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JP2005303418A - Diplexer - Google Patents

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JP2005303418A
JP2005303418A JP2004112872A JP2004112872A JP2005303418A JP 2005303418 A JP2005303418 A JP 2005303418A JP 2004112872 A JP2004112872 A JP 2004112872A JP 2004112872 A JP2004112872 A JP 2004112872A JP 2005303418 A JP2005303418 A JP 2005303418A
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JP
Japan
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low
pass filter
frequency
circuit board
frequency trap
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Withdrawn
Application number
JP2004112872A
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Japanese (ja)
Inventor
Masami Miyazaki
正巳 宮崎
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Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Alps Electric Co Ltd filed Critical Alps Electric Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a low cost diplexer with excellent productivity and a low profile wherein coupling between a high pass filter side and a low pass filter side is eliminated so as to enhance isolation between ports. <P>SOLUTION: In the diplexer, since a low frequency trap circuit 4, a high frequency trap circuit 7, capacitive elements 6b, 9b of a high pass filter 6 and a low pass filter 9 are formed on the front side of a multilayer circuit board 20, and inductance elements 6a, 9a of the high pass filter 6 and the low pass filter 9 are formed to an inner layer of the multilayer circuit board, the front side of the multilayer circuit board 20 can effectively be utilized and the number of layers of the multilayer circuit board 20 can be decreased so as to attain excellent productivity, a low cost and a low profile. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、移動体通信装置に使用されるダイプレクサに関する。   The present invention relates to a diplexer used in a mobile communication device.

図7は従来のダイプレクサの回路図、図8は従来のダイプレクサの構成を示す分解斜視図であり、次に、従来のダイプレクサの回路を図7に基づいて説明すると、低域通過フィルタLPFは第1のインダクタL1、第1のコンデンサC11、C12を有し、第1のポートP1と第2のポートP2との間に接続される。
高域通過フィルタHPFは第2のインダクタインダクタL2、第2のコンデンサC21〜C23を有し、第2のポートP2と第3のポートP3との間に接続される。
FIG. 7 is a circuit diagram of a conventional diplexer. FIG. 8 is an exploded perspective view showing the configuration of the conventional diplexer. Next, the circuit of the conventional diplexer will be described with reference to FIG. 1 inductor L1 and first capacitors C11 and C12, which are connected between the first port P1 and the second port P2.
The high-pass filter HPF includes a second inductor inductor L2 and second capacitors C21 to C23, and is connected between the second port P2 and the third port P3.

次に、従来のダイプレクサの構成を図8に基づいて説明すると、第2、第3及び第6のシート層512、513、516の上面にはコンデンサ電極Cp51、Cp52、コンデンサ電極Cp53、Cp54、コンデンサ電極Cp55、Cp56がそれぞれ形成される。
第4のシート層514の上面にはストリップライン電極St51、St52が形成される。
第5及び第7のシート層515、517の上面にはグランド電極Gp51、グランド電極Gp52がそれぞれ形成される。
また、第2〜第5のシート層512〜515上には、各シート層512〜515を貫通するビアホール電極Vh5が形成される。
Next, the configuration of the conventional diplexer will be described with reference to FIG. 8. Capacitor electrodes Cp51 and Cp52, capacitor electrodes Cp53 and Cp54, capacitors on the upper surfaces of the second, third and sixth sheet layers 512, 513 and 516 Electrodes Cp55 and Cp56 are formed, respectively.
Stripline electrodes St51 and St52 are formed on the upper surface of the fourth sheet layer 514.
A ground electrode Gp51 and a ground electrode Gp52 are formed on the top surfaces of the fifth and seventh sheet layers 515 and 517, respectively.
In addition, a via-hole electrode Vh5 penetrating each of the sheet layers 512 to 515 is formed on the second to fifth sheet layers 512 to 515.

第1〜第7のシート層511〜517が積み重ねられ、一体的に焼結されることにより多層基板51となる。
そして、ストリップライン電極St51とコンデンサ電極Cp51、Cp53、Cp55、及びストリップライン電極St52とコンデンサ電極Cp54、Cp56とはそれぞれ多層基板51の内部にてビアホール電極Vh5で接続される。 また、多層基板51の側面及び表裏面には、コンデンサ電極Cp51に電気的に接続され、第1及び第2のポートP1、P2となる外部端子T51、T52と、コンデンサ電極Cp52に電気的に接続され、第3のポートP3となる外部端子T53と、グランド電極Gp51、Gp52に電気的に接続され、グランド端子となる外部端子T54が形成される。
The first to seventh sheet layers 511 to 517 are stacked and integrally sintered to form the multilayer substrate 51.
The stripline electrode St51 and the capacitor electrodes Cp51, Cp53, and Cp55, and the stripline electrode St52 and the capacitor electrodes Cp54 and Cp56 are connected to each other through the via-hole electrode Vh5 inside the multilayer substrate 51. In addition, the side and front and back surfaces of the multilayer substrate 51 are electrically connected to the capacitor electrode Cp51, and are electrically connected to the external terminals T51 and T52 serving as the first and second ports P1 and P2 and the capacitor electrode Cp52. Then, the external terminal T53 that becomes the third port P3 and the external terminal T54 that is electrically connected to the ground electrodes Gp51 and Gp52 and becomes the ground terminal are formed.

そして、ストリップライン電極St51、St52で第1及び第2のインダクタL1、L2をそれぞれ形成する。
また、コンデンサ電極Cp51、Cp53で第1のコンデンサC11、コンデンサ電極cp55とグランド電極Gp51、Gp52とで第1のコンデンサC12をそれぞれ形成する。
更に、コンデンサ電極Cp51、Cp54で第2のコンデンサC21、コンデンサ電極Cp52、Cp54で第2のコンデンサc22、コンデンサ電極Cp56とグランド電極Gp51、Gp52とで第2のコンデンサc23をそれぞれ形成する(例えば、特許文献1参照。)。
Then, the first and second inductors L1 and L2 are formed by the stripline electrodes St51 and St52, respectively.
The capacitor electrodes Cp51 and Cp53 form the first capacitor C11, the capacitor electrode cp55 and the ground electrodes Gp51 and Gp52 form the first capacitor C12.
Further, the capacitor electrode Cp51, Cp54 forms the second capacitor C21, the capacitor electrode Cp52, Cp54 forms the second capacitor c22, and the capacitor electrode Cp56 and the ground electrode Gp51, Gp52 form the second capacitor c23 (for example, patents) Reference 1).

特開2000−349581号公報(図6、図7)Japanese Patent Laid-Open No. 2000-349581 (FIGS. 6 and 7)

従来のダイプレクサにおいて、多層基板51の表面には、第1及び第2のポートP1、P2となる外部端子T51、T52と、第3のポートP3となる外部端子T53と、グランド端子となる外部端子T54が形成されると共に、多層基板51の内層には、インダクタやコンデンサが形成されているため、多層基板51の表面の有効度が悪い上に、多層基板51の積層数が多くなって、生産性が悪く、コスト高になると共に、厚型になるという問題がある。   In the conventional diplexer, on the surface of the multilayer substrate 51, external terminals T51 and T52 that become the first and second ports P1 and P2, an external terminal T53 that becomes the third port P3, and an external terminal that becomes the ground terminal Since T54 is formed and inductors and capacitors are formed in the inner layer of the multilayer substrate 51, the effectiveness of the surface of the multilayer substrate 51 is poor, and the number of multilayer substrates 51 is increased. There is a problem that the property is poor, the cost is increased, and the thickness is increased.

また、ローパスフィルタLPFを構成する第1のインダクタL1とハイパスフィルタHPFを構成する第2のインダクタL2とは、それぞれストリップライン電極St51とストリップラインSt52によって形成されているが、これらストリップラインSt51、St52が第4のシート層514上に隣接して形成されているので相互に結合し合って第1のポートP1と第3のポートP3との間のアイソレーションが低下するという問題がある。   The first inductor L1 constituting the low-pass filter LPF and the second inductor L2 constituting the high-pass filter HPF are formed by the stripline electrode St51 and the stripline St52, respectively. These striplines St51, St52 Are formed adjacent to each other on the fourth sheet layer 514, there is a problem that they are coupled to each other and the isolation between the first port P1 and the third port P3 is lowered.

