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JP2004038215A - 光学的導波体の製造方法 - Google Patents

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JP2004038215A JP2003362461A JP2003362461A JP2004038215A JP 2004038215 A JP2004038215 A JP 2004038215A JP 2003362461 A JP2003362461 A JP 2003362461A JP 2003362461 A JP2003362461 A JP 2003362461A JP 2004038215 A JP2004038215 A JP 2004038215A
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Edoringaa Yohanesu
ヨハネス エドリンガー
Helmut Rudigier
ヘルムート ルディギール
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Abstract

【課題】 構造が実質的に簡単で、機械的応力を受けにくく、多様な導波体の層および材料を可撓性の基板に設けることができる光学的導波体の製造方法を提供する。
【解決手段】 導波体層1とポリマーからなる基板2との間に、無機材料からなる中間層8を設け、この中間層によって、相当量のエネルギー部分が相対的に吸収性の高いポリマー材料に入ることを妨止するようにする。
【選択図】   図1

Description

 本発明は、少なくとも1つの導波体層を基板の上に有する光学的導波体の製造方法に関し、導波体の導波性層と支持基板との間に中間層を設けて導波性層の特性と基板の特性とを切り離すこと、また有機材料、特にポリマーからなる基板を、選択して上に設ける導波体層のための支持基板として使用することに関する。
 多くの応用、たとえばセンサー、統合した光学装置などでは平面状の導波体を使用する。図7(a)に示すように、このような導波体は、単純な形状であり、屈折率nS の基板2の上に、屈折率nF の導波体層1、および屈折率nC の周囲媒体3、いわゆる被覆媒体または外被を有する。さらに、この周囲媒体3は、図7(b)に示すように、層または層系からなる。屈折率の大きさは、nC <nF かつnS <nF である。
 多くの応用については、少なくとも1つのこの層を形成する必要がある。一般にこの導波体の内に光を囲い込むための優れた方法は、図8に示すように、導波体に格子構造4を設け、光5、たとえばレーザー光線を導波体層1の内で屈折させて囲い込む。このとき入射角、格子間隔および導波体の層厚さを選択することによって、光6は特定の前進モードで、導波体層1の内を前進して、導波体の前側7から出る。
 格子4は、基板の表面にあるか、または導波体層の内部にあるか、もしくはこれに接しているかに関係しない。さらに、導波体を全体として立体的に構成することも屡々行われる。図7(b)は、立体的構造を有しない導波体を示し、図9および図10は、帯状構造の導波体を示し、図11は、掘り込まれた帯状構造の導波体を示す。図12および図13は、純粋に例示のための立体的複合構造の導波体のそれぞれの上面図と断面図を示す。このような構造の導波体は、たとえば通信技術またはセンサー技術で広く使用されている。
 通常この種の導波体は、ガラス基板の上に作られるので、ホトリソグラフィー、およびこれに続くエッチング、イオンエッチング、反応性イオンエッチング、化学的湿式エッチングなどによって形成される。
 このような構造を形成する技術は、時間および費用を要する。
 そのうえ、導波体をガラス基板の上に形成することは、極めて困難であり、特に機械的応力、たとえば歪みを生じる。
 基板/導波体層/周囲媒体、特に基板/導波体層の相互作用が、ここでは重要であって、実質的に導波体の特性を規定する。
 本発明の課題は、
a)構造が実質的に簡単であって、安価に製造することができ、場合によっては、
b)境界において変形することができ、および/または
c)機械的応力を受けにくく、および/または
d)多様な導波体の層および材料を可撓性の基板に設けることができる
光学的導波体の製造方法を提案することである。
 これは、最初に述べたように、少なくとも導波体層に向いた基板が、有機材料からなり、基板と導波体層との間に少なくとも1つの中間層を有し、この中間層が、少なくとも1つの所定の伝搬モードにおいて、かつ少なくとも1つの所定の波長において、基板/層の界面によって作用される光波の伝搬の減衰を減少させるようにすることによって達成される。
