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JP2017224798A - Wound film capacitor - Google Patents

Wound film capacitor Download PDF

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JP2017224798A
JP2017224798A JP2016251133A JP2016251133A JP2017224798A JP 2017224798 A JP2017224798 A JP 2017224798A JP 2016251133 A JP2016251133 A JP 2016251133A JP 2016251133 A JP2016251133 A JP 2016251133A JP 2017224798 A JP2017224798 A JP 2017224798A
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Japan
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film
wound
insulating film
conductive layer
glass
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Application number
JP2016251133A
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Japanese (ja)
Inventor
篤 虫明
Atsushi MUSHIAKE
篤 虫明
隆義 齊藤
Takayoshi Saito
隆義 齊藤
外博 中島
Sotohiro Nakajima
外博 中島
智昭 川村
Tomoaki Kawamura
智昭 川村
美紅 藤井
Miku FUJII
美紅 藤井
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Nippon Electric Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Electric Glass Co Ltd
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Publication date
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  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To invent a capacitor of high heat resistance capable of instantaneously releasing/storing a large amount of energy, while ensuring a large area per unit volume, and capable of exhibiting the performance without relying upon the temperature of the peripheral environment.SOLUTION: In a wound film capacitor including a wound body of such a form that first and second conductive layers and first and second insulator films are wound in roll state while superposed in the order of the first conductive layer, the first insulator film, the second conductive layer, and the second insulator film, at least the first insulator film is a glass film, and at least the first conductive layer is a metal film having heat resistance of 50°C or more.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、耐熱性が高い巻回型フィルムコンデンサに関する。   The present invention relates to a wound film capacitor having high heat resistance.

例えば電気自動車(EV)やハイブリッド電気自動車(HEV)には、バッテリーの直流電力を交流電力に変換して交流モーターを駆動するために、インバーターが用いられる。また、インバーターのスイッチング回路へ接続される直流電源回路(コンバーター、バッテリー等)は、一般的にDCリンクと呼ばれており、その直流電源電圧はDCリンク電圧と呼ばれている。インバーターのDCリンクには、DCリンクコンデンサと呼ばれる大容量のコンデンサが直流電源と並列に接続され、スイッチング回路による瞬間的な負荷変動を補償している(例えば、特許文献1を参照)。   For example, in an electric vehicle (EV) or a hybrid electric vehicle (HEV), an inverter is used to drive the AC motor by converting the DC power of the battery into AC power. A DC power supply circuit (converter, battery, etc.) connected to the inverter switching circuit is generally called a DC link, and the DC power supply voltage is called a DC link voltage. A large-capacitance capacitor called a DC link capacitor is connected to the DC link of the inverter in parallel with the DC power supply to compensate for instantaneous load fluctuations caused by the switching circuit (see, for example, Patent Document 1).

この用途に用いられるコンデンサには、以下のような特徴が求められる。
(1)瞬間的な負荷変動を補償するために、大容量のエネルギーを瞬時に放出/蓄積できること、
(2)温度変化により回路が適正に作動しない事態を防止するために、誘電率の温度依存性が小さいこと、
(3)高温環境下においても正常に動作すること。
Capacitors used for this purpose are required to have the following characteristics.
(1) The ability to instantaneously release / store a large amount of energy to compensate for instantaneous load fluctuations,
(2) In order to prevent the circuit from operating properly due to temperature changes, the temperature dependence of the dielectric constant is small,
(3) It operates normally even in a high temperature environment.

特表2004−524796号公報JP-T-2004-52496 Gazette

この用途に用いられるコンデンサとしては、現在のところ、BaTiOを使用したセラミックコンデンサが主流である。しかし、このセラミックコンデンサは、高い電圧を印加した場合に絶縁破壊が起こることが問題になっている。その理由は、セラミックコンデンサに存在する結晶粒の凸部が電極と接触し、その接触部分に高電圧が印加されると、電界集中が起こり、短絡が生じ易くなるためである。 At present, ceramic capacitors using BaTiO 3 are mainly used as capacitors for this purpose. However, this ceramic capacitor has a problem that dielectric breakdown occurs when a high voltage is applied. The reason is that when the convex portions of the crystal grains present in the ceramic capacitor are in contact with the electrode and a high voltage is applied to the contact portion, electric field concentration occurs and a short circuit is likely to occur.