本発明は、生産性が良く、安価であると共に、薄型で、且つ、ハイパスフィルタ側とローパスフィルタ側との結合を無くして各ポート間のアイソレーションが向上したダイプレクサを提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a diplexer that is highly productive, inexpensive, thin, and has improved isolation between ports by eliminating coupling between the high-pass filter side and the low-pass filter side. .

上記課題を解決するための第1の解決手段として、所定周波数以下の低域側周波数帯を減衰する低域トラップ回路と前記低域トラップ回路に直列に接続されたハイパスフィルタとからなって、共通端子と第1の入出力端子との間に介挿されたハイパスフィルタ部と、前記所定周波数以下の高域側周波数帯を減衰する高域トラップ回路と前記高域トラップ回路に直列に接続されたローパスフィルタとからなって、共通端子と第2の入出力端子との間に介挿されたローパスフィルタ部と、前記ハイパスフィルタ部、及び前記ローパスフィルタ部を形成する多層回路基板とを備え、前記ハイパスフィルタ、及び前記ローパスフィルタはそれぞれインダクタンス素子と容量素子とを有し、前記多層回路基板の表面には、前記低域トラップ回路と、前記高域トラップ回路と、前記ハイパスフィルタ及び前記ローパスフィルタの各容量素子を形成すると共に、前記多層回路基板の内層には、前記ハイパスフィルタ及び前記ローパスフィルタの各インダクタンス素子を形成した構成とした。   As a first solving means for solving the above-mentioned problem, a low-pass trap circuit for attenuating a low-frequency band below a predetermined frequency and a high-pass filter connected in series to the low-pass trap circuit, A high-pass filter section interposed between the terminal and the first input / output terminal, a high-frequency trap circuit for attenuating the high-frequency band below the predetermined frequency, and the high-frequency trap circuit connected in series A low-pass filter comprising a low-pass filter portion interposed between a common terminal and a second input / output terminal, the high-pass filter portion, and a multilayer circuit board forming the low-pass filter portion, Each of the high-pass filter and the low-pass filter has an inductance element and a capacitance element, and on the surface of the multilayer circuit board, the low-pass trap circuit, A frequency trap circuit, thereby forming the high-pass filter and the capacitive element of the low-pass filter, the inner layer of the multilayer circuit board, and a configuration in which the formation of the high-pass filter and the inductance element of the low-pass filter.

また、第2の解決手段として、前記多層回路基板の表面には、前記低域トラップ回路の容量素子と前記高域トラップ回路の容量素子とが互いに間隔を置いて並設され、前記低域トラップ回路のインダクタンス素子と前記高域トラップ回路のインダクタンス素子とが前記容量素子を形成した領域を挟んで両側の領域に互いに離間してそれぞれ配設された構成とした。   As a second solution, on the surface of the multilayer circuit board, a capacitive element of the low-frequency trap circuit and a capacitive element of the high-frequency trap circuit are arranged in parallel with a gap therebetween, and the low-frequency trap The inductance element of the circuit and the inductance element of the high-frequency trap circuit are arranged to be spaced apart from each other on both sides of the area where the capacitive element is formed.

また、第3の解決手段として、前記多層回路基板の内層に形成された前記ハイパスフィルタの前記インダクタンス素子は、前記多層回路基板の表面に形成された前記低域トラップ回路に対向して配設されると共に、前記多層回路基板の内層に形成された前記ローパスフィルタの前記インダクタンス素子は、前記多層回路基板の表面に形成された前記高域トラップ回路に対向して配設された構成とした。   As a third solution, the inductance element of the high-pass filter formed in the inner layer of the multilayer circuit board is disposed to face the low-frequency trap circuit formed on the surface of the multilayer circuit board. In addition, the inductance element of the low-pass filter formed in the inner layer of the multilayer circuit board is arranged to face the high-frequency trap circuit formed on the surface of the multilayer circuit board.

また、第4の解決手段として、前記低域トラップ回路は帯域の異なる複数の前記低域側周波数帯に対応して複数設けられ、前記高域トラップ回路は帯域の異なる複数の前記高域側周波数帯に対応して複数設けられ、前記複数の低域トラップ回路のうち前記所定周波数側に近い前記低域側周波数帯に対応する低域トラップ回路を前記共通端子側に配設し、前記複数の高域トラップ回路のうち前記所定周波数側に近い前記高域側周波数帯に対応する高域トラップ回路を前記共通端子側に配設した構成とした。   As a fourth solution, a plurality of the low-frequency trap circuits are provided corresponding to the plurality of low-frequency bands in different bands, and the high-frequency trap circuit is a plurality of the high-frequency frequencies in different bands. A plurality of low-frequency trap circuits corresponding to the low-frequency band close to the predetermined frequency side among the plurality of low-frequency trap circuits are disposed on the common terminal side, In the high frequency trap circuit, a high frequency trap circuit corresponding to the high frequency band close to the predetermined frequency side is arranged on the common terminal side.

また、第5の解決手段として、前記多層回路基板の表面に形成された前記低域トラップ回路及び前記高域トラップ回路のそれぞれの前記容量素子と前記インダクタンス素子、及び、前記多層回路基板の表面に形成された前記ハイパスフィルタ及び前記ローパスフィルタのそれぞれの前記容量素子は、薄膜、又は厚膜によって形成されると共に、前記多層回路基板の内層に形成された前記ハイパスフィルタ及び前記ローパスフィルタのそれぞれの前記インダクタンス素子は、厚膜によって形成された構成とした。   Further, as a fifth solving means, the capacitance element and the inductance element of each of the low-frequency trap circuit and the high-frequency trap circuit formed on the surface of the multilayer circuit board, and the surface of the multilayer circuit board Each of the capacitive elements of the formed high-pass filter and the low-pass filter is formed of a thin film or a thick film, and the high-pass filter and the low-pass filter formed in an inner layer of the multilayer circuit board. The inductance element was formed by a thick film.

本発明のダイプレクサは、所定周波数以下の低域側周波数帯を減衰する低域トラップ回路と低域トラップ回路に直列に接続されたハイパスフィルタとからなって、共通端子と第1の入出力端子との間に介挿されたハイパスフィルタ部と、所定周波数以下の高域側周波数帯を減衰する高域トラップ回路と高域トラップ回路に直列に接続されたローパスフィルタとからなって、共通端子と第2の入出力端子との間に介挿されたローパスフィルタ部と、ハイパスフィルタ部、及びローパスフィルタ部を形成する多層回路基板とを備え、ハイパスフィルタ、及びローパスフィルタはそれぞれインダクタンス素子と容量素子とを有し、多層回路基板の表面には、低域トラップ回路と、高域トラップ回路と、ハイパスフィルタ及びローパスフィルタの各容量素子を形成すると共に、多層回路基板の内層には、ハイパスフィルタ及びローパスフィルタの各インダクタンス素子を形成した構成とした。
即ち、多層回路基板の表面には、低域トラップ回路と、高域トラップ回路と、ハイパスフィルタ及びローパスフィルタの各容量素子を形成すると共に、多層回路基板の内層には、ハイパスフィルタ及びローパスフィルタの各インダクタンス素子を形成したため、多層回路基板の表面が有効的に活用でき、多層回路基板の積層数を少なくできて、生産性が良く、安価であると共に、薄型のものが得られる。
The diplexer according to the present invention includes a low-pass trap circuit that attenuates a low-frequency band below a predetermined frequency and a high-pass filter connected in series to the low-pass trap circuit, and includes a common terminal and a first input / output terminal. A high-pass filter section interposed between the high-frequency filter section, a high-frequency trap circuit that attenuates a high-frequency band below a predetermined frequency, and a low-pass filter connected in series to the high-frequency trap circuit. A low-pass filter section interposed between the two input / output terminals, a high-pass filter section, and a multilayer circuit board that forms the low-pass filter section. The high-pass filter and the low-pass filter include an inductance element and a capacitive element, respectively. On the surface of the multilayer circuit board, each of a low-pass trap circuit, a high-pass trap circuit, a high-pass filter, and a low-pass filter is provided. To form the element, the inner layer of the multilayer circuit board, and a configuration of forming the respective inductance elements of the high-pass and low-pass filters.
That is, the low-pass trap circuit, the high-pass trap circuit, the high-pass filter and the low-pass filter are formed on the surface of the multilayer circuit board, and the high-pass filter and the low-pass filter are formed on the inner layer of the multilayer circuit board. Since each inductance element is formed, the surface of the multilayer circuit board can be used effectively, the number of multilayer circuit boards can be reduced, the productivity is good, the cost is low, and a thin one is obtained.

また、多層回路基板の表面には、低域トラップ回路の容量素子と高域トラップ回路の容量素子とが互いに間隔を置いて並設され、低域トラップ回路のインダクタンス素子と高域トラップ回路のインダクタンス素子とが容量素子を形成した領域を挟んで両側の領域に互いに離間してそれぞれ配設されたため、ハイパスフィルタ部を構成するインダクタンス素子とローパスフィルタ部を構成するインダクタンス素子とが相互に離間されるので互いに結合しにくくなり、第1の入出力端子と第2の入出力端子との間の相互アイソレーションが向上する。   In addition, on the surface of the multilayer circuit board, the capacitive element of the low-frequency trap circuit and the capacitive element of the high-frequency trap circuit are arranged in parallel with each other, and the inductance element of the low-frequency trap circuit and the inductance of the high-frequency trap circuit are arranged. Since the elements are spaced apart from each other on both sides of the area where the capacitive element is formed, the inductance elements constituting the high-pass filter portion and the inductance elements constituting the low-pass filter portion are separated from each other. Therefore, it becomes difficult to couple with each other, and the mutual isolation between the first input / output terminal and the second input / output terminal is improved.

また、多層回路基板の内層に形成されたハイパスフィルタのインダクタンス素子は、多層回路基板の表面に形成された低域トラップ回路に対向して配設されると共に、多層回路基板の内層に形成されたローパスフィルタのインダクタンス素子は、多層回路基板の表面に形成された高域トラップ回路に対向して配設されたため、スペースファクタが良く、小型で薄型化が図れる。   The inductance element of the high-pass filter formed on the inner layer of the multilayer circuit board is disposed opposite to the low-frequency trap circuit formed on the surface of the multilayer circuit board and formed on the inner layer of the multilayer circuit board. Since the inductance element of the low-pass filter is disposed opposite to the high-frequency trap circuit formed on the surface of the multilayer circuit board, it has a good space factor and can be reduced in size and thickness.

また、低域トラップ回路は帯域の異なる複数の低域側周波数帯に対応して複数設けられ、高域トラップ回路は帯域の異なる複数の高域側周波数帯に対応して複数設けられ、複数の低域トラップ回路のうち所定周波数側に近い低域側周波数帯に対応する低域トラップ回路を共通端子側に配設し、複数の高域トラップ回路のうち所定周波数側に近い高域側周波数帯に対応する高域トラップ回路を共通端子側に配設したため、ハイパスフィルタ部とローパスフィルタ部とのそれぞれの通過特性が良くなって相互のアイソレーションが向上する。   A plurality of low-frequency trap circuits are provided corresponding to a plurality of low-frequency bands in different bands, and a plurality of high-frequency trap circuits are provided corresponding to a plurality of high-frequency bands in different bands. A low frequency trap circuit corresponding to a low frequency band close to a predetermined frequency side of the low frequency trap circuit is arranged on the common terminal side, and a high frequency band close to the predetermined frequency side among a plurality of high frequency trap circuits. Since the high-frequency trap circuit corresponding to is arranged on the common terminal side, the pass characteristics of the high-pass filter portion and the low-pass filter portion are improved, and the mutual isolation is improved.

また、多層回路基板の表面に形成された低域トラップ回路及び高域トラップ回路のそれぞれの容量素子とインダクタンス素子、及び、多層回路基板の表面に形成されたハイパスフィルタ及びローパスフィルタのそれぞれの容量素子は、薄膜、又は厚膜によって形成されると共に、多層回路基板の内層に形成されたハイパスフィルタ及びローパスフィルタのそれぞれのインダクタンス素子は、厚膜によって形成されたため、薄型で、小型化が図れる。   Also, the capacitive elements and inductance elements of the low-frequency trap circuit and high-frequency trap circuit formed on the surface of the multilayer circuit board, and the capacitive elements of the high-pass filter and low-pass filter formed on the surface of the multilayer circuit board Is formed of a thin film or a thick film, and the inductance elements of the high-pass filter and the low-pass filter formed in the inner layer of the multilayer circuit board are formed of the thick film, so that they are thin and can be reduced in size.

本発明のダイプレクサの図面を説明すると、図1は本発明のダイプレクサの1実施形態を示す回路図、図2は本発明のダイプレクサの伝送特性図、図3は本発明のダイプレクサに係り、多層回路基板の表面のパターンを示す上面図、図4は本発明のダイプレクサに係り、多層回路基板の2層目の内層上面のパターンを示す上面図、図5は本発明のダイプレクサに係り、多層回路基板の3層目の内層上面のパターンを示す上面図、図6は本発明のダイプレクサに係り、多層回路基板の3層目の下面のパターンを示す下面図である。   FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a diplexer of the present invention, FIG. 2 is a transmission characteristic diagram of the diplexer of the present invention, and FIG. 3 is a multilayer circuit according to the diplexer of the present invention. FIG. 4 is a top view showing the pattern of the surface of the substrate, FIG. 4 is related to the diplexer of the present invention, and is a top view showing the pattern of the second inner surface of the multilayer circuit board. FIG. FIG. 6 is a bottom view showing the pattern of the bottom surface of the third layer of the multilayer circuit board according to the diplexer of the present invention.

次に、本発明のダイプレクサにおける回路構成を図1に基づいて説明すると、アンテナ接続用の入力端子である共通端子1と第1の入出力端子2との間は所定周波数(例えば2.2GHzの分波周波数)よりも周波数が高い高域側周波数帯、例えば、ブルートゥース(BTと略す)(ノキア社等の登録商標)システムの送受信周波数帯(帯域は2.4GHz〜2.5GHz)の信号と、無線LANシステムの送受信周波数帯(帯域は4.9GHz〜6.0GHz)の信号とを伝送し、共通端子1と第2の入出力端子3との間は、所定周波数よりも周波数が低い定期側周波数帯、例えば、GSMシステムの送受信周波数帯(帯域は806MHz〜960MHz)の信号と、DCSシステム及びPCSシステムの送受信周波数帯(帯域は1710MHz〜1990MHz)の信号とを伝送する。   Next, the circuit configuration of the diplexer according to the present invention will be described with reference to FIG. 1. A predetermined frequency (eg, 2.2 GHz) is provided between the common terminal 1 and the first input / output terminal 2 that are input terminals for antenna connection. A higher frequency band than the demultiplexing frequency), for example, a signal in a transmission / reception frequency band (bandwidth is 2.4 GHz to 2.5 GHz) of a Bluetooth (abbreviated as BT) (registered trademark of Nokia, etc.) system; The wireless LAN system transmits / receives a signal in a transmission / reception frequency band (bandwidth: 4.9 GHz to 6.0 GHz), and the frequency between the common terminal 1 and the second input / output terminal 3 is lower than a predetermined frequency. Side frequency band, for example, a signal in a GSM system transmission / reception frequency band (band is 806 MHz to 960 MHz), a DCS system and a PCS system transmission / reception frequency band (band is 1710) Transmitting a signal Hz~1990MHz).

そして、共通端子1と第1の入出力端2との間にハイパスフィルタ部10が設けられ、共通端子1と第2の入出力端子3との間にローパスフィルタ部11が設けられる。   A high pass filter unit 10 is provided between the common terminal 1 and the first input / output terminal 2, and a low pass filter unit 11 is provided between the common terminal 1 and the second input / output terminal 3.

ハイパスフィルタ部10は、直列に介挿された2つの低域トラップ回路4、5とハイパスフィルタ6とから構成される。
第1の低域トラップ回路4はインダクタンス素子4aと容量素子4bとの並列共振回路で構成され、その共振周波数は、例えば、1900MHz近傍に選ばれてDCSシステム及びPCSシステムの送受信周波数帯を減衰する。
第2の低域トラップ回路5もインダクタンス素子5aと容量素子5bとの並列共振回路で構成され、その共振周波数は、例えば、920MHz近傍に選ばれてGSMシステムの送受信周波数帯を減衰する。
The high-pass filter unit 10 includes two low-frequency trap circuits 4 and 5 and a high-pass filter 6 that are inserted in series.
The first low-frequency trap circuit 4 is composed of a parallel resonant circuit of an inductance element 4a and a capacitive element 4b, and the resonant frequency is selected, for example, in the vicinity of 1900 MHz to attenuate the transmission / reception frequency bands of the DCS system and the PCS system. .
The second low-frequency trap circuit 5 is also composed of a parallel resonant circuit of an inductance element 5a and a capacitive element 5b, and the resonant frequency is selected, for example, in the vicinity of 920 MHz to attenuate the transmission / reception frequency band of the GSM system.

そして、第1の低域トラップ回路4が共通端子1側に配置され、ハイパスフィルタ6は第1の入出力端子2側に配置され、第2の低域トラップ回路5が第1の低域トラップ回路4とハイパスフィルタ6との間に介挿される。   The first low-frequency trap circuit 4 is disposed on the common terminal 1 side, the high-pass filter 6 is disposed on the first input / output terminal 2 side, and the second low-frequency trap circuit 5 is disposed on the first low-frequency trap circuit. It is inserted between the circuit 4 and the high pass filter 6.

ハイパスフィルタ6は半区間のハイパスフィルタを有し、これを構成するインダクタンス素子6aは第2の低域トラップ回路5の出力端とグランドとの間に接続され、容量素子6bは第2の低域トラップ回路の出力端と第1の入出力端子2との間に接続される。   The high-pass filter 6 has a half-section high-pass filter, the inductance element 6a constituting this is connected between the output terminal of the second low-frequency trap circuit 5 and the ground, and the capacitive element 6b is the second low-frequency filter. It is connected between the output terminal of the trap circuit and the first input / output terminal 2.

また、ローパスフィルタ部11は、直列に介挿された2つの高域トラップ回路7、8とローパスフィルタ9とから構成される。第1の高域トラップ回路7はインダクタンス素子7aと容量素子7bとの並列共振回路で構成され、その共振周波数は、例えば、2.45GHz近傍に選ばれてブルートゥース(ノキア社等の登録商標)システムの送受信周波数帯を減衰する。
第2の高域トラップ回路8もインダクタンス素子8aと容量素子8bとの並列共振回路で構成され、その共振周波数は、例えば5.5GHz近傍に選ばれて無線LANシステムの送受信周波数帯を減衰する。
The low-pass filter unit 11 includes two high-frequency trap circuits 7 and 8 and a low-pass filter 9 inserted in series. The first high-frequency trap circuit 7 is composed of a parallel resonant circuit of an inductance element 7a and a capacitive element 7b, and the resonance frequency thereof is selected, for example, in the vicinity of 2.45 GHz, and is a Bluetooth (registered trademark of Nokia Corporation) system. The transmission / reception frequency band is attenuated.
The second high-frequency trap circuit 8 is also composed of a parallel resonance circuit of an inductance element 8a and a capacitance element 8b, and the resonance frequency is selected, for example, in the vicinity of 5.5 GHz to attenuate the transmission / reception frequency band of the wireless LAN system.

そして、第1の高域トラップ回路7が共通端子1側に配置され、ローパスフィルタ9が第2の入出力端子3側に配置され、第2の高域トラップ回路8が第1の高域トラップ回路7とローパスフィルタ9との間に介挿される。   The first high-frequency trap circuit 7 is disposed on the common terminal 1 side, the low-pass filter 9 is disposed on the second input / output terminal 3 side, and the second high-frequency trap circuit 8 is disposed on the first high-frequency trap circuit. It is inserted between the circuit 7 and the low-pass filter 9.

ローパスフィルタ9は半区間のローパスフィルタを有し、これを構成するインダクタンス素子9aは第2の高域トラップ回路8の出力端と第2の入出力端3との間に接続され、容量素子9bは第2の高域トラップ回路の出力端とグランドとの間に接続される。   The low-pass filter 9 has a half-section low-pass filter, and the inductance element 9a constituting the low-pass filter 9 is connected between the output terminal of the second high-frequency trap circuit 8 and the second input / output terminal 3, and the capacitive element 9b. Is connected between the output terminal of the second high-frequency trap circuit and the ground.

以上の構成では、所定周波数に近い第1の低域トラップ回路4(1900MHz)と第1の高域とラップ回路7(2.45GHz)とが共通端子1側に配設されるので、第1の入出力端子2と第2の入出力端子3との間のアイソレーションが向上する。   In the above configuration, the first low frequency trap circuit 4 (1900 MHz), the first high frequency, and the wrap circuit 7 (2.45 GHz) close to the predetermined frequency are disposed on the common terminal 1 side. The isolation between the input / output terminal 2 and the second input / output terminal 3 is improved.

以上の構成における共通端子1と第1の入出力端子2との間の伝送特性及び共通端子1と第2の入出力端子3との間の伝送特性はそれぞれ図2のA、Bのようになる。
図2における周波数ポイント1乃至4はそれぞれGSMシステムの送受信周波数帯、DCSシステム及びPCSシステムの送受信周波数帯、ブルートゥースシステムの送受信周波数帯、無線LANシステムの送受信周波数帯の中心周波数の位置を示す。
The transmission characteristics between the common terminal 1 and the first input / output terminal 2 and the transmission characteristics between the common terminal 1 and the second input / output terminal 3 in the above configuration are as shown in FIGS. Become.
Frequency points 1 to 4 in FIG. 2 indicate the positions of the center frequencies of the GSM system transmission / reception frequency band, the DCS system and PCS system transmission / reception frequency bands, the Bluetooth system transmission / reception frequency band, and the wireless LAN system transmission / reception frequency band, respectively.

伝送特性Aにおける減衰極A1、A2はそれぞれ第1の低域トラップ回路4と第2の低域トラップ回路5によるものである。この減衰極A1、A2の周波数においては共通端子1に入力されたGSMシステムの送受信周波数帯及びDCSシステム/PCSシステムの送受信周波数帯の信号は第1及び第2の低域トラップ回路4、5によって反射されるので、それらの信号は効率よく第2の入出力端子3に出力される。
従って伝送特性Bに示すように周波数ポイント1及び周波数ポイント2では減衰量が極めて少なくなる。
また、ブルートゥースシステムの送受信周波数帯の信号及び無線LANシステムの送受信周波数帯の信号はGSMシステムの送受信周波数帯の信号及びDCSシステム/PCSシステムの送受信周波数帯の信号による妨害を受けない。
The attenuation poles A1 and A2 in the transmission characteristic A are due to the first low-frequency trap circuit 4 and the second low-frequency trap circuit 5, respectively. At the frequencies of the attenuation poles A1 and A2, signals in the transmission / reception frequency band of the GSM system and the transmission / reception frequency band of the DCS system / PCS system input to the common terminal 1 are transmitted by the first and second low-frequency trap circuits 4 and 5. Since these signals are reflected, those signals are efficiently output to the second input / output terminal 3.
Therefore, as shown in the transmission characteristic B, the attenuation amount is extremely small at the frequency point 1 and the frequency point 2.
Also, the transmission / reception frequency band signal of the Bluetooth system and the transmission / reception frequency band signal of the wireless LAN system are not disturbed by the transmission / reception frequency band signal of the GSM system and the transmission / reception frequency band signal of the DCS system / PCS system.

