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JP2009168673A - Ionization method and apparatus - Google Patents

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JP2009168673A
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JP2008008247A
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Kenzo Hiraoka
賢三 平岡
Jun Takamizawa
淳 高見澤
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University of Yamanashi NUC
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University of Yamanashi NUC
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Abstract

【目的】空間分解能とイオン化効率を高める。
【構成】第1および第2の2つのレーザ・ビームL1,L2を異なる方向から試料SAに向けて,これら2つのレーザ・ビームのスポットS1,S2がその一部において試料表面上で重なるように,集光して,照射し,これら2つのレーザ・ビームの重なった試料部分から微粒子を脱離させ,脱離した微粒子が存在する空間に向けて第3のレーザ・ビームL3を照射して気化させる。気化された試料イオンをキャピラリー41を通して質量分析装置42に導く。
【選択図】図2
[Objective] To improve spatial resolution and ionization efficiency.
The first and second laser beams L1 and L2 are directed toward the sample SA from different directions so that the spots S1 and S2 of the two laser beams partially overlap on the sample surface. , Condensing and irradiating, detaching the fine particles from the sample portion where these two laser beams overlap, and irradiating with the third laser beam L3 toward the space where the detached fine particles exist and vaporizing Let The vaporized sample ions are guided to the mass spectrometer 42 through the capillary 41.
[Selection] Figure 2

Description

この発明はイオン化方法および装置に関し,特に試料(生体組織,細胞,有機材料等)を質量分析するためにイオン化する方法および装置に関する。   The present invention relates to an ionization method and apparatus, and more particularly to a method and apparatus for ionizing a sample (biological tissue, cell, organic material, etc.) for mass spectrometry.

生体分子の代表的イオン化法である MALDI(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization )は,紫外レーザ光を固体マトリックスに吸収させアブレーション(ビームエネルギを吸収した物質が大きなエネルギをもつフラグメントとして爆発的に飛散する現象)を発生させて,生体高分子を脱離,イオン化する方法である。近年はこの技術を2次元イメージングに応用しようという試みがなされている。
Koichi Tanaka, Hiroaki Waki, Yutaka Ido, Satoshi Akita, Yoshikazu Yoshida, Tamio Yoshida, T.Matsuo“Protein and polymer analyses up to m/z 100 000 by laser ionization time-of-flight mass spectrometry”Rapid Communications in Mass Spectrometry, Volume 2, Issue 8, August 1988, pp151-153 Richard M. Caprioli, Terry B. Farmer, and Jocelyn Gile“Molecular Imaging of Biological Samples:Localization of Peptides and Proteins Using MALDI-TOF MS”Analytical Chemistry, Vol.69, No.23, December 1, 1997, pp4751-4760
MALDI (Matrix Assisted Laser Desorption / Ionization), which is a typical ionization method for biomolecules, is a phenomenon in which ultraviolet laser light is absorbed into a solid matrix and ablation (the material that absorbed the beam energy explodes as a fragment with large energy). ) To desorb and ionize biopolymers. In recent years, attempts have been made to apply this technique to two-dimensional imaging.
Koichi Tanaka, Hiroaki Waki, Yutaka Ido, Satoshi Akita, Yoshikazu Yoshida, Tamio Yoshida, T. Matsuo “Protein and polymer analyzes up to m / z 100 000 by laser ionization time-of-flight mass spectrometry” Rapid Communications in Mass Spectrometry, Volume 2, Issue 8, August 1988, pp151-153 Richard M. Caprioli, Terry B. Farmer, and Jocelyn Gile “Molecular Imaging of Biological Samples: Localization of Peptides and Proteins Using MALDI-TOF MS” Analytical Chemistry, Vol.69, No.23, December 1, 1997, pp4751-4760

しかしながら,MALDI の空間分解能は用いる光の回折限界によって決定されるので,波長オーダ程度が限度である。さらに,MALDI では試料を完全に気化できず,そのためイオン化効率が低いという問題がある。   However, since the spatial resolution of MALDI is determined by the diffraction limit of the light used, the wavelength order is the limit. In addition, MALDI has the problem that the sample cannot be completely vaporized, so that the ionization efficiency is low.

