JP2004317230A - Data storage device - Google Patents
Data storage device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004317230A JP2004317230A JP2003110012A JP2003110012A JP2004317230A JP 2004317230 A JP2004317230 A JP 2004317230A JP 2003110012 A JP2003110012 A JP 2003110012A JP 2003110012 A JP2003110012 A JP 2003110012A JP 2004317230 A JP2004317230 A JP 2004317230A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- trigger
- data
- sample
- measurement data
- storage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Recording Measured Values (AREA)
Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はデータ格納装置に関し、特に、同一データを高速及び低速サンプリング周期でサンプリングして二つのリングバッファメモリを使用して格納範囲を指定して同時に格納できるデータ格納装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、測定データを所定のサンプルレートでサンプリングする測定部と、前記測定部でサンプリングされる測定データを順次格納するリング状バッファメモリと、測定データの変化状態を監視して所定のトリガ条件が成立した時点でトリガ信号を出力するトリガ検知回路と、前記バッファメモリに格納されている測定データが前記トリガ検知回路から出力されるトリガ信号に基づいて順次格納される第1のデータメモリと、前記測定部でサンプリングされる測定データが一定の間隔で間引かれて順次格納される第2データメモリとを備える測定データ収集装置が知られている。
【0003】
【特許文献1】
特開平6―332621号公報(図1)
しかし、従来の装置は、高速サンプルデータはトリガ条件が成立した後に第1データメモリに格納される。このため、トリガ条件成立前の高速サンプル測定データが格納できない不都合がある。また、低速サンプルデータは順次格納され、長時間の測定格納を可能としている。しかし、トリガ条件と無関係に格納され、格納時間も一定であり、トリガ条件成立前後のデータも順次更新されて消失する不都合がある。
【0004】
この様に従来の装置は、突発現象の前後の状態を正確に格納できず、突発現象の正確な分析のできない不都合がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上述の不都合を解決するもので、突発現象の高速サンプル測定データおよび低速サンプル測定データを、突発現象発生点の前後の所望の格納範囲を指定して格納・保持でき、突発現象を正確に格納および分析できるデータ格納装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記の目的を達成するため、格納用リングバッファメモリに予め二つの領域を設定し測定対象から高速サンプリング周期で測定データを取り入れて所定の処理を行うCPUと、このCPUからの出力測定データに基づいて測定データを順次格納するリングバッファメモリIと、前記測定データを一定の間隔で間引いて順次格納するリングバッファメモリIIと、突発現象を検知してトリガを発生するトリガ設定部と、このトリガ発生後の該測定データのリングバッファメモリI及びIIへの格納時間をそれぞれ設定する格納時間設定とを備えることを特徴とする。
【0007】
本発明は、測定対象から測定情報を検出するセンサー部と、該測定情報の異なるサンプルレートを少なくとも2種類設定するサンプルレート設定部と、該測定情報の該サンプルレートでのサンプルデータを各々格納するメモリ領域と、該測定情報に対して所定の条件を設定し、該条件が一致したときにトリガを出すトリガ設定部と、該トリガ設定部のトリガに基づいて該サンプルデータの該記憶領域への格納を停止するまでの時間を設定する記録時間設定部と、該記録時間設定部に設定された該時間の経過時後に該格納を停止する制御部とを特徴とする。
また、前記記録領域がリングバッファメモリであることを特徴とする。
【0008】
【作用】
測定データの変化状態を監視し、所定のトリガ検知条件が成立される時点から予め設定した各々の設定時間だけ、高速サンプル測定データ及び該高速サンプル測定データを一定間隔で間引いた低速サンプル測定データとを各々格納して測定データの格納が停止される。このように同一メモリの中で、二つのリングバッファメモリを同時に使用して、トリガ信号の発生時点前後付近で二つ異なる測定サンプル測定データを同時に格納格する。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図1は本発明の実施の形態の要部ブロック図である。
図1において、1は、測定データ(測定情報)を発生するセンサ部を示す。
また、図1中2は、該測定データをサンプリングするための高速サンプルレート(以下、サンプルレートIと言う)を設定するサンプルレートI設定部を示し、3は、該測定データに対して該サンプルレートIにくらべて1/10、1/100等の低速サンプルレート(以下、サンプルレートIIと言う)設定するサンプルレートII設定部を示す。
また、図1中4は、測定データの突発現象等を検出するためトリガを発生するトリガ設定値を設定したトリガ設定部を示し、5は、該トリガ発生時から測定データを該サンプルレートI、IIで格納するための各々の記録時間を設定する記録時間設定部を示す。
また、図1中6は、メモリを示し、2つの領域即ち、高速サンプルデータ用のリングバッファメモリIおよび低速サンプルデータ用のリングバッファメモリIIが設けられている。
【0010】
また、図1中7は制御部を示し、この制御部7には該メモリ6がバス8を介して接続されている。
更に、制御部7には該センサ部1、サンプルレートI設定部2、サンプルレートII設定部3、トリガ設定部4及び格納時間設定部5が各々接続され、測定対象からの測定データをサンプルレートI、IIとでサンプリングして処理したサンプルIデータ、サンプルIIデータをバス8を介してリングバッファメモリI、リングバッファメモリIIにそれぞれ格納する。また、トリガ設定部4は、測定データがトリガ設定値を超えれば、トリガを発生し、制御部7は所定の記録時間が満了するとサンプルデータI、IIの格納を停止する。
【0011】
図2および図3は、図1の構成において高速及び低速サンプルレートで測定データを処理してメモリ6に格納した、高速サンプル測定データ(I)および低速サンプル測定データ(II)の説明図を示す。
図2は測定データが急激に変化し、図3は測定データが緩やかに変化する場合をそれぞれ示す。
【0012】
図4は、本実施の形態の動作示すフローチャート。
この様な構成で、本実施の形態の特徴ある動作を説明する。
まず、図1、図2および図3を参照して、メモリ6に格納された測定データを説明する。
【0013】
ここで、メモリ6の全体格納容量を512Kワード(4Mビッド)とすると、リングバッファメモリIの容量として51Kワード程度、リングバッファメモリIIの容量として460Kワードとする。
また、メモリ6に格納するデータには、一つの測定データに対して日付・時間に6バイト、測定データに2バイト、カウンタに3バイトが必要であり、合わせると11バイトが必要とする。すなわち、リングバッファメモリIの測定データ格納数は、51000/11≒4600個で、サンプルレート1KHzで4.6秒間にわたる測定データを格納できる。
【0014】
一方、リングバッファメモリIIの測定データ格納数は、460000/11≒41000(41K)個で、サンプルレートの間引きを1/10にするとサンプルレート100Hzで410秒間(高速サンプリングの90倍の時間)にわたる測定データを格納でき、サンプルレートの間引きを1/100にするとサンプルレート10Hzで4100秒間(高速サンプリングの900倍の時間)にわたる測定データを格納できる。
【0015】
リングバッファメモリIとリングバッファメモリIIは、各々上述のデータ格納数のデータを格納しており、それぞれの領域が満杯になった時点で新しい測定データが1個格納される毎に最も古い測定データが1個更新され、常に一定個の測定データが格納される。これは、本発明の特徴の一つである。
【0016】
更に、突発現象などにより、測定データがトリガ設定部4のトリガ設定値を超えればトリガ条件が成立し、記録時間制御部5に予め設定された記録時間後にメモリ6への測定データの格納が各々停止される。この記録時間の設定値により、突発現象付近の測定データの記録したい範囲を自由に設定できる。
【0017】
例えば、リングバッファメモリIにトリガ条件成立前後比5:5の測定データを格納するには、記録時間設定部5に2.3秒を設定する。即ち、リングバッファメモリIの測定データ格納数は4600個であるので、トリガ条件成立前の古い2300個の測定データをトリガ条件成立後の新しい測定データに更新すれば、トリガ前の2300個の測定データとトリガ後の2300個の測定データとがリングバッファメモリIに格納保持される。2300個の測定データは、サンプルレートが1KHzであるので、2.3秒の設定値となる。
トリガ条件成立前の測定データを重視してトリガ前のデータを多く格納保持するには、設定時間値は2.3秒より小さく設定し、逆にトリガ後を多く格納保持するには設定時間は2.3秒より大きく設定する。
リングバッファメモリIIにサンプルレート100Hzで測定データを格納する場合には、記録時間設定部5に205秒を設定すれば、トリガ条件成立前後比が5:5のデータが、205秒より小さく設定すればトリガ前の多いデータが、205秒より大きく設定すればトリガ後が多いデータが格納保持される。
これは本発明の特徴の一つである。
【0018】
図2及び図3は、リングバッファメモリIにサンプルレート1KHzのデータを、リングバッファメモリIIにサンプルレート100Hzのデータを格納し、記録時間設定部5の設定時間をそれぞれ、リングバッファメモリIに対しては2.3秒、リングバッファメモリIIに対しては205秒に設定した例である。
図中、t2はリングバッファメモリIに格納された最も古い測定データの時間、t3はトリガ条件成立時の時間、t4はリングバッファメモリIの設定記録時間終了時、t1はリングバッファメモリIIに格納された最も古い測定データの時間、t5はリングバッファメモリIIの設定記録時間終了時をそれぞれ示す。
また、T1はサンプルIデータのトリガ条件成立前の格納測定データ、T2はサンプルIのトリガ条件成立後の格納測定データ、T3はリングバッファメモリIの総格納測定データ、T4はサンプルIIデータのトリガ条件成立前の格納測定データ、T5はサンプルIIデータのトリガ条件成立後の格納測定データ、T6はリングバッファメモリIIの総格納測定データ、T7はT3同じくリングバッファメモリIの総格納測定データ、をそれぞれ示す。
t1〜t3及びt3〜t4は各々2.3秒、t1〜t3及びt3〜t5は各々205秒を示す。
【0019】
図2に示すように、突発現象はトリガ条件成立前後の高速サンプル測定データにより正確に分析できるものであり、従来装置のようにトリガ条件成立後の測定データのみ格納される場合は異常信号を正確な解析ができない。更に、突発現象の前後の低速サンプルデータの存在により、突発現象を長時間の測定データで正確に分析できる。また、図3に示すような、緩やかに変化する突発現象測定データでは、図3のように突発現象発生の前後の高速サンプル測定データにより突発現象が把握でき、従来測定のようにトリガ条件成立後の測定データのみが格納される場合は突発現象全体が把握できない。
この様に、突発現象の測定データを所望の範囲でメモリに高速および低速サンプルレートで格納・保持点は本発明の特徴の一つである。
【0020】
図4は、このような一連の動作の流れを示すフローチャートである。
ステップS10(以下、単にS10と言う)において、サンプルレート設定部2、3でサンプルレートI、IIが初期設定され、トリガ設定部4でトリガ条件が初期設定され、記録時間設定部5で各々の記録時間が初期設定される。初期設定終了後、制御部2がセンサ部1から測定データを受信する(S11)。サンプルレートI設定部2のサンプルレートIで測定データをサンプリング処理して高速サンプル測定データを発生し(S12)、この高速サンプル測定データとトリガ設定値とを比較する(S13)。トリガ条件不成立と判別される場合(S13No)には、S14とS18へ同時移動し、高速サンプル測定データをリングバッファメモリIに格納し(S14)、その後S12にジャンプしてS12からの動作を繰り返して実行する。
S18は、低速サンプルデータとしての有効性を判別し、無効と判別した場合にはS12へジャンプし、S12からの動作を繰り返して実行する(S13No、S18No、S12)。S18で有効、即ち高速サンプル測定データが間引かれた低速サンプル測定データと判別される場合は(S13No、S18Yes)、リングバッファメモリIIに格納され(S19)、その後はS13でNoと判別したために、S20はNoであり、S12からの動作を繰り返して実行する。
【0021】
突発現象が発生した場合には、S13でトリガ条件成立と判別され(S13Yes)、S15でリングバッファメモリIの上記記録時間(例えば、2.3秒)をカウントする(S15)。リングバッファメモリIの記録設定時間前であればS14でリングバッファメモリIに高速サンプル測定データが格納され、S12からの動作を繰り返して実行する(S16No、S14、S12)。リングバッファメモリIの記録設定時間が経過すると(S16Yes)、リングバッファメモリIへの高速サンプル測定データの格納が停止する(S17)。
【0022】
S13で、トリガ条件成立と判別されると(S13Yes)と同時に処理はS18へも進む。S18は、低速サンプルデータとしての有効性を判別し、無効と判別した場合にはS12へジャンプし、S12からの動作を繰り返して実行する(S13Yes、S18No、S12)。S18で有効、即ち高速サンプル測定データが間引かれた低速サンプル測定データと判別される場合は(S18Yes)、リングバッファメモリIIに格納され(S19)、その後はS13でYesと判別したために、S20はYesであり、S21でリングバッファメモリIIの上記記録時間(例えば、205秒)をカウントする(S21)。リングバッファメモリIIの記録設定時間前であれば(S22No)、処理はS12へジャンプしてS12からの動作を繰り返して実行する。リングバッファメモリIIの記録設定時間が経過すると(S22Yes)、リングバッファメモリIIへの低速サンプル測定データの格納が停止し(S23)、装置の測定動作も停止する(24)。
【0023】
上記実施の形態は、2つのサンプルレートによる2つのサンプル測定データをトリガ発生前後の所望範囲で格納する例を示した。しかし、本発明は、これに限定されるものでなく必要に応じて1つのサンプルレートによるサンプル測定データをトリガ発生前後の所望の範囲で格納してもよく、更に、必要に応じて3以上のサンプルレートによる3以上のサンプル測定データをトリガ発生前後の所望の範囲で格納してもよい。
【0024】
【発明の効果】
以上の説明したように、本発明によれば、測定対象から測定情報を検出するセンサー部と、該測定情報の異なるサンプルレートを少なくとも2種類設定するサンプルレート設定部と、該測定情報の該サンプルレートでのサンプルデータを各々格納するメモリ領域と、該測定情報に対して所定の条件を設定し、該条件が一致したときにトリガを出すトリガ設定部と、該トリガ設定部のトリガに基づいて該サンプルデータの該記憶領域への格納を停止するまでの時間を設定する記録時間設定部と、該記録時間設定部に設定された該時間の経過時後に該格納を停止する制御部とを備えたことを特徴とする。
また、前記記録領域がリングバッファメモリであることを特徴とする。
したがって、1台の装置で一つのメモリを二つのリングバッファメモリに分割して、高速サンプリング周期でサンプリングされる測定データと低速サンプリングされる測定データを格納保持できる。
しかも、該測定データの格納及び保持を、所望の条件成立時付近で任意の範囲を設定して格納及び保持できる。
更に、従来の装置に加えて特別なハードウエアを付加する必要もなく装置が複雑とならず、製造効率も良い。
更に、従来装置に比較して、突発現象発生の前後の所望の範囲の測定データを格納及び保持できるので突発現象を正確に分析できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の要部を示すブロック図
【図2】本発明の一実施の形態の測定データの格納例を示す図。
【図3】本発明の一実施の形態の測定データの他の格納例を示す図
【図4】本発明の一実施の形態の動作を示すフローチャート。
【符号の説明】
1 センサ部
2 サンプルレートI設定部
3 サンプルレートII設定部
4 トリガ設定部
5 記録時間設定部
6 メモリ
7 制御部
8 バス[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a data storage device, and more particularly, to a data storage device capable of simultaneously storing data by sampling the same data at high-speed and low-speed sampling periods and specifying a storage range using two ring buffer memories.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, a measurement unit that samples measurement data at a predetermined sample rate, a ring-shaped buffer memory that sequentially stores measurement data sampled by the measurement unit, and monitoring of a change state of the measurement data, a predetermined trigger condition is satisfied. A trigger detection circuit that outputs a trigger signal at the time of the first detection, a first data memory in which measurement data stored in the buffer memory is sequentially stored based on a trigger signal output from the trigger detection circuit, There is known a measurement data collection device including a second data memory in which measurement data sampled by a section is thinned out at a fixed interval and sequentially stored.
[0003]
[Patent Document 1]
JP-A-6-332621 (FIG. 1)
However, in the conventional device, the high-speed sample data is stored in the first data memory after the trigger condition is satisfied. For this reason, there is a disadvantage that high-speed sample measurement data before the trigger condition is satisfied cannot be stored. In addition, the low-speed sample data is sequentially stored, so that long-time measurement storage can be performed. However, the data is stored irrespective of the trigger condition, the storage time is constant, and data before and after the trigger condition is satisfied is sequentially updated and disappears.
[0004]
As described above, the conventional apparatus cannot store the states before and after the sudden phenomenon accurately, and thus cannot analyze the sudden phenomenon accurately.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
The present invention solves the above-mentioned inconvenience, and can store and hold high-speed sample measurement data and low-speed sample measurement data of a sudden phenomenon by specifying a desired storage range before and after the sudden phenomenon occurrence point. It is an object to provide a data storage device that can store and analyze data accurately.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention provides a CPU that sets two areas in a storage ring buffer memory in advance, takes measurement data from a measurement target at a high-speed sampling period, and performs predetermined processing, and an output measurement from the CPU. A ring buffer memory I that sequentially stores measurement data based on data, a ring buffer memory II that thins out the measurement data at regular intervals and sequentially stores the data, a trigger setting unit that detects a sudden phenomenon and generates a trigger, And a storage time setting for setting the storage time of the measurement data in the ring buffer memories I and II after the occurrence of the trigger.
[0007]
The present invention stores a sensor unit for detecting measurement information from a measurement target, a sample rate setting unit for setting at least two different sample rates of the measurement information, and sample data of the measurement information at the sample rate. A memory area, a trigger setting unit that sets a predetermined condition for the measurement information and issues a trigger when the condition is matched, and stores the sample data in the storage area based on a trigger of the trigger setting unit. It is characterized by a recording time setting unit for setting a time until storage is stopped, and a control unit for stopping the storage after the lapse of the time set in the recording time setting unit.
Further, the recording area is a ring buffer memory.
[0008]
[Action]
Monitor the change state of the measurement data, and for each set time preset from the point in time when the predetermined trigger detection condition is satisfied, the high-speed sample measurement data and the low-speed sample measurement data obtained by thinning out the high-speed sample measurement data at regular intervals. Are stored, and the storage of the measurement data is stopped. As described above, in the same memory, two different ring buffer memories are used at the same time, and two different measurement sample measurement data are simultaneously stored near the time when the trigger signal is generated.
[0009]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a main block diagram of an embodiment of the present invention.
In FIG. 1,
In FIG. 1,
In addition,
In FIG. 1,
[0010]
In FIG. 1, reference numeral 7 denotes a control unit, and the
Furthermore, the
[0011]
2 and 3 are explanatory diagrams of the high-speed sample measurement data (I) and the low-speed sample measurement data (II) in which the measurement data is processed at the high-speed and low-speed sample rates and stored in the
FIG. 2 shows a case where the measured data changes rapidly, and FIG. 3 shows a case where the measured data changes gradually.
[0012]
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the present embodiment.
With such a configuration, a characteristic operation of the present embodiment will be described.
First, measurement data stored in the
[0013]
Here, assuming that the entire storage capacity of the
The data stored in the
[0014]
On the other hand, the number of measurement data stored in the ring buffer memory II is 460000/11 ≒ 41000 (41K). When the sampling rate is reduced to 1/10, the sampling rate is 100 Hz and 410 seconds (90 times the high-speed sampling time). Measurement data can be stored, and when the sampling rate is reduced to 1/100, the measurement data can be stored at a sampling rate of 10 Hz for 4100 seconds (900 times the high-speed sampling).
[0015]
Each of the ring buffer memory I and the ring buffer memory II stores the data of the above-described data storage number. When each area becomes full, the oldest measurement data is stored every time one new measurement data is stored. Is updated by one, and a fixed number of measurement data are always stored. This is one of the features of the present invention.
[0016]
Further, if the measured data exceeds the trigger set value of the
[0017]
For example, to store the measurement data with a ratio of 5: 5 before and after the satisfaction of the trigger condition in the ring buffer memory I, the recording
To store and hold a large amount of data before the trigger with emphasis on the measurement data before the trigger condition is satisfied, set the set time value to less than 2.3 seconds. Conversely, to store and hold a large amount after the trigger, the set time is Set greater than 2.3 seconds.
When storing the measurement data at a sample rate of 100 Hz in the ring buffer memory II, if the recording
This is one of the features of the present invention.
[0018]
2 and 3 show that the data of the sample rate of 1 kHz is stored in the ring buffer memory I and the data of the sample rate of 100 Hz is stored in the ring buffer memory II, and the set time of the recording
In the figure, t2 is the time of the oldest measurement data stored in the ring buffer memory I, t3 is the time when the trigger condition is satisfied, t4 is the end of the set recording time of the ring buffer memory I, and t1 is the data stored in the ring buffer memory II. The earliest measured data time t5 indicates the end of the set recording time of the ring buffer memory II.
T1 is the stored measurement data before the trigger condition of the sample I data is satisfied, T2 is the stored measurement data after the trigger condition of the sample I is satisfied, T3 is the total storage measurement data of the ring buffer memory I, and T4 is the trigger of the sample II data. The stored measurement data before the condition is satisfied, T5 is the stored measurement data after the trigger condition of the sample II data is satisfied, T6 is the total storage measurement data in the ring buffer memory II, T7 is the total storage measurement data in the ring buffer memory I as in T3. Shown respectively.
t1 to t3 and t3 to t4 each indicate 2.3 seconds, and t1 to t3 and t3 to t5 each indicate 205 seconds.
[0019]
As shown in FIG. 2, the sudden phenomenon can be accurately analyzed by the high-speed sample measurement data before and after the trigger condition is satisfied. When only the measurement data after the trigger condition is satisfied is stored as in the conventional device, the abnormal signal can be accurately analyzed. Analysis is not possible. Further, the presence of the low-speed sample data before and after the sudden phenomenon allows the sudden phenomenon to be accurately analyzed with long-term measurement data. In addition, in the sudden change measurement data shown in FIG. 3, the sudden change can be grasped by high-speed sample measurement data before and after the occurrence of the sudden change as shown in FIG. When only the measurement data of the above is stored, the entire sudden phenomenon cannot be grasped.
As described above, one of the features of the present invention is that the measured data of the sudden phenomenon is stored and held in the memory within a desired range at a high sampling rate and a low sampling rate.
[0020]
FIG. 4 is a flowchart showing a flow of such a series of operations.
In step S10 (hereinafter simply referred to as S10), sample rates I and II are initially set in sample
In S18, the validity as the low-speed sample data is determined, and when it is determined that the data is invalid, the process jumps to S12, and the operations from S12 are repeated and executed (S13No, S18No, S12). When it is determined in S18 that the data is valid, that is, when the high-speed sample measurement data is thinned-out low-speed sample measurement data (S13 No, S18 Yes), it is stored in the ring buffer memory II (S19). , S20 are No, and the operation from S12 is repeatedly executed.
[0021]
When the sudden phenomenon occurs, it is determined that the trigger condition is satisfied in S13 (S13 Yes), and the recording time (for example, 2.3 seconds) of the ring buffer memory I is counted in S15 (S15). If it is before the recording set time of the ring buffer memory I, the high-speed sample measurement data is stored in the ring buffer memory I in S14, and the operation from S12 is repeatedly executed (S16No, S14, S12). When the recording set time of the ring buffer memory I elapses (S16 Yes), the storage of the high-speed sample measurement data in the ring buffer memory I stops (S17).
[0022]
If it is determined in S13 that the trigger condition is satisfied (S13 Yes), the process also proceeds to S18. In S18, the validity as the low-speed sample data is determined. If the data is determined to be invalid, the process jumps to S12, and the operation from S12 is repeated and executed (S13 Yes, S18 No, S12). When it is determined in S18 that the data is valid, that is, when the high-speed sample measurement data is thinned-out low-speed sample measurement data (Yes in S18), the data is stored in the ring buffer memory II (S19). Is Yes, and the recording time (for example, 205 seconds) of the ring buffer memory II is counted in S21 (S21). If it is before the recording set time of the ring buffer memory II (S22 No), the process jumps to S12 and repeats the operation from S12. When the recording set time of the ring buffer memory II elapses (S22 Yes), the storage of the low-speed sample measurement data in the ring buffer memory II stops (S23), and the measurement operation of the device also stops (24).
[0023]
The above embodiment has shown an example in which two sample measurement data at two sample rates are stored in a desired range before and after a trigger is generated. However, the present invention is not limited to this, and may store sample measurement data at one sample rate in a desired range before and after the trigger is generated, if necessary. Three or more sample measurement data according to the sample rate may be stored in a desired range before and after the trigger is generated.
[0024]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, a sensor unit for detecting measurement information from a measurement target, a sample rate setting unit for setting at least two types of different sample rates of the measurement information, and the sample of the measurement information A memory area for storing sample data at a rate, a predetermined condition for the measurement information, a trigger setting unit for issuing a trigger when the condition is satisfied, and a trigger set by the trigger setting unit. A recording time setting unit that sets a time until the storage of the sample data in the storage area is stopped; and a control unit that stops the storage after the elapse of the time set in the recording time setting unit. It is characterized by having.
Further, the recording area is a ring buffer memory.
Accordingly, one device can divide one memory into two ring buffer memories and store and hold measurement data sampled at a high sampling period and measurement data sampled at a low speed.
In addition, the storage and holding of the measurement data can be set and stored and held in an arbitrary range around the time when a desired condition is satisfied.
Further, there is no need to add special hardware in addition to the conventional device, the device is not complicated, and the manufacturing efficiency is good.
Further, as compared with the conventional device, measurement data in a desired range before and after the occurrence of a sudden phenomenon can be stored and held, so that the sudden phenomenon can be accurately analyzed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a main part of an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing an example of storage of measurement data according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing another example of storage of measurement data according to the embodiment of the present invention; FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the embodiment of the present invention;
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (2)
該測定情報の異なるサンプルレートを少なくとも2種類設定するサンプルレート設定部と、
該測定情報の該サンプルレートでのサンプルデータを各々格納するメモリ領域と、
該測定情報に対して所定の条件を設定し、該条件が一致したときにトリガを出すトリガ設定部と、
該トリガ設定部のトリガに基づいて該サンプルデータの該記憶領域への格納を停止するまでの時間を設定する記録時間設定部と、
該記録時間設定部に設定された該時間の経過時後に該格納を停止する制御部と、
を備えたことを特徴とするデータ格納装置。A sensor unit for detecting measurement information from a measurement target,
A sample rate setting unit configured to set at least two types of different sample rates of the measurement information;
A memory area for storing sample data of the measurement information at the sample rate;
A trigger setting unit that sets a predetermined condition for the measurement information and issues a trigger when the condition is matched;
A recording time setting unit that sets a time until storage of the sample data in the storage area is stopped based on a trigger of the trigger setting unit;
A control unit that stops the storage after the lapse of the time set in the recording time setting unit;
A data storage device comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003110012A JP2004317230A (en) | 2003-04-15 | 2003-04-15 | Data storage device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003110012A JP2004317230A (en) | 2003-04-15 | 2003-04-15 | Data storage device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004317230A true JP2004317230A (en) | 2004-11-11 |
Family
ID=33470980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003110012A Pending JP2004317230A (en) | 2003-04-15 | 2003-04-15 | Data storage device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2004317230A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010112771A (en) * | 2008-11-05 | 2010-05-20 | Meidensha Corp | System for performing charge/discharge test of electricity storage device |
| CN103941105A (en) * | 2013-01-17 | 2014-07-23 | 德律科技股份有限公司 | Timing analysis device and timing analysis method |
| TWI451108B (en) * | 2013-01-17 | 2014-09-01 | Test Research Inc | Device and method for performing timing analysis |
| JP2019113436A (en) * | 2017-12-25 | 2019-07-11 | 横河電機株式会社 | Optical power meter |
-
2003
- 2003-04-15 JP JP2003110012A patent/JP2004317230A/en active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010112771A (en) * | 2008-11-05 | 2010-05-20 | Meidensha Corp | System for performing charge/discharge test of electricity storage device |
| CN103941105A (en) * | 2013-01-17 | 2014-07-23 | 德律科技股份有限公司 | Timing analysis device and timing analysis method |
| TWI451108B (en) * | 2013-01-17 | 2014-09-01 | Test Research Inc | Device and method for performing timing analysis |
| JP2019113436A (en) * | 2017-12-25 | 2019-07-11 | 横河電機株式会社 | Optical power meter |
| JP7336177B2 (en) | 2017-12-25 | 2023-08-31 | 横河電機株式会社 | optical power meter |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20150374469A1 (en) | Oral cavity measuring device, occlusion evaluation system and non-transitory computer readable medium | |
| CN109669663B (en) | Method and device for acquiring range amplitude, electronic equipment and storage medium | |
| US9478231B1 (en) | Microphone interface and IP core for always-on system | |
| US7343267B1 (en) | Methods and systems for statistical based monitoring and power management | |
| JP5425027B2 (en) | Random noise signal detection and filtering method | |
| KR102253100B1 (en) | Ultra-low power mode for low-cost force-sensing devices | |
| US20100146341A1 (en) | Driver detecting system and method | |
| WO2018120633A1 (en) | Method for detecting sensor, and apparatus for detecting sensor | |
| US20160315860A1 (en) | Estimation Of Network Path Segment Delays | |
| CN111837179A (en) | System and method for capturing noise for pattern recognition processing | |
| US20160253886A1 (en) | Ambient light sensor in a hazard detector and a method of using the same | |
| JP2003178040A (en) | Website configuration decision support method | |
| WO2019228048A1 (en) | Method for determining blood coagulation time, electronic apparatus, and storage medium | |
| JP2014029612A (en) | Data management device and program | |
| JP2004317230A (en) | Data storage device | |
| JP2000197617A (en) | Method and apparatus for detecting lead drop of biological signal measuring instrument | |
| WO2007027708A1 (en) | Measurement and display for video peak jitter with expected probability | |
| CN109963075B (en) | Intelligent motion detection device and related judgment method | |
| CN107782994B (en) | Method and device for monitoring transient event of power quality | |
| CN106531193A (en) | Abnormal sound detection method and system of background noise adaption | |
| WO2002082028A1 (en) | Photon correlator | |
| JP2007086064A (en) | Particle detector and particle detecting method | |
| TW201225917A (en) | Sleep analyzing method, sleep analyzing watch and sleep analyzing system | |
| CN113436641B (en) | Music transition time point detection method, equipment and medium | |
| CN104270622A (en) | A switchgear detection method and system |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20060411 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20080911 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090618 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20091015 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |