JP2012104188A - スポット位置制御装置、スポット位置制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】サーボ対象とするトラックからのトラッキング誤差量を折り返しを生じさせずリニアに表すトラッキング誤差信号を生成する。
【解決手段】１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされた光記録媒体を用いることで、これら複数の位相のピット列の個々に対する複数のトラッキング誤差信号が同時並行的に得られるようにする。その上で、光記録媒体上のスポットが半径方向に移動している際に得られる上記複数のトラッキング誤差信号のゼロクロス点近傍の区間の信号を順次繋ぎ合わせて、トラッキング誤差量を線形に表す線形トラッキング誤差信号を生成する。
【選択図】図１８

Description

本発明は、光記録媒体に対して対物レンズを介して照射した光のスポット位置を制御するスポット位置制御装置とその方法に関する。

特開２００４−１５８１８７号公報

光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。

これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなどの光ディスクでは、例えば図２８（ａ）に示されるように、半径方向において複数のトラック（ピット列やグルーブ）が配列されるように形成されている。そして、これら半径方向に配列されるトラック間をジャンプする、いわゆるトラックジャンプ動作を行うようにされる。

ここで、トラックジャンプ動作として、或るトラックを対象としてトラッキングサーボがかけられている状態から所定のトラックへの移動を行うとした場合には、先ず、トラッキングサーボをオフとして対物レンズを所定のジャンプパルスに基づいて駆動することで、スポットＳｐを目標トラックの方向に移動させる。そして、その後の所定タイミングでブレーキパルスを与えてスポットＳｐの移動速度を減速させた上で、トラッキングサーボをオンとすることで、上記目標トラックに対するサーボ引き込みが行われるようにする。

上記のように従来の光ディスクシステムでは、トラックジャンプ動作として、スポット位置を半径方向に１トラック分以上移動させるとしたとき、トラッキングサーボを一旦オフとしなければならない。これは、図２８（ｂ）にその波形を示したように、スポットＳｐがサーボ対象とするトラックから半トラック分移動したところで、トラッキングエラー信号の波形に折り返しが生じてしまうことに依る。

上記のようにトラッキングサーボを一旦オフとしなければならないことから、従来の光ディスクシステムでは、トラックジャンプを実現するにあたって上述のようにトラッキングサーボの再引き込みが必要となったり、また引き込みをスムーズに行うための複雑な制御を要する場合があるなどの問題があった。

本発明はこのような問題点に鑑み為されたもので、サーボ対象とするトラックからのトラッキング誤差量を上述のような折り返しを生じさせずリニアに表すトラッキング誤差信号を生成できるようにすることをその課題とする。

上記課題の解決のため、本発明ではスポット位置制御装置として以下のように構成することとした。
すなわち、１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされている光記録媒体に対して、対物レンズを介して第１の光を照射し且つ、上記第１の光の上記光記録媒体からの反射光を受光する光照射・受光部を備える。
また、上記対物レンズを上記半径方向に変位させるトラッキング機構部を備える。
また、上記光照射・受光部が上記第１の光の反射光を受光して得た受光信号に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成部を備える。
また、上記クロック生成部により生成されたクロックに基づき、上記光記録媒体に形成された各位相のピット列についての上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成部を備える。
また、上記第１の光の反射光についての上記受光信号と、上記タイミング選択信号生成部が生成した上記タイミング選択信号とに基づき、上記光記録媒体に形成された各位相のピット列ごとのトラッキング誤差をそれぞれ表す複数のトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成部を備える。
また、上記第１の光の照射スポットが半径方向に移動している際に得られる上記複数のトラッキング誤差信号のゼロクロス点近傍の区間の信号を順次繋ぎ合わせて、トラッキング誤差量を線形に表す線形トラッキング誤差信号を生成する線形トラッキング誤差信号生成部を備える。
また、上記線形トラッキング誤差信号に基づき上記トラッキング機構を駆動することで上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部を備える。
さらに、上記トラッキングサーボ制御部によるトラッキングサーボ制御により形成されるトラッキングサーボループに対して上記照射スポットを半径方向に移動させるためのオフセットを付与するオフセット付与部を備えるようにした。

上記のようなピット列を有する本発明の光記録媒体の構造によれば、半径方向において光学限界を超えて各ピット列を配列することができる。そして、このように半径方向に光学限界を超えてピット列が配列されることで、上記トラッキング誤差信号生成部により、各位相のピット列のトラッキング誤差信号を同時並行的に得ることができる。
このとき、上記第１の光の照射スポットが半径方向に移動している状態では、各トラッキング誤差信号としては、例えば図１８に示されるように、それらのピット列の位相差に応じた位相差を有する信号がそれぞれ得られることになる。
ここで、或るピット列を対象としてトラッキングサーボをかけている状態で、例えばトラックジャンプ等のためにスポット位置を半径方向に強制的に移動させたとすると、そのサーボ対象としたピット列についてのトラッキング誤差信号のレベルは、ゼロレベルからスポットの移動方向に応じた極性側に徐々に変化していくことになる。そして、スポットの移動量が或る一定以上となると、先に説明したような誤差信号の折り返しが生じてしまうことになる。
そこで本発明では、上記のように各位相のピット列についての誤差信号を同時並行的に得られるようにした上で、それら各位相のピット列についてのトラッキング誤差信号について、それらのゼロクロス点近傍の信号を繋ぎ合わせることで、従来では折り返しが生じてしまうような大きなトラッキング誤差量であってもこれを線形に表すことのできる線形トラッキング誤差信号を生成するものとしている。
このような線形トラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御とすることで、この場合は、トラックジャンプ等のためにサーボループへのオフセット付与によりスポット位置を半径方向に強制的に移動させたときに、その移動量が従来のトラッキング誤差信号の折り返しを生じさせるほどに大であるとしても、トラッキングサーボが外れないようにできる。換言すれば、トラッキングサーボをかけ続けた状態が維持されるようにできる。
つまりこの結果、例えばトラックジャンプなどの、１トラック幅以上の移動量によりスポット位置を移動させるという制御を、クローズドループ制御により実現することができる。

上記のように本発明によれば、スポットの移動量が従来のトラッキング誤差信号の折り返しが生じるほどに大である場合にも、トラッキング誤差量を線形に表すことのできる線形トラッキング誤差信号を生成できる。
そして本発明では、このような線形トラッキング誤差信号に基づきトラッキングサーボ制御を行うようにしていることで、例えばトラックジャンプなどの、従来では折り返しが生じてしまうような移動量によりスポット位置を移動させることを要するスポット位置制御を、クローズドループ制御により実現することができる。

バルク記録方式について説明するための図である。 先行例、及び実施の形態で記録／再生対象とするバルク型記録媒体の断面構造図である。 バルク型記録媒体に対するマークの記録／再生手法について説明するための図である。 先行例、及び実施の形態のスポット位置制御装置が備える光学系の構成を主に示した図である。 先行例、及び実施の形態で用いるバルク型記録媒体の基準面の表面を一部拡大して示した平面図である。 基準面全体におけるピットの形成態様について説明するための図である。 アドレス情報のフォーマットについて説明するための図である。 バルク型記録媒体の回転駆動に伴い基準面上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びＰＰ（プッシュプル）信号の波形との関係を模式的に示した図である。 ピークポジション検出の具体的手法について説明するための図である。 ピークタイミングを表すタイミング信号から生成されたクロックと、該クロックに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。 チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図である。 先行例のトラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。 先行例としてのスポット位置制御装置全体の内部構成を示したブロック図である。 クロック生成回路の内部構成を示した図である。 先行例のスポット位置制御装置が備えるselector信号生成・選択部の内部構成を示した図である。 クローズドループ制御によるスポット移動を実現するための先行例としての具体的なスポット位置制御手法について説明するための図である。 先行例としてのスポット位置制御手法を各ピット列のトラッキングエラー信号と関連付けて示した図である。 実施の形態としてのスポット位置制御手法について説明するための図である。 線形トラッキング誤差信号の生成手法について説明するための図である。 実施の形態のスポット位置制御装置の内部構成について説明するための図である。 実施の形態のスポット位置制御装置が備えるトラッキング誤差信号生成部の内部構成を示した図である。 スポット位置が半径方向に移動している際に得られる各トラッキングエラー信号の波形図である。 レーザ光の照射スポットが所定のピット列上をトレースしている状態を示した図である。 変形例としての線形トラッキング誤差信号の生成手法において生成する各トラッキング誤差信号の波形図である。 変形例としての線形トラッキング誤差信号の生成手法について説明するための図である。 変形例としての光記録媒体の断面構造を示した図である。 変形例としての基準面の構造を示した図である。 従来の光ディスクシステムにおけるトラッキングジャンプ動作とその問題点について説明するための図である。

ここで、本明細書においては、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）についての説明に先立ち、先ずは、本出願人が本発明を想起する上でその基とした先行例についての説明を行う。
なお、全体的な説明の流れは以下の通りである。

＜１．先行例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］
［1-2．光学系の構成］
［1-3．基準面の構造］
［1-4．アドレス情報について］
［1-5．サーボ対象ピット列の選択手法］
［1-6．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点］
［1-7．スポット位置制御装置の全体的な内部構成］
［1-8．クローズドループ制御によるスポット移動実現のための具体的手法］
＜２．実施の形態＞
［2-1．先行例の課題］
［2-2．実施の形態の位置制御手法］
［2-3．実施の形態のスポット位置制御装置の構成］
＜３．変形例＞

＜１．先行例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］

ここで、この先行例を含め、後述する実施の形態において記録／再生対象とする光記録媒体としては、いわゆるバルク記録型の光記録媒体（以下、バルク型記録媒体と称する）を例に挙げる。

バルク記録とは、例えば図１に示すようにして、少なくともカバー層とバルク層（記録層）とを有する光記録媒体に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。
なおバルク記録に関しては、例えば下記の参考文献にも記載されている。

参考文献１・・・特開２００８−１３５１４４号公報
参考文献２・・・特開２００８−１７６９０２号公報

具体的に、上記参考文献１には、バルク記録のうち、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。マイクロホログラム方式では、バルク層の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。

マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式と、ネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
ポジ型マイクロホログラム方式は、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
また、ネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。このネガ型マイクロホログラム方式では、初期化処理として、予めバルク層に干渉縞を形成しておく処理が必要となる。

また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば参考文献２に開示されるようなボイド（空包、空孔）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層内に空包を記録する手法である。参考文献２に記載されるように、このように形成された空包部分は、バルク層内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空包部分は記録マークとして機能し、これによって空包マークの形成による情報記録が実現される。

このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないので、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、上述のポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、参考文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。

上記のような各種の記録手法が提案されているバルク型記録媒体であるが、このようなバルク型記録媒体の記録層（バルク層）は、位置案内子やそれが形成された記録膜（反射膜）が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。つまりこの点において、通常の多層ディスクの場合に必要となる複数の記録膜（及び位置案内子）の生成工程を省略でき、その分、製造コストの削減が図られる。

しかしながら、先の図１に示したバルク型記録媒体の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができない。

このため実際において、バルク型記録媒体としては、次の図２に示すような位置案内子を有する基準となる反射面（基準面Ｒｅｆ）を設けるようにされる。ここで、図２に示しているように、このような基準面を有するバルク型記録媒体をバルク型記録媒体１と称する。
なお、以下の説明では「上層側」「下層側」なる表現を用いるが、本明細書において「上層側」とは、後述するスポット位置制御装置（記録再生装置１０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。
また、以下では「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは上記「上層側」の定義に従った上下方向と一致する方向（すなわち装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。

図２において、バルク型記録媒体１には、カバー層２の下層側の面に後述するピット列の形成に伴う案内溝（位置案内子）がスパイラル状又は同心円状に形成され、そこに選択反射膜３が成膜される。そして、このように選択反射膜３が成膜されたカバー層２の下層側に対し、図中の中間層４としての、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料を介してバルク層５が形成（接着）される。
ここで、後述もするが、上記のピット列の形成により、例えば半径位置情報や回転角度情報などの絶対位置情報（アドレス情報）の記録が行われている。以下の説明では、このようなピット列が形成され絶対位置情報の記録が行われた面（この場合は上記選択反射膜１０３の反射面）のことを、「基準面Ｒｅｆ」と称する。

また、このような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体１に対しては、図３に示されるようにマークの記録（又は再生）のためのレーザ光（以下、録再用レーザ光、或いは単に録再光とも称する）と共に、位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光（単にサーボ光とも称する）を照射するようにされる。
図示するようにこれら録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１に照射される。

このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、上記サーボ用レーザ光として、録再用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、基準面Ｒｅｆに形成される反射膜としては、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという波長選択性を有する選択反射膜３を設けるものとしている。