 本発明においては、導波体の導波性層と支持基板との間に中間層を設けて、これを導波性層の特性と基板の特性とを切り離すために使用する。また、本発明では、有機材料、特にポリマーからなる基板を、選択して上に設けられる導波体層のための支持基板として使用し、かつ基板と導波体層との間に少なくとも1つの中間層を設ける。
 特に、ポリマー、たとえば現在優れたポリマーとして、ポリカーボネートを導波体基板とし、導波体、特にその全体を、型打ち、深絞り成形、射出成形などによって構成した後に、特に導波性材料を堆積(積層)することが極めて安価であろう。このとき、有機材料、特にポリマーからなる基板の上に導波性材料を堆積することは、決して通常の方法ではない。
 特に留意すべきことは、こうして形成された導波体、すなわち基板上に直接設けられた導波体層は、所定のモードおよび所定の波長において、限定された距離にわたって、強さの減少として規定される損失が、基板の材料に無機材料、たとえばガラスを使用した場合よりも、実質的に大きく、少なくとも10倍である。
 ここで提起した問題は、我々の知見によれば、実質的に新しい領域である。実際に、文献たとえば"Design of integrated optical couplers and interferometers suitable for low-cost mass production", R.E.Kunz およびJ.S.Gu;ECIO'93-Konferenz in Neuchatelを参照すれば、統合した光学機器は、構造用の合成材料から安価に製造することができるとするが、この記載は、その要求があることを単に述べているに過ぎない。
 しかし自明のように、一方において、有機材料、特にポリマーのためのすべての成形方法、他方において、堆積あるいは成長方法たとえばCVD,PECVD,蒸着、スパッタリング、イオンめっきなどは、技術の水準に属する。この場合、合成材料の部材、たとえば眼鏡のガラス、反射体などを多様な材料でたとえばプラズマ重合によって堆積あるいは成長させることも、技術の水準に属する。
 さらに"Integrated Optics:Theory and Technology", R.G.Hunsperger, Springer Series in Optical Sciences, Springer-Verlag 1984 に記載する平面状導波体の理論を参照しておく。
 本発明は、より広い請求の範囲の対象および優れた実施態様を有し、以下の実施例および図面によって、その多様な面を説明する。
 図14に、本発明の基礎とする知見を説明するために、導波体層1、基板2および被覆層3からなる非対称的導波体についてモードの分布を示した。これによって、2つのモードの場の分布を知ることができる。場または光のエネルギーが、導波性層のみならず、隣接する媒体、すなわち被覆層および基板にも広がっていることが認められる。
 導波体層1の外にもれるエネルギー部分の百分率は、なかでも導波体層1の厚さに依存し、さらに屈折率nC ,nF ,nS ,モードの種類(TE,TM)およびモード数に依存する。薄い導波体層では、基板にもれるエネルギー部分の百分率はより厚い層の場合より大きい。しかし薄い層は、特にセンサー技術に特定して使用するのに極めて有利である。
 図2に、たとえば相互に重なり合った層あるいは相A〜Dを示す。図2において輪切り片として示された空間要素dVにおける損失A(dV)は、局部的な光の強さI(r)、および一般的な損失係数α(r)の空間積分として規定され、これは、なかでも局部的な吸収および分散を考慮する。
 従って、損失に対しては次式が与えられる。
Figure 2004038215
 (式中、rは場所のベクトルを表す。)
 これより明かなように、図14を参照すれば、特に、基板、特に基板/導波体の界面における損失αが多い程、さらに基板/導波体の界面におけるエネルギー部分の百分率が大きい程、導波体の全損失が多くなる。
 ガラスたとえばCorning 7059ガラスの上の導波体層は、全体として極めて少ない損失、または少ない吸収を示すが、基板材料として有機材料、特にポリマー、たとえばポリカーボネートの基板の上の導波体層の損失は、少なくとも10倍と大きく、この損失は、導波体層1の厚さ、およびさらに基板材料、特に基板/導波体の界面におけるエネルギー部分の百分率によって推移する。
 このとき、前述の損失の増加は、その都度特定して使用する堆積方法の結果によるのみならず、また図8によって説明した基板材料と導波体層との相互作用の結果にもよる。
 図1は、本発明の導波体の構造を示す。この導波体は、有機材料、特にポリマー、たとえばポリカーボネートからなる基板2を含む。導波体層1は、少なくとも1つの中間層8によって基板2から分離されている。
 本発明によれば、中間層8、場合によっては中間層系8があるので、一般的な損失係数αが大きいところで、導波体の内の光の強さIが小さいことを達成する。これによって、損失を最小にすることができる。これは導波体の表面に垂直な導波体の屈折率のプロファイルの対応する拡がりによって達成される。
