JP2004038215A - 光学的導波体の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 導波体層1とポリマーからなる基板2との間に、無機材料からなる中間層8を設け、この中間層によって、相当量のエネルギー部分が相対的に吸収性の高いポリマー材料に入ることを妨止するようにする。
【選択図】 図1
Description
そのうえ、導波体をガラス基板の上に形成することは、極めて困難であり、特に機械的応力、たとえば歪みを生じる。
基板/導波体層/周囲媒体、特に基板/導波体層の相互作用が、ここでは重要であって、実質的に導波体の特性を規定する。
a)構造が実質的に簡単であって、安価に製造することができ、場合によっては、
b)境界において変形することができ、および/または
c)機械的応力を受けにくく、および/または
d)多様な導波体の層および材料を可撓性の基板に設けることができる
光学的導波体の製造方法を提案することである。
従って、損失に対しては次式が与えられる。
1.導波性層1の材料
特に波長範囲400〜1000nmに対して優れた材料として、TiO2 ,Ta2 O5 ,ZrO2 ,Al2 O3 ,SiO2 −TiO2 ,HfO2 ,Y2 O3 ,Nb2 O5 ,窒化けい素,酸窒化物(SiOx Ny ,HfOx Ny ,AlOx Ny ,TiOx Ny ,TaOx Ny ),およびMgF2 ,CaF2 。
波長>1000nmに対して優れた材料として、けい素、SiOx ,Ge,GaAs,GaAlAs。
有機材料、特にポリマー、たとえばポリカーボネート、PVC、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、PET。
誘電性の無機材料、特に酸化物、窒化物、炭化物およびこれらの混合形であり、特にSiO2 ,Si3 N4 ,一般的なSiOx Ny ,および混合材料、特にSiO2 部分、Si3 N4 部分、または一般にSiOx Ny 部分を有する混合材料。
露出している導波体層または被覆層を積層した導波体層についてのすべての公知の技術。
1.導波体層の適用
これには、真空堆積(成長)技術が好ましく、特にプラズマCVD法(PECVD)、CVD法、反応性PVD法、特に反応性蒸着法、スパッタリング、イオンめっきが有利に使用される。プラズマは直流(DC)または交流(AC)で励起し、これには低周波、高周波およびマイクロ波のプラズマおよびDC+AC混合型がある。また非真空堆積(成長)法、たとえば浸漬引き出し、スピンコーティングを使用することもできる。
基板の温度経過と同一の制限の下で、導波体層の適用と同一の方法を使用する。さらに、たとえばけい素を含むモノマーを層の成長に使用する場合は、プラズマ重合を利用することができる。
有機材料、極めて好ましくは、ポリマーからなる基板を、合成材料の加工に公知の方法の1つによって成形する。これには、特に、型打ち(鋳造)、深絞り成形、射出成形、膨張延伸(PET合成材料用)が挙げられる。
明らかなように、特に図8,9,10〜13に示す構造は、本発明によって設けた基板材料が、本発明によって設けた中間層によって、従来のガラス基板を使用して得られた良好な光学的特性を簡単に確保することができるようにする。
中間層の積層方法:
DC電源からのプラズマ発生によるスパッタリング成長であり、最初はプラズマ放電期間から短時間の分離を反復し、最後に短時間短絡した。
ターゲット Ak 525;SiS23379
マグネトロン MC−525
ターゲットと基板との距離 70mm
DC電源 10kW
真空室 BAK−760S
アルゴン圧力 pAr=4×10-3mbar
調整された放電出力 P=6kW
金属モードのDC電圧 Usb=−695V
過渡モードのDC電圧 Usb=−595V
アルゴン流量 qAr=58.8sccm
酸素流量 qO2 =47sccm
SiO2 層の厚さ 図6のように変化
スパッタリング速度 R=0.28nm/s
中間層の堆積のようにスパッタリングした。
ターゲット Ak525;TI92−421/1
マグネトロン MC−525
ターゲットと中間層を
堆積した基板との距離 70mm
DC電源 10kW
真空室 BAK−760S
アルゴン圧力 pAr=4×10-3mbar
プラズマ放電出力 P=6kW
金属モードのDC電圧 Usb=−531V
過渡モードのDC電圧 Usb=−534V
アルゴン流量 qAr=57.4sccm
酸素流量 qO2 =17sccm
TiO2 導波体層の厚さ 95nm
スパッタリング速度 R=0.069nm/s
2…基板
3…周囲媒体
4…格子構造
5,6…光線
7…前側面
8…中間層
Claims (14)
- 少なくとも1つの導波体層を基板の上に有する光学的導波体であって、少なくとも導波体層に向いた基板が、有機材料からなり、基板と導波体層との間に少なくとも1つの中間層を有し、この中間層が、少なくとも1つの所定の伝搬モードにおいて、かつ少なくとも1つの所定の波長において、基板/層の界面によって作用される光波の伝搬の減衰を減少させることを特徴とする導波体。
- 前記有機材料がポリマー、特にポリカーボネートであり、および/または中間層もしくは直接導波体層に接する中間層の屈折率が、導波体層の屈折率より小さい、請求項1記載の導波体。
- 少なくとも1つの中間層、または1つの他の中間層が、基板への固着層として作用する、請求項1または2記載の導波体。
- 少なくとも1つの中間層、または導波体層の基板側に接して付いている1つの他の中間層が、基板側に付いている他の中間層または基板自身より伝搬の減衰が実質的に少ない、請求項1から3までのいずれか1つに記載の導波体。
- 導波体が立体的構造を有し、好ましくは、基板が型打ち、深絞り成形、または射出成形によって形成されている、請求項1から4までのいずれか1つに記載の導波体。
- 減衰が、少なくとも1つの中間層を有しない導波体に比べて、少なくとも3分の1少ない、請求項1から5までのいずれか1つに記載の導波体。
- 導波体層の材料が、特に波長400〜1000nmに対して、次の材料、すなわち、TiO2 ,Ta2 O5 ,ZrO2 ,Al2 O3 ,SiO2 −TiO2 ,HfO2 ,Y2 O3 ,Nb2 O5 ,窒化けい素,酸窒化物(SiOx Ny ,HfOx Ny ,AlOx Ny ,TiOx Ny ,TaOx Ny )およびMgF2 ,CaF2 のうちの少なくとも1つを含み、かつ好ましくは、波長>1000nmに対して、次の材料、すなわち、けい素、SiOx ,Ge,GaAsおよびGaAlAsのうちの少なくとも1つを含む、請求項1から6までのいずれか1つに記載の導波体。
