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JP2017066434A - Film forming apparatus and laminate - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technology for stably producing a laminate of a desired color at high accuracy by a film deposition process.SOLUTION: A laminate having a transparent layer and a metallic opaque layer viewed from one side is produced by a film deposition process on the surface of a substrate. In a film deposition apparatus, a decision section decides film deposition conditions based on color information provided by an input section referring to corresponding data. The film deposition conditions include at least film thickness of the transparent layer as a factor to adjust the color of the laminate. When the laminate is irradiated with light from the one side, reflected light from the surface of the transparent layer interferes with reflected light from the surface of the opaque layer. The interference is altered by adjusting the film thickness of the transparent layer and thus the color of the laminate is adjusted. Therefore, the laminate of a desired color is stably produced at high accuracy, which surpasses laminates produced in film deposition conditions adjusted by a feeling or experiences of an operator of the film deposition apparatus.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、基材の表面に膜を成膜する成膜装置およびこの成膜により得られる積層体に関する。   The present invention relates to a film forming apparatus for forming a film on the surface of a substrate and a laminate obtained by the film formation.

基材の表面に膜を成膜する際の成膜条件を調整することにより、得られる膜の色を調整する技術が知られている。この種の技術として、例えば、特許文献1には、高分子色素の膜に特定の屈折率と厚さを有する透明膜を重ね合わせることで、一方側(透明膜側)から視た場合の色調が変化してみえる積層体を得る技術が開示されている。   There is known a technique for adjusting the color of a film to be obtained by adjusting film forming conditions for forming a film on the surface of a substrate. As this type of technology, for example, Patent Document 1 discloses a color tone when viewed from one side (transparent film side) by superimposing a transparent film having a specific refractive index and thickness on a polymer dye film. A technique for obtaining a laminated body in which the change appears to change is disclosed.

特開2015−24622号公報JP 2015-24622 A

上記一方側から視てある色の積層体を成膜したい場合に、過去に同一色の成膜処理を実行したデータがあれば、そのデータを参照して過去の処理と同一の成膜条件で成膜処理を実行することで、目的の色の積層体が得られる。   When it is desired to form a layered product of the color seen from one side, if there is data that has been subjected to the same color film forming process in the past, the data is referred to and the same film forming conditions as in the past process are used. By executing the film forming process, a laminate of a target color can be obtained.

他方、上記一方側から視てある色の膜を成膜したい場合に、過去に同一色の成膜処理を実行したデータがなければ、成膜装置の操作者の勘や経験則によって成膜条件の調整が行われることが一般的である。   On the other hand, when it is desired to form a film of a color as viewed from the one side, if there is no data for performing the same color film formation process in the past, the film formation conditions are determined by the operator's intuition and empirical rules. Generally, the adjustment is performed.

しかしながら、この態様においては、操作者ごとの誤差の影響が避けられず、高精度で安定的に所望の色の積層体を得ることは困難であった。   However, in this aspect, the influence of the error for each operator is unavoidable, and it is difficult to stably obtain a desired color laminate with high accuracy.

そこで、本発明は、成膜処理により、高精度で安定的に所望の色の積層体を得る技術を提供することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to provide a technique for stably obtaining a laminated body having a desired color with high accuracy by a film forming process.

本発明の第1の態様にかかる成膜装置は、基材の表面の一方側に少なくとも1層の膜を成膜して積層体を得る成膜装置であって、その内部に処理空間を有する処理チャンバーと、前記処理チャンバー内で前記基材を保持する基材保持部と、前記処理空間にガスを供給するガス供給部と、前記処理チャンバー内の気体を排出する排気部と、前記基材保持部に保持された前記基材の前記表面に成膜処理を実行する成膜処理部と、前記一方側から前記積層体を視た際の色情報が入力される入力部と、複数の色に関して、色情報と前記一方側から視てその色となる前記積層体を得るための成膜条件とを対応付けた対応データが格納された記憶部と、前記入力部から入力された前記色情報を基に前記対応データを参照して前記成膜条件を確定する確定部と、を備え、前記積層体は、前記一方側から視て順に透明層と金属製の不透明層とを有し、前記成膜条件には、色調整の要素として少なくとも前記透明層の膜厚が含まれることを特徴とする。   The film forming apparatus according to the first aspect of the present invention is a film forming apparatus for obtaining a laminate by forming at least one film on one side of the surface of a substrate, and has a processing space therein. A processing chamber, a base material holding portion for holding the base material in the processing chamber, a gas supply portion for supplying gas to the processing space, an exhaust portion for discharging the gas in the processing chamber, and the base material A film formation processing unit that performs film formation processing on the surface of the base material held by the holding unit, an input unit that receives color information when the laminate is viewed from the one side, and a plurality of colors The color information and the color information input from the input unit, the storage unit storing correspondence data in which the film formation condition for obtaining the laminate having the color viewed from the one side is obtained, and the color information input from the input unit Determining unit for determining the film forming condition with reference to the corresponding data based on The laminate has a transparent layer and a metal opaque layer in order as viewed from the one side, and the film forming conditions include at least the film thickness of the transparent layer as an element of color adjustment. It is characterized by that.

本発明の第2の態様にかかる成膜装置は、本発明の第1の態様にかかる成膜装置であって、前記一方側から前記積層体に照射光を付与した際に前記積層体の前記一方側の表面で前記照射光が反射して得られる第1反射光と、前記一方側から前記積層体に照射光を付与した際に前記積層体の前記透明層を通過して前記透明層と前記金属製の不透明層との界面で反射して得られる第2反射光と、が干渉する作用により前記色調整が実現され、この干渉作用が前記透明層の膜厚に応じて変化することを特徴とする。   The film forming apparatus according to the second aspect of the present invention is the film forming apparatus according to the first aspect of the present invention, and is configured to apply the irradiation light to the stacked body from the one side. A first reflected light obtained by reflecting the irradiation light on the surface on one side, and the transparent layer passing through the transparent layer of the laminate when the irradiation light is applied to the laminate from the one side; The color adjustment is realized by the action of interference with the second reflected light obtained by reflection at the interface with the metal opaque layer, and the interference action changes according to the film thickness of the transparent layer. Features.

本発明の第3の態様にかかる成膜装置は、本発明の第1の態様または第2の態様にかかる成膜装置であって、前記入力部から入力された前記色情報が前記対応データの対応可能範囲に含まれるか否かを判定する判定部と、前記色情報が前記対応可能範囲に含まれない場合に、その旨を装置の操作者に報知する報知部と、をさらに備えることを特徴とする。   A film forming apparatus according to a third aspect of the present invention is the film forming apparatus according to the first aspect or the second aspect of the present invention, wherein the color information input from the input unit is the corresponding data. A determination unit that determines whether or not the image is included in a compatible range; and a notification unit that notifies an operator of the apparatus when the color information is not included in the compatible range. Features.

本発明の第4の態様にかかる成膜装置は、本発明の第1の態様ないし第3の態様のいずれかにかかる成膜装置であって、前記対応データは、前記積層体を構成する各層の各光学定数および前記透明層の膜厚と、前記一方側から視た前記積層体の色情報と、を理論的な計算により対応付けたデータであることを特徴とする。   A film forming apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the film forming apparatus according to any one of the first to third aspects of the present invention, wherein the correspondence data includes each layer constituting the laminate. Each optical constant and the film thickness of the transparent layer and the color information of the laminate viewed from the one side are data associated with each other by theoretical calculation.

本発明の第5の態様にかかる成膜装置は、本発明の第1の態様ないし第4の態様のいずれかにかかる成膜装置であって、前記積層体は、建物のインテリアまたはエクステリアの装飾材料として用いられることを特徴とする。   A film forming apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the film forming apparatus according to any one of the first to fourth aspects of the present invention, wherein the laminate is a decoration of a building interior or an exterior. It is used as a material.

本発明の第6の態様にかかる成膜装置は、本発明の第1の態様ないし第5の態様のいずれかにかかる成膜装置であって、前記透明層は窒化シリコン層であることを特徴とする。   A film forming apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the film forming apparatus according to any one of the first to fifth aspects of the present invention, wherein the transparent layer is a silicon nitride layer. And

本発明の第7の態様にかかる成膜装置は、本発明の第1の態様ないし第5の態様のいずれかにかかる成膜装置であって、前記透明層は酸化チタン層であることを特徴とする。   A film forming apparatus according to a seventh aspect of the present invention is the film forming apparatus according to any one of the first to fifth aspects of the present invention, wherein the transparent layer is a titanium oxide layer. And

本発明の第8の態様にかかる成膜装置は、本発明の第1の態様ないし第5の態様のいずれかにかかる成膜装置であって、前記透明層は酸化アルミニウム層であることを特徴とする。   A film forming apparatus according to an eighth aspect of the present invention is the film forming apparatus according to any one of the first to fifth aspects of the present invention, wherein the transparent layer is an aluminum oxide layer. And

本発明の第9の態様にかかる成膜装置は、本発明の第1の態様ないし第5の態様のいずれかにかかる成膜装置であって、前記透明層は窒化チタン層であることを特徴とする。   A film forming apparatus according to a ninth aspect of the present invention is the film forming apparatus according to any one of the first to fifth aspects of the present invention, wherein the transparent layer is a titanium nitride layer. And

本発明の第10の態様にかかる積層体は、基材の表面の一方側に少なくとも1層の膜を成膜して得られる積層体であって、前記一方側から視て順に、透明層と、金属製の不透明層と、を有し、前記一方側から前記積層体を視た際の色が前記透明層の膜厚に対して依存性を有することを特徴とする。   The laminate according to the tenth aspect of the present invention is a laminate obtained by forming at least one film on one side of the surface of the base material, and in order from the one side, the transparent layer and And an opaque layer made of metal, and the color when the laminate is viewed from the one side is dependent on the film thickness of the transparent layer.

本発明の第11の態様にかかる積層体は、本発明の第10の態様にかかる積層体であって、前記依存性は、前記一方側から前記積層体に照射光を付与した際に前記積層体の前記一方側の表面で前記照射光が反射して得られる第1反射光と、前記一方側から前記積層体に照射光を付与した際に前記積層体の前記透明層を通過して前記透明層と前記金属製の不透明層との界面で反射して得られる第2反射光と、が干渉する作用によるものであり、この干渉作用が前記透明層の膜厚に応じて変化することを特徴とする。   The laminate according to the eleventh aspect of the present invention is the laminate according to the tenth aspect of the present invention, wherein the dependency is determined by applying the irradiation light to the laminate from the one side. The first reflected light obtained by reflecting the irradiation light on the surface of the one side of the body, and passing through the transparent layer of the laminate when the irradiation light is applied to the laminate from the one side The second reflected light obtained by reflection at the interface between the transparent layer and the metal opaque layer interferes, and the interference action changes according to the film thickness of the transparent layer. Features.

本発明の第12の態様にかかる積層体は、本発明の第10の態様または第11の態様にかかる積層体であって、建物のインテリアまたはエクステリアの装飾材料として用いられることを特徴とする。   A laminated body according to a twelfth aspect of the present invention is a laminated body according to the tenth aspect or the eleventh aspect of the present invention, and is characterized in that it is used as a decorative material for an interior or exterior of a building.

本発明の第13の態様にかかる積層体は、本発明の第10の態様ないし第12の態様のいずれかにかかる積層体であって、前記透明層は窒化シリコン層であることを特徴とする。   A laminate according to a thirteenth aspect of the present invention is the laminate according to any one of the tenth to twelfth aspects of the present invention, wherein the transparent layer is a silicon nitride layer. .

本発明の第14の態様にかかる積層体は、本発明の第10の態様ないし第12の態様のいずれかにかかる積層体であって、前記透明層は酸化チタン層であることを特徴とする。   A laminate according to a fourteenth aspect of the present invention is the laminate according to any one of the tenth to twelfth aspects of the present invention, wherein the transparent layer is a titanium oxide layer. .

本発明の第15の態様にかかる積層体は、本発明の第10の態様ないし第12の態様のいずれかにかかる積層体であって、前記透明層は酸化アルミニウム層であることを特徴とする。   A laminate according to a fifteenth aspect of the present invention is the laminate according to any one of the tenth to twelfth aspects of the present invention, wherein the transparent layer is an aluminum oxide layer. .

本発明の第16の態様にかかる積層体は、本発明の第10の態様ないし第12の態様のいずれかにかかる積層体であって、前記透明層は窒化チタン層であることを特徴とする。   A laminate according to a sixteenth aspect of the present invention is the laminate according to any one of the tenth to twelfth aspects of the present invention, wherein the transparent layer is a titanium nitride layer. .

本発明の第1の態様ないし第9の態様では、成膜装置において、確定部が入力部から入力された色情報を基に対応データを参照して成膜条件を確定する。また、成膜条件には、色調整の要素として少なくとも透明層の膜厚が含まれる。このため、本発明の第1の態様では、成膜装置の操作者の勘や経験則によって成膜条件の調整が行われる態様に比べ、高精度で安定的に所望の色の成膜処理を実行可能である。   In the first to ninth aspects of the present invention, in the film forming apparatus, the determining unit determines the film forming condition with reference to the corresponding data based on the color information input from the input unit. In addition, the film forming conditions include at least the film thickness of the transparent layer as an element for color adjustment. For this reason, in the first aspect of the present invention, film formation processing of a desired color can be performed with high accuracy and stability, compared to an aspect in which film formation conditions are adjusted based on the intuition and rule of thumb of the film formation apparatus operator. It is feasible.

スパッタリング装置の概略構成を模式的に示す断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows typically schematic structure of a sputtering device. スパッター処理部およびその周辺を示す断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows a sputter processing part and its periphery. 誘導結合アンテナの例を示す側面図である。It is a side view which shows the example of an inductive coupling antenna. スパッター処理部およびその周辺を示す斜視図である。It is a perspective view which shows a sputter processing part and its periphery. 成膜処理により得られる積層体の一例を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows an example of the laminated body obtained by the film-forming process. 光学定数が同一で膜厚が異なる窒化シリコン膜を透明層として成膜した場合における、積層体の反射率スペクトルを示す図である。It is a figure which shows the reflectance spectrum of a laminated body at the time of forming into a transparent layer the silicon nitride film from which an optical constant is the same and from which film thickness differs. 処理全体の流れを示す図である。It is a figure which shows the flow of the whole process. 基材上に不透明層として窒化チタン膜を成膜した第1の積層体と、基材上に不透明層として窒化チタン膜を成膜しさらにその上に透明層として窒化シリコン膜を成膜した第2の積層体と、についての反射率スペクトルを示す図である。A first laminate in which a titanium nitride film is formed as an opaque layer on a substrate, and a titanium nitride film is formed as an opaque layer on the substrate, and a silicon nitride film is formed thereon as a transparent layer. It is a figure which shows the reflectance spectrum about 2 laminated bodies.

以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。図面では同様な構成および機能を有する部分に同じ符号が付され、重複説明が省略される。なお、以下の実施形態は、本発明を具体化した一例であり、本発明の技術的範囲を限定する事例ではない。また、図面においては、理解容易のため、各部の寸法や数が誇張または簡略化して図示されている場合がある。また、図面には、方向を説明するためにXYZ直交座標軸がふされる場合がある。座標軸における+Z方向は鉛直上方向であり、XY平面は水平面である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, parts having similar configurations and functions are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. In addition, the following embodiment is an example which actualized this invention, and is not an example which limits the technical scope of this invention. In the drawings, the size and number of each part may be exaggerated or simplified for easy understanding. Also, in the drawings, XYZ orthogonal coordinate axes may be given to describe directions. The + Z direction on the coordinate axis is a vertically upward direction, and the XY plane is a horizontal plane.

<1 実施形態>
<1.1 スパッタリング装置1の構成>
図1は、スパッタリング装置1の概略構成を模式的に示す断面模式図である。図2は、スパッター処理部50およびその周辺を示す断面模式図である。図3は、誘導結合アンテナ151の例を示す側面図である。また、図4は、スパッター処理部50およびその周辺を示す斜視図である。
<1 embodiment>
<1.1 Configuration of Sputtering Apparatus 1>
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view schematically showing a schematic configuration of the sputtering apparatus 1. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing the sputter processing unit 50 and its periphery. FIG. 3 is a side view showing an example of the inductively coupled antenna 151. FIG. 4 is a perspective view showing the sputter processing unit 50 and its periphery.

スパッタリング装置1は、搬送される基材91の上面にスパッター処理で成膜する装置である。基材91は、例えば、SUS板などにより構成される。また、基材91に対して成膜処理が行われて得られる積層体は、例えば、インテリアまたはエクステリアにおける装飾材料として用いられる。   The sputtering apparatus 1 is an apparatus that forms a film on the upper surface of a substrate 91 to be transported by sputtering. The base material 91 is composed of, for example, a SUS plate. Moreover, the laminated body obtained by performing the film-forming process with respect to the base material 91 is used, for example, as a decoration material in an interior or an exterior.

スパッタリング装置1は、チャンバー100(処理チャンバー)と、基材91を搬送する搬送機構30と、搬送される基材91の上面にスパッターにより成膜処理を実行するスパッター処理部50と、スパッタリング装置1の各部を統括制御する制御部190とを備える。チャンバー100は、直方体形状の外形を呈する中空部材である。チャンバー100は、その底板および天板が水平姿勢となるように配置されている。また、X軸およびY軸の各々は、チャンバー100の側壁と平行な軸である。   The sputtering apparatus 1 includes a chamber 100 (processing chamber), a transport mechanism 30 that transports the base material 91, a sputtering processing unit 50 that performs film formation processing by sputtering on the upper surface of the transported base material 91, and the sputtering apparatus 1. And a control unit 190 that performs overall control of each unit. The chamber 100 is a hollow member having a rectangular parallelepiped shape. The chamber 100 is arranged such that its bottom plate and top plate are in a horizontal posture. Each of the X axis and the Y axis is an axis parallel to the side wall of the chamber 100.

スパッタリング装置1は、さらに、スパッター処理部50の周囲を取り囲むように配置された筒状の遮蔽部材であるチムニー60を備える。チムニー60は、スパッター処理部50にて発生するプラズマの範囲やターゲットからスパッタされたスパッタ粒子の飛散範囲を制限するシールドとしての機能と、チムニー内部の雰囲気を外部と遮断する雰囲気遮断機能と、を有する。以下では、チャンバー100の内部空間のうち、チムニー60の内側でありスパッター処理が実行される空間を処理空間Vと呼ぶ。   The sputtering apparatus 1 further includes a chimney 60 that is a cylindrical shielding member disposed so as to surround the periphery of the sputtering processing unit 50. The chimney 60 has a function as a shield that limits the range of plasma generated in the sputter processing unit 50 and the scattering range of sputtered particles sputtered from the target, and an atmosphere blocking function that blocks the atmosphere inside the chimney from the outside. Have. Hereinafter, among the internal spaces of the chamber 100, a space inside the chimney 60 where the sputtering process is performed is referred to as a processing space V.

チャンバー100内には、水平な搬送経路面Lがチムニー60の下方に規定されている。搬送経路面Lの延在方向はX軸方向であり、基材91はX軸方向に沿って搬送される。   In the chamber 100, a horizontal transfer path surface L is defined below the chimney 60. The extending direction of the conveyance path surface L is the X-axis direction, and the base material 91 is conveyed along the X-axis direction.

また、スパッタリング装置1は、チャンバー100内を搬送される基材91を加熱する板状の加熱部40を備える。加熱部40は、例えば、搬送経路面Lの下側に配置されたシースヒータによって構成される。   In addition, the sputtering apparatus 1 includes a plate-like heating unit 40 that heats the base material 91 that is transported in the chamber 100. The heating unit 40 is constituted by, for example, a sheath heater disposed on the lower side of the conveyance path surface L.

チャンバー100のうち搬送経路面Lの−X側の端部には、基材91をチャンバー100内に搬入するためのゲート160が設けられる。他方、チャンバー100のうち搬送経路面Lの+X側の端部には、基材91をチャンバー100外に搬出するためのゲート161が設けられている。また、チャンバー100のX方向両端部には、ロードロックチャンバーや、アンロードロックチャンバーなどの他のチャンバーの開口部が気密を保った形態で接続可能に構成されている。各ゲート160、161は、開閉の切替可能に構成される。   A gate 160 for carrying the base material 91 into the chamber 100 is provided at the end of the transport path plane L on the −X side of the chamber 100. On the other hand, a gate 161 for carrying the base material 91 out of the chamber 100 is provided at the end of the transport path plane L on the + X side of the chamber 100. Moreover, the opening part of other chambers, such as a load lock chamber and an unload lock chamber, is connectable with the X direction both ends of the chamber 100 in the form which maintained airtight. Each of the gates 160 and 161 is configured to be openable and closable.

また、チャンバー100には、チャンバー100内の気体を排気する排気部170が接続されている。排気部170は、例えば、それぞれ図示省略の真空ポンプと、排気配管と、排気バルブと備える。排気配管は、一端が真空ポンプに接続され、他端がチャンバー100の内部空間に連通接続される。また、排気バルブは、排気配管の経路途中に設けられる。排気バルブは、具体的には、排気配管を流れるガスの流量を自動調整できるバルブである。この構成において、真空ポンプが作動された状態で、排気バルブが開放されると、チャンバー100内の気体が排気され、チャンバー100内が真空状態とされる。制御部190が排気部170による排気を制御することで、チャンバー100内の圧力が特定の値に調整される。   The chamber 100 is connected to an exhaust unit 170 that exhausts the gas in the chamber 100. The exhaust unit 170 includes, for example, a vacuum pump (not shown), an exhaust pipe, and an exhaust valve. One end of the exhaust pipe is connected to the vacuum pump, and the other end is connected to the internal space of the chamber 100. Further, the exhaust valve is provided in the middle of the route of the exhaust pipe. Specifically, the exhaust valve is a valve that can automatically adjust the flow rate of the gas flowing through the exhaust pipe. In this configuration, when the exhaust valve is opened in a state where the vacuum pump is operated, the gas in the chamber 100 is exhausted and the chamber 100 is evacuated. The control unit 190 controls the exhaust by the exhaust unit 170, so that the pressure in the chamber 100 is adjusted to a specific value.

搬送機構30は、チャンバー100の内部で、Y方向において搬送経路面Lを挟んで対向配置された搬送ローラ31の複数の対と、これらを同期させて回転駆動する駆動部(図示省略)とを含んで構成される。搬送ローラ31は、搬送経路面Lの延在方向であるX方向に沿って複数対設けられる。なお、図1では、5対の搬送ローラ31の図示手前側(−Y側)に位置する5つのローラが描かれている。   The transport mechanism 30 includes a plurality of pairs of transport rollers 31 disposed opposite to each other across the transport path surface L in the Y direction inside the chamber 100, and a driving unit (not shown) that rotates and synchronizes these pairs. Consists of including. A plurality of pairs of the conveyance rollers 31 are provided along the X direction which is the extending direction of the conveyance path surface L. In FIG. 1, five rollers positioned on the near side (−Y side) of the five pairs of transport rollers 31 are illustrated.

キャリア90は板状のトレーなどによって構成され、基材91はキャリア90の略水平な上面に着脱可能に保持される。なお、キャリア90における基材91の保持態様は、真空吸着方式により基材91を保持する態様やチャックピン等で機構的に基材91を把持する態様など種々の態様を採用しうる。   The carrier 90 is configured by a plate-like tray or the like, and the base material 91 is detachably held on the substantially horizontal upper surface of the carrier 90. Note that various modes such as a mode in which the base material 91 is held by the vacuum suction method and a mode in which the base material 91 is mechanically held by a chuck pin or the like can be adopted as the mode of holding the base material 91 in the carrier 90.

基材91が配設されたキャリア90がゲート160を介してチャンバー100内に導入されると、各搬送ローラ31が該キャリア90の端縁(±Y側の端縁)付近に下方から当接する。そして、駆動部(図示省略)によって各搬送ローラ31が同期回転されることによって、キャリア90およびキャリア90に保持される基材91が搬送経路面Lに沿って搬送される。本実施形態では、各搬送ローラ31が時計回りおよび反時計回りの双方に回転可能であり、キャリア90およびキャリア90に保持される基材91が双方向(±X方向)に搬送される態様について説明する。搬送経路面Lは、スパッター処理部50(成膜処理部)に対向した被成膜箇所Pを含む。このため、搬送機構30によって搬送される基材91の上面のうち被成膜箇所Pに配される箇所に成膜処理が行われる。   When the carrier 90 on which the base material 91 is disposed is introduced into the chamber 100 through the gate 160, each transport roller 31 comes into contact with the vicinity of the edge (± Y side edge) of the carrier 90 from below. . Then, the carrier 90 and the base material 91 held by the carrier 90 are transported along the transport path surface L by synchronously rotating the transport rollers 31 by a drive unit (not shown). In the present embodiment, each conveyance roller 31 is rotatable in both clockwise and counterclockwise directions, and the carrier 90 and the substrate 91 held by the carrier 90 are conveyed in both directions (± X directions). explain. The transfer path surface L includes a deposition position P facing the sputtering processing unit 50 (film formation processing unit). For this reason, a film forming process is performed on a portion of the upper surface of the base material 91 that is transported by the transport mechanism 30 that is disposed at the deposition target position P.

スパッタリング装置1は、処理空間Vに不活性ガスであるアルゴンガスなどのスパッターガスを供給するスパッターガス供給部510と、処理空間Vに窒素ガスなどの反応性ガスを供給する反応性ガス供給部520とを備える。したがって、スパッターガス供給部510および反応性ガス供給部520の一方がガスを供給した場合には処理空間V内にその一方のガスの雰囲気が形成され、双方がガスを供給した場合には処理空間V内にスパッターガスと反応性ガスとの混合雰囲気が形成される。   The sputtering apparatus 1 includes a sputtering gas supply unit 510 that supplies a sputtering gas such as argon gas that is an inert gas to the processing space V, and a reactive gas supply unit 520 that supplies a reactive gas such as nitrogen gas to the processing space V. With. Therefore, when one of the sputtering gas supply unit 510 and the reactive gas supply unit 520 supplies gas, an atmosphere of one gas is formed in the processing space V, and when both supply gas, the processing space. A mixed atmosphere of a sputtering gas and a reactive gas is formed in V.

スパッターガス供給部510は、具体的には、例えば、スパッターガスの供給源であるスパッターガス供給源511と、配管512とを備える。配管512は、一端がスパッターガス供給源511と接続され、他端が処理空間Vと連通する各ノズル514に接続される。また、配管512の経路途中には、バルブ513が設けられる。バルブ513は、制御部190の制御下で処理空間Vに供給されるスパッターガスの量を調整する。バルブ513は、配管を流れるガスの流量を自動調整できるバルブであることが好ましく、具体的には、例えば、マスフローコントローラ等を含んで構成することが好ましい。   Specifically, the sputter gas supply unit 510 includes, for example, a sputtering gas supply source 511 that is a supply source of a sputtering gas, and a pipe 512. One end of the pipe 512 is connected to the sputtering gas supply source 511 and the other end is connected to each nozzle 514 communicating with the processing space V. Further, a valve 513 is provided in the course of the pipe 512. The valve 513 adjusts the amount of sputtering gas supplied to the processing space V under the control of the control unit 190. The valve 513 is preferably a valve that can automatically adjust the flow rate of the gas flowing through the pipe, and specifically includes, for example, a mass flow controller.

各ノズル514は、回転カソード5、6間に設けられた1列の誘導結合アンテナ151の±X側に設けられ、チャンバー100の天板を貫通して下側に向けて開口している。このため、スパッターガス供給源511から供給されたスパッターガスは、各ノズル514から処理空間Vに導入される。   Each nozzle 514 is provided on the ± X side of a row of inductive coupling antennas 151 provided between the rotary cathodes 5 and 6, and opens downward through the top plate of the chamber 100. For this reason, the sputtering gas supplied from the sputtering gas supply source 511 is introduced into the processing space V from each nozzle 514.

反応性ガス供給部520は、具体的には、例えば、反応性ガスの供給源である反応性ガス供給源521と、配管522とを備える。配管522は、一端が反応性ガス供給源521と接続され、他端が複数(図4の例では、6つ)に分岐して処理空間Vに設けられた複数のノズル12(図4の例では、+X側と−X側とにそれぞれ3つずつ計6つのノズル12)に接続される。配管522の経路途中には、バルブ523が設けられる。バルブ523は、制御部190の制御下で処理空間Vに供給される反応性ガスの量を調整する。   Specifically, the reactive gas supply unit 520 includes, for example, a reactive gas supply source 521 that is a reactive gas supply source, and a pipe 522. One end of the pipe 522 is connected to the reactive gas supply source 521, and the other end is branched into a plurality (six in the example of FIG. 4) and a plurality of nozzles 12 (example of FIG. 4) provided in the processing space V. Then, a total of six nozzles 12) are connected, three on the + X side and three on the −X side. A valve 523 is provided in the middle of the route of the pipe 522. The valve 523 adjusts the amount of reactive gas supplied to the processing space V under the control of the control unit 190.

各ノズル12は、処理空間Vのうち下方の領域においてY方向に延在するように設けられている。配管522の各他端は、各ノズル12のX方向両端面のうち外側の各端面と接続されている。各ノズル12には、当該各端面に開口して配管522の他端と接続されるとともにノズル内部で複数に分岐する各流路が形成されている。各流路の先端はノズル12のX方向両端面のうち内側の各端面に達して開口し、この各端面には複数の吐出口11が形成される。   Each nozzle 12 is provided so as to extend in the Y direction in a lower region of the processing space V. Each other end of the pipe 522 is connected to each outer end face of the X direction end faces of each nozzle 12. Each nozzle 12 is formed with a flow path that opens to each end face and is connected to the other end of the pipe 522 and branches into a plurality of portions inside the nozzle. The tip of each flow path reaches and opens each inner end face of both end faces in the X direction of the nozzle 12, and a plurality of discharge ports 11 are formed on each end face.

+X側の各ノズル12の上方には、光ファイバーのプローブ13が設けられる。また、プローブ13に入射するプラズマ発光の分光強度を測定可能な分光器14が設けられている。分光器14は制御部190と電気的に接続されており、分光器14の測定値は制御部190に供給される。制御部190は、分光器14の出力に基づいて、プラズマエミッションモニター(PEM)法によりバルブ523を制御することで、反応性ガス供給部520からチャンバー100内に供給される反応性ガスの導入量を制御する。バルブ523は、配管を流れるガスの流量を自動調整できるバルブであることが好ましく、例えば、マスフローコントローラ等を含んで構成することが好ましい。   An optical fiber probe 13 is provided above each nozzle 12 on the + X side. A spectroscope 14 capable of measuring the spectral intensity of plasma emission incident on the probe 13 is also provided. The spectroscope 14 is electrically connected to the control unit 190, and the measurement value of the spectroscope 14 is supplied to the control unit 190. The control unit 190 controls the valve 523 by the plasma emission monitor (PEM) method based on the output of the spectroscope 14, thereby introducing the reactive gas introduced into the chamber 100 from the reactive gas supply unit 520. To control. The valve 523 is preferably a valve that can automatically adjust the flow rate of the gas flowing through the pipe. For example, the valve 523 preferably includes a mass flow controller.

スパッタリング装置1が備える各構成要素は、制御部190と電気的に接続されており、当該各構成要素は制御部190により制御される。制御部190は、具体的には、例えば、各種演算処理を行うCPU、プログラム等を記憶するROM、演算処理の作業領域となるRAM、プログラムや各種のデータファイルなどを記憶するハードディスク、LAN等を介したデータ通信機能を有するデータ通信部等がバスラインなどにより互いに接続された、一般的なFAコンピュータにより構成される。また、制御部190は、各種表示を行うディスプレイ、キーボードおよびマウスなどで構成される入力部191と接続されている。入力部191は、例えば、一方側(図5における図示上側)から積層体を視た際の色情報を装置の操作者が指定して入力する際に用いられる。   Each component included in the sputtering apparatus 1 is electrically connected to the control unit 190, and each component is controlled by the control unit 190. Specifically, the control unit 190 includes, for example, a CPU that performs various arithmetic processes, a ROM that stores programs, a RAM that serves as a work area for arithmetic processes, a hard disk that stores programs and various data files, a LAN, and the like. A data communication unit having a data communication function via a general FA computer is connected to each other by a bus line or the like. The control unit 190 is connected to an input unit 191 that includes a display that performs various displays, a keyboard, a mouse, and the like. The input unit 191 is used, for example, when the operator of the apparatus designates and inputs color information when viewing the stacked body from one side (the upper side in FIG. 5).

スパッター処理部50は、2つの回転カソード5、6と、2つの回転カソード5、6をそれぞれの中心軸線回りに回転させる2つの回転部19と、2つの回転カソード5、6の内部にそれぞれ収容される2つの磁石ユニット21、22と、2つの回転カソード5、6にそれぞれスパッター電力を供給するスパッター用電源163と、を備える。   The sputter processing unit 50 is housed in the two rotary cathodes 5 and 6, the two rotary cathodes 19 that rotate the two rotary cathodes 5 and 6 about their respective central axes, and the two rotary cathodes 5 and 6, respectively. And two sputtering units 163 and 22 for supplying sputtering power to the two rotating cathodes 5 and 6, respectively.

回転カソード5、6は、処理空間VにおいてX方向に一定距離を隔てて対向配置されて、カソード対として構成される。このように回転カソード5、6が並設されることにより、基材91上の被成膜箇所Pにラジカルがより集中し、スパッター処理により得られる膜の膜質が向上しうる。   The rotating cathodes 5 and 6 are arranged to face each other with a certain distance in the X direction in the processing space V, and are configured as a cathode pair. By arranging the rotary cathodes 5 and 6 side by side in this manner, radicals are more concentrated on the film formation location P on the base material 91, and the film quality of the film obtained by the sputtering process can be improved.

スパッター処理部50は、回転カソード5、6間に設けられた1列の誘導結合アンテナ151と、整合回路154と、整合回路154を介して各誘導結合アンテナ151に高周波電力を供給する高周波電源153とをさらに備える。   The sputter processing unit 50 includes a row of inductive coupling antennas 151 provided between the rotating cathodes 5 and 6, a matching circuit 154, and a high frequency power source 153 that supplies high frequency power to each inductive coupling antenna 151 via the matching circuit 154. And further comprising.

ここで、1列の誘導結合アンテナ151とは、Y方向に沿って間隔をあけて設けられた5つの誘導結合アンテナ151のことを意味する。   Here, one line of inductively coupled antennas 151 means five inductively coupled antennas 151 provided at intervals along the Y direction.

このため、高周波電源153が各誘導結合アンテナ151に高周波電力(例えば、周波数13.56MHzの電力)を供給することにより、チムニー60の内部に設けられた各誘導結合アンテナ151が処理空間V内に誘導結合プラズマを生成する。   Therefore, the high frequency power supply 153 supplies high frequency power (for example, power having a frequency of 13.56 MHz) to each inductive coupling antenna 151, so that each inductive coupling antenna 151 provided inside the chimney 60 is within the processing space V. Inductively coupled plasma is generated.

各誘導結合アンテナ151は、石英硝子などからなる誘電体の保護部材152によって覆われて、チャンバー100の天板を貫通してチャンバー100の内部空間に突出して設けられる。   Each inductive coupling antenna 151 is covered with a dielectric protective member 152 made of quartz glass or the like, and is provided so as to protrude through the top plate of the chamber 100 into the internal space of the chamber 100.

各誘導結合アンテナ151は、例えば、図3に示されるように、金属製のパイプ状導体をU字形に曲げたものであり、「U」の字の状態でチャンバー100の天板を貫通してチャンバー100の内部空間に突設されている。誘導結合アンテナ151は、内部に冷却水を循環させるなどして、適宜、冷却されている。   For example, as shown in FIG. 3, each inductive coupling antenna 151 is formed by bending a metal pipe-like conductor into a U shape, and penetrates the top plate of the chamber 100 in a “U” shape. Projecting in the internal space of the chamber 100. The inductively coupled antenna 151 is appropriately cooled, for example, by circulating cooling water therein.