以上の前提を踏まえた上で、図３を参照してバルク型記録媒体１に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝やそれが形成された反射膜を有しないバルク層５に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層５内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる。図中では、バルク層５内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
なお、層位置Ｌの数は５に限定されるべきものではない。
ここで、これらオフセットｏｆ-Lの情報は、後述する先行例としてのスポット位置制御装置（記録再生装置１０）が備えるコントローラ４１（実施の形態の場合のコントローラ５４も同様）に対して予め設定される。

マークが未だ形成されていない記録時においては、録再用レーザ光の反射光に基づいてバルク層５内の各層位置Ｌを対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆにおいて案内溝（後述するピット列）に追従するようにして行うことになる。

但し、録再用レーザ光は、マーク記録のために基準面Ｒｅｆよりも下層側に形成されたバルク層５に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するためのフォーカス機構（録再光用フォーカス機構）が別途設けられることになる。
具体的に、この録再光用フォーカス機構としては、対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーション状態（発散／平行／収束）を変化させるエキスパンダを設けるようにする。すなわち、このように対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーション状態を変化させることで、録再用レーザ光の合焦位置を、サーボ用レーザ光とは独立して調整できるようにするものである。

このような録再用レーザ光についてのフォーカス機構を設けることで、前述のように対物レンズのフォーカス及びトラッキングサーボ制御が基準面Ｒｅｆからのサーボ用レーザ光の反射光に基づき行われることによって、録再用レーザ光の焦点位置が、バルク層５内の所要の情報記録層位置Ｌに一致し且つ、トラッキング方向においては基準面Ｒｅｆに形成された案内溝に対応する位置となるように制御されることになる。

なお、マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体１について再生を行う際は、記録時のように対物レンズの位置をサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要性はない。すなわち、再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌに形成されたマーク列を対象として、録再用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカス及びトラッキングサーボ制御を行えばよい。

［1-2．光学系の構成］

図４は、上記により説明したバルク型記録媒体１に対する記録／再生を行う先行例としての記録再生装置１０が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、記録再生装置１０が備える光学ピックアップＯＰの内部構成を主に示している。

図４において、記録再生装置１０に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録再生装置１０における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、ここでは図示を省略したスピンドルモータ４４（図１３）による回転駆動が可能な状態に保持される。
光学ピックアップＯＰは、上記スピンドルモータ４４により回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光、サーボ用レーザ光を照射するために設けられる。

光学ピックアップＯＰ内には、マークによる情報記録、及びマークにより記録された情報の再生を行うための録再用レーザ光の光源である録再用レーザ１１と、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子（後述するピット列）を利用した位置制御を行うための光であるサーボ用レーザ光の光源であるサーボ用レーザ２４とが設けられる。
ここで、前述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いる。本例の場合、録再用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、サーボ用レーザ光の波長はおよそ６５０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされる。

また、光学ピックアップＯＰ内には、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１への出力端となる対物レンズ２０が設けられる。
さらには、上記録再用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための録再光用受光部２３と、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するためのサーボ光用受光部２９とが設けられる。

その上で、光学ピックアップＯＰ内においては、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光を上記対物レンズ２０に導くと共に、上記対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からの録再用レーザ光の反射光を上記録再光用受光部２３に導くための光学系が形成される。

具体的に、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光は、コリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように録再用レーザ１１側から入射した録再用レーザ光については透過するように構成されている。

上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した録再用レーザ光は、固定レンズ１４、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、前述した録再光用フォーカス機構に相当するものであり、光源である録再用レーザ１１に近い側が固定レンズ１４とされ、録再用レーザ１１に遠い側に可動レンズ１５が配置され、レンズ駆動部１６によって上記可動レンズ１５が録再用レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、録再用レーザ光について独立したフォーカス制御を行う。
後述もするように、当該録再光用フォーカス機構におけるレンズ駆動部１６は、図１３に示すコントローラ４１によって、対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に応じて駆動される。

上記録再光用フォーカス機構が有する固定レンズ１４及び可動レンズ１５を介した録再用レーザ光は、図のようにミラー１７にて反射された後、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した録再用レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。

上記ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２１が設けられる。
２軸アクチュエータ２１には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。

ここで、再生時においては、上記のようにしてバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光が照射されることに応じて、バルク型記録媒体１（バルク層５内の再生対象の情報記録層Ｌに記録されたマーク列）より上記録再用レーザ光の反射光が得られる。このように得られた録再用レーザ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光の反射光は、１／４波長板１８→ミラー１７→録再光用フォーカス機構（可動レンズ１５→固定レンズ１４）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。

ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する録再用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、録再用レーザ光１１側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した録再用レーザ光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射した録再用レーザ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。

このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射された録再用レーザ光の反射光は、集光レンズ２２を介して録再光用受光部２３の受光面上に集光する。

また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した録再用レーザ光についての光学系の構成に加えて、サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からのサーボ用レーザ光の反射光をサーボ光用受光部２９に導くための光学系が形成される。
図示するように上記サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このようにサーボ用レーザ２４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。

上記偏光ビームスプリッタ２６を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。

また、このようにバルク型記録媒体１にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先の録再用レーザ光の場合と同様にして、このようにバルク型記録媒体１側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としてのサーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。

偏光ビームスプリッタ２６にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ２８を介してサーボ光用受光部２９の受光面上に集光する。

ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録再生装置１０には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。

［1-3．基準面の構造］

図５及び図６を参照して、本例のバルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆ上におけるピット列の形成態様について説明する。
図５は、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）の表面を一部拡大した平面図である。
この図５においては、紙面の左側から右側に向かう方向をピット列の形成方向、つまりはトラックの形成方向（線方向）としている。この場合、サーボ用レーザ光の照射スポットは、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い、紙面の左側から右側に移動するものとする。
また、上記ピット列の形成方向と直交する方向（紙面の縦方向）は、バルク型記録媒体１の半径方向である。

また図５において、図中の白丸で示すＡ〜Ｆは、ピットの形成可能位置を表す。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、当該ピットの形成可能位置においてのみ形成されるものであって、ピットの形成可能位置以外にはピットの形成が行われない。
また、図中のＡ〜Ｆの符号の別はピット列の別（半径方向において配列されるピット列の別）を表し、これらＡ〜Ｆの符号に付される数字はピット列上におけるピットの形成可能位置の別を表す。

ここで、図中の黒太線で表す間隔は、従来のバルク型記録媒体１において実現可能な最小トラックピッチ（従来限界トラックピッチ）を表している。このことからも理解されるように、本実施の形態のバルク型記録媒体１では、Ａ〜Ｆの計６本のピット列が、従来限界の１トラック幅内に形成されている、すなわち半径方向における光学限界を超えるピッチで配列されていることになる。

但し、従来限界の１トラック幅内にこれら複数のピット列を単純に配列したのみでは、ピット列形成方向においてピットの形成位置が重なってしまう虞があり、つまりはピット列形成方向におけるピットの間隔が光学限界を超えてしまう虞がある。

そこで、本例においては、従来限界の１トラック幅内に配列される上記Ａ〜Ｆの複数のピット列間で、ピット列形成方向におけるピット同士の間隔が光学限界を超えないようにするべく、以下のような条件を定めている。
すなわち、

１）Ａ〜Ｆの各ピット列において、ピットの形成可能位置の間隔を所定の第１の間隔に制限する。
２）このようにピットの形成可能位置の間隔が制限されたＡ〜Ｆの各ピット列を、それぞれのピットの形成可能位置がピット列形成方向において所定の第２の間隔ずつずれたものとなるようにして配列する（つまり上記第２の間隔で各ピット列の位相をずらす）。

というものである。

ここで、半径方向に配列されるＡ〜Ｆのピット列におけるそれぞれのピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔（上記第２の間隔）をｎとおく。このとき、上記２）の条件が満たされるようにＡ〜Ｆの各ピット列が配列されることで、ピット列Ａ−Ｂ、ピット列Ｂ−Ｃ、ピット列Ｃ−Ｄ、ピット列Ｄ−Ｅ、ピット列Ｅ−Ｆ、及びピット列Ｆ−Ａの各ピット形成可能位置間の間隔は、図示するように全てｎとなる。
また、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の間隔（上記第１の間隔）は、この場合はＡ〜Ｆまでの計６つのピット列位相を実現するものとしているので、６ｎとなる。

本例において、基準面Ｒｅｆにおけるサーボ用レーザ光による情報再生及びサーボ制御は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）の場合と同様の波長λ＝６５０nm程度、開口数ＮＡ＝０．６５程度の条件で行うものとしている。このことに対応して本例では、各ピット形成可能位置の区間長はＤＶＤにおける最短マークと同じ３Ｔ分（Ｔはチャネルビット）の区間長とし、またピット列形成方向におけるＡ〜Ｆの各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も、同様の３Ｔ分の長さに設定している。つまりこのことによると、ｎ＝６Ｔとなる。
この結果、上記１）２）の条件が満たされるものとなっている。

ここで、基準面Ｒｅｆ全体におけるピットの形成態様について理解するために、図６を参照してより具体的なピット列の形成手法について説明する。
なお図６では、図示の都合上、ピット列の種類（位相）がＡ〜Ｃの３種のみとされた場合を例示している。
また図中において、黒丸はピット形成可能位置を表す。

この図６を参照して分かるように、バルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆにおいては、それぞれ位相の異なる複数種のピット列（図６ではＡ〜Ｃの３種としているが実際にはＡ〜Ｆの６種となる）を１セットとし、該複数種のピット列の１セットがスパイラル状に形成されている。
このことで、上記複数種のピット列のうちの所要の１種のピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置はスパイラル状の軌跡を描くことになる。

また、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により形成されたものとなる。このことから、図示するように複数種のピット列の個々は、半径方向において、そのピットの形成位置（ピットの形成可能位置）が同じ角度位置に揃えられるものとなる。

ここで、このように基準面ＲｅｆにてピットをＣＡＶ方式で記録するのは、ディスク上のどの領域においても図５に示したようなＡ〜Ｆの各ピット列の位相関係が保たれるようにするためである。

［1-4．アドレス情報について］

続いて、図７により、基準面Ｒｅｆに記録されるアドレス情報のフォーマットの一例について説明する。
なお、以下、図１０までの説明においては、便宜上、トラッキングエラー信号としてはプッシュプル信号に基づく信号を生成することを前提とする。後の説明により明らかとなるように、先行例としての実際の構成、及び実施の形態では、トラッキングエラー信号としてｓｕｍ信号（和信号）に基づく信号を生成することになる。

図７において、先ず図７（ａ）は、それぞれ異なるピット列位相を有するようにされた各ピット列（Ａ〜Ｆ）のピット形成可能位置の関係を模式化して示している。なお図７（ａ）においては「＊」マークによりピット形成可能位置を表している。

ここで、後述もするように、記録再生装置１０は、これらＡ〜Ｆのピット列のうちから１つのピット列を選択し、該選択した１つのピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにされている。
但し、このとき問題となるのは、Ａ〜Ｆの各ピット列は半径方向において光学限界を超えたピッチで配列されているという点である。すなわち、この場合においてサーボ用レーザ光の照射スポットがトラック上を移動（走査）して得られるトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）としては、Ａ〜Ｆの全てのピットを反映したものとなってしまうので、該トラッキングエラー信号に基づきトラッキングサーボをかけたとしても、選択した１つのピット列を追従することはできない。
このため、本例においては、選択したピット列におけるピット形成可能位置のタイミングにおけるトラッキングエラー信号をサンプルし、該サンプルしたトラッキングエラー信号の値に基づいて（いわば間欠的に）トラッキングサーボをかけるということをその基本概念とする。

そして、これと同様に、アドレス情報を読む場合にも、選択したピット列に記録される情報のみが選択的に読み出されるように、該選択したピット列のピット形成可能位置のタイミングにおける和信号（ｓｕｍ信号）をサンプルし、その値に基づいてアドレス情報を検出するという手法を採る。

このような情報検出の手法に対応するため、本例では、ピット形成可能位置におけるピットの形成有無により、チャネルビット（記録符号）の「０」「１」を表現するフォーマットを採用するものとしている。すなわち、１つのピット形成可能位置が、１チャネルビット分の情報を担うものである。

その上で、このようなチャネルビットの複数個による「０」「１」のデータパターンにより、データビットの１ビットを表現するものとしている。
具体的に本例では、図７（ｂ）に示されるように、チャネルビット４つ分でデータビットの「０」「１」を表現するものとし、例えば４チャネルビットのパターン「１０１１」がデータビット「０」、４チャネルビットのパターン「１１０１」がデータビット「１」を表すものとしている。