また、BaTiOを使用したセラミックコンデンサは、誘電率の温度依存性が大きく、温度変化により誘電率が変化し易いことが知られている。このため、誘電率の温度依存性を低下させるために、BaTiO中にMgやMn等をドープすることが検討されている。しかし、MgやMn等をドープすると、BaTiOの結晶格子中に相対的に−2の電荷が誘起され、これによってBaTiO中に酸素欠陥が発生する場合がある。この酸素欠陥は、直流電圧下において誘電率の低下を招く虞がある。従って、BaTiOを使用したセラミックコンデンサでは、誘電率を高めつつ、誘電率の温度依存性を低下させることが困難であった。 Further, it is known that a ceramic capacitor using BaTiO 3 has a large temperature dependence of dielectric constant, and the dielectric constant is likely to change due to temperature change. Therefore, in order to reduce the temperature dependence of the dielectric constant, it has been considered to be doped with Mg or Mn or the like during BaTiO 3. However, when doped with Mg and Mn, etc., a charge relatively -2 crystal lattice of BaTiO 3 is induced, whereby there is a case where an oxygen defect is generated in BaTiO 3. This oxygen defect may cause a decrease in dielectric constant under a DC voltage. Therefore, in a ceramic capacitor using BaTiO 3 , it is difficult to reduce the temperature dependence of the dielectric constant while increasing the dielectric constant.

また、コンデンサに大容量のエネルギーを蓄えるためには、単位体積当たりで大きな面積を確保する必要がある。例えば板状のセラミック材を積層した構造をとることで大きな面積を確保できるが、この方法だと部品点数の増大化と共に工程の煩雑化を招き、コストアップの要因になる。   In order to store a large amount of energy in the capacitor, it is necessary to secure a large area per unit volume. For example, a large area can be secured by adopting a structure in which plate-shaped ceramic materials are laminated. However, this method increases the number of parts and complicates the process, resulting in an increase in cost.

また、コンデンサに用いる導電層には種々の金属が使用される。導電層に用いられる金属としては、一般的に銅、亜鉛などの単体金属のフィルムや膜が安価であるために使用される。しかし、これらは耐熱性が低いため、高温環境下では、酸化・変質しやすく、抵抗値が高くなる。そのため、高温環境下で導電層が電気を通しにくくなり、コンデンサの性能が低下する。これを防止するために、コンデンサに隣接して冷却装置を設置してコンデンサの温度上昇を防止していたが、必要な設置スペースが冷却装置の分だけ大きくなるため、装置全体としての小型化が困難となる。   Various metals are used for the conductive layer used in the capacitor. As a metal used for the conductive layer, a film or film of a single metal such as copper or zinc is generally used because it is inexpensive. However, since these have low heat resistance, they are easily oxidized and deteriorated in a high temperature environment, and the resistance value becomes high. Therefore, it becomes difficult for the conductive layer to conduct electricity in a high temperature environment, and the performance of the capacitor decreases. To prevent this, a cooling device was installed adjacent to the capacitor to prevent the temperature of the capacitor from rising. However, the required installation space increases by the amount of the cooling device, so the overall size of the device can be reduced. It becomes difficult.

本発明は上記事情に鑑みなされたものであり、その技術的課題は、大容量のエネルギーを瞬時に放出/蓄積することができ、且つ単位体積当たりで大きな面積を確保するとともに、高温環境下でも性能を発揮することができる耐熱性の高いコンデンサを創案することを技術的課題とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and a technical problem thereof is that a large amount of energy can be instantaneously released / accumulated, a large area per unit volume is ensured, and even in a high temperature environment. The technical challenge is to create a capacitor with high heat resistance that can demonstrate its performance.

