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JP2010192858A - Solar cell and method of manufacturing the same - Google Patents

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JP2010192858A
JP2010192858A JP2009038565A JP2009038565A JP2010192858A JP 2010192858 A JP2010192858 A JP 2010192858A JP 2009038565 A JP2009038565 A JP 2009038565A JP 2009038565 A JP2009038565 A JP 2009038565A JP 2010192858 A JP2010192858 A JP 2010192858A
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JP
Japan
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electrode
layer
silicon substrate
aluminum
side electrode
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Application number
JP2009038565A
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Japanese (ja)
Inventor
Junji Kobayashi
淳二 小林
Toshiya Murakami
俊也 村上
Mitsuhiro Nonogaki
光裕 野々垣
Yuichiro Hosokawa
雄一朗 細川
Atsuro Hama
篤郎 濱
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/546Polycrystalline silicon PV cells

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  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

【課題】裏面側電極における膨れや突起の発生が防止され、歩留まりに優れた太陽電池セルおよびその製造方法を得ること。
【解決手段】第1の導電型層からなるシリコン基板13と、前記シリコン基板13の受光面に形成された第2の導電型層15と、前記第2の導電型層15上に設けられた受光面側電極21と、前記シリコン基板13の受光面と反対側の裏面に設けられた裏面側電極27と、を備え、前記裏面側電極27は、アルミニウムを主構成要素として前記裏面上に設けられた第1裏面側電極29と、銀、銅、金、ニッケルからなる群より選択されるいずれか1つ以上の金属を含有して前記第1裏面側電極29上の全面に設けられた第2裏面側電極31と、を備える。
【選択図】図1−1
An object of the present invention is to provide a solar cell excellent in yield and a method of manufacturing the same, in which the occurrence of swelling and protrusions on a back electrode is prevented.
A silicon substrate made of a first conductivity type layer, a second conductivity type layer formed on a light receiving surface of the silicon substrate, and a second conductivity type layer provided on the second conductivity type layer. A light receiving surface side electrode 21 and a back surface side electrode 27 provided on the back surface opposite to the light receiving surface of the silicon substrate 13, and the back surface side electrode 27 is provided on the back surface with aluminum as a main component. A first backside electrode 29 formed on the entire surface of the first backside electrode 29 containing at least one metal selected from the group consisting of silver, copper, gold, and nickel. 2 back surface side electrodes 31.
[Selection] Figure 1-1

Description

本発明は、太陽電池セルおよびその製造方法に関し、特に、裏面側電極に起因した歩留まりの低下が防止された太陽電池セルおよびその製造方法に関する。   The present invention relates to a solar battery cell and a method for manufacturing the same, and more particularly to a solar battery cell in which a decrease in yield due to a back-side electrode is prevented and a method for manufacturing the same.

現在、地球上で用いられている電力用太陽電池の主流はシリコン太陽電池である。このようなシリコン太陽電池の量産においては、そのプロセスフローをなるべく簡素化して製造コストの低減が図られている。中でも太陽電池セルに設けられる電極に関しては、金属を含有したペーストを、スクリーン印刷等を用いて形成する方法が採用されている(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。   Currently, the mainstream of solar cells for electric power used on the earth is silicon solar cells. In mass production of such silicon solar cells, the process flow is simplified as much as possible to reduce the manufacturing cost. In particular, for electrodes provided in solar cells, a method of forming a paste containing metal using screen printing or the like is employed (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).

このような電極の形成方法について説明する。まず、太陽電池用基板として、p型シリコン(Si)基板を準備し、その表面に例えばリン(P)を熱的に拡散させ導電型を反転させたn型拡散層を形成する。このn型拡散層のシート抵抗は数十Ω/□程度であり、その深さは0.3μm〜0.5μm程度である。通常、リンの拡散源としては、オキシ塩化リン(POCl)が用いられることが多い。一般的には、n型拡散層はp型シリコン(Si)基板の全面に形成される。そして、このn型拡散層のシート抵抗は数十Ω/□程度であり、その深さは0.3μm〜0.5μm程度である。 A method for forming such an electrode will be described. First, a p-type silicon (Si) substrate is prepared as a substrate for a solar cell, and an n-type diffusion layer in which, for example, phosphorus (P) is thermally diffused to reverse the conductivity type is formed on the surface. The sheet resistance of the n-type diffusion layer is about several tens Ω / □, and the depth is about 0.3 μm to 0.5 μm. Usually, phosphorus oxychloride (POCl 3 ) is often used as a phosphorus diffusion source. In general, the n-type diffusion layer is formed on the entire surface of a p-type silicon (Si) substrate. The sheet resistance of the n-type diffusion layer is about several tens of Ω / □, and the depth is about 0.3 μm to 0.5 μm.

続いて、p型シリコン基板に形成されたn型拡散層の片面をレジストにより保護した後、p型シリコン基板の一主面のみにn型拡散層を残すようにエッチング処理を行う。エッチング処理後に残存したレジストは、有機溶剤等を用いて除去される。次いで、プラズマCVD法等により、絶縁膜(反射防止膜)として、例えば窒化シリコン膜をn型拡散層上に70nmnm〜90nm程度の厚みで形成する。   Subsequently, after protecting one surface of the n-type diffusion layer formed on the p-type silicon substrate with a resist, an etching process is performed so that the n-type diffusion layer is left only on one main surface of the p-type silicon substrate. The resist remaining after the etching process is removed using an organic solvent or the like. Next, as an insulating film (antireflection film), for example, a silicon nitride film is formed on the n-type diffusion layer with a thickness of about 70 nm to 90 nm by plasma CVD or the like.

次に、p型シリコン基板の裏面に裏面側電極形成用のアルミニウムペーストをスクリーン印刷し、乾燥させる。通常、アルミニウムペースト面上の一部またはアルミニウムペースト面の設けた開口部に銀ペーストを重ねて印刷し、その上に配線を半田付けする。また、窒化シリコン膜上に表面電極形成用の銀ペーストを裏面と同様にスクリーン印刷し、乾燥させる。その後、p型シリコン基板を700℃〜900℃程度で数分から十数分間、例えば近赤外ランプ炉中で焼成する。この結果、p型シリコン基板の裏面側では、焼成中にアルミニウムペーストから不純物としてのアルミニウムがp型シリコン基板中に拡散し、アルミニウムの高濃度不純物を含んだp+層が形成される。このp+層は、一般にBSF(Back Surface Field)層と呼ばれ、太陽電池セルのエネルギー変換効率の向上に寄与するものである。   Next, an aluminum paste for forming a back side electrode is screen printed on the back side of the p-type silicon substrate and dried. Usually, a silver paste is overlaid and printed on a part of an aluminum paste surface or an opening provided on the aluminum paste surface, and wiring is soldered thereon. Further, a silver paste for forming a surface electrode is screen-printed on the silicon nitride film in the same manner as the back surface and dried. Thereafter, the p-type silicon substrate is baked at about 700 ° C. to 900 ° C. for several minutes to several tens of minutes, for example, in a near infrared lamp furnace. As a result, on the back side of the p-type silicon substrate, aluminum as an impurity diffuses from the aluminum paste into the p-type silicon substrate during firing, and a p + layer containing high-concentration aluminum impurities is formed. This p + layer is generally called a BSF (Back Surface Field) layer, and contributes to the improvement of the energy conversion efficiency of the solar battery cell.

特開平10−335267号公報JP 10-335267 A 特開2004−207493号公報JP 2004-207493 A 特開2005−33198号公報JP 2005-33198 A

しかしながら、上記従来の太陽電池セルの製造方法においては、アルミニウムからなる裏面側電極の形成時に、裏面側電極の膨れや突起が生じることがある。そして、裏面側電極の膨れや突起が生じた場合は、突起等を起点としてp型シリコン基板に割れが生じる基板割れ率が増加する、という問題がある。また、太陽電池セルをモジュールする際において、太陽電池セルの裏面側を絶縁層により覆ってラミネートする際に、裏面側電極の膨れや突起が絶縁層を突き破ることで、絶縁性が確保できない、という問題がある。これらの問題は、太陽電池セルや該太陽電池セルを組み立てて作製される太陽電池モジュールの歩留まり低下の原因となる。したがって、裏面側電極の形成においては、膨れや突起の発生を防止することが重要である。   However, in the conventional method for manufacturing a solar battery cell, the back side electrode may swell or protrude when the back side electrode made of aluminum is formed. When the backside electrode swells or has protrusions, there is a problem that the substrate cracking rate at which cracks occur in the p-type silicon substrate starting from the protrusions or the like increases. In addition, when module solar cells, when covering and laminating the back side of the solar cell with an insulating layer, swelling and protrusions of the back side electrode break through the insulating layer, it is said that insulation cannot be secured There's a problem. These problems cause a decrease in the yield of solar cells and solar cell modules manufactured by assembling the solar cells. Therefore, in forming the back side electrode, it is important to prevent the occurrence of swelling and protrusions.

また、高集積回路半導体デバイスや薄膜トランジスタデバイスにおいても金属配線としてアルミニウムを使用することが多く行われており、その金属配線を形成する熱処理プロセスにおいては、アルミニウムと基板間における熱膨張率差に基づくアルミニウムの膨れ(いわゆるヒロック)が生ずる場合があることが知られている(例えば、特許文献3参照)。このような熱膨張率差による不具合を抑制するために、特許文献3においてはアルミニウムとガラス基板との間に窒化アルミニウム等の中間層を挿入し、アルミニウムの膨れを抑制する技術が開示されている。   Also, aluminum is often used as a metal wiring in highly integrated circuit semiconductor devices and thin film transistor devices. In the heat treatment process for forming the metal wiring, aluminum based on the difference in thermal expansion coefficient between aluminum and the substrate is used. It is known that swelling (so-called hillock) may occur (see, for example, Patent Document 3). In order to suppress such inconvenience due to the difference in thermal expansion coefficient, Patent Document 3 discloses a technique for suppressing swelling of aluminum by inserting an intermediate layer such as aluminum nitride between aluminum and a glass substrate. .

しかしながら、特許文献1の太陽電池セルの製造プロセスで裏面側電極を形成する場合のアルミニウムの膨れのメカニズムは、本発明者らの詳細な実験結果によると、熱膨張率差に基づくものとは考え難い。また、太陽電池セルの製造プロセスにおいてアルミニウム電極とシリコン基板との間に中間層を挿入することは、BSF層の生成を妨げ、太陽電池セルのエネルギー変換効率の向上を妨げることになるため、容易に実施できるものではない。   However, according to the detailed experimental results of the present inventors, the mechanism of swelling of aluminum in the case where the back-side electrode is formed in the manufacturing process of the solar battery cell of Patent Document 1 is considered to be based on the difference in thermal expansion coefficient. hard. In addition, it is easy to insert an intermediate layer between the aluminum electrode and the silicon substrate in the manufacturing process of the solar battery cell because it prevents the generation of the BSF layer and the energy conversion efficiency of the solar battery cell. It is not something that can be implemented.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、裏面側電極における膨れや突起の発生が防止され、歩留まりに優れた太陽電池セルおよびその製造方法を得ることを目的とする。   This invention is made | formed in view of the above, Comprising: Generation | occurrence | production of the swelling and protrusion in a back surface side electrode is prevented, and it aims at obtaining the photovoltaic cell excellent in the yield, and its manufacturing method.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる太陽電池セルは、第1の導電型層からなるシリコン基板と、前記シリコン基板の受光面に形成された第2の導電型層と、前記第2の導電型層上に設けられた受光面側電極と、前記シリコン基板の受光面と反対側の裏面に設けられた裏面側電極と、を備え、前記裏面側電極は、アルミニウムを主構成要素として前記裏面上に設けられた第1裏面側電極と、銀、銅、金、ニッケルからなる群より選択されるいずれか1つ以上の金属を含有して前記第1裏面側電極上の全面に設けられた第2裏面側電極と、を備えること、を特徴とする。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, a solar battery cell according to the present invention includes a silicon substrate formed of a first conductivity type layer, and a second conductivity type formed on a light receiving surface of the silicon substrate. A light receiving surface side electrode provided on the second conductive type layer, and a back surface side electrode provided on the back surface opposite to the light receiving surface of the silicon substrate, the back surface side electrode comprising: The first back surface side containing a first back surface side electrode provided on the back surface with aluminum as a main component and any one or more metals selected from the group consisting of silver, copper, gold and nickel And a second back surface side electrode provided on the entire surface of the electrode.

本発明によれば、裏面側電極が、アルミニウムを主構成要素として裏面上に設けられた第1裏面側電極と、銀、銅、金、ニッケルからなる群より選択されるいずれか1つ以上の金属を含有して第1裏面側電極上の全面に設けられた第2裏面側電極と、により構成されるため、焼成時における表面の盛り上がり(腫れ)や突起が形成されず、略平坦な表面を有する裏面側電極が形成されている。これにより、裏面側電極の表面の盛り上がり(腫れ)や突起を起点としたシリコン基板の割れが発生せず、また、モジュール化の際の絶縁膜の突き破りが発生せず、歩留まりに優れた太陽電池セルが得られる、という効果を奏する。   According to the present invention, the back side electrode is one or more selected from the group consisting of the first back side electrode provided on the back side with aluminum as a main component, and silver, copper, gold, and nickel. And a second back side electrode provided on the entire surface of the first back side electrode containing metal, so that the surface does not bulge (swell) or protrusions during firing and is substantially flat. The back surface side electrode which has is formed. As a result, the surface of the back side electrode does not bulge (swell) or cracks of the silicon substrate starting from the protrusions, and the insulating film does not break through when modularized. There is an effect that a cell is obtained.

図1−1は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの概略構成を示す断面図である。1-1 is sectional drawing which shows schematic structure of the photovoltaic cell concerning embodiment of this invention. 図1−2は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの概略構成を示す上面図である。FIG. 1-2 is a top view illustrating a schematic configuration of the solar battery cell according to the embodiment of the present invention. 図1−3は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの概略構成を示す下面図である。1-3 is a bottom view showing a schematic configuration of a solar battery cell according to an embodiment of the present invention. 図2−1は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-1 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the photovoltaic cell concerning embodiment of this invention. FIGS. 図2−2は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-2 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the photovoltaic cell concerning embodiment of this invention. FIGS. 図2−3は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの製造工程を説明するための断面図である。FIGS. 2-3 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the photovoltaic cell concerning embodiment of this invention. FIGS. 図2−4は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの製造工程を説明するための断面図である。2-4 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the photovoltaic cell concerning embodiment of this invention. 図2−5は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの製造工程を説明するための断面図である。2-5 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the photovoltaic cell concerning embodiment of this invention. 図2−6は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの製造工程を説明するための断面図である。2-6 is sectional drawing for demonstrating the manufacturing process of the photovoltaic cell concerning embodiment of this invention. 図3−1は、従来の太陽電池セルの製造方法における裏面側電極突起状の膨れの生成を説明するための断面図である。FIG. 3A is a cross-sectional view for explaining generation of a back-side electrode protrusion in a conventional method for manufacturing a solar battery cell. 図3−2は、従来の太陽電池セルの製造方法における裏面側電極突起状の膨れの生成を説明するための断面図である。3-2 is sectional drawing for demonstrating the production | generation of the back surface side electrode protrusion-like swelling in the manufacturing method of the conventional photovoltaic cell. 図3−3は、従来の太陽電池セルの製造方法における裏面側電極突起状の膨れの生成を説明するための断面図である。FIGS. 3-3 is sectional drawing for demonstrating the production | generation of the back surface side electrode protrusion-like swelling in the manufacturing method of the conventional photovoltaic cell. 図3−4は、従来の太陽電池セルの製造方法における裏面側電極突起状の膨れの生成を説明するための断面図である。FIGS. 3-4 is sectional drawing for demonstrating the production | generation of the back surface side electrode protrusion-like swelling in the manufacturing method of the conventional photovoltaic cell. 図4は、本発明の実施例における試料作製条件をまとめて示す図である。FIG. 4 is a diagram collectively showing sample preparation conditions in the example of the present invention.

以下に、本発明にかかる太陽電池セルおよびその製造方法の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は以下の記述に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。また、以下に示す図面においては、理解の容易のため、各部材の縮尺が実際とは異なる場合がある。各図面間においても同様である。   Embodiments of a solar battery cell and a method for manufacturing the same according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In addition, this invention is not limited to the following description, In the range which does not deviate from the summary of this invention, it can change suitably. In the drawings shown below, the scale of each member may be different from the actual scale for easy understanding. The same applies between the drawings.

実施の形態
図1−1〜図1−3は、本発明の実施の形態にかかる太陽電池セルの概略構成を示す図であり、図1−1は、太陽電池セル1の断面図、図1−2は、受光面側からみた太陽電池セル1の上面図、図1−3は、受光面と反対側からみた太陽電池セル1の下面図である。図1−1は、図1−3の線分A−Aにおける断面図である。
Embodiment FIGS. 1-1 to 1-3 are diagrams showing a schematic configuration of a solar battery cell according to an embodiment of the present invention. FIG. 1-1 is a cross-sectional view of the solar battery cell 1, FIG. -2 is a top view of the solar cell 1 viewed from the light receiving surface side, and FIG. 1-3 is a bottom view of the solar cell 1 viewed from the side opposite to the light receiving surface. 1-1 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1-3.

太陽電池セル1は、図1−1〜図1−3に示されるように、光電変換機能を有する太陽電池基板であってpn接合を有する半導体基板11と、半導体基板11の受光面側の面(表(おもて)面)に形成されて受光面での入射光の反射を防止する反射防止膜19と、半導体基板11の受光面側の面(表(おもて)面)において反射防止膜19に囲まれて形成された受光面側電極21と、半導体基板11の受光面と反対側の面(裏面)に形成された裏面側電極27と、を備える。   As shown in FIGS. 1-1 to 1-3, the solar cell 1 is a solar cell substrate having a photoelectric conversion function and having a pn junction, and a light receiving surface side surface of the semiconductor substrate 11. An antireflection film 19 formed on the (front surface) and preventing reflection of incident light on the light receiving surface, and reflected on the light receiving surface side surface (front surface) of the semiconductor substrate 11 A light receiving surface side electrode 21 formed surrounded by the prevention film 19 and a back surface side electrode 27 formed on a surface (back surface) opposite to the light receiving surface of the semiconductor substrate 11 are provided.