各誘導結合アンテナ151の一端は、整合回路154を介して、高周波電源153に電気的に接続されている。また、各誘導結合アンテナ151の他端は接地されている。この構成において、高周波電源153から誘導結合アンテナ151に高周波電力が供給されると、誘導結合アンテナ151の周囲に高周波誘導磁界が生じ、チャンバー100の内部空間に誘導結合プラズマ(Inductively Coupled Plasma:ICP)が発生する。この誘導結合プラズマは、電子の空間密度が3×1010個/cm以上の高密度プラズマである。 One end of each inductively coupled antenna 151 is electrically connected to a high frequency power source 153 via a matching circuit 154. The other end of each inductively coupled antenna 151 is grounded. In this configuration, when high frequency power is supplied from the high frequency power source 153 to the inductively coupled antenna 151, a high frequency induced magnetic field is generated around the inductively coupled antenna 151, and inductively coupled plasma (ICP) is generated in the internal space of the chamber 100. Will occur. This inductively coupled plasma is a high-density plasma having an electron spatial density of 3 × 10 10 atoms / cm 3 or more.

また、本実施形態のようにU字形状の誘導結合アンテナ151は、巻数が一周未満の誘導結合アンテナに相当し、巻数が一周以上の誘導結合アンテナよりもインダクタンスが低い。このため、誘導結合アンテナ151の両端に発生する高周波電圧が低減され、生成するプラズマへの静電結合に伴うプラズマ電位の高周波揺動が抑制される。このため、対地電位へのプラズマ電位揺動に伴う過剰な電子損失が低減され、プラズマ電位が特に低く抑えられる。これにより、基材91上へのダメージを低減することが可能となる。   In addition, the U-shaped inductively coupled antenna 151 as in this embodiment corresponds to an inductively coupled antenna having less than one turn, and has a lower inductance than an inductively coupled antenna having more than one turn. For this reason, the high frequency voltage generated at both ends of the inductive coupling antenna 151 is reduced, and the high frequency fluctuation of the plasma potential accompanying the electrostatic coupling to the generated plasma is suppressed. For this reason, excessive electron loss accompanying the plasma potential fluctuation to the ground potential is reduced, and the plasma potential can be suppressed particularly low. Thereby, damage to the base material 91 can be reduced.

磁石ユニット21(22)は、回転カソード5(6)の外周面のうち自身の近傍で磁界(静磁場)を形成する。回転カソード5、6間に設けられた1列の誘導結合アンテナ151は、処理空間Vのうち磁石ユニット21、22によって磁界が形成されている部分を含む空間に誘導結合プラズマを発生する。   The magnet unit 21 (22) forms a magnetic field (static magnetic field) in the vicinity of itself on the outer peripheral surface of the rotating cathode 5 (6). A row of inductively coupled antennas 151 provided between the rotating cathodes 5 and 6 generate inductively coupled plasma in a space including a portion of the processing space V where a magnetic field is formed by the magnet units 21 and 22.

回転カソード5(6)は、水平面内において搬送方向に垂直なY方向に延設された筒状のベース部材8と、ベース部材8の外周を被覆する筒状のターゲット16(17)とを備えて構成されている。ベース部材8は導電体であり、ターゲット16の材料としては窒化シリコン成膜用のシリコン(Si)を含む材料が用いられ、ターゲット17としてはチタン成膜用のチタン(Ti)を含む材料が用いられる。なお、回転カソード5(6)がベース部材8を含まず、円筒状のターゲット16(17)によって構成されてもよい。ターゲット16(17)の形成は、例えば、ターゲット材料の粉末を圧縮成型して筒状に形成し、その後、ベース部材8を挿入する手法などによって行われる。   The rotating cathode 5 (6) includes a cylindrical base member 8 extending in the Y direction perpendicular to the transport direction in a horizontal plane, and a cylindrical target 16 (17) covering the outer periphery of the base member 8. Configured. The base member 8 is a conductor, and the target 16 is made of a material containing silicon (Si) for forming a silicon nitride film, and the target 17 is made of a material containing titanium (Ti) for forming a titanium film. It is done. The rotating cathode 5 (6) may be configured by the cylindrical target 16 (17) without including the base member 8. The target 16 (17) is formed by, for example, a technique of compressing and molding the target material powder into a cylindrical shape, and then inserting the base member 8 or the like.

本明細書では、並設される回転カソード5、6およびそれぞれの内部に配される磁石ユニット21、22を一体的に表現する場合には、マグネトロンカソード対と呼ぶ。   In the present specification, when the rotating cathodes 5 and 6 arranged side by side and the magnet units 21 and 22 arranged inside each are integrally expressed, they are referred to as a magnetron cathode pair.

各ベース部材8の中心軸線2(3)方向の両端部は、中央部に円状の開口が設けられた蓋部によってそれぞれ塞がれている。回転カソード5(6)の中心軸線2(3)方向の長さは、例えば、1,400mmに設定され、直径は、例えば、150mmに設定される。   Both end portions in the direction of the central axis 2 (3) of each base member 8 are respectively closed by lid portions each having a circular opening at the center portion. The length of the rotating cathode 5 (6) in the direction of the central axis 2 (3) is set to 1,400 mm, for example, and the diameter is set to 150 mm, for example.

スパッター処理部50は、2対のシール軸受9、10と、2つの円筒状の支持棒7とをさらに備えている。シール軸受9、10の各対は、回転カソード5(6)の長手方向(Y方向)において回転カソード5(6)を挟んで設けられている。シール軸受9、10は、それぞれ、チャンバー100の天板の下面から立設された台部と、台部の下部に設けられた略円筒状の円筒部とを備えている。   The sputter processing unit 50 further includes two pairs of seal bearings 9 and 10 and two cylindrical support rods 7. Each pair of the seal bearings 9 and 10 is provided with the rotary cathode 5 (6) sandwiched in the longitudinal direction (Y direction) of the rotary cathode 5 (6). Each of the seal bearings 9 and 10 includes a pedestal that is erected from the lower surface of the top plate of the chamber 100 and a substantially cylindrical cylindrical portion that is provided at the lower part of the pedestal.

各支持棒7の一端はシール軸受9の円筒部に軸受けされ、他端はシール軸受10の円筒部に軸受けされている。各支持棒7は、ベース部材8の一端の蓋部の開口から回転カソード5(6)内に挿入されて、回転カソード5(6)を中心軸線2(3)に沿って貫通し、ベース部材8の他端の蓋部の開口から回転カソード5(6)外に出されている。   One end of each support bar 7 is supported by the cylindrical portion of the seal bearing 9, and the other end is supported by the cylindrical portion of the seal bearing 10. Each support bar 7 is inserted into the rotary cathode 5 (6) from the opening of the lid at one end of the base member 8, and passes through the rotary cathode 5 (6) along the central axis 2 (3). 8 is out of the rotating cathode 5 (6) through the opening of the lid at the other end.

磁石ユニット21(22)は、透磁鋼などの磁性材料により形成されたヨーク25(支持板)と、ヨーク25上に設けられた複数の磁石(後述する中央磁石23a、周辺磁石23b)とを備えて構成されている。   The magnet unit 21 (22) includes a yoke 25 (support plate) formed of a magnetic material such as permeable steel, and a plurality of magnets (a central magnet 23a and a peripheral magnet 23b described later) provided on the yoke 25. It is prepared for.

ヨーク25は、平板状の部材であり、回転カソード5(6)の内周面に対向して回転カソード5の長手方向(Y方向)に延在している。回転カソード5、6の内周面に対向するヨーク25の表面上には、ヨーク25の長手方向に延在する中央磁石23aが、ヨーク25の長手方向に沿った中心線上に配置されている。ヨーク25の表面の外縁部には、中央磁石23aの周囲を囲む環状(無端状)の周辺磁石23bが、さらに設けられている。中央磁石23a、周辺磁石23bは、例えば、永久磁石によって構成される。   The yoke 25 is a flat member and extends in the longitudinal direction (Y direction) of the rotary cathode 5 so as to face the inner peripheral surface of the rotary cathode 5 (6). A central magnet 23 a extending in the longitudinal direction of the yoke 25 is disposed on a center line along the longitudinal direction of the yoke 25 on the surface of the yoke 25 facing the inner peripheral surfaces of the rotary cathodes 5 and 6. On the outer edge portion of the surface of the yoke 25, an annular (endless) peripheral magnet 23b surrounding the periphery of the central magnet 23a is further provided. The central magnet 23a and the peripheral magnet 23b are constituted by permanent magnets, for example.

中央磁石23aと周辺磁石23bとのそれぞれのターゲット16(17)側の極性は、互いに異なっている。また、2つの磁石ユニット21、22におけるそれぞれの極性は相補的に構成される。例えば、磁石ユニット21ではターゲット16(17)側における中央磁石23aの極性がN極とされ周辺磁石23bの極性がS極とされる一方で、磁石ユニット22ではターゲット16(17)側における中央磁石23aの極性がS極とされ周辺磁石23bの極性がN極とされる。   The polarities of the center magnet 23a and the peripheral magnet 23b on the target 16 (17) side are different from each other. The polarities of the two magnet units 21 and 22 are configured to be complementary. For example, in the magnet unit 21, the central magnet 23 a on the target 16 (17) side has a north pole and the peripheral magnet 23 b has a south pole, while in the magnet unit 22, the central magnet on the target 16 (17) side. The polarity of 23a is the S pole and the polarity of the peripheral magnet 23b is the N pole.

ヨーク25の裏面には、固定部材27の一端が接合されている。固定部材27の他端は、支持棒7に接合されている。これにより、磁石ユニット21、22は支持棒7に連結される。本実施形態では、マグネトロンカソード対を構成する磁石ユニット21、22が、互いに向き合う位置から被成膜箇所Pに近づく−Z方向に所定角度だけ回転された状態で固定されている。このため、回転カソード5、6の間でかつ被成膜箇所P側の空間には、磁石ユニット21、22間によって相対的に強い静磁場が形成される。   One end of the fixing member 27 is joined to the back surface of the yoke 25. The other end of the fixing member 27 is joined to the support bar 7. Thereby, the magnet units 21 and 22 are connected to the support rod 7. In the present embodiment, the magnet units 21 and 22 constituting the magnetron cathode pair are fixed in a state of being rotated by a predetermined angle in the −Z direction approaching the film-forming location P from a position facing each other. For this reason, a relatively strong static magnetic field is formed between the magnet units 21 and 22 in the space between the rotary cathodes 5 and 6 and on the film formation location P side.

各シール軸受9の台部には、モータと、モータの回転を伝達するギア(それぞれ図示省略)を備えた回転部19が設けられている。また、回転カソード5、6のベース部材8の+Y側の蓋部の開口部の周囲には、各回転部19のギアと噛み合うギア(図示省略)が設けられている。   The base part of each seal bearing 9 is provided with a rotating part 19 having a motor and gears (not shown) for transmitting the rotation of the motor. In addition, gears (not shown) that mesh with the gears of the respective rotary portions 19 are provided around the opening of the + Y side lid portion of the base member 8 of the rotary cathodes 5 and 6.

各回転部19は、モータの回転によって中心軸線2(3)を中心に回転カソード5(6)を回転させる。より詳細には、回転部19は、回転カソード5、6のそれぞれの外周面のうち互いに対向している部分が下側から上側に向けてそれぞれ移動するように、中心軸線2、3回りで互いに逆方向に回転カソード5、6を回転させる。回転速度は例えば10〜20回転/分に設定され、スパッター処理の期間中は上記した回転速度および回転方向で定速回転される。また、回転カソード5、6は、シール軸受10および支持棒7を介して内部に冷却水を循環させるなどして、適宜、冷却されている。   Each rotating portion 19 rotates the rotating cathode 5 (6) about the central axis 2 (3) by the rotation of the motor. More specifically, the rotating unit 19 is arranged around the central axes 2 and 3 so that the portions of the outer peripheral surfaces of the rotating cathodes 5 and 6 facing each other move from the lower side toward the upper side. The rotating cathodes 5 and 6 are rotated in the reverse direction. The rotation speed is set to, for example, 10 to 20 rotations / minute, and the constant rotation is performed at the rotation speed and the rotation direction described above during the sputtering process. The rotary cathodes 5 and 6 are appropriately cooled by circulating cooling water through the seal bearing 10 and the support rod 7.