本発明者等は、鋭意努力の結果、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサの導電層として、50℃以上の耐熱性を有する金属膜を用いることにより、上記技術的課題を解決し得ることを見出し、本発明として提案するものである。すなわち、本発明の巻回型フィルムコンデンサは、第一及び第二の導電層と、第一及び第二の絶縁フィルムとが、前記第一の導電層、前記第一の絶縁フィルム、前記第二の導電層、前記第二の絶縁フィルムの順に重なり合った状態でロール状に巻き取られた形態をなす巻回体を備えた巻回型フィルムコンデンサであって、前記第一の絶縁フィルムは厚み方向で相反する向きを指向する第一の表面と第二の表面とを有し、前記第二の絶縁フィルムは厚み方向で相反する向きを指向する第三の表面と第四の表面とを有するとともに、前記第一の表面と前記第三の表面、前記第二の表面と前記第四の表面とは各々同じ向きを指向しており、少なくとも前記第一の絶縁フィルムはガラスフィルムであって、かつ少なくとも前記第一の導電層が50℃以上の耐熱性を有する金属膜であることを特徴とする。   As a result of diligent efforts, the present inventors are able to solve the above technical problem by using a metal film having a heat resistance of 50 ° C. or higher as the conductive layer of the wound film capacitor according to the present invention. It is a headline and is proposed as the present invention. That is, in the wound film capacitor of the present invention, the first and second conductive layers, the first and second insulating films, the first conductive layer, the first insulating film, and the second A conductive film and a wound film capacitor comprising a wound body wound in a roll shape in the state of overlapping the second insulating film in order, wherein the first insulating film is in the thickness direction. The second insulating film has a third surface and a fourth surface directed in opposite directions in the thickness direction. The first surface and the third surface, the second surface and the fourth surface are oriented in the same direction, and at least the first insulating film is a glass film, and At least the first conductive layer is 50 ° C. or higher Characterized in that it is a metal film having a heat resistance.

このように、本発明では、第一及び第二の絶縁フィルムと第一及び第二の導電層とが交互に重なり合った状態でロール状に巻き取られた形態をなす巻回体でコンデンサを構成すると共に、少なくとも第一の絶縁フィルムをガラスフィルムとした。ガラスであれば酸素欠損が発生し難いため、誘電率を低下させることなく誘電率の温度依存性を小さくすることができる。よって、ガラスで作製したフィルムを導電層とともにロール状に巻き取った形態をなす巻回体でコンデンサを構成することにより、コンデンサの単位体積当たりの静電容量を大きくしつつも、温度変化により、回路が適正に作動しない事態を有効に防止することができる。従って、大容量のエネルギーを蓄積可能でかつ高温環境特性にも優れたコンデンサを比較的小型に製造することが可能となる。   Thus, in the present invention, the first and second insulating films and the first and second conductive layers are alternately wound in a roll shape with the first and second conductive layers overlapping each other. In addition, at least the first insulating film was a glass film. Since glass is unlikely to generate oxygen vacancies, the temperature dependence of the dielectric constant can be reduced without reducing the dielectric constant. Therefore, by configuring the capacitor with a wound body in the form of a roll of a film made of glass and a conductive layer, while increasing the capacitance per unit volume of the capacitor, due to temperature changes, The situation where the circuit does not operate properly can be effectively prevented. Therefore, a capacitor capable of storing a large amount of energy and excellent in high temperature environmental characteristics can be manufactured in a relatively small size.

