JP2004017322A - Mold equipment and compression molding equipment - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する利用分野】
本発明は、ワークに圧縮成形用の樹脂材を供給してクランプする金型装置及び該金型装置を用いて圧縮成形を行う圧縮成形装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体パッケージを樹脂封止する樹脂封止装置には様々な種類のものが開発され実用化されている。例えば、QFN(Quad・Flat・Non−leaded)などのように、片面モールドタイプの半導体パッケージを樹脂封止する場合には、半導体チップを搭載した基板や、半導体チップがシリコンウエハにマトリクス状に搭載された半導体ウエハに規定量の樹脂材を供給して圧縮成形を行う装置がある。
【0003】
具体的には、ポッティングにより液状樹脂を塗布したり、液状樹脂を流下させてスピンコートすることにより樹脂封止が行われていた。半導体パッケージが小型で薄型化した製品の場合、成形品質を均一にするためには、加熱により硬化し易く、できるだけ封止樹脂の移動を伴わずしかも樹脂量を正確に計量して封止することが望まれる。圧縮成形によれば、被成形品に必要な樹脂量を計量して封止できるので、封止樹脂に無駄がなく、しかも樹脂の流動する範囲は限られているので薄型のパッケージを封止する場合にも均一な成形が可能となる。また、半導体チップがワイヤボンディングされている場合には、樹脂の移動を減らすことでワイヤ流れが抑制できる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、圧縮成形を行う場合、成形品の厚さは樹脂量に左右され易いため正確な計量を要する。このため、均一な成形品を得るためには、各ショット毎に正確な樹脂量の計量を要する。特に、液状樹脂を吐出するディスペンサ(吐出装置)のノズルまたはシール部の摩耗や、樹脂封止を行う雰囲気温度、液状樹脂に混入しているエアー、液材の粘度自体のばらつきなどの要因により液状樹脂の吐出量がばらつき易い。
また、実際の製造工程では、被成形品である基板やシリコンウエハに規定数の半導体チップが搭載されていない場合がある。この状態で、被成形品に規定量の液状樹脂を塗布すると、不足している半導体チップの容積分の封止樹脂が足りなくなり、パッケージ部全体の厚みが薄くなって成形不良となってしまうおそれがあった。また、半導体チップの欠損部が増えた場合には、完全に樹脂封止されない半導体チップ部分が発生するおそれもあった。
【0005】
そこで、キャビティ凹部外にオーバーフローキャビティやダミーキャビティを設けて、封止樹脂をワーク外へオーバーフローさせてエアーベントとしても利用することでキャビティ内の樹脂圧を一定に保つことで成形品質を向上させる金型装置も提案されている。しかしながら、成形後に成形品である基板より外部へ流出して硬化した不要樹脂をゲートブレイクして取り除く作業が必要になったり、金型クリーニングを要するなどメンテナンスが必要になり作業性が低下する。
【0006】
本発明の目的は、上記従来技術の課題を解決し、ワークのエリア内で封止樹脂をオーバーフローさせることで、パッケージ部を均一に樹脂封止すると共にスクラップ処理を不要とした金型装置及び該金型装置を用いて効率のよい成形作業が行える圧縮成形装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明は次の構成を備える。
即ち、半導体チップが基板上にマトリクス状に配置されたワークの片面に圧縮成形用の樹脂材を供給してクランプする金型装置において、モールド金型のクランプ面に、前記ワークのパッケージ部形成エリア外であって基板エリア内に、キャビティ凹部に連通したオーバーフローキャビティを設けたことを特徴とする。また、オーバーフローキャビティは、キャビティ凹部よりオーバーフローした樹脂量に応じて樹脂圧でクランプ面より退避可能な可動キャビティであることを特徴とする。
また、圧縮成形装置においては、上記金型装置を用いてワークをクランプして圧縮成形を行うことを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る金型装置及び圧縮成形装置の好適な実施の形態について添付図面と共に詳述する。本実施例はワークとして樹脂基板を用いた場合の金型装置について説明するものとする。
図1は上型の断面説明図、図2は図1に示す上型のクランプ面の平面図、図3は下型の断面説明図、図4は図3に示す下型のクランプ面の平面図、図5(a)〜(g)は圧縮成形動作の説明図である。
【0009】
先ず、圧縮成形装置の概略構成について図5(a)〜(g)を参照しながらその圧縮成形動作と共に説明する。
ワーク1は基板1aに半導体チップ1bがマトリクス状に搭載された片面モールドされる一括封止タイプのものが用いられている。図示しないワーク供給部より供給されたワーク1は、液材吐出装置(ディスペンサ)2により、液材(液状樹脂)3を定量的に吐出供給される。ディスペンサ2はワーク1上をX−Y−Z方向に走査しながら液状樹脂3を吐出する。(図5(a)参照)。尚、ワーク1には液状樹脂3が塗布されてから金型装置4に搬送されても良いし、型開きした金型装置4に搬入された状態で液状樹脂3が塗付されても良い。
【0010】
金型装置4は、液状樹脂2が供給されたワーク1を下型5と上型6とでクランプして圧縮成形する。上型6には、キャビティ凹部7が形成されており、そのパーティング面にはリリースフィルム8が張設されている(図5(b)参照)。
上型6は、キャビティ凹部7の底部を形成する上型インサートブロック9とその側壁を構成する可動ブロック(クランパ)10とを備えている。リリースフィルム8は、ワーク1をクランプする前に、上型インサートブロック9と可動ブロック10との隙間11を通じて図示しない吸引装置により吸引されてキャビティ凹部7に沿って吸着される(図5(c)参照)。また、下型5は、基板1aを吸引することによりワーク1を位置決め固定している。