スパッター用電源163に接続される電線は、2つに分岐して回転カソード5、6の各シール軸受10内に導かれている。各電線の先端には、回転カソード5、6のベース部材8の−Y側の蓋部に接触するブラシが設けられている。スパッター用電源163は、このブラシを介してベース部材8に、スパッター電力を供給する。本実施形態では、後述するように、スパッター用電源163がまず回転カソード6に負電位の直流電力を供給し、その後にスパッター用電源163が回転カソード5に負電位の直流電力を供給する。   The electric wire connected to the power supply 163 for the sputter is branched into two and led into the sealed bearings 10 of the rotary cathodes 5 and 6. At the tip of each electric wire, a brush that contacts the lid portion on the −Y side of the base member 8 of the rotary cathodes 5 and 6 is provided. The power source 163 for sputter supplies sputtering power to the base member 8 through this brush. In this embodiment, as will be described later, the sputtering power source 163 first supplies a negative potential DC power to the rotating cathode 6, and then the sputtering power source 163 supplies a negative potential DC power to the rotating cathode 5.

各ベース部材8(ひいては、各ターゲット16、17)にスパッター電力が供給されると、処理空間Vの各ターゲット16、17の表面にスパッターガスのプラズマが生成される。このプラズマは、磁石ユニット21、22が形成する静磁場によって、回転カソード5、6間でかつ被成膜箇所P側の空間に高密度に閉じ込められる。本明細書では、このように磁界閉じ込め効果によって高密度化されたプラズマをマグネトロンプラズマと呼ぶ。本実施形態のようにマグネトロンカソード対がマグネトロンプラズマを生成する態様では、1つのマグネトロンカソードがマグネトロンプラズマを生成する場合よりもプラズマが高密度化される。このため、本実施形態の態様は成膜レート向上の観点から望ましい。   When sputtering power is supplied to each base member 8 (and thus each target 16, 17), plasma of sputtering gas is generated on the surface of each target 16, 17 in the processing space V. This plasma is confined with high density in the space between the rotating cathodes 5 and 6 and on the film-forming location P side by the static magnetic field formed by the magnet units 21 and 22. In the present specification, the plasma densified by the magnetic field confinement effect is referred to as magnetron plasma. In the embodiment in which the magnetron cathode pair generates magnetron plasma as in the present embodiment, the plasma is densified compared to the case where one magnetron cathode generates magnetron plasma. For this reason, the aspect of this embodiment is desirable from the viewpoint of improving the film formation rate.

上述の通り、回転カソード5、6間に設けられた1列の誘導結合アンテナ151は、処理空間Vのうち磁石ユニット21、22によって磁界が形成されている部分を含む空間に誘導結合プラズマを発生する。その結果、マグネトロンカソード対により発生するマグネトロンプラズマと誘導結合アンテナ151によって発生する誘導結合プラズマとが互いに重なり合い、混合プラズマが形成される。誘導結合アンテナ151が発生させた高密度の誘導結合プラズマも、磁石ユニット21、22が回転カソード5、6の外周面の近傍に形成する磁界によるマグネトロンプラズマとともに、ターゲット16、17のスパッターに寄与する。   As described above, one row of inductively coupled antennas 151 provided between the rotating cathodes 5 and 6 generates inductively coupled plasma in a space including a portion where a magnetic field is formed by the magnet units 21 and 22 in the processing space V. To do. As a result, the magnetron plasma generated by the magnetron cathode pair and the inductively coupled plasma generated by the inductively coupled antenna 151 overlap each other to form a mixed plasma. The high-density inductively coupled plasma generated by the inductively coupled antenna 151 also contributes to sputtering of the targets 16 and 17 together with the magnetron plasma generated by the magnetic units 21 and 22 in the vicinity of the outer peripheral surfaces of the rotating cathodes 5 and 6. .

このように誘導結合プラズマをスパッターに寄与させる場合、誘導結合プラズマの寄与がない場合に比べて、回転カソード5、6に供給するスパッター電力の大きさが同一でもスパッター電圧を低くすることができる(インピーダンスを低くすることができる)。これにより、ターゲット16、17から飛翔する反跳アルゴンや負イオンが基材91の被成膜面に与えるダメージが低下しつつ、高成膜レートで成膜処理が実行される。   When the inductively coupled plasma contributes to sputtering in this way, the sputtering voltage can be lowered even when the sputter power supplied to the rotating cathodes 5 and 6 is the same as compared with the case where no inductively coupled plasma contributes ( Impedance can be reduced). Thereby, the film forming process is executed at a high film forming rate while the damage given to the film forming surface of the base material 91 by recoil argon or negative ions flying from the targets 16 and 17 is reduced.

スパッター処理では、チャンバー100の処理空間Vにスパッターガスと反応性ガスとを導入して、上記混合プラズマの雰囲気において回転カソード5、6の外周を被覆するターゲット16、17をスパッターし、当該ターゲット16、17に対向する基材91上にチタン膜および窒化シリコン膜を成膜する。   In the sputtering process, a sputtering gas and a reactive gas are introduced into the processing space V of the chamber 100 to sputter the targets 16 and 17 covering the outer periphery of the rotating cathodes 5 and 6 in the mixed plasma atmosphere. , 17, a titanium film and a silicon nitride film are formed on the substrate 91 facing each other.

<1.2 透明層201の膜厚と積層体200の色との関係>
図5は、成膜処理により得られる積層体200の一例を示す縦断面図である。図5に示されるように、本実施形態では、スパッタリング装置1が基材91の上面の一方側に2層の膜を成膜することで、一方側(図示上側)から視て順に透明層201と金属製の不透明層202とを有する積層体200が得られる。
<1.2 Relationship Between Film Thickness of Transparent Layer 201 and Color of Laminate 200>
FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing an example of a laminated body 200 obtained by a film forming process. As shown in FIG. 5, in this embodiment, the sputtering apparatus 1 forms two layers of films on one side of the upper surface of the base material 91, so that the transparent layer 201 is sequentially viewed from one side (the upper side in the figure). And a laminated body 200 having a metal opaque layer 202 is obtained.

以下では、基材91に成膜処理を実行して積層体200を得る際に積層体200の色を調整する技術について説明する。なお、本明細書において、「積層体200の色」とは、上記一方側からこの積層体200を視た際の色を意味する。   Below, the technique which adjusts the color of the laminated body 200 when performing the film-forming process to the base material 91 and obtaining the laminated body 200 is demonstrated. In the present specification, the “color of the laminated body 200” means a color when the laminated body 200 is viewed from the one side.

以下、数1〜数18の各数式を参照しつつ、積層体200を構成する各層の各光学定数および透明層201の膜厚と積層体200の色情報とを対応させた対応関係について説明する。なお、各数式において、下付き文字の「0」は空気を意味し、下付き文字の「1」は成膜される膜を意味し、下付き文字の「2」は基材91を意味する。また、下付き文字の「p」はp偏光を意味し、下付き文字の「s」はs偏光を意味する。   Hereinafter, a correspondence relationship in which each optical constant of each layer constituting the stacked body 200, the film thickness of the transparent layer 201, and the color information of the stacked body 200 are associated will be described with reference to the mathematical formulas 1 to 18. . In each formula, the subscript “0” means air, the subscript “1” means the film to be deposited, and the subscript “2” means the substrate 91. . The subscript “p” means p-polarized light, and the subscript “s” means s-polarized light.

複素屈折率をNとすると、光学定数(屈折率nおよび消衰係数k)および虚数iを用いて、以下の数1が成り立つ。   When the complex refractive index is N, the following formula 1 is established using the optical constant (refractive index n and extinction coefficient k) and imaginary number i.

Figure 2017066434
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また、各層への入射角をθとすると、スネルの法則により、以下の数2が成り立つ。   Further, when the incident angle to each layer is θ, the following formula 2 is established according to Snell's law.

Figure 2017066434
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このとき、位相変化をβとすると、以下の数3が成り立つ。   At this time, if the phase change is β, the following equation 3 holds.

Figure 2017066434
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そして、振幅反射係数をrとし、振幅透過係数をtとし、反射率をRとし、透明層201の膜厚をdとすると、フレネルの式より、以下の数4〜数9が成り立つ。   When the amplitude reflection coefficient is r, the amplitude transmission coefficient is t, the reflectance is R, and the film thickness of the transparent layer 201 is d, the following equations 4 to 9 are established from the Fresnel equation.

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図6は、光学定数が同一で膜厚が異なる窒化シリコン膜を透明層201として成膜した場合における、積層体200の反射率スペクトルを示す図である。図6において、横軸は波長を示し、縦軸は反射率を示す。   FIG. 6 is a diagram showing the reflectance spectrum of the stacked body 200 when silicon nitride films having the same optical constant and different film thicknesses are formed as the transparent layer 201. In FIG. 6, the horizontal axis indicates the wavelength, and the vertical axis indicates the reflectance.

また、反射率分布をS(λ)とし、XYZ表色系における等色関数をx(λ),y(λ),z(λ)とすると、以下の数10〜数13が成り立つ。   When the reflectance distribution is S (λ) and the color matching functions in the XYZ color system are x (λ), y (λ), and z (λ), the following equations 10 to 13 are established.

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ここで、XYZ表色系からL表色系に色変換を行うと、以下の数14〜数18が成り立つ。 Here, when color conversion is performed from the XYZ color system to the L * a * b * color system, the following equations 14 to 18 are established.

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以上説明したように、理論的な計算により、積層体200を構成する各層の各光学定数および透明層201の膜厚と色情報とを一対一に対応付けた対応関係が得られる。   As described above, a correspondence relationship in which the optical constants of the respective layers constituting the stacked body 200, the film thickness of the transparent layer 201, and the color information are associated in a one-to-one manner is obtained by theoretical calculation.

また、図6に示されるように、積層体200においては、窒化シリコン膜から成る不透明層202の膜厚が60nm〜90nmに大きくなるにつれて、可視領域(約380nm〜780nmの波長領域)における反射率の最大のピークが長波長側にシフトすることが分かる。すなわち、透明層201の膜厚が60nmの際には積層体200の色味がより青味の強い青となり、透明層201の膜厚が90nmの際には積層体200の色味がより赤味を帯びた青となることが分かる。   As shown in FIG. 6, in the stacked body 200, the reflectance in the visible region (wavelength region of about 380 nm to 780 nm) is increased as the thickness of the opaque layer 202 made of a silicon nitride film increases from 60 nm to 90 nm. It can be seen that the maximum peak of is shifted to the long wavelength side. That is, when the film thickness of the transparent layer 201 is 60 nm, the color of the laminated body 200 becomes a bluish blue, and when the film thickness of the transparent layer 201 is 90 nm, the color of the laminated body 200 is more red. It turns out that it becomes blue with a taste.

このように、ガス供給量、スパッター電圧値、高周波電力値、チャンバー内の圧力値などの各条件を同一にしてスパッター処理を行い、光学定数が一定の積層体200を得る場合であっても、処理時間によって透明層201の膜厚さえ調整すれば、積層体200の色を調整することができる。   As described above, even when the sputtering process is performed under the same conditions such as the gas supply amount, the sputtering voltage value, the high-frequency power value, and the pressure value in the chamber, the laminated body 200 having a constant optical constant is obtained. As long as the film thickness of the transparent layer 201 is adjusted according to the processing time, the color of the laminate 200 can be adjusted.