また、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、導電層として、50℃以上の耐熱性を有する金属膜を用いる。このようにすれば、高温環境下でも金属膜が酸化・変質しにくいため、周辺環境の温度に依存することなくコンデンサの性能を発揮することができる。また、冷却装置等の設置が不要となり、コンデンサ装置全体としての小型化が可能になる。例えば、「金属膜が50℃の耐熱性を有する」とは、金属膜を形成した絶縁フィルムを50℃の大気中にて1時間熱処理し、熱処理後の金属膜の抵抗値が熱処理前の金属膜の抵抗値の2倍を越えないことをいう。なお、測定にはデジタルマルチメーター(カスタム社製M‐04)を用いた。   The wound film capacitor according to the present invention uses a metal film having heat resistance of 50 ° C. or higher as the conductive layer. In this way, the metal film is unlikely to be oxidized or denatured even in a high temperature environment, so that the performance of the capacitor can be exhibited without depending on the temperature of the surrounding environment. Further, it is not necessary to install a cooling device or the like, and the capacitor device as a whole can be downsized. For example, “the metal film has a heat resistance of 50 ° C.” means that the insulating film on which the metal film is formed is heat-treated in the atmosphere at 50 ° C. for 1 hour, and the resistance value of the metal film after the heat treatment is the metal before the heat treatment. It means not to exceed twice the resistance value of the film. Note that a digital multimeter (M-04 manufactured by Custom Corp.) was used for the measurement.

第二に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第二の絶縁フィルムはガラスフィルムとしたものであってもよい。   Secondly, in the wound film capacitor according to the present invention, the second insulating film may be a glass film.

このように第二の絶縁フィルムをガラスフィルムとすることにより、コンデンサを、有機物を含有しない、完全無機物製のフィルムコンデンサとすることができるので、コンデンサの耐熱性を高めることが可能となる。従って、周囲の温度やその他の環境に影響を受けることなく、コンデンサとしての機能を適正に発揮させることが可能となる。   Thus, by using the glass film as the second insulating film, the capacitor can be a completely inorganic film capacitor that does not contain an organic substance, so that the heat resistance of the capacitor can be improved. Therefore, the function as a capacitor can be appropriately exhibited without being affected by the ambient temperature and other environments.

第三に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一及び第二の導電層はともに50℃以上の耐熱性を有する金属膜であり、前記第一の絶縁フィルムの前記第一の表面と記第二の表面にそれぞれ成膜されているものであってもよい。   Third, in the wound film capacitor according to the present invention, the first and second conductive layers are both metal films having heat resistance of 50 ° C. or more, and the first surface of the first insulating film May be formed on the second surface.

このように導電層を絶縁フィルムと一体化することで、絶縁フィルムと各導電層との密着性が高まるので正負両極となる導電層間の距離を小さくすることができ、静電容量の更なる向上を図ることが可能となる。また、導電層を膜状としたほうが、導電層単体での取り扱い性を考慮せずにその厚み寸法を設定することができるので、金属膜の厚み寸法をより小さくして、更なる小型化を図ることが可能となる。更に、高温環境下でも金属膜が酸化・変質しにくいため、周辺環境の温度に依存することなくコンデンサの性能を発揮する
ことができる。
By integrating the conductive layer with the insulating film in this way, the adhesion between the insulating film and each conductive layer is increased, so that the distance between the conductive layers serving as positive and negative electrodes can be reduced, and the capacitance is further improved. Can be achieved. In addition, when the conductive layer is a film, the thickness dimension can be set without considering the handleability of the conductive layer alone, so the metal film thickness can be made smaller and further miniaturization can be achieved. It becomes possible to plan. Furthermore, since the metal film is not easily oxidized or deteriorated even in a high temperature environment, the performance of the capacitor can be exhibited without depending on the temperature of the surrounding environment.

第四に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一及び第二の導電層はともに50℃以上の耐熱性を有する金属膜であり、前記第一の絶縁フィルムの前記第一の表面と前記第二の絶縁フィルムの前記第三の表面にそれぞれ成膜されているものであってもよい。   Fourth, in the wound film capacitor according to the present invention, the first and second conductive layers are both metal films having a heat resistance of 50 ° C. or more, and the first surface of the first insulating film And a film formed on each of the third surfaces of the second insulating film.

