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JP2008233115A - Light quantity control device, optical scanning device, and image forming apparatus - Google Patents

Light quantity control device, optical scanning device, and image forming apparatus Download PDF

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JP2008233115A
JP2008233115A JP2007067929A JP2007067929A JP2008233115A JP 2008233115 A JP2008233115 A JP 2008233115A JP 2007067929 A JP2007067929 A JP 2007067929A JP 2007067929 A JP2007067929 A JP 2007067929A JP 2008233115 A JP2008233115 A JP 2008233115A
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JP
Japan
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light
light quantity
voltage
quantity control
control device
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Pending
Application number
JP2007067929A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Ishida
雅章 石田
Yasuhiro Nihei
靖厚 二瓶
Junji Omori
淳史 大森
Jun Tanabe
潤 田邊
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP2007067929A priority Critical patent/JP2008233115A/en
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Abstract

【課題】 1光源と複数光源の検出信号レベル(検出電圧レベル)が著しく異なる場合にも、光検出器や他の回路素子を保護して、動作安定を図り、安定した光量制御を行うことの可能な光量制御装置を提供する。
【解決手段】 マルチレーザ光源の光量を電圧として検出する1つの光検出手段と、前記光検出手段で検出された電圧に基づき前記マルチレーザ光源の光量を制御する光量制御手段とを有する光量制御装置において、前記光検出手段で検出される電圧が所定電圧値以上になるのを防止する過電圧防止手段がさらに設けられている。ここで、過電圧防止手段は、光検出手段の電圧検出端子の電圧を制限する電圧リミッタ(ツェナーダイオード)となっている。
【選択図】 図3
PROBLEM TO BE SOLVED: To protect a photodetector and other circuit elements to achieve stable operation and perform stable light quantity control even when detection signal levels (detection voltage levels) of one light source and a plurality of light sources are remarkably different. A possible light quantity control device is provided.
A light quantity control device comprising: one light detection means for detecting a light quantity of a multi-laser light source as a voltage; and a light quantity control means for controlling the light quantity of the multi-laser light source based on a voltage detected by the light detection means. And an overvoltage preventing means for preventing the voltage detected by the light detecting means from exceeding a predetermined voltage value. Here, the overvoltage prevention means is a voltage limiter (zener diode) that limits the voltage of the voltage detection terminal of the light detection means.
[Selection] Figure 3

Description

本発明は、光量制御装置および光走査装置および画像形成装置に関する。   The present invention relates to a light amount control device, an optical scanning device, and an image forming apparatus.

図9は電子写真プロセスを利用したレーザプリンタ,デジタル複写機等の一般的な画像形成装置の構成例を示す図である。図9を参照すると、光源である半導体レーザユニット1009から発光されたレーザ光は、回転するポリゴンミラー1003により偏向走査(スキャン)され、走査レンズ(fθレンズ)1002を介して被走査媒体である感光体1001上に光スポットを形成し、その感光体1001を露光して静電潜像が形成される。このとき、位相同期回路1006は、クロック生成回路1005により生成された変調信号を、ポリゴンミラー1003により偏向走査された半導体レーザの光を検出するフォトディテクタ1004に同期した位相に設定する。すなわち、位相同期回路1006では、1ライン毎に、フォトディテクタ1004の出力信号に基づいて、位相同期のとられた画像クロック(画素クロック)を生成して、画像処理ユニット1007とレーザ駆動回路1008へ供給する。このようにして、半導体レーザユニット1009は、画像処理ユニット1007により生成された画像データと位相同期回路1006により1ライン毎に位相が設定された画像クロックに従い、レーザ駆動回路1008を介して半導体レーザの発光時間をコントロールすることにより、被走査媒体1001上の静電潜像をコントロールすることができる。   FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration example of a general image forming apparatus such as a laser printer or a digital copying machine using an electrophotographic process. Referring to FIG. 9, the laser light emitted from the semiconductor laser unit 1009 that is a light source is deflected and scanned by a rotating polygon mirror 1003, and is a photosensitive medium that is a scanned medium via a scanning lens (fθ lens) 1002. A light spot is formed on the body 1001, and the photosensitive body 1001 is exposed to form an electrostatic latent image. At this time, the phase synchronization circuit 1006 sets the modulation signal generated by the clock generation circuit 1005 to a phase synchronized with the photodetector 1004 that detects the light of the semiconductor laser deflected and scanned by the polygon mirror 1003. That is, the phase synchronization circuit 1006 generates a phase-synchronized image clock (pixel clock) for each line based on the output signal of the photodetector 1004, and supplies it to the image processing unit 1007 and the laser drive circuit 1008. To do. In this way, the semiconductor laser unit 1009 follows the image data generated by the image processing unit 1007 and the image clock in which the phase is set for each line by the phase synchronization circuit 1006, via the laser driving circuit 1008. By controlling the light emission time, the electrostatic latent image on the scanned medium 1001 can be controlled.

ところが近年、印刷速度(画像形成速度)の高速化、画像の高画質化の要求が高まり、それに対して、光偏向器であるポリゴンモータの高速化や、レーザ変調の基準クロックとなる画素クロックの高速化で対応してきたが、どちらの高速化にも限界が近づいてきており、従来の方法では対応しきれなくなってきている。   However, in recent years, there has been an increasing demand for higher printing speed (image forming speed) and higher image quality. On the other hand, the speed of the polygon motor, which is an optical deflector, and the pixel clock, which is the reference clock for laser modulation, are increased. Although speeding up has been supported, the limits of both speeds are approaching, and the conventional methods are not able to handle them.

