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JP2011117987A - Positive resist composition and method for forming resist pattern - Google Patents

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JP2011117987A JP2009255183A JP2009255183A JP2011117987A JP 2011117987 A JP2011117987 A JP 2011117987A JP 2009255183 A JP2009255183 A JP 2009255183A JP 2009255183 A JP2009255183 A JP 2009255183A JP 2011117987 A JP2011117987 A JP 2011117987A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a positive resist composition excellent in lithographic characteristics such as a resolution and a mask error factor (MEF), and to provide a method for forming a resist pattern using the positive resist composition. <P>SOLUTION: The positive resist composition contains a base component (A) whose solubility with an alkali developing solution is increased by the action of an acid, an acid generator component (B) generating an acid by exposure, and a nitrogen-containing organic compound (D). The base component (A) contains a polymer compound (A1) that has a (meth)acrylate unit (a0) having an ester group having a cyclic group including -SO<SB>2</SB>- in the cyclic skeleton coupled with a divalent linking group in a side chain, and contains an acid dissociable dissolution-inhibiting group in the structure. The nitrogen-containing organic compound (D) contains an amine (D1) containing at least one kind selected from a group composed of an ethereal oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, a phenyl group which may have substituents, and a nitrogen-containing heterocyclic group. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、ポジ型レジスト組成物、および該ポジ型レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法に関する。   The present invention relates to a positive resist composition and a resist pattern forming method using the positive resist composition.

リソグラフィー技術においては、例えば基板の上にレジスト材料からなるレジスト膜を形成し、該レジスト膜に対し、所定のパターンが形成されたマスクを介して、光、電子線等の放射線にて選択的露光を行い、現像処理を施すことにより、前記レジスト膜に所定形状のレジストパターンを形成する工程が行われる。
露光した部分が現像液に溶解する特性に変化するレジスト材料をポジ型、露光した部分が現像液に溶解しない特性に変化するレジスト材料をネガ型という。
近年、半導体素子や液晶表示素子の製造においては、リソグラフィー技術の進歩により急速にパターンの微細化が進んでいる。
微細化の手法としては、一般に、露光光源の短波長化が行われている。具体的には、従来は、g線、i線に代表される紫外線が用いられていたが、現在では、KrFエキシマレーザーや、ArFエキシマレーザーを用いた半導体素子の量産が開始されている。また、これらエキシマレーザーより短波長のFエキシマレーザー、電子線、EUV(極紫外線)やX線などについても検討が行われている。
In lithography technology, for example, a resist film made of a resist material is formed on a substrate, and the resist film is selectively exposed to light such as light or an electron beam through a mask on which a predetermined pattern is formed. And a development process is performed to form a resist pattern having a predetermined shape on the resist film.
A resist material in which the exposed portion changes to a property that dissolves in the developer is referred to as a positive type, and a resist material that changes to a property in which the exposed portion does not dissolve in the developer is referred to as a negative type.
In recent years, in the manufacture of semiconductor elements and liquid crystal display elements, pattern miniaturization has rapidly progressed due to advances in lithography technology.
As a technique for miniaturization, the wavelength of an exposure light source is generally shortened. Specifically, conventionally, ultraviolet rays typified by g-line and i-line have been used, but at present, mass production of semiconductor elements using a KrF excimer laser or an ArF excimer laser has started. In addition, studies have been made on F 2 excimer lasers, electron beams, EUV (extreme ultraviolet rays), X-rays, and the like having shorter wavelengths than these excimer lasers.

レジスト材料には、これらの露光光源に対する感度、微細な寸法のパターンを再現できる解像性等のリソグラフィー特性が求められる。
このような要求を満たすレジスト材料として、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が変化する基材成分と、露光により酸を発生する酸発生剤とを含有する化学増幅型レジスト組成物が用いられている。
例えばポジ型の化学増幅型レジスト組成物としては、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する樹脂成分(ベース樹脂)と、酸発生剤成分とを含有するものが一般的に用いられている。かかる、レジスト組成物を用いて形成されるレジスト膜は、レジストパターン形成時に選択的露光を行うと、露光部において、酸発生剤から酸が発生し、該酸の作用により樹脂成分のアルカリ現像液に対する溶解性が増大して、露光部がアルカリ現像液に対して可溶となる。
現在、ArFエキシマレーザーリソグラフィー等において使用されるレジストのベース樹脂としては、193nm付近における透明性に優れることから、(メタ)アクリル酸エステルから誘導される構成単位を主鎖に有する樹脂(アクリル系樹脂)などが一般的に用いられている(たとえば特許文献1参照)。ここで、「(メタ)アクリル酸」とは、α位に水素原子が結合したアクリル酸と、α位にメチル基が結合したメタクリル酸の一方あるいは両方を意味する。「(メタ)アクリル酸エステル」とは、α位に水素原子が結合したアクリル酸エステルと、α位にメチル基が結合したメタクリル酸エステルの一方あるいは両方を意味する。「(メタ)アクリレート」とは、α位に水素原子が結合したアクリレートと、α位にメチル基が結合したメタクリレートの一方あるいは両方を意味する。
また、現在、ベース樹脂および酸発生剤以外に、アルキルアミン、アルキルアルコールアミン等の含窒素有機化合物を化学増幅型レジストに配合することが行われている(例えば特許文献2〜3)。該含窒素有機化合物は、酸発生剤から発生する酸をトラップするクエンチャーとして作用し、レジストパターン形状等のリソグラフィー特性の向上に寄与する。
Resist materials are required to have lithography characteristics such as sensitivity to these exposure light sources and resolution capable of reproducing a pattern with fine dimensions.
As a resist material that satisfies such requirements, a chemically amplified resist composition containing a base material component whose solubility in an alkaline developer is changed by the action of an acid and an acid generator that generates an acid upon exposure is used. ing.
For example, as a positive chemically amplified resist composition, a composition containing a resin component (base resin) whose solubility in an alkaline developer is increased by the action of an acid and an acid generator component is generally used. Yes. When such a resist film formed using the resist composition is selectively exposed at the time of resist pattern formation, an acid is generated from the acid generator in the exposed portion, and the alkali developer of the resin component is generated by the action of the acid. As a result, the exposed area becomes soluble in an alkaline developer.
Currently, as a resist base resin used in ArF excimer laser lithography and the like, a resin (acrylic resin) having a structural unit derived from (meth) acrylic acid ester in its main chain because of its excellent transparency near 193 nm Etc. are generally used (see, for example, Patent Document 1). Here, “(meth) acrylic acid” means one or both of acrylic acid having a hydrogen atom bonded to the α-position and methacrylic acid having a methyl group bonded to the α-position. “(Meth) acrylic acid ester” means one or both of an acrylic acid ester having a hydrogen atom bonded to the α-position and a methacrylic acid ester having a methyl group bonded to the α-position. “(Meth) acrylate” means one or both of an acrylate having a hydrogen atom bonded to the α-position and a methacrylate having a methyl group bonded to the α-position.
At present, in addition to the base resin and the acid generator, nitrogen-containing organic compounds such as alkylamines and alkylalcoholamines are blended into the chemically amplified resist (for example, Patent Documents 2 to 3). The nitrogen-containing organic compound acts as a quencher that traps the acid generated from the acid generator, and contributes to the improvement of lithography properties such as the resist pattern shape.

特開2003−241385号公報JP 2003-241385 A 特開平5−249662号公報Japanese Patent Laid-Open No. 5-249662 特開平5−232706号公報JP-A-5-232706

今後、リソグラフィー技術のさらなる進歩、応用分野の拡大等が予想されるなか、リソグラフィー用途に使用できる新規な材料に対する要求がある。たとえばパターンの微細化が進むにつれ、レジスト材料にも、解像性等の種々のリソグラフィー特性の向上が求められる。
本発明者らは、かかる事情を鑑み、鋭意検討を行った結果、基材成分として、後述する構成単位(a0)を含有する高分子化合物がリソグラフィー特性の向上に寄与することを見出し、高分子化合物を配合したポジ型レジスト組成物を提案している(特願2009−185958)。
しかし、本発明者らのさらなる検討によれば、該ポジ型レジスト組成物は、従来のものに比べて優れたリソグラフィー特性を発揮するものの、解像性の向上には限界がある。また、マスクエラーファクター(MEF)が充分とはいえず、そのさらなる向上が求められる。MEFとは、同じ露光量で、ピッチを固定した状態でマスクサイズを変化させた際に、サイズの異なるマスクパターンをどれだけ忠実に再現できるか(マスク再現性)を示すパラメーターである。従来のレジスト組成物においては、レジストパターンの形成に際して使用するマスクサイズ(ホールパターンにおけるホール直径や、ラインアンドスペースパターンにおけるライン幅)の変化によって露光部にあたる光の量が増減する結果、形成されるレジストパターンのサイズがマスクサイズとずれたり、狭ピッチで微細なパターンを形成する際、形状が崩れたりするおそれがある。たとえば約100nm以下のホール口径のホールパターンを形成した際、ホールの真円性の低いものとなるおそれがある。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、解像性およびMEFなどのリソグラフィー特性に優れるポジ型レジスト組成物、および該ポジ型レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法を提供することを課題とする。
In the future, there are demands for new materials that can be used for lithography applications, as further progress in lithography technology and expansion of application fields are expected. For example, as the pattern becomes finer, the resist material is also required to improve various lithography properties such as resolution.
As a result of intensive studies in view of such circumstances, the present inventors have found that a polymer compound containing a structural unit (a0), which will be described later, as a base material component contributes to the improvement of lithography properties. A positive resist composition containing a compound has been proposed (Japanese Patent Application No. 2009-185958).
However, according to further studies by the present inventors, the positive resist composition exhibits superior lithography characteristics as compared with conventional ones, but there is a limit in improving the resolution. Further, it cannot be said that the mask error factor (MEF) is sufficient, and further improvement thereof is required. The MEF is a parameter indicating how faithfully a mask pattern having a different size can be reproduced (mask reproducibility) when the mask size is changed with the same exposure amount and a fixed pitch. In a conventional resist composition, the resist pattern is formed as a result of an increase or decrease in the amount of light applied to the exposed portion due to changes in the mask size (hole diameter in the hole pattern or line width in the line and space pattern) used in forming the resist pattern. There is a possibility that the size of the resist pattern deviates from the mask size or the shape may be collapsed when a fine pattern is formed at a narrow pitch. For example, when a hole pattern having a hole diameter of about 100 nm or less is formed, the hole may have a low roundness.
The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a positive resist composition excellent in resolution and MEF and other lithographic properties, and a resist pattern forming method using the positive resist composition. Is an issue.

本発明者らは、鋭意検討を行った結果、上記高分子化合物に特定の含窒素有機化合物を組み合わせることにより上記課題が解決されることを見出し、本発明を完成させた。
すなわち、本発明の第一の態様は、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)、および含窒素有機化合物(D)を含有するポジ型レジスト組成物であって、
前記基材成分(A)が、下記一般式(a0−1)で表される構成単位(a0)を有し、かつ、その構造中に酸解離性溶解抑制基を含む高分子化合物(A1)を含有し、
前記含窒素有機化合物(D)が、エーテル性酸素原子、エステル基、カルボニル基、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、および含窒素複素環式基からなる群から選択される少なくとも1種を含むアミン(D1)を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物である。
As a result of intensive studies, the present inventors have found that the above problem can be solved by combining the above polymer compound with a specific nitrogen-containing organic compound, and have completed the present invention.
That is, the first aspect of the present invention is a substrate component (A) whose solubility in an alkaline developer is increased by the action of an acid, an acid generator component (B) that generates an acid upon exposure, and a nitrogen-containing organic compound. A positive resist composition containing (D),
The base material component (A) has a structural unit (a0) represented by the following general formula (a0-1) and contains an acid dissociable, dissolution inhibiting group in its structure (A1) Containing
The nitrogen-containing organic compound (D) is selected from the group consisting of an etheric oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, an optionally substituted phenyl group, and a nitrogen-containing heterocyclic group. A positive resist composition comprising an amine (D1) containing at least one kind.

Figure 2011117987
[式(a0−1)中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり、Rは2価の連結基であり、Rはその環骨格中に−SO−を含む環式基である。]
Figure 2011117987
[In the formula (a0-1), R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 2 is a divalent linking group, and R 3 is It is a cyclic group containing —SO 2 — in the ring skeleton. ]

本発明の第二の態様は、支持体上に、前記第一の態様のポジ型レジスト組成物を用いてレジスト膜を形成する工程、前記レジスト膜を露光する工程、および前記レジスト膜をアルカリ現像してレジストパターンを形成する工程を含むレジストパターン形成方法である。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a step of forming a resist film on a support using the positive resist composition of the first aspect, a step of exposing the resist film, and an alkali development of the resist film. And a resist pattern forming method including a step of forming a resist pattern.

本明細書および本特許請求の範囲において、「脂肪族」とは、芳香族に対する相対的な概念であって、芳香族性を持たない基、化合物等を意味するものと定義する。
「アルキル基」は、特に断りがない限り、直鎖状、分岐鎖状および環状の1価の飽和炭化水素基を包含するものとする。
「アルキレン基」は、特に断りがない限り、直鎖状、分岐鎖状および環状の2価の飽和炭化水素基を包含するものとする。アルコキシ基中のアルキル基も同様である。
「ハロゲン化アルキル基」は、アルキル基の水素原子の一部又は全部がハロゲン原子で置換された基であり、該ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が挙げられる。
「フッ素化アルキル基」又は「フッ素化アルキレン基」は、アルキル基又はアルキレン基の水素原子の一部又は全部がフッ素原子で置換された基をいう。
「構成単位」とは、高分子化合物(樹脂、重合体、共重合体)を構成するモノマー単位(単量体単位)を意味する。
「アクリル酸エステルから誘導される構成単位」とは、アクリル酸エステルのエチレン性二重結合が開裂して構成される構成単位を意味する。
「アクリル酸エステル」は、α位の炭素原子に水素原子が結合しているアクリル酸エステルのほか、α位の炭素原子に置換基(水素原子以外の原子または基)が結合しているものも含む概念とする。該α位の炭素原子に結合する置換基としては、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基、ヒドロキシアルキル基等が挙げられる。なお、アクリル酸エステルのα位の炭素原子とは、特に断りがない限り、カルボニル基が結合している炭素原子のことである。
「露光」は、放射線の照射全般を含む概念とする。
In the present specification and claims, “aliphatic” is a relative concept with respect to aromatics, and is defined to mean groups, compounds, and the like that do not have aromaticity.
Unless otherwise specified, the “alkyl group” includes linear, branched and cyclic monovalent saturated hydrocarbon groups.
Unless otherwise specified, the “alkylene group” includes linear, branched and cyclic divalent saturated hydrocarbon groups. The same applies to the alkyl group in the alkoxy group.
The “halogenated alkyl group” is a group in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group are substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.
“Fluorinated alkyl group” or “fluorinated alkylene group” refers to a group in which part or all of the hydrogen atoms of an alkyl group or alkylene group are substituted with fluorine atoms.
“Structural unit” means a monomer unit (monomer unit) constituting a polymer compound (resin, polymer, copolymer).
The “structural unit derived from an acrylate ester” means a structural unit constituted by cleavage of an ethylenic double bond of an acrylate ester.
“Acrylic acid esters” include those in which a hydrogen atom is bonded to the carbon atom at the α-position, and those in which a substituent (atom or group other than a hydrogen atom) is bonded to the carbon atom in the α-position. Include concepts. Examples of the substituent bonded to the α-position carbon atom include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and a hydroxyalkyl group. The α-position carbon atom of the acrylate ester is a carbon atom to which a carbonyl group is bonded unless otherwise specified.
“Exposure” is a concept including general irradiation of radiation.

本発明によれば、解像性およびMEF等のリソグラフィー性能に優れるポジ型レジスト組成物、および該ポジ型レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法を提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the positive resist composition excellent in lithography performance, such as resolution and MEF, and the resist pattern formation method using this positive resist composition can be provided.

≪ポジ型レジスト組成物≫
本発明のポジ型レジスト組成物(以下、単にレジスト組成物ということがある。)は、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)(以下、(A)成分という。)、放射線の照射により酸を発生する酸発生剤成分(B)(以下、(B)成分という。)および含窒素有機化合物(D)(以下、(D)成分という)を含有する。
かかるポジ型レジスト組成物においては、放射線が照射(露光)されると、(B)成分から酸が発生し、該酸の作用により(A)成分のアルカリ現像液に対する溶解性が増大する。そのため、レジストパターンの形成において、当該ポジ型レジスト組成物を用いて得られるレジスト膜に対して選択的露光を行うと、当該レジスト膜の、露光部のアルカリ現像液に対する可溶性が増大する一方で、未露光部のアルカリ現像液に対する溶解性は変化しないため、アルカリ現像を行うことにより、レジストパターンを形成することができる。
ここで、「基材成分」とは、膜形成能を有する有機化合物である。基材成分としては、好ましくは分子量が500以上の有機化合物が用いられる。分子量が500以上であることにより、膜形成能が向上し、また、ナノレベルのレジストパターンを形成しやすい。
前記基材成分として用いられる「分子量が500以上の有機化合物」は、非重合体と重合体とに大別される。
非重合体としては、通常、分子量が500以上4000未満のものが用いられる。以下、分子量が500以上4000未満の非重合体を低分子化合物という。
重合体としては、通常、分子量が2000以上のものが用いられる。以下、分子量が2000以上の重合体を高分子化合物という。高分子化合物の場合、「分子量」としてはGPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)によるポリスチレン換算の質量平均分子量を用いるものとする。以下、高分子化合物を単に「樹脂」ということがある。
≪Positive resist composition≫
The positive resist composition of the present invention (hereinafter sometimes referred to simply as “resist composition”) is a base component (A) (hereinafter referred to as “component (A)”) whose solubility in an alkaline developer is increased by the action of an acid. ), An acid generator component (B) (hereinafter referred to as (B) component) that generates an acid upon irradiation with radiation, and a nitrogen-containing organic compound (D) (hereinafter referred to as (D) component).
In such a positive resist composition, when radiation is irradiated (exposed), an acid is generated from the component (B), and the solubility of the component (A) in an alkaline developer is increased by the action of the acid. Therefore, in the formation of the resist pattern, when selective exposure is performed on the resist film obtained using the positive resist composition, the solubility of the resist film in the alkaline developer in the exposed portion increases. Since the solubility of the unexposed portion in the alkaline developer does not change, a resist pattern can be formed by performing alkali development.
Here, the “base component” is an organic compound having a film forming ability. As the substrate component, an organic compound having a molecular weight of 500 or more is preferably used. When the molecular weight is 500 or more, the film forming ability is improved, and a nano-level resist pattern is easily formed.
“Organic compounds having a molecular weight of 500 or more” used as the base component are roughly classified into non-polymers and polymers.
As the non-polymer, those having a molecular weight of 500 or more and less than 4000 are usually used. Hereinafter, a non-polymer having a molecular weight of 500 or more and less than 4000 is referred to as a low molecular compound.
As the polymer, those having a molecular weight of 2000 or more are usually used. Hereinafter, a polymer having a molecular weight of 2000 or more is referred to as a polymer compound. In the case of a polymer compound, the “molecular weight” is a polystyrene-reduced mass average molecular weight determined by GPC (gel permeation chromatography). Hereinafter, the polymer compound may be simply referred to as “resin”.

<(A)成分>
[高分子化合物(A1)]
高分子化合物(A1)(以下、(A1)成分という。)は、前記一般式(a0−1)で表される構成単位(a0)を有し、かつ、その構造中に酸解離性溶解抑制基を含む。
(A1)成分は、構成単位(a0)に加えて、酸解離性溶解抑制基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a1)を有することが好ましい。
また、(A1)成分は、構成単位(a0)に加えて、または構成単位(a0)および(a1)に加えて、ラクトン含有環式基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a2)を有することが好ましい。
また、(A1)成分は、構成単位(a0)に加えて、または構成単位(a0)および(a1)に加えて、または構成単位(a0)、(a1)および(a2)に加えて、極性基含有脂肪族炭化水素基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a3)を有することが好ましい。
<(A) component>
[Polymer Compound (A1)]
The polymer compound (A1) (hereinafter referred to as the component (A1)) has the structural unit (a0) represented by the general formula (a0-1), and has acid dissociable dissolution inhibition in the structure thereof. Contains groups.
The component (A1) preferably has a structural unit (a1) derived from an acrylate ester containing an acid dissociable, dissolution inhibiting group, in addition to the structural unit (a0).
The component (A1) is a structural unit (a2) derived from an acrylate ester containing a lactone-containing cyclic group in addition to the structural unit (a0) or in addition to the structural units (a0) and (a1). It is preferable to have.
The component (A1) is polar in addition to the structural unit (a0), in addition to the structural units (a0) and (a1), or in addition to the structural units (a0), (a1) and (a2). It is preferable to have a structural unit (a3) derived from an acrylate ester containing a group-containing aliphatic hydrocarbon group.

(構成単位(a0))
前記式(a0−1)中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基である。
Rのアルキル基は、直鎖状または分岐鎖状のアルキル基が好ましく、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基等が挙げられる。
Rのハロゲン化アルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部または全部がハロゲン原子で置換された基が挙げられる。該ハロゲン化アルキル基におけるハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、特にフッ素原子が好ましい。
Rとしては、水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のフッ素化アルキル基が好ましく、工業上の入手の容易さから、水素原子またはメチル基が最も好ましい。
(Structural unit (a0))
In said formula (a0-1), R is a hydrogen atom, a C1-C5 alkyl group, or a C1-C5 halogenated alkyl group.
The alkyl group of R is preferably a linear or branched alkyl group, specifically, methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, tert-butyl group, pentyl group. Group, isopentyl group, neopentyl group and the like.
Examples of the halogenated alkyl group for R include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group have been substituted with halogen atoms. Examples of the halogen atom in the halogenated alkyl group include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom, and a fluorine atom is particularly preferable.
R is preferably a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and is most preferably a hydrogen atom or a methyl group in terms of industrial availability.

式(a0−1)中、Rは2価の連結基である。
としては、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基、ヘテロ原子を含む2価の連結基等が好適なものとして挙げられる。
炭化水素基が「置換基を有する」とは、該炭化水素基における水素原子の一部または全部が、水素原子以外の基または原子で置換されていることを意味する。
該炭化水素基は、脂肪族炭化水素基であってもよく、芳香族炭化水素基であってもよい。
脂肪族炭化水素基は、芳香族性を持たない炭化水素基を意味する。該脂肪族炭化水素基は、飽和であってもよく、不飽和であってもよく、通常は飽和であることが好ましい。
前記脂肪族炭化水素基として、より具体的には、直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基、構造中に環を含む脂肪族炭化水素基等が挙げられる。
In formula (a0-1), R 2 is a divalent linking group.
Preferred examples of R 2 include a divalent hydrocarbon group which may have a substituent, a divalent linking group containing a hetero atom, and the like.
The hydrocarbon group having “substituent” means that part or all of the hydrogen atoms in the hydrocarbon group are substituted with groups or atoms other than hydrogen atoms.
The hydrocarbon group may be an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group.
An aliphatic hydrocarbon group means a hydrocarbon group having no aromaticity. The aliphatic hydrocarbon group may be saturated or unsaturated, and is usually preferably saturated.
More specifically, examples of the aliphatic hydrocarbon group include a linear or branched aliphatic hydrocarbon group, an aliphatic hydrocarbon group containing a ring in the structure, and the like.

直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基は、炭素数が1〜10であることが好ましく、1〜8がより好ましく、1〜5がさらに好ましく、1〜2が最も好ましい。
直鎖状の脂肪族炭化水素基としては、直鎖状のアルキレン基が好ましく、具体的には、メチレン基[−CH−]、エチレン基[−(CH−]、トリメチレン基[−(CH−]、テトラメチレン基[−(CH−]、ペンタメチレン基[−(CH−]等が挙げられる。
分岐鎖状の脂肪族炭化水素基としては、分岐鎖状のアルキレン基が好ましく、具体的には、−CH(CH)−、−CH(CHCH)−、−C(CH−、−C(CH)(CHCH)−、−C(CH)(CHCHCH)−、−C(CHCH−等のアルキルメチレン基;−CH(CH)CH−、−CH(CH)CH(CH)−、−C(CHCH−、−CH(CHCH)CH−、−C(CHCHCH−等のアルキルエチレン基;−CH(CH)CHCH−、−CHCH(CH)CH−等のアルキルトリメチレン基;−CH(CH)CHCHCH−、−CHCH(CH)CHCH−等のアルキルテトラメチレン基などのアルキルアルキレン基等が挙げられる。アルキルアルキレン基におけるアルキル基としては、炭素数1〜5の直鎖状のアルキル基が好ましい。
前記直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基は、置換基を有していてもよく、有していなくてもよい。該置換基としては、フッ素原子、フッ素原子で置換された炭素数1〜5のフッ素化アルキル基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
The linear or branched aliphatic hydrocarbon group preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8, still more preferably 1 to 5, and most preferably 1 to 2.
As the linear aliphatic hydrocarbon group, a linear alkylene group is preferable. Specifically, a methylene group [—CH 2 —], an ethylene group [— (CH 2 ) 2 —], a trimethylene group [ — (CH 2 ) 3 —], tetramethylene group [— (CH 2 ) 4 —], pentamethylene group [— (CH 2 ) 5 —] and the like can be mentioned.
As the branched aliphatic hydrocarbon group, a branched alkylene group is preferred, and specifically, —CH (CH 3 ) —, —CH (CH 2 CH 3 ) —, —C (CH 3 ). 2 -, - C (CH 3 ) (CH 2 CH 3) -, - C (CH 3) (CH 2 CH 2 CH 3) -, - C (CH 2 CH 3) 2 - ; alkylethylene groups such as - CH (CH 3) CH 2 - , - CH (CH 3) CH (CH 3) -, - C (CH 3) 2 CH 2 -, - CH (CH 2 CH 3) CH 2 -, - C (CH 2 An alkylethylene group such as CH 3 ) 2 CH 2 —; an alkyl trimethylene group such as —CH (CH 3 ) CH 2 CH 2 —, —CH 2 CH (CH 3 ) CH 2 —; —CH (CH 3 ) CH 2 CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH (CH 3) CH 2 CH 2 - , etc. And alkyl alkylene group such as an alkyl tetramethylene group. The alkyl group in the alkyl alkylene group is preferably a linear alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.
The linear or branched aliphatic hydrocarbon group may or may not have a substituent. Examples of the substituent include a fluorine atom, a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms substituted with a fluorine atom, and an oxygen atom (= O).

構造中に環を含む脂肪族炭化水素基としては、環状の脂肪族炭化水素基(脂肪族炭化水素環から水素原子を2個除いた基)、該環状の脂肪族炭化水素基が前述した鎖状の脂肪族炭化水素基の末端に結合するか又は鎖状の脂肪族炭化水素基の途中に介在する基などが挙げられる。
環状の脂肪族炭化水素基は、炭素数が3〜20であることが好ましく、3〜12であることがより好ましい。
環状の脂肪族炭化水素基は、多環式基であってもよく、単環式基であってもよい。単環式基としては、炭素数3〜6のモノシクロアルカンから2個の水素原子を除いた基が好ましく、該モノシクロアルカンとしてはシクロペンタン、シクロヘキサン等が例示できる。多環式基としては、炭素数7〜12のポリシクロアルカンから2個の水素原子を除いた基が好ましく、該ポリシクロアルカンとして具体的には、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。
環状の脂肪族炭化水素基は、置換基を有していてもよいし、有していなくてもよい。置換基としては、炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子、フッ素原子で置換された炭素数1〜5のフッ素化アルキル基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
Examples of the aliphatic hydrocarbon group including a ring in the structure include a cyclic aliphatic hydrocarbon group (a group obtained by removing two hydrogen atoms from an aliphatic hydrocarbon ring), and the cyclic aliphatic hydrocarbon group includes the chain described above. And a group that is bonded to the terminal of the chain-like aliphatic hydrocarbon group or intervenes in the middle of the chain-like aliphatic hydrocarbon group.
The cyclic aliphatic hydrocarbon group preferably has 3 to 20 carbon atoms, and more preferably 3 to 12 carbon atoms.
The cyclic aliphatic hydrocarbon group may be a polycyclic group or a monocyclic group. As the monocyclic group, a group in which two hydrogen atoms are removed from a monocycloalkane having 3 to 6 carbon atoms is preferable, and examples of the monocycloalkane include cyclopentane and cyclohexane. As the polycyclic group, a group in which two hydrogen atoms are removed from a polycycloalkane having 7 to 12 carbon atoms is preferable. Specific examples of the polycycloalkane include adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, tetra And cyclododecane.
The cyclic aliphatic hydrocarbon group may or may not have a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom, a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms substituted with a fluorine atom, and an oxygen atom (= O).

芳香族炭化水素基は、芳香環を有する炭化水素基である。該芳香族炭化水素基の炭素数は3〜30であることが好ましく、5〜30であることがより好ましく、5〜20がさらに好ましく、6〜15が特に好ましく、6〜12が最も好ましい。ただし、該炭素数には、置換基における炭素数を含まないものとする。
芳香族炭化水素基として、具体的には、フェニル基、ビフェニル(biphenyl)基、フルオレニル(fluorenyl)基、ナフチル基、アントリル(anthryl)基、フェナントリル基等の、芳香族炭化水素環から水素原子を1つ除いたアリール基、ベンジル基、フェネチル基、1−ナフチルメチル基、2−ナフチルメチル基、1−ナフチルエチル基、2−ナフチルエチル基等のアリールアルキル基等が挙げられる。前記アリールアルキル基中のアルキル鎖の炭素数は、1〜4であることが好ましく、1〜2であることがより好ましく、1であることが特に好ましい。
該芳香族炭化水素基は、置換基を有していてもよい。たとえば当該芳香族炭化水素基が有する芳香環を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子で置換されていてもよく、当該芳香族炭化水素基が有する芳香環に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよい。
前者の例としては、前記アリール基の環を構成する炭素原子の一部が酸素原子、硫黄原子、窒素原子等のヘテロ原子で置換されたヘテロアリール基、前記アリールアルキル基中の芳香族炭化水素環を構成する炭素原子の一部が前記ヘテロ原子で置換されたヘテロアリールアルキル基等が挙げられる。
後者の例における芳香族炭化水素基の置換基としては、たとえば、アルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることが最も好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのアルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が最も好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
The aromatic hydrocarbon group is a hydrocarbon group having an aromatic ring. The aromatic hydrocarbon group preferably has 3 to 30 carbon atoms, more preferably 5 to 30, more preferably 5 to 20, still more preferably 6 to 15, and most preferably 6 to 12. However, the carbon number does not include the carbon number in the substituent.
Specific examples of the aromatic hydrocarbon group include a hydrogen atom from an aromatic hydrocarbon ring such as a phenyl group, a biphenyl group, a fluorenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, and a phenanthryl group. Aryl groups such as aryl group, benzyl group, phenethyl group, 1-naphthylmethyl group, 2-naphthylmethyl group, 1-naphthylethyl group, 2-naphthylethyl group, etc., from which one is removed. The number of carbon atoms of the alkyl chain in the arylalkyl group is preferably 1 to 4, more preferably 1 to 2, and particularly preferably 1.
The aromatic hydrocarbon group may have a substituent. For example, a part of carbon atoms constituting the aromatic ring of the aromatic hydrocarbon group may be substituted with a hetero atom, and the hydrogen atom bonded to the aromatic ring of the aromatic hydrocarbon group is substituted with the substituent. May be.
Examples of the former include heteroaryl groups in which some of the carbon atoms constituting the ring of the aryl group are substituted with heteroatoms such as oxygen atoms, sulfur atoms, nitrogen atoms, and aromatic hydrocarbons in the arylalkyl groups. Examples include heteroarylalkyl groups in which a part of carbon atoms constituting the ring is substituted with the heteroatom.
Examples of the substituent of the aromatic hydrocarbon group in the latter example include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, and an oxygen atom (═O).
The alkyl group as a substituent of the aromatic hydrocarbon group is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and most preferably a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group. preferable.
The alkoxy group as a substituent of the aromatic hydrocarbon group is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, and is a methoxy group, ethoxy group, n-propoxy group, iso-propoxy group, n-butoxy group, tert- A butoxy group is preferable, and a methoxy group and an ethoxy group are most preferable.
Examples of the halogen atom as a substituent for the aromatic hydrocarbon group include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
Examples of the halogenated alkyl group as the substituent of the aromatic hydrocarbon group include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group have been substituted with the halogen atoms.

「ヘテロ原子を含む2価の連結基」におけるヘテロ原子とは、炭素原子および水素原子以外原子であり、たとえば酸素原子、窒素原子、硫黄原子、ハロゲン原子等が挙げられる。
ヘテロ原子を含む2価の連結基として、具体的には、−O−、−C(=O)−、−C(=O)−O−、カーボネート結合(−O−C(=O)−O−)、−S−、−S(=O)−、−S(=O)−O−、−NH−、−NR04−(R04はアルキル基、アシル基等の置換基である。)、−NH−C(=O)−、=N−等の、ヘテロ原子を含む2価の非炭化水素基が挙げられる。また、これらの「ヘテロ原子を含む2価の非炭化水素基」と2価の炭化水素基との組み合わせ等が挙げられる。2価の炭化水素基としては、上述した置換基を有していてもよい炭化水素基と同様のものが挙げられ、直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基が好ましい。
The hetero atom in the “divalent linking group containing a hetero atom” is an atom other than a carbon atom and a hydrogen atom, and examples thereof include an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom, and a halogen atom.
As the divalent linking group containing a hetero atom, specifically, —O—, —C (═O) —, —C (═O) —O—, carbonate bond (—O—C (═O) — O -), - S -, - S (= O) 2 -, - S (= O) 2 -O -, - NH -, - NR 04 - (R 04 is an alkyl group, with a substituent such as an acyl group And a divalent non-hydrocarbon group containing a hetero atom such as —NH—C (═O) — and ═N—. Moreover, the combination etc. of these "divalent non-hydrocarbon groups containing a hetero atom" and a divalent hydrocarbon group are mentioned. Examples of the divalent hydrocarbon group include the same hydrocarbon groups that may have a substituent as described above, and a linear or branched aliphatic hydrocarbon group is preferable.

は、その構造中に酸解離性部位を有していてもよいし、有していなくてもよい。「酸解離性部位」とは、当該有機基内における、露光により発生する酸が作用して解離する部位をいう。Rが酸解離性部位を有する場合、好ましくは第三級炭素原子を有する酸解離性部位を有することが好ましい。 R 2 may or may not have an acid dissociable site in its structure. The “acid-dissociable site” refers to a site in the organic group that is dissociated by the action of an acid generated by exposure. When R 2 has an acid dissociable portion, it is preferable that it preferably has an acid dissociable portion having a tertiary carbon atom.

本発明において、Rの2価の連結基としては、アルキレン基、2価の脂肪族環式基またはヘテロ原子を含む2価の連結基が好ましい。これらの中でも、アルキレン基が特に好ましい。
がアルキレン基である場合、該アルキレン基は、炭素数1〜10であることが好ましく、炭素数1〜6であることがさらに好ましく、炭素数1〜4であることが特に好ましく、炭素数1〜3であることが最も好ましい。具体的には、前記で挙げた直鎖状のアルキレン基、分岐鎖状のアルキレン基と同様のものが挙げられる。
が2価の脂肪族環式基である場合、該脂肪族環式基としては、前記「構造中に環を含む脂肪族炭化水素基」で挙げた環状の脂肪族炭化水素基と同様のものが挙げられる。
該脂肪族環式基としては、シクロペンタン、シクロヘキサン、ノルボルナン、イソボルナン、アダマンタン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンから水素原子が二個以上除かれた基であることが特に好ましい。
In the present invention, the divalent linking group for R 2 is preferably an alkylene group, a divalent aliphatic cyclic group or a divalent linking group containing a hetero atom. Among these, an alkylene group is particularly preferable.
When R 2 is an alkylene group, the alkylene group preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 6 carbon atoms, and particularly preferably 1 to 4 carbon atoms. It is most preferable that it is number 1-3. Specific examples include the same linear alkylene groups and branched alkylene groups as mentioned above.
When R 2 is a divalent aliphatic cyclic group, the aliphatic cyclic group is the same as the cyclic aliphatic hydrocarbon group mentioned in the above “aliphatic hydrocarbon group containing a ring in the structure”. Can be mentioned.
The aliphatic cyclic group is particularly preferably a group in which two or more hydrogen atoms have been removed from cyclopentane, cyclohexane, norbornane, isobornane, adamantane, tricyclodecane or tetracyclododecane.

がヘテロ原子を含む2価の連結基である場合、該連結基として好ましいものとして、−O−、−C(=O)−O−、−C(=O)−、−O−C(=O)−O−、−C(=O)−NH−、−NH−、−NR04−(R04はアルキル基、アシル基等の置換基である。)、−S−、−S(=O)−、−S(=O)−O−、式−A−O−B−で表される基、式−[A−C(=O)−O]−B−で表される基等が挙げられる。ここで、AおよびBはそれぞれ独立して置換基を有していてもよい2価の炭化水素基であり、mは0〜3の整数である。
が−NR04−の場合、R04はアルキル基、アシル基等の置換基である。該置換基(アルキル基、アシル基等)は、炭素数が1〜10であることが好ましく、1〜8であることがさらに好ましく、1〜5であることが特に好ましい。
−A−O−B−または−[A−C(=O)−O]−B−において、AおよびBは、それぞれ独立して、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基である。
AおよびBにおける置換基を有していてもよい2価の炭化水素基としては、前記でRにおける「置換基を有していてもよい2価の炭化水素基」として挙げたものと同様のものが挙げられる。
Aとしては、直鎖状の脂肪族炭化水素基が好ましく、直鎖状のアルキレン基がより好ましく、炭素数1〜5の直鎖状のアルキレン基がさらに好ましく、メチレン基またはエチレン基が特に好ましい。
Bとしては、直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基が好ましく、メチレン基、エチレン基またはアルキルメチレン基がより好ましい。該アルキルメチレン基におけるアルキル基は、炭素数1〜5の直鎖状のアルキル基が好ましく、炭素数1〜3の直鎖状のアルキル基が好ましく、メチル基が最も好ましい。
また、式−[A−C(=O)−O]−B−で表される基において、mは0〜3の整数であり、0〜2の整数であることが好ましく、0または1がより好ましく、1が最も好ましい。
When R 2 is a divalent linking group containing a hetero atom, preferred examples of the linking group include —O—, —C (═O) —O—, —C (═O) —, —O—C. (═O) —O—, —C (═O) —NH—, —NH—, —NR 04 — (R 04 is a substituent such as an alkyl group or an acyl group), —S—, —S. (═O) 2 —, —S (═O) 2 —O—, a group represented by the formula —A—O—B—, and a formula — [A—C (═O) —O] m —B—. And the group represented. Here, A and B are each independently a divalent hydrocarbon group which may have a substituent, and m is an integer of 0 to 3.
When R 2 is —NR 04 —, R 04 is a substituent such as an alkyl group or an acyl group. The substituent (alkyl group, acyl group, etc.) preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8 carbon atoms, and particularly preferably 1 to 5 carbon atoms.
In —A—O—B— or — [A—C (═O) —O] m —B—, A and B are each independently a divalent hydrocarbon which may have a substituent. It is a group.
Examples of the divalent hydrocarbon group which may have a substituent in A and B are the same as those described above as the “divalent hydrocarbon group which may have a substituent” in R 2 . Can be mentioned.
As A, a linear aliphatic hydrocarbon group is preferable, a linear alkylene group is more preferable, a linear alkylene group having 1 to 5 carbon atoms is more preferable, and a methylene group or an ethylene group is particularly preferable. .
B is preferably a linear or branched aliphatic hydrocarbon group, more preferably a methylene group, an ethylene group or an alkylmethylene group. The alkyl group in the alkylmethylene group is preferably a linear alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, more preferably a linear alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and most preferably a methyl group.
In the group represented by the formula — [A—C (═O) —O] m —B—, m is an integer of 0 to 3, preferably an integer of 0 to 2, and 0 or 1 Is more preferable and 1 is most preferable.

式(a0−1)中、Rは、その環骨格中に−SO−を含む環式基である。
における環式基とは、その環骨格中に−SO−を含む環を含有する環式基を示し、該環をひとつの目の環として数え、該環のみの場合は単環式基、さらに他の環構造を有する場合は、その構造に関わらず多環式基と称する。Rにおける環式基は、単環式基であってもよく、多環式基であってもよい。
は、特に、その環骨格中に−O−SO−を含む環式基であることが好ましい。
における環式基は、炭素数が3〜30であることが好ましく、4〜20であることが好ましく、4〜15であることがより好ましく、4〜12であることが特に好ましい。ただし、該炭素数は環骨格を構成する炭素原子の数であり、置換基における炭素数を含まないものとする。
における環式基は、脂肪族環式基であってもよく、芳香族環式基であってもよい。好ましくは脂肪族環式基である。
における脂肪族環式基としては、前記において挙げた環状の脂肪族炭化水素基の環骨格を構成する炭素原子の一部が−SO−または−O−SO−で置換されたものが挙げられる。
より具体的には、たとえば、前記単環式基としては、その環骨格を構成する−CH−が−SO−で置換されたモノシクロアルカンから水素原子1つを除いた基、その環を構成する−CH−CH−が−O−SO−で置換されたモノシクロアルカンから水素原子1つを除いた基等が挙げられる。また、前記多環式基としては、その環骨格を構成する−CH−が−SO−で置換されたポリシクロアルカン(ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカン等)から水素原子1つを除いた基、その環を構成する−CH−CH−が−O−SO−で置換されたポリシクロアルカンから水素原子1つを除いた基等が挙げられる。
In formula (a0-1), R 3 is a cyclic group containing —SO 2 — in the ring skeleton.
The cyclic group in R 3 represents a cyclic group containing a ring containing —SO 2 — in the ring skeleton, and the ring is counted as the first ring. When the group has another ring structure, it is called a polycyclic group regardless of the structure. The cyclic group for R 3 may be a monocyclic group or a polycyclic group.
R 3 is particularly preferably a cyclic group containing —O—SO 2 — in the ring skeleton.
The cyclic group for R 3 preferably has 3 to 30 carbon atoms, preferably 4 to 20 carbon atoms, more preferably 4 to 15 carbon atoms, and particularly preferably 4 to 12 carbon atoms. However, the carbon number is the number of carbon atoms constituting the ring skeleton, and does not include the carbon number in the substituent.
The cyclic group for R 3 may be an aliphatic cyclic group or an aromatic cyclic group. An aliphatic cyclic group is preferable.
As the aliphatic cyclic group for R 3, a carbon atom constituting a ring skeleton of the cyclic aliphatic hydrocarbon group mentioned above is partially substituted with —SO 2 — or —O—SO 2 —. Is mentioned.
More specifically, for example, the monocyclic group includes a group obtained by removing one hydrogen atom from a monocycloalkane in which —CH 2 — constituting the ring skeleton is substituted with —SO 2 —, and the ring And a group in which one hydrogen atom is removed from a monocycloalkane in which —CH 2 —CH 2 — constituting R 1 is substituted with —O—SO 2 —. The polycyclic group includes one hydrogen atom from a polycycloalkane (bicycloalkane, tricycloalkane, tetracycloalkane, etc.) in which —CH 2 — constituting the ring skeleton is substituted with —SO 2 —. And a group obtained by removing one hydrogen atom from a polycycloalkane in which —CH 2 —CH 2 — constituting the ring is substituted with —O—SO 2 —.

における環式基は、置換基を有していてもよい。該置換基としては、たとえばアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基、シアノ基等が挙げられる。
該置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜6のアルキル基が好ましい。該アルキル基は、直鎖状または分岐鎖状であることが好ましい。具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、ヘキシル基等が挙げられる。これらの中でも、メチル基またはエチル基が好ましく、メチル基が特に好ましい。
該置換基としてのアルコキシ基としては、炭素数1〜6のアルコキシ基が好ましい。該アルコキシ基は、直鎖状または分岐鎖状であることが好ましい。具体的には、前記置換基としてのアルキル基として挙げたアルキル基に酸素原子(−O−)に結合した基が挙げられる。
該置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
該置換基のハロゲン化アルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
該置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、前記置換基としてのアルキル基として挙げたアルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。該ハロゲン化アルキル基としてはフッ素化アルキル基が好ましく、特にパーフルオロアルキル基が好ましい。
前記−COOR”、−OC(=O)R”におけるR”は、いずれも、水素原子または炭素数1〜15の直鎖状、分岐鎖状もしくは環状のアルキル基である。
R”が直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキル基の場合は、炭素数1〜10であることが好ましく、炭素数1〜5であることがさらに好ましく、メチル基またはエチル基であることが特に好ましい。
R”が環状のアルキル基の場合は、炭素数3〜15であることが好ましく、炭素数4〜12であることがさらに好ましく、炭素数5〜10が最も好ましい。具体的には、フッ素原子またはフッ素化アルキル基で置換されていてもよいし、されていなくてもよいモノシクロアルカン、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などを例示できる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンや、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。
該置換基としてのヒドロキシアルキル基としては、炭素数が1〜6であるものが好ましく、具体的には、前記置換基としてのアルキル基として挙げたアルキル基の水素原子の少なくとも1つが水酸基で置換された基が挙げられる。
として、より具体的には、下記一般式(3−1)〜(3−4)で表される基が挙げられる。
The cyclic group for R 3 may have a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, an oxygen atom (═O), —COOR ″, —OC (═O) R ″, a hydroxyalkyl group, a cyano group, and the like. Is mentioned.
The alkyl group as the substituent is preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. The alkyl group is preferably linear or branched. Specific examples include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, a tert-butyl group, a pentyl group, an isopentyl group, a neopentyl group, and a hexyl group. Among these, a methyl group or an ethyl group is preferable, and a methyl group is particularly preferable.
The alkoxy group as the substituent is preferably an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms. The alkoxy group is preferably linear or branched. Specifically, the group couple | bonded with the oxygen atom (-O-) to the alkyl group quoted as the alkyl group as the said substituent is mentioned.
Examples of the halogen atom as the substituent include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
Examples of the halogenated alkyl group for the substituent include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group have been substituted with the halogen atoms.
Examples of the halogenated alkyl group as the substituent include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group mentioned as the alkyl group as the substituent are substituted with the halogen atom. As the halogenated alkyl group, a fluorinated alkyl group is preferable, and a perfluoroalkyl group is particularly preferable.
R ″ in —COOR ″ and —OC (═O) R ″ is a hydrogen atom or a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 15 carbon atoms.
When R ″ is a linear or branched alkyl group, it preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 5 carbon atoms, and particularly preferably a methyl group or an ethyl group. preferable.
When R ″ is a cyclic alkyl group, it preferably has 3 to 15 carbon atoms, more preferably 4 to 12 carbon atoms, and most preferably 5 to 10 carbon atoms. Specifically, a fluorine atom Or a group in which one or more hydrogen atoms have been removed from a polycycloalkane such as monocycloalkane, bicycloalkane, tricycloalkane, and tetracycloalkane, which may or may not be substituted with a fluorinated alkyl group More specifically, one or more hydrogen atoms are removed from a monocycloalkane such as cyclopentane or cyclohexane, or a polycycloalkane such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, or tetracyclododecane. Groups and the like.
The hydroxyalkyl group as the substituent is preferably one having 1 to 6 carbon atoms. Specifically, at least one of the hydrogen atoms of the alkyl group mentioned as the alkyl group as the substituent is substituted with a hydroxyl group. Group.
More specifically, examples of R 3 include groups represented by the following general formulas (3-1) to (3-4).

Figure 2011117987
[式中、A’は酸素原子もしくは硫黄原子を含んでいてもよい炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子または硫黄原子であり、aは0〜2の整数であり、Rはアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、水酸基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基またはシアノ基であり、R”は水素原子またはアルキル基である。]
Figure 2011117987
[Wherein, A ′ is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms which may contain an oxygen atom or a sulfur atom, an oxygen atom or a sulfur atom, a is an integer of 0 to 2, and R 6 is an alkyl group. An alkoxy group, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, —COOR ″, —OC (═O) R ″, a hydroxyalkyl group or a cyano group, and R ″ is a hydrogen atom or an alkyl group.]

前記一般式(3−1)〜(3−4)中、A’は、酸素原子(−O−)もしくは硫黄原子(−S−)を含んでいてもよい炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子または硫黄原子である。
A’における炭素数1〜5のアルキレン基としては、直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基が好ましく、メチレン基、エチレン基、n−プロピレン基、イソプロピレン基等が挙げられる。
該アルキレン基が酸素原子または硫黄原子を含む場合、その具体例としては、前記アルキレン基の末端または炭素原子間に−O−または−S−が介在する基が挙げられ、たとえば−O−CH−、−CH−O−CH−、−S−CH−、−CH−S−CH−等が挙げられる。
A’としては、炭素数1〜5のアルキレン基または−O−が好ましく、炭素数1〜5のアルキレン基がより好ましく、メチレン基が最も好ましい。
aは0〜2のいずれであってもよく、0が最も好ましい。
aが2である場合、複数のRはそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
におけるアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基としては、それぞれ、前記Rにおける環式基が有していてもよい置換基として挙げたアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基と同様のものが挙げられる。
以下に、前記一般式(3−1)〜(3−4)で表される具体的な環式基を例示する。なお、式中の「Ac」はアセチル基を示す。
In the general formulas (3-1) to (3-4), A ′ represents an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms which may contain an oxygen atom (—O—) or a sulfur atom (—S—), An oxygen atom or a sulfur atom.
The alkylene group having 1 to 5 carbon atoms in A ′ is preferably a linear or branched alkylene group, and examples thereof include a methylene group, an ethylene group, an n-propylene group, and an isopropylene group.
When the alkylene group contains an oxygen atom or a sulfur atom, specific examples thereof include a group in which —O— or —S— is interposed between the terminal or carbon atoms of the alkylene group, for example, —O—CH 2. -, - CH 2 -O-CH 2 -, - S-CH 2 -, - CH 2 -S-CH 2 - , and the like.
A ′ is preferably an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms or —O—, more preferably an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, and most preferably a methylene group.
a may be any of 0 to 2, and 0 is most preferable.
When a is 2, the plurality of R 6 may be the same or different.
The alkyl group in R 6, an alkoxy group, a halogenated alkyl group, -COOR ", - OC (= O) R", The hydroxyalkyl groups, respectively, may have the cyclic group in R 3 substituent Examples thereof include the same alkyl groups, alkoxy groups, halogenated alkyl groups, —COOR ″, —OC (═O) R ″, and hydroxyalkyl groups mentioned as groups.
Specific examples of cyclic groups represented by the general formulas (3-1) to (3-4) are shown below. In the formula, “Ac” represents an acetyl group.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

としては、上記の中でも、下記一般式(3−1)で表される基が好ましく、前記化学式(3−1−1)、(3−1−18)、(3−3−1)および(3−4−1)のいずれかで表される基からなる群から選択される少なくとも一種を用いることがより好ましく、化学式(3−1−1)で表される基が最も好ましい。 Among the above, R 3 is preferably a group represented by the following general formula (3-1), and the chemical formulas (3-1-1), (3-1-18), (3-3-1) It is more preferable to use at least one selected from the group consisting of the group represented by any one of (3-4-1) and the group represented by the chemical formula (3-1-1) is most preferable.

本発明において、構成単位(a0)としては、下記一般式(a0−1−11)で表される構成単位が特に好ましい。   In the present invention, the structural unit (a0) is particularly preferably a structural unit represented by the following general formula (a0-1-11).

Figure 2011117987
[式中、Rは前記と同じであり、R02は直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基であり、A’は前記と同じである。]
Figure 2011117987
[Wherein, R is as defined above, R 02 is a linear or branched alkylene group, and A ′ is as defined above. ]

02における直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基は、炭素数が1〜10であることが好ましく、1〜8がより好ましく、1〜5がさらに好ましく、1〜3が特に好ましく、1〜2が最も好ましい。
A’はメチレン基、酸素原子(−O−)または硫黄原子(−S−)であることが好ましい。
The linear or branched alkylene group for R 02 preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8, still more preferably 1 to 5, particularly preferably 1 to 3, 2 is most preferred.
A ′ is preferably a methylene group, an oxygen atom (—O—) or a sulfur atom (—S—).

構成単位(a0)は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
(A1)成分中の構成単位(a0)の割合は、当該(A1)成分を含有するポジ型レジスト組成物を用いてレジストパターンを形成する際のMEF、形成されるレジストパターンの形状、パターン寸法の面内均一性(CDU)、LWR(ラインワイズラフネス)等に優れることから、(A1)成分を構成する全構成単位に対し、1〜60モル%が好ましく、5〜50モル%がより好ましく、10〜40モル%がさらに好ましく、15〜30モル%が最も好ましい。
As the structural unit (a0), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
The proportion of the structural unit (a0) in the component (A1) is the MEF when forming a resist pattern using the positive resist composition containing the component (A1), the shape of the resist pattern to be formed, and the pattern dimensions. In view of excellent in-plane uniformity (CDU), LWR (line width roughness), etc., 1 to 60 mol% is preferable and 5 to 50 mol% is more preferable with respect to all structural units constituting component (A1). 10 to 40 mol% is more preferable, and 15 to 30 mol% is most preferable.

(A1)成分は、その構造中に酸解離性溶解抑制基を含む。
該酸解離性溶解抑制基は、解離前は(A1)成分全体をアルカリ現像液に対して難溶とするアルカリ溶解抑制性を有するとともに、露光の際、(B)成分から発生した酸の作用により解離する酸解離性を有する基である。そのため、(A1)成分から該酸解離性溶解抑制基が解離すると、(A1)成分全体のアルカリ現像液に対する溶解性が増大する。
酸解離性溶解抑制基は、前記構成単位(a0)として、当該構造中に酸解離性溶解抑制基に相当するものを含むものを用いる方法、別途、酸解離性溶解抑制基を含む構成単位を含有させる方法等により導入できる。
たとえば、前記構成単位(a0)で挙げた構成単位のうち、前記式(3−1−2)、(3−1−17)で表される構成単位は、当該構造中の環式基が、酸解離性溶解抑制基としての機能も果たす。また、Rが、その構造中に酸解離性部位を有する場合、該酸解離性部位から末端までの部分が酸解離性溶解抑制基としての機能を果たす。そのため、(A1)成分が、構成単位(a0)として、当該構造中に酸解離性溶解抑制基に相当するものを含むものを用いる場合は、該(A1)成分は、構成単位(a0)のみからなるものであってもよく、任意に他の構成単位(たとえば後述する構成単位(a1)〜(a4)等)を含んでもよい。
別途、酸解離性溶解抑制基を含む構成単位を含有させる方法において、酸解離性溶解抑制基を含む構成単位としては、たとえば後述する構成単位(a1)が挙げられる。
本発明において、(A1)成分には、酸解離性溶解抑制基を含む構成単位を含有させることにより、酸解離性溶解抑制基が導入されていることが好ましく、特に、後述する構成単位(a1)により酸解離性溶解抑制基が導入されていることが好ましい。すなわち、(A1)成分は、構成単位(a0)および(a1)を有することが好ましい。
ただし本発明はこれに限定されず、構成単位(a0)および(a1)以外の、酸解離性溶解抑制基を含む構成単位を含有させてもよい。たとえば後述する構成単位(a2)で挙げる構成単位のうち、ラクトン含有環式基の構造が前記式(a2−1−5)〜(a2−1−7)、(a2−2−10)〜(a2−2−11)で表される構成単位は、当該構造中のラクトン含有環式基が酸解離性溶解抑制基としての機能も果たす。そのため、かかる構成単位(a2)を(A1)成分が有する場合は、該(A1)成分は、構成単位(a0)および(a2)のみからなるものであってもよく、任意に他の構成単位(たとえば後述する構成単位(a1)、(a3)〜(a4)等)を含んでもよい。
The component (A1) contains an acid dissociable, dissolution inhibiting group in its structure.
The acid dissociable, dissolution inhibiting group has an alkali dissolution inhibiting property that makes the entire component (A1) hardly soluble in an alkali developer before dissociation, and the action of an acid generated from the component (B) during exposure. It is a group having acid dissociation property that dissociates due to. Therefore, when the acid dissociable, dissolution inhibiting group is dissociated from the component (A1), the solubility of the entire component (A1) in the alkaline developer increases.
The acid dissociable, dissolution inhibiting group is a method using the structural unit (a0) containing one corresponding to an acid dissociable, dissolution inhibiting group, or a structural unit containing an acid dissociable, dissolution inhibiting group. It can be introduced by a method of inclusion.
For example, among the structural units listed in the structural unit (a0), the structural units represented by the formulas (3-1-2) and (3-1-17) are the cyclic groups in the structure, It also functions as an acid dissociable, dissolution inhibiting group. Further, R 2 is, if having an acid dissociable portion in the structure portion from the acid dissociable portion to the end to fulfill its function as an acid dissociable dissolution inhibiting group. Therefore, when the component (A1) includes, as the structural unit (a0), a component that includes an acid dissociable, dissolution inhibiting group in the structure, the component (A1) includes only the structural unit (a0). It may consist of, and may optionally contain other structural units (for example, structural units (a1) to (a4) described later).
Separately, in the method of containing a structural unit containing an acid dissociable, dissolution inhibiting group, examples of the structural unit containing an acid dissociable, dissolution inhibiting group include the structural unit (a1) described later.
In the present invention, the component (A1) preferably contains a structural unit containing an acid dissociable, dissolution inhibiting group so that an acid dissociable, dissolution inhibiting group is introduced. It is preferable that an acid dissociable, dissolution inhibiting group is introduced by That is, the component (A1) preferably has the structural units (a0) and (a1).
However, the present invention is not limited to this, and a structural unit containing an acid dissociable, dissolution inhibiting group other than the structural units (a0) and (a1) may be contained. For example, among the structural units listed in the structural unit (a2) described later, the structure of the lactone-containing cyclic group is the above formula (a2-1-5) to (a2-1-7), (a2-2-10) to ( In the structural unit represented by a2-2-11), the lactone-containing cyclic group in the structure also functions as an acid dissociable, dissolution inhibiting group. Therefore, when the component (A1) has such a structural unit (a2), the component (A1) may be composed only of the structural units (a0) and (a2), and may optionally be another structural unit. (For example, structural units (a1) and (a3) to (a4) described later) may be included.

(構成単位(a1))
構成単位(a1)は、酸解離性溶解抑制基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位である。なお、前記構成単位(a0)に該当する構成単位であり、かつその構造中に酸解離性溶解抑制基を含む構成単位は、構成単位(a1)には該当しない。
構成単位(a1)における酸解離性溶解抑制基としては、これまで、化学増幅型レジスト用のベース樹脂の酸解離性溶解抑制基として提案されているものを使用することができる。一般的には、(メタ)アクリル酸等におけるカルボキシ基と環状または鎖状の第3級アルキルエステルを形成する基;アルコキシアルキル基等のアセタール型酸解離性溶解抑制基などが広く知られている。なお、「(メタ)アクリル酸エステル」とは、α位に水素原子が結合したアクリル酸エステルと、α位にメチル基が結合したメタクリル酸エステルの一方あるいは両方を意味する。
ここで、「第3級アルキルエステル」とは、カルボキシ基の水素原子が、鎖状または環状のアルキル基で置換されることによりエステルを形成しており、そのカルボニルオキシ基(−C(O)−O−)の末端の酸素原子に、前記鎖状または環状のアルキル基の第3級炭素原子が結合している構造を示す。この第3級アルキルエステルにおいては、酸が作用すると、酸素原子と第3級炭素原子との間で結合が切断される。
なお、前記鎖状または環状のアルキル基は置換基を有していてもよい。
以下、カルボキシ基と第3級アルキルエステルを構成することにより、酸解離性となっている基を、便宜上、「第3級アルキルエステル型酸解離性溶解抑制基」という。
(Structural unit (a1))
The structural unit (a1) is a structural unit derived from an acrylate ester containing an acid dissociable, dissolution inhibiting group. Note that a structural unit corresponding to the structural unit (a0) and having an acid dissociable, dissolution inhibiting group in the structure does not correspond to the structural unit (a1).
As the acid dissociable, dissolution inhibiting group in the structural unit (a1), those proposed so far as the acid dissociable, dissolution inhibiting group of the base resin for chemically amplified resist can be used. Generally, a group that forms a cyclic or chain tertiary alkyl ester with a carboxy group in (meth) acrylic acid or the like; an acetal-type acid dissociable, dissolution inhibiting group such as an alkoxyalkyl group is widely known. . The “(meth) acrylic acid ester” means one or both of an acrylic acid ester having a hydrogen atom bonded to the α-position and a methacrylic acid ester having a methyl group bonded to the α-position.
Here, the “tertiary alkyl ester” is an ester formed by replacing a hydrogen atom of a carboxy group with a chain or cyclic alkyl group, and the carbonyloxy group (—C (O)). A structure in which the tertiary carbon atom of the chain or cyclic alkyl group is bonded to the terminal oxygen atom of -O-). In this tertiary alkyl ester, when an acid acts, a bond is cut between an oxygen atom and a tertiary carbon atom.
The chain or cyclic alkyl group may have a substituent.
Hereinafter, a group that is acid dissociable by constituting a carboxy group and a tertiary alkyl ester is referred to as a “tertiary alkyl ester type acid dissociable, dissolution inhibiting group” for convenience.

第3級アルキルエステル型酸解離性溶解抑制基としては、脂肪族分岐鎖状酸解離性溶解抑制基、脂肪族環式基を含有する酸解離性溶解抑制基が挙げられる。
ここで、「脂肪族分岐鎖状」とは、芳香族性を持たない分岐鎖状の構造を有することを示す。「脂肪族分岐鎖状酸解離性溶解抑制基」の構造は、炭素および水素からなる基(炭化水素基)であることに限定はされないが、炭化水素基であることが好ましい。また、「炭化水素基」は飽和または不飽和のいずれでもよいが、通常は飽和であることが好ましい。
脂肪族分岐鎖状酸解離性溶解抑制基としては、たとえば、−C(R71)(R72)(R73)で表される基が挙げられる。式中、R71〜R73は、それぞれ独立に、炭素数1〜5の直鎖状のアルキル基である。−C(R71)(R72)(R73)で表される基は、炭素数が4〜8であることが好ましく、具体的にはtert−ブチル基、2−メチル−2−ブチル基、2−メチル−2−ペンチル基、3−メチル−3−ペンチル基などが挙げられる。特にtert−ブチル基が好ましい。
Examples of the tertiary alkyl ester type acid dissociable, dissolution inhibiting group include an aliphatic branched acid dissociable, dissolution inhibiting group and an acid dissociable, dissolution inhibiting group containing an aliphatic cyclic group.
Here, “aliphatic branched” means having a branched structure without aromaticity. The structure of the “aliphatic branched acid dissociable, dissolution inhibiting group” is not limited to a group consisting of carbon and hydrogen (hydrocarbon group), but is preferably a hydrocarbon group. The “hydrocarbon group” may be either saturated or unsaturated, but is usually preferably saturated.
Examples of the aliphatic branched acid dissociable, dissolution inhibiting group include a group represented by -C (R 71 ) (R 72 ) (R 73 ). Wherein, R 71 to R 73 each independently represents a linear alkyl group of 1 to 5 carbon atoms. The group represented by —C (R 71 ) (R 72 ) (R 73 ) preferably has 4 to 8 carbon atoms, specifically, a tert-butyl group or a 2-methyl-2-butyl group. , 2-methyl-2-pentyl group, 3-methyl-3-pentyl group and the like. A tert-butyl group is particularly preferable.

「脂肪族環式基」は、芳香族性を持たない単環式基または多環式基であることを示す。
構成単位(a1)における「脂肪族環式基」は、置換基を有していてもよいし、有していなくてもよい。置換基としては、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、フッ素原子、フッ素原子で置換された炭素数1〜5のフッ素化アルキル基、酸素原子(=O)、等が挙げられる。
「脂肪族環式基」の置換基を除いた基本の環の構造は、炭素および水素からなる基(炭化水素基)であることに限定はされないが、炭化水素基であることが好ましい。また、「炭化水素基」は飽和または不飽和のいずれでもよいが、通常は飽和であることが好ましい。「脂肪族環式基」は、多環式基であることが好ましい。
脂肪族環式基としては、例えば、炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子またはフッ素化アルキル基で置換されていてもよいし、されていなくてもよいモノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基や、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。また、これらのモノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基またはポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基の環を構成する炭素原子の一部がエーテル性酸素原子(−O−)で置換されたものであってもよい。
脂肪族環式基を含有する酸解離性溶解抑制基としては、たとえば、(i)1価の脂肪族環式基の環骨格上に第3級炭素原子を有する基;(ii)1価の脂肪族環式基と、これに結合する第3級炭素原子を有する分岐鎖状アルキレンとを有する基;等が挙げられる。
(i)1価の脂肪族環式基の環骨格上に第3級炭素原子を有する基の具体例としては、たとえば、下記一般式(1−1)〜(1−9)で表される基等が挙げられる。
(ii)1価の脂肪族環式基と、これに結合する第3級炭素原子を有する分岐鎖状アルキレン基とを有する基の具体例としては、たとえば、下記一般式(2−1)〜(2−6)で表される基等が挙げられる。
The “aliphatic cyclic group” means a monocyclic group or a polycyclic group having no aromaticity.
The “aliphatic cyclic group” in the structural unit (a1) may or may not have a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom, a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms substituted with a fluorine atom, an oxygen atom (= O), Etc.
The basic ring structure excluding the substituent of the “aliphatic cyclic group” is not limited to a group consisting of carbon and hydrogen (hydrocarbon group), but is preferably a hydrocarbon group. The “hydrocarbon group” may be either saturated or unsaturated, but is usually preferably saturated. The “aliphatic cyclic group” is preferably a polycyclic group.
Examples of the aliphatic cyclic group include one or more hydrogens from a monocycloalkane which may or may not be substituted with an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom or a fluorinated alkyl group. Examples thereof include a group in which one or more hydrogen atoms have been removed from a polycycloalkane such as bicycloalkane, tricycloalkane, and tetracycloalkane. More specifically, a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from a monocycloalkane such as cyclopentane or cyclohexane or one or more polycycloalkanes such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, or tetracyclododecane. And a group in which a hydrogen atom is removed. Further, a part of the carbon atoms constituting the ring of a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from these monocycloalkanes or a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from polycycloalkanes are etheric oxygen atoms (- O-) may be substituted.
Examples of the acid dissociable, dissolution inhibiting group containing an aliphatic cyclic group include (i) a group having a tertiary carbon atom on the ring skeleton of a monovalent aliphatic cyclic group; (ii) a monovalent A group having an aliphatic cyclic group and a branched alkylene having a tertiary carbon atom bonded thereto; and the like.
(I) Specific examples of the group having a tertiary carbon atom on the ring skeleton of the monovalent aliphatic cyclic group are represented by the following general formulas (1-1) to (1-9). Groups and the like.
(Ii) Specific examples of the group having a monovalent aliphatic cyclic group and a branched alkylene group having a tertiary carbon atom bonded thereto include, for example, the following general formulas (2-1) to (2-1) And the group represented by (2-6).

Figure 2011117987
[式中、R14はアルキル基であり、gは0〜8の整数である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R 14 represents an alkyl group, and g represents an integer of 0 to 8. ]

Figure 2011117987
[式中、R15およびR16は、それぞれ独立してアルキル基である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R 15 and R 16 each independently represents an alkyl group. ]

上記R14のアルキル基としては、直鎖状または分岐鎖状のアルキル基が好ましい。
該直鎖状のアルキル基は、炭素数が1〜5であることが好ましく、1〜4がより好ましく、1または2がさらに好ましい。具体的には、メチル基、エチル基、n−プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基等が挙げられる。これらの中でも、メチル基、エチル基またはn−ブチル基が好ましく、メチル基またはエチル基がより好ましい。
該分岐鎖状のアルキル基は、炭素数が3〜10であることが好ましく、3〜5がより好ましい。具体的には、イソプロピル基、イソブチル基、tert−ブチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基等が挙げられ、イソプロピル基であることが最も好ましい。
gは0〜3の整数が好ましく、1〜3の整数がより好ましく、1または2がさらに好ましい。
15〜R16のアルキル基としては、R14のアルキル基と同様のものが挙げられる。
上記式(1−1)〜(1−9)、(2−1)〜(2−6)中、環を構成する炭素原子の一部がエーテル性酸素原子(−O−)で置換されていてもよい。
また、式(1−1)〜(1−9)、(2−1)〜(2−6)中、環を構成する炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよい。該置換基としては、炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子、フッ素化アルキル基が挙げられる。
The alkyl group for R 14 is preferably a linear or branched alkyl group.
The linear alkyl group preferably has 1 to 5 carbon atoms, more preferably 1 to 4, and still more preferably 1 or 2. Specific examples include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an n-butyl group, and an n-pentyl group. Among these, a methyl group, an ethyl group, or an n-butyl group is preferable, and a methyl group or an ethyl group is more preferable.
The branched alkyl group preferably has 3 to 10 carbon atoms, and more preferably 3 to 5 carbon atoms. Specific examples include isopropyl group, isobutyl group, tert-butyl group, isopentyl group, neopentyl group and the like, and isopropyl group is most preferable.
g is preferably an integer of 0 to 3, more preferably an integer of 1 to 3, and still more preferably 1 or 2.
Examples of the alkyl group for R 15 to R 16 include the same alkyl groups as those for R 14 .
In the formulas (1-1) to (1-9) and (2-1) to (2-6), a part of the carbon atoms constituting the ring is substituted with an etheric oxygen atom (—O—). May be.
In formulas (1-1) to (1-9) and (2-1) to (2-6), a hydrogen atom bonded to a carbon atom constituting the ring may be substituted with a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom, and a fluorinated alkyl group.

「アセタール型酸解離性溶解抑制基」は、一般的に、カルボキシ基、水酸基等のアルカリ可溶性基末端の水素原子と置換して酸素原子と結合している。そして、露光により酸が発生すると、この酸が作用して、アセタール型酸解離性溶解抑制基と、当該アセタール型酸解離性溶解抑制基が結合した酸素原子との間で結合が切断される。
アセタール型酸解離性溶解抑制基としては、たとえば、下記一般式(p1)で表される基が挙げられる。
The “acetal-type acid dissociable, dissolution inhibiting group” is generally bonded to an oxygen atom by substituting a hydrogen atom at the terminal of an alkali-soluble group such as a carboxy group or a hydroxyl group. When an acid is generated by exposure, the acid acts to break the bond between the acetal acid dissociable, dissolution inhibiting group and the oxygen atom to which the acetal acid dissociable, dissolution inhibiting group is bonded.
Examples of the acetal type acid dissociable, dissolution inhibiting group include a group represented by the following general formula (p1).

Figure 2011117987
Figure 2011117987

[式中、R’,R’はそれぞれ独立して水素原子または炭素数1〜5のアルキル基を表し、nは0〜3の整数を表し、Yは炭素数1〜5のアルキル基または脂肪族環式基を表す。] [Wherein, R 1 'and R 2 ' each independently represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, n represents an integer of 0 to 3, and Y represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. Or represents an aliphatic cyclic group. ]

前記式(p1)中、nは、0〜2の整数であることが好ましく、0または1がより好ましく、0が最も好ましい。
’,R’のアルキル基としては、上記Rのアルキル基と同様のものが挙げられ、メチル基またはエチル基が好ましく、メチル基が最も好ましい。
本発明においては、R’,R’のうち少なくとも1つが水素原子であることが好ましい。すなわち、酸解離性溶解抑制基(p1)が、下記一般式(p1−1)で表される基であることが好ましい。
In the formula (p1), n is preferably an integer of 0 to 2, more preferably 0 or 1, and most preferably 0.
Examples of the alkyl group for R 1 ′ and R 2 ′ include the same alkyl groups as those described above for R. A methyl group or an ethyl group is preferable, and a methyl group is most preferable.
In the present invention, it is preferable that at least one of R 1 ′ and R 2 ′ is a hydrogen atom. That is, the acid dissociable, dissolution inhibiting group (p1) is preferably a group represented by the following general formula (p1-1).

Figure 2011117987
[式中、R’、n、Yは上記と同じである。]
Figure 2011117987
[Wherein R 1 ′, n and Y are the same as described above. ]

Yのアルキル基としては、上記Rのアルキル基と同様のものが挙げられる。
Yの脂肪族環式基としては、従来ArFレジスト等において多数提案されている単環又は多環式の脂肪族環式基の中から適宜選択して用いることができ、たとえば上記「脂肪族環式基を含有する酸解離性溶解抑制基」で挙げた脂肪族環式基と同様のものが例示できる。
Examples of the alkyl group for Y include the same alkyl groups as those described above for R.
The aliphatic cyclic group for Y can be appropriately selected from monocyclic or polycyclic aliphatic cyclic groups conventionally proposed in a number of ArF resists and the like. For example, the above “aliphatic ring” Examples thereof are the same as the aliphatic cyclic groups mentioned in “Acid-dissociable, dissolution-inhibiting group containing a formula group”.

また、アセタール型酸解離性溶解抑制基としては、下記一般式(p2)で示される基も挙げられる。   Examples of the acetal type acid dissociable, dissolution inhibiting group also include a group represented by the following general formula (p2).

Figure 2011117987
[式中、R17、R18はそれぞれ独立して直鎖状若しくは分岐鎖状のアルキル基または水素原子であり;R19は直鎖状、分岐鎖状若しくは環状のアルキル基である。または、R17およびR19がそれぞれ独立に直鎖状若しくは分岐鎖状のアルキレン基であって、R17の末端とR19の末端とが結合して環を形成していてもよい。]
Figure 2011117987
[Wherein, R 17 and R 18 each independently represents a linear or branched alkyl group or a hydrogen atom; and R 19 represents a linear, branched or cyclic alkyl group. Alternatively, R 17 and R 19 may be each independently a linear or branched alkylene group, and the end of R 17 and the end of R 19 may be bonded to form a ring. ]

17、R18において、アルキル基の炭素数は、好ましくは1〜15であり、直鎖状、分岐鎖状のいずれでもよく、エチル基、メチル基が好ましく、メチル基が最も好ましい。
特にR17、R18の一方が水素原子で、他方がメチル基であることが好ましい。
19は直鎖状、分岐鎖状または環状のアルキル基であり、炭素数は好ましくは1〜15であり、直鎖状、分岐鎖状又は環状のいずれでもよい。
19が直鎖状、分岐鎖状の場合は炭素数1〜5であることが好ましく、エチル基、メチル基がさらに好ましく、特にエチル基が最も好ましい。
19が環状の場合は炭素数4〜15であることが好ましく、炭素数4〜12であることがさらに好ましく、炭素数5〜10が最も好ましい。具体的には、フッ素原子またはフッ素化アルキル基で置換されていてもよいし、されていなくてもよいモノシクロアルカン、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカン等のポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などを例示できる。具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンや、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等のポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。中でもアダマンタンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましい。
また、上記式(p2)においては、R17及びR19がそれぞれ独立に直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基(好ましくは炭素数1〜5のアルキレン基)であって、R19の末端とR17の末端とが結合していてもよい。
この場合、R17と、R19と、R19が結合した酸素原子と、該酸素原子およびR17が結合した炭素原子とにより環式基が形成されている。該環式基としては、4〜7員環が好ましく、4〜6員環がより好ましい。該環式基の具体例としては、テトラヒドロピラニル基、テトラヒドロフラニル基等が挙げられる。
In R 17 and R 18 , the alkyl group preferably has 1 to 15 carbon atoms, may be linear or branched, and is preferably an ethyl group or a methyl group, and most preferably a methyl group.
In particular, it is preferable that one of R 17 and R 18 is a hydrogen atom and the other is a methyl group.
R 19 is a linear, branched or cyclic alkyl group, preferably having 1 to 15 carbon atoms, and may be any of linear, branched or cyclic.
When R 19 is linear or branched, it preferably has 1 to 5 carbon atoms, more preferably an ethyl group or a methyl group, and most preferably an ethyl group.
When R 19 is cyclic, it preferably has 4 to 15 carbon atoms, more preferably 4 to 12 carbon atoms, and most preferably 5 to 10 carbon atoms. Specifically, one or more polycycloalkanes such as monocycloalkane, bicycloalkane, tricycloalkane, and tetracycloalkane, which may or may not be substituted with a fluorine atom or a fluorinated alkyl group. And the like, in which a hydrogen atom is removed. Specific examples include monocycloalkanes such as cyclopentane and cyclohexane, and groups obtained by removing one or more hydrogen atoms from polycycloalkanes such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane. Among them, a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from adamantane is preferable.
In the above formula (p2), a R 17 and R 19 are each independently a linear or branched alkylene group (preferably an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms), and the terminal of R 19 The terminal of R 17 may be bonded.
In this case, a cyclic group is formed by R 17 , R 19 , the oxygen atom to which R 19 is bonded, and the carbon atom to which the oxygen atom and R 17 are bonded. The cyclic group is preferably a 4- to 7-membered ring, and more preferably a 4- to 6-membered ring. Specific examples of the cyclic group include a tetrahydropyranyl group and a tetrahydrofuranyl group.

アセタール型酸解離性溶解抑制基の具体例としては、たとえば、下記式(p3−1)〜(p3−12)で表される基等が挙げられる。   Specific examples of the acetal type acid dissociable, dissolution inhibiting group include groups represented by the following formulas (p3-1) to (p3-12).

Figure 2011117987
[式中、R13は水素原子またはメチル基であり、gは前記と同じである。]
Figure 2011117987
[Wherein, R 13 represents a hydrogen atom or a methyl group, and g is the same as defined above. ]

構成単位(a1)として、より具体的には、下記一般式(a1−0−1)で表される構成単位、下記一般式(a1−0−2)で表される構成単位等が挙げられる。   More specifically, examples of the structural unit (a1) include structural units represented by general formula (a1-0-1) shown below, structural units represented by general formula (a1-0-2) shown below, and the like. .

Figure 2011117987
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり;Xは酸解離性溶解抑制基であり;Yは2価の連結基であり;Xは酸解離性溶解抑制基である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms; X 1 is an acid dissociable, dissolution inhibiting group; Y 2 is a divalent linkage. X 2 is an acid dissociable, dissolution inhibiting group. ]

一般式(a1−0−1)中、Rは、前記一般式(a0−1)におけるRと同様である。
は、酸解離性溶解抑制基であれば特に限定されることはなく、例えば上述した第3級アルキルエステル型酸解離性溶解抑制基、アセタール型酸解離性溶解抑制基などを挙げることができ、第3級アルキルエステル型酸解離性溶解抑制基が好ましい。
一般式(a1−0−2)において、Rは上記と同様である。
は、式(a1−0−1)中のXと同様である。
の2価の連結基としては、前記式(a0−1)中のRと同様のものが挙げられる。
としては、前記アルキレン基、2価の脂肪族環式基またはヘテロ原子を含む2価の連結基が好ましい。これらの中でも、ヘテロ原子を含む2価の連結基が好ましく、特に、ヘテロ原子として酸素原子を有する直鎖状の基、例えばエステル結合を含む基が特に好ましい。
中でも、前記−A−O−B−または−A−C(=O)−O−B−で表される基が好ましく、特に、−(CH−C(=O)−O−(CH−で表される基が好ましい。
aは1〜5の整数であり、1または2が好ましく、1が最も好ましい。
bは1〜5の整数であり、1または2が好ましく、1が最も好ましい。
構成単位(a1)として、より具体的には、下記一般式(a1−1)〜(a1−4)で表される構成単位が挙げられる。
In general formula (a1-0-1), R is the same as R in general formula (a0-1).
X 1 is not particularly limited as long as it is an acid dissociable, dissolution inhibiting group, and examples thereof include the above-described tertiary alkyl ester type acid dissociable, dissolution inhibiting group and acetal type acid dissociable, dissolution inhibiting group. And tertiary alkyl ester type acid dissociable, dissolution inhibiting groups are preferred.
In general formula (a1-0-2), R is the same as defined above.
X 2 is the same as X 1 in formula (a1-0-1).
Examples of the divalent linking group for Y 2 include the same groups as those described above for R 2 in formula (a0-1).
Y 2 is preferably the aforementioned alkylene group, divalent aliphatic cyclic group or divalent linking group containing a hetero atom. Among these, a divalent linking group containing a hetero atom is preferable, and a linear group having an oxygen atom as a hetero atom, for example, a group containing an ester bond is particularly preferable.
Among them, a group represented by the above-mentioned —A—O—B— or —A—C (═O) —O—B— is preferable, and in particular, — (CH 2 ) a —C (═O) —O— ( CH 2) b - group is particularly desirable.
a is an integer of 1 to 5, preferably 1 or 2, and most preferably 1.
b is an integer of 1 to 5, preferably 1 or 2, and most preferably 1.
More specifically, examples of the structural unit (a1) include structural units represented by the following general formulas (a1-1) to (a1-4).

Figure 2011117987
[式中、X’は第3級アルキルエステル型酸解離性溶解抑制基を表し、Yは炭素数1〜5の炭素数1〜5のアルキル基、または脂肪族環式基を表し;nは0〜3の整数を表し;Yは2価の連結基を表し;Rは前記と同じであり、R’、R’はそれぞれ独立して水素原子または炭素数1〜5のアルキル基を表す。]
Figure 2011117987
[Wherein, X ′ represents a tertiary alkyl ester type acid dissociable, dissolution inhibiting group, Y represents a C 1-5 alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or an aliphatic cyclic group; Y 2 represents a divalent linking group; R is the same as defined above; R 1 ′ and R 2 ′ each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms; Represents. ]

前記式中、X’は、前記Xにおいて例示した第3級アルキルエステル型酸解離性溶解抑制基と同様のものが挙げられる。
’、R’、n、Yとしては、それぞれ、上述の「アセタール型酸解離性溶解抑制基」の説明において挙げた一般式(p1)におけるR’、R’、n、Yと同様のものが挙げられる。
としては、上述の一般式(a1−0−2)におけるYと同様のものが挙げられる。
以下に、上記一般式(a1−1)〜(a1−4)で表される構成単位の具体例を示す。以下の各式中、Rαは、水素原子、メチル基またはトリフルオロメチル基を示す。
In the formula, X 'include the same tertiary alkyl ester-type acid dissociable, dissolution inhibiting groups as those described above for X 1.
R 1 ', R 2', n, as the Y, respectively, R 1 in the general formula listed in the description of "acetal-type acid dissociable, dissolution inhibiting group" described above (p1) ', R 2' , n, Y The same thing is mentioned.
The Y 2, the same groups as those described above for Y 2 in the general formula (a1-0-2).
Specific examples of the structural units represented by the general formulas (a1-1) to (a1-4) are shown below. In the following formulas, R α represents a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

構成単位(a1)としては、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
本発明においては、特に、解像性、レジストパターン形状等のリソグラフィー特性が優れる点から、構成単位(a1)として、下記一般式(a1−0−11)で表される構成単位、下記一般式(a1−0−12)で表される構成単位および下記一般式(a1−0−2)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種を有することが好ましい。
As the structural unit (a1), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
In the present invention, the structural unit represented by the following general formula (a1-0-11) as the structural unit (a1), particularly from the point that the lithography properties such as resolution and resist pattern shape are excellent, It is preferable to have at least one selected from the group consisting of a structural unit represented by (a1-0-12) and a structural unit represented by the following general formula (a1-0-2).