この構成により導電層と絶縁フィルムを一体化することによっても、絶縁フィルムと導電層との密着性を高めて、導電層間の距離を小さくすることができるので、静電容量の更なる向上を図ることが可能となる。また、一枚の絶縁フィルムにつき一つの導電層(金属膜)を形成すればよいので、条件によっては、一枚の絶縁フィルムに二つの導電層を設ける場合よりも当該絶縁フィルムの厚み寸法を小さくできる。これによっても、静電容量の更なる向上が期待できる。更に、高温環境下でも金属膜が酸化・変質しにくいため、周辺環境の温度に依存することなくコンデンサの性能を発揮することができる。   Also by integrating the conductive layer and the insulating film with this configuration, the adhesion between the insulating film and the conductive layer can be increased and the distance between the conductive layers can be reduced, thereby further improving the capacitance. It becomes possible. In addition, since one conductive layer (metal film) may be formed per one insulating film, depending on conditions, the thickness dimension of the insulating film is smaller than when two conductive layers are provided on one insulating film. it can. This can be expected to further improve the capacitance. Furthermore, since the metal film is not easily oxidized or deteriorated even in a high temperature environment, the performance of the capacitor can be exhibited without depending on the temperature of the surrounding environment.

第五に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一の導電層が巻回体の幅方向一方を指向する第一の側端面と、幅方向他方を指向する第二の側端面とを有し、第二の導電層が巻回体の幅方向一方を指向する第三の側端面と、幅方向他方を指向する第四の側端面とを有し、第一の導電層の第二の側端面は、第二の導電層の第四の側端面よりも巻回体の幅方向一方の側にオフセットしており、かつ第二の導電層の第三の側端面は、第一の導電層の第一の側端面よりも巻回体の幅方向他方の側にオフセットしているものであってもよい。   Fifth, the wound film capacitor according to the present invention includes a first side end face in which the first conductive layer is oriented in one width direction of the wound body, and a second side end face in which the other width direction is oriented. And the second conductive layer has a third side end face that faces one side in the width direction of the wound body, and a fourth side end face that faces the other side in the width direction. The second side end face is offset to one side in the width direction of the wound body from the fourth side end face of the second conductive layer, and the third side end face of the second conductive layer is It may be offset from the first side end face of the conductive layer to the other side in the width direction of the wound body.

このように構成することで、巻回体の幅方向両側に電極(正極、負極)を設けた場合に、接続すべき側の導電層を容易に識別できる。また、接続すべきでない側の導電層との接触を確実に回避して、各電極と、各電極と接続すべき側の導電層との電気的な接続を簡易かつ安全に行うことができる。   By comprising in this way, when the electrode (a positive electrode, a negative electrode) is provided in the width direction both sides of a wound body, the conductive layer of the side which should be connected can be identified easily. Further, it is possible to reliably avoid contact with the conductive layer on the side that should not be connected, and to easily and safely perform electrical connection between each electrode and the conductive layer on the side that should be connected to each electrode.

第六に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、巻回体の幅方向一方の側に、第一の導電層と接しかつ第二の導電層と離れている第一の電極が設けられ、かつ巻回体の幅方向他方の側に、第二の導電層と接しかつ第一の導電層と離れている第二の電極が設けられているものであってもよい。   Sixth, the wound film capacitor according to the present invention is provided with a first electrode in contact with the first conductive layer and separated from the second conductive layer on one side in the width direction of the wound body. In addition, a second electrode that is in contact with the second conductive layer and separated from the first conductive layer may be provided on the other side in the width direction of the wound body.

このように電極を配置することにより、簡易な構造で、対応する導電層と電極との電気的な接続を行うことができる。特に、上述のように各導電層を巻回体の幅方向で互いに異なる向きにオフセットして(ずらして)配置することにより、電極と、この電極に対応しない非接続側の導電層との間に所定の幅方向隙間を有する状態となる。よって、特に電極を複雑な形状(部分的に突出している形状など)にせずとも、接続すべき側の導電層とのみ接触する状態を容易に形成することができる。また、このようにすれば、インダクタとしての作用が抑制されるため、高周波での抵抗を抑制し易くなる。   By arranging the electrodes in this manner, the corresponding conductive layers and the electrodes can be electrically connected with a simple structure. In particular, as described above, each conductive layer is arranged in an offset (shifted) direction different from each other in the width direction of the wound body, so that the gap between the electrode and the conductive layer on the non-connecting side that does not correspond to this electrode. In a state having a predetermined gap in the width direction. Therefore, it is possible to easily form a state in which only the conductive layer on the side to be connected is in contact with, without particularly making the electrode in a complicated shape (such as a partially protruding shape). In addition, since the action as an inductor is suppressed in this way, resistance at high frequencies can be easily suppressed.