そこで、複数の光源を用いたマルチビームを採用することで、高速化対応がなされてきている。マルチビームによる光走査方法では、偏向器の偏向により同時に走査できる光束が増えることにより、偏向器であるポリゴンモータの回転速度や、画素クロック周波数の低減が可能となり、高速にかつ安定した光走査及び画像形成が可能となる。   Thus, the use of multi-beams using a plurality of light sources has been made to increase the speed. In the multi-beam optical scanning method, the number of light beams that can be simultaneously scanned by the deflection of the deflector increases, so that the rotational speed of the polygon motor, which is a deflector, and the pixel clock frequency can be reduced, and high-speed and stable optical scanning and Image formation is possible.

上記マルチビームを構成する光源としては、半導体レーザが用いられる。より具体的に、上記マルチビームを構成する光源としては、シングルビームのレーザチップを組み合わせる方法や、複数個の発光素子を一つのレーザチップに組み込んだLDアレイ(例えば面発光レーザアレイ)などを用いる方法が使用されている。   A semiconductor laser is used as the light source constituting the multi-beam. More specifically, as a light source constituting the multi-beam, a method of combining a single beam laser chip, an LD array (for example, a surface emitting laser array) in which a plurality of light emitting elements are incorporated in one laser chip, or the like is used. The method is used.

上記LDアレイ(例えば面発光レーザアレイ)などの半導体レーザは、きわめて小型であり、かつ駆動電流により高速に直接変調を行うことが出来るので、近年レーザプリンタ等の光源として広く用いられている。しかし、半導体レーザの駆動電流と光出力との関係は、温度により著しく変化する特性を有するので、半導体レーザの光強度を所望の値に設定しようとする場合に問題となる。   Semiconductor lasers such as the above-mentioned LD arrays (for example, surface emitting laser arrays) are extremely small and can be directly modulated at high speed by a drive current, and thus have been widely used as light sources for laser printers and the like in recent years. However, since the relationship between the drive current and the optical output of the semiconductor laser has a characteristic that varies significantly with temperature, there is a problem when trying to set the light intensity of the semiconductor laser to a desired value.

この問題を解決し半導体レーザの利点を活かすため、従来様々なAPC(Automatic Power Control)回路(例えば特許文献1,特許文献2,特許文献3に示されているようなAPC回路)が提案されている。   In order to solve this problem and take advantage of the semiconductor laser, various APC (Automatic Power Control) circuits (for example, APC circuits as shown in Patent Document 1, Patent Document 2, and Patent Document 3) have been proposed. Yes.

すなわち、APC回路として、半導体レーザの光出力(光量)を受光素子によりモニタし、パワー設定時間内では発光レベル信号と光出力に比例したモニタ電流に比例した信号とが等しくなるように、光・電気負帰還ループにより半導体レーザの順方向電流を制御し、パワー設定時間外では、パワー設定時間内に設定した半導体レーザの順方向電流をサンプルホールド回路により保持し、光出力を所望の値に設定すると共に、順方向電流を変調信号に基づいて変調することにより、半導体レーザを変調信号により点灯,消灯させる方式がある。   That is, as the APC circuit, the light output (light quantity) of the semiconductor laser is monitored by the light receiving element, and within the power setting time, the light level signal and the signal proportional to the monitor current proportional to the light output are equal. The forward current of the semiconductor laser is controlled by the electric negative feedback loop. Outside the power setting time, the semiconductor laser forward current set within the power setting time is held by the sample hold circuit, and the optical output is set to the desired value. In addition, there is a system in which the semiconductor laser is turned on / off by the modulation signal by modulating the forward current based on the modulation signal.

この方式では、半導体レーザの高速変調が可能となるが、半導体レーザの光出力を常時制御しているわけではないため、外乱などにより容易に光出力が変動してしまう。また外乱として半導体レーザのドゥループ特性があり、光出力に数%の誤差を生じてしまう。   In this method, the semiconductor laser can be modulated at high speed, but the optical output of the semiconductor laser is not always controlled, so that the optical output easily fluctuates due to disturbance or the like. Moreover, there is a droop characteristic of the semiconductor laser as a disturbance, which causes an error of several percent in the optical output.

特許文献2には、上記の点を改良した方式が示されている。   Patent Document 2 discloses a system in which the above points are improved.

また、特許文献3には、レーザの発光パワーを制御する際、レーザの発光状態を受光素子によりモニタし、受光素子の出力信号、即ちモニタ電流を電流−電圧変換回路により電圧信号に変換し、その電圧信号をレーザ駆動回路(レーザ駆動制御回路)にフィードバックしてレーザが適正なパワーで発光するように制御し、パルス発光時におけるフォトダイオードの出力信号の波形なまりの補償を行う一例が示されている。
特開平11−298079号公報 特開平2−205086号公報 特開平5−121805号公報
In Patent Document 3, when controlling the light emission power of the laser, the light emission state of the laser is monitored by the light receiving element, and the output signal of the light receiving element, that is, the monitor current is converted into a voltage signal by the current-voltage conversion circuit. An example is shown in which the voltage signal is fed back to the laser drive circuit (laser drive control circuit) to control the laser to emit light at an appropriate power, and the waveform rounding of the output signal of the photodiode during pulse emission is compensated. ing.
Japanese Patent Laid-Open No. 11-298079 Japanese Patent Laid-Open No. 2-205066 JP-A-5-121805

ところで、マルチビームの構成では、マルチビームを構成する半導体レーザ(すなわち、複数個の半導体レーザ; マルチレーザ光源)のそれぞれについて光量補正を行う必要があり、複数個の半導体レーザからの出射光を受光し、光出力レベル(発光レベル)を検出する光検出器が必要となる。   By the way, in the multi-beam configuration, it is necessary to correct the amount of light for each of the semiconductor lasers constituting the multi-beam (that is, a plurality of semiconductor lasers; a multi-laser light source), and light emitted from the plurality of semiconductor lasers is received. In addition, a photodetector that detects the light output level (light emission level) is required.

