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JP2007123540A - LIGHT EMITTING DEVICE, LIGHT EMITTING DEVICE MANUFACTURING METHOD, LIGHT EMITTING DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE - Google Patents

LIGHT EMITTING DEVICE, LIGHT EMITTING DEVICE MANUFACTURING METHOD, LIGHT EMITTING DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE Download PDF

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JP2007123540A
JP2007123540A JP2005313498A JP2005313498A JP2007123540A JP 2007123540 A JP2007123540 A JP 2007123540A JP 2005313498 A JP2005313498 A JP 2005313498A JP 2005313498 A JP2005313498 A JP 2005313498A JP 2007123540 A JP2007123540 A JP 2007123540A
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JP
Japan
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light emitting
cathode
layer
protective layer
light
Prior art date
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Pending
Application number
JP2005313498A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Takashima
猛 高島
Rie Makiura
理恵 牧浦
Tomoyuki Okuyama
智幸 奥山
Hirofumi Hokari
宏文 保刈
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Priority to JP2005313498A priority Critical patent/JP2007123540A/en
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Abstract

【課題】陽極側からの発光層の発光を取り出し可能であり、かつ、発光効率等の特性に優れる発光素子、かかる発光素子を製造することができる発光素子の製造方法、この発光素子を備えた信頼性の高い発光装置および電子機器を提供すること。
【解決手段】発光素子1は、陽極8と、アルカリ金属およびアルカリ土類金属のうちの少なくとも1種の金属を含む陰極3と、陽極8と陰極3との間に設けられた有機半導体層7とを有し、陰極3と陽極8との間に通電することにより、有機半導体層7が発光し、この発光を陽極8側から取り出すように構成した発光素子1であり、陰極3と有機半導体層7との間に設けられた、ガスバリア性を有する保護層4を備えることを特徴とする。
【選択図】図1
A light emitting device capable of extracting light emitted from a light emitting layer from an anode side and having excellent characteristics such as light emission efficiency, a method of manufacturing a light emitting device capable of manufacturing such a light emitting device, and the light emitting device To provide a highly reliable light-emitting device and electronic device.
A light-emitting element includes an anode, a cathode containing at least one of an alkali metal and an alkaline earth metal, and an organic semiconductor layer provided between the anode and the cathode. The organic semiconductor layer 7 emits light when energized between the cathode 3 and the anode 8, and this light emission is extracted from the anode 8 side. A protective layer 4 having a gas barrier property provided between the layer 7 and the layer 7 is provided.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、発光素子、発光素子の製造方法、発光装置および電子機器に関するものである。   The present invention relates to a light emitting element, a method for manufacturing the light emitting element, a light emitting device, and an electronic apparatus.

有機半導体材料を使用したエレクトロルミネッセンス素子(有機EL素子)は、固体発光型の安価な大面積フルカラー表示装置が備える発光素子としての用途が有望視され、多くの開発が行われている(例えば、特許文献1参照)。
一般に、有機EL素子は、陰極と陽極との間に発光層(有機半導体層)を有する構成であり、陰極と陽極との間に電界を印加すると、発光層に陰極側から電子が注入され、陽極側から正孔が注入される。
An electroluminescence element (organic EL element) using an organic semiconductor material is expected to be used as a light-emitting element included in an inexpensive large-area full-color display device of solid-state light emission type, and many developments are performed (for example, Patent Document 1).
In general, an organic EL element is configured to have a light emitting layer (organic semiconductor layer) between a cathode and an anode, and when an electric field is applied between the cathode and the anode, electrons are injected into the light emitting layer from the cathode side, Holes are injected from the anode side.

そして、注入された電子と正孔とが発光層において再結合し、エネルギー準位が伝導帯から価電子帯に戻る際の失活エネルギーの少なくとも一部を光エネルギーとして放出することにより、発光層が発光する。
例えば、特許文献2には、基板上に陽極、発光層および透明な陰極をこの順で設け、基板と反対側(陰極側)から、発光層の発光を取り出すトップエミッション構造の有機EL素子が提案されている。
Then, the injected electrons and holes are recombined in the light emitting layer, and at least a part of the deactivation energy when the energy level returns from the conduction band to the valence band is emitted as light energy, whereby the light emitting layer Emits light.
For example, Patent Document 2 proposes an organic EL element having a top emission structure in which an anode, a light emitting layer, and a transparent cathode are provided in this order on a substrate, and light emitted from the light emitting layer is extracted from the side opposite to the substrate (cathode side). Has been.

通常、かかる構成の有機EL素子では、陰極から発光層への電子の注入効率を向上させることを目的に、陰極と発光層との間に、リチウムのようなアルカリ金属やカルシウムのようなアルカリ土類金属を主材料として構成される中間層が設けられることが多い。
ところが、中間層は透明性が低いため、この中間層の存在により、陰極側からの光の取り出し効率が低下するという問題がある。
かかる問題を解決し得るものとして、例えば、基板上に陰極、発光層および透明な陽極をこの順で設け、陰極自体を上述したようなアルカリ金属またはアルカリ土類金属を主材料として構成する構成の有機EL素子が考えられる。
Usually, in an organic EL device having such a configuration, an alkali metal such as lithium or an alkaline earth such as calcium is interposed between the cathode and the light emitting layer for the purpose of improving the efficiency of electron injection from the cathode to the light emitting layer. An intermediate layer composed mainly of a similar metal is often provided.
However, since the intermediate layer has low transparency, the presence of this intermediate layer has a problem in that the light extraction efficiency from the cathode side decreases.
As a solution to such a problem, for example, a cathode, a light emitting layer, and a transparent anode are provided in this order on a substrate, and the cathode itself is composed of an alkali metal or an alkaline earth metal as described above as a main material. An organic EL element can be considered.

かかる構成の有機EL素子を製造する場合、発光層を形成するのに先立って、陰極を設けておく必要があるが、アルカリ金属またはアルカリ土類金属は極めて反応性が高いため、これらの金属(陰極)は、発光層を形成する際に、その雰囲気中に存在する水分や酸素のような酸素含有物質と接触することにより容易に変質・劣化する。そして、アルカリ金属またはアルカリ土類金属に変質・劣化が生じると、すなわち陰極に変質・劣化が生じると、陰極から発光層への電子の注入が円滑に行われず、有機EL素子の発光効率等の特性が十分に得られないという問題がある。   When an organic EL device having such a structure is produced, it is necessary to provide a cathode prior to forming the light emitting layer. However, since alkali metals or alkaline earth metals are extremely reactive, these metals ( When the light emitting layer is formed, the cathode is easily deteriorated and deteriorated by contacting with an oxygen-containing substance such as moisture or oxygen present in the atmosphere. When the alkali metal or alkaline earth metal is altered or deteriorated, that is, when the cathode is altered or deteriorated, electrons are not smoothly injected from the cathode into the light emitting layer. There is a problem that sufficient characteristics cannot be obtained.

特開平10−153967号公報JP-A-10-153967 特開平8−185984号公報JP-A-8-185984

本発明の目的は、陽極側からの有機半導体層の発光を取り出し可能であり、かつ、発光効率等の特性に優れる発光素子、かかる発光素子を製造することができる発光素子の製造方法、この発光素子を備えた信頼性の高い発光装置および電子機器を提供することにある。   An object of the present invention is to make it possible to take out light emitted from the organic semiconductor layer from the anode side and to have excellent characteristics such as luminous efficiency, a method for producing a light emitting element capable of producing such a light emitting element, and the light emission. It is an object to provide a highly reliable light-emitting device and electronic device including an element.

このような目的は、下記の本発明により達成される。
本発明の発光素子は、陽極と、
アルカリ金属およびアルカリ土類金属のうちの少なくとも1種の金属を含む陰極と、
前記陽極と前記陰極との間に設けられた有機半導体層と、
前記陰極と前記有機半導体層との間に設けられたガスバリア性を有する保護層と、を備えることを特徴とする。
これにより、陽極側から有機半導体層の発光を取り出し可能であり、かつ、発光効率等の特性に優れる発光素子となる。
Such an object is achieved by the present invention described below.
The light emitting device of the present invention comprises an anode,
A cathode comprising at least one of an alkali metal and an alkaline earth metal;
An organic semiconductor layer provided between the anode and the cathode;
And a protective layer having a gas barrier property provided between the cathode and the organic semiconductor layer.
Thereby, light emission of the organic semiconductor layer can be taken out from the anode side, and the light emitting element is excellent in characteristics such as light emission efficiency.

本発明の発光素子では、前記保護層は、前記陰極に接触していることが好ましい。
本発明の発光素子では、前記保護層は、その水蒸気透過度(JIS K 7129に規定)が0.01g/m・day・40℃・90%RH以下であることが好ましい。
これにより、有機半導体層を形成する際に、雰囲気中に含まれる水蒸気が陰極に接触するのを防止または抑制することができる。ところで、陰極に含まれるアルカリ金属およびアルカリ土類金属は、極めて反応性が高いものであるが、保護層の存在により水蒸気に接触することが防止または抑制されるため、その変質・劣化がないか、極めて少ない。これにより、陰極は、発光素子の完成後においても、発光層に対する高い電子注入効率を維持する。
In the light emitting device of the present invention, it is preferable that the protective layer is in contact with the cathode.
In the light emitting device of the present invention, the protective layer preferably has a water vapor permeability (specified in JIS K 7129) of 0.01 g / m 2 · day · 40 ° C. · 90% RH or less.
Thereby, when forming an organic-semiconductor layer, it can prevent or suppress that the water vapor | steam contained in atmosphere contacts a cathode. By the way, although the alkali metal and alkaline earth metal contained in the cathode are extremely reactive, contact with water vapor is prevented or suppressed by the presence of the protective layer, so is there any alteration or deterioration of the metal? , Very few. Accordingly, the cathode maintains high electron injection efficiency for the light emitting layer even after the light emitting element is completed.

本発明の発光素子では、前記保護層は、その酸素透過度(JIS K 7126に規定)が0.05ml/m・day・MPa・20℃・100%RH以下であることが好ましい。
これにより、有機半導体層を形成する際に、雰囲気中に含まれる酸素が陰極に接触するのを防止または抑制することができる。ところで、陰極に含まれるアルカリ金属およびアルカリ土類金属は、極めて反応性が高いものであるが、保護層の存在により酸素に接触することが防止または抑制されるため、その変質・劣化がないか、極めて少ない。これにより、陰極は、発光素子の完成後においても、発光層に対する高い電子注入効率を維持する。
In the light emitting device of the present invention, the protective layer preferably has an oxygen permeability (specified in JIS K 7126) of 0.05 ml / m 2 · day · MPa · 20 ° C. · 100% RH or less.
Thereby, when forming an organic-semiconductor layer, it can prevent or suppress that the oxygen contained in atmosphere contacts a cathode. By the way, the alkali metal and alkaline earth metal contained in the cathode are highly reactive, but contact with oxygen is prevented or suppressed by the presence of the protective layer, so is there any alteration or deterioration of the metal? , Very few. Accordingly, the cathode maintains high electron injection efficiency for the light emitting layer even after the light emitting element is completed.

本発明の発光素子では、前記保護層は、絶縁性を有する材料を主材料として構成されていることが好ましい。
絶縁性を有する材料を主材料として構成される膜は、一般的に、優れたガスバリア性を発揮することから、保護層の構成材料として好適に用いることができる。
本発明の発光素子では、前記絶縁性を有する材料は、無機窒化物であることが好ましい。
かかる材料を主材料として構成される保護層を、ガスバリア性を有し、かつ、陰極から発光層への電子の注入を阻害しないものとすることができる。
In the light emitting device of the present invention, it is preferable that the protective layer is composed mainly of an insulating material.
Since a film composed mainly of an insulating material generally exhibits excellent gas barrier properties, it can be suitably used as a constituent material for a protective layer.
In the light emitting device of the present invention, the insulating material is preferably an inorganic nitride.
A protective layer composed mainly of such a material can have a gas barrier property and does not inhibit the injection of electrons from the cathode to the light emitting layer.

