 to 10
It is preferably set to 00 kV / cm. If the electric field strength is less than 10 kV / cm, the treatment takes too long, and if it exceeds 1000 kV / cm, arc discharge is likely to occur.

【0028】上記パルス電界の周波数は、0.5kHz
以上であることが好ましい。0.5kHz未満であると
プラズマ密度が低いため処理に時間がかかりすぎる。上
限は特に限定されないが、常用されている13.56M
Hz、試験的に使用されている500MHzといった高
周波帯でも構わない。負荷との整合のとり易さや取り扱
い性を考慮すると、500kHz以下が好ましい。この
ようなパルス電界を印加することにより、処理速度を大
きく向上させることができる。
The frequency of the pulsed electric field is 0.5 kHz.
The above is preferable. If it is less than 0.5 kHz, the plasma density is low and the treatment takes too long. The upper limit is not particularly limited, but is commonly used 13.56M
A high frequency band such as Hz or a test-use 500 MHz may be used. Considering the ease of matching with the load and the handling property, the frequency is preferably 500 kHz or less. By applying such a pulsed electric field, the processing speed can be greatly improved.

【0029】また、上記パルス電界におけるひとつのパ
ルス継続時間は、200μs以下であることが好まし
く、より好ましくは3〜200μsである。200μs
を超えるとアーク放電に移行しやすくなる。ここで、ひ
とつのパルス継続時間とは、図9中に例を示してある
が、ON、OFFの繰り返しからなるパルス電界におけ
る、ひとつのパルスの連続するON時間を言う。
Further, one pulse duration in the above pulsed electric field is preferably 200 μs or less, more preferably 3 to 200 μs. 200 μs
When it exceeds, it becomes easy to shift to arc discharge. Here, one pulse duration is an example shown in FIG. 9, but refers to the continuous ON time of one pulse in a pulse electric field consisting of repeated ON and OFF.

【0030】上記処理装置において、処理圧力は特に限
定されないが、大気圧近傍の圧力下が好ましい。大気圧
近傍の圧力下とは、1.333×104〜10.664
×104Paの圧力下を指す。中でも、圧力調整が容易
で、装置が簡便になる9.331×104〜10.39
7×104Paの範囲が好ましい。
In the above processing apparatus, the processing pressure is not particularly limited, but it is preferably under a pressure near atmospheric pressure. Under pressure near atmospheric pressure means 1.333 × 10 4 to 10.664
It refers to a pressure of × 10 4 Pa. Among them, the pressure adjustment is easy, and the device is simple. 9.331 × 10 4 to 10.39
The range of 7 × 10 4 Pa is preferable.

【0031】大気圧近傍の圧力下においては、本発明の
パルス状の電界を印加する方法によって、初めて、ヘリ
ウム等のプラズマ放電状態からアーク放電状態に至る時
間が長い成分を含有しない雰囲気において、安定して放
電プラズマを発生させることが可能となる。
Under a pressure in the vicinity of atmospheric pressure, the method for applying a pulsed electric field according to the present invention makes it stable for the first time in an atmosphere containing no components such as helium, which takes a long time from a plasma discharge state to an arc discharge state. Then, discharge plasma can be generated.

【0032】なお、本発明の方法によれば、プラズマ発
生空間中に存在する気体の種類を問わずグロー放電プラ
ズマを発生させることが可能である。公知の低圧条件下
におけるプラズマ処理はもちろん、特定のガス雰囲気下
の大気圧プラズマ処理においても、外気から遮断された
密閉容器内で処理を行うことが必須であったが、本発明
のグロー放電プラズマ処理方法によれば、開放系、ある
いは、気体の自由な流失を防ぐ程度の低気密系での処理
が可能となる。
According to the method of the present invention, glow discharge plasma can be generated regardless of the type of gas existing in the plasma generation space. Not only plasma treatment under known low-pressure conditions, but also atmospheric pressure plasma treatment under a specific gas atmosphere, it was essential to perform treatment in a closed container shielded from the outside air, but glow discharge plasma of the present invention According to the treatment method, it is possible to perform treatment in an open system or a low airtight system that prevents free flow of gas.

【0033】本発明で処理できる被処理基材としては、
ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリカ
ーボネート、ポリエチレンテレフタレート、ポリテトラ
フルオロエチレン、アクリル樹脂等のプラスチック、ガ
ラス、セラミック、金属等が挙げられる。基材の形状と
しては、板状、フィルム状等のものが挙げられるが、特
にこれらに限定されない。本発明の表面処理方法によれ
ば、様々な形状を有する基材の処理に容易に対応するこ
とができる。
As the substrate to be treated by the present invention,
Examples thereof include polyethylene, polypropylene, polystyrene, polycarbonate, polyethylene terephthalate, polytetrafluoroethylene, plastic such as acrylic resin, glass, ceramic, metal and the like. Examples of the shape of the substrate include a plate shape and a film shape, but are not particularly limited thereto. According to the surface treatment method of the present invention, it is possible to easily deal with the treatment of substrates having various shapes.

【0034】本発明で用いる処理ガスとしては、電界、
好ましくはパルス電界を印加することによってプラズマ
を発生するガスであれば、特に限定されず、処理目的に
より種々のガスを使用できる。
The processing gas used in the present invention is an electric field,
There is no particular limitation as long as it is a gas that generates plasma by applying a pulsed electric field, and various gases can be used depending on the processing purpose.

【0035】上記処理用ガスとして、CF4、C26
CClF3、SF6等のフッ素含有化合物ガスを用いるこ
とによって、撥水性表面を得ることができる。
As the processing gas, CF 4 , C 2 F 6 ,
A water repellent surface can be obtained by using a fluorine-containing compound gas such as CClF 3 or SF 6 .

【0036】また、処理用ガスとして、O2、O3、水、
空気等の酸素元素含有化合物、N2、NH3等の窒素元素
含有化合物、SO2、SO3等の硫黄元素含有化合物を用
いて、基材表面にカルボニル基、水酸基、アミノ基等の
親水性官能基を形成させて表面エネルギーを高くし、親
水性表面を得ることができる。また、アクリル酸、メタ
クリル酸等の親水基を有する重合性モノマーを用いて親
水性重合膜を堆積することもできる。
Further, as the processing gas, O 2 , O 3 , water,
Hydrophilicity of carbonyl group, hydroxyl group, amino group, etc. on the surface of the base material by using oxygen element-containing compounds such as air, nitrogen element-containing compounds such as N 2 , NH 3 and sulfur element-containing compounds such as SO 2 , SO 3 A hydrophilic surface can be obtained by forming a functional group to increase the surface energy. Further, the hydrophilic polymer film can be deposited by using a polymerizable monomer having a hydrophilic group such as acrylic acid or methacrylic acid.

【0037】さらに、Si、Ti、Sn等の金属の金属
−水素化合物、金属−ハロゲン化合物、金属アルコラー
ト等の処理用ガスを用いて、SiO2、TiO2、SnO
2等の金属酸化物薄膜を形成させ、基材表面に電気的、
光学的機能を与えることができ、ハロゲン系ガスを用い
てエッチング処理、ダイシング処理を行ったり、酸素系
ガスを用いてレジスト処理や有機物汚染の除去を行った
り、アルゴン、窒素等の不活性ガスによるプラズマで表
面クリーニングや表面改質を行うこともできる。
Further, by using a processing gas such as a metal-hydrogen compound of a metal such as Si, Ti or Sn, a metal-halogen compound or a metal alcoholate, SiO 2 , TiO 2 or SnO is used.
A metal oxide thin film such as 2 is formed and is electrically and
Optical function can be given, and halogen gas is used for etching and dicing, oxygen gas is used for resist treatment and removal of organic contaminants, and inert gas such as argon and nitrogen is used. Surface cleaning and surface modification can also be performed with plasma.

【0038】本発明の方法をマルチチャンバー化するこ
ともできる。すなわち、搬送方向に対して、異なるガス
や処理条件のプラズマ装置を並べ、各装置で成膜やエッ
チングや洗浄処理を行うことにより、これらの工程を一
括して連続で行うことが可能である。このマルチチャン
バー装置中では、本発明のプラズマ処理方法と他の方法
を組み合わせてもよい。また、複数組の電極からなる多
段式の装置を用いて処理スピードを上げたり、それぞれ
の段に異なるガスを導入して積層膜を形成したりするこ
ともできる。
The method of the present invention can be multi-chambered. That is, by arranging plasma devices having different gases and processing conditions in the transport direction and performing film formation, etching, and cleaning treatment in each device, these steps can be performed collectively and continuously. In this multi-chamber apparatus, the plasma processing method of the present invention may be combined with another method. Further, it is also possible to increase the processing speed by using a multi-stage apparatus composed of a plurality of sets of electrodes, or to form a laminated film by introducing different gases into the respective stages.