Figure 2011117987
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり、R21はアルキル基であり、R22は、当該R22が結合した炭素原子と共に脂肪族単環式基を形成する基であり、R23は分岐鎖状のアルキル基であり、R24は、当該R24が結合した炭素原子と共に脂肪族多環式基を形成する基であり、Yは2価の連結基であり、Xは酸解離性溶解抑制基である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 21 is an alkyl group, and R 22 is a carbon to which R 22 is bonded. A group that forms an aliphatic monocyclic group together with an atom, R 23 is a branched alkyl group, and R 24 is a group that forms an aliphatic polycyclic group together with the carbon atom to which R 24 is bonded. Y 2 is a divalent linking group, and X 2 is an acid dissociable, dissolution inhibiting group. ]

各式中、R、Y、Xについての説明は前記と同じである。
式(a1−0−11)中、R21のアルキル基としては、前記式(1−1)〜(1−9)中のR14のアルキル基と同様のものが挙げられ、メチル基、エチル基またはイソプロピル基が好ましい。
22が、当該R22が結合した炭素原子と共に形成する脂肪族単環式基としては、前記第3級アルキルエステル型酸解離性溶解抑制基において挙げた脂肪族環式基のうち、単環式基であるものと同様のものが挙げられる。具体的には、モノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。該モノシクロアルカンは、3〜11員環であることが好ましく、3〜8員環であることがより好ましく、4〜6員環がさらに好ましく、5または6員環が特に好ましい。
該モノシクロアルカンは、環を構成する炭素原子の一部がエーテル性酸素原子(−O−)で置換されていてもよいし、されていなくてもよい。
また、該モノシクロアルカンは、置換基として、炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子または炭素数1〜5のフッ素化アルキル基を有していてもよい。
かかる脂肪族単環式基を構成するR22としては、たとえば、炭素原子間にエーテル性酸素原子(−O−)が介在してもよい直鎖状のアルキレン基が挙げられる。
In each formula, the description of R, Y 2 and X 2 is the same as described above.
In formula (a1-0-11), examples of the alkyl group for R 21 include the same alkyl groups as those described above for R 14 in formulas (1-1) to (1-9). Group or isopropyl group is preferred.
R 22 is, the aliphatic monocyclic group formed together with the carbon atom to which R 22 is bonded, the same aliphatic cyclic groups as those in the tertiary alkyl ester-type acid dissociable, monocyclic The thing similar to what is a formula group is mentioned. Specific examples include groups in which one or more hydrogen atoms have been removed from a monocycloalkane. The monocycloalkane is preferably a 3- to 11-membered ring, more preferably a 3- to 8-membered ring, further preferably a 4- to 6-membered ring, and particularly preferably a 5- or 6-membered ring.
In the monocycloalkane, a part of carbon atoms constituting the ring may or may not be substituted with an etheric oxygen atom (—O—).
Moreover, this monocycloalkane may have a C1-C5 alkyl group, a fluorine atom, or a C1-C5 fluorinated alkyl group as a substituent.
Examples of R 22 constituting the aliphatic monocyclic group include a linear alkylene group in which an etheric oxygen atom (—O—) may be interposed between carbon atoms.

式(a1−0−11)で表される構成単位の具体例としては、前記式(a1−1−16)〜(a1−1−23)、(a1−1−27)、(a1−1−31)で表される構成単位が挙げられる。これらの中でも、式(a1−1−16)〜(a1−1−17)、(a1−1−20)〜(a1−1−23)、(a1−1−27)、(a1−1−31)で表される構成単位を包括する下記(a1−1−02)で表される構成単位が好ましい。また、下記(a1−1−02’)で表される構成単位も好ましい。
各式中、hは、1または2が好ましい。
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a1-0-11) include the formulas (a1-1-16) to (a1-1-23), (a1-1-27), and (a1-1 -31). Among these, the formulas (a1-1-16) to (a1-1-17), (a1-1-20) to (a1-1-23), (a1-1-27), (a1-1-1- The structural unit represented by the following (a1-1-02) including the structural unit represented by 31) is preferable. Moreover, the structural unit represented by the following (a1-1-02 ′) is also preferable.
In each formula, h is preferably 1 or 2.

Figure 2011117987
(式中、R、R21はそれぞれ前記と同じであり、hは1〜3の整数である。)
Figure 2011117987
(Wherein R and R 21 are the same as defined above, and h is an integer of 1 to 3)

式(a1−0−12)中、R23の分岐鎖状のアルキル基としては、前記式(1−1)〜(1−9)中のR14のアルキル基で挙げた分岐鎖状のアルキル基と同様のものが挙げられ、イソプロピル基が最も好ましい。
24が、当該R24が結合した炭素原子と共に形成する脂肪族多環式基としては、前記第3級アルキルエステル型酸解離性溶解抑制基において挙げた脂肪族環式基のうち、多環式基であるものと同様のものが挙げられる。
式(a1−0−12)で表される構成単位の具体例としては、前記式(a1−1−26)〜(a1−1−31)で表される構成単位が挙げられる。
In the formula (a1-0-12), the branched alkyl group represented by R 23 is the branched alkyl group exemplified for the alkyl group represented by R 14 in the formulas (1-1) to (1-9). Examples thereof are the same as those described above, and an isopropyl group is most preferable.
R 24 is, the aliphatic polycyclic group formed together with the carbon atom to which R 24 is bonded, the same aliphatic cyclic groups as those in the aforementioned tertiary alkyl ester-type acid dissociable, dissolution inhibiting group, a polycyclic The thing similar to what is a formula group is mentioned.
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a1-0-12) include structural units represented by the formulas (a1-1-26) to (a1-1-31).

式(a1−0−2)で表される構成単位としては、前記式(a1−3)または(a1−4)で表される構成単位が挙げられ、特に式(a1−3)で表される構成単位が好ましい。
式(a1−0−2)で表される構成単位としては、特に、式中のYが前記−A−O−B−または−A−C(=O)−O−B−で表される基であるものが好ましい。
かかる構成単位として、好ましいものとしては、下記一般式(a1−3−01)で表される構成単位;下記一般式(a1−3−02)で表される構成単位;下記一般式(a1−3−03)で表される構成単位;などが挙げられる。
Examples of the structural unit represented by the formula (a1-0-2) include the structural unit represented by the formula (a1-3) or (a1-4), particularly represented by the formula (a1-3). Are preferred.
As the structural unit represented by the formula (a1-0-2), particularly, Y 2 in the formula is represented by the above-mentioned —A—O—B— or —A—C (═O) —O—B—. The group which is a group is preferable.
Preferred examples of the structural unit include a structural unit represented by the following general formula (a1-3-01); a structural unit represented by the following general formula (a1-3-02); 3-03); and the like.

Figure 2011117987
(式中、R、R14は前記と同じであり、R13は水素原子またはメチル基であり、aは1〜10の整数である。)
Figure 2011117987
(In the formula, R and R 14 are the same as above, R 13 is a hydrogen atom or a methyl group, and a is an integer of 1 to 10.)

Figure 2011117987
(式中、R、R14は前記と同じであり、R13は水素原子またはメチル基であり、aは1〜10の整数であり、n’は0〜3の整数である。)
Figure 2011117987
(In the formula, R and R 14 are the same as above, R 13 is a hydrogen atom or a methyl group, a is an integer of 1 to 10, and n ′ is an integer of 0 to 3.)

Figure 2011117987
[式中、Rは前記と同じであり、Y’およびY”はそれぞれ独立して2価の連結基であり、X’は酸解離性溶解抑制基であり、nは0〜3の整数である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R is the same as defined above, Y 2 ′ and Y 2 ″ each independently represent a divalent linking group, X ′ represents an acid dissociable, dissolution inhibiting group, and n represents 0 to 3] It is an integer.]

式(a1−3−01)〜(a1−3−02)中、R13は、水素原子が好ましい。
aは、1〜8の整数が好ましく、1〜5の整数がより好ましく、1または2が最も好ましい。
n’は、1または2が好ましく、2が最も好ましい。
式(a1−3−01)で表される構成単位の具体例としては、前記式(a1−3−25)〜(a1−3−26)で表される構成単位等が挙げられる。
式(a1−3−02)で表される構成単位の具体例としては、前記式(a1−3−27)〜(a1−3−28)で表される構成単位等が挙げられる。
In formulas (a1-3-01) to (a1-3-02), R 13 is preferably a hydrogen atom.
a is preferably an integer of 1 to 8, more preferably an integer of 1 to 5, and most preferably 1 or 2.
n ′ is preferably 1 or 2, and most preferably 2.
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a1-3-01) include structural units represented by the formulas (a1-3-25) to (a1-3-26).
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a1-3-02) include structural units represented by the formulas (a1-3-27) to (a1-3-28).

式(a1−3−03)中、Y’、Y” における2価の連結基としては、前記一般式(a1−3)におけるYと同様のものが挙げられる。
’としては、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基が好ましく、直鎖状の脂肪族炭化水素基がより好ましく、直鎖状のアルキレン基がさらに好ましい。中でも、炭素数1〜5の直鎖状のアルキレン基が好ましく、メチレン基、エチレン基が最も好ましい。
”としては、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基が好ましく、直鎖状の脂肪族炭化水素基がより好ましく、直鎖状のアルキレン基がさらに好ましい。中でも、炭素数1〜5の直鎖状のアルキレン基が好ましく、メチレン基、エチレン基が最も好ましい。
X’における酸解離性溶解抑制基は、前記と同様のものが挙げられ、第3級アルキルエステル型酸解離性溶解抑制基であることが好ましく、上述した(i)1価の脂肪族環式基の環骨格上に第3級炭素原子を有する基がより好ましく、中でも、前記一般式(1−1)で表される基が好ましい。
nは0〜3の整数であり、nは、0〜2の整数であることが好ましく、0または1がより好ましく、1が最も好ましい。
式(a1−3−03)で表される構成単位としては、下記一般式(a1−3−03−1)または(a1−3−03−2)で表される構成単位が好ましい。これらの中でも、式(a1−3−03−1)で表される構成単位が好ましく、前記式(a1−3−29)〜(a1−3−30)で表される構成単位が特に好ましい。
In formula (a1-3-03), examples of the divalent linking group for Y 2 ′ and Y 2 ″ include the same groups as those described above for Y 2 in formula (a1-3).
Y 2 ′ is preferably a divalent hydrocarbon group which may have a substituent, more preferably a linear aliphatic hydrocarbon group, and still more preferably a linear alkylene group. Among these, a linear alkylene group having 1 to 5 carbon atoms is preferable, and a methylene group and an ethylene group are most preferable.
Y 2 ″ is preferably a divalent hydrocarbon group which may have a substituent, more preferably a linear aliphatic hydrocarbon group, and still more preferably a linear alkylene group. A linear alkylene group of 1 to 5 is preferable, and a methylene group and an ethylene group are most preferable.
Examples of the acid dissociable, dissolution inhibiting group for X ′ include the same groups as described above, and are preferably tertiary alkyl ester type acid dissociable, dissolution inhibiting groups, and (i) the monovalent aliphatic cyclic group described above. A group having a tertiary carbon atom on the ring skeleton of the group is more preferable, and among them, a group represented by the general formula (1-1) is preferable.
n is an integer of 0 to 3, and n is preferably an integer of 0 to 2, more preferably 0 or 1, and most preferably 1.
As the structural unit represented by the formula (a1-3-03), a structural unit represented by the following general formula (a1-3-03-1) or (a1-3-03-2) is preferable. Among these, the structural unit represented by the formula (a1-3-03-1) is preferable, and the structural units represented by the formulas (a1-3-29) to (a1-3-30) are particularly preferable.

Figure 2011117987
[式中、RおよびR14はそれぞれ前記と同じであり、aは1〜10の整数であり、bは1〜10の整数であり、tは0〜3の整数である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R and R 14 are the same as defined above, a is an integer of 1 to 10, b is an integer of 1 to 10, and t is an integer of 0 to 3, respectively. ]

式(a1−3−03−1)または(a1−3−03−2)中、aは1〜5の整数が好ましく、1または2が特に好ましい。
bは1〜5の整数が好ましく、1または2が特に好ましい。
tは1〜3の整数が好ましく、1または2が特に好ましい。
In the formula (a1-3-03-1) or (a1-3-03-2), a is preferably an integer of 1 to 5, and particularly preferably 1 or 2.
b is preferably an integer of 1 to 5, and 1 or 2 is particularly preferable.
t is preferably an integer of 1 to 3, and 1 or 2 is particularly preferable.

本発明においては、特に、構成単位(a1)を、少なくとも2種を有することが好ましい。リソグラフィー特性が良好になるので、(A1)成分が有する構成単位(a1)は、2〜4種であることが好ましく、2または3種がより好ましい。
この場合、該少なくとも2種のうち、少なくとも1種が、前記一般式(a1−0−11)で表される構成単位、前記一般式(a1−0−12)で表される構成単位および前記一般式(a1−0−2)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種であることが好ましい。
この場合、該少なくとも2種の構成単位(a1)は、前記一般式(a1−0−11)で表される構成単位、前記一般式(a1−0−12)で表される構成単位および前記一般式(a1−0−2)で表される構成単位からなる群から選択されるもののみから構成されてもよく、これらの構成単位の少なくとも1種と、これらに該当しない構成単位(a1)との組み合わせであってもよい。
In the present invention, it is particularly preferable that the structural unit (a1) has at least two kinds. Since the lithography properties are improved, the structural unit (a1) contained in the component (A1) is preferably 2 to 4 types, and more preferably 2 or 3 types.
In this case, at least one of the at least two types is a structural unit represented by the general formula (a1-0-11), a structural unit represented by the general formula (a1-0-12), and the It is preferably at least one selected from the group consisting of structural units represented by general formula (a1-0-2).
In this case, the at least two kinds of structural units (a1) are structural units represented by the general formula (a1-0-11), structural units represented by the general formula (a1-0-12), and It may be comprised only from what is selected from the group which consists of a structural unit represented by general formula (a1-0-2), At least 1 sort (s) of these structural units, and a structural unit (a1) which does not correspond to these It may be a combination.

前記一般式(a1−0−11)で表される構成単位、前記一般式(a1−0−12)で表される構成単位および前記一般式(a1−0−2)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種と組み合わせて用いることが出来る、これらに該当しない構成単位(a1)としては、前記一般式(a1−1)の具体例として例示した、(a1−1−1)〜(a1−1−2)、(a1−1−7)〜(a1−1−15)を包含する下記一般式(a1−0−10)で表される構成単位、前記一般式(a1−2)で表される構成単位、前記一般式(a1−4)で表される構成単位が挙げられる。
前記一般式(a1−0−10)で表される構成単位としては、特に、前記式(a1−1−1)〜式(a1−1−2)を包括する下記一般式(a1−1−101)で表される構成単位が好ましい。
Structural unit represented by general formula (a1-0-11), structural unit represented by general formula (a1-0-12) and structural unit represented by general formula (a1-0-2) As the structural unit (a1) that can be used in combination with at least one selected from the group consisting of: (a1-1) exemplified as specific examples of the general formula (a1-1), 1) to (a1-1-2), structural units represented by the following general formula (a1-0-10) including (a1-1-7) to (a1-1-15), a structural unit represented by a1-2) and a structural unit represented by the general formula (a1-4).
As the structural unit represented by the general formula (a1-0-10), in particular, the following general formula (a1-1-1-) including the formula (a1-1-1) to the formula (a1-1-2). 101) is preferred.

Figure 2011117987
[式中、Rは前記と同じであり、R25およびR11はそれぞれ独立に炭素数1〜5の直鎖状のアルキル基であり、R24は前記と同様である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R is the same as defined above, R 25 and R 11 each independently represent a linear alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and R 24 is the same as defined above. ]

(A1)成分中、構成単位(a1)の割合は、(A1)成分を構成する全構成単位に対し、10〜80モル%が好ましく、20〜70モル%がより好ましく、25〜50モル%がさらに好ましい。下限値以上とすることによって、レジスト組成物とした際に容易にパターンを得ることができ、上限値以下とすることにより他の構成単位とのバランスをとることができる。   In the component (A1), the proportion of the structural unit (a1) is preferably 10 to 80 mol%, more preferably 20 to 70 mol%, more preferably 25 to 50 mol%, based on all structural units constituting the component (A1). Is more preferable. By setting it to the lower limit value or more, a pattern can be easily obtained when the resist composition is used, and by setting it to the upper limit value or less, it is possible to balance with other structural units.

(構成単位(a2))
構成単位(a2)は、ラクトン含有環式基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位である。
ここで、ラクトン含有環式基とは、−O−C(O)−構造を含むひとつの環(ラクトン環)を含有する環式基を示す。ラクトン環をひとつの目の環として数え、ラクトン環のみの場合は単環式基、さらに他の環構造を有する場合は、その構造に関わらず多環式基と称する。
構成単位(a2)のラクトン環式基は、(A1)成分をレジスト膜の形成に用いた場合に、レジスト膜の基板への密着性を高めたり、水を含有する現像液との親和性を高めたりするうえで有効なものである。
構成単位(a2)としては、特に限定されることなく任意のものが使用可能である。
具体的には、ラクトン含有単環式基としては、4〜6員環ラクトンから水素原子を1つ除いた基、たとえばβ−プロピオラクトンから水素原子を1つ除いた基、γ−ブチロラクトンから水素原子1つを除いた基、δ−バレロラクトンから水素原子を1つ除いた基が挙げられる。また、ラクトン含有多環式基としては、ラクトン環を有するビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンから水素原子一つを除いた基が挙げられる。
構成単位(a2)の例として、より具体的には、下記一般式(a2−1)〜(a2−5)で表される構成単位が挙げられる。
(Structural unit (a2))
The structural unit (a2) is a structural unit derived from an acrylate ester containing a lactone-containing cyclic group.
Here, the lactone-containing cyclic group refers to a cyclic group containing one ring (lactone ring) containing an —O—C (O) — structure. The lactone ring is counted as the first ring. When only the lactone ring is present, it is called a monocyclic group. When it has another ring structure, it is called a polycyclic group regardless of the structure.
When the component (A1) is used for forming a resist film, the lactone cyclic group of the structural unit (a2) increases the adhesion of the resist film to the substrate or has an affinity for a developer containing water. It is effective in raising.
As the structural unit (a2), any unit can be used without any particular limitation.
Specifically, as the lactone-containing monocyclic group, a group obtained by removing one hydrogen atom from a 4- to 6-membered ring lactone, for example, a group obtained by removing one hydrogen atom from β-propiolactone, or γ-butyrolactone Examples thereof include a group in which one hydrogen atom has been removed, and a group in which one hydrogen atom has been removed from δ-valerolactone. Examples of the lactone-containing polycyclic group include groups in which one hydrogen atom has been removed from a bicycloalkane, tricycloalkane, or tetracycloalkane having a lactone ring.
More specifically, examples of the structural unit (a2) include structural units represented by general formulas (a2-1) to (a2-5) shown below.

Figure 2011117987
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり;R’はそれぞれ独立に水素原子、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数1〜5のアルコキシ基または−COOR”であり、R”は水素原子またはアルキル基であり;R29は単結合または2価の連結基であり、s”は0〜2の整数であり;A”は酸素原子もしくは硫黄原子を含んでいてもよい炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子または硫黄原子であり;mは0または1である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms; R ′ is independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, carbon An alkoxy group of 1 to 5 or —COOR ″, R ″ is a hydrogen atom or an alkyl group; R 29 is a single bond or a divalent linking group, and s ″ is an integer of 0 to 2; A ″ is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms which may contain an oxygen atom or a sulfur atom, an oxygen atom or a sulfur atom; m is 0 or 1. ]

一般式(a2−1)〜(a2−5)におけるRは、前記構成単位(a0)におけるRと同様である。
R’の炭素数1〜5のアルキル基としては、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基が挙げられる。
R’の炭素数1〜5のアルコキシ基としては、例えばメトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が挙げられる。
R’は、工業上入手が容易であること等を考慮すると、水素原子が好ましい。
R”におけるアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。
R”が直鎖状または分岐鎖状のアルキル基の場合は、炭素数1〜10であることが好ましく、炭素数1〜5であることがさらに好ましい。
R”が環状のアルキル基の場合は、炭素数3〜15であることが好ましく、炭素数4〜12であることがさらに好ましく、炭素数5〜10が最も好ましい。具体的には、フッ素原子またはフッ素化アルキル基で置換されていてもよいし、されていなくてもよいモノシクロアルカン、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などを例示できる。具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンや、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。
A”としては、前記一般式(3−1)中のA’と同様のものが挙げられる。A”は、炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子(−O−)または硫黄原子(−S−)であることが好ましく、炭素数1〜5のアルキレン基または−O−がより好ましい。炭素数1〜5のアルキレン基としては、メチレン基またはジメチルメチレン基がより好ましく、メチレン基が最も好ましい。
R in the general formulas (a2-1) to (a2-5) is the same as R in the structural unit (a0).
Examples of the alkyl group having 1 to 5 carbon atoms of R ′ include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, and a tert-butyl group.
Examples of the alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms of R ′ include a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an iso-propoxy group, an n-butoxy group, and a tert-butoxy group.
R ′ is preferably a hydrogen atom in view of industrial availability.
The alkyl group in R ″ may be linear, branched or cyclic.
When R ″ is a linear or branched alkyl group, it preferably has 1 to 10 carbon atoms, and more preferably 1 to 5 carbon atoms.
When R ″ is a cyclic alkyl group, it preferably has 3 to 15 carbon atoms, more preferably 4 to 12 carbon atoms, and most preferably 5 to 10 carbon atoms. Specifically, a fluorine atom Or a group in which one or more hydrogen atoms are removed from a polycycloalkane such as monocycloalkane, bicycloalkane, tricycloalkane, tetracycloalkane, which may or may not be substituted with a fluorinated alkyl group Specifically, a group in which one or more hydrogen atoms have been removed from a monocycloalkane such as cyclopentane or cyclohexane, or a polycycloalkane such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, or tetracyclododecane. Etc.
Examples of A ″ include the same as A ′ in the general formula (3-1). A ″ represents an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, an oxygen atom (—O—) or a sulfur atom (— S-) is preferable, and an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms or -O- is more preferable. The alkylene group having 1 to 5 carbon atoms is more preferably a methylene group or dimethylmethylene group, and most preferably a methylene group.

29は単結合または2価の連結基である。2価の連結基としては、前記一般式(a0−1)中のRで説明した2価の連結基と同様のものが挙げられる。それらの中でも、アルキレン基、エステル結合(−C(=O)−O−)、またはそれらの組み合わせが好ましい。R29における2価の連結基としてのアルキレン基は、直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基がより好ましい。具体的には、前記Rにおける脂肪族炭化水素基として挙げた直鎖状のアルキレン基、分岐鎖状のアルキレン基と同様のものが挙げられる。
29としては、特に、単結合、または−R29’−C(=O)−O−[式中、R29’は直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基である。]が好ましい。
29’における直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基は、炭素数が1〜10であることが好ましく、1〜8がより好ましく、1〜5がさらに好ましく、1〜3が特に好ましく、1〜2が最も好ましい。
29’における直鎖状のアルキレン基としては、メチレン基またはエチレン基が好ましく、メチレン基が特に好ましい。R29’における分岐鎖状のアルキレン基としては、アルキルメチレン基またはアルキルエチレン基が好ましく、−CH(CH)−、−C(CH−または−C(CHCH−が特に好ましい。
式(a2−1)中、s”は1〜2であることが好ましい。
以下に、前記一般式(a2−1)〜(a2−5)で表される構成単位の具体例を例示する。以下の各式中、Rαは、水素原子、メチル基またはトリフルオロメチル基を示す。
R 29 is a single bond or a divalent linking group. Examples of the divalent linking group include the same divalent linking groups as those described above for R 2 in the general formula (a0-1) can be given. Among these, an alkylene group, an ester bond (—C (═O) —O—), or a combination thereof is preferable. The alkylene group as the divalent linking group for R 29 is more preferably a linear or branched alkylene group. Specifically, the same as the linear alkylene group and the branched alkylene group mentioned as the aliphatic hydrocarbon group for R 2 can be used.
As R 29 , in particular, a single bond or —R 29 ′ —C (═O) —O— [wherein R 29 ′ is a linear or branched alkylene group. ] Is preferable.
The linear or branched alkylene group for R 29 ′ preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8, more preferably 1 to 5, particularly preferably 1 to 3. ~ 2 is most preferred.
As the linear alkylene group for R 29 ′, a methylene group or an ethylene group is preferable, and a methylene group is particularly preferable. The branched alkylene group for R 29 ′ is preferably an alkylmethylene group or an alkylethylene group, and —CH (CH 3 ) —, —C (CH 3 ) 2 — or —C (CH 3 ) 2 CH 2 — Is particularly preferred.
In formula (a2-1), s ″ is preferably 1 to 2.
Specific examples of the structural units represented by the general formulas (a2-1) to (a2-5) are shown below. In the following formulas, R α represents a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

Figure 2011117987
Figure 2011117987

(A1)成分において、構成単位(a2)としては、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
本発明において、(A1)成分は、構成単位(a2)として、前記一般式(a2−1)〜(a2−5)のいずれかで表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種を有することが好ましく、前記一般式(a2−1)〜(a2−3)のいずれかで表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種以上がより好ましく、前記一般式(a2−1)または(a2−2)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種を有することが特に好ましい。
In the component (A1), as the structural unit (a2), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
In the present invention, the component (A1) is at least one selected from the group consisting of structural units represented by any one of the general formulas (a2-1) to (a2-5) as the structural unit (a2). It is preferable that at least one selected from the group consisting of structural units represented by any one of the general formulas (a2-1) to (a2-3) is more preferable. It is particularly preferable to have at least one selected from the group consisting of structural units represented by 1) or (a2-2).

(A1)成分中の構成単位(a2)の割合は、当該(A1)成分を含有するポジ型レジスト組成物を用いて形成されるレジスト膜の基板等の支持体への密着性、現像液との親和性等に優れることから、(A1)成分を構成する全構成単位の合計に対し、5〜70モル%以上であることが好ましく、10〜65モル%がより好ましく、20〜65モル%がさらに好ましく、20〜45モル%が最も好ましい。上記範囲とすることにより、MEFやパターン形状がさらに向上し、CDUも向上する。
また、(A1)成分においては、種々のリソグラフィー特性に優れることから、前記構成単位(a0)および構成単位(a2)の合計の割合(構成単位(a2)を有さない場合は構成単位(a0)のみの割合)が、(A1)成分を構成する全構成単位の合計に対し、1〜70モル%であることが好ましく、5〜70モル%であることがより好ましく、10〜65モル%であることがさらに好ましく、20〜65モル%が最も好ましい。上記範囲とすることにより、MEF、パターン形状、CDUがさらに良好なものとなる。
The proportion of the structural unit (a2) in the component (A1) is such that the resist film formed using the positive resist composition containing the component (A1) adheres to a support such as a substrate, and the developer. From the viewpoint of excellent affinity and the like, it is preferably 5 to 70 mol%, more preferably 10 to 65 mol%, more preferably 20 to 65 mol%, based on the total of all the structural units constituting the component (A1). Is more preferable, and 20 to 45 mol% is most preferable. By setting it as the above range, MEF and pattern shape are further improved, and CDU is also improved.
In addition, since the component (A1) is excellent in various lithography properties, the total proportion of the structural unit (a0) and the structural unit (a2) (the structural unit (a0 in the case where the structural unit (a2) is not included). ) Only) is preferably from 1 to 70 mol%, more preferably from 5 to 70 mol%, more preferably from 10 to 65 mol%, based on the total of all structural units constituting the component (A1). It is more preferable that 20 to 65 mol% is most preferable. By setting it as the said range, MEF, pattern shape, and CDU become still more favorable.

(構成単位(a3))
構成単位(a3)は、極性基含有脂肪族炭化水素基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a3)である。
(A1)成分が構成単位(a3)を有することにより、(A)成分の親水性が高まり、現像液との親和性が高まって、露光部でのアルカリ溶解性が向上し、解像性の向上に寄与する。
極性基としては、水酸基、シアノ基、カルボキシ基、フッ素化アルコール基(アルキル基の水素原子の一部がフッ素原子で置換されたヒドロキシアルキル基)等が挙げられる。これらの中でも、水酸基、カルボキシ基が好ましい。
構成単位(a3)において、脂肪族炭化水素基に結合する極性基の数は、特に限定されないが、1〜3個が好ましく、1個が最も好ましい。
前記極性基が結合する脂肪族炭化水素基は、飽和であってもよく、不飽和であってもよく、飽和であることが好ましい。
脂肪族炭化水素基として、より具体的には、直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基、構造中に環を含む脂肪族炭化水素基等が挙げられる。
(Structural unit (a3))
The structural unit (a3) is a structural unit (a3) derived from an acrylate ester containing a polar group-containing aliphatic hydrocarbon group.
When the component (A1) has the structural unit (a3), the hydrophilicity of the component (A) is increased, the affinity with the developer is increased, the alkali solubility in the exposed area is improved, and the resolution is improved. Contributes to improvement.
Examples of the polar group include a hydroxyl group, a cyano group, a carboxy group, a fluorinated alcohol group (a hydroxyalkyl group in which a part of hydrogen atoms of an alkyl group is substituted with a fluorine atom), and the like. Among these, a hydroxyl group and a carboxy group are preferable.
In the structural unit (a3), the number of polar groups bonded to the aliphatic hydrocarbon group is not particularly limited, but is preferably 1 to 3, and most preferably 1.
The aliphatic hydrocarbon group to which the polar group is bonded may be saturated, unsaturated, or saturated.
More specifically, examples of the aliphatic hydrocarbon group include a linear or branched aliphatic hydrocarbon group, an aliphatic hydrocarbon group containing a ring in the structure, and the like.

前記「直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基」は、炭素数が1〜12であることが好ましく、1〜10がより好ましく、1〜8がより好ましく、1〜6がさらに好ましい。
該直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基は、水素原子の一部または全部が、前記極性基以外の置換基で置換されていてもよい。該置換基としては、フッ素原子、フッ素原子で置換された炭素数1〜5のフッ素化アルキル基、酸素原子(=O)等が挙げられる。また、該直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基は、炭素原子間にヘテロ原子を含む2価の基が介在してもよい。該「ヘテロ原子を含む2価の基」としては、前記構成単位(a1)の説明で、一般式(a1−0−2)中のYの2価の連結基として挙げた「ヘテロ原子を含む2価の連結基」と同様のものが挙げられる。
前記脂肪族炭化水素基が直鎖状または分岐鎖状である場合、構成単位(a3)としては、下記一般式(a3−1)または(a3−2)で表される構成単位が好ましい。
The “linear or branched aliphatic hydrocarbon group” preferably has 1 to 12 carbon atoms, more preferably 1 to 10, more preferably 1 to 8, and further preferably 1 to 6. .
In the linear or branched aliphatic hydrocarbon group, part or all of the hydrogen atoms may be substituted with a substituent other than the polar group. Examples of the substituent include a fluorine atom, a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms substituted with a fluorine atom, and an oxygen atom (= O). Further, the linear or branched aliphatic hydrocarbon group may have a divalent group containing a hetero atom between carbon atoms. The “divalent group containing a heteroatom” is the “heteroatom represented by the divalent linking group of Y 2 in the general formula (a1-0-2) in the description of the structural unit (a1). The same thing as "the bivalent coupling group containing" is mentioned.
When the aliphatic hydrocarbon group is linear or branched, the structural unit (a3) is preferably a structural unit represented by the following general formula (a3-1) or (a3-2).

Figure 2011117987
[式中、Rは前記に同じであり、R81は直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基であり、R82は、ヘテロ原子を含む2価の基が介在してもよいアルキレン基である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R is the same as defined above, R 81 represents a linear or branched alkylene group, and R 82 represents an alkylene group which may be intervened by a divalent group containing a hetero atom. . ]

式(a3−1)中、R81におけるアルキレン基は、炭素数が1〜10であることが好ましい。
式(a3−2)中、R82におけるアルキレン基は、炭素数が2〜12であることが好ましく、2〜10であることがより好ましく、3〜6が特に好ましい。該アルキレン基は、炭素原子間に、ヘテロ原子を含む2価の基が介在してもよい。該「ヘテロ原子を含む2価の基」としては、前記構成単位(a1)の説明で、一般式(a1−0−2)中のYの2価の連結基として挙げた「ヘテロ原子を含む2価の連結基」と同様のものが挙げられる。
82としては、特に、ヘテロ原子として酸素原子を含むものが好ましく、前記−A−O−B−または−A−C(=O)−O−B−で表される基がより好ましい。なかでも、−(CHa”−O−C(=O)−(CHb”−[式中、a”およびb”はそれぞれ独立に1〜3の整数である。]が好ましい。
In formula (a3-1), the alkylene group for R 81 preferably has 1 to 10 carbon atoms.
In formula (a3-2), the alkylene group for R 82 preferably has 2 to 12 carbon atoms, more preferably 2 to 10 carbon atoms, and particularly preferably 3 to 6 carbon atoms. In the alkylene group, a divalent group containing a hetero atom may be interposed between carbon atoms. The “divalent group containing a heteroatom” is the “heteroatom represented by the divalent linking group of Y 2 in the general formula (a1-0-2) in the description of the structural unit (a1). The same thing as "the bivalent coupling group containing" is mentioned.
R 82 preferably includes an oxygen atom as a hetero atom, and more preferably a group represented by the above-mentioned —A—O—B— or —A—C (═O) —O—B—. Among them, - (CH 2) a " -O-C (= O) - (CH 2) b" - [ wherein, a "and b" are each independently from 1 to 3 integers. ] Is preferable.

前記「構造中に環を含む脂肪族炭化水素基」としては、環状の脂肪族炭化水素基、該環状の脂肪族炭化水素基が前述した鎖状の脂肪族炭化水素基の末端に結合するか又は鎖状の脂肪族炭化水素基の途中に介在する基などが挙げられる。
環状の脂肪族炭化水素基は、炭素数が3〜30であることが好ましい。また、該環状の脂肪族炭化水素基は、多環式であってもよく、単環式であってもよく、多環式が好ましい。
環状の脂肪族炭化水素基として、具体的には、たとえばArFエキシマレーザー用レジスト組成物用の樹脂において、多数提案されているものの中から適宜選択して用いることができる。たとえば単環式の脂肪族炭化水素基としては、炭素数3〜20のモノシクロアルカンから2個以上の水素原子を除いた基が好ましく、該モノシクロアルカンとしてはシクロペンタン、シクロヘキサン等が例示できる。多環式の脂肪族炭化水素基としては、炭素数7〜30のポリシクロアルカンから2個以上の水素原子を除いた基が好ましく、該ポリシクロアルカンとして具体的には、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。
前記環状の脂肪族炭化水素基は、水素原子の一部または全部が、前記極性基以外の置換基で置換されていてもよい。該置換基としては、炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子、フッ素原子で置換された炭素数1〜5のフッ素化アルキル基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
前記脂肪族炭化水素基が、構造中に環を含む場合、構成単位(a3)としては、下記一般式(a3−3)、(a3−4)または(a3−5)で表される構成単位が好ましい。
Examples of the “aliphatic hydrocarbon group including a ring in the structure” include a cyclic aliphatic hydrocarbon group, and whether the cyclic aliphatic hydrocarbon group is bonded to the terminal of the chain aliphatic hydrocarbon group described above. Or the group which intervenes in the middle of a chain-like aliphatic hydrocarbon group etc. are mentioned.
The cyclic aliphatic hydrocarbon group preferably has 3 to 30 carbon atoms. The cyclic aliphatic hydrocarbon group may be polycyclic, monocyclic, or polycyclic.
As the cyclic aliphatic hydrocarbon group, specifically, for example, a resin for a resist composition for ArF excimer laser can be appropriately selected from those proposed. For example, the monocyclic aliphatic hydrocarbon group is preferably a group in which two or more hydrogen atoms are removed from a monocycloalkane having 3 to 20 carbon atoms, and examples of the monocycloalkane include cyclopentane and cyclohexane. . The polycyclic aliphatic hydrocarbon group is preferably a group in which two or more hydrogen atoms are removed from a polycycloalkane having 7 to 30 carbon atoms. Specific examples of the polycycloalkane include adamantane, norbornane, isobornane. , Tricyclodecane, tetracyclododecane and the like.
In the cyclic aliphatic hydrocarbon group, part or all of the hydrogen atoms may be substituted with a substituent other than the polar group. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom, a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms substituted with a fluorine atom, and an oxygen atom (= O).
When the aliphatic hydrocarbon group includes a ring in the structure, the structural unit (a3) is a structural unit represented by the following general formula (a3-3), (a3-4) or (a3-5) Is preferred.

Figure 2011117987
[式中、Rは前記に同じであり、jは1〜3の整数であり、k’は1〜3の整数であり、t’は1〜3の整数であり、l’は1〜5の整数であり、s’は1〜3の整数である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R is the same as defined above, j is an integer of 1 to 3, k ′ is an integer of 1 to 3, t ′ is an integer of 1 to 3, and l ′ is 1 to 5] S ′ is an integer of 1 to 3. ]

式(a3−3)中、jは1または2であることが好ましく、1であることがさらに好ましい。jが2の場合は、水酸基がアダマンチル基の3位と5位に結合しているものが好ましい。jが1の場合は、水酸基がアダマンチル基の3位に結合しているものが好ましい。
式(a3−4)中、k’は1であることが好ましい。シアノ基はノルボルニル基の5位または6位に結合していることが好ましい。
式(a3−5)中、t’は1であることが好ましい。l’は1であることが好ましい。s’は1であることが好ましい。
式(a3−5)中、カルボニルオキシ基の酸素原子(−O−)は、ノルボルナン環の2位または3位に結合していることが好ましい。フッ素化アルキルアルコール基は、ノルボルニル基の5位または6位に結合していることが好ましい。
In formula (a3-3), j is preferably 1 or 2, and more preferably 1. When j is 2, it is preferable that the hydroxyl group is bonded to the 3rd and 5th positions of the adamantyl group. When j is 1, it is preferable that the hydroxyl group is bonded to the 3-position of the adamantyl group.
In formula (a3-4), k ′ is preferably 1. The cyano group is preferably bonded to the 5th or 6th position of the norbornyl group.
In formula (a3-5), t ′ is preferably 1. l ′ is preferably 1. s ′ is preferably 1.
In formula (a3-5), the oxygen atom (—O—) of the carbonyloxy group is preferably bonded to the 2nd or 3rd position of the norbornane ring. The fluorinated alkyl alcohol group is preferably bonded to the 5th or 6th position of the norbornyl group.

構成単位(a3)としては、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
(A1)成分中の構成単位(a2)の割合は、当該(A1)成分を構成する全構成単位に対し、1〜50モル%であることが好ましく、1〜40モル%がより好ましく、3〜25モル%がさらに好ましく、3〜15モル%が最も好ましい。
As the structural unit (a3), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
The proportion of the structural unit (a2) in the component (A1) is preferably 1 to 50 mol%, more preferably 1 to 40 mol%, based on all structural units constituting the component (A1). -25 mol% is more preferable, and 3-15 mol% is most preferable.

(その他の構成単位)
(A1)成分は、本発明の効果を損なわない範囲で、上記構成単位(a1)〜(a3)以外の他の構成単位(以下、構成単位(a4)という。)を含んでいてもよい。
構成単位(a4)は、上述の構成単位(a1)〜(a3)に分類されない他の構成単位であれば特に限定されるものではなく、ArFエキシマレーザー用、KrFエキシマレーザー用(好ましくはArFエキシマレーザー用)等のレジスト用樹脂に用いられるものとして従来から知られている多数のものが使用可能である。
構成単位(a4)としては、例えば酸非解離性の脂肪族多環式基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位などが好ましい。該多環式基は、例えば、前記の構成単位(a1)の場合に例示したものと同様のものを例示することができ、ArFエキシマレーザー用、KrFエキシマレーザー用(好ましくはArFエキシマレーザー用)等のレジスト組成物の樹脂成分に用いられるものとして従来から知られている多数のものが使用可能である。
特にトリシクロデカニル基、アダマンチル基、テトラシクロドデカニル基、イソボルニル基、ノルボルニル基から選ばれる少なくとも1種であると、工業上入手し易いなどの点で好ましい。これらの多環式基は、炭素数1〜5の直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基を置換基として有していてもよい。
構成単位(a4)として、具体的には、下記一般式(a4−1)〜(a4−5)の構造のものを例示することができる。
(Other structural units)
The component (A1) may contain other structural units (hereinafter referred to as the structural unit (a4)) other than the structural units (a1) to (a3) as long as the effects of the present invention are not impaired.
The structural unit (a4) is not particularly limited as long as it is another structural unit not classified into the above structural units (a1) to (a3), and for ArF excimer laser, for KrF excimer laser (preferably ArF excimer) A number of hitherto known materials can be used for resist resins such as lasers.
As the structural unit (a4), for example, a structural unit derived from an acrylate ester containing a non-acid-dissociable aliphatic polycyclic group is preferable. Examples of the polycyclic group include those exemplified in the case of the structural unit (a1), and for ArF excimer laser and KrF excimer laser (preferably for ArF excimer laser). A number of hitherto known materials can be used as the resin component of the resist composition.
In particular, at least one selected from a tricyclodecanyl group, an adamantyl group, a tetracyclododecanyl group, an isobornyl group, and a norbornyl group is preferable in terms of industrial availability. These polycyclic groups may have a linear or branched alkyl group having 1 to 5 carbon atoms as a substituent.
Specific examples of the structural unit (a4) include those represented by the following general formulas (a4-1) to (a4-5).

Figure 2011117987
[式中、Rは前記と同じである。]
Figure 2011117987
[Wherein, R is the same as defined above. ]

構成単位(a4)としては、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
構成単位(a4)を(A1)成分に含有させる場合、構成単位(a4)の割合は、(A1)成分を構成する全構成単位の合計に対して、1〜30モル%が好ましく、10〜20モル%がより好ましい。
As the structural unit (a4), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
When the structural unit (a4) is contained in the component (A1), the proportion of the structural unit (a4) is preferably 1 to 30 mol% with respect to the total of all the structural units constituting the component (A1). 20 mol% is more preferable.