本発明の発光素子では、前記絶縁性を有する材料は、プラズマ重合で得られた炭素系物質であることが好ましい。
かかる材料を主材料として構成される保護層を、ガスバリア性を有し、かつ、陰極から発光層への電子の注入を阻害しないものとすることができる。
本発明の発光素子では、前記絶縁性を有する材料は、ポリパラキシリレンであることが好ましい。
かかる材料を主材料として構成される保護層を、ガスバリア性を有し、かつ、陰極から発光層への電子の注入を阻害しないものとすることができる。
In the light emitting device of the present invention, the insulating material is preferably a carbon-based material obtained by plasma polymerization.
A protective layer composed mainly of such a material can have a gas barrier property and does not inhibit the injection of electrons from the cathode to the light emitting layer.
In the light-emitting element of the present invention, the insulating material is preferably polyparaxylylene.
A protective layer composed mainly of such a material can have a gas barrier property and does not inhibit the injection of electrons from the cathode to the light emitting layer.

本発明の発光素子では、前記保護層は、その平均厚さが1〜20nmであることが好ましい。
これにより、保護層を、ガスバリア性を有し、かつ、陰極から発光層への電子の注入を阻害しないものとすることができる。
本発明の発光素子では、前記有機半導体層は、発光層を含む複数層の積層体で構成されていることが好ましい。
本発明の発光素子の製造方法では、アルカリ金属およびアルカリ土類金属のうちの少なくとも1種の金属を含む陰極を覆うように、非酸化性雰囲気中で、ガスバリア性を有する保護層を形成する第1の工程と、
該保護層の前記陰極と反対側に、前記有機半導体層を形成する第2の工程と、
該有機半導体層の前記陰極と反対側に、陽極を形成する第3の工程とを有し、
前記第2の工程において、前記有機半導体層を形成する際に、前記保護層の存在により、雰囲気中に含まれる酸素含有物質の前記陰極への接触を防止または抑制することを特徴とする。
これにより、陽極側から有機半導体層の発光を取り出し可能であり、かつ、発光効率等の特性に優れる発光素子を製造することができる。
In the light emitting device of the present invention, the protective layer preferably has an average thickness of 1 to 20 nm.
Thereby, the protective layer can have a gas barrier property and does not inhibit the injection of electrons from the cathode to the light emitting layer.
In the light emitting device of the present invention, the organic semiconductor layer is preferably composed of a multilayered structure including a light emitting layer.
In the method for manufacturing a light-emitting element according to the present invention, a protective layer having a gas barrier property is formed in a non-oxidizing atmosphere so as to cover a cathode containing at least one of an alkali metal and an alkaline earth metal. 1 process,
A second step of forming the organic semiconductor layer on the opposite side of the protective layer from the cathode;
A third step of forming an anode on the opposite side of the organic semiconductor layer from the cathode;
In the second step, when the organic semiconductor layer is formed, the presence of the protective layer prevents or suppresses contact of the oxygen-containing substance contained in the atmosphere with the cathode.
Thereby, light emission of the organic semiconductor layer can be taken out from the anode side, and a light emitting element excellent in characteristics such as light emission efficiency can be manufactured.

本発明の発光素子の製造方法では、前記第2の工程において、前記有機半導体層の少なくとも前記保護層に接触する部分を液相プロセスにより形成することが好ましい。
これにより、液相プロセスに用いられる液状材料中に含まれる溶媒または分散媒が陰極に接触するのを好適に防止または抑制することができる。その結果、アルカリ金属およびアルカリ土類金属のうちの少なくとも1種の金属の酸素含有物質と接触することによる変質・劣化を好適に防止または抑制することができる。
本発明の発光装置は、本発明の発光素子を備えることを特徴とする。
これにより、信頼性の高い発光装置が得られる。
本発明の電子機器は、本発明の発光装置を備えることを特徴とする。
これにより、信頼性の高い電子機器が得られる。
In the method for manufacturing a light emitting element of the present invention, in the second step, it is preferable that at least a portion of the organic semiconductor layer that contacts the protective layer is formed by a liquid phase process.
Thereby, it can prevent or suppress suitably that the solvent or dispersion medium contained in the liquid material used for a liquid phase process contacts a cathode. As a result, alteration / deterioration due to contact with an oxygen-containing substance of at least one of alkali metals and alkaline earth metals can be suitably prevented or suppressed.
The light-emitting device of the present invention includes the light-emitting element of the present invention.
Thereby, a highly reliable light-emitting device can be obtained.
An electronic apparatus according to the present invention includes the light emitting device according to the present invention.
Thereby, a highly reliable electronic device can be obtained.

以下、本発明の発光素子、発光素子の製造方法、発光装置および電子機器を添付図面に示す好適な実施形態について説明する。
なお、以下では、本発明の発光装置を、アクティブマトリックス型表示装置に適用した場合を一例に説明する。
<アクティブマトリックス型表示装置>
図1は、本発明の発光装置を適用したアクティブマトリックス型表示装置の一例を示す縦断面図、図2は、図1に示すアクティブマトリックス型表示装置の製造方法を説明するための図(縦断面図)である。なお、以下の説明では、図1〜図2中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of a light-emitting element, a method for manufacturing a light-emitting element, a light-emitting device, and an electronic apparatus according to the invention will be described with reference to the accompanying drawings.
Hereinafter, a case where the light-emitting device of the present invention is applied to an active matrix display device will be described as an example.
<Active matrix display device>
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing an example of an active matrix type display device to which the light emitting device of the present invention is applied. FIG. 2 is a diagram for explaining a method of manufacturing the active matrix type display device shown in FIG. Figure). In the following description, the upper side in FIGS. 1 to 2 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.

図1に示すアクティブマトリックス型表示装置(以下、単に「表示装置」と言う。)10は、TFT回路基板(対向基板)20と、この基体20上に設けられた有機EL素子(本発明の発光素子)1と、TFT回路基板20に対向する上基板9とを有している。
TFT回路基板20は、基板21と、この基板21上に形成された回路部22とを有している。
An active matrix display device (hereinafter simply referred to as a “display device”) 10 shown in FIG. 1 includes a TFT circuit substrate (counter substrate) 20 and an organic EL element (light emission of the present invention) provided on the substrate 20. Element) 1 and an upper substrate 9 facing the TFT circuit substrate 20.
The TFT circuit substrate 20 includes a substrate 21 and a circuit unit 22 formed on the substrate 21.

基板21は、表示装置10を構成する各部の支持体となるものであり、上基板9は、例えば、有機EL素子1を保護する保護膜等として機能するものである。
また、本実施形態の表示装置10は、上基板9(後述する陽極8)側から光を取り出す構成(トップエミッション型)であるため、上基板9は、実質的に透明(無色透明、着色透明、半透明)とされ、一方、基板21は、特に、透明性は要求されない。
このような基板21には、各種ガラス材料基板および各種樹脂基板のうち比較的硬度の高いものが好適に用いられる。
The substrate 21 serves as a support for each part constituting the display device 10, and the upper substrate 9 functions as, for example, a protective film for protecting the organic EL element 1.
In addition, since the display device 10 of the present embodiment is configured to extract light from the upper substrate 9 (anode 8 described later) side (top emission type), the upper substrate 9 is substantially transparent (colorless and transparent, colored and transparent). On the other hand, the substrate 21 is not particularly required to be transparent.
As such a substrate 21, a substrate having a relatively high hardness among various glass material substrates and various resin substrates is suitably used.

一方、上基板9には、各種ガラス材料基板および各種樹脂基板のうち透明なものが選択され、例えば、石英ガラス、ソーダガラスのようなガラス材料や、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリプロピレン、シクロオレフィンポリマー、ポリアミド、ポリエーテルサルフォン、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、ポリアリレートのような樹脂材料等を主材料として構成される基板を用いることができる。   On the other hand, a transparent one of various glass material substrates and various resin substrates is selected as the upper substrate 9, for example, a glass material such as quartz glass and soda glass, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polypropylene, cycloolefin. A substrate composed mainly of a resin material such as polymer, polyamide, polyethersulfone, polymethyl methacrylate, polycarbonate, polyarylate, or the like can be used.

基板21の平均厚さは、特に限定されないが、1〜30mm程度であるのが好ましく、5〜20mm程度であるのがより好ましい。一方、上基板9の平均厚さも、特に限定されないが、0.1〜30mm程度であるのが好ましく、0.1〜10mm程度であるのがより好ましい。
回路部22は、基板21上に形成された下地保護層23と、下地保護層23上に形成された駆動用TFT(スイッチング素子)24と、第1層間絶縁層25と、第2層間絶縁層26とを有している。
Although the average thickness of the board | substrate 21 is not specifically limited, It is preferable that it is about 1-30 mm, and it is more preferable that it is about 5-20 mm. On the other hand, the average thickness of the upper substrate 9 is not particularly limited, but is preferably about 0.1 to 30 mm, and more preferably about 0.1 to 10 mm.
The circuit unit 22 includes a base protective layer 23 formed on the substrate 21, a driving TFT (switching element) 24 formed on the base protective layer 23, a first interlayer insulating layer 25, and a second interlayer insulating layer. 26.

駆動用TFT24は、半導体層241と、半導体層241上に形成されたゲート絶縁層242と、ゲート絶縁層242上に形成されたゲート電極243と、ソース電極244と、ドレイン電極245とを有している。
このような回路部22上に、各駆動用TFT24に対応して、それぞれ、有機EL素子1が設けられている。また、隣接する有機EL素子1同士は、第1隔壁部31および第2隔壁部32により構成される隔壁部(バンク)35により区画されている。
The driving TFT 24 includes a semiconductor layer 241, a gate insulating layer 242 formed on the semiconductor layer 241, a gate electrode 243 formed on the gate insulating layer 242, a source electrode 244, and a drain electrode 245. ing.
On such a circuit portion 22, the organic EL elements 1 are provided corresponding to the respective driving TFTs 24. Adjacent organic EL elements 1 are partitioned by a partition wall (bank) 35 including a first partition wall 31 and a second partition wall 32.

本実施形態では、各有機EL素子1の陰極3は、画素電極を構成し、各駆動用TFT24のドレイン電極245に配線27により電気的に接続されている。また、保護層4と、発光層5および正孔輸送層6を備える有機半導体層7とは、各有機EL素子1に対して個別に形成されており、陽極8は、共通電極とされている。
表示装置10は、単色表示であってもよく、各有機EL素子1に用いる発光材料を選択することにより、カラー表示も可能である。
In the present embodiment, the cathode 3 of each organic EL element 1 constitutes a pixel electrode and is electrically connected to the drain electrode 245 of each driving TFT 24 by the wiring 27. The protective layer 4 and the organic semiconductor layer 7 including the light emitting layer 5 and the hole transport layer 6 are individually formed for each organic EL element 1, and the anode 8 is a common electrode. .
The display device 10 may be monochromatic display, and color display is also possible by selecting a light emitting material used for each organic EL element 1.

以下、この有機EL素子(本発明の発光素子)1について詳述する。
図1に示すように、有機EL素子1は、陰極3と、陽極8と、陰極3と陽極8との間に、陰極3側から順に、ガスバリア性を有する保護層4と、有機半導体層7とを有している。なお、本実施形態では、有機半導体層7は、陰極3側から発光層5と正孔輸送層6とがこの順で積層された積層体となっている。
Hereinafter, the organic EL element (the light emitting element of the present invention) 1 will be described in detail.
As shown in FIG. 1, the organic EL element 1 includes a cathode 3, an anode 8, a protective layer 4 having a gas barrier property, and an organic semiconductor layer 7 between the cathode 3 and the anode 8 in this order from the cathode 3 side. And have. In the present embodiment, the organic semiconductor layer 7 is a laminate in which the light emitting layer 5 and the hole transport layer 6 are laminated in this order from the cathode 3 side.

陰極3は、保護層4を介して、発光層5に電子を注入する電極である。
本発明の発光素子(有機EL素子1)では、この陰極3がLi、Na、K、Rb、CsおよびFrからなるアルカリ金属、および、Be、Mg、Ca、Sr、BaおよびRaからなるアルカリ土類金属のうちの少なくとも1種の金属を含む構成となっている。
これらの金属は、仕事関数の小さい材料であることから、陰極3をかかる金属を含む構成とすることにより、保護層4を介した陰極3から発光層5への電子の注入を円滑に行うことができる。
The cathode 3 is an electrode for injecting electrons into the light emitting layer 5 through the protective layer 4.
In the light emitting device (organic EL device 1) of the present invention, the cathode 3 is an alkaline metal composed of Li, Na, K, Rb, Cs and Fr, and an alkaline earth composed of Be, Mg, Ca, Sr, Ba and Ra. The structure includes at least one kind of metal.
Since these metals are materials having a low work function, electrons are smoothly injected from the cathode 3 to the light emitting layer 5 through the protective layer 4 by configuring the cathode 3 to include such a metal. Can do.

