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JP2010086978A - Semiconductor manufacturing system - Google Patents

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JP2010086978A
JP2010086978A JP2008250848A JP2008250848A JP2010086978A JP 2010086978 A JP2010086978 A JP 2010086978A JP 2008250848 A JP2008250848 A JP 2008250848A JP 2008250848 A JP2008250848 A JP 2008250848A JP 2010086978 A JP2010086978 A JP 2010086978A
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JP
Japan
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semiconductor manufacturing
information
transfer
clean room
transport
Prior art date
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Application number
JP2008250848A
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Japanese (ja)
Inventor
Keiji Yamamoto
啓嗣 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

【課題】装置及び搬送のトラブルを迅速に把握する。
【解決手段】半導体製造システム70には、ホストコンピュータ1、CRレイアウト記憶装置2、統括生産情報システム3、装置管理システム4、搬送制御システム5、歩留統御システム6、半導体製造装置7a、半導体製造装置7n、LAN8、装置情報取得部11、搬送情報取得部12、生産情報取得部13、連動表示制御部14、連動表示部15、搬送指示部16が設けられる。連動表示制御部14、連動表示部15、及び搬送指示部16は、半導体製造自動化クリーンルームでの装置及び搬送のトラブルを迅速に把握してクリーンルームレイアウト画面に表示する。表示後、クリーンルームレイアウト画面上で搬送車を指定し、搬送車の移送径路の変更、移送先の半導体製造装置の変更を行う。
【選択図】図1
The present invention quickly grasps troubles in an apparatus and conveyance.
A semiconductor manufacturing system includes a host computer, a CR layout storage device, a general production information system, a device management system, a transfer control system, a yield control system, a semiconductor manufacturing device, a semiconductor manufacturing device. A device 7n, a LAN 8, a device information acquisition unit 11, a conveyance information acquisition unit 12, a production information acquisition unit 13, a linked display control unit 14, a linked display unit 15, and a conveyance instruction unit 16 are provided. The interlocking display control unit 14, the interlocking display unit 15, and the transfer instruction unit 16 quickly grasp the apparatus and transport troubles in the semiconductor manufacturing automation clean room and display them on the clean room layout screen. After the display, the transport vehicle is designated on the clean room layout screen, and the transfer path of the transport vehicle is changed and the semiconductor manufacturing apparatus of the transfer destination is changed.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、半導体製造システムに関する。   The present invention relates to a semiconductor manufacturing system.

半導体製造の自動化クリーンルーム(例えば、ウェハサイズ300mmのCR)は、大量の半導体製造装置や半導体集積回路が形成される製造工程中のウェハを搬送する搬送装置などで構成される。半導体製造の自動化クリーンルームは、長大な製造工程を有するロットの生産管理、半導体製造装置や搬送装置などの制御、半導体製造装置間でのロットの搬送の制御等を自動化するための大規模、且つ多種多様な制御システム群やそれをサポートする制御プログラムから構成される(例えば、特許文献1参照。)。   An automated clean room for semiconductor manufacturing (for example, a CR having a wafer size of 300 mm) includes a large number of semiconductor manufacturing apparatuses and a transfer apparatus that transfers wafers in a manufacturing process in which semiconductor integrated circuits are formed. Semiconductor manufacturing automation clean room is a large-scale and various for automating production control of lots with long manufacturing processes, control of semiconductor manufacturing equipment and transport equipment, control of transport of lots between semiconductor manufacturing equipment, etc. It consists of various control system groups and control programs that support them (see, for example, Patent Document 1).

特許文献1などに記載される半導体製造の自動化クリーンルームでは、半導体製造装置や搬送装置などの装置トラブル、プロセス変動などで発生する半導体集積回路の歩留低下、及び製造品種群の大幅切り替え等による生産性の低下発生時には、システム担当が各システムの稼働動態、半導体製造装置や搬送の稼働状態、半導体製造装置の在庫状態を順次確認調査している。このため、生産性の低下要因の発見に多大な時間を要するという問題点がある。
特開2007−141019号公報
In an automated clean room for semiconductor manufacturing described in Patent Document 1 and the like, production due to device troubles such as semiconductor manufacturing equipment and transfer equipment, a decrease in yield of semiconductor integrated circuits caused by process fluctuations, and drastic switching of manufacturing product groups In the event of a decline in performance, the person in charge of the system sequentially checks and checks the operating dynamics of each system, the operating status of semiconductor manufacturing equipment and transport, and the inventory status of semiconductor manufacturing equipment. For this reason, there is a problem that it takes a lot of time to discover the factor of lowering productivity.
Japanese Patent Laid-Open No. 2007-141019

本発明は、装置及び搬送のトラブルを迅速に把握することができる半導体製造システムを提供する。   The present invention provides a semiconductor manufacturing system capable of quickly grasping an apparatus and a transportation trouble.

本発明の一態様の半導体製造システムは、半導体製造自動化クリーンルームに用いられ、半導体製造装置の稼動状態及び在庫状態と搬送車及び搬送装置の稼動状態とがクリーンルームレイアウト画面に表示される半導体製造システムであって、前記半導体製造装置或いは搬送のトラブルが発生した場合に、前記クリーンルームレイアウト画面にトラブル状態を反映させて表示する連動表示部と、前記連動表示部で選択され、指定された搬送車の移送径路の変更指示を行い、移送先の半導体製造装置の変更指示を行う搬送指示部とを具備することを特徴とする。   A semiconductor manufacturing system according to an aspect of the present invention is a semiconductor manufacturing system that is used in a semiconductor manufacturing automation clean room, and displays the operating state and stock state of the semiconductor manufacturing apparatus and the operating state of the transport vehicle and the transport device on a clean room layout screen. In the case where trouble occurs in the semiconductor manufacturing apparatus or transport, an interlocking display unit that reflects and displays the trouble state on the clean room layout screen, and transfer of the specified transport vehicle selected by the interlocking display unit A transfer instructing unit for instructing to change a path and instructing to change a semiconductor manufacturing apparatus as a transfer destination.