また、伝送特性Bにおける減衰極B1、B2はそれぞれ第1の高域トラップ回路7と第2の高域トラップ回路8によるものである。
この減衰極B1、B2の周波数においては共通端子1に入力されたブルートゥースシステムの送受信周波数帯及び無線LANシステムの送受信周波数帯の信号が第1及び第2の高域トラップ回路7、8によって反射されるので、それらの信号は効率よく第1の入出力端子2に出力される。
従って伝送特性Aに示すように周波数ポイント3及び周波数ポイント4では減衰量が極めて少なくなる。
また、GSMシステムの送受信周波数帯の信号及びDCSシステム/PCSシステムの送受信周波数帯の信号はブルートゥースシステムの送受信周波数帯の信号及び無線LANシステムの送受信周波数帯の信号による妨害を受けない。
The attenuation poles B1 and B2 in the transmission characteristic B are due to the first high-frequency trap circuit 7 and the second high-frequency trap circuit 8, respectively.
At the frequencies of the attenuation poles B1 and B2, signals in the transmission / reception frequency band of the Bluetooth system and the transmission / reception frequency band of the wireless LAN system input to the common terminal 1 are reflected by the first and second high-frequency trap circuits 7 and 8. Therefore, those signals are efficiently output to the first input / output terminal 2.
Therefore, as shown in the transmission characteristic A, the attenuation amount becomes extremely small at the frequency point 3 and the frequency point 4.
Further, the signal in the transmission / reception frequency band of the GSM system and the signal in the transmission / reception frequency band of the DCS system / PCS system are not disturbed by the signal in the transmission / reception frequency band of the Bluetooth system and the signal in the transmission / reception frequency band of the wireless LAN system.

なお、伝送特性Aにおける減衰極A3は第1の高域トラップ回路7と第2の高域トラップ回路8とローパスフィルタ9における容量素子9bとによる直列共振によるものであり、これは減衰極B1とB2との間の周波数に現れる。
よって、ブルートゥースシステムの送受信周波数帯と無線LANシステムの送受信周波数帯との間に存在する不要な信号が減衰するので、この信号による妨害が軽減される。
The attenuation pole A3 in the transmission characteristic A is due to series resonance by the first high-frequency trap circuit 7, the second high-frequency trap circuit 8, and the capacitive element 9b in the low-pass filter 9, and this is the attenuation pole B1. Appears at a frequency between B2.
Therefore, an unnecessary signal existing between the transmission / reception frequency band of the Bluetooth system and the transmission / reception frequency band of the wireless LAN system is attenuated, so that interference caused by this signal is reduced.

同様に、伝送特性Bにおける減衰極B3は第1の低域トラップ回路4と第2の低域トラップ回路5とハイパスフィルタ6におけるインダクタンス素子6aとによる直列共振によるものであり、これは減衰極A1とA2との間の周波数に現れる。
よって、GSMシステムの送受信周波数帯とDCSシステム/PCSシステムの送受信周波数帯との間に存在する不要な信号が減衰するので、この信号による妨害が軽減される。
Similarly, the attenuation pole B3 in the transmission characteristic B is due to series resonance by the inductance element 6a in the first low-frequency trap circuit 4, the second low-frequency trap circuit 5, and the high-pass filter 6, and this is the attenuation pole A1. And appear at a frequency between A2.
Therefore, since unnecessary signals existing between the transmission / reception frequency band of the GSM system and the transmission / reception frequency band of the DCS system / PCS system are attenuated, the interference caused by this signal is reduced.

以上の回路構成を有するダイプレクサは、複数枚の積層板からなる方形の多層回路基板20に形成されている。
この多層回路基板20は、低温焼成セラミック(LTCC)等の材料で、3層の積層板20a、20b、20cで形成され、図3は1層目の積層板20aの上面に形成されたパターン図を示し、ストリップ線路21は図1のインダクタンス素子4aを構成するものであり、その一端側の電極21aと他端側の電極21bとが上下方向に重なり合っており、それらの電極21a、21b間には、絶縁材からなる誘電体Zが設けられる。
よって、2つの電極21a、21bとその間の誘電体Zとによって図1の容量素子4bが構成される。
The diplexer having the above circuit configuration is formed on a rectangular multilayer circuit board 20 made of a plurality of laminated plates.
The multilayer circuit board 20 is made of a material such as low-temperature fired ceramic (LTCC), and is formed of three layers of laminates 20a, 20b, and 20c. FIG. 3 is a pattern diagram formed on the upper surface of the first layer of laminate 20a. The strip line 21 constitutes the inductance element 4a of FIG. 1, and the electrode 21a on one end side and the electrode 21b on the other end side overlap in the vertical direction, and between these electrodes 21a and 21b. Is provided with a dielectric Z made of an insulating material.
Accordingly, the capacitive element 4b of FIG. 1 is constituted by the two electrodes 21a and 21b and the dielectric Z between them.

また、ストリップ線路22は図1のインダクタンス素子7aを構成するものであり、その一端側の電極22aと他端側の電極22bとが上下方向に重なり合っており、それらの電極22a、22b間には絶縁材からなる誘電体Zが設けられる。
よって、2つの電極22a、22bとその間の誘電体Zとによって図1の容量素子7bが構成される。
また、ストリップ線路21,22の一端側同士は互いに接続されると共に、ストリップ線路21の一端側の電極21aとストリップ線路22の一端側の電極22aとは接続され、それらの近傍にビアホール23aが設けられている。
Further, the strip line 22 constitutes the inductance element 7a of FIG. 1, and the electrode 22a on one end side and the electrode 22b on the other end side overlap in the vertical direction, and between these electrodes 22a and 22b. A dielectric Z made of an insulating material is provided.
Accordingly, the capacitive element 7b of FIG. 1 is configured by the two electrodes 22a and 22b and the dielectric Z between them.
The strip lines 21 and 22 are connected to each other at one end, the electrode 21a at one end of the strip line 21 is connected to the electrode 22a at one end of the strip line 22, and a via hole 23a is provided in the vicinity thereof. It has been.

そして、ストリップ線路21の電極21a、21bとストリップ線路22の電極22a、22bとが互いに間隔を置いて並設され、それらの並設された領域を挟んでその領域の両側には、ストリップ線路21とストリップ線路22とが離間した状態で配設される。   Then, the electrodes 21a and 21b of the strip line 21 and the electrodes 22a and 22b of the strip line 22 are arranged in parallel with a distance from each other, and the strip line 21 is disposed on both sides of the region with the juxtaposed region therebetween. And the strip line 22 are arranged in a separated state.

ストリップ線路24は図1のインダクタンス素子5aを構成するものであり、その一端側の電極24aは、ストリップ線路21の他端側の電極21bに接続されると共に、他端側の電極24bと上下方向に重なり合っており、それらの電極24aと電極24bとの間には絶縁材からなる誘電体Zが設けられる。
よって、2つの電極24a、24bとその間の誘電体Zによって図1の容量素子5bが構成される。
また、ストリップ線路24は渦巻き状に形成されており、この渦巻き状部を横切るストリップ線路24の他端側は、絶縁材からなる誘電体Zによって、渦巻き状部から絶縁された状態となっている。
The strip line 24 constitutes the inductance element 5a of FIG. 1, and the electrode 24a on one end side thereof is connected to the electrode 21b on the other end side of the strip line 21 and is vertically connected to the electrode 24b on the other end side. A dielectric Z made of an insulating material is provided between the electrodes 24a and 24b.
Accordingly, the capacitive element 5b of FIG. 1 is constituted by the two electrodes 24a and 24b and the dielectric Z between them.
The strip line 24 is formed in a spiral shape, and the other end side of the strip line 24 crossing the spiral portion is insulated from the spiral portion by a dielectric Z made of an insulating material. .

ストリップ線路25は図1のインダクタンス素子8aを構成するものであり、その一端側の電極25aは、ストリップ線路22の他端側の電極22bに接続されると共に、他端側の電極25bと上下方向に重なり合っており、それらの電極25aと電極25bとの間には絶縁材からなる誘電体Zが設けられる。
よって、2つの電極25a、25bとその間の誘電体Zとによって図1の容量素子8bが構成される。
The strip line 25 constitutes the inductance element 8a of FIG. 1, and the electrode 25a on one end side thereof is connected to the electrode 22b on the other end side of the strip line 22 and is vertically connected to the electrode 25b on the other end side. A dielectric Z made of an insulating material is provided between the electrodes 25a and 25b.
Therefore, the capacitive element 8b of FIG. 1 is configured by the two electrodes 25a and 25b and the dielectric Z between them.

そして、ストリップ線路24の電極24a、24bとストリップ線路25の電極25a、25bとが互いに間隔を置いて並設され、それらの並設された領域を挟んでその領域の両側には、ストリップ線路24とストリップ線路25とが離間した状態で配設される。   Then, the electrodes 24a and 24b of the strip line 24 and the electrodes 25a and 25b of the strip line 25 are arranged in parallel with a distance from each other, and the strip line 24 is provided on both sides of the juxtaposed region. And the strip line 25 are disposed in a separated state.

また、ストリップ線路24の他端側の電極24cには、誘電体Zを挟んで上下方向に重なり合うように、導電線路26の一端側の電極26aが設けられて、図1の容量素子6bの一つが設けられると共に、導電線路26の他端側の電極26bには、誘電体Zを挟んで上下方向に重なり合うように、導電線路27の一端側の電極27aが設けられて、図1の容量素子6bのもう一つが設けられている。   Further, the electrode 24c on the other end side of the strip line 24 is provided with an electrode 26a on one end side of the conductive line 26 so as to overlap in the vertical direction with the dielectric Z interposed therebetween. 1 and the electrode 26b on the other end side of the conductive line 26 is provided with an electrode 27a on one end side of the conductive line 27 so as to overlap in the vertical direction with the dielectric Z interposed therebetween. Another of 6b is provided.

従って、図1の容量素子6aは、電極24cと電極26aとの間で形成される容量と電極26bと電極27aとの間で形成される容量が直列接続となったもので構成されている。
そして、ストリップ線路24の他端側には、ビアホール29aが設けられると共に、導電線路27の他端側には、ビアホール30aが設けられている。
Therefore, the capacitive element 6a of FIG. 1 is configured by a series connection of a capacitance formed between the electrode 24c and the electrode 26a and a capacitance formed between the electrode 26b and the electrode 27a.
A via hole 29 a is provided on the other end side of the strip line 24, and a via hole 30 a is provided on the other end side of the conductive line 27.

また、ストリップ線路25の一端側の電極25cには、誘電体Zを挟んで上下方向に重なり合うように、電極31が設けられて、その結果、図1の容量素子9b構成されている。
そして、電極31には、ビアホール31aが設けられると共に、ストリップ線路25の一端側には、ビアホール32aが設けられている。
Further, an electrode 31 is provided on the electrode 25c on one end side of the strip line 25 so as to overlap in the vertical direction with the dielectric Z interposed therebetween, and as a result, the capacitive element 9b of FIG. 1 is configured.
The electrode 31 is provided with a via hole 31 a, and a via hole 32 a is provided on one end side of the strip line 25.

以上の構成から明らかなように、多層回路基板20の中央部側には、各容量素子4b〜9bを構成する電極21a/21b、24a/24b、24c/26aと、電極22a/22b、25a/25b、25c/31とが2列に並ぶように配設され、これらの電極の両側には、互いに離間し、且つ、並設された状態でストリップ線路21、24とストリップ線路22、25が2列に配設される。
よって、ハイパスフィルタ部10を構成するストリップ線路21、24とローパスフィルタ部11を構成するストリップ線路22、25とが相互に離間されるので互いに結合しにくくなり、第1の入出力端子2と第2の入出力端子3との間の相互アイソレーションが向上する。
As is apparent from the above configuration, the electrodes 21a / 21b, 24a / 24b, 24c / 26a, and the electrodes 22a / 22b, 25a / 25a constituting the capacitive elements 4b to 9b are provided on the center side of the multilayer circuit board 20. 25b and 25c / 31 are arranged in two rows, and the strip lines 21 and 24 and the strip lines 22 and 25 are arranged on both sides of the electrodes so as to be separated from each other and arranged side by side. Arranged in rows.
Therefore, the strip lines 21 and 24 constituting the high-pass filter unit 10 and the strip lines 22 and 25 constituting the low-pass filter unit 11 are separated from each other, so that it is difficult to couple with each other. Mutual isolation between the two input / output terminals 3 is improved.

また、多層回路基板20の表面に形成された各容量素子4b〜9bとストリップ線路21、22,24、25は、蒸着法やスパッタ等の薄膜技術、或いは印刷や塗布等の厚膜技術によって形成されている。   The capacitive elements 4b to 9b and the strip lines 21, 22, 24, 25 formed on the surface of the multilayer circuit board 20 are formed by a thin film technique such as vapor deposition or sputtering, or a thick film technique such as printing or coating. Has been.

そして、これ等が薄膜によって形成される場合、ストリップ線路や電極は、銅やアルミ等が使用されると共に、誘電体は、窒化シリコン、チタン酸バリウム系、チタン酸鉛系等が使用され、また、これ等が厚膜によって形成される場合、ストリップ線路や電極は、銀ペーストや銀ーパラジュウムペースト等が使用されると共に、誘電体は、窒化シリコン、チタン酸バリウム系、チタン酸鉛系等が使用される。   When these are formed by a thin film, the strip line and the electrode are made of copper, aluminum, etc., and the dielectric is made of silicon nitride, barium titanate, lead titanate, etc. When these are formed by a thick film, the strip line and electrode are made of silver paste or silver-palladium paste, and the dielectric is made of silicon nitride, barium titanate, lead titanate, or the like. used.

図4は2層目の積層板20bの上面に設けられた内層パターン図を示し、積層板20bの上面には接地導体37が設けられると共に、この積層板20bには、複数のビアホール38a、38b、38c、38d、38e、38f、38g、38hが設けられている。
また、内層に位置する接地導体37は、印刷や塗布等の厚膜技術によって形成され、接地導体37は、銀ペーストや銀ーパラジュウムペースト等が使用される。
FIG. 4 shows an inner layer pattern provided on the upper surface of the second laminated plate 20b. A ground conductor 37 is provided on the upper surface of the laminated plate 20b, and a plurality of via holes 38a, 38b are provided on the laminated plate 20b. , 38c, 38d, 38e, 38f, 38g, and 38h.
The ground conductor 37 located in the inner layer is formed by a thick film technique such as printing or coating, and the ground conductor 37 is made of silver paste or silver-palladium paste.

図5は3層目の積層板20cの上面に設けられた内層パターン図を示し、ストリップ線路33は図1のインダクタンス素子6aを構成するものであり、その一端側には、ビアホール33aが設けられると共に、他端側には、ビアホール33bが設けられる。
また、このビアホール33aと1層目のビアホール29aは、2層目のビアホール38fを介して接続導体(図示せず)によって接続され、インダクタンス素子6aの一端側が容量素子6bに接続された状態になると共に、内層に位置するインダクタンス素子6aであるストリップ線路33は、2層目の接地導体37を挟んで1層目のストリップ線路21,24に対向した状態となっている。
FIG. 5 shows an inner layer pattern provided on the upper surface of the third layered laminate 20c. The strip line 33 constitutes the inductance element 6a of FIG. 1, and a via hole 33a is provided at one end thereof. In addition, a via hole 33b is provided on the other end side.
Further, the via hole 33a and the first-layer via hole 29a are connected by a connection conductor (not shown) through the second-layer via hole 38f, and one end side of the inductance element 6a is connected to the capacitive element 6b. At the same time, the strip line 33, which is the inductance element 6a located in the inner layer, is in a state of being opposed to the first layer strip lines 21 and 24 with the second layer ground conductor 37 interposed therebetween.

また、3層目の上面に設けられたストリップ線路34は、図1のインダクタンス素子9aを構成するものであり、その一端側には、ビアホール34aが設けられると共に、他端側には、ビアホール34bが設けられる。
また、このビアホール34aと1層目のビアホール32aは、2層目のビアホール38gを介して接続導体(図示せず)によって接続され、インダクタンス素子9aの一端側が容量素子9bに接続された状態になると共に、内層に位置するインダクタンス素子9aであるストリップ線路34は、2層目の接地導体37を挟んで1層目のストリップ線路22,25に対向した状態となっている。
The strip line 34 provided on the upper surface of the third layer constitutes the inductance element 9a of FIG. 1. A via hole 34a is provided on one end side and a via hole 34b is provided on the other end side. Is provided.
The via hole 34a and the first layer via hole 32a are connected by a connection conductor (not shown) through the second layer via hole 38g, and one end side of the inductance element 9a is connected to the capacitive element 9b. At the same time, the strip line 34, which is the inductance element 9a located in the inner layer, is in a state of facing the first layer strip lines 22 and 25 with the second layer ground conductor 37 interposed therebetween.