この場合、従来では、光検出器には、マルチレーザを構成する半導体レーザ(すなわち、複数個の半導体レーザ; マルチレーザ光源)からのマルチビーム(通常、全てのマルチビーム)が入射可能な1個の光検出器を設け、発光時間差を設けて光検出器からの検出信号に基づいて発光制御を行う方式のものが用いられている。   In this case, conventionally, a single beam capable of receiving multiple beams (usually all of the multiple beams) from semiconductor lasers (that is, a plurality of semiconductor lasers; multiple laser light sources) constituting the multiple lasers is incident on the photodetector. This type of light detector is used to control light emission based on a detection signal from the light detector with a light emission time difference.

すなわち、マルチ光源(マルチレーザ光源)からの光を1つの光検出器(受光素子)で検出して光量制御処理(APC処理)を行う場合には、通常、1光源のみを発光させて1つの光検出器に光量検出を行なわせる。この場合、1光源の光量を、それに応じた電圧に変換する抵抗を用いる。しかし、通常、マルチレーザ光源をプリンタなどで画像データの書込み処理に使用している場合には、マルチレーザ光源の個数をNとすると、1光源のN倍の光量の光が光検出器(受光素子)に同時に入ることとなり(すなわち、光検出器(受光素子)に過剰な光が入ることになり)、また、電圧に変換する抵抗部においても、過電圧が発生し、光検出器(受光素子)の逆バイアスがなくなったり、電圧を検出するADC(アナログデジタルコンバータ)やサンプルホールド部に過電圧が入ってしまうことにより、部品の劣化や誤動作を招く原因となる。   That is, when light from a multi-light source (multi-laser light source) is detected by a single light detector (light receiving element) and light amount control processing (APC processing) is performed, usually only one light source is caused to emit light. Let the light detector detect the amount of light. In this case, a resistor that converts the amount of light from one light source into a voltage corresponding thereto is used. However, in general, when a multi-laser light source is used for image data writing processing by a printer or the like, if the number of multi-laser light sources is N, light having a light quantity N times that of one light source is detected by a photodetector (light receiving). (That is, excessive light enters the light detector (light receiving element)), and an overvoltage is generated in the resistance portion that converts the voltage into the light detector (light receiving element). ), Or an overvoltage is applied to an ADC (analog / digital converter) for detecting a voltage or a sample hold unit, thereby causing deterioration or malfunction of components.

本発明は、1光源と複数光源の検出信号レベル(検出電圧レベル)が著しく異なる場合にも、光検出器や他の回路素子(例えばADCなど)を保護して、動作安定を図り、安定した光量制御を行うことの可能な光量制御装置および光走査装置および画像形成装置を提供することを目的としている。   The present invention protects the photodetector and other circuit elements (for example, ADC) even when the detection signal levels (detection voltage levels) of one light source and a plurality of light sources are significantly different, thereby stabilizing the operation. An object of the present invention is to provide a light amount control device, an optical scanning device, and an image forming apparatus capable of performing light amount control.

上記目的を達成するために、請求項1記載の発明は、マルチレーザ光源の光量を電圧として検出する1つの光検出手段と、前記光検出手段で検出された電圧に基づき前記マルチレーザ光源の光量を制御する光量制御手段とを有する光量制御装置において、前記光検出手段で検出される電圧が所定電圧値以上になるのを防止する過電圧防止手段がさらに設けられている事を特徴としている。   In order to achieve the above-mentioned object, the invention according to claim 1 is characterized in that one light detection means for detecting the light quantity of the multi-laser light source as a voltage, and the light quantity of the multi-laser light source based on the voltage detected by the light detection means. In the light quantity control device having the light quantity control means for controlling the above, an overvoltage prevention means for preventing the voltage detected by the light detection means from exceeding a predetermined voltage value is further provided.

また、請求項2記載の発明は、請求項1記載の光量制御装置において、前記過電圧防止手段は、前記光検出手段の電圧検出端子の電圧を制限する電圧リミッタである事を特徴としている。   According to a second aspect of the present invention, in the light quantity control device according to the first aspect, the overvoltage prevention means is a voltage limiter that limits a voltage at a voltage detection terminal of the light detection means.

また、請求項3記載の発明は、請求項2記載の光量制御装置において、前記電圧リミッタは、ツェナーダイオードであることを特徴としている。   According to a third aspect of the present invention, in the light quantity control device according to the second aspect, the voltage limiter is a Zener diode.

また、請求項4記載の発明は、請求項1記載の光量制御装置において、前記過電圧防止手段は、マルチレーザ光源の光量制御を行う光量制御処理時以外の期間は前記光検出手段の電圧検出端子を接地電位にする短絡スイッチである事を特徴としている。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the light amount control device according to the first aspect, wherein the overvoltage prevention means is a voltage detection terminal of the light detection means during a period other than a light amount control process for performing light amount control of the multi-laser light source It is characterized by being a short-circuit switch that makes the ground potential.