また、陰極3の構成材料として、上述したような金属を含む合金を用いる場合には、Ag、Al、Cu等の安定な金属を含む合金、具体的には、MgAg、AlLi、CuLi等の合金を用いるようにすればよい。かかる合金を陰極3の構成材料として用いることにより、電子の発光層5への注入効率および陰極3の安定性の向上を図ることができる。
陰極3の平均厚さは、特に限定されないが、10〜500nm程度であるのが好ましく、50〜200nm程度であるのがより好ましい。陰極3の厚さが薄すぎると、陰極3の機能が充分に発揮されなくなるおそれがあり、一方、陰極3が厚過ぎると、有機EL素子1の発光効率等の特性が低下するおそれがある。
Further, when an alloy containing a metal as described above is used as a constituent material of the cathode 3, an alloy containing a stable metal such as Ag, Al, or Cu, specifically, an alloy such as MgAg, AlLi, or CuLi. May be used. By using such an alloy as the constituent material of the cathode 3, it is possible to improve the injection efficiency of electrons into the light emitting layer 5 and the stability of the cathode 3.
The average thickness of the cathode 3 is not particularly limited, but is preferably about 10 to 500 nm, and more preferably about 50 to 200 nm. If the thickness of the cathode 3 is too thin, the function of the cathode 3 may not be sufficiently exhibited. On the other hand, if the cathode 3 is too thick, characteristics such as the light emission efficiency of the organic EL element 1 may be deteriorated.

一方、陽極8は、正孔輸送層6に正孔を注入する電極である。
この陽極8の構成材料(陽極材料)としては、表示装置10が陽極8側から光を取り出すトップエミッション構造であるため透光性を有する導電性材料が選択され、特に、仕事関数が大きく、優れた導電性を有するものが好適に用いられる。
このような陽極8の構成材料としては、インジウムティンオキサイド(ITO)、フッ素含有インジウムティンオキサイド(FITO)、アンチモンティンオキサイド(ATO)、インジウムジンクオキサイド(IZO)、アルミニウムジンクオキサイド(AZO)、酸化スズ(SnO)、酸化亜鉛(ZnO)、フッ素含有酸化スズ(FTO)、フッ素含有インジウムオキサイド(FIO)、インジウムオキサイド(IO)、等の透明導電性材料が挙げられ、これらのうちの少なくとも1種を用いることができる。
On the other hand, the anode 8 is an electrode that injects holes into the hole transport layer 6.
As the constituent material of the anode 8 (anode material), a conductive material having translucency is selected because the display device 10 has a top emission structure in which light is extracted from the anode 8 side. Those having high conductivity are preferably used.
Examples of the constituent material of the anode 8 include indium tin oxide (ITO), fluorine-containing indium tin oxide (FITO), antimony tin oxide (ATO), indium zinc oxide (IZO), aluminum zinc oxide (AZO), and tin oxide. Examples include transparent conductive materials such as (SnO 2 ), zinc oxide (ZnO), fluorine-containing tin oxide (FTO), fluorine-containing indium oxide (FIO), and indium oxide (IO), and at least one of these materials Can be used.

陽極8の平均厚さは、特に限定されないが、10〜2000nm程度であるのが好ましく、100〜1000nm程度であるのがより好ましい。陽極8の厚さが薄すぎると、陽極8としての機能が充分に発揮されなくなるおそれがあり、一方、陽極8が厚過ぎると、陽極材料の種類等によっては、光の透過率が低下して、トップエミッション型の構造を有する有機EL素子1として、実用に適さなくなるおそれがある。   The average thickness of the anode 8 is not particularly limited, but is preferably about 10 to 2000 nm, and more preferably about 100 to 1000 nm. If the thickness of the anode 8 is too thin, the function as the anode 8 may not be sufficiently exhibited. On the other hand, if the anode 8 is too thick, the light transmittance may decrease depending on the type of the anode material. The organic EL element 1 having a top emission type structure may not be suitable for practical use.

このような陽極8は、その光(可視光領域)の透過率が好ましくは60%以上、より好ましくは80%以上となっている。これにより、光を効率よく陽極8側から取り出すことができる。
陰極3と陽極8との間には、前述したように、保護層4と、発光層5および正孔輸送層6を備える有機半導体層7とが設けられている。
Such an anode 8 has a light transmittance (visible light region) of preferably 60% or more, more preferably 80% or more. Thereby, light can be efficiently extracted from the anode 8 side.
As described above, the protective layer 4 and the organic semiconductor layer 7 including the light emitting layer 5 and the hole transport layer 6 are provided between the cathode 3 and the anode 8.

保護層4は、陰極3と有機半導体層7(発光層5)との双方に接触するように設けられ、発光層5側から陰極3側への水分(水蒸気)や酸素のような酸素含有物質の移動を防止または抑制するガスバリア性を有するものであり、陰極3から発光層5への電子の注入を阻害しないようにその厚さが設定されている。この保護層4の構成については、有機EL素子1の製造方法において詳述する。   The protective layer 4 is provided so as to be in contact with both the cathode 3 and the organic semiconductor layer 7 (light emitting layer 5), and an oxygen-containing substance such as moisture (water vapor) or oxygen from the light emitting layer 5 side to the cathode 3 side. The thickness is set so as not to hinder the injection of electrons from the cathode 3 to the light emitting layer 5. The configuration of the protective layer 4 will be described in detail in the method for manufacturing the organic EL element 1.

また、正孔輸送層6は、陽極8から注入された正孔を発光層5まで輸送する機能を有するものである。
この正孔輸送層6の構成材料(正孔輸送材料)としては、例えば、ポリアリールアミン、フルオレン−アリールアミン共重合体、フルオレン−ビチオフェン共重合体、ポリ(N−ビニルカルバゾール)、ポリビニルピレン、ポリビニルアントラセン、ポリチオフェン、ポリアルキルチオフェン、ポリヘキシルチオフェン、ポリ(p−フェニレンビニレン)、ポリチニレンビニレン、ピレンホルムアルデヒド樹脂、エチルカルバゾールホルムアルデヒド樹脂またはその誘導体等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。
The hole transport layer 6 has a function of transporting holes injected from the anode 8 to the light emitting layer 5.
Examples of the constituent material (hole transport material) of the hole transport layer 6 include polyarylamine, fluorene-arylamine copolymer, fluorene-bithiophene copolymer, poly (N-vinylcarbazole), polyvinylpyrene, Polyvinylanthracene, polythiophene, polyalkylthiophene, polyhexylthiophene, poly (p-phenylene vinylene), polytinylene vinylene, pyrene formaldehyde resin, ethyl carbazole formaldehyde resin or derivatives thereof, and the like, one or two of these A combination of more than one species can be used.

また、前記化合物は、他の化合物との混合物として用いることもできる。一例として、ポリチオフェンを含有する混合物としては、ポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン/スチレンスルホン酸)(PEDOT/PSS)等が挙げられる。
なお、正孔輸送材料としては、上述したような高分子材料や低分子材料のような有機系材料の他、例えば、MoO、V、TiO、Cu(II)O、Cu(I)O、NiO、CoOのような金属酸化物を用いることもできる。
Moreover, the said compound can also be used as a mixture with another compound. As an example, the polythiophene-containing mixture includes poly (3,4-ethylenedioxythiophene / styrene sulfonic acid) (PEDOT / PSS).
As the hole transport material, in addition to organic materials such as the above-described polymer materials and low molecular materials, for example, MoO 3 , V 2 O 5 , TiO 2 , Cu (II) O, Cu ( I) Metal oxides such as 2 O, NiO and CoO can also be used.

このような正孔輸送層6の平均厚さは、特に限定されないが、5〜150nm程度であるのが好ましく、50〜100nm程度であるのがより好ましい。
なお、陽極8と正孔輸送層6との間には、例えば、陽極8からの正孔注入効率を向上させる正孔注入層を設けるようにしてもよい。
この正孔注入層の構成材料(正孔注入材料)としては、例えば、銅フタロシアニンや、4,4’,4’’−トリス(N,N−フェニル−3−メチルフェニルアミノ)トリフェニルアミン(m−MTDATA)等が挙げられる。
The average thickness of the hole transport layer 6 is not particularly limited, but is preferably about 5 to 150 nm, and more preferably about 50 to 100 nm.
Note that a hole injection layer that improves the hole injection efficiency from the anode 8 may be provided between the anode 8 and the hole transport layer 6, for example.
As a constituent material (hole injection material) of this hole injection layer, for example, copper phthalocyanine, 4,4 ′, 4 ″ -tris (N, N-phenyl-3-methylphenylamino) triphenylamine ( m-MTDATA) and the like.

ここで、陰極3と陽極8との間に通電(電圧を印加)すると、正孔輸送層6中を移動した正孔が発光層5に注入され、また、陰極3から保護層4を介して電子が発光層5に注入され、この発光層5において正孔と電子とが再結合する。そして、発光層5ではエキシトン(励起子)が生成し、このエキシトンが基底状態に戻る際にエネルギー(蛍光やりん光)を放出(発光)する。   Here, when current is applied (voltage is applied) between the cathode 3 and the anode 8, holes that have moved through the hole transport layer 6 are injected into the light emitting layer 5, and from the cathode 3 through the protective layer 4. Electrons are injected into the light emitting layer 5, and holes and electrons are recombined in the light emitting layer 5. And in the light emitting layer 5, an exciton (exciton) produces | generates, and when this exciton returns to a ground state, energy (fluorescence and phosphorescence) is discharge | released (light emission).

発光層5の構成材料(発光材料)としては、例えば、1,3,5−トリス[(3−フェニル−6−トリ−フルオロメチル)キノキサリン−2−イル]ベンゼン(TPQ1)、1,3,5−トリス[{3−(4−t−ブチルフェニル)−6−トリスフルオロメチル}キノキサリン−2−イル]ベンゼン(TPQ2)のようなベンゼン系化合物、フタロシアニン、銅フタロシアニン(CuPc)、鉄フタロシアニンのような金属または無金属のフタロシアニン系化合物、トリス(8−ヒドロキシキノリノレート)アルミニウム(Alq)、ファクトリス(2−フェニルピリジン)イリジウム(Ir(ppy))のような低分子系のものや、オキサジアゾール系高分子、トリアゾール系高分子、カルバゾール系高分子、フルオレン系高分子のような高分子系のものが挙げられ、これらの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。各種の高分子材料や、各種の低分子材料を単独または組み合わせて用いることができる。 Examples of the constituent material (luminescent material) of the light emitting layer 5 include 1,3,5-tris [(3-phenyl-6-tri-fluoromethyl) quinoxalin-2-yl] benzene (TPQ1), 1,3, Of benzene compounds such as 5-tris [{3- (4-t-butylphenyl) -6-trisfluoromethyl} quinoxalin-2-yl] benzene (TPQ2), phthalocyanine, copper phthalocyanine (CuPc), iron phthalocyanine Low molecular weight compounds such as metal or metal-free phthalocyanine compounds such as tris (8-hydroxyquinolinolate) aluminum (Alq 3 ), factory (2-phenylpyridine) iridium (Ir (ppy) 3 ) Oxadiazole polymer, triazole polymer, carbazole polymer, fluorene polymer Such polymer-based ones can be mentioned, and one or more of these can be used in combination. Various polymer materials and various low molecular materials can be used alone or in combination.

発光層5の平均厚さは、特に限定されないが、10〜150nm程度であるのが好ましく、50〜100nm程度であるのがより好ましい。
なお、陰極3と発光層5との間には、例えば、陰極3から注入された電子を発光層5まで輸送する機能を有する電子輸送層を設けるようにしてもよい。さらには、この電子輸送層と陰極3との間に、陰極3から電子輸送層への電子の注入効率を向上させる電子注入層を設けるようにしてもよい。
Although the average thickness of the light emitting layer 5 is not specifically limited, It is preferable that it is about 10-150 nm, and it is more preferable that it is about 50-100 nm.
An electron transport layer having a function of transporting electrons injected from the cathode 3 to the light emitting layer 5 may be provided between the cathode 3 and the light emitting layer 5, for example. Furthermore, an electron injection layer that improves the injection efficiency of electrons from the cathode 3 to the electron transport layer may be provided between the electron transport layer and the cathode 3.