そして、インダクタンス素子6aであるストリップ線路33とインダクタンス素子9aであるストリップ線路34は、電極24c/26aと、電極25c/31が配設され、これらの電極の両側には、互いに離間し、且つ、並設された状態でストリップ線路33,34が配設される。
よって、ハイパスフィルタ部10を構成するストリップ線路33とローパスフィルタ部11を構成するストリップ線路34とが相互に離間されるので互いに結合しにくくなり、第1の入出力端子2と第2の入出力端子3との間の相互アイソレーションが向上する。
The strip line 33, which is the inductance element 6a, and the strip line 34, which is the inductance element 9a, are provided with electrodes 24c / 26a and electrodes 25c / 31, and are separated from each other on both sides of these electrodes, and Strip lines 33 and 34 are arranged in a state of being arranged in parallel.
Therefore, since the strip line 33 constituting the high pass filter unit 10 and the strip line 34 constituting the low pass filter unit 11 are separated from each other, it is difficult to couple with each other, and the first input / output terminal 2 and the second input / output Mutual isolation with the terminal 3 is improved.

また、3層目の上面には導電線路35が設けられ、この導電線路35の一端側には、ビアホール35aが設けられると共に、他端側にはビアホール35bが設けられ、ビアホール35aと1層目のビアホール23aは、2層目のビアホール38hを介して接続導体(図示せず)によって接続されている。
更に、この3層目の積層板20cには、略中央部に設けられたビアホール36aと、角部に設けられたビアホール36bを有する。
A conductive line 35 is provided on the upper surface of the third layer. A via hole 35a is provided on one end side of the conductive line 35, and a via hole 35b is provided on the other end side. The via holes 23a are connected by a connection conductor (not shown) through a second-layer via hole 38h.
Further, the third layer laminated plate 20c has a via hole 36a provided at a substantially central portion and a via hole 36b provided at a corner portion.

内層に位置するストリップ線路33,34と導電線路35は、印刷や塗布等の厚膜技術によって形成され、ストリップ線路33,34や導電線路35は、銀ペーストや銀ーパラジュウムペースト等が使用される。   The strip lines 33 and 34 and the conductive line 35 located in the inner layer are formed by thick film technology such as printing and coating, and the strip lines 33 and 34 and the conductive line 35 are made of silver paste, silver-palladium paste, or the like. .

図6は3層目の積層板20cの下面のパターンを示し、積層板20cの下面には、図1の入力端子(共通端子)1となる端子電極39と、図1の第1の入出力端子2となる端子電極40と、図1の第2の入出力端子3となる端子電極41と、広い面積の接地導体42と、この接地導体42に設けられた複数の接地電極42aを有する。   FIG. 6 shows a pattern of the lower surface of the third layered laminate 20c. On the lower surface of the laminate 20c, a terminal electrode 39 serving as the input terminal (common terminal) 1 of FIG. 1 and the first input / output of FIG. A terminal electrode 40 to be the terminal 2, a terminal electrode 41 to be the second input / output terminal 3 in FIG. 1, a large-area ground conductor 42, and a plurality of ground electrodes 42 a provided on the ground conductor 42.

そして、端子電極39にはビアホール35bが位置し、端子電極40にはビアホール36bが位置し、端子電極41にはビアホール34bが位置し、更に、接地導体42には、ビアホール33b、36aが位置した状態となっている。   The terminal electrode 39 has a via hole 35b, the terminal electrode 40 has a via hole 36b, the terminal electrode 41 has a via hole 34b, and the ground conductor 42 has via holes 33b and 36a. It is in a state.

これ等の端子電極39,40,41と接地導体42は、蒸着法やスパッタ等の薄膜技術、或いは印刷や塗布等の厚膜技術によって形成され、これ等が薄膜によって形成される場合、端子電極39,40,41と接地導体42は、銀やアルミ等が使用されると共に、これ等が厚膜によって形成される場合、銀ペーストや銀ーパラジュウムペースト等が使用される。   These terminal electrodes 39, 40, 41 and the ground conductor 42 are formed by a thin film technique such as vapor deposition or sputtering, or a thick film technique such as printing or coating. When these are formed by a thin film, the terminal electrode 39, 40, 41 and the ground conductor 42 are made of silver, aluminum, or the like, and when these are formed of a thick film, silver paste, silver-palladium paste, or the like is used.

そして、3層目の導電線路35の他端側は、ビアホール35bが接続導体(図示せず)を介して共通端子1である端子電極39に接続され、その結果、1層目に位置するビアホール23aは、接続導体と導電線路35を介して端子電極39に接続された状態となる。   The via hole 35b is connected to the terminal electrode 39, which is the common terminal 1, via the connection conductor (not shown) on the other end side of the third-layer conductive line 35. As a result, the via hole located in the first layer 23 a is connected to the terminal electrode 39 through the connection conductor and the conductive line 35.

また、1層目の導電線路27は、ビアホール30a、38b、36bが接続導体(図示せず)を介して第1の入出力端子2である端子電極40に接続されると共に、3層目のストリップ線路34は、ビアホール34bが接続導体(図示せず)を介して第2の入出力端子3である端子電極41に接続される。   In the first-layer conductive line 27, via holes 30a, 38b, and 36b are connected to the terminal electrode 40 that is the first input / output terminal 2 through connection conductors (not shown), and the third-layer conductive line 27 is connected. In the strip line 34, the via hole 34b is connected to the terminal electrode 41, which is the second input / output terminal 3, via a connection conductor (not shown).

更に、ストリップ線路33は、ビアホール38d、33bが接続導体(図示せず)を介して2層目の上面に位置する接地導体37と下面に位置する接地導体42に接続されると共に、一層目に位置する電極31は、ビアホール31a、38e、36aが接続導体(図示せず)を介して2層目の上面に位置する接地導体37と下面に位置する接地導体42に接続される。
このような構成によって、図1に示すような回路を備えたダイプレクサが多層回路基板20に形成される。
Further, the strip line 33 has via holes 38d and 33b connected to the ground conductor 37 located on the upper surface of the second layer and the ground conductor 42 located on the lower surface via connection conductors (not shown). In the electrode 31 positioned, via holes 31a, 38e, and 36a are connected to a ground conductor 37 positioned on the upper surface of the second layer and a ground conductor 42 positioned on the lower surface via connection conductors (not shown).
With such a configuration, a diplexer having a circuit as shown in FIG. 1 is formed on the multilayer circuit board 20.

本発明のダイプレクサの1実施形態を示す回路図。The circuit diagram which shows one Embodiment of the diplexer of this invention. 本発明のダイプレクサの伝送特性図。The transmission characteristic figure of the diplexer of this invention. 本発明のダイプレクサに係り、多層回路基板の表面のパターンを示す上面図。The top view which concerns on the diplexer of this invention and shows the pattern of the surface of a multilayer circuit board. 本発明のダイプレクサに係り、多層回路基板の2層目の内層上面のパターンを示す上面図。The top view which shows the pattern of the inner layer upper surface of the 2nd layer of a multilayer circuit board regarding the diplexer of this invention. 本発明のダイプレクサに係り、多層回路基板の3層目の内層上面のパターンを示す上面図。The top view which shows the pattern of the inner layer upper surface of the 3rd layer of a multilayer circuit board regarding the diplexer of this invention. 本発明のダイプレクサに係り、多層回路基板の3層目の下面のパターンを示す下面図。The bottom view which shows the pattern of the lower surface of the 3rd layer of a multilayer circuit board concerning the diplexer of this invention. 従来のダイプレクサの回路図。The circuit diagram of the conventional diplexer. 従来のダイプレクサの構成を示す分解斜視図。The disassembled perspective view which shows the structure of the conventional diplexer.