また、請求項5記載の発明は、請求項1記載の光量制御装置において、前記過電圧防止手段は、メカシャッターと、メカシャッター制御手段とにより構成され、前記メカシャッター制御手段は、マルチレーザ光源の光量制御を行う光量制御処理時以外の期間は前記メカシャッターを閉じる制御信号を前記メカシャッターに入力し、該制御信号の入力によって前記メカシャッターは、前記光検出手段に入力する前記マルチレーザ光源の光束を物理的に通さないように動作する事を特徴としている。   According to a fifth aspect of the present invention, in the light amount control apparatus according to the first aspect, the overvoltage prevention means includes a mechanical shutter and a mechanical shutter control means, and the mechanical shutter control means is a multi-laser light source. A control signal for closing the mechanical shutter is inputted to the mechanical shutter during a period other than the light quantity control processing for performing light quantity control, and the mechanical shutter is inputted to the light detection means by the input of the control signal. It is characterized by operating so that the light beam does not pass through physically.

また、請求項6記載の発明は、請求項1記載の光量制御装置において、前記過電圧防止手段は、前記過電圧防止手段における電圧波形のオーバーシュートを防止するローパスフィルタとアナログスイッチで構成されている事を特徴としている。   According to a sixth aspect of the present invention, in the light amount control device according to the first aspect, the overvoltage prevention means is composed of a low-pass filter and an analog switch for preventing overshoot of the voltage waveform in the overvoltage prevention means. It is characterized by.

また、請求項7記載の発明は、請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の光量制御装置が用いられる事を特徴とする光走査装置である。   The invention according to claim 7 is an optical scanning device characterized by using the light quantity control device according to any one of claims 1 to 6.

また、請求項8記載の発明は、請求項7記載の光走査装置が用いられる事を特徴とする画像形成装置である。   The invention described in claim 8 is an image forming apparatus characterized in that the optical scanning device described in claim 7 is used.

請求項1乃至請求項8記載の発明によれば、マルチレーザ光源の光量を電圧として検出する1つの光検出手段と、前記光検出手段で検出された電圧に基づき前記マルチレーザ光源の光量を制御する光量制御手段とを有する光量制御装置において、前記光検出手段で検出される電圧が所定電圧値以上になるのを防止する過電圧防止手段がさらに設けられているので、1光源と複数光源の検出信号レベル(検出電圧レベル)が著しく異なる場合にも、光検出器や他の回路素子(例えばADCなど)を保護して、動作安定を図り、安定した光量制御を行うことができる。
According to the first to eighth aspects of the present invention, one light detection unit that detects the light amount of the multi-laser light source as a voltage, and the light amount of the multi-laser light source is controlled based on the voltage detected by the light detection unit. In the light quantity control device having the light quantity control means for performing the detection, an overvoltage prevention means for preventing the voltage detected by the light detection means from exceeding a predetermined voltage value is further provided. Even when the signal level (detection voltage level) is remarkably different, it is possible to protect the photodetector and other circuit elements (for example, ADC) to stabilize the operation and to perform stable light quantity control.

以下、本発明を実施するための最良の形態を図面に基づいて説明する。   Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、従来の光量制御装置の構成例を示す図である。図1の例では、1つの光源(1つのレーザ光源)LDが発光すると、このレーザ光源LDからの光は受光素子(光検出器)PDで受光され、レーザ光源LDの光量は、抵抗を用いて電圧値に変換される。すなわち、このような構成において、光検出器PDと抵抗とは、レーザ光源LDの光量を電圧値として検出する光検出手段として機能するようになっている。なお、抵抗は、レーザの効率や受光素子の効率がばらつくため、図1に示すように、可変抵抗などを用いる事により、所望の電圧値が得られるように例えば工場からの出荷時等に初期調整される(図1の例では、抵抗は、可変抵抗10と、抵抗(固定抵抗)11とにより構成されている)。光検出手段で検出された電圧値は、図1の場合、ADC(アナログデジタルコンバータ)でデジタル値に変換されてCPUに入力し、CPUでは、これに基づき、レーザ光源LDが所望の光量となるように光量制御信号を算出し、その結果をDAC(デジタルアナログコンバータ)にてアナログ値に変換し、その値でレーザ光源LDに流れる電流源50の電流値を決定する事により、レーザ光源LDが所望の光量となるように制御することができる。   FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a conventional light amount control apparatus. In the example of FIG. 1, when one light source (one laser light source) LD emits light, the light from the laser light source LD is received by a light receiving element (photodetector) PD, and the light amount of the laser light source LD uses a resistor. Are converted to voltage values. That is, in such a configuration, the photodetector PD and the resistor function as a light detection unit that detects the light amount of the laser light source LD as a voltage value. Since the efficiency of the laser and the efficiency of the light receiving element vary, the resistance is initially set so that a desired voltage value can be obtained by using a variable resistance as shown in FIG. (In the example of FIG. 1, the resistor is constituted by a variable resistor 10 and a resistor (fixed resistor) 11). In the case of FIG. 1, the voltage value detected by the light detection means is converted to a digital value by an ADC (analog / digital converter) and input to the CPU. Based on this, the laser light source LD has a desired light quantity. In this way, the light amount control signal is calculated, the result is converted into an analog value by a DAC (digital analog converter), and the current value of the current source 50 flowing to the laser light source LD is determined based on the value, whereby the laser light source LD Control can be performed so that a desired light amount is obtained.