電子輸送層の構成材料(電子輸送材料)としては、例えば、1,3,5−トリス[(3−フェニル−6−トリ−フルオロメチル)キノキサリン−2−イル]ベンゼン(TPQ1)、1,3,5−トリス[{3−(4−t−ブチルフェニル)−6−トリスフルオロメチル}キノキサリン−2−イル]ベンゼン(TPQ2)のようなベンゼン系化合物、ナフタレン系化合物、フェナントレン系化合物、クリセン系化合物、ペリレン系化合物、アントラセン系化合物、ピレン系化合物、アクリジン系化合物、スチルベン系化合物、BBOTのようなチオフェン系化合物、ブタジエン系化合物、クマリン系化合物、キノリン系化合物、ビスチリル系化合物、ジスチリルピラジンのようなピラジン系化合物、キノキサリン系化合物、2,5−ジフェニル−パラ−ベンゾキノンのようなベンゾキノン系化合物、ナフトキノン系化合物、アントラキノン系化合物、2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール(PBD)のようなオキサジアゾール系化合物、3,4,5−トリフェニル−1,2,4−トリアゾールのようなトリアゾール系化合物、オキサゾール系化合物、アントロン系化合物、1,3,8−トリニトロ−フルオレノン(TNF)のようなフルオレノン系化合物、MBDQのようなジフェノキノン系化合物、MBSQのようなスチルベンキノン系化合物、アントラキノジメタン系化合物、チオピランジオキシド系化合物、フルオレニリデンメタン系化合物、ジフェニルジシアノエチレン系化合物、フローレン系化合物、8−ヒドロキシキノリン アルミニウム(Alq)、ベンゾオキサゾールやベンゾチアゾールを配位子とする錯体のような各種金属錯体等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせてもちいることができる。 As a constituent material (electron transport material) of the electron transport layer, for example, 1,3,5-tris [(3-phenyl-6-tri-fluoromethyl) quinoxalin-2-yl] benzene (TPQ1), 1,3 , 5-tris [{3- (4-t-butylphenyl) -6-trisfluoromethyl} quinoxalin-2-yl] benzene (TPQ2), naphthalene compound, phenanthrene compound, chrysene Compounds, perylene compounds, anthracene compounds, pyrene compounds, acridine compounds, stilbene compounds, thiophene compounds such as BBOT, butadiene compounds, coumarin compounds, quinoline compounds, bistyryl compounds, distyryl pyrazines Pyrazine compounds, quinoxaline compounds, 2,5-diphenyl Benzoquinone compounds such as para-benzoquinone, naphthoquinone compounds, anthraquinone compounds, 2- (4-biphenylyl) -5- (4-t-butylphenyl) -1,3,4-oxadiazole (PBD) Oxadiazole compounds, triazole compounds such as 3,4,5-triphenyl-1,2,4-triazole, oxazole compounds, anthrone compounds, 1,3,8-trinitro-fluorenone (TNF) ) Fluorenone compounds, MBDQ diphenoquinone compounds, MBSQ stilbenequinone compounds, anthraquinodimethane compounds, thiopyrandioxide compounds, fluorenylidenemethane compounds, diphenyldicyanoethylene compounds Compounds, fluorene compounds, 8-hydroxy Quinoline aluminum (Alq 3), include various metal complexes such as complexes that benzoxazole or benzothiazole as a ligand and the like, may be used singly or in combination of two or more of them.

電子輸送層の平均厚さは、特に限定されないが、1〜100nm程度であるのが好ましく、20〜50nm程度であるのがより好ましい。
また、電子注入層の構成材料(電子注入材料)としては、例えば、8−ヒドロキシキノリン、オキサジアゾール、または、これらの誘導体(例えば、8−ヒドロキシキノリンを含む金属キレートオキシノイド化合物)等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上組み合わせて用いることができる。
Although the average thickness of an electron carrying layer is not specifically limited, It is preferable that it is about 1-100 nm, and it is more preferable that it is about 20-50 nm.
Examples of the constituent material (electron injection material) of the electron injection layer include 8-hydroxyquinoline, oxadiazole, or derivatives thereof (for example, metal chelate oxinoid compounds containing 8-hydroxyquinoline). These can be used alone or in combination of two or more.

なお、有機半導体層7は、本実施形態のように、発光層5と正孔輸送層6とにより構成される積層体すなわち発光層5を含む複数層の積層体である場合の他、例えば、発光層5で構成される単層体であってもよい。
また、本実施形態では、保護層4が陰極3と有機半導体層7との双方に接触するように設けられている場合について説明したが、このような場合に限定されず、保護層4と陰極3との間および保護層4と有機半導体層7との間の一方または双方に、例えば、陰極3側から有機半導体層7側への電子の注入効率を向上させる中間層を設けるようにしてもよい。
このような表示装置10は、例えば、次のような製造方法により製造することができる。
In addition to the case where the organic semiconductor layer 7 is a stacked body including the light emitting layer 5 and the hole transport layer 6, that is, a multilayered structure including the light emitting layer 5, as in the present embodiment, for example, A monolayer composed of the light emitting layer 5 may be used.
In the present embodiment, the case where the protective layer 4 is provided so as to be in contact with both the cathode 3 and the organic semiconductor layer 7 is described. However, the present invention is not limited to such a case, and the protective layer 4 and the cathode are provided. 3, and one or both of the protective layer 4 and the organic semiconductor layer 7, for example, may be provided with an intermediate layer that improves the efficiency of electron injection from the cathode 3 side to the organic semiconductor layer 7 side. Good.
Such a display device 10 can be manufactured by the following manufacturing method, for example.

[1]まず、TFT回路基板20を用意する。
[1−A]まず、基板21を用意し、基板21上に、例えば、TEOS(テトラエトキシシラン)や酸素ガスなどを原料ガスとして、プラズマCVD法等により、平均厚さが約200〜500nmの酸化シリコンを主材料として構成される下地保護層23を形成する。
[1] First, the TFT circuit substrate 20 is prepared.
[1-A] First, a substrate 21 is prepared, and an average thickness of about 200 to 500 nm is formed on the substrate 21 by, for example, plasma CVD using TEOS (tetraethoxysilane) or oxygen gas as a source gas. A base protective layer 23 composed of silicon oxide as a main material is formed.

[1−B]次に、下地保護層23上に、駆動用TFT24を形成する。
[1−Ba]まず、基板21を約350℃に加熱した状態で、下地保護層23上に、例えばプラズマCVD法等により、平均厚さが約30〜70nmのアモルファスシリコンを主材料として構成される半導体膜を形成する。
[1−Bb]次いで、半導体膜に対して、レーザアニールまたは固相成長法等により結晶化処理を行い、アモルファスシリコンをポリシリコンに変化させる。
ここで、レーザアニール法では、例えば、エキシマレーザでビームの長寸が400mmのラインビームを用い、その出力強度は、例えば200mJ/cm程度に設定される。また、ラインビームについては、その短寸方向におけるレーザー強度のピーク値の90%に相当する部分が各領域毎に重なるようにラインビームを走査する。
[1-B] Next, the driving TFT 24 is formed on the base protective layer 23.
[1-Ba] First, amorphous silicon having an average thickness of about 30 to 70 nm is mainly formed on the base protective layer 23 by the plasma CVD method or the like with the substrate 21 heated to about 350 ° C. A semiconductor film is formed.
[1-Bb] Next, the semiconductor film is crystallized by laser annealing, solid phase growth, or the like to change the amorphous silicon into polysilicon.
Here, in the laser annealing method, for example, a line beam with a beam length of 400 mm is used with an excimer laser, and the output intensity is set to about 200 mJ / cm 2 , for example. As for the line beam, the line beam is scanned such that a portion corresponding to 90% of the peak value of the laser intensity in the short dimension direction overlaps each region.

[1−Bc]次いで、半導体膜をパターニングして島状とし、各島状の半導体膜241を覆うように、例えば、TEOS(テトラエトキシシラン)や酸素ガスなどを原料ガスとして、プラズマCVD法等により、平均厚さが約60〜150nmの酸化シリコンまたは窒化シリコン等を主材料として構成されるゲート絶縁層242を形成する。
[1−Bd]次いで、ゲート絶縁層242上に、例えば、スパッタ法等により、アルミニウム、タンタル、モリブデン、チタン、タングステンなどの金属を主材料として構成される導電膜を形成した後、パターニングし、ゲート電極243を形成する。
[1−Be]次いで、この状態で、高濃度のリンイオンを打ち込んで、ゲート電極243に対して自己整合的にソース・ドレイン領域を形成する。なお、不純物が導入されなかった部分がチャネル領域となる。
[1-Bc] Next, the semiconductor film is patterned to form islands, and for example, a plasma CVD method using TEOS (tetraethoxysilane) or oxygen gas as a source gas so as to cover each island-shaped semiconductor film 241. Thus, a gate insulating layer 242 composed mainly of silicon oxide or silicon nitride having an average thickness of about 60 to 150 nm is formed.
[1-Bd] Next, a conductive film composed mainly of a metal such as aluminum, tantalum, molybdenum, titanium, or tungsten is formed on the gate insulating layer 242 by, for example, sputtering, and then patterned. A gate electrode 243 is formed.
[1-Be] Next, in this state, high concentration phosphorus ions are implanted to form source / drain regions in a self-aligned manner with respect to the gate electrode 243. Note that a portion where no impurity is introduced becomes a channel region.

[1−C]次に、駆動用TFT24に電気的に接続されるソース電極244およびドレイン電極245を形成する。
[1−Ca]まず、ゲート電極243を覆うように、第1層間絶縁層25を形成した後、コンタクトホールを形成する。
[1−Cb]次いで、コンタクトホール内にソース電極244およびドレイン電極245を形成する。
[1-C] Next, the source electrode 244 and the drain electrode 245 electrically connected to the driving TFT 24 are formed.
[1-Ca] First, the first interlayer insulating layer 25 is formed so as to cover the gate electrode 243, and then a contact hole is formed.
[1-Cb] Next, the source electrode 244 and the drain electrode 245 are formed in the contact hole.

[1−D]次に、ドレイン電極245と陽極8とを電気的に接続する配線(中継電極)27を形成する。
[1−Da]まず、第1層間絶縁層25上に、第2層間絶縁層26を形成した後、コンタクトホールを形成する。
[1−Db]次いで、コンタクトホール内に配線27を形成する。
以上のようにして、TFT回路基板20が得られる。
[1-D] Next, a wiring (relay electrode) 27 that electrically connects the drain electrode 245 and the anode 8 is formed.
[1-Da] First, the second interlayer insulating layer 26 is formed on the first interlayer insulating layer 25, and then contact holes are formed.
[1-Db] Next, a wiring 27 is formed in the contact hole.
As described above, the TFT circuit substrate 20 is obtained.

[2]次に、TFT回路基板20上に有機EL素子1を形成する。この有機EL素子1の形成に、本発明の発光素子の製造方法が適用される。
[2−A]まず、図2(a)に示すように、TFT回路基板20が備える第2層間絶縁層26上に、配線27に接触するように、アルカリ金属およびアルカリ土類金属のうちの少なくとも1種の金属を含む陰極(画素電極)3を形成する。
この陰極3は、第2層間絶縁層26上に、例えば、真空蒸着法やスパッタ法のような気相成膜法等により、アルカリ金属およびアルカリ土類金属のうちの少なくとも1種の金属を主材料として構成される導電膜を形成した後、パターニングすることにより得ることができる。
[2] Next, the organic EL element 1 is formed on the TFT circuit substrate 20. The method for manufacturing a light emitting element of the present invention is applied to the formation of the organic EL element 1.
[2-A] First, as shown in FIG. 2A, on the second interlayer insulating layer 26 included in the TFT circuit substrate 20, the contact is made between the alkali metal and the alkaline earth metal so as to contact the wiring 27. A cathode (pixel electrode) 3 containing at least one kind of metal is formed.
The cathode 3 is mainly made of at least one of an alkali metal and an alkaline earth metal on the second interlayer insulating layer 26 by, for example, a vapor deposition method such as a vacuum deposition method or a sputtering method. It can be obtained by forming a conductive film as a material and then patterning it.