この発明は,波長オーダよりも微細な範囲について試料の微粒子を発生させ,これを高い効率でイオン化できる方法および装置を提供するものである。   The present invention provides a method and apparatus capable of generating fine particles of a sample in a range finer than the wavelength order and ionizing them with high efficiency.

この発明によるイオン化方法は,第1および第2の2つのレーザ・ビームを異なる方向から試料に向けて,これら2つのレーザ・ビームがその一部において試料表面上で重なるように,少なくとも一方のレーザ・ビームを集光して,照射し,これら2つのレーザ・ビームの重なった試料部分から微粒子を脱離させ,脱離した微粒子が存在する空間に向けて第3のレーザ・ビームを照射して微粒子を気化させるものである。   The ionization method according to the present invention is such that the first and second laser beams are directed to the sample from different directions, and at least one of the two laser beams overlaps the sample surface in part. Condensing and irradiating the beam, detaching the fine particles from the sample portion where these two laser beams overlap, and irradiating the third laser beam toward the space where the desorbed fine particles exist It vaporizes fine particles.

この発明によるイオン化装置は,第1,第2および第3のレーザ・ビームを生成するとともにこれらの3つのレーザ・ビームを別個に集光,投射するレーザ光学系を備え,第1および第2のレーザ・ビームは,異なる方向から試料に向けて,少なくとも一方のレーザ・ビームが集光されて,投射され,これら2つのレーザ・ビームがその一部において試料表面上で重なるように,そして重なった領域において試料から微粒子が脱離するように,方向,強度,ビーム径等が調整され,第3のレーザ・ビームは上記2のレーザ・ビームの重なった試料部分から脱離した微粒子が存在する空間に向けて集光,投射されるように(方向,強度,ビーム径等が)調整されているものである。   An ionization apparatus according to the present invention includes a laser optical system that generates first, second, and third laser beams, and separately collects and projects these three laser beams. The laser beam was directed to the sample from different directions, and at least one of the laser beams was focused and projected so that the two laser beams overlapped on the sample surface in part. The direction, intensity, beam diameter, and the like are adjusted so that the fine particles are detached from the sample in the region, and the third laser beam is a space where the fine particles detached from the sample portion where the laser beam overlaps the second laser beam exists. (Direction, intensity, beam diameter, etc.) are adjusted so as to be focused and projected toward the center.

この発明によると,第1および第2のレーザ・ビームを集光し(必要ならば光の回折限界近くまで),試料表面上でこれら2つのレーザ・ビームによる照射範囲が一部重なるようにする。2つのレーザ・ビームの重なった照射範囲(領域)では試料の微粒子が脱離する程度のレーザ強度となるように各レーザ強度が調整される。レーザ・ビームが重なった領域においてのみ試料から微粒子が脱離する。レーザ・ビームのスポットは回折限界により規定される範囲以下には小さくすることはできないが,2つのレーザ・ビームが重なった領域については回折限界により規定される範囲よりも小さくすることが可能である。2つのレーザ・スポットが重なった領域でのみ試料からの脱離が行なわれるから,光の回折限界を超えた空間分解能が得られる。   According to the present invention, the first and second laser beams are condensed (to near the diffraction limit of light if necessary), and the irradiation ranges of these two laser beams are partially overlapped on the sample surface. . In the irradiation range (region) where the two laser beams overlap, the laser intensity is adjusted so that the laser intensity is such that fine particles of the sample are detached. Fine particles are detached from the sample only in the region where the laser beams overlap. The laser beam spot cannot be made smaller than the range defined by the diffraction limit, but the area where the two laser beams overlap can be made smaller than the range defined by the diffraction limit. . Since desorption from the sample is performed only in the region where the two laser spots overlap, a spatial resolution exceeding the diffraction limit of light can be obtained.

このようにして微細な領域から脱離した試料の微粒子は次に第3のレーザ・ビームによって照射され,ほぼ完全に気化,イオン化される。   The sample fine particles detached from the fine region in this way are then irradiated by the third laser beam, and are almost completely vaporized and ionized.