【0011】
このリリースフィルム8は長尺状のフィルムが用いられ、例えばフィルム搬送機構により図示しない供給リールから送り出されて上型6を経て巻取りリールへ巻き取られるようになっている。リリースフィルム8は、モールド金型の加熱温度に耐えられる耐熱性を有するもので、上型面より容易に剥離するものであって、柔軟性、伸展性を有するフィルム材、例えば、PTFE、ETFE、PET、FEP、フッ素含浸ガラスクロス、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニリジン等が好適に用いられる。
【0012】
本実施例では、上型6が固定で下型5が昇降するようになっており、下型5を上動させてワーク1をクランプする。クランプするにしたがって、ワーク1に塗付された液状樹脂3はキャビティ凹部7に充填され(図5(d)参照)、可動ブロック10が基板1aを押えた型締め状態でキュアー(加熱硬化)させてパッケージ部12が形成される(図5(e)参照)。
【0013】
下型5が下動して型開きが行なわれると、上型6に吸着されていたリリースフィルム8の吸引が停止され、リリースフィルム8を上型面より離間させ(図5(f)参照)、更に基板1aが吸着されたまま下型5が下動することで、リリースフィルム8とワーク1とを分離する。下型5に吸着された成形品(ワーク1)は、型開きが終了すると金型外へ取り出される。また、リリースフィルム8は、次の成形動作に備えて一定量巻取りロール13に巻き取られる(図5(g)参照)。半導体チップ1bが一括封止された成形品(ワーク1)は、ダイシング装置によりダイシングされて個片に切断される。
【0014】
次に、金型装置の概略構成について図1〜図4を参照して説明する。
先ず、図3及び図4を参照して下型5の構成について説明する。
図3において、下型ベース14上には下型チェイス15が支持ブロック16及びサポートピラー17により支持されている。下型チェイス15には下型インサートブロック18が支持されている。下型インサートブロック18には、基板1aの位置決めを行う位置決めピン19が嵌め込まれており、先端がブロック表面より突出している。
図4において、下型インサートブロック18の基板1aが搭載される基板エリアQには複数の吸引孔18a及び該吸引孔18aどうしを連通する吸引路18bが形成されている。吸引路18bは、下型チェイス15に形成された吸引路15aに連絡するようになっている。
【0015】
また、図3において、下型ベース14と下型チェイス15との間にはエジェクタピン21が立設されたエジェクタピンプレート20が設けられている。このエジェクタピンプレート20は、下型チェイス15の裏面側に図示しない固定ボルトにより吊下げ支持されている。この固定ボルトと下型チェイス15との間にはコイルスプリングが弾装されており、下型チェイス15及び下型インサートブロック18に挿入されたエジェクタピン21が下型面より突出しないように下方に付勢している。エジェクタピンプレート20は、金型装置4が型開きして下型5が下動した際に、下型ベース14を挿通して設けられた突き当てピン(図示せず)に突き上げられて、エジェクタピン21が下型面(下型インサートブロック18)より突出して基板1aを離型させるようになっている。
【0016】
次に、上型6の構成について図1及び図2を参照して説明する。
図1において、上型ベース22には、上型チェイス23が支持ブロック24を介して吊下げ支持されている。上型チェイス23には、上型インサートブロック9及び可動ブロック10が吊下げ支持されている。また、上型ベース22と上型チェイス23との間には、可動プレート25が設けられている。上型インサートブロック9は、可動プレート25及び上型チェイス23を挿通して設けられたストッパピン26の先端部がねじ嵌合して支持されている。また、可動ブロック10は支持ブロック24及び上型チェイス23を挿通して設けられた固定ボルト27の先端部がねじ嵌合して支持されている。可動ブロック10は、上型チェイス23を挿通して嵌め込まれた押えボルト28と可動ブロック10との間に弾装されたコイルスプリング29により下方に付勢されており、可動ブロック10は上型チェイス23との間に僅かな隙間が形成されて吊り下げ支持されている。コイルスプリング29は、型閉じした際に可動ブロック10が基板1aに圧接してから増大するクランプ力を吸収するように設けられている。
【0017】
また、可動プレート25は、上型チェイス23に取付ボルト30によりねじ嵌合させて固定されている。可動プレート25と取付ボルト30との間にはコイルスプリング31が弾装されている。
可動プレート25の下面には、上端部がT字状に形成された押圧プレート等の押圧部材32の上端面が突き当てられて上型チェイス23の上面との間で挟み込まれている。この押圧部材32の上端面と上型チェイス23との間には、Oリング33が嵌め込まれており気密性を保持している。また、押圧部材32の下端面は、上型チェイス23を挿通して可動ブロック10側へ延設されている。可動ブロック10と上型インサートブロック9との界面部には可動キャビティプレート34が設けられており、該可動キャビティプレート34の上端面は、押圧部材32の下端面と当接している。可動キャビティプレート34の下端面は、キャビティ凹部7の短手方向の側面部を形成している。可動キャビティプレート34と押圧部材32との当接部分の周囲にはOリング35が嵌め込まれており、気密性を保持するようになっている。
【0018】
図2において、可動キャビティプレート34は、ワーク1のパッケージ部形成エリアP(キャビティ凹部7)外であって基板エリアQ内に、キャビティ凹部7に連通したオーバーフローキャビティを形成することができる。
即ち、オーバーフローキャビティは、キャビティ凹部7よりオーバーフローした液状樹脂3の樹脂圧で、クランプ面より可動キャビティプレート34が退避した際に可動キャビティが形成されるようになっている。可動キャビティプレート34に樹脂圧が加わると、押圧部材32を介して可動プレート25がコイルスプリング31が圧縮するように上方へ僅かに押し戻される。この可動キャビティプレート34の上動によりオーバーフローキャビティが樹脂量に応じて形成されるようになっている。