半導体基板11は、p型(第1の導電型)多結晶シリコン基板13と、該p型多結晶シリコン基板13の表面の導電型が反転したn型(第2の導電型)拡散層15を有し、これらによりpn接合が構成される。また、p型多結晶シリコン基板13の裏面側には、高濃度不純物としてアルミニウムを含んだp+層(BSF層)17を有する。   The semiconductor substrate 11 includes a p-type (first conductivity type) polycrystalline silicon substrate 13 and an n-type (second conductivity type) diffusion layer 15 in which the conductivity type of the surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13 is inverted. And a pn junction is formed by these. Further, a p + layer (BSF layer) 17 containing aluminum as a high concentration impurity is provided on the back side of the p-type polycrystalline silicon substrate 13.

受光面側電極21としては、太陽電池セルの表銀グリッド電極23および表銀バス電極25を含む。表銀グリッド電極23は、銀からなり、半導体基板11で発電された電気を集電するために受光面に局所的に設けられている。表銀バス電極25は、銀からなり、表銀グリッド電極23で集電された電気を取り出すために表銀グリッド電極23にほぼ直交して設けられている。   The light receiving surface side electrode 21 includes a front silver grid electrode 23 and a front silver bus electrode 25 of the solar battery cell. The front silver grid electrode 23 is made of silver, and is locally provided on the light receiving surface in order to collect electricity generated by the semiconductor substrate 11. The front silver bus electrode 25 is made of silver, and is provided substantially orthogonal to the front silver grid electrode 23 in order to take out the electricity collected by the front silver grid electrode 23.

裏面側電極27は、半導体基板11(p+層(BSF層)17)の裏面の外周部近傍を除いたほぼ全面に形成されており、p+層(BSF層)17側から第1裏面側電極29と第2裏面側電極31との2層構造の電極がp+層(BSF層)17上に順次積層されてなる。第1裏面側電極29は、アルミニウムを主構成要素とする裏面側電極である。第2裏面側電極31は、電極形成時の焼成温度(例えば700℃〜900℃)では溶融しない高融点を有する金属からなり、第1裏面側電極29上に該第1裏面側電極29の全面を覆って形成された例えば銀(Ag)からなる裏面側電極である。第2裏面側電極31を構成する高融点金属としては、例えば銀(Ag)、銅(Cu)、金(Au)、ニッケル(Ni)のうちのいずれかの1つ以上の金属を用いることができる。   The back surface side electrode 27 is formed on almost the entire surface except for the vicinity of the outer peripheral portion of the back surface of the semiconductor substrate 11 (p + layer (BSF layer) 17), and the first back surface side electrode 29 from the p + layer (BSF layer) 17 side. And the second backside electrode 31 are sequentially stacked on the p + layer (BSF layer) 17. The 1st back surface side electrode 29 is a back surface side electrode which uses aluminum as a main component. The second back surface side electrode 31 is made of a metal having a high melting point that does not melt at a firing temperature (for example, 700 ° C. to 900 ° C.) at the time of electrode formation, and the entire surface of the first back surface side electrode 29 on the first back surface side electrode 29. For example, a back side electrode made of silver (Ag). As the refractory metal constituting the second back surface side electrode 31, for example, one or more metals of silver (Ag), copper (Cu), gold (Au), and nickel (Ni) are used. it can.

このように構成された太陽電池セル1では、太陽光が太陽電池セル1の受光面側から半導体基板11のpn接合面(p型多結晶シリコン基板13とn型拡散層15との接合面)に照射されると、ホールと電子が生成する。pn接合部の電界によって、生成した電子はn型拡散層15に向かって移動し、ホールはp型多結晶シリコン基板13に向かって移動する。これにより、n型拡散層15に電子が過剰となり、p型多結晶シリコン基板13にホールが過剰となる結果、光起電力が発生する。この光起電力はpn接合を順方向にバイアスする向きに生じ、n型拡散層15に接続した受光面側電極21がマイナス極となり、p型多結晶シリコン基板13(p+層(BSF層)17)に接続した裏面側電極27がプラス極となって、図示しない外部回路に電流が流れる。   In the solar cell 1 configured as described above, sunlight is irradiated from the light receiving surface side of the solar cell 1 to the pn junction surface of the semiconductor substrate 11 (the junction surface between the p-type polycrystalline silicon substrate 13 and the n-type diffusion layer 15). When irradiated, holes and electrons are generated. Due to the electric field at the pn junction, the generated electrons move toward the n-type diffusion layer 15, and the holes move toward the p-type polycrystalline silicon substrate 13. As a result, electrons are excessive in the n-type diffusion layer 15 and holes are excessive in the p-type polycrystalline silicon substrate 13. As a result, photovoltaic power is generated. This photovoltaic force is generated in the direction in which the pn junction is biased in the forward direction, and the light-receiving surface side electrode 21 connected to the n-type diffusion layer 15 becomes a negative pole, and the p-type polycrystalline silicon substrate 13 (p + layer (BSF layer) 17 The back side electrode 27 connected to) becomes a positive pole, and a current flows in an external circuit (not shown).

以上のように構成された本実施の形態にかかる太陽電池セル1は、裏面側電極27として、第1裏面側電極29と第2裏面側電極31とがp+層(BSF層)17上に順次積層されている。このため、第1裏面側電極29と第2裏面側電極31とをp+層(BSF層)17上に形成する際の焼成工程において、第1裏面側電極29との材料となる例えばアルミニウムペーストの液体層の自由が束縛されるため、表面張力による盛り上がりが発生することがなく、第1裏面側電極29の表面に盛り上がり(腫れ)や突起が形成されず、略平坦な表面を有する裏面側電極27が形成されている。   In the solar cell 1 according to the present embodiment configured as described above, the first back surface side electrode 29 and the second back surface side electrode 31 are sequentially formed on the p + layer (BSF layer) 17 as the back surface side electrode 27. Are stacked. For this reason, in the firing step when the first back surface side electrode 29 and the second back surface side electrode 31 are formed on the p + layer (BSF layer) 17, for example, an aluminum paste used as a material for the first back surface side electrode 29 is used. Since the freedom of the liquid layer is constrained, there is no bulge due to surface tension, no bulge (swelling) or protrusion is formed on the surface of the first back side electrode 29, and the back side electrode having a substantially flat surface 27 is formed.

したがって、本実施の形態にかかる太陽電池セル1においては、略平坦な表面を有する裏面側電極27が略平坦な表面を有することにより、裏面側電極27の表面の盛り上がり(腫れ)や突起を起点とした半導体基板11の割れが発生せず、歩留まりに優れた太陽電池セルが実現されている。   Therefore, in the solar battery cell 1 according to the present embodiment, the back surface side electrode 27 having a substantially flat surface has a substantially flat surface, so that the surface of the back surface side electrode 27 is raised (swelled) and has a protrusion. As a result, the semiconductor substrate 11 was not cracked, and a solar cell excellent in yield was realized.

また、本実施の形態にかかる太陽電池セル1においては、略平坦な表面を有する裏面側電極27が略平坦な表面を有することにより、太陽電池セル1をモジュール化のために太陽電池セル1の裏面側を絶縁層により覆ってラミネートする際に、裏面側電極27の表面の盛り上がり(腫れ)が絶縁層を突き破ることがなく、絶縁性が確保された太陽電池モジュールを作製することができる。   Moreover, in the photovoltaic cell 1 concerning this Embodiment, when the back surface side electrode 27 which has a substantially flat surface has a substantially flat surface, the photovoltaic cell 1 of the photovoltaic cell 1 is modularized for modularization. When the back surface side is covered with an insulating layer and laminated, the swell (swelling) of the surface of the back surface side electrode 27 does not break through the insulating layer, and a solar cell module in which insulation is ensured can be manufactured.

また、本実施の形態にかかる太陽電池セル1においては、半導体基板11と第1裏面側電極29との間に中間層が挿入されていないため所望のBSF層が確実に形成されており、該BSF層が太陽電池のエネルギー変換効率の向上に寄与する。したがって、本実施の形態にかかる太陽電池セル1においては、光電変換効率に優れた太陽電池セルが実現されている。   Further, in the solar battery cell 1 according to the present embodiment, since the intermediate layer is not inserted between the semiconductor substrate 11 and the first back surface side electrode 29, a desired BSF layer is reliably formed, A BSF layer contributes to the improvement of the energy conversion efficiency of a solar cell. Therefore, in the solar cell 1 according to the present embodiment, a solar cell excellent in photoelectric conversion efficiency is realized.

つぎに、このような太陽電池セル1の製造方法の一例について図2−1〜図2−6を参照して説明する。図2−1〜図2−6は、本実施の形態にかかる太陽電池セル1の製造工程を説明するための断面図である。なお、図2−1〜図2−6においては、理解の容易のため、太陽電池セル1の裏面側を上側にして記載している。   Next, an example of a method for manufacturing such a solar battery cell 1 will be described with reference to FIGS. 2-1 to 2-6. FIGS. 2-1 to 2-6 are cross-sectional views for explaining the manufacturing process of the solar battery cell 1 according to the present embodiment. In addition, in FIGS. 2-1 to 2-6, the back side of the solar battery cell 1 is described with the upper side for easy understanding.