第七に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一及び/又は第二の電極が50℃以上の耐熱性を有することが好ましい。例えば、「電極が50℃の耐熱性を有する」とは、電極を50℃の大気中で1時間熱処理した後、目視で確認した時に、亀裂等の破損が生じていないことをいう。   Seventh, in the wound film capacitor according to the present invention, the first and / or second electrodes preferably have a heat resistance of 50 ° C. or higher. For example, “the electrode has a heat resistance of 50 ° C.” means that there is no breakage such as cracking when the electrode is heat-treated in the atmosphere at 50 ° C. for 1 hour and then visually confirmed.

また、第八に、第一及び/又は第二の電極が、金属粉末を分散させた無機物からなることが好ましい。   Eighthly, it is preferable that the first and / or second electrode is made of an inorganic material in which metal powder is dispersed.

電極には様々な材料が使用可能であるが、その中でも、コストと導電性の観点からは、Al、Pt、Ni、Cu、Ag、Ag合金からなる群から選択される一種又は二種以上の金属が好適に使用可能である。電極の形成は、例えば上記金属の粉末を分散させた導電性ペースト(所定の粘性を有するペースト状の導電性材料)を塗布後、固化させることでできる。本発明では、導電性ペーストの中でも無機系の導電性ペースト等を用いることにより、金属粉末を分散させた無機物によって電極を形成するものであってもよい。   Various materials can be used for the electrode. Among them, from the viewpoint of cost and conductivity, one or two or more selected from the group consisting of Al, Pt, Ni, Cu, Ag, and an Ag alloy are used. Metal can be preferably used. The electrode can be formed, for example, by applying a conductive paste in which the above metal powder is dispersed (a paste-like conductive material having a predetermined viscosity) and then solidifying it. In the present invention, an electrode may be formed from an inorganic material in which metal powder is dispersed by using an inorganic conductive paste or the like among conductive pastes.

第九に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一の絶縁フィルムの厚み寸法が50μm以下であるものであってもよい。   Ninthly, in the wound film capacitor according to the present invention, the thickness of the first insulating film may be 50 μm or less.

このように上記絶縁フィルムの厚み寸法を設定することにより、単位体積当たりの上記絶縁フィルムの面積が大きくなるため、コンデンサの静電容量を高めることができる。また、上記絶縁フィルムの可撓性が向上するので、巻回体の最小巻き取り径(詳細は後述を参照)を小さくすることができる。従って、このことによっても単位体積当たりの上記絶縁フィルムの面積を大きくして静電容量の向上を図ることが可能となる。言い換えると、所定の静電容量を確保しつつコンデンサの小型化を図ることが可能となる。   By setting the thickness dimension of the insulating film in this way, the area of the insulating film per unit volume is increased, so that the capacitance of the capacitor can be increased. In addition, since the flexibility of the insulating film is improved, the minimum winding diameter of the wound body (see below for details) can be reduced. Therefore, this also makes it possible to increase the area of the insulating film per unit volume and improve the capacitance. In other words, it is possible to reduce the size of the capacitor while ensuring a predetermined capacitance.

第十に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、巻回体の最小巻き取り径が100mm以下であるものであってもよい。なお、ここでいう巻回体の最小巻き取り径とは、実質的に巻回体の内径寸法に等しく、ロール状に巻き取られた形態をなしている第一及び第二の絶縁フィルムのうち最も半径方向内側に位置する絶縁フィルムの曲率半径を意味する。   Tenth, the wound film capacitor according to the present invention may have a minimum winding diameter of 100 mm or less. The minimum winding diameter of the wound body here is substantially equal to the inner diameter dimension of the wound body, and among the first and second insulating films that are wound in a roll shape. It means the radius of curvature of the insulating film located at the innermost radial direction.

