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JP2006177798A - Nondestructive inspection method using positron annihilation - Google Patents

Nondestructive inspection method using positron annihilation Download PDF

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Abstract

【課題】 本発明は、大掛かりな検出装置を必要とせず、表面のみならず材料内部の非破壊検査で、材料内部を簡便に検査可能とすることを目的とする。
【解決手段】 ミュー粒子を材料内部で停止させ、材料内部でミュー粒子崩壊によって生じた陽電子の寿命を検出することにより材料内部の欠陥を検査する非破壊検査方法である。
【選択図】 図1
PROBLEM TO BE SOLVED: To make it possible to easily inspect the inside of a material by nondestructive inspection not only on the surface but also inside the material without requiring a large-scale detection device.
A nondestructive inspection method in which defects inside a material are inspected by stopping muons inside the material and detecting the lifetime of positrons generated by the muon decay inside the material.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、構造物を構成する材料の内部において、損傷・破壊などで生じる微視的欠陥の非破壊検査法に関するものである。   The present invention relates to a nondestructive inspection method for microscopic defects caused by damage / destruction in a material constituting a structure.

材料の欠陥を検知する方法として、超音波によって直接材料の状態を調査する非破壊検査方法がある。この方法は、超音波の波長程度のオーダーの欠陥を検知するのに適しているが、微視的な欠陥(<μm)には適していない。特に疲労破壊などでは、微視的欠陥が集まり巨視的欠陥に成長する。そして疲労破壊などでは、微視的欠陥の生成過程が破壊までの主な時間を占める。微視的欠陥を観測することで、初期から材料の寿命を推定することができる。微視的欠陥の検知には、陽電子消滅を利用した非破壊検査法が知られている。   As a method for detecting a defect in a material, there is a nondestructive inspection method in which the state of the material is directly examined by ultrasonic waves. This method is suitable for detecting a defect on the order of the wavelength of an ultrasonic wave, but is not suitable for a microscopic defect (<μm). Particularly in fatigue fracture, microscopic defects gather and grow into macroscopic defects. In fatigue fracture and the like, the generation process of microscopic defects occupies the main time until destruction. By observing microscopic defects, the lifetime of the material can be estimated from the beginning. A nondestructive inspection method using positron annihilation is known for detecting microscopic defects.

陽電子消滅による検査法の原理は以下のとおりである。材料中に入射した陽電子は、材料中の原子や電子と相互作用を繰り返しながらエネルギーを失い、電子と対消滅して2つのガンマ線に変換する。入射してからガンマ線に変換するまでの時間は指数分布に従い、その平均時間を陽電子寿命と定義する。
材料中に欠陥密度の大きな箇所があった場合、陽電子はその欠陥に引き寄せられ束縛される。その部分の電子密度は周りに比べて小さいため、陽電子寿命は長くなる。したがって、陽電子寿命は欠陥密度を反映する。
The principle of the inspection method using positron annihilation is as follows. The positron incident on the material loses energy while repeating the interaction with atoms and electrons in the material, and annihilates with the electron and converts it into two gamma rays. The time from incidence to conversion to gamma rays follows an exponential distribution, and the average time is defined as the positron lifetime.
When there is a part with a high defect density in the material, the positron is attracted to the defect and bound. Since the electron density in that portion is smaller than the surrounding area, the positron lifetime is increased. Thus, the positron lifetime reflects the defect density.

陽電子消滅法に用いる陽電子は、通常、放射線源(Na:0.54MeV、Ge:1.9MeV)によって供給されるが、その運動エネルギーは数MeV以下である。陽電子が鉄などの検査対象材料に入射した場合、陽電子は表面から1mm以内で停止してしまうため、表面のみの非破壊検査になり、表面が非検査材料で覆われている場合や厚い材料の奥行き方向の検査には適さない。透過力の強い1.02MeV以上のガンマ線源を用いて、材料中でガンマ線を電子・陽電子対生成させる材料深部の非破壊検査法がある。しかし、対生成する確率は、奥行き方向に進むにつれ指数関数的に減少するため、深部の非破壊検査には非効率である。   The positron used in the positron annihilation method is usually supplied by a radiation source (Na: 0.54 MeV, Ge: 1.9 MeV), but its kinetic energy is several MeV or less. When a positron is incident on a material to be inspected, such as iron, the positron stops within 1 mm from the surface, resulting in a nondestructive inspection of the surface only. Not suitable for depth inspection. There is a non-destructive inspection method in the deep part of a material that uses a gamma ray source with a high transmission power of 1.02 MeV or more to generate a pair of gamma rays in the material. However, since the probability of pair generation decreases exponentially as it advances in the depth direction, it is inefficient for nondestructive inspection of the deep part.