[2−B]次に、図2(b)に示すように、第2層間絶縁層26上に、各陰極3を区画するように、隔壁部(バンク)35を形成する。
隔壁部35は、第2層間絶縁膜26上に第1隔壁部31を形成した後、この第1隔壁部31上に、第2隔壁部32を形成することにより得ることができる。
なお、第1隔壁部31は、陰極3および第2層間絶縁膜26を覆うように絶縁膜を形成した後、フォトリソグラフィー法等を用いてパターニングすること等により形成することができる。
[2-B] Next, as shown in FIG. 2B, partition walls (banks) 35 are formed on the second interlayer insulating layer 26 so as to partition the cathodes 3.
The partition wall portion 35 can be obtained by forming the first partition wall portion 31 on the second interlayer insulating film 26 and then forming the second partition wall portion 32 on the first partition wall portion 31.
The first partition wall 31 can be formed by forming an insulating film so as to cover the cathode 3 and the second interlayer insulating film 26 and then patterning using a photolithography method or the like.

また、第2隔壁部32は、陰極3および第1隔壁部31を覆うように絶縁膜を形成した後、第1隔壁部31を得たのと同様にして形成することができる。
ここで、第1隔壁部31および第2隔壁部32の構成材料は、耐熱性、撥液性、インク溶剤耐性、下地層との密着性等を考慮して選択される。
具体的には、第1隔壁部31の構成材料としては、例えば、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂のような有機材料や、SiOのような無機材料が挙げられる。
Further, the second partition wall portion 32 can be formed in the same manner as the first partition wall portion 31 obtained after forming an insulating film so as to cover the cathode 3 and the first partition wall portion 31.
Here, the constituent materials of the first partition wall portion 31 and the second partition wall portion 32 are selected in consideration of heat resistance, liquid repellency, ink solvent resistance, adhesion to the underlayer, and the like.
Specifically, examples of the constituent material of the first partition wall 31 include organic materials such as acrylic resins and polyimide resins, and inorganic materials such as SiO 2 .

また、第2隔壁部32の構成材料としては、第1の隔壁部31で挙げたものの他、例えば、フッ素系樹脂等を用いることができる。フッ素系樹脂を用いることにより、第2隔壁部32の耐吸湿性の向上を図ることができる。
また、隔壁部35の開口の形状は、例えば、円形、楕円形、四角形、六角形等の多角形等、いかなるものであってもよい。
Moreover, as a constituent material of the 2nd partition part 32, a fluorine resin etc. can be used other than what was mentioned by the 1st partition part 31, for example. By using the fluorine-based resin, it is possible to improve the moisture absorption resistance of the second partition wall portion 32.
Further, the shape of the opening of the partition wall portion 35 may be any shape such as a circle, an ellipse, a quadrangle, a polygon such as a hexagon, and the like.

なお、隔壁部35の開口の形状を多角形とする場合には、角部は丸みを帯びているのが好ましい。これにより、正孔輸送層6および発光層5を、後述するような液状材料を用いて形成する際に、これらの液状材料を、隔壁部35の内側の空間の隅々にまで確実に供給することができる。
このような隔壁部35の高さは、陰極3、発光層5および正孔輸送層6の合計の厚さに応じて適宜設定され、特に限定されないが、30〜500nm程度とするのが好ましい。かかる高さとすることにより、十分に隔壁(バンク)としての機能が発揮される。
In addition, when making the shape of opening of the partition part 35 into a polygon, it is preferable that the corner | angular part is roundish. Accordingly, when the hole transport layer 6 and the light emitting layer 5 are formed using a liquid material as described later, these liquid materials are reliably supplied to every corner of the space inside the partition wall portion 35. be able to.
The height of the partition wall 35 is appropriately set according to the total thickness of the cathode 3, the light emitting layer 5, and the hole transport layer 6, and is not particularly limited, but is preferably about 30 to 500 nm. By having such a height, the function as a partition (bank) is sufficiently exhibited.

[2−C]次に、図2(c)に示すように、各陰極3上に、すなわち、各陰極3を覆うように、それぞれ、非酸化性雰囲気中で、ガスバリア性を有する保護層4を形成する(第1の工程)。
なお、本明細書中において、「ガスバリア性」とは、水蒸気透過度が、好ましくは0.01g/m2・day・40℃・90%RH以下、より好ましくは0.001g/m2・day・40℃・90%RH以下であり、さらに、酸素透過度が、好ましくは0.05ml/m2・day・MPa・20℃・100%RH以下、より好ましくは0.005ml/m2・day・MPa・20℃・100%RH以下であることを言う。この水蒸気透過度および酸素透過度は、それぞれ、JIS K 7129およびJIS K 7126に規定の方法により測定される。
[2-C] Next, as shown in FIG. 2C, the protective layer 4 having gas barrier properties on each cathode 3, that is, in a non-oxidizing atmosphere so as to cover each cathode 3. Is formed (first step).
In the present specification, “gas barrier property” means that the water vapor permeability is preferably 0.01 g / m 2 · day · 40 ° C. · 90% RH or less, more preferably 0.001 g / m 2 · day. 40 ° C./90% RH or less, and oxygen permeability is preferably 0.05 ml / m 2 · day · MPa • 20 ° C. · 100% RH or less, more preferably 0.005 ml / m 2 · day・ MPa ・ 20 ℃ ・ 100% RH or less. The water vapor permeability and oxygen permeability are measured by the methods defined in JIS K 7129 and JIS K 7126, respectively.

このように、本発明の発光素子の製造方法では、陰極3上にガスバリア性を有する保護層4を設けるため、次工程[2−D]において、有機半導体層7を形成する際に、雰囲気中に含まれる水蒸気や酸素のような酸素含有物質が陰極3に接触するのを防止または抑制することができる。ところで、前記金属は、極めて反応性が高いものであるが、保護層4の存在により酸素含有物質に接触することが防止または抑制されるため、その変質・劣化がないか、極めて少ない。これにより、陰極3は、有機EL素子(発光素子)1の完成後においても、発光層5に対する高い電子注入効率を維持する。   As described above, in the method for manufacturing a light emitting device of the present invention, since the protective layer 4 having gas barrier properties is provided on the cathode 3, in the next step [2-D], the organic semiconductor layer 7 is formed in the atmosphere. It is possible to prevent or suppress oxygen-containing substances such as water vapor and oxygen contained in the cathode 3 from coming into contact with the cathode 3. By the way, although the said metal is a thing with very high reactivity, since it prevents or suppresses contact with an oxygen-containing substance by presence of the protective layer 4, it does not have the quality change and deterioration, or is very little. Thereby, the cathode 3 maintains high electron injection efficiency to the light emitting layer 5 even after the organic EL element (light emitting element) 1 is completed.

なお、保護層4は、陰極3の形成後、非酸化性雰囲気すなわち実質的に酸素含有物質が存在しない雰囲気中で形成される。そのため、陰極3上に、陰極3に含まれる前記金属を変質・劣化させることなく、保護層4を形成することができる。
また、非酸化性雰囲気は、窒素、ヘリウムおよびアルゴン等の不活性ガスの雰囲気下であってもよく、減圧雰囲気下であってもよい。
このような保護層4は、絶縁性を有する材料、半導体性を有する材料および導電性を有する材料のうちのいずれを含むものであってもよいが、特に、絶縁性を有する材料を主材料として構成されているのが好ましい。
The protective layer 4 is formed after the formation of the cathode 3 in a non-oxidizing atmosphere, that is, an atmosphere substantially free of an oxygen-containing substance. Therefore, the protective layer 4 can be formed on the cathode 3 without altering or deteriorating the metal contained in the cathode 3.
The non-oxidizing atmosphere may be an atmosphere of an inert gas such as nitrogen, helium, or argon, or may be a reduced pressure atmosphere.
Such a protective layer 4 may include any one of an insulating material, a semiconducting material, and an electrically conductive material. In particular, an insulating material is a main material. Preferably, it is configured.

絶縁性を有する材料を主材料として構成される膜は、一般的に、優れたガスバリア性を発揮することから、保護層4の構成材料として好適に用いることができる。また、かかる構成の保護層4とすることにより、発光層5における電流のリークを有効に防止して、陰極3から発光層5への電子の注入効率を向上させることや、発光層5の耐久性の向上を図ることができるという利点も得られる。   A film composed of an insulating material as a main material generally exhibits excellent gas barrier properties, and therefore can be suitably used as a constituent material of the protective layer 4. Further, by using the protective layer 4 having such a configuration, current leakage in the light emitting layer 5 can be effectively prevented, and the efficiency of electron injection from the cathode 3 to the light emitting layer 5 can be improved, and the durability of the light emitting layer 5 can be improved. There is also an advantage that it is possible to improve the performance.

絶縁性を有する材料としては、かかる材料を主材料として構成される保護層4がガスバリア性を有し、かつ、陰極3から発光層5への電子の注入を阻害しないものであればよく、各種のものを用いることができるが、例えば、I:無機窒化物、II:プラズマ重合で得られた炭素系物質、および、III:ポリパラキシリレン等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。   The insulating material may be any material as long as the protective layer 4 composed mainly of such a material has gas barrier properties and does not hinder the injection of electrons from the cathode 3 to the light emitting layer 5. For example, I: inorganic nitride, II: carbon-based material obtained by plasma polymerization, III: polyparaxylylene, etc., and one or two of them can be used. A combination of more than one species can be used.

以下、各絶縁性を有する材料について、それぞれ説明する。
I:無機窒化物
無機窒化物としては、特に限定されないが、例えば、窒化チタン(TiN)、窒化アルミニウム(AlN)および窒化ホウ素(BN)等が挙げられ、これらの中でも、特に、窒化チタンを用いるのが好ましい。窒化チタンは、特に優れたガスバリア性を有することから、比較的薄い膜厚の保護層4を形成した場合においても、得られる保護層4にガスバリア層としての機能を確実に発揮させることができる。さらに、膜厚の薄い保護層4を形成し得ることから、保護層4により、陰極3から発光層5への電子の注入が阻害されるようになるのを好適に防止することができる。
無機窒化物を主材料として構成される保護層4は、例えば、真空蒸着法やスパッタ法のような気相成膜法等により、陰極3および隔壁部35上に、無機窒化物を主材料として構成される絶縁膜を形成した後、パターニングすることにより得ることができる。
Hereinafter, each insulating material will be described.
I: Inorganic nitride The inorganic nitride is not particularly limited, and examples thereof include titanium nitride (TiN), aluminum nitride (AlN), and boron nitride (BN). Among these, titanium nitride is used in particular. Is preferred. Since titanium nitride has a particularly excellent gas barrier property, even when a relatively thin protective layer 4 is formed, the protective layer 4 obtained can reliably exhibit its function as a gas barrier layer. Further, since the protective layer 4 having a small thickness can be formed, it is possible to suitably prevent the protective layer 4 from inhibiting the injection of electrons from the cathode 3 to the light emitting layer 5.
The protective layer 4 composed mainly of inorganic nitride is formed on the cathode 3 and the partition wall 35 by using, for example, a vapor phase film forming method such as vacuum deposition or sputtering. The insulating film can be obtained by patterning after the insulating film is formed.

II:プラズマ重合で得られた炭素系物質
プラズマ重合で得られた炭素系物質を主材料として構成される保護層4は、例えば、TFT回路基板20の陰極3および隔壁部35側に、キャリアガスとともに供給されたガス状の低分子物質(モノマー)をプラズマ重合させて絶縁膜を形成した後、この絶縁膜をパターニングすることにより形成することができる。
II: Carbon-based material obtained by plasma polymerization The protective layer 4 composed mainly of a carbon-based material obtained by plasma polymerization is a carrier gas on the cathode 3 and partition wall 35 side of the TFT circuit substrate 20, for example. The insulating film can be formed by patterning the insulating film after plasma-polymerizing the gaseous low molecular substance (monomer) supplied together with the plasma.