【0019】
また、上型インサートブロック9には、リリースフィルム8を吸着するための複数の吸引孔9a及び吸引孔9aどうしを連通する吸引路9bが形成されている。吸引孔9aは、上型インサートブロック9と可動ブロック10との隙間を通じて上型チェイス23に形成された吸引路23aに連絡するようになっている。
【0020】
上述した金型装置4を用いて圧縮成形を行うと、オーバーフローした液状樹脂3は、必ず基板1a上に残留し、基板1aより外部へ流出することはない。したがって、圧縮成形後に、金型から成形品を取り出す際に、不要樹脂をゲートブレークして取り出す必要はなく、しかも金型をクリーニングする必要もなくなり、メンテナンス作業も省略することができる。
また、オーバーフローキャビティは樹脂圧でクランプ面より退避可能な可動キャビティに形成されているので、樹脂圧の変動を可動キャビティで吸収してキャビティ内の樹脂圧を均一に維持することができる。
また、圧縮成形装置においては、成形品のパッケージ部12の厚みが一定となり、成形品質を向上させることができる。尚、基板1a上にパッケージ部12と並んで残存する不要樹脂は、ダイシングされる際に、基板1aのスクラップと共に回収されるので、該不要樹脂を取り除く作業も省略できる。
【0021】
以上、本発明の好適な実施例について種々述べてきたが、上述した実施例に限定されるのではなく、例えばワーク1としては、樹脂基板に限らず、フィルム基板、リードフレーム、更にはシリコンウエハなど、他の基板材料も採用でき、液状樹脂3の変わりに粉末樹脂、顆粒樹脂なども使用可能である。
また、金型装置4にはキャビティが1箇所形成された場合について例示したが、ワーク1の反りを低減させるため、キャビティが複数箇所に設けられていても良い。
また、本実施例は、上型にキャビティ凹部が形成された金型装置を例示したが、下型にキャビティ凹部が形成された金型装置であっても良い等、発明の精神を逸脱しない範囲で多くの改変を施し得るのはもちろんである。
【0022】
【発明の効果】
本発明に係る金型装置によれば、モールド金型のクランプ面に、ワークのパッケージ部形成エリア外であって基板エリア内に、キャビティ凹部に連通したオーバーフローキャビティを設けたので、オーバーフローした封止樹脂は必ず基板上に残留し、基板より外部へ流出することはない。したがって、圧縮成形後に、金型から成形品を取り出す際に、不要樹脂をゲートブレークして取り出す必要はなく、しかも金型をクリーニングする必要もなくなり、メンテナンス作業も省略することができる。
また、オーバーフローキャビティは樹脂圧でクランプ面より退避可能な可動キャビティである場合には、樹脂圧の変動を可動キャビティで吸収してキャビティ内の樹脂圧を均一に維持することができる。
また、圧縮成形装置においては、成形品のパッケージ部の厚みが一定となり、成形品質を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】上型の断面説明図である。
【図2】図1に示す上型のクランプ面の平面図である。
【図3】下型の断面説明図である。
【図4】図3に示す下型のクランプ面の平面図である。
【図5】圧縮成形動作の説明図である。
【符号の説明】
1 ワーク
1a 基板
1b 半導体チップ
2 ディスペンサ
3 液状樹脂
4 金型装置
5 下型
6 上型
7 キャビティ凹部
8 リリースフィルム
9 上型インサートブロック
9a、18a 吸引孔
9b、15a、18b 吸引路
10 可動ブロック
11 隙間
12 パッケージ部
13 巻取りロール
14 下型ベース
15 下型チェイス
16、24 支持ブロック
17 サポートピラー
18 下型インサートブロック
19 位置決めピン
20 エジェクタピンプレート
21 エジェクタピン
22 上型ベース
23 上型チェイス
25 可動プレート
26 ストッパピン
27 固定ボルト
28 押えボルト
29、31 コイルスプリング
30 取付ボルト
32 押圧部材
33、35 Oリング
34 可動キャビティプレート[0001]
FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a mold apparatus for supplying a resin material for compression molding to a workpiece and clamping the work, and a compression molding apparatus for performing compression molding using the mold apparatus.
[0002]
[Prior art]
Various types of resin sealing devices for resin sealing a semiconductor package have been developed and put into practical use. For example, when a single-sided mold type semiconductor package such as QFN (Quad / Flat / Non-leaded) is resin-sealed, a substrate on which a semiconductor chip is mounted or a semiconductor chip is mounted in a matrix on a silicon wafer. There is an apparatus that supplies a prescribed amount of resin material to a semiconductor wafer subjected to compression molding.
[0003]
