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JP2003307832A - Pellicle and pellicle wearing photomask - Google Patents

Pellicle and pellicle wearing photomask

Info

Publication number
JP2003307832A
JP2003307832A JP2002113380A JP2002113380A JP2003307832A JP 2003307832 A JP2003307832 A JP 2003307832A JP 2002113380 A JP2002113380 A JP 2002113380A JP 2002113380 A JP2002113380 A JP 2002113380A JP 2003307832 A JP2003307832 A JP 2003307832A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pellicle
photomask
frame
plate
adhesive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002113380A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hitoshi Mishiro
均 三代
Kaname Okada
要 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP2002113380A priority Critical patent/JP2003307832A/en
Publication of JP2003307832A publication Critical patent/JP2003307832A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pellicle which reduces an inclination proper to a pellicle and a pellicle attached photomask. <P>SOLUTION: Spacers 26 such as glass beads are mixed into an adhesive 24 for bonding a pellicle frame 12 of quartz glass or the like and a pellicle plate 11 of synthetic quartz to each other and into an agglutinant 25 for sticking the pellicle frame 12 and a photomask 13 to each other. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体プロセスの
フォトリソグラフィ工程に用いられ、とりわけ波長22
0nm以下の光を用いる露光に好適なペリクル及びペリ
クル装着フォトマスクに関するものである。
FIELD OF THE INVENTION The present invention is used in the photolithography process of semiconductor processing, and more particularly in the wavelength range 22.
The present invention relates to a pellicle suitable for exposure using light of 0 nm or less and a pellicle-mounted photomask.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体プロセスのフォトリソグラフィ工
程では、フォトレジストを塗布した半導体ウェハを投影
露光することにより、パターン形成が行われる。この際
に用いるフォトマスクに傷もしくは異物が乗ると、露光
時にパターン欠陥(回路の短絡または断線等)の原因と
なる。このため、フォトマスクパターン面の異物付着防
止のために、フォトマスクの片面または両面にペリクル
を装着する方法が有効である。
2. Description of the Related Art In a photolithography process of a semiconductor process, a semiconductor wafer coated with a photoresist is projected and exposed to form a pattern. If the photomask used at this time has scratches or foreign matter, it may cause pattern defects (circuit short circuit or disconnection, etc.) during exposure. Therefore, in order to prevent foreign matter from adhering to the photomask pattern surface, it is effective to mount a pellicle on one side or both sides of the photomask.

【0003】従来のペリクルの断面図を図3に示す。従
来のペリクルは、アルミニウム等からなるペリクルフレ
ーム32とニトロセルロースやフッ素樹脂などからなる
数nm〜数μmの厚みの有機樹脂膜等のペリクル膜31
とからなり、ペリクル膜31は、枠状のペリクルフレー
ム32の一方の開口面に接着剤34で貼り付ける。前記
ペリクルは、ペリクルフレーム32とフォトマスク33
との間に粘着剤35を介在させ、フォトマスク33のパ
ターン面を覆うように固定して用いられていた。
A cross-sectional view of a conventional pellicle is shown in FIG. The conventional pellicle includes a pellicle frame 32 made of aluminum or the like and a pellicle film 31 made of nitrocellulose or fluororesin having a thickness of several nm to several μm such as an organic resin film.
The pellicle film 31 is attached to one opening surface of the frame-shaped pellicle frame 32 with an adhesive 34. The pellicle includes a pellicle frame 32 and a photomask 33.
The adhesive 35 is interposed between the photomask 33 and the photomask 33, and the photomask 33 is fixed and used so as to cover the pattern surface.

【0004】近年、パターン微細化、高密度化の要求に
応じて波長220nm以下の光を用いる露光が検討され
ている。しかし、前述の有機樹脂膜等を使用したペリク
ルは、露光解像力を向上させるために短波長の露光光を
使用すると、有機樹脂膜の有機分が分解されるため耐久
性が低い。そこで、短波長の露光系では、ペリクル膜と
して石英ガラスからなるペリクル板を用いることが検討
されている。この石英ガラスは、例えば、珪素源と酸素
源とを気相で反応させスートと呼ばれる酸化珪素からな
る多孔質体を成長させ、この多孔質体を焼結して得られ
る実質的に酸化珪素のみからなる合成石英ガラスであ
る。
In recent years, exposure using light having a wavelength of 220 nm or less has been studied in response to demands for pattern miniaturization and high density. However, the pellicle using the above-mentioned organic resin film or the like has low durability because the organic content of the organic resin film is decomposed when short-wavelength exposure light is used to improve the exposure resolution. Therefore, in a short wavelength exposure system, the use of a pellicle plate made of quartz glass as a pellicle film has been studied. This quartz glass is obtained by, for example, reacting a silicon source and an oxygen source in a gas phase to grow a porous body made of silicon oxide called soot, and sintering the porous body to obtain substantially only silicon oxide. It is a synthetic quartz glass consisting of.