- 減衰が、ガラス基板上の同様な導波体層材料の導波体における減衰と同程度であり、好ましくは100dB/cmより少なく、さらに好ましくは50dB/cmより少なく、もっとも好ましくは10dB/cmより少ない、請求項1から7までのいずれか1つに記載の導波体。
- 少なくとも1つの中間層が、無機材料からなり、好ましくは、酸化けい素を有する材料、たとえばSiO2 もしくはSiO2 −TiO2 混合物、またはSi3 N4 を有する材料、たとえばSi3 N4 、もしくはSi3 N4 との混合物からなり、厚さが少なくとも5nm、好ましくは少なくとも10nmである、請求項1から8までのいずれか1つに記載の導波体。
- 下記の工程(a)〜(c)を含む、光学的導波体の製造方法。
(a)有機材料から基板を形成する工程
(b)少なくとも1つの中間層を、真空堆積法(Vakuumbeshichtungsverfahren)によって基板の上に形成する工程
(c)導波性層を中間層の上に形成する工程 - 基板の形成は、ポリマー、好ましくはポリカーボネートを、型押し、深絞り成形、または射出成形することを含み、および/またはすでに基板上に設けた少なくとも1つの中間層、もしくは1つの他の中間層を基板への固着層とする、請求項10記載の方法。
- 中間層を、PECVD法、反応性PVD法、またはプラズマ重合によって形成し、このとき少なくとも1つの中間層を、無機材料、好ましくはSiO2 および/またはSi3 N4 から堆積させる、請求項10または11記載の方法。
- 導波体層を、反応性PVD法、特にイオンめっき法によって形成する、請求項10から12までのいずれか1つに記載の方法。
- 中間層の形成および導波体層の形成は、基板の温度を100℃以下、好ましくは60℃以下として行う、請求項10から13までのいずれか1つに記載の方法。
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Families Citing this family (9)
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|---|---|---|---|---|
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| TW200528848A (en) * | 2004-02-27 | 2005-09-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Light guide plate and backlight module using the same |
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| US8000532B2 (en) * | 2007-02-28 | 2011-08-16 | Medtronic, Inc. | Digital pen to capture data in ambulatory monitored patients |
| EP2110694B1 (en) | 2008-04-18 | 2013-08-14 | Sony DADC Austria AG | Method for manufacturing an optical waveguide, optical waveguide, and sensor arrangement |
| DE102008046579A1 (de) * | 2008-09-10 | 2010-03-18 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur Herstellung einer optischen Wellenleiterschicht |
| US20100095707A1 (en) * | 2008-10-21 | 2010-04-22 | Qualcomm Mems Technologies,Inc. | Fabricating optical waveguides |
| KR101562313B1 (ko) * | 2009-08-17 | 2015-10-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 광학필름, 이의 제조 방법, 및 이를 갖는 표시장치 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1282941A (en) * | 1969-12-02 | 1972-07-26 | Plessey Co Ltd | Improvements in and relating to optical arrangements |
| US4749245A (en) * | 1985-03-11 | 1988-06-07 | Kuraray Co., Ltd. | Thin film waveguide device and manufacturing method for making same |
| US4715672A (en) * | 1986-01-06 | 1987-12-29 | American Telephone And Telegraph Company | Optical waveguide utilizing an antiresonant layered structure |
| FR2625333B1 (fr) * | 1987-12-24 | 1993-09-10 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication de microguides de lumiere a faibles pertes de propagation optique par depot de multicouches |
| JPH01257805A (ja) * | 1988-04-08 | 1989-10-13 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 高分子光導波路装置 |
| DE4228853C2 (de) * | 1991-09-18 | 1993-10-21 | Schott Glaswerke | Optischer Wellenleiter mit einem planaren oder nur geringfügig gewölbten Substrat und Verfahren zu dessen Herstellung sowie Verwendung eines solchen |
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