この解決法として、透過性の高いレーザー逆コンプトン高エネルギーX線を用い、材料内部で陽電子を生成させることにより、材料内部の深いところで陽電子消滅ガンマ線分光を行うことが提案されている。
ところが上記高エネルギーX線を用いる方法では、材料中でX線が陽電子を生成する深さ方向の位置検出が簡便ではない欠点があった。すなわち深さ方向の位置検出には、別途深さ方向の位置検出器を必要とし、そのための位置検出装置が大掛かりになる欠点があった。
特開2003−215251号公報 特開2003−270176号公報 特開2004−150851号公報
As a solution to this problem, it has been proposed to perform positron annihilation gamma-ray spectroscopy deep inside the material by generating positrons inside the material using a highly transparent laser inverse Compton high-energy X-ray.
However, the above-described method using high energy X-rays has a drawback that position detection in the depth direction in which X-rays generate positrons in the material is not simple. That is, the position detection in the depth direction requires a position detector in the depth direction separately, and there is a drawback that the position detection device for that purpose becomes large.
JP 2003-215251 A JP 2003-270176 A JP 2004-150851 A

したがって本発明は、大掛かりな位置検出装置を必要とせず、表面のみならず材料内部の非破壊検査で、材料内部を簡便に検査可能とする非破壊検査法を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a non-destructive inspection method that can easily inspect the inside of a material by a non-destructive inspection not only on the surface but also inside the material without requiring a large-scale position detection device.

本発明は、ミュー粒子を材料内部で停止させ、ミュー粒子崩壊によって生じた陽電子の寿命を測定することにより材料内部の欠陥を検査する非破壊検査方法である。   The present invention is a nondestructive inspection method for inspecting defects inside a material by stopping the muon inside the material and measuring the lifetime of the positron generated by the muon decay.

また本発明は、材料中において陽電子の制動放射過程で生成されたガンマ線を検出してスタート時刻とし、陽電子が電子と対消滅して生じたガンマ線を検出してストップ時刻とし、その時間差から上記陽電子の寿命を測定する非破壊検査方法である。   The present invention also detects the gamma ray generated in the positron bremsstrahlung process in the material as the start time, detects the gamma ray generated by the annihilation of the positron with the electron and sets it as the stop time, and determines the positron from the time difference. This is a non-destructive inspection method for measuring the life of the steel.

さらに本発明は、ミュー粒子の運動量を変えながら上記陽電子寿命を測定することにより、材料の奥行き方向の欠陥位置及び欠陥分布を測定する非破壊検査方法である。   Furthermore, the present invention is a nondestructive inspection method for measuring a defect position and a defect distribution in a depth direction of a material by measuring the positron lifetime while changing the momentum of a muon.

本発明は、ミュー粒子を用いることで、材料深部の陽電子消滅法による非破壊検査が可能になり、またミュー粒子のエネルギーを単に変更することで欠陥分布の深さ方向の形状を測定できるようになるという効果を有する。   In the present invention, non-destructive inspection of the deep part of the material by the positron annihilation method is possible by using mu particles, and the shape of the defect distribution in the depth direction can be measured by simply changing the energy of the mu particles. It has the effect of becoming.

本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
ミュー粒子は透過力が強く、数cmの鉄など容易に透過することが可能であり、その運動量を制御することにより、材料内部の任意の場所に静止させることも可能である。正電荷をもつミュー粒子は陽電子と2つのニュートリノに崩壊する。したがって、ミュー粒子が材料内部で停止・崩壊することにより材料深部で陽電子を生成することができ、材料深部の陽電子消滅法による非破壊検査が可能になる。以上で述べた非破壊検査法の模式図を図1に示す。
Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
Mu particles have strong penetrating power, and can easily penetrate several centimeters of iron, etc., and can be stopped at any location inside the material by controlling the momentum. A positively charged muon decays into a positron and two neutrinos. Therefore, muons stop and decay inside the material, so that positrons can be generated in the deep part of the material, and non-destructive inspection by the positron annihilation method in the deep part of the material becomes possible. A schematic diagram of the nondestructive inspection method described above is shown in FIG.