また、ガス供給量、スパッター電圧値、高周波電力値、チャンバー内の圧力値などの各条件を可変にしてスパッター処理を行い、光学定数を調整した積層体200を得る場合には、処理時間によって透明層201の膜厚を調整することで、積層体200の色をさらに広範囲に調整することができる。   In addition, when the sputtering process is performed with various conditions such as the gas supply amount, the sputtering voltage value, the high-frequency power value, the pressure value in the chamber, etc., and the optical constant is adjusted to obtain the laminated body 200, it is transparent depending on the processing time. By adjusting the film thickness of the layer 201, the color of the stacked body 200 can be adjusted in a wider range.

透明層201の膜厚により積層体200の色が変化する理由は、次のように考えられる。上記一方側から積層体200に照射光を付与した際に、積層体200の上記一方側の表面(すなわち、透明層201の表面)で照射光が反射して第1反射光が得られる。また、上記一方側から積層体200に照射光を付与した際に、積層体200の透明層201を通過して透明層201と金属製の不透明層202(反射層)との界面で反射して第2反射光が得られる。この第1反射光および第2反射光が干渉する作用により、積層体200の色調整が実現されるものと考えられる。そして、干渉作用は透明層201の膜厚に応じて変化するため、透明層201の膜厚を調整すれば積層体200の色を調整できるものと考えられる。   The reason why the color of the laminate 200 changes depending on the film thickness of the transparent layer 201 is considered as follows. When irradiation light is applied to the multilayer body 200 from the one side, the irradiation light is reflected by the surface of the one side of the multilayer body 200 (that is, the surface of the transparent layer 201) to obtain first reflected light. Further, when irradiation light is applied to the laminate 200 from the one side, it passes through the transparent layer 201 of the laminate 200 and is reflected at the interface between the transparent layer 201 and the metal opaque layer 202 (reflective layer). Second reflected light is obtained. It is considered that the color adjustment of the laminate 200 is realized by the action of the first reflected light and the second reflected light interfering with each other. Then, since the interference action changes according to the film thickness of the transparent layer 201, it is considered that the color of the laminate 200 can be adjusted by adjusting the film thickness of the transparent layer 201.

<1.3 処理例>
<1.3.1 処理全体の流れ>
図7は、本実施形態における処理全体の流れを示す図である。
<1.3 Processing example>
<1.3.1 Process Flow>
FIG. 7 is a diagram showing the overall flow of processing in the present embodiment.

以下では、過去に行ったスパッター処理と各条件を同一にしてスパッター処理を行い、その過去の処理で得られた積層体200と光学定数が同一である積層体200を得る場合について説明する。上述の通り、この場合においても、処理時間によって不透明層202の膜厚を調整すれば、積層体200の色を調整することができる。   Hereinafter, a case will be described in which the sputtering process is performed under the same conditions as the sputtering process performed in the past, and the stacked body 200 having the same optical constant as that of the stacked body 200 obtained in the past process is described. As described above, also in this case, the color of the stacked body 200 can be adjusted by adjusting the film thickness of the opaque layer 202 according to the processing time.

スパッター処理に先立って、色情報(例えば、L表色系における一色)と上記一方側から視てその色となる積層体200を得るための成膜条件とを対応付けた対応データが制御部190の記憶部に格納される(ステップST1)。具体的には、本実施形態では、過去の処理時に積層体200の各層について操作者がエリプソメトリー等の測定器を用いて各光学定数(屈折率および消衰係数)を実測しておき、この各光学定数と上記対応関係とが制御部190の記憶部に予め格納されている。 Prior to the sputtering process, the color information (for example, one color in the L * a * b * color system) is associated with the film forming conditions for obtaining the laminate 200 that has the color when viewed from the one side. Data is stored in the storage unit of the control unit 190 (step ST1). Specifically, in this embodiment, the operator actually measured each optical constant (refractive index and extinction coefficient) for each layer of the laminate 200 using a measuring device such as ellipsometry during the past processing. Each optical constant and the corresponding relationship are stored in advance in the storage unit of the control unit 190.

対応データが制御部190に格納された後は、スパッター処理において、装置の操作者が入力部191から積層体200の色を指定することが可能となる。具体的には、操作者は、得られる積層体200として所望する色の色情報(例えば、Lの各値)を入力部191に入力する(ステップST2)。 After the correspondence data is stored in the control unit 190, the operator of the apparatus can specify the color of the stacked body 200 from the input unit 191 in the sputtering process. Specifically, the operator inputs color information (for example, each value of L * a * b * ) of a color desired as the obtained stacked body 200 to the input unit 191 (step ST2).

制御部190は、入力部から入力された色情報が対応データの対応可能範囲に含まれるか否かを判定する(ステップST3)。ここで、色情報が対応データの対応可能範囲に含まれる場合には、対応データにおいて入力された色情報と完全に一致する色の膜を成膜可能な成膜条件が存在する場合と、対応データにおいて入力された色情報とのずれが許容範囲の色の膜を成膜可能な成膜条件が存在する場合と、の双方が含まれる。   The control unit 190 determines whether the color information input from the input unit is included in the compatible range of the corresponding data (step ST3). Here, when the color information is included in the compatible range of the corresponding data, the case where there is a film forming condition capable of forming a color film that completely matches the color information input in the corresponding data corresponds to This includes both the case where there is a film forming condition in which a film having a color whose deviation from the color information input in the data is within an allowable range exists.

そして、入力された色情報が対応データの対応可能範囲に含まれる場合には、ステップST3でYesに分岐し、制御部190が入力部191から入力された色情報を基に対応データを参照して、スパッタリング装置1でその色の積層体200を得るための成膜条件を確定する(ステップST4)。その後、後述するスパッター処理が実行される(ステップST5)。   If the input color information is included in the compatible range of the corresponding data, the process branches to Yes in step ST3, and the control unit 190 refers to the corresponding data based on the color information input from the input unit 191. Then, the film forming conditions for obtaining the laminate 200 of that color are determined by the sputtering apparatus 1 (step ST4). Thereafter, a sputtering process to be described later is executed (step ST5).

他方、入力された色情報が対応データの対応可能範囲に含まれない場合には、ステップST3でNoに分岐し、制御部190がディスプレイへの表示や警告音等を通じてその旨を装置の操作者に報知する(ステップST6)。   On the other hand, if the input color information is not included in the compatible range of the corresponding data, the process branches to No in step ST3, and the control unit 190 informs the operator of the fact through a display on the display or a warning sound. (Step ST6).

このように、制御部190は、装置各部を制御する機能の他に、入力された色を成膜可能か判定する判定部としての機能と、成膜条件を確定する確定部としての機能と、入力された色を成膜できない際にその旨を操作者に知らせる報知部としての機能と、を有する。   Thus, in addition to the function of controlling each part of the apparatus, the control unit 190 has a function as a determination unit that determines whether an input color can be formed, a function as a determination unit that determines film formation conditions, And a function as a notification unit for notifying the operator when the input color cannot be formed.

本実施形態では、色情報と成膜条件とを対応付けた対応データを参照して成膜条件が確定される。このため、本実施形態の態様では、操作者の勘や経験則によって色と成膜条件とを対応付ける他の態様に比べ、高精度で安定的に所望の色の積層体200を得ることができる。   In the present embodiment, the film formation conditions are determined with reference to correspondence data in which color information and film formation conditions are associated with each other. For this reason, in the aspect of the present embodiment, it is possible to obtain a laminate 200 of a desired color with high accuracy and stability, compared to other aspects in which colors and film forming conditions are associated with each other based on operator intuition and empirical rules. .

また、本実施形態では、入力された色情報が対応データの対応可能範囲に含まれない場合に速やかにその旨が操作者に報知される。このため、現時点の対応データで成膜不能な色について操作者が試行錯誤する時間や手間が省略され、望ましい。   In the present embodiment, when the input color information is not included in the compatible range of the corresponding data, the operator is notified immediately. For this reason, it is desirable that the time and labor required for the operator to perform trial and error for colors that cannot be formed by the current correspondence data are omitted.

また、この場合、装置の操作者は、成膜条件における色調整の要素として膜厚以外の他の各要素(例えば、ガス供給量、スパッター電圧値、高周波電力値、チャンバー内の圧力値など)を変更しながら光学定数を変更しつつ対応データを作成すればよい。これにより、対応データが更新されてそのデータ数が拡大するので、前の時点の対応データでは成膜不能だった色が更新後の対応データでは成膜可能となりうる。   Further, in this case, the operator of the apparatus can use other elements other than the film thickness as elements for color adjustment in the film forming conditions (for example, gas supply amount, sputtering voltage value, high-frequency power value, pressure value in the chamber, etc.) Corresponding data may be created while changing the optical constant while changing. As a result, the correspondence data is updated and the number of data increases, so that it is possible to form a color that cannot be formed with the correspondence data at the previous time point with the updated correspondence data.

<1.3.2 スパッター処理>
上記ステップST5のスパッター処理について、その流れを説明する。
<1.3.2 Sputter treatment>
The flow of the sputtering process in step ST5 will be described.

まず、スパッターガス供給部510により、処理空間V内にアルゴンガスの雰囲気が形成される。高周波電源153により回転カソード5、6間に配される各誘導結合アンテナ151に高周波電力が供給される。これにより、処理空間Vに誘導結合プラズマが生成される。また、処理空間Vに誘導結合プラズマが生成されると、チャンバー100内でプラズマ処理を行うのに適したプロセス圧に到達するまで、排気部170がチャンバー100内の気体を排気する。チャンバー100内の圧力がプロセス圧に達すると、スパッター用電源163により回転カソード6にスパッター電力が供給される。これにより、処理空間VのY方向中央位置にマグネトロンプラズマが生成される。その結果、処理空間VのY方向中央位置に(具体的には、回転カソード5、6間でかつ被成膜箇所P側の空間に)おいて、マグネトロンプラズマと誘導結合プラズマとの混合プラズマが形成される。   First, an atmosphere of argon gas is formed in the processing space V by the sputtering gas supply unit 510. High frequency power is supplied to each inductive coupling antenna 151 disposed between the rotary cathodes 5 and 6 by a high frequency power source 153. Thereby, inductively coupled plasma is generated in the processing space V. In addition, when inductively coupled plasma is generated in the processing space V, the exhaust unit 170 exhausts the gas in the chamber 100 until a process pressure suitable for performing plasma processing in the chamber 100 is reached. When the pressure in the chamber 100 reaches the process pressure, sputtering power is supplied to the rotating cathode 6 by the sputtering power source 163. Thereby, a magnetron plasma is generated at the center position in the Y direction of the processing space V. As a result, the mixed plasma of the magnetron plasma and the inductively coupled plasma is generated at the center position in the Y direction of the processing space V (specifically, between the rotary cathodes 5 and 6 and in the space on the deposition site P side). It is formed.

この状態で、搬送機構30が、ゲート160から基材91を搬入し、搬送経路面Lに沿って基材91を搬送する。より具体的には、搬送機構30は、基材91が被成膜箇所Pを複数回通過するように、基材91を搬送経路面Lに沿って±X方向に移動させる。また、加熱部40が搬送される基材91を加熱する。その結果、搬送される基材91の上面には、回転カソード6のターゲット17からスパッターされたチタン粒子が結晶化して堆積し、チタン膜が成膜される。これにより、基材91の上面にチタンを主成分とする不透明層202が形成される。   In this state, the transport mechanism 30 loads the base material 91 from the gate 160 and transports the base material 91 along the transport path surface L. More specifically, the transport mechanism 30 moves the base material 91 in the ± X direction along the transport path surface L so that the base material 91 passes through the film formation location P a plurality of times. Moreover, the base material 91 by which the heating part 40 is conveyed is heated. As a result, titanium particles sputtered from the target 17 of the rotating cathode 6 are crystallized and deposited on the upper surface of the substrate 91 to be transported to form a titanium film. As a result, an opaque layer 202 containing titanium as a main component is formed on the upper surface of the substrate 91.