プラズマ重合法によれば、実質的に炭素原子および水素原子以外の原子が含まれない保護層4を形成することができることから、この保護層4は、ピンホールの形成が好適に防止された緻密質なものとなる。その結果、保護層4は、優れたガスバリア性を有するものとなる。
ここで、プラズマ重合に用いられる低分子物質としては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、ペンタン、エチレン、プロピレン、ブテン、ブタジエン、アセチレンおよびメチルアセチレン等の炭化水素系低分子物質、テトラメトキシシランおよびオキサメチルトリシロキサン等のケイ素系低分子物質、テトラフルオロエチレン等のフッ化水素系低分子物質等が挙げられ、これらの1種または2種以上を用いることができる。
According to the plasma polymerization method, the protective layer 4 substantially free of atoms other than carbon atoms and hydrogen atoms can be formed. Therefore, the protective layer 4 is a dense layer in which formation of pinholes is preferably prevented. It will be quality. As a result, the protective layer 4 has excellent gas barrier properties.
Here, examples of the low molecular weight material used for plasma polymerization include hydrocarbon low molecular weight materials such as methane, ethane, propane, butane, pentane, ethylene, propylene, butene, butadiene, acetylene, and methylacetylene, tetramethoxysilane, and the like. And silicon-based low-molecular substances such as oxamethyltrisiloxane, hydrogen fluoride-based low-molecular substances such as tetrafluoroethylene, and the like, and one or more of these can be used.

キャリアガス(添加ガス)としては、例えば、アルゴン、ヘリウム、窒素等の不活性ガスが挙げられる。
なお、プラズマ重合の条件(成膜条件)は、例えば、次のようにすることができる。
高周波の出力は、100〜1000W程度であるのが好ましい。
成膜時のチャンバ内の圧力は、1×10−2〜1×10Pa程度であるのが好ましい。
Examples of the carrier gas (added gas) include inert gases such as argon, helium, and nitrogen.
The plasma polymerization conditions (film formation conditions) can be as follows, for example.
The high frequency output is preferably about 100 to 1000 W.
The pressure in the chamber during film formation is preferably about 1 × 10 −2 to 1 × 10 2 Pa.

原料ガス流量は、1〜100sccm程度であるのが好ましい。一方、キャリアガス流量は、10〜500sccm程度であるのが好ましい。
処理時間は、1〜10分程度であるのが好ましく、4〜7分程度であるのがより好ましい。
各種条件を上述したような範囲内に設定することにより、目的とする平均厚さの保護層4を形成することができる。
The raw material gas flow rate is preferably about 1 to 100 sccm. On the other hand, the carrier gas flow rate is preferably about 10 to 500 sccm.
The treatment time is preferably about 1 to 10 minutes, more preferably about 4 to 7 minutes.
By setting various conditions within the above-described range, the protective layer 4 having a target average thickness can be formed.

III:ポリパラキシリレン
ポリパラキシリレンとしては、特に限定されないが、例えば、ポリ−p−キシリレン、ポリ−モノクロロ−p−キシリレンおよびポリ−ジクロロ−p−キシリレン等が挙げられ、これらの中でも、特に、ポリ−モノクロロ−p−キシリレンを用いるのが好ましい。ポリ−モノクロロ−p−キシリレンは、特に優れたガスバリア性を有することから、比較的薄い膜厚の保護層4を形成した場合においても、得られる保護層4にガスバリア層としての機能を確実に発揮させることができる。さらに、膜厚の薄い保護層4を形成し得ることから、保護層4により、陰極3から発光層5への電子の注入が阻害されるようになるのを好適に防止することができる。
III: Polyparaxylylene The polyparaxylylene is not particularly limited, and examples thereof include poly-p-xylylene, poly-monochloro-p-xylylene, and poly-dichloro-p-xylylene. Among these, In particular, it is preferable to use poly-monochloro-p-xylylene. Since poly-monochloro-p-xylylene has a particularly excellent gas barrier property, even when a relatively thin protective layer 4 is formed, the protective layer 4 that is obtained can reliably function as a gas barrier layer. Can be made. Further, since the protective layer 4 having a small thickness can be formed, it is possible to suitably prevent the protective layer 4 from inhibiting the injection of electrons from the cathode 3 to the light emitting layer 5.

ポリパラキシリレンを主材料として構成される保護層4は、例えば、ガス状のパラキシリレンの2量体(ダイマー)を減圧下で熱分解することにより、TFT回路基板20の陰極3および隔壁部35側に絶縁膜を形成した後、この絶縁膜をパターニングすることにより形成することができる。
保護層4は、上述したような絶縁性を有する材料を主材料として構成されている場合、陰極3側から有機半導体層7側への電子の通過が許容されるように、その厚さが比較的薄く設定されている。
The protective layer 4 composed mainly of polyparaxylylene is formed by, for example, thermally decomposing a gaseous paraxylylene dimer (dimer) under reduced pressure to thereby form the cathode 3 and the partition wall portion 35 of the TFT circuit substrate 20. After the insulating film is formed on the side, the insulating film can be formed by patterning.
When the protective layer 4 is composed mainly of the insulating material as described above, the thickness thereof is compared so that the passage of electrons from the cathode 3 side to the organic semiconductor layer 7 side is allowed. Is set thin.

具体的には、保護層4は、その平均厚さが1〜20nm程度であるのが好ましく、5〜10nm程度であるのがより好ましい。保護層4の厚さが前記下限よりも薄過ぎると、保護層4の構成材料の種類によっても若干異なるが、保護層4のガスバリア層としての機能が充分に発揮されなくなるおそれがある。一方、保護層4の厚さが前記上限を超えて厚くなると、保護層4において電子を発光層5側に移動させるトンネル効果が十分に得られず、陰極3から発光層5への電子の注入が阻害されるおそれがある。   Specifically, the protective layer 4 preferably has an average thickness of about 1 to 20 nm, and more preferably about 5 to 10 nm. If the thickness of the protective layer 4 is too thinner than the lower limit, the function of the protective layer 4 as a gas barrier layer may not be sufficiently exhibited, although it varies slightly depending on the type of constituent material of the protective layer 4. On the other hand, if the thickness of the protective layer 4 exceeds the upper limit, a tunnel effect for moving electrons to the light emitting layer 5 side in the protective layer 4 cannot be sufficiently obtained, and electrons are injected from the cathode 3 to the light emitting layer 5. May be disturbed.

なお、本実施形態では、保護層4が各陰極3に対応して個別に設けられている場合について説明したが、このような場合に限定されず、保護層4は、各陰極3および各隔壁部35を覆うように一体的に形成されているものであってもよい。この場合、隔壁部35に残存する酸素含有物質の有機半導体層7側への拡散を防止するガスバリア層としての機能を保護層4に発揮させることができるという利点も得られる。   In the present embodiment, the case where the protective layer 4 is individually provided corresponding to each cathode 3 has been described. However, the present invention is not limited to such a case, and the protective layer 4 includes each cathode 3 and each partition wall. It may be integrally formed so as to cover the portion 35. In this case, there is also an advantage that the protective layer 4 can function as a gas barrier layer that prevents diffusion of the oxygen-containing substance remaining in the partition wall 35 to the organic semiconductor layer 7 side.

[2−D]次に、図2(d)に示すように、各保護層4上に、すなわち、各保護層4の陰極3と反対側に、それぞれ、発光層5および正孔輸送層6をこの順で積層して有機半導体層7を形成する(第2の工程)。
ここで、本発明の発光素子の製造方法では、前述したように、前記工程[2−C]において各陰極3上に、対応して保護層4を設けることから、雰囲気中に含まれる酸素含有物質の陰極3への接触を防止または抑制することができる。
[2-D] Next, as shown in FIG. 2 (d), the light emitting layer 5 and the hole transport layer 6 are formed on each protective layer 4, that is, on the side opposite to the cathode 3 of each protective layer 4. Are stacked in this order to form the organic semiconductor layer 7 (second step).
Here, in the method for manufacturing a light-emitting element of the present invention, as described above, the protective layer 4 is provided on each cathode 3 in the step [2-C], so that the oxygen content contained in the atmosphere is included. Contact of the substance with the cathode 3 can be prevented or suppressed.

以下、発光層5および正孔輸送層6の形成方法について説明する。
[2−Da]まず、各保護層4上に、それぞれ、発光層5を形成する。
この発光層5は、前述したような気相プロセスや液相プロセスにより形成することができるが、中でも、インクジェット法(液滴吐出法)を用いた液相プロセスにより形成するのが好ましい。インクジェット法を用いることにより、発光層5の薄膜化、画素サイズの微小化を図ることができる。また、発光層形成用の液状材料を、隔壁部35の内側に選択的に供給することができるため、液状材料のムダを省くことができる。また、インクジェット法を用いることにより、複数色の発光層5を設ける場合には、各色毎にパターンの塗り分けを容易に行うことができるという利点もある。
Hereinafter, the formation method of the light emitting layer 5 and the hole transport layer 6 is demonstrated.
[2-Da] First, the light emitting layer 5 is formed on each protective layer 4.
The light emitting layer 5 can be formed by a vapor phase process or a liquid phase process as described above, and among them, it is preferable to form the light emitting layer 5 by a liquid phase process using an ink jet method (droplet discharge method). By using the inkjet method, the light emitting layer 5 can be made thinner and the pixel size can be reduced. Further, since the liquid material for forming the light emitting layer can be selectively supplied to the inside of the partition wall portion 35, the waste of the liquid material can be omitted. In addition, when the multi-color light emitting layer 5 is provided by using the inkjet method, there is an advantage that the pattern can be easily applied for each color.

具体的には、発光層形成用の液状材料を、インクジェットプリント装置のヘッドから吐出し、各保護層4上に供給し、脱溶媒または脱分散媒した後、必要に応じて、150℃程度で短時間の加熱処理を施す。
この脱溶媒または脱分散媒は、減圧雰囲気に放置する方法、熱処理(例えば50〜60℃程度)による方法、窒素ガスのような不活性ガスのフローによる方法等が挙げられる。さらに、追加の熱処理(150℃程度で短時間)で行うことにより、残存溶媒を除去する。
Specifically, after the liquid material for forming the light emitting layer is discharged from the head of the ink jet printing apparatus, supplied onto each protective layer 4 and desolvated or dedispersed, the temperature is about 150 ° C. as necessary. A short heat treatment is applied.
Examples of the desolvent or dedispersion medium include a method of leaving in a reduced pressure atmosphere, a method of heat treatment (for example, about 50 to 60 ° C.), a method of a flow of an inert gas such as nitrogen gas, and the like. Furthermore, the residual solvent is removed by performing additional heat treatment (about 150 ° C. for a short time).

なお、本実施形態のように、発光層5すなわち有機半導体層7の保護層4に接触する部分を液相プロセスにより形成する場合に、本発明の発光素子の製造方法を適用することにより得られる効果がより顕著に発揮される。
すなわち、本発明の発光素子の製造方法では、陰極3上に保護層4を設けるので、この保護層4により、前記液状材料中に含まれる溶媒または分散媒が陰極3に接触するのを好適に防止または抑制することができる。その結果、前記金属の前記酸素含有物質と接触することによる変質・劣化を好適に防止または抑制することができる。
用いる液状材料は、前述したような発光材料を溶媒または分散媒に溶解または分散することにより調製される。
In addition, when the part which contacts the light emitting layer 5, ie, the protective layer 4 of the organic-semiconductor layer 7, is formed by a liquid phase process like this embodiment, it is obtained by applying the manufacturing method of the light emitting element of this invention. The effect is more remarkable.
That is, in the method for manufacturing a light emitting device of the present invention, the protective layer 4 is provided on the cathode 3, so that the solvent or dispersion medium contained in the liquid material is preferably brought into contact with the cathode 3 by the protective layer 4. Can be prevented or suppressed. As a result, it is possible to suitably prevent or suppress alteration / deterioration of the metal due to contact with the oxygen-containing substance.
The liquid material to be used is prepared by dissolving or dispersing the light emitting material as described above in a solvent or a dispersion medium.

