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JP2005062699A - Transflective substrate and method for manufacturing the same, electro-optical device, and electronic apparatus - Google Patents

Transflective substrate and method for manufacturing the same, electro-optical device, and electronic apparatus Download PDF

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JP2005062699A
JP2005062699A JP2003295605A JP2003295605A JP2005062699A JP 2005062699 A JP2005062699 A JP 2005062699A JP 2003295605 A JP2003295605 A JP 2003295605A JP 2003295605 A JP2003295605 A JP 2003295605A JP 2005062699 A JP2005062699 A JP 2005062699A
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JP
Japan
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transflective
layer
substrate
electro
wiring
Prior art date
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Application number
JP2003295605A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuyoshi Sakai
一喜 坂井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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Abstract

【課題】 銀を含む材料からなる半透過反射層と基板との接着性を高め、表示品位に優れた半透過反射基板及びその製造方法、これを用いた電気光学装置及び電子機器を提供する。
【解決手段】 半透過反射基板20は、第1基板21上に、透過部31aと反射部31bとを有する半透過反射層30と、パネルシール内引出し配線127とを備える。反射部31bに対応する半透過反射層30と引出し配線127は、それぞれ、TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層29と、該下地層29上に配置された第1Ag合金層30a、127aと、第1Ag合金層30b、127b上それぞれに配置された第2Ag合金層30b、127bとの積層構造を有する。
【選択図】 図2

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a transflective substrate excellent in display quality by improving the adhesion between a transflective layer made of a material containing silver and a substrate, a manufacturing method thereof, an electro-optical device and an electronic apparatus using the same.
A transflective substrate 20 includes a transflective layer 30 having a transmissive portion 31a and a reflective portion 31b on a first substrate 21, and an extraction wiring 127 in a panel seal. The transflective layer 30 and the lead-out wiring 127 corresponding to the reflective portion 31b are respectively disposed on the base layer 29 and the base layer 29 made of at least one material selected from TiO 2 or Ta 2 O 5. The first Ag alloy layers 30a and 127a and the second Ag alloy layers 30b and 127b disposed on the first Ag alloy layers 30b and 127b, respectively.
[Selection] Figure 2

Description

本発明は、反射特性及び透過特性を有する半透過反射層が備えられた半透過反射基板及びその製造方法、電気光学装置並びに電子機器に関する。   The present invention relates to a transflective substrate provided with a transflective layer having reflective characteristics and transmissive characteristics, a manufacturing method thereof, an electro-optical device, and an electronic apparatus.

電気光学装置の一例として、周囲環境に応じて透過型表示と反射型表示とを切り替えて実現することが可能な反射半透過型の液晶装置がある。この種の液晶装置は、一対の基板間に液晶層が挟持された構造を有し、一方の基板上には、画素毎に、外光を反射するための反射部と、反射膜の開口などにより形成された透過部とが構成された半透過反射層が設けられている。また、一対の基板それぞれの液晶層と接する面には液晶を配向するための配向膜が設けられている。このような液晶装置においては、照明手段を点灯したときには照明光が半透過反射層の透過部を通して透過型表示が実現され、照明手段を消灯したときには外光が半透過反射層の反射部によって反射されて反射型表示が実現される。   As an example of an electro-optical device, there is a reflective transflective liquid crystal device that can be realized by switching between transmissive display and reflective display in accordance with the surrounding environment. This type of liquid crystal device has a structure in which a liquid crystal layer is sandwiched between a pair of substrates. On one substrate, a reflection portion for reflecting external light, an opening of a reflection film, and the like are provided for each pixel. A transflective layer is formed which includes a transmissive portion formed by the above. In addition, an alignment film for aligning liquid crystals is provided on the surface of each of the pair of substrates that is in contact with the liquid crystal layer. In such a liquid crystal device, when the illumination means is turned on, the illumination light is transmitted through the transmission part of the semi-transmissive reflection layer, and when the illumination means is turned off, the external light is reflected by the reflection part of the semi-transmission reflection layer. Thus, the reflective display is realized.

上記の半透過反射層材料としては従来アルミニウムが一般的であったが、より高い反射特性を有する銀を用いることが提案されている(特許文献1参照。)。
特開平11−52366号公報(段落[0004]〜[0006]、図1)。
Conventionally, aluminum is generally used as the transflective layer material, but it has been proposed to use silver having higher reflection characteristics (see Patent Document 1).
JP-A-11-52366 (paragraphs [0004] to [0006], FIG. 1).

しかしながら、銀は、ガラスやプラスチックといった基板に対する密着力が低く、基板上に銀薄膜を形成した場合、基板から剥がれやすいという欠点がある。特に、配向膜を形成する際に行われるラビング処理により、銀薄膜が剥離したり、その形成位置がずれたりするといった問題が生じやすかった。このため、多くの半透過反射基板が不良品となっていた。例えば、半透過反射層がラビング処理などにより剥離し、表示特性において設計値とのずれを生じたり、剥離した反射層部の膜が透過部となる開口部や他の画素に再付着してしまい、表示特性を損ねてしまっていた。また、例えば半透過反射層と同層で引出し配線を基板上に設ける場合、引出し配線が剥がれたり、ずれてしまうことにより、基板上に形成された液晶を駆動する際に用いられる電極への信号供給が正しく行われず、表示特性を損ねてしまっていた。本発明は上記問題点を解決するものであり、その課題は、銀を含む材料からなる半透過反射層の基板に対する接着性を高め、表示品位に優れた半透過反射基板及びその製造方法、これを用いた電気光学装置及び電子機器を提供することにある。   However, silver has a disadvantage that it has low adhesion to a substrate such as glass or plastic, and when a silver thin film is formed on the substrate, it is easily peeled off from the substrate. In particular, the rubbing treatment performed when the alignment film is formed tends to cause problems such as peeling of the silver thin film and displacement of the formation position. For this reason, many transflective substrates have been defective. For example, the transflective layer is peeled off by rubbing or the like, causing a deviation from the design value in the display characteristics, or the peeled reflective layer part film is reattached to the opening or other pixel serving as the transmissive part. The display characteristics were impaired. For example, when the lead wiring is provided on the substrate in the same layer as the transflective layer, a signal to the electrode used when driving the liquid crystal formed on the substrate because the lead wiring is peeled off or shifted. Supply was not performed correctly and the display characteristics were impaired. The present invention solves the above-mentioned problems, and its problem is to improve the adhesion of a transflective layer made of a silver-containing material to the substrate and to provide excellent display quality, and a method for manufacturing the transflective reflective substrate. It is an object of the present invention to provide an electro-optical device and an electronic apparatus using the above.

上記課題を解決するために本発明の半透過反射基板は、基板上に、透過部と反射部とを有する半透過反射層と、配線とが設けられた半透過反射基板であって、前記半透過反射層の反射部と前記配線は、ITO、TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層と、該下地層上に配置されたAgを含む金属層と、の積層構造を有することを特徴とする。 In order to solve the above problems, a transflective substrate according to the present invention is a transflective substrate in which a transflective layer having a transmissive portion and a reflective portion and a wiring are provided on the substrate. The reflective part of the transmissive reflective layer and the wiring are a base layer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 , a metal layer containing Ag disposed on the base layer, It has the laminated structure of the above.

本発明のこのような構成によれば、下地層を設けることにより基板と金属層との密着性を高めることができ、半透過反射層及び配線の耐剥離性が向上する。これにより配線不良といった問題のない信頼性の高い半透過反射基板を得ることができる。
また、前記半透過反射層に平面的に重なる着色層が更に設けられていることを特徴とする。
According to such a configuration of the present invention, the adhesion between the substrate and the metal layer can be improved by providing the base layer, and the peeling resistance of the transflective layer and the wiring is improved. As a result, it is possible to obtain a highly reliable transflective substrate free from the problem of wiring defects.
In addition, a colored layer that overlaps the transflective layer in a plane is further provided.

このように、着色層を設けてカラーフィルタ機能を有する半透過反射層を得ることができる。例えばフォトリソグラフィ法を用いた着色層の製造工程では高温処理工程及び薬液処理工程があるが、下地層を設けることにより、これらの処理においても半透過反射層及び配線の剥離といった問題がない。   In this manner, a transflective layer having a color filter function by providing a colored layer can be obtained. For example, in the manufacturing process of the colored layer using the photolithography method, there are a high-temperature treatment process and a chemical solution treatment process. However, by providing the base layer, there is no problem of peeling of the transflective layer and the wiring in these processes.

本発明の半透過反射基板の製造方法は、基板上に、ITO、TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層を形成する工程と、前記下地層上にAgを含む金属層を形成する工程と、前記金属層を所定の形状にパターニングし、半透過反射層および配線を形成する工程とを有することを特徴とする。 The method for producing a transflective substrate of the present invention includes a step of forming a base layer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 on the substrate, and Ag on the base layer. And a step of patterning the metal layer into a predetermined shape to form a transflective layer and a wiring.

本発明のこのような構成によれば、下地層を設けることにより基板と金属層との密着性を高めることができ、半透過反射層の耐剥離性が向上する。これによりパターニング時のウエットエッチング工程においても半透過反射層が剥離することなく、信頼性の高い半透過反射基板を得ることができる。   According to such a configuration of the present invention, the adhesion between the substrate and the metal layer can be improved by providing the base layer, and the peel resistance of the transflective layer is improved. Thereby, a semi-transmissive reflective substrate with high reliability can be obtained without peeling off the semi-transmissive reflective layer even in the wet etching process at the time of patterning.

前記下地層を所定の形状にパターニングする工程をさらに有することを特徴とする請求項3に記載の半透過反射基板の製造方法。   The method for manufacturing a transflective substrate according to claim 3, further comprising a step of patterning the base layer into a predetermined shape.

このように、下地層を所定の形状にパターンニングするように形成してもよい。   In this way, the underlayer may be formed so as to be patterned into a predetermined shape.

また、前記下地層形成工程と、前記金属層形成工程を連続して行うことを特徴とする。   The underlayer forming step and the metal layer forming step are performed continuously.

このように、下地膜形成工程と金属層形成工程を連続して行う、言い換えれば下地膜形成後から金属層形成前までの間を真空下もしくは無酸素下におくことにより、積層界面の清浄度を保つことができる。   In this way, the cleanliness of the laminated interface is achieved by continuously performing the base film formation step and the metal layer formation step, in other words, by placing the space between after the base film formation and before the metal layer formation under vacuum or oxygen-free. Can keep.

本発明の電気光学装置は、上述に記載の半透過反射基板、または上述に記載の半透過反射基板の製造方法により製造された半透過反射基板を具備することを特徴とする。   The electro-optical device of the present invention includes the transflective substrate described above or the transflective substrate manufactured by the method for manufacturing the transflective substrate described above.

本発明のこのような構成によれば、半透過反射基板上の所望の位置に確実に半透過反射層または配線が形成されるので、表示不良や配線接続不良がない高品質の電気光学装置を得ることができる。   According to such a configuration of the present invention, since the semi-transmissive reflective layer or the wiring is reliably formed at a desired position on the semi-transmissive reflective substrate, a high-quality electro-optical device free from display defects and wiring connection defects can be obtained. Can be obtained.

本発明の他の電気光学装置は、透過部と反射部とを有する半透過反射層、該半透過反射層と平面的に重なるように配置された第1電極、及び引出し配線が設けられた半透過反射基板と、前記半透過反射基板に対向し、前記引出し配線と電気的に接続する第2電極が設けられた対向基板と、を具備した電気光学装置であって、前記半透過反射層の反射部と前記引出し配線は、ITO、TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層と、該下地層上に配置されたAgを含む金属層と、の積層構造を有することを特徴とする。 Another electro-optical device of the present invention includes a semi-transmissive reflective layer having a transmissive portion and a reflective portion, a first electrode disposed so as to overlap the semi-transmissive reflective layer in a plan view, and a half provided with a lead-out wiring. An electro-optical device comprising: a transflective substrate; and a counter substrate provided with a second electrode facing the transflective substrate and electrically connected to the extraction wiring, wherein the transflective layer includes: The reflection portion and the lead-out wiring are a laminated structure of a base layer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 and a metal layer containing Ag arranged on the base layer It is characterized by having.

本発明のこのような構成によれば、半透過反射基板上の所望の位置に確実に半透過反射層及び引出し配線が形成されるので、表示不良や配線接続不良がない高品質の電気光学装置を得ることができる。   According to such a configuration of the present invention, since the transflective layer and the lead-out wiring are reliably formed at a desired position on the transflective substrate, a high-quality electro-optical device free from display defects and wiring connection defects Can be obtained.

本発明の他の電気光学装置は、透過部と反射部とを有する半透過反射層、該半透過反射層と平面的に重なるように配置された第1電極、及び引出し配線が設けられた半透過反射基板と、前記半透過反射基板に対向し、前記引出し配線と電気的に接続する第2電極が設けられた対向基板と、を具備した電気光学装置であって、前記半透過反射層の反射部と前記引出し配線は、無機絶縁膜からなる下地層と、該下地層上に配置されたAgを含む金属層とを有することを特徴とする。   Another electro-optical device of the present invention includes a semi-transmissive reflective layer having a transmissive portion and a reflective portion, a first electrode disposed so as to overlap the semi-transmissive reflective layer in a plan view, and a half provided with a lead-out wiring. An electro-optical device comprising: a transflective substrate; and a counter substrate provided with a second electrode facing the transflective substrate and electrically connected to the extraction wiring, wherein the transflective layer includes: The reflective portion and the lead-out wiring have a base layer made of an inorganic insulating film, and a metal layer containing Ag disposed on the base layer.

このような構成によれば、下地層として無機絶縁膜を用いることで、例えばAg合金で形成した配線間でのリークやショートを防ぐことができる。   According to such a configuration, by using the inorganic insulating film as the base layer, for example, leakage or short-circuit between wirings formed of an Ag alloy can be prevented.

また、前記半透過反射基板上には、前記半透過反射基板上には、ITO,TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層と、該下地層上に配置されたAgを含む金属層とからなる入力端子部が配置されていることを特徴とする。
このような構成によれば、入力端子部が剥離することがないので、外部配線基板と入力端子部との接続不良のない電気光学装置を得ることができる。
Further, on the transflective substrate, an underlayer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 is disposed on the transflective substrate, and disposed on the underlayer. An input terminal portion made of a metal layer containing Ag is disposed.
According to such a configuration, since the input terminal portion is not peeled off, it is possible to obtain an electro-optical device having no poor connection between the external wiring board and the input terminal portion.

本発明の他の電気光学装置は、基板上に、ITO,TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層と、該下地層上に形成されたAgを含む金属層とからなる配線または端子を有することを特徴とする。 Another electro-optical device of the present invention includes a base layer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 on a substrate, and a metal containing Ag formed on the base layer. It has a wiring or a terminal made of a layer.

このように、端子を半透過反射層と同じ積層構造で形成することができ、下地層を設けることにより入力端子部の剥離といった問題がない   In this way, the terminal can be formed in the same laminated structure as the transflective layer, and there is no problem of peeling of the input terminal portion by providing the base layer.

本発明の電子機器は、上述に記載の電気光学装置と、該電気光学装置を制御する制御手段とを有することを特徴とする。   An electronic apparatus according to an aspect of the invention includes the electro-optical device described above and a control unit that controls the electro-optical device.

電子機器としては、携帯電話、携帯型情報端末、電子腕時計などが挙げられ、明るい反射表示画面を有する電子機器を得ることができる。   Examples of the electronic device include a mobile phone, a portable information terminal, an electronic wristwatch, and the like, and an electronic device having a bright reflective display screen can be obtained.

以上のように、本発明によれば、銀を含む材料からなる半透過反射層の基板に対する接着性を高め、表示品位に優れた半透過反射基板及びその製造方法、これを用いた電気光学装置及び電子機器を提供することができる。   As described above, according to the present invention, the semi-transmissive reflective layer made of a material containing silver is improved in adhesion to the substrate and has excellent display quality, a manufacturing method thereof, and an electro-optical device using the same. In addition, an electronic device can be provided.

次に、添付図面を参照して本発明に係る半透過反射基板及びその製造方法、これを用いた電気光学装置及び電子機器の実施例について詳細に説明する。本実施例では、電気光学装置として液晶装置を構成する場合を例にとり以下に説明する。   Next, embodiments of a transflective substrate and a manufacturing method thereof, an electro-optical device and an electronic apparatus using the same according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In this embodiment, a case where a liquid crystal device is configured as an electro-optical device will be described as an example.

<半透過反射基板及び電気光学装置>   <Transflective substrate and electro-optical device>

図1は、本発明に係る実施例の液晶装置100の外観を示す概略斜視図であり、図2は、図1のB−B´の切断線に沿った液晶装置100の概略断面図である。尚、図1においては、バックライト40の図示を省略している。図3は、液晶装置100を構成する半透過反射基板上に設けられた半透過反射層の部分平面図である。図4は、液晶装置100を構成する半透過反射基板上に設けられた半透過反射層、引出し配線及び入力端子部の形成領域を示す模式的な平面図である。尚、ここでは図面を見やすくするために半透過反射層に設けられた開口の数は実際よりも少なく図示している。図5は、半透過反射層と着色層との位置関係を示す半透過反射基板の部分平面図である。   FIG. 1 is a schematic perspective view illustrating an appearance of a liquid crystal device 100 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the liquid crystal device 100 taken along the line BB ′ of FIG. . In addition, illustration of the backlight 40 is abbreviate | omitted in FIG. FIG. 3 is a partial plan view of a transflective layer provided on a transflective substrate that constitutes the liquid crystal device 100. FIG. 4 is a schematic plan view showing the formation region of the transflective layer, the lead-out wiring, and the input terminal portion provided on the transflective substrate constituting the liquid crystal device 100. Here, in order to make the drawing easy to see, the number of openings provided in the transflective layer is shown to be smaller than the actual number. FIG. 5 is a partial plan view of the transflective substrate showing the positional relationship between the transflective layer and the colored layer.

液晶装置100は、いわゆる反射半透過方式のパッシブマトリクス型構造を有する。図1及び図2に示すように、液晶装置100は、液晶パネル60と、この液晶パネル60に隣接して設けられたバックライト40を備えている。液晶パネル60は、ガラス板や合成樹脂板等からなる透明な第1基板21を基体とする半透過反射基板20と、これに対向する同様の第2基板1を基体とする対向基板10とを有する。半透過反射基板20と対向基板10とはシール材53を介して貼り合わせられ、両基板とシール材53とにより囲まれた空間内には注入口53aから注入された液晶55が挟持されている。注入口53aは封止材56にて封止されている。また、半透過反射基板20及び対向基板10を挟み込むように一対の偏光板51及び52が配置されている。   The liquid crystal device 100 has a so-called reflective transflective passive matrix structure. As shown in FIGS. 1 and 2, the liquid crystal device 100 includes a liquid crystal panel 60 and a backlight 40 provided adjacent to the liquid crystal panel 60. The liquid crystal panel 60 includes a transflective substrate 20 having a transparent first substrate 21 made of a glass plate, a synthetic resin plate, or the like as a base, and a counter substrate 10 having a similar second substrate 1 opposite thereto as a base. Have. The transflective substrate 20 and the counter substrate 10 are bonded together via a sealing material 53, and the liquid crystal 55 injected from the injection port 53a is sandwiched in a space surrounded by both the substrates and the sealing material 53. . The injection port 53 a is sealed with a sealing material 56. Further, a pair of polarizing plates 51 and 52 are arranged so as to sandwich the transflective substrate 20 and the counter substrate 10.

第1基板21の内面(第2基板1に対向する表面)上には複数の第1電極としての第1透明電極27が並列してストライプ状に構成され、第2基板1の内面上には複数の第2電極としての第2透明電極2が並列してストライプ状に構成されている。また、上記第1透明電極27は配線61に導電接続され、上記第2透明電極2は配線70に導電接続されている。第1透明電極27と第2透明電極2とは相互に直交し、その交差領域はマトリクス状に配列された多数の画素100Pを構成し、これらの画素配列が表示領域Aを構成している。尚、本実施例においては、実際に表示する領域を画素と称する。本実施例において、第1透明電極27と第2透明電極2とが交差する領域は、平面的にその周縁部が後述する遮光層24と重なりあうため、実際に表示に寄与する画素100Pは格子状に形成された遮光層24により区画された領域となっている。   On the inner surface of the first substrate 21 (the surface facing the second substrate 1), a plurality of first transparent electrodes 27 as first electrodes are arranged in parallel in a stripe shape, and on the inner surface of the second substrate 1, A plurality of second transparent electrodes 2 as second electrodes are arranged in parallel in a stripe shape. The first transparent electrode 27 is conductively connected to the wiring 61, and the second transparent electrode 2 is conductively connected to the wiring 70. The first transparent electrode 27 and the second transparent electrode 2 are orthogonal to each other, and the intersection region thereof constitutes a large number of pixels 100P arranged in a matrix, and these pixel arrangements constitute a display region A. In the present embodiment, the area actually displayed is referred to as a pixel. In the present embodiment, the region where the first transparent electrode 27 and the second transparent electrode 2 intersect with each other is planarly overlapped with a light shielding layer 24 to be described later, so that the pixel 100P that actually contributes to the display is a lattice. The region is partitioned by the light shielding layer 24 formed in a shape.

第1基板21は第2基板1の外形よりも外側に張り出してなる基板張出部21Tを有している。この基板張出部21T及びこの張出部21Tが位置する辺に直交する辺には、引出し配線127が設けられている。引出し配線127は、配線70とシール材53の一部で構成される上下導通部53bを介して導電接続されている。更に、基板張出部21T上には、独立して形成された外部接続端子である複数の配線パターンからなる入力端子部258が形成されている。また、基板張出部21T上には、配線61、引出し配線127及び入力端子部258に対して導電接続されるように、液晶駆動回路等を内蔵した半導体ICチップ57が実装されている。また、基板張出部21Tの端部には、上記入力端子部258に導電接続されるように、フレキシブル配線基板59が実装されている。第1透明電極27には、半導体ICチップ57から、配線61を介して駆動信号が入力される。一方、第2透明電極2には、半導体ICチップ57から、引出し配線127、上下導通部53b、配線70を介して駆動信号が入力される。   The first substrate 21 has a substrate overhanging portion 21 </ b> T that projects outward from the outer shape of the second substrate 1. A lead-out wiring 127 is provided on the substrate overhanging portion 21T and a side orthogonal to the side where the overhanging portion 21T is located. The lead-out wiring 127 is conductively connected through a vertical conduction part 53 b configured by a part of the wiring 70 and the sealing material 53. Furthermore, an input terminal portion 258 composed of a plurality of wiring patterns, which are external connection terminals formed independently, is formed on the substrate extension portion 21T. A semiconductor IC chip 57 incorporating a liquid crystal driving circuit and the like is mounted on the substrate extension portion 21T so as to be conductively connected to the wiring 61, the lead-out wiring 127, and the input terminal portion 258. In addition, a flexible wiring board 59 is mounted on the end portion of the board extension part 21T so as to be conductively connected to the input terminal part 258. A drive signal is input to the first transparent electrode 27 from the semiconductor IC chip 57 via the wiring 61. On the other hand, a drive signal is input to the second transparent electrode 2 from the semiconductor IC chip 57 through the lead wiring 127, the vertical conduction portion 53 b, and the wiring 70.

バックライト40は、LED(発光ダイオード)等で構成される光源43と、アクリル樹脂等の透明素材で構成される導光板44と、導光板44の背後に配置された反射板42とを備えている。導光板44の前面側には拡散板41が配置され、さらにその前面側には、集光板45および46が配置されている。集光板45,46はバックライト40の照明光の指向性を高めるためのものである。   The backlight 40 includes a light source 43 composed of LEDs (light emitting diodes) and the like, a light guide plate 44 composed of a transparent material such as acrylic resin, and a reflection plate 42 disposed behind the light guide plate 44. Yes. A diffusion plate 41 is disposed on the front side of the light guide plate 44, and light collecting plates 45 and 46 are disposed on the front side thereof. The light collectors 45 and 46 are for increasing the directivity of the illumination light of the backlight 40.

次に、図2〜図5を用いて、半透過反射基板20の構造を詳細に説明する。   Next, the structure of the transflective substrate 20 will be described in detail with reference to FIGS.

図2及び図4に示すように、第1基板21上には、半透過反射層30、パネルシール内引出し配線127、パネルシール外の引出し配線128及び入力端子部258が設けられている。半透過反射層30、パネルシール内引出し配線127は同様の積層構造を有している。すなわち、半透過反射層30は、下地層としてのTiO層29、Agを含む金属層としてのAg(銀)−Nd(ネオジム)−Cu(銅)合金からなる第1Ag(銀)合金層30a、Ag(銀)−Pd(パラジウム)合金からなる第2Ag(銀)合金層30bの3層が順に積層された構成となっている。パネルシール内引出し配線127は、下地層としてのTiO層29、Agを含む金属層としてのAg(銀)−Nd(ネオジム)−Cu(銅)合金からなる第1Ag(銀)合金層127a、Ag(銀)−Pd(パラジウム)合金からなる第2Ag(銀)合金層127bの3層が順に積層された構成となっている。 As shown in FIGS. 2 and 4, on the first substrate 21, a transflective layer 30, a panel seal lead wire 127, a panel seal lead wire 128 and an input terminal portion 258 are provided. The transflective layer 30 and the panel seal lead-out wiring 127 have the same laminated structure. That is, the transflective layer 30 includes a TiO 2 layer 29 as an underlayer, and a first Ag (silver) alloy layer 30a made of an Ag (silver) -Nd (neodymium) -Cu (copper) alloy as a metal layer containing Ag. , Three layers of a second Ag (silver) alloy layer 30b made of an Ag (silver) -Pd (palladium) alloy are sequentially stacked. The lead wire 127 in the panel seal includes a TiO 2 layer 29 as a base layer, a first Ag (silver) alloy layer 127a made of an Ag (silver) -Nd (neodymium) -Cu (copper) alloy as a metal layer containing Ag, Three layers of a second Ag (silver) alloy layer 127b made of an Ag (silver) -Pd (palladium) alloy are sequentially stacked.

TiO膜29は第1Ag合金層30a及び127aと第1基板21との密着性を高めるための下地層として機能する。ここで、第1基板21上に直接Ag合金層を形成した場合、半透過反射基板製造工程中にラビング処理など物理的な力が加わると、Ag合金が剥離しやすいという問題があった。これに対し、本実施例においては、下地層としてTiO膜29を設けることによりAg合金層の耐剥離性を向上させた。尚、ここでは、下地層としてTiO膜を形成したが、他にTa膜などの無機絶縁膜を形成しても良く、同様に高い密着性を得ることができる。また、本実施形態においては、半透過反射層と同じ積層構造の引出し配線を形成しているので、下地層としては無機絶縁膜を用いるのが好ましい。Ag合金で形成した配線間でのリークやショートを防ぐことができるからである。但し、下地膜としてITO膜のように容易に加工ができる材料であれば、Ag合金配線間の膜をパターン加工で除去することで、配線間のリークやショートを防ぐことができ、工程は増えるが同様の効果を得ることができる。また、半透過反射層と同じ積層構造の配線を形成しない場合には、下地層として導電体であるITO(Indium Tin Oxide)膜やTa膜などの無機絶縁膜、半絶縁膜であるZnO膜やSnO膜を用いてもよく、同様に高い密着性を得ることができる。 The TiO 2 film 29 functions as a base layer for improving the adhesion between the first Ag alloy layers 30 a and 127 a and the first substrate 21. Here, when the Ag alloy layer is formed directly on the first substrate 21, there is a problem that the Ag alloy is easily peeled off when a physical force such as a rubbing process is applied during the transflective substrate manufacturing process. On the other hand, in this example, the TiO 2 film 29 was provided as the underlayer to improve the peeling resistance of the Ag alloy layer. Here, the TiO 2 film is formed as the base layer, but an inorganic insulating film such as a Ta 2 O 5 film may be formed in addition, and similarly high adhesion can be obtained. In the present embodiment, since the lead wiring having the same laminated structure as the transflective layer is formed, it is preferable to use an inorganic insulating film as the base layer. This is because leakage and short-circuiting between wirings formed of an Ag alloy can be prevented. However, if it is a material that can be easily processed, such as an ITO film, as a base film, the film between Ag alloy wirings can be removed by pattern processing to prevent leakage and short circuit between the wirings, and the number of processes increases. However, the same effect can be obtained. In addition, when a wiring having the same laminated structure as that of the semi-transmissive reflective layer is not formed, an inorganic insulating film such as an ITO (Indium Tin Oxide) film or a Ta 2 O 5 film or a semi-insulating film is used as a base layer. A ZnO film or a SnO film may be used, and similarly high adhesion can be obtained.

第1Ag合金層30aとしては、Agを主成分とし、Nd(ネオジム),Cu(銅)のうち少なくとも一種類以上の元素が添加された耐熱性の合金層を用いることができる。第2Ag合金層30bとしては、Agを主成分とし、Cu(銅),Ru(ルテニウム),Pd(パラジウム),Au(金),Pt(白金)のうち少なくとも一種類以上の元素が添加された耐薬品性の合金層を用いることができる。   As the first Ag alloy layer 30a, a heat resistant alloy layer containing Ag as a main component and at least one element selected from Nd (neodymium) and Cu (copper) can be used. As the second Ag alloy layer 30b, Ag is a main component and at least one element of Cu (copper), Ru (ruthenium), Pd (palladium), Au (gold), and Pt (platinum) is added. A chemical resistant alloy layer can be used.

このように、第1Ag合金層30aとして上述のような部材を用いることにより、耐熱性の高い半透過反射層30を得ることができる。すなわち純Agを用いた場合では、後述する着色層形成工程中の高温加熱処理である焼成工程で粒子の凝集による膜の断裂といった問題が起きていたが、上述のような合金を用いることにより膜の断裂といった問題がない耐熱性の高い半透過反射層30を得ることができる。ここで、第1Ag合金層30aの膜厚を、第1Ag合金層30aと第2Ag合金層30bの総厚、すなわち半透過反射層30の膜厚の50%以上、更に好ましくは70%以上とすることにより、半透過反射層30全体での耐熱性を十分に保持することができる。尚、本実施例においては、第1Ag合金層30aの膜厚を180nm、第2Ag合金層30bの膜厚を20nmとしている。   Thus, the semi-transmissive reflective layer 30 having high heat resistance can be obtained by using the above-described member as the first Ag alloy layer 30a. That is, in the case of using pure Ag, there has been a problem that the film is ruptured due to aggregation of particles in the firing process which is a high-temperature heat treatment in the colored layer forming process described later. The semi-transmissive reflective layer 30 with high heat resistance without the problem of tearing of the film can be obtained. Here, the film thickness of the first Ag alloy layer 30a is set to 50% or more, more preferably 70% or more of the total thickness of the first Ag alloy layer 30a and the second Ag alloy layer 30b, that is, the film thickness of the transflective layer 30. As a result, the heat resistance of the entire transflective layer 30 can be sufficiently maintained. In the present embodiment, the film thickness of the first Ag alloy layer 30a is 180 nm, and the film thickness of the second Ag alloy layer 30b is 20 nm.

また、第2Ag合金層30bとして上述のような部材を用いることにより、後述する着色層形成工程中の現像処理工程時のアルカリ現像液などの浸漬によって半透過反射層30の表面が受けるダメージを、純Agを用いた場合と比較して少なくすることができる。これにより、半透過反射層30表面の反射率の低下を防止することができる。この際、第2Ag合金層30bのAg含有率を99wt%以上とすることが望ましく、これにより400nm近傍の短波長域反射率をAl同等(絶対反射率で約91%)もしくはそれ以上とすることができ、全可視領域での反射率も純Agレベルに近づけることができる。また、第2Ag合金層30bのAg以外の元素の含有率を前述内容を踏まえ、アルカリ現像液などの薬品に対する耐性が必要レベルで得られる含有量に抑えることが望ましい。   In addition, by using the above-described member as the second Ag alloy layer 30b, damage to the surface of the semi-transmissive reflective layer 30 due to immersion of an alkaline developer or the like during the development processing step in the colored layer forming step described later, This can be reduced as compared with the case of using pure Ag. Thereby, the fall of the reflectance of the transflective layer 30 surface can be prevented. At this time, it is desirable that the Ag content of the second Ag alloy layer 30b is 99 wt% or more, and thereby the short wavelength region reflectance near 400 nm is equivalent to Al (about 91% in absolute reflectance) or more. And the reflectance in the entire visible region can also be close to the pure Ag level. In addition, it is desirable to suppress the content of elements other than Ag in the second Ag alloy layer 30b to a content at which resistance to chemicals such as an alkali developer is obtained at a necessary level based on the above-described content.

図2〜図5に示すように、半透過反射層30は開口部30cを有している。半透過反射層30は、画素100P毎に、開口部30cに対応する透過部31aと、2層の合金層が配置された実質的に光を反射する反射部31bとを有している。図4に示すように、半透過反射層30は、表示領域A内に配置され、パネルシール内引出し配線127は、表示領域A外に配置される。   As shown in FIGS. 2 to 5, the transflective layer 30 has an opening 30 c. The semi-transmissive reflective layer 30 includes a transmissive portion 31a corresponding to the opening 30c and a reflective portion 31b that substantially reflects light in which two alloy layers are disposed for each pixel 100P. As shown in FIG. 4, the transflective layer 30 is disposed in the display area A, and the in-panel seal lead wiring 127 is disposed outside the display area A.

図2に示すように、半透過反射層30の上には、格子状に設けられた遮光層24と、この遮光層24によって区切られた領域を埋めるように着色層25が配置され、その上を透明樹脂等からなる表面保護層(オーバーコート層)26が被覆している。図5に示すように、R、G,Bの帯状の着色層25がストライプ状に配列されている。図2に示すように表面保護層26の上には、膜厚5nmのSiO膜、膜厚160nmのITO等の透明導電体からなる第1透明電極27、ポリイミド樹脂等からなるラビング処理が施された配向膜28が順に配置されている。第1透明電極27は、着色層25の配列と平行に着色層25に対応してストライプ状に構成されている。 As shown in FIG. 2, a light-shielding layer 24 provided in a lattice shape and a colored layer 25 are arranged on the transflective layer 30 so as to fill a region partitioned by the light-shielding layer 24. Is covered with a surface protective layer (overcoat layer) 26 made of a transparent resin or the like. As shown in FIG. 5, striped colored layers 25 of R, G, and B are arranged in a stripe shape. As shown in FIG. 2, the surface protective layer 26 is subjected to a rubbing process made of a SiO 2 film having a thickness of 5 nm, a first transparent electrode 27 made of a transparent conductor such as ITO having a thickness of 160 nm, and a polyimide resin. The aligned alignment films 28 are sequentially arranged. The first transparent electrode 27 is configured in stripes corresponding to the colored layers 25 in parallel with the arrangement of the colored layers 25.

本実施例においては、図5に示すように、複数の画素100Pにそれぞれ着色層25R,25G,25Bが形成されている。そして、R(赤)の画素に設けられた着色層25Rには開口部25aRが、G(緑)の画素に設けられた着色層25Gには開口部25aGが、B(青)の画素に設けられた着色層25Bには開口部25aBが設けられている。上記構成により、着色層25に対して平面的に重なる半透過反射層30の反射部31bの一部は着色層25に覆われず、露出した状態となっている。   In the present embodiment, as shown in FIG. 5, colored layers 25R, 25G, and 25B are formed on a plurality of pixels 100P, respectively. An opening 25aR is provided in the colored layer 25R provided in the R (red) pixel, and an opening 25aG is provided in the B (blue) pixel in the colored layer 25G provided in the G (green) pixel. The colored layer 25B is provided with an opening 25aB. With the above configuration, a part of the reflective portion 31 b of the transflective layer 30 that overlaps the colored layer 25 in a plan view is not covered with the colored layer 25 and is exposed.

一方、上記半透過反射基板20と対向する対向基板10は、ガラス等からなる第2基板1上に、ITO等の透明導電体からなる第2透明電極2、ポリイミド樹脂等からなるラビング処理が施された配向膜4を順次積層させたものである。   On the other hand, the counter substrate 10 facing the transflective substrate 20 is subjected to a rubbing treatment made of a second transparent electrode 2 made of a transparent conductor such as ITO, a polyimide resin, etc. on a second substrate 1 made of glass or the like. The alignment films 4 are sequentially laminated.

図2に示すように、以上のような液晶装置100において、反射型表示では、対向基板10側から半透過反射層30に向かって入射した外光の一部155が着色層25を通過した後に半透過反射層30の反射部31bにて反射され、その反射光156は再び対向基板10を通過して、液晶装置100外部へ出射される。また、外光の他の一部は、開口部25aを通過して反射部31bにて反射され、その反射光は再び対向基板10を通過して液晶装置100外部へ出射する。このように、着色層25を通過する外光は往復で着色層25を2回通過して着色光として出射され、開口部30aを通過する外光は全く着色層25を通過することなく無着色の光として出射する。このように、反射型表示では、着色光と無着色光により表示が行われ、無着色の光により反射型表示の明度を向上させることができる。   As shown in FIG. 2, in the liquid crystal device 100 as described above, in the reflective display, after a part 155 of external light incident from the counter substrate 10 side toward the semi-transmissive reflective layer 30 passes through the colored layer 25. The reflected light 156 is reflected by the reflective portion 31 b of the semi-transmissive reflective layer 30, passes through the counter substrate 10 again, and is emitted to the outside of the liquid crystal device 100. In addition, another part of the external light passes through the opening 25a and is reflected by the reflecting portion 31b, and the reflected light passes through the counter substrate 10 again and is emitted to the outside of the liquid crystal device 100. In this way, the external light passing through the colored layer 25 is reciprocally passed through the colored layer 25 twice and emitted as colored light, and the external light passing through the opening 30 a is not colored at all without passing through the colored layer 25. Emitted as light. Thus, in the reflective display, display is performed with colored light and non-colored light, and the brightness of the reflective display can be improved with non-colored light.

一方、透過型表示では、着色層25は半透過反射層30の透過部31aを全て覆っているので、半透過反射基板20の背後に配置されたバックライト40から照明光を照射した場合には、当該照明光は透過部31aを通過して着色層25を通過し、対向基板10を通過して液晶装置100外部へ出射することにより表示が行われる。   On the other hand, in the transmissive display, since the colored layer 25 covers the entire transmissive portion 31a of the semi-transmissive reflective layer 30, when the illumination light is irradiated from the backlight 40 arranged behind the semi-transmissive reflective substrate 20, The illumination light passes through the transmissive part 31a, passes through the colored layer 25, passes through the counter substrate 10, and is emitted to the outside of the liquid crystal device 100 to perform display.

以上のように、本実施例においては、Ag合金層30a及び127aと、第1基板21との間に下地層29を設けているので、Ag合金層の基板に対する密着性を高めることができる。従って、半透過反射層、引出し配線及び入力端子部を、剥がれたりずれたりすることなく所望の位置に配置することができる。これにより、不良半透過反射基板の発生を防止することができる。   As described above, in this embodiment, since the base layer 29 is provided between the Ag alloy layers 30a and 127a and the first substrate 21, the adhesion of the Ag alloy layer to the substrate can be improved. Therefore, the transflective layer, the lead-out wiring, and the input terminal portion can be arranged at desired positions without peeling off or shifting. Thereby, generation | occurrence | production of a defective transflective board | substrate can be prevented.

半透過反射層30においては、その開口部30aが各画素毎に確実に位置することになるので、表示特性を損ねることがない。   In the transflective layer 30, the opening 30a is surely positioned for each pixel, so that display characteristics are not impaired.

また、パネルシール内引出し配線127においては、第2電極2との電気的接続位置やICチップ57との電気的接続位置がずれることがなく、確実にパネルシール内引出し配線127と第2電極2、パネルシール内引出し配線127とICチップ57とをそれぞれ電気的に接続することができ、配線接続不良の発生を防止することができる。   Further, in the panel seal lead-out wiring 127, the electrical connection position with the second electrode 2 and the electrical connection position with the IC chip 57 are not shifted, and the panel seal lead-out wiring 127 and the second electrode 2 are surely connected. In addition, the lead wire 127 in the panel seal and the IC chip 57 can be electrically connected to each other, and the occurrence of poor wiring connection can be prevented.

<半透過反射基板の製造方法>   <Method for producing transflective substrate>

次に、上述の半透過反射基板20の製造方法について、図9に基づいて図6から図8を用いて説明する。   Next, a method for manufacturing the above-described transflective substrate 20 will be described with reference to FIGS.

図6は半透過反射基板20の製造工程図(その1)、図7はこれに続く半透過反射基板20の製造工程図(その2)、図8は更にこれに続く半透過反射基板20の製造工程図(その3)である。図6〜図8は図2の断面図に対応する。図9は、図6〜図8に対応する半透過反射基板20の製造フローチャートである。   6 is a manufacturing process diagram of the transflective substrate 20 (part 1), FIG. 7 is a subsequent manufacturing process diagram of the transflective substrate 20 (part 2), and FIG. It is a manufacturing process figure (the 3). 6 to 8 correspond to the cross-sectional view of FIG. FIG. 9 is a manufacturing flowchart of the transflective substrate 20 corresponding to FIGS.

図6(a)に示すように、第1基板21上に下地層としてのTiO膜29´をスパッタなどにより成膜する。その後、図6(b)に示すように、第1基板21を100℃以上、例えばここでは120℃に加熱し、この状態で180nmの膜厚のAg−Nd−Cu合金からなる第1Ag合金膜30a´及び20nmの膜厚のAg−Pd合金からなる第2Ag合金膜30b´をスパッタ法により成膜する。これらTiO膜29´、第1Ag合金膜30a´、及び第2Ag合金膜30b´の成膜は連続的に行われる。ここで、連続的というのは、TiO膜29´成膜後から第2Ag合金膜30b´が成膜されるまでの間、第1基板21を真空下もしくは無酸素下に置くということである。例えば、いずれの膜も真空装置内で成膜されるわけであるが、両膜を連続的に同一真空装置内で成膜するか、あるいは、異なる真空装置でそれぞれ成膜し、異なる真空装置間の基板の搬送系を無酸素下、例えば窒素ガス下におけばよい。これにより第1Ag合金膜30a´の酸化を防止することができる。また、本実施形態においては、TiO膜29´上にAg合金成膜を成膜する際、100℃以上150℃以下の基板温度で成膜している。このように基板を加熱した状態でAg合金を成膜することにより、後工程の下地膜及びAg合金膜のパターニングに用いるウエットエッチング工程に対しても十分耐えうる下地膜29´と第1Ag合金膜30a´との密着性を確保することができる。尚、100℃よりも低い温度であると、密着性を十分に確保できず、150℃よりも高い温度であると第2Ag合金膜30b´の表面反射率の低下を招く。 As shown in FIG. 6A, a TiO 2 film 29 ′ as a base layer is formed on the first substrate 21 by sputtering or the like. Thereafter, as shown in FIG. 6B, the first substrate 21 is heated to 100 ° C. or higher, for example, 120 ° C., and in this state, the first Ag alloy film made of an Ag—Nd—Cu alloy having a thickness of 180 nm. A second Ag alloy film 30b ′ made of an Ag—Pd alloy with a thickness of 30a ′ and 20 nm is formed by sputtering. The TiO 2 film 29 ′, the first Ag alloy film 30a ′, and the second Ag alloy film 30b ′ are continuously formed. Here, “continuous” means that the first substrate 21 is placed under vacuum or oxygen-free from the time the TiO 2 film 29 ′ is formed until the second Ag alloy film 30 b ′ is formed. . For example, both films are formed in a vacuum apparatus, but both films are continuously formed in the same vacuum apparatus, or each film is formed in a different vacuum apparatus and between different vacuum apparatuses. The substrate transfer system may be placed under oxygen-free, for example, nitrogen gas. Thereby, the oxidation of the first Ag alloy film 30a 'can be prevented. In the present embodiment, when an Ag alloy film is formed on the TiO 2 film 29 ′, the film is formed at a substrate temperature of 100 ° C. or more and 150 ° C. or less. By forming the Ag alloy while the substrate is heated in this manner, the base film 29 ′ and the first Ag alloy film that can sufficiently withstand the wet etching process used for patterning the base film and the Ag alloy film in the subsequent process Adhesiveness with 30a 'can be ensured. When the temperature is lower than 100 ° C., sufficient adhesion cannot be secured, and when the temperature is higher than 150 ° C., the surface reflectance of the second Ag alloy film 30b ′ is lowered.

次に、TiO膜29´、第1Ag合金膜30a´及び第2Ag合金膜30b´を含む第1基板21上にレジスト材をスピンコート法により塗布する。その後、このレジスト材をフォトリソグラフィ法を用いて所定の形状にパターニングして、図6(c)に示す第2Ag合金膜30b´上にレジストパターン200を形成する。このレジストパターン200は、半透過反射層30の開口30cに相当する部分に開口を有する。 Next, a resist material is applied by spin coating on the first substrate 21 including the TiO 2 film 29 ′, the first Ag alloy film 30a ′, and the second Ag alloy film 30b ′. Thereafter, this resist material is patterned into a predetermined shape using a photolithography method, and a resist pattern 200 is formed on the second Ag alloy film 30b ′ shown in FIG. 6C. The resist pattern 200 has an opening at a portion corresponding to the opening 30 c of the transflective layer 30.

次に、このレジストパターン200をマスクとして、第1Ag合金膜30a´及び第2Ag合金膜30b´を一括して燐酸と硝酸を主成分とする混酸エッチング液によりウエットエッチングする。その後、有機系剥離液によりレジストパターン200を除去する。これにより、図6(d)に示すTiO層29、第1Ag合金層30a及び第2Ag合金層30bの積層構造を有する半透過反射層30、及び、TiO層29、第1Ag合金層127a及び第2Ag合金層127bの積層構造を有するパネルシール内引出し配線127が形成される。半透過反射層30は画素100P毎に開口30cを有する。この開口30cに相当する箇所が液晶装置に組み込んだ際に透過表示時に用いられる透過部として機能し、各画素100Pにおいて透過部以外は反射表示時に用いられる反射部として機能する。このように、半透過反射層30の形成と同時に引出し配線127を形成できるため、半透過反射層30の形成工程とは別に引出し配線及び入力端子部の形成工程を設ける必要がなく、製造効率が良い。 Next, using this resist pattern 200 as a mask, the first Ag alloy film 30a ′ and the second Ag alloy film 30b ′ are wet etched with a mixed acid etching solution containing phosphoric acid and nitric acid as main components. Thereafter, the resist pattern 200 is removed with an organic stripping solution. Thereby, the transflective layer 30 having a laminated structure of the TiO 2 layer 29, the first Ag alloy layer 30a and the second Ag alloy layer 30b shown in FIG. 6D, the TiO 2 layer 29, the first Ag alloy layer 127a and A lead-out wire 127 in the panel seal having a laminated structure of the second Ag alloy layer 127b is formed. The transflective layer 30 has an opening 30c for each pixel 100P. A portion corresponding to the opening 30c functions as a transmissive portion used during transmissive display when incorporated in the liquid crystal device, and functions other than the transmissive portion in each pixel 100P function as reflective portions used during reflective display. As described above, since the lead wiring 127 can be formed simultaneously with the formation of the semi-transmissive reflective layer 30, it is not necessary to provide a process for forming the lead wiring and the input terminal portion separately from the process of forming the semi-transmissive reflective layer 30, and the manufacturing efficiency is improved. good.

次に、図6(e)に示すように、半透過反射層30、引出し配線127を含む第1基板21上全面に、スピンコート法によりアクリル系樹脂のネガレジスト材に黒色顔料が分散された黒色樹脂材料を塗布し、黒色樹脂材料膜24´を成膜する。その後、黒色樹脂材料膜24´を100℃で3分間、焼成して仮硬化させた後、マスク201を用いて黒色樹脂材料膜24´を露光し、アルカリ現像液により現像する。その後、230℃で30分間、焼成して本硬化させることにより図6(f)に示すように膜厚1.2μmの遮光層24を形成する。この際、Ag−Pd合金層からなる半透過反射層30の表面は、アルカリ現像液によるダメージが少なく、その反射特性が損なわれることはない。また、高温加熱の焼成処理を施しても半透過反射層30は膜の断裂は生じなかった。   Next, as shown in FIG. 6 (e), the black pigment was dispersed in the acrylic resin negative resist material by spin coating over the entire surface of the first substrate 21 including the transflective layer 30 and the lead-out wiring 127. A black resin material is applied to form a black resin material film 24 '. Thereafter, the black resin material film 24 ′ is baked and temporarily cured at 100 ° C. for 3 minutes, and then the black resin material film 24 ′ is exposed using the mask 201 and developed with an alkali developer. Thereafter, the film is baked at 230 ° C. for 30 minutes to be fully cured, thereby forming a light shielding layer 24 having a thickness of 1.2 μm as shown in FIG. At this time, the surface of the transflective layer 30 made of an Ag—Pd alloy layer is less damaged by the alkali developer, and its reflection characteristics are not impaired. Further, the transflective layer 30 did not tear even when subjected to a high temperature heating firing process.

次に、図6(g)に示すように、半透過反射層30、パネルシール内引出し配線127及び遮光層24を含む第1基板21上全面に、スピンコート法によりアクリル系樹脂のネガレジスト材に赤色顔料が分散された赤色樹脂材料を塗布し、赤色樹脂材料膜25R´を形成する。その後、赤色樹脂材料膜25R´を100℃で3分間、焼成して仮硬化させた後、マスク202を用いて赤色樹脂材料膜25R´を露光し、アルカリ現像液により現像する。その後、230℃で30分間、焼成して本硬化させることにより、図7(a)に示すように膜厚1.2μmの赤色着色層25Rを形成する。この際、Ag−Pd合金層からなる半透過反射層30の表面は、アルカリ現像液によるダメージが少なく、その反射特性が損なわれることはない。また、高温加熱の焼成処理を施しても半透過反射層30は膜の断裂は生じなかった。   Next, as shown in FIG. 6G, the acrylic resin negative resist material is formed on the entire surface of the first substrate 21 including the transflective layer 30, the panel seal lead-out wiring 127, and the light shielding layer 24 by spin coating. A red resin material in which a red pigment is dispersed is applied to form a red resin material film 25R ′. Thereafter, the red resin material film 25R ′ is baked and temporarily cured at 100 ° C. for 3 minutes, and then the red resin material film 25R ′ is exposed using the mask 202 and developed with an alkali developer. Thereafter, the resultant is baked at 230 ° C. for 30 minutes to be fully cured, thereby forming a red colored layer 25R having a thickness of 1.2 μm as shown in FIG. At this time, the surface of the transflective layer 30 made of an Ag—Pd alloy layer is less damaged by the alkali developer, and its reflection characteristics are not impaired. Further, the transflective layer 30 did not tear even when subjected to a high temperature heating firing process.

次に、図7(b)に示すように、半透過反射層30、引出し配線127、入力端子部258、遮光層24及び赤色着色層25Rを含む第1基板21上全面に、スピンコート法によりアクリル系樹脂のネガレジスト材に緑色顔料が分散された緑色樹脂材料と塗布し、緑色樹脂材料膜25G´を形成する。その後、緑色樹脂材料膜25G´を100℃で3分間、焼成して仮硬化させた後、マスク203を用いて緑色樹脂材料膜25G´を露光し、アルカリ現像液により現像する。その後、230℃で30分間、焼成して本硬化させることにより、図7(c)に示すように膜厚1.2μmの緑色着色層25Gを形成する。この際、Ag−Pd合金層からなる半透過反射層30の表面は、アルカリ現像液によるダメージが少なく、その反射特性が損なわれることはない。また、高温加熱の焼成処理を施しても半透過反射層30は膜の断裂は生じなかった。   Next, as shown in FIG. 7B, the entire surface of the first substrate 21 including the transflective layer 30, the lead-out wiring 127, the input terminal portion 258, the light shielding layer 24, and the red colored layer 25R is applied by spin coating. A green resin material in which a green pigment is dispersed in an acrylic resin negative resist material is applied to form a green resin material film 25G ′. Thereafter, the green resin material film 25G ′ is baked and temporarily cured at 100 ° C. for 3 minutes, and then the green resin material film 25G ′ is exposed using the mask 203 and developed with an alkali developer. Thereafter, the resultant is baked at 230 ° C. for 30 minutes to be fully cured, thereby forming a green colored layer 25G having a thickness of 1.2 μm as shown in FIG. 7C. At this time, the surface of the transflective layer 30 made of an Ag—Pd alloy layer is less damaged by the alkali developer, and its reflection characteristics are not impaired. Further, the transflective layer 30 did not tear even when subjected to a high temperature heating firing process.

次に、図7(d)に示すように、半透過反射層30、引出し配線127、入力端子部258、遮光層24、赤色着色層25R及び緑色着色層25Gを含む第1基板21上全面に、スピンコート法によりアクリル系樹脂のネガレジスト材に青色顔料が分散された青色樹脂材料を塗布し、青色樹脂材料膜25B´を塗布する。その後、青色樹脂材料膜25B´を100℃で3分間、焼成して仮硬化させた後、マスク204を用いて青色樹脂材料膜25B´を露光し、アルカリ現像液により現像する。その後、230℃で30分間、焼成して本硬化させることにより、図8(a)に示すように膜厚1.2μmの青色着色層25Bを形成する。この際、Ag−Pd合金層からなる半透過反射層30の表面は、アルカリ現像液によるダメージが少なく、その反射特性が損なわれることはない。また、高温加熱の焼成処理を施しても半透過反射層30は膜の断裂は生じなかった。   Next, as shown in FIG. 7D, on the entire surface of the first substrate 21 including the transflective layer 30, the lead-out wiring 127, the input terminal portion 258, the light shielding layer 24, the red colored layer 25R, and the green colored layer 25G. Then, a blue resin material in which a blue pigment is dispersed is applied to an acrylic resin negative resist material by a spin coating method, and a blue resin material film 25B ′ is applied. Thereafter, the blue resin material film 25B ′ is baked at 100 ° C. for 3 minutes to be temporarily cured, and then the blue resin material film 25B ′ is exposed using the mask 204 and developed with an alkali developer. Thereafter, baking is performed at 230 ° C. for 30 minutes to perform main curing, thereby forming a blue colored layer 25B having a thickness of 1.2 μm as shown in FIG. At this time, the surface of the transflective layer 30 made of an Ag—Pd alloy layer is less damaged by the alkali developer, and its reflection characteristics are not impaired. Further, the transflective layer 30 did not tear even when subjected to a high temperature heating firing process.

次に、図8(b)に示すように、着色層25を覆うように、膜厚2.6μmのネガレジスト系透明樹脂膜からなる表面保護層26を塗布する。   Next, as shown in FIG. 8B, a surface protective layer 26 made of a negative resist transparent resin film having a thickness of 2.6 μm is applied so as to cover the colored layer 25.

その後、図8(c)に示すように、オーバーコート層26上に膜厚5nmのSiO膜36、膜厚160nmのITO(Indium Tin Oxide)膜27´をスパッタ法により連続的に成膜する。次に、所定の形状のレジストパターンをITO膜27´上に形成し、このレジストパターンをマスクとしてITO膜27´をエッチングし、レジストパターンを除去して、図8(d)に示すストライプ形状の第1透明電極27を得る。
次に、第1透明電極27を含む第1基板21上全面にポリイミドからなる配向膜材料を塗布し、これをラビング処理して配向膜28を形成し、半透過反射基板20が完成する。本実施例においては、第1Ag合金層30a及び127aと第1基板21との間に下地層としてTiO膜29を形成しているので、第1Ag合金層30a及び127aと第1基板21との密着性がよい。従って、ラビング処理のように物理的な力が基板に加わっても半透過反射層30、引出し配線127及び入力端子部が剥離したりずれたりすることがなく、信頼性の高い半透過反射基板20を得ることができる。
Thereafter, as shown in FIG. 8C, a 5 nm thick SiO 2 film 36 and a 160 nm thick ITO (Indium Tin Oxide) film 27 ′ are continuously formed on the overcoat layer 26 by sputtering. . Next, a resist pattern having a predetermined shape is formed on the ITO film 27 ′, and the ITO film 27 ′ is etched using this resist pattern as a mask, and the resist pattern is removed to obtain the stripe shape shown in FIG. A first transparent electrode 27 is obtained.
Next, an alignment film material made of polyimide is applied to the entire surface of the first substrate 21 including the first transparent electrode 27, and this is rubbed to form an alignment film 28, whereby the transflective substrate 20 is completed. In the present embodiment, since the TiO 2 film 29 is formed as the underlayer between the first Ag alloy layers 30 a and 127 a and the first substrate 21, the first Ag alloy layers 30 a and 127 a and the first substrate 21 are separated from each other. Good adhesion. Therefore, even when a physical force is applied to the substrate as in the rubbing process, the transflective layer 30, the lead-out wiring 127, and the input terminal portion are not peeled off or shifted, and the transflective substrate 20 having high reliability is obtained. Can be obtained.

尚、ここでは、図6(b)〜(d)に示すように、2層の合金膜を成膜した後、これを一括してパターニングして半透過反射層を形成しているが、例えばマスクスパッタを用いて半透過反射層を形成しても良い。すなわち、図10(a)に示すように、第1基板21上にTiO層29を形成した後、図10(b)に示すように、半透過反射層30の反射部及び引出し配線に対応する領域に開口を有するマスク205を用いて、Ag−Nd−Cu合金からなる第1Ag合金層30a及びAg−Pd合金からなる第2Ag合金層30bをスパッタにより連続的に成膜してもよい。この場合、上述の図6(c)及び(d)に示すようなレジストパターンの形成やレジストパターンをマスクとしたエッチング及びレジストパターンの除去といった工程が不要となる。 Here, as shown in FIGS. 6B to 6D, after a two-layer alloy film is formed, this is collectively patterned to form a transflective layer. The transflective layer may be formed using mask sputtering. That is, as shown in FIG. 10A, after the TiO 2 layer 29 is formed on the first substrate 21, as shown in FIG. 10B, it corresponds to the reflective portion and the lead-out wiring of the semi-transmissive reflective layer 30. The first Ag alloy layer 30a made of an Ag—Nd—Cu alloy and the second Ag alloy layer 30b made of an Ag—Pd alloy may be continuously formed by sputtering using a mask 205 having an opening in a region to be formed. In this case, steps such as formation of a resist pattern, etching using the resist pattern as a mask, and removal of the resist pattern as shown in FIGS. 6C and 6D are not required.

<電子機器>   <Electronic equipment>

次に、図11及び図12を参照して、本発明に係る電子機器の実施例について説明する。この実施例では、上記電気光学装置の液晶パネル60を電子機器の表示手段として用いる場合の実施例について説明する。   Next, with reference to FIG. 11 and FIG. 12, an embodiment of the electronic apparatus according to the present invention will be described. In this embodiment, an embodiment in which the liquid crystal panel 60 of the electro-optical device is used as a display unit of an electronic apparatus will be described.

図11は、本実施例の電子機器における液晶パネル60に対する制御系(表示制御系)の全体構成を示す概略構成図である。ここに示す電子機器は、表示情報出力源511と、表示情報処理回路512と、電源回路513と、タイミングジェネレータ514とを含む表示制御回路510を有する。   FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing an overall configuration of a control system (display control system) for the liquid crystal panel 60 in the electronic apparatus of the present embodiment. The electronic device shown here includes a display control circuit 510 including a display information output source 511, a display information processing circuit 512, a power supply circuit 513, and a timing generator 514.

また、上記と同様の液晶パネル60には、上記表示領域Aを駆動する駆動回路60B(上記図示例では液晶パネルに直接実装された半導体ICチップで構成される液晶駆動回路)を有する。   Further, the liquid crystal panel 60 similar to the above has a drive circuit 60B for driving the display area A (in the illustrated example, a liquid crystal drive circuit constituted by a semiconductor IC chip directly mounted on the liquid crystal panel).

表示情報出力源511は、ROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)等からなるメモリと、磁気記録ディスクや光記録ディスク等からなるストレージユニットと、デジタル画像信号を同調出力する同調回路とを備え、タイミングジェネレータ514によって生成された各種のクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号等の形で表示情報を表示情報処理回路512に供給するように構成されている。   The display information output source 511 includes a memory composed of a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), a storage unit composed of a magnetic recording disk, an optical recording disk, and the like, a tuning circuit that tunes and outputs a digital image signal, and the like. The display information is supplied to the display information processing circuit 512 in the form of an image signal or the like of a predetermined format based on various clock signals generated by the timing generator 514.

表示情報処理回路512は、シリアル−パラレル変換回路、増幅・反転回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路等の周知の各種回路を備え、入力した表示情報の処理を実行して、その画像情報をクロック信号CLKと共に駆動回路60Bへ供給する。駆動回路60Bは、走査線駆動回路、信号線駆動回路及び検査回路を含む。また、電源回路513は、上述の各構成要素にそれぞれ所定の電圧を供給する。   The display information processing circuit 512 includes various well-known circuits such as a serial-parallel conversion circuit, an amplification / inversion circuit, a rotation circuit, a gamma correction circuit, and a clamp circuit, and executes processing of input display information to obtain image information. Are supplied to the drive circuit 60B together with the clock signal CLK. The drive circuit 60B includes a scanning line drive circuit, a signal line drive circuit, and an inspection circuit. The power supply circuit 513 supplies a predetermined voltage to each component described above.

図12は、本発明に係る電子機器の一実施例である携帯電話を示す。この携帯電話600は、操作部601と、表示部602とを有する。操作部601の前面には複数の操作ボタンが配列され、送話部の内部にマイクが内蔵されている。また、表示部602の受話部の内部にはスピーカが配置されている。   FIG. 12 shows a mobile phone which is an embodiment of an electronic apparatus according to the present invention. The mobile phone 600 includes an operation unit 601 and a display unit 602. A plurality of operation buttons are arranged on the front surface of the operation unit 601, and a microphone is built in the transmitter unit. In addition, a speaker is disposed inside the receiver unit of the display unit 602.

上記の表示部602においては、ケース体の内部に回路基板610が配置され、この回路基板610に対して上述の液晶パネル60が実装されている。ケース体内に設置された液晶パネル60は、表示窓60Aを通して表示面を視認することができるように構成されている。   In the display unit 602, the circuit board 610 is disposed inside the case body, and the liquid crystal panel 60 is mounted on the circuit board 610. The liquid crystal panel 60 installed in the case body is configured so that the display surface can be viewed through the display window 60A.

尚、本発明に係る液晶装置を適用可能な他の電子機器としては、液晶テレビ、ビューファインダ型・モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置,ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、ディジタルスチルカメラなどが挙げられる。   Other electronic devices to which the liquid crystal device according to the present invention can be applied include a liquid crystal television, a viewfinder type / monitor direct view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic notebook, a calculator, a word processor, a workstation, A video phone, a POS terminal, a digital still camera, etc. are mentioned.

尚、本発明に係る電気光学装置は、単純マトリクス型の液晶装置だけではなく、アクティブマトリクス型の液晶装置にも同様に適用することが可能である。   The electro-optical device according to the present invention can be applied not only to a simple matrix type liquid crystal device but also to an active matrix type liquid crystal device.

本発明に係る液晶装置の実施例の全体構成を示す概略斜視図である。1 is a schematic perspective view showing an overall configuration of an embodiment of a liquid crystal device according to the present invention. 図1の線B−B´で切断した断面構造を模式的に示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows typically the cross-section cut | disconnected by line | wire BB 'of FIG. 同実施例の半透過反射層の平面形状を示す平面図である。It is a top view which shows the planar shape of the transflective layer of the Example. 半透過反射層及び引出し配線の位置を示す半透過反射基板の平面図である。It is a top view of the transflective board | substrate which shows the position of a transflective layer and extraction wiring. 半透過反射基板の着色層の形成位置を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows the formation position of the colored layer of a transflective board | substrate. 半透過反射基板の製造工程図(その1)である。It is a manufacturing process figure (the 1) of a transflective board | substrate. 半透過反射基板の製造工程図(その2)である。It is a manufacturing process figure (the 2) of a transflective board | substrate. 半透過反射基板の製造工程図(その3)である。It is a manufacturing process figure (the 3) of a transflective board | substrate. 半透過反射基板の製造フローチャート図である。It is a manufacturing flowchart figure of a transflective board | substrate. 他の例の半透過反射基板の製造工程の一部を示す図である。It is a figure which shows a part of manufacturing process of the transflective board | substrate of another example. 本発明に係る電子機器の構成を示す構成ブロック図である。It is a block diagram showing the configuration of an electronic apparatus according to the present invention. 電子機器の実施例である携帯電話の外観を示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows the external appearance of the mobile telephone which is an Example of an electronic device.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・第2基板、2・・・第2透明電極、20・・・半透過反射基板、21・・・第1基板、25・・・着色層、27・・・第1透明電極、28・・・配向膜、29・・・TiO膜、30・・・半透過反射層、30a、127a・・・第1合金層、30a´・・・第1合金膜、30b、127b・・・第2合金層、30b´・・・第2合金膜、30c・・・開口部、31a・・・透過部、31b・・・反射部、36・・・SiO膜、60B・・・駆動回路、100・・・液晶装置、127・・・パネルシール内引出し配線、128・・・パネルシール外引出し配線128、600・・・携帯電話機 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... 2nd board | substrate, 2 ... 2nd transparent electrode, 20 ... Transflective board | substrate, 21 ... 1st board | substrate, 25 ... Colored layer, 27 ... 1st transparent electrode, 28 ... alignment film, 29 ... TiO 2 film, 30 ... semi-transmissive reflective layer, 30a, 127a ... first alloy layer, 30a '... first alloy film, 30b, 127b · · · second alloy layer, 30b' ··· second alloy film, 30c · · · openings, 31a · · · transmission portion, 31b · · · reflective portion, 36 · · · SiO 2 film, 60B · · · drive Circuit, 100 ... Liquid crystal device, 127 ... Lead wire inside panel seal, 128 ... Lead wire outside panel seal 128, 600 ... Mobile phone

Claims (11)

基板上に、透過部と反射部とを有する半透過反射層と、配線とが設けられた半透過反射基板であって、
前記半透過反射層の反射部と前記配線は、
ITO、TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層と、該下地層上に配置されたAgを含む金属層と、の積層構造を有することを特徴とする半透過反射基板。
A transflective substrate in which a transflective layer having a transmissive portion and a reflective portion and a wiring are provided on a substrate,
The reflective part of the transflective layer and the wiring are
It has a laminated structure of a base layer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 and a metal layer containing Ag arranged on the base layer. Transflective substrate.
前記半透過反射層に平面的に重なる着色層が更に設けられていることを特徴とする請求項1記載の半透過反射基板。   The transflective substrate according to claim 1, further comprising a colored layer that overlaps the transflective layer in a planar manner. 基板上に、ITO、TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層を形成する工程と、
前記下地層上にAgを含む金属層を形成する工程と
前記金属層を所定の形状にパターニングし、半透過反射層および配線を形成する工程と
を有することを特徴とする半透過反射基板の製造方法。
Forming a base layer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 on a substrate;
A step of forming a metal layer containing Ag on the underlayer; and a step of patterning the metal layer into a predetermined shape to form a transflective layer and a wiring. Method.
前記下地層を所定の形状にパターニングする工程をさらに有することを特徴とする請求項3に記載の半透過反射基板の製造方法。   The method for manufacturing a transflective substrate according to claim 3, further comprising a step of patterning the base layer into a predetermined shape. 前記下地層形成工程と、前記金属層形成工程を連続して行うことを特徴とする請求項3または請求項4記載の半透過反射基板の製造方法。   The method for manufacturing a transflective substrate according to claim 3 or 4, wherein the underlayer forming step and the metal layer forming step are continuously performed. 請求項1から請求項2いずれか一項に記載の半透過反射基板、または請求項3から請求項5いずれか一項に記載の半透過反射基板の製造方法により製造された半透過反射基板を具備することを特徴とする電気光学装置。   A transflective substrate manufactured by the transflective substrate according to any one of claims 1 to 2, or the transflective substrate manufactured by the method for manufacturing a transflective substrate according to any one of claims 3 to 5. An electro-optical device comprising: 透過部と反射部とを有する半透過反射層、該半透過反射層と平面的に重なるように配置された第1電極、及び引出し配線が設けられた半透過反射基板と、
前記半透過反射基板に対向し、前記引出し配線と電気的に接続する第2電極が設けられた対向基板と、
を具備した電気光学装置であって、
前記半透過反射層の反射部と前記引出し配線は、ITO,TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層と、該下地層上に配置されたAgを含む金属層とを有することを特徴とする電気光学装置。
A transflective substrate having a transflective layer having a transmissive portion and a reflective portion, a first electrode disposed so as to overlap the transflective layer in a plane, and a lead wiring;
A counter substrate provided with a second electrode facing the transflective substrate and electrically connected to the lead wiring;
An electro-optical device comprising:
The reflective portion of the transflective layer and the lead-out wiring are a metal including Ag, disposed on the underlayer, and an underlayer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 And an electro-optic device.
透過部と反射部とを有する半透過反射層、該半透過反射層と平面的に重なるように配置された第1電極、及び引出し配線が設けられた半透過反射基板と、
前記半透過反射基板に対向し、前記引出し配線と電気的に接続する第2電極が設けられた対向基板と、
を具備した電気光学装置であって、
前記半透過反射層の反射部と前記引出し配線は、無機絶縁膜からなる下地層と、該下地層上に配置されたAgを含む金属層とを有することを特徴とする電気光学装置。
A transflective substrate having a transflective layer having a transmissive portion and a reflective portion, a first electrode disposed so as to overlap the transflective layer in a plane, and a lead wiring;
A counter substrate provided with a second electrode facing the transflective substrate and electrically connected to the lead wiring;
An electro-optical device comprising:
The electro-optical device, wherein the reflective portion of the transflective layer and the lead-out wiring have a base layer made of an inorganic insulating film, and a metal layer containing Ag disposed on the base layer.
前記半透過反射基板上には、ITO,TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層と、該下地層上に配置されたAgを含む金属層とからなる入力端子部が配置されていることを特徴とする請求項8記載の電気光学装置。 On the transflective substrate, an input comprising an underlayer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 and an Ag-containing metal layer disposed on the underlayer. 9. The electro-optical device according to claim 8, further comprising a terminal portion. 基板上に、ITO,TiOまたはTaから選ばれた少なくとも一種類の材料からなる下地層と、該下地層上に形成されたAgを含む金属層とからなる配線または端子を有することを特徴とする電気光学装置。 On the substrate, a wiring or terminal composed of a base layer made of at least one material selected from ITO, TiO 2 or Ta 2 O 5 and a metal layer containing Ag formed on the base layer. An electro-optical device. 請求項6から請求項10のいずれか一項に記載の電気光学装置と、該電気光学装置を制御する制御手段とを有することを特徴とする電子機器。   11. An electronic apparatus comprising: the electro-optical device according to claim 6; and a control unit that controls the electro-optical device.
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