このとき重要であるのは、チャネルビット「０」が連続しないという点である。つまり、チャネルビット「０」が連続してしまうということは、上述のようにトラッキングエラー信号を間欠的に用いてサーボを行うということを基本としたときに、エラー信号が得られない期間が連続してしまうということ意味するので、これに伴い、トラッキングサーボの精度を確保することが非常に困難となってしまうためである。
このため本例では、例えば上記のようなデータビットの定義により、チャネルビット「０」が連続しないという条件が満たされるようにしている。すなわち上記のようなデータビットの定義により、トラッキングサーボの精度低下が最小限に抑えられるようにしているものである。

図７（ｃ）は、シンクパターンの一例を示している。
例えばシンクパターンについては、図示するように１２チャネルビットで表現するものとし、前半の８ビットを上記データビットの定義に当てはまらないチャネルビットパターン「１１１１１１１１」とし、その後の４チャネルビットのパターンでシンクの別（種類）を表すものとしている。具体的に、上記８ビットに続く４チャネルビットのパターンが「１０１１」であればＳｙｎｃ１、「１１０１」であればＳｙｎｃ２としている。

バルク型記録媒体１においては、アドレス情報が、上記のようなシンクの後に続けて記録されているものとする。
ここで前述もしたように、アドレス情報としては、ディスク上の絶対位置情報（半径位置の情報、及び回転角度情報）を記録する。
なお確認のために述べておくと、本例では従来限界の１トラック幅内にＡ〜Ｆの複数本のピット列を配列するものとしているが、アドレス情報の記録は、各ピット列の半径位置が個別に表されるように（各ピット列の識別が可能となるように）、ピット列ごとに個別の情報が割り振られるようにして行う。すなわち、従来限界の１トラック幅内に配列されるＡ〜Ｆの各ピット列に対し同じアドレス情報を記録するものではない。

なお、図７の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆに対しては、ピットがポジション記録されていることになる。ポジション記録とは、ピット（或いはマーク）の形成部分をチャネルデータ「１」、それ以外の部分をチャネルデータ「０」とする記録手法を指すものである。

［1-5．サーボ対象ピット列の選択手法］

上記のように従来の１トラック幅内に複数配列されるようにして形成されたピット列のうちから、任意のピット例を対象としてトラッキングサーボをかけるための手法は、具体的には以下で説明する手法をその基本とする。

図８は、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い基準面Ｒｅｆ上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びプッシュプル信号ＰＰ（ＰＰ信号とも表記する）の波形との関係を模式的に示している。
上記ｓｕｍ信号は、図４に示したサーボ光用受光部２９としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svの和信号であり、上記ｓｕｍ微分信号はｓｕｍ信号を微分して得られる信号である。
ここで、この図では説明の便宜上、図中の各ピット形成可能位置の全てにピットが形成されているものとする。

図示するようにして、バルク型記録媒体１の回転に伴いサーボ用レーザ光のビームスポットが移動することに伴っては、ｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における配置間隔に応じた周期でその信号レベルがピークを迎えることになる。つまりこのｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における間隔（形成周期）を表していることになる。

ここで、この図の例ではサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ａ上に沿って移動するものとしているので、上記ｓｕｍ信号は、ピット列形成方向におけるピットＡの形成位置の通過時にピーク値が最大（絶対値）となり、またピットＢ〜ピットＤの各形成位置にかけて徐々にピーク値が減少していく傾向となる。そしてその後、ピットＥの形成位置→ピットＦの形成位置の順でピーク値は上昇傾向に転じ、再びピットＡの形成位置に至ることでピーク値が最大となる。すなわち、ピット列形成方向における上記ピットＥ、Ｆの形成位置においては、外周側に隣接するピット列Ｅ、Ｆにおけるピットの影響を受けるので、ｓｕｍ信号のピーク値はピットＥ、Ｆの形成位置ごとで順に上昇することになる。

また、上記ｓｕｍ信号を微分して生成されるｓｕｍ微分信号、及びトラッキング誤差信号としてのＰＰ信号としては、それぞれ図示するような波形が得られる。
上記ｓｕｍ微分信号は、各ピット列Ａ〜Ｆのピット形成位置（厳密にはピット形成可能位置である）のピット列形成方向における間隔に応じたクロックＣＬＫを生成するために用いられることになる。

具体的に、クロックＣＬＫとしては、ｓｕｍ微分信号を用いることで、各ピットのセンター位置（ピークポジション）に相当する位置（タイミング）を立ち上がり位置（タイミング）とする信号を生成する。
クロックＣＬＫの生成手法としては、次の図９に示されるように、先ずは所定の閾値Ｔｈ１でｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号をスライスした信号とを生成する。そして、これらのＡＮＤをとることで、上記ピークポジションに相当する立ち上がりタイミングを有するタイミング信号を生成する。
クロックＣＬＫは、このように生成したタイミング信号を入力信号（参照信号）としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行うことで生成する。

図１０は、上記の手順により生成されたクロックＣＬＫと、該クロックＣＬＫに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。
この図からも明らかなように、クロックＣＬＫとしては、ピットＡ〜Ｆの形成間隔に応じた周期を有する信号となる。具体的には、ピットＡ〜Ｆのピークポジションにその立ち上がりタイミングを有する信号となる。

このようなクロックＣＬＫから、Ａ〜Ｆの個々のピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。
具体的にこれらselector信号としては、それぞれ上記クロックＣＬＫを１／６に分周して生成されたものとなっており、且つそれぞれの位相が１／６周期ずつずれたものとなっている。換言すれば、これら各selector信号は、それぞれの立ち上がりタイミングが１／６周期ずつずれたものとなるように、クロックＣＬＫをそれぞれのタイミングで１／６に分周して生成されるものである。

これらselector信号は、それぞれ、Ａ〜Ｆの対応するピット列のピット形成可能位置のタイミングを表す信号となる。従って、これらselector信号を生成した上で、任意のselector信号を選択し、該選択したselector信号が表すタイミングでトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）をサンプルホールドすることで、Ａ〜Ｆのうちの１つのピット列に追従するためのトラッキングエラー信号を得ることができる。すなわち、このように生成したトラッキングエラー信号に基づき対物レンズ２０についてのトラッキングサーボ制御を行うことで、Ａ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列上にサーボ用レーザ光のスポットをトレースさせることが可能となる。

［1-6．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点］

ここで、上記の説明では、サーボ対象として任意のピット列を選択するにあたり、そのためのトラッキングエラー信号としてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いるものとしたが、このようにプッシュプル信号を用いる場合には、いわゆるチルト（skew）や対物レンズ２０のレンズシフトに起因して、正確なトラッキング誤差情報を得ることができない虞がある。

図１１は、チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図であり、図１１（ａ）はチルト・レンズシフトが生じていない理想状態におけるサーボ光用受光部２９上の反射光スポット（受光スポット）を示し、図１１（ｂ）はチルト・レンズシフトが生じた場合におけるサーボ光用受光部２９上の反射光スポットを示している。
なおこれら図１１（ａ）（ｂ）において、反射光スポット内に示した斜線部は、ディスク上に形成されたピットからの一次回折光成分の重畳領域（プッシュプル信号成分重畳領域）を表している。

先ず前提として、プッシュプル信号（ＰＰ）は、図中の受光素子Ａ，Ｂの組及び受光素子Ｃ，Ｄの組がそれぞれディスクの半径方向に対応する方向に隣接する組であるとした場合、

ＰＰ＝（Ａi＋Ｂi）−（Ｃi＋Ｄi） ・・・［式１］

により計算されるものである。但し［式１］において、Ａi，Ｂi，Ｃi，Ｄiはそれぞれ受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの受光信号である。

ここで、サーボ用レーザ光の照射スポットは、対象とするピット列上を正確にトレースしていると仮定する。その場合において、チルト・レンズシフトが生じていない図１１（ａ）の理想状態であれば、上記[式１]に従って計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は「０」となる。
これに対し、図１１（ｂ）に示すようなチルト・レンズシフトに伴う反射光スポット位置ずれが生じている場合、[式１]により計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は、本来得られるべき「０」とは異なる値となってしまい、誤差が生じるものとなる。

このことからも理解されるように、プッシュプル信号ＰＰには、チルトやレンズシフトに伴うオフセットが生じる。

このようなチルトやレンズシフトに伴うオフセット成分が無視できる程度であれば、上記で説明したままのトラッキングエラー信号の生成手法は有効であるが、トラッキングサーボ制御の安定性の向上を図るにあたっては、トラッキングエラー信号には上記のようなオフセット成分が重畳しないことが望ましい。

従来、チルトやレンズシフトに伴うオフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としては、いわゆる３スポット法が知られているが、該３スポット法は、グレーティング等の光学部品の追加が必要であり、その分、部品コストや調整コストの増加を招く。
また、上記オフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としてはＤＰＰ（Differential Push Pull）法も知られているが、該ＤＰＰ法としても同様にグレーティング等の追加が必要であり、部品コスト、調整コストの増加を招く。

これら従来のトラッキングエラー検出手法が有する問題点の解決を図りつつ、チルト・レンズシフトに伴うオフセット成分の影響を回避するために、先行例（実施の形態も同様）では、以下で説明するようなｓｕｍ信号を用いる手法によりトラッキングエラー信号を生成するものとしている。

図１２は、先行例のトラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。
なおこの図１２では、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列Ａ〜Ｆと、そのうちのピット列Ｄ上をトレースするようにトラッキングサーボがかけられている状態でのサーボ用レーザ光のスポット位置の移動軌跡（斜線部）と、該サーボ用レーザ光の移動に伴い得られるｓｕｍ信号の波形とを示している。

例えばこの図１２に示されるように、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上を正確にトレースしている場合、ｓｕｍ信号の値としては、ピット列Ｄ上のピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ）において最小値をとり、該ピット列Ｄに対する位相差が大となるピット列ほど、そのピット形成位置での値が徐々に大となる傾向となる。
このとき、ｓｕｍ信号の値は、ピット列Ｄに対しそれぞれ隣接する（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｃ、ピット列Ｅのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−１、ｎ＋１）にて同じ値をとり、また、ピット列Ｄに対しそれぞれ同じ距離（半径方向における距離）だけ離間した（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｂ、ピット列Ｆのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−２、ｎ＋２）においても同じ値をとることになる。

ここで、図中に示す状態とは異なり、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上から半径方向にずれた位置をトレースしたとすると、上記ピット列Ｄに対する位相差が等しいそれぞれのピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値には、ずれが生じることが分かる。
つまりこのことからも理解されるように、トラッキングサーボの対象とするピット列に対する位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値は、上記トラッキングサーボの対象とするピット列に対するトラッキング方向の誤差を反映していることになる。具体的に、トラッキング誤差情報は、上記位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値の差分を計算することで得ることができる。

この点を踏まえ先行例では、具体的に以下のようにしてｓｕｍ信号に基づくトラッキングエラー信号の生成を行う。
すなわち、先ずは、トラッキングサーボの対象とするピット列に対し位相差が等しい２つのピット列を選出する。具体的に本例の場合は、トラッキングサーボの対象とするピット列にそれぞれ隣接するピット列を選出するものとする。
その上で、これら選出した各ピット列のピット形成可能位置に対応するタイミング（図１２におけるｎ−１とｎ＋１が該当）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングし、それらサンプリングしたｓｕｍ信号の値の差分を計算する。該計算結果が、上記サーボ対象のピット列についてのトラッキングエラー信号となる。

［1-7．スポット位置制御装置の全体的な内部構成］

以上の説明を踏まえた上で、先行例としてのスポット位置制御装置（記録再生装置１０）の全体的な内部構成について図１３を参照して説明する。
なお図１３において、光学ピックアップＯＰの内部構成については、先の図４に示した構成のうち録再用レーザ１１、レンズ駆動部１６、２軸アクチュエータ２１のみを抽出して示している。

図１３において、記録再生装置１０には、スピンドルモータ４４が設けられる。
スピンドルモータ４４は、ＦＧ（Frequency Generator）モータを備え、バルク型記録媒体１を一定速度（一定回転速度）で回転駆動する。
スピンドルモータ４４は、コントローラ４１からの指示に応じてその回転の開始／停止を行う。

また、記録再生装置１０には、バルク層５を対象とした記録／再生や、記録マークの再生時における対物レンズ２０のフォーカス／トラッキングサーボ制御（つまり録再用レーザ光の反射光に基づく位置制御）を行うための信号処理系として、図中の記録処理部３１、録再光用マトリクス回路３２、再生処理部３３が設けられている。

記録処理部３１には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３１は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。そして、このように生成した記録変調データ列に応じた記録パルス信号ＲＣＰにより、光学ピックアップＯＰ内の録再用レーザ１１の発光駆動を行う。