また、液状材料の調製に用いる溶媒または分散媒としては、例えば、硝酸、硫酸、アンモニア、過酸化水素、水、二硫化炭素、四塩化炭素、エチレンカーボネイト等の各種無機溶媒や、メチルエチルケトン(MEK)、アセトン、ジエチルケトン、メチルイソブチルケトン(MIBK)、メチルイソプロピルケトン(MIPK)、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒、メタノール、エタノール、イソプロパノール、エチレングリコール、ジエチレングリコール(DEG)、グリセリン等のアルコール系溶媒、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、1,2−ジメトキシエタン(DME)、1,4−ジオキサン、テトラヒドロフラン(THF)、テトラヒドロピラン(THP)、アニソール、ジエチレングリコールジメチルエーテル(ジグリム)、ジエチレングリコールエチルエーテル(カルビトール)等のエーテル系溶媒、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、フェニルセロソルブ等のセロソルブ系溶媒、ヘキサン、ペンタン、ヘプタン、シクロヘキサン等の脂肪族炭化水素系溶媒、トルエン、キシレン、ベンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒、ピリジン、ピラジン、フラン、ピロール、チオフェン、メチルピロリドン等の芳香族複素環化合物系溶媒、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)、N,N−ジメチルアセトアミド(DMA)等のアミド系溶媒、ジクロロメタン、クロロホルム、1,2−ジクロロエタン等のハロゲン化合物系溶媒、酢酸エチル、酢酸メチル、ギ酸エチル等のエステル系溶媒、ジメチルスルホキシド(DMSO)、スルホラン等の硫黄化合物系溶媒、アセトニトリル、プロピオニトリル、アクリロニトリル等のニトリル系溶媒、ギ酸、酢酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸等の有機酸系溶媒のような各種有機溶媒、または、これらを含む混合溶媒等が挙げられる。
なお、保護層4上に供給された液状材料は、流動性が高く(粘性が低く)、水平方向(面方向)に広がろうとするが、保護層4が隔壁部35により囲まれているため、所定の領域以外に広がることが阻止され、発光層5(有機EL素子1)の輪郭形状が正確に規定される。
Examples of the solvent or dispersion medium used for preparing the liquid material include various inorganic solvents such as nitric acid, sulfuric acid, ammonia, hydrogen peroxide, water, carbon disulfide, carbon tetrachloride, ethylene carbonate, and methyl ethyl ketone (MEK). , Acetone solvents, diethyl ketone, methyl isobutyl ketone (MIBK), methyl isopropyl ketone (MIPK), ketone solvents such as cyclohexanone, alcohol solvents such as methanol, ethanol, isopropanol, ethylene glycol, diethylene glycol (DEG), glycerin, diethyl ether , Diisopropyl ether, 1,2-dimethoxyethane (DME), 1,4-dioxane, tetrahydrofuran (THF), tetrahydropyran (THP), anisole, diethylene glycol dimethyl ether (di) Rim), ether solvents such as diethylene glycol ethyl ether (carbitol), cellosolve solvents such as methyl cellosolve, ethyl cellosolve, phenyl cellosolve, aliphatic hydrocarbon solvents such as hexane, pentane, heptane, cyclohexane, toluene, xylene, Aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, aromatic heterocyclic solvents such as pyridine, pyrazine, furan, pyrrole, thiophene, methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide (DMF), N, N-dimethylacetamide (DMA Amide solvents such as dichloromethane, chloroform, 1,2-dichloroethane, ester solvents such as ethyl acetate, methyl acetate and ethyl formate, sulfur compound solvents such as dimethyl sulfoxide (DMSO) and sulfolane. , Acetonitrile, propionitrile, nitrile solvents, formic acid such as acrylonitrile, acetic acid, trichloroacetic acid, various organic solvents such as an organic acid solvents such as trifluoroacetic acid, or mixed solvents containing them.
The liquid material supplied onto the protective layer 4 has high fluidity (low viscosity) and tends to spread in the horizontal direction (surface direction), but the protective layer 4 is surrounded by the partition wall portion 35. , It is prevented from spreading outside the predetermined region, and the contour shape of the light emitting layer 5 (organic EL element 1) is accurately defined.

[2−Db]次に、各発光層5上(陰極3のTFT回路基板20と反対側)に、正孔輸送層6を形成する。
この正孔輸送層6も、気相プロセスや液相プロセスにより形成することができるが、前述したのと同様の理由から、インクジェット法(液滴吐出法)を用いた液相プロセスにより形成するのが好ましい。
[2-Db] Next, the hole transport layer 6 is formed on each light emitting layer 5 (on the side opposite to the TFT circuit substrate 20 of the cathode 3).
The hole transport layer 6 can also be formed by a gas phase process or a liquid phase process, but for the same reason as described above, it is formed by a liquid phase process using an ink jet method (droplet discharge method). Is preferred.

[2−E]次に、図2(e)に示すように、各正孔輸送層6(有機半導体層7)上および各隔壁部35上に、すなわち、有機半導体層7の陰極3と反対側に、各共通の陽極8を形成する(第3の工程)。
この陽極8は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法、CVD法等を用いた気相プロセスや、スピンコート法(パイロゾル法)、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイヤーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、インクジェット印刷法等を用いた液相プロセス等で形成することができる。
[2-E] Next, as shown in FIG. 2 (e), on each hole transport layer 6 (organic semiconductor layer 7) and on each partition wall 35, that is, opposite to the cathode 3 of the organic semiconductor layer 7. Each common anode 8 is formed on the side (third step).
The anode 8 is formed by, for example, a vapor phase process using a sputtering method, a vacuum deposition method, a CVD method, a spin coating method (pyrosol method), a casting method, a micro gravure coating method, a gravure coating method, a bar coating method, a roll. It can be formed by a liquid phase process using a coating method, a wire bar coating method, a dip coating method, a spray coating method, a screen printing method, a flexographic printing method, an offset printing method, an inkjet printing method, or the like.

なお、これらの方法は、陽極8の構成材料の熱安定性や、溶媒への溶解性等の物理的特性および/または化学的特性を考慮して選択される。
なお、本実施形態では、正孔輸送層6および隔壁部35の全面に、陽極8を形成することから、マスクを用いる必要がないため、これらの形成には、スパッタ法、真空蒸着法を用いた気相プロセス等が好適に用いられる。
These methods are selected in consideration of the physical stability and / or chemical characteristics such as thermal stability of the constituent material of the anode 8 and solubility in a solvent.
In the present embodiment, since the anode 8 is formed on the entire surface of the hole transport layer 6 and the partition wall portion 35, it is not necessary to use a mask. For this formation, a sputtering method or a vacuum evaporation method is used. The gas phase process that has been used is preferably used.

また、陽極8の形成にスパッタ法等を用いる場合、陽極8の構成材料を発光層5の陰極3と反対側に供給する際に、本実施形態では、発光層5上に正孔輸送層6が設けられていることから、前記構成材料が接触(衝突)することによる発光層5の変質・劣化を確実に防止することができる。
このような工程を経て、有機EL素子1を製造することができる。
In addition, when a sputtering method or the like is used for forming the anode 8, when supplying the constituent material of the anode 8 to the side opposite to the cathode 3 of the light emitting layer 5, in this embodiment, the hole transport layer 6 is formed on the light emitting layer 5. Therefore, it is possible to reliably prevent the light emitting layer 5 from being altered or deteriorated due to contact (collision) of the constituent materials.
The organic EL element 1 can be manufactured through such steps.

以上のように、本発明の発光素子の製造方法によれば、前述したように、陰極3の変質・劣化を好適に防止または抑制しつつ、陰極3を形成した後に有機半導体層7および陽極8を形成することができる。すなわち、陰極3の優れた電子注入効率を維持した状態で、有機半導体層7および陽極8を形成することができる。これにより、優れた発光効率等の特性を有するトップエミッション構造の有機EL素子(発光素子)1が得られる。   As described above, according to the method for manufacturing a light-emitting element of the present invention, as described above, the organic semiconductor layer 7 and the anode 8 are formed after forming the cathode 3 while suitably preventing or suppressing deterioration and deterioration of the cathode 3. Can be formed. That is, the organic semiconductor layer 7 and the anode 8 can be formed while maintaining the excellent electron injection efficiency of the cathode 3. Thereby, the organic EL element (light emitting element) 1 of the top emission structure which has characteristics, such as the outstanding luminous efficiency, is obtained.

[3] 次に、図2(f)に示すように、上基板9を用意し、この上基板9により陽極8を覆うようにして、陽極8と上基板9とを接合する。
この陽極8と上基板9との接合は、陽極8と上基板9との間に、エポキシ系の接着剤を介在させた状態で、この接着剤を乾燥させること等により行うことができる。
この上基板9は、有機EL素子1を保護する保護基板としての機能を有する。このような上基板9を、陽極8上に設けることにより、有機EL素子1が酸素や水分に接触するのをより好適に防止または低減できることから、有機EL素子1の信頼性の向上や、変質・劣化の防止等の効果をより確実に得ることができる。
以上のような工程を経て、表示装置10を製造することができる。
[3] Next, as shown in FIG. 2 (f), the upper substrate 9 is prepared, and the anode 8 and the upper substrate 9 are joined so that the anode 8 is covered with the upper substrate 9.
The anode 8 and the upper substrate 9 can be joined by drying the adhesive in a state where an epoxy adhesive is interposed between the anode 8 and the upper substrate 9.
The upper substrate 9 has a function as a protective substrate for protecting the organic EL element 1. By providing such an upper substrate 9 on the anode 8, it is possible to more suitably prevent or reduce the contact of the organic EL element 1 with oxygen or moisture, so that the reliability of the organic EL element 1 can be improved or altered. -Effects such as prevention of deterioration can be obtained more reliably.
The display device 10 can be manufactured through the steps as described above.

<電子機器>
このような表示装置(本発明の発光装置)10は、各種の電子機器に組み込むことができる。
図3は、本発明の電子機器を適用したモバイル型(またはノート型)のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
<Electronic equipment>
Such a display device (light emitting device of the present invention) 10 can be incorporated into various electronic devices.
FIG. 3 is a perspective view showing the configuration of a mobile (or notebook) personal computer to which the electronic apparatus of the present invention is applied.

この図において、パーソナルコンピュータ1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、表示部を備える表示ユニット1106とにより構成され、表示ユニット1106は、本体部1104に対しヒンジ構造部を介して回動可能に支持されている。
このパーソナルコンピュータ1100において、表示ユニット1106が備える表示部が前述の表示装置10で構成されている。
In this figure, a personal computer 1100 includes a main body 1104 provided with a keyboard 1102 and a display unit 1106 provided with a display. The display unit 1106 is rotatable with respect to the main body 1104 via a hinge structure. It is supported by.
In the personal computer 1100, the display unit included in the display unit 1106 is configured by the display device 10 described above.

図4は、本発明の電子機器を適用した携帯電話機(PHSも含む)の構成を示す斜視図である。
この図において、携帯電話機1200は、複数の操作ボタン1202、受話口1204および送話口1206とともに、表示部を備えている。
携帯電話機1200において、この表示部が前述の表示装置10で構成されている。
FIG. 4 is a perspective view showing a configuration of a mobile phone (including PHS) to which the electronic apparatus of the present invention is applied.
In this figure, a cellular phone 1200 includes a plurality of operation buttons 1202, an earpiece 1204 and a mouthpiece 1206, and a display unit.
In the mobile phone 1200, the display unit is configured by the display device 10 described above.

図5は、本発明の電子機器を適用したディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図である。なお、この図には、外部機器との接続についても簡易的に示されている。
ここで、通常のカメラは、被写体の光像により銀塩写真フィルムを感光するのに対し、ディジタルスチルカメラ1300は、被写体の光像をCCD(Charge Coupled Device)などの撮像素子により光電変換して撮像信号(画像信号)を生成する。
FIG. 5 is a perspective view showing a configuration of a digital still camera to which the electronic apparatus of the present invention is applied. In this figure, connection with an external device is also simply shown.
Here, an ordinary camera sensitizes a silver halide photographic film with a light image of a subject, whereas a digital still camera 1300 photoelectrically converts a light image of a subject with an imaging device such as a CCD (Charge Coupled Device). An imaging signal (image signal) is generated.