イオン化された試料分子は質量分析装置に導かれ,質量分析される。   The ionized sample molecules are guided to a mass spectrometer and subjected to mass analysis.

このように,空間分解能が高まるので,2つのレーザ光のスポットが重なる場所を走査すれば,2次元分子イメージ像を得ることも可能となる。   As described above, since the spatial resolution is increased, a two-dimensional molecular image image can be obtained by scanning a place where two laser light spots overlap.

なお,2つまたは3つのレーザ・ビームは1つまたは2つのレーザ装置から出射するレーザ・ビームをビーム・スプリットすることにより生成することも可能である。   Two or three laser beams can be generated by beam splitting the laser beams emitted from one or two laser devices.

この発明によるイオン化方法は大気圧下でも,真空内でも行うことが可能である。   The ionization method according to the present invention can be performed under atmospheric pressure or in vacuum.

図1はこの発明の実施例による分子イメージング像の形成が可能なイオン化装置の概略構成を示すものである。   FIG. 1 shows a schematic configuration of an ionization apparatus capable of forming a molecular imaging image according to an embodiment of the present invention.

このイオン化装置は大気圧下で動作可能である。このイオン化装置によって試料から脱離,イオン化された試料イオンは,キャピラリ41を通してたとえば質量分析装置42に導かれる。質量分析装置の例としては直交型飛行時間質量分析計を挙げることができるが,この発明は(リニア)イオントラップ装置等の質量分析装置にも適用可能である。   The ionizer can operate at atmospheric pressure. The sample ions desorbed and ionized from the sample by the ionizer are guided to the mass spectrometer 42 through the capillary 41, for example. An example of a mass spectrometer is an orthogonal time-of-flight mass spectrometer, but the present invention is also applicable to a mass spectrometer such as a (linear) ion trap apparatus.

イオン化装置内の適所にサンプル・ステージ10が設けられる。このサンプル・ステージ10上には試料が塗布された基板12が載置されかつ適当な固定具(図示略)により固定される。便宜的にサンプル・ステージ10の上面をXY平面とし,これに垂直な方向をZ方向とする。   A sample stage 10 is provided in place in the ionizer. A substrate 12 coated with a sample is placed on the sample stage 10 and fixed by an appropriate fixture (not shown). For convenience, the upper surface of the sample stage 10 is the XY plane, and the direction perpendicular thereto is the Z direction.

イオン化装置にはXYZマニュピレータ11が設けられ,このXYZマニュピレータ11はサンプル・ステージ10をX,Y,Zの各方向に独立に移動可能に保持する。X方向,Y方向およびZ方向への変位の駆動源はたとえばピエゾ素子またはステッピングモータを用いた駆動装置など機械的な振動を与え得るものであり,nmオーダの分解能でX,Y,Z方向への変位を別個に制御できることが望ましい。X,Y方向のうちの少なくとも一方向に変位可能であればよく,またZ方向への移動は必ずしもできなくてもよい。   An XYZ manipulator 11 is provided in the ionizer, and the XYZ manipulator 11 holds the sample stage 10 so as to be independently movable in the X, Y, and Z directions. The drive source for displacement in the X direction, Y direction and Z direction can give mechanical vibration such as a drive device using a piezo element or a stepping motor, and in the X, Y, Z direction with a resolution of nm order. It is desirable to be able to control the displacement of each separately. It is only necessary to be able to displace in at least one of the X and Y directions, and movement in the Z direction is not necessarily required.