更に、本発明の他態様の半導体製造システムは、半導体製造自動化クリーンルームの半導体製造装置の稼動情報が入力され、その情報を格納する装置情報取得部と、前記半導体製造自動化クリーンルームの生産情報及び半導体製造装置の在庫情報が入力され、その情報を格納する生産情報取得部と、搬送車及び搬送装置の稼動情報が入力され、その情報を格納する搬送情報取得部と、前記半導体製造自動化クリーンルームを構成する半導体製造装置、搬送軌道、搬送車、及び搬送装置の最新配置情報が入力され、更新された情報を格納するCRレイアウト記憶装置と、前記装置情報取得部から出力される半導体製造装置の稼動情報と、前記搬送情報取得部から出力される搬送車及び搬送装置の稼動情報と、前記生産情報取得部から出力される生産情報及び在庫情報とをクリーンルームレイアウト画面に反映させる連動表示制御部と、前記連動表示制御部に基づいて、前記半導体製造装置の稼動状態と、前記搬送車及び前記搬送装置の稼動状態と、前記半導体製造装置の在庫状態とが反映されたクリーンルームレイアウト画面を表示する連動表示部と、前記連動表示部で選択され、指定された搬送車の移送径路の変更指示を行い、移送先の半導体製造装置の変更指示を行う搬送指示部とを具備することを特徴とする。   Furthermore, in the semiconductor manufacturing system of another aspect of the present invention, the operation information of the semiconductor manufacturing apparatus in the semiconductor manufacturing automation clean room is inputted, the apparatus information acquisition unit for storing the information, the production information of the semiconductor manufacturing automation clean room, and the semiconductor manufacturing The device inventory information is input, the production information acquisition unit for storing the information, the operation information of the transport vehicle and the transfer device are input, the transfer information acquisition unit for storing the information, and the semiconductor manufacturing automation clean room The latest layout information of the semiconductor manufacturing apparatus, the transfer track, the transfer vehicle, and the transfer apparatus is input, the CR layout storage device that stores the updated information, and the operation information of the semiconductor manufacturing apparatus that is output from the apparatus information acquisition unit, The operation information of the transport vehicle and the transport device output from the transport information acquisition unit, and the output from the production information acquisition unit Based on the interlocking display control unit that reflects production information and inventory information on a clean room layout screen, the operating state of the semiconductor manufacturing apparatus, the operating state of the transport vehicle and the transport apparatus, An interlocking display unit that displays a clean room layout screen in which the stock status of the semiconductor manufacturing apparatus is reflected, and an instruction to change the transfer path of the designated transport vehicle selected by the interlocking display unit, and a semiconductor manufacturing apparatus as a transfer destination And a conveyance instruction unit for instructing to change the position.

本発明によれば、装置及び搬送のトラブルを迅速に把握することができる半導体製造システムを提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the semiconductor manufacturing system which can grasp | ascertain the apparatus and the trouble of conveyance rapidly can be provided.

以下本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

まず、本発明の実施例1に係る半導体製造システムについて、図面を参照して説明する。図1は半導体製造システムを示すブロック図である。本実施例では、半導体製造自動化クリーンルームでの装置及び搬送のトラブルを迅速に把握し、トラブルに迅速に対応するために連動表示制御部、連動表示部、及び搬送指示部を設けている。   First, a semiconductor manufacturing system according to Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a semiconductor manufacturing system. In this embodiment, an interlock display control unit, an interlock display unit, and a transport instruction unit are provided in order to quickly grasp troubles in the semiconductor manufacturing automation clean room and transport, and to quickly respond to the troubles.

図1に示すように、半導体製造システム70には、ホストコンピュータ1、CRレイアウト記憶装置2、統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3、装置管理システム4、搬送制御システム(Material Control System)5、歩留統御システム(Yield Management System)6、半導体製造装置7a、半導体製造装置7n、LAN8、装置情報取得部11、搬送情報取得部12、生産情報取得部13、連動表示制御部14、連動表示部15、搬送指示部16が設けられる。   As shown in FIG. 1, a semiconductor manufacturing system 70 includes a host computer 1, a CR layout storage device 2, an integrated production information system (Manufacturing Execution System) 3, a device management system 4, a transfer control system (Material Control System) 5, Yield Management System 6, Semiconductor Manufacturing Device 7a, Semiconductor Manufacturing Device 7n, LAN 8, Device Information Acquisition Unit 11, Transport Information Acquisition Unit 12, Production Information Acquisition Unit 13, Interlocking Display Control Unit 14, Interlocking Display Unit 15, a transport instruction unit 16 is provided.

半導体製造システム70は、n個の半導体製造装置を有し、メモリやロジック製品の半導体製造の自動化クリーンルーム(例えば、ウェハサイズ300mmのCR)に適用されるシステムであり、例えばロットの加工処理や検査処理等が行われる。   The semiconductor manufacturing system 70 has n semiconductor manufacturing apparatuses and is a system applied to an automatic clean room (for example, CR with a wafer size of 300 mm) for manufacturing semiconductors for memory and logic products. Processing is performed.

LAN8は、半導体製造システム70に設けられるホストコンピュータ1、CRレイアウト記憶装置2、統括生産情報システム3、装置管理システム4、搬送制御システム5、歩留統御システム6、半導体製造装置7a、半導体製造装置7n、装置情報取得部11、搬送情報取得部12、生産情報取得部13、連動表示制御部14、連動表示部15、及び搬送指示部16の間を接続する。   The LAN 8 includes a host computer 1, CR layout storage device 2, integrated production information system 3, device management system 4, transfer control system 5, yield control system 6, semiconductor manufacturing device 7 a, and semiconductor manufacturing device provided in the semiconductor manufacturing system 70. 7n, the apparatus information acquisition unit 11, the conveyance information acquisition unit 12, the production information acquisition unit 13, the interlock display control unit 14, the interlock display unit 15, and the conveyance instruction unit 16 are connected.

ホストコンピュータ1は、半導体製造システム70に設けられるCRレイアウト記憶装置2、統括生産情報システム3、装置管理システム4、搬送制御システム5、歩留統御システム6、半導体製造装置7a、半導体製造装置7n、装置情報取得部11、搬送情報取得部12、生産情報取得部13、連動表示制御部14、連動表示部15、及び搬送指示部16を統括制御し、統括制御される情報はLAN8を介して送信される。また、ホストコンピュータ1は統括制御される装置やシステムなどから出力される情報をLAN8を介して受信する。   The host computer 1 includes a CR layout storage device 2, an integrated production information system 3, an apparatus management system 4, a transfer control system 5, a yield control system 6, a semiconductor manufacturing apparatus 7a, a semiconductor manufacturing apparatus 7n, provided in the semiconductor manufacturing system 70. The apparatus information acquisition unit 11, the conveyance information acquisition unit 12, the production information acquisition unit 13, the interlocking display control unit 14, the interlocking display unit 15, and the conveyance instruction unit 16 are controlled in an integrated manner, and information to be controlled is transmitted via the LAN 8. Is done. In addition, the host computer 1 receives information output from a device or system that is controlled in an integrated manner via the LAN 8.

CRレイアウト記憶装置2は、自動化クリーンルームを構成する半導体製造装置7a乃至7n及び搬送レーンのレイアウト情報と、搬送ストッカ、リフタ、及びOHB(Over Head Buffer 搬送棚)などの搬送装置のレイアウト情報と、OHT(Overhead Hoist Transport)やOHS(Over Head Shuttle)などの搬送車のレイアウト情報とを格納する。ここで、搬送レーンは、例えばクリーンルームの天井部に設置され、ロットなどを搭載する搬送車を自動搬送する。OHT(Overhead Hoist Transport)は工程内搬送に使用され、軌道レール上或いは軌道レール直下を移動する無人搬送車であり、OHS(Over Head Shuttle)は工程間搬送に使用され、軌道レール上或いは軌道レール直下を移動する無人搬送車である。   The CR layout storage device 2 includes layout information of semiconductor manufacturing apparatuses 7a to 7n and transport lanes that constitute an automated clean room, layout information of transport apparatuses such as a transport stocker, lifter, and OHB (Over Head Buffer transport shelf), and OHT. (Overhead Hoist Transport) and OHS (Over Head Shuttle) and other vehicle layout information are stored. Here, the transport lane is installed, for example, on the ceiling of a clean room, and automatically transports a transport vehicle carrying a lot or the like. OHT (Overhead Hoist Transport) is used for in-process transport and is an automatic guided vehicle that moves on or just below the track rail. It is an automated guided vehicle that moves underneath.

統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3は、自動化クリーンルームにおける種々の情報管理の中心的な役割を担うシステムであり、具体的には工程フローや在庫などの生産情報と半導体製造装置の稼働状態を管理し、装置管理システム4経由で半導体製造装置に対象ロットや処理レシピの指示、搬送制御システム(Material Control System)5経由で対象ロットの搬送指示などを行う。   The Integrated Production Information System (Manufacturing Execution System) 3 is a system that plays a central role in various information management in an automated clean room. Specifically, production information such as process flow and inventory, and the operating status of semiconductor manufacturing equipment. The target lot and processing recipe are instructed to the semiconductor manufacturing apparatus via the apparatus management system 4, and the target lot is instructed to be transferred via the transfer control system (Material Control System) 5.

装置管理システム4は、統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3からの対象ロット指示の半導体製造装置への送信、半導体製造装置の稼働状態の統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3への送信などを行う。   The equipment management system 4 transmits the target lot instruction from the integrated production information system 3 to the semiconductor manufacturing apparatus, the operation status of the semiconductor manufacturing apparatus to the integrated production information system 3, etc. I do.

搬送制御システム(Material Control System)5は、統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3からの各種指示を各搬送設備に適宜伝えて、各搬送設備からの報告をまとめて統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3に伝達するシステムであり、例えば統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3から指示された対象ロットを対象の半導体製造装置に搬送する。なお、搬送制御システム(Material Control System)5は、AMHSインテグレータ(Automated Material Handling System Integrator)とも呼称される。   The conveyance control system (Material Control System) 5 appropriately transmits various instructions from the general production information system (Manufacturing Execution System) 3 to each conveyance facility, and summarizes the reports from each conveyance facility to produce a comprehensive production information system (Manufacturing Execution System). System) 3, for example, a target lot instructed by a manufacturing execution system 3 is transferred to a target semiconductor manufacturing apparatus. In addition, the conveyance control system (Material Control System) 5 is also called an AMHS integrator (Automated Material Handling System Integrator).

歩留統御システム(Yield Management System)6は、自動化クリーンルームにおけるメモリやロジック製品のロット毎及びウェハ毎の歩留情報、製品毎やプロセス毎の歩留情報、歩留解析に必要なプロセス工程条件や半導体製造装置の工程能力の情報、メモリやロジック製品毎に必要とされるプロセス工程条件の情報を備え、これらの情報に基づいて歩留分析や歩留のモニター等の統御を行う。   Yield Management System 6 is the yield information for each lot and wafer of memory and logic products in an automated clean room, yield information for each product and process, process process conditions necessary for yield analysis, Information on the process capability of the semiconductor manufacturing apparatus and information on the process process conditions required for each memory and logic product are provided, and based on these information, yield analysis, yield monitoring, etc. are performed.

半導体製造装置7a、半導体製造装置7nは、メモリやロジック製品のプロセス工程の処理を行う。半導体製造装置には、ロット毎や複数のロットを一括処理に対応する装置(バッチ処理装置)、枚葉式処理を行う処理装置(枚葉処理装置)、複数のプロセス工程を同時に処理する装置(多機能装置)などがあり、用途に応じて適宜使用される。   The semiconductor manufacturing apparatus 7a and the semiconductor manufacturing apparatus 7n perform processing of memory and logic product process steps. Semiconductor manufacturing equipment includes batch processing equipment (batch processing equipment) for each lot or a plurality of lots, processing equipment for single wafer processing (single wafer processing equipment), and equipment for simultaneously processing a plurality of process steps ( Multifunctional devices) and the like, which are appropriately used depending on the application.

装置情報取得部11は、統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3から、半導体製造装置の稼働、QC、メンテナンス、トラブル、待機などの稼働状態の情報を取得して、その情報を連動表示制御部14へ送信する。   The apparatus information acquisition unit 11 acquires information on the operating state of the semiconductor manufacturing apparatus, such as operation, QC, maintenance, trouble, standby, etc., from the integrated manufacturing information system 3 and displays the information as a linked display control unit. 14 to send.

搬送情報取得部12は、搬送制御システム(Material Control System)5から、ロットを搭載する搬送車(OHT(Overhead Hoist Transport)及びOHS(Over Head Shuttle))の状態や搬送レーン上の位置情報、搬送ストッカ、リフタ、OHBなどの搬送装置の稼働状態を取得して、その情報を連動表示制御部14へ送信する。また、搬送情報取得部12は搬送車が移送しているFOUP(Front Opening head Hoist Transport)のIDをもとにして統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3から品名、ロットID等のロット情報を取得する。   The conveyance information acquisition unit 12 receives the information on the state of the conveyance vehicles (OHT (Overhead Hoist Transport) and OHS (Over Head Shuttle)) on which the lot is loaded, the position information on the conveyance lane, and the conveyance from the conveyance control system (Material Control System) 5. The operating state of the transfer device such as the stocker, lifter, or OHB is acquired, and the information is transmitted to the interlocking display control unit 14. Also, the conveyance information acquisition unit 12 obtains lot information such as product name and lot ID from the central manufacturing information system (Manufacturing Execution System) 3 based on the ID of the FOUP (Front Opening head Hoist Transport) that the conveyance vehicle is transporting. get.

生産情報取得部13は、統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3から半導体製造装置の在庫情報を取得して、その情報を連動表示制御部14へ送信する。また、生産情報取得部13は統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3から自動化クリーンルームに投入されているロット情報を取得して、その情報を連動表示制御部14へ送信する。   The production information acquisition unit 13 acquires the inventory information of the semiconductor manufacturing apparatus from the integrated production information system 3 and transmits the information to the interlocking display control unit 14. In addition, the production information acquisition unit 13 acquires lot information input to the automated clean room from the integrated production information system 3 and transmits the information to the interlocking display control unit 14.

連動表示制御部14は、装置情報取得部11から取得した半導体製造装置の稼働状態と、搬送情報取得部12から取得した搬送車や搬送ストッカ、リフタなどの搬送装置の稼働状態と、生産情報取得部13から取得した在庫情報やロット情報をクリーンルームレイアウトイメージにして、連動表示部15に反映する。   The interlocking display control unit 14 acquires the operating state of the semiconductor manufacturing apparatus acquired from the apparatus information acquisition unit 11, the operating state of the transfer device such as the transport vehicle, the transfer stocker, and the lifter acquired from the transfer information acquisition unit 12, and the production information acquisition. The inventory information and the lot information acquired from the unit 13 are reflected on the interlocking display unit 15 as a clean room layout image.