(A1)成分は、構成単位(a0)と、構成単位(a1)〜(a3)からなる群から選択される少なくとも1種とを有する共重合体であることが好ましい。
かかる共重合体としては、たとえば、構成単位(a0)および(a1)からなる共重合体、構成単位(a0)および(a2)からなる共重合体、構成単位(a0)および(a3)からなる共重合体、構成単位(a0)、(a1)および(a2)からなる共重合体、構成単位(a0)、(a1)および(a3)からなる共重合体、構成単位(a0)、(a1)、(a2)および(a3)からなる共重合体等が例示できる。ただし、当該共重合体が構成単位(a1)を含まない場合は、構成単位(a0)が、酸解離性溶解抑制基を含むものであることが好ましい。
(A1)成分としては、上記の中でも、構成単位(a0)、(a1)および(a3)を有する共重合体が好ましく、構成単位(a0)、(a1)および(a3)からなる共重合体、または構成単位(a0)、(a1)、(a2)および(a3)からなる共重合体が特に好ましい。
また、(A1)成分が構成単位(a1)を有する共重合体である場合、該共重合体が、構成単位(a1)として、前記一般式(a1−0−11)で表される構成単位、一般式(a1−0−12)で表される構成単位および一般式(a1−1−01)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種を有することが好ましい。
また、上記共重合体は、上述したように、構成単位(a1)として、少なくとも2種を有することも好ましく、該少なくとも2種のうち、少なくとも1種が、前記一般式(a1−0−11)で表される構成単位および一般式(a1−0−12)で表される構成単位からなる群から選択される構成単位であることが好ましく、該少なくとも2種がいずれも前記群から選択される構成単位であることがより好ましい。
本発明おいて、(A1)成分としては、特に、下記一般式(A1−11)に示す5種の構成単位を含むもの、下記一般式(A1−12)に示す4種の構成単位を含むもの、が好ましい。
The component (A1) is preferably a copolymer having the structural unit (a0) and at least one selected from the group consisting of the structural units (a1) to (a3).
Examples of the copolymer include a copolymer composed of the structural units (a0) and (a1), a copolymer composed of the structural units (a0) and (a2), and a structural unit (a0) and (a3). Copolymer, copolymer composed of structural units (a0), (a1) and (a2), copolymer composed of structural units (a0), (a1) and (a3), structural units (a0), (a1 ), (A2) and (a3). However, when the copolymer does not include the structural unit (a1), the structural unit (a0) preferably includes an acid dissociable, dissolution inhibiting group.
Among these, the component (A1) is preferably a copolymer having the structural units (a0), (a1) and (a3), and is a copolymer comprising the structural units (a0), (a1) and (a3). Or a copolymer comprising the structural units (a0), (a1), (a2) and (a3) is particularly preferred.
Further, when the component (A1) is a copolymer having the structural unit (a1), the copolymer is a structural unit represented by the general formula (a1-0-11) as the structural unit (a1). It is preferable to have at least one selected from the group consisting of a structural unit represented by general formula (a1-0-12) and a structural unit represented by general formula (a1-1-01).
Further, as described above, the copolymer preferably has at least two types as the structural unit (a1), and at least one of the at least two types is represented by the general formula (a1-0-11). ) And a structural unit selected from the group consisting of structural units represented by general formula (a1-0-12), and at least two of them are selected from the above group. More preferably, it is a structural unit.
In the present invention, the component (A1) includes, in particular, those containing five structural units represented by the following general formula (A1-11) and four structural units represented by the following general formula (A1-12). Are preferred.

Figure 2011117987
[式(A1−11)中、R、R29、R02、A’、R23、R21、hはそれぞれ前記と同じであり、当該式中の複数のRはそれぞれ同じであっても異なっていてもよい。式(A1−12)中、R、R02、A’、a、b、R14、R23はそれぞれ前記と同じであり、当該式中の複数のRはそれぞれ同じであっても異なっていてもよい。]
Figure 2011117987
[In the formula (A1-11), R, R 29 , R 02 , A ′, R 23 , R 21 and h are the same as defined above, and the plurality of R in the formula are the same or different. It may be. In formula (A1-12), R, R 02 , A ′, a, b, R 14 and R 23 are the same as defined above, and the plurality of R in the formula are the same or different. Also good. ]

(A1)成分の質量平均分子量(Mw)(ゲルパーミエーションクロマトグラフィーによるポリスチレン換算基準)は、特に限定されるものではないが、2000〜50000が好ましく、3000〜30000がより好ましく、5000〜20000が最も好ましい。この範囲の上限よりも小さいと、レジストとして用いるのに充分なレジスト溶剤への溶解性があり、この範囲の下限よりも大きいと、耐ドライエッチング性やレジストパターン断面形状が良好である。
また分散度(Mw/Mn)は1.0〜5.0が好ましく、1.0〜3.0がより好ましく、1.2〜2.5が最も好ましい。なお、Mnは数平均分子量を示す。
The weight average molecular weight (Mw) of the component (A1) (polystyrene conversion standard by gel permeation chromatography) is not particularly limited, but is preferably 2000 to 50000, more preferably 3000 to 30000, and 5000 to 20000. Most preferred. When it is smaller than the upper limit of this range, it has sufficient solubility in a resist solvent to be used as a resist. When it is larger than the lower limit of this range, dry etching resistance and resist pattern cross-sectional shape are good.
Further, the dispersity (Mw / Mn) is preferably 1.0 to 5.0, more preferably 1.0 to 3.0, and most preferably 1.2 to 2.5. In addition, Mn shows a number average molecular weight.

(A)成分において、(A1)成分としては、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用しても良い。
(A)成分中の(A1)成分の割合は、(A)成分の総質量に対し、25質量%以上が好ましく、50質量%がより好ましく、75質量%がさらに好ましく、100質量%であってもよい。該割合が25質量%以上であると、リソグラフィー特性等の効果が向上する。
In the component (A), as the component (A1), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
The proportion of the component (A1) in the component (A) is preferably 25% by mass or more, more preferably 50% by mass, further preferably 75% by mass, and 100% by mass with respect to the total mass of the component (A). May be. When the ratio is 25% by mass or more, effects such as lithography characteristics are improved.

(A1)成分は、各構成単位を誘導するモノマーを、例えばアゾビスイソブチロニトリル(AIBN)のようなラジカル重合開始剤を用いた公知のラジカル重合等によって重合させることによって得ることができる。
また、(A1)成分には、上記重合の際に、たとえばHS−CH−CH−CH−C(CF−OHのような連鎖移動剤を併用して用いることにより、末端に−C(CF−OH基を導入してもよい。このように、アルキル基の水素原子の一部がフッ素原子で置換されたヒドロキシアルキル基が導入された共重合体は、現像欠陥の低減やLER(ラインエッジラフネス:ライン側壁の不均一な凹凸)の低減に有効である。
各構成単位を誘導するモノマーは、市販のものを用いてもよく、公知の方法を利用して合成してもよい。
たとえば構成単位(a0)を誘導するモノマーとしては、下記一般式(a0−1−0)で表される化合物(以下「化合物(a0−1−0)」という。)が挙げられる。
The component (A1) can be obtained by polymerizing a monomer for deriving each structural unit by a known radical polymerization using a radical polymerization initiator such as azobisisobutyronitrile (AIBN).
Further, for the component (A1), in the polymerization, a chain transfer agent such as HS—CH 2 —CH 2 —CH 2 —C (CF 3 ) 2 —OH is used in combination, so that the terminal A —C (CF 3 ) 2 —OH group may be introduced into the. As described above, a copolymer into which a hydroxyalkyl group in which a part of hydrogen atoms of an alkyl group is substituted with a fluorine atom is introduced has reduced development defects and LER (line edge roughness: uneven unevenness of line side walls). It is effective in reducing
As the monomer for deriving each structural unit, a commercially available monomer may be used, or the monomer may be synthesized using a known method.
For example, as a monomer for deriving the structural unit (a0), a compound represented by the following general formula (a0-1-0) (hereinafter referred to as “compound (a0-1-0)”) can be given.

Figure 2011117987
[式中、R、R〜Rはそれぞれ前記と同じである。]
Figure 2011117987
[Wherein, R and R 2 to R 3 are the same as defined above. ]

かかる化合物(a0−1−0)の製造方法は特に限定されず、公知の方法を利用して製造できる。
たとえば、塩基の存在下、下記一般式(X−1)で表される化合物(X−1)が反応溶媒に溶解した溶液に、下記一般式(X−2)で表される化合物(X−2)を添加し、反応させることにより、上記化合物(a0−1−0)が得られる。
塩基としては、たとえば水素化ナトリウム、KCO、CsCO等の無機塩基;トリエチルアミン、4−ジメチルアミノピリジン(DMAP)、ピリジン等の有機塩基等が挙げられる。縮合剤としては、例えばエチルジイソプロピルアミノカルボジイミド(EDCI)塩酸塩、ジシクロヘキシルカルボキシイミド(DCC)、ジイソプロピルカルボジイミド、カルボジイミダゾール等のカルボジイミド試薬やテトラエチルピロホスフェイト、ベンゾトリアゾール−N−ヒドロキシトリスジメチルアミノホスホニウムヘキサフルオロリン化物塩(Bop試薬)等が挙げられる。
また、必要に応じて酸を用いてもよい。酸としては、脱水縮合等で通常用いられるものを使用することができ、具体的には塩酸、硫酸、リン酸等の無機酸類や、メタンスルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、p−トルエンスルホン酸等の有機酸類が挙げられる。これらは単独で使用してもよいし、2種類以上を組み合わせて使用してもよい。
The manufacturing method of this compound (a0-1-0) is not specifically limited, It can manufacture using a well-known method.
For example, a compound (X-) represented by the following general formula (X-2) is added to a solution of the compound (X-1) represented by the following general formula (X-1) in a reaction solvent in the presence of a base. The compound (a0-1-0) is obtained by adding and reacting 2).
Examples of the base include inorganic bases such as sodium hydride, K 2 CO 3 and Cs 2 CO 3 ; organic bases such as triethylamine, 4-dimethylaminopyridine (DMAP) and pyridine. Examples of the condensing agent include carbodiimide reagents such as ethyldiisopropylaminocarbodiimide (EDCI) hydrochloride, dicyclohexylcarboimide (DCC), diisopropylcarbodiimide, carbodiimidazole, tetraethylpyrophosphate, benzotriazole-N-hydroxytrisdimethylaminophosphonium hexa Fluorophosphide salt (Bop reagent) and the like.
Moreover, you may use an acid as needed. As the acid, those usually used in dehydration condensation and the like can be used. Specifically, inorganic acids such as hydrochloric acid, sulfuric acid, phosphoric acid, methanesulfonic acid, trifluoromethanesulfonic acid, benzenesulfonic acid, p- Organic acids such as toluenesulfonic acid can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

Figure 2011117987
[式中、R、R〜Rはそれぞれ前記と同じである。]
Figure 2011117987
[Wherein, R and R 2 to R 3 are the same as defined above. ]

本発明のレジスト組成物は、(A)成分として、前記(A1)成分に該当しない、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(以下「(A2)成分」という。)を含有してもよい。
(A2)成分としては、特に限定されず、化学増幅型ポジ型レジスト組成物用の基材成分として従来から知られている多数のもの(たとえばArFエキシマレーザー用、KrFエキシマレーザー用(好ましくはArFエキシマレーザー用)等のベース樹脂)から任意に選択して用いればよい。たとえばArFエキシマレーザー用のベース樹脂としては、前記構成単位(a1)を必須の構成単位として有し、任意に前記構成単位(a2)〜(a5)をさらに有する樹脂が挙げられる。また、分子量が500以上4000未満の非重合体(低分子化合物)を含有してもよい。
(A2)成分は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
The resist composition of the present invention does not correspond to the component (A1) as the component (A), and is a base material component (hereinafter referred to as “component (A2)”) whose solubility in an alkaline developer is increased by the action of acid. It may contain.
The component (A2) is not particularly limited, and many conventionally known base components for chemically amplified positive resist compositions (for example, for ArF excimer laser, for KrF excimer laser (preferably ArF) A base resin such as for excimer laser) may be arbitrarily selected and used. For example, the base resin for ArF excimer laser includes a resin having the structural unit (a1) as an essential structural unit and optionally further including the structural units (a2) to (a5). Moreover, you may contain the nonpolymer (low molecular compound) whose molecular weight is 500-4000.
(A2) A component may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

本発明のレジスト組成物中、(A)成分の含有量は、形成しようとするレジスト膜厚等に応じて調整すればよい。   In the resist composition of the present invention, the content of the component (A) may be adjusted according to the resist film thickness to be formed.

<(B)成分>
(B)成分としては、特に限定されず、これまで化学増幅型レジスト用の酸発生剤として提案されているものを使用することができる。このような酸発生剤としては、これまで、ヨードニウム塩やスルホニウム塩などのオニウム塩系酸発生剤、オキシムスルホネート系酸発生剤、ビスアルキルまたはビスアリールスルホニルジアゾメタン類、ポリ(ビススルホニル)ジアゾメタン類などのジアゾメタン系酸発生剤、ニトロベンジルスルホネート系酸発生剤、イミノスルホネート系酸発生剤、ジスルホン系酸発生剤など多種のものが知られている。
オニウム塩系酸発生剤として、例えば下記一般式(b−1)または(b−2)で表される化合物を用いることができる。
<(B) component>
(B) It does not specifically limit as a component, What has been proposed as an acid generator for chemical amplification type resists until now can be used. Examples of such acid generators include onium salt acid generators such as iodonium salts and sulfonium salts, oxime sulfonate acid generators, bisalkyl or bisarylsulfonyldiazomethanes, and poly (bissulfonyl) diazomethanes. There are various known diazomethane acid generators, nitrobenzyl sulfonate acid generators, imino sulfonate acid generators, disulfone acid generators, and the like.
As the onium salt acid generator, for example, a compound represented by the following general formula (b-1) or (b-2) can be used.

Figure 2011117987
[式中、R”〜R”,R”〜R”は、それぞれ独立に、置換基を有していてもよいアリール基またはアルキル基を表し;式(b−1)におけるR”〜R”のうち、いずれか2つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成してもよく;R”は、置換基を有していても良いアルキル基、ハロゲン化アルキル基、アリール基、またはアルケニル基を表し;R”〜R”のうち少なくとも1つはアリール基を表し、R”〜R”のうち少なくとも1つはアリール基を表す。]
Figure 2011117987
[Wherein, R 1 ″ to R 3 ″ and R 5 ″ to R 6 ″ each independently represents an aryl group or an alkyl group which may have a substituent; R in the formula (b-1) Any one of 1 ″ to R 3 ″ may be bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula; R 4 ″ represents an alkyl group which may have a substituent, a halogen atom; An alkyl group, an aryl group, or an alkenyl group; at least one of R 1 ″ to R 3 ″ represents an aryl group, and at least one of R 5 ″ to R 6 ″ represents an aryl group.]

式(b−1)中、R”〜R”はそれぞれ独立に、置換基を有していてもよいアリール基またはアルキル基を表す。なお、式(b−1)におけるR”〜R”のうち、いずれか2つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成してもよい。
また、R”〜R”のうち、少なくとも1つはアリール基を表す。R”〜R”のうち、2以上がアリール基であることが好ましく、R”〜R”のすべてがアリール基であることが最も好ましい。
In formula (b-1), R 1 ″ to R 3 ″ each independently represents an aryl group or an alkyl group which may have a substituent. In addition, any two of R 1 ″ to R 3 ″ in formula (b-1) may be bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula.
Further, at least one of R 1 ″ to R 3 ″ represents an aryl group. Of R 1 ″ to R 3 ″, two or more are preferably aryl groups, and most preferably all of R 1 ″ to R 3 ″ are aryl groups.

”〜R”のアリール基としては、特に制限はなく、例えば、炭素数6〜20のアリール基が挙げられる。アリール基としては、安価に合成可能なことから、炭素数6〜10のアリール基が好ましい。具体的には、たとえばフェニル基、ナフチル基が挙げられる。
該アリール基は、置換基を有していてもよい。「置換基を有する」とは、当該アリール基の水素原子の一部または全部が置換基で置換されていることを意味し、該置換基としては、アルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、水酸基、アルコキシアルキルオキシ基、−O−R50−CO−O−R51[式中、R50はアルキレン基であり、R51は酸解離性基である。]、−O−R52−CO−O−R53[式中、R52はアルキレン基であり、R53は、置換基を有していてもよい炭素数3〜30の炭化水素基である。]等が挙げられる。
前記アリール基の水素原子が置換されていてもよいアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることが最も好ましい。
前記アリール基の水素原子が置換されていてもよいアルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が最も好ましい。
前記アリール基の水素原子が置換されていてもよいハロゲン原子としては、フッ素原子が好ましい。
The aryl group for R 1 ″ to R 3 ″ is not particularly limited, and examples thereof include an aryl group having 6 to 20 carbon atoms. The aryl group is preferably an aryl group having 6 to 10 carbon atoms because it can be synthesized at a low cost. Specific examples include a phenyl group and a naphthyl group.
The aryl group may have a substituent. “Having a substituent” means that part or all of the hydrogen atoms of the aryl group are substituted with a substituent, and examples of the substituent include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a hydroxyl group, An alkoxyalkyloxy group, —O—R 50 —CO—O—R 51 [wherein R 50 is an alkylene group, and R 51 is an acid-dissociable group. ], —O—R 52 —CO—O—R 53 [wherein R 52 is an alkylene group, and R 53 is a hydrocarbon group having 3 to 30 carbon atoms which may have a substituent. . ] Etc. are mentioned.
The alkyl group that may be substituted for the hydrogen atom of the aryl group is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and is a methyl group, ethyl group, propyl group, n-butyl group, or tert-butyl group. Is most preferred.
As the alkoxy group that may be substituted for the hydrogen atom of the aryl group, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms is preferable, and a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an iso-propoxy group, an n-butoxy group, A tert-butoxy group is preferable, and a methoxy group and an ethoxy group are most preferable.
The halogen atom that may be substituted for the hydrogen atom of the aryl group is preferably a fluorine atom.

前記アリール基の水素原子が置換されていてもよいアルコキシアルキルオキシ基としては、たとえば、−O−C(R47)(R48)−O−R49[式中、R47およびR48はそれぞれ独立して水素原子または直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキル基であり、R49はアルキル基であり、R48およびR49は相互に結合して一つの環構造を形成していても良い。ただし、R47およびR48のうち少なくとも1つは水素原子である。]が挙げられる。
47、R48において、アルキル基の炭素数は好ましくは1〜5であり、エチル基、メチル基が好ましく、メチル基が最も好ましい。
そして、R47およびR48は、一方が水素原子であり、他方が水素原子またはメチル基であることが好ましく、R47およびR48がいずれも水素原子であることが特に好ましい。
49のアルキル基としては、好ましくは炭素数が1〜15であり、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。
49における直鎖状、分岐鎖状のアルキル基としては、炭素数が1〜5であることが好ましく、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基などが挙げられる。
49における環状のアルキル基としては、炭素数4〜15であることが好ましく、炭素数4〜12であることがさらに好ましく、炭素数5〜10であることが最も好ましい。
具体的には炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子またはフッ素化アルキル基で置換されていてもよいし、されていなくてもよいモノシクロアルカン、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。モノシクロアルカンとしては、シクロペンタン、シクロヘキサン等が挙げられる。ポリシクロアルカンとしては、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。中でもアダマンタンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましい。
48およびR49は、相互に結合して一つの環構造を形成していても良い。この場合、R48とR49と、R49が結合した酸素原子と、該酸素原子およびR48が結合した炭素原子とにより環式基が形成されている。該環式基としては、4〜7員環が好ましく、4〜6員環がより好ましい。
Examples of the alkoxyalkyloxy group in which the hydrogen atom of the aryl group may be substituted include, for example, —O—C (R 47 ) (R 48 ) —O—R 49 wherein R 47 and R 48 are each It is independently a hydrogen atom or a linear or branched alkyl group, R 49 is an alkyl group, and R 48 and R 49 may be bonded to each other to form one ring structure. However, at least one of R 47 and R 48 is a hydrogen atom. ].
In R 47 and R 48 , the alkyl group preferably has 1 to 5 carbon atoms, preferably an ethyl group or a methyl group, and most preferably a methyl group.
One of R 47 and R 48 is preferably a hydrogen atom, the other is preferably a hydrogen atom or a methyl group, and both R 47 and R 48 are particularly preferably hydrogen atoms.
The alkyl group for R 49 preferably has 1 to 15 carbon atoms and may be linear, branched or cyclic.
The linear or branched alkyl group for R 49 preferably has 1 to 5 carbon atoms, and examples thereof include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, and a tert-butyl group. Can be mentioned.
The cyclic alkyl group for R 49 preferably has 4 to 15 carbon atoms, more preferably 4 to 12 carbon atoms, and most preferably 5 to 10 carbon atoms.
Specifically, monocycloalkane, bicycloalkane, tricycloalkane, tetracycloalkane, etc., which may or may not be substituted with an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom or a fluorinated alkyl group, etc. And a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from the polycycloalkane. Examples of the monocycloalkane include cyclopentane and cyclohexane. Examples of the polycycloalkane include adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane. Among them, a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from adamantane is preferable.
R 48 and R 49 may be bonded to each other to form one ring structure. In this case, a cyclic group is formed by R 48 , R 49 , the oxygen atom to which R 49 is bonded, and the carbon atom to which the oxygen atom and R 48 are bonded. The cyclic group is preferably a 4- to 7-membered ring, and more preferably a 4- to 6-membered ring.

前記アリール基の水素原子が置換されていてもよい−O−R50−CO−O−R51中、R50におけるアルキレン基は、直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基が好ましく、その炭素数は1〜5が好ましい。該アルキレン基としては、例えば、メチレン基、エチレン基、トリメチレン基、テトラメチレン基、1,1−ジメチルエチレン基などが挙げられる。
51における酸解離性基としては、酸(露光時に(B)成分から発生する酸)の作用により解離しうる有機基であれば特に限定されず、たとえば前記(A)成分の説明で挙げた酸解離性溶解抑制基と同様のものが挙げられる。中でも、第3級アルキルエステル型のものが好ましい。
前記アリール基の水素原子が置換されていてもよい−O−R52−CO−O−R53中、R52におけるアルキレン基は、前記−O−R50−CO−O−R51中のR50におけるアルキレン基と同様のものが挙げられる。
53における炭化水素基としては、特に限定されず、たとえば後述するR”の説明で置換基として挙げる式:X−Q−中のXと同様のものが挙げられる。
In —O—R 50 —CO—O—R 51 in which the hydrogen atom of the aryl group may be substituted, the alkylene group in R 50 is preferably a linear or branched alkylene group, and the carbon number thereof 1-5 are preferable. Examples of the alkylene group include a methylene group, an ethylene group, a trimethylene group, a tetramethylene group, and a 1,1-dimethylethylene group.
The acid dissociable group in R 51 is not particularly limited as long as it is an organic group that can be dissociated by the action of an acid (acid generated from the component (B) at the time of exposure). Examples include the same acid dissociable, dissolution inhibiting groups. Among them, the tertiary alkyl ester type is preferable.
In —O—R 52 —CO—O—R 53 in which the hydrogen atom of the aryl group may be substituted, the alkylene group in R 52 is R in the above —O—R 50 —CO—O—R 51. The same alkylene group as 50 can be mentioned.
The hydrocarbon group for R 53 is not particularly limited, and examples thereof include those similar to X in the formula: XQ 1 — as a substituent in the description of R 4 ″ described later.

”〜R”のアルキル基としては、特に制限はなく、例えば炭素数1〜10の直鎖状、分岐鎖状または環状のアルキル基等が挙げられる。解像性に優れる点から、炭素数1〜5であることが好ましい。具体的には、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、n−ペンチル基、シクロペンチル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、ノニル基、デカニル基等が挙げられ、解像性に優れ、また安価に合成可能なことから好ましいものとして、メチル基を挙げることができる。
該アルキル基は、置換基を有していてもよい。「置換基を有する」とは、当該アルキル基の水素原子の一部または全部が置換基で置換されていることを意味し、該置換基としては、前記アリール基が有していてもよい置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
The alkyl group for R 1 "~R 3", is not particularly limited, for example, linear C1-10, branched or cyclic alkyl group, and the like. It is preferable that it is C1-C5 from the point which is excellent in resolution. Specific examples include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, an n-pentyl group, a cyclopentyl group, a hexyl group, a cyclohexyl group, a nonyl group, and a decanyl group. A methyl group is preferable because it is excellent in resolution and can be synthesized at low cost.
The alkyl group may have a substituent. “Having a substituent” means that part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group are substituted with a substituent, and the substituent may be a substituent that the aryl group may have. The thing similar to what was mentioned as group is mentioned.

式(b−1)におけるR”〜R”のうち、いずれか2つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成する場合、イオウ原子を含めて3〜10員環を形成していることが好ましく、5〜7員環を形成していることが特に好ましい。
式(b−1)におけるR”〜R”のうち、いずれか2つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成する場合、残りの1つは、アリール基であることが好ましい。前記アリール基は、前記R”〜R”のアリール基と同様のものが挙げられる。
When any two of R 1 ″ to R 3 ″ in formula (b-1) are bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula, a 3 to 10 membered ring including the sulfur atom is formed. It is preferable that a 5- to 7-membered ring is formed.
When any two of R 1 ″ to R 3 ″ in formula (b-1) are bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula, the remaining one may be an aryl group preferable. Examples of the aryl group are the same as the aryl groups of R 1 ″ to R 3 ″.

式(b−1)で表される化合物のカチオン部のうち、R”〜R”が全て、置換基を有していてもよいフェニル基である場合、つまり当該カチオン部がトリフェニルメタン骨格を有する場合の好ましい具体例としては、たとえば、下記式(I−1−1)〜(I−1−13)で表されるカチオン部が挙げられる。
また、これらのカチオン部におけるフェニル基の一部または全部が、置換基を有していてもよいナフチル基で置換されたものも好ましいものとして挙げられる。3つのフェニル基のうち、ナフチル基で置換されるのは、1または2が好ましい。
Of the cation moiety of the compound represented by formula (b-1), when R 1 ″ to R 3 ″ are all phenyl groups that may have a substituent, that is, the cation moiety is triphenylmethane. Preferable specific examples in the case of having a skeleton include, for example, cation moieties represented by the following formulas (I-1-1) to (I-1-13).
Moreover, what substituted a part or all of the phenyl group in these cation parts with the naphthyl group which may have a substituent is mentioned as a preferable thing. Of the three phenyl groups, 1 or 2 is preferably substituted with the naphthyl group.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

また、式(b−1)で表される化合物のカチオン部のうち、R”〜R”のうちのいずれか2つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成している場合の好ましい具体例としては、たとえば、下記式(I−2−1)〜(I−2−2)で表されるカチオン部が挙げられる。
下記式(I−2−1)中、Rは、置換基を有していてもよいフェニル基、ナフチル基または炭素数1〜5のアルキル基である。
下記式(I−2−2)中、R10は、置換基を有していてもよいフェニル基、ナフチル基、炭素数1〜5のアルキル基、アルコキシ基または水酸基である。
uは1〜3の整数であり、1または2が最も好ましい。
Moreover, among the cation moieties of the compound represented by the formula (b-1), any two of R 1 ″ to R 3 ″ are bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula. Preferred specific examples of the case include, for example, cation moieties represented by the following formulas (I-2-1) to (I-2-2).
In the following formula (I-2-1), R 9 is a phenyl group, a naphthyl group, or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms which may have a substituent.
In the following formula (I-2-2), R 10 is an optionally substituted phenyl group, naphthyl group, C 1-5 alkyl group, alkoxy group or hydroxyl group.
u is an integer of 1 to 3, and 1 or 2 is most preferable.

Figure 2011117987
[式中、Rは、置換基を有していてもよいフェニル基、ナフチル基または炭素数1〜5のアルキル基であり、R10は、置換基を有していてもよいフェニル基、ナフチル基、炭素数1〜5のアルキル基、アルコキシ基または水酸基であり、uは1〜3の整数である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R 9 is a phenyl group optionally having a substituent, a naphthyl group or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and R 10 is a phenyl group optionally having a substituent, A naphthyl group, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group or a hydroxyl group, and u is an integer of 1 to 3; ]

”は、置換基を有していても良いアルキル基、ハロゲン化アルキル基、アリール基、またはアルケニル基を表す。
”におけるアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであっても良い。
前記直鎖状または分岐鎖状のアルキル基としては、炭素数1〜10であることが好ましく、炭素数1〜8であることがさらに好ましく、炭素数1〜4であることが最も好ましい。
前記環状のアルキル基としては、炭素数4〜15であることが好ましく、炭素数4〜10であることがさらに好ましく、炭素数6〜10であることが最も好ましい。
”におけるハロゲン化アルキル基としては、前記直鎖状、分岐鎖状若しくは環状のアルキル基の水素原子の一部または全部がハロゲン原子で置換された基が挙げられる。該ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
ハロゲン化アルキル基においては、当該ハロゲン化アルキル基に含まれるハロゲン原子および水素原子の合計数に対するハロゲン原子の数の割合(ハロゲン化率(%))が、10〜100%であることが好ましく、50〜100%であることが好ましく、100%が最も好ましい。該ハロゲン化率が高いほど、酸の強度が強くなるので好ましい。
前記R”におけるアリール基は、炭素数6〜20のアリール基であることが好ましい。
前記R”におけるアルケニル基は、炭素数2〜10のアルケニル基であることが好ましい。
前記R”において、「置換基を有していても良い」とは、前記直鎖状、分岐鎖状若しくは環状のアルキル基、ハロゲン化アルキル基、アリール基、またはアルケニル基における水素原子の一部または全部が置換基(水素原子以外の他の原子または基)で置換されていても良いことを意味する。
”における置換基の数は1つであってもよく、2つ以上であってもよい。
R 4 ″ represents an alkyl group, a halogenated alkyl group, an aryl group, or an alkenyl group which may have a substituent.
The alkyl group for R 4 ″ may be linear, branched or cyclic.
The linear or branched alkyl group preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8 carbon atoms, and most preferably 1 to 4 carbon atoms.
The cyclic alkyl group preferably has 4 to 15 carbon atoms, more preferably 4 to 10 carbon atoms, and most preferably 6 to 10 carbon atoms.
Examples of the halogenated alkyl group for R 4 ″ include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the linear, branched, or cyclic alkyl group have been substituted with halogen atoms. A fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom, etc. are mentioned, A fluorine atom is preferable.
In the halogenated alkyl group, the ratio of the number of halogen atoms to the total number of halogen atoms and hydrogen atoms contained in the halogenated alkyl group (halogenation rate (%)) is preferably 10 to 100%. It is preferable that it is 50 to 100%, and 100% is the most preferable. The higher the halogenation rate, the more preferable the strength of the acid.
The aryl group for R 4 ″ is preferably an aryl group having 6 to 20 carbon atoms.
The alkenyl group in R 4 ″ is preferably an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms.
In the above R 4 ″, “optionally substituted” means one of hydrogen atoms in the linear, branched or cyclic alkyl group, halogenated alkyl group, aryl group, or alkenyl group. It means that part or all may be substituted with a substituent (an atom or group other than a hydrogen atom).
The number of substituents in R 4 ″ may be one, or two or more.

前記置換基としては、例えば、ハロゲン原子、ヘテロ原子、置換基を有していても良いアルキル基、式:X−Q−[式中、Qは酸素原子を含む2価の連結基であり、Xは置換基を有していてもよい炭素数3〜30の炭化水素基である。]で表される基等が挙げられる。
前記ハロゲン原子としては、R”において、ハロゲン化アルキル基におけるハロゲン原子として挙げたもの同様のものが挙げられる。
前記ヘテロ原子としては、酸素原子、窒素原子、硫黄原子等が挙げられる。
前記アルキル基としては、R”における「置換基を有していても良いアルキル基」として挙げたものと同様のものが挙げられる。
Examples of the substituent include a halogen atom, a hetero atom, an alkyl group which may have a substituent, a formula: XQ 1- [where Q 1 is a divalent linking group containing an oxygen atom. Yes, X is a C3-C30 hydrocarbon group which may have a substituent. ] Etc. which are represented by these.
Examples of the halogen atom include those similar to those exemplified as the halogen atom in the halogenated alkyl group in R 4 ″.
Examples of the hetero atom include an oxygen atom, a nitrogen atom, and a sulfur atom.
Examples of the alkyl group include the same groups as those described above as the “alkyl group optionally having substituent (s)” for R 4 ″.

X−Q−で表される基において、Qは酸素原子を含む2価の連結基である。
は、酸素原子以外の原子を含有してもよい。酸素原子以外の原子としては、たとえば炭素原子、水素原子、酸素原子、硫黄原子、窒素原子等が挙げられる。
酸素原子を含む2価の連結基としては、たとえば、酸素原子(エーテル結合;−O−)、エステル結合(−C(=O)−O−)、アミド結合(−C(=O)−NH−)、カルボニル基(−C(=O)−)、カーボネート結合(−O−C(=O)−O−)等の非炭化水素系の酸素原子含有連結基;該非炭化水素系の酸素原子含有連結基とアルキレン基との組み合わせ等が挙げられる。
該組み合わせとしては、たとえば、−R91−O−、−R92−O−C(=O)−、−C(=O)−O−R93−、−C(=O)−O−R93−O−C(=O)−(式中、R91〜R93はそれぞれ独立にアルキレン基である。)等が挙げられる。
91〜R93におけるアルキレン基としては、直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基が好ましく、該アルキレン基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜5がより好ましく、1〜3が特に好ましい。
該アルキレン基として、具体的には、たとえばメチレン基[−CH−];−CH(CH)−、−CH(CHCH)−、−C(CH−、−C(CH)(CHCH)−、−C(CH)(CHCHCH)−、−C(CHCH−等のアルキルメチレン基;エチレン基[−CHCH−];−CH(CH)CH−、−CH(CH)CH(CH)−、−C(CHCH−、−CH(CHCH)CH−、−C(CHCHCH−等のアルキルエチレン基;トリメチレン基(n−プロピレン基)[−CHCHCH−];−CH(CH)CHCH−、−CHCH(CH)CH−等のアルキルトリメチレン基;テトラメチレン基[−CHCHCHCH−];−CH(CH)CHCHCH−、−CHCH(CH)CHCH−等のアルキルテトラメチレン基;ペンタメチレン基[−CHCHCHCHCH−]等が挙げられる。
としては、エステル結合またはエーテル結合を含む2価の連結基が好ましく、なかでも、−R91−O−、−R92−O−C(=O)−、−C(=O)−O−、−C(=O)−O−R93−または−C(=O)−O−R93−O−C(=O)−が好ましい。
X-Q 1 - In the group represented by, Q 1 represents a divalent linking group containing an oxygen atom.
Q 1 may contain an atom other than an oxygen atom. Examples of atoms other than oxygen atoms include carbon atoms, hydrogen atoms, oxygen atoms, sulfur atoms, and nitrogen atoms.
Examples of the divalent linking group containing an oxygen atom include an oxygen atom (ether bond; —O—), an ester bond (—C (═O) —O—), and an amide bond (—C (═O) —NH. -), A carbonyl group (-C (= O)-), a non-hydrocarbon oxygen atom-containing linking group such as a carbonate bond (-O-C (= O) -O-); the non-hydrocarbon oxygen atom Examples include a combination of a containing linking group and an alkylene group.
Examples of the combination include —R 91 —O—, —R 92 —O—C (═O) —, —C (═O) —O—R 93 —, —C (═O) —O—R. 93 —O—C (═O) — (wherein R 91 to R 93 are each independently an alkylene group).
The alkylene group for R 91 to R 93 is preferably a linear or branched alkylene group, and the alkylene group preferably has 1 to 12 carbon atoms, more preferably 1 to 5 carbon atoms, and particularly preferably 1 to 3 carbon atoms. preferable.
Specific examples of the alkylene group include a methylene group [—CH 2 —]; —CH (CH 3 ) —, —CH (CH 2 CH 3 ) —, —C (CH 3 ) 2 —, —C ( CH 3) (CH 2 CH 3 ) -, - C (CH 3) (CH 2 CH 2 CH 3) -, - C (CH 2 CH 3) 2 - ; alkylethylene groups such as ethylene group [-CH 2 CH 2— ]; —CH (CH 3 ) CH 2 —, —CH (CH 3 ) CH (CH 3 ) —, —C (CH 3 ) 2 CH 2 —, —CH (CH 2 CH 3 ) CH 2 —, Alkylethylene groups such as —C (CH 2 CH 3 ) 2 CH 2 —; trimethylene group (n-propylene group) [—CH 2 CH 2 CH 2 —]; —CH (CH 3 ) CH 2 CH 2 —, — Alkyl trimethylene groups such as CH 2 CH (CH 3 ) CH 2 —; A tetramethylene group [—CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 —]; an alkyl tetramethylene group such as —CH (CH 3 ) CH 2 CH 2 CH 2 —, —CH 2 CH (CH 3 ) CH 2 CH 2 —; A pentamethylene group [—CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 —] and the like can be mentioned.
Q 1 is preferably a divalent linking group containing an ester bond or an ether bond. Among them, —R 91 —O—, —R 92 —O—C (═O) —, —C (═O) — O—, —C (═O) —O—R 93 — or —C (═O) —O—R 93 —O—C (═O) — is preferred.

X−Q−で表される基において、Xの炭化水素基は、芳香族炭化水素基であってもよく、脂肪族炭化水素基であってもよい。
芳香族炭化水素基は、芳香環を有する炭化水素基である。該芳香族炭化水素基の炭素数は3〜30であることが好ましく、5〜30であることがより好ましく、5〜20がさらに好ましく、6〜15が特に好ましく、6〜12が最も好ましい。ただし、該炭素数には、置換基における炭素数を含まないものとする。
芳香族炭化水素基として、具体的には、フェニル基、ビフェニル(biphenyl)基、フルオレニル(fluorenyl)基、ナフチル基、アントリル(anthryl)基、フェナントリル基等の、芳香族炭化水素環から水素原子を1つ除いたアリール基、ベンジル基、フェネチル基、1−ナフチルメチル基、2−ナフチルメチル基、1−ナフチルエチル基、2−ナフチルエチル基等のアリールアルキル基等が挙げられる。前記アリールアルキル基中のアルキル鎖の炭素数は、1〜4であることが好ましく、1〜2であることがより好ましく、1であることが特に好ましい。
該芳香族炭化水素基は、置換基を有していてもよい。たとえば当該芳香族炭化水素基が有する芳香環を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子で置換されていてもよく、当該芳香族炭化水素基が有する芳香環に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよい。
前者の例としては、前記アリール基の環を構成する炭素原子の一部が酸素原子、硫黄原子、窒素原子等のヘテロ原子で置換されたヘテロアリール基、前記アリールアルキル基中の芳香族炭化水素環を構成する炭素原子の一部が前記ヘテロ原子で置換されたヘテロアリールアルキル基等が挙げられる。
後者の例における芳香族炭化水素基の置換基としては、たとえば、アルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることが最も好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのアルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が最も好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
In the group represented by XQ 1- , the hydrocarbon group of X may be an aromatic hydrocarbon group or an aliphatic hydrocarbon group.
The aromatic hydrocarbon group is a hydrocarbon group having an aromatic ring. The aromatic hydrocarbon group preferably has 3 to 30 carbon atoms, more preferably 5 to 30, more preferably 5 to 20, still more preferably 6 to 15, and most preferably 6 to 12. However, the carbon number does not include the carbon number in the substituent.
Specific examples of the aromatic hydrocarbon group include a hydrogen atom from an aromatic hydrocarbon ring such as a phenyl group, a biphenyl group, a fluorenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, and a phenanthryl group. Aryl groups such as aryl group, benzyl group, phenethyl group, 1-naphthylmethyl group, 2-naphthylmethyl group, 1-naphthylethyl group, 2-naphthylethyl group, etc., from which one is removed. The number of carbon atoms of the alkyl chain in the arylalkyl group is preferably 1 to 4, more preferably 1 to 2, and particularly preferably 1.
The aromatic hydrocarbon group may have a substituent. For example, a part of carbon atoms constituting the aromatic ring of the aromatic hydrocarbon group may be substituted with a hetero atom, and the hydrogen atom bonded to the aromatic ring of the aromatic hydrocarbon group is substituted with the substituent. May be.
Examples of the former include heteroaryl groups in which some of the carbon atoms constituting the ring of the aryl group are substituted with heteroatoms such as oxygen atoms, sulfur atoms, nitrogen atoms, and aromatic hydrocarbons in the arylalkyl groups. Examples include heteroarylalkyl groups in which a part of carbon atoms constituting the ring is substituted with the heteroatom.
Examples of the substituent of the aromatic hydrocarbon group in the latter example include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, and an oxygen atom (═O).
The alkyl group as a substituent of the aromatic hydrocarbon group is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and most preferably a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group. preferable.
The alkoxy group as a substituent of the aromatic hydrocarbon group is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, and is a methoxy group, ethoxy group, n-propoxy group, iso-propoxy group, n-butoxy group, tert- A butoxy group is preferable, and a methoxy group and an ethoxy group are most preferable.
Examples of the halogen atom as a substituent for the aromatic hydrocarbon group include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
Examples of the halogenated alkyl group as the substituent of the aromatic hydrocarbon group include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group have been substituted with the halogen atoms.