【0005】ところが、従来のペリクルフレームの上端
面に石英ガラスからなるペリクル板を接着してペリクル
を作製する場合には、ペリクル板の平行度やペリクル板
及びペリクルフレームの上下面の平坦度を確保すること
に留意しなくてはならない。
However, when the pellicle plate made of quartz glass is adhered to the upper end surface of the conventional pellicle frame to manufacture the pellicle, the pellicle plate has parallelism and flatness of the upper and lower surfaces of the pellicle plate and the pellicle frame is ensured. Must be kept in mind.

【0006】すなわち、ペリクル板は実用上の強度を確
保するために0.01〜2mm程度の板厚が必要である
が、ペリクル板内に厚みのばらつきがあると屈折光の光
路が変わるため転写パターンの位置がずれ、良好なリソ
グラフィが行えない。このために、ペリクル板に許容さ
れる上下面の平行度は0.1μm/50mm程度であ
る。
That is, the pellicle plate needs to have a thickness of about 0.01 to 2 mm in order to secure practical strength. However, if there is variation in the thickness of the pellicle plate, the optical path of refracted light changes, and thus the pellicle plate is transferred. The pattern is out of position, and good lithography cannot be performed. For this reason, the parallelism of the upper and lower surfaces allowed for the pellicle plate is about 0.1 μm / 50 mm.

【0007】また、フレームの上下面で固定されたペリ
クル板とマスク面からなる2面の平行度が悪いと転写パ
ターンの位置がずれるおそれがある。また、ペリクル板
は、ペリクルフレームに接着することでペリクルとして
使用されるため、この接着面の平坦度が精度よくでてい
ないと、接着後のペリクル板がペリクルフレーム上面の
形状に矯正されることによりたわむ、あるいは、矯正力
により複屈折を大きくする等の光学上の不具合を発生さ
せるおそれがある。さらには、ペリクルフレーム下面に
ついても、この平坦度が悪いとフォトマスク面との接着
において、フレーム自体にゆがみやたわみを発生し、ひ
いてはペリクル板までたわむ可能性がある。このため、
ペリクルフレームの互いに接着している面のそれぞれの
平坦度は1μm以下とされ、同時に上下面の平行度は2
μm以下が求められている。ペリクルフレームの上限面
の平坦度を確保するためには、ペリクルフレームの材料
として石英ガラスを用いることが好ましい。
If the parallelism between the two surfaces, which are the pellicle plate fixed on the upper and lower surfaces of the frame and the mask surface, is poor, the position of the transfer pattern may shift. Also, since the pellicle plate is used as a pellicle by adhering it to the pellicle frame, if the flatness of this adhering surface is not accurate, the pellicle plate after adhering will be corrected to the shape of the upper surface of the pellicle frame. Therefore, there is a possibility that an optical defect such as bending due to bending or an increase in birefringence due to the correction force may occur. Furthermore, if the flatness of the lower surface of the pellicle frame is poor, the frame itself may be distorted or warped when it is bonded to the photomask surface, and the pellicle plate may be warped. For this reason,
The flatness of each surface of the pellicle frame that is bonded to each other is 1 μm or less, and the parallelism between the upper and lower surfaces is 2 at the same time.
It is required to be less than μm. In order to secure the flatness of the upper limit surface of the pellicle frame, it is preferable to use quartz glass as the material of the pellicle frame.