連動表示部15は、連動表示制御部14に基づいて、半導体製造装置の稼働状態と、搬送装置の稼働状態と、半導体製造装置の在庫状態とが反映された情報をクリーンルームレイアウト画面に表示する。また、連動表示部15はクリーンルームレイアウト画面上で搬送車を選択し、選択された搬送車の搬送径路を表示する。また、移送先の半導体製造装置の変更を表示する。   Based on the interlock display control unit 14, the interlocking display unit 15 displays information reflecting the operating state of the semiconductor manufacturing apparatus, the operating state of the transfer apparatus, and the inventory state of the semiconductor manufacturing apparatus on the clean room layout screen. The interlocking display unit 15 selects a transport vehicle on the clean room layout screen, and displays the transport path of the selected transport vehicle. Moreover, the change of the semiconductor manufacturing apparatus of a transfer destination is displayed.

搬送指示部16は、連動表示部15で選択された搬送車の移送径路の変更、移送先の半導体製造装置の変更に対し、統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3及び搬送制御システム(Material Control System)5へ変更指示を行う。搬送指示部16は、移送径路の変更の場合、搬送制御システム(Material Control System)5へ変更指示を出す。搬送指示部16は、移送先の半導体製造装置の変更の場合、統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3へ変更指示を出す。また、搬送指示部16は、統括生産情報システム(Manufacturing Execution System)3から搬送制御システム(Material Control System)5へ変更指示を出し、装置管理システム4へ変更指示を出す。   The transfer instruction unit 16 responds to the change of the transfer route of the transfer vehicle selected by the interlocking display unit 15 and the change of the semiconductor manufacturing apparatus of the transfer destination, and the production control system 3 and the transfer control system (Material Control). System) 5 is instructed to change. The conveyance instructing unit 16 issues a change instruction to the conveyance control system 5 in the case of changing the transfer path. The transfer instruction unit 16 issues a change instruction to the production execution system 3 in the case of changing the semiconductor manufacturing apparatus at the transfer destination. Further, the transfer instruction unit 16 issues a change instruction to the transfer control system (Material Control System) 5 from the integrated production information system (Manufacturing Execution System) 3, and issues a change instruction to the apparatus management system 4.

次に、連動表示制御部の動作について図2乃至6を参照して説明する。図2乃至6は連動表示制御部の処理手順を示すフローチャートである。ここで、図3乃至6は図2をより詳細に説明するための図である。   Next, the operation of the interlocking display control unit will be described with reference to FIGS. 2 to 6 are flowcharts showing the processing procedure of the interlocking display control unit. 3 to 6 are diagrams for explaining FIG. 2 in more detail.

図2に示すように、まず、ホストコンピュータ1の指令に基づいて連動表示制御部14が起動される(ステップS1)。次に、CRレイアウト記憶装置2からクリーンルームレイアウト画面情報が取得される。取得後、装置情報反映プログラム、在庫情報反映プログラム、搬送車情報反映プログラム、及び搬送装置情報プログラムがそれぞれ起動される(ステップS2)。   As shown in FIG. 2, first, the interlocking display control unit 14 is activated based on a command from the host computer 1 (step S1). Next, clean room layout screen information is acquired from the CR layout storage device 2. After the acquisition, the device information reflection program, the inventory information reflection program, the transport vehicle information reflection program, and the transport device information program are each started (step S2).

図3に示すように、装置情報反映プログラムでは、まず、装置情報反映プログラムが起動される(ステップS3)。次に、起動後、装置情報取得部11から半導体製造装置の稼動情報が一定時間毎に取得される(ステップS31)。続いて、その情報がクリーンルームレイアウト画面に反映される(ステップS32)。   As shown in FIG. 3, in the device information reflection program, first, the device information reflection program is started (step S3). Next, after startup, operation information of the semiconductor manufacturing apparatus is acquired from the apparatus information acquisition unit 11 at regular intervals (step S31). Subsequently, the information is reflected on the clean room layout screen (step S32).

ここで、半導体製造装置の稼動情報の取得時間間隔は任意に設定を変更することでき、通常状態では数秒毎に取得される。半導体製造装置の稼動情報とは、稼動、QC、メンテナンス、故障、着工待ちなどの情報である。半導体製造装置の稼動情報には、半導体製造装置のアラーム情報から導き出された処理中の停止状態(チョコ停)も含まれる。半導体製造装置の稼動情報のクリーンルームレイアウト画面は、システム担当者、クリーンルーム作業者、管理者等が表示を判別しやすく、作業環境にやさしい表示となっている。表示は任意に変更できる設定となっている。   Here, the operation information acquisition time interval of the semiconductor manufacturing apparatus can be arbitrarily set, and is acquired every few seconds in the normal state. The operation information of the semiconductor manufacturing apparatus is information such as operation, QC, maintenance, failure, and start of construction. The operation information of the semiconductor manufacturing apparatus includes a stopped state (chocolate stop) during processing derived from the alarm information of the semiconductor manufacturing apparatus. The clean room layout screen of the operation information of the semiconductor manufacturing apparatus is easy to discriminate the display for the person in charge of the system, the operator of the clean room, the administrator, etc., and is a display friendly to the work environment. The display can be changed arbitrarily.

図4に示すように、在庫情報反映プログラムでは、まず、在庫情報反映プログラムが起動される(ステップS4)。次に、生産情報取得部13から半導体製造装置の在庫情報が一定時間毎に取得される(ステップS41)。続いて、その情報がクリーンルームレイアウト画面に反映される(ステップS42)。   As shown in FIG. 4, in the inventory information reflection program, first, the inventory information reflection program is started (step S4). Next, the inventory information of the semiconductor manufacturing apparatus is acquired from the production information acquisition unit 13 at regular intervals (step S41). Subsequently, the information is reflected on the clean room layout screen (step S42).

ここで、生産情報の取得時間間隔は任意に設定を変更することでき、通常状態では数秒毎に取得される。クリーンルームレイアウト画面への反映は、例えば在庫ロット数の所定の数値範囲毎に分類表示される。分類表示は任意に変更できるようになっている。   Here, the production information acquisition time interval can be arbitrarily changed, and is acquired every few seconds in the normal state. The reflection on the clean room layout screen is classified and displayed for each predetermined numerical range of the number of stock lots, for example. The classification display can be changed arbitrarily.

図5に示すように、搬送車情報反映プログラムでは、まず、搬送車情報反映プログラムが起動される(ステップS5)。次に、搬送情報取得部12から搬送車情報が一定時間毎に取得される(ステップS51)。続いて、その情報がクリーンルームレイアウト画面に反映される(ステップS52)。   As shown in FIG. 5, in the transport vehicle information reflection program, first, the transport vehicle information reflection program is started (step S5). Next, the transport vehicle information is acquired from the transport information acquisition unit 12 at regular intervals (step S51). Subsequently, the information is reflected on the clean room layout screen (step S52).

ここで、搬送車情報の取得時間間隔は任意に設定を変更することでき、通常状態では数秒毎に取得される。搬送車情報とは、搬送のID、搬送車の搬送レーン上の位置、FOUP(Front Opening head Hoist Transport)を取りに行く/FOUPを移送するなどの搬送状態、搬送中のFOUP IDなど含む。搬送車情報には、搬送中のFOUPに格納されるロットの品名、ロットID等が含まれる。搬送車情報には、搬送先の半導体製造装置、搬送径路の情報等が含まれる。   Here, the acquisition time interval of the transport vehicle information can be arbitrarily changed, and is acquired every few seconds in the normal state. The transport vehicle information includes a transport ID, a position on the transport lane of the transport vehicle, a transport state such as taking a FOUP (Front Opening Head Hoist Transport) / transporting a FOUP, a FOUP ID being transported, and the like. The transport vehicle information includes the product name, lot ID, and the like of the lot stored in the FOUP being transported. The transport vehicle information includes information on a semiconductor manufacturing apparatus as a transport destination, a transport path, and the like.

クリーンルームレイアウト画面への反映は、搬送レーン上の位置に搬送車が表示され、例えばFOUPを取りに行く状態やFOUPを移送する状態等がシステム担当者、クリーンルーム作業者、管理者等にとって表示が判別しやすく、作業環境にやさしい表示になっている。表示は任意に変更できる設定となっている。搬送レーンの指定された距離中に搬送車が指定台数以上存在する場合、搬送レーンの表示を変えて表示される。搬送レーンの指定された距離を搬送車が通過する時間が指定時間以上になる場合、搬送レーンが変更表示される。   Reflecting on the clean room layout screen, the transport vehicle is displayed at the position on the transport lane. For example, the display state is determined for the person in charge of the system, the clean room worker, the manager, etc. Easy to operate and friendly to the work environment. The display can be changed arbitrarily. If there are more than the specified number of transport vehicles within the specified distance of the transport lane, the display of the transport lane is changed and displayed. When the time required for the transport vehicle to pass the specified distance of the transport lane exceeds the specified time, the transport lane is changed and displayed.

図6に示すように、搬送装置情報反映プログラムでは、まず、搬送装置情報反映プログラムが起動される(ステップS6)。次に、搬送情報取得部12から搬送ストッカ、リフタ、OHB等の搬送装置の稼動情報が一定時間毎に取得される(ステップS61)。続いて、その情報がクリーンルームレイアウト画面に反映される(ステップS62)。   As shown in FIG. 6, in the transfer device information reflection program, first, the transfer device information reflection program is activated (step S6). Next, operation information of the conveyance device such as the conveyance stocker, lifter, and OHB is acquired from the conveyance information acquisition unit 12 at regular intervals (step S61). Subsequently, the information is reflected on the clean room layout screen (step S62).

ここで、搬送装置の稼動情報の取得時間間隔は任意に設定を変更することでき、通常状態では数秒毎に取得される。クリーンルームレイアウト画面への反映は、例えば在庫ロット数の所定の数値範囲毎に分類表示される。分類表示は任意に変更できるようになっている。搬送装置の稼動情報とは、稼動、メンテナンス、故障等である。搬送装置の稼動情報のクリーンルームレイアウト画面への表示は、システム担当者、クリーンルーム作業者、管理者等が表示を判別しやすく、作業環境にやさしい表示となっている。表示は任意に変更できる設定となっている。   Here, the setting of the acquisition time interval of the operation information of the transfer device can be arbitrarily changed, and is acquired every few seconds in the normal state. The reflection on the clean room layout screen is classified and displayed for each predetermined numerical range of the number of stock lots, for example. The classification display can be changed arbitrarily. The operation information of the transfer device includes operation, maintenance, failure, and the like. The display of the operation information of the transfer device on the clean room layout screen is easy for the person in charge of the system, the clean room operator, the administrator, etc. to distinguish the display, and is friendly to the work environment. The display can be changed arbitrarily.

次に、半導体製造自動化クリーンルームでの半導体製造装置や搬送車の稼動状態をクリーンルームレイアウト画面への具体的表示について、図7乃至11を参照して説明する。図7は半導体製造装置の稼動状況選択後の画面イメージを示す図、図8は半導体製造装置の在庫状況選択後の画面イメージを示す図、図9は在庫が多い半導体製造装置の状況を示す図、図10は搬送指示モード時での画面イメージを示す図、図11は搬送径路及び搬送先装置の変更後での画面イメージを示す図である。   Next, a specific display on the clean room layout screen of the operating state of the semiconductor manufacturing apparatus and the transport vehicle in the semiconductor manufacturing automation clean room will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a diagram showing a screen image after selecting the operating status of the semiconductor manufacturing apparatus, FIG. 8 is a diagram showing a screen image after selecting the inventory status of the semiconductor manufacturing apparatus, and FIG. 9 is a diagram showing the status of the semiconductor manufacturing apparatus with a large inventory. 10 is a diagram showing a screen image in the conveyance instruction mode, and FIG. 11 is a diagram showing a screen image after the change of the conveyance path and the conveyance destination device.

クリーンルームレイアウト画面の上部には、装置表示選択パネル21、搬送車表示選択パネル24、及び搬送指示パネル27が設けられる。装置表示選択パネル21には、稼動状態を表示するための表示ボタン22と在庫状態を表示するための表示ボタン23が設けられる。搬送車表示選択パネル24には、搬送状態を示すための表示ボタン25とロット情報を表示するための表示ボタン26が設けられる。搬送指示パネル27には、径路変更を表示するための表示ボタン28が設けられる。クリーンルームレイアウト画面の中央部には、半導体製造装置、搬送軌道30、搬送車31が表示される。   At the top of the clean room layout screen, an apparatus display selection panel 21, a transport vehicle display selection panel 24, and a transport instruction panel 27 are provided. The device display selection panel 21 is provided with a display button 22 for displaying an operating state and a display button 23 for displaying an inventory state. The transport vehicle display selection panel 24 is provided with a display button 25 for displaying a transport state and a display button 26 for displaying lot information. The transport instruction panel 27 is provided with a display button 28 for displaying a path change. In the center of the clean room layout screen, a semiconductor manufacturing apparatus, a transport track 30, and a transport vehicle 31 are displayed.

図7に示すように、装置表示選択パネル21の表示ボタン22が選択された場合、半導体製造装置の稼動状況が、例えば稼動中(半導体装置32a)、待機(半導体装置32b)、故障(半導体装置32c)、メンテ(半導体装置32d)の4種類に分類表示される。故障発生直後の半導体製造装置は、どの半導体装置、どの搬送軌道部分かを明瞭にするために図中に(×印)で表示される。   As shown in FIG. 7, when the display button 22 of the device display selection panel 21 is selected, the operating status of the semiconductor manufacturing apparatus is, for example, in operation (semiconductor device 32a), standby (semiconductor device 32b), or failure (semiconductor device). 32c) and maintenance (semiconductor device 32d). The semiconductor manufacturing apparatus immediately after the failure occurs is indicated by (x) in the drawing in order to clarify which semiconductor device and which transport track portion.