録再光用マトリクス回路３２は、図４に示した録再光用受光部２３としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-rp（出力電流）に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
具体的には、上述した記録変調データ列についての再生信号に相当する高周波信号（以降、再生信号ＲＦと称する）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-rpを生成する。

録再光用マトリクス回路３２にて生成された上記再生信号ＲＦは、再生処理部３３に供給される。
また、フォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpは、録再光用サーボ回路３４に対して供給される。

再生処理部３３は、上記再生信号ＲＦについて２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを復元した再生データを得る。

また、録再光用サーボ回路３４は、マトリクス回路３２から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づきフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpをそれぞれ生成し、これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づくフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpに基づき、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
確認のため述べておくと、このような録再用レーザ光の反射光に基づく２軸アクチュエータ２１（対物レンズ２０）のサーボ制御は、再生時において行われるものである。

また、録再光用サーボ回路３４は、再生時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして上記トラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。

また、記録再生装置１０においては、サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系として、サーボ光用マトリクス回路３５、アドレス検出回路３６、サンプルホールド回路ＳＨ１、サンプルホールド回路ＳＨ２、減算部３７、サーボ光用サーボ回路３８、クロック生成回路３９、selector信号生成・選択部４０、オフセット生成部４２、及び加算部４３が設けられる。
なお、これらの構成のうち、オフセット生成部４２と加算部４３とについては後に改めて説明する。

サーボ光用マトリクス回路３５は、図４に示したサーボ光用受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的にこの場合のサーボ光用マトリクス回路３５は、上記複数の受光素子の和信号としてのｓｕｍ信号、及びフォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-svを生成する。
図示するようにｓｕｍ信号は、サンプルホールド回路ＳＨ１、サンプルホールド回路ＳＨ２、クロック生成回路３９、及びアドレス検出回路３６に対して供給される。
またフォーカスエラー信号ＦＥ-svはサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。

アドレス検出回路３６は、selector信号生成・選択部４０により後述するようにして生成・選択されるselector信号Ｓ_Adを入力し、該selector信号Ｓ_Adが表すピット形成可能位置のタイミング（この場合はselector信号Ｓ_AdがＨレベルの区間）で上記サーボ光用マトリクス回路３５からのｓｕｍ信号の値をサンプリングした結果に基づき、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報（少なくとも半径位置情報や回転角度情報を含む絶対位置情報）を検出する。
ここで、先の図７を参照して説明したように、本例の場合、各ピット列のアドレス情報は、そのピット列におけるピット形成可能位置でのピット形成有無を１チャネルビットの情報として記録されるものである。これに応じアドレス検出回路３６は、上記selector信号Ｓ_Adの立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値を識別することで、１チャネルビットの「０」「１」のデータ識別を行い、その結果に基づき、先の図７で説明したフォーマットに従ったアドレスデコード処理を行うことで、記録されたアドレス情報の検出（再生）を行う。
アドレス検出回路３６で検出されたアドレス情報は、コントローラ４１に対して供給される。

クロック生成回路３９は、先に説明した手順に従ってクロックＣＬＫを生成する。
図１４は、クロック生成回路３９の内部構成を示している。
図１４において、クロック生成回路３９内にはスライス回路３９Ａ、ｓｕｍ微分回路３９Ｂ、スライス回路３９Ｃ、ＡＮＤゲート回路３９Ｄ、及びＰＬＬ回路３９Ｅが設けられる。
ｓｕｍ信号は、図示するようにスライス回路３９Ａとｓｕｍ微分回路３９Ａとに入力される。スライス回路３９Ａは、設定された閾値Ｔｈ１に基づき上記ｓｕｍ信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路３９Ｄに出力する。
上記ｓｕｍ微分回路３９Ｂは、ｓｕｍ信号を微分して先に説明したｓｕｍ微分信号を生成する。上記スライス回路３９Ｃは、設定された閾値Ｔｈ２に基づき、上記ｓｕｍ微分回路３９Ｂにより生成されたｓｕｍ微分信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路３９Ｄに出力する。
ＡＮＤゲート回路３９Ｄは、上記スライス回路３９Ａからの出力と上記スライス回路３９Ｃからの出力とのＡＮＤをとり、これによって先に説明したタイミング信号を生成する。
ＰＬＬ回路３９Ｅは、このようにＡＮＤゲート回路３９Ｄで得られたタイミング信号を入力信号としてＰＬＬ処理を行って、クロックＣＬＫを生成する。

図１３に戻り、クロック生成回路３９により生成されたクロックＣＬＫは、selector信号生成・選択部４０に対して供給される。

selector信号生成・選択部４０は、クロックＣＬＫに基づく各selector信号の生成、及び生成したselector信号のうちの指示されたselector信号の選択出力（図中のselector信号Ｓ_1、Ｓ_2、Ｓ_Ad）を行う。

図１５は、selector信号生成・選択部４０の内部構成を示している。
図示するようにselector信号生成・選択部４０には、selector信号生成回路４５、及びselector信号選択回路４６が設けられる。
selector信号生成回路４５は、クロックＣＬＫに基づき、Ａ〜Ｆの各ピット列のそれぞれのピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にselector信号生成回路４５は、クロックＣＬＫを１／６に分周した信号として、それぞれ位相が１／６周期ずつずれた信号を生成することで、上記６種のselector信号を得る。
これら６種のselector信号はselector信号選択回路４６に対して供給される。

selector信号選択回路４６は、selector信号生成回路４５から供給されるselector信号のうちから、コントローラ４１からの選択信号SLCTによってアドレス検出回路３６に対して供給すべきとして指示された位相のselector信号をselector信号Ｓ_Adとして選択出力すると共に、同じく上記選択信号SLCTによって指示される、前述したトラッキングエラー信号の生成手法において必要となる、サーボ対象とするピット列に対しそれぞれ位相差が等しい関係となる各ピット列に対応する位相のselector信号を、selector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2として選択出力する。
なお先の説明からも理解されるように、本例の場合、selector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2については、サーボ対象とするピット列に対してそれぞれ隣接するピット列に対応したselector信号を出力するようにコントローラ４１から指示が為されるものとなる。

selector信号選択回路４６より出力されたselector信号Ｓ_1はサンプルホールド回路ＳＨ１に供給され、selector信号Ｓ_2はサンプルホールド回路ＳＨ２に供給される。

サンプルホールド回路ＳＨ１は、selector信号Ｓ_1により示されるタイミングで、マトリクス回路３５から供給されるｓｕｍ信号の値をサンプルホールドし、その結果を減算部３７に出力する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ２は、selector信号Ｓ_2により示されるタイミングで、マトリクス回路３５から供給されるｓｕｍ信号の値をサンプルホールドし、その結果を減算部３７に出力する。

減算部３７は、サンプルホールド回路ＳＨ１によるサンプルホールド出力値から、サンプルホールド回路ＳＨ２によるサンプルホールド出力値を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを得る。先の説明からも理解されるように当該トラッキングエラー信号ＴＥ-svは、サーボ対象として選択したピット列に対するトラッキング誤差を表す信号となる。
図示するようにトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、後述する加算部４３を介してサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。

サーボ光用サーボ回路３８は、フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-sv（加算器４３経由後）に基づき、それぞれフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
そして、記録時には、コントローラ４１からの指示に応じて、上記フォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svに基づいて、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動することで、サーボ用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、及び所要のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実現する。
サーボ光用サーボ回路３８は、記録時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じて、トラッキングサーボ、フォーカスサーボをオンとしてトラッキング、フォーカスのそれぞれのサーボ引き込みを行う。

コントローラ４１は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
例えばコントローラ４１は、前述したように予め各層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、録再用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光学ピックアップＯＰ内のレンズ駆動部１６を駆動することで、バルク層５内の深さ方向における記録位置の選択を行う。

また、コントローラ４１は、先に説明したような記録／再生時の対物レンズ２０のサーボ制御切り替えを実現するための制御も行う。具体的にコントローラ４１は、記録時には、サーボ光用サーボ回路３８に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を指示し、また録再光用サーボ回路３４にはフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を停止するように指示を行う。
一方、再生時には、録再光用サーボ回路３４に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を指示し、サーボ光用サーボ回路３８に対しては、フォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を停止するように指示を行う。

またコントローラ４１は、サーボ用レーザ光のスポット位置についてのシーク動作制御も行う。すなわち、サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上における所定の目標アドレスに移動させるようにサーボ回路３８に対する指示、及びselector信号生成・選択部４０（selector信号選択回路４６）に対する選択信号SLCTによるselector信号の選択指示を行う。

ここで、この場合におけるシーク動作制御は、大まかには例えば以下のような手順で行われることになる。

１）前述のスライド駆動部を利用した光学ピックアップＯＰ全体の移動による目標アドレス付近への移動
２）サーボ用レーザ光のフォーカスサーボＯＮ
３）ｓｕｍ信号に基づくクロックＣＬＫの生成＆各selector信号の生成
４）任意に選択したselector信号に基づき、任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実行
５）上記４）にてトラッキングサーボがかかることで、アドレス情報（ピット列を識別するための情報）が読めるので、そのアドレスから目標アドレスまでのジャンプ動作を行う

コントローラ４１は、上記１）２）の動作が実行されるように、サーボ回路３８に対する指示を行う。またコントローラ４１は、上記４）における任意のselector信号の選択のために、選択信号SLCTにより、selector信号生成・選択部４０に対して、予め定められた位相のピット列に対しそれぞれ隣接するピット列の位相に対応するselector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2の選択指示を行う。
またコントローラ４１は、上記５）の動作の実現のために、selector信号Ｓ_Adについて、上記の「予め定められた位相のピット列」（つまりサーボ対象として選択すべきピット列）に対応するselector信号の選択指示をselector信号生成・選択部４０に対して行う。
そして、このように指示されたselector信号Ｓ_Adに対応してアドレス検出回路３６が検出したアドレス情報を入力し、該アドレス情報に基づき、目標アドレスまでに要する移動量を計算し、該移動量分だけジャンプ動作を実行させるための制御を行う。
なお、このようなシーク時等に実行されるべきものとなる基準面Ｒｅｆにおけるトラックジャンプ動作等、スポット位置を移動させるための先行例としての具体的な位置制御手法は以下の項で説明するものとなる。

［1-8．クローズドループ制御によるスポット移動実現のための具体的手法］

上記により説明した記録再生装置１０の構成によれば、基準面Ｒｅｆに形成された各位相のピット列のうち任意の１つのピット列を対象としたトラッキングサーボを行うことができる。
先行例においては、このような基準面Ｒｅｆ上の１つのピット列に追従するトラッキングサーボを可能とする構成を前提とした上で、以下のような手法により、トラックジャンプ動作などの１トラック分以上のスポット移動が、クローズドループ制御により実現されるようにする。

図１６は、スポット移動をクローズドループ制御により実現するための先行例としての具体的な位置制御手法について説明するための図である。
この図１６では、スポット移動を実現するためにトラッキングサーボループに対して与えるべきオフセットの波形と、当該オフセットの付与に応じて順次出力されるべきselector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2の遷移と、これらselector信号Ｓ_1,Ｓ_2の遷移に伴うサーボ対象ピット列の順次の切り替え及び上記オフセットの付与によって生じるものとなるスポット位置の移動軌跡との関係を示している。
またこの図１６では、スポット位置の移動に伴って順次切り替えられるべきselector信号Ｓ_Adの遷移も併せて示している。

ここで、サーボ用レーザ光のスポット位置をディスク半径方向において従来トラック幅換算で１トラック分以上移動させるためには、上記スポット位置を、半径方向において順次ピット列を跨いでいく（渡っていく）ようにすることになる。そして、このようなスポット位置の移動は、トラッキングサーボループに対して、時間経過と共にその値が徐々に上昇するオフセットを付与することで行う。

このとき、上記オフセットの付与によっては、スポット位置が、サーボ対象とするピット列から徐々に離れていくことになるが、このようにサーボ対象のピット列から徐々に離れていく状態を継続させると、トラッキングエラー信号ＴＥ-svには先の図２８（ｂ）で説明したような折り返しが生じてしまうか、或いは折り返しが生じるに至る前であっても、そのリニアリティが著しく悪化してしまうことになる。

そこで先行例においては、スポット位置がサーボ対象のピット列から或る程度離間したところで、サーボ対象とするピット列を、隣接ピット列に順次切り換えていくということを行う。すなわち、トラッキングサーボループに対するオフセットの付与でスポット位置を徐々に移動させつつ、順次、サーボ対象とするピット列を隣接ピット列に切り換えていくというものである。

ここで、このような位置制御手法とする場合においては、サーボ対象のピット列を隣接ピット列に切り替えるべきタイミング（位置）を、予めどの位置とするか定めておく必要がある。本例においては、このようなサーボ対象ピット列の切り換えタイミングを、隣接ピット列との間のちょうど中間点となる位置に設定するものとしている。