Specifically, resin sealing has been performed by applying a liquid resin by potting or by spin-coating the liquid resin by flowing it down. In the case of products with small and thin semiconductor packages, in order to make the molding quality uniform, it is easy to cure by heating, and it is necessary to accurately measure the amount of resin without moving the sealing resin as much as possible. Is desired. According to the compression molding, the amount of resin required for the molded article can be measured and sealed, so that there is no waste in the sealing resin, and since the range in which the resin flows is limited, a thin package is sealed. Even in this case, uniform molding is possible. Further, when the semiconductor chip is wire-bonded, the flow of the wire can be suppressed by reducing the movement of the resin.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, when performing compression molding, accurate measurement is required because the thickness of the molded product is easily affected by the amount of resin. For this reason, in order to obtain a uniform molded product, it is necessary to accurately measure the amount of resin for each shot. In particular, due to the wear of the nozzle or seal of the dispenser (ejection device) that ejects the liquid resin, the ambient temperature at which the resin is sealed, the air mixed in the liquid resin, the variation in the viscosity of the liquid material itself, etc. The discharge amount of the resin tends to vary.
Further, in an actual manufacturing process, a prescribed number of semiconductor chips may not be mounted on a substrate or a silicon wafer as a molded product. In this state, if a prescribed amount of liquid resin is applied to the molded product, the sealing resin for the insufficient volume of the semiconductor chip becomes insufficient, and the thickness of the entire package portion may be reduced, resulting in molding failure. was there. Also, when the number of defective portions of the semiconductor chip increases, there is a possibility that a semiconductor chip portion that is not completely resin-sealed may occur.
[0005]
Therefore, an overflow cavity or dummy cavity is provided outside the cavity recess to allow the sealing resin to overflow outside the work and be used as an air vent to maintain the resin pressure in the cavity at a constant level, thereby improving molding quality. Molding devices have also been proposed. However, after molding, it is necessary to perform a work of removing the unnecessary resin which has flowed out of the substrate as a molded product to the outside and cured by a gate break, or requires a cleaning such as a mold cleaning, thereby reducing workability.
[0006]
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to mold a mold device that does not require scrap processing while uniformly sealing a package portion by overflowing a sealing resin in an area of a work. It is an object of the present invention to provide a compression molding device that can perform an efficient molding operation using a mold device.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, the present invention has the following configuration.
That is, in a mold apparatus for supplying and clamping a resin material for compression molding to one surface of a work in which semiconductor chips are arranged in a matrix on a substrate, a package forming area of the work is provided on a clamp surface of a mold. An overflow cavity communicating with the cavity recess is provided outside and in the substrate area. The overflow cavity is a movable cavity that can be retracted from the clamp surface by resin pressure according to the amount of resin overflowing from the cavity recess.
The compression molding apparatus is characterized in that a workpiece is clamped by using the above-mentioned mold apparatus to perform compression molding.
[0008]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of a mold apparatus and a compression molding apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In this embodiment, a mold apparatus using a resin substrate as a work will be described.
1 is a cross-sectional explanatory view of the upper die, FIG. 2 is a plan view of a clamp surface of the upper die shown in FIG. 1, FIG. 3 is a cross-sectional explanatory view of the lower die, and FIG. 4 is a plan view of a clamp surface of the lower die shown in FIG. FIGS. 5A to 5G are explanatory views of the compression molding operation.
[0009]
First, a schematic configuration of the compression molding apparatus will be described together with its compression molding operation with reference to FIGS.
The
[0010]
The mold apparatus 4 clamps the
The
[0011]
The release film 8 is a long film. For example, the release film 8 is sent out from a supply reel (not shown) by a film transport mechanism and is wound on a take-up reel via the
[0012]
In the present embodiment, the
[0013]
When the
[0014]
Next, a schematic configuration of the mold apparatus will be described with reference to FIGS.
First, the configuration of the
In FIG. 3, a
In FIG. 4, a plurality of
[0015]
In FIG. 3, an
[0016]
Next, the configuration of the
In FIG. 1, an
[0017]
The
On the lower surface of the
[0018]
In FIG. 2, the
That is, the movable cavity is formed in the overflow cavity when the
[0019]
In the
[0020]
When compression molding is performed using the above-described mold apparatus 4, the overflowed liquid resin 3 always remains on the
Further, since the overflow cavity is formed in the movable cavity which can be retracted from the clamp surface by the resin pressure, the fluctuation of the resin pressure can be absorbed by the movable cavity, and the resin pressure in the cavity can be maintained uniform.
Further, in the compression molding apparatus, the thickness of the
[0021]
As described above, various preferred embodiments of the present invention have been described. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments. For example, the
Further, the case where the cavity is formed in one place is illustrated in the mold apparatus 4, but the cavity may be provided in a plurality of places in order to reduce the warpage of the
Further, in the present embodiment, the mold apparatus in which the cavity is formed in the upper mold is illustrated. However, a mold apparatus in which the cavity is formed in the lower mold may be used without departing from the spirit of the invention. Of course, many modifications can be made.
[0022]
【The invention's effect】
According to the mold apparatus of the present invention, the overflow cavity communicating with the cavity concave portion is provided on the clamp surface of the mold outside the package portion forming area of the work and in the substrate area, so that the overflowed sealing is performed. The resin always remains on the substrate and does not flow out of the substrate. Therefore, when taking out the molded product from the mold after the compression molding, it is not necessary to take out the unnecessary resin by performing a gate break, and it is not necessary to clean the mold, and the maintenance work can be omitted.
Further, when the overflow cavity is a movable cavity that can be retracted from the clamp surface by the resin pressure, the fluctuation of the resin pressure can be absorbed by the movable cavity, and the resin pressure in the cavity can be maintained uniform.
Further, in the compression molding apparatus, the thickness of the package portion of the molded product becomes constant, and the molding quality can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory sectional view of an upper die.
FIG. 2 is a plan view of a clamp surface of the upper die shown in FIG.
FIG. 3 is an explanatory sectional view of a lower mold.
FIG. 4 is a plan view of a lower mold clamping surface shown in FIG. 3;
FIG. 5 is an explanatory diagram of a compression molding operation.
[Explanation of symbols]
Claims (3)
モールド金型のクランプ面に、前記ワークのパッケージ部形成エリア外であって基板エリア内に、キャビティ凹部に連通したオーバーフローキャビティを設けたことを特徴とする金型装置。In a mold apparatus for clamping and supplying a resin material for compression molding to one side of a work in which a semiconductor chip is arranged in a matrix on a substrate,
A mold apparatus, wherein an overflow cavity communicating with a cavity recess is provided on a clamp surface of a mold outside a package part forming area of the work and in a substrate area.
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