 材料
 1.導波性層1の材料
 特に波長範囲400〜1000nmに対して優れた材料として、TiO2 ,Ta25 ,ZrO2 ,Al23 ,SiO2 −TiO2 ,HfO2 ,Y23 ,Nb25 ,窒化けい素,酸窒化物(SiOxy ,HfOxy ,AlOxy ,TiOxy ,TaOxy ),およびMgF2 ,CaF2
波長>1000nmに対して優れた材料として、けい素、SiOx ,Ge,GaAs,GaAlAs。
 2.基板2の材料
 有機材料、特にポリマー、たとえばポリカーボネート、PVC、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、PET。
 3.少なくとも1つの中間層、好ましくは1つの中間層8の材料
 誘電性の無機材料、特に酸化物、窒化物、炭化物およびこれらの混合形であり、特にSiO2 ,Si34 ,一般的なSiOxy ,および混合材料、特にSiO2 部分、Si34 部分、または一般にSiOxy 部分を有する混合材料。
 4.被覆
 露出している導波体層または被覆層を積層した導波体層についてのすべての公知の技術。
 加工技術
 1.導波体層の適用
 これには、真空堆積(成長)技術が好ましく、特にプラズマCVD法(PECVD)、CVD法、反応性PVD法、特に反応性蒸着法、スパッタリング、イオンめっきが有利に使用される。プラズマは直流(DC)または交流(AC)で励起し、これには低周波、高周波およびマイクロ波のプラズマおよびDC+AC混合型がある。また非真空堆積(成長)法、たとえば浸漬引き出し、スピンコーティングを使用することもできる。
 少なくとも1つの導波性層1を、本発明の基板材料の上に設けることを考慮して、基板の温度を、基板材料の軟化点より低く、特に<100℃、好ましくは<60℃とする堆積方法を用いることが好ましい。
 2.少なくとも1つの中間層の適用
 基板の温度経過と同一の制限の下で、導波体層の適用と同一の方法を使用する。さらに、たとえばけい素を含むモノマーを層の成長に使用する場合は、プラズマ重合を利用することができる。
 3.基板
 有機材料、極めて好ましくは、ポリマーからなる基板を、合成材料の加工に公知の方法の1つによって成形する。これには、特に、型打ち(鋳造)、深絞り成形、射出成形、膨張延伸(PET合成材料用)が挙げられる。
 本発明によって挿入した中間層または中間層系の1つの層は、光学的作用、すなわち基板材料または基板/層の界面において、吸収が大きくて光の強さを最適に小さくする作用とともに、他方において基板と、その上の層との間の接着層として作用する。これによって、導波体層に、特に目的とする光学的分離作用を実現する第1の中間層を設け、かつ他の中間層によって基板に接する接着問題を解決することができる。
 本発明の導波体における損失は、従来のガラス基板における損失と同一の程度であり、特に100dB/cmより小さく、好ましくは50dB/cmより小さく、さらに特に10dB/cmより小さい。
 さらに、本発明によれば、図1の中間層8を設けることによって、導波体層1の特性を基板2の特性から切り離すことにより特異な重要性が示される。これによれば、導波体層材料と基板材料との間で対応して変化する相互作用を、実質的に考慮することなしに、与えられた基板材料について、使用目的(波長、モード)に応じて多様な導波体層材料を使用することが可能になり、本発明によって使用することができる。
 これは、基板材料として、特にポリマー材料を選択し、光学的基準とは別に満足させることもできる。
 明らかなように、特に図8,9,10〜13に示す構造は、本発明によって設けた基板材料が、本発明によって設けた中間層によって、従来のガラス基板を使用して得られた良好な光学的特性を簡単に確保することができるようにする。
 図3(a),3(b),図4(a),4(b)および図5(a),5(b)において、本発明による導波体の厚さの範囲zにわたる優れた屈折率のプロファイルを示す。ここにおいて記号“ZS”は中間層、記号“S”は基板、記号“F”は導波体層を表す。
 屈折率、または本発明によって設けた中間層の厚さの範囲dZSに対応する屈折率の推移を定めるに当って、図に示すように、多様な変形が可能である。多くの場合、中間層の屈折率は、導波体層の屈折率nF より、大きく選ぶ。
 図3(b),4(b),5(a)および5(b)に示すように、特に中間層または中間層系における屈折率の推移は、傾斜して現れることができ、この変形は、中間層をプラズマ重合によって形成するときに、特に選ばれる。
 ここで、図5(b)は2つの可能性を示し、中間層の屈折率は基板材料の屈折率nS から出発して、上昇または下降する。さらに、中間層と導波体層との界面領域、たとえば拡散領域においても、屈折率の傾斜が現れることができる。中間層の厚さは、光エネルギーIの無視できる部分のみが、基板/導波体の界面層の損失の大きい領域に到達するように寸法を定めることが有利である。