【0039】経済性及び安全性の観点から、上記処理用
ガス単独雰囲気よりも、以下に挙げるような希釈ガスに
よって希釈された雰囲気中で処理を行うことが好まし
い。希釈ガスとしては、ヘリウム、ネオン、アルゴン、
キセノン等の希ガス、窒素気体等が挙げられる。これら
は単独でも2種以上を混合して用いてもよい。また、希
釈ガスを用いる場合、処理用ガスの割合は0.001〜
10体積%であることが好ましい。
From the viewpoint of economy and safety, it is preferable to carry out the treatment in an atmosphere diluted with a diluent gas as described below, rather than the above-mentioned treatment gas alone atmosphere. As the diluent gas, helium, neon, argon,
Examples include rare gases such as xenon, nitrogen gas, and the like. You may use these individually or in mixture of 2 or more types. When a diluent gas is used, the ratio of the processing gas is 0.001
It is preferably 10% by volume.

【0040】なお、上述したように、雰囲気ガスとして
は電子を多く有する化合物の方がプラズマ密度を高め高
速処理を行う上で有利である。よって入手の容易さと経
済性、処理速度を考慮した上で最も望ましい選択は、ア
ルゴン及び/又は窒素を希釈ガスとして含有する雰囲気
である。
As described above, a compound having a large number of electrons is more preferable as the atmospheric gas in order to increase the plasma density and perform high-speed processing. Therefore, the most desirable choice in consideration of availability, economy, and processing speed is an atmosphere containing argon and / or nitrogen as a diluent gas.

【0041】本発明のパルス電界を用いた大気圧放電で
は、全くガス種に依存せず、電極間において直接大気圧
下で放電を生じせしめることが可能であり、より単純化
された電極構造、放電手順による大気圧プラズマ装置、
及び処理手法でかつ高速処理を実現することができる。
また、パルス周波数、電圧、電極間隔等のパラメータに
より処理に関するパラメータも調整できる。
In the atmospheric pressure discharge using the pulsed electric field of the present invention, it is possible to cause the discharge directly between the electrodes under the atmospheric pressure without depending on the gas species at all, and a more simplified electrode structure, Atmospheric pressure plasma device by discharge procedure,
It is also possible to realize high-speed processing with the processing method.
In addition, parameters related to processing can be adjusted by parameters such as pulse frequency, voltage, and electrode interval.

【0042】[0042]

【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明
するが、本発明はこれら実施例のみに限定されるもので
はない。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0043】実施例1 図1の装置を用い、印加電極2及び3として、電極間幅
が8μmの櫛形形状アルミナ製電極を用い、接地電極と
して印加電極に対向する櫛形形状アルミナ製電極を用
い、各電極間距離を2mmとし、基材と電極の距離を1
mmとし、搬送速度50mm/minで搬送される基材
フィルム上のSiO2膜をCF4にAr添加した処理ガス
(CF4/Ar=40/60)でエッチングした。放電
空間7からの放電処理ガスでエッチングレート5nm/
minの深さの溝を得、さらに放電空間8からの放電処
理ガスでエッチングレート20nm/minの深さの溝
を得、全体として200オングストロームの溝を得るこ
とができた。なお、印加電圧は16kVPP、周波数10
kHzとした。得られた基材フィルムは、SWAフィル
タ(表面波フィルタ)として用い、携帯電話に使用する
ことができた。
Example 1 Using the device of FIG. 1, comb-shaped alumina electrodes having an interelectrode width of 8 μm were used as the application electrodes 2 and 3, and comb-shaped alumina electrodes facing the application electrodes were used as the ground electrodes. The distance between each electrode is 2 mm, and the distance between the substrate and the electrode is 1
and mm, a SiO 2 film on a substrate film to be transported at the transportation speed 50 mm / min and the etching in the process gas Ar was added to CF 4 (CF 4 / Ar = 40/60). Discharge gas from discharge space 7 etching rate 5 nm /
A groove having a depth of min was obtained, and further, a groove having a depth of 20 nm / min was obtained with the discharge processing gas from the discharge space 8 to obtain a groove having a total of 200 Å. The applied voltage is 16 kV PP and the frequency is 10
It was set to kHz. The obtained substrate film was used as a SWA filter (surface wave filter) and could be used in a mobile phone.