次に、ミュー粒子を用いた陽電子対消滅による非破壊検査法を実施するための測定装置の模式図を図2に示す。測定装置には、時間応答性のよいフッ化バリウム(BaF2)検出器を検査対象材料の前後に配置した。検査対象材料には、厚さ3cmのSUS316ステンレス板を用い、金属疲労などにより奥行き方向に欠陥が分布する場合を想定した。図2において、上図は測定システムの鳥瞰図、下図はその断面図である。 Next, FIG. 2 shows a schematic diagram of a measuring apparatus for carrying out a nondestructive inspection method using positron pair annihilation using muons. In the measuring device, barium fluoride (BaF 2 ) detectors with good time response were arranged before and after the material to be inspected. As the material to be inspected, a SUS316 stainless steel plate with a thickness of 3 cm was used, and it was assumed that defects were distributed in the depth direction due to metal fatigue. In FIG. 2, the upper diagram is a bird's-eye view of the measurement system, and the lower diagram is a sectional view thereof.

図3にミュー粒子の運動量とSUS316ステンレス内で停止・崩壊したミュー粒子の位置との関係を示す。同図において、縦軸は、ステンレス内部でミュー粒子が止まった位置、また横軸は、ミュー粒子の運動量を示す。
図3から、ミュー粒子の運動量を制御することにより、材料内部での停止位置を定めることができることが分かる。ミュー粒子崩壊で生じた陽電子は、材料の中を移動し、そして電子と対消滅をする。
FIG. 3 shows the relationship between the momentum of the mu particle and the position of the mu particle stopped and collapsed in SUS316 stainless steel. In the figure, the vertical axis represents the position where the mu particle stopped inside the stainless steel, and the horizontal axis represents the momentum of the mu particle.
It can be seen from FIG. 3 that the stop position within the material can be determined by controlling the momentum of the muon. Positrons generated by muon decay move through the material and annihilate with electrons.

例えば、ミュー粒子の運動量をp=115MeV/c(分布幅Δp/p=1%)としたとき、ミュー粒子の停止・崩壊位置の分布と陽電子消滅位置の分布を図4に示す。ミュー粒子の進行方向及びそれと逆方向に検出器が配置されているため、ミュー崩壊点からそれぞれの方向に陽電子が進んだ場合に検出され、また陽電子消滅位置分布も2成分に分解される。ミュー粒子の運動量によって、奥行き方向の探索場所を変えることができる。   For example, when the momentum of the mu particle is p = 115 MeV / c (distribution width Δp / p = 1%), the distribution of the stop / decay position of the mu particle and the distribution of the positron annihilation position are shown in FIG. Since detectors are arranged in the direction of muon travel and in the opposite direction, it is detected when positrons travel in the respective directions from the mu decay point, and the positron annihilation position distribution is also decomposed into two components. The search location in the depth direction can be changed by the momentum of the muon.

図5に様々なミュー粒子の運動量についてミュー粒子の停止位置と陽電子の消滅位置を計算した結果を示す。
材料中の陽電子寿命を測定するためには、陽電子が生成された時刻(スタート時刻)と陽電子が電子と対消滅した時刻(ストップ時刻)を計測する必要がある。そのスタート時刻及びストップ時刻は以下のように測定することができる。
FIG. 5 shows the calculation results of the muon stop position and positron annihilation position for various muon momentums.
In order to measure the positron lifetime in a material, it is necessary to measure the time when positrons are generated (start time) and the time when positrons annihilate with electrons (stop time). The start time and stop time can be measured as follows.

スタート時刻
崩壊で生じた陽電子のエネルギーは最大53MeVで、図6のような分布になる。陽電子エネルギーが材料の臨界エネルギーよりも大きな場合、陽電子は材料中で制動放射によってガンマ線を放出する。この過程は陽電子寿命よりも短い時間内で起こるため、制動放射で放出されたガンマ線を検出することによりスタート時刻を知ることができる。また、制動放射で放出されたガンマ線のエネルギーが1.02MeVより大きい場合、電子−陽電子対が生成されるが、その場合には電子又は陽電子を検出することによりスタート時刻を測定する。
Start time The energy of the positron generated by decay is 53 MeV at maximum, and the distribution is as shown in FIG. When the positron energy is greater than the critical energy of the material, the positron emits gamma rays in the material by bremsstrahlung. Since this process occurs within a time shorter than the positron lifetime, the start time can be known by detecting gamma rays emitted by bremsstrahlung. When the energy of gamma rays emitted by bremsstrahlung is greater than 1.02 MeV, an electron-positron pair is generated. In this case, the start time is measured by detecting the electron or positron.