まず、半導体基板11となるp型多結晶シリコン基板13を用意する。そして、このp型多結晶シリコン基板13を例えばオキシ塩化リン(POCl)ガス雰囲気中で加熱することにより、p型多結晶シリコン基板13の全表面にリン(P)を熱的に拡散させる。これにより、p型多結晶シリコン基板13の全表面に、導電型を反転させたn型拡散層15を形成して半導体pn接合を形成する。ここで、n型拡散層15のシート抵抗は、数十Ω/□程度であり、当該n型拡散層15の深さは、0.3μm〜0.5μm程度である。 First, a p-type polycrystalline silicon substrate 13 to be a semiconductor substrate 11 is prepared. Then, by heating the p-type polycrystalline silicon substrate 13 in, for example, a phosphorus oxychloride (POCl 3 ) gas atmosphere, phosphorus (P) is thermally diffused over the entire surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13. As a result, the n-type diffusion layer 15 whose conductivity type is inverted is formed on the entire surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13 to form a semiconductor pn junction. Here, the sheet resistance of the n-type diffusion layer 15 is about several tens of Ω / □, and the depth of the n-type diffusion layer 15 is about 0.3 μm to 0.5 μm.

次に、n型拡散層15を形成したp型多結晶シリコン基板13の表(おもて)面の全面にレジストを形成する。そして、該レジストをマスクとして用いてp型多結晶シリコン基板13にエッチング処理を施す。これにより、図2−1に示すように、p型多結晶シリコン基板13の表(おもて)面の表面にのみ、n型拡散層15を残して、不要な部分のn型拡散層15を除去する。その後、有機溶剤等を用いてレジストを除去する。   Next, a resist is formed on the entire surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13 on which the n-type diffusion layer 15 is formed. Then, the p-type polycrystalline silicon substrate 13 is etched using the resist as a mask. Thereby, as shown in FIG. 2A, the n-type diffusion layer 15 is left only on the surface of the front surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13, and an unnecessary portion of the n-type diffusion layer 15 is left. Remove. Thereafter, the resist is removed using an organic solvent or the like.

つぎに、図2−2に示すように、反射防止膜19として例えばプラズマCVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)法によりシリコン窒化膜などの絶縁膜を70nm〜90nm程度の一様な厚みでn型拡散層15上に成膜する。この反射防止膜19は、p型多結晶シリコン基板13の表面のパッシベーション膜としての機能を兼ねている。   Next, as shown in FIG. 2B, as the antireflection film 19, an insulating film such as a silicon nitride film is n-type diffused with a uniform thickness of about 70 nm to 90 nm by, for example, plasma enhanced chemical vapor deposition (CVD). A film is formed on the layer 15. The antireflection film 19 also functions as a passivation film on the surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13.

次に、p型多結晶シリコン基板13の裏面側の全面に、第1裏面側電極29となる第1の電極ペーストであるアルミニウム(Al)ペーストをスクリーン印刷し、100℃〜300℃程度で乾燥する。アルミニウムペーストは、主としてアルミニウム粒子と溶剤とガラスフリットとからなる導電性ペーストである。このアルミニウムペーストの印刷・乾燥処理を施すことにより、図2−3に示すように、p型多結晶シリコン基板13の裏面上に、アルミニウムペースト電極層29aが形成される(焼成前)。このアルミニウムペースト電極層29aの厚みは、20μm〜40μm程度である。   Next, an aluminum (Al) paste, which is a first electrode paste to be the first back electrode 29, is screen-printed on the entire back surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13 and dried at about 100 ° C. to 300 ° C. To do. The aluminum paste is a conductive paste mainly composed of aluminum particles, a solvent, and glass frit. By performing this aluminum paste printing / drying process, an aluminum paste electrode layer 29a is formed on the back surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13 as shown in FIG. 2-3 (before firing). The aluminum paste electrode layer 29a has a thickness of about 20 μm to 40 μm.

次に、乾燥させたアルミニウムペースト電極層29a上に、第2裏面側電極31となる第1の電極ペーストである高融点金属ペーストをスクリーン印刷し、100℃〜300℃程度で乾燥する。ここで、高融点金属ペーストは、下部のアルミニウムペースト電極層29aの全体を被覆するように印刷する。この高融点金属ペーストの印刷・乾燥処理を施すことにより、図2−4に示すように、アルミニウムペースト電極層29a上に、高融点ペースト電極層31aが形成される(焼成前)。この高融点ペースト電極層31aの厚みは10μm程度である。   Next, on the dried aluminum paste electrode layer 29a, a refractory metal paste that is a first electrode paste to be the second back side electrode 31 is screen-printed and dried at about 100 ° C. to 300 ° C. Here, the refractory metal paste is printed so as to cover the entire lower aluminum paste electrode layer 29a. By performing the printing / drying process of the refractory metal paste, as shown in FIG. 2-4, the refractory paste electrode layer 31a is formed on the aluminum paste electrode layer 29a (before firing). The thickness of the high melting point paste electrode layer 31a is about 10 μm.

ここで、高融点金属ペーストは、後述する焼成温度(例えば700℃〜900℃)では完全に溶融しない高融点を有する金属とガラスフリットと溶剤を主として含有する導電性ペーストである。このような高融点を有する金属としては、例えば銀(融点:961℃)、銅(融点:1083℃)、金(融点:1064℃)、ニッケル(融点:1455℃)のうちのいずれかの1つの金属を用いることができる。   Here, the refractory metal paste is a conductive paste mainly containing a metal having a high melting point that does not completely melt at a firing temperature (for example, 700 ° C. to 900 ° C.) described later, glass frit, and a solvent. Examples of the metal having such a high melting point include one of silver (melting point: 961 ° C.), copper (melting point: 1083 ° C.), gold (melting point: 1064 ° C.), and nickel (melting point: 1455 ° C.). Two metals can be used.

次に、受光面側電極21のパターン、すなわち表銀グリッド電極23と表銀バス電極25とのパターンを反射防止膜19上に銀(Ag)ペーストでスクリーン印刷し、100℃〜300℃程度で乾燥させる。この銀ペーストの印刷・乾燥処理を施すことにより、図2−5に示すように、反射防止膜19上に所定のパターンの受光面側ペースト電極21aが形成される(焼成前)。   Next, the pattern of the light-receiving surface side electrode 21, that is, the pattern of the front silver grid electrode 23 and the front silver bus electrode 25 is screen-printed with silver (Ag) paste on the antireflection film 19, at about 100 ° C. to 300 ° C. dry. By performing the printing / drying process of the silver paste, as shown in FIG. 2-5, a light receiving surface side paste electrode 21a having a predetermined pattern is formed on the antireflection film 19 (before firing).

そして、p型多結晶シリコン基板13に対して、例えば近赤外線ランプ照射炉中で焼成処理を施す。ここで、焼成処理は、温度700℃〜900℃程度で、数分から十数分間の時間だけ実施される。焼成処理を施すとp型多結晶シリコン基板13の裏面側では、アルミニウムペースト電極層29aから不純物としてのアルミニウムがp型多結晶シリコン基板13中に拡散する。これにより、図2−6に示すように、p型多結晶シリコン基板13の裏面側におけるアルミニウムペースト電極層29aとの接触領域近傍に、アルミニウムの高濃度不純物を含んだp+層(BSF層)17が形成される。これにより、表(おもて)面側にn型拡散層15が形成され、裏面側にp+層(BSF層)17が形成された、PN接合を有する半導体基板11が形成される。ここで、光電変換効率を向上させるために、p型多結晶シリコン基板13の裏面の面内に大部分においてp+層(BSF層)17を形成する必要がある。したがって、アルミニウムペースト電極層29aは、p型多結晶シリコン基板13の裏面の大部分の表面積を覆って形成されていることが好ましい。   Then, the p-type polycrystalline silicon substrate 13 is baked, for example, in a near infrared lamp irradiation furnace. Here, the baking treatment is performed at a temperature of about 700 ° C. to 900 ° C. for a period of several minutes to a few dozen minutes. When the baking process is performed, aluminum as an impurity diffuses into the p-type polycrystalline silicon substrate 13 from the aluminum paste electrode layer 29 a on the back side of the p-type polycrystalline silicon substrate 13. As a result, as shown in FIG. 2-6, in the vicinity of the contact region with the aluminum paste electrode layer 29a on the back surface side of the p-type polycrystalline silicon substrate 13, a p + layer (BSF layer) 17 containing a high concentration impurity of aluminum. Is formed. As a result, the semiconductor substrate 11 having a PN junction is formed in which the n-type diffusion layer 15 is formed on the front (front) surface side and the p + layer (BSF layer) 17 is formed on the back surface side. Here, in order to improve the photoelectric conversion efficiency, it is necessary to form a p + layer (BSF layer) 17 in most of the back surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13. Therefore, the aluminum paste electrode layer 29a is preferably formed so as to cover most of the surface area of the back surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13.