【0044】実施例2 図3に示す装置を用い、多層配線基板のデスミア処理を
行った。印加電極2として、100×500mmのSU
S製電極、印加電極3として100×500mmのSU
S製電極を用い、接地電極4としてSUS製搬送ベルト
を用い、接地電極4’としてSUS製搬送ベルトを用
い、接地電極4と4’と印加電極2と3との間隔を54
mmとし、接地電極4と4’の間隔を150mmとして
設置した。被処理基材として、100μmφの貫通孔を
有する銅貼積層板を搬送速度50mm/minで搬送し
ながら、放電空間に乾燥空気を流通させ、20kVPP
10kHzのパルス電界を印加し処理した。その結果を
顕微鏡で観察したところデスミア処理がきれいになされ
ていた。
Example 2 Using the apparatus shown in FIG. 3, desmear processing of a multilayer wiring board was performed. As the application electrode 2, a 100 × 500 mm SU
100 × 500 mm SU as S electrode and application electrode 3
An S electrode is used, a SUS carrier belt is used as the ground electrode 4, a SUS carrier belt is used as the ground electrode 4 ', and the distance between the ground electrodes 4 and 4'and the application electrodes 2 and 54 is 54.
The ground electrodes 4 and 4 ′ were set to have a distance of 150 mm. As a substrate to be treated, a copper-clad laminate having a through hole of 100 μmφ was conveyed at a conveying speed of 50 mm / min, dry air was passed through the discharge space to obtain 20 kV PP ,
A pulsed electric field of 10 kHz was applied and processed. When the result was observed with a microscope, the desmear treatment was clean.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明の放電プラズマ処理装置によれ
ば、複数の放電空間を有しながらも、装置的に設備の重
複を防ぎ、かつ、複数の放電空間毎に独立で放電プラズ
マを発生させることができる装置であるので、コストの
低減と設備の小型化が可能となり、基材毎の処理変更を
容易に行うことができる。また、電極の両面を放電面と
することで少ない電極数で放電空間を形成できる等の利
点を有する。危険性ガスの安全化及び繊細な成膜条件の
設定が可能となる。また、2つ以上の放電空間で異種ガ
スを独立で励起分解でき、複雑な処理を一度に行うこと
ができる。
According to the discharge plasma processing apparatus of the present invention, even though the discharge plasma processing apparatus has a plurality of discharge spaces, the equipment is prevented from duplication and the discharge plasma is independently generated for each of the plurality of discharge spaces. Since it is a device that can be used, the cost can be reduced and the equipment can be downsized, and the processing can be easily changed for each substrate. In addition, the use of both surfaces of the electrodes as discharge surfaces has an advantage that a discharge space can be formed with a small number of electrodes. It is possible to make dangerous gases safe and to set delicate film forming conditions. Further, different gases can be independently excited and decomposed in two or more discharge spaces, and complicated processing can be performed at one time.

【0046】[0046]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の基材を処理する装置の一例を説明する
図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating an example of an apparatus for processing a substrate of the present invention.

【図2】本発明の基材を処理する装置の一例を説明する
図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an apparatus for treating a base material of the present invention.

【図3】本発明の基材を処理する装置の一例を説明する
図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of an apparatus for processing a base material of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 電源 2、3 印加電極 4、4’ 接地電極 5、6 スイッチ 7、7’、8 放電空間 10 被処理基材 11 搬送ベルト 12、12’13、13’ 搬送ロール 1 power supply 2, 3 application electrodes 4, 4'ground electrode 5, 6 switch 7, 7 ', 8 discharge space 10 Base material to be treated 11 Conveyor belt 12, 12 '13, 13' Conveyor roll