【0008】しかしながら、ペリクル板の平行度、ペリ
クル板及びペリクルフレームの平坦度を上記範囲として
も、転写パターンの位置ずれのないペリクルが得られな
い場合があった。
However, even if the parallelism of the pellicle plate and the flatness of the pellicle plate and the pellicle frame are within the above ranges, it may not be possible to obtain a pellicle with no displacement of the transfer pattern.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような状
況に鑑みてなされたものであり、転写パターンの位置ず
れの少ないペリクル及びペリクル装着フォトマスクを提
供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a pellicle and a pellicle-mounted photomask in which the positional deviation of the transfer pattern is small.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、検討の結
果、ペリクル板とペリクルフレームとの接着後の接着剤
の厚みばらつきや、ペリクルフレームとフォトマスクと
の接着後の接着剤の厚みばらつきによっても、ペリクル
板とマスクの平行度が影響を受けていることを知見し、
本発明に至った。
DISCLOSURE OF THE INVENTION As a result of investigations, the inventors of the present invention have found variations in the thickness of the adhesive after the pellicle plate and the pellicle frame are bonded, and the thickness of the adhesive after the pellicle frame and the photomask are bonded. Finding that the parallelism between the pellicle plate and the mask is also affected by variations,
The present invention has been completed.

【0011】すなわち、本発明は、第一に、枠体形状の
ペリクルフレームとペリクルフレームの一方の開口部に
接着したペリクル板とを備えたペリクルであって、ペリ
クルフレーム及びペリクル板は石英ガラスからなり、ペ
リクル板とペリクルフレームとの間にスペーサを含む接
着層が介在することを特徴とするペリクルを提供する。
That is, the present invention is, firstly, a pellicle provided with a frame-shaped pellicle frame and a pellicle plate adhered to one opening of the pellicle frame, wherein the pellicle frame and the pellicle plate are made of quartz glass. And a pellicle characterized in that an adhesive layer including a spacer is interposed between the pellicle plate and the pellicle frame.

【0012】第二に、枠体形状のペリクルフレームとペ
リクルフレームの一方の開口部に接着したペリクル板と
を備え、ペリクルフレーム及びペリクル板は石英ガラス
からなり、前記ペリクルフレームのペリクル板が装着さ
れているのと反対側の開口部に装着されたフォトマスク
とを備えたペリクル装着フォトマスクであって、ペリク
ルフレームとフォトマスクとの間にスペーサを含む接着
層が介在することを特徴とするペリクル装着フォトマス
クを提供する。
Secondly, it is provided with a frame-shaped pellicle frame and a pellicle plate adhered to one opening of the pellicle frame, and the pellicle frame and the pellicle plate are made of quartz glass, and the pellicle plate of the pellicle frame is mounted. And a photomask attached to the opening on the side opposite to that of the pellicle, wherein the pellicle has a bonding layer including a spacer interposed between the pellicle frame and the photomask. Provide a wearing photomask.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明に関して図面を参照
して説明する。図1は本発明の実施形態であるペリクル
及びペリクル装着フォトマスクの一例を示すペリクル装
着フォトマスクの断面図及び平面図である。ペリクルフ
レーム12の上面の開口部に、板厚0.01〜2mm程
度に加工した石英ガラスのペリクル板11が、接着剤1
4で接着されており、ペリクルフレーム12とペリクル
板11とでペリクルを形成している。ペリクルは図1に
示したように、フォトマスク13に粘着剤15で装着さ
れて使用される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view and a plan view of a pellicle-mounted photomask showing an example of a pellicle and a pellicle-mounted photomask according to an embodiment of the present invention. In the opening on the upper surface of the pellicle frame 12, the pellicle plate 11 made of quartz glass processed to have a plate thickness of about 0.01 to 2 mm is attached to the adhesive 1
The pellicle frame 12 and the pellicle plate 11 form a pellicle. As shown in FIG. 1, the pellicle is used by being attached to the photomask 13 with an adhesive 15.

【0014】図2は図1の拡大概念図である。ペリクル
フレーム12とペリクル板11との間に介在する接着層
14は、接着剤24とスペーサ26とを含む。また、ペ
リクルフレーム12とフォトマスク13との間に介在す
る粘着層15においても、同様に粘着剤25とスペーサ
26とを含む。
FIG. 2 is an enlarged conceptual diagram of FIG. The adhesive layer 14 interposed between the pellicle frame 12 and the pellicle plate 11 includes an adhesive 24 and a spacer 26. Further, the adhesive layer 15 interposed between the pellicle frame 12 and the photomask 13 also includes the adhesive 25 and the spacer 26 in the same manner.