また、この焼成処理により、図2−6に示すように、アルミニウムペースト電極層29aは第1裏面側電極29に、高融点ペースト電極層31aは第2裏面側電極31に、受光面側ペースト電極21aは受光面側電極21になる。すなわち、該焼成処理により、p型多結晶シリコン基板13の裏面側では、アルミニウムからなる第1裏面側電極29と、該第1裏面側電極29に積層された銀からなる第2裏面側電極31が形成される。これにより、裏面側電極27が得られる。また、該焼成処理により、p型多結晶シリコン基板13の表(おもて)面側では、銀(Ag)からなる受光面側電極21が形成される。   2-6, the aluminum paste electrode layer 29a is formed on the first back surface side electrode 29, the high melting point paste electrode layer 31a is formed on the second back surface side electrode 31, and the light receiving surface side paste electrode. 21 a becomes the light receiving surface side electrode 21. That is, by the baking treatment, on the back side of the p-type polycrystalline silicon substrate 13, the first back side electrode 29 made of aluminum and the second back side electrode 31 made of silver laminated on the first back side electrode 29. Is formed. Thereby, the back surface side electrode 27 is obtained. In addition, the light-receiving surface side electrode 21 made of silver (Ag) is formed on the front surface side of the p-type polycrystalline silicon substrate 13 by the baking process.

以上のような工程を実施することにより、図1−1〜図1−3に示す本実施の形態にかかる太陽電池セル1を作製することができる。なお、上記一連の工程により複数の太陽電池セル1を作製した後は、各太陽電池セル1の第2裏面側電極31および受光面側電極21に対して相互に銅箔等を半田付けし、太陽電池セル1の所望の直列・並列接続を形成する。これにより、複数の太陽電池セル1から構成される太陽電池モジュールが作製される。   By performing the above steps, the solar battery cell 1 according to the present embodiment shown in FIGS. 1-1 to 1-3 can be manufactured. In addition, after producing the plurality of solar cells 1 by the series of steps, the copper foil or the like is soldered to the second back surface side electrode 31 and the light receiving surface side electrode 21 of each solar cell 1, The desired series / parallel connection of the solar cells 1 is formed. Thereby, the solar cell module comprised from the some photovoltaic cell 1 is produced.

次に、上述した本実施の形態にかかる太陽電池セルの製造方法を従来の太陽電池セルの製造方法と比較するために、特許文献1にかかる技術を採用することにより発生している、裏面側電極用ペーストの焼成時において突起状の膨れが発生する問題について図3−1〜図3−4を参照して説明する。図3−1〜図3−4は、従来の太陽電池セルの製造方法における裏面側電極突起状の膨れの生成を説明するための断面図である。   Next, in order to compare the manufacturing method of the solar battery cell according to the present embodiment described above with the conventional manufacturing method of the solar battery cell, the back side is generated by adopting the technique according to Patent Document 1. The problem of the occurrence of protrusion-like swelling during the firing of the electrode paste will be described with reference to FIGS. FIGS. 3-1 to 3-4 are cross-sectional views for explaining generation of a back-side electrode protrusion in a conventional method for manufacturing a solar battery cell.

従来の太陽電池セルの製造方法においても、裏面側電極を形成するために用いられるアルミニウムペーストは、主としてアルミニウム粒子と溶剤とガラスフリットとからなるものである。図3−1に示すようにn型拡散層115を形成したシリコン基板113の裏面側に、受光面側電極を形成するためにアルミニウムペーストを印刷した後、焼成前の約200℃での乾燥を行う。この乾燥時において、溶剤は揮発し、アルミニウム粒子とガラスフリットとからなる固体層であるアルミニウムペースト電極層229aが形成される。   Also in the conventional method for manufacturing a solar battery cell, the aluminum paste used to form the back-side electrode is mainly composed of aluminum particles, a solvent, and glass frit. As shown in FIG. 3A, after the aluminum paste is printed on the back surface side of the silicon substrate 113 on which the n-type diffusion layer 115 is formed in order to form the light receiving surface side electrode, it is dried at about 200 ° C. before firing. Do. At the time of this drying, the solvent is volatilized and an aluminum paste electrode layer 229a which is a solid layer made of aluminum particles and glass frit is formed.

次に、近赤外線ランプ照射炉内での焼成工程を行うが、該焼成工程における昇温時に、アルミニウムペースト電極層229aのアルミニウム粒子(融点660℃)が溶融しはじめる。このとき、シリコン基板113の裏面側のシリコン表面が、溶融したアルミニウムに溶解するため、アルミニウムとシリコンとが混合したアルミシリコンの溶融液がアルミニウムペースト電極層229a内に形成される。   Next, a firing step is performed in a near infrared lamp irradiation furnace, and the aluminum particles (melting point 660 ° C.) of the aluminum paste electrode layer 229a begin to melt at the time of temperature rise in the firing step. At this time, since the silicon surface on the back surface side of the silicon substrate 113 is dissolved in the molten aluminum, a molten aluminum silicon solution in which aluminum and silicon are mixed is formed in the aluminum paste electrode layer 229a.

ここで、近赤外線ランプ照射炉によるアルミニウムペースト電極層229aの加熱は、シリコン基板による光吸収後の熱伝導によるものである。このため、アルミニウムペースト電極層229aの溶融は、該アルミニウムペースト電極層229aとシリコン基板113との界面側から始まり、その後、アルミニウムペースト電極層229aの表層部に向かって広がってゆくものと考えられる。   Here, the heating of the aluminum paste electrode layer 229a by the near-infrared lamp irradiation furnace is due to heat conduction after light absorption by the silicon substrate. Therefore, the melting of the aluminum paste electrode layer 229a is considered to start from the interface side between the aluminum paste electrode layer 229a and the silicon substrate 113 and then spread toward the surface layer portion of the aluminum paste electrode layer 229a.

シリコン基板113の裏面側へのアルミニウムペーストの印刷においては、印刷したアルミニウムペーストの厚みの均一性が保持されていない場合がある。例えば図3−2に示すように、印刷、乾燥されたアルミニウムペースト電極層229bにおいて、層厚が薄い部分229b−1と、層厚が厚い部分229b−2とが形成されているとする。この場合は、層厚が薄い部分229b−1では、アルミニウムペースト電極層229bが上部の空気と接する境界部分(表面)まで溶融するタイミングが、周りの層厚が厚い部分229b−2よりも早くなる。その結果、図3−3に示すように層厚が薄い部分の液体層(アルミシリコンの溶融液)229c−1と層厚が厚い部分の液体層(アルミシリコンの溶融液)229c−2とが形成される。   In the printing of the aluminum paste on the back side of the silicon substrate 113, the thickness uniformity of the printed aluminum paste may not be maintained. For example, as shown in FIG. 3B, it is assumed that a thin layer portion 229b-1 and a thick layer portion 229b-2 are formed in the printed and dried aluminum paste electrode layer 229b. In this case, in the thin part 229b-1, the timing at which the aluminum paste electrode layer 229b melts to the boundary part (surface) in contact with the upper air is earlier than the thick part 229b-2. . As a result, as shown in FIG. 3C, a thin liquid layer (aluminum silicon melt) 229c-1 and a thick liquid layer (aluminum silicon melt) 229c-2 are formed. It is formed.

そして、図3−3に示すように、層厚が厚い部分229b−2における空気と接する境界部分(表面)側には未溶融層229dが存在するため、層厚が薄い部分の液体層229c−1と層厚が厚い部分の液体層229c−2との上部において、層厚が薄い部分229b−1に相当する部分にのみ開口を有する固体層の蓋が載っているような状態となる。このため、空気と接する境界まで液相化した部分(層厚が薄い部分の液体層229c−1)のアルミシリコン溶融液は、表面張力で盛り上がり、周りのアルミシリコン溶融液が凝集する。   As shown in FIG. 3C, since the unmelted layer 229d exists on the boundary portion (surface) side in contact with air in the thick portion 229b-2, the liquid layer 229c- 1 and the liquid layer 229c-2 having a thick layer portion, a solid layer lid having an opening is placed only on a portion corresponding to the thin layer portion 229b-1. For this reason, the aluminum silicon melt in the liquid phase up to the boundary in contact with air (the liquid layer 229c-1 with a thin layer thickness) rises due to surface tension, and the surrounding aluminum silicon melt aggregates.

この状態から降温過程が開始された場合は、相図に従ってアルミシリコン溶融液からアルミニウムとシリコンとが分離、凝固し、図3−4に示すように裏面側電極229が形成される。そして、シリコンの共融点濃度は12%であり、アルミシリコン溶融液が盛り上がった部分に、ほぼ100%アルミニウムからなる突起状の膨れ229eがそのまま残される。   When the temperature lowering process is started from this state, aluminum and silicon are separated and solidified from the aluminum silicon melt according to the phase diagram, and the back-side electrode 229 is formed as shown in FIG. 3-4. The eutectic concentration of silicon is 12%, and a protruding bulge 229e made of almost 100% aluminum is left as it is in the portion where the aluminum silicon melt is raised.

このような突起状の膨れ229eが生じた場合は、これを起点としてシリコン基板113に割れが生じる基板割れ率が増加する、という問題が生じる。また、太陽電池セルをモジュールする際において、太陽電池セルの裏面側を絶縁層により覆ってラミネートする際に、突起状の膨れ229eが絶縁層を突き破ることで、絶縁性が確保できない、という問題が生じる。これらの問題は、太陽電池セルや該太陽電池セルを組み立てて作製される太陽電池モジュールの歩留まり低下の原因となる。   When such a protruding bulge 229e occurs, there arises a problem that the substrate cracking rate at which the silicon substrate 113 is cracked increases from this. Further, when the solar cells are moduled, when the back surface side of the solar cells is covered with an insulating layer and laminated, the protruding bulge 229e breaks through the insulating layer, so that insulation cannot be secured. Arise. These problems cause a decrease in the yield of solar cells and solar cell modules manufactured by assembling the solar cells.

これに対して、本実施の形態にかかる太陽電池セルの製造方法おいては、裏面側電極27の形成時に、アルミニウムペースト電極層29aの上に、焼成温度では溶融しない高融点を有する金属を含有する導電性ペーストにより高融点ペースト電極層31aを形成し、例えばアルミニウムからなる第1裏面側電極29と銀からなる第2裏面側電極31との二相構造の裏面側電極27を形成する。この場合は、電極の焼成工程において、アルミニウムペースト電極層29aの一部の領域が厚み方向の全体において融解して液体化した場合でも、その上部を含んだアルミニウムペースト電極層29aの全面に、固体層(高融点ペースト電極層31a)が蓋をした状態が維持されている。これにより、アルミニウムペースト電極層29aが溶融した液体層の、厚み方向への自由が束縛されるため、表面張力による液体層の盛り上がりが発生することが防止される。   On the other hand, in the method for manufacturing the solar cell according to the present embodiment, when the back surface side electrode 27 is formed, a metal having a high melting point that does not melt at the firing temperature is contained on the aluminum paste electrode layer 29a. The high melting point paste electrode layer 31a is formed from the conductive paste to be formed, and the back-side electrode 27 having a two-phase structure, for example, a first back-side electrode 29 made of aluminum and a second back-side electrode 31 made of silver is formed. In this case, in the electrode firing step, even when a partial region of the aluminum paste electrode layer 29a is melted and liquefied in the entire thickness direction, a solid is formed on the entire surface of the aluminum paste electrode layer 29a including the upper portion. The state where the layer (high melting point paste electrode layer 31a) is covered is maintained. As a result, the freedom in the thickness direction of the liquid layer in which the aluminum paste electrode layer 29a is melted is restricted, so that the liquid layer is prevented from rising due to surface tension.

これにより、アルミニウムペースト電極層29aの膜厚分布や、p型多結晶シリコン基板13の表面の凹凸に起因するアルミニウムペースト電極層29aの膜厚の不均一などが存在する場合でも、焼成工程中におけるアルミシリコン溶融液の盛り上がりを防止して、第1裏面側電極29における膨れや突起の発生を防止・抑制することが可能となる。   Thereby, even in the case where the film thickness distribution of the aluminum paste electrode layer 29a or the unevenness of the film thickness of the aluminum paste electrode layer 29a due to the unevenness of the surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13 exists, The swell of the aluminum silicon melt can be prevented, and the occurrence of swelling and protrusions in the first back surface side electrode 29 can be prevented / suppressed.

したがって、本実施の形態にかかる太陽電池セルの製造方法おいては、裏面側電極27の膨れや突起に起因した太陽電池セルや該太陽電池セルを組み立てて作製される太陽電池モジュールの歩留まり低下を防止して、歩留まり良く太陽電池セルを作製することができる。   Therefore, in the method for manufacturing a solar cell according to the present embodiment, the yield of the solar cell or the solar cell module manufactured by assembling the solar cell due to the swelling or protrusion of the back electrode 27 is reduced. Therefore, solar cells can be manufactured with high yield.

つぎに、具体的な実施例について説明する。上述したように、p型多結晶シリコン基板13の裏面上に裏面側電極27を形成する際の焼成工程中に発生するアルミシリコン溶融液の上部に、焼成工程中に融解しない高融点ペースト電極層31aが存在することにより、アルミシリコン溶融液の突起状の膨れの発生を防止、抑制することができる。そこで発明者は、裏面側電極の形成に対応するように、高融点ペーストに含有される金属の種類、高融点ペーストの厚み、および焼成温度を変化させて、模擬的な裏面側電極(以下、模擬電極と呼ぶ)の形成を行い、突起状の膨れの発生頻度をシミュレーションする実験を行った。   Next, specific examples will be described. As described above, the high melting point paste electrode layer that does not melt during the firing process is formed on the upper part of the aluminum silicon melt generated during the firing process when forming the back electrode 27 on the back surface of the p-type polycrystalline silicon substrate 13. The presence of 31a can prevent or suppress the occurrence of protruding swelling of the aluminum silicon melt. Therefore, the inventor changed the kind of metal contained in the high melting point paste, the thickness of the high melting point paste, and the firing temperature so as to correspond to the formation of the back side electrode. An experiment was conducted to simulate the frequency of occurrence of protrusion-like swelling.

すなわち、上述した実施の形態にかかる太陽電池セルの製造方法により実際に18種類(試料1〜試料18)の試料を10個ずつ作製し、アルミニウムからなる突起状の膨れの発生頻度を評価した。まず、測定対象である試料1〜試料18について図4を参照して説明する。図4は、実施例における試料作製条件をまとめて示す図である。   That is, ten samples of 18 types (sample 1 to sample 18) were actually produced by the solar cell manufacturing method according to the above-described embodiment, and the occurrence frequency of protrusion-like bulges made of aluminum was evaluated. First, sample 1 to sample 18 as measurement objects will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a diagram collectively showing sample preparation conditions in the examples.

(試料1〜試料3)
150mm角の多結晶シリコン基板の一面上に、主としてアルミニウム粒子と溶剤とガラスフリットとからなるアルミニウムペーストを略30μmの厚さでスクリーン印刷した。次に、多結晶シリコン基板を250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。その後、多結晶シリコン基板を、常温からピーク温度まで昇温5分、1分保持、降温30分の温度プロファイルで、近赤外線ランプ照射炉中で焼成処理した。ピーク温度は、試料1は750℃、試料2は800℃、試料3は850℃とした。以上のようにして、試料1〜試料3を作製した。
(Sample 1 to Sample 3)
On one surface of a 150 mm square polycrystalline silicon substrate, an aluminum paste mainly composed of aluminum particles, a solvent, and glass frit was screen-printed with a thickness of about 30 μm. Next, the polycrystalline silicon substrate was dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Thereafter, the polycrystalline silicon substrate was baked in a near-infrared lamp irradiation furnace with a temperature profile from room temperature to the peak temperature for 5 minutes, held for 1 minute, and cooled for 30 minutes. The peak temperatures were 750 ° C. for sample 1, 800 ° C. for sample 2, and 850 ° C. for sample 3. Samples 1 to 3 were produced as described above.

(試料4〜試料6)
150mm角の多結晶シリコン基板の一面上に、試料1〜試料3の場合と同じアルミニウムペーストを略20μmの厚さでスクリーン印刷した。次に、多結晶シリコン基板を250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。その後、多結晶シリコン基板を、常温からピーク温度まで昇温5分、1分保持、降温30分の温度プロファイルで近赤外線ランプ照射炉中で、焼成処理した。ピーク温度は、試料4は750℃、試料5は800℃、試料6は850℃とした。以上のようにして、試料4〜試料6を作製した。
(Sample 4 to Sample 6)
On the one surface of a 150 mm square polycrystalline silicon substrate, the same aluminum paste as in Samples 1 to 3 was screen-printed with a thickness of approximately 20 μm. Next, the polycrystalline silicon substrate was dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Thereafter, the polycrystalline silicon substrate was baked in a near-infrared lamp irradiation furnace with a temperature profile from room temperature to the peak temperature for 5 minutes, held for 1 minute, and lowered for 30 minutes. The peak temperature was 750 ° C. for sample 4, 800 ° C. for sample 5, and 850 ° C. for sample 6. As described above, Sample 4 to Sample 6 were produced.

(試料7〜試料9)
試料4〜試料6の場合と同様にアルミニウムペーストを略20μmの厚さでスクリーン印刷し、250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。次に、アルミニウムペースト上の全面に、主として銀粒子と溶剤とガラスフリットとからなる銀ペーストを略10μmの厚さでスクリーン印刷し、250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。その後、多結晶シリコン基板を、常温からピーク温度まで昇温5分、1分保持、降温30分の温度プロファイルで、近赤外線ランプ照射炉中で焼成処理した。ピーク温度は、試料7は750℃、試料8は800℃、試料9は850℃とした。以上のようにして、アルミニウム層と銀層との2層構造の模擬電極を形成して、試料7〜試料9を作製した。
(Sample 7 to Sample 9)
Similar to the case of Sample 4 to Sample 6, the aluminum paste was screen-printed with a thickness of about 20 μm and dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Next, a silver paste mainly composed of silver particles, a solvent, and glass frit was screen-printed on the entire surface of the aluminum paste at a thickness of about 10 μm, and dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Thereafter, the polycrystalline silicon substrate was baked in a near-infrared lamp irradiation furnace with a temperature profile from room temperature to the peak temperature for 5 minutes, held for 1 minute, and cooled for 30 minutes. The peak temperatures were 750 ° C. for sample 7, 800 ° C. for sample 8, and 850 ° C. for sample 9. As described above, a simulated electrode having a two-layer structure of an aluminum layer and a silver layer was formed, and Samples 7 to 9 were produced.

(試料10〜試料12)
試料4〜試料6の場合と同様にアルミニウムペーストを略20μmの厚さでスクリーン印刷し、250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。次に、アルミニウムペースト上の全面に、主として銀粒子と溶剤とガラスフリットとからなる銀ペーストを略20μmの厚さでスクリーン印刷し、250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。その後、多結晶シリコン基板を、常温からピーク温度まで昇温5分、1分保持、降温30分の温度プロファイルで、近赤外線ランプ照射炉中で焼成処理した。ピーク温度は、試料10は750℃、試料11は800℃、試料12は850℃とした。以上のようにして、アルミニウム層と銀層との2層構造の模擬電極を形成して、試料10〜試料12を作製した。
(Sample 10 to Sample 12)
Similar to the case of Sample 4 to Sample 6, the aluminum paste was screen-printed with a thickness of about 20 μm and dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Next, a silver paste mainly composed of silver particles, a solvent and glass frit was screen-printed on the entire surface of the aluminum paste at a thickness of about 20 μm, and dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Thereafter, the polycrystalline silicon substrate was baked in a near-infrared lamp irradiation furnace with a temperature profile from room temperature to the peak temperature for 5 minutes, held for 1 minute, and cooled for 30 minutes. The peak temperatures were 750 ° C. for sample 10, 800 ° C. for sample 11, and 850 ° C. for sample 12. As described above, a simulated electrode having a two-layer structure of an aluminum layer and a silver layer was formed, and Samples 10 to 12 were produced.

(試料13〜試料15)
試料4〜試料6の場合と同様にアルミニウムペーストを略20μmの厚さでスクリーン印刷し、250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。次に、アルミニウムペースト上の全面に、主として銅粒子と溶剤とガラスフリットとからなる銅ペーストを略10μmの厚さでスクリーン印刷し、250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。その後、多結晶シリコン基板を、常温からピーク温度まで昇温5分、1分保持、降温30分の温度プロファイルで、近赤外線ランプ照射炉中で焼成処理した。ピーク温度は、試料13は750℃、試料14は800℃、試料15は850℃とした。以上のようにして、アルミニウム層と銅層との2層構造の模擬電極を形成して、試料13〜試料15を作製した。
(Sample 13 to Sample 15)
Similar to the case of Sample 4 to Sample 6, the aluminum paste was screen-printed with a thickness of about 20 μm and dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Next, a copper paste mainly composed of copper particles, a solvent, and glass frit was screen-printed on the entire surface of the aluminum paste at a thickness of about 10 μm, and dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Thereafter, the polycrystalline silicon substrate was baked in a near-infrared lamp irradiation furnace with a temperature profile from room temperature to the peak temperature for 5 minutes, held for 1 minute, and cooled for 30 minutes. The peak temperature was 750 ° C. for sample 13, 800 ° C. for sample 14, and 850 ° C. for sample 15. As described above, a simulated electrode having a two-layer structure of an aluminum layer and a copper layer was formed, and Samples 13 to 15 were produced.

(試料16〜試料18)
試料4〜試料6の場合と同様にアルミニウムペーストを略20μmの厚さでスクリーン印刷し、250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。次に、アルミニウムペースト上の全面に、主として銅粒子と溶剤とガラスフリットとからなる銅ペーストを略20μmの厚さでスクリーン印刷し、250℃、10分間の条件で、電気炉内で乾燥した。その後、多結晶シリコン基板を、常温からピーク温度まで昇温5分、1分保持、降温30分の温度プロファイルで近赤外線ランプ照射炉中で焼成処理した。ピーク温度は、試料16は750℃、試料17は800℃、試料18は850℃とした。以上のようにして、アルミニウム層と銅層との2層構造の模擬電極を形成して、試料16〜試料18を作製した。
(Sample 16 to Sample 18)
Similar to the case of Sample 4 to Sample 6, the aluminum paste was screen-printed with a thickness of about 20 μm and dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Next, a copper paste mainly composed of copper particles, a solvent, and glass frit was screen-printed on the entire surface of the aluminum paste at a thickness of about 20 μm, and dried in an electric furnace at 250 ° C. for 10 minutes. Thereafter, the polycrystalline silicon substrate was baked in a near-infrared lamp irradiation furnace with a temperature profile from room temperature to the peak temperature for 5 minutes, held for 1 minute, and cooled for 30 minutes. The peak temperatures were 750 ° C. for sample 16, 800 ° C. for sample 17, and 850 ° C. for sample 18. As described above, a simulated electrode having a two-layer structure of an aluminum layer and a copper layer was formed, and Samples 16 to 18 were produced.

以上のようにして作製した各試料について、模擬電極の表面における突起発生を目視で観察し、計測した。各試料のN数は10であり、多結晶シリコン基板1枚あたりの突起の発生個数を平均した結果を図4に併せて示す。   About each sample produced as mentioned above, protrusion generation | occurrence | production on the surface of a simulation electrode was observed visually, and was measured. The number of N of each sample is 10, and the result of averaging the number of protrusions generated on one polycrystalline silicon substrate is also shown in FIG.

模擬電極がアルミニウム層のみにより形成されており、アルミニウム層の厚さが異なる試料1〜試料3と試料4〜試料6とを比較すると、焼成温度が同じ場合には、アルミニウムペーストの膜厚が薄い試料1〜試料3の方が突起の発生個数が多くなっている。これは、焼成温度が同じ場合には、アルミニウムペーストの膜厚が薄い方が所定の時間内でアルミニウムペーストが厚み方向において全て溶融する部分の発生する可能性が高いため、突起の発生が多いためであると考えられる。   Comparing Sample 1 to Sample 3 and Sample 4 to Sample 6 in which the simulated electrode is formed of only an aluminum layer and the thickness of the aluminum layer is different, the film thickness of the aluminum paste is thin when the firing temperature is the same. Samples 1 to 3 have a larger number of protrusions. This is because when the firing temperature is the same, the thinner the aluminum paste film is, the more likely there will be a part where the aluminum paste melts in the thickness direction within a predetermined time. It is thought that.

また、アルミニウムペーストの膜厚が薄く、且つ、焼成温度が800℃の場合である試料5において、突起の発生個数が最大となった。アルミニウムペーストの膜厚が薄く、焼成温度が低い場合(750℃、試料4)は、アルミニウムペーストが厚み方向において全て溶融することがないため、突起の発生が抑制されたものと考えられる。また、アルミニウムペーストの膜厚が薄く、焼成温度が高い場合(850℃、試料6)は、アルミニウムペーストが、アルミニウムペーストの層厚が薄い領域も、アルミニウムペーストの厚い領域も、全面にわたって均一な溶融相となる傾向があるため、突起の発生が抑制されたものと考えられる。   Further, in Sample 5 where the thickness of the aluminum paste was thin and the firing temperature was 800 ° C., the number of protrusions generated was the maximum. When the thickness of the aluminum paste is thin and the firing temperature is low (750 ° C., sample 4), the aluminum paste is not completely melted in the thickness direction. When the aluminum paste is thin and the firing temperature is high (850 ° C., sample 6), the aluminum paste is uniformly melted over the entire surface of the thin aluminum paste layer and the thick aluminum paste region. Since there is a tendency to become a phase, it is considered that the generation of protrusions is suppressed.

また、模擬電極がアルミニウム層のみにより形成されている試料4〜試料6と、模擬電極がアルミニウム層と銀層との2層構造で形成されている試料7〜試料9とを比較すると、焼成温度が同じ場合には、試料7〜試料9の方が、突起の発生個数が大幅に減少している。これは、上述した本実施の形態にかかる太陽電池セルの製造方法の効果によるものであると考えられる。すなわち、模擬電極形成時の焼成工程中に発生するアルミシリコン溶融液の上部に、焼成工程中に融解しない高融点ペースト層である銀ペースト層が存在することにより、アルミシリコン溶融液の突起状の膨れの発生が防止、抑制されていると考えられる。   Further, comparing the samples 4 to 6 in which the simulated electrodes are formed only of the aluminum layer and the samples 7 to 9 in which the simulated electrodes are formed in a two-layer structure of the aluminum layer and the silver layer, the firing temperature is compared. When Samples 7 to 9 are the same, the number of protrusions generated is significantly reduced. This is considered to be due to the effect of the method for manufacturing the solar battery cell according to the present embodiment described above. That is, the presence of a silver paste layer, which is a high melting point paste layer that does not melt during the firing process, above the aluminum silicon melt that occurs during the firing process when forming the simulated electrode, It is thought that the occurrence of swelling is prevented and suppressed.