図8に示すように、装置表示選択パネル21の表示ボタン23が選択された場合、半導体製造装置の在庫状況が、例えば0(ゼロ)Lot、1〜5Lot、6〜10Lot、11〜50Lot、51Lotの5種類に分類表示される。また、クリーンルームレイアウト画面の上部には、半導体製造自動化クリーンルームに投入されるメモリやロジック製品の投入Lot状況が、例えばCR残Lot数、処理中Lot数、待機Lot数が表示される。なお、この画面では装置表示選択パネル21、搬送車表示選択パネル24、及び搬送指示パネル27の表示を省略している。   As shown in FIG. 8, when the display button 23 of the device display selection panel 21 is selected, the stock status of the semiconductor manufacturing device is, for example, 0 (zero) lot, 1 to 5 lot, 6 to 10 lot, 11 to 50 lot, 51 lot. Are classified and displayed. In addition, in the upper part of the clean room layout screen, the memory and logic product input lot status input to the semiconductor manufacturing automation clean room, for example, the CR remaining lot number, the processing lot number, and the waiting lot number are displayed. In this screen, the display of the device display selection panel 21, the transport vehicle display selection panel 24, and the transport instruction panel 27 is omitted.

図9に示すように、例えば在庫数の多い半導体製造装置では、この半導体製造装置を選択(例えば、表示部分をタッチ選択)することにより在庫の詳細情報を入手することができる。具体的には、図9(a)に示すように、在庫数が11〜50Lotと表示されるマルチチャンバー構成の多機能装置(I)では、例えば在庫数が40Lot、メタルスパッタA条件が5Lot、メタルスパッタB条件が10Lot、メタルスパッタC条件が8Lot、RIE EtchingD条件が9Lot、RIE EtchingE条件が8Lotと詳細表示され、どの条件の在庫数が多いのかが容易に判別できる。図9(b)に示すように、在庫数が51Lot以上と表示されるマルチチャンバー構成の多機能装置(II)では、例えば在庫数が60Lot、成膜(SiN膜)条件が25Lot、成膜(SiO膜)条件が18Lot、成膜(PolySi膜)条件が27Lotと詳細表示され、どの条件の在庫数が多いのかが容易に判別できる。 As shown in FIG. 9, for example, in a semiconductor manufacturing apparatus with a large number of stocks, detailed information on the stock can be obtained by selecting the semiconductor manufacturing apparatus (for example, touch-selecting the display portion). Specifically, as shown in FIG. 9 (a), in the multi-chamber multifunction device (I) in which the stock quantity is displayed as 11 to 50 Lots, for example, the stock quantity is 40 Lots, the metal sputtering A condition is 5 Lots, The metal sputter B condition is 10 Lot, the metal sputter C condition is 8 Lot, the RIE Etching D condition is 9 Lot, and the RIE Etching E condition is 8 Lot in detail, so that it is easy to determine which condition is in stock. As shown in FIG. 9B, in the multi-chamber multi-function device (II) in which the stock quantity is displayed as 51 lots or more, for example, the stock quantity is 60 lots, the film formation (SiN film) condition is 25 lots, and the film formation ( The SiO 2 film) condition is displayed in detail as 18 Lots, and the film formation (PolySi film) condition is displayed as 27 Lots, so that it is easy to determine which condition is in stock.

図示していないが、搬送車表示選択パネル24の表示ボタン25が選択された場合、クリーンルームレイアウト画面の搬送軌道30上の搬送車31の稼動状況(稼動中、待機、故障、メンテなど)が分類表示される。搬送装置の稼動状況(稼動中、待機、故障、メンテなど)が分類表示される。搬送車表示選択パネル24の表示ボタン26が選択された場合、搬送車31に移送されているFOUPに格納されるロットの品種が分類表示される。なお、半導体製造装置の稼動状況、半導体製造装置の在庫状況、搬送車や搬送装置の稼動状況、FOUPに格納されるロットの品種表示などは、システム担当者、クリーンルーム作業者、管理者等が表示を判別しやいすように、例えば複数の色或いは複数のパターンを用いて分類表示してもよい。   Although not shown, when the display button 25 on the transport vehicle display selection panel 24 is selected, the operation status (operating, standby, failure, maintenance, etc.) of the transport vehicle 31 on the transport track 30 on the clean room layout screen is classified. Is displayed. The operating status (operating, standby, failure, maintenance, etc.) of the transfer device is displayed in a classified manner. When the display button 26 on the transport vehicle display selection panel 24 is selected, the types of lots stored in the FOUP transferred to the transport vehicle 31 are classified and displayed. System personnel, cleanroom workers, managers, etc. display the operating status of semiconductor manufacturing equipment, the status of semiconductor manufacturing equipment inventory, the operating status of transport vehicles and transport equipment, and the type of lots stored in FOUP. For example, a classification display may be made using a plurality of colors or a plurality of patterns.

図10に示すように、例えば半導体製造装置に故障が発生し、メモリやロジック製品などのロットに滞留が発生して在庫数が増加した場合、搬送指示パネル27の表示ボタン28が選択され、搬送車の径路変更と移送先の半導体製造装置の変更が行われる。具体的には、まず、表示ボタン28で選択されたクリーンルームレイアウト画面上のロット搬送中の搬送車(故障発生した半導体製造装置対応の搬送車)が選択される。次に、選択された搬送車に搭載されるロットの工程情報から待機中或いは在庫数の少なく、且つ代替可能な半導体製造装置が選択される。続いて、選択された搬送車の現在の位置と選択された半導体製造装置を結ぶ搬送車の移送径路(図中では、右から左下方向への移送径路)が選択表示される。   As shown in FIG. 10, for example, when a failure occurs in a semiconductor manufacturing apparatus, and a stock is increased due to a stay in a lot such as a memory or logic product, the display button 28 on the transfer instruction panel 27 is selected and the transfer is performed. Car path changes and transfer destination semiconductor manufacturing equipment changes. Specifically, first, a transport vehicle in a lot transport on the clean room layout screen selected by the display button 28 (a transport vehicle corresponding to a semiconductor manufacturing apparatus in which a failure has occurred) is selected. Next, a semiconductor manufacturing apparatus that is on standby or has a small number of stocks and that can be replaced is selected from the process information of the lot mounted on the selected transport vehicle. Subsequently, the transfer path (transfer path from the right to the lower left in the drawing) of the transfer vehicle that connects the current position of the selected transfer vehicle and the selected semiconductor manufacturing apparatus is selectively displayed.

図11に示すように、例えば半導体製造自動化クリーンルームの生産計画の急な見直し、或いは特定なロットの生産見直し(特急ロットへの昇格など)などが発生した場合、まず、クリーンルームレイアウト画面上の、例えばマウスクリックの操作を用いて、選択された搬送車に搭載されるロットの工程情報から待機中或いは在庫数の少なく、且つ代替可能な図10に示す半導体製造装置とは異なる半導体製造装置が選択される。次に、選択された搬送車の現在の位置と選択された半導体製造装置を結ぶ搬送車の移送径路(図中では、右から左上方向への移送径路)が選択表示される。   As shown in FIG. 11, for example, when a sudden review of a production plan of a semiconductor manufacturing automation clean room or a production review of a specific lot (e.g. promotion to an express lot) occurs, first, on the clean room layout screen, for example, By using a mouse click operation, a semiconductor manufacturing apparatus different from the semiconductor manufacturing apparatus shown in FIG. 10 that is on standby or has a small number of stocks and can be replaced is selected from the process information of the lot mounted on the selected transport vehicle. The Next, the transfer path (transfer path from right to upper left in the drawing) of the transfer vehicle connecting the current position of the selected transfer vehicle and the selected semiconductor manufacturing apparatus is selected and displayed.

