JP2004317393A - 二色放射温度計 - Google Patents
二色放射温度計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004317393A JP2004317393A JP2003113761A JP2003113761A JP2004317393A JP 2004317393 A JP2004317393 A JP 2004317393A JP 2003113761 A JP2003113761 A JP 2003113761A JP 2003113761 A JP2003113761 A JP 2003113761A JP 2004317393 A JP2004317393 A JP 2004317393A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- light
- light receiving
- image sensor
- prism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/60—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
- G01J5/602—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature using selective, monochromatic or bandpass filtering
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/58—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using absorption; using extinction effect
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
【解決手段】λ1、λ2の二波長の選択機能を有するプリズム14により、測定対象11から到来する入射光L1を2つに分岐しつつ波長を制限し、さらにクロストーク防止用に設けられた波長選択フィルタ17、18を通して、1個のCCD10の受光面上の重ならない2つの領域にそれぞれ同一像のλ1対応像とλ2対応像とを結像させる。そして、CCD10から読み出した画素信号を分離して形成した2枚の画像から温度分布を計算する。測定波長を変更する際にはプリズム14とフィルタ17、18とを交換すればよい。
【選択図】 図2
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、測定対象からの熱放射を利用して非接触でその測定対象の温度測定を行う二色放射温度計に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば溶鉱炉内部での燃焼や爆発時の温度を非接触で測定するために二色放射温度計(又は二波長放射温度計などと呼ばれることもある)が利用されている(例えば特許文献1など参照)。特に測定対象が2次元面である場合、CCDカメラを用いた二色放射温度計が有用である(例えば特許文献2など参照)。この種の二色放射温度計では、相異なる2つの波長光による測定面の画像をCCDカメラにより取得し、その2枚の画像の輝度情報の差などに基づいて測定面の2次元温度分布などを算出することができる。
【0003】
こうした二色放射温度計において、二波長に対応した画像を取得する方法として、従来、波長選択プリズム等で分光した光を2つのCCDカメラで独立に受光する方式(二板式)と、上記特許文献2に記載のように、プリズムなどの光学素子を用いることなく通常のカラー撮影用のCCDセンサに搭載されたRGBフィルタの波長選択性を利用する方式(単板式)とが知られている。
【0004】
【特許文献1】
特開平7−253361号公報
【特許文献2】
特開2002−309307号公報(段落0010)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記二板式の構成では、プリズムや波長選択フィルタを適宜交換することによって測定波長を自由に変更できるという利点がある。しかしながら、2組のCCDカメラが必要であるため、装置構成が複雑になるとともにコストが高くなる傾向にある。他方、単板式の構成では、装置構成は簡単になりコスト的にも有利であるが、通常のカラー撮影用のCCDセンサを使用するためにRGBの3波長以外の測定波長を選ぶことはできない。そのため、測定対象から放射される光の色(波長)によっては正確な温度測定ができない場合がある。
【0006】
本発明はこのような点に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、単板式並みの簡単な構成でありながら測定波長を任意且つ容易に変更することができる二色放射温度計を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段、及び効果】
上記課題を解決するために成された本発明に係る二色放射温度計は、
a)微小受光素子が2次元状に配置されて成る唯一の撮像素子と、
b)測定対象から到来する入射光を2つに分岐させて前記撮像素子の2次元受光面上の2つの相異なる領域に照射するための光分岐手段と、
c)前記2つの相異なる領域に対して照射される光の波長をそれぞれ異なる第1及び第2の波長に制限する波長制限手段と、
d)前記2つの相異なる領域に位置する前記微小受光素子からそれぞれ第1及び第2の波長に対応する画像信号を受け取り、その2枚の画像に基づいて前記測定対象の温度を算出する温度演算手段と、
を備えることを特徴としている。
【0008】
ここで、撮像素子の典型的な一態様はCCD又はCMOS型のイメージセンサである。また、光分岐手段の典型的な一態様はプリズムであるが、偏光ビームスプリッタなどの偏光成分を利用して光を分岐するものでもよい。また、波長制限手段の典型的な一態様は波長選択性を有するフィルタである。もちろん、各構成要素は上記記載以外のものであってもよい。
【0009】
本発明に係る二色放射温度計では、測定対象から熱放射された光は光分岐手段により2つに分岐されるとともに、波長制限手段により、分岐された一方の光は第1の波長成分のみに制限され、他方の光は第2の波長成分のみに制限される。そして、いずれも単色光として、唯一の撮像素子の2次元受光面上で重ならない2つの相異なる領域に照射される。したがって、これら照射光によって2つの領域に投影される像は、測定対象の同一像であって波長のみが異なるものである。温度演算手段は、その2つの相異なる領域に位置している微小受光素子からそれぞれ画像信号を受け取り、その2枚の画像、つまり第1の波長に対応した画像と第2の波長に対応した画像とに基づいて、例えばそれぞれの輝度の差などから測定対象の温度を算出する。
【0010】
このように本発明に係る二色放射温度計によれば、撮像素子は1個のみでよいので装置構成が簡単になり、装置の小型化が可能であるとともにコスト的にも有利である。しかも、波長選択フィルタ等の波長制限手段を交換するのみで測定波長の変更に対応できるので、測定対象に応じた任意の測定波長に容易に設定することができる。
【0011】
なお、上記撮像素子としては、各微小受光素子で得られた画素信号を順次読み出すような一般的な素子を用いることができるが、上記2つの相異なる領域の間に位置する境界線を隔てたその両側において、それぞれ並列的につまり2系統で、各範囲に属する微小受光素子による画素信号を読み出すことができる構成の撮像素子とすると都合がよい。
【0012】
このような構成によれば、2枚の画像中の互いに対応する画素信号を並行して読み出しながら、例えば両者の差分をとるなどのデータ処理を高速に行うことができる。したがって、例えば爆発や燃焼といった現象の2次元温度分布を高速で測定したいような用途に好適である。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る二色放射温度計の一実施例について、図1〜図3を参照して説明する。
【0014】
図1は本実施例の二色放射温度計の全体構成図、図2は図1中の撮像部の概略光路構成図、図3は図2中のCCDイメージセンサの受光面の正面図である。
【0015】
本実施例の二色放射温度計は、測定対象の物体が放射する光を受光するCCDイメージセンサ10を含む撮像部1と、そのCCDイメージセンサ10に各種制御信号を送るCCD駆動部2と、CCDイメージセンサ10から読み出された画素信号をデジタル信号に変換するA/D変換部3と、デジタル化された画素信号をλ1、λ2なる2つの波長に対応する画像に分離するとともに必要に応じて所定の信号処理を施す画像信号処理部4と、この2枚の画像信号に基づいて測定対象の2次元的な温度分布情報を計算する温度計算部5とを備える。λ1、λ2の2波長に対応する画像信号から温度を算出するアルゴリズムについては、従来から用いられている方法を利用すればよい。
【0016】
本実施例の特徴の1つは撮像部1における光路構成にある。即ち、図2に示すように、入射光を集光する入射レンズ系12とCCDイメージセンサ10との間には、遮光板13と波長選択機能を有するプリズム14とを配置している。このプリズム14は、入射光に対して45°の傾斜面となっている入射面に波長λ1である光のみを選択的に透過するλ1波長選択透過フィルタ15を備え、入射面と180°反対の出射面には波長λ2である光のみを反射する(換言すれば波長λ2以外の光を透過させる)λ2波長選択反射フィルタ16を備える。また、CCDイメージセンサ10の受光面の左半分には波長λ1の光を選択的に透過するλ1波長選択透過フィルタ17を、受光面の右半分には波長λ2の光を選択的に透過するλ2波長選択透過フィルタ18を貼着してある。
【0017】
図3に示すように、CCDイメージセンサ10の2次元受光面10aは略中央から左右に仮想的に分割されており、左半面には波長λ1を持つ光の受光領域10L、右半面には波長λ2を持つ光の受光領域10Rが設定されている。即ち、この二色放射温度計では、唯一のCCDイメージセンサ10の2次元受光面10a上の重ならない位置に、λ1、λ2の二波長に対応した同一像を結像させるようにしている。
【0018】
上記構成の二色放射温度計を用いた放射温度の測定動作について説明する。測定対象11から放射された波長λ1、λ2を含む放射光L1は入射レンズ系12で集光され、遮光板13によりコリメートされてプリズム14に入射する。この入射光L1のうち、波長λ1の光L2のみがλ1波長選択透過フィルタ15を透過して直進し、さらにCCDイメージセンサ10の前面に貼着されているλ1波長選択透過フィルタ17を透過する際にλ1以外の波長光が更に減衰されて2次元受光面10a上のλ1受光領域10Lに到達する。
【0019】
一方、プリズム14への入射光L1にあってλ1以外の波長光はλ1波長選択透過フィルタ15で反射されて光路は略直角に曲げられ、次にλ2波長選択反射フィルタ16に当たる。ここでλ2の波長光L3のみが反射されて光路は再び略直角に曲げられ、プリズム14から出射する。そして、CCDイメージセンサ10の前面に貼着されているλ2波長選択透過フィルタ18を透過する際にλ2以外の波長光が更に減衰されて2次元受光面10a上のλ2受光領域10Rに到達する。なお実際には、分岐された2つの光L2、L3の光路長が揃うようにプリズム14等を構成する。
【0020】
上記構成において、プリズム14は元の像をCCDイメージセンサ10の2次元受光面10a上で二重映しにする機能を果たし、プリズム14に備えられたフィルタ15、16がλ1、λ2の波長光を選択する機能を果たす。また、2次元受光面10aの前面に貼着された波長選択透過フィルタ17、18は波長選択機能を補助することで、波長純度を高めている。この構成では、λ1受光領域10Lとλ2受光領域10Rとがきわめて近接しているため、プリズム14での迷光などに起因するクロストークが無視できないが、受光面10aの直前に波長選択透過フィルタ17、18を設けることでクロストークを防止することができる。したがって、波長選択透過フィルタ17、18は必ずしも受光面10aに貼着されていなくてもよいが、できるだけ受光面10aに近接して設けることが好ましい。
【0021】
以上のようにしてCCDイメージセンサ10のλ1受光領域10Lには測定対象11のλ1波長成分のみの像、λ2受光領域10Rにはλ2波長成分のみの同一像に対応した電荷信号がそれぞれ蓄積される。所定時間だけ電荷信号を蓄積した後、CCD駆動部2は所定の制御信号をCCDイメージセンサ10へ入力し、2次元受光面10aを構成する多数の画素から順次画素信号を読み出す。このアナログ画素信号はA/D変換部3でデジタル信号に変換され、画像信号処理部4においてλ1受光領域10Lに対応した画素信号とλ2受光領域10Rに対応した画素信号とに分離される。温度計算部5はそのλ1対応画像信号とλ2対応画像信号とに基づいて測定対象11の各微小位置毎の温度を計算し、温度分布情報として温度の分布画像を作成する。こうした画像は例えばモニタの画面上に表示することができる。
【0022】
なお、上記構成では、測定波長λ1、λ2を変更したい場合には、波長選択機能を有するプリズム14とCCDイメージセンサ10の2次元受光面10aに貼着した波長選択透過フィルタ17、18とを交換すればよい。
【0023】
次に、本発明の他の実施例による二色放射温度計について図4を参照して説明する。上記実施例では測定対象の物体像を二重映しにするためにプリズムを利用していたが、本実施例ではそれに代えて偏光ビームスプリッタを用いている。即ち、図4において、偏光ビームスプリッタ24の入射面にはP波選択透過フィルタ25が、出射面にはS波選択反射フィルタ26が設けられ、λ1波長選択透過フィルタ17の前面にはP波選択透過フィルタ19が、λ2波長選択透過フィルタ18の前面にはS波選択透過フィルタ20が設けられる。
【0024】
測定対象11から放射された波長λ1、λ2を含む放射光L1は入射レンズ系12で集光され、遮光板13によりコリメートされて偏光ビームスプリッタ24に入射する。この入射光L0のうち、P波成分の光LpのみがP波選択透過フィルタ25を透過して直進し、さらにCCDイメージセンサ10の前面に貼着されているP波選択透過フィルタ19を透過する際にS波成分が更に除去され、続いてλ1波長透過フィルタ17を透過する際にλ1以外の波長光が減衰されて2次元受光面10a上のλ1受光領域10Lに到達する。
【0025】
一方、偏光ビームスプリッタ24への入射光L1にあってP波以外つまりS波成分の光はP波選択透過フィルタ25で反射されて光路は略直角に曲げられ、次にS波選択反射フィルタ26に当たる。ここでS波成分の光は反射されて光路は再び略直角に曲げられ、偏光ビームスプリッタ24から出射する。そして、CCDイメージセンサ10の前面に貼着されているS波選択透過フィルタ20を透過する際にS波以外の光が更に減衰され、続いてλ2波長選択透過フィルタ18を透過する際にλ2以外の波長光が減衰されて2次元受光面10a上のλ2受光領域10Rに到達する。
【0026】
したがって、ここでは、偏光ビームスプリッタ24が本発明における光分岐手段であり、波長選択透過フィルタ17、18が本発明における波長制限手段である。また、P波選択透過フィルタ19及びS波選択透過フィルタ20は偏光ビームスプリッタ24による光分岐を補助するものである。
【0027】
この実施例の構成においても、CCDイメージセンサ10の2次元受光面10a上のλ1受光領域10L及びλ2受光領域10Rには、それぞれλ1波長光の像及びλ2波長光の像が2重映しになる。この実施例では、測定波長λ1、λ2を変更したい場合に波長選択透過フィルタ17、18のみを交換すればよいので、この点では上記実施例よりも有利である。
【0028】
上記実施例はいずれも、1系統の出力信号ラインを介して画素信号を順番に読み出すような固体撮像素子(CCDイメージセンサ又はCMOSイメージセンサ)を想定していたが、2系統の出力信号ラインを介して画素信号を並列に読み出すことが可能であるような固体撮像素子を利用すれば、図5に示すような構成が可能である。
【0029】
即ち、λ1受光領域10Lから読み出した画素信号をA/D変換部3aでデジタル化し、λ2受光領域10Rから読み出した画素信号をA/D変換部3bでデジタル化する。2枚の画像に対応する画素信号はCCDイメージセンサ10からの読み出し時点で既に分離されているため、上述したように画像信号を分離するための処理は不要になる。また、CCDイメージセンサ10から画素信号を読み出す際に同一像上の同一位置に対する2つの画素信号を同時に並行して読み出すことにより、例えば温度計算部5で画素信号の差分を計算するといった処理が高速で行える。従って、上記実施例のような構成と比較して、温度分布の算出を高速で行うことができるという利点がある。
【0030】
なお、上記実施例はいずれも一例であって、本発明の趣旨に沿った範囲で適宜変形や修正を行なえることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である二色放射温度計の全体構成図。
【図2】図1中の撮像部の概略光路構成図。
【図3】図2中のCCDイメージセンサの受光面の正面図。
【図4】本発明の他の実施例である二色放射温度計の撮像部の概略光路構成図。
【図5】本発明の他の実施例である二色放射温度計の全体構成図。
【符号の説明】
1…撮像部
2…CCD駆動部
3、3a、3b…A/D変換部
4…画像信号処理部
5…温度計算部
10…CCDイメージセンサ
10a…2次元受光面
10L…λ1受光領域
10R…λ2受光領域
11…測定対象
12…入射レンズ系
13…遮光板
14…プリズム
15、17…λ1波長選択透過フィルタ
16…λ2波長選択反射フィルタ
18…λ2波長選択透過フィルタ
19、25…P波選択透過フィルタ
20…S波選択透過フィルタ
24…偏光ビームスプリッタ
26…S波選択反射フィルタ
Claims (1)
- a)微小受光素子が2次元状に配置されて成る唯一の撮像素子と、
b)測定対象から到来する入射光を2つに分岐させて前記撮像素子の2次元受光面上の2つの相異なる領域に照射するための光分岐手段と、
c)前記2つの相異なる領域に対して照射される光の波長をそれぞれ異なる第1及び第2の波長に制限する波長制限手段と、
d)前記2つの相異なる領域に位置する前記微小受光素子からそれぞれ第1及び第2の波長に対応する画像信号を受け取り、その2枚の画像に基づいて前記測定対象の温度を算出する温度演算手段と、
を備えることを特徴とする二色放射温度計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003113761A JP2004317393A (ja) | 2003-04-18 | 2003-04-18 | 二色放射温度計 |
| US10/815,922 US7114846B2 (en) | 2003-04-18 | 2004-04-02 | Two-color radiation thermometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003113761A JP2004317393A (ja) | 2003-04-18 | 2003-04-18 | 二色放射温度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004317393A true JP2004317393A (ja) | 2004-11-11 |
Family
ID=33157038
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003113761A Pending JP2004317393A (ja) | 2003-04-18 | 2003-04-18 | 二色放射温度計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7114846B2 (ja) |
| JP (1) | JP2004317393A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013200227A (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Ihi Corp | 温度分布観察装置 |
| JP6019508B1 (ja) * | 2016-02-09 | 2016-11-02 | 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 | 放射測定器 |
| JP2017116416A (ja) * | 2015-12-24 | 2017-06-29 | ミネベアミツミ株式会社 | 検出装置、インテロゲータ、及びひずみ検出システム |
| CN114754891A (zh) * | 2022-06-13 | 2022-07-15 | 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所 | 一种燃烧流场光学温度场测量装置及测量方法 |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20080101683A1 (en) * | 1999-12-22 | 2008-05-01 | Siemens Power Generation, Inc. | System and method of evaluating uncoated turbine engine components |
| US20040208230A1 (en) * | 2003-04-16 | 2004-10-21 | Tzong-Sheng Lee | Thermometer with image display |
| US20060078037A1 (en) * | 2003-04-16 | 2006-04-13 | Tzong-Sheng Lee | Thermometer with image display |
| US20050265423A1 (en) * | 2004-05-26 | 2005-12-01 | Mahowald Peter H | Monitoring system for cooking station |
| US20070177650A1 (en) * | 2006-01-31 | 2007-08-02 | Diamond Power International, Inc. | Two-color flame imaging pyrometer |
| IL173538A0 (en) * | 2006-02-05 | 2006-07-05 | 4Id Ltd | Apparatus and method for imaging integrated circuits and the like |
| JP5041925B2 (ja) * | 2007-08-31 | 2012-10-03 | オリンパスメディカルシステムズ株式会社 | 撮像ユニット |
| US8042996B2 (en) * | 2008-06-09 | 2011-10-25 | Black & Decker Inc. | Non-contact thermometer |
| GB2478708A (en) * | 2010-03-15 | 2011-09-21 | Bios Technologies Llp | Measuring the temperature of an object with an image sensor |
| JP4991893B2 (ja) * | 2010-03-16 | 2012-08-01 | 常陽機械株式会社 | 微小径ワイヤボンディングの良否判定方法及び判定装置 |
| KR101246918B1 (ko) * | 2011-09-08 | 2013-03-25 | 유덕봉 | 비접촉식 온도 감시 장치 |
| US9448149B2 (en) * | 2011-02-15 | 2016-09-20 | National Institute For Materials Science | Method for ultrasonic fatigue testing at high temperature, and testing device |
| CN102192691B (zh) * | 2011-03-09 | 2014-11-05 | 中国人民解放军总装备部军械技术研究所 | 底火输出能量定量化测试系统 |
| GB201121657D0 (en) * | 2011-12-16 | 2012-01-25 | Land Instr Int Ltd | Radiation thermometer |
| CN103076107B (zh) * | 2013-01-17 | 2014-12-24 | 杭州电子科技大学 | 基于太赫兹脉冲测量的燃烧温度传感装置及方法 |
| FR3003641B1 (fr) * | 2013-03-19 | 2017-02-10 | Sagem Defense Securite | Systeme de detection et d'imagerie par analyse spectrale dans plusieurs bandes de longueurs d'onde |
| JP6255713B2 (ja) * | 2013-05-14 | 2018-01-10 | 株式会社ジェイテクト | 光学非破壊検査方法及び光学非破壊検査装置 |
| US9664568B2 (en) * | 2014-06-16 | 2017-05-30 | Honeywell International Inc. | Extended temperature mapping process of a furnace enclosure with multi-spectral image-capturing device |
| US9696210B2 (en) * | 2014-06-16 | 2017-07-04 | Honeywell International Inc. | Extended temperature range mapping process of a furnace enclosure using various device settings |
| CN105157876B (zh) * | 2015-05-04 | 2017-09-26 | 东南大学 | 一种基于液体变焦透镜的火焰三维温度场测量装置及方法 |
| CN105828034B (zh) * | 2016-03-22 | 2018-08-31 | 合肥师范学院 | 一种管式反应炉炉膛全景图像成像方法 |
| CN106768439A (zh) * | 2016-11-23 | 2017-05-31 | 西安昆仑工业(集团)有限责任公司 | 炮口瞬态温度信号采集装置及方法 |
| CN107167249A (zh) * | 2017-06-05 | 2017-09-15 | 北京理工大学 | 单相机双波段熔池比色测温方法及系统 |
| CN108955903A (zh) * | 2018-09-26 | 2018-12-07 | 山东省科学院激光研究所 | 激光增材强化熔池温度监测装置及方法 |
| US11436823B1 (en) | 2019-01-21 | 2022-09-06 | Cyan Systems | High resolution fast framing infrared detection system |
| US11448483B1 (en) | 2019-04-29 | 2022-09-20 | Cyan Systems | Projectile tracking and 3D traceback method |
| US11637972B2 (en) | 2019-06-28 | 2023-04-25 | Cyan Systems | Fast framing moving target imaging system and method |
Family Cites Families (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60130274A (ja) * | 1983-12-19 | 1985-07-11 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
| US4659234A (en) * | 1984-06-18 | 1987-04-21 | Aluminum Company Of America | Emissivity error correcting method for radiation thermometer |
| US4755673A (en) * | 1984-10-24 | 1988-07-05 | Hughes Aircraft Company | Selective thermal radiators |
| US4751571A (en) * | 1987-07-29 | 1988-06-14 | General Electric Company | Composite visible/thermal-infrared imaging apparatus |
| JPH01296785A (ja) * | 1988-05-24 | 1989-11-30 | Fujitsu Ltd | 画像重畳装置 |
| US5216252A (en) * | 1991-06-20 | 1993-06-01 | Thomas Jefferson University | Binary screen, system and method for single pulse dual energy radiography |
| US5219226A (en) * | 1991-10-25 | 1993-06-15 | Quadtek, Inc. | Imaging and temperature monitoring system |
| JPH07246185A (ja) * | 1994-03-09 | 1995-09-26 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 可視画像及び赤外画像を形成する撮像装置 |
| US5656813A (en) * | 1995-04-04 | 1997-08-12 | Gmd Systems, Inc. | Apparatus for imaging gas |
| JP2001518241A (ja) * | 1995-06-07 | 2001-10-09 | ストリカー・コーポレーション | 可視光エネルギーと赤外線光エネルギーを別個に処理する画像システム |
| US5686889A (en) * | 1996-05-20 | 1997-11-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Infrared sniper detection enhancement |
| SG74025A1 (en) * | 1997-10-03 | 2000-07-18 | Inst Of Microelectronics | Combined infrared and visible light spectroscopic photoemission microscope |
| US6009340A (en) * | 1998-03-16 | 1999-12-28 | Northrop Grumman Corporation | Multimode, multispectral imaging system |
| US6393056B1 (en) * | 1998-07-01 | 2002-05-21 | Texas Instruments Incorporated | Compression of information from one detector as a function of information from another detector |
| EP1196081B1 (en) * | 1999-07-02 | 2013-08-21 | HyperMed Imaging, Inc. | Integrated imaging apparatus |
| US6682216B1 (en) * | 1999-12-16 | 2004-01-27 | The Regents Of The University Of California | Single-fiber multi-color pyrometry |
| EP1134565B1 (en) * | 2000-03-13 | 2004-07-28 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA | Imaging pyrometer |
| US7345277B2 (en) * | 2000-08-09 | 2008-03-18 | Evan Zhang | Image intensifier and LWIR fusion/combination system |
| JP2002214047A (ja) * | 2001-01-17 | 2002-07-31 | Noritake Co Ltd | 温度分布測定方法および装置 |
| JP2002303553A (ja) * | 2001-04-04 | 2002-10-18 | Noritake Co Ltd | 温度分布測定方法および装置 |
| JP3726699B2 (ja) * | 2001-04-20 | 2005-12-14 | 日本ビクター株式会社 | 光学撮像装置、光学測距装置 |
| JP4931288B2 (ja) * | 2001-06-08 | 2012-05-16 | ペンタックスリコーイメージング株式会社 | 画像検出装置と絞り装置 |
| US6961179B2 (en) * | 2001-11-30 | 2005-11-01 | Colorlink, Inc. | Compensated color management systems and methods |
| JP4030002B2 (ja) * | 2002-03-18 | 2008-01-09 | フジノン株式会社 | 可視赤外撮像カメラ |
| JP2003315159A (ja) | 2002-04-19 | 2003-11-06 | Yamaguchi Technology Licensing Organization Ltd | 放射温度計測装置 |
| US20040208230A1 (en) * | 2003-04-16 | 2004-10-21 | Tzong-Sheng Lee | Thermometer with image display |
| US6969856B1 (en) * | 2003-06-19 | 2005-11-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Two band imaging system |
| JP2005229317A (ja) * | 2004-02-12 | 2005-08-25 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 画像表示システム及び撮像装置 |
| US20050265423A1 (en) * | 2004-05-26 | 2005-12-01 | Mahowald Peter H | Monitoring system for cooking station |
-
2003
- 2003-04-18 JP JP2003113761A patent/JP2004317393A/ja active Pending
-
2004
- 2004-04-02 US US10/815,922 patent/US7114846B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013200227A (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Ihi Corp | 温度分布観察装置 |
| JP2017116416A (ja) * | 2015-12-24 | 2017-06-29 | ミネベアミツミ株式会社 | 検出装置、インテロゲータ、及びひずみ検出システム |
| JP6019508B1 (ja) * | 2016-02-09 | 2016-11-02 | 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 | 放射測定器 |
| WO2017138579A1 (ja) * | 2016-02-09 | 2017-08-17 | 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構 | 放射測定器 |
| CN114754891A (zh) * | 2022-06-13 | 2022-07-15 | 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所 | 一种燃烧流场光学温度场测量装置及测量方法 |
| CN114754891B (zh) * | 2022-06-13 | 2022-08-16 | 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所 | 一种燃烧流场光学温度场测量装置及测量方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20040208223A1 (en) | 2004-10-21 |
| US7114846B2 (en) | 2006-10-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2004317393A (ja) | 二色放射温度計 | |
| TWI693391B (zh) | 成像裝置及方法 | |
| KR100777428B1 (ko) | 화상처리 장치 및 방법 | |
| JP2013545331A (ja) | 少なくとも2つの独立したデジタルカメラを備えたデジタルマルチスペクトルカメラシステム | |
| JPH03289293A (ja) | 撮像装置 | |
| US20120230549A1 (en) | Image processing device, image processing method and recording medium | |
| JP2025041911A (ja) | 分光カメラ、撮像方法、プログラム及び記録媒体 | |
| CN103592808A (zh) | 宽视场体积紧凑型偏振成像相机 | |
| JP2007187942A (ja) | プリズム光学系および撮像装置 | |
| JPH11201819A (ja) | 2次元分光特性測定装置 | |
| CN106644089A (zh) | 铸坯表面温度场测量传感器及方法 | |
| JPS62223634A (ja) | 色判定装置 | |
| JP2009153074A (ja) | 画像撮影装置 | |
| JP2012060411A (ja) | マルチバンド1次元ラインセンサカメラ | |
| US9360605B2 (en) | System and method for spatial and spectral imaging | |
| JP3952499B2 (ja) | 共焦点スキャナ顕微鏡 | |
| JP2016048825A (ja) | 撮像装置 | |
| JP6677818B2 (ja) | 撮像装置および撮像方法 | |
| WO2016002490A1 (ja) | 波面計測装置及び波面計測方法 | |
| JP2009192411A (ja) | 波面計測装置およびプログラム | |
| JPS62208784A (ja) | 赤外撮像装置 | |
| JP2012138652A (ja) | チューナブルフィルタカメラ及びスキャン装置 | |
| CN2569177Y (zh) | 偏振成像装置 | |
| JP2001157214A (ja) | 撮像システム | |
| JP2001201400A (ja) | 2波長撮像装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050711 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061220 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070116 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070306 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070515 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070918 |