【0015】本発明のペリクル板11は、材質として石
英ガラスが用いられ、特にFレーザなどの真空紫外線
用として用いる場合は、ペリクル板11は真空紫外線耐
久性の高い合成石英ガラスを用いることが好ましい。ま
た、光透過率を良くするため、ペリクル板11の片面ま
たは両面に反射防止膜を施すことが好ましい。
Quartz glass is used as the material of the pellicle plate 11 of the present invention, and when it is used especially for vacuum ultraviolet rays such as F 2 laser, the pellicle plate 11 is made of synthetic quartz glass having high durability against vacuum ultraviolet rays. preferable. Further, in order to improve the light transmittance, it is preferable to apply an antireflection film on one surface or both surfaces of the pellicle plate 11.

【0016】ペリクルフレーム12は、材質として石英
ガラスを用いる。石英ガラスは溶融石英ガラスでも合成
石英ガラスでもよい。こうすると、ペリクルフレーム1
2の加工による残留応力を極力減らすことができ、ペリ
クルをフォトマスク13に装着した後の、フォトマスク
13の歪の発生を軽減できる。また、従来のアルミニウ
ムに比べて石英ガラスは剛性が高く、膨張係数が低い利
点もある。ペリクル自体がもつ傾きを低減させるには、
ペリクルフレーム12とペリクル板11の平行度、平坦
度を向上するとともに、両者の接着によって生じる応力
やひずみを低減させることが好ましい。
The pellicle frame 12 uses quartz glass as a material. The quartz glass may be fused quartz glass or synthetic quartz glass. This way, the pellicle frame 1
The residual stress due to the processing of 2 can be reduced as much as possible, and the occurrence of distortion of the photomask 13 after the pellicle is mounted on the photomask 13 can be reduced. Further, quartz glass has the advantages of higher rigidity and lower expansion coefficient than conventional aluminum. To reduce the tilt of the pellicle itself,
It is preferable to improve the parallelism and flatness of the pellicle frame 12 and the pellicle plate 11 and reduce the stress and strain caused by the adhesion between the two.

【0017】本発明のペリクル付きフォトマスクに使用
する基板は、ソーダライムシリケートガラス、低膨張ガ
ラス及び合成石英ガラス等のガラス基板が使用できる
が、高い平行度が要求されるため、膨張係数の低い合成
石英ガラスが一般的に使用される。
As the substrate used in the photomask with a pellicle of the present invention, glass substrates such as soda lime silicate glass, low expansion glass and synthetic quartz glass can be used. However, since high parallelism is required, the expansion coefficient is low. Synthetic quartz glass is commonly used.

【0018】ペリクル板11をペリクルフレーム12に
接着するのに用いる接着剤は、エポキシ系、アクリル
系、シリコーン系、フッ素樹脂系等の熱硬化性接着剤、
または紫外線硬化性接着剤等が使用できる。ペリクルを
フォトマスク13に装着するのに用いる接着剤として
は、後の取り外しの便を考慮するとエポキシ系、アクリ
ル系、シリコーン系、フッ素樹脂系等の粘着剤が使用す
ることが好ましいが、ペリクル板とペリクルフレームと
を接着する接着剤を用いることもできる。
The adhesive used to bond the pellicle plate 11 to the pellicle frame 12 is a thermosetting adhesive such as epoxy, acrylic, silicone, or fluororesin,
Alternatively, an ultraviolet curable adhesive or the like can be used. As an adhesive used for attaching the pellicle to the photomask 13, it is preferable to use an adhesive such as an epoxy type, an acrylic type, a silicone type, or a fluororesin type in consideration of the convenience of later removal, but the pellicle plate An adhesive that bonds the pellicle frame with the pellicle frame can also be used.