符号の説明Explanation of symbols

1:入力端子(共通端子)
2:第1の入出力端子
3:第2の入出力端子
4:第1の低域トラップ回路
5:第2の低域トラップ回路
6:ハイパスフィルタ
7:第1の高域トラップ
8:第2の高域トラップ回路
9:ローパスフィルタ
4a〜9a:インダクタンス素子
4b〜9b:容量素子
10:ハイパスフィルタ部
11:ローパスフィルタ部
20:多層回路基板
20a:1層目の積層板
20b:2層目の積層板
20c:3層目の積層板
21:ストリップ電路
21a、21b:電極
Z:誘電体
22:ストリップ線路
22a、22b:電極
23a:ビアホール
24:ストリップ線路
24a、24b:電極
25:ストリップ線路
25a、25b:電極
26:導電線路
26a、26b:電極
27:導電線路
27a:電極
29a、30a:ビアホール
31:電極
31a:ビアホール
32a:ビアホール
33:ストリップ線路
33a、33b:ビアホール
34:ストリップ線路
34a、34b:ビアホール
35:導電線路
35a、35b:ビアホール
36a、36b:ビアホール
37:接地導体
38a〜38h:ビアホール
39,40,41:端子電極
42:接地導体
42a:接地電極
1: Input terminal (common terminal)
2: first input / output terminal 3: second input / output terminal 4: first low-frequency trap circuit 5: second low-frequency trap circuit 6: high-pass filter 7: first high-frequency trap 8: second 9: Low-pass filter 4a-9a: Inductance element 4b-9b: Capacitance element 10: High-pass filter part 11: Low-pass filter part 20: Multilayer circuit board 20a: First layer laminated board 20b: Second layer Laminated plate 20c: 3rd layer laminated plate 21: Strip electric circuit 21a, 21b: Electrode Z: Dielectric 22: Strip line 22a, 22b: Electrode 23a: Via hole 24: Strip line 24a, 24b: Electrode 25: Strip line 25a, 25b: Electrode 26: Conductive line 26a, 26b: Electrode 27: Conductive line 27a: Electrode 29a, 30a: Via hole 31: Electrode 31a: Via hole 32a: Via hole 33: Strip line 33a, 33b: Via hole 34: Strip line 34a, 34b: Via hole 35: Conductive line 35a, 35b: Via hole 36a, 36b: Via hole 37: Ground conductor 38a-38h: Via hole 39, 40 , 41: terminal electrode 42: ground conductor 42a: ground electrode

Claims (5)

所定周波数以下の低域側周波数帯を減衰する低域トラップ回路と前記低域トラップ回路に直列に接続されたハイパスフィルタとからなって、共通端子と第1の入出力端子との間に介挿されたハイパスフィルタ部と、前記所定周波数以下の高域側周波数帯を減衰する高域トラップ回路と前記高域トラップ回路に直列に接続されたローパスフィルタとからなって、共通端子と第2の入出力端子との間に介挿されたローパスフィルタ部と、前記ハイパスフィルタ部、及び前記ローパスフィルタ部を形成する多層回路基板とを備え、前記ハイパスフィルタ、及び前記ローパスフィルタはそれぞれインダクタンス素子と容量素子とを有し、前記多層回路基板の表面には、前記低域トラップ回路と、前記高域トラップ回路と、前記ハイパスフィルタ及び前記ローパスフィルタの各容量素子を形成すると共に、前記多層回路基板の内層には、前記ハイパスフィルタ及び前記ローパスフィルタの各インダクタンス素子を形成したことを特徴とするダイプレクサ。 A low-frequency trap circuit for attenuating a low-frequency band below a predetermined frequency and a high-pass filter connected in series to the low-frequency trap circuit are interposed between the common terminal and the first input / output terminal. A high-pass filter unit, a high-frequency trap circuit that attenuates the high-frequency band below the predetermined frequency, and a low-pass filter connected in series to the high-frequency trap circuit, and a common terminal and a second input A low-pass filter section interposed between the output terminal, the high-pass filter section, and a multilayer circuit board that forms the low-pass filter section, the high-pass filter and the low-pass filter comprising an inductance element and a capacitive element, respectively. On the surface of the multilayer circuit board, the low-frequency trap circuit, the high-frequency trap circuit, the high-pass filter and the front To form the respective capacitive element of the low-pass filter, the inner layer of the multilayer circuit board, characterized in that the formation of the high-pass filter and the inductance element of the low-pass filter diplexer. 前記多層回路基板の表面には、前記低域トラップ回路の容量素子と前記高域トラップ回路の容量素子とが互いに間隔を置いて並設され、前記低域トラップ回路のインダクタンス素子と前記高域トラップ回路のインダクタンス素子とが前記容量素子を形成した領域を挟んで両側の領域に互いに離間してそれぞれ配設されたことを特徴とする請求項1記載のダイプレクサ。 On the surface of the multilayer circuit board, the capacitive element of the low-frequency trap circuit and the capacitive element of the high-frequency trap circuit are arranged in parallel with a gap therebetween, and the inductance element of the low-frequency trap circuit and the high-frequency trap 2. The diplexer according to claim 1, wherein an inductance element of the circuit is disposed apart from each other on both sides of the area where the capacitive element is formed. 前記多層回路基板の内層に形成された前記ハイパスフィルタの前記インダクタンス素子は、前記多層回路基板の表面に形成された前記低域トラップ回路に対向して配設されると共に、前記多層回路基板の内層に形成された前記ローパスフィルタの前記インダクタンス素子は、前記多層回路基板の表面に形成された前記高域トラップ回路に対向して配設されたことを特徴とする請求項2記載のダイプレクサ。 The inductance element of the high-pass filter formed in the inner layer of the multilayer circuit board is disposed to face the low-frequency trap circuit formed on the surface of the multilayer circuit board, and the inner layer of the multilayer circuit board 3. The diplexer according to claim 2, wherein the inductance element of the low-pass filter formed on the surface of the low-pass filter is disposed to face the high-frequency trap circuit formed on the surface of the multilayer circuit board. 前記低域トラップ回路は帯域の異なる複数の前記低域側周波数帯に対応して複数設けられ、前記高域トラップ回路は帯域の異なる複数の前記高域側周波数帯に対応して複数設けられ、前記複数の低域トラップ回路のうち前記所定周波数側に近い前記低域側周波数帯に対応する低域トラップ回路を前記共通端子側に配設し、前記複数の高域トラップ回路のうち前記所定周波数側に近い前記高域側周波数帯に対応する高域トラップ回路を前記共通端子側に配設したことを特徴とする請求項2、又は3記載のダイプレクサ。 A plurality of low-frequency trap circuits are provided corresponding to a plurality of low-frequency bands in different bands; a plurality of high-frequency trap circuits are provided corresponding to a plurality of high-frequency bands in different bands; A low-frequency trap circuit corresponding to the low-frequency side frequency band close to the predetermined frequency side among the plurality of low-frequency trap circuits is disposed on the common terminal side, and the predetermined frequency among the plurality of high-frequency trap circuits 4. The diplexer according to claim 2, wherein a high-frequency trap circuit corresponding to the high-frequency band close to the side is disposed on the common terminal side. 前記多層回路基板の表面に形成された前記低域トラップ回路及び前記高域トラップ回路のそれぞれの前記容量素子と前記インダクタンス素子、及び、前記多層回路基板の表面に形成された前記ハイパスフィルタ及び前記ローパスフィルタのそれぞれの前記容量素子は、薄膜、又は厚膜によって形成されると共に、前記多層回路基板の内層に形成された前記ハイパスフィルタ及び前記ローパスフィルタのそれぞれの前記インダクタンス素子は、厚膜によって形成されたことを特徴とする請求項1から4の何れかに記載のダイプレクサ。
The capacitive element and the inductance element of each of the low-frequency trap circuit and the high-frequency trap circuit formed on the surface of the multilayer circuit board, and the high-pass filter and the low-pass formed on the surface of the multilayer circuit board Each capacitive element of the filter is formed by a thin film or a thick film, and each of the inductance elements of the high-pass filter and the low-pass filter formed in the inner layer of the multilayer circuit board is formed by a thick film. The diplexer according to any one of claims 1 to 4, wherein the diplexer is provided.
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