また、模擬電極がアルミニウム層と銀層との2層構造で形成されており、銀層の厚みが異なる試料7〜試料9と試料10〜試料12とを比較すると、焼成温度が同じ場合には、銀層の厚みが厚い試料10〜試料12の方が、突起の発生個数がさらに減少している。このことより、焼成工程中に融解しない高融点ペースト層である銀ペースト層の厚みが厚い方が、上述した本実施の形態にかかる太陽電池セルの製造方法の効果をより多く得られると考えられる。   In addition, when the simulated electrodes are formed in a two-layer structure of an aluminum layer and a silver layer and Samples 7 to 9 and Samples 10 to 12 having different silver layer thicknesses are compared, In Samples 10 to 12, where the silver layer is thicker, the number of protrusions is further reduced. From this, it is thought that the one where the thickness of the silver paste layer which is a high melting point paste layer which does not melt | dissolve in a baking process is thick can obtain more effects of the manufacturing method of the photovoltaic cell concerning this Embodiment mentioned above. .

また、模擬電極がアルミニウム層のみにより形成されている試料4〜試料6と、模擬電極がアルミニウム層と銅層との2層構造で形成されている試料13〜試料15とを比較すると、焼成温度が同じ場合には、試料13〜試料15の方が、突起の発生個数が大幅に減少している。これは、上述した本実施の形態にかかる太陽電池セルの製造方法の効果によるものであると考えられる。すなわち、模擬電極形成時の焼成工程中に発生するアルミシリコン溶融液の上部に、焼成工程中に融解しない高融点ペースト層である銅ペースト層が存在することにより、アルミシリコン溶融液の突起状の膨れの発生が防止、抑制されていると考えられる。   Further, when comparing Sample 4 to Sample 6 in which the simulated electrode is formed of only an aluminum layer and Sample 13 to Sample 15 in which the simulated electrode is formed of a two-layer structure of an aluminum layer and a copper layer, the firing temperature is compared. Are the same, Sample 13 to Sample 15 have a significantly reduced number of protrusions. This is considered to be due to the effect of the method for manufacturing the solar battery cell according to the present embodiment described above. That is, the presence of a copper paste layer, which is a high melting point paste layer that does not melt during the firing process, above the aluminum silicon melt that occurs during the firing process when forming the simulated electrode, It is thought that the occurrence of swelling is prevented and suppressed.

また、模擬電極がアルミニウム層と銅層との2層構造で形成されており、銅層の厚みが異なる試料13〜試料15と試料16〜試料18とを比較すると、焼成温度が同じ場合には、銅層の厚みが厚い試料16〜試料18の方が、突起の発生個数がさらに減少している。このことより、焼成工程中に融解しない高融点ペースト層である銅ペースト層の厚みが厚い方が、上述した本実施の形態にかかる太陽電池セルの製造方法の効果をより多く得られると考えられる。   In addition, when the simulated electrodes are formed in a two-layer structure of an aluminum layer and a copper layer, and Samples 13 to 15 and Samples 16 to 18 having different copper layer thicknesses are compared, In the samples 16 to 18, where the copper layer is thicker, the number of protrusions is further reduced. From this, it is thought that the one where the thickness of the copper paste layer which is a high melting point paste layer which does not melt during the firing process is thicker can obtain more effects of the solar cell manufacturing method according to the present embodiment described above. .

以上の結果より、シリコン基板上に、アルミニウム層からなる第1電極層と、電極形成時の焼成温度では溶融しない高融点を有する金属からなる第2電極層と、を積層した2層構造の電極を形成することにより、電極表面における突起の発生個数が低減された良好な品質の電極を作製することができると言える。   Based on the above results, an electrode having a two-layer structure in which a first electrode layer made of an aluminum layer and a second electrode layer made of a metal having a high melting point that does not melt at the firing temperature at the time of electrode formation are laminated on a silicon substrate. By forming the electrode, it can be said that an electrode of good quality in which the number of protrusions generated on the electrode surface is reduced can be manufactured.

以上のように、本発明にかかる太陽電池セルは、太陽電池セルおよび該太陽電池セルを組み立てて作製される太陽電池モジュールの歩留まりの向上に有用である。   As described above, the solar battery cell according to the present invention is useful for improving the yield of the solar battery cell and the solar battery module manufactured by assembling the solar battery cell.

1 太陽電池セル
11 半導体基板
13 p型多結晶シリコン基板
15 n型拡散層
19 反射防止膜
21 受光面側電極
21a 受光面側ペースト電極
23 表銀グリッド電極
25 表銀バス電極
27 裏面側電極
29 裏面側電極
29a アルミニウムペースト電極層
31 裏面側電極
31a 高融点ペースト電極層
113 シリコン基板
115 n型拡散層
229 裏面側電極
229a アルミニウムペースト電極層
229b アルミニウムペースト電極層
229c−1 層厚が薄い部分の液体層(アルミシリコンの溶融液)
229c−2 層厚が厚い部分の液体層(アルミシリコンの溶融液)
229b アルミニウムペースト電極層
229b−1 アルミニウムペースト電極層における層厚が薄い部分
229b−2 アルミニウムペースト電極層における層厚が厚い部分
229d 未溶融層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Solar cell 11 Semiconductor substrate 13 p-type polycrystalline silicon substrate 15 n-type diffused layer 19 Antireflection film 21 Light-receiving surface side electrode 21a Light-receiving surface-side paste electrode 23 Table silver grid electrode 25 Table silver bus electrode 27 Back surface side electrode 29 Back surface Side electrode 29a Aluminum paste electrode layer 31 Back surface side electrode 31a High melting point paste electrode layer 113 Silicon substrate 115 N-type diffusion layer 229 Back surface side electrode 229a Aluminum paste electrode layer 229b Aluminum paste electrode layer 229c-1 Liquid layer with a thin layer thickness (Aluminum silicon melt)
229c-2 Liquid layer with thick layer (aluminum silicon melt)
229b Aluminum paste electrode layer 229b-1 Thin portion of aluminum paste electrode layer 229b-2 Thick layer portion of aluminum paste electrode layer 229d Unmelted layer

Claims (4)

第1の導電型層からなるシリコン基板と、
前記シリコン基板の受光面に形成された第2の導電型層と、
前記第2の導電型層上に設けられた受光面側電極と、
前記シリコン基板の受光面と反対側の裏面に設けられた裏面側電極と、
を備え、
前記裏面側電極は、アルミニウムを主構成要素として前記裏面上に設けられた第1裏面側電極と、銀、銅、金、ニッケルからなる群より選択されるいずれか1つ以上の金属を含有して前記第1裏面側電極上の全面に設けられた第2裏面側電極と、を備えること、
を特徴とする太陽電池セル。
A silicon substrate comprising a first conductivity type layer;
A second conductivity type layer formed on the light receiving surface of the silicon substrate;
A light-receiving surface side electrode provided on the second conductive type layer;
A back side electrode provided on the back side opposite to the light receiving surface of the silicon substrate;
With
The back side electrode contains at least one metal selected from the group consisting of a first back side electrode provided on the back side with aluminum as a main component and silver, copper, gold, and nickel. A second back side electrode provided on the entire surface of the first back side electrode,
A solar cell characterized by.
シリコン基板の一面側に電極ペーストを配置した後に焼成を行うことにより前記シリコン基板の一面側に電極を形成する太陽電池セルの製造方法であって、
前記シリコン基板の一面側に、アルミニウムを主構成要素として含有する第1の電極ペーストを配置する第1工程と、
前記第1の電極ペーストを乾燥させる第2工程と、
前記焼成を行う焼成温度では完全に溶融しない高融点を有する金属を含有する第2の電極ペーストを前記乾燥させた第1の電極ペースト上の全面に配置する第3工程と、
前記第2の電極ペーストを乾燥させる第4工程と、
前記シリコン基板を焼成することにより、前記アルミニウムを主構成要素とする第1電極と前記高融点を有する金属を含有する第2電極とが順次積層された前記電極を前記シリコン基板の一面上に形成する第5工程と、
を含むことを特徴とする太陽電池セルの製造方法。
A method of manufacturing a solar battery cell in which an electrode is formed on one side of the silicon substrate by firing after placing an electrode paste on the one side of the silicon substrate,
A first step of disposing a first electrode paste containing aluminum as a main component on one side of the silicon substrate;
A second step of drying the first electrode paste;
A third step of disposing a second electrode paste containing a metal having a high melting point that is not completely melted at the firing temperature for performing the firing over the entire surface of the dried first electrode paste;
A fourth step of drying the second electrode paste;
By firing the silicon substrate, the electrode in which the first electrode mainly composed of the aluminum and the second electrode containing the metal having the high melting point are sequentially stacked is formed on one surface of the silicon substrate. And a fifth step to
The manufacturing method of the photovoltaic cell characterized by including.
前記高融点を有する金属として、銀、銅、金、ニッケルからなる群より選択されるいずれか1つ以上の金属を用いること、
を特徴とする請求項2に記載の太陽電池セルの製造方法。
Using any one or more metals selected from the group consisting of silver, copper, gold and nickel as the metal having a high melting point,
The manufacturing method of the photovoltaic cell of Claim 2 characterized by these.
前記電極が、太陽電池セルにおける受光面と反対側の面に形成される裏面側電極であること、
を特徴とする請求項2に記載の太陽電池セルの製造方法。
The electrode is a back surface side electrode formed on the surface opposite to the light receiving surface in the solar battery cell;
The manufacturing method of the photovoltaic cell of Claim 2 characterized by these.
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