【0019】本発明においては接着層の中にスペーサ2
6を混入させることにより、接着後の接着層14の厚み
バラツキを小さくし、ペリクル板の応力やひずみを低減
させる。また、ペリクルを装着したフォトマスク13が
もつ傾きを低減させるには、同様に、粘着層の中にスペ
ーサ26を混入させることにより、粘着層15の厚みバ
ラツキを小さくし、ペリクル板の、応力やひずみを低減
させる。
In the present invention, the spacer 2 is provided in the adhesive layer.
By mixing 6 with each other, variation in thickness of the adhesive layer 14 after adhesion is reduced, and stress and strain of the pellicle plate are reduced. Further, in order to reduce the inclination of the photomask 13 having the pellicle attached thereto, similarly, the spacer 26 is mixed in the adhesive layer to reduce the thickness variation of the adhesive layer 15 and reduce the stress and stress of the pellicle plate. Reduce strain.

【0020】接着層14及び粘着層15に混入するスペ
ーサ26は、例えば、ガラスビーズを使用する。ガラス
ビーズの平均粒径は0.5〜10μm、ガラスビーズの
粒径分布の標準偏差は0.2μm以下とすることが好ま
しく、特に真球状微粒子を使用することが望ましい。ス
ペーサ26は、ペクリル板11とフォトマスク13とほ
ぼ同一の熱膨張係数の材料が好ましく、合成石英ガラス
製とすることが好ましい。
As the spacer 26 mixed in the adhesive layer 14 and the adhesive layer 15, glass beads are used, for example. The average particle size of the glass beads is preferably 0.5 to 10 μm, and the standard deviation of the particle size distribution of the glass beads is preferably 0.2 μm or less, and it is particularly desirable to use spherical fine particles. The spacer 26 is preferably made of a material having substantially the same thermal expansion coefficient as that of the pecryl plate 11 and the photomask 13, and is preferably made of synthetic quartz glass.

【0021】本発明のペリクルの製造方法は、合成石英
ガラスのブロックをスライスし、面取り加工した後、両
面研磨装置にて、ラッピング、ポリシングを行い、ペリ
クル板11の上面と下面の各平坦度が1μm以下、ペリ
クル板11の上下面の許容平行度が2μm以下となるよ
うにする。またペリクルフレーム12の上面と下面の平
坦度が各1μm以下、ペリクルフレーム12の上下面の
平行度が2μm以下となるように加工する。次にスペー
サ26を接着剤25と混ぜる。そのときの接着層14の
中のスペーサ26の含有量は、スペーサとして有効に働
き接着強度の妨げとならない、質量100分率表示にて
0.1〜50%の範囲とすることが好ましい。ペリクル
板11またはペリクルフレーム12の接着面に、前述の
接着剤24を塗布した後、両者を重ね合せて押し付け、
熱圧着または紫外線硬化により接着剤24を硬化させ、
本発明のペリクルを製造する。
In the method of manufacturing a pellicle of the present invention, a block of synthetic quartz glass is sliced, chamfered, and then lapping and polishing are performed by a double-side polishing machine so that the flatness of each of the upper surface and the lower surface of the pellicle plate 11 is reduced. The allowable parallelism between the upper and lower surfaces of the pellicle plate 11 is 1 μm or less and 2 μm or less. The flatness of the upper surface and the lower surface of the pellicle frame 12 is 1 μm or less, and the parallelism of the upper and lower surfaces of the pellicle frame 12 is 2 μm or less. Next, the spacer 26 is mixed with the adhesive 25. At that time, the content of the spacers 26 in the adhesive layer 14 is preferably in the range of 0.1 to 50% in terms of 100 mass percentage, which does not hinder the adhesive strength by effectively acting as spacers. After applying the above-mentioned adhesive 24 to the bonding surface of the pellicle plate 11 or the pellicle frame 12, the two are overlapped and pressed,
The adhesive 24 is cured by thermocompression bonding or ultraviolet curing,
The pellicle of the present invention is manufactured.

【0022】前述の方法で作製したペリクルは、前述の
接着剤24と同様にスペーサ26を混ぜた粘着剤25を
ペリクルフレーム12とフォトマスク13の粘着面に塗
布した後、フォトマスク13のパターン面を覆うように
押し付けて固定して、本発明のペリクル装着フォトマス
クを製造する。
In the pellicle manufactured by the above-described method, the adhesive 25 mixed with the spacer 26 is applied to the adhesive surfaces of the pellicle frame 12 and the photomask 13 in the same manner as the adhesive 24 described above, and then the pattern surface of the photomask 13 is applied. The pellicle-mounted photomask of the present invention is manufactured by pressing and fixing so as to cover the.