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 対向電極の少なくとも一方の対向面が固
体誘電体で被覆された電極を3枚以上使用して放電空間
を2つ以上設けた電極間に電界を印加して放電プラズマ
を発生させる放電プラズマ処理装置であって、複数の電
極の印加電極を一つの電源に接続してなることを特徴と
する放電プラズマ処理装置。
1. A discharge plasma is generated by applying an electric field between electrodes having two or more discharge spaces by using three or more electrodes each having at least one facing surface of the facing electrode covered with a solid dielectric. A discharge plasma processing apparatus, characterized in that the application electrodes of a plurality of electrodes are connected to one power supply.
【請求項2】 複数の電極の印加電極を一つの電源に接
続し、印加電極毎にON/OFF制御をつけてなること
を特徴とする請求項1に記載の放電プラズマ処理装置。
2. The discharge plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the application electrodes of the plurality of electrodes are connected to one power source, and ON / OFF control is provided for each application electrode.
【請求項3】 複数の電極の印加電極を一つの電源に接
続し、印加電極毎にON/OFF制御をつけてなる印加
電極と接地電極間で励起された処理ガスのプラズマを放
電空間外に設置された被処理基材に吹き付けてなること
を特徴とする請求項1又は2に記載の放電プラズマ処理
装置。
3. A plasma of a processing gas excited between an application electrode and a ground electrode, wherein the application electrodes of a plurality of electrodes are connected to one power source, and ON / OFF control is applied to each application electrode, outside the discharge space. The discharge plasma processing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the discharge plasma processing apparatus is formed by spraying on the installed processing target substrate.
【請求項4】 複数の電極の印加電極を一つの電源に接
続し、印加電極毎にON/OFF制御をつけてなる印加
電極と接地電極間に被処理基材を設置し、電極間で励起
された処理ガスで被処理基材表面を処理することを特徴
とする請求項1又は2に記載の放電プラズマ処理装置。
4. A substrate to be treated is installed between an application electrode and a ground electrode, in which the application electrodes of a plurality of electrodes are connected to one power source, and ON / OFF control is applied to each application electrode, and excitation is performed between the electrodes. The discharge plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the surface of the substrate to be treated is treated with the treated gas.
【請求項5】 複数の電極の印加電極を一つの電源に接
続し、印加電極毎にON/OFF制御をつけてなる印加
電極と接地電極間に被処理基材を設置し、電極間で励起
された処理ガスのプラズマで被処理基材表面を処理する
装置であって、接地電極上の被処理基材の両面を同時に
放電プラズマ処理することを特徴とする請求項1又は2
に記載の放電プラズマ処理装置。
5. A substrate to be treated is installed between an application electrode and a ground electrode, in which the application electrodes of a plurality of electrodes are connected to one power source, and ON / OFF control is applied to each application electrode, and excitation is performed between the electrodes. 3. An apparatus for treating the surface of a substrate to be treated with the plasma of the treated gas, wherein both sides of the substrate to be treated on the ground electrode are simultaneously subjected to discharge plasma treatment.
The discharge plasma processing apparatus according to.
【請求項6】 電界が、電圧立ち上がり時間が10μs
以下、電界強度が10〜1000kV/cmのパルス状
電界であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1
項に記載の放電プラズマ処理装置。
6. The electric field has a voltage rise time of 10 μs.
Hereinafter, a pulsed electric field having an electric field intensity of 10 to 1000 kV / cm is used, and any one of claims 1 to 5 is characterized.
Discharge plasma processing apparatus according to item.
【請求項7】 請求項1〜6のいずれか1項に記載の放
電プラズマ処理装置を用いて被処理基材を処理する放電
プラズマ処理方法。
7. A discharge plasma treatment method for treating a substrate to be treated using the discharge plasma treatment apparatus according to claim 1. Description:
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004311983A (en) * 2003-03-26 2004-11-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Plasma processing apparatus
JP2006019067A (en) * 2004-06-30 2006-01-19 Sharp Corp Plasma processing apparatus and plasma processing method
JP2006040743A (en) * 2004-07-28 2006-02-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd Plasma processing method and apparatus
KR100860039B1 (en) * 2007-07-12 2008-09-25 성균관대학교산학협력단 Atmospheric Pressure Plasma Generator
US7465407B2 (en) 2002-08-28 2008-12-16 Panasonic Corporation Plasma processing method and apparatus
JP2009218485A (en) * 2008-03-12 2009-09-24 Ngk Insulators Ltd Plasma generator
US7824520B2 (en) 2003-03-26 2010-11-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma treatment apparatus
JP2011528165A (en) * 2008-07-16 2011-11-10 エージーシー グラス ユーロップ Method and equipment for surface preparation by dielectric barrier discharge
JP2016051611A (en) * 2014-08-29 2016-04-11 国立大学法人大阪大学 Plasma processing apparatus
KR20230011145A (en) * 2021-07-13 2023-01-20 한국생산기술연구원 Activated gas supply device for hydroponics

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7465407B2 (en) 2002-08-28 2008-12-16 Panasonic Corporation Plasma processing method and apparatus
JP2004311983A (en) * 2003-03-26 2004-11-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Plasma processing apparatus
US7824520B2 (en) 2003-03-26 2010-11-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma treatment apparatus
JP2006019067A (en) * 2004-06-30 2006-01-19 Sharp Corp Plasma processing apparatus and plasma processing method
JP2006040743A (en) * 2004-07-28 2006-02-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd Plasma processing method and apparatus
KR100860039B1 (en) * 2007-07-12 2008-09-25 성균관대학교산학협력단 Atmospheric Pressure Plasma Generator
JP2009218485A (en) * 2008-03-12 2009-09-24 Ngk Insulators Ltd Plasma generator
JP2011528165A (en) * 2008-07-16 2011-11-10 エージーシー グラス ユーロップ Method and equipment for surface preparation by dielectric barrier discharge
JP2016051611A (en) * 2014-08-29 2016-04-11 国立大学法人大阪大学 Plasma processing apparatus
KR20230011145A (en) * 2021-07-13 2023-01-20 한국생산기술연구원 Activated gas supply device for hydroponics
KR102641860B1 (en) * 2021-07-13 2024-02-29 한국생산기술연구원 Activated gas supply device for hydroponics

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