このとき、上記オフセットの傾きは、予め定められた所定の値で固定とされており、従ってスポット位置が或るピット列からこれに隣接するピット列に到達するまでの時間長は既知の値となる。つまりこのことから、上記隣接するピット列の中間点に至るまでの時間長も、上記オフセットの傾きの値から既知の値とされる。
先行例においては、このように既知の値とされる上記中間点に至る時間長の情報を用いて、サーボ対象とするピット列を、それまで対象としていたピット列に隣接するピット列に切り換えるようにされる。

また、このように隣接ピット列間の中間点に至るタイミングでサーボ対象ピット列の切り換えを行うことに対応するため、スポット位置を半径方向に変位させるための上記オフセットとしては、図１６に示されるように上記中間点ごとに極性が変化する波形のものを用いる。
ここで、上記中間点となる位置にスポットが位置しているときのオフセット値は、例えばピット列Ａを対象としたサーボ時には「＋ｏｆ_s」、隣接するピット列Ｂを対象としたサーボ時には「−ｏｆ_s」となるので、上記中間点に至るタイミングとしてのサーボ対象ピット列の切り換えタイミングにおいては、上記オフセットの極性を反転させる必要がある。この点から、この場合において与えるべきオフセットの波形は、図のように鋸歯状波となる。
確認のために述べておくと、このようなオフセットの波形としても、上記の既知の時間長の情報に基づいて設定できるものである。

先行例としての位置制御手法では、このような予め定められた鋸歯状波によるオフセットをトラッキングサーボループに対して与えつつ、スポット位置が上記中間点としての予め定められた隣接ピット列間の所定位置に至るタイミングごとに、トラッキングサーボの対象とするピット列をそれまで対象としていたピット列の外周側（又は内周側）に隣接するピット列に切り換えるということを繰り返す。
このこき、トラッキングサーボとしては、その対象とするピット列は切り替えられるものの、サーボ状態は維持されており、従ってスポット位置の移動はクローズドループ制御により行われることになる。

なお確認のため述べておくと、このようなサーボ対象ピット列の順次の切替とオフセットの付与とによるスポット位置の変位を実現できるのは、基準面Ｒｅｆの構造を図５にて説明した構造として半径方向にピット列を光学限界を超えたピッチで配列できるようにしたことによる。つまり、ピット列を半径方向に光学限界を超えたピッチで配列できなければ、オフセットの付与に伴ってトラッキングサーボが外れてしまうためである。

上記のような先行例としてのスポット位置制御を実現するために行われるべき、各selector信号の具体的な選択の手法は、図１６に示す通りである。
なお図１６では、スポット位置がピット列Ａ→ピット列Ｆ→ピット列Ｅ→ピット列Ｄ→ピット列Ｃ→ピット列Ｂを通過していく様子を示すと共に、この際に順次選択されるべきselector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2、及びselector信号Ｓ_Adを示している。

図示するように、ここでは、ピット列Ａ−Ｆ間の中間点に相当するタイミングを時点ｔ１とおく。以降、ピット列Ｆ−Ｅ間、ピット列Ｅ−Ｄ間、ピット列Ｄ−Ｃ間、ピット列Ｃ−Ｂ間、ピット列Ｂ−Ａ間のそれぞれの中間点に相当するタイミングは時点ｔ２、ｔ３，ｔ４，ｔ５，ｔ６となる。

時点ｔ１以前の段階では、ピット列Ａをサーボ対象としているので、図のようにselector信号Ｓ_1としてはピット列Ｆに対応する位相のselector信号を、またselector信号Ｓ_2としてはピット列Ｂに対応する位相のselector信号を選択させる。すなわち、サーボ対象のピット列Ａに対してそれぞれ隣接関係となる（位相差が一致する）ピット列Ｆ、ピット列Ｂのselector信号をそれぞれ選択させるものである。
また、selector信号Ｓ_Adについては、サーボ対象であるピット列Ａに対応する位相のselector信号を選択させる。
なお、先の図１３や図１５の説明からも理解されるように、これらselector信号Ｓ_1、Ｓ_2、Ｓ_Adの選択指示はコントローラ４１が選択信号SLCTによりselector信号生成・選択部４０（selector信号選択回路４５）に対して行うものである。

時点ｔ１に至ると、サーボ対象ピット列がピット列Ｆに切り替えられるべく、selector信号Ｓ_1としてはピット列Ｅに対応する位相のselector信号、selector信号Ｓ_2としてはピット列Ａに対応する位相のselector信号をそれぞれ選択させる。
またselector信号Ｓ_Adについてはピット列Ｆに対応する位相のselector信号を選択させる。

以降も同様に、切替タイミングとしての時点ｔｎごとに、selector信号Ｓ_1、Ｓ_2についてはサーボ対象とするピット列に隣接するそれぞれのピット列についてのselector信号を選択させ、selector信号Ｓ_Adについてはサーボ対象のピット列のselector信号を選択させる。具体的に、図のように時点ｔ２では「Ｓ_1：Ｄ、Ｓ_2：Ｆ、Ｓ_Ad：Ｅ」、時点ｔ３では「Ｓ_1：Ｃ、Ｓ_2：Ｅ、Ｓ_Ad：Ｄ」時点ｔ４では「Ｓ_1：Ｂ、Ｓ_2：Ｄ、Ｓ_Ad：Ｃ」、時点ｔ５では「Ｓ_1：Ａ、Ｓ_2：Ｃ、Ｓ_Ad：Ｂ」をそれぞれ選択させる。

ここで、図１６中に示すような鋸歯状波によるオフセットの付与は、先の図１３に示した記録再生装置１０において、コントローラ４１の指示に基づきオフセット生成部４２と加算部４３とが行う。
オフセット生成部４２は、コントローラ４１からの指示に基づき、予め設定された所定の傾きを有する鋸歯状波信号を生成・出力する。
加算部４３は、このようにオフセット生成部４２が生成・出力した鋸歯状波信号を、減算部３７から入力されるトラッキングエラー信号ＴＥ-svに対して加算する。

このような構成により、コントローラ４１は、オフセット生成部４２に対する上記鋸歯状波信号の出力／停止指示、及び前述した中間点としての所定のタイミングごとのselector信号Ｓ_1、Ｓ_2の選択指示を行うことで、任意の移動量分のトラックジャンプ動作を実行させることができる。

ここで、確認のために、図１７により、上記で説明した先行例としての位置制御手法を各ピット列のトラッキングエラー信号ＴＥ-svとの対応で表しておく。
図１７において、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆは、それぞれピット列Ａ〜Ｆについてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svであることを表す。なお、これらトラッキングエラーＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの波形は、スポット位置を半径方向に徐々に移動させていったときの波形を表すものである。

この場合、ピット列の位相としてはＡ〜Ｆの６種あるので、図のように各トラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ-sv）の位相は６０°ずつずれた関係となる。
上記により説明した先行例としての位置制御手法は、図中の太線で示すように、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ→ＴＥ_Ｆ→ＴＥ_Ｅ→ＴＥ_Ｄ→ＴＥ_Ｃ→ＴＥ_Ｂ→ＴＥ_Ａ・・・の順で、それらのゼロ点近傍の区間を順次なぞっていくものであるとして表現することができる。

＜２．実施の形態＞
［2-1．先行例の課題］

上記により説明した先行例によれば、トラックジャンプ動作などの、トラッキングエラー信号に折り返しが生じるような移動量によりスポット位置を移動させる位置制御を、クローズドループ制御により実現することができる。

しかしながら、上記による先行例の手法では、オフセットの傾きからピット列間の中間点に至るタイミングを推定し、そのタイミングによりサーボ対象ピット列の切り替えを行うので、当該切り替えタイミングが実際の中間点と一致しない虞がある。
このように実際の中間点とサーボ対象ピット列の切り替えタイミングとが一致しない場合、切り替えタイミングにおいて極性反転されたオフセットの値が、新たにサーボ対象とされたピット列に対する実際のスポット位置のトラッキング誤差量に応じた値とならず、これに伴ってサーボ制御が安定しない虞がある。

また、何より先行例の手法では、トラッキングエラー信号ＴＥ-sv自体については、従来の光ディスクシステムと同様にトラッキング誤差量が或る一定以上となると折り返しが生じるものを使用しているので、スポット位置の移動をさせるにあたっては、トラッキングサーボループに対し、図１６に示したような鋸歯状波によるオフセットを付与しなければならないものとなっている。
このため先行例の手法では、単純にスポット移動量の目標値に応じたオフセットを与えることでスポット位置を目標位置に移動させるという制御を実現することができないものとなっている。

［2-2．実施の形態の位置制御手法］

そこで、本実施の形態では、次の図１８に示されるように、スポット位置が半径方向に移動している際のＡ〜Ｆの各位相のピットのトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆ）のゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせることで、サーボ対象ピット列からのトラッキング誤差量を線形に表すことのできる線形トラッキング誤差信号を生成し、当該線形トラッキング誤差信号に基づきトラッキングサーボをかけるようにする。
つまりこのような線形トラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御系を構成することで、スポット位置を目標位置に移動させるためにサーボループに与えるべきオフセットの値として、単純にサーボ対象とするピット列からの目標移動量に応じた値を与えれば済むものとできる。

図１９は、図１８に示されるような線形トラッキング誤差信号（以下、リニアエラー信号とも称する）の具体的な生成手法について説明するための図である。
なお、この図１９においては、サーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に移動している際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの波形を示している。

先ず、図１９を参照して分かるように、スポット位置が半径方向に移動することに応じては、時間経過と共に、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係に変化が生じることになる。
本例において、リニアエラー信号の生成にあたっては、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係の別ごとにｃａｓｅ分けをしておく。具体的にこの場合は、ピット列位相が６種とされることに応じ、ｃａｓｅとしてはｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２に分けられることになる。
これらｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２の定義は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅をＡ〜Ｆとすると、以下に表すものとなる。

ｃａｓｅ１：Ｅ＜Ｆ＜Ｄ＜Ａ＜Ｃ＜Ｂ
ｃａｓｅ２：Ｅ＜Ｄ＜Ｆ＜Ｃ＜Ａ＜Ｂ
ｃａｓｅ３：Ｄ＜Ｅ＜Ｃ＜Ｆ＜Ｂ＜Ａ
ｃａｓｅ４：Ｄ＜Ｃ＜Ｅ＜Ｂ＜Ｆ＜Ａ
ｃａｓｅ５：Ｃ＜Ｄ＜Ｂ＜Ｅ＜Ａ＜Ｆ
ｃａｓｅ６：Ｃ＜Ｂ＜Ｄ＜Ａ＜Ｅ＜Ｆ
ｃａｓｅ７：Ｂ＜Ｃ＜Ａ＜Ｄ＜Ｆ＜Ｅ
ｃａｓｅ８：Ｂ＜Ａ＜Ｃ＜Ｆ＜Ｄ＜Ｅ
ｃａｓｅ９：Ａ＜Ｂ＜Ｆ＜Ｃ＜Ｅ＜Ｄ
ｃａｓｅ１０：Ａ＜Ｆ＜Ｂ＜Ｅ＜Ｃ＜Ｄ
ｃａｓｅ１１：Ｆ＜Ａ＜Ｅ＜Ｂ＜Ｄ＜Ｃ
ｃａｓｅ１２：Ｆ＜Ｅ＜Ａ＜Ｄ＜Ｂ＜Ｃ

本例では、各トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅を逐次モニタし、上記のように定義される各ｃａｓｅの別を判定する。そして、このように判定したｃａｓｅごとに、以下で示す計算を行うことにより、リニアエラー信号を生成する。
なお、以下で示す計算例は、図１９に示されるように最初にサーボＯＮとしたピット列がピット列Ｄとされた場合を前提としている。すなわち、当該ピット列Ｄ上にスポットが位置している状態がリニアエラー信号のゼロ点であることを前提としているものである。
ここで、下記計算例において、Ｐ(ｎ)は各時刻におけるリニアエラー信号の出力値を表し、Ａ〜Ｆはそれぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅値を表す。
また、Ｐ_prevは、直前のｃａｓｅからの切り替わりタイミングにおける、当該直前のｃａｓｅで選択されていたトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの何れか）の振幅値を表すものである。
さらに、ＨＰＫは、ｃａｓｅの切り替わりタイミングにおける、当該ｃａｓｅの切り替わりに応じて新たに選択されたトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの何れか）の振幅値を表すものである。