【0023】[0023]

【実施例】まず、公知の方法で得られた合成石英ガラス
のブロックをスライスして直径200mm×厚み1.2
0mmのペリクル板用の素板を得た。この素板に面取り
加工を施した後、両面研磨装置により、ラッピング、ポ
リシングを行い、直径200mm×厚み0.80mmの
合成石英ガラスの基板を得た。前記基板の光学的な平坦
度と平行度を測定したところ、平坦度は2μm以下、平
行度は0.5μm以下であった。前記基板に真空蒸着機
を用いて両面に反射防止膜を成膜し、ペリクル板を作製
した。
EXAMPLE First, a block of synthetic quartz glass obtained by a known method is sliced to have a diameter of 200 mm and a thickness of 1.2.
A blank for 0 mm pellicle plate was obtained. After chamfering the raw plate, lapping and polishing were performed by a double-side polishing machine to obtain a synthetic quartz glass substrate having a diameter of 200 mm and a thickness of 0.80 mm. When the optical flatness and parallelism of the substrate were measured, the flatness was 2 μm or less and the parallelism was 0.5 μm or less. An antireflection film was formed on both surfaces of the substrate using a vacuum vapor deposition machine to prepare a pellicle plate.

【0024】一方、ペリクルフレームも同様に、公知の
方法で得られた合成石英ガラスのブロックをスライスし
て縦152mm×横152mm×厚み5.2mmの素板
を得た。この素板に面取り加工をし、両面研磨装置によ
り、ラッピング、ポリシングを行い、厚み5.0mmの
合成石英ガラスの基板を得た。前記基板の光学的な平坦
度と平行度を測定したところ、平坦度は0.5μm以
下、平行度は1μm以下であった。
Similarly, for the pellicle frame, a block of synthetic quartz glass obtained by a known method was sliced to obtain a blank plate having a length of 152 mm × width of 152 mm × thickness of 5.2 mm. The base plate was chamfered and lapped and polished by a double-side polishing machine to obtain a synthetic quartz glass substrate having a thickness of 5.0 mm. When the optical flatness and parallelism of the substrate were measured, the flatness was 0.5 μm or less and the parallelism was 1 μm or less.

【0025】前記基板をエンドミルを用いて削り出し、
外寸縦149mm×横122mm、内寸縦145mm×
横118mmの長方型の枠体で、各角部に半径5mmの
丸みをつけたペリクルフレームを作製した。このとき、
厚み方向の加工は行わないので、厚みは5.0mmであ
る。
The substrate is carved using an end mill,
External size Vertical 149 mm x Horizontal 122 mm, Internal size Vertical 145 mm x
A pellicle frame having a rectangular frame having a width of 118 mm and each corner having a radius of 5 mm was manufactured. At this time,
Since the processing in the thickness direction is not performed, the thickness is 5.0 mm.

【0026】次に、紫外線硬化性接着剤(スリーボンド
製、商品名3052B)50gに対してガラスビーズ
(触媒化成工業株式会社製、商品名:真絲球−SW−
2.0)1gを添加したものを用意し、前述の既にペリ
クル板を接着済みのペリクルフレームを接着した。しか
る後、ペリクルフレームの外形形状にあわせてペリクル
板をレーザー切断機で溶断した。
Next, to 50 g of an ultraviolet curable adhesive (manufactured by ThreeBond, trade name 3052B), glass beads (manufactured by Catalysts & Chemicals Co., Ltd., trade name: Shin-Gama-SW-)
2.0) 1 g was added and the above-mentioned pellicle frame to which the pellicle plate had already been bonded was bonded. Then, the pellicle plate was fused with a laser cutting machine according to the outer shape of the pellicle frame.

【0027】さらに、公知の方法で得られた合成石英を
基材としたフォトマスク用ブランクスを準備した。この
ブランクスの光学的平坦度を計測したところ、0.45
μmであった。
Further, a blank for a photomask having synthetic quartz obtained as a base material by a known method was prepared. The optical flatness of this blank was measured and found to be 0.45.
was μm.

【0028】このブランクス上に、前述のペリクルを前
述の接着剤を用いて接着し、ペリクル装着フォトマスク
を作製した。
The above pellicle was adhered onto this blank using the above adhesive to produce a pellicle-mounted photomask.