サンプル・ステージ10の斜め上方には,第1および第2のレーザ装置21,22とそれらの集光光学系(レンズなど)31,32(レーザ装置と集光光学系を含めてレーザ光学系という)が設けられている。これらのレーザ光学系は,集点位置,レーザの投射方向等が調整可能であり,さらにレーザ・ビーム径およびレーザ強度も制御できるものである。さらに,サンプル・ステージ10の側方には第3のレーザ装置23およびその集光光学系(レンズなど)33(レーザ装置と集光光学系を含めてレーザ光学系という)が配置されている。このレーザ光学系もまた,集点位置,レーザの投射方向,ビーム径,レーザ強度が調整可能である。レーザ装置21,22,23から出射するレーザ・ビームをそれぞれL1,L2,L3とする。1つのレーザ装置の出射光を2つに分け(又は3つに分け),これらをレーザ・ビームL1,L2(およびL3)とすることも可能である。   The first and second laser devices 21 and 22 and their condensing optical systems (lenses, etc.) 31 and 32 (including the laser device and the condensing optical system) are obliquely above the sample stage 10. ) Is provided. These laser optical systems can adjust the focal point position, laser projection direction, and the like, and can also control the laser beam diameter and laser intensity. Further, on the side of the sample stage 10, a third laser device 23 and its condensing optical system (lens or the like) 33 (referred to as a laser optical system including the laser device and the condensing optical system) are arranged. This laser optical system can also adjust the focal point position, laser projection direction, beam diameter, and laser intensity. The laser beams emitted from the laser devices 21, 22, and 23 are denoted as L1, L2, and L3, respectively. It is also possible to divide the light emitted from one laser device into two (or three) and use these as laser beams L1, L2 (and L3).

サンプル・ステージ10上の試料が置かれる場所付近の上方には,イオン・サンプリング用のキャピラリー41の先端が臨むように配置されている。キャピラリー41はここで生成された試料イオンを質量分析装置42に導くためのものである。キャピラリー41もまた,その角度や位置が調整可能に保持されることが望ましい。   The tip of the ion sampling capillary 41 is arranged above the vicinity of the place on the sample stage 10 where the sample is placed. The capillary 41 is for guiding the sample ions generated here to the mass spectrometer 42. It is desirable that the capillary 41 is also held so that its angle and position can be adjusted.

分析対象となる試料(ペプチド,たんぱく質,合成高分子,顔料,DNAなど)に適した適当なマトリックスを選択して(マトリックスは必ずしも必要ではない。対象試料に依存する。),試料と混合する。マトリックスと混合した試料を適当な溶媒に溶解し,またはすりつぶすなどして,ガラス基板12上に塗布する。対象試料をそのまま基板12上に載置ないしは塗布してもよいし,試料の上に適当なマトリックスを薄く塗布してもよい。いずれにしても,試料SAはマトリックスを含むもの,含まないものの両方を含むものとする。ガラス基板12はサンプル・ステージ10上に固定される。   A suitable matrix suitable for the sample to be analyzed (peptide, protein, synthetic polymer, pigment, DNA, etc.) is selected (the matrix is not necessarily required, depends on the sample to be analyzed) and mixed with the sample. The sample mixed with the matrix is dissolved or ground in a suitable solvent and applied onto the glass substrate 12. The target sample may be placed or coated on the substrate 12 as it is, or an appropriate matrix may be thinly coated on the sample. In any case, the sample SA includes both those that include the matrix and those that do not. The glass substrate 12 is fixed on the sample stage 10.

図2は3つのレーザ光L1,L2,L3の照射方向と照射範囲を拡大して示すものであり,図3は2つのレーザ光L1とL2のレーザ・スポットの重なりを示すものである。レーザL1,L2により試料SAの表面上に形成されるレーザ・スポットをS1,S2で示す。   FIG. 2 shows the irradiation direction and irradiation range of the three laser beams L1, L2, and L3 in an enlarged manner, and FIG. 3 shows the overlap of the laser spots of the two laser beams L1 and L2. Laser spots formed on the surface of the sample SA by the lasers L1 and L2 are denoted by S1 and S2.