 無機材料からなる層、すなわち導波体層材料を、直接、有機材料、特にポリマー材料の上に被覆すると、高い確率でポリマー成分とその上の導波体層成分とが反応する。この反応によって、高い確率で、高い吸収の過渡層が生成する。これは導波体層を直接ポリマー基板の上に設けたときにおきるであろう。
 しかし、本発明によれば、ともに無機質である中間層材料と導波体層との間に類似性があるので、このような界面反応は極めて僅かである。また、中間層材料と基板材料との間のすべての界面反応は、僅かな損失をもたらすに過ぎず、これは、中間層によって、僅かな光エネルギーがこの界面において損失するに過ぎないことによる。
 本発明によって設けた中間層は、基板表面における前述の界面反応を抑制しないが、基板と導波体層との間で、実際にガラス中間基板のように作用する。本発明によって定められた基板の望ましくない表面の粗さは、本発明によって中間層を設けたことによってある程度平滑化され、これは屈折率パラメータに寄与する。
 次の条件下での導波体の屈折率プロファイルを、基本的に図4(a)によって示す。基板材料として屈折率nS =1.538のポリカーボネートを使用し、中間層材料としてSiO2 、導波体層材料としてTiO2 を使用した。導波体は被覆せずに、空気を被覆媒体として作用させた。
 PC7基板の上にSiO2 中間層を設けたTiO2 導波体のプロセスパラメーター:
中間層の積層方法:
 DC電源からのプラズマ発生によるスパッタリング成長であり、最初はプラズマ放電期間から短時間の分離を反復し、最後に短時間短絡した。
 ターゲット
 ターゲット         Ak 525;SiS23379
 マグネトロン        MC−525
 ターゲットと基板との距離  70mm
 DC電源          10kW
 真空室           BAK−760S
 アルゴン圧力        pAr=4×10-3mbar
 調整された放電出力     P=6kW
 金属モードのDC電圧    Usb=−695V
 過渡モードのDC電圧    Usb=−595V
 アルゴン流量        qAr=58.8sccm
 酸素流量          qO2 =47sccm
 SiO2 層の厚さ      図6のように変化
 スパッタリング速度     R=0.28nm/s
 導波体層の形成:
 中間層の堆積のようにスパッタリングした。
 ターゲット         Ak525;TI92−421/1
 マグネトロン        MC−525
 ターゲットと中間層を
 堆積した基板との距離    70mm
 DC電源          10kW
 真空室           BAK−760S
 アルゴン圧力        pAr=4×10-3mbar
 プラズマ放電出力      P=6kW
 金属モードのDC電圧    Usb=−531V
 過渡モードのDC電圧    Usb=−534V
 アルゴン流量        qAr=57.4sccm
 酸素流量          qO2 =17sccm
 TiO2 導波体層の厚さ   95nm
 スパッタリング速度     R=0.069nm/s
 得られた導波体は、SiO2 層の厚さdが20nmのとき、TMモードで波長633nmにおいて、損失が約8dB/cmであることを確めた。
 図6において、SiO2 中間層の厚さdについて相対的損失をdBで示す。中間層の厚さが5nmで、すでに約2倍の改良を達成する。図より明かなように、中間層がない場合は、10nmの中間層を設けた場合に比べて、損失が約4倍に増加する。それゆえ、本発明によって中間層の厚さを好ましくは≧10nmとすることを提案する。勿論、製造コストを最小にするために、この厚さをできるだけ薄くする、すなわち約10nmとすることが明かに好ましいことである。
本発明の導波体の断面図である。 吸収または減衰を定義するため導波体の構造を模式的に示す図である。 (a)および(b)は、本発明の導波体において厚さに対して可能な屈折率の推移を示しているグラフである。 (a)および(b)は、本発明の導波体において厚さに対して可能な屈折率の推移を示しているグラフである。 (a)および(b)は、本発明の導波体において厚さに対して可能な屈折率の推移を示しているグラフである。 本発明によって設けた二酸化けい素中間層の厚さに対して、本発明の導波体におけるdBで表す相対的な損失、および本発明による中間層のない中間層の厚さ0の場合の損失を示す図である。 従来技術の構造の導波体の断面図であって、(a)は被覆層のないものを示す図であり、(b)は被覆層を有するものを示す図である。 光を囲い込む導波体層または基板の構造を説明するための導波体の斜視図である。 立体的構造の導波体の斜視図である。 別の立体的構造の導波体の斜視図である。 図9または図10において埋設された導波体の斜視図である。 複合構造の導波体を説明する図であって、(a)はその平面図、(b)はそのB−B線断面図である。 別の複合構造の導波体を説明する図であって、(a)はその平面図、(b)は(a)のB−B線断面図、(c)は(a)のC−C線断面図である。 たとえば、"Integrated Optics:Theory and Technology", Robert G.Hunsperger, Second Edition, Springer-Verlog 1984,p.36に記載する、非対称的導波体に現れるエネルギー分布または振動モードを説明する図である。