このように、上記絶縁フィルムを、巻回体の最小巻き取り径が一定以下の大きさとなるように巻き取ることで、コンデンサの小型化を効果的に図ることが可能となる。   As described above, the capacitor can be effectively downsized by winding the insulating film so that the minimum winding diameter of the wound body is a certain value or less.

第十一に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一の絶縁フィルムの長尺方向寸法が0.05m以上であるものであってもよい。   Eleventh, the wound film capacitor according to the present invention may be one in which the dimension in the longitudinal direction of the first insulating film is 0.05 m or more.

このように、上記絶縁フィルムの長尺方向寸法を規定することで、通常、上記絶縁フィルムと同程度又はそれより少し小さい大きさ(長尺方向寸法)に設定される導電層の面積(表面積)を確保することができる。よって、この導電層の面積に応じた大きさの静電容量をコンデンサに設けることが可能となる。   Thus, by defining the lengthwise dimension of the insulating film, the area (surface area) of the conductive layer that is usually set to the same size as the insulating film or slightly smaller (size in the lengthwise direction). Can be secured. Therefore, it is possible to provide the capacitor with a capacitance corresponding to the area of the conductive layer.

第十二に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一の絶縁フィルムの幅方向寸法を第一の絶縁フィルムの厚み寸法で除した値が1000以上であるものであってもよい。   12thly, the value which remove | divided the width direction dimension of the 1st insulating film by the thickness dimension of the 1st insulating film may be 1000 or more.

コンデンサの静電容量は、上述と同様の理由で、上記絶縁フィルムの面積(表面積)が大きく、厚み寸法が小さいほど大きくなる。よって、上記絶縁フィルムの厚み寸法に対する幅方向寸法の比を1000以上とすることで、この種のコンデンサに要求されるレベルの静電容量を確保することが可能となる。   For the same reason as described above, the capacitance of the capacitor increases as the area (surface area) of the insulating film increases and the thickness dimension decreases. Therefore, by setting the ratio of the dimension in the width direction to the thickness dimension of the insulating film to be 1000 or more, it is possible to ensure the level of capacitance required for this type of capacitor.

第十三に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、絶縁フィルムとしてのガラスフィルムの比誘電率が5.0以上であるものであってもよい。なお、ここでいう比誘電率は、温度25℃においてASTM D150に準拠した方法により測定した値を指す。   Thirteenthly, in the wound film capacitor according to the present invention, the glass film as the insulating film may have a relative dielectric constant of 5.0 or more. The relative dielectric constant here refers to a value measured by a method based on ASTM D150 at a temperature of 25 ° C.

第一四に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一の絶縁フィルムの厚み方向一方を指向する第一の表面又は前記厚み方向他方を指向する第二の表面の算術平均粗さRaが5nm以下であるものであってもよい。なお、ここでいう算術平均粗さRaは、JIS B0601:2001に準拠した方法により測定した値を指す。   Fourth, the wound film capacitor according to the present invention includes an arithmetic average roughness Ra of a first surface oriented in one thickness direction of the first insulating film or a second surface oriented in the other thickness direction. May be 5 nm or less. In addition, arithmetic mean roughness Ra here refers to the value measured by the method based on JISB0601: 2001.

このように上記絶縁フィルムの表面の算術平均粗さRaを規定することにより、絶縁破壊を生じる電圧が上昇するため、その分だけ大容量のエネルギーを蓄積することが可能になる。   By defining the arithmetic average roughness Ra of the surface of the insulating film in this way, the voltage causing dielectric breakdown increases, so that a large amount of energy can be stored accordingly.

第十五に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一の絶縁フィルムとしてのガラスフィルムが、質量%で、SiO:20〜70%、Al:0〜20%、B:0〜17%、MgO:0〜10%、CaO:0〜15%、SrO:0〜15%、BaO:0〜40%を含有するガラス組成をなすものであってもよい。 Fifteenