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JP2005272174A - Stack structure and manufacturing method thereof - Google Patents

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JP2005272174A
JP2005272174A JP2004084907A JP2004084907A JP2005272174A JP 2005272174 A JP2005272174 A JP 2005272174A JP 2004084907 A JP2004084907 A JP 2004084907A JP 2004084907 A JP2004084907 A JP 2004084907A JP 2005272174 A JP2005272174 A JP 2005272174A
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努 寺崎
Osamu Nakamura
修 中村
Hiroyuki Takeyama
啓之 竹山
Masatoshi Nomura
雅俊 野村
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Abstract

【課題】スタック構造を簡単に製造すること。
【解決手段】ガラス基板2の一方の面2a側に、酸化可能なTa等からなる結合膜4を成膜する。このようなガラス基板2を複数枚準備する。そして、ガラス基板2の他方の面2bに新たなガラス基板2の結合膜4を接して、先のガラス基板2の結合膜4が新たなガラス基板2の結合膜4よりも高電圧となるよう電圧を印加することにより陽極接合を行う。このように複数のガラス基板2を陽極接合していくことによってマイクロリアクタ1を製造するが、どのガラス基板2にも陽極接合時には同じ向きの電界を印加する。
【選択図】図4
A stack structure is easily manufactured.
A bonding film 4 made of oxidizable Ta or the like is formed on one surface 2a side of a glass substrate 2. A plurality of such glass substrates 2 are prepared. Then, the bonding film 4 of the new glass substrate 2 is brought into contact with the other surface 2 b of the glass substrate 2 so that the bonding film 4 of the previous glass substrate 2 has a higher voltage than the bonding film 4 of the new glass substrate 2. Anodic bonding is performed by applying a voltage. The microreactor 1 is manufactured by anodically bonding a plurality of glass substrates 2 in this manner, and an electric field in the same direction is applied to any glass substrate 2 at the time of anodic bonding.
[Selection] Figure 4

Description

本発明は、複数のガラス基板を積み重ねてなるスタック構造及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a stack structure in which a plurality of glass substrates are stacked and a manufacturing method thereof.

近年では、「マイクロリアクタ」と呼ばれる小型反応器が開発・実用化されている。マイクロリアクタは、複数種類の原料や試薬、燃料などの反応物を互いに混合させながら反応させる小型反応器であって、マイクロ領域での化学反応実験、薬品の開発、人工臓器の開発、ゲノム・DNA解析ツール、マイクロ流体工学の基礎解析ツールなどに利用されている。マイクロリアクタを用いる化学反応には、ビーカ、フラスコなどを用いた通常の化学反応にはない特徴がある。例えば、反応器全体が小さいため、熱交換率が極めて高く温度制御が効率良くおこなえるという利点がある。そのため、精密な温度制御を必要とする反応や急激な加熱又は冷却を必要とする反応でも容易におこなうことができる。   In recent years, small reactors called “microreactors” have been developed and put into practical use. A microreactor is a small reactor that reacts multiple types of raw materials, reagents, fuels, and other reactants while mixing them together. Chemical reaction experiments, drug development, artificial organ development, genome / DNA analysis in the micro domain It is used for tools and basic analysis tools for microfluidics. A chemical reaction using a microreactor has characteristics that are not found in a normal chemical reaction using a beaker, a flask, or the like. For example, since the entire reactor is small, there is an advantage that the heat exchange rate is extremely high and temperature control can be performed efficiently. Therefore, the reaction requiring precise temperature control and the reaction requiring rapid heating or cooling can be easily performed.

具体的にマイクロリアクタには、反応物を流動させるチャネル(流路)や反応物同士を反応させるリアクタ(反応槽)などが形成されている。特許文献1では、所定パターンの溝を形成したシリコン基板とガラス製のパイレックス(登録商標)基板とを互いに貼り合わせた状態で陽極接合し、2枚の基板のあいだの密閉領域にチャネルを形成している。「陽極接合」というのは、高温環境下でシリコン基板に正極を配し、ガラス基板に負極を配して高電圧を印加してガラス基板内に電界を発生させ、ガラス基板内の酸素原子を負電荷を持った状態でシリコン基板側に移動させてガラス基板とシリコン基板の界面でガラス基板の酸素原子をシリコン基板のケイ素原子と原子間結合させる接合技術であるが、塗布剤を用いなくても基板の接合をおこなえることや大気中でも基板の接合をおこなえることなどから、基板の接合技術においては特に優れた技術となっている。
特開2001−228159号公報(段落番号0018〜0019参照)
Specifically, a microreactor is formed with a channel (flow path) for allowing reactants to flow, a reactor (reaction tank) for causing reactants to react with each other, and the like. In Patent Document 1, a silicon substrate on which a groove having a predetermined pattern is formed and a glass Pyrex (registered trademark) substrate are bonded together, and a channel is formed in a sealed region between the two substrates. ing. “Anodic bonding” means that a positive electrode is arranged on a silicon substrate in a high temperature environment, a negative electrode is arranged on the glass substrate, a high voltage is applied to generate an electric field in the glass substrate, and oxygen atoms in the glass substrate are It is a bonding technology that moves oxygen atoms in the glass substrate to the silicon substrate side with a negative charge, and bonds the oxygen atoms of the glass substrate to the silicon atoms of the silicon substrate at the interface between the glass substrate and silicon substrate. In addition, since the substrate can be bonded and the substrate can be bonded even in the atmosphere, the substrate bonding technique is particularly excellent.
JP 2001-228159 A (see paragraphs 0018 to 0019)

ところで、シリコン基板とガラス基板を交互に積み重ねて陽極接合することにより、スタック構造型のマイクロリアクタを作成する試みがなされている。しかしながら、ガラス基板の両面にシリコン基板を接合することが難しく、スタック構造を製造することが難しい。これは、図12(a)に示すように、第一陽極接合工程として、シリコン基板301及びガラス基板302を、シリコン基板301の一方の面301aにガラス基板302の一方の面302aを接するように配置し、電圧を印加して実線矢印の方向に電界を生じさせて面301a、302aとの界面で接合が起きる。引き続き、第二陽極接合工程として、図12(b)に示すように、ガラス基板302とシリコン基板303とを、ガラス基板302の他方の面302bにシリコン基板303の一方の面303aを接するように配置して電圧を印加して実線矢印の方向に電界を生じさせる。このとき、この電界方向と第一陽極接合工程時の電界方向(図中破線矢印)とは互いに逆方向になり、第一陽極接合工程で陽極接合されたガラス基板の他方の面とシリコン基板との間の結合に悪影響を及ぼす。   By the way, an attempt has been made to produce a stack structure type microreactor by alternately stacking and anodizing silicon substrates and glass substrates. However, it is difficult to bond a silicon substrate to both surfaces of a glass substrate, and it is difficult to manufacture a stack structure. As shown in FIG. 12A, as the first anodic bonding process, the silicon substrate 301 and the glass substrate 302 are placed so that the one surface 301 a of the silicon substrate 301 is in contact with the one surface 302 a of the glass substrate 302. Then, a voltage is applied to generate an electric field in the direction of the solid arrow, and bonding occurs at the interface with the surfaces 301a and 302a. Subsequently, as a second anodic bonding step, as shown in FIG. 12B, the glass substrate 302 and the silicon substrate 303 are placed so that the other surface 302b of the glass substrate 302 is in contact with one surface 303a of the silicon substrate 303. An electric field is generated in the direction of the solid arrow by arranging and applying a voltage. At this time, the electric field direction and the electric field direction at the first anodic bonding step (broken arrows in the figure) are opposite to each other, and the other surface of the glass substrate anodically bonded in the first anodic bonding step and the silicon substrate Adversely affects the bond between.

そこで本発明は、上記のような問題点を解決しようとしてなされたものであり、簡単にスタック構造を製造できるようにすることを目的とする。   Accordingly, the present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to easily manufacture a stack structure.

上記課題を解決するため、請求項1に発明は、
陽極接合により互いに接合された複数の基板のスタック構造において、
前記複数の基板のうち、第一基板とガラスを含む第二基板との間に、陽極接合により前記二基板のガラス中の酸素原子と結合された結合膜が介在していることを特徴とする。
In order to solve the above problems, the invention according to claim 1
In a stack structure of a plurality of substrates bonded together by anodic bonding,
Among the plurality of substrates, a bonding film bonded to oxygen atoms in the glass of the two substrates by anodic bonding is interposed between the first substrate and the second substrate containing glass. .

請求項1に記載の発明では、陽極接合により前記二基板のガラス中の酸素原子と結合された結合膜が第一基板と第二基板との間に良好に接合できる。したがって基板の所定の面に結合膜を設けることによってその面とガラスを含む基板との間の陽極接合の電界を所定の方向に設定することができる。   In the first aspect of the invention, the bonding film bonded to the oxygen atoms in the glass of the two substrates by anodic bonding can be satisfactorily bonded between the first substrate and the second substrate. Therefore, by providing a bonding film on a predetermined surface of the substrate, the electric field for anodic bonding between the surface and the substrate containing glass can be set in a predetermined direction.

請求項9に記載の発明は、
複数の基板で構成されたスタック構造の製造方法において、
前記複数の基板のうち第一基板とガラスを含む第二基板との間に介在される結合膜が、前記第二基板のガラス内の酸素原子と結合されるように陽極接合することを特徴とする。
The invention according to claim 9 is:
In the manufacturing method of the stack structure composed of a plurality of substrates,
The bonding film interposed between the first substrate and the second substrate containing glass among the plurality of substrates is anodic bonded so as to be bonded to oxygen atoms in the glass of the second substrate. To do.

請求項9に記載の発明では、陽極接合により前記二基板のガラス中の酸素原子と結合された結合膜が第一基板と第二基板との間に良好に接合できる。したがって基板の所定の面に結合膜を設けることによってその面とガラスを含む基板との間の陽極接合の電界を所定の方向に設定することができる。   In the invention described in claim 9, the bonding film bonded to the oxygen atoms in the glass of the two substrates by anodic bonding can be satisfactorily bonded between the first substrate and the second substrate. Therefore, by providing a bonding film on a predetermined surface of the substrate, the electric field for anodic bonding between the surface and the substrate containing glass can be set in a predetermined direction.

本発明によれば、スタック構造を簡単に製造することができる。   According to the present invention, a stack structure can be easily manufactured.

以下に、本発明を実施するための最良の形態について図面を用いて説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい種々の限定が付されているが、発明の範囲を以下の実施形態及び図示例に限定するものではない。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings. However, although various technically preferable limitations for implementing the present invention are given to the embodiments described below, the scope of the invention is not limited to the following embodiments and illustrated examples.

〔第1の実施の形態〕
図1〜図4を参照して、本発明を適用した第一のスタック型マイクロリアクタの製造方法について説明する。
図1(a)に示すように、アルカリ酸化物(例えば、酸化ナトリウム(Na2O)、酸化リチウム(Li2O)、酸化カリウム(K2O))や、アルカリの炭酸塩(例えば、炭酸リチウム(Li2CO3))のようなアルカリ化合物を添加することでナトリウム、リチウム、カリウムのようなアルカリ金属を含有したイオン導電性のガラス基板2を準備する。特に、Liはイオン半径が小さいため電界によりガラス内を移動しやすい点でLiを含有したガラスを用いることが好ましい。例えば、Na原子を含有したパイレックス(登録商標)ガラス、又は、Li原子を含有したSW−YY(製品番号、旭テクノグラス株式会社製)をガラス基板2として用いる。
[First Embodiment]
With reference to FIGS. 1-4, the manufacturing method of the 1st stack type | mold microreactor to which this invention is applied is demonstrated.
As shown in FIG. 1A, an alkali oxide (for example, sodium oxide (Na 2 O), lithium oxide (Li 2 O), potassium oxide (K 2 O)) or an alkali carbonate (for example, carbonate By adding an alkali compound such as lithium (Li 2 CO 3 ), an ion conductive glass substrate 2 containing an alkali metal such as sodium, lithium or potassium is prepared. In particular, since Li has a small ionic radius, it is preferable to use a glass containing Li because it easily moves in the glass by an electric field. For example, Pyrex (registered trademark) glass containing Na atoms or SW-YY (product number, manufactured by Asahi Techno Glass Co., Ltd.) containing Li atoms is used as the glass substrate 2.

次に、図1(b)に示すように、ガラス基板2の一方の面2a全面に、ガラス基板2より低く且つ金属単体より高い抵抗率の導電性であるとともに適度なアルカリイオン透過性の緩衝膜3を成膜し、緩衝膜3上に金属若しくはこの金属を含む合金で構成された単層膜或いはこれらの多層膜からなる結合膜4を成膜し、ガラス基板2の他方の面2bに蛇行した一本の溝2cを形成する。この溝2cは、この他方の面2bを後述する別のガラス基板2(図1(c)に図示)と接合させることによって上面が閉じこめられたマイクロリアクタの流路となる。流路の幅及び深さはともに500μm以下の構造となっている。   Next, as shown in FIG. 1 (b), the entire surface of one surface 2a of the glass substrate 2 has a conductivity lower than that of the glass substrate 2 and higher than that of a single metal and has a suitable alkali ion permeability buffer. A film 3 is formed, a single-layer film made of a metal or an alloy containing this metal or a bonding film 4 made of these multilayer films is formed on the buffer film 3, and the other surface 2b of the glass substrate 2 is formed. One meandering groove 2c is formed. The groove 2c serves as a microreactor channel whose upper surface is confined by joining the other surface 2b to another glass substrate 2 (shown in FIG. 1C) described later. Both the width and the depth of the flow path have a structure of 500 μm or less.

結合膜4は、後述する別のガラス基板2(図1(c)に図示)中の酸素原子により酸化されて別のガラス基板2との間で共有結合を引き起こすことによって別のガラス基板2に陽極接合される膜であり、このような結合膜4は、酸化される前の状態において、陽極接合により容易に電流が流れるように導電性を示し、常温常圧下で酸化進行速度が遅く、陽極酸化条件下で適度な酸化進行速度であることが望ましい。具体的な酸化される前の状態の結合膜4の材料としては、融点が2000℃以上の金属や合金が好ましく、具体的にはTa(融点2990℃)、W(融点3400℃)、Mo(融点2620℃)、TaSi2(融点2200℃)、WSi2(融点2170℃)、MoSi2(融点2050℃)の中から少なくとも一種を含むことが好ましい。これは2000℃未満の金属の場合、大気中で容易に酸化されてしまう傾向にあるので真空雰囲気下で陽極接合を行わなければならず、管理や製造プロセスが煩雑になり且つ高コストになってしまうからである。 The bonding film 4 is oxidized by oxygen atoms in another glass substrate 2 (shown in FIG. 1C) to be described later, and causes a covalent bond with the other glass substrate 2 to form another glass substrate 2. The bonding film 4 is anodically bonded, and the bonding film 4 exhibits conductivity so that a current easily flows by anodic bonding in a state before being oxidized, and has a slow oxidation progress rate at room temperature and normal pressure. It is desirable that the oxidation progress rate is moderate under oxidizing conditions. As a material of the bonding film 4 in a state before being specifically oxidized, a metal or an alloy having a melting point of 2000 ° C. or more is preferable. Specifically, Ta (melting point: 2990 ° C.), W (melting point: 3400 ° C.), Mo ( It is preferable to include at least one of TaSi 2 (melting point 2200 ° C.), WSi 2 (melting point 2170 ° C.), and MoSi 2 (melting point 2050 ° C.). This is because a metal having a temperature lower than 2000 ° C. tends to be easily oxidized in the atmosphere, so anodic bonding must be performed in a vacuum atmosphere, which makes the management and manufacturing process complicated and expensive. Because it ends up.

緩衝膜3は、陽極接合によってガラス基板2内のアルカリイオンがガラス基板2の表面に析出物として析出することを緩和させるものであり、ガラス基板2より抵抗率の低い導電性であり且つ陽極接合時にガラス基板2中のアルカリイオンをある程度内包する程度のアルカリイオン透過性を有し、特に0〜10kΩ・cm程度の抵抗率の物質が望ましい。また、緩衝膜3として酸化物を用いることができ、特に多結晶よりもアモルファス(非晶質)の酸化物が望ましい。これは、アモルファスの原子間の距離は多結晶の原子間より長く、アモルファスの方が多結晶よりもアルカリイオンが透過しやすく、また多結晶膜の結晶粒界はその部分が高抵抗となり、電界分布が不均一に成りやすいため接合反応に面内ばらつきが生じてしまうためである。   The buffer film 3 is used to relieve alkali ions in the glass substrate 2 from being deposited as precipitates on the surface of the glass substrate 2 by anodic bonding, and has a conductivity lower in resistivity than the glass substrate 2 and anodic bonding. It is desirable to use a substance having an alkali ion permeability enough to contain alkali ions in the glass substrate 2 to some extent, and a resistivity of about 0 to 10 kΩ · cm. Further, an oxide can be used as the buffer film 3, and an amorphous (amorphous) oxide is more preferable than polycrystalline. This is because the distance between amorphous atoms is longer than that between polycrystalline atoms, and amorphous ions are more likely to transmit alkali ions than polycrystals. This is because the distribution tends to be non-uniform and in-plane variations occur in the bonding reaction.

具体的には、緩衝膜3として、TaとSiとOとを成分元素とする化合物(以下「Ta−Si−O系材料」という。)、LaとSrとMnとOとを成分元素とするとともにそれらの組成比をLa:Sr:Mn:O=0.7:0.3:1:(3−x)とする化合物(以下、La0.7Sr0.3MnO3-xという。)、又は、鉛ガラスを用いることができる。ここで、0≦x<1である。Ta−Si−O系材料も、La0.7Sr0.3MnO3-xもアモルファスの酸化物である。 Specifically, as the buffer film 3, a compound containing Ta, Si, and O as component elements (hereinafter referred to as “Ta—Si—O-based material”), La, Sr, Mn, and O as component elements. And a compound whose composition ratio is La: Sr: Mn: O = 0.7: 0.3: 1: (3-x) (hereinafter referred to as La 0.7 Sr 0.3 MnO 3-x ) or lead Glass can be used. Here, 0 ≦ x <1. Ta-Si-O-based material also, La 0.7 Sr 0.3 MnO 3- x also an oxide of amorphous.

なお、Ta−Si−O系材料の緩衝膜3の成膜方法としては、ガラス基板2を被膜対象物としてスパッタリング装置にセッティングし、その後、Taで形成された板にSiを埋め込んだものをターゲットとしてArガスとO2ガスからなる雰囲気下でスパッタリングをおこなう。スパッタリング工程では、上記ターゲットにイオンが衝突することによって当該ターゲットから二次イオンが放出され、放出された二次イオンがガラス基板2に衝突し、Ta−Si−O系材料の緩衝膜3がガラス基板2の下面に成膜される。Ta−Si−O系材料の緩衝膜3は、特に結合膜4がTaの場合、それらの間の接合性に優れている。 As a method for forming the Ta—Si—O-based material buffer film 3, a glass substrate 2 is set as a coating object in a sputtering apparatus, and then a Ta plate embedded with Si is used as a target. Sputtering is performed in an atmosphere composed of Ar gas and O 2 gas. In the sputtering process, when ions collide with the target, secondary ions are emitted from the target, and the emitted secondary ions collide with the glass substrate 2, and the buffer film 3 made of Ta—Si—O-based material is made of glass. A film is formed on the lower surface of the substrate 2. The buffer film 3 made of Ta—Si—O-based material is excellent in bondability between them, particularly when the bonding film 4 is Ta.

また、La0.7Sr0.3MnO3-xの緩衝膜3を成膜するには、まず、硝酸ランタン塩(La(NO33・6H2O)、硝酸ストロンチウム塩(Sr(NO33)、硝酸マンガン塩(Mn(NO33・6H2O)をそれぞれ1メチル−2ピロリドンに溶解してから硝酸ランタン溶液、硝酸ストロンチウム溶液、硝酸マンガン溶液を混合する。次いで、調製した溶液をガラス基板2の表面に塗布し、溶液を塗布した面を上に向けてガラス基板2を真空デジケータ内にセッティングし、真空ポンプによって真空デジケータ内を真空圧とすると、塗布した溶液が蒸発されて粘性が高まる。次いで、ガラス基板2を真空デジケータから取り出して、電気炉内にセッティングし、電気炉内を真空圧にするとともに、電気炉内でガラス基板2を加熱すると、La0.7Sr0.3MnO3-xの緩衝膜3が形成される。 In order to form the buffer film 3 of La 0.7 Sr 0.3 MnO 3-x , first, lanthanum nitrate (La (NO 3 ) 3 .6H 2 O), strontium nitrate (Sr (NO 3 ) 3 ) Then, manganese nitrate salt (Mn (NO 3 ) 3 .6H 2 O) is dissolved in 1 methyl-2pyrrolidone, and then a lanthanum nitrate solution, a strontium nitrate solution, and a manganese nitrate solution are mixed. Next, the prepared solution was applied to the surface of the glass substrate 2, and the glass substrate 2 was set in the vacuum desiccator with the surface to which the solution was applied facing up. The solution is evaporated and the viscosity increases. Next, the glass substrate 2 is taken out of the vacuum desiccator, set in an electric furnace, the inside of the electric furnace is brought to a vacuum pressure, and when the glass substrate 2 is heated in the electric furnace, a buffer of La 0.7 Sr 0.3 MnO 3-x is obtained. A film 3 is formed.

以上のように、ガラス基板2の面2aに緩衝膜3、結合膜4を順に成膜したものを複数枚準備する。   As described above, a plurality of films in which the buffer film 3 and the bonding film 4 are sequentially formed on the surface 2a of the glass substrate 2 are prepared.

次に、図1(c)に示すように、ガラス基板2の他方の面2bに導電性のシリコン基板5を陽極接合する。ここで、結合膜4に、導電性のステージ8を介して陽極接合装置10の負極を接し、シリコン基板5に陽極接合装置10の正極を接し、シリコン基板5が結合膜4よりも高電位となるように電圧を印加する。この場合、緩衝膜3上に結合膜4が成膜されているから、シリコン基板5が緩衝膜3よりも高電位である。なお、ステージ8は、それ自体が発熱体であるか或いは別途発熱体を備えており、ガラス基板2を所定の温度に加熱するように設定されている。陽極接合は、面方向に均等に加重がかかる重し9でシリコン基板5をガラス基板2に押しつけてから、発熱するステージ8でガラス基板2を300〜400℃に加熱し、陽極接合装置10により電圧を印加して行われる。すると、ガラス基板2内のアルカリイオンがマイナスの電極寄りの緩衝膜3に引き寄せられ、ガラス基板2内の電子がシリコン基板5と接する面2bに集まり、ガラス基板2とシリコン基板5との間で強固な原子間結合(共有結合)が引き起こり、ガラス基板2とシリコン基板5が陽極接合される。使用するシリコン基板5はアモルファスシリコンからなるシリコン基板であってもよいし、単結晶シリコン、多結晶シリコンといった結晶性シリコンからなる基板であってもよい。   Next, as shown in FIG. 1 (c), a conductive silicon substrate 5 is anodically bonded to the other surface 2 b of the glass substrate 2. Here, the negative electrode of the anodic bonding apparatus 10 is in contact with the bonding film 4 via the conductive stage 8, the positive electrode of the anodic bonding apparatus 10 is in contact with the silicon substrate 5, and the silicon substrate 5 has a higher potential than the bonding film 4. A voltage is applied so that In this case, since the coupling film 4 is formed on the buffer film 3, the silicon substrate 5 has a higher potential than the buffer film 3. The stage 8 itself is a heating element or is provided with a separate heating element, and is set to heat the glass substrate 2 to a predetermined temperature. In the anodic bonding, the silicon substrate 5 is pressed against the glass substrate 2 with a weight 9 that is equally weighted in the plane direction, and then the glass substrate 2 is heated to 300 to 400 ° C. with the stage 8 that generates heat. This is done by applying a voltage. Then, alkali ions in the glass substrate 2 are attracted to the buffer film 3 near the negative electrode, and electrons in the glass substrate 2 gather on the surface 2 b in contact with the silicon substrate 5, and between the glass substrate 2 and the silicon substrate 5. A strong interatomic bond (covalent bond) is generated, and the glass substrate 2 and the silicon substrate 5 are anodically bonded. The silicon substrate 5 to be used may be a silicon substrate made of amorphous silicon or a substrate made of crystalline silicon such as single crystal silicon or polycrystalline silicon.

アルカリイオンを取り込むことができる緩衝膜3がガラス基板2の一方の面2aに成膜されているから、陽極接合時にガラス基板2内のアルカリイオンが、適度にアルカリイオンを透過する緩衝膜3内等に分散されるので、ガラス基板2と緩衝膜3との界面や緩衝膜3と結合膜4との界面に局在化しないので、これら界面での接合不良発生を抑制し、さらには結合膜4の表面が結合膜4の表面にアルカリイオンで組成された酸化物等の固体が殆ど析出しないので、この表面での接合性に悪影響を与えない。   Since the buffer film 3 capable of taking in the alkali ions is formed on the one surface 2a of the glass substrate 2, the alkali ions in the glass substrate 2 appropriately permeate the alkali ions during the anodic bonding. Are not localized at the interface between the glass substrate 2 and the buffer film 3 or the interface between the buffer film 3 and the bonding film 4. Since the solid surface such as an oxide composed of alkali ions hardly precipitates on the surface of the bonding film 4 on the surface of the bonding film 4, the bonding property on the surface is not adversely affected.

なお、図2に示すように、シリコン基板5の代わりに、ガラス基板6の一方の面6aに金属膜若しくは合金膜又はこれらの多層膜からなる結合膜7を成膜したものを用いて、300〜400℃でこの一方の面6aをガラス基板2と陽極接合しても良い。この場合、結合膜7としては、上述した結合膜4の材料の中から選択されればよい。この場合、結合膜7と結合膜4とは、同じ材料組成の組合せでも、互いに異なる材料組成の組合せでもよい。ここで、ガラス基板2の結合膜4に陽極接合装置10の負極をステージ8を接し、ガラス基板6の結合膜7に陽極接合装置10の正極を接し、結合膜7が結合膜4よりも高電位となるように電圧を印加する。図2中、実線の矢印は陽極接合による電界方向である。このようなガラス基板6を用いる場合において、ガラス基板6と結合膜7との間に緩衝膜3と同様の膜が介在しても良い。   As shown in FIG. 2, instead of the silicon substrate 5, a glass substrate 6 having a bonding film 7 formed of a metal film, an alloy film, or a multilayer film on one surface 6 a is used. The one surface 6a may be anodically bonded to the glass substrate 2 at ˜400 ° C. In this case, the bonding film 7 may be selected from the materials of the bonding film 4 described above. In this case, the bonding film 7 and the bonding film 4 may be a combination of the same material composition or a combination of different material compositions. Here, the negative electrode of the anodic bonding apparatus 10 is in contact with the bonding film 4 of the glass substrate 2, the positive electrode of the anodic bonding apparatus 10 is in contact with the bonding film 7 of the glass substrate 6, and the bonding film 7 is higher than the bonding film 4. A voltage is applied so as to be a potential. In FIG. 2, the solid arrow indicates the electric field direction by anodic bonding. When such a glass substrate 6 is used, a film similar to the buffer film 3 may be interposed between the glass substrate 6 and the binding film 7.

シリコン基板5又はガラス基板6の結合膜7をシリコン基板2に陽極接合した後、図1(d)に示すように、一方の面2aに緩衝膜3及び結合膜4を成膜した別のガラス基板2の他方の面2bを、先に接合したガラス基板2の結合膜4に接するように先に接合したガラス基板2に別のガラス基板2を配置して300〜400℃でガラス基板2同士を陽極接合する。ここで、別のガラス基板2は、先に接合したガラス基板2の結合膜4の表面の一部が露出するように配置させて、先に接合したガラス基板2の結合膜4の露出した表面に陽極接合装置10の正極を接続し、導電性のステージ8を介して新たな別のガラス基板2の結合膜4に陽極接合装置10の負極を接続し、新たな結合膜4が先の結合膜4よりも高電位となるように電圧を印加する。図1(d)中、破線の矢印は先の陽極接合(図1(c)時の陽極接合)による電界方向であり、実線の矢印は新たな陽極接合による電界方向である。新たに陽極接合された界面では、先に接合したガラス基板2の結合膜4に含まれる原子が、別のガラス基板2の酸素原子との間で強固な結合を引き起こしている。
そして、図1(c)の示す先の陽極接合の電界方向と同じ電界方向で後の陽極接合を行うことができるので、先の陽極接合した部分が後の陽極接合時の電界によって接合性が低下することがない。
なお、新たな別のガラス基板2の他方の面2bを先のガラス基板2の結合膜4に陽極接合する時に、その新たなガラス基板2に結合膜4が成膜されていなくても良いが、その場合には、ステージ8を介してその新たなガラス基板2の緩衝膜3に陽極接合装置10の負極を接続し、先に接合したガラス基板2の露出された結合膜4に陽極接合装置10の正極を接続し、陽極接合後にその新たなガラス基板2の緩衝膜3上に結合膜4を成膜する。
After bonding the bonding film 7 of the silicon substrate 5 or the glass substrate 6 to the silicon substrate 2, as shown in FIG. 1 (d), another glass having a buffer film 3 and a bonding film 4 formed on one surface 2a. Another glass substrate 2 is arranged on the glass substrate 2 previously bonded so that the other surface 2b of the substrate 2 is in contact with the bonding film 4 of the glass substrate 2 previously bonded, and the glass substrates 2 are arranged at 300 to 400 ° C. Are anodically bonded. Here, another glass substrate 2 is arranged so that a part of the surface of the bonding film 4 of the glass substrate 2 bonded first is exposed, and the exposed surface of the bonding film 4 of the glass substrate 2 bonded first. The positive electrode of the anodic bonding apparatus 10 is connected to the negative electrode of the anodic bonding apparatus 10 to the bonding film 4 of another new glass substrate 2 via the conductive stage 8, and the new bonding film 4 is bonded to the previous bonding. A voltage is applied so that the potential is higher than that of the film 4. In FIG. 1 (d), the broken line arrow indicates the electric field direction by the previous anodic bonding (anodic bonding at the time of FIG. 1 (c)), and the solid line arrow indicates the electric field direction by the new anodic bonding. At the newly anodically bonded interface, atoms contained in the bonding film 4 of the glass substrate 2 bonded previously cause a strong bond with oxygen atoms of another glass substrate 2.
And since subsequent anodic bonding can be performed in the same electric field direction as that of the previous anodic bonding shown in FIG. 1 (c), the bonding property of the portion where the previous anodic bonding is performed is increased by the electric field at the time of the subsequent anodic bonding. There is no decline.
When the other surface 2b of another new glass substrate 2 is anodic bonded to the bonding film 4 of the previous glass substrate 2, the bonding film 4 may not be formed on the new glass substrate 2. In that case, the negative electrode of the anodic bonding apparatus 10 is connected to the buffer film 3 of the new glass substrate 2 through the stage 8, and the anodic bonding apparatus is connected to the exposed bonding film 4 of the previously bonded glass substrate 2. 10 positive electrodes are connected, and after anodic bonding, a bonding film 4 is formed on the buffer film 3 of the new glass substrate 2.

その後は、図1(d)に示した工程を繰り返すことによって、図3に示すように、緩衝膜3及び結合膜4を成膜した複数のガラス基板2,2,…を順に積み重ねて陽極接合していく。図3中で上側のガラス基板2から順に下側のガラス基板2に陽極接合していくことによって、これらのガラス基板2,2,…を積み重ねてなるスタック型マイクロリアクタ1が化学反応炉として完成する。図3において、隣り合う二枚のガラス基板2,2のうち上側のガラス基板2は、下側のガラス基板2側の面に緩衝膜3、結合膜4を順に成膜したものであり、下側のガラス基板2は、上側のガラス基板2の結合膜4に陽極接合されている。
さらに他の陽極接合例として、ステージ8上に緩衝膜3を設け、他方の面2bをシリコン基板5又はガラス基板6に陽極接合するガラス基板2の一方の面2aに緩衝膜3及び結合膜4のいずれも成膜せずに、緩衝膜3上に一方の面2aが接するようにガラス基板2及びその上にシリコン基板5又はガラス基板6をステージ8上に配置させて、ステージ8を介して緩衝膜3に陽極接合装置10の負極を接続し、シリコン基板5又はガラス基板6の結合膜7に陽極接合装置10の正極を接続して陽極接合を行ってもよい。このとき、ガラス基板2の一方の面2aには、ステージ8上に緩衝膜3によってアルカリイオンによる析出物がほとんど生じることはない。そしてガラス基板2の一方の面2aに新たにガラス基板2を陽極接合する場合は、先のガラス基板2の析出物のほとんどない一方の面2aに結合膜4を被膜してから行えばよい。
After that, by repeating the process shown in FIG. 1 (d), as shown in FIG. 3, a plurality of glass substrates 2, 2,... I will do it. In FIG. 3, the stack type microreactor 1 in which these glass substrates 2, 2,... Are stacked is completed as a chemical reactor by anodic bonding to the lower glass substrate 2 in order from the upper glass substrate 2. . In FIG. 3, the upper glass substrate 2 of two adjacent glass substrates 2 and 2 is formed by sequentially forming a buffer film 3 and a bonding film 4 on a surface on the lower glass substrate 2 side. The side glass substrate 2 is anodically bonded to the bonding film 4 of the upper glass substrate 2.
As still another anodic bonding example, the buffer film 3 is provided on the stage 8 and the other surface 2b is anodic bonded to the silicon substrate 5 or the glass substrate 6 on one surface 2a of the glass substrate 2 and the buffer film 3 and the bonding film 4 are provided. None of these films are formed, and the glass substrate 2 and the silicon substrate 5 or the glass substrate 6 are arranged on the stage 8 so that the one surface 2a is in contact with the buffer film 3, and the stage 8 is interposed therebetween. Anode bonding may be performed by connecting the negative electrode of the anodic bonding apparatus 10 to the buffer film 3 and connecting the positive electrode of the anodic bonding apparatus 10 to the bonding film 7 of the silicon substrate 5 or the glass substrate 6. At this time, on the one surface 2 a of the glass substrate 2, almost no precipitate due to alkali ions is generated on the stage 8 by the buffer film 3. When the glass substrate 2 is newly anodic bonded to one surface 2a of the glass substrate 2, the bonding film 4 may be coated on the one surface 2a of the glass substrate 2 having almost no precipitate.

また、図3において、どのガラス基板2も、上の結合膜4(但し、一番上のガラス基板2の場合には、シリコン基板5)を下の結合膜4よりも高電位とするよう電圧を印加することによって下の結合膜4に陽極接合されている。従って、どのガラス基板2も、実線矢印に示すとおり、陽極接合時には上から下に向かった向きの電界が印加される。ここで、図3に示された矢印は、それぞれのガラス基板2の陽極接合時に作用する電界の向きを表す。   In FIG. 3, any glass substrate 2 has a voltage so that the upper coupling film 4 (however, in the case of the uppermost glass substrate 2, the silicon substrate 5) has a higher potential than the lower coupling film 4. Is applied to the lower bonding film 4 by anodic bonding. Accordingly, as indicated by the solid line arrow, an electric field in the direction from top to bottom is applied to any glass substrate 2 during anodic bonding. Here, the arrow shown by FIG. 3 represents the direction of the electric field which acts at the time of anodic bonding of each glass substrate 2.

また、図3では、ガラス基板2を一枚ずつ陽極接合させたが、図4(a)〜図4(c)に示すように陽極接合された複数のガラス基板2同士を陽極接合してもよい。図4(a)では、一方の面2aに緩衝膜3及び結合膜4を順次成膜された第一ガラス基板2を、結合膜4をステージ8に接するように導電性のステージ8上に載置し、その第一ガラス基板2の他方の面に、一方の面2aに緩衝膜3及び結合膜4を順次成膜された第二ガラス基板2’の結合膜4が先のガラス基板2に接するように第二ガラス基板2’を配置し、第二ガラス基板2’の他方の面2b上に重し9により荷重をかける。この状態で陽極接合装置10の正極を第二ガラス基板2’の一方の面2a側に設けられた結合膜4の露出された表面に接続し、導電性のステージ8を介して第一ガラス基板2に設けられた結合膜4に陽極接合装置10の負極を接続して実線矢印の方向に電界が生じるように第一陽極接合を行う。   In FIG. 3, the glass substrates 2 are anodically bonded one by one, but a plurality of anodically bonded glass substrates 2 may be anodically bonded as shown in FIGS. 4 (a) to 4 (c). Good. In FIG. 4A, the first glass substrate 2 on which the buffer film 3 and the bonding film 4 are sequentially formed on one surface 2 a is placed on the conductive stage 8 so that the bonding film 4 is in contact with the stage 8. The bonding film 4 of the second glass substrate 2 ′ in which the buffer film 3 and the bonding film 4 are sequentially formed on the other surface of the first glass substrate 2 on the one surface 2 a is formed on the previous glass substrate 2. The second glass substrate 2 ′ is disposed so as to be in contact, and a load is applied by the weight 9 on the other surface 2 b of the second glass substrate 2 ′. In this state, the positive electrode of the anodic bonding apparatus 10 is connected to the exposed surface of the bonding film 4 provided on the one surface 2a side of the second glass substrate 2 ′, and the first glass substrate is connected via the conductive stage 8. 2 is connected to the negative electrode of the anodic bonding apparatus 10 and the first anodic bonding is performed so that an electric field is generated in the direction of the solid line arrow.

引き続き、図4(b)に示すように、ステージ8と第一ガラス基板2との間に、一方の面2aに緩衝膜3及び結合膜4が設けられた第三のガラス基板2”を配置させる。このとき、陽極接合装置の正極は第一ガラス基板2の露出された結合膜4に接続し、負極はステージ8を介して第三のガラス基板2”の結合膜4に接続している。この状態で第二陽極接合すると、その電界方向は、実線の矢印で示されるように、第一陽極接合時の電界方向(破線矢印)と同一方向になる。このように接合されたガラス基板2、2’、2”の第一基板群11を形成する。   Subsequently, as shown in FIG. 4B, a third glass substrate 2 ″ having a buffer film 3 and a bonding film 4 provided on one surface 2a is disposed between the stage 8 and the first glass substrate 2. At this time, the positive electrode of the anodic bonding apparatus is connected to the exposed bonding film 4 of the first glass substrate 2, and the negative electrode is connected to the bonding film 4 of the third glass substrate 2 ″ via the stage 8. . When the second anodic bonding is performed in this state, the electric field direction becomes the same direction as the electric field direction (broken line arrow) at the time of the first anodic bonding, as indicated by the solid line arrow. A first substrate group 11 of the glass substrates 2, 2 ′, 2 ″ bonded in this way is formed.

その後、第一基板群11とステージ8との間に、第一基板群11と同様に第一陽極接合及び第二陽極接合で形成された第二基板群11’を載置させる。そして、第一基板群11の第二ガラス基板2”に設けられた結合膜4に陽極接合装置10の正極を接続し、導電性ステージ8を介して第二基板群11’の第二ガラス基板2”に設けられた結合膜4に陽極接合装置10の負極を接続して第三陽極接合を行う。このときの電界方向(実線矢印)は、第一陽極接合の電界方向及び第二陽極接合の電界方向(ともに破線矢印)と同一方向になる。   Thereafter, the second substrate group 11 ′ formed by the first anodic bonding and the second anodic bonding as in the first substrate group 11 is placed between the first substrate group 11 and the stage 8. Then, the positive electrode of the anodic bonding apparatus 10 is connected to the bonding film 4 provided on the second glass substrate 2 ″ of the first substrate group 11, and the second glass substrate of the second substrate group 11 ′ is connected through the conductive stage 8. The negative electrode of the anodic bonding apparatus 10 is connected to the bonding film 4 provided at 2 ″ to perform the third anodic bonding. The electric field direction (solid arrow) at this time is the same as the electric field direction of the first anodic junction and the electric field direction of the second anodic junction (both are broken line arrows).

以上のように、本実施の形態では、陽極接合する側である一方の面2a側に陽極接合によりガラス基板2内の酸素原子により酸化可能な結合膜4が形成されているので、図1(d)に示すように、この結合膜4を正極とし、新たなガラス基板2の表面2a寄りを負極として、陽極接合を行うことができる。この時、新たなガラス基板2の両面間に電圧が印加されるので、新たなガラス基板2には電界が発生するが、先に接合したガラス基板2には電界が殆ど発生しない。特に、新たなガラス基板2の接合時には、先の陽極接合時における電界と反対向きの電界が先のガラス基板2に発生しない。このように、先に接合したガラス基板2の接合面とは反対面に結合膜4を成膜することによって、先に接合したガラス基板2に新たなガラス基板2を接合することができる。更には、何れのガラス基板2にも各陽極接合での電界が互いに反対向きに作用しないので、逆電界によるガラス基板2の内部の変色が生じない。そのため、スタック構造を簡単に製造することができる。   As described above, in the present embodiment, the bonding film 4 that can be oxidized by oxygen atoms in the glass substrate 2 is formed by anodic bonding on the one surface 2a side that is the anodic bonding side. As shown in d), the bonding film 4 can be used as a positive electrode, and anodic bonding can be performed using the surface near the surface 2a of the new glass substrate 2 as a negative electrode. At this time, since a voltage is applied between both surfaces of the new glass substrate 2, an electric field is generated in the new glass substrate 2, but almost no electric field is generated in the previously bonded glass substrate 2. In particular, when a new glass substrate 2 is bonded, an electric field opposite to the electric field at the previous anodic bonding is not generated on the previous glass substrate 2. Thus, by forming the bonding film 4 on the surface opposite to the bonding surface of the glass substrate 2 bonded previously, the new glass substrate 2 can be bonded to the glass substrate 2 bonded previously. Furthermore, since the electric field at each anodic bonding does not act in the opposite direction on any glass substrate 2, discoloration inside the glass substrate 2 due to the reverse electric field does not occur. Therefore, the stack structure can be easily manufactured.

また、図4に示すように、陽極接合するガラス基板2のうち、新たに陽極接合する側である一方の面2a側に陽極接合によりガラス基板2内の酸素原子により酸化可能な結合膜4が形成されているので、複数回の陽極接合を行う際に各陽極接合での電界方向を同一方向にするので逆電界による基板間の接合不良又は接合性の低下が生じることがない。   Further, as shown in FIG. 4, a bonding film 4 that can be oxidized by oxygen atoms in the glass substrate 2 by anodic bonding is provided on one surface 2a side of the glass substrate 2 to be anodic bonded, which is a new anodic bonding side. Since it is formed, the electric field direction in each anodic bonding is made the same when performing anodic bonding a plurality of times, so that the bonding failure between the substrates or the deterioration of the bonding property due to the reverse electric field does not occur.

そして、陽極接合するガラス基板2のうち、新たに陽極接合する側である一方の面2aに緩衝膜3を成膜するので、先の陽極接合時においてガラス基板2内のアルカリイオンの移動を緩衝膜3内等に分散させため、新たに陽極接合する一方の面2aと緩衝膜3との界面や、緩衝膜3の表面にアルカリイオンによる析出物が発生することを抑制できる。これは、次のように考えられる。即ち、図5に示すように、陽極接合直後には、内部のアルカリ組成物や酸素がイオン化してキャリアとなることによって微小な電流を流すガラス基板2内の電界Eaが緩衝膜3内の電界Ebよりも高い。このとき、電界Ea及び電界Ebは、緩衝膜3の表面からの距離dと陽極接合開始時からの時間tとの関数である。なお、結合膜4は、金属又は合金なために高抵抗のガラス基板2や金属酸化膜等の緩衝膜3より遙かに抵抗率及びシート抵抗が低く、分圧比が無視できる程小さい。陽極接合時には、アルカリイオンが負極側に引き寄せられ移動するが、ガラス基板2内部でアルカリイオンが受ける力Fは、アルカリイオンの電荷をqとした場合、次式で表すことができる。
F=q・Ea
Then, since the buffer film 3 is formed on one surface 2a on the side of the glass substrate 2 to be anodically bonded, the movement of alkali ions in the glass substrate 2 is buffered during the previous anodic bonding. Since it is dispersed in the film 3 or the like, it is possible to suppress the generation of precipitates due to alkali ions on the interface between the one surface 2a to be newly anodically bonded and the buffer film 3 or on the surface of the buffer film 3. This is considered as follows. That is, as shown in FIG. 5, immediately after anodic bonding, the electric field E a in the glass substrate 2 that causes a minute current to flow due to ionization of the alkali composition and oxygen inside becomes carriers. It is higher than the electric field Eb . At this time, the electric field E a and the electric field E b are a function of the distance d from the surface of the buffer film 3 and the time t from the start of anodic bonding. Since the bonding film 4 is a metal or alloy, the resistivity and sheet resistance are much lower than the high resistance glass substrate 2 and the buffer film 3 such as a metal oxide film, and the partial pressure ratio is negligibly small. At the time of anodic bonding, alkali ions are attracted and moved to the negative electrode side, and the force F received by alkali ions inside the glass substrate 2 can be expressed by the following equation when the charge of alkali ions is q.
F = q · E a

一方、緩衝膜3内部でアルカリイオンが受ける力fは、次式で表すことができる。
f=q・Eb
On the other hand, the force f received by alkali ions inside the buffer film 3 can be expressed by the following equation.
f = q · E b

したがって、アルカリイオンが受ける力は、電界Ea、電界Ebを比較すれば良い。つまり、時間tがゼロ又は十分に小さい場合には、電界Ea、電界Ebは図5に示すようになり、電界Ea、電界Ebは、ガラス基板2、緩衝膜3のそれぞれの内部の位置に関係がなく、ほぼ一定値になる。また、緩衝膜3の方がガラス基板2よりも電気伝導性が高いので、電界Ebの方が電界Eaよりも小さい。しかも、電界Ebはゼロとならず、アルカリイオンは緩衝膜3の表面方向への弱い力をうける。したがって、ガラス基板2内のアルカリイオンは、ある程度緩衝膜3に移動する。 Therefore, the force alkali ions is subjected, the electric field E a, it may be compared field E b. That is, when the time t is zero or sufficiently small, the electric field E a and the electric field E b are as shown in FIG. 5, and the electric field E a and the electric field E b are respectively inside the glass substrate 2 and the buffer film 3. Regardless of the position, the value is almost constant. Further, since the direction of the buffer film 3 is higher electrical conductivity than the glass substrate 2, towards the electric field E b is smaller than the electric field E a. In addition, the electric field E b does not become zero, and the alkali ions receive a weak force toward the surface of the buffer film 3. Accordingly, alkali ions in the glass substrate 2 move to the buffer film 3 to some extent.

一方、十分に時間tが経過した場合(陽極接合が可能な時間)、電界Ea、電界Ebは、それぞれの内部で一定値にならず、図5のグラフは、直線から、上に凸の曲線に変わる。これは、プラスイオンのスクリ−ニング効果のため、電子の場合のMOS(Metal Oxide Semiconductor)デバイスの酸化膜近傍の半導体層や、電解質溶液中の電極近傍と定性的に同じである。この場合、仮に緩衝膜3がないとすると、アルカリイオンは、その量が十分にある場合、負極近傍の電荷を打ち消すまで移動し、ガラス基板2の表面にアルカリ酸化物のような形で析出する。この緩衝膜3のない状態でのガラス基板2内部の電界EAは、スクリ−ニング効果を受けた形になり、やはりグラフ上の軌跡が上に凸の関数になる。したがって、定性的には電界Eb<電界Ea<電界EAとなると考えられる。したがって、アルカリイオン濃度も、緩衝膜3のない場合、ガラス基板2の表面近傍表面又は界面に集中するが、ある程度の量のアルカリイオンが内在可能で且つガラス基板2より低い抵抗率の緩衝膜3がある場合、陽極接合による電界強度の分散によってガラス基板2内のアルカリイオンの濃度が面2aの表面に集中することを避けることができる。 On the other hand, when the time t has sufficiently passed (the time in which anodic bonding is possible), the electric field E a and the electric field E b do not become constant values inside, and the graph of FIG. 5 protrudes upward from the straight line. It turns into a curve. This is qualitatively the same as the semiconductor layer near the oxide film of the MOS (Metal Oxide Semiconductor) device in the case of electrons and the vicinity of the electrode in the electrolyte solution due to the positive ion screening effect. In this case, if the buffer film 3 is not provided, the alkali ions move until the charge in the vicinity of the negative electrode is canceled if the amount is sufficient, and precipitate on the surface of the glass substrate 2 in the form of an alkali oxide. . The glass substrate 2 inside the electric field E A in the absence of the buffer layer 3, subscriptions - will form receiving the training effect, also trace on the graph is a function of the convex upward. Therefore, qualitatively, it is considered that electric field E b <electric field E a <electric field E A. Accordingly, when the buffer film 3 is not provided, the alkali ion concentration is also concentrated on the surface near the surface or the interface of the glass substrate 2, but a certain amount of alkali ions can be inherent and the buffer film 3 has a lower resistivity than the glass substrate 2. If there is, it is possible to avoid the concentration of alkali ions in the glass substrate 2 from concentrating on the surface 2a due to the dispersion of the electric field strength by anodic bonding.

ガラス基板2内のアルカリイオンの濃度が緩衝膜3とガラス基板2との界面に集中したり、アルカリイオンで組成された化合物が結合膜4の表面に析出したりすることを避けることができるので、新たなガラス基板2を先に陽極接合したガラス基板2の結合膜4に陽極接合しても、新たなガラス基板2が先に陽極接合したガラス基板2の結合膜4から剥離しない。そのため、接合強度の強いスタック構造を提供することができる。   Since the concentration of alkali ions in the glass substrate 2 can be concentrated on the interface between the buffer film 3 and the glass substrate 2 and a compound composed of alkali ions can be prevented from being deposited on the surface of the binding film 4. Even if the new glass substrate 2 is anodically bonded to the bonding film 4 of the glass substrate 2 previously anodically bonded, the new glass substrate 2 does not peel from the bonding film 4 of the glass substrate 2 previously anodically bonded. Therefore, it is possible to provide a stack structure with high bonding strength.

また、ガラス基板2内のアルカリイオンの濃度が緩衝膜3とガラス基板2との界面に集中したり、アルカリが結合膜4の表面に析出したりすることを避けることができるので、結合膜4に別の材料を接合することができる。   Further, the concentration of alkali ions in the glass substrate 2 can be prevented from concentrating on the interface between the buffer film 3 and the glass substrate 2, and alkali can be prevented from being deposited on the surface of the binding film 4. It is possible to bond another material.

また、ガラス基板2にリチウム含有のガラス基板(例えば、SW−YY)を用いれば、陽極接合時における印加電圧を小さくすることができる。図6は、リチウム含有ガラス基板(SW−YY)を用いて陽極接合した場合と、リチウムを含有していないガラス基板(コーニング社製の製品番号♯7740のパイレックス(登録商標))を用いて陽極接合した場合について、陽極接合開始時からの時間と両電極間に流れる電流との関係を表したグラフである。緩衝膜3は、厚さ300nmのTa−Si−O系材料とし、リチウム含有ガラス基板の場合には両極間の印加電圧を300Vとし、リチウムを含有していないガラス基板の場合には両極間の印加電圧を800Vとした。図6からわかるように、リチウム含有ガラス基板を300Vで陽極接合した場合でも、電流及び時間変化が、リチウムを含有しないガラス基板を800Vで陽極接合した場合と殆ど同じ挙動を示す。そのため、ガラス基板2にリチウム含有のガラス基板(例えば、SW−YY)を用いれば、陽極接合時における印加電圧を小さくすることができる。また、リチウムは、イオン半径が0.59Å程度とナトリウムのイオン半径より十分小さいので、陽極接合時に容易にガラス基板2内を移動することができる。   Further, if a glass substrate containing lithium (for example, SW-YY) is used for the glass substrate 2, the applied voltage at the time of anodic bonding can be reduced. FIG. 6 shows a case where anodic bonding is performed using a lithium-containing glass substrate (SW-YY) and a case where a glass substrate not containing lithium (product number # 7740 Pyrex (registered trademark) manufactured by Corning) is used as an anode. It is a graph showing the relationship between the time from the start of anodic bonding and the current flowing between both electrodes in the case of bonding. The buffer film 3 is made of a Ta-Si-O-based material having a thickness of 300 nm. In the case of a lithium-containing glass substrate, the applied voltage between both electrodes is 300 V, and in the case of a glass substrate not containing lithium, The applied voltage was 800V. As can be seen from FIG. 6, even when the lithium-containing glass substrate is anodically bonded at 300V, the current and time changes show almost the same behavior as when the glass substrate not containing lithium is anodically bonded at 800V. Therefore, if a glass substrate containing lithium (for example, SW-YY) is used for the glass substrate 2, the applied voltage at the time of anodic bonding can be reduced. Further, since lithium has an ionic radius of about 0.59 mm, which is sufficiently smaller than the ionic radius of sodium, it can easily move in the glass substrate 2 during anodic bonding.

なお、図3のように陽極接合していない状態で結合膜4が設けられたガラス基板2を複数枚積層させて、最上部のガラス基板2の結合膜4を陽極接合装置10の正極に接続し、最下部のガラス基板2又は最下部のガラス基板2の結合膜に陽極接合装置10を接続して複数のガラス基板2、2、…と、これらに接する結合膜4、4、…との間をまとめて陽極接合してもよい。なお最下部のガラス基板2は、陽極接合後に他のガラス基板や導電性膜と接合しないのであれば、緩衝膜3及び結合膜4を設けなくてもよい。   As shown in FIG. 3, a plurality of glass substrates 2 provided with a bonding film 4 are stacked without being anodic bonded, and the uppermost glass substrate 2 bonding film 4 is connected to the positive electrode of the anodic bonding apparatus 10. The anodic bonding apparatus 10 is connected to the lowermost glass substrate 2 or the bonding film of the lowermost glass substrate 2, and a plurality of glass substrates 2, 2,... And the bonding films 4, 4,. The gaps may be collectively anodically bonded. The lowermost glass substrate 2 does not need to be provided with the buffer film 3 and the bonding film 4 as long as it is not bonded to another glass substrate or a conductive film after the anodic bonding.

上記製造方法で、同一電界方向に複数の陽極接合を行う場合、ガラス基板2の一方の面2aに緩衝膜3を設けずに、直接、結合膜4を被膜しても接合可能である。
また、上記製造方法では、ステージ8側に新たなガラス基板2を順次積層させて陽極接合したが、これに限らず、図1(a)〜図1(d)のシリコン基板5、ガラス基板2、或いは図2のガラス基板2、6、或いは図4のガラス基板2、2’、2”の相対的な上下位置及び上下面を反転した構造で陽極接合を行ってもよい。つまり、下側にシリコン基板5又はガラス基板6又はガラス基板2’を載置するステージ8が配置され、シリコン基板5の上面、又はガラス基板6の上面に設けられた結合膜7、又はガラス基板2’の上面側に設けられた結合膜4上に、溝2cが設けられた他の面2bを接するようにガラス基板2を載置して、このガラス基板2の一方の面2a側に設けられた結合膜4上に重し9を載せ、シリコン基板5、又はガラス基板6に設けられた結合膜7、又はガラス基板2’の一方の面2a側に設けられた結合膜4を陽極接合装置10の正極に接続し、ガラス基板2の一方の面2a側に設けられた結合膜4を負極に接続して陽極接合を行えばよい。そして引き続き、緩衝膜3及び結合膜4が設けられた一方の面2aを上側にした新たなガラス基板2を順次積み上げ、この上に重し9を載置し、この積み上げられた最上部のガラス基板2の結合膜4に負極に接続して陽極接合を行う。このとき導電性の材料を有する重し9を用いることによって重し9を介して陽極接合装置10の負極と最上の結合膜4と接続することも可能である。
When a plurality of anodic bondings are performed in the same electric field direction by the above manufacturing method, bonding is possible even if the bonding film 4 is directly coated without providing the buffer film 3 on the one surface 2a of the glass substrate 2.
In the above manufacturing method, the new glass substrate 2 is sequentially laminated on the stage 8 side and anodic bonded. However, the present invention is not limited to this, and the silicon substrate 5 and the glass substrate 2 shown in FIGS. Alternatively, anodic bonding may be performed with a structure in which the relative vertical positions and the upper and lower surfaces of the glass substrates 2, 6 in FIG. 2 or the glass substrates 2, 2 ′, 2 ″ in FIG. 4 are inverted. The stage 8 on which the silicon substrate 5 or the glass substrate 6 or the glass substrate 2 ′ is placed is disposed on the upper surface of the silicon substrate 5, the bonding film 7 provided on the upper surface of the glass substrate 6, or the upper surface of the glass substrate 2 ′. The glass substrate 2 is placed on the bonding film 4 provided on the side so as to contact the other surface 2b provided with the groove 2c, and the bonding film provided on the one surface 2a side of the glass substrate 2 A weight 9 is placed on 4 and a silicon substrate 5 or a glass substrate 6 The bonding film 7 provided or the bonding film 4 provided on the one surface 2a side of the glass substrate 2 ′ is connected to the positive electrode of the anodic bonding apparatus 10 and the bonding provided on the one surface 2a side of the glass substrate 2 The film 4 may be connected to the negative electrode for anodic bonding, and a new glass substrate 2 with the one surface 2a on which the buffer film 3 and the bonding film 4 are provided is successively stacked and stacked on this. And the anode 9 is connected to the bonding film 4 of the stacked uppermost glass substrate 2 by anodic bonding by using the weight 9 having a conductive material. It is also possible to connect the negative electrode of the anodic bonding apparatus 10 and the uppermost bonding film 4 via the.

上記スタック構造(スタック型マイクロリアクタ1)は、燃料電池に供給する水素をメタノールのような炭化水素燃料から改質して得る改質器に用いられ、特に炭化水素燃料を蒸発する蒸発器、蒸発された炭化水素燃料から水素を改質する水素改質器、水素改質器で生成される副生成物の一酸化炭素を化学反応させて除去する一酸化炭素除去器等に用いることができる。   The stack structure (stacked microreactor 1) is used in a reformer obtained by reforming hydrogen supplied to a fuel cell from a hydrocarbon fuel such as methanol, and in particular, an evaporator that evaporates hydrocarbon fuel, The present invention can be used in a hydrogen reformer that reforms hydrogen from a hydrocarbon fuel, a carbon monoxide remover that removes carbon monoxide by-product generated in the hydrogen reformer by a chemical reaction, and the like.

また上記実施形態では、ガラス基板2の接合面と対向する面側に緩衝膜3を設けたが、これに限らず、この対向する面の全面と接するステージ8上に緩衝膜3を設けて陽極接合してもよい。このとき、緩衝膜3は、ガラス基板2がステージ8上に配置される際の位置合わせずれを考慮して、ガラス基板2全面を覆うようにガラス基板2より面積が広いことが好ましい。
なお、上記各実施形態ではガラス基板2に結合膜4を設けたが、これをもう消すにガラス基板2に直接、緩衝膜3を設けてもよく、さらに結合膜4が設けられていないガラス基板2をステージ8上の緩衝膜3に載置して陽極接合してもよい。
Moreover, in the said embodiment, although the buffer film 3 was provided in the surface side facing the joining surface of the glass substrate 2, it is not restricted to this, The buffer film 3 is provided on the stage 8 which touches the whole surface of this opposing surface, and an anode You may join. At this time, the buffer film 3 preferably has a larger area than the glass substrate 2 so as to cover the entire surface of the glass substrate 2 in consideration of misalignment when the glass substrate 2 is placed on the stage 8.
In each of the above embodiments, the bonding film 4 is provided on the glass substrate 2. However, the buffer film 3 may be directly provided on the glass substrate 2 in order to eliminate this, and the glass substrate on which the bonding film 4 is not further provided. 2 may be placed on the buffer film 3 on the stage 8 and anodic bonded.

〔第2の実施の形態〕
図7〜図11の断面図を参照して、本発明を適用した第二のスタック型マイクロリアクタの製造方法について説明する。
[Second Embodiment]
A manufacturing method of the second stack type microreactor to which the present invention is applied will be described with reference to the sectional views of FIGS.

図7(a)、図7(b)に示すように、第1ガラス基板101を準備し、第1ガラス基板101の一方の面に葛折り状の溝101aを形成し、第1ガラス基板101の一方の面のうち溝101a以外の部分に結合膜102を成膜する。第1ガラス基板101は、第1実施形態におけるガラス基板2と同様の成分組成である。以下、第2実施形態で使用するガラス基板は何れも第1実施形態におけるガラス基板2と同様の成分組成である。なお、図7(b)は第1ガラス基板101の平面図であり、図7(a)は図7(b)の面VII−VIIに沿った断面図である。   As shown in FIGS. 7A and 7B, a first glass substrate 101 is prepared, and a crease-like groove 101 a is formed on one surface of the first glass substrate 101. A coupling film 102 is formed on a portion other than the groove 101a in one of the surfaces. The first glass substrate 101 has the same component composition as the glass substrate 2 in the first embodiment. Hereinafter, the glass substrate used in the second embodiment has the same component composition as that of the glass substrate 2 in the first embodiment. 7B is a plan view of the first glass substrate 101, and FIG. 7A is a cross-sectional view taken along the plane VII-VII in FIG. 7B.

溝101aの形成方法としては、第1ガラス基板101の一方の面に対し周知のサンドブラス法を施す方法でも良いし、周知のフォトリソグラフィー及びエッチング等を適宜施す方法でも良い。   As a method for forming the groove 101a, a known sandblasting method may be applied to one surface of the first glass substrate 101, or a known photolithography, etching, or the like may be appropriately performed.

結合膜102をパターニングする方法としては、リフトオフ方法を適用することができる。つまり、溝101aにレジストを被覆したまま第1ガラス基板101の一方の面に結合膜を気相成長法等により成膜し、レジストとともに溝101aに重なった結合膜を除去することによって、溝101a以外の部分に結合膜102を残留させる。結合膜102は、第1実施形態における結合膜4(図1に図示)と同じ成分である。以下、第2実施形態で使用する結合膜は何れも第1実施形態における結合膜4と同じ成分である。   As a method for patterning the bonding film 102, a lift-off method can be applied. That is, a bonding film is formed on one surface of the first glass substrate 101 with the resist covered in the groove 101a by a vapor deposition method or the like, and the bonding film overlapping the groove 101a together with the resist is removed, thereby forming the groove 101a. The coupling film 102 is left in the other portions. The bonding film 102 is the same component as the bonding film 4 (shown in FIG. 1) in the first embodiment. Hereinafter, the bonding film used in the second embodiment is the same component as the bonding film 4 in the first embodiment.

図8に示すように、一方の面に葛折り状の溝103aが形成された第2ガラス基板103を準備し、この第2ガラス基板103の他方の面に緩衝膜104を成膜し、その緩衝膜104上に結合膜105を成膜する。緩衝膜104の成分及び成膜方法は、第1実施形態における緩衝膜3の成分組成及び成膜方法と同様である。以下、第2実施形態で使用する緩衝膜は何れも第1実施形態における緩衝膜3と同様の成分組成である。なお、溝103aは、第1ガラス基板101の溝101aと面対称に設けられている。   As shown in FIG. 8, a second glass substrate 103 having a distorted groove 103 a formed on one surface is prepared, and a buffer film 104 is formed on the other surface of the second glass substrate 103. A coupling film 105 is formed on the buffer film 104. The components and the film forming method of the buffer film 104 are the same as the component compositions and the film forming method of the buffer film 3 in the first embodiment. Hereinafter, the buffer film used in the second embodiment has the same component composition as that of the buffer film 3 in the first embodiment. The groove 103a is provided symmetrically with the groove 101a of the first glass substrate 101.

次に、図9に示すように、溝101aを溝103aに向かい合わせた状態で第2ガラス基板103の一方の面を結合膜102に押し当て、結合膜102が結合膜105よりも高電位となるよう結合膜102と結合膜105との間に電圧を印加し、更に300〜400℃に加熱する。これにより、陽極接合を行う。緩衝膜104が第2ガラス基板103に成膜されているので、アルカリイオンの濃度が第2ガラス基板103の他方の面に集中することを抑えることができる。   Next, as shown in FIG. 9, with the groove 101 a facing the groove 103 a, one surface of the second glass substrate 103 is pressed against the bonding film 102 so that the bonding film 102 has a higher potential than the bonding film 105. A voltage is applied between the bonding film 102 and the bonding film 105 so as to be further heated to 300 to 400 ° C. Thereby, anodic bonding is performed. Since the buffer film 104 is formed on the second glass substrate 103, it is possible to suppress the concentration of alkali ions from concentrating on the other surface of the second glass substrate 103.

次に、図10に示すように、一方の面に緩衝膜107、結合膜108が順に成膜された熱緩衝用の第3ガラス基板106を準備する。そして、第3ガラス基板106の他方の面を結合膜105に押し当て、結合膜105が結合膜108よりも高電位となるよう結合膜105と結合膜108との間に電圧を印加し、更に300〜400℃に加熱する。これにより、陽極接合を行う。そして、その結合膜108の一部に電熱材からなる薄膜ヒータ151(図11に図示)をパターニングする。この構成をガラス基板101、103の溝101a、103aで構成される流路内を流れる燃焼燃料を薄膜ヒータ151の熱によって気化する燃焼燃料気化器171とし、後述するガラス基板115に設けられた溝115aで構成される流路、ガラス基板124設けられた溝124aで構成される流路、及びガラス基板133、136の溝133a、136aで構成される流路に、気化された燃焼燃料を供給する。   Next, as shown in FIG. 10, a third glass substrate 106 for heat buffering, in which a buffer film 107 and a bonding film 108 are sequentially formed on one surface, is prepared. Then, the other surface of the third glass substrate 106 is pressed against the bonding film 105, a voltage is applied between the bonding film 105 and the bonding film 108 so that the bonding film 105 has a higher potential than the bonding film 108, and Heat to 300-400 ° C. Thereby, anodic bonding is performed. Then, a thin film heater 151 (shown in FIG. 11) made of an electrothermal material is patterned on a part of the bonding film 108. This structure is a combustion fuel vaporizer 171 that vaporizes the combustion fuel flowing in the flow path constituted by the grooves 101a and 103a of the glass substrates 101 and 103 by the heat of the thin film heater 151, and a groove provided in the glass substrate 115 described later. The vaporized combustion fuel is supplied to the flow path constituted by 115a, the flow path constituted by the groove 124a provided in the glass substrate 124, and the flow path constituted by the grooves 133a and 136a of the glass substrates 133 and 136. .

以後、第1ガラス基板101に第2ガラス基板103を接合した場合や第2ガラス基板103に第3ガラス基板106を接合した場合と同様に以下の(a)〜(b)の工程を順に繰り返すことによって、ガラス基板109,112,115,118,121,124,127,130,133,136をこの順に接合していく。
(a)新たなガラス基板の一方の面に緩衝膜、結合膜を順に成膜する。
(b)先に陽極接合したガラス基板に形成された結合膜に、新たなガラス基板の他方の面を押し当て、先のガラス基板の結合膜が新たなガラス基板の結合膜よりも高電位となるよう先の結合膜と新たな結合膜との間に電圧を印加し、更に300〜400℃に加熱する。つまり、陽極接合を行う。
Thereafter, the following steps (a) to (b) are sequentially repeated in the same manner as when the second glass substrate 103 is bonded to the first glass substrate 101 or when the third glass substrate 106 is bonded to the second glass substrate 103. Thus, the glass substrates 109, 112, 115, 118, 121, 124, 127, 130, 133, and 136 are joined in this order.
(A) A buffer film and a binding film are sequentially formed on one surface of a new glass substrate.
(B) The other surface of the new glass substrate is pressed against the bonding film formed on the previously anodically bonded glass substrate so that the bonding film of the previous glass substrate has a higher potential than the bonding film of the new glass substrate. A voltage is applied between the previous bonding film and the new bonding film so as to be further heated to 300 to 400 ° C. That is, anodic bonding is performed.

以上のようにガラス基板109,112,115,118,121,124,127,130,133,136を順次接合していくことにより、図11に示すようなスタック型マイクロリアクタ200が化学反応炉として完成する。図11において、何れのガラス基板103〜136でも、下の結合膜を上の結合膜よりも高電位とするよう電圧を印加することによって上の結合膜に陽極接合されている。従って、何れのガラス基板103〜136も、陽極接合時には下から上に向かった向きの電界が印加される。   As described above, by sequentially joining the glass substrates 109, 112, 115, 118, 121, 124, 127, 130, 133, and 136, the stacked microreactor 200 as shown in FIG. 11 is completed as a chemical reactor. To do. In FIG. 11, any glass substrate 103 to 136 is anodically bonded to the upper bonding film by applying a voltage so that the lower bonding film has a higher potential than the upper bonding film. Therefore, an electric field directed from the bottom to the top is applied to any of the glass substrates 103 to 136 during anodic bonding.

このスタック型マイクロリアクタ200について説明する。
薄膜ヒータ151の周囲が空間となるよう、結合膜108に第4ガラス基板109が陽極接合されている。第4ガラス基板109の結合膜108との接合面の反対面には、葛折り状の溝109aが形成されており、その面のうち溝109a以外の部分に緩衝膜110、結合膜111が順に成膜されている。
The stack type microreactor 200 will be described.
The fourth glass substrate 109 is anodically bonded to the bonding film 108 so that the periphery of the thin film heater 151 is a space. On the opposite surface of the fourth glass substrate 109 to the bonding surface with the bonding film 108, a crease-shaped groove 109a is formed, and the buffer film 110 and the bonding film 111 are sequentially formed on a portion of the surface other than the groove 109a. A film is formed.

結合膜111に第5ガラス基板112が陽極接合され、第5ガラス基板112の結合膜111との接合面には、溝109aと面対称な溝112aが形成され、その接合面と反対の面には、緩衝膜113、結合膜114が順に成膜されている。   The fifth glass substrate 112 is anodically bonded to the bonding film 111, and a groove 112a that is plane-symmetric with the groove 109a is formed on the bonding surface of the fifth glass substrate 112 with the bonding film 111, and on the surface opposite to the bonding surface. The buffer film 113 and the coupling film 114 are sequentially formed.

結合膜114に第6ガラス基板115が陽極接合され、第6ガラス基板115の結合膜114との接合面には、葛折り状の溝115aが形成され、その溝115aの壁面には、燃焼用触媒152が形成されている。第6ガラス基板115の結合膜114との接合面の反対面には、緩衝膜116、結合膜117が順に成膜され、結合膜117の一部に薄膜ヒータ153が形成されている。ガラス基板109,112、緩衝膜110、結合膜111で構成されたマイクロリアクタと、このマイクロリアクタを加熱するための第6ガラス基板115及び燃焼用触媒152で構成された改質燃料気化用燃焼器と、薄膜ヒータ153とから、改質燃料気化器172が構成される。改質燃料気化器172は、後述する水素改質器174に、気化された改質燃料を供給するためのものである。   The sixth glass substrate 115 is anodically bonded to the bonding film 114, and a twisted groove 115 a is formed on the bonding surface of the sixth glass substrate 115 to the bonding film 114. A catalyst 152 is formed. A buffer film 116 and a bonding film 117 are sequentially formed on the surface of the sixth glass substrate 115 opposite to the bonding surface with the bonding film 114, and a thin film heater 153 is formed on a part of the bonding film 117. A microreactor composed of glass substrates 109 and 112, a buffer film 110, and a coupling film 111; a combustor for vaporizing reformed fuel composed of a sixth glass substrate 115 and a combustion catalyst 152 for heating the microreactor; A reformed fuel vaporizer 172 is constituted by the thin film heater 153. The reformed fuel vaporizer 172 is for supplying the vaporized reformed fuel to a hydrogen reformer 174 described later.

薄膜ヒータ153の周囲が空間となるよう、結合膜117に第7ガラス基板118が陽極接合されている。第7ガラス基板118の結合膜117との接合面の反対面には、葛折り状の溝118aが形成されており、その溝118aの壁面には、一酸化炭素酸化用触媒154が形成されている。その反対面のうち溝118a以外の部分に緩衝膜119、結合膜120が順に成膜されている。   The seventh glass substrate 118 is anodically bonded to the bonding film 117 so that the space around the thin film heater 153 is a space. A twisted groove 118a is formed on the opposite surface of the seventh glass substrate 118 to the bonding film 117, and a carbon monoxide oxidation catalyst 154 is formed on the wall surface of the groove 118a. Yes. A buffer film 119 and a coupling film 120 are sequentially formed on the opposite surface other than the groove 118a.

結合膜120に第8ガラス基板121が陽極接合され、第8ガラス基板121の結合膜120との接合面には、溝118aに面対称な葛折り状の溝121aが形成され、その溝115aの壁面には、一酸化炭素酸化用触媒155が形成されている。第8ガラス基板121の結合膜120との接合面の反対面には、緩衝膜122、結合膜123が順に成膜されている。   The eighth glass substrate 121 is anodically bonded to the bonding film 120, and a convoluted groove 121a symmetric to the groove 118a is formed on the bonding surface of the eighth glass substrate 121 to the bonding film 120. A carbon monoxide oxidation catalyst 155 is formed on the wall surface. A buffer film 122 and a bonding film 123 are sequentially formed on the surface of the eighth glass substrate 121 opposite to the bonding surface with the bonding film 120.

結合膜123に第9ガラス基板124が陽極接合され、第9ガラス基板124の結合膜123との接合面には、葛折り状の溝124aが形成され、その溝124aの壁面には、燃焼用触媒142が形成されている。第9ガラス基板124の結合膜123との接合面の反対面には、緩衝膜125が成膜されている。緩衝膜125の周囲部には、結合膜126が成膜され、緩衝膜125の中央部には、薄膜ヒータ156が形成されている。   The ninth glass substrate 124 is anodically bonded to the bonding film 123, and a twisted groove 124 a is formed on the bonding surface of the ninth glass substrate 124 to the bonding film 123, and the wall surface of the groove 124 a is used for combustion. A catalyst 142 is formed. A buffer film 125 is formed on the opposite surface of the ninth glass substrate 124 to the bonding surface with the bonding film 123. A coupling film 126 is formed around the buffer film 125, and a thin film heater 156 is formed at the center of the buffer film 125.

一酸化炭素除去器173は、ガラス基板118,121、緩衝膜119、結合膜120で構成されたマイクロリアクタと、このマイクロリアクタを加熱するためのガラス基板124及び燃焼用触媒142で構成された一酸化炭素除去用燃焼器と、薄膜ヒータ156と、を有し、後述する水素改質器174で生成される一酸化炭素を酸化して二酸化炭素とするためのものである。   The carbon monoxide remover 173 is a microreactor composed of glass substrates 118 and 121, a buffer film 119, and a bonding film 120, and a carbon monoxide composed of a glass substrate 124 and a combustion catalyst 142 for heating the microreactor. It has a combustor for removal and a thin film heater 156, and oxidizes carbon monoxide produced by a hydrogen reformer 174 described later to carbon dioxide.

薄膜ヒータ156の周囲が空間となるよう、結合膜126に第10ガラス基板127が陽極接合されている。第10ガラス基板127の結合膜126との接合面の反対面には、葛折り状の溝127aが形成されており、その溝127aの壁面には、燃料改質用触媒154が形成されている。その反対面のうち溝127a以外の部分に緩衝膜128、結合膜129が順に成膜されている。   The tenth glass substrate 127 is anodically bonded to the bonding film 126 so that the periphery of the thin film heater 156 is a space. A twisted groove 127a is formed on the surface of the tenth glass substrate 127 opposite to the bonding surface with the binding film 126, and a fuel reforming catalyst 154 is formed on the wall surface of the groove 127a. . A buffer film 128 and a coupling film 129 are sequentially formed on a portion other than the groove 127a on the opposite surface.

結合膜129に第11ガラス基板130が陽極接合され、第11ガラス基板130の結合膜129との接合面には、溝127aに面対称な葛折り状の溝130aが形成され、その溝130aの壁面には、燃料改質用触媒158が形成されている。第11ガラス基板130の結合膜129との接合面の反対面には、緩衝膜131、結合膜132が順に成膜されている。   The eleventh glass substrate 130 is anodically bonded to the bonding film 129, and a convoluted groove 130a that is symmetrical with respect to the groove 127a is formed on the bonding surface of the eleventh glass substrate 130 to the bonding film 129. A fuel reforming catalyst 158 is formed on the wall surface. A buffer film 131 and a bonding film 132 are sequentially formed on the surface opposite to the bonding surface of the eleventh glass substrate 130 with the bonding film 129.

結合膜132に第12ガラス基板133が陽極接合され、その接合面の反対面には、葛折り状の溝133aが形成されており、その溝133aの壁面には、燃焼用触媒159が形成されている。その反対面のうち溝133a以外の部分に緩衝膜134、結合膜135が順に成膜されている。   The twelfth glass substrate 133 is anodically bonded to the bonding film 132, and a crease-shaped groove 133a is formed on the opposite surface of the bonding surface, and a combustion catalyst 159 is formed on the wall surface of the groove 133a. ing. A buffer film 134 and a coupling film 135 are sequentially formed on the opposite surface other than the groove 133a.

結合膜135に第13ガラス基板136が陽極接合され、第13ガラス基板136の結合膜135との接合面には、溝133aに面対称な葛折り状の溝136aが形成され、その溝136aの壁面には、燃焼用触媒160が形成されている。第13ガラス基板136の結合膜135との接合面の反対面には、緩衝膜137、結合膜138が順に成膜され、結合膜138の一部に薄膜ヒータ161が形成されている。   A thirteenth glass substrate 136 is anodically bonded to the bonding film 135, and a twisted groove 136 a symmetric with respect to the groove 133 a is formed on the bonding surface of the thirteenth glass substrate 136 to the bonding film 135. A combustion catalyst 160 is formed on the wall surface. A buffer film 137 and a bonding film 138 are sequentially formed on the surface of the 13th glass substrate 136 opposite to the bonding surface with the bonding film 135, and a thin film heater 161 is formed on a part of the bonding film 138.

水素改質器174は、ガラス基板127,130、緩衝膜128、結合膜129で構成されたマイクロリアクタと、このマイクロリアクタを加熱するためのガラス基板133,136、緩衝膜134、結合膜135及び燃焼用触媒159、160で構成された水素改質用燃焼器と、薄膜ヒータ161と、を有し、改質燃料気化器172で気化された改質燃料を水素に改質するものであり、水素及び副生成物として生成される一酸化炭素を含む混合流体を一酸化炭素除去器173に供給するものである。   The hydrogen reformer 174 includes a microreactor composed of glass substrates 127 and 130, a buffer film 128, and a bonding film 129, and glass substrates 133 and 136, a buffer film 134, a bonding film 135 and a combustion film for heating the microreactor. A hydrogen reforming combustor composed of catalysts 159 and 160, and a thin film heater 161 for reforming the reformed fuel vaporized by the reformed fuel vaporizer 172 into hydrogen, A mixed fluid containing carbon monoxide produced as a by-product is supplied to the carbon monoxide remover 173.

以上のマイクロリアクタ200の燃焼燃料気化器171においては、薄膜ヒータ151や後述する燃焼器等の熱によってメタノール等の燃焼燃料が溝101a,103aを流動している時に加熱されて蒸発する。この気化器において気化した燃焼燃料は、空気等と混合され、水素改質器174、一酸化炭素除去器173、改質燃料気化器172の各燃焼器に供給される。つまり、溝133a,136aによる流路、溝124aによる流路及び溝115aによる流路に流れる。   In the combustion fuel vaporizer 171 of the microreactor 200 described above, the combustion fuel such as methanol is heated and evaporated by the heat of the thin film heater 151 and the combustor described later when flowing in the grooves 101a and 103a. The combustion fuel vaporized in the carburetor is mixed with air or the like and supplied to the combustors of the hydrogen reformer 174, the carbon monoxide remover 173, and the reformed fuel vaporizer 172. That is, it flows in the flow path by the grooves 133a and 136a, the flow path by the groove 124a, and the flow path by the groove 115a.

気化した燃焼燃料が、溝115aの流路を流れている時に、燃焼用触媒152の触媒作用によって酸化して燃焼し、同様に、溝124aの流路を流れている時に、燃焼用触媒142の触媒作用によって酸化して燃焼する。また、気化した燃料が133a,136aの流路を流れている時に、燃焼用触媒159,160の触媒作用によって酸化して燃焼する。これにより、燃焼熱が発生し、改質燃料気化器172、一酸化炭素除去器173、水素改質器174を加熱することによって、改質燃料気化器172、一酸化炭素除去器173、水素改質器174での反応を促進させる。改質燃料気化器172、一酸化炭素除去器173、水素改質器174での主たる熱源はこれら燃焼器であることが好ましく、薄膜ヒータ153,156,161は、改質燃料気化器172、一酸化炭素除去器173、水素改質器174に要求される温度を調整するための補助熱源として用いられることが好ましい。   When the vaporized combustion fuel flows through the flow path of the groove 115a, it is oxidized and burned by the catalytic action of the combustion catalyst 152. Similarly, when the vaporized combustion fuel flows through the flow path of the groove 124a, It is oxidized and burned by catalytic action. Further, when the vaporized fuel flows through the flow paths 133a and 136a, it is oxidized and burned by the catalytic action of the combustion catalysts 159 and 160. As a result, combustion heat is generated, and the reformed fuel vaporizer 172, the carbon monoxide remover 173, and the hydrogen reformer 174 are heated, whereby the reformed fuel vaporizer 172, the carbon monoxide remover 173, and the hydrogen reformer 174 are heated. The reaction in the mass device 174 is promoted. The main heat sources in the reformed fuel vaporizer 172, the carbon monoxide remover 173, and the hydrogen reformer 174 are preferably these combustors, and the thin film heaters 153, 156, and 161 include the reformed fuel vaporizer 172, one It is preferably used as an auxiliary heat source for adjusting the temperature required for the carbon oxide remover 173 and the hydrogen reformer 174.

また、第4ガラス基板109と第5ガラス基板112とから気化器が構成されている。つまり、メタノール等の改質燃料と水との混合物が、溝109a,112aによる流路を流れている時に、主に第6ガラス基板115における燃焼熱及び薄膜ヒータ153により加熱されて蒸発する。気化した改質燃料と水の混合気は、溝127a,130aによる流路に流れる。   Further, the fourth glass substrate 109 and the fifth glass substrate 112 constitute a vaporizer. That is, when the mixture of reformed fuel such as methanol and water flows through the flow path formed by the grooves 109a and 112a, the mixture is mainly heated by the combustion heat in the sixth glass substrate 115 and the thin film heater 153 to evaporate. The vaporized reformed fuel / water mixture flows into the flow path formed by the grooves 127a and 130a.

燃料と水の混合気が、溝127a,130aを流れている時に、主にガラス基板133,136の燃焼器における燃焼熱及び薄膜ヒータ161の熱により加熱され、更に燃料改質用触媒157,158による触媒作用により水素に改質される。つまり、ガラス基板127,130と燃料改質用触媒157,158とから水蒸気改質器が構成される。また、この水蒸気改質器では、副生成物として、二酸化炭素、一酸化炭素等も生成される。水素等の生成物は空気と混合されて、溝118a,121aによる流路に流れる。   When the mixture of fuel and water flows through the grooves 127a and 130a, it is heated mainly by the combustion heat in the combustor of the glass substrates 133 and 136 and the heat of the thin film heater 161, and further the fuel reforming catalysts 157 and 158. It is reformed to hydrogen by the catalytic action of That is, a steam reformer is constituted by the glass substrates 127 and 130 and the fuel reforming catalysts 157 and 158. In this steam reformer, carbon dioxide, carbon monoxide and the like are also produced as by-products. A product such as hydrogen is mixed with air and flows into a channel formed by the grooves 118a and 121a.

水素等の生成物が溝118a,121aの流路を流れている時に、生成物中の一酸化炭素が一酸化炭素酸化用触媒154,155の触媒作用により酸化する。これにより、一酸化炭素が除去される。   When a product such as hydrogen flows through the channels 118a and 121a, carbon monoxide in the product is oxidized by the catalytic action of the carbon monoxide oxidation catalysts 154 and 155. Thereby, carbon monoxide is removed.

一酸化炭素除去器から水素等の生成物が燃料電池の燃料極に供給され、フュエールセルの空気極には空気中の酸素が供給され、フュエールセルにおける電気化学反応により電気エネルギーが生成される。   A product such as hydrogen is supplied from the carbon monoxide remover to the fuel electrode of the fuel cell, oxygen in the air is supplied to the air electrode of the fuel cell, and electric energy is generated by an electrochemical reaction in the fuel cell.

このマイクロリアクタ200においても、各ガラス基板内のアルカリイオンの濃度が集中したり、アルカリが析出したりすることを避けることができるので、それぞれの陽極接合面の接合強度が強い。そのため、接合強度の強いマイクロリアクタ200を提供することができる。   Also in this microreactor 200, it is possible to avoid concentration of alkali ions in each glass substrate and precipitation of alkali, so that the bonding strength of each anodic bonding surface is strong. Therefore, it is possible to provide the microreactor 200 having a high bonding strength.

以上のように上記各実施形態では、後工程としてガラス基板の一方の面にシリコン基板を陽極接合した場合のガラス基板に作用する電界が、その前工程としてガラス基板の他方の面に他のシリコン基板を陽極接合した場合のガラス基板に作用する電界と同じ向きとなり、先に陽極接合されたガラス基板の他方の面とシリコン基板との間の結合に悪影響を及ぼすことを防止できる。さらに前工程で陽極接合時にガラス基板内に正電荷となるようなキャリア例えばナトリウムイオンが発生するような場合、前工程の電界でガラス基板の一方の面の表面付近に化合物等の状態で析出され、後工程のガラス基板の一方の面にシリコン基板の間の接合を阻害するといったことを防止できる。   As described above, in each of the above embodiments, the electric field acting on the glass substrate when the silicon substrate is anodically bonded to one surface of the glass substrate as a post-process is the other silicon on the other surface of the glass substrate as the pre-process. It becomes the same direction as the electric field acting on the glass substrate when the substrate is anodically bonded, and it can be prevented that the bonding between the other surface of the glass substrate previously anodically bonded and the silicon substrate is adversely affected. Furthermore, when carriers such as sodium ions are generated in the glass substrate during the anodic bonding in the previous process, they are deposited in the form of compounds in the vicinity of one surface of the glass substrate by the electric field in the previous process. Further, it is possible to prevent the bonding between the silicon substrates from being obstructed on one surface of the glass substrate in the subsequent process.

また、何れのガラス基板103〜136にも反対向きの電界が作用しないので、ガラス基板103〜136の内部が変色しなくなる。そのため、スタック構造型のマイクロリアクタ200を簡単に製造することができる。   In addition, since the opposite electric field does not act on any of the glass substrates 103 to 136, the inside of the glass substrates 103 to 136 does not change color. Therefore, the stack structure type microreactor 200 can be easily manufactured.

また、ガラス基板103〜136としてリチウム含有のガラス基板を用いることによって、陽極接合時の電圧を低くすることができる。   Moreover, the voltage at the time of anodic bonding can be made low by using a glass substrate containing lithium as the glass substrates 103 to 136.

スタック型マイクロリアクタを製造する工程を(a)〜(d)の順に示した断面図である。It is sectional drawing which showed the process of manufacturing a stack type | mold microreactor in order of (a)-(d). 図1(c)の代わりに行う工程を説明するための図面である。It is drawing for demonstrating the process performed instead of FIG.1 (c). 完成したスタック型マイクロリアクタを示した断面図である。It is sectional drawing which showed the completed stack type | mold microreactor. スタック型マイクロリアクタを製造する他の工程を(a)〜(c)の順に示した断面図である。It is sectional drawing which showed the other process of manufacturing a stack type | mold microreactor in order of (a)-(c). 緩衝膜3の表面からの距離と電圧との関係を示したグラフである。5 is a graph showing the relationship between the distance from the surface of the buffer film 3 and the voltage. 陽極接合開始時からの時間と両電極間に流れる電流との関係を表したグラフである。It is a graph showing the relationship between the time from the start of anodic bonding and the current flowing between both electrodes. スタック構造型のマイクロリアクタ200を製造する際の一工程を示した断面図及び平面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view and a plan view showing a step in manufacturing a stack structure type microreactor 200. 図7の次の工程を示した断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view showing the next step of FIG. 7. 図8の次の工程を示した断面図である。FIG. 9 is a cross-sectional view showing the next step of FIG. 8. 図9の次の工程を示した断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view showing a step subsequent to FIG. 9. 完成したマイクロリアクタ200の断面図である。It is sectional drawing of the completed microreactor 200. FIG. 従来の陽極接合の工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the process of the conventional anodic bonding.

符号の説明Explanation of symbols

1 スタック型マイクロリアクタ(スタック構造)
2,7,101,103,106,109,112,115,118,121,124,127,130,133,136 ガラス基板
3,104,107,110,113,116,119,122,125,128,131,134,137 緩衝膜
4,102,105,109,111,114,117,120,123,126、129,132,135,138 結合膜
2c,101a,103a,109a,112a,115a,118a,121a,124a,127a,130a,133a,136a 溝
5 シリコン基板
200 マイクロリアクタ(スタック構造)
1 Stack type microreactor (stack structure)
2, 7, 101, 103, 106, 109, 112, 115, 118, 121, 124, 127, 130, 133, 136 Glass substrate 3, 104, 107, 110, 113, 116, 119, 122, 125, 128 , 131, 134, 137 Buffer film 4, 102, 105, 109, 111, 114, 117, 120, 123, 126, 129, 132, 135, 138 Binding film 2c, 101a, 103a, 109a, 112a, 115a, 118a , 121a, 124a, 127a, 130a, 133a, 136a Groove 5 Silicon substrate 200 Microreactor (stack structure)

Claims (16)

陽極接合により互いに接合された複数の基板のスタック構造において、
前記複数の基板のうち、第一基板とガラスを含む第二基板との間に、陽極接合により前記二基板のガラス中の酸素原子と結合された結合膜が介在していることを特徴とするスタック構造。
In a stack structure of a plurality of substrates bonded together by anodic bonding,
Among the plurality of substrates, a bonding film bonded to oxygen atoms in the glass of the two substrates by anodic bonding is interposed between the first substrate and the second substrate containing glass. Stack structure.
前記結合膜は、陽極接合により酸素と結合されていない状態で、融点が2000℃以上の金属や合金を有する材料からなることを特徴とする請求項1に記載のスタック構造。   2. The stack structure according to claim 1, wherein the bonding film is made of a material having a metal or an alloy having a melting point of 2000 ° C. or higher in a state where the bonding film is not bonded to oxygen by anodic bonding. 前記結合膜は、陽極接合により酸素と結合されていない状態で、Ta、W、Mo、TaSi2、WSi2、MoSi2の中から少なくとも一種を含む材料からなることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のスタック構造。 2. The bonding film is made of a material containing at least one of Ta, W, Mo, TaSi 2 , WSi 2 , and MoSi 2 without being bonded to oxygen by anodic bonding. The stack structure according to claim 2. 前記酸化された結合膜と前記第一基板との間に、複数の基板より低い抵抗率の緩衝膜が設けられていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載のスタック構造。   4. The buffer film having a resistivity lower than that of the plurality of substrates is provided between the oxidized bonding film and the first substrate. 5. Stack structure. 前記第一基板及び前記二基板の少なくともいずれか一方には溝が設けられ、この溝内で反応を引き起こす化学反応炉であることを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載のスタック構造。   5. The chemical reaction furnace according to claim 1, wherein a groove is provided in at least one of the first substrate and the second substrate, and a reaction is caused in the groove. 5. The stack structure described. 前記二基板のガラスには、アルカリ単体を含むことを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載のスタック構造。   The stack structure according to any one of claims 1 to 5, wherein the glass of the two substrates includes an alkali simple substance. 前記二基板のガラスには、酸化ナトリウム、酸化リチウム、酸化カリウム、炭酸リチウムのいずれかが添加されていることを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか一項に記載のスタック構造。   The stack structure according to any one of claims 1 to 6, wherein any one of sodium oxide, lithium oxide, potassium oxide, and lithium carbonate is added to the glass of the two substrates. 前記複数の基板のうち、前記第二基板とガラスを含む第三基板との間に、陽極接合により前記三基板のガラス中の酸素原子と結合された結合膜が介在していることを特徴とすることを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか一項に記載のスタック構造。   Among the plurality of substrates, a bonding film bonded to oxygen atoms in the glass of the three substrates by anodic bonding is interposed between the second substrate and a third substrate containing glass. The stack structure according to any one of claims 1 to 7, wherein: 複数の基板で構成されたスタック構造の製造方法において、
前記複数の基板のうち第一基板とガラスを含む第二基板との間に介在される結合膜が、前記第二基板のガラス内の酸素原子と結合されるように陽極接合することを特徴とするスタック構造の製造方法。
In the manufacturing method of the stack structure composed of a plurality of substrates,
The bonding film interposed between the first substrate and the second substrate containing glass among the plurality of substrates is anodic bonded so as to be bonded to oxygen atoms in the glass of the second substrate. Manufacturing method of stack structure.
前記複数の基板のうち、前記第二基板とガラスを含む第三基板との間に介在される結合膜が、前記第二基板のガラス内の酸素原子と結合されるように陽極接合することを特徴とする請求項9に記載のスタック構造の製造方法。   Of the plurality of substrates, the bonding film interposed between the second substrate and a third substrate containing glass is anodically bonded so as to be bonded to oxygen atoms in the glass of the second substrate. The method for manufacturing a stack structure according to claim 9, wherein: 前記第一基板と前記第二基板との間の陽極接合の電界方向と、前記第二基板と前記第三基板との間の陽極接合の電界方向と、が同一方向であることを特徴とする請求項10に記載のスタック構造の製造方法。   The electric field direction of anodic bonding between the first substrate and the second substrate and the electric field direction of anodic bonding between the second substrate and the third substrate are the same direction. The manufacturing method of the stack | stuck structure of Claim 10. 前記第一基板と前記第二基板との間の陽極接合工程と、前記第二基板と前記第三基板との間の陽極接合工程と、は別々の工程であることを特徴とする請求項10又は請求項11に記載のスタック構造の製造方法。   11. The anodic bonding step between the first substrate and the second substrate and the anodic bonding step between the second substrate and the third substrate are separate steps. Or the manufacturing method of the stack | stuck structure of Claim 11. 前記第一基板と前記第二基板との間の陽極接合工程と、前記第二基板と前記第三基板との間の陽極接合工程と、は同一工程であることを特徴とする請求項10又は請求項11に記載のスタック構造の製造方法。   The anodic bonding step between the first substrate and the second substrate and the anodic bonding step between the second substrate and the third substrate are the same step. The manufacturing method of the stack | stuck structure of Claim 11. 前記結合膜に陽極接合装置の正極が接続され、前記第二基板のガラスに陽極接合装置の負極と接続されていることを特徴とする請求項9〜請求項13のいずれか一項に記載のスタック構造の製造方法。   14. The positive electrode of an anodic bonding apparatus is connected to the bonding film, and the negative electrode of the anodic bonding apparatus is connected to the glass of the second substrate. A manufacturing method of a stack structure. 前記結合膜は、陽極接合により酸素と結合されていない状態で、融点が2000℃以上の金属や合金を有する材料からなることを特徴とする請求項9〜請求項14のいずれか一項に記載のスタック構造の製造方法。   The said coupling film | membrane consists of a material which has a metal and an alloy whose melting | fusing point is 2000 degreeC or more in the state which is not couple | bonded with oxygen by anodic bonding. Method for manufacturing a stack structure. 前記結合膜は、陽極接合により酸素と結合されていない状態で、Ta、W、Mo、TaSi2、WSi2、MoSi2の中から少なくとも一種を含む材料からなることを特徴とする請求項9〜請求項15のいずれか一項に記載のスタック構造の製造方法。 The bonding film is made of a material containing at least one of Ta, W, Mo, TaSi 2 , WSi 2 , and MoSi 2 without being bonded to oxygen by anodic bonding. The manufacturing method of the stack | stuck structure as described in any one of Claims 15.
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