ストップ時刻
陽電子が電子と対消滅して生じたガンマ線を検出することにより、ストップ時刻を測定する。スタート時刻とストップ時刻を測定し、その時間差分布が得られる。その分布は指数分布になり、指数関数を用いてフィッティングすることにより寿命が決まる。測定器による時間計測誤差やバックグラウンドを考慮し、その時間差分布をシミュレーションで求めたものが図7である。同図において、シミュレーション・データを〇印で、フィッティングで得られた結果(信号とバックグラウンド成分)を線で示した。
1つのミュー粒子崩壊で2つ以上陽電子対消滅が生じる場合があるが、その場合、どれか1つを無作為に選択する。
Stop time The stop time is measured by detecting the gamma rays generated by the positron annihilation with the electron. The start time and stop time are measured, and the time difference distribution is obtained. The distribution is an exponential distribution, and the lifetime is determined by fitting using an exponential function. FIG. 7 shows the time difference distribution obtained by simulation in consideration of the time measurement error and background by the measuring instrument. In the figure, the simulation data is indicated by a circle and the results (signal and background component) obtained by fitting are indicated by lines.
Two or more positron annihilation may occur in one muon decay, and in that case, one of them is selected at random.

次に奥行き方向の欠陥位置と欠陥分布の測定方法について説明する。
一般に、陽電子寿命は欠陥密度に依存する。欠陥密度(又は陽電子寿命)が奥行き方向にガウス分布にしたがって変化している場合を考える。
図8は、ミュー粒子の運動量を85MeV/cとしたときの陽電子対消滅位置の分布と欠陥密度分布の一例を示す。欠陥密度の大きさ(又は陽電子寿命)はガウス分布の高さで、欠陥密度の分布幅はガウス分布の幅で、欠陥密度の位置はガウス分布の中心位置で表現することができる。検査対象材料に欠陥密度がある場合、陽電子寿命にも分布があるため、その最大値から最小値まで連続的な値になるが、実際に測定できるのはその実効値となる。
その欠陥分布のパラメータを変えることによって、寿命測定がどのようになるかを評価したものが図9である。欠陥分布の形や位置によって測定寿命が変化するため、欠陥密度分布を測定することが可能となる。
Next, a method for measuring the defect position and defect distribution in the depth direction will be described.
In general, the positron lifetime depends on the defect density. Consider a case where the defect density (or positron lifetime) changes in the depth direction according to a Gaussian distribution.
FIG. 8 shows an example of the distribution of positron pair annihilation positions and the defect density distribution when the momentum of the muon is 85 MeV / c. The magnitude of the defect density (or positron lifetime) can be expressed by the height of the Gaussian distribution, the distribution width of the defect density can be expressed by the width of the Gaussian distribution, and the position of the defect density can be expressed by the center position of the Gaussian distribution. If the material to be inspected has a defect density, the positron lifetime also has a distribution, so that it becomes a continuous value from the maximum value to the minimum value, but what can actually be measured is the effective value.
FIG. 9 shows an evaluation of how the life measurement is performed by changing the parameter of the defect distribution. Since the measurement life varies depending on the shape and position of the defect distribution, the defect density distribution can be measured.

特に、奥行き方向の欠陥密度分布の中心位置を測定するためには、ミュー粒子の運動量を変化させて、検査対象材料の奥行き方向を探索する。ステンレス鋼の奥行き中央部に欠陥密度分布がある場合、ミュー粒子の運動量を変化させて、陽電子消滅位置分布を示したものが図10である。そのときの陽電子寿命測定は図11のようになる。運動量によって欠陥分布位置を特定することができる。測定される寿命は、欠陥密度分布で決められる寿命分布を陽電子の対消滅分布の重みで平均された寿命に関係する。これを図12に示す。したがって、測定寿命は欠陥密度分布に依存することがわかる。よって、図11と図12から材料内部の欠陥分布を決定することができる。   In particular, in order to measure the center position of the defect density distribution in the depth direction, the momentum of the mu particles is changed to search the depth direction of the material to be inspected. FIG. 10 shows the positron annihilation position distribution by changing the momentum of the mu particles when there is a defect density distribution in the center of the depth of stainless steel. The positron lifetime measurement at that time is as shown in FIG. The defect distribution position can be specified by the momentum. The measured lifetime is related to the lifetime obtained by averaging the lifetime distribution determined by the defect density distribution by the weight of the positron annihilation distribution. This is shown in FIG. Therefore, it can be seen that the measured lifetime depends on the defect density distribution. Therefore, the defect distribution inside the material can be determined from FIG. 11 and FIG.