ｃａｓｅ１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev＋Ｄ
ｃａｓｅ２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev−ＨＰＫ＋Ｃ
ｃａｓｅ３・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev＋Ｃ
ｃａｓｅ４・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev−ＨＰＫ＋Ｂ
ｃａｓｅ５・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev＋Ｂ
ｃａｓｅ６・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev−ＨＰＫ＋Ａ
ｃａｓｅ７・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev＋Ａ
ｃａｓｅ８・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev−ＨＰＫ＋Ｆ
ｃａｓｅ９・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev＋Ｆ
ｃａｓｅ１０・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev−ＨＰＫ＋Ｅ
ｃａｓｅ１１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev＋Ｅ
ｃａｓｅ１２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐ_prev−ＨＰＫ＋Ｄ

この計算例を参照して分かるように、本実施の形態では、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号ＴＥを順次繋ぎ合わせていくことで、リニアエラー信号を生成するようにされている。
具体的に、本例では、上記所定のタイミングが、ｃａｓｅ１／ｃａｓｅ２の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ３／ｃａｓｅ４の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ５／ｃａｓｅ６の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ７／ｃａｓｅ８の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ９／ｃａｓｅ１０の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ１１／ｃａｓｅ１２の切り替わりタイミングとされた上で、これら所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥを順次選択するようにされる。そしてこれと共に、上記所定のタイミングごとに、その時点でリニアエラー信号として出力していた値（Ｐ_prev）から新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの上記所定のタイミングでの値（ＨＰＫ）を減算して得た値を基準値（Ｐ_prev−ＨＰＫ）とし、当該基準値に対して、上記新たに選択したトラッキングエラー信号の値を加算して得た値（Ｐ(ｎ)）を、リニアエラー信号の値として順次出力するようにされている。

このような手法によって、スポット位置が半径方向（外周方向、内周方向の双方）に移動している状態において、先の図１８に示したような各位相のトラッキングエラー信号ＴＥのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせたものとしてのリニアエラー信号を生成することができる。換言すれば、サーボＯＮとしたピット列からのトラッキング誤差量が、トラッキングエラー信号ＴＥの折り返しが生じるような誤差量であっても、そのトラッキング誤差量をほぼ線形な形で表すトラッキング誤差信号を生成できるものである。

このようなリニアエラー信号を生成できることで、例えばトラックジャンプ動作などの、トラッキングエラー信号ＴＥの折り返しが生じてしまう以上の移動量を目標移動量として行うスポット移動制御に関し、その実現のためにトラッキングサーボループに与えるべきオフセットの値として、単純にその目標移動量に応じた値を与えれば済むものとできる。

また、上記の計算例を参照して分かるように、本例においても、スポット位置の移動に応じて逐次トラッキングエラー信号ＴＥを隣接ピット列のトラッキングエラー信号ＴＥに切り替えて選択するようにされているが、本例では、このようなトラッキングエラー信号ＴＥの選択切り替えは、上記ｃａｓｅの判定としての、各トラッキングエラー信号ＴＥの振幅大小関係の変化点を検出した結果に基づき行うものとしている。換言すれば、ピット列間の中間点となるタイミングを、実際にトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を検出した結果に基づき検出するものとしている。
このようにトラッキングエラー信号ＴＥを切り替えるべきタイミングとしてのピット列間の中間点タイミングを、実際のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅に基づき検出していることで、オフセットの傾きから推定される時間長でトラッキングエラー信号ＴＥの選択切り替えを行う先行例と比較して、切り替えタイミングにおけるトラッキングエラー信号ＴＥの値と実際のトラッキング誤差量との乖離量を抑制でき、その分、トラッキングサーボ制御の安定性をより高めることができる。

また、上述のように本例の位置制御手法が、先行例と同様にスポット位置の移動に応じて逐次トラッキングエラー信号ＴＥを隣接ピット列のトラッキングエラー信号ＴＥに切り替えて選択する手法であることを考慮して分かるように、本例の位置制御手法によっても、スポットの移動中はトラッキングサーボ制御が継続して行われることになる。つまりこのことからも理解されるように、本例の位置制御手法によっても、従来ではエラー信号の折り返しが生じてしまうようなスポット位置の移動を、クローズドループ制御により実現することができる。

［2-3．実施の形態のスポット位置制御装置の構成］

図２０は、実施の形態のスポット位置制御装置の内部構成について説明するための図である。
実施の形態のスポット位置制御装置は、先行例としての記録再生装置１０におけるサーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御系の構成を変更したものとなる。このため図２０では、実施の形態のスポット位置制御装置が備えるサーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御系の構成のみを抽出して示し、光学ピックアップＯＰや録再用レーザ光側の記録／再生系やサーボ系の構成については記録再生装置１０の場合と同様となることから図示は省略している。
なお図２０において、既に先行例において説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。

この図２０と先の図１３（及び図１５）とを比較して分かるように、実施の形態のスポット位置制御装置においては、ｓｕｍ信号をサンプルホールドするサンプルホールド回路ＳＨ１，ＳＨ２、及び減算部３７が省略された上で、エラー信号生成回路５０が設けられる。また、ｃａｓｅ判定回路５１とリニアエラー信号生成回路５２が新たに設けられる。
またこの場合のスポット位置制御装置には、先行例の記録再生装置１０が備えていたselector信号選択回路４６に代えてselector信号選択回路５３が設けられ、さらにコントローラ４１に代えてコントローラ５４が設けられる。

図示するように、この場合のselector信号生成回路４５が出力するピット列Ａ〜Ｆのそれぞれについてのselector信号（以下、selector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆと表記する）は、エラー信号生成回路５０とselector信号選択回路５３とにそれぞれ供給される。

エラー信号生成回路５０は、上記selector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆとｓｕｍ信号とに基づき、ピット列Ａ〜Ｆのそれぞれについてのトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆ）を生成する。

図２１は、エラー信号生成回路５０の内部構成を示している。
この図２１を参照して分かるように、エラー信号生成回路５０内には、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆとしての６種のエラー信号ＴＥを生成するために、２つのサンプルホールド回路と減算部とによるエラー信号生成部がｓｕｍ信号に対して６つ並列に設けられている。
具体的には、サンプルホールド回路ＳＨ-A1とサンプルホールド回路ＳＨ-A2と減算部５０Ａとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-B1とサンプルホールド回路ＳＨ-B2と減算部５０Ｂとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-C1とサンプルホールド回路ＳＨ-C2と減算部５０Ｃとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-D1とサンプルホールド回路ＳＨ-D2と減算部５０Ｄとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-E1とサンプルホールド回路ＳＨ-E2と減算部５０Ｅとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-F1とサンプルホールド回路ＳＨ-F2と減算部５０Ｆとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆを生成するエラー信号生成部とが設けられている。

サンプルホールド回路ＳＨ-A1はselector信号Ｓ_Ｆが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-A2はselector信号Ｓ_Ｂが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５０Ａはサンプルホールド回路ＳＨ-A1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-A2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-B1はselector信号Ｓ_Ａが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-B2はselector信号Ｓ_Ｃが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５０Ｂはサンプルホールド回路ＳＨ-B1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-B2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-C1はselector信号Ｓ_Ｂが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-C2はselector信号Ｓ_Ｄが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５０Ｃはサンプルホールド回路ＳＨ-C1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-C2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-D1はselector信号Ｓ_Ｃが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-C2はselector信号Ｓ_Ｅが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５０Ｄはサンプルホールド回路ＳＨ-D1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-D2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-E1はselector信号Ｓ_Ｄが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-E2はselector信号Ｓ_Ｆが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５０Ｅはサンプルホールド回路ＳＨ-E1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-E2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-F1はselector信号Ｓ_Ｅが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-F2はselector信号Ｓ_Ａが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５０Ｆはサンプルホールド回路ＳＨ-F1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-F2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆを生成する。

説明を図２０に戻す。
エラー信号生成回路５０により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆは、ｃａｓｅ判定回路５１に供給されると共に、リニアエラー信号生成回路５２にも供給される。

ｃａｓｅ判定回路５１は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆに基づき、先に説明したｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２の別を判定し、その判定結果を表す判定信号Ｄｃｓをリニアエラー信号生成回路５２、及びselector信号選択回路５３に供給する。
具体的にこの場合は、各ｃａｓｅの切り替わりタイミングを検出し、上記判定信号Ｄｃｓとしてはｃａｓｅの切り替わりタイミングとｃａｓｅの別とを表す信号を生成・出力する。

リニアエラー信号生成回路５２は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆと判定信号Ｄｃｓとに基づき、前述したリニアエラー信号を生成する。具体的には、先に計算例として示した各ｃａｓｅごとの計算式のうち、上記判定信号Ｄｃｓが表すｃａｓｅに対応する計算式に従った計算を行うことで、リニアエラー信号としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
なお、リニアエラー信号生成回路５２に対しては、コントローラ５３より、サーボ光用サーボ回路３８によるトラッキングサーボがＯＮされるタイミングに応じてリセット信号が与えられ、リニアエラー信号生成回路５２は当該リセット信号に応じて、上記リニアエラー信号としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの値を０リセットする。
図示するようにリニアエラー信号生成回路５２により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、加算部４３に対して供給される

selector信号選択回路５３は、selector信号生成回路４５から供給されるselector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆのうちから、判定信号Ｄｃｓに基づく１つのselector信号をselector信号Ｓ_Adとして選択し、当該selector信号Ｓ_Adをアドレス検出回路３６に出力する。
具体的に、selector信号選択回路５３は、判定信号Ｄｃｓにより表されるｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２についての各切り替わりタイミングのうちの所定のタイミングで、selector信号Ｓ_Adとして出力するselector信号Ｓを、それまで出力していたselector信号Ｓに隣接するselector信号Ｓ（つまりそれまで出力していたselector信号Ｓがそのピット形成可能位置のタイミングを表すピット列に対して、スポットの移動方向側に隣接するピット列に対応するselector信号Ｓ）に切り替える。つまり本例の場合は、ｃａｓｅ１／ｃａｓｅ２の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ３／ｃａｓｅ４の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ５／ｃａｓｅ６の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ７／ｃａｓｅ８の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ９／ｃａｓｅ１０の切り替わりタイミング、及びｃａｓｅ１１／ｃａｓｅ１２の切り替わりタイミングにおいて、selector信号Ｓ_Adとして出力するselector信号Ｓを、それまで出力していたselector信号Ｓに隣接するselector信号Ｓに切り替える。

このようなselector信号選択回路５３により選択されたselector信号Ｓ_Adがアドレス検出回路３６に供給されることで、当該アドレス検出回路３６において、スポット位置に最寄りのピット列に記録されたアドレス情報が適正に検出されるようにできる。

コントローラ５４は、先のコントローラ４１と同様に例えばマイクロコンピュータで構成され、装置全体制御を行う。
コントローラ５４は、選択信号SLCTによるselector信号の指示は行わずに、以下のような処理を実行する点がコントローラ４１と異なる。

具体的に、この場合のコントローラ５４は、基準面Ｒｅｆにおけるシーク動作制御として、先行例の場合とは異なる制御を行う。
先ず、前述の「スライド駆動部を利用した光学ピックアップＯＰ全体の移動による目標アドレス付近への移動」、及び「サーボ用レーザ光のフォーカスサーボＯＮ指示」については、先行例の場合と同様となるが、本例の場合、この後に、リニアエラー信号生成回路５２に対し、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのうちから予め定められた任意のトラッキングエラー信号ＴＥを選択させる指示を行う。つまりこれにより、Ａ〜Ｆのピット列のうち任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が実行されるようにする。
なお、このように任意のピット列を対象としたトラッキングサーボを実行させるにあたって、コントローラ５４は、サーボ光用サーボ回路３８に対してサーボＯＮ指示を行うことになるが、コントローラ５４はこのようなサーボＯＮ指示を行うことに併せて、リニアエラー信号生成回路５２に対し上述したリセット信号を与えてエラー信号ＴＥ-svの値をゼロリセットさせる。

上記のように任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が行われることで、ｃａｓｅ判定回路５１による判定信号Ｄｃｓに基づき、selector信号選択回路５３がサーボ対象とされたピット列についてのselector信号Ｓ（Ｓ_Ad）を選択することとなり、このことに応じてアドレス検出回路３６にて上記サーボ対象とされたピット列に記録にされるアドレス情報が検出される。
このようにアドレス検出回路３６にて検出されたアドレス情報に基づき、コントローラ５４は、目標アドレスまでに要するスポット移動量（目標移動量）を計算し、該目標移動量だけスポット位置を移動させるジャンプ動作の実現のための制御を行う。

具体的に、コントローラ５４は、例えばこのようなシーク動作時などに行われるトラックジャンプ動作など、或るピット列を対象としてトラッキングサーボがかけられている状態から、スポット位置を半径方向に目標移動量だけ移動させるべき状態となったときは、加算部４３に対するオフセット付与を行う。すなわち、加算部４３に対し、時間経過と共に徐々にその値が上記目標移動量に応じた値まで上昇するオフセット信号を出力するものである。この場合のオフセット信号は、先行例の場合のような鋸歯状波信号ではなく、線形なオフセット信号となる。

このような線形なオフセット信号の付与に応じて、スポット位置が目標位置まで移動される。この間に、先に説明したｃａｓｅ判定回路５１による判定信号Ｄｃｓの生成・出力や当該判定信号Ｄｃｓに応じたリニアエラー信号生成回路５２によるエラー信号計算（トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの順次の選択切り替えを伴う計算）が行われることで、トラッキングエラー信号ＴＥの折り返しが生じる以上のトラッキング誤差量をほぼ線形に表すリニアエラー信号の生成が行われると共に、当該リニアエラー信号に基づくトラッキングサーボ制御が行われることで、エラー信号ＴＥの折り返しが生じる以上の移動量によるスポット移動のための位置制御が、クローズドループ制御により実現されるものとなる。

＜３．変形例＞

以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、ｓｋｅｗや対物レンズ２０のレンズシフトへの対策として、ｓｕｍ信号のサンプルホールド値の差分によるトラッキングエラー信号ＴＥを生成する場合を例示したが、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴うスポット位置ずれの補正手段を設けるなど、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴う影響が無視できるような場合には、トラッキングエラー信号ＴＥとしてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いるようにもできる。

また、これまでの説明では、リニアエラー信号の生成にあたり、先の図１８に示したようにトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆをそのまま用いる場合を例示したが、リニアエラー信号の生成手法としては、以下のような変形例としての手法も可能である。

図２２〜図２５は、変形例としてのリニアエラー信号の生成手法について説明するための図である。
先ず、図２２では、スポット位置が半径方向に移動している際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの波形を示すと共に、該波形図上でピット列Ａの真上にスポットが位置するタイミングとしての時点ｔＡ、及びピット列Ｄの真上にスポットが位置するタイミングとしての時点ｔＤをそれぞれ示している。
また、図２３では、基準面Ｒｅｆ上においてスポットがピット列Ａ上をトレースしている様子（図２３（ａ））とピット列Ｄ上をトレースしている様子（図２３（ｂ））とを示している。
ここで、図２３に示すように、線方向（ピット列形成方向）においてスポットがピット列Ａ上のピット形成可能位置に一致するタイミングをｔｓ１とおく。同様に、線方向においてスポットがピット列Ｂ上、ピット列Ｃ上、ピット列Ｄ上、ピット列Ｅ上、ピット列Ｆ上のピット形成可能位置にそれぞれ一致するタイミングをｔｓ２、ｔｓ２、ｔｓ３、ｔｓ４、ｔｓ５、ｔｓ６とおく。

先ず、図２２を参照すると、ピット列Ａについてのトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａとピット列Ｄについてのトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄとは、その位相が反転した関係、換言すればその極性が逆転した関係となっていることが分かる。すなわち、常にＡ＝−Ｄの関係が得られている。
本変形例は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのうちに、このように互いの極性が逆の関係となるトラッキングエラー信号ＴＥの組が存在することを利用した手法となる。

ここで、図２３（ａ）に示すスポットがピット列Ａ上をトレースする状態は、図２２に当て嵌めれば、時点ｔＡでのスポット位置が該当することになる。同様に図２３（ｂ）に示すスポットがピット列Ｄ上をトレースする状態は、図２２における時点ｔＤでのスポット位置が該当する。
つまりこのことからも理解されるように、スポット位置が半径方向に移動することに伴っては、図２３（ａ）に示すスポット位置の状態から図２３（ｂ）に示すスポット位置の状態への遷移（或いは逆の遷移）が生じることになる。

この点を踏まえた上で、図２２における時点ｔＡ、すなわち図２３（ａ）の状態に相当する状態では、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａは、対象とするピットＡの真上を通過するスポットの反射光に基づき生成されるものとなる。しかしながら、スポット位置が半径方向に移動して時点ｔＤ、つまり図２３（ｂ）に相当する状態となったときは、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａは、対象とするピットＡから最も離れたところにスポットが位置する状態で生成されることになる。
トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄについても同様のことが言え、図２２における時点ｔＤ（図２３（ｂ）に相当する状態）では対象とするピットＤの真上を通過するスポットの反射光に基づき生成できるが、時点ｔＡ（図２３（ａ）に相当する状態）では対象とするピットＤから最も離れたところにスポットが位置する状態で生成されることになる。

このようにトラッキングエラー信号ＴＥは、スポットが半径方向に変位される状況下では、スポット位置がその対象ピット列から遠ざかると当該対象ピット列から離れたスポットの反射光に基づき生成されるものである。そしてこのとき、対象ピット列から離れた区間では、その値の信頼性が低くなる虞がある。

ここで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ,ＴＥ_Ｄの関係性について見ると、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａは、スポット位置が対象ピット列から最も遠ざかる時点ｔＤにおいて、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄが対象とするピット列Ｄの真上にスポット位置があることになる。
この点と、上述のようにトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ、ＴＥ_Ｄが逆位相の関係（Ａ＝−Ｄ）である点とを考慮すると、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａについては、対象とするピット列Ａの近傍にスポット位置がある状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａをそのまま使用し、ピット列Ａからスポット位置が遠ざかった状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄの反転値を使用することとすれば、結果として、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａと同等の波形による信号を、常に、対象ピット列の近傍にスポットがある状態で生成した信号により得ることができる。

同様のことが、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃ，ＴＥ_Ｅについても言える。すなわち、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃについては、これと逆位相の関係となるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆをペアとして、対象とするピット列Ｃの近傍にスポット位置がある状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃをそのまま出力し、ピット列Ｃからスポット位置が或る程度遠ざかった状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆの反転値を出力する。
また、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅについてはこれと逆位相の関係となるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂをペアとして、対象とするピット列Ｅの近傍にスポット位置がある状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅをそのまま出力し、ピット列Ｅからスポット位置が或る程度遠ざかった状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂの反転値を出力する。

ここで、上記のようにトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ，ＴＥ_Ｄの組、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅ,ＴＥ_Ｂの組、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃ，ＴＥ_Ｆの組をそれぞれ用いて生成するトラッキングエラー信号ＴＥを、それぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒとおく。これらの波形は、図２４に示すものとなる。

これらトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの具体的な生成手法を以下に示す。
なお下記の計算式において、ｓ１〜ｓ６は、図２３に示したタイミングｔｓ１〜ｔｓ６でのｓｕｍ信号の振幅値を表す。
また、Ａはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａの振幅値、Ｄはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄの振幅値である。同様にＥ、Ｂ、Ｃ、Ｆはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅ、ＴＥ_Ｂ、ＴＥ_Ｃ、ＴＥ_Ｆの振幅値をそれぞれ表す。

ｓ１＜ｓ４ → ＴＥ_ｐ＝Ａ
ｓ１≧ｓ４ → ＴＥ_ｐ＝−Ｄ

ｓ５＜ｓ２ → ＴＥ_ｑ＝Ｅ
ｓ５≧ｓ２ → ＴＥ_ｑ＝−Ｂ

ｓ３＜ｓ６ → ＴＥ_ｒ＝Ｃ
ｓ３≧ｓ６ → ＴＥ_ｒ＝−Ｆ

なお、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの生成手法は上記に限定されるものでなく、例えば、

ｓ６＋ｓ２＜ｓ３＋ｓ５ → ＴＥ_ｐ＝Ａ
ｓ６＋ｓ２≧ｓ３＋ｓ５ → ＴＥ_ｐ＝−Ｄ

などのようにすることもできる。

図２５は、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒを用いた変形例としてのリニアエラー信号の具体的生成手法について説明するための図である。
先ず、この場合も各エラー信号ＴＥの振幅大小関係の別ごとにｃａｓｅ分けを行う。具体的にこの場合は、使用するエラー信号ＴＥの位相の種類が３つとされることに応じ、ｃａｓｅとしてはｃａｓｅ２１〜ｃａｓｅ２６の６つに分けられることになる。
これらｃａｓｅ２１〜ｃａｓｅ２６の定義は、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの振幅をそれぞれｐ、ｑ、ｒとすると以下のようになる。

ｃａｓｅ２１：ｐ＜ｑ＜ｒ
ｃａｓｅ２２：ｑ＜ｐ＜ｒ
ｃａｓｅ２３：ｑ＜ｒ＜ｐ
ｃａｓｅ２４：ｒ＜ｑ＜ｐ
ｃａｓｅ２５：ｒ＜ｐ＜ｑ
ｃａｓｅ２６：ｐ＜ｒ＜ｑ

本変形例では、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの振幅を逐次モニタして上記定義による各ｃａｓｅの判定を行う。そして、このように判定したｃａｓｅごとに以下で示す計算を行うことで、リニアエラー信号を生成する。
なお、以下の計算例においては、最初にサーボＯＮとしたピット列がピット列Ｅとされ、当該ピット列Ｅ上にスポットが位置している状態がリニアエラー信号のゼロ点に設定される場合を前提としている。
また下記計算例において、Ｐ(ｎ)、Ｐｐｒｅｖ、及びＨＰＫの定義については実施の形態の場合と同様である。

ｃａｓｅ２１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ＋ｑ
ｃａｓｅ２２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ−ｐ
ｃａｓｅ２３・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ＋ｒ
ｃａｓｅ２４・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ−ｑ
ｃａｓｅ２５・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ＋ｐ
ｃａｓｅ２６・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ−ｒ

このようにして変形例のリニアエラー信号生成手法としても、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥの振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号ＴＥを順次繋ぎ合わせていくことでリニアエラー信号を生成する手法であることが分かる。
具体的に、変形例の場合は、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥの振幅の大小関係の変化が生じるごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_ｑはピット列Ｅ、ＴＥ_ｒはピット列Ｃ、ＴＥ_ｐはピット列Ａをそれぞれ対象とするものである）を順次選択するものとしている。そしてこれと共に、上記振幅の大小関係の変化が生じるタイミング（上記所定のタイミング）ごとに、その時点でリニアエラー信号として出力していた値（Ｐｐｒｅｖ）から新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの上記所定のタイミングでの値（ＨＰＫ）を減算して得た値を基準値（Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ）とし、当該基準値に対して、上記新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの値を加算して得た値（Ｐ(ｎ)）を、リニアエラー信号の値として順次出力するようにされている。

なおこのような変形例としてのリニアエラー信号の生成手法について、図２５と先の図１８とを対比すると、ｃａｓｅ２１で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｑはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅに相当し、ｃａｓｅ２４で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｑはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂに相当するものであることが分かる。また、ｃａｓｅ２２で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄに相当しｃａｓｅ２５で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａに相当するものであり、さらに、ｃａｓｅ２３で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｒはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃに相当しｃａｓｅ２６で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｒはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆに相当するものであることが分かる。
このことからも理解されるように、変形例のリニアエラー信号生成手法としても、基準面Ｒｅｆに形成された各位相のピット列Ａ〜Ｆのそれぞれ対応するトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの、それぞれのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせる手法に該当するものである。

上記により説明した変形例としてのエラー信号生成手法によれば、トラッキングエラー信号ＴＥとしてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いる場合に、各トラッキングエラー信号ＴＥとしてより対象ピット列に近い位置にスポットがある状態でサンプルホールドした信号を用いることができるので、アドレス変調によってピットの無い部分が生じる場合にもより信頼性の高いトラッキングエラー信号ＴＥを得ることができる。

また、これまでの説明では、スポット位置を半径方向に移動させる動作の例としてトラックジャンプ動作を挙げたが、本発明は、オフセットの付与によって、サーボ用レーザ光のスポット位置を任意のピッチによるスパイラル状に移動させるための位置制御にも好適に適用できる。
このようなスパイラル制御を行う場合には、サーボループに対して与えるオフセットとして、実現したいピッチに応じた傾きを有するオフセットを与えるものとすればよい。

また、これまでの説明では、本発明において記録対象とする光記録媒体がバルク型の光記録媒体とされる場合を例示したが、本発明としては、バルク層５ではなく、例えば次の図２６に示されるような複数の記録膜が形成された多層構造を有する記録層が設けられた光記録媒体（多層記録媒体６０とする）に対しても好適に適用できる。
図２６において、多層記録媒体６０は、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、及び中間層４が形成される点は図２に示したバルク型記録媒体１と同様となるが、この場合はバルク層５に代えて、図のように半透明記録膜６１と中間層４とが所定回数繰り返し積層された層構造を有する記録層が積層される。図のように最下層に形成された半透明記録膜６１は、基板６２上に積層されている。なお、最下層に形成される記録膜については全反射記録膜を用いることができる。
ここで、注意すべきは、上記半透明記録膜６１には、ピット列の形成に伴う位置案内子が形成されていないという点である。つまりこの多層記録媒体６０としても、スパイラル状又は同心円状の位置案内子は、基準面Ｒｅｆとしての１つの層位置に対してのみ形成されているものである。