その後、反応性ガス供給部520による処理空間V内への反応性ガスの供給が開始され、処理空間V内に窒素ガスとアルゴンガスの混合雰囲気が形成される。また、制御部190がスパッター用電源163を制御することにより、回転カソード6にスパッター電力が供給された状態から、回転カソード5にスパッター電力が供給された状態へと切り替えられる。また、この切り替えの後も、高周波電源153により各誘導結合アンテナ151に継続的に高周波電力が供給される。   Thereafter, supply of the reactive gas into the processing space V by the reactive gas supply unit 520 is started, and a mixed atmosphere of nitrogen gas and argon gas is formed in the processing space V. Further, the control unit 190 controls the sputtering power source 163 to switch from the state in which the sputtering power is supplied to the rotating cathode 6 to the state in which the sputtering power is supplied to the rotating cathode 5. Further, after this switching, the high frequency power is continuously supplied to each inductive coupling antenna 151 by the high frequency power supply 153.

この状態で、搬送機構30は、基材91が被成膜箇所Pを複数回通過するように、基材91を搬送経路面Lに沿って±X方向に移動させる。また、加熱部40が搬送される基材91を加熱する。その結果、搬送される基材91の上面(より具体的には、基材91上に形成された不透明層202の上面)には、回転カソード5のターゲット16からスパッターされた窒化シリコン粒子が結晶化して堆積し、窒化シリコン膜が成膜される。これにより、基材91の上面に窒化シリコンを主成分とする透明層201が形成される。   In this state, the transport mechanism 30 moves the base material 91 in the ± X direction along the transport path surface L so that the base material 91 passes through the deposition position P a plurality of times. Moreover, the base material 91 by which the heating part 40 is conveyed is heated. As a result, silicon nitride particles sputtered from the target 16 of the rotary cathode 5 are crystallized on the upper surface of the substrate 91 to be conveyed (more specifically, the upper surface of the opaque layer 202 formed on the substrate 91). Then, a silicon nitride film is formed. Thereby, the transparent layer 201 mainly composed of silicon nitride is formed on the upper surface of the base material 91.

所定の処理時間が経過し、透明層201の膜厚が入力部191から入力された膜厚に達すると、スパッター処理が終了する。具体的には、スパッター用電源163による回転カソード5へのスパッター電圧の印加が停止される。スパッターガス供給源511によるスパッターガスの供給が停止される。また、反応性ガス供給源521による反応性ガスの供給が停止される。また、高周波電源153による各誘導結合アンテナ151への高周波電力の供給が停止される。そして、搬送機構30が成膜後の基材91をゲート161からスパッタリング装置1の外部へと搬出する。   When the predetermined processing time elapses and the film thickness of the transparent layer 201 reaches the film thickness input from the input unit 191, the sputtering process ends. Specifically, the application of the sputtering voltage to the rotating cathode 5 by the sputtering power source 163 is stopped. The supply of the sputtering gas by the sputtering gas supply source 511 is stopped. Further, the supply of the reactive gas by the reactive gas supply source 521 is stopped. Further, the supply of the high frequency power to each inductive coupling antenna 151 by the high frequency power supply 153 is stopped. Then, the transport mechanism 30 unloads the substrate 91 after film formation from the gate 161 to the outside of the sputtering apparatus 1.

本実施形態で得られる積層体200は、上記一方側から順に、窒化シリコンを主成分とする透明層201と、チタンを主成分とする不透明層202と、を有する。そして、上記一方側から積層体200を視た際の色が透明層201の膜厚に対して依存性を有する(図6)。   The laminate 200 obtained in the present embodiment includes, in order from the one side, a transparent layer 201 containing silicon nitride as a main component and an opaque layer 202 containing titanium as a main component. And the color at the time of seeing the laminated body 200 from the said one side has dependence with respect to the film thickness of the transparent layer 201 (FIG. 6).

透明層201の膜厚はスパッター処理の処理時間によって容易に調整可能であるので、積層体200の色を容易に調整することができ、望ましい。   Since the film thickness of the transparent layer 201 can be easily adjusted by the processing time of the sputtering process, the color of the laminate 200 can be easily adjusted, which is desirable.

また、一般に、合金のターゲットは単一金属のターゲットに比べて高価である。このため、合金のターゲットをスパッターして所望の色の積層体を得る他の態様に比べて、処理時間を調整しつつ単一金属のターゲットをスパッターして所望の色の積層体200を得る本実施形態では、安価に積層体200を生成することができる。   In general, alloy targets are more expensive than single metal targets. For this reason, compared to other embodiments in which an alloy target is sputtered to obtain a laminate of a desired color, a single metal target is sputtered while adjusting the processing time to obtain a laminate 200 of the desired color. In the embodiment, the laminate 200 can be generated at a low cost.

また、透明層201が機能成膜である場合、積層体200の最も表面側に透明層201が設けられるため、積層体200に対して透明層201の機能が付与され、望ましい。例えば、窒化シリコン膜は、化学的機能(耐溶剤、耐酸性、耐塩基性)および機械的機能に優れる。   Further, when the transparent layer 201 is a functional film, the transparent layer 201 is provided on the most surface side of the stacked body 200, and thus the function of the transparent layer 201 is imparted to the stacked body 200, which is desirable. For example, a silicon nitride film is excellent in chemical function (solvent resistance, acid resistance, base resistance) and mechanical function.

また、チタンを主成分とする不透明層202は、透明層201の基材91に対する密着性を高める密着層としての機能を有する。このため、基材91上に直接的に透明層201を成膜して積層体を得る他の態様に比べ、不透明層202を介して透明層201と基材91とを密着させる本実施形態の態様では、積層体200から透明層201が剥離し難い。上述したように、積層体200は建物のインテリアまたはエクステリアの装飾材料として用いられ、積層体200には必要に応じて切断や折り曲げ等の加工が施される。このように加工を施す技術分野であることを考慮すると、積層体200が密着層としての不透明層202を有することは特に有効である。   Further, the opaque layer 202 containing titanium as a main component has a function as an adhesion layer that improves the adhesion of the transparent layer 201 to the base material 91. For this reason, compared with the other aspect which forms the transparent layer 201 directly on the base material 91, and obtains a laminated body, the transparent layer 201 and the base material 91 are closely_contact | adhered through the opaque layer 202 of this embodiment. In the aspect, the transparent layer 201 is hardly peeled off from the laminate 200. As described above, the laminated body 200 is used as a decorative material for interior or exterior of a building, and the laminated body 200 is subjected to processing such as cutting and bending as necessary. In view of the technical field of processing in this way, it is particularly effective that the laminate 200 has the opaque layer 202 as an adhesion layer.

<2 変形例>
以上、本発明の実施の形態について説明したが、この発明はその趣旨を逸脱しない限りにおいて上述したもの以外に種々の変更を行うことが可能である。
<2 Modification>
While the embodiments of the present invention have been described above, the present invention can be modified in various ways other than those described above without departing from the spirit of the present invention.

図8は、基材91上に不透明層202として窒化チタン膜を成膜した第1の積層体と、基材91上に不透明層202として窒化チタン膜を成膜しさらにその上に透明層201として窒化シリコン膜を成膜した第2の積層体と、についての反射率スペクトルを示す図である。図8において、横軸は波長を示し、縦軸は反射率を示す。   FIG. 8 shows a first laminate in which a titanium nitride film is formed as an opaque layer 202 on a base material 91, and a titanium nitride film is formed as an opaque layer 202 on the base material 91, and further a transparent layer 201 is formed thereon. FIG. 6 is a diagram showing a reflectance spectrum of a second stacked body in which a silicon nitride film is formed as a film. In FIG. 8, the horizontal axis indicates the wavelength, and the vertical axis indicates the reflectance.

第2の積層体は、上記一方側から視て順に透明層(窒化シリコン膜)と金属製の不透明層(窒化チタン膜)とを有し、積層体の色が透明層の膜厚に対して依存性を有する。したがって、この変形例における第2の積層体も本発明の範囲に含まれる。図8に示されるように、第2の積層体の反射率スペクトルは可視領域においてほぼ0である。このように、透明層の膜厚を調整することで積層体の色を黒色に近づけることも可能である。   The second laminate has a transparent layer (silicon nitride film) and a metal opaque layer (titanium nitride film) in this order as viewed from the one side, and the color of the laminate is relative to the film thickness of the transparent layer. Has dependency. Therefore, the 2nd laminated body in this modification is also contained in the scope of the present invention. As shown in FIG. 8, the reflectance spectrum of the second stacked body is substantially 0 in the visible region. Thus, the color of the laminate can be made closer to black by adjusting the film thickness of the transparent layer.

また、上記実施形態では、透明層201が窒化シリコン層である態様について説明したが、これに限られるものではない。例えば、透明層201は酸化チタン層であってもよい。この場合、酸化チタンの触媒効果により積層体200の防汚性が特に高まる。また、透明層201は酸化アルミニウム層であってもよい。この場合、酸化アルミニウムの硬度が高いので積層体200の耐摩耗性が特に高まる。また、透明層201は窒化チタン層であってもよい。この場合、窒化チタンは化学的に安定なので積層体200の耐食性が特に高まる。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the aspect whose transparent layer 201 is a silicon nitride layer, it is not restricted to this. For example, the transparent layer 201 may be a titanium oxide layer. In this case, the antifouling property of the laminate 200 is particularly enhanced by the catalytic effect of titanium oxide. The transparent layer 201 may be an aluminum oxide layer. In this case, since the hardness of aluminum oxide is high, the wear resistance of the laminate 200 is particularly enhanced. The transparent layer 201 may be a titanium nitride layer. In this case, since titanium nitride is chemically stable, the corrosion resistance of the laminate 200 is particularly enhanced.

また、上記実施形態では、基材91上に2層の膜を成膜して積層体200を得る態様について説明したが、これに限られるものではない。基材91上に1層の膜を成膜して積層体を得てもよい。この場合、基材91が金属製の不透明層として機能し、該1層の膜が透明層として機能することで、本発明を適用可能である。また、基材91上に3層以上の膜を成膜して積層体を得てもよい。この場合であっても、積層体が金属製の不透明層と透明層とを有することで、本発明を適用可能である。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the aspect which forms the film | membrane of two layers on the base material 91 and obtains the laminated body 200, it is not restricted to this. A laminated body may be obtained by forming a single film on the substrate 91. In this case, the present invention can be applied by the base material 91 functioning as a metal opaque layer and the single layer film functioning as a transparent layer. Alternatively, a laminate may be obtained by forming three or more layers on the substrate 91. Even in this case, the present invention can be applied because the laminate includes a metal opaque layer and a transparent layer.

また、上記実施形態では、基材91がSUS板で構成される態様について説明したが、基材91としては樹脂、木材、ガラスなどが用いられてもよい。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the aspect in which the base material 91 was comprised with a SUS board, as the base material 91, resin, wood, glass, etc. may be used.

また、上記実施形態では、成膜装置としてスパッタリング装置1を用いる態様について説明したが、これに限られるものではない。他の成膜装置(例えば、蒸着装置など)においても、本発明を適用可能である。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the aspect which uses the sputtering apparatus 1 as a film-forming apparatus, it is not restricted to this. The present invention can also be applied to other film forming apparatuses (for example, a vapor deposition apparatus).

また、上記実施形態では、入力部191に入力される色情報がL表色系における色情報である場合について説明しが、これに限られるものではない。入力部191に入力される色情報は、XYZ表色系などL表色系以外の表色系における色情報であってもかまわない。 Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where the color information input into the input part 191 is color information in a L * a * b * color system, it is not restricted to this. The color information input to the input unit 191 may be color information in a color system other than the L * a * b * color system such as the XYZ color system.

また、上記実施形態では、基材保持部として基材91を保持しつつ搬送する搬送機構30が用いられる態様について説明したが、基材91を静止状態で保持する基材保持部が用いられても構わない。また、搬送機構30が基材91を搬送する方向についても、上記実施形態のように水平方向の場合の他に、例えば垂直方向であっても構わない。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the aspect in which the conveyance mechanism 30 which conveys holding the base material 91 as a base material holding part was demonstrated, the base material holding part which hold | maintains the base material 91 in a stationary state is used. It doesn't matter. Further, the direction in which the transport mechanism 30 transports the base material 91 may be, for example, the vertical direction in addition to the horizontal direction as in the above embodiment.