上述したように、本実施例の半導体製造システムでは、ホストコンピュータ1、CRレイアウト記憶装置2、統括生産情報システム3、装置管理システム4、搬送制御システム5、歩留統御システム6、半導体製造装置7a、半導体製造装置7n、LAN8、装置情報取得部11、搬送情報取得部12、生産情報取得部13、連動表示制御部14、連動表示部15、搬送指示部16が設けられる。連動表示制御部14は、半導体製造装置の稼働状態と、搬送車や搬送ストッカ、リフタなどの搬送装置の稼働状態と、在庫情報やロット情報を連動表示部15に反映する。連動表示部15は、半導体製造装置の稼働状態と、搬送装置の稼働状態と、半導体製造装置の在庫状態とが反映された情報をクリーンルームレイアウト画面に表示する。連動表示部15はクリーンルームレイアウト画面上で搬送車を選択し、選択された搬送車の移送経路を表示する。連動表示部15は移送先の半導体製造装置の変更の表示を行う。搬送指示部16は、連動表示部15で指示された搬送車の移送径路の変更指示と、移送先の半導体製造装置の変更指示を行う。   As described above, in the semiconductor manufacturing system of this embodiment, the host computer 1, the CR layout storage device 2, the integrated production information system 3, the device management system 4, the transfer control system 5, the yield control system 6, and the semiconductor manufacturing device 7a. The semiconductor manufacturing apparatus 7n, the LAN 8, the apparatus information acquisition unit 11, the conveyance information acquisition unit 12, the production information acquisition unit 13, the interlock display control unit 14, the interlock display unit 15, and the conveyance instruction unit 16 are provided. The interlocking display control unit 14 reflects the operating state of the semiconductor manufacturing apparatus, the operating state of the transporting device such as the transport vehicle, the transport stocker, and the lifter, and the inventory information and the lot information on the interlocking display unit 15. The interlocking display unit 15 displays information reflecting the operating state of the semiconductor manufacturing apparatus, the operating state of the transfer apparatus, and the inventory state of the semiconductor manufacturing apparatus on the clean room layout screen. The interlocking display unit 15 selects a transport vehicle on the clean room layout screen, and displays the transfer route of the selected transport vehicle. The interlocking display unit 15 displays a change of the semiconductor manufacturing apparatus as the transfer destination. The conveyance instructing unit 16 issues an instruction to change the transfer path of the conveyance vehicle instructed by the interlocking display unit 15 and an instruction to change the semiconductor manufacturing apparatus as the transfer destination.

このため、半導体製造装置及び搬送のトラブルを容易に把握でき、ロットの滞留を最小限度に抑制することができる。また、クリーンルームレイアウト画面上で搬送車を選定し、搬送車の移送径路の変更、移送先の半導体製造装置の変更を容易に行え、トラブル回避時間を大幅に短縮することができる。したがって、装置総合効率(OEE;Overall Equipment Efficiency)や生産効率などを従来よりも大幅に向上させることができる。   For this reason, the trouble of a semiconductor manufacturing apparatus and conveyance can be grasped | ascertained easily, and retention of a lot can be suppressed to the minimum. In addition, by selecting a transport vehicle on the clean room layout screen, it is possible to easily change the transport path of the transport vehicle and the semiconductor manufacturing apparatus of the transport destination, and greatly reduce trouble avoidance time. Therefore, the overall equipment efficiency (OEE) and production efficiency can be significantly improved as compared with the prior art.

本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々、変更してもよい。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made without departing from the spirit of the invention.

例えば、実施例では、半導体製造(前工程、後工程)に適用しているが、液晶製造などに適用してもよい。また、搬送軌道上を動くOHSやOHTなどのRGV(Rail Guided Vehicle)を用いているが、無軌道上を動くAVG(Automatic Guided Vehicle)を用いてもよい。   For example, in the embodiment, the present invention is applied to semiconductor manufacturing (pre-process and post-process), but may be applied to liquid crystal manufacturing. Further, although RGV (Rail Guided Vehicle) such as OHS and OHT moving on the transport track is used, AVG (Automatic Guided Vehicle) moving on trackless may be used.

本発明は、以下の付記に記載されているような構成が考えられる。
(付記1) 半導体製造自動化クリーンルームに用いられ、半導体製造装置の稼動状態及び在庫状態と搬送車及び搬送装置の稼動状態とがクリーンルームレイアウト画面に表示される半導体製造システムであって、前記半導体製造装置或いは搬送のトラブルが発生した場合に、前記クリーンルームレイアウト画面にトラブル状態を反映させて表示し、搬送車の状態と搬送中のロット情報を切り替え表示する連動表示部と、前記連動表示部で選択され、指定された搬送車の移送径路の変更指示を行い、移送先の半導体製造装置の変更指示を行う搬送指示部とを具備する半導体製造システム。
The present invention can be configured as described in the following supplementary notes.
(Appendix 1) A semiconductor manufacturing system used in a semiconductor manufacturing automation clean room, wherein the operating state and stock state of the semiconductor manufacturing apparatus and the operating state of the transport vehicle and the transport apparatus are displayed on a clean room layout screen. Alternatively, when a transport trouble occurs, the trouble display is reflected on the clean room layout screen, and the interlock display section for switching and displaying the state of the transport vehicle and the lot information being transported is selected by the interlock display section. A semiconductor manufacturing system comprising: a transfer instruction unit that issues an instruction to change a transfer path of a designated transport vehicle and issues an instruction to change a semiconductor manufacturing apparatus as a transfer destination.

(付記2) 前記連動表示部は、搬送車を選択して搬送先の半導体製造装置を変更する付記1に記載の半導体製造システム。 (Additional remark 2) The said interlocking | linkage display part is a semiconductor manufacturing system of Additional remark 1 which selects a conveyance vehicle and changes the semiconductor manufacturing apparatus of a conveyance destination.

(付記3) 前記連動表示部は、搬送車を選択して搬送径路を変更する付記1に記載の半導体製造システム。 (Additional remark 3) The said interlocking | linkage display part is a semiconductor manufacturing system of Additional remark 1 which selects a conveyance vehicle and changes a conveyance path.