発電プラントなどの構造物を構成する材料に起こる微視的欠陥の蓄積による破壊を未然に防ぐため、健全性の評価が定期的に行われる。本発明によれば、前記健全性の評価に際し、内部の微視的欠陥の進展を観測できるため、初期段階から材料寿命を推定することが可能になる。また、複雑な形状の材料評価実験においても、分解することなく内部の材料欠陥情報を知ることができる。   In order to prevent destruction due to accumulation of microscopic defects that occur in materials constituting a structure such as a power plant, soundness is regularly evaluated. According to the present invention, when the soundness is evaluated, the progress of internal microscopic defects can be observed, so that the material life can be estimated from the initial stage. In addition, even in a complicated shape material evaluation experiment, internal material defect information can be known without being decomposed.

陽電子による非破壊検査法の模式図Schematic diagram of positron nondestructive inspection method ミュー粒子を用いた陽電子消滅による非破壊検査法の測定装置の模式図Schematic diagram of a measuring device for nondestructive inspection by positron annihilation using muons ミュー粒子の運動量とステンレス内で停止・崩壊したミュー粒子の位置との関係図Relationship diagram between the momentum of muon and the position of muon stopped and collapsed in stainless steel ミュー粒子の停止・崩壊位置の分布と陽電子消滅位置の分布図Distribution of stop and decay positions of muons and positron annihilation positions ミュー粒子の運動量に対するミュー粒子の停止位置と陽電子の消滅位置を示す図Diagram showing muon stopping position and positron annihilation position with respect to muon momentum ミュー粒子の崩壊で生じた陽電子の運動エネルギー分布図Kinetic energy distribution map of positrons generated by muon decay. 時間差分布のシミュレーション結果図。The simulation result figure of a time difference distribution. 陽電子消滅位置分布と欠陥分布モデル図Positron annihilation position distribution and defect distribution model diagram 欠陥分布モデルのパラメータを変えたときの寿命測定図Lifetime measurement diagram when changing parameters of defect distribution model ミュー粒子の運動量を変化させたときの奥行き方向の欠陥分布モデル及び陽電子対消滅位置の分布図Defect distribution model in the depth direction and muon positron annihilation position distribution map when muon momentum is changed ミュー粒子の運動量を変化させ、奥行き方向の欠陥分布を測定したときの寿命測定図Lifetime measurement diagram when measuring the defect distribution in the depth direction by changing the momentum of the muon 様々な欠陥分布による平均寿命と測定寿命との関係を示す図Diagram showing the relationship between average life and measured life due to various defect distributions

Claims (3)

ミュー粒子を材料内部で停止させ、材料内部でミュー粒子崩壊によって生じた陽電子の寿命を検出することにより材料内部の欠陥を検査する非破壊検査方法。 A nondestructive inspection method in which defects inside the material are inspected by stopping the muons inside the material and detecting the lifetime of positrons generated by the muon decay inside the material. 材料中で陽電子の制動放射過程によって生成したガンマ線又は電子を検出してスタート時刻とし、陽電子が電子と対消滅して生じたガンマ線を検出してストップ時刻とし、その時間差から上記陽電子の寿命を測定することを特徴とする請求項1に記載の非破壊検査方法。 Detects gamma rays or electrons generated by positron bremsstrahlung process in material and uses as start time, detects gamma rays generated by annihilation of positron and electrons as stop time, and measures lifetime of positron from the time difference The nondestructive inspection method according to claim 1. ミュー粒子の運動量を変えながら上記陽電子の寿命を測定することにより、材料の奥行き方向の欠陥位置及び欠陥分布を測定することを特徴とする請求項1又は2に記載の非破壊検査方法。
The nondestructive inspection method according to claim 1 or 2, wherein the defect position and defect distribution in the depth direction of the material are measured by measuring the lifetime of the positron while changing the momentum of the muon.
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