また、上記実施形態では、各誘導結合アンテナ151がチャンバー100の天板を貫通してチャンバー100の内部空間に突出して設けられる態様について説明したが、これに限られるものではない。各誘導結合アンテナ151がチャンバー100の側壁や底板などを貫通してチャンバー100の内部空間に突出して設けられてもよい。また、各誘導結合アンテナ151が、チャンバー100の内壁(天板、側壁、或いは、底板)に埋め込まれてチャンバー100の内部空間に突出しない態様で設けられてもよい。   Moreover, although the said embodiment demonstrated each aspect which provided each inductive coupling antenna 151 by protruding through the top plate of the chamber 100 and protruding in the internal space of the chamber 100, it is not restricted to this. Each inductive coupling antenna 151 may be provided so as to penetrate the side wall or bottom plate of the chamber 100 and protrude into the internal space of the chamber 100. Further, each inductively coupled antenna 151 may be provided in such a manner that it is embedded in the inner wall (top plate, side wall, or bottom plate) of the chamber 100 and does not protrude into the internal space of the chamber 100.

また、上記実施形態では、2つの回転カソード5、6を並設する場合について説明しているが、回転カソードは1つでもよい。また、回転カソードを用いるのではなく、平板型のカソードを用いてもよい。   Moreover, although the case where the two rotating cathodes 5 and 6 were arranged in parallel was demonstrated in the said embodiment, one rotating cathode may be sufficient. Further, instead of using a rotating cathode, a flat cathode may be used.

また、上記実施形態では、1列を構成する誘導結合アンテナ151の個数が5個の場合について説明しているが、該個数は回転カソード5(6)の長さに応じて適宜変更すればよい。また、複数列の誘導結合アンテナ151が設けられてもよい。その他にも、各部の位置、個数、長さなどの設計事項は適宜に変更可能である。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where the number of the inductive coupling antennas 151 which comprise 1 row was five, this number should just change suitably according to the length of the rotating cathode 5 (6). . A plurality of rows of inductively coupled antennas 151 may be provided. In addition, design items such as the position, number, and length of each part can be changed as appropriate.

また、上記実施形態では、搬送される基材91の表面のうち上面に成膜処理が行われる態様について説明したが、これに限られるものでない。例えば、搬送される基材91の表面のうち他の一面(側面、或いは、下面など)に成膜処理が行われてもよいし、搬送される基材91の表面のうち複数の面(例えば、上面および下面)に同時に成膜処理が行われてもよい。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the aspect in which the film-forming process was performed on the upper surface among the surfaces of the base material 91 conveyed, it is not restricted to this. For example, a film forming process may be performed on the other surface (side surface, lower surface, or the like) of the surface of the substrate 91 to be conveyed, or a plurality of surfaces (for example, the surface of the substrate 91 to be conveyed (for example, , The upper surface and the lower surface) may be simultaneously formed.

以上、実施形態およびその変形例に係る成膜装置および積層体について説明したが、これらは本発明に好ましい実施形態の例であって、本発明の実施の範囲を限定するものではない。本発明は、その発明の範囲内において、各実施形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施形態において任意の構成要素の増減が可能である。   As described above, the film forming apparatus and the laminate according to the embodiment and the modifications thereof have been described. However, these are examples of the preferred embodiment of the present invention, and do not limit the scope of the present invention. Within the scope of the invention, the present invention can be freely combined with each embodiment, modified with any component in each embodiment, or increased or decreased with any component in each embodiment.

1 スパッタリング装置
5,6 回転カソード
7 支持棒
8 ベース部材
16,17 ターゲット
19 回転部
21,22 磁石ユニット
30 搬送機構
31 搬送ローラ
50 スパッター処理部
100 チャンバー
151 誘導結合アンテナ
153 高周波電源
163 スパッター用電源
190 制御部
191 入力部
60 チムニー
90 キャリア
91 基材
200 積層体
201 透明層
202 不透明層
510 スパッターガス供給部
520 反応性ガス供給部
V 処理空間
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sputtering device 5,6 Rotating cathode 7 Support rod 8 Base member 16,17 Target 19 Rotating part 21,22 Magnet unit 30 Conveying mechanism 31 Conveying roller 50 Sputter processing part 100 Chamber 151 Inductive coupling antenna 153 High frequency power supply 163 Power supply for sputter 190 Control unit 191 Input unit 60 Chimney 90 Carrier 91 Base material 200 Laminate 201 Transparent layer 202 Opaque layer 510 Sputter gas supply unit 520 Reactive gas supply unit V Processing space

Claims (16)

基材の表面の一方側に少なくとも1層の膜を成膜して積層体を得る成膜装置であって、
その内部に処理空間を有する処理チャンバーと、
前記処理チャンバー内で前記基材を保持する基材保持部と、
前記処理空間にガスを供給するガス供給部と、
前記処理チャンバー内の気体を排出する排気部と、
前記基材保持部に保持された前記基材の前記表面に成膜処理を実行する成膜処理部と、
前記一方側から前記積層体を視た際の色情報が入力される入力部と、
複数の色に関して、色情報と前記一方側から視てその色となる前記積層体を得るための成膜条件とを対応付けた対応データが格納された記憶部と、
前記入力部から入力された前記色情報を基に前記対応データを参照して前記成膜条件を確定する確定部と、
を備え、
前記積層体は、前記一方側から視て順に透明層と金属製の不透明層とを有し、
前記成膜条件には、色調整の要素として少なくとも前記透明層の膜厚が含まれることを特徴とする成膜装置。
A film forming apparatus for obtaining a laminate by forming at least one film on one side of a surface of a substrate,
A processing chamber having a processing space therein;
A substrate holding part for holding the substrate in the processing chamber;
A gas supply unit for supplying gas to the processing space;
An exhaust section for discharging the gas in the processing chamber;
A film formation processing unit that performs a film formation process on the surface of the base material held by the base material holding unit;
An input unit for inputting color information when the laminate is viewed from the one side;
For a plurality of colors, a storage unit storing correspondence data in which color information is associated with film forming conditions for obtaining the laminate that is the color when viewed from the one side;
A determination unit that determines the film formation condition with reference to the corresponding data based on the color information input from the input unit;
With
The laminate has a transparent layer and a metal opaque layer in order as viewed from the one side,
The film forming condition is characterized in that at least the film thickness of the transparent layer is included as an element of color adjustment.
請求項1に記載の成膜装置であって、
前記一方側から前記積層体に照射光を付与した際に前記積層体の前記一方側の表面で前記照射光が反射して得られる第1反射光と、前記一方側から前記積層体に照射光を付与した際に前記積層体の前記透明層を通過して前記透明層と前記金属製の不透明層との界面で反射して得られる第2反射光と、が干渉する作用により前記色調整が実現され、
この干渉作用が前記透明層の膜厚に応じて変化することを特徴とする成膜装置。
The film forming apparatus according to claim 1,
The first reflected light obtained by reflecting the irradiation light on the surface of the one side of the laminate when the irradiation light is applied to the laminate from the one side, and the irradiation light to the laminate from the one side The color adjustment is performed by the action of interference between the second reflected light obtained by passing through the transparent layer of the laminate and reflecting at the interface between the transparent layer and the metal opaque layer. Realized,
The film forming apparatus characterized in that the interference action changes according to the film thickness of the transparent layer.
請求項1または請求項2に記載の成膜装置であって、
前記入力部から入力された前記色情報が前記対応データの対応可能範囲に含まれるか否かを判定する判定部と、
前記色情報が前記対応可能範囲に含まれない場合に、その旨を装置の操作者に報知する報知部と、
をさらに備えることを特徴とする成膜装置。
The film forming apparatus according to claim 1 or 2,
A determination unit that determines whether or not the color information input from the input unit is included in a compatible range of the corresponding data;
When the color information is not included in the available range, a notification unit that notifies the operator of the fact,
The film forming apparatus further comprising:
請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の成膜装置であって、
前記対応データは、前記積層体を構成する各層の各光学定数および前記透明層の膜厚と、前記一方側から視た前記積層体の色情報と、を理論的な計算により対応付けたデータであることを特徴とする成膜装置。
A film forming apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The correspondence data is data in which each optical constant of each layer constituting the laminate and the film thickness of the transparent layer are associated with color information of the laminate viewed from the one side by theoretical calculation. A film forming apparatus characterized in that:
請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の成膜装置であって、
前記積層体は、建物のインテリアまたはエクステリアの装飾材料として用いられることを特徴とする成膜装置。
A film forming apparatus according to any one of claims 1 to 4,
The film forming apparatus, wherein the laminate is used as a decorative material for an interior or exterior of a building.
請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の成膜装置であって、
前記透明層は窒化シリコン層であることを特徴とする成膜装置。
A film forming apparatus according to any one of claims 1 to 5,
The film forming apparatus, wherein the transparent layer is a silicon nitride layer.
請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の成膜装置であって、
前記透明層は酸化チタン層であることを特徴とする成膜装置。
A film forming apparatus according to any one of claims 1 to 5,
The film forming apparatus, wherein the transparent layer is a titanium oxide layer.
請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の成膜装置であって、
前記透明層は酸化アルミニウム層であることを特徴とする成膜装置。
A film forming apparatus according to any one of claims 1 to 5,
The film forming apparatus, wherein the transparent layer is an aluminum oxide layer.
請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の成膜装置であって、
前記透明層は窒化チタン層であることを特徴とする成膜装置。
A film forming apparatus according to any one of claims 1 to 5,
The film forming apparatus, wherein the transparent layer is a titanium nitride layer.
基材の表面の一方側に少なくとも1層の膜を成膜して得られる積層体であって、
前記一方側から視て順に、
透明層と、
金属製の不透明層と、
を有し、
前記一方側から前記積層体を視た際の色が前記透明層の膜厚に対して依存性を有することを特徴とする積層体。
A laminate obtained by forming a film of at least one layer on one side of the surface of the substrate,
In order from the one side,
A transparent layer,
A metal opaque layer,
Have
The laminated body, wherein the color when the laminated body is viewed from the one side has a dependency on the film thickness of the transparent layer.
請求項10に記載の積層体であって、
前記依存性は、前記一方側から前記積層体に照射光を付与した際に前記積層体の前記一方側の表面で前記照射光が反射して得られる第1反射光と、前記一方側から前記積層体に照射光を付与した際に前記積層体の前記透明層を通過して前記透明層と前記金属製の不透明層との界面で反射して得られる第2反射光と、が干渉する作用によるものであり、
この干渉作用が前記透明層の膜厚に応じて変化することを特徴とする積層体。
The laminate according to claim 10, wherein
The dependency is obtained by reflecting the irradiation light on the surface of the one side of the laminate when the irradiation light is applied to the laminate from the one side, and the first reflection light obtained from the one side. When the irradiation light is applied to the laminate, the second reflected light obtained by passing through the transparent layer of the laminate and reflecting at the interface between the transparent layer and the metal opaque layer interferes. Is due to
A laminate in which this interference action changes according to the film thickness of the transparent layer.
請求項10または請求項11に記載の積層体であって、
建物のインテリアまたはエクステリアの装飾材料として用いられることを特徴とする積層体。
It is a laminated body of Claim 10 or Claim 11,
A laminate characterized by being used as a decorative material for the interior or exterior of a building.
請求項10ないし請求項12のいずれかに記載の積層体であって、
前記透明層は窒化シリコン層であることを特徴とする積層体。
A laminate according to any one of claims 10 to 12,
The laminated body, wherein the transparent layer is a silicon nitride layer.
請求項10ないし請求項12のいずれかに記載の積層体であって、
前記透明層は酸化チタン層であることを特徴とする積層体。
A laminate according to any one of claims 10 to 12,
The laminated body, wherein the transparent layer is a titanium oxide layer.
請求項10ないし請求項12のいずれかに記載の積層体であって、
前記透明層は酸化アルミニウム層であることを特徴とする積層体。
A laminate according to any one of claims 10 to 12,
The laminated body, wherein the transparent layer is an aluminum oxide layer.
請求項10ないし請求項12のいずれかに記載の積層体であって、
前記透明層は窒化チタン層であることを特徴とする積層体。
A laminate according to any one of claims 10 to 12,
The laminated body, wherein the transparent layer is a titanium nitride layer.
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