Xにおける脂肪族炭化水素基は、飽和脂肪族炭化水素基であってもよく、不飽和脂肪族炭化水素基であってもよい。また、脂肪族炭化水素基は、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。
Xにおいて、脂肪族炭化水素基は、当該脂肪族炭化水素基を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子を含む置換基で置換されていてもよく、当該脂肪族炭化水素基を構成する水素原子の一部または全部がヘテロ原子を含む置換基で置換されていてもよい。
Xにおける「ヘテロ原子」としては、炭素原子および水素原子以外の原子であれば特に限定されず、たとえばハロゲン原子、酸素原子、硫黄原子、窒素原子等が挙げられる。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、ヨウ素原子、臭素原子等が挙げられる。
ヘテロ原子を含む置換基は、前記ヘテロ原子のみからなるものであってもよく、前記ヘテロ原子以外の基または原子を含む基であってもよい。
炭素原子の一部を置換する置換基として、具体的には、たとえば−O−、−C(=O)−O−、−C(=O)−、−O−C(=O)−O−、−C(=O)−NH−、−NH−(Hがアルキル基、アシル基等の置換基で置換されていてもよい)、−S−、−S(=O)−、−S(=O)−O−等が挙げられる。脂肪族炭化水素基が環状である場合、これらの置換基を環構造中に含んでいてもよい。
水素原子の一部または全部を置換する置換基として、具体的には、たとえばアルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)、シアノ基等が挙げられる。
前記アルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が最も好ましい。
前記ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
前記ハロゲン化アルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基、たとえばメチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基等のアルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
The aliphatic hydrocarbon group for X may be a saturated aliphatic hydrocarbon group or an unsaturated aliphatic hydrocarbon group. The aliphatic hydrocarbon group may be linear, branched or cyclic.
In X, the aliphatic hydrocarbon group may have a part of the carbon atoms constituting the aliphatic hydrocarbon group substituted by a substituent containing a hetero atom, and the hydrogen atom constituting the aliphatic hydrocarbon group May be substituted with a substituent containing a hetero atom.
The “heteroatom” in X is not particularly limited as long as it is an atom other than a carbon atom and a hydrogen atom, and examples thereof include a halogen atom, an oxygen atom, a sulfur atom, and a nitrogen atom. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, an iodine atom, and a bromine atom.
The substituent containing a hetero atom may be composed only of the hetero atom, or may be a group containing a group or atom other than the hetero atom.
Specific examples of the substituent for substituting a part of carbon atoms include, for example, —O—, —C (═O) —O—, —C (═O) —, —O—C (═O) —O. —, —C (═O) —NH—, —NH— (H may be substituted with a substituent such as an alkyl group, an acyl group, etc.), —S—, —S (═O) 2 —, — S (= O) 2- O- etc. are mentioned. When the aliphatic hydrocarbon group is cyclic, these substituents may be included in the ring structure.
Specific examples of the substituent that substitutes part or all of the hydrogen atoms include an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, an oxygen atom (═O), and a cyano group.
The alkoxy group is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, preferably a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an iso-propoxy group, an n-butoxy group or a tert-butoxy group, and a methoxy group or an ethoxy group. Is most preferred.
As said halogen atom, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom, etc. are mentioned, A fluorine atom is preferable.
As the halogenated alkyl group, a part or all of hydrogen atoms of an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, a tert-butyl group, etc. And a group substituted with a halogen atom.

脂肪族炭化水素基としては、直鎖状もしくは分岐鎖状の飽和炭化水素基、直鎖状もしくは分岐鎖状の1価の不飽和炭化水素基、または環状の脂肪族炭化水素基(脂肪族環式基)が好ましい。
直鎖状の飽和炭化水素基(アルキル基)としては、炭素数が1〜20であることが好ましく、1〜15であることがより好ましく、1〜10が最も好ましい。具体的には、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デカニル基、ウンデシル基、ドデシル基、トリデシル基、イソトリデシル基、テトラデシル基、ペンタデシル基、ヘキサデシル基、イソヘキサデシル基、ヘプタデシル基、オクタデシル基、ノナデシル基、イコシル基、ヘンイコシル基、ドコシル基等が挙げられる。
分岐鎖状の飽和炭化水素基(アルキル基)としては、炭素数が3〜20であることが好ましく、3〜15であることがより好ましく、3〜10が最も好ましい。具体的には、例えば、1−メチルエチル基、1−メチルプロピル基、2−メチルプロピル基、1−メチルブチル基、2−メチルブチル基、3−メチルブチル基、1−エチルブチル基、2−エチルブチル基、1−メチルペンチル基、2−メチルペンチル基、3−メチルペンチル基、4−メチルペンチル基などが挙げられる。
Examples of the aliphatic hydrocarbon group include a linear or branched saturated hydrocarbon group, a linear or branched monovalent unsaturated hydrocarbon group, or a cyclic aliphatic hydrocarbon group (aliphatic ring). Formula group) is preferred.
The linear saturated hydrocarbon group (alkyl group) preferably has 1 to 20 carbon atoms, more preferably 1 to 15 carbon atoms, and most preferably 1 to 10 carbon atoms. Specifically, for example, methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group, decanyl group, undecyl group, dodecyl group, tridecyl group, isotridecyl group, tetradecyl group Group, pentadecyl group, hexadecyl group, isohexadecyl group, heptadecyl group, octadecyl group, nonadecyl group, icosyl group, heicosyl group, docosyl group and the like.
The branched saturated hydrocarbon group (alkyl group) preferably has 3 to 20 carbon atoms, more preferably 3 to 15 carbon atoms, and most preferably 3 to 10 carbon atoms. Specifically, for example, 1-methylethyl group, 1-methylpropyl group, 2-methylpropyl group, 1-methylbutyl group, 2-methylbutyl group, 3-methylbutyl group, 1-ethylbutyl group, 2-ethylbutyl group, Examples include 1-methylpentyl group, 2-methylpentyl group, 3-methylpentyl group, 4-methylpentyl group and the like.

不飽和炭化水素基としては、炭素数が2〜10であることが好ましく、2〜5が好ましく、2〜4が好ましく、3が特に好ましい。直鎖状の1価の不飽和炭化水素基としては、例えば、ビニル基、プロペニル基(アリル基)、ブチニル基などが挙げられる。分岐鎖状の1価の不飽和炭化水素基としては、例えば、1−メチルプロペニル基、2−メチルプロペニル基などが挙げられる。
不飽和炭化水素基としては、上記の中でも、特にプロペニル基が好ましい。
As an unsaturated hydrocarbon group, it is preferable that carbon number is 2-10, 2-5 are preferable, 2-4 are preferable, and 3 is especially preferable. Examples of the linear monovalent unsaturated hydrocarbon group include a vinyl group, a propenyl group (allyl group), and a butynyl group. Examples of the branched monovalent unsaturated hydrocarbon group include a 1-methylpropenyl group and a 2-methylpropenyl group.
Among the above, the unsaturated hydrocarbon group is particularly preferably a propenyl group.

脂肪族環式基としては、単環式基であってもよく、多環式基であってもよい。その炭素数は3〜30であることが好ましく、5〜30であることがより好ましく、5〜20がさらに好ましく、6〜15が特に好ましく、6〜12が最も好ましい。
具体的には、たとえば、モノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基;ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基;アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。
脂肪族環式基が、その環構造中にヘテロ原子を含む置換基を含まない場合は、脂肪族環式基としては、多環式基が好ましく、ポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましく、アダマンタンから1個以上の水素原子を除いた基が最も好ましい。
脂肪族環式基が、その環構造中にヘテロ原子を含む置換基を含むものである場合、該ヘテロ原子を含む置換基としては、−O−、−C(=O)−O−、−S−、−S(=O)−、−S(=O)−O−が好ましい。かかる脂肪族環式基の具体例としては、たとえば下記式(L1)〜(L5)、(S1)〜(S4)等が挙げられる。
The aliphatic cyclic group may be a monocyclic group or a polycyclic group. The number of carbon atoms is preferably 3 to 30, more preferably 5 to 30, further preferably 5 to 20, particularly preferably 6 to 15, and most preferably 6 to 12.
Specifically, for example, a group in which one or more hydrogen atoms are removed from a monocycloalkane; a group in which one or more hydrogen atoms are removed from a polycycloalkane such as bicycloalkane, tricycloalkane, tetracycloalkane, etc. Can be mentioned. More specifically, a group in which one or more hydrogen atoms have been removed from a monocycloalkane such as cyclopentane or cyclohexane; one or more polycycloalkanes such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, or tetracyclododecane. Examples include a group excluding a hydrogen atom.
When the aliphatic cyclic group does not contain a substituent containing a hetero atom in the ring structure, the aliphatic cyclic group is preferably a polycyclic group, and has one or more hydrogen atoms from the polycycloalkane. Excluded groups are preferred, and most preferred are groups obtained by removing one or more hydrogen atoms from adamantane.
When the aliphatic cyclic group includes a substituent containing a hetero atom in the ring structure, examples of the substituent containing a hetero atom include —O—, —C (═O) —O—, —S—. , —S (═O) 2 — and —S (═O) 2 —O— are preferable. Specific examples of the aliphatic cyclic group include the following formulas (L1) to (L5), (S1) to (S4), and the like.

Figure 2011117987
[式中、Q”は炭素数1〜5のアルキレン基、−O−、−S−、−O−R94−または−S−R95−であり、R94およびR95はそれぞれ独立に炭素数1〜5のアルキレン基であり、mは0または1の整数である。]
Figure 2011117987
[Wherein, Q ″ is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, —O—, —S—, —O—R 94 — or —S—R 95 —, and R 94 and R 95 are each independently carbon. An alkylene group of 1 to 5 and m is an integer of 0 or 1.]

式中、Q”、R94およびR95におけるアルキレン基としては、それぞれ、前記R91〜R93におけるアルキレン基と同様のものが挙げられる。
これらの脂肪族環式基は、その環構造を構成する炭素原子に結合した水素原子の一部が置換基で置換されていてもよい。該置換基としては、たとえばアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
前記アルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることが特に好ましい。
前記アルコキシ基、ハロゲン原子はそれぞれ前記水素原子の一部または全部を置換する置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
In the formula, examples of the alkylene group for Q ″, R 94 and R 95 include the same alkylene groups as those described above for R 91 to R 93 .
In these aliphatic cyclic groups, a part of hydrogen atoms bonded to carbon atoms constituting the ring structure may be substituted with a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, and an oxygen atom (═O).
The alkyl group is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, particularly preferably a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group.
Examples of the alkoxy group and the halogen atom are the same as those exemplified as the substituent for substituting part or all of the hydrogen atoms.

本発明において、Xは、置換基を有していてもよい環式基であることが好ましい。該環式基は、置換基を有していてもよい芳香族炭化水素基であってもよく、置換基を有していてもよい脂肪族環式基であってもよく、置換基を有していてもよい脂肪族環式基であることが好ましい。
前記芳香族炭化水素基としては、置換基を有していてもよいナフチル基、または置換基を有していてもよいフェニル基が好ましい。
置換基を有していてもよい脂肪族環式基としては、置換基を有していてもよい多環式の脂肪族環式基が好ましい。該多環式の脂肪族環式基としては、前記ポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基、前記(L2)〜(L5)、(S3)〜(S4)等が好ましい。
In the present invention, X is preferably a cyclic group which may have a substituent. The cyclic group may be an aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, an aliphatic cyclic group which may have a substituent, or a substituent. It is preferably an aliphatic cyclic group that may be used.
The aromatic hydrocarbon group is preferably a naphthyl group which may have a substituent or a phenyl group which may have a substituent.
As the aliphatic cyclic group which may have a substituent, a polycyclic aliphatic cyclic group which may have a substituent is preferable. The polycyclic aliphatic cyclic group is preferably a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from the polycycloalkane, (L2) to (L5), (S3) to (S4), and the like.

本発明において、R”は、置換基としてX−Q−を有することが好ましい。この場合、R”としては、X−Q−Y−[式中、QおよびXは前記と同じであり、Yは置換基を有していてもよい炭素数1〜4のアルキレン基または置換基を有していてもよい炭素数1〜4のフッ素化アルキレン基である。]で表される基が好ましい。
X−Q−Y−で表される基において、Yのアルキレン基としては、前記Qで挙げたアルキレン基のうち炭素数1〜4のものと同様のものが挙げられる。
フッ素化アルキレン基としては、該アルキレン基の水素原子の一部または全部がフッ素原子で置換された基が挙げられる。
として、具体的には、−CF−、−CFCF−、−CFCFCF−、−CF(CF)CF−、−CF(CFCF)−、−C(CF−、−CFCFCFCF−、−CF(CF)CFCF−、−CFCF(CF)CF−、−CF(CF)CF(CF)−、−C(CFCF−、−CF(CFCF)CF−、−CF(CFCFCF)−、−C(CF)(CFCF)−;−CHF−、−CHCF−、−CHCHCF−、−CHCFCF−、−CH(CF)CH−、−CH(CFCF)−、−C(CH)(CF)−、−CHCHCHCF−、−CHCHCFCF−、−CH(CF)CHCH−、−CHCH(CF)CH−、−CH(CF)CH(CF)−、−C(CFCH−;−CH−、−CHCH−、−CHCHCH−、−CH(CH)CH−、−CH(CHCH)−、−C(CH−、−CHCHCHCH−、−CH(CH)CHCH−、−CHCH(CH)CH−、−CH(CH)CH(CH)−、−C(CHCH−、−CH(CHCH)CH−、−CH(CHCHCH)−、−C(CH)(CHCH)−等が挙げられる。
In the present invention, R 4 ", X-Q 1 - as a substituent preferably has the case, R 4." The, X-Q 1 -Y 1 - in the Formula, Q 1 and X are the Y 1 is an optionally substituted alkylene group having 1 to 4 carbon atoms or an optionally substituted fluorinated alkylene group having 1 to 4 carbon atoms. ] Is preferable.
In the group represented by XQ 1 -Y 1- , the alkylene group for Y 1 includes the same alkylene groups as those described above for Q 1 having 1 to 4 carbon atoms.
Examples of the fluorinated alkylene group include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkylene group have been substituted with fluorine atoms.
As Y 1, specifically, -CF 2 -, - CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 -, - CF (CF 3) CF 2 -, - CF (CF 2 CF 3) -, -C (CF 3) 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 -, - CF (CF 3) CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF (CF 3) CF 2 -, - CF (CF 3) CF (CF 3 ) —, —C (CF 3 ) 2 CF 2 —, —CF (CF 2 CF 3 ) CF 2 —, —CF (CF 2 CF 2 CF 3 ) —, —C (CF 3 ) (CF 2 CF 3) -; - CHF -, - CH 2 CF 2 -, - CH 2 CH 2 CF 2 -, - CH 2 CF 2 CF 2 -, - CH (CF 3) CH 2 -, - CH (CF 2 CF 3) -, - C ( CH 3) (CF 3) -, - CH 2 CH 2 CH 2 CF 2 -, - C H 2 CH 2 CF 2 CF 2 —, —CH (CF 3 ) CH 2 CH 2 —, —CH 2 CH (CF 3 ) CH 2 —, —CH (CF 3 ) CH (CF 3 ) —, —C ( CF 3) 2 CH 2 -; - CH 2 -, - CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH 2 CH 2 -, - CH (CH 3) CH 2 -, - CH (CH 2 CH 3) -, - C (CH 3) 2 -, - CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 -, - CH (CH 3) CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH (CH 3) CH 2 -, - CH (CH 3) CH (CH 3) -, - C (CH 3) 2 CH 2 -, - CH (CH 2 CH 3) CH 2 -, - CH (CH 2 CH 2 CH 3) -, - C (CH 3) (CH 2 CH 3 ) — and the like.

としては、フッ素化アルキレン基が好ましく、特に、隣接する硫黄原子に結合する炭素原子がフッ素化されているフッ素化アルキレン基が好ましい。このようなフッ素化アルキレン基としては、−CF−、−CFCF−、−CFCFCF−、−CF(CF)CF−、−CFCFCFCF−、−CF(CF)CFCF−、−CFCF(CF)CF−、−CF(CF)CF(CF)−、−C(CFCF−、−CF(CFCF)CF−;−CHCF−、−CHCHCF−、−CHCFCF−;−CHCHCHCF−、−CHCHCFCF−、−CHCFCFCF−等を挙げることができる。
これらの中でも、−CF−、−CFCF−、−CFCFCF−、又はCHCFCF−が好ましく、−CF−、−CFCF−又は−CFCFCF−がより好ましく、−CF−が特に好ましい。
Y 1 is preferably a fluorinated alkylene group, and particularly preferably a fluorinated alkylene group in which the carbon atom bonded to the adjacent sulfur atom is fluorinated. Examples of such fluorinated alkylene group, -CF 2 -, - CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 -, - CF (CF 3) CF 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 -, - CF (CF 3) CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF (CF 3) CF 2 -, - CF (CF 3) CF (CF 3) -, - C (CF 3) 2 CF 2 -, -CF (CF 2 CF 3) CF 2 -; - CH 2 CF 2 -, - CH 2 CH 2 CF 2 -, - CH 2 CF 2 CF 2 -; - CH 2 CH 2 CH 2 CF 2 -, - CH 2 CH 2 CF 2 CF 2 —, —CH 2 CF 2 CF 2 CF 2 — and the like can be mentioned.
Of these, -CF 2 -, - CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 -, or CH 2 CF 2 CF 2 - is preferable, -CF 2 -, - CF 2 CF 2 - or -CF 2 CF 2 CF 2 - is more preferable, -CF 2 - is particularly preferred.

前記アルキレン基またはフッ素化アルキレン基は、置換基を有していてもよい。アルキレン基またはフッ素化アルキレン基が「置換基を有する」とは、当該アルキレン基またはフッ素化アルキレン基における水素原子またはフッ素原子の一部または全部が、水素原子およびフッ素原子以外の原子または基で置換されていることを意味する。
アルキレン基またはフッ素化アルキレン基が有していてもよい置換基としては、炭素数1〜4のアルキル基、炭素数1〜4のアルコキシ基、水酸基等が挙げられる。
The alkylene group or fluorinated alkylene group may have a substituent. An alkylene group or a fluorinated alkylene group has a “substituent” means that part or all of the hydrogen atom or fluorine atom in the alkylene group or fluorinated alkylene group is substituted with an atom or group other than a hydrogen atom and a fluorine atom. Means that
Examples of the substituent that the alkylene group or fluorinated alkylene group may have include an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, and a hydroxyl group.

式(b−2)中、R”〜R”はそれぞれ独立にアリール基またはアルキル基を表す。R”〜R”のうち、少なくとも1つはアリール基を表す。R”〜R”のすべてがアリール基であることが好ましい。
”〜R”のアリール基としては、R”〜R”のアリール基と同様のものが挙げられる。
”〜R”のアルキル基としては、R”〜R”のアルキル基と同様のものが挙げられる。
これらの中で、R”〜R”はすべてフェニル基であることが最も好ましい。
式(b−2)中のR”としては上記式(b−1)のR”と同様のものが挙げられる。
In formula (b-2), R 5 ″ to R 6 ″ each independently represents an aryl group or an alkyl group. At least one of R 5 ″ to R 6 ″ represents an aryl group. It is preferable that all of R 5 ″ to R 6 ″ are aryl groups.
As the aryl group for R 5 ″ to R 6 ″, the same as the aryl groups for R 1 ″ to R 3 ″ can be used.
Examples of the alkyl group for R 5 ″ to R 6 ″ include the same as the alkyl group for R 1 ″ to R 3 ″.
Among these, it is most preferable that all of R 5 ″ to R 6 ″ are phenyl groups.
"As R 4 in the formula (b-1)" R 4 in the In the formula (b-2) include the same as.

式(b−1)、(b−2)で表されるオニウム塩系酸発生剤の具体例としては、ジフェニルヨードニウムのトリフルオロメタンスルホネートまたはノナフルオロブタンスルホネート;ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウムのトリフルオロメタンスルホネートまたはノナフルオロブタンスルホネート;トリフェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;トリ(4−メチルフェニル)スルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;ジメチル(4−ヒドロキシナフチル)スルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;モノフェニルジメチルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;ジフェニルモノメチルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;(4−メチルフェニル)ジフェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;(4−メトキシフェニル)ジフェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;トリ(4−tert−ブチル)フェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;ジフェニル(1−(4−メトキシ)ナフチル)スルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;ジ(1−ナフチル)フェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−フェニルテトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−メチルフェニル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−メトキシナフタレン−1−イル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−エトキシナフタレン−1−イル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−n−ブトキシナフタレン−1−イル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−フェニルテトラヒドロチオピラニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオピラニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオピラニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−メチルフェニル)テトラヒドロチオピラニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート等が挙げられる。
また、これらのオニウム塩のアニオン部をメタンスルホネート、n−プロパンスルホネート、n−ブタンスルホネート、n−オクタンスルホネート、1−アダマンタンスルホネート、2−ノルボルナンスルホネート、d−カンファー−10−スルホネート等の、置換基を有していてもよいアルキルスルホネートに置き換えたオニウム塩も用いることができる。
また、これらのオニウム塩のアニオン部を下記式(b1)〜(b8)のいずれかで表されるアニオン部に置き換えたオニウム塩も用いることができる。
Specific examples of the onium salt acid generators represented by formulas (b-1) and (b-2) include diphenyliodonium trifluoromethanesulfonate or nonafluorobutanesulfonate; bis (4-tert-butylphenyl) iodonium. Trifluoromethane sulfonate or nonafluorobutane sulfonate; triphenylsulfonium trifluoromethane sulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; tri (4-methylphenyl) sulfonium trifluoromethane sulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its Nonafluorobutanesulfonate; dimethyl (4-hydroxynaphthyl) sulfonium trifluoromethanesulfonate, its heptaful Lopropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; trifluoromethane sulfonate of monophenyldimethylsulfonium, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; trifluoromethane sulfonate of diphenyl monomethylsulfonium, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate (4-methylphenyl) diphenylsulfonium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; (4-methoxyphenyl) diphenylsulfonium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; Trifluoromethanesulfonate of tri (4-tert-butyl) phenylsulfonium, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutanesulfonate; trifluoromethanesulfonate of diphenyl (1- (4-methoxy) naphthyl) sulfonium, its heptafluoropropane Sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; trifluoromethane sulfonate of di (1-naphthyl) phenylsulfonium, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; 1-phenyltetrahydrothiophenium trifluoromethane sulfonate, its heptafluoropropane sulfonate Or nonafluorobutanesulfonate thereof; 1- (4-methylphenyl) ) Tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; 1- (3,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropane sulfonate 1- (4-methoxynaphthalen-1-yl) tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropanesulfonate or its nonafluorobutanesulfonate; 1- (4-ethoxynaphthalene-1- Yl) tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropanesulfonate or its nonaflu 1- (4-n-butoxynaphthalen-1-yl) tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropanesulfonate or its nonafluorobutanesulfonate; 1-phenyltetrahydrothiopyranium trifluoromethanesulfonate , Its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; 1- (4-hydroxyphenyl) tetrahydrothiopyranium trifluoromethane sulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; 1- (3,5-dimethyl -4-Hydroxyphenyl) tetrahydrothiopyranium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropanes Honeto or nonafluorobutanesulfonate; 1- (4-methylphenyl) trifluoromethanesulfonate tetrahydrothiophenium Pila chloride, heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate, and the like.
In addition, the anion part of these onium salts is substituted with methanesulfonate, n-propanesulfonate, n-butanesulfonate, n-octanesulfonate, 1-adamantanesulfonate, 2-norbornanesulfonate, d-camphor-10-sulfonate, etc. An onium salt substituted with an alkyl sulfonate which may have a phenotype can also be used.
Moreover, the onium salt which replaced the anion part of these onium salts by the anion part represented by either of following formula (b1)-(b8) can also be used.

Figure 2011117987
[式中、pは1〜3の整数であり、v0は0〜3の整数であり、q1〜q2はそれぞれ独立に1〜5の整数であり、q3は1〜12の整数であり、r1〜r2はそれぞれ独立に0〜3の整数であり、gは1〜20の整数であり、t3は1〜3の整数であり、Rは置換基である。]
Figure 2011117987
[Wherein, p is an integer of 1 to 3, v0 is an integer of 0 to 3, q1 to q2 are each independently an integer of 1 to 5, q3 is an integer of 1 to 12, and r1 ~r2 are each independently an integer of 0 to 3, g is an integer of 1 to 20, t3 is an integer from 1 to 3, R 7 is a substituent. ]

Figure 2011117987
[式中、p、R、Q”はそれぞれ前記と同じであり、n1〜n5はそれぞれ独立に0または1であり、v1〜v5はそれぞれ独立に0〜3の整数であり、w1〜w5はそれぞれ独立に0〜3の整数である。]
Figure 2011117987
[Wherein, p, R 7 and Q ″ are the same as defined above, n1 to n5 are each independently 0 or 1, v1 to v5 are each independently an integer of 0 to 3, w1 to w5 Are each independently an integer of 0 to 3.]

の置換基としては、前記Xにおいて、脂肪族炭化水素基が有していてもよい置換基、芳香族炭化水素基が有していてもよい置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
に付された符号(r1〜r2、w1〜w5)が2以上の整数である場合、当該化合物中の複数のRはそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
r1〜r2、w1〜w5は、それぞれ、0〜2の整数であることが好ましく、0または1であることがより好ましい。
v0〜v5は0〜2が好ましく、0または1が最も好ましい。
t3は、1または2が好ましく、1であることが最も好ましい。
q3は、1〜5であることが好ましく、1〜3であることがさらに好ましく、1であることが最も好ましい。
Examples of the substituent for R 7 are the same as those described above as the substituent that the aliphatic hydrocarbon group may have and the substituent that the aromatic hydrocarbon group may have in X. Can be mentioned.
Code (r1 and r2, w1 to w5) attached to R 7 when is an integer of 2 or more, a plurality of the R 7 groups may be the same, respectively, may be different.
r1 to r2 and w1 to w5 are each preferably an integer of 0 to 2, and more preferably 0 or 1.
v0 to v5 are preferably 0 to 2, and most preferably 0 or 1.
t3 is preferably 1 or 2, and most preferably 1.
q3 is preferably 1 to 5, more preferably 1 to 3, and most preferably 1.

また、オニウム塩系酸発生剤としては、前記一般式(b−1)又は(b−2)において、アニオン部を下記一般式(b−3)又は(b−4)で表されるアニオン部に置き換えたオニウム塩系酸発生剤も用いることができる(カチオン部は(b−1)又は(b−2)と同様)。   Moreover, as an onium salt type | system | group acid generator, in the said general formula (b-1) or (b-2), an anion part is represented by the following general formula (b-3) or (b-4). An onium salt-based acid generator replaced with can also be used (the cation moiety is the same as (b-1) or (b-2)).

Figure 2011117987
[式中、X”は、少なくとも1つの水素原子がフッ素原子で置換された炭素数2〜6のアルキレン基を表し;Y”、Z”は、それぞれ独立に、少なくとも1つの水素原子がフッ素原子で置換された炭素数1〜10のアルキル基を表す。]
Figure 2011117987
[Wherein X ″ represents an alkylene group having 2 to 6 carbon atoms in which at least one hydrogen atom is substituted with a fluorine atom; Y ″ and Z ″ each independently represent at least one hydrogen atom as a fluorine atom; Represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms and substituted with

X”は、少なくとも1つの水素原子がフッ素原子で置換された直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基であり、該アルキレン基の炭素数は2〜6であり、好ましくは炭素数3〜5、最も好ましくは炭素数3である。
Y”、Z”は、それぞれ独立に、少なくとも1つの水素原子がフッ素原子で置換された直鎖状または分岐鎖状のアルキル基であり、該アルキル基の炭素数は1〜10であり、好ましくは炭素数1〜7、より好ましくは炭素数1〜3である。
X”のアルキレン基の炭素数またはY”、Z”のアルキル基の炭素数は、上記炭素数の範囲内において、レジスト溶媒への溶解性も良好である等の理由により、小さいほど好ましい。
また、X”のアルキレン基またはY”、Z”のアルキル基において、フッ素原子で置換されている水素原子の数が多いほど、酸の強度が強くなり、また200nm以下の高エネルギー光や電子線に対する透明性が向上するので好ましい。該アルキレン基またはアルキル基中のフッ素原子の割合、すなわちフッ素化率は、好ましくは70〜100%、さらに好ましくは90〜100%であり、最も好ましくは、全ての水素原子がフッ素原子で置換されたパーフルオロアルキレン基またはパーフルオロアルキル基である。
X ″ is a linear or branched alkylene group in which at least one hydrogen atom is substituted with a fluorine atom, and the alkylene group has 2 to 6 carbon atoms, preferably 3 to 5 carbon atoms, Most preferably, it has 3 carbon atoms.
Y ″ and Z ″ are each independently a linear or branched alkyl group in which at least one hydrogen atom is substituted with a fluorine atom, and the alkyl group has 1 to 10 carbon atoms, preferably Has 1 to 7 carbon atoms, more preferably 1 to 3 carbon atoms.
The carbon number of the alkylene group of X ″ or the carbon number of the alkyl group of Y ″ and Z ″ is preferably as small as possible because the solubility in the resist solvent is good within the above carbon number range.
In addition, in the alkylene group of X ″ or the alkyl group of Y ″ and Z ″, as the number of hydrogen atoms substituted with fluorine atoms increases, the strength of the acid increases, and high-energy light or electron beam of 200 nm or less The ratio of fluorine atoms in the alkylene group or alkyl group, that is, the fluorination rate is preferably 70 to 100%, more preferably 90 to 100%, and most preferably all. Are a perfluoroalkylene group or a perfluoroalkyl group in which a hydrogen atom is substituted with a fluorine atom.

また、下記一般式(b−5)または(b−6)で表されるカチオン部を有するスルホニウム塩をオニウム塩系酸発生剤として用いることもできる。   Moreover, the sulfonium salt which has a cation part represented by the following general formula (b-5) or (b-6) can also be used as an onium salt type | system | group acid generator.

Figure 2011117987
[式中、R41〜R46はそれぞれ独立してアルキル基、アセチル基、アルコキシ基、カルボキシ基、水酸基またはヒドロキシアルキル基であり;n〜nはそれぞれ独立して0〜3の整数であり、nは0〜2の整数である。]
Figure 2011117987
[Wherein R 41 to R 46 are each independently an alkyl group, acetyl group, alkoxy group, carboxy group, hydroxyl group or hydroxyalkyl group; n 1 to n 5 are each independently an integer of 0 to 3; There, n 6 is an integer of 0-2. ]

41〜R46において、アルキル基は、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、なかでも直鎖または分岐鎖状のアルキル基がより好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、又はtert−ブチル基であることが特に好ましい。
アルコキシ基は、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、なかでも直鎖または分岐鎖状のアルコキシ基がより好ましく、メトキシ基、エトキシ基が特に好ましい。
ヒドロキシアルキル基は、上記アルキル基中の一個又は複数個の水素原子がヒドロキシ基に置換した基が好ましく、ヒドロキシメチル基、ヒドロキシエチル基、ヒドロキシプロピル基等が挙げられる。
41〜R46に付された符号n〜nが2以上の整数である場合、複数のR41〜R46はそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
は、好ましくは0〜2であり、より好ましくは0又は1であり、さらに好ましくは0である。
およびnは、好ましくはそれぞれ独立して0又は1であり、より好ましくは0である。
は、好ましくは0〜2であり、より好ましくは0又は1である。
は、好ましくは0又は1であり、より好ましくは0である。
は、好ましくは0又は1であり、より好ましくは1である。
In R 41 to R 46 , the alkyl group is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, more preferably a linear or branched alkyl group, and a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, n A butyl group or a tert-butyl group is particularly preferable.
The alkoxy group is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, more preferably a linear or branched alkoxy group, and particularly preferably a methoxy group or an ethoxy group.
The hydroxyalkyl group is preferably a group in which one or more hydrogen atoms in the alkyl group are substituted with a hydroxy group, and examples thereof include a hydroxymethyl group, a hydroxyethyl group, and a hydroxypropyl group.
When the symbols n 1 to n 6 attached to R 41 to R 46 are integers of 2 or more, the plurality of R 41 to R 46 may be the same or different.
n 1 is preferably 0 to 2, more preferably 0 or 1, and still more preferably 0.
n 2 and n 3 are preferably each independently 0 or 1, more preferably 0.
n 4 is preferably 0 to 2, more preferably 0 or 1.
n 5 is preferably 0 or 1, more preferably 0.
n 6 is preferably 0 or 1, more preferably 1.

式(b−5)または(b−6)で表されるカチオン部を有するスルホニウム塩のアニオン部は、特に限定されず、これまで提案されているオニウム塩系酸発生剤のアニオン部と同様のものであってよい。かかるアニオン部としては、たとえば上記一般式(b−1)または(b−2)で表されるオニウム塩系酸発生剤のアニオン部(R”SO )等のフッ素化アルキルスルホン酸イオン;上記一般式(b−3)又は(b−4)で表されるアニオン部等が挙げられる。 The anion part of the sulfonium salt having a cation part represented by the formula (b-5) or (b-6) is not particularly limited, and is the same as the anion part of the onium salt acid generators proposed so far. It may be a thing. Examples of the anion moiety include fluorinated alkyl sulfonate ions such as the anion moiety (R 4 ″ SO 3 ) of the onium salt acid generator represented by the general formula (b-1) or (b-2). The anion part represented by the general formula (b-3) or (b-4) may be used.

本明細書において、オキシムスルホネート系酸発生剤とは、下記一般式(B−1)で表される基を少なくとも1つ有する化合物であって、放射線の照射によって酸を発生する特性を有するものである。この様なオキシムスルホネート系酸発生剤は、化学増幅型レジスト組成物用として多用されているので、任意に選択して用いることができる。   In this specification, the oxime sulfonate acid generator is a compound having at least one group represented by the following general formula (B-1), and has a property of generating an acid upon irradiation with radiation. is there. Such oxime sulfonate-based acid generators are frequently used for chemically amplified resist compositions, and can be arbitrarily selected and used.

Figure 2011117987
(式(B−1)中、R31、R32はそれぞれ独立に有機基を表す。)
Figure 2011117987
(In formula (B-1), R 31 and R 32 each independently represents an organic group.)

31、R32の有機基は、炭素原子を含む基であり、炭素原子以外の原子(たとえば水素原子、酸素原子、窒素原子、硫黄原子、ハロゲン原子(フッ素原子、塩素原子等)等)を有していてもよい。
31の有機基としては、直鎖状、分岐鎖状または環状のアルキル基またはアリール基が好ましい。これらのアルキル基、アリール基は置換基を有していても良い。該置換基としては、特に制限はなく、たとえばフッ素原子、炭素数1〜6の直鎖状、分岐鎖状または環状のアルキル基等が挙げられる。ここで、「置換基を有する」とは、アルキル基またはアリール基の水素原子の一部または全部が置換基で置換されていることを意味する。
アルキル基としては、炭素数1〜20が好ましく、炭素数1〜10がより好ましく、炭素数1〜8がさらに好ましく、炭素数1〜6が特に好ましく、炭素数1〜4が最も好ましい。アルキル基としては、特に、部分的または完全にハロゲン化されたアルキル基(以下、ハロゲン化アルキル基ということがある)が好ましい。なお、部分的にハロゲン化されたアルキル基とは、水素原子の一部がハロゲン原子で置換されたアルキル基を意味し、完全にハロゲン化されたアルキル基とは、水素原子の全部がハロゲン原子で置換されたアルキル基を意味する。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、特にフッ素原子が好ましい。すなわち、ハロゲン化アルキル基は、フッ素化アルキル基であることが好ましい。
アリール基は、炭素数4〜20が好ましく、炭素数4〜10がより好ましく、炭素数6〜10が最も好ましい。アリール基としては、特に、部分的または完全にハロゲン化されたアリール基が好ましい。なお、部分的にハロゲン化されたアリール基とは、水素原子の一部がハロゲン原子で置換されたアリール基を意味し、完全にハロゲン化されたアリール基とは、水素原子の全部がハロゲン原子で置換されたアリール基を意味する。
31としては、特に、置換基を有さない炭素数1〜4のアルキル基、または炭素数1〜4のフッ素化アルキル基が好ましい。
32の有機基としては、直鎖状、分岐鎖状または環状のアルキル基、アリール基またはシアノ基が好ましい。R32のアルキル基、アリール基としては、前記R31で挙げたアルキル基、アリール基と同様のものが挙げられる。
32としては、特に、シアノ基、置換基を有さない炭素数1〜8のアルキル基、または炭素数1〜8のフッ素化アルキル基が好ましい。
The organic groups of R 31 and R 32 are groups containing carbon atoms, and atoms other than carbon atoms (for example, hydrogen atoms, oxygen atoms, nitrogen atoms, sulfur atoms, halogen atoms (fluorine atoms, chlorine atoms, etc.), etc.) You may have.
As the organic group for R 31, a linear, branched, or cyclic alkyl group or aryl group is preferable. These alkyl groups and aryl groups may have a substituent. There is no restriction | limiting in particular as this substituent, For example, a fluorine atom, a C1-C6 linear, branched or cyclic alkyl group etc. are mentioned. Here, “having a substituent” means that part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group or aryl group are substituted with a substituent.
As an alkyl group, C1-C20 is preferable, C1-C10 is more preferable, C1-C8 is more preferable, C1-C6 is especially preferable, and C1-C4 is the most preferable. As the alkyl group, a partially or completely halogenated alkyl group (hereinafter sometimes referred to as a halogenated alkyl group) is particularly preferable. The partially halogenated alkyl group means an alkyl group in which a part of hydrogen atoms is substituted with a halogen atom, and the fully halogenated alkyl group means that all of the hydrogen atoms are halogen atoms. Means an alkyl group substituted with Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is particularly preferable. That is, the halogenated alkyl group is preferably a fluorinated alkyl group.
The aryl group preferably has 4 to 20 carbon atoms, more preferably 4 to 10 carbon atoms, and most preferably 6 to 10 carbon atoms. As the aryl group, a partially or completely halogenated aryl group is particularly preferable. The partially halogenated aryl group means an aryl group in which a part of hydrogen atoms is substituted with a halogen atom, and the fully halogenated aryl group means that all of the hydrogen atoms are halogen atoms. Means an aryl group substituted with.
R 31 is particularly preferably an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms having no substituent or a fluorinated alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.
As the organic group for R 32, a linear, branched, or cyclic alkyl group, aryl group, or cyano group is preferable. As the alkyl group and aryl group for R 32, the same alkyl groups and aryl groups as those described above for R 31 can be used.
R 32 is particularly preferably a cyano group, an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms having no substituent, or a fluorinated alkyl group having 1 to 8 carbon atoms.

オキシムスルホネート系酸発生剤として、さらに好ましいものとしては、下記一般式(B−2)または(B−3)で表される化合物が挙げられる。   More preferable examples of the oxime sulfonate-based acid generator include compounds represented by the following general formula (B-2) or (B-3).

Figure 2011117987
[式(B−2)中、R33は、シアノ基、置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基である。R34はアリール基である。R35は置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基である。]
Figure 2011117987
[In Formula (B-2), R 33 represents a cyano group, an alkyl group having no substituent, or a halogenated alkyl group. R 34 is an aryl group. R 35 represents an alkyl group having no substituent or a halogenated alkyl group. ]

Figure 2011117987
[式(B−3)中、R36はシアノ基、置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基である。R37は2または3価の芳香族炭化水素基である。R38は置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基である。p”は2または3である。]
Figure 2011117987
[In Formula (B-3), R 36 represents a cyano group, an alkyl group having no substituent, or a halogenated alkyl group. R 37 is a divalent or trivalent aromatic hydrocarbon group. R38 is an alkyl group having no substituent or a halogenated alkyl group. p ″ is 2 or 3.]

前記一般式(B−2)において、R33の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基は、炭素数が1〜10であることが好ましく、炭素数1〜8がより好ましく、炭素数1〜6が最も好ましい。
33としては、ハロゲン化アルキル基が好ましく、フッ素化アルキル基がより好ましい。
33におけるフッ素化アルキル基は、アルキル基の水素原子が50%以上フッ素化されていることが好ましく、70%以上フッ素化されていることがより好ましく、90%以上フッ素化されていることが特に好ましい。
34のアリール基としては、フェニル基、ビフェニル(biphenyl)基、フルオレニル(fluorenyl)基、ナフチル基、アントリル(anthryl)基、フェナントリル基等の、芳香族炭化水素の環から水素原子を1つ除いた基、およびこれらの基の環を構成する炭素原子の一部が酸素原子、硫黄原子、窒素原子等のヘテロ原子で置換されたヘテロアリール基等が挙げられる。これらのなかでも、フルオレニル基が好ましい。
34のアリール基は、炭素数1〜10のアルキル基、ハロゲン化アルキル基、アルコキシ基等の置換基を有していても良い。該置換基におけるアルキル基またはハロゲン化アルキル基は、炭素数が1〜8であることが好ましく、炭素数1〜4がさらに好ましい。また、該ハロゲン化アルキル基は、フッ素化アルキル基であることが好ましい。
35の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基は、炭素数が1〜10であることが好ましく、炭素数1〜8がより好ましく、炭素数1〜6が最も好ましい。
35としては、ハロゲン化アルキル基が好ましく、フッ素化アルキル基がより好ましい。
35におけるフッ素化アルキル基は、アルキル基の水素原子が50%以上フッ素化されていることが好ましく、70%以上フッ素化されていることがより好ましく、90%以上フッ素化されていることが、発生する酸の強度が高まるため特に好ましい。最も好ましくは、水素原子が100%フッ素置換された完全フッ素化アルキル基である。
In the general formula (B-2), the alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent of R 33 preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8 carbon atoms, and carbon atoms. Numbers 1 to 6 are most preferable.
R 33 is preferably a halogenated alkyl group, more preferably a fluorinated alkyl group.
The fluorinated alkyl group for R 33 is preferably such that the hydrogen atom of the alkyl group is 50% or more fluorinated, more preferably 70% or more fluorinated, and 90% or more fluorinated. Particularly preferred.
As the aryl group of R 34 , one hydrogen atom is removed from an aromatic hydrocarbon ring such as a phenyl group, a biphenyl group, a fluorenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, or a phenanthryl group. And a heteroaryl group in which a part of carbon atoms constituting the ring of these groups is substituted with a heteroatom such as an oxygen atom, a sulfur atom or a nitrogen atom. Among these, a fluorenyl group is preferable.
The aryl group of R 34 may have a substituent such as an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a halogenated alkyl group, or an alkoxy group. The alkyl group or halogenated alkyl group in the substituent preferably has 1 to 8 carbon atoms, and more preferably 1 to 4 carbon atoms. The halogenated alkyl group is preferably a fluorinated alkyl group.
The alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent for R 35 preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8 carbon atoms, and most preferably 1 to 6 carbon atoms.
R 35 is preferably a halogenated alkyl group, more preferably a fluorinated alkyl group.
The fluorinated alkyl group for R 35 is preferably such that the hydrogen atom of the alkyl group is 50% or more fluorinated, more preferably 70% or more fluorinated, and 90% or more fluorinated. Particularly preferred is the strength of the acid generated. Most preferably, it is a fully fluorinated alkyl group in which a hydrogen atom is 100% fluorine-substituted.

