JP2017203734A - 外観検査方法および外観検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
この構成によって、照明装置から照射される光量に対する検査面で反射しカメラに入射する光量の割合を、照射する向きとカメラの撮影方向とが同じである従来の検査装置での場合よりも小さくすることができる。それによって、カメラに入射する光量全体に対して、検査面上の傷等の凹凸のある第1の範囲から反射してカメラに入射する光量と、上記の凹凸のない第2の範囲から反射してカメラに入射する光量との差を、大きくすることができる。これにより、カメラによる撮影画像における検査面上の上記第1の範囲と第2の範囲との濃淡差が、上記の従来の検査装置での撮影画像における濃淡差よりも大きくなる。従って、検査面上の傷等の凹凸の検出の精度を向上させることができる。すなわち、外観検査の精度を向上させることができる。
この構成によって、照明装置から照射される光量に対する第1の検査面で反射しカメラに入射する光量の割合を、照射する向きとカメラの向きとが同じである従来の検査装置での場合よりも小さくすることができる。それによって、カメラに入射する光量全体に対して、第1の検査面上の上記の第1の範囲から反射してカメラに入射する光量と第2の範囲から反射してカメラに入射する光量との差を大きくすることができる。これにより、カメラによる撮影画像における第1の検査面上の第1の範囲と第2の範囲との濃淡差が、上記の従来の検査装置での撮影画像における濃淡差よりも大きくなる。従って、第1の検査面上の傷等の凹凸の検出の精度を向上させることができる。すなわち、外観検査の精度を向上させることができる。
この構成によって、上記のように、外周面が円周面である検査対象物の外周面を検査面とした外観検査の精度を向上させることができる。
これにより、上記のように、転がり軸受の外輪の外周面に含まれる第1の検査面を検査面とした外観検査の精度を向上させることができる。
これにより、第1の検査面を検査面とした外観検査の動作の際に、変位センサから第2の検査面までの距離を検査することができる。そのため、両検査をそれぞれ異なる検査動作で行うよりも検査時間を短縮することができると共に、両検査用の検査装置をそれぞれ別に用意するよりも検査装置全体を小型化することができる。
<全体構成>
本実施の形態にかかる外観検査装置100は、表面が高反射率である、つまり表面が光沢を有する工業製品の外観検査を行う。外観検査装置100による検査対象物は、たとえば転がり軸受である。以降の説明では、外観検査装置100が転がり軸受の外輪の外周に含まれる検査面を検査するものとする。なお、外観検査装置100による外観検査の対象物となる転がり軸受300は、外輪300A、内輪300B、複数の転動体300C、保持器300D、および軸受シール300Eを有している。
図3を用いて、外観検査装置100での検査原理を説明する。図3は、外観検査装置100を水平方向に見た概略図であって、照明装置10A、カメラ20、および配置台30にセットされた転がり軸受300の外輪300Aの外周付近を拡大して表したものである。図3に表された外輪300Aの外周が第1の検査面K1に相当する。また、図3中の符号Hは、カメラ20の視野範囲H、つまり撮影範囲を表す。
従来の検査装置による検査結果と比較して本実施の形態にかかる外観検査装置100による外観検査の効果を確認する。図6は、比較に用いた従来の検査装置の構成の概略図である。図7は、検査結果として得られる撮影画像である。図7の撮影画像は、図4の撮影画像と同じ転がり軸受を被写体とし、同じ面を第1の検査面K1として撮影されたものである。
第2の実施の形態にかかる外観検査装置100は、図1に表されたように、さらにセンサ40を含む。センサ40は変位センサである。センサ40は、配置台30に配置された転がり軸受300の端面に設けられた密封装置までの距離を、レーザ光などを利用して非接触にて測定する。密封装置は、たとえば、図1に示されたように転がり軸受300の端面に設けられた軸受シール300Eである。密封装置は、他の例として、シールド板であってもよい。センサ40は、転がり軸受300の端面の軸受シール300Eが配置された面に含まれる面を第2の検査面K2として、第2の検査面K2までの距離を測定する。センサ40は、配置台30に配置された転がり軸受300の軸受シール300Eからy方向に離れた位置(たとえば上方)であり、かつ、カメラ20に対して外輪300Aのカメラ20に臨む側よりも遠い位置に設けられている。好ましくは、センサ40は、カメラ20と転がり軸受300の中心軸Cを含む平面上の、照明装置10A(または照明装置10B)を挟んでカメラ20とは反対側に設けられる。
第2の実施の形態にかかる外観検査装置100では、上記2つの検査をそれぞれ異なる検査動作で行うよりも検査時間を短縮することができる。また、両検査用の検査装置をそれぞれ別に用意するよりも検査装置を小型化することができる。
Claims (5)
- 検査対象物の検査面に正対して配置されたカメラによって前記検査面を撮影することによって得られた撮影画像を用いる、前記検査対象物の外観検査方法であって、
照明装置によって、前記カメラの撮影方向とは異なる向きで、光源からの光が拡散光として前記検査面に照射され、
前記拡散光が照射されている前記検査面が前記カメラによって撮影される、外観検査方法。 - 検査対象物の第1の検査面に正対して配置された、前記第1の検査面を撮影するカメラと、
前記カメラの撮影方向とは異なる向きで、光源からの光を拡散光として前記第1の検査面に照射する照明装置と、を備える、外観検査装置。 - 外周面が円周面である前記検査対象物の外周面に含まれる前記第1の検査面が前記カメラに正対し、前記カメラが前記第1の検査面を撮影する方向に直交する方向が前記検査対象物の中心軸方向と一致するように前記検査対象物を配置するための配置台をさらに含み、
前記照明装置は、前記配置台に配置された前記検査対象物から前記中心軸方向に離れた位置に設けられている、請求項2に記載の外観検査装置。 - 前記検査対象物は、内輪および外輪を含む転がり軸受であって、
前記第1の検査面は前記外輪の外周面に含まれる、請求項2または3に記載の外観検査装置。 - 前記検査対象物の第2の検査面までの距離を測定可能な変位センサをさらに含み、
前記変位センサは、前記カメラに対して前記外輪の前記カメラに臨む側よりも遠い位置に設けられている、請求項4に記載の外観検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016096806A JP6834174B2 (ja) | 2016-05-13 | 2016-05-13 | 外観検査方法および外観検査装置 |
| US15/499,123 US10261024B2 (en) | 2016-05-13 | 2017-04-27 | Visual inspection device and visual inspection method |
| CN201710333135.3A CN107449779B (zh) | 2016-05-13 | 2017-05-12 | 外观检查装置及外观检查方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016096806A JP6834174B2 (ja) | 2016-05-13 | 2016-05-13 | 外観検査方法および外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017203734A true JP2017203734A (ja) | 2017-11-16 |
| JP6834174B2 JP6834174B2 (ja) | 2021-02-24 |
Family
ID=60297414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016096806A Active JP6834174B2 (ja) | 2016-05-13 | 2016-05-13 | 外観検査方法および外観検査装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10261024B2 (ja) |
| JP (1) | JP6834174B2 (ja) |
| CN (1) | CN107449779B (ja) |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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