図2は、従来の光量制御装置の他の構成例を示す図である。図2の例では、光源が複数のレーザ光源(マルチレーザ光源)LD1〜LD4となっている。この場合にも、マルチレーザ光源LD1〜LD4からの光は1つの光検出器(受光素子)PDで受光されるようになっている。なお、各レーザ光源毎に光検出器(受光素子)PDを持つ構成の場合には、本発明は適用されない。   FIG. 2 is a diagram illustrating another configuration example of the conventional light quantity control device. In the example of FIG. 2, the light source is a plurality of laser light sources (multi-laser light sources) LD1 to LD4. Also in this case, light from the multi-laser light sources LD1 to LD4 is received by one photodetector (light receiving element) PD. Note that the present invention is not applied to a configuration in which each laser light source has a photodetector (light receiving element) PD.

図2において、各レーザ光源LD1〜LD4の光量制御処理時には、各レーザ光源LD1〜LD4を1光源ずつ発光させる(すなわち、2つ以上のレーザ光源が同時に発光することがないようにする)。この場合(すなわち、光量制御処理時は)、電源電圧を例えば5Vとして、1つのレーザ光源が発光すると、光検出器PDには、1つのレーザ光源だけからの光が入射し、これにより、光検出手段で検出される電圧は例えば3Vとなる。すなわち、ADCに入力される検出電圧は3Vとなる。そして、この場合、この検出電圧に基づき、CPUは、各レーザ光源LD1〜LD4にそれぞれ対応した電流源50−1〜50−4のうち、いま発光した1つのレーザ光源に対応した電流源の電流値を決定することにより、いま発光した1つのレーザ光源が所定の光量となるように制御することができる。   In FIG. 2, at the time of light quantity control processing of each of the laser light sources LD1 to LD4, each of the laser light sources LD1 to LD4 emits light by one light source (that is, two or more laser light sources do not emit light simultaneously). In this case (that is, during the light amount control process), when the power supply voltage is set to 5 V, for example, and one laser light source emits light, light from only one laser light source is incident on the photodetector PD. The voltage detected by the detection means is 3V, for example. That is, the detection voltage input to the ADC is 3V. In this case, based on this detected voltage, the CPU uses the current of the current source corresponding to one laser light source that has just emitted light among the current sources 50-1 to 50-4 respectively corresponding to the laser light sources LD1 to LD4. By determining the value, it is possible to control so that one laser light source that has just emitted light has a predetermined light amount.

これに対し、画像データの書込み処理時には、2つ以上のレーザ光源が同時に発光されることがある。例えば、4つのレーザ光源LD1〜LD4を同時に発光した場合、1つの光検出器PDに4つの光源LD1〜LD4からの光が同時にすべて入ってしまう。この場合、検出する抵抗値が一定だとすると、発生する電圧値(光検出器PDの電圧検出端子の電圧値)は、理論上、1つのレーザ光源だけが発光した場合の4倍の12V(=4×3V)となってしまう。実際には、光検出器PDやADCの保護ダイオードなどにより電源電圧(いまの例では、5V)以上になる可能性は少ないが、場合により、光検出器PDを劣化させたり、ADCの入力部を劣化若しくは損傷する場合も起こりうる。   On the other hand, at the time of image data writing processing, two or more laser light sources may emit light simultaneously. For example, when the four laser light sources LD1 to LD4 emit light at the same time, all the light from the four light sources LD1 to LD4 enters the single photodetector PD at the same time. In this case, assuming that the resistance value to be detected is constant, the generated voltage value (voltage value at the voltage detection terminal of the photodetector PD) is theoretically 12V (= 4), which is four times that when only one laser light source emits light. × 3V). Actually, it is unlikely that the power supply voltage (5 V in this example) or more is exceeded by the photodetector PD or the protection diode of the ADC. However, depending on the case, the photodetector PD may be deteriorated, or the input section of the ADC Degradation or damage may occur.

このような事態が生ずるのを回避するため、本発明では、マルチレーザ光源の光量を電圧として検出する1つの光検出手段と、前記光検出手段で検出された電圧に基づき前記マルチレーザ光源の光量を制御する光量制御手段とを有する光量制御装置において、前記光検出手段で検出される電圧が所定電圧値以上になるのを防止する過電圧防止手段がさらに設けられていることを特徴としている。   In order to avoid such a situation, in the present invention, one light detection means for detecting the light quantity of the multi-laser light source as a voltage, and the light quantity of the multi-laser light source based on the voltage detected by the light detection means. In the light quantity control device having the light quantity control means for controlling the above, an overvoltage prevention means for preventing the voltage detected by the light detection means from exceeding a predetermined voltage value is further provided.

図3は本発明の光量制御装置の一例を示す図であり、図3の例では、過電圧防止手段は、光検出器PDの電圧検出端子の電圧を制限する電圧リミッタ(具体的には、ツェナーダイオード)となっている。すなわち、図3の例では、光検出器PDの電圧検出端子にツェナーダイオードを接続する事により過電圧を防止するようにしている。ここで、ツェナーダイオードのツェナー電圧を例えば4Vに設定する事により、例えば画像データの書込み処理時に、複数の光源が同時に発光する場合にも、光検出器PDの電圧検出端子の電圧値が4V以上になる事を防止し、ADCや光検出器PDを保護するとともに、光検出器PDの逆電圧を1V以上取る事による特性安定を可能としている。換言すれば、図3においてツェナー電圧を例えば4Vに設定すると、ツェナーダイオードの端子電圧が4V以上にはならないため、例えば光検出器PDに大電流が流れてADCに入力される電圧が高くなる場合にも、ADCへ入力される電圧は4Vでリミッタがかかるため、それ以上の電圧が入力されることはない。この作用を過電圧防止といっている。ADCはIC内部の回路であり、通常、ICには入力端子に保護ダイオードなどの保護回路が付加されているため、図3の構成は、ADCの保護回路とツェナーダイオードによる保護回路の2重の保護回路を有する構成となっている。   FIG. 3 is a diagram showing an example of the light quantity control device of the present invention. In the example of FIG. 3, the overvoltage prevention means is a voltage limiter (specifically, a Zener) that limits the voltage at the voltage detection terminal of the photodetector PD. Diode). That is, in the example of FIG. 3, an overvoltage is prevented by connecting a Zener diode to the voltage detection terminal of the photodetector PD. Here, by setting the Zener voltage of the Zener diode to 4V, for example, the voltage value of the voltage detection terminal of the photodetector PD is 4V or more even when a plurality of light sources emit light at the same time, for example, during the image data writing process. And the ADC and the photodetector PD are protected, and the characteristics can be stabilized by taking a reverse voltage of the photodetector PD of 1 V or more. In other words, when the Zener voltage in FIG. 3 is set to 4 V, for example, the terminal voltage of the Zener diode does not exceed 4 V, and thus, for example, a large current flows through the photodetector PD and the voltage input to the ADC increases. In addition, since the voltage input to the ADC is 4V and the limiter is applied, no more voltage is input. This action is called overvoltage prevention. The ADC is a circuit inside the IC. Usually, since a protection circuit such as a protection diode is added to the input terminal of the IC, the configuration of FIG. 3 is a double circuit of a protection circuit using an ADC protection circuit and a Zener diode. It has a configuration having a protection circuit.

なお、図2,図3の構成において、光検出器PDは、前述したように、各レーザ光源LD1〜LD4の光量を1光源ずつ制御するためにのみ用いられ、何個の光源が同時に発光したのかを検出するためのものではない(何個の光源が同時に発光したのかは、例えば前述の画像処理ユニット1007からの画像データ信号からCPUによって割り出される)。従って、光検出器PDには、光量制御処理時には、1光源だけの光が入射され、電圧検出端子の電圧値が大きくなることがない一方、画像データの書込み処理時には、電圧検出端子の電圧値が大きくなる可能性があり、本来、過電圧防止手段(図3の例では、電圧リミッタ(ツェナーダイオード))は、画像の書込み処理時にのみ作動すれば良いが、図3の例では過電圧防止手段(図3の例では、電圧リミッタ(ツェナーダイオード))は、画像データの書込み処理時のみならず光量制御処理時にも作動するようになっている(光量制御処理時,画像書込み処理時にかかわらず作動するようになっている)。これにより、仮に光量制御処理時に光検出PDに大電流が流れて光検出器PDの電圧検出端子の電圧値が高くなる場合にも、電圧リミッタが働き、PD,ADCを保護することができる。   2 and 3, the photodetector PD is used only for controlling the light quantity of each of the laser light sources LD1 to LD4 one by one as described above, and how many light sources emit light simultaneously. (The number of light sources that emit light simultaneously is determined by the CPU from the image data signal from the image processing unit 1007 described above, for example). Accordingly, light of only one light source is incident on the photodetector PD during the light amount control process, and the voltage value of the voltage detection terminal does not increase, while the voltage value of the voltage detection terminal does not increase during the image data writing process. The overvoltage prevention means (voltage limiter (Zener diode) in the example of FIG. 3) should be operated only during the image writing process, but in the example of FIG. In the example of FIG. 3, the voltage limiter (zener diode) is activated not only during the image data writing process but also during the light quantity control process (regardless of the light quantity control process or the image writing process). It ’s like that) As a result, even when a large current flows through the light detection PD during the light amount control process and the voltage value at the voltage detection terminal of the light detector PD becomes high, the voltage limiter works and the PD and ADC can be protected.

また、図4は、本発明の光量制御装置の他の例を示す図であり、図4の例では、過電圧防止手段は、マルチレーザ光源の光量制御を行う光量制御処理時以外の期間は光検出器PDの電圧検出端子を接地電位(GND)にする短絡スイッチ(アナログスイッチ)となっている。すなわち、図4の例では、電圧検出端子に短絡スイッチ(アナログスイッチ)を設けて、光量制御処理時以外のときはアナログスイッチを動作させて電圧検出端子をGNDにショートさせるようになっている。具体的に、光量制御処理時には、CPUは、アナログスイッチに制御信号を与えずアナログスイッチを動作させない状態にする一方、光量制御処理時以外のときは、アナログスイッチを動作させて電圧検出端子をGNDへショートさせる事により(光検出器PDの電圧検出端子の電位を0Vにすることにより)、ADCやPDの保護を行うようにしている。   FIG. 4 is a diagram showing another example of the light quantity control device of the present invention. In the example of FIG. 4, the overvoltage prevention means is light during a period other than the light quantity control process for performing the light quantity control of the multi-laser light source. This is a short-circuit switch (analog switch) for setting the voltage detection terminal of the detector PD to the ground potential (GND). That is, in the example of FIG. 4, a short-circuit switch (analog switch) is provided at the voltage detection terminal, and the analog switch is operated to short-circuit the voltage detection terminal to GND at times other than during the light amount control process. Specifically, during the light amount control process, the CPU does not give a control signal to the analog switch so that the analog switch is not operated. When it is not during the light amount control process, the CPU operates the analog switch to set the voltage detection terminal to GND. The ADC and the PD are protected by short-circuiting them (by setting the potential of the voltage detection terminal of the photodetector PD to 0V).