ディジタルスチルカメラ1300におけるケース(ボディー)1302の背面には、表示部が設けられ、CCDによる撮像信号に基づいて表示を行う構成になっており、被写体を電子画像として表示するファインダとして機能する。
ディジタルスチルカメラ1300において、この表示部が前述の表示装置10で構成されている。
A display unit is provided on the back of a case (body) 1302 in the digital still camera 1300, and is configured to display based on an imaging signal from the CCD, and functions as a finder that displays an object as an electronic image.
In the digital still camera 1300, the display unit is configured by the display device 10 described above.

ケースの内部には、回路基板1308が設置されている。この回路基板1308は、撮像信号を格納(記憶)し得るメモリが設置されている。
また、ケース1302の正面側(図示の構成では裏面側)には、光学レンズ(撮像光学系)やCCDなどを含む受光ユニット1304が設けられている。
撮影者が表示部に表示された被写体像を確認し、シャッタボタン1306を押下すると、その時点におけるCCDの撮像信号が、回路基板1308のメモリに転送・格納される。
A circuit board 1308 is installed inside the case. The circuit board 1308 is provided with a memory that can store (store) an imaging signal.
A light receiving unit 1304 including an optical lens (imaging optical system), a CCD, and the like is provided on the front side of the case 1302 (on the back side in the illustrated configuration).
When the photographer confirms the subject image displayed on the display unit and presses the shutter button 1306, the CCD image pickup signal at that time is transferred and stored in the memory of the circuit board 1308.

また、このディジタルスチルカメラ1300においては、ケース1302の側面に、ビデオ信号出力端子1312と、データ通信用の入出力端子1314とが設けられている。そして、図示のように、ビデオ信号出力端子1312にはテレビモニタ1430が、デ−タ通信用の入出力端子1314にはパーソナルコンピュータ1440が、それぞれ必要に応じて接続される。さらに、所定の操作により、回路基板1308のメモリに格納された撮像信号が、テレビモニタ1430や、パーソナルコンピュータ1440に出力される構成になっている。   In the digital still camera 1300, a video signal output terminal 1312 and an input / output terminal 1314 for data communication are provided on the side surface of the case 1302. As shown in the figure, a television monitor 1430 is connected to the video signal output terminal 1312 and a personal computer 1440 is connected to the data communication input / output terminal 1314 as necessary. Further, the imaging signal stored in the memory of the circuit board 1308 is output to the television monitor 1430 or the personal computer 1440 by a predetermined operation.

なお、本発明の電子機器は、図3のパーソナルコンピュータ(モバイル型パーソナルコンピュータ)、図4の携帯電話機、図5のディジタルスチルカメラの他にも、例えば、テレビや、ビデオカメラ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、ラップトップ型パーソナルコンピュータ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳(通信機能付も含む)、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニタ、電子双眼鏡、POS端末、タッチパネルを備えた機器(例えば金融機関のキャッシュディスペンサー、自動券売機)、医療機器(例えば電子体温計、血圧計、血糖計、心電表示装置、超音波診断装置、内視鏡用表示装置)、魚群探知機、各種測定機器、計器類(例えば、車両、航空機、船舶の計器類)、フライトシュミレータ、その他各種モニタ類、プロジェクター等の投射型表示装置等に適用することができる。また、本発明の電子機器は、表示機能を有しない発光機能のみを有するものであってもよい。   The electronic apparatus of the present invention includes, for example, a television, a video camera, a viewfinder type, in addition to the personal computer (mobile personal computer) in FIG. 3, the mobile phone in FIG. 4, and the digital still camera in FIG. Monitor direct-view video tape recorder, laptop personal computer, car navigation system, pager, electronic notebook (including communication function), electronic dictionary, calculator, electronic game device, word processor, workstation, video phone, security TV Monitors, electronic binoculars, POS terminals, devices equipped with touch panels (for example, cash dispensers and automatic ticket vending machines for financial institutions), medical devices (for example, electronic thermometers, blood pressure monitors, blood glucose meters, electrocardiographs, ultrasound diagnostic devices, internal Endoscope display device), fish finder, various measuring instruments, Vessels such (e.g., gages for vehicles, aircraft, and ships), a flight simulator, various monitors, and a projection display such as a projector. The electronic device of the present invention may have only a light emitting function that does not have a display function.

以上、本発明の発光素子、発光素子の製造方法、発光装置および電子機器を、図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれらに限定されるものでない。
なお、本発明の発光素子は、基板上に陽極、有機半導体層、保護層および陰極がこの順で積層され、基板(陽極)側から有機半導体層の発光を取り出すボトムエミッション構造を有する有機EL素子に適用するようにしてもよい。
また、本発明の発光素子の製造方法は、任意の目的の工程が1または2以上追加されていてもよい。
The light emitting element, the method for manufacturing the light emitting element, the light emitting device, and the electronic device of the present invention have been described based on the illustrated embodiments, but the present invention is not limited to these.
The light-emitting element of the present invention is an organic EL element having a bottom emission structure in which an anode, an organic semiconductor layer, a protective layer, and a cathode are laminated on a substrate in this order, and light emission of the organic semiconductor layer is extracted from the substrate (anode) side. You may make it apply to.
Moreover, the manufacturing method of the light emitting element of the present invention may include one or two or more steps for an arbitrary purpose.

本発明の発光装置を適用したアクティブマトリックス型表示装置の一例を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows an example of the active matrix type display apparatus to which the light-emitting device of this invention is applied. 図1に示すアクティブマトリックス型表示装置の製造方法を説明するための図(縦断面図)である。It is a figure (longitudinal sectional view) for demonstrating the manufacturing method of the active matrix type display apparatus shown in FIG. 本発明の電子機器を適用したモバイル型(またはノート型)のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a configuration of a mobile (or notebook) personal computer to which an electronic apparatus of the present invention is applied. 本発明の電子機器を適用した携帯電話機(PHSも含む)の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the mobile telephone (PHS is also included) to which the electronic device of this invention is applied. 本発明の電子機器を適用したディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the digital still camera to which the electronic device of this invention is applied.

符号の説明Explanation of symbols

1……有機EL素子 3……陰極 4……保護層 5……発光層 6……正孔輸送層 7……有機半導体層 8……陽極 9……上基板 10……表示装置 20……TFT回路基板 21……基板 22……回路部 23……下地保護層 24……駆動用TFT 241……半導体層 242……ゲート絶縁層 243……ゲート電極 244……ソース電極 245……ドレイン電極 25……第1層間絶縁層 26……第2層間絶縁層 27……配線 31……第1隔壁部 32……第2隔壁部 35……隔壁部 1100……パーソナルコンピュータ 1102……キーボード 1104……本体部 1106……表示ユニット 1200……携帯電話機 1202……操作ボタン 1204……受話口 1206……送話口 1300……ディジタルスチルカメラ 1302……ケース(ボディー) 1304……受光ユニット 1306…………シャッタボタン 1308……回路基板 1312……ビデオ信号出力端子 1314……データ通信用の入出力端子 1430……テレビモニタ 1440……パーソナルコンピュータ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Organic EL element 3 ... Cathode 4 ... Protective layer 5 ... Light emitting layer 6 ... Hole transport layer 7 ... Organic-semiconductor layer 8 ... Anode 9 ... Upper substrate 10 ... Display apparatus 20 ... TFT circuit substrate 21... Substrate 22... Circuit portion 23 .. base protective layer 24... Driving TFT 241... Semiconductor layer 242... Gate insulating layer 243... Gate electrode 244. 25... First interlayer insulating layer 26... Second interlayer insulating layer 27 .. Wiring 31... First partition 32. Second partition 35. ... Main unit 1106 ... Display unit 1200 ... Mobile phone 1202 ... Operation buttons 1204 ... Earpiece 1206 ... Mouthpiece 1300 ... Digital still camera 1302 ... 1304 …… Light receiving unit 1306 ………… Shutter button 1308 …… Circuit board 1312 …… Video signal output terminal 1314 …… I / O terminal for data communication 1430 …… TV monitor 1440 …… Personal computer

Claims (14)

陽極と、
アルカリ金属およびアルカリ土類金属のうちの少なくとも1種の金属を含む陰極と、
前記陽極と前記陰極との間に設けられた有機半導体層と、
前記陰極と前記有機半導体層との間に設けられたガスバリア性を有する保護層と、を備えることを特徴とする発光素子。
The anode,
A cathode comprising at least one of an alkali metal and an alkaline earth metal;
An organic semiconductor layer provided between the anode and the cathode;
A light-emitting element comprising: a protective layer having a gas barrier property provided between the cathode and the organic semiconductor layer.
前記保護層は、前記陰極に接触している請求項1に記載の発光素子。   The light emitting device according to claim 1, wherein the protective layer is in contact with the cathode. 前記保護層は、その水蒸気透過度(JIS K 7129に規定)が0.01g/m・day・40℃・90%RH以下である請求項1または2に記載の発光素子。 The light-emitting element according to claim 1, wherein the protective layer has a water vapor permeability (specified in JIS K 7129) of 0.01 g / m 2 · day · 40 ° C. · 90% RH or less. 前記保護層は、その酸素透過度(JIS K 7126に規定)が0.05ml/m・day・MPa・20℃・100%RH以下である請求項1ないし3のいずれかに記載の発光素子。 4. The light emitting device according to claim 1, wherein the protective layer has an oxygen permeability (defined in JIS K 7126) of 0.05 ml / m 2 · day · MPa · 20 ° C. · 100% RH or less. . 前記保護層は、絶縁性を有する材料を主材料として構成されている請求項1ないし4のいずれかに記載の発光素子。   The light-emitting element according to claim 1, wherein the protective layer is composed mainly of an insulating material. 前記絶縁性を有する材料は、無機窒化物である請求項5に記載の発光素子。   The light emitting device according to claim 5, wherein the insulating material is an inorganic nitride. 前記絶縁性を有する材料は、プラズマ重合で得られた炭素系物質である請求項5に記載の発光素子。   The light emitting device according to claim 5, wherein the insulating material is a carbon-based material obtained by plasma polymerization. 前記絶縁性を有する材料は、ポリパラキシリレンである請求項5に記載の発光素子。   The light emitting device according to claim 5, wherein the insulating material is polyparaxylylene. 前記保護層は、その平均厚さが1〜20nmである請求項5ないし8のいずれかに記載の発光素子。   The light emitting device according to claim 5, wherein the protective layer has an average thickness of 1 to 20 nm. 前記有機半導体層は、発光層を含む複数層の積層体で構成されている請求項1ないし9のいずれかに記載の発光素子。   The light-emitting element according to claim 1, wherein the organic semiconductor layer is formed of a multilayer structure including a light-emitting layer. アルカリ金属およびアルカリ土類金属のうちの少なくとも1種の金属を含む陰極を覆うように、非酸化性雰囲気中で、ガスバリア性を有する保護層を形成する第1の工程と、
該保護層の前記陰極と反対側に、前記有機半導体層を形成する第2の工程と、
該有機半導体層の前記陰極と反対側に、陽極を形成する第3の工程とを有し、
前記第2の工程において、前記有機半導体層を形成する際に、前記保護層の存在により、雰囲気中に含まれる酸素含有物質の前記陰極への接触を防止または抑制することを特徴とする発光素子の製造方法。
A first step of forming a protective layer having a gas barrier property in a non-oxidizing atmosphere so as to cover a cathode containing at least one of an alkali metal and an alkaline earth metal;
A second step of forming the organic semiconductor layer on the opposite side of the protective layer from the cathode;
A third step of forming an anode on the opposite side of the organic semiconductor layer from the cathode;
In the second step, when the organic semiconductor layer is formed, the presence of the protective layer prevents or suppresses contact of the oxygen-containing substance contained in the atmosphere with the cathode. Manufacturing method.
前記第2の工程において、前記有機半導体層の少なくとも前記保護層に接触する部分を液相プロセスにより形成する請求項11に記載の発光素子の製造方法。   The method of manufacturing a light emitting element according to claim 11, wherein in the second step, at least a portion of the organic semiconductor layer that contacts the protective layer is formed by a liquid phase process. 請求項1ないし10のいずれかに記載の発光素子を備えることを特徴とする発光装置。   A light-emitting device comprising the light-emitting element according to claim 1. 請求項13に記載の発光装置を備えることを特徴とする電子機器。
An electronic apparatus comprising the light emitting device according to claim 13.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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