符号の説明
1…導波性層
2…基板
3…周囲媒体
4…格子構造
5,6…光線
7…前側面
8…中間層

Claims (14)

  1.  少なくとも1つの導波体層を基板の上に有する光学的導波体であって、少なくとも導波体層に向いた基板が、有機材料からなり、基板と導波体層との間に少なくとも1つの中間層を有し、この中間層が、少なくとも1つの所定の伝搬モードにおいて、かつ少なくとも1つの所定の波長において、基板/層の界面によって作用される光波の伝搬の減衰を減少させることを特徴とする導波体。
  2.  前記有機材料がポリマー、特にポリカーボネートであり、および/または中間層もしくは直接導波体層に接する中間層の屈折率が、導波体層の屈折率より小さい、請求項1記載の導波体。
  3.  少なくとも1つの中間層、または1つの他の中間層が、基板への固着層として作用する、請求項1または2記載の導波体。
  4.  少なくとも1つの中間層、または導波体層の基板側に接して付いている1つの他の中間層が、基板側に付いている他の中間層または基板自身より伝搬の減衰が実質的に少ない、請求項1から3までのいずれか1つに記載の導波体。
  5.  導波体が立体的構造を有し、好ましくは、基板が型打ち、深絞り成形、または射出成形によって形成されている、請求項1から4までのいずれか1つに記載の導波体。
  6.  減衰が、少なくとも1つの中間層を有しない導波体に比べて、少なくとも3分の1少ない、請求項1から5までのいずれか1つに記載の導波体。
  7.  導波体層の材料が、特に波長400〜1000nmに対して、次の材料、すなわち、TiO2 ,Ta25 ,ZrO2 ,Al23 ,SiO2 −TiO2 ,HfO2 ,Y23 ,Nb25 ,窒化けい素,酸窒化物(SiOxy ,HfOxy ,AlOxy ,TiOxy ,TaOxy )およびMgF2 ,CaF2 のうちの少なくとも1つを含み、かつ好ましくは、波長>1000nmに対して、次の材料、すなわち、けい素、SiOx ,Ge,GaAsおよびGaAlAsのうちの少なくとも1つを含む、請求項1から6までのいずれか1つに記載の導波体。
  8.  減衰が、ガラス基板上の同様な導波体層材料の導波体における減衰と同程度であり、好ましくは100dB/cmより少なく、さらに好ましくは50dB/cmより少なく、もっとも好ましくは10dB/cmより少ない、請求項1から7までのいずれか1つに記載の導波体。
  9.  少なくとも1つの中間層が、無機材料からなり、好ましくは、酸化けい素を有する材料、たとえばSiO2 もしくはSiO2 −TiO2 混合物、またはSi34 を有する材料、たとえばSi34 、もしくはSi34 との混合物からなり、厚さが少なくとも5nm、好ましくは少なくとも10nmである、請求項1から8までのいずれか1つに記載の導波体。
  10.  下記の工程(a)〜(c)を含む、光学的導波体の製造方法。
     (a)有機材料から基板を形成する工程
     (b)少なくとも1つの中間層を、真空堆積法(Vakuumbeshichtungsverfahren)によって基板の上に形成する工程
     (c)導波性層を中間層の上に形成する工程
  11.  基板の形成は、ポリマー、好ましくはポリカーボネートを、型押し、深絞り成形、または射出成形することを含み、および/またはすでに基板上に設けた少なくとも1つの中間層、もしくは1つの他の中間層を基板への固着層とする、請求項10記載の方法。
  12.  中間層を、PECVD法、反応性PVD法、またはプラズマ重合によって形成し、このとき少なくとも1つの中間層を、無機材料、好ましくはSiO2 および/またはSi34 から堆積させる、請求項10または11記載の方法。
  13.  導波体層を、反応性PVD法、特にイオンめっき法によって形成する、請求項10から12までのいずれか1つに記載の方法。
  14.  中間層の形成および導波体層の形成は、基板の温度を100℃以下、好ましくは60℃以下として行う、請求項10から13までのいずれか1つに記載の方法。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6510263B1 (en) * 2000-01-27 2003-01-21 Unaxis Balzers Aktiengesellschaft Waveguide plate and process for its production and microtitre plate