本発明の実施例1に係る半導体製造システムを示すブロック図。1 is a block diagram showing a semiconductor manufacturing system according to Embodiment 1 of the present invention. 本発明の実施例1に係る連動表示制御部の処理手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the process sequence of the interlocking display control part which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例1に係る連動表示制御部の処理手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the process sequence of the interlocking display control part which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例1に係る連動表示制御部の処理手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the process sequence of the interlocking display control part which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例1に係る連動表示制御部の処理手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the process sequence of the interlocking display control part which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例1に係る連動表示制御部の処理手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the process sequence of the interlocking display control part which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例1に係る半導体製造装置の稼動状況選択後の画面イメージを示す図。The figure which shows the screen image after the operating condition selection of the semiconductor manufacturing apparatus which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例1に係る半導体製造装置の在庫状況選択後の画面イメージを示す図。The figure which shows the screen image after the stock condition selection of the semiconductor manufacturing apparatus which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例1に係る在庫が多い半導体製造装置の状況を示す図。The figure which shows the condition of the semiconductor manufacturing apparatus with much stock which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例1に係る搬送指示モード時での画面イメージを示す図。FIG. 5 is a diagram illustrating a screen image in a conveyance instruction mode according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施例1に係る搬送径路及び搬送先装置の変更後での画面イメージを示す図。The figure which shows the screen image after the change of the conveyance path and conveyance destination apparatus which concern on Example 1 of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 ホストコンピュータ
2 CRレイアウト記憶装置
3 統括生産情報システム
4 装置管理システム
5 搬送制御システム
6 歩留統御システム
7a、7n 半導体製造装置
8 LAN
11 装置情報取得部
12 搬送情報取得部
13 生産情報取得部
14 連動表示制御部
15 連動表示部
16 搬送指示部
21 装置表示選択パネル
22、23、25、26、28 表示ボタン
24 搬送車表示選択パネル
27 搬送指示パネル
29 搬送装置
30 搬送軌道
31 搬送車
32a〜d 半導体製造装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Host computer 2 CR layout memory | storage device 3 General production information system 4 Device management system 5 Transfer control system 6 Yield control system 7a, 7n Semiconductor manufacturing apparatus 8 LAN
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Apparatus information acquisition part 12 Conveyance information acquisition part 13 Production information acquisition part 14 Interlocking display control part 15 Interlocking display part 16 Conveyance instruction | indication part 21 Device display selection panel 22,23,25,26,28 Display button 24 Conveyance vehicle display selection panel 27 Transport instruction panel 29 Transport device 30 Transport track 31 Transport vehicles 32a to 32d Semiconductor manufacturing device

Claims (5)

半導体製造自動化クリーンルームに用いられ、半導体製造装置の稼動状態及び在庫状態と搬送車及び搬送装置の稼動状態とがクリーンルームレイアウト画面に表示される半導体製造システムであって、
前記半導体製造装置或いは搬送のトラブルが発生した場合に、前記クリーンルームレイアウト画面にトラブル状態を反映させて表示する連動表示部と、
前記連動表示部で選択され、指定された搬送車の移送径路の変更指示を行い、移送先の半導体製造装置の変更指示を行う搬送指示部と、
を具備することを特徴とする半導体製造システム。
A semiconductor manufacturing system used in a semiconductor manufacturing automation clean room, wherein the operating state and inventory state of the semiconductor manufacturing apparatus and the operating state of the transport vehicle and the transport apparatus are displayed on the clean room layout screen,
When a trouble occurs in the semiconductor manufacturing apparatus or conveyance, an interlocking display unit that reflects and displays the trouble state on the clean room layout screen;
A transfer instruction unit that is selected by the interlocking display unit and performs a change instruction of a transfer path of a designated transport vehicle, and a change instruction of a transfer destination semiconductor manufacturing apparatus; and
A semiconductor manufacturing system comprising:
半導体製造自動化クリーンルームの半導体製造装置の稼動情報が入力され、その情報を格納する装置情報取得部と、
前記半導体製造自動化クリーンルームの生産情報及び半導体製造装置の在庫情報が入力され、その情報を格納する生産情報取得部と、
搬送車及び搬送装置の稼動情報が入力され、その情報を格納する搬送情報取得部と、
前記半導体製造自動化クリーンルームを構成する半導体製造装置、搬送軌道、搬送車、及び搬送装置の最新配置情報が入力され、更新された情報を格納するCRレイアウト記憶装置と、
前記装置情報取得部から出力される半導体製造装置の稼動情報と、前記搬送情報取得部から出力される搬送車及び搬送装置の稼動情報と、前記生産情報取得部から出力される生産情報及び在庫情報とをクリーンルームレイアウト画面に反映させる連動表示制御部と、
前記連動表示制御部に基づいて、前記半導体製造装置の稼動状態と、前記搬送車及び前記搬送装置の稼動状態と、前記半導体製造装置の在庫状態とが反映されたクリーンルームレイアウト画面を表示する連動表示部と、
前記連動表示部で選択され、指定された搬送車の移送径路の変更指示を行い、移送先の半導体製造装置の変更指示を行う搬送指示部と、
を具備することを特徴とする半導体製造システム。
Operation information of semiconductor manufacturing equipment in a semiconductor manufacturing automation clean room is input, and an apparatus information acquisition unit for storing the information,
Production information of the semiconductor manufacturing automation clean room and inventory information of the semiconductor manufacturing apparatus are input, a production information acquisition unit for storing the information,
Operation information of the transport vehicle and the transport device is input, and a transport information acquisition unit that stores the information,
A CR layout storage device for storing the latest arrangement information of the semiconductor manufacturing apparatus, the transfer track, the transfer vehicle, and the transfer apparatus that constitute the semiconductor manufacturing automation clean room, and storing updated information;
Operation information of the semiconductor manufacturing apparatus output from the apparatus information acquisition unit, operation information of the transport vehicle and transfer apparatus output from the transfer information acquisition unit, and production information and inventory information output from the production information acquisition unit And an interlocking display control unit that reflects on the clean room layout screen,
Based on the interlock display control unit, an interlock display that displays a clean room layout screen that reflects the operating state of the semiconductor manufacturing apparatus, the operating states of the transport vehicle and the transport apparatus, and the inventory state of the semiconductor manufacturing apparatus. And
A transfer instruction unit that is selected by the interlocking display unit and performs a change instruction of a transfer path of a designated transport vehicle, and a change instruction of a transfer destination semiconductor manufacturing apparatus; and
A semiconductor manufacturing system comprising:
前記連動表示部は、クリーンルームレイアウト画面での半導体製造装置の稼動状態と在庫状態を切り替え表示することを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体製造システム。   The semiconductor manufacturing system according to claim 1, wherein the interlocking display unit switches and displays an operating state and an inventory state of the semiconductor manufacturing apparatus on a clean room layout screen. 前記連動表示部は、選択された半導体製造装置の在庫内容を詳細に表示することを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体製造システム。   The semiconductor manufacturing system according to claim 1, wherein the interlocking display unit displays in detail the stock contents of the selected semiconductor manufacturing apparatus. 前記連動表示部は、搬送車を選択し、選択された搬送車の搬送径路を表示することを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体製造システム。   3. The semiconductor manufacturing system according to claim 1, wherein the interlock display unit selects a transport vehicle and displays a transport path of the selected transport vehicle.
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