前記一般式(B−3)において、R36の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基としては、上記R33の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基と同様のものが挙げられる。
37の2または3価の芳香族炭化水素基としては、上記R34のアリール基からさらに1または2個の水素原子を除いた基が挙げられる。
38の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基としては、上記R35の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基と同様のものが挙げられる。
p”は好ましくは2である。
In the general formula (B-3), the alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent for R 36 is the same as the alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent for R 33. Is mentioned.
Examples of the divalent or trivalent aromatic hydrocarbon group for R 37 include groups obtained by further removing one or two hydrogen atoms from the aryl group for R 34 .
Examples of the alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent of R 38 include the same alkyl groups or halogenated alkyl groups having no substituent as R 35 described above.
p ″ is preferably 2.

オキシムスルホネート系酸発生剤の具体例としては、α−(p−トルエンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−(p−クロロベンゼンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−(4−ニトロベンゼンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−(4−ニトロ−2−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−4−クロロベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−2,4−ジクロロベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−2,6−ジクロロベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアニド、α−(2−クロロベンゼンスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−チエン−2−イルアセトニトリル、α−(4−ドデシルベンゼンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−[(p−トルエンスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシフェニル]アセトニトリル、α−[(ドデシルベンゼンスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシフェニル]アセトニトリル、α−(トシルオキシイミノ)−4−チエニルシアニド、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘプテニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロオクテニルアセトニトリル、α−(トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ)−シクロヘキシルアセトニトリル、α−(エチルスルホニルオキシイミノ)−エチルアセトニトリル、α−(プロピルスルホニルオキシイミノ)−プロピルアセトニトリル、α−(シクロヘキシルスルホニルオキシイミノ)−シクロペンチルアセトニトリル、α−(シクロヘキシルスルホニルオキシイミノ)−シクロヘキシルアセトニトリル、α−(シクロヘキシルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(エチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(イソプロピルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(n−ブチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(エチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(イソプロピルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(n−ブチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−フェニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−p−メトキシフェニルアセトニトリル、α−(トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ)−フェニルアセトニトリル、α−(トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ)−p−メトキシフェニルアセトニトリル、α−(エチルスルホニルオキシイミノ)−p−メトキシフェニルアセトニトリル、α−(プロピルスルホニルオキシイミノ)−p−メチルフェニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−p−ブロモフェニルアセトニトリルなどが挙げられる。
また、特開平9−208554号公報(段落[0012]〜[0014]の[化18]〜[化19])に開示されているオキシムスルホネート系酸発生剤、WO2004/074242A2(65〜85頁目のExample1〜40)に開示されているオキシムスルホネート系酸発生剤も好適に用いることができる。
また、好適なものとして以下のものを例示することができる。
Specific examples of the oxime sulfonate acid generator include α- (p-toluenesulfonyloxyimino) -benzyl cyanide, α- (p-chlorobenzenesulfonyloxyimino) -benzyl cyanide, α- (4-nitrobenzenesulfonyloxy). Imino) -benzylcyanide, α- (4-nitro-2-trifluoromethylbenzenesulfonyloxyimino) -benzylcyanide, α- (benzenesulfonyloxyimino) -4-chlorobenzylcyanide, α- (benzenesulfonyl) Oxyimino) -2,4-dichlorobenzyl cyanide, α- (benzenesulfonyloxyimino) -2,6-dichlorobenzyl cyanide, α- (benzenesulfonyloxyimino) -4-methoxybenzyl cyanide, α- ( 2-Chlorobenzenesulfonyloxyimino) 4-methoxybenzylcyanide, α- (benzenesulfonyloxyimino) -thien-2-ylacetonitrile, α- (4-dodecylbenzenesulfonyloxyimino) -benzylcyanide, α-[(p-toluenesulfonyloxyimino) -4-methoxyphenyl] acetonitrile, α-[(dodecylbenzenesulfonyloxyimino) -4-methoxyphenyl] acetonitrile, α- (tosyloxyimino) -4-thienyl cyanide, α- (methylsulfonyloxyimino) -1-cyclo Pentenyl acetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -1-cyclohexenylacetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -1-cycloheptenylacetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -1-cyclooctene Acetonitrile, α- (trifluoromethylsulfonyloxyimino) -1-cyclopentenylacetonitrile, α- (trifluoromethylsulfonyloxyimino) -cyclohexylacetonitrile, α- (ethylsulfonyloxyimino) -ethylacetonitrile, α- (propyl Sulfonyloxyimino) -propylacetonitrile, α- (cyclohexylsulfonyloxyimino) -cyclopentylacetonitrile, α- (cyclohexylsulfonyloxyimino) -cyclohexylacetonitrile, α- (cyclohexylsulfonyloxyimino) -1-cyclopentenylacetonitrile, α- ( Ethylsulfonyloxyimino) -1-cyclopentenylacetonitrile, α- (isopropylsulfonyloxyimino) -1-cyclope N-tenyl acetonitrile, α- (n-butylsulfonyloxyimino) -1-cyclopentenylacetonitrile, α- (ethylsulfonyloxyimino) -1-cyclohexenylacetonitrile, α- (isopropylsulfonyloxyimino) -1-cyclohexenylacetonitrile , Α- (n-butylsulfonyloxyimino) -1-cyclohexenylacetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -phenylacetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -p-methoxyphenylacetonitrile, α- (trifluoro Methylsulfonyloxyimino) -phenylacetonitrile, α- (trifluoromethylsulfonyloxyimino) -p-methoxyphenylacetonitrile, α- (ethylsulfonyloxyimino) -p- Butoxy phenylacetonitrile, alpha-(propylsulfonyl oxyimino)-p-methylphenyl acetonitrile, alpha-like (methylsulfonyloxyimino)-p-bromophenyl acetonitrile.
Further, an oxime sulfonate-based acid generator disclosed in JP-A-9-208554 (paragraphs [0012] to [0014] [chemical formula 18] to [chemical formula 19]), WO2004 / 074242A2 (pages 65 to 85). The oxime sulfonate acid generators disclosed in Examples 1 to 40) of No. 1 can also be suitably used.
Moreover, the following can be illustrated as a suitable thing.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

ジアゾメタン系酸発生剤のうち、ビスアルキルまたはビスアリールスルホニルジアゾメタン類の具体例としては、ビス(イソプロピルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(p−トルエンスルホニル)ジアゾメタン、ビス(1,1−ジメチルエチルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(シクロヘキシルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(2,4−ジメチルフェニルスルホニル)ジアゾメタン等が挙げられる。
また、特開平11−035551号公報、特開平11−035552号公報、特開平11−035573号公報に開示されているジアゾメタン系酸発生剤も好適に用いることができる。
また、ポリ(ビススルホニル)ジアゾメタン類としては、例えば、特開平11−322707号公報に開示されている、1,3−ビス(フェニルスルホニルジアゾメチルスルホニル)プロパン、1,4−ビス(フェニルスルホニルジアゾメチルスルホニル)ブタン、1,6−ビス(フェニルスルホニルジアゾメチルスルホニル)ヘキサン、1,10−ビス(フェニルスルホニルジアゾメチルスルホニル)デカン、1,2−ビス(シクロヘキシルスルホニルジアゾメチルスルホニル)エタン、1,3−ビス(シクロヘキシルスルホニルジアゾメチルスルホニル)プロパン、1,6−ビス(シクロヘキシルスルホニルジアゾメチルスルホニル)ヘキサン、1,10−ビス(シクロヘキシルスルホニルジアゾメチルスルホニル)デカンなどを挙げることができる。
Among diazomethane acid generators, specific examples of bisalkyl or bisarylsulfonyldiazomethanes include bis (isopropylsulfonyl) diazomethane, bis (p-toluenesulfonyl) diazomethane, bis (1,1-dimethylethylsulfonyl) diazomethane, Examples include bis (cyclohexylsulfonyl) diazomethane, bis (2,4-dimethylphenylsulfonyl) diazomethane, and the like.
Further, diazomethane acid generators disclosed in JP-A-11-035551, JP-A-11-035552, and JP-A-11-035573 can also be suitably used.
Examples of poly (bissulfonyl) diazomethanes include 1,3-bis (phenylsulfonyldiazomethylsulfonyl) propane and 1,4-bis (phenylsulfonyldiazo) disclosed in JP-A-11-322707. Methylsulfonyl) butane, 1,6-bis (phenylsulfonyldiazomethylsulfonyl) hexane, 1,10-bis (phenylsulfonyldiazomethylsulfonyl) decane, 1,2-bis (cyclohexylsulfonyldiazomethylsulfonyl) ethane, 1,3 -Bis (cyclohexylsulfonyldiazomethylsulfonyl) propane, 1,6-bis (cyclohexylsulfonyldiazomethylsulfonyl) hexane, 1,10-bis (cyclohexylsulfonyldiazomethylsulfonyl) decane, etc. Door can be.

(B)成分としては、これらの酸発生剤を1種単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
本発明においては、(B)成分として、フッ素化アルキルスルホン酸イオンをアニオンとするオニウム塩系酸発生剤を用いることが好ましい。
本発明のポジ型レジスト組成物における(B)成分の含有量は、(A)成分100質量部に対し、0.5〜50質量部が好ましく、1〜40質量部がより好ましい。上記範囲とすることでパターン形成が充分に行われる。また、均一な溶液が得られ、保存安定性が良好となるため好ましい。
(B) As a component, these acid generators may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.
In the present invention, it is preferable to use an onium salt acid generator having a fluorinated alkyl sulfonate ion as an anion as the component (B).
The content of the component (B) in the positive resist composition of the present invention is preferably 0.5 to 50 parts by mass and more preferably 1 to 40 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the component (A). By setting it within the above range, pattern formation is sufficiently performed. Moreover, since a uniform solution is obtained and storage stability becomes favorable, it is preferable.

<(D)成分>
本発明のポジ型レジスト組成物は、(D)成分として、エーテル性酸素原子(−O−)、エステル基(−O−C(=O)−)、カルボニル基(−C(=O)−)、シアノ基(−CN)、置換基を有していてもよいフェニル基、および含窒素複素環式基からなる群から選択される少なくとも1種を含むアミン(D1)(以下、(D1)成分という。)を含有する。
<(D) component>
In the positive resist composition of the present invention, as component (D), an etheric oxygen atom (—O—), an ester group (—O—C (═O) —), a carbonyl group (—C (═O) — ), A cyano group (—CN), an optionally substituted phenyl group, and an amine (D1) (hereinafter referred to as (D1)) selected from the group consisting of a nitrogen-containing heterocyclic group Contains ingredients).

(D1)成分が有する「置換基を有していてもよいフェニル基」における置換基としては、たとえば、アルキル基、ヒドロキシアルキル基、アルコキシ基、チオアルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
前記置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、n−プロピル基、iso−プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることがより好ましい。これらの中でも、分岐鎖状のものが最も好ましい。
前記置換基としてのヒドロキシアルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部が水酸基で置換されたものが挙げられる。ヒドロキシアルキル基中、水酸基の数は、1〜3が好ましく、1が最も好ましい。また、該水酸基は、アルキル鎖の末端に結合していることが好ましく、特に、該アルキル鎖が直鎖状であることが好ましい。
前記置換基としてのアルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が最も好ましい。
前記置換基としてのチオアルコキシ基としては、前記アルコキシ基における酸素原子を硫黄原子で置換したものが挙げられる。
前記置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
前記置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
「置換基を有していてもよいフェニル基」としては、無置換のフェニル基、または置換基としてアルキル基を有するフェニル基が好ましく、2,6−ジアルキルフェニル基がより好ましい。該アルキル基としては、分岐鎖状のアルキル基が好ましく、iso−プロピル基またはtert−ブチル基であることが最も好ましい。
Examples of the substituent in the “optionally substituted phenyl group” of the component (D1) include an alkyl group, a hydroxyalkyl group, an alkoxy group, a thioalkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, and a hydroxyl group. Oxygen atom (= O) and the like.
The alkyl group as the substituent is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and may be a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an iso-propyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group. More preferred. Among these, a branched chain is most preferable.
Examples of the hydroxyalkyl group as the substituent include those in which a part of hydrogen atoms of the alkyl group is substituted with a hydroxyl group. In the hydroxyalkyl group, the number of hydroxyl groups is preferably 1 to 3, and most preferably 1. The hydroxyl group is preferably bonded to the end of the alkyl chain, and particularly preferably the alkyl chain is linear.
The alkoxy group as the substituent is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, preferably a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an iso-propoxy group, an n-butoxy group or a tert-butoxy group. Most preferred is an ethoxy group.
Examples of the thioalkoxy group as the substituent include those in which the oxygen atom in the alkoxy group is substituted with a sulfur atom.
Examples of the halogen atom as the substituent include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
Examples of the halogenated alkyl group as the substituent include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group have been substituted with the halogen atoms.
The “optionally substituted phenyl group” is preferably an unsubstituted phenyl group or a phenyl group having an alkyl group as a substituent, and more preferably a 2,6-dialkylphenyl group. The alkyl group is preferably a branched alkyl group, and most preferably an iso-propyl group or a tert-butyl group.

(D1)成分が有する「含窒素複素環式基」は、環骨格に窒素原子を含む含窒素複素環式化合物から1つ以上の水素原子を除いた基である。含窒素複素環式化合物は、その環骨格に、炭素原子および窒素原子以外のヘテロ原子(たとえば酸素原子、硫黄原子等)を有していてもよい。
含窒素複素環式化合物は、芳香族であってもよく、脂肪族であってもよい。また、脂肪族である場合、飽和であってもよく、不飽和であってもよい。また、含窒素複素環式化合物は、単環式であってもよく、多環式であってもよい。
含窒素複素環式化合物の炭素数は、3〜30であることが好ましく、5〜30であることがより好ましく、5〜20がさらに好ましい。
単環式の含窒素複素環式化合物の具体例としては、ピロール、ピリジン、イミダゾール、ピラゾール、1,2,3−トリアゾール、1,2,4−トリアゾール、ピリミジン、ピラジン、1,3,5−トリアジン、テトラゾール、ピペリジン、ピペラジン、ピロリジン、モルホリン等が挙げられる。
多環式の含窒素複素環式化合物の具体例としては、キノリン、イソキノリン、インドール、ピロロ[2,3−b]ピリジン、インダゾール、ベンゾイミダゾール(ベンズイミダゾール)、ベンゾトリアゾール、カルバゾール、アクリジン、1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]−5−ノネン、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセン、ヘキサメチレンテトラミン、1,4−ジアザビシクロ[2.2.2]オクタン等が挙げられる。
前記含窒素複素環式化合物は、置換基を有していてもよい。該置換基としては、たとえば、後述する基(I)(エーテル性酸素原子、エステル基、カルボニル基、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基および含窒素複素環式基からなる群から選択される少なくとも1種を含む1価の炭化水素基)、アルキル基、ヒドロキシアルキル基、アルコキシ基、チオアルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)等が挙げられる。これらのうち、アルキル基、ヒドロキシアルキル基、アルコキシ基、チオアルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基は、それぞれ、前記「置換基を有していてもよいフェニル基」における置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
含窒素複素環式化合物が有する置換基としては、含窒素複素環式基、アルキル基、酸素原子が好ましい。
置換基として酸素原子を有する含窒素複素環式化合物としては、環内に−NH−CO−を含むもの、すなわちラクタムが好ましい。ラクタムとしてはγ−ラクタム、δ−ラクタム等が挙げられ、γ−ラクタムが特に好ましい。
The “nitrogen-containing heterocyclic group” of the component (D1) is a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from a nitrogen-containing heterocyclic compound containing a nitrogen atom in the ring skeleton. The nitrogen-containing heterocyclic compound may have a hetero atom (for example, an oxygen atom, a sulfur atom, etc.) other than a carbon atom and a nitrogen atom in its ring skeleton.
The nitrogen-containing heterocyclic compound may be aromatic or aliphatic. Moreover, when aliphatic, it may be saturated or unsaturated. The nitrogen-containing heterocyclic compound may be monocyclic or polycyclic.
The nitrogen-containing heterocyclic compound preferably has 3 to 30 carbon atoms, more preferably 5 to 30 carbon atoms, and still more preferably 5 to 20 carbon atoms.
Specific examples of the monocyclic nitrogen-containing heterocyclic compound include pyrrole, pyridine, imidazole, pyrazole, 1,2,3-triazole, 1,2,4-triazole, pyrimidine, pyrazine, 1,3,5- Examples include triazine, tetrazole, piperidine, piperazine, pyrrolidine, morpholine and the like.
Specific examples of the polycyclic nitrogen-containing heterocyclic compound include quinoline, isoquinoline, indole, pyrrolo [2,3-b] pyridine, indazole, benzimidazole (benzimidazole), benzotriazole, carbazole, acridine, 1, 5-diazabicyclo [4.3.0] -5-nonene, 1,8-diazabicyclo [5.4.0] -7-undecene, hexamethylenetetramine, 1,4-diazabicyclo [2.2.2] octane, etc. Is mentioned.
The nitrogen-containing heterocyclic compound may have a substituent. Examples of the substituent include a group (I) described later (an etheric oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, a phenyl group which may have a substituent, and a nitrogen-containing heterocyclic group). A monovalent hydrocarbon group containing at least one selected from the following :), alkyl groups, hydroxyalkyl groups, alkoxy groups, thioalkoxy groups, halogen atoms, halogenated alkyl groups, hydroxyl groups, oxygen atoms (= O) and the like. It is done. Among these, the alkyl group, hydroxyalkyl group, alkoxy group, thioalkoxy group, halogen atom, and halogenated alkyl group are those listed as the substituents in the above-mentioned “optionally substituted phenyl group”. The same thing is mentioned.
As a substituent which a nitrogen-containing heterocyclic compound has, a nitrogen-containing heterocyclic group, an alkyl group, and an oxygen atom are preferable.
The nitrogen-containing heterocyclic compound having an oxygen atom as a substituent is preferably a compound containing —NH—CO— in the ring, that is, a lactam. Examples of the lactam include γ-lactam and δ-lactam, and γ-lactam is particularly preferable.

(D1)成分として、具体的には、その構造中に、エーテル性酸素原子、エステル基、カルボニル基、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基および含窒素複素環式基からなる群から選択される少なくとも1種を含む1価の炭化水素基(以下、基(I)という。)により、アンモニアNHの水素原子の少なくとも1つが置換された化合物(以下、化合物(D1−1)という。)が挙げられる。
基(I)は、エーテル性酸素原子、エステル基、カルボニル基、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基および含窒素複素環式基のいずれか1種のみを含んでいてもよく、2種以上を含んでいてもよい。また、同じ基を複数含んでいてもよい。
基(I)において、炭化水素基は、脂肪族炭化水素基であってもよく、芳香族炭化水素基であってもよい。また、脂肪族炭化水素基は、飽和であってもよく、不飽和であってもよく、好ましくは飽和である。
基(I)としては、たとえば、下記一般式(I−1)〜(I−5)で表される基が挙げられる。
As the component (D1), specifically, the structure consists of an etheric oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, an optionally substituted phenyl group and a nitrogen-containing heterocyclic group. A compound in which at least one hydrogen atom of ammonia NH 3 is substituted with a monovalent hydrocarbon group (hereinafter referred to as group (I)) containing at least one selected from the group (hereinafter referred to as compound (D1-1) ))).
The group (I) may contain only one of an etheric oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, an optionally substituted phenyl group and a nitrogen-containing heterocyclic group. Two or more kinds may be included. Moreover, the same group may be included two or more.
In the group (I), the hydrocarbon group may be an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group. Further, the aliphatic hydrocarbon group may be saturated or unsaturated, and preferably saturated.
Examples of the group (I) include groups represented by the following general formulas (I-1) to (I-5).

Figure 2011117987
[式中、R61は直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基であり、nは1〜3の整数であり、R62は置換基を有していてもよいアルキル基であり、R63はアルキレン基であり、Lは−O−C(=O)−、−C(=O)−O−または−C(=O)−であり、R64は置換基を有していてもよいアルキル基であり、R65は置換基を有していてもよいアルキレン基であり、R66は単結合または置換基を有していてもよいアルキレン基であり、Phは置換基を有していてもよいフェニル基であり、Rは置換基を有していてもよい含窒素複素環式基である。]
Figure 2011117987
[Wherein, R 61 represents a linear or branched alkylene group, n 1 represents an integer of 1 to 3, R 62 represents an alkyl group which may have a substituent, and R 63 Is an alkylene group, L 1 is —O—C (═O) —, —C (═O) —O— or —C (═O) —, and R 64 may have a substituent. R 65 is an alkylene group which may have a substituent, R 66 is an alkylene group which may have a single bond or a substituent, and Ph has a substituent. even if a phenyl group, R N is nitrogen-containing heterocyclic group which may have a substituent. ]

式(I−1)中、R61における直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基の炭素数は、 1〜4が好ましく、1〜2がより好ましい。該アルキレン基としては、直鎖状のものが好ましく、エチレン基が最も好ましい。
は1〜4の整数であり、1〜3の整数が好ましい。
が2以上の整数である場合、式(I−1)中の複数のR61はそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
62におけるアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状および環状のいずれであってもよく、直鎖状または分岐鎖状が好ましく、直鎖状が特に好ましい。その炭素数は、1〜20が好ましく、1〜10がより好ましく、1〜6がさらに好ましく、1〜4が最も好ましい。
62におけるアルキル基は、その構造中に置換基を有していてもよい。
たとえば、該アルキル基の水素原子の一部が、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基および含窒素複素環式基のうちの少なくとも1種で置換されていてもよく、このような場合のR62の具体例としては、式(I−3)または(I−4)で表される基が挙げられる。また、それら以外の他の置換基で置換されていてもよい。該他の置換基としては、たとえば、水酸基、シアノ基、カルボキシル基、アルコキシ基、チオアルコキシ基、ハロゲン原子、水素原子等が挙げられる。
また、該アルキル基が炭素数2以上のアルキル基である場合、その炭素原子間にエステル基および/またはカルボニル基が介在していてもよく、このような場合のR62の具体例としては、式(I−2)で表される基が挙げられる。
In formula (I-1), the number of carbon atoms of the linear or branched alkylene group in R 61 is preferably 1 to 4, and more preferably 1 to 2. The alkylene group is preferably a linear group, and most preferably an ethylene group.
n 1 is an integer of 1 to 4, an integer of 1 to 3 are preferred.
When n 1 is an integer of 2 or more, the plurality of R 61 in Formula (I-1) may be the same or different.
The alkyl group for R 62 may be linear, branched or cyclic, preferably linear or branched, and particularly preferably linear. The carbon number is preferably 1-20, more preferably 1-10, still more preferably 1-6, and most preferably 1-4.
The alkyl group for R 62 may have a substituent in the structure thereof.
For example, a part of hydrogen atoms of the alkyl group may be substituted with at least one of a cyano group, a phenyl group which may have a substituent, and a nitrogen-containing heterocyclic group. Specific examples of R 62 in this case include a group represented by the formula (I-3) or (I-4). Moreover, you may substitute by other substituents other than those. Examples of the other substituent include a hydroxyl group, a cyano group, a carboxyl group, an alkoxy group, a thioalkoxy group, a halogen atom, and a hydrogen atom.
In addition, when the alkyl group is an alkyl group having 2 or more carbon atoms, an ester group and / or a carbonyl group may be interposed between the carbon atoms. As a specific example of R 62 in such a case, Examples include a group represented by formula (I-2).

式(I−2)中、R63におけるアルキレン基は、直鎖状、分岐鎖状および環状のいずれであってもよく、直鎖状または分岐鎖状が好ましく、直鎖状が特に好ましい。その炭素数は、1〜10が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜5がさらに好ましく、1〜2が最も好ましい。
直鎖状のアルキレン基として、具体的には、メチレン基、エチレン基、トリメチレン基、テトラメチレン基、ペンタメチレン基等が挙げられる。
分岐鎖状のアルキレン基として、具体的には、−CH(CH)−、−CH(CHCH)−、−C(CH−、−C(CH)(CHCH)−、−C(CH)(CHCHCH)−、−C(CHCH−等のアルキルメチレン基;−CH(CH)CH−、−CH(CH)CH(CH)−、−C(CHCH−、−CH(CHCH)CH−、−CH(CHCH)CH−、−C(CHCHCH−等のアルキルエチレン基;−CH(CH)CHCH−、−CHCH(CH)CH−等のアルキルトリメチレン基;−CH(CH)CHCHCH−、−CHCH(CH)CHCH−等のアルキルテトラメチレン基などのアルキルアルキレン基が挙げられる。アルキルアルキレン基におけるアルキル基としては、炭素数1〜5の直鎖状のアルキル基が好ましい。
In formula (I-2), the alkylene group for R 63 may be linear, branched or cyclic, preferably linear or branched, and particularly preferably linear. 1-10 are preferable, as for the carbon number, 1-8 are more preferable, 1-5 are more preferable, and 1-2 are the most preferable.
Specific examples of the linear alkylene group include a methylene group, an ethylene group, a trimethylene group, a tetramethylene group, and a pentamethylene group.
Specifically, as the branched alkylene group, —CH (CH 3 ) —, —CH (CH 2 CH 3 ) —, —C (CH 3 ) 2 —, —C (CH 3 ) (CH 2 CH 3) -, - C (CH 3) (CH 2 CH 2 CH 3) -, - C (CH 2 CH 3) 2 - alkyl groups such as; -CH (CH 3) CH 2 -, - CH (CH 3) CH (CH 3) - , - C (CH 3) 2 CH 2 -, - CH (CH 2 CH 3) CH 2 -, - CH (CH 2 CH 3) CH 2 -, - C (CH 2 CH 3) 2 CH 2 - alkyl groups such as; -CH (CH 3) CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH (CH 3) CH 2 - alkyl trimethylene groups such as; -CH (CH 3) CH 2 CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH (CH 3) CH 2 CH 2 - , etc. a of Include alkyl alkylene group such Kill tetramethylene group. The alkyl group in the alkyl alkylene group is preferably a linear alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.

式(I−2)中、Lは−O−C(=O)−、−C(=O)−O−または−C(=O)−であり、特に−O−C(=O)−が好ましい。
64におけるアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状および環状のいずれであってもよく、直鎖状または分岐鎖状が好ましく、直鎖状が特に好ましい。その炭素数は、1〜10が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜5がさらに好ましく、1〜2が最も好ましい。
64におけるアルキル基は、その構造中に置換基を有していてもよい。
たとえば、該アルキル基の水素原子の一部が、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基および含窒素複素環式基のうちの少なくとも1種で置換されていてもよく、このような場合のR64の具体例としては、式(I−3)または(I−4)で表される基が挙げられる。また、それら以外の他の置換基で置換されていてもよい。該他の置換基としては、たとえば、水酸基等が挙げられる。
また、該アルキル基が炭素数2以上のアルキル基である場合、その炭素原子間に、エーテル性酸素原子、エステル基およびカルボニル基のいずれか1種以上が介在していてもよく、このような場合のR64の具体例としては、たとえば、前記式(I−1)で表される基が挙げられる。
In formula (I-2), L 1 is —O—C (═O) —, —C (═O) —O— or —C (═O) —, and in particular —O—C (═O). -Is preferred.
The alkyl group for R 64 may be linear, branched or cyclic, preferably linear or branched, and particularly preferably linear. 1-10 are preferable, as for the carbon number, 1-8 are more preferable, 1-5 are more preferable, and 1-2 are the most preferable.
The alkyl group for R 64 may have a substituent in the structure thereof.
For example, a part of hydrogen atoms of the alkyl group may be substituted with at least one of a cyano group, a phenyl group which may have a substituent, and a nitrogen-containing heterocyclic group. Specific examples of R 64 in this case include a group represented by formula (I-3) or (I-4). Moreover, you may substitute by other substituents other than those. Examples of the other substituent include a hydroxyl group.
Further, when the alkyl group is an alkyl group having 2 or more carbon atoms, any one or more of an etheric oxygen atom, an ester group and a carbonyl group may be interposed between the carbon atoms. Specific examples of R 64 in this case include a group represented by the formula (I-1).

式(I−3)中、R65におけるアルキレン基は、直鎖状、分岐鎖状および環状のいずれであってもよく、直鎖状または分岐鎖状が好ましく、直鎖状が特に好ましい。その炭素数は、1〜10が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜5がさらに好ましく、1〜2が最も好ましい。
65におけるアルキレン基は、その構造中に置換基を有していてもよい。
たとえば、該アルキレン基の水素原子の一部が、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基および含窒素複素環式基のうちの少なくとも1種で置換されていてもよく、それら以外の他の置換基で置換されていてもよい。該他の置換基としては、たとえば、水酸基等が挙げられる。
また、該アルキレン基が炭素数2以上のアルキレン基である場合、その炭素原子間に、エーテル性酸素原子、エステル基およびカルボニル基のいずれか1種以上が介在していてもよい。このような場合のR65の具体例としては、前記式(I−1)で表される基のR62から水素原子を1個除いた基、前記式(I−2)で表される基のR64から水素原子を1個除いた基、等が挙げられる。
65におけるアルキレン基は、無置換のアルキレン基であることが好ましい。
In formula (I-3), the alkylene group for R 65 may be linear, branched or cyclic, preferably linear or branched, and particularly preferably linear. 1-10 are preferable, as for the carbon number, 1-8 are more preferable, 1-5 are more preferable, and 1-2 are the most preferable.
The alkylene group for R 65 may have a substituent in the structure thereof.
For example, a part of hydrogen atoms of the alkylene group may be substituted with at least one of a cyano group, a phenyl group which may have a substituent, and a nitrogen-containing heterocyclic group, and others It may be substituted with other substituents. Examples of the other substituent include a hydroxyl group.
When the alkylene group is an alkylene group having 2 or more carbon atoms, any one or more of an etheric oxygen atom, an ester group and a carbonyl group may be interposed between the carbon atoms. Specific examples of R 65 in such a case include a group obtained by removing one hydrogen atom from R 62 of the group represented by the formula (I-1), and a group represented by the formula (I-2). Group obtained by removing one hydrogen atom from R 64 in the formula.
The alkylene group for R 65 is preferably an unsubstituted alkylene group.

式(I−4)中、R66におけるアルキレン基としては、前記R65と同様のものが挙げられる。
66は、単結合であることが最も好ましい。
Phにおいて、フェニル基が有していてもよい置換基としては、前記「置換基を有していてもよいフェニル基」における置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
式(I−5)中、R66におけるアルキレン基としては、前記式(I−4)におけるR66と同様のものが挙げられる。
における含窒素複素環式基としては、(D1)成分が有する「含窒素複素環式基」として挙げたものと同様のものが挙げられる。Rとしては、特に、置換基を有していてもよいピリジル基が好ましく、4−ピリジル基が特に好ましい。
In formula (I-4), examples of the alkylene group for R 66 include the same groups as those described above for R 65 .
Most preferably, R 66 is a single bond.
In Ph, examples of the substituent that the phenyl group may have include the same substituents as those described above as the substituent in the “phenyl group that may have a substituent”.
Wherein (I-5), as the alkylene group for R 66, are the same as those for R 66 in the formula (I-4).
Examples of the nitrogen-containing heterocyclic group in RN include the same as those mentioned as the “nitrogen-containing heterocyclic group” of the component (D1). The R N, particularly preferably pyridyl group which may have a substituent group, 4-pyridyl group is particularly preferred.

化合物(D1−1)が有する基(I)の数(アンモニアNHの水素原子を置換する基(I)の数)は、1〜3のいずれであってもよい。
化合物(D1−1)は、基(I)以外の有機基を有していてもよい。該有機基としては、たとえば、上記基(I)以外の置換基を有していてもよい1価の脂肪族炭化水素基(以下、基(II)という。)が挙げられる。
該1価の脂肪族炭化水素基としては、飽和(アルキル基)であってもよく、不飽和であってもよい。また、該脂肪族炭化水素基は、それぞれ、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。不飽和炭化水素基の場合は、直鎖状または分岐鎖状が好ましい。
直鎖状のアルキル基としては、炭素数が1〜20であることが好ましく、1〜15であることがより好ましく、1〜10がさらに好ましい。具体的には、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デカニル基、ウンデシル基、ドデシル基、トリデシル基、イソトリデシル基、テトラデシル基、ペンタデシル基、ヘキサデシル基、イソヘキサデシル基、ヘプタデシル基、オクタデシル基、ノナデシル基、イコシル基、ヘンイコシル基、ドコシル基等が挙げられる。
分岐鎖状のアルキル基としては、炭素数が3〜20であることが好ましく、3〜15であることがより好ましく、3〜10がさらに好ましい。具体的には、例えば、1−メチルエチル基(iso−プロピル基)、1−メチルプロピル基、2−メチルプロピル基、1−メチルブチル基、2−メチルブチル基、3−メチルブチル基、1−エチルブチル基、2−エチルブチル基、tert−ブチル基、1−メチルペンチル基、2−メチルペンチル基、3−メチルペンチル基、4−メチルペンチル基などが挙げられる。
環状のアルキル基は、単環式基であってもよく、多環式基であってもよい。その炭素数は3〜30であることが好ましく、5〜30であることがより好ましく、5〜20がさらに好ましく、6〜15が特に好ましく、6〜12が最も好ましい。具体的には、たとえば、モノシクロアルカンから1個の水素原子を除いた基;ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個の水素原子を除いた基などが挙げられる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンから1個の水素原子を除いた基;アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンなどのポリシクロアルカンから1個の水素原子を除いた基などが挙げられる。
不飽和炭化水素基の炭素数は、2〜5が好ましく、2〜4がより好ましく、3が特に好ましい。直鎖状の1価の不飽和炭化水素基としては、例えば、ビニル基、プロペニル基(アリル基)、ブチニル基などが挙げられる。分岐鎖状の1価の不飽和炭化水素基としては、例えば、1−メチルプロペニル基、2−メチルプロペニル基などが挙げられる。不飽和炭化水素基としては、上記の中でも、特にプロペニル基が好ましい。
The number of groups (I) (number of groups (I) substituting the hydrogen atom of ammonia NH 3 ) possessed by the compound (D1-1) may be any of 1 to 3.
The compound (D1-1) may have an organic group other than the group (I). As this organic group, the monovalent | monohydric aliphatic hydrocarbon group (henceforth group (II)) which may have substituents other than the said group (I) is mentioned, for example.
The monovalent aliphatic hydrocarbon group may be saturated (alkyl group) or unsaturated. In addition, each of the aliphatic hydrocarbon groups may be linear, branched or cyclic. In the case of an unsaturated hydrocarbon group, a linear or branched chain is preferable.
The linear alkyl group preferably has 1 to 20 carbon atoms, more preferably 1 to 15 carbon atoms, and still more preferably 1 to 10 carbon atoms. Specifically, for example, methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group, decanyl group, undecyl group, dodecyl group, tridecyl group, isotridecyl group, tetradecyl group Group, pentadecyl group, hexadecyl group, isohexadecyl group, heptadecyl group, octadecyl group, nonadecyl group, icosyl group, heicosyl group, docosyl group and the like.
The branched alkyl group preferably has 3 to 20 carbon atoms, more preferably 3 to 15 carbon atoms, and still more preferably 3 to 10 carbon atoms. Specifically, for example, 1-methylethyl group (iso-propyl group), 1-methylpropyl group, 2-methylpropyl group, 1-methylbutyl group, 2-methylbutyl group, 3-methylbutyl group, 1-ethylbutyl group 2-ethylbutyl group, tert-butyl group, 1-methylpentyl group, 2-methylpentyl group, 3-methylpentyl group, 4-methylpentyl group and the like.
The cyclic alkyl group may be a monocyclic group or a polycyclic group. The number of carbon atoms is preferably 3 to 30, more preferably 5 to 30, further preferably 5 to 20, particularly preferably 6 to 15, and most preferably 6 to 12. Specific examples include a group in which one hydrogen atom has been removed from a monocycloalkane; a group in which one hydrogen atom has been removed from a polycycloalkane such as bicycloalkane, tricycloalkane, and tetracycloalkane. . More specifically, a group obtained by removing one hydrogen atom from a monocycloalkane such as cyclopentane or cyclohexane; one hydrogen atom from a polycycloalkane such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane or tetracyclododecane. And the like except for.
2-5 are preferable, as for carbon number of an unsaturated hydrocarbon group, 2-4 are more preferable, and 3 is especially preferable. Examples of the linear monovalent unsaturated hydrocarbon group include a vinyl group, a propenyl group (allyl group), and a butynyl group. Examples of the branched monovalent unsaturated hydrocarbon group include a 1-methylpropenyl group and a 2-methylpropenyl group. Among the above, the unsaturated hydrocarbon group is particularly preferably a propenyl group.

基(II)において、前記1価の脂肪族炭化水素基が有していてもよい、上記基(I)以外の置換基としては、たとえば、ヒドロキシ基等が挙げられる。
基(II)としては、特に、アルキル基、ヒドロキシアルキル基が好ましい。
該アルキル基は、上述した直鎖状、分岐鎖状および環状のいずれであってもよく、直鎖状または分岐鎖状が好ましい。
ヒドロキシアルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部が水酸基で置換されたものが挙げられる。ヒドロキシアルキル基中、水酸基の数は、1〜3が好ましく、1が最も好ましい。また、該水酸基は、アルキル鎖の末端に結合していることが好ましく、特に、該アルキル鎖が直鎖状であることが好ましい。
In the group (II), examples of the substituent other than the group (I) that the monovalent aliphatic hydrocarbon group may have include a hydroxy group.
As the group (II), an alkyl group and a hydroxyalkyl group are particularly preferable.
The alkyl group may be linear, branched or cyclic as described above, and is preferably linear or branched.
Examples of the hydroxyalkyl group include those in which a part of hydrogen atoms of the alkyl group is substituted with a hydroxyl group. In the hydroxyalkyl group, the number of hydroxyl groups is preferably 1 to 3, and most preferably 1. The hydroxyl group is preferably bonded to the end of the alkyl chain, and particularly preferably the alkyl chain is linear.

化合物(D1−1)が有する有機基の数(基(I)および基(II)の合計数)が2または3である場合、それらのうちの2または3つが相互に結合して環を形成していてもよい。
この場合に形成される環は、その環構造中に窒素原子を含む含窒素複素環式基であり、その具体例としては、前記(D1)成分が有する「含窒素複素環式基」として挙げたものと同様のものが挙げられる。
When the number of organic groups (the total number of groups (I) and groups (II)) of compound (D1-1) is 2 or 3, 2 or 3 of them are bonded to each other to form a ring You may do it.
The ring formed in this case is a nitrogen-containing heterocyclic group containing a nitrogen atom in its ring structure, and specific examples thereof include the “nitrogen-containing heterocyclic group” possessed by the component (D1). The same thing is mentioned.

化合物(D1−1)としては、アニリン等の第1級アミン、第2級アミン、第3級アミンのいずれであってもよく、第2級アミンまたは第3級アミンが好ましく、第3級アミンが特に好ましい。
第1級アミンの場合、NHの水素原子の1つを置換する置換基は基(I)である。該基(I)は、置換基を有していてもよいフェニル基または含窒素複素環式基であることが好ましく、置換基を有するフェニル基がより好ましく、置換基として分岐鎖状のアルキル基を有するフェニル基が特に好ましい。
第2級アミンの場合、NHの水素原子の2つを置換する置換基のうち、少なくとも1つは基(I)である。残りの1つは基(I)であってもよく、基(II)であってもよい。
第3級アミンの場合、NHの水素原子の3つを置換する置換基のうち、少なくとも1つは基(I)である。残りの2つは基(I)であってもよく、基(II)であってもよい。
化合物(D1−1)としては、特に、下記一般式(d1−1)で表される第3級アミンが好ましい。
The compound (D1-1) may be any of primary amines such as aniline, secondary amines, and tertiary amines, preferably secondary amines or tertiary amines, and tertiary amines. Is particularly preferred.
In the case of primary amines, the substituent replacing one of the NH 3 hydrogen atoms is the group (I). The group (I) is preferably an optionally substituted phenyl group or a nitrogen-containing heterocyclic group, more preferably a phenyl group having a substituent, and a branched alkyl group as the substituent. Particularly preferred are phenyl groups having
In the case of a secondary amine, at least one of the substituents replacing two hydrogen atoms of NH 3 is the group (I). The remaining one may be the group (I) or the group (II).
In the case of a tertiary amine, at least one of the substituents replacing three hydrogen atoms of NH 3 is the group (I). The remaining two may be the group (I) or the group (II).
As the compound (D1-1), a tertiary amine represented by the following general formula (d1-1) is particularly preferable.

Figure 2011117987
[式中、R〜Rは、それぞれ独立して、置換基を有していてもよい炭化水素基であり、R〜Rのうちの少なくとも1つは、その構造中に、エーテル性酸素原子、エステル基、カルボニル基、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、および含窒素複素環式基からなる群から選択される少なくとも1種を含み、R〜Rのうちのいずれか2つが相互に結合して、式中の窒素原子とともに環を形成していてもよい。]
Figure 2011117987
[Wherein, R 7 to R 9 are each independently a hydrocarbon group which may have a substituent, and at least one of R 7 to R 9 is an ether in its structure. An oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, a phenyl group which may have a substituent, and at least one selected from the group consisting of a nitrogen-containing heterocyclic group, and R 7 to R 9 Any two of them may be bonded to each other to form a ring together with the nitrogen atom in the formula. ]

式(d1−1)中、R〜Rにおいて、置換基を有していてもよい炭化水素基のうち、その構造中に、エーテル性酸素原子、エステル基、カルボニル基、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、および含窒素複素環式基からなる群から選択される少なくとも1種を含む炭化水素基(以下、基(I’)という。)としては、前記基(I)で挙げたものと同様のものが挙げられる。特に、前記一般式(I−1)〜(I−5)で表される基が好ましい。
〜Rのうち、基(I’)であるのは、1つであってもよく、2つであってもよく、3つであってもよい。
〜Rのうち、1または2つは、基(I’)に該当しない「置換基を有していてもよい炭化水素基」であってよい。該炭化水素基としては、たとえば、前記基(II)として挙げたものと同様のものが挙げられる。
式(d1−1)中、R〜Rのうちのいずれか2つが相互に結合して、式中の窒素原子とともに環を形成していてもよい。この場合に形成される環としては、たとえば、前記(D1)成分が有する「含窒素複素環式基」で挙げた含窒素複素環式化合物のうち、その環構造中に−NH−を含むもの(NH含窒素複素環式化合物)から、該−NH−における水素原子を除いた基が挙げられる。
該NH含窒素複素環式化合物は、R〜Rのうち、残りの1つが基(I’)ではない場合、その構造中に、エーテル性酸素原子、エステル基、カルボニル基、シアノ基、および置換基を有していてもよいフェニル基からなる群から選択される少なくとも1種を含む。これらのうち、エーテル性酸素原子またはカルボニル基を含むことが好ましい。該NH含窒素複素環式化合物としては、環を構成する炭素原子の一部が酸素原子(−O−)で置換されたNH含窒素複素環式化合物、環を構成する炭素原子に酸素原子(=O)が結合したNH含窒素複素環式化合物等が挙げられ、特に、モルフィリン、γ−ラクタムが好ましい。
化合物(D1−1)として、好ましいものとしては、下記一般式(d1−1−1)〜(d1−1−6)で表されるものが挙げられる。
In formula (d1-1), in R 7 to R 9 , among the hydrocarbon groups which may have a substituent, the structure includes an etheric oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, a substituted group. As the hydrocarbon group containing at least one selected from the group consisting of a phenyl group which may have a group and a nitrogen-containing heterocyclic group (hereinafter referred to as group (I ′)), the group ( The thing similar to what was mentioned by I) is mentioned. In particular, the groups represented by the general formulas (I-1) to (I-5) are preferable.
Of R 7 to R 9, the number of the group (I ′) may be one, two, or three.
One or two of R 7 to R 9 may be “an optionally substituted hydrocarbon group” that does not correspond to the group (I ′). As this hydrocarbon group, the thing similar to what was mentioned as said group (II) is mentioned, for example.
In formula (d1-1), any two of R 7 to R 9 may be bonded to each other to form a ring together with the nitrogen atom in the formula. As the ring formed in this case, for example, among the nitrogen-containing heterocyclic compounds mentioned in the “nitrogen-containing heterocyclic group” of the component (D1), those containing —NH— in the ring structure A group obtained by removing a hydrogen atom in -NH- from (NH-containing heterocyclic compound) can be mentioned.
When the remaining one of R 7 to R 9 is not a group (I ′), the NH nitrogen-containing heterocyclic compound has an etheric oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, And at least one selected from the group consisting of optionally substituted phenyl groups. Among these, it is preferable that an etheric oxygen atom or a carbonyl group is included. As the NH nitrogen-containing heterocyclic compound, an NH nitrogen-containing heterocyclic compound in which a part of carbon atoms constituting the ring is substituted with an oxygen atom (—O—), an oxygen atom ( NH-containing heterocyclic compounds to which ═O) are bonded, and the like, and morphine and γ-lactam are particularly preferable.
Preferred examples of the compound (D1-1) include those represented by the following general formulas (d1-1-1) to (d1-1-6).

Figure 2011117987
[式中、R61、R62、n、R63、R64、R65、R66およびPhはそれぞれ前記と同じであり、R67はアルキル基またはヒドロキシアルキル基であり、R68は水素原子または有機基である。]
Figure 2011117987
[Wherein R 61 , R 62 , n 1 , R 63 , R 64 , R 65 , R 66 and Ph are the same as defined above, R 67 is an alkyl group or a hydroxyalkyl group, and R 68 is hydrogen. An atom or an organic group. ]

式(d1−1−1)〜(d1−1−5)中、R61、R62、n、R63、R64、R65、R66およびPhはそれぞれ前記式(I−1)〜(I−4)中のR61、R62、n、R63、R64、R65、R66およびPhと同様である。
これらのうち、式(d1−1−1)〜(d1−1−2)中のR61は、直鎖状のアルキレン基が好ましく、エチレン基が特に好ましい。
は、2〜4の整数が好ましく、2が最も好ましい。
62は、直鎖状のアルキル基または直鎖状のヒドロキシアルキル基が好ましく、水素原子、メチル基またはヒドロキシメチル基がより好ましい。
式(d1−1−1)〜(d1−1−2)中、−(R61O)n−R62で表される基の好ましい具体例としては、2−メトキシメトキシエチル基、2−(2−メトキシエトキシ)エチル基、2−(2−メトキシエトキシメトキシ)エチル基、2−(1−メトキシエトキシ)エチル基、2−(1−エトキシエトキシ)エチル基、2−(1−エトキシプロポキシ)エチル基、2−{2−(2−ヒドロキシエトキシ)エトキシ}エチル基等が挙げられる。
In formulas (d1-1-1) to (d1-1-5), R 61 , R 62 , n 1 , R 63 , R 64 , R 65 , R 66 and Ph are the same as those in formula (I-1) to The same as R 61 , R 62 , n 1 , R 63 , R 64 , R 65 , R 66 and Ph in (I-4).
Among these, R 61 in formulas (d1-1-1) to (d1-1-2) is preferably a linear alkylene group, and particularly preferably an ethylene group.
n 1 is preferably an integer of 2 to 4, and most preferably 2.
R 62 is preferably a linear alkyl group or a linear hydroxyalkyl group, and more preferably a hydrogen atom, a methyl group or a hydroxymethyl group.
In formulas (d1-1-1) to (d1-1-2), preferred specific examples of the group represented by — (R 61 O) n 1 -R 62 include a 2-methoxymethoxyethyl group, 2- (2-methoxyethoxy) ethyl group, 2- (2-methoxyethoxymethoxy) ethyl group, 2- (1-methoxyethoxy) ethyl group, 2- (1-ethoxyethoxy) ethyl group, 2- (1-ethoxypropoxy) ) Ethyl group, 2- {2- (2-hydroxyethoxy) ethoxy} ethyl group and the like.

式(d1−1−3)〜(d1−1−4)中のR63は、直鎖状のアルキレン基が好ましく、エチレン基が特に好ましい。
64は、エーテル性酸素原子を有していてもよい直鎖状のアルキル基が好ましく、該アルキル基の炭素数は、1〜10が好ましい。該アルキル基がエーテル性酸素原子を有する場合、その具体例としては、前記−(R61O)n−R62と同様のものが挙げられる。
式(d1−1−4)中のR65は、直鎖状のアルキレン基が好ましく、炭素数1〜4のアルキレン基が好ましく、エチレン基が特に好ましい。
式(d1−1−5)中、R65は、単結合が最も好ましい。
67におけるアルキル基、ヒドロキシアルキル基は、それぞれ、前記基(II)の説明で挙げたアルキル基、ヒドロキシアルキル基と同様のものが挙げられる。
式(d1−1−6)中、R68における有機基としては、前記基(I)、基(II)等が挙げられる。これらのうち、基(I)としては、式(I−5)で表される基が好ましく、特にR66が単結合であるものが好ましい。基(II)としては、アルキル基が好ましく、分岐鎖状または環状のアルキル基が特に好ましい。
R 63 in formulas (d1-1-3) to (d1-1-4) is preferably a linear alkylene group, and particularly preferably an ethylene group.
R 64 is preferably a linear alkyl group which may have an etheric oxygen atom, and the alkyl group preferably has 1 to 10 carbon atoms. If the alkyl group has an etheric oxygen atom, and specific examples thereof include the - it includes the same (R 61 O) n 1 -R 62.
R 65 in formula (d1-1-4) is preferably a linear alkylene group, preferably an alkylene group having 1 to 4 carbon atoms, and particularly preferably an ethylene group.
In formula (d1-1-5), R 65 is most preferably a single bond.
Examples of the alkyl group and hydroxyalkyl group in R 67 are the same as the alkyl group and hydroxyalkyl group mentioned in the description of the group (II).
In formula (d1-1-6), examples of the organic group for R 68 include the group (I) and the group (II). Of these, the group (I) is preferably a group represented by the formula (I-5), particularly preferably R 66 is a single bond. As the group (II), an alkyl group is preferable, and a branched or cyclic alkyl group is particularly preferable.

上記化合物(D1−1)以外に、(D1)成分として好ましく用いられる化合物として、環式アミンが挙げられる。
環式アミンとしては、たとえば、前記含窒素複素環式基における説明で挙げた含窒素複素環式化合物が挙げられる。環式アミンとしては、特に、その環骨格中に、−NH−および/または不飽和結合(C=N、C=C、N=N等)を有するものが好ましい。かかる環式アミンとして、具体的には、ピロール、イミダゾール、ピラゾール、1,2,3−トリアゾール、1,2,4−トリアゾール、インドール、テトラゾール、ピリジン、ピペリジン、ピペラジン、ピロリジン、モルホリン、インドール、インダゾール、ベンゾイミダゾール(ベンズイミダゾール)、ベンゾトリアゾール、カルバゾール、1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]−5−ノネン、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセン等が挙げられる。
これらの環式アミンは、置換基を有していてもよい。「置換基を有していてもよい」とは、環式アミンにおける炭素原子に結合した水素原子および窒素原子に結合した水素原子のうちの一部が置換基(水素原子以外の基または原子)で置換されていることを意味する。
該置換基としては、たとえば上述した基(I)、アルキル基、ヒドロキシアルキル基等が挙げられる。
環式アミンが置換基を有する場合、該置換基は、炭素原子に結合していることが好ましい。
環式アミンとしては、上記の中でも、その環骨格中にC=N−C、−NH−C(R20)=N−[R20は水素原子または置換基である。]または>N−C(R20’)=N−[R20’は水素原子または置換基である。]を有するものが好ましく、特に、イミダゾール、ベンゾイミダゾールまたは1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]−5−ノネンが好ましい。
また、置換基を有していてもよいピリジンも好ましく、置換基を有するピリジンがより好ましい。該置換基としては、(D1)成分が有する「含窒素複素環式基」の説明で、含窒素複素環式化合物が有していてもよい置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
置換基を有していてもよいピリジンとしては、置換基として少なくとも1つのアルキル基を有するピリジンが好ましく、2,6−ジアルキルピリジンがより好ましい。該アルキル基としては、分岐鎖状のアルキル基が好ましく、iso−プロピル基またはtert−ブチル基であることが最も好ましい。
環式アミンとして、好ましいものとしては、下記一般式(d1−2−1)〜(d1−2−4)で表されるものが挙げられる。
In addition to the compound (D1-1), examples of the compound preferably used as the component (D1) include cyclic amines.
Examples of the cyclic amine include the nitrogen-containing heterocyclic compounds mentioned in the description of the nitrogen-containing heterocyclic group. As the cyclic amine, those having —NH— and / or an unsaturated bond (C═N, C═C, N═N, etc.) in the ring skeleton are particularly preferable. Specific examples of such cyclic amines include pyrrole, imidazole, pyrazole, 1,2,3-triazole, 1,2,4-triazole, indole, tetrazole, pyridine, piperidine, piperazine, pyrrolidine, morpholine, indole, and indazole. , Benzimidazole (benzimidazole), benzotriazole, carbazole, 1,5-diazabicyclo [4.3.0] -5-nonene, 1,8-diazabicyclo [5.4.0] -7-undecene, and the like. .
These cyclic amines may have a substituent. “It may have a substituent” means that a part of a hydrogen atom bonded to a carbon atom and a nitrogen atom bonded to a carbon atom in a cyclic amine is a substituent (a group or atom other than a hydrogen atom). It means that it is replaced with.
Examples of the substituent include the above-described group (I), alkyl group, hydroxyalkyl group and the like.
When the cyclic amine has a substituent, the substituent is preferably bonded to a carbon atom.
Among the cyclic amines, C═N—C, —NH—C (R 20 ) ═N— [R 20 is a hydrogen atom or a substituent in the ring skeleton among the above. ] Or> N—C (R 20 ′) ═N— [R 20 ′ is a hydrogen atom or a substituent. ], Especially imidazole, benzimidazole or 1,5-diazabicyclo [4.3.0] -5-nonene is preferred.
Moreover, the pyridine which may have a substituent is also preferable and the pyridine which has a substituent is more preferable. Examples of the substituent include the same substituents as those which may be included in the nitrogen-containing heterocyclic compound in the description of the “nitrogen-containing heterocyclic group” of the component (D1). .
As the pyridine which may have a substituent, pyridine having at least one alkyl group as a substituent is preferable, and 2,6-dialkylpyridine is more preferable. The alkyl group is preferably a branched alkyl group, and most preferably an iso-propyl group or a tert-butyl group.
Preferable examples of the cyclic amine include those represented by the following general formulas (d1-2-1) to (d1-2-4).

Figure 2011117987
[式中、R20は水素原子または有機基を示す。R6a〜R6eはそれぞれ独立に水素原子または有機基を示す。]
Figure 2011117987
[Wherein R 20 represents a hydrogen atom or an organic group. R 6a to R 6e each independently represent a hydrogen atom or an organic group. ]

式(d1−2−1)〜(d1−2−2)中、R20における有機基としては、前記基(I)、基(II)等が挙げられる。
式(d1−2−1)中のR20としては、基(I)が好ましく、式(I−1)で表される基がより好ましく、特に、−(R61O)n−R62(式中、R61、n、R62はそれぞれ前記と同じである。)が好ましい。
式(d1−2−2)中、複数のR20はそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
式(d1−2−2)中のR20としては、基(I)が好ましく、式(I−4)で表される基がより好ましく、特に、フェニル基が好ましい。
式(d1−2−4)中、R6a〜R6eにおける有機基としては、前記基(I)、基(II)等が挙げられる。これらのうち、基(I)としては、式(I−5)で表される基が好ましく、特にR66が単結合であるものが好ましい。基(II)としては、アルキル基が好ましく、分岐鎖状または環状のアルキル基がより好ましい。
式(d1−2−4)中、R6a〜R6eはそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
式(d1−2−4)で表される環式アミンとしては、特に、R6a〜R6eのうち、R6cが式(I−4)で表される基であり、残りが水素原子であるもの、またはR6aおよびR6eがアルキル基であり、残りが水素原子であるものが好ましい。
In formulas (d1-2-1) to (d1-2-2), examples of the organic group for R 20 include the group (I) and the group (II).
R 20 in the formula (d1-2-1) is preferably a group (I), more preferably a group represented by the formula (I-1), and in particular, — (R 61 O) n 1 -R 62. (Wherein R 61 , n 1 and R 62 are the same as defined above), respectively.
In formula (d1-2-2), the plurality of R 20 may be the same or different.
R 20 in formula (d1-2-2) is preferably group (I), more preferably a group represented by formula (I-4), and particularly preferably a phenyl group.
In formula (d1-2-4), examples of the organic group for R 6a to R 6e include the group (I) and the group (II). Of these, the group (I) is preferably a group represented by the formula (I-5), particularly preferably R 66 is a single bond. As the group (II), an alkyl group is preferable, and a branched or cyclic alkyl group is more preferable.
In formula (d1-2-4), R 6a to R 6e may be the same or different.
As the cyclic amine represented by the formula (d1-2-4), in particular, among R 6a to R 6e , R 6c is a group represented by the formula (I-4), and the remainder is a hydrogen atom. Some are preferred, or those in which R 6a and R 6e are alkyl groups and the rest are hydrogen atoms.

上記(D1)成分は、いずれか1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
本発明において、(D1)成分は、かさ高い構造を有するものほど、本発明の効果に優れることから好ましい。かさ高い構造を有するものとしては、分岐構造または環構造を有するものが挙げられ、具体的には、(1)前記第1級アミンまたは第2級アミンのうち、置換基を有していてもよいフェニル基または含窒素複素環式基を有するもの、(2)第3級アミン、(3)環式アミン、等が挙げられる。
(D1)成分としては、前記一般式(d1−1)で表される第3級アミン、および環式アミンからなる群から選択される少なくとも1種が好ましく、特に、前記一般式(d1−1−1)〜(d1−1−6)および(d1−2−1)〜(d1−2−3)からなる群から選択される少なくとも1種が好ましい。特に、置換基を有していてもよいフェニル基または含窒素複素環式基を有するものが好ましい。
(D)成分中、(D1)成分の割合は、本発明の効果を考慮すると、(D)成分の総質量に対し、50質量%以上が好ましく、75質量%がより好ましく、100質量%であってもよい。
As the component (D1), any one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
In the present invention, as the component (D1), a bulky structure is preferable because the effect of the present invention is excellent. Examples of the bulky structure include those having a branched structure or a ring structure. Specifically, (1) the primary amine or the secondary amine may have a substituent. Examples thereof include those having a good phenyl group or nitrogen-containing heterocyclic group, (2) tertiary amine, (3) cyclic amine, and the like.
The component (D1) is preferably at least one selected from the group consisting of a tertiary amine represented by the general formula (d1-1) and a cyclic amine, and in particular, the general formula (d1-1). -1) to (d1-1-6) and (d1-2-1) to (d1-2-3) are preferably at least one selected from the group consisting of. Particularly preferred are those having an optionally substituted phenyl group or nitrogen-containing heterocyclic group.
In the component (D), the proportion of the component (D1) is preferably 50% by mass or more, more preferably 75% by mass, and 100% by mass with respect to the total mass of the component (D) in consideration of the effects of the present invention. There may be.

本発明のポジ型レジスト組成物は、(D)成分として、前記(D1)成分に該当しない含窒素有機化合物(以下、(D2)成分という。)を含有してもよい。
(D2)成分としては、レジスト組成物用の酸拡散制御剤、すなわち露光により前記(B)成分から発生する酸をトラップするクエンチャーとして既に多種多様なものが提案されているので、公知のものから任意に選択して用いればよい。
(D2)成分としては、たとえば、アンモニアNHの水素原子の少なくとも1つを、炭素数1〜20のアルキル基またはヒドロキシアルキル基で置換したアミン(アルキルアミンまたはアルキルアルコールアミン)が挙げられる。
アルキルアミンおよびアルキルアルコールアミンの具体例としては、n−ヘキシルアミン、n−ヘプチルアミン、n−オクチルアミン、n−ノニルアミン、n−デシルアミン等のモノアルキルアミン;ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン、ジ−n−ヘプチルアミン、ジ−n−オクチルアミン、ジシクロヘキシルアミン等のジアルキルアミン;トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−プロピルアミン、トリ−n−ブチルアミン、トリ−n−ヘキシルアミン、トリ−n−ペンチルアミン、トリ−n−ヘプチルアミン、トリ−n−オクチルアミン、トリ−n−ノニルアミン、トリ−n−デカニルアミン、トリ−n−ドデシルアミン等のトリアルキルアミン;ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、ジイソプロパノールアミン、トリイソプロパノールアミン、ジ−n−オクタノールアミン、トリ−n−オクタノールアミン、ステアリルジエタノールアミン、ラウリルジエタノールアミン等のアルキルアルコールアミンが挙げられる。これらの中でも、トリアルキルアミンおよび/またはアルキルアルコールアミンが好ましい。
これらは単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
The positive resist composition of the present invention may contain, as component (D), a nitrogen-containing organic compound (hereinafter referred to as component (D2)) that does not correspond to component (D1).
As the component (D2), a wide variety of acid diffusion control agents for resist compositions, that is, quenchers that trap the acid generated from the component (B) upon exposure have already been proposed. Any of these may be selected and used.
Examples of the component (D2) include amines (alkylamines or alkyl alcohol amines) in which at least one hydrogen atom of ammonia NH 3 is substituted with an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or a hydroxyalkyl group.
Specific examples of alkylamines and alkyl alcohol amines include monoalkylamines such as n-hexylamine, n-heptylamine, n-octylamine, n-nonylamine, n-decylamine; diethylamine, di-n-propylamine, di- -Dialkylamines such as n-heptylamine, di-n-octylamine, dicyclohexylamine; trimethylamine, triethylamine, tri-n-propylamine, tri-n-butylamine, tri-n-hexylamine, tri-n-pentylamine , Tri-n-heptylamine, tri-n-octylamine, tri-n-nonylamine, tri-n-decanylamine, tri-n-dodecylamine, and the like; diethanolamine, triethanolamine, diisopropanolamine Triisopropanolamine, di -n- octanol amine, tri -n- octanol amine, stearyl diethanolamine, alkyl alcohol amines such as lauryl diethanolamine. Among these, trialkylamine and / or alkyl alcohol amine are preferable.
These may be used alone or in combination of two or more.

本発明のポジ型レジスト組成物における(D)成分の含有量は、(A)成分100質量部に対し、0.01〜5.0質量部が好ましく、0.10〜3.5質量部がより好ましい。上記範囲の下限値以上とすることにより、本発明の効果が充分に得られる。また、該含有量が上記範囲内であることにより、レジストパターン形状、引き置き経時安定性等も向上する。   The content of the component (D) in the positive resist composition of the present invention is preferably 0.01 to 5.0 parts by mass, and 0.10 to 3.5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the component (A). More preferred. By setting it to be equal to or higher than the lower limit of the above range, the effect of the present invention can be sufficiently obtained. In addition, when the content is within the above range, the resist pattern shape, the stability over time, and the like are also improved.

<任意成分>
本発明のポジ型レジスト組成物には、感度劣化の防止や、レジストパターン形状、引き置き経時安定性等の向上の目的で、任意の成分として、有機カルボン酸、ならびにリンのオキソ酸およびその誘導体からなる群から選択される少なくとも1種の化合物(E)(以下、(E)成分という。)を含有させることができる。
有機カルボン酸としては、例えば、酢酸、マロン酸、クエン酸、リンゴ酸、コハク酸、安息香酸、サリチル酸などが好適である。
リンのオキソ酸およびその誘導体としては、リン酸、ホスホン酸、ホスフィン酸等が挙げられ、これらの中でも特にホスホン酸が好ましい。
リンのオキソ酸の誘導体としては、たとえば、上記オキソ酸の水素原子を炭化水素基で置換したエステル等が挙げられ、前記炭化水素基としては、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数6〜15のアリール基等が挙げられる。
リン酸の誘導体としては、リン酸ジ−n−ブチルエステル、リン酸ジフェニルエステル等のリン酸エステルなどが挙げられる。
ホスホン酸の誘導体としては、ホスホン酸ジメチルエステル、ホスホン酸−ジ−n−ブチルエステル、フェニルホスホン酸、ホスホン酸ジフェニルエステル、ホスホン酸ジベンジルエステル等のホスホン酸エステルなどが挙げられる。
ホスフィン酸の誘導体としては、フェニルホスフィン酸等のホスフィン酸エステルなどが挙げられる。
(E)成分は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
(E)成分は、(A)成分100質量部に対して、通常、0.01〜5.0質量部の範囲で用いられる。
<Optional component>
The positive resist composition of the present invention includes, as optional components, organic carboxylic acids, phosphorus oxoacids and derivatives thereof for the purpose of preventing sensitivity deterioration, improving the resist pattern shape, retention stability over time, etc. At least one compound (E) selected from the group consisting of (hereinafter referred to as component (E)) can be contained.
As the organic carboxylic acid, for example, acetic acid, malonic acid, citric acid, malic acid, succinic acid, benzoic acid, salicylic acid and the like are suitable.
Examples of phosphorus oxo acids and derivatives thereof include phosphoric acid, phosphonic acid, phosphinic acid and the like, and among these, phosphonic acid is particularly preferable.
Examples of the oxo acid derivative of phosphorus include esters in which the hydrogen atom of the oxo acid is substituted with a hydrocarbon group, and the hydrocarbon group includes an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms and 6 to 6 carbon atoms. 15 aryl groups and the like.
Examples of phosphoric acid derivatives include phosphoric acid esters such as di-n-butyl phosphate and diphenyl phosphate.
Examples of phosphonic acid derivatives include phosphonic acid esters such as phosphonic acid dimethyl ester, phosphonic acid-di-n-butyl ester, phenylphosphonic acid, phosphonic acid diphenyl ester, and phosphonic acid dibenzyl ester.
Examples of the phosphinic acid derivatives include phosphinic acid esters such as phenylphosphinic acid.
(E) A component may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.
(E) A component is normally used in 0.01-5.0 mass parts with respect to 100 mass parts of (A) component.

本発明のポジ型レジスト組成物には、さらに所望により混和性のある添加剤、例えばレジスト膜の性能を改良するための付加的樹脂、塗布性を向上させるための界面活性剤、溶解抑制剤、可塑剤、安定剤、着色剤、ハレーション防止剤、染料などを適宜、添加含有させることができる。また、レジストパターンの形成を液浸露光により行う場合、たとえば特開2008−134607に挙げられているようなフッ素系の添加剤を含有させることができる。   The positive resist composition of the present invention further contains miscible additives as desired, for example, additional resins for improving the performance of the resist film, surfactants for improving coating properties, dissolution inhibitors, Plasticizers, stabilizers, colorants, antihalation agents, dyes, and the like can be added and contained as appropriate. In addition, when the resist pattern is formed by immersion exposure, for example, a fluorine-based additive as described in JP-A-2008-134607 can be contained.

本発明のポジ型レジスト組成物は、材料を有機溶剤(以下、(S)成分ということがある)に溶解させて製造することができる。
(S)成分としては、使用する各成分を溶解し、均一な溶液とすることができるものであればよく、従来、化学増幅型レジストの溶剤として公知のものの中から任意のものを1種または2種以上適宜選択して用いることができる。
例えば、γ−ブチロラクトン等のラクトン類;
アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、メチル−n−ペンチルケトン、メチルイソペンチルケトン、2−ヘプタノンなどのケトン類;
エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、ジプロピレングリコールなどの多価アルコール類;
エチレングリコールモノアセテート、ジエチレングリコールモノアセテート、プロピレングリコールモノアセテート、またはジプロピレングリコールモノアセテート等のエステル結合を有する化合物、前記多価アルコール類または前記エステル結合を有する化合物のモノメチルエーテル、モノエチルエーテル、モノプロピルエーテル、モノブチルエーテル等のモノアルキルエーテルまたはモノフェニルエーテル等のエーテル結合を有する化合物等の多価アルコール類の誘導体[これらの中では、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)が好ましい];
ジオキサンのような環式エーテル類や、乳酸メチル、乳酸エチル(EL)、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシプロピオン酸エチルなどのエステル類;
アニソール、エチルベンジルエーテル、クレジルメチルエーテル、ジフェニルエーテル、ジベンジルエーテル、フェネトール、ブチルフェニルエーテル、エチルベンゼン、ジエチルベンゼン、ペンチルベンゼン、イソプロピルベンゼン、トルエン、キシレン、シメン、メシチレン等の芳香族系有機溶剤などを挙げることができる。
これらの有機溶剤は単独で用いてもよく、2種以上の混合溶剤として用いてもよい。
中でも、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)、ELが好ましい。
また、PGMEAと極性溶剤とを混合した混合溶媒も好ましい。その配合比(質量比)は、PGMEAと極性溶剤との相溶性等を考慮して適宜決定すればよいが、好ましくは1:9〜9:1、より好ましくは2:8〜8:2の範囲内とすることが好ましい。
より具体的には、極性溶剤としてELを配合する場合は、PGMEA:ELの質量比は、好ましくは1:9〜9:1、より好ましくは2:8〜8:2である。また、極性溶剤としてPGMEを配合する場合は、PGMEA:PGMEの質量比は、好ましくは1:9〜9:1、より好ましくは2:8〜8:2、さらに好ましくは3:7〜7:3である。
また、(S)成分として、その他には、PGMEA及びELの中から選ばれる少なくとも1種とγ−ブチロラクトンとの混合溶剤も好ましい。この場合、混合割合としては、前者と後者の質量比が好ましくは70:30〜95:5とされる。
(S)成分の使用量は特に限定しないが、基板等に塗布可能な濃度で、塗布膜厚に応じて適宜設定されるものであるが、一般的にはレジスト組成物の固形分濃度が1〜20質量%、好ましくは2〜15質量%の範囲内となる様に用いられる。
The positive resist composition of the present invention can be produced by dissolving the material in an organic solvent (hereinafter sometimes referred to as (S) component).
As the component (S), any component can be used as long as it can dissolve each component to be used to form a uniform solution. Conventionally, any one of known solvents for chemically amplified resists can be used. Two or more types can be appropriately selected and used.
For example, lactones such as γ-butyrolactone;
Ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, methyl-n-pentyl ketone, methyl isopentyl ketone, 2-heptanone;
Polyhydric alcohols such as ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol, dipropylene glycol;
Compounds having an ester bond such as ethylene glycol monoacetate, diethylene glycol monoacetate, propylene glycol monoacetate, dipropylene glycol monoacetate, monomethyl ether, monoethyl ether, monopropyl of the polyhydric alcohols or the compound having an ester bond Derivatives of polyhydric alcohols such as ethers, monoalkyl ethers such as monobutyl ether or compounds having an ether bond such as monophenyl ether [in these, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), propylene glycol monomethyl ether (PGME) Is preferred];
Cyclic ethers such as dioxane and esters such as methyl lactate, ethyl lactate (EL), methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl methoxypropionate, ethyl ethoxypropionate;
Aromatic organic solvents such as anisole, ethyl benzyl ether, cresyl methyl ether, diphenyl ether, dibenzyl ether, phenetol, butyl phenyl ether, ethylbenzene, diethylbenzene, pentylbenzene, isopropylbenzene, toluene, xylene, cymene, mesitylene, etc. be able to.
These organic solvents may be used independently and may be used as 2 or more types of mixed solvents.
Among these, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), propylene glycol monomethyl ether (PGME), and EL are preferable.
Moreover, the mixed solvent which mixed PGMEA and the polar solvent is also preferable. The blending ratio (mass ratio) may be appropriately determined in consideration of the compatibility between PGMEA and the polar solvent, preferably 1: 9 to 9: 1, more preferably 2: 8 to 8: 2. It is preferable to be within the range.
More specifically, when EL is blended as a polar solvent, the mass ratio of PGMEA: EL is preferably 1: 9 to 9: 1, more preferably 2: 8 to 8: 2. Moreover, when mix | blending PGME as a polar solvent, the mass ratio of PGMEA: PGME becomes like this. Preferably it is 1: 9-9: 1, More preferably, it is 2: 8-8: 2, More preferably, it is 3: 7-7: 3.
In addition, as the component (S), a mixed solvent of at least one selected from PGMEA and EL and γ-butyrolactone is also preferable. In this case, the mixing ratio of the former and the latter is preferably 70:30 to 95: 5.
The amount of component (S) used is not particularly limited, but is a concentration that can be applied to a substrate or the like, and is appropriately set according to the coating film thickness. In general, the solid content concentration of the resist composition is 1 -20% by mass, preferably 2-15% by mass.

≪レジストパターン形成方法≫
本発明のレジストパターン形成方法は、支持体上に、前記本発明のポジ型レジスト組成物を用いてレジスト膜を形成する工程、前記レジスト膜を露光する工程、および前記レジスト膜を現像してレジストパターンを形成する工程を含む。
本発明のレジストパターン形成方法は、例えば以下の様にして行うことができる。
すなわち、まず支持体上に、前記本発明のポジ型レジスト組成物をスピンナーなどで塗布し、80〜150℃の温度条件下、プレベーク(ポストアプライベーク(PAB))を40〜120秒間、好ましくは60〜90秒間施し、これに例えばArF露光装置、電子線描画装置、EUV露光装置等の露光装置を用いて、マスクパターンを介した露光、またはマスクパターンを介さない電子線の直接照射による描画等により選択的に露光した後、80〜150℃の温度条件下、PEB(露光後加熱)を40〜120秒間、好ましくは60〜90秒間施す。次いでこれをアルカリ現像液、例えば0.1〜10質量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)水溶液を用いて現像処理し、好ましくは純水を用いて水リンスを行い、乾燥を行う。また、場合によっては、上記現像処理後にベーク処理(ポストベーク)を行ってもよい。
このようにして、マスクパターンに忠実なレジストパターンを得ることができる。
≪Resist pattern formation method≫
The resist pattern forming method of the present invention comprises a step of forming a resist film on a support using the positive resist composition of the present invention, a step of exposing the resist film, and developing the resist film to form a resist. Forming a pattern.
The resist pattern forming method of the present invention can be performed, for example, as follows.
That is, first, the positive resist composition of the present invention is applied onto a support with a spinner or the like, and pre-baked (post-apply bake (PAB)) for 40 to 120 seconds, preferably at a temperature of 80 to 150 ° C., preferably For 60 to 90 seconds, using an exposure apparatus such as an ArF exposure apparatus, an electron beam drawing apparatus, or an EUV exposure apparatus, exposure through a mask pattern, or drawing by direct irradiation of an electron beam without using a mask pattern, etc. Then, PEB (post-exposure heating) is applied for 40 to 120 seconds, preferably 60 to 90 seconds, at a temperature of 80 to 150 ° C. Subsequently, this is developed using an alkali developer, for example, an aqueous solution of 0.1 to 10% by mass of tetramethylammonium hydroxide (TMAH), preferably rinsed with pure water and dried. In some cases, a baking process (post-bake) may be performed after the development process.
In this way, a resist pattern faithful to the mask pattern can be obtained.

支持体としては、特に限定されず、従来公知のものを用いることができ、例えば、電子部品用の基板や、これに所定の配線パターンが形成されたもの等を例示することができる。より具体的には、シリコンウェーハ、銅、クロム、鉄、アルミニウム等の金属製の基板や、ガラス基板等が挙げられる。配線パターンの材料としては、例えば銅、アルミニウム、ニッケル、金等が使用可能である。
また、支持体としては、上述のような基板上に、無機系および/または有機系の膜が設けられたものであってもよい。無機系の膜としては、無機反射防止膜(無機BARC)が挙げられる。有機系の膜としては、有機反射防止膜(有機BARC)が挙げられる。
露光に用いる波長は、特に限定されず、ArFエキシマレーザー、KrFエキシマレーザー、Fエキシマレーザー、EUV(極紫外線)、VUV(真空紫外線)、EB(電子線)、X線、軟X線等の放射線を用いて行うことができる。前記レジスト組成物は、KrFエキシマレーザー、ArFエキシマレーザー、EBまたはEUV、特にArFエキシマレーザーに対して有効である。
The support is not particularly limited, and a conventionally known one can be used, and examples thereof include a substrate for electronic components and a substrate on which a predetermined wiring pattern is formed. More specifically, a silicon substrate, a metal substrate such as copper, chromium, iron, and aluminum, a glass substrate, and the like can be given. As a material for the wiring pattern, for example, copper, aluminum, nickel, gold or the like can be used.
Further, the support may be a substrate in which an inorganic and / or organic film is provided on the above-described substrate. An inorganic antireflection film (inorganic BARC) is an example of the inorganic film. Examples of the organic film include an organic antireflection film (organic BARC).
The wavelength used for the exposure is not particularly limited, and ArF excimer laser, KrF excimer laser, F 2 excimer laser, EUV (extreme ultraviolet), VUV (vacuum ultraviolet), EB (electron beam), X-ray, soft X-ray, etc. Can be done using radiation. The resist composition is effective for KrF excimer laser, ArF excimer laser, EB or EUV, particularly ArF excimer laser.

レジスト膜の露光方法は、空気や窒素等の不活性ガス中で行う通常の露光(ドライ露光)であってもよく、液浸露光(Liquid Immersion Lithography)であってもよい。
液浸露光は、予めレジスト膜と露光装置の最下位置のレンズ間を、空気の屈折率よりも大きい屈折率を有する溶媒(液浸媒体)で満たし、その状態で露光(浸漬露光)を行う露光方法である。
液浸媒体としては、空気の屈折率よりも大きく、かつ露光されるレジスト膜の有する屈折率よりも小さい屈折率を有する溶媒が好ましい。かかる溶媒の屈折率としては、前記範囲内であれば特に制限されない。
空気の屈折率よりも大きく、かつ前記レジスト膜の屈折率よりも小さい屈折率を有する溶媒としては、例えば、水、フッ素系不活性液体、シリコン系溶剤、炭化水素系溶剤等が挙げられる。
フッ素系不活性液体の具体例としては、CHCl、COCH、COC、C等のフッ素系化合物を主成分とする液体等が挙げられ、沸点が70〜180℃のものが好ましく、80〜160℃のものがより好ましい。フッ素系不活性液体が上記範囲の沸点を有するものであると、露光終了後に、液浸に用いた媒体の除去を、簡便な方法で行えることから好ましい。
フッ素系不活性液体としては、特に、アルキル基の水素原子が全てフッ素原子で置換されたパーフロオロアルキル化合物が好ましい。パーフロオロアルキル化合物としては、具体的には、パーフルオロアルキルエーテル化合物やパーフルオロアルキルアミン化合物を挙げることができる。
さらに、具体的には、前記パーフルオロアルキルエーテル化合物としては、パーフルオロ(2−ブチル−テトラヒドロフラン)(沸点102℃)を挙げることができ、前記パーフルオロアルキルアミン化合物としては、パーフルオロトリブチルアミン(沸点174℃)を挙げることができる。
液浸媒体としては、コスト、安全性、環境問題、汎用性等の観点から、水が好ましく用いられる。
The exposure method of the resist film may be normal exposure (dry exposure) performed in an inert gas such as air or nitrogen, or may be immersion exposure (Liquid Immersion Lithography).
In immersion exposure, the space between the resist film and the lens at the lowest position of the exposure apparatus is previously filled with a solvent (immersion medium) having a refractive index larger than that of air, and exposure (immersion exposure) is performed in that state. It is an exposure method.
As the immersion medium, a solvent having a refractive index larger than the refractive index of air and smaller than the refractive index of the resist film to be exposed is preferable. The refractive index of such a solvent is not particularly limited as long as it is within the above range.
Examples of the solvent having a refractive index larger than the refractive index of air and smaller than the refractive index of the resist film include water, a fluorine-based inert liquid, a silicon-based solvent, and a hydrocarbon-based solvent.
Specific examples of the fluorine-based inert liquid include a fluorine-based compound such as C 3 HCl 2 F 5 , C 4 F 9 OCH 3 , C 4 F 9 OC 2 H 5 , and C 5 H 3 F 7 as a main component. Examples thereof include liquids, and those having a boiling point of 70 to 180 ° C are preferable, and those having a boiling point of 80 to 160 ° C are more preferable. It is preferable that the fluorine-based inert liquid has a boiling point in the above range since the medium used for immersion can be removed by a simple method after the exposure is completed.
As the fluorine-based inert liquid, a perfluoroalkyl compound in which all hydrogen atoms of the alkyl group are substituted with fluorine atoms is particularly preferable. Specific examples of the perfluoroalkyl compound include a perfluoroalkyl ether compound and a perfluoroalkylamine compound.
More specifically, examples of the perfluoroalkyl ether compound include perfluoro (2-butyl-tetrahydrofuran) (boiling point: 102 ° C.). Examples of the perfluoroalkylamine compound include perfluorotributylamine ( Boiling point of 174 ° C.).
As the immersion medium, water is preferably used from the viewpoints of cost, safety, environmental problems, versatility, and the like.

本発明のレジスト組成物によれば、高解像性のレジストパターンを形成でき、レジストパターンを形成する際のMEFや、形成されるレジストパターン寸法の面内均一性(CDU)、形成されるレジストパターンの形状(たとえばホールパターンを形成した際のホールの真円性)等も良好である。
上記効果が得られる理由としては、定かではないが、以下のことが考えられる。すなわち、まず、(A1)成分は、比較的長い側鎖の末端に、極性基である−SO−を含む環式基を有することで、当該ポジ型レジスト組成物を用いて形成されるレジスト膜の、基板等の支持体上に対する密着性の向上や、レジスト膜中の(B)成分の分布が均一性の向上に寄与していると考えられる。また、(D1)成分は、特定の官能基を有することで、その塩基解離定数(pKb)をコントロールすることにより(B)成分から発生した酸を効果的に捕捉し、その拡散を抑制することで、上記効果を奏するのではないかと推測される。さらに、(D1)成分がその構造中にベンゼン環を有する場合には、レジスト膜の透過率の調整効果も有するため、これが、上記pKbのコントロールとともに、上記効果に寄与すると考えられる。また(D1)成分がフェニル基や含窒素複素環式基等のかさ高い骨格を有する場合は、(D1)成分のレジスト膜中分布もより均一になると考えられ、CDU向上に寄与すると推測される。
According to the resist composition of the present invention, a high-resolution resist pattern can be formed, MEF when forming the resist pattern, in-plane uniformity (CDU) of the formed resist pattern dimension, resist to be formed The shape of the pattern (for example, the roundness of the hole when forming the hole pattern) is also good.
The reason why the above effect is obtained is not clear, but the following may be considered. That is, first, the component (A1) has a cyclic group containing —SO 2 —, which is a polar group, at the end of a relatively long side chain, thereby forming a resist formed using the positive resist composition. It is considered that the improvement of the adhesion of the film to the support such as the substrate and the distribution of the component (B) in the resist film contribute to the improvement of the uniformity. In addition, the component (D1) has a specific functional group, thereby effectively capturing the acid generated from the component (B) and controlling its diffusion by controlling the base dissociation constant (pKb). Thus, it is presumed that the above effect is achieved. Furthermore, when the component (D1) has a benzene ring in its structure, it also has an effect of adjusting the transmittance of the resist film, which is considered to contribute to the above effect together with the control of the pKb. In addition, when the component (D1) has a bulky skeleton such as a phenyl group or a nitrogen-containing heterocyclic group, the distribution in the resist film of the component (D1) is considered to be more uniform, and it is estimated that it contributes to CDU improvement. .