TW200528848A (en) * 2004-02-27 2005-09-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Light guide plate and backlight module using the same
RU2007134366A (ru) * 2005-02-15 2009-03-27 Эр Пи Оу ПТИ ЛИМИТЕД (AU) Фотолитографическое формирование микрорельефа в полимерных материалах
US7218802B1 (en) 2005-11-30 2007-05-15 Corning Incorporated Low drift planar waveguide grating sensor and method for manufacturing same
US8000532B2 (en) * 2007-02-28 2011-08-16 Medtronic, Inc. Digital pen to capture data in ambulatory monitored patients
EP2110694B1 (en) 2008-04-18 2013-08-14 Sony DADC Austria AG Method for manufacturing an optical waveguide, optical waveguide, and sensor arrangement
DE102008046579A1 (de) * 2008-09-10 2010-03-18 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zur Herstellung einer optischen Wellenleiterschicht
US20100095707A1 (en) * 2008-10-21 2010-04-22 Qualcomm Mems Technologies,Inc. Fabricating optical waveguides
KR101562313B1 (ko) * 2009-08-17 2015-10-22 삼성디스플레이 주식회사 광학필름, 이의 제조 방법, 및 이를 갖는 표시장치

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1282941A (en) * 1969-12-02 1972-07-26 Plessey Co Ltd Improvements in and relating to optical arrangements
US4749245A (en) * 1985-03-11 1988-06-07 Kuraray Co., Ltd. Thin film waveguide device and manufacturing method for making same
US4715672A (en) * 1986-01-06 1987-12-29 American Telephone And Telegraph Company Optical waveguide utilizing an antiresonant layered structure
FR2625333B1 (fr) * 1987-12-24 1993-09-10 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication de microguides de lumiere a faibles pertes de propagation optique par depot de multicouches
JPH01257805A (ja) * 1988-04-08 1989-10-13 Mitsubishi Gas Chem Co Inc 高分子光導波路装置
DE4228853C2 (de) * 1991-09-18 1993-10-21 Schott Glaswerke Optischer Wellenleiter mit einem planaren oder nur geringfügig gewölbten Substrat und Verfahren zu dessen Herstellung sowie Verwendung eines solchen
US5170461A (en) * 1991-12-11 1992-12-08 Hoechst Celanese Corp. Polymeric electrooptic waveguide devices using a polymeric substrate

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