また、図5は、本発明の光量制御装置の他の例を示す図であり、図5の例では、過電圧防止手段は、メカシャッターと、メカシャッター制御手段とにより構成され、メカシャッター制御手段は、マルチレーザ光源の光量制御を行う光量制御処理時以外の期間は前記メカシャッターを閉じる制御信号を前記メカシャッターに入力し、該制御信号の入力によって、メカシャッターは、閉じるようになっている(すなわち、光検出器PDに入力するマルチレーザ光源の光束を物理的に通さないように動作するようになっている)。なお、図5のメカシャッタ制御手段は、具体的には、CPUによって実現される。すなわち、図5の例では、光量制御処理時は、メカシャッターは開となっており、光が光検出器PDに入射可能な状態となっており、光量制御処理時以外の期間は、CPUからの制御信号によってメカシャッターを閉じて、光が光検出器PDに入らないようにしている。   FIG. 5 is a diagram showing another example of the light quantity control device of the present invention. In the example of FIG. 5, the overvoltage prevention means is composed of a mechanical shutter and a mechanical shutter control means, and the mechanical shutter control means. The control signal for closing the mechanical shutter is input to the mechanical shutter during a period other than the time of the light control process for performing the light control of the multi-laser light source, and the mechanical shutter is closed by the input of the control signal. (That is, it operates so as not to physically pass the light beams of the multi-laser light source input to the photodetector PD). The mechanical shutter control means in FIG. 5 is specifically realized by a CPU. That is, in the example of FIG. 5, the mechanical shutter is open during the light amount control process, and light can enter the photodetector PD, and the period other than during the light amount control process is from the CPU. The mechanical shutter is closed by the control signal to prevent light from entering the photodetector PD.

また、図6は、本発明の光量制御装置の他の例を示す図であり、図6の例では、過電圧防止手段は、前記過電圧防止手段における電圧波形のオーバーシュートを防止するローパスフィルタとアナログスイッチで構成されている。すなわち、図6の例では、光検出器PDの電圧検出端子にアナログスイッチ経由で容量を設ける事により、光検出器PDの電圧検出端子の過渡電圧が例えばリンギングなどでオーバーシュートした場合に、アナログスイッチをオンにし、容量と抵抗10,11とによるローパスフィルタが構成されることによって、過渡の過電圧防止回路を実現できる。   FIG. 6 is a diagram showing another example of the light quantity control device of the present invention. In the example of FIG. 6, the overvoltage prevention means includes a low-pass filter for preventing overshoot of the voltage waveform in the overvoltage prevention means and an analog. It consists of switches. That is, in the example of FIG. 6, when a voltage is provided to the voltage detection terminal of the photodetector PD via an analog switch, the analog voltage is detected when a transient voltage at the voltage detection terminal of the photodetector PD is overshot due to ringing, for example. A transient overvoltage prevention circuit can be realized by turning on the switch and forming a low-pass filter including the capacitor and the resistors 10 and 11.

なお、上記の各例では、光量制御手段を、ADCとCPUとDACとの構成により実現したが、図7に示すように、光量制御手段をアナログ/デジタルサンプルホールド回路で実現することもできる。   In each of the above examples, the light quantity control means is realized by the configuration of the ADC, the CPU, and the DAC. However, as shown in FIG. 7, the light quantity control means can also be realized by an analog / digital sample hold circuit.

また、上述した本発明の光量制御装置を、光走査装置に用いることができる。   Further, the above-described light quantity control device of the present invention can be used for an optical scanning device.

また、本発明の光量制御装置を用いた光走査装置を、レーザプリンタやデジタル複写機等の画像形成装置に用いることができる。   Further, the optical scanning device using the light quantity control device of the present invention can be used in an image forming apparatus such as a laser printer or a digital copying machine.

図8は、本発明の光量制御装置を用いた画像形成装置の構成例を示す図である。   FIG. 8 is a diagram showing a configuration example of an image forming apparatus using the light quantity control device of the present invention.

図8を参照すると、被走査面である感光体ドラム901の周囲には、感光体ドラム901を高圧に帯電する帯電チャージャ902と、光走査装置900により記録された静電潜像に帯電したトナーを付着して顕像化する現像ローラ903と、現像ローラ903にトナーを供給するトナーカートリッジ904と、ドラムに残ったトナーを掻き取り備蓄するクリーニングケース905とが配置されている。   Referring to FIG. 8, around the photosensitive drum 901 that is the surface to be scanned, a charging charger 902 that charges the photosensitive drum 901 to a high voltage, and a toner charged to an electrostatic latent image recorded by the optical scanning device 900 A developing roller 903 that visualizes the toner by attaching the toner, a toner cartridge 904 that supplies toner to the developing roller 903, and a cleaning case 905 that scrapes and stores toner remaining on the drum are disposed.

ここで、光走査装置900には、本発明の光量制御装置が用いられる。   Here, the light quantity control device of the present invention is used for the optical scanning device 900.

図8の画像形成装置では、感光体ドラム901へは1面毎に複数ライン同時に潜像記録が行われる。記録紙は、給紙トレイ914から給紙コロ907により供給され、レジストローラ対908により副走査方向の記録開始のタイミングに合わせて送りだされ、感光体ドラムを通過する際に転写チャージャ906によってトナーが転写され、定着ローラ909で定着して排紙ローラ912により排紙トレイ910に排出される。   In the image forming apparatus of FIG. 8, latent image recording is performed simultaneously on a plurality of lines on one surface of the photosensitive drum 901. The recording paper is supplied from the paper supply tray 914 by the paper supply roller 907, is sent out by the registration roller pair 908 in accordance with the recording start timing in the sub-scanning direction, and is transferred to the toner by the transfer charger 906 when passing through the photosensitive drum. Is fixed by the fixing roller 909 and discharged to the paper discharge tray 910 by the paper discharge roller 912.

本発明の光量制御装置を上記画像形成装置に適用することにより、光源としてマルチレーザ光源が用いられる場合にも、レーザ光源の安定した光量制御が可能となり、高画質な画像を得ることができる。   By applying the light quantity control device of the present invention to the image forming apparatus, even when a multi-laser light source is used as a light source, stable light quantity control of the laser light source is possible, and a high-quality image can be obtained.

本発明は、デジタル複写機やレーザプリンタ等に利用可能である。
The present invention can be used for a digital copying machine, a laser printer, and the like.

従来の光量制御装置の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the conventional light quantity control apparatus. 従来の光量制御装置の他の構成例を示す図である。It is a figure which shows the other structural example of the conventional light quantity control apparatus. 本発明の光量制御装置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the light quantity control apparatus of this invention. 本発明の光量制御装置の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of the light quantity control apparatus of this invention. 本発明の光量制御装置の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of the light quantity control apparatus of this invention. 本発明の光量制御装置の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of the light quantity control apparatus of this invention. 光量制御手段をアナログ/デジタルサンプルホールド回路で実現した例を示す図である。It is a figure which shows the example which implement | achieved the light quantity control means with the analog / digital sample hold circuit. 本発明の光量制御装置を用いた画像形成装置の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the image forming apparatus using the light quantity control apparatus of this invention. 一般的な画像形成装置の構成例を示す図である。1 is a diagram illustrating a configuration example of a general image forming apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

PD 光検出器
LD1〜LD4 レーザ光源
10 可変抵抗
11 抵抗
50−1〜50−4 電流源
PD photodetectors LD1 to LD4 Laser light source 10 Variable resistance 11 Resistance 50-1 to 50-4 Current source

Claims (8)

マルチレーザ光源の光量を電圧として検出する1つの光検出手段と、前記光検出手段で検出された電圧に基づき前記マルチレーザ光源の光量を制御する光量制御手段とを有する光量制御装置において、前記光検出手段で検出される電圧が所定電圧値以上になるのを防止する過電圧防止手段がさらに設けられていることを特徴とする光量制御装置。 In the light quantity control device comprising: one light detection means for detecting the light quantity of the multi-laser light source as a voltage; and a light quantity control means for controlling the light quantity of the multi-laser light source based on the voltage detected by the light detection means. An overvoltage prevention means for preventing the voltage detected by the detection means from exceeding a predetermined voltage value is further provided. 請求項1記載の光量制御装置において、前記過電圧防止手段は、前記光検出手段の電圧検出端子の電圧を制限する電圧リミッタである事を特徴とする光量制御装置。 2. The light quantity control device according to claim 1, wherein the overvoltage prevention means is a voltage limiter that limits a voltage at a voltage detection terminal of the light detection means. 請求項2記載の光量制御装置において、前記電圧リミッタは、ツェナーダイオードであることを特徴とする光量制御装置。 3. The light quantity control device according to claim 2, wherein the voltage limiter is a Zener diode. 請求項1記載の光量制御装置において、前記過電圧防止手段は、マルチレーザ光源の光量制御を行う光量制御処理時以外の期間は前記光検出手段の電圧検出端子を接地電位にする短絡スイッチである事を特徴とする光量制御装置。 2. The light quantity control device according to claim 1, wherein the overvoltage prevention means is a short-circuit switch for setting a voltage detection terminal of the light detection means to a ground potential during a period other than a light quantity control process for performing light quantity control of a multi-laser light source. A light quantity control device characterized by the above. 請求項1記載の光量制御装置において、前記過電圧防止手段は、メカシャッターと、メカシャッター制御手段とにより構成され、前記メカシャッター制御手段は、マルチレーザ光源の光量制御を行う光量制御処理時以外の期間は前記メカシャッターを閉じる制御信号を前記メカシャッターに入力し、該制御信号の入力によって前記メカシャッターは、前記光検出手段に入力する前記マルチレーザ光源の光束を物理的に通さないように動作する事を特徴とする光量制御装置。 2. The light quantity control device according to claim 1, wherein the overvoltage prevention means is composed of a mechanical shutter and a mechanical shutter control means, and the mechanical shutter control means is not in a light quantity control process for performing light quantity control of a multi-laser light source. During the period, a control signal for closing the mechanical shutter is input to the mechanical shutter, and the mechanical shutter is operated so as not to physically pass the light beam of the multi-laser light source input to the light detection means by the input of the control signal. The light quantity control device characterized by doing. 請求項1記載の光量制御装置において、前記過電圧防止手段は、前記過電圧防止手段における電圧波形のオーバーシュートを防止するローパスフィルタとアナログスイッチで構成されている事を特徴とする光量制御装置。 2. The light quantity control device according to claim 1, wherein the overvoltage prevention means includes a low-pass filter and an analog switch for preventing overshoot of a voltage waveform in the overvoltage prevention means. 請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の光量制御装置が用いられる事を特徴とする光走査装置。 An optical scanning device using the light quantity control device according to any one of claims 1 to 6. 請求項7記載の光走査装置が用いられる事を特徴とする画像形成装置。 An image forming apparatus using the optical scanning device according to claim 7.
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