第1および第2のレーザ光学系による第1,第2のレーザ光L1,L2の焦点位置および投射方向(必要ならばレーザ・ビーム径も)を調整して,これらのレーザ光L1,L2によるレーザ・スポットS1,S2が試料SAの表面上で一部のみ重なるようにする。また,レーザ光L1またはレーザ光L2単独では試料が脱離しない程度のレーザ光強度とし,レーザ・スポットS1とS2が重なった領域でのみ試料から微粒子が脱離するようにレーザ光L1,L2のレーザ強度が調整される。レーザ光L1とL2は連続光でもパルス光でもよいが,パルス光の場合にはこれらのレーザ光L1,L2は同期して同時に試料を照射するようにする。   The focal positions and projection directions (and the laser beam diameter if necessary) of the first and second laser beams L1 and L2 by the first and second laser optical systems are adjusted, and the laser beams L1 and L2 are used. The laser spots S1 and S2 are partially overlapped on the surface of the sample SA. The laser beams L1 and L2 have a laser beam intensity enough to prevent the sample from being desorbed by the laser beam L1 or the laser beam L2 alone, and the fine particles are desorbed from the sample only in the region where the laser spots S1 and S2 overlap. The laser intensity is adjusted. The laser beams L1 and L2 may be continuous light or pulsed light. However, in the case of pulsed light, the laser beams L1 and L2 are simultaneously irradiated with the sample synchronously.

レーザ光L1,L2それぞれ単独では光の回折限界により規定されるスポット径以下に集光することはできないが,上記のように2つのレーザ光L1とL2が重なった領域は光の回折限界を超えた狭い範囲にすることが可能であり,きわめて高い空間分解能が得られる。   Each of the laser beams L1 and L2 cannot be focused below the spot diameter defined by the light diffraction limit, but the region where the two laser beams L1 and L2 overlap as described above exceeds the light diffraction limit. It is possible to achieve a very narrow spatial resolution.

試料SAがマトリックスを含む場合には2のレーザ光L1,L2として紫外光レーザを用いることが好ましいが,水溶液系を脱離,イオン化するためには赤外光レーザを用いるとよい。   When the sample SA includes a matrix, it is preferable to use an ultraviolet laser as the second laser beams L1 and L2, but an infrared laser may be used to desorb and ionize the aqueous solution system.

図1ないし図3では回折限界近くまで絞った2つのレーザ光の重ね合わせが図示されているが,たとえば第2のレーザ光L2を光ファイバにより試料SAの近くまで導き,近接場光を発生させ,これと第1のレーザ光L1(集光されている)とを重ね合わせてもよい。   FIGS. 1 to 3 show the superposition of two laser beams focused close to the diffraction limit. For example, the second laser beam L2 is guided near the sample SA by an optical fiber to generate near-field light. , And this may be superimposed on the first laser beam L1 (condensed).

第3のレーザ・ビームL3は試料SAから脱離した(キャピラリー41により吸引される前の)微粒子が存在する空間に向けて集光されて投射される。第3のレーザ・ビームL3としては,パルス状または連続発振の赤外光(たとえばCO2 レーザ光)がよい。さまざまなサイズの液滴を含む微粒子が第3のレーザ・ビームL3の照射によりほぼ完全に気化されて,キャピラリー41を通して質量分析装置42に導入されることになる(質量分析装置42内は真空なので,試料イオンは吸引される)。 The third laser beam L3 is condensed and projected toward a space where fine particles desorbed from the sample SA (before being sucked by the capillary 41) are present. The third laser beam L3 is preferably pulsed or continuous wave infrared light (for example, CO 2 laser light). Fine particles containing droplets of various sizes are almost completely vaporized by irradiation with the third laser beam L3 and introduced into the mass spectrometer 42 through the capillary 41 (since the mass analyzer 42 is a vacuum). , Sample ions are aspirated).

他の実施例として,サンプル・ステージ10とイオン取り込み口(キャピラリー41の先端)との間に放電電極を設けて試料イオンをフラグメント化する。それによってタンパク質分析などが可能となる。サンプル・ステージ10,XYZマニュピレータ11等を内部に含むハウジングを設け,このハウジング内を真空にしてもよい。レーザ装置21,22,23はハウジングの外に配置し,レーザ光に対して透明な窓を通してレーザ光を照射することができる。   As another embodiment, a discharge electrode is provided between the sample stage 10 and the ion intake port (tip of the capillary 41) to fragment sample ions. This makes it possible to analyze proteins. A housing including the sample stage 10, the XYZ manipulator 11 and the like may be provided, and the inside of the housing may be evacuated. The laser devices 21, 22, and 23 are disposed outside the housing, and can irradiate the laser beam through a window transparent to the laser beam.