【0029】前述のペリクル装着フォトマスクのフォト
マスク面とペリクル板との平行度をオムロン社製Z30
0測定器で測定したところ、0.8μmの結果を得た。
The parallelism between the pellicle plate and the photomask surface of the above-described pellicle-mounted photomask is determined by OMRON Z30.
When measured with a No. 0 measuring instrument, a result of 0.8 μm was obtained.

【0030】なお、上記の実施例で用いた装置、材料に
限らず、同等の性能、目的を果たすものであれば種類は
問わない。
The apparatus and materials used in the above embodiments are not limited, and any type may be used as long as they have equivalent performance and purpose.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明によれば、転写パターンの位置ず
れの少ないペリクル及びペリクル装着フォトマスクが得
られる。
According to the present invention, it is possible to obtain a pellicle and a pellicle-mounting photomask in which the transfer pattern is less displaced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す平面図及び断面図FIG. 1 is a plan view and a sectional view showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1の断面図の部分拡大図FIG. 2 is a partially enlarged view of the cross-sectional view of FIG.

【図3】従来のペリクルの断面図FIG. 3 is a sectional view of a conventional pellicle.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11:ペリクル板 12:ペリクルフレーム 13:フォトマスク 14:接着層 15:粘着層 24:接着層 25:粘着層 26:スペーサ 31:ペリクル膜 32:ペリクルフレーム 33:フォトマスク 34:接着層 35:粘着層 11: Pellicle board 12: Pellicle frame 13: Photo mask 14: Adhesive layer 15: Adhesive layer 24: Adhesive layer 25: Adhesive layer 26: Spacer 31: Pellicle film 32: Pellicle frame 33: Photomask 34: Adhesive layer 35: Adhesive layer

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】枠体形状のペリクルフレームとペリクルフ
レームの一方の開口部に接着したペリクル板とを備えた
ペリクルであって、 ペリクルフレーム及びペリクル板は石英ガラスからな
り、ペリクル板とペリクルフレームとの間にスペーサを
含む接着層が介在することを特徴とするペリクル。
1. A pellicle comprising a frame-shaped pellicle frame and a pellicle plate adhered to one opening of the pellicle frame, wherein the pellicle frame and the pellicle plate are made of quartz glass, and the pellicle plate and the pellicle frame are provided. A pellicle having an adhesive layer including a spacer interposed therebetween.
【請求項2】枠体形状のペリクルフレームとペリクルフ
レームの一方の開口部に接着したペリクル板とを備え、
ペリクルフレーム及びペリクル板は石英ガラスからな
り、前記ペリクルフレームのペリクル板が装着されてい
るのと反対側の開口部に装着されたフォトマスクとを備
えたペリクル装着フォトマスクであって、 ペリクルフレームとフォトマスクとの間にスペーサを含
む接着層が介在することを特徴とするペリクル装着フォ
トマスク。
2. A pellicle frame having a frame shape and a pellicle plate bonded to one opening of the pellicle frame,
A pellicle mounting photomask, comprising a pellicle frame and a pellicle plate made of quartz glass, and a photomask mounted in an opening on the opposite side of the pellicle plate mounted on the pellicle frame. A pellicle-mounted photomask, wherein an adhesive layer including a spacer is interposed between the photomask and the photomask.
【請求項3】接着層中に含まれるスペーサが、ガラスビ
ーズである請求項1記載のペリクル。
3. The pellicle according to claim 1, wherein the spacers contained in the adhesive layer are glass beads.
【請求項4】接着層中に含まれるスペーサが、ガラスビ
ーズである請求項2に記載のペリクル装着フォトマス
ク。
4. The pellicle-mounted photomask according to claim 2, wherein the spacer contained in the adhesive layer is glass beads.
【請求項5】ペリクル板及びペリクルフレームの互いに
接着している面のそれぞれの平坦度が1μm以下である
請求項1または3に記載のペリクル。
5. The pellicle according to claim 1, wherein the flatness of each surface of the pellicle plate and the pellicle frame which are bonded to each other is 1 μm or less.
【請求項6】ペリクル板とフォトマスク面との平行度が
2μm以下である請求項2または4に記載のペリクル装
着フォトマスク。
6. The pellicle-mounted photomask according to claim 2, wherein the parallelism between the pellicle plate and the photomask surface is 2 μm or less.
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