このような多層記録媒体６０の記録層においては、反射膜として機能する半透明記録膜６１が形成されているため、記録時においても録再用レーザ光の反射光を用いたフォーカス制御を行うことができる。
すなわち、この場合の記録時において、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御は、当該録再光用レーザ光の反射光に基づいて可動レンズ１５（レンズ駆動部１６）を駆動することで、記録対象とする半透明記録膜６１に合焦させるようにして行うことになる。
なお、再生時におけるフォーカスサーボ、トラッキングサーボの具体的手法はバルク型記録媒体１を対象とする場合と同様で良い。

また、これまでの説明では、ピット列が形成される基準面は、記録層の上層側に対して設けるものとしたが、基準面は記録層の下層側に設けることもできる。

また、これまでの説明では、記録層に対する記録を行うためのレーザ光の光源と、当該記録層に記録されたマーク列からの反射光を利用して情報再生やトラッキング・フォーカスサーボを行うためのレーザ光の光源とを共通とする構成を例示したが、これら記録のためのレーザ光の光源と情報再生・サーボ制御のための光源とを別々に設けた構成とすることもできる。

また、これまでの説明では言及しなかったが、本例では基準面ＲｅｆにＣＡＶ方式でピット列が記録され、これに対応してバルク型記録媒体１を一定回転速度で回転駆動するようにしているため、この場合における記録層では、外周側となるほど記録密度が疎となってしまう。これを対策するため、例えば半径位置に応じて連続的に記録クロック周波数を変化させるなど、記録密度を一定（或いは一定と見なすことのできる状態）とするための構成を付加することもできる。

また、これまでの説明では、基準面Ｒｅｆにおけるピット列をスパイラル状に形成する場合を例示したが、同心円状に形成することもできる。ピット列を同心円状に形成した場合も、リニアエラー信号の生成やこれを用いた位置制御手法についてはこれまでで説明したものと同様でよい。

また、これまでの説明では、ピット列がスパイラル状に形成される場合の例として、先の図６のようにＡ〜Ｆの各位相のピット列がそれぞれ独立したスパイラルで形成される場合（多重スパイラル構造）を例示したが、ピット列は、次の図２７に示すように１本のスパイラルで形成されるようにすることもできる（シングルスパイラル構造）。なお、この図２７においても図示の都合上、ピット列の位相はＡ〜Ｃの３種のみを示している。
図のように、この場合はディスク上の或る回転角度位置を基準位置として定めておき、当該基準位置を基準として定まる各周回ごとに、ピット列の位相を順次変化させていく。例えば先の図５のように外周側から内周側に向けてピット列Ａ→Ｂ→Ｃ→・・・が配列される（つまり外周側となるにつれて徐々にピット列位相を進ませる）フォーマットとする場合には、図のようにｎ周回目はピット列Ａの位相、ｎ＋１周回目はピット列Ｃの位相、ｎ＋２周回目はピット列Ｂの位相・・・という具合に、周回ごとに徐々にピット列の位相を進ませるようにしてピットを形成していく。
先の図６と対比して分かるように、このようなシングルスパイラル構造とすることによっても、半径方向において配列される各ピット列の位相関係としては図６の場合と同様とすることができる。

ここで、図６に示されるような多重スパイラル構造によるディスクを作成するにあたっては、Ａ〜Ｆの各ピット列のカッティングを同一原盤に対してそれぞれ個別に行うという手法を採ることが考えられるが、この場合には、個々のピット列のカッティングをその開始位置を半径方向に僅かにずらしながら順次行うこととなり、精度の面で困難性を伴う虞がある。
これに対し図２７のようなシングルスパイラル構造とすれば、カッティングの回数は１度で済み、また精度の面においてもピットの形成タイミングを正確にコントロールしさえすれば良く、技術的困難性は格段に低くできる。

なお、図２７に示すようなシングルスパイラル構造とした場合、或る位相のピット列を対象としたトラッキングサーボを１周以上かけ続けるということはできない。そこでこの場合には、所定の傾きによるオフセット信号をトラッキングサーボループに対して与えることで、記録層に対する記録が所定ピッチのスパイラル状に行われるようにする。

また、これまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列として、Ａ〜Ｆの計６つを設定するものとし、半径方向においてはこれら６つのパターン（ピット列位相）によるピット列が繰り返し形成されるものとしたが、上記複数のピット列の数は６つに限定されるべきものではなく、より多くの本数、或いはより少ない本数とすることもできる。

また、ピット列における各ピット形成可能位置の区間長は３Ｔ分の区間長とし、またピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も同様の３Ｔ分の長さに設定する（つまりｎ＝６Ｔに設定する）場合を例示したが、これらはあくまで一例を示したものに過ぎない。これら各ピット形成可能位置の区間長、及びピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔については、先に挙げた１）２）の条件が満たされるようにして設定されればよいものである。

またこれまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列に関して、外周側ほどピット列位相が進み内周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列したが、例えば逆に内周側ほどピット列位相が進み外周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列するなど、上記複数のピット列の配列パターンは、ピット列形成方向において光学限界を超えないという条件の下で様々なパターンの設定が可能である。

またこれまでの説明では、本発明が光記録媒体（記録層）に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光記録媒体（記録層）に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる。

１ バルク型記録媒体、２ カバー層、３ 選択反射膜、Ｒｅｆ 基準面、４ 中間層、５ バルク層、Ｌ マーク形成層位置（情報記録層位置）、１０ 記録再生装置、１１ 録再用レーザ、１２,２５ コリメーションレンズ、１３,２６ 偏光ビームスプリッタ、１４ 固定レンズ、１５ 可動レンズ、１６ レンズ駆動部、１７ ミラー、１８,２７ １／４波長板、１９ ダイクロイックプリズム、２０ 対物レンズ、２１ ２軸アクチュエータ、２２,２８ 集光レンズ、２３ 録再光用受光部、２４ サーボ用レーザ、２９ サーボ光用受光部、３１ 記録処理部、３２ 録再光用マトリクス回路、３３ 再生処理部、３４ 録再光用サーボ回路、３５ サーボ光用マトリクス回路、３６ アドレス検出回路、３７,５１ 減算部、３８ サーボ光用サーボ回路、３９ クロック生成回路、３９Ａ,３９Ｃ スライス回路、３９Ｂ ｓｕｍ微分回路、３９Ｄ ＡＮＤゲート回路、３９Ｅ ＰＬＬ回路、４０,５０ selector信号生成・選択部、４１,５４ コントローラ、４２ オフセット生成部、４３ 加算部、４４ スピンドルモータ、ＳＨ１,ＳＨ２,ＳＨ-A1〜ＳＨ-F2 サンプルホールド回路、４５ selector信号生成回路、４６,５３ selector信号選択回路、５０ エラー信号生成回路、５１ ｃａｓｅ判定回路、５２ リニアエラー信号生成回路、６０ 多層記録媒体、６１ 半透明記録膜、６２ 基板

Claims (9)

1. １周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされている光記録媒体に対して、対物レンズを介して第１の光を照射し且つ、上記第１の光の上記光記録媒体からの反射光を受光する光照射・受光部と、
   上記対物レンズを上記半径方向に変位させるトラッキング機構部と、
   上記光照射・受光部が上記第１の光の反射光を受光して得た受光信号に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成部と、
   上記クロック生成部により生成されたクロックに基づき、上記光記録媒体に形成された各位相のピット列についての上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成部と、
   上記第１の光の反射光についての上記受光信号と、上記タイミング選択信号生成部が生成した上記タイミング選択信号とに基づき、上記光記録媒体に形成された各位相のピット列ごとのトラッキング誤差をそれぞれ表す複数のトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成部と、
   上記第１の光の照射スポットが半径方向に移動している際に得られる上記複数のトラッキング誤差信号のゼロクロス点近傍の区間の信号を順次繋ぎ合わせて、トラッキング誤差量を線形に表す線形トラッキング誤差信号を生成する線形トラッキング誤差信号生成部と、
   上記線形トラッキング誤差信号に基づき上記トラッキング機構を駆動することで上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部と、
   上記トラッキングサーボ制御部によるトラッキングサーボ制御により形成されるトラッキングサーボループに対して上記照射スポットを半径方向に移動させるためのオフセットを付与するオフセット付与部と
   を備えるスポット位置制御装置。
2. 上記線形トラッキング誤差信号生成部は、
   上記複数のトラッキング誤差信号の振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、上記照射スポットの移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号を順次繋ぎ合わせることで、上記線形トラッキング誤差信号を生成する
   請求項１に記載のスポット位置制御装置。
3. 上記線形トラッキング誤差信号生成部は、
   上記所定のタイミングごとに、上記照射スポットの移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号を順次選択していくと共に、
   上記所定のタイミングにおいて、その時点で上記線形トラッキング誤差信号として出力していた値から新たに選択したトラッキング誤差信号の上記所定のタイミングでの値を減算して得た値を基準値とし、当該基準値に対して、上記新たに選択したトラッキング誤差信号の値を加算して得た値を、上記線形トラッキング誤差信号の値として順次出力する
   請求項２に記載のスポット位置制御装置。
4. 上記光記録媒体には、
   個々の上記ピット列上の上記ピットの形成可能位置におけるピットの形成有無のパターンにより、上記個々のピット列ごとに上記光記録媒体上の位置情報が記録されており、
   上記複数のトラッキング誤差信号の振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、上記複数のタイミング選択信号のうちから、上記照射スポットの移動方向側に隣接するピット列に対応するタイミング選択信号を選択するタイミング選択信号選択部と、
   上記タイミング選択信号選択部が選択したタイミング選択信号が表すタイミングで、上記受光信号の値をサンプルして上記ピットの形成可能位置における上記ピットの形成有無としてのチャネルビット値の判定を行った結果に基づき、上記位置情報を検出する位置情報検出部とを備える
   請求項２に記載のスポット位置制御装置。
5. 上記トラッキング誤差信号生成部は、
   上記各位相のピット列ごとに、そのピット列に対して位相差が等しい関係となるそれぞれのピット列に対応する上記タイミング選択信号が表すタイミングで上記受光信号の値をサンプルホールドしそれらの差分を計算することで、上記各位相のピット列ごとの上記トラッキング誤差信号を生成する
   請求項１に記載のスポット位置制御装置。
6. 上記光記録媒体は、
   上記ピット列が形成された基準面と、当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有して構成され、
   上記光照射・受光部は、
   上記記録層に対する記録光としての第２の光を、上記対物レンズを介して上記第１の光と共に上記光記録媒体に照射するように構成されている
   請求項１に記載のスポット位置制御装置。
7. 上記光照射・受光部は、
   上記記録層としてバルク状態の記録層を有する上記光記録媒体に対して上記第１の光と上記第２の光とを照射する
   請求項６に記載のスポット位置制御装置。
8. 上記光照射・受光部は、
   上記記録層として深さ方向の複数位置に記録膜が形成された多層構造を有する記録層を有する上記光記録媒体に対して上記第１の光と上記第２の光とを照射する
   請求項６に記載のスポット位置制御装置。
9. １周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされている光記録媒体に対して、対物レンズを介して第１の光を照射し且つ、上記第１の光の上記光記録媒体からの反射光を受光する光照射・受光部と、上記対物レンズを上記半径方向に変位させるトラッキング機構部とを有するスポット位置制御装置におけるスポット位置制御方法であって、
   上記光照射・受光部が上記第１の光の反射光を受光して得た受光信号に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成手順と、
   上記クロック生成手順により生成したクロックに基づき、上記光記録媒体に形成された各位相のピット列についての上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成手順と、
   上記第１の光の反射光についての上記受光信号と、上記タイミング選択信号生成手順で生成した上記タイミング選択信号とに基づき、上記光記録媒体に形成された各位相のピット列ごとのトラッキング誤差をそれぞれ表す複数のトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手順と、
   上記第１の光の照射スポットが半径方向に移動している際に得られる上記複数のトラッキング誤差信号のゼロクロス点近傍の区間の信号を順次繋ぎ合わせて、トラッキング誤差量を線形に表す線形トラッキング誤差信号を生成する線形トラッキング誤差信号生成手順と、
   上記線形トラッキング誤差信号に基づき上記トラッキング機構を駆動することで上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行いつつ、当該トラッキングサーボ制御が行われることで形成されるトラッキングサーボループに対して上記照射スポットを半径方向に移動させるためのオフセットを付与するサーボ・オフセット付与手順と
   を有するスポット位置制御方法。