イオン化装置の概略構成を示す。1 shows a schematic configuration of an ionization apparatus. 3つのレーザ・ビームの焦点位置と方向を拡大して示す。The focal positions and directions of the three laser beams are shown enlarged. 2つのレーザ・ビームのスポットの重なりを示す。2 shows the overlap of two laser beam spots.

符号の説明Explanation of symbols

10 サンプル・ステージ
12 ガラス基板
21,22,23 レーザ装置
31,32,33 集光光学系
41 キャピラリー
42 質量分析装置
L1,L2,L3 レーザ・ビーム
SA 試料
S1,S2 レーザ・スポット
10 Sample stage
12 Glass substrate
21, 22, 23 Laser equipment
31, 32, 33 Condensing optical system
41 capillary
42 Mass spectrometer L1, L2, L3 Laser beam SA Sample S1, S2 Laser spot

Claims (4)

第1および第2の2つのレーザ・ビームを異なる方向から試料に向けて,これら2つのレーザ・ビームがその一部において試料表面上で重なるように,少なくとも一方のレーザ・ビームを集光して,照射し,これら2つのレーザ・ビームの重なった試料部分から微粒子を脱離させ,
脱離した微粒子が存在する空間に向けて第3のレーザ・ビームを照射して微粒子を気化させる,
イオン化方法。
The first and second laser beams are directed to the sample from different directions, and at least one laser beam is focused so that the two laser beams partially overlap the sample surface. , Irradiate and remove the fine particles from the sample part where these two laser beams overlap,
The third laser beam is irradiated toward the space where the detached fine particles exist to vaporize the fine particles.
Ionization method.
気化された試料イオンを質量分析装置に導く,
請求項1に記載のイオン化方法。
Lead the vaporized sample ions to the mass spectrometer,
The ionization method according to claim 1.
第1,第2および第3のレーザ・ビームを生成するとともにこれらの3つのレーザ・ビームを別個に集光,投射するレーザ光学系を備え,
第1および第2のレーザ・ビームは,異なる方向から試料に向けて,少なくとも一方のレーザ・ビームが集光されて,投射され,これら2つのレーザ・ビームがその一部において試料表面上で重なるように調整され,
第3のレーザ・ビームは上記2つのレーザ・ビームの重なった試料部分から脱離した微粒子が存在する空間に向けて集光,投射されるように調整されている,
イオン化装置。
A laser optical system for generating first, second and third laser beams and separately focusing and projecting the three laser beams;
The first and second laser beams are focused and projected from different directions toward the sample, and the two laser beams partially overlap on the sample surface. Adjusted so that
The third laser beam is adjusted so as to be focused and projected toward the space where the fine particles detached from the sample portion where the two laser beams overlap are present.
Ionizer.
第1および第2のレーザ・ビームの照射により試料から脱離し,第3のレーザ・ビーム照射により気化された試料イオンを質量分析装置に導く手段をさらに備えている,請求項3に記載のイオン化装置。   The ionization according to claim 3, further comprising means for desorbing the sample ions by irradiation with the first and second laser beams and guiding the sample ions vaporized by the third laser beam irradiation to a mass spectrometer. apparatus.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014228431A (en) * 2013-05-23 2014-12-08 国立大学法人浜松医科大学 Sample analyzer
JP2014228430A (en) * 2013-05-23 2014-12-08 国立大学法人浜松医科大学 Sample analyzer
JP2015137992A (en) * 2014-01-24 2015-07-30 株式会社島津製作所 MALDI ion source
CN106158608A (en) * 2015-03-27 2016-11-23 上海微电子装备有限公司 A kind of laser anneal device with energy compensating and method for annealing

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014228431A (en) * 2013-05-23 2014-12-08 国立大学法人浜松医科大学 Sample analyzer
JP2014228430A (en) * 2013-05-23 2014-12-08 国立大学法人浜松医科大学 Sample analyzer
JP2015137992A (en) * 2014-01-24 2015-07-30 株式会社島津製作所 MALDI ion source
CN106158608A (en) * 2015-03-27 2016-11-23 上海微电子装备有限公司 A kind of laser anneal device with energy compensating and method for annealing

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