次に、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によって限定されるものではない。
本実施例では、化学式(1)で表される単位を「化合物(1)」と記載し、他の式で表される化合物についても同様に記載する。
なお、NMRによる分析において、H−NMRの内部標準はテトラメチルシランであり、19F−NMRの内部標準はヘキサフルオロベンゼンである(但し、ヘキサフルオロベンゼンのピークを−160ppmとした)。
EXAMPLES Next, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited by these examples.
In this example, the unit represented by the chemical formula (1) is referred to as “compound (1)”, and the same applies to compounds represented by other formulas.
In the analysis by NMR, the internal standard of 1 H-NMR is tetramethylsilane, and the internal standard of 19 F-NMR is hexafluorobenzene (however, the peak of hexafluorobenzene is -160 ppm).

[モノマー合成例1(化合物(1)の合成)]
後述するポリマー合成例で使用した化合物(1)を以下の手順で合成した。
500mlの3つ口フラスコに、窒素雰囲気下、アルコール(1)20g(105.14mmol)、エチルジイソプロピルアミノカルボジイミド(EDCI)塩酸塩30.23g(157.71mmol)およびジメチルアミノピリジン(DMAP)0.6g(5mmol)のTHF溶液300mlを入れ、そこに、氷冷下(0℃)で前駆体(1)16.67g(115.66mmol)を加えた後、室温で12時間撹拌した。
薄層クロマトグラフィー(TLC)にて原料の消失を確認後、50mlの水を加えて反応を停止した。反応溶媒を減圧濃縮し、酢酸エチルで3回抽出して得られた有機層を水、飽和炭酸水素ナトリウム、1N―HClaqの順で洗浄した。減圧下、溶媒留去して得られた生成物を乾燥させ、化合物(1)を得た。
[Monomer Synthesis Example 1 (Synthesis of Compound (1))]
Compound (1) used in the polymer synthesis example described later was synthesized by the following procedure.
In a 500 ml three-necked flask, under a nitrogen atmosphere, 20 g (105.14 mmol) of alcohol (1), 30.23 g (157.71 mmol) of ethyldiisopropylaminocarbodiimide (EDCI) hydrochloride and 0.6 g of dimethylaminopyridine (DMAP) After adding 300 ml of a THF solution of (5 mmol), 16.67 g (115.66 mmol) of the precursor (1) was added under ice cooling (0 ° C.), and the mixture was stirred at room temperature for 12 hours.
After confirming disappearance of the raw material by thin layer chromatography (TLC), 50 ml of water was added to stop the reaction. The reaction solvent was concentrated under reduced pressure, and the organic layer obtained by extraction three times with ethyl acetate was washed with water, saturated sodium bicarbonate and 1N-HClaq in this order. The product obtained by distilling off the solvent under reduced pressure was dried to obtain compound (1).

Figure 2011117987
Figure 2011117987

得られた化合物(1)の機器分析結果は以下の通りである。この結果から、化合物(1)が下記に示す構造を有することが確認できた。
H−NMR(CDCl,400MHz):δ(ppm)=6.22(s,1H,H),5.70(s,1H,H),4.71−4.85(m,2H,Hc,d),4.67(s,2H,H),3.40−3.60(m,2H,He,f),2.58−2.70(m,1H,H),2.11−2.21(m,2H,H),2.00(s,3H,H),1.76−2.09(m,2H,H).
The instrumental analysis results of the obtained compound (1) are as follows. From this result, it was confirmed that the compound (1) had the structure shown below.
1 H-NMR (CDCl 3 , 400 MHz): δ (ppm) = 6.22 (s, 1H, H a ), 5.70 (s, 1H, H b ), 4.71-4.85 (m, 2H, H c, d ), 4.67 (s, 2H, H k ), 3.40-3.60 (m, 2H, H e, f ), 2.58-2.70 (m, 1H, H g), 2.11-2.21 (m, 2H, H h), 2.00 (s, 3H, H i), 1.76-2.09 (m, 2H, H j).

Figure 2011117987
Figure 2011117987

[ポリマー合成例1(高分子化合物1の合成)]
温度計、還流管を繋いだ3つ口フラスコに、11.77g(69.23mmol)の化合物(2)、15.00g(47.47mmol)の化合物(1)、16.58g(63.29mmol)の化合物(3)、4.65g(27.69mmol)の化合物(4)、3.27g(13.85mmol)の化合物(5)を、76.91gのメチルエチルケトン(MEK)に溶解させた。この溶液に、重合開始剤としてアゾビスイソ酪酸ジメチル(V−601)を22.1mmol添加し溶解させた。これを窒素雰囲気下、3時間かけて、78℃に加熱したMEK42.72gに滴下した。滴下終了後、反応液を4時間加熱撹拌し、その後、反応液を室温まで冷却した。得られた反応重合液を大量のノルマル(n−)ヘプタンに滴下し、重合体を析出させる操作を行い、沈殿した白色粉体をろ別、n−ヘプタン/イソプロピルアルコール混合溶媒にて洗浄、乾燥して、目的物である高分子化合物1を41g得た。
この高分子化合物1について、GPC測定により求めた標準ポリスチレン換算の質量平均分子量(Mw)は7,900であり、分子量分散度(Mw/Mn)は1.78であった。また、カーボン13核磁気共鳴スペクトル(600MHz_13C−NMR)により求められた共重合組成比(構造式中の各構成単位の割合(モル比))は、l/m/n/o/p=35/25/20/15/5であった。
[Polymer Synthesis Example 1 (Synthesis of Polymer Compound 1)]
In a three-necked flask connected with a thermometer and a reflux tube, 11.77 g (69.23 mmol) of compound (2), 15.00 g (47.47 mmol) of compound (1), 16.58 g (63.29 mmol) Compound (3), 4.65 g (27.69 mmol) of Compound (4), 3.27 g (13.85 mmol) of Compound (5) were dissolved in 76.91 g of methyl ethyl ketone (MEK). To this solution, 22.1 mmol of dimethyl azobisisobutyrate (V-601) as a polymerization initiator was added and dissolved. The resultant was dropwise added to 42.72 g of MEK heated to 78 ° C. in a nitrogen atmosphere over 3 hours. After completion of dropping, the reaction solution was heated and stirred for 4 hours, and then the reaction solution was cooled to room temperature. The obtained reaction polymerization solution was dropped into a large amount of normal (n-) heptane, and the polymer was precipitated. The precipitated white powder was filtered, washed with n-heptane / isopropyl alcohol mixed solvent, and dried. As a result, 41 g of the target polymer compound 1 was obtained.
For this polymer compound 1, the standard polystyrene equivalent weight average molecular weight (Mw) determined by GPC measurement was 7,900, and the molecular weight dispersity (Mw / Mn) was 1.78. The copolymer composition ratio (ratio (molar ratio) of each structural unit in the structural formula) determined by carbon 13 nuclear magnetic resonance spectrum (600 MHz — 13 C-NMR) is 1 / m / n / o / p = It was 35/25/20/15/5.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

[ポリマー合成例2(高分子化合物2の合成)]
使用するモノマーの種類およびモル比を変更した以外は前記ポリマー合成例1と同様にして、目的物である高分子化合物2を得た。なお、化合物(6)は特開2009−223300号公報記載の合成例1〜2と同様にして合成した。
この高分子化合物2について、GPC測定により求めた標準ポリスチレン換算の質量平均分子量(Mw)は8,500であり、分子量分散度(Mw/Mn)は1.6であった。また、カーボン13核磁気共鳴スペクトル(600MHz_13C−NMR)により求められた共重合組成比(構造式中の各構成単位の割合(モル比))は、l/m/n/o=30/10/50/10であった。
[Polymer Synthesis Example 2 (Synthesis of Polymer Compound 2)]
Except that the type and molar ratio of the monomer used were changed, the polymer compound 2 as the target product was obtained in the same manner as in Polymer Synthesis Example 1. Compound (6) was synthesized in the same manner as Synthesis Examples 1 and 2 described in JP2009-223300A.
For this polymer compound 2, the standard polystyrene equivalent weight average molecular weight (Mw) determined by GPC measurement was 8,500, and the molecular weight dispersity (Mw / Mn) was 1.6. The copolymer composition ratio (ratio of each structural unit in the structural formula (molar ratio)) determined by carbon 13 nuclear magnetic resonance spectrum (600 MHz — 13 C-NMR) is 1 / m / n / o = 30 / It was 10/50/10.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

[ポリマー合成例3(高分子化合物3の合成)]
使用するモノマーのモル比を変更した以外は前記ポリマー合成例1と同様にして、目的物である高分子化合物3を得た。
この高分子化合物3について、GPC測定により求めた標準ポリスチレン換算の質量平均分子量(Mw)は7,500であり、分子量分散度(Mw/Mn)は1.6であった。また、カーボン13核磁気共鳴スペクトル(600MHz_13C−NMR)により求められた共重合組成比(構造式[構造式は高分子化合物1と同じ]中の各構成単位の割合(モル比))は、l/m/n/o/p=35/21/24/13/7であった。
[Polymer Synthesis Example 3 (Synthesis of Polymer Compound 3)]
Except that the molar ratio of the monomers to be used was changed, the polymer compound 3 as the target product was obtained in the same manner as in Polymer Synthesis Example 1.
With respect to this polymer compound 3, the standard polystyrene equivalent weight average molecular weight (Mw) determined by GPC measurement was 7,500, and the molecular weight dispersity (Mw / Mn) was 1.6. Further, the copolymer composition ratio (ratio (molar ratio) of each structural unit in the structural formula [the structural formula is the same as that of the polymer compound 1]) obtained by carbon 13 nuclear magnetic resonance spectrum (600 MHz — 13 C-NMR) is L / m / n / o / p = 35/21/24/13/7.

[酸発生剤合成例1((B)−1の合成)]
化合物(VII)35.6gを純水360gに溶解させ、そこへジクロロメタン360g及び化合物(VIII)38.0gをそれぞれ添加し、室温にて14時間撹拌した。その後、ジクロロメタン層を分液した後、希塩酸洗、水洗を行い、ジクロロメタン層を濃縮乾固することにより白色固体として目的の化合物((B)−1)(58g)を得た。
この化合物についてNMRによる分析を行った。
H−NMR(DMSO−d6,400MHz):δ(ppm)=1.64(m,6H,Ad),1.82(m,6H,Ad),1.94(m,3H,Ad),3.35(s,3H,CH3),4.55(t,2H,CF2CH2),7.56(d,2H,Ar),7.72−7.84(m,12H,Ar).
19F−NMR(DMSO−d6,376MHz):δ(ppm)= −111.2.
上記分析の結果から、得られた化合物が、下記化学式(B)−1に示す構造を有することが確認できた。
[Acid Generator Synthesis Example 1 (Synthesis of (B) -1)]
35.6 g of compound (VII) was dissolved in 360 g of pure water, 360 g of dichloromethane and 38.0 g of compound (VIII) were added thereto, and the mixture was stirred at room temperature for 14 hours. Thereafter, the dichloromethane layer was separated, then washed with dilute hydrochloric acid and water, and the dichloromethane layer was concentrated and dried to obtain the target compound ((B) -1) (58 g) as a white solid.
This compound was analyzed by NMR.
1 H-NMR (DMSO-d6, 400 MHz): δ (ppm) = 1.64 (m, 6H, Ad), 1.82 (m, 6H, Ad), 1.94 (m, 3H, Ad), 3.35 (s, 3H, CH3), 4.55 (t, 2H, CF2CH2), 7.56 (d, 2H, Ar), 7.72-7.84 (m, 12H, Ar).
19 F-NMR (DMSO-d6, 376 MHz): δ (ppm) = − 111.2.
From the results of the above analysis, it was confirmed that the obtained compound had a structure represented by the following chemical formula (B) -1.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

[酸発生剤合成例2((B)−2の合成)]
化合物(IX)(16.0g)および純水(131.7g)を三口フラスコに添加し、そこへ塩酸(5.20g)を滴下した。12時間、加熱還流を行った。水層をt−ブチルメチルエーテル(TBME)(131.7g)にて洗浄し、化合物(X)(10.0g)を得た。
次に、窒素雰囲気下、三口フラスコに、化合物(X)(10g)及びジクロロメタン(100g)を添加し、5℃以下に冷却した。そこへ、N,N−ジメチルアミノピリジン(DMAP)(0.56g)を添加し、5℃以下で5分間撹拌した。その後、エチル−N,N−ジメチルアミノプロピルカルボジイミド(4.8g)を添加した。その後、10分間撹拌した後、化合物(XI)(3.5g)を添加した、添加終了後、室温まで昇温し、室温にて15時間撹拌した後、希塩酸洗浄、純水にて水洗を繰り返した。その有機相をn−ヘキサン(1100g)へ滴下し、再沈することによって化合物(XII)(10.9g)を得た。
[Acid Generator Synthesis Example 2 (Synthesis of (B) -2)]
Compound (IX) (16.0 g) and pure water (131.7 g) were added to a three-necked flask, and hydrochloric acid (5.20 g) was added dropwise thereto. Heating under reflux was performed for 12 hours. The aqueous layer was washed with t-butyl methyl ether (TBME) (131.7 g) to obtain Compound (X) (10.0 g).
Next, compound (X) (10 g) and dichloromethane (100 g) were added to a three-necked flask in a nitrogen atmosphere, and the mixture was cooled to 5 ° C. or lower. N, N-dimethylaminopyridine (DMAP) (0.56 g) was added thereto and stirred at 5 ° C. or lower for 5 minutes. Thereafter, ethyl-N, N-dimethylaminopropylcarbodiimide (4.8 g) was added. Then, after stirring for 10 minutes, compound (XI) (3.5 g) was added. After completion of addition, the mixture was warmed to room temperature, stirred at room temperature for 15 hours, then washed with diluted hydrochloric acid and washed with pure water repeatedly. It was. The organic phase was added dropwise to n-hexane (1100 g) and reprecipitated to obtain Compound (XII) (10.9 g).

Figure 2011117987
Figure 2011117987

次に、化合物(XII)(2.2g)、ジクロロメタン(13.8g)及び純水(5.2g)を混合し、そこへ、化合物(XIII)(1.68g)を添加し、室温で一晩撹拌した。その後、有機相を分液し、さらに有機相を純水(5.2g)で4回洗浄した。その後、ジクロロメタンを減圧下で留去し、減圧乾燥することによって目的の化合物((B)−2)(2.4g)を得た。
この化合物についてNMRによる分析を行った。
H−NMR(DMSO−d6,400MHz):δ(ppm)=7.72−7.83(m,10H,ArH),7.59(s,2H,ArH),4.90(m,1H,sultone),4.78(m,1H,anion sultone),4.62−4.68(m,4H,CH+sultone+anion sultone),3.83−3.89(m,2H,sultone+anion sultone),3.43(m,1H,sultone),3.34(m,1H,anion sultone),1.73−2.49(m,16H,CH+sultone+anion sultone)。
19F−NMR(DMSO−d6,376MHz):δ(ppm)=−107.7。
上記の結果から、得られた化合物が、下記化学式(B)−2に示す構造を有することが確認できた。
Next, compound (XII) (2.2 g), dichloromethane (13.8 g) and pure water (5.2 g) were mixed, and compound (XIII) (1.68 g) was added thereto, and the mixture was mixed at room temperature. Stir overnight. Thereafter, the organic phase was separated, and the organic phase was further washed four times with pure water (5.2 g). Then, dichloromethane was distilled off under reduced pressure, and the target compound ((B) -2) (2.4 g) was obtained by drying under reduced pressure.
This compound was analyzed by NMR.
1 H-NMR (DMSO-d6, 400 MHz): δ (ppm) = 7.72-7.83 (m, 10H, ArH), 7.59 (s, 2H, ArH), 4.90 (m, 1H) , sultone), 4.78 (m, 1H, anion sultone), 4.62-4.68 (m, 4H, CH 2 + sultone + anion sultone), 3.83-3.89 (m, 2H, sultone + anion sultone), 3.43 (m, 1H, sultone), 3.34 (m, 1H, anion sultone), 1.73-2.49 (m, 16H, CH 3 + sultone + anion sultone).
19 F-NMR (DMSO-d6, 376 MHz): δ (ppm) = − 107.7.
From the results described above, it was confirmed that the obtained compound had a structure represented by the following chemical formula (B) -2.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

<比較例1、実施例1〜11>
表1に示す各成分を混合、溶解してポジ型レジスト組成物を調製した。
なお、比較例1および実施例1〜11における(D)成分の配合量は全て等モル量である。
<Comparative example 1, Examples 1-11>
Each component shown in Table 1 was mixed and dissolved to prepare a positive resist composition.
In addition, all the compounding quantities of (D) component in the comparative example 1 and Examples 1-11 are equimolar amounts.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

表1中、各略号はそれぞれ以下のものを示し、[ ]内の数値は配合量(質量部)である。
(A)−1:前記高分子化合物1。
(B)−1:前記化合物(B)−1。
(D)−1〜(D)−12:それぞれ、下記化学式(D)−1〜(D)−12に示す化合物。
(S)−1:γ−ブチロラクトン。
(S)−2:PGMEA/PGME=6/4(質量比)の混合溶剤。
In Table 1, each abbreviation indicates the following, and the numerical value in [] is the blending amount (part by mass).
(A) -1: The polymer compound 1.
(B) -1: Compound (B) -1.
(D) -1 to (D) -12: Compounds represented by the following chemical formulas (D) -1 to (D) -12, respectively.
(S) -1: γ-butyrolactone.
(S) -2: Mixed solvent of PGMEA / PGME = 6/4 (mass ratio).

Figure 2011117987
Figure 2011117987

得られたレジスト組成物を用い、以下の評価を行った。
[レジストパターンの形成および形状の評価]
8インチのシリコンウェーハ上に、有機系反射防止膜組成物「ARC29」(商品名、ブリュワーサイエンス社製)を、塗布装置ACT8(製品名 東京エレクトロン社製)で塗布し、ホットプレート上で205℃、60秒間焼成して乾燥させることにより、膜厚82nmの有機系反射防止膜を形成した。該反射防止膜上に、上記ポジ型レジスト組成物をそれぞれ、前記塗布装置で塗布し、ホットプレート上で、100℃で60秒間のプレベーク(PAB)処理を行い、乾燥することにより、膜厚120nmのレジスト膜を形成した。
次に、前記レジスト膜に対し、ArF露光装置NSR−S302A(ニコン社製;NA(開口数)=0.60,2/3輪帯照明)により、マスク(6%ハーフトーン)(コンタクトホールパターン)を介して、前記レジスト膜に対して、ArFエキシマレーザー(193nm)を選択的に照射した。
次いで、100℃で60秒間の露光後加熱(PEB)処理を行い、さらに23℃にて2.38質量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)水溶液「NMD−3」(商品名、東京応化工業社製)で30秒間のアルカリ現像処理を行い、その後30秒間、純水を用いて水リンスし、100℃60秒間ポストべーク処理を行った。
その結果、いずれの例においても、前記レジスト膜に、ホール直径130nmのホールパターンが等間隔(ピッチ260nm)に配置されたレジストパターン(以下、CHパターンという。)が形成された。
The following evaluation was performed using the obtained resist composition.
[Formation of resist pattern and evaluation of shape]
An organic antireflection film composition “ARC29” (trade name, manufactured by Brewer Science) is applied onto an 8-inch silicon wafer with a coating apparatus ACT8 (product name, manufactured by Tokyo Electron), and 205 ° C. on a hot plate. By baking for 60 seconds and drying, an organic antireflection film having a film thickness of 82 nm was formed. Each of the positive resist compositions is applied onto the antireflection film by the coating apparatus, prebaked (PAB) at 100 ° C. for 60 seconds on a hot plate, and dried to obtain a film thickness of 120 nm. The resist film was formed.
Next, a mask (6% halftone) (contact hole pattern) is applied to the resist film with an ArF exposure apparatus NSR-S302A (Nikon Corporation; NA (numerical aperture) = 0.60, 2/3 annular illumination). ), The resist film was selectively irradiated with an ArF excimer laser (193 nm).
Subsequently, a post-exposure heating (PEB) treatment was performed at 100 ° C. for 60 seconds, and a 2.38 mass% tetramethylammonium hydroxide (TMAH) aqueous solution “NMD-3” (trade name, Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) at 23 ° C. Manufactured for 30 seconds, followed by water rinsing with pure water for 30 seconds and post-baking at 100 ° C. for 60 seconds.
As a result, in any of the examples, a resist pattern (hereinafter referred to as a CH pattern) in which hole patterns with a hole diameter of 130 nm are arranged at equal intervals (pitch 260 nm) was formed on the resist film.

[解像性評価]
上記のレジストパターン形成において、前記CHパターンが形成される最適露光量EOP(mJ/cm)を求め、該EOPにおける限界解像度(nm)を、走査型電子顕微鏡S−9220(Hitachi社製)を用いて求めた。その結果を「解像性(nm)」として表2に示す。
[Resolution evaluation]
In the above resist pattern formation, the optimum exposure dose EOP (mJ / cm 2 ) at which the CH pattern is formed is obtained, and the limit resolution (nm) in the EOP is determined by a scanning electron microscope S-9220 (manufactured by Hitachi). Obtained using. The results are shown in Table 2 as “Resolution (nm)”.

[マスクエラーファクター(MEF)評価]
上記EOPにおいて、ピッチを260nmに固定し、直径130nm、および直径150nmCHパターンをそれぞれ形成し、以下の式からMEFの値を求めた。
MEF=|CD150−CD130|/|MD150−MD130|
上記式中、CD150、CD130は、それぞれ、直径150nm、直径130nmをターゲットとするマスクパターンを用いて形成されたCHパターンの実際の直径(nm)である。MD150、MD130は、それぞれ、当該マスクパターンがターゲットとする直径(nm)であり、MD150=150、MD130=130である。
得られた結果を表2に示す。なお、MEFとは、ピッチを固定した際に、線幅や口径の異なるマスクパターンを、同じ露光量で、どれだけ忠実に再現できるか(マスク再現性)を示すパラメーターであり、MEFはその値が1に近いほどマスク再現性が良好であることを意味する。
[Mask error factor (MEF) evaluation]
In the EOP, the pitch was fixed at 260 nm, CH patterns with a diameter of 130 nm and a diameter of 150 nm were formed, and the MEF value was determined from the following equation.
MEF = | CD150-CD130 | / | MD150-MD130 |
In the above formula, CD150 and CD130 are the actual diameters (nm) of the CH patterns formed using the mask pattern targeting 150 nm in diameter and 130 nm in diameter, respectively. MD150 and MD130 are diameters (nm) targeted by the mask pattern, respectively, and MD150 = 150 and MD130 = 130.
The obtained results are shown in Table 2. Note that MEF is a parameter that indicates how faithfully mask patterns with different line widths and apertures can be reproduced with the same exposure when the pitch is fixed (mask reproducibility). MEF is the value. The closer to 1, the better the mask reproducibility.

[形状評価]
上記[レジストパターンの形成]で形成された各CHパターンを、走査型電子顕微鏡S−9220(Hitachi社製)を用いて上空より観察し、各ホールパターンの形状を下記判定基準で評価した。その結果を表2に示す。
(判定基準)
○:ホールパターンの円周部の凹凸が少なく、真円性が高い。
×:ホールパターンの円周部の凹凸が多く、真円性が低い。
[Shape evaluation]
Each CH pattern formed in the above [Formation of resist pattern] was observed from above using a scanning electron microscope S-9220 (manufactured by Hitachi), and the shape of each hole pattern was evaluated according to the following criteria. The results are shown in Table 2.
(Criteria)
○: There are few irregularities on the circumference of the hole pattern, and the roundness is high.
X: There are many unevenness | corrugations of the circumference part of a hole pattern, and roundness is low.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

表2に示すように、実施例1〜11のレジスト組成物は、比較例1に比べて、解像性、MEFともに優れており、パターン形状も良好であった。   As shown in Table 2, the resist compositions of Examples 1 to 11 were superior in both resolution and MEF as compared to Comparative Example 1, and the pattern shape was also good.

<比較例2、実施例12〜17>
表3に示す各成分を混合、溶解してポジ型レジスト組成物を調製した。
なお、比較例2および実施例12〜17における(D)成分の配合量は全て等モル量である。
<Comparative example 2, Examples 12-17>
Each component shown in Table 3 was mixed and dissolved to prepare a positive resist composition.
In addition, all the compounding quantities of (D) component in the comparative example 2 and Examples 12-17 are equimolar amounts.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

表3中、(B)−1、(D)−10、(S)−2はそれぞれ表1で示したものと同じであり、他の略号はそれぞれ以下のものを示し、[ ]内の数値は配合量(質量部)である。
(A)−2:前記高分子化合物2。
(D)−13〜(D)−18:それぞれ、下記化学式(D)−13〜(D)−18に示す化合物。
(E)−1:サリチル酸。
In Table 3, (B) -1, (D) -10, and (S) -2 are the same as those shown in Table 1, and the other abbreviations are as follows. Is a blending amount (part by mass).
(A) -2: The polymer compound 2.
(D) -13 to (D) -18: Compounds represented by the following chemical formulas (D) -13 to (D) -18, respectively.
(E) -1: salicylic acid.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

得られたレジスト組成物を用い、以下の評価を行った。
[レジストパターンの形成および形状の評価−2]
12インチのシリコンウェーハ上に、有機系反射防止膜組成物「ARC29A」(商品名、ブリュワーサイエンス社製)を、スピンナーを用いて塗布し、ホットプレート上で205℃、60秒間焼成して乾燥させることにより、膜厚89nmの有機系反射防止膜を形成した。そして、該反射防止膜上に、表3に記載のレジスト組成物をそれぞれ、スピンナーを用いて塗布し、ホットプレート上で90℃、60秒間の条件でプレベーク(PAB)処理を行い、乾燥することにより、膜厚100nmのレジスト膜を形成した。
次に、前記レジスト膜上に、保護膜形成用塗布液「TILC−057」(商品名、東京応化工業株式会社製)を、スピンナーを用いて塗布し、90℃で60秒間加熱することにより、膜厚35nmのトップコートを形成した。
次に、ArF液浸露光装置NSR−S609B(ニコン社製;NA(開口数)=1.07,σ0.97)により、ホールパターンのマスクを介して、トップコートが形成された前記レジスト膜に対して、ArFエキシマレーザー(193nm)を選択的に照射した。
そして、85℃で60秒間、露光後加熱(PEB)処理を行い、さらに23℃にて2.38質量%のTMAH水溶液NMD−3(商品名、東京応化工業株式会社製)で30秒間の条件でアルカリ現像し、その後25秒間、純水を用いて水リンスし、振り切り乾燥を行った。
その結果、いずれの例においても、前記レジスト膜に、ホール直径85nmのホールが等間隔(ピッチ140nm)に配置されたコンタクトホールパターン(以下「CHパターン」という。)が形成された。
The following evaluation was performed using the obtained resist composition.
[Resist Pattern Formation and Shape Evaluation-2]
An organic antireflection film composition “ARC29A” (trade name, manufactured by Brewer Science Co., Ltd.) is applied onto a 12-inch silicon wafer using a spinner and baked on a hot plate at 205 ° C. for 60 seconds to be dried. Thereby, an organic antireflection film having a film thickness of 89 nm was formed. Then, each of the resist compositions shown in Table 3 is applied onto the antireflection film using a spinner, prebaked (PAB) at 90 ° C. for 60 seconds on a hot plate, and dried. Thus, a resist film having a thickness of 100 nm was formed.
Next, a protective film-forming coating solution “TILC-057” (trade name, manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) is applied onto the resist film using a spinner and heated at 90 ° C. for 60 seconds. A top coat having a thickness of 35 nm was formed.
Next, an ArF immersion exposure apparatus NSR-S609B (manufactured by Nikon Corporation; NA (numerical aperture) = 1.07, σ0.97) is applied to the resist film on which the top coat has been formed through a hole pattern mask. On the other hand, ArF excimer laser (193 nm) was selectively irradiated.
Then, a post-exposure heating (PEB) treatment was performed at 85 ° C. for 60 seconds, and further a condition of 30 seconds with a 2.38 mass% TMAH aqueous solution NMD-3 (trade name, manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) at 23 ° C. Then, the substrate was alkali-developed, rinsed with pure water for 25 seconds, and then shaken and dried.
As a result, in each example, a contact hole pattern (hereinafter referred to as “CH pattern”) in which holes having a hole diameter of 85 nm are arranged at equal intervals (pitch 140 nm) was formed in the resist film.

[感度]
上記のパターンが形成される際の最適露光量EOP(mJ/cm;感度)を求めた。結果を表3に示す。
[sensitivity]
The optimum exposure dose EOP (mJ / cm 2 ; sensitivity) when the above pattern was formed was determined. The results are shown in Table 3.

[CDU(ホール直径の均一性)評価−2]
得られたCHパターンについて、測長SEM(走査型電子顕微鏡「S−9380」日立製作所社製)によりホールの直径をそれぞれ測定し、その結果から算出した標準偏差(σ)の3倍値(3σ)を求めた。このようにして求められる3σは、その値が小さいほど当該レジスト膜に形成された各ホールのCDUが高いことを、すなわち、一定範囲内に存在するホールの直径のバラツキが小さいことを意味する。結果を表3に示す。
[CDU (Hole Diameter Uniformity) Evaluation-2]
About the obtained CH pattern, the diameter of each hole was measured with a length measurement SEM (scanning electron microscope “S-9380” manufactured by Hitachi, Ltd.), and the standard deviation (σ) calculated from the result was 3 times (3σ ) 3σ obtained in this way means that the smaller the value, the higher the CDU of each hole formed in the resist film, that is, the smaller the variation in the diameter of the holes existing within a certain range. The results are shown in Table 3.

[MEF評価−2]
上記EOPにて、ホールの直径のターゲットサイズを81〜87nmの範囲で1nm刻みに変化させた同じピッチ(140nm)のCHパターンを形成した。このとき、ターゲットサイズ(nm)を横軸に、各マスクパターンを用いてレジスト膜に形成されたホールパターンの口径(nm)を縦軸にプロットしたときの直線の傾きをMEFとして算出した。MEF(直線の傾き)は、その値が1に近いほどマスク再現性が良好であることを意味する。結果を表3に示す。
[MEF evaluation-2]
In the EOP, CH patterns having the same pitch (140 nm) were formed by changing the target size of the hole diameter in the range of 81 to 87 nm in 1 nm increments. At this time, the slope of the straight line when the target size (nm) was plotted on the horizontal axis and the aperture (nm) of the hole pattern formed in the resist film using each mask pattern was plotted on the vertical axis was calculated as MEF. MEF (straight line) means that the closer the value is to 1, the better the mask reproducibility. The results are shown in Table 3.

表3に示す結果から、実施例12〜17のレジスト組成物は、それぞれ、比較例2のレジスト組成物よりもCDUに優れていることが確認できた。特に、(D)成分として、ベンゼン環、ピリジン環等の芳香族環を有していたり、環を複数含むような嵩高いもの((D)−14、(D)−10、(D)−15、(D)−16、(D)−17)を用いた実施例12〜16のCDUが良好であった。
また、実施例12〜17のレジスト組成物は、MEFの値も同等以下であり、マスク再現性が良好であった。
From the results shown in Table 3, it was confirmed that the resist compositions of Examples 12 to 17 were superior in CDU to the resist composition of Comparative Example 2, respectively. In particular, the component (D) has an aromatic ring such as a benzene ring or a pyridine ring, or has a bulky structure including a plurality of rings ((D) -14, (D) -10, (D)- 15, CDD of Examples 12-16 using (D) -16, (D) -17) were good.
In addition, the resist compositions of Examples 12 to 17 had an MEF value equal to or less than that and good mask reproducibility.

<比較例3、実施例18>
表4に示す各成分を混合、溶解してポジ型レジスト組成物を調製した。
なお、比較例3および実施例118における(D)成分の配合量は全て等モル量である。
<Comparative Example 3, Example 18>
Each component shown in Table 4 was mixed and dissolved to prepare a positive resist composition.
In addition, all the compounding quantities of (D) component in the comparative example 3 and Example 118 are equimolar amounts.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

表4中、(D)−13、(D)−10、(S)−2はそれぞれ表3で示したものと同じであり、他の略号はそれぞれ以下のものを示し、[ ]内の数値は配合量(質量部)である。
(A)−3:前記高分子化合物3。
(B)−2:前記化合物(B)−2。
(B)−3:トリフェニルスルホニウム d−カンファー−10−スルホネート。
(E)−1:サリチル酸。
In Table 4, (D) -13, (D) -10, and (S) -2 are the same as those shown in Table 3, and the other abbreviations are as follows. Numerical values in [] Is a blending amount (parts by mass).
(A) -3: The polymer compound 3.
(B) -2: Compound (B) -2.
(B) -3: Triphenylsulfonium d-camphor-10-sulfonate.
(E) -1: salicylic acid.

得られたレジスト組成物を用い、以下の評価を行った。
[レジストパターンの形成および形状の評価−3]
表4に記載のレジスト組成物を用いて、マスクパターンを下記CHパターンまたはLSパターンをターゲットとするものに変更した他は、上記[レジストパターンの形成および形状の評価−2]と同様にしてレジストパターンを形成した。
CHパターン:ホール直径90nmのホールが等間隔(ピッチ225nm)に配置されたレジストパターン。
LSパターン:ライン幅80nmのラインが等間隔(ピッチ160nm)に配置された、1:1ラインアンドスペースのレジストパターン。
The following evaluation was performed using the obtained resist composition.
[Resist Pattern Formation and Shape Evaluation-3]
The resist composition described in Table 4 was used in the same manner as in [Resist pattern formation and shape evaluation-2], except that the mask pattern was changed to one that targets the following CH pattern or LS pattern. A pattern was formed.
CH pattern: a resist pattern in which holes with a hole diameter of 90 nm are arranged at equal intervals (pitch 225 nm).
LS pattern: A 1: 1 line-and-space resist pattern in which lines with a line width of 80 nm are arranged at equal intervals (pitch 160 nm).

[感度]
上記CHパターンおよびLSパターンがそれぞれ形成される際の最適露光量EOP(mJ/cm;感度)を求めた。結果を表5に示す。
[sensitivity]
The optimum exposure dose EOP (mJ / cm 2 ; sensitivity) when the CH pattern and LS pattern were formed was determined. The results are shown in Table 5.

[CDU評価−3]
CHパターンについては、上記[CDU(ホール直径の均一性)評価−2]と同様、ホールの直径をそれぞれ測定しその結果から算出した標準偏差(σ)の3倍値(3σ)を求めた。LSパターンについては、ラインの長手方向にライン幅を測定し、その結果から標準偏差(s)の3倍値(3s)を求め、5箇所の3sについて平均化した値をLWRとした。結果を表5に示す。
[CDU Evaluation-3]
For the CH pattern, as in [CDU (Hole Diameter Uniformity) Evaluation-2], the diameter of each hole was measured, and the standard deviation (σ) calculated from the result was obtained (3σ). For the LS pattern, the line width was measured in the longitudinal direction of the line, and the triple value (3 s) of the standard deviation (s) was obtained from the result, and the value averaged over 5 s was taken as LWR. The results are shown in Table 5.

[MEF評価−3]
CHパターンについては、上記[MEF評価−2]と同様、ホールの直径のターゲットサイズを87〜92nmの範囲で1nm刻みに変化させた同じピッチ(225nm)のCHパターンを形成し、MEFを求めた。LSパターンについては、上記EOPにて、ライン幅のターゲットサイズを76〜84nmの範囲で1nm刻みに変化させた同じピッチ(160nm)のLSパターンを形成し、MEFを求めた。結果を表5に示す。
[MEF evaluation-3]
As for the CH pattern, as in [MEF evaluation-2] above, a CH pattern having the same pitch (225 nm) in which the target size of the hole diameter was changed in 1 nm increments in the range of 87 to 92 nm was obtained to obtain the MEF. . With respect to the LS pattern, an LS pattern having the same pitch (160 nm) was formed by changing the target size of the line width in the range of 76 to 84 nm in 1 nm increments, and the MEF was obtained. The results are shown in Table 5.

Figure 2011117987
Figure 2011117987

表5に示す結果から、実施例18のレジスト組成物は、いずれのレジストパターンにおいても、比較例3のレジスト組成物に比べてCDUおよびMEFが良好であることが確認できた。   From the results shown in Table 5, it was confirmed that the resist composition of Example 18 had better CDU and MEF than the resist composition of Comparative Example 3 in any resist pattern.

Claims (8)

酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)、および含窒素有機化合物(D)を含有するポジ型レジスト組成物であって、
前記基材成分(A)が、下記一般式(a0−1)で表される構成単位(a0)を有し、かつ、その構造中に酸解離性溶解抑制基を含む高分子化合物(A1)を含有し、
前記含窒素有機化合物(D)が、エーテル性酸素原子、エステル基、カルボニル基、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、および含窒素複素環式基からなる群から選択される少なくとも1種を含むアミン(D1)を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。
Figure 2011117987
[式(a0−1)中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり、Rは2価の連結基であり、Rはその環骨格中に−SO−を含む環式基である。]
A positive resist composition containing a base component (A) whose solubility in an alkaline developer is increased by the action of an acid, an acid generator component (B) that generates an acid upon exposure, and a nitrogen-containing organic compound (D) Because
The base material component (A) has a structural unit (a0) represented by the following general formula (a0-1) and contains an acid dissociable, dissolution inhibiting group in its structure (A1) Containing
The nitrogen-containing organic compound (D) is selected from the group consisting of an etheric oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, an optionally substituted phenyl group, and a nitrogen-containing heterocyclic group. A positive resist composition comprising an amine (D1) containing at least one kind.
Figure 2011117987
[In the formula (a0-1), R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 2 is a divalent linking group, and R 3 is It is a cyclic group containing —SO 2 — in the ring skeleton. ]
前記アミン(D1)が、下記一般式(d1−1)で表される第3級アミン、および環式アミンからなる群から選択される請求項1に記載のポジ型レジスト組成物。
Figure 2011117987
[式中、R〜Rは、それぞれ独立して、置換基を有していてもよい炭化水素基であり、R〜Rのうちの少なくとも1つは、その構造中に、エーテル性酸素原子、エステル基、カルボニル基、シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、および含窒素複素環式基からなる群から選択される少なくとも1種を含み、R〜Rのうちのいずれか2つが相互に結合して、式中の窒素原子とともに環を形成していてもよい。]
The positive resist composition according to claim 1, wherein the amine (D1) is selected from the group consisting of a tertiary amine represented by the following general formula (d1-1) and a cyclic amine.
Figure 2011117987
[Wherein, R 7 to R 9 are each independently a hydrocarbon group which may have a substituent, and at least one of R 7 to R 9 is an ether in its structure. An oxygen atom, an ester group, a carbonyl group, a cyano group, a phenyl group which may have a substituent, and at least one selected from the group consisting of a nitrogen-containing heterocyclic group, and R 7 to R 9 Any two of them may be bonded to each other to form a ring together with the nitrogen atom in the formula. ]
前記Rが、その環骨格中に−O−SO−を含む環式基である請求項1または2に記載のポジ型レジスト組成物。 The positive resist composition according to claim 1, wherein R 3 is a cyclic group containing —O—SO 2 — in the ring skeleton. 前記Rが、下記一般式(3−1)で表される環式基である請求項3に記載のポジ型レジスト組成物。
Figure 2011117987
[式中、A’は酸素原子若しくは硫黄原子を含んでいてもよい炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子または硫黄原子であり;aは0〜2の整数であり;Rはアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、水酸基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基またはシアノ基であり、R”は水素原子またはアルキル基である。]
The positive resist composition according to claim 3, wherein R 3 is a cyclic group represented by the following general formula (3-1).
Figure 2011117987
Wherein A ′ is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, oxygen atom or sulfur atom which may contain an oxygen atom or a sulfur atom; a is an integer of 0 to 2; R 6 is an alkyl group An alkoxy group, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, —COOR ″, —OC (═O) R ″, a hydroxyalkyl group or a cyano group, and R ″ is a hydrogen atom or an alkyl group.]
前記高分子化合物(A1)が、さらに、酸解離性溶解抑制基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a1)を有する請求項1〜4のいずれか一項に記載のポジ型レジスト組成物。   The positive resist composition according to claim 1, wherein the polymer compound (A1) further has a structural unit (a1) derived from an acrylate ester containing an acid dissociable, dissolution inhibiting group. object. 前記高分子化合物(A1)が、さらに、ラクトン含有環式基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a2)を有する請求項1〜5のいずれか一項に記載のポジ型レジスト組成物。   The positive resist composition according to claim 1, wherein the polymer compound (A1) further has a structural unit (a2) derived from an acrylate ester containing a lactone-containing cyclic group. . 前記高分子化合物(A1)が、さらに、極性基含有脂肪族炭化水素基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a3)を有する請求項1〜6のいずれか一項に記載のポジ型レジスト組成物。   The positive type according to any one of claims 1 to 6, wherein the polymer compound (A1) further has a structural unit (a3) derived from an acrylate ester containing a polar group-containing aliphatic hydrocarbon group. Resist composition. 支持体上に、請求項1〜7のいずれか一項に記載のポジ型レジスト組成物を用いてレジスト膜を形成する工程、前記レジスト膜を露光する工程、および前記レジスト膜をアルカリ現像してレジストパターンを形成する工程を含むレジストパターン形成方法。   A step of forming a resist film on the support using the positive resist composition according to any one of claims 1 to 7, a step of exposing the resist film, and an alkali development of the resist film A resist pattern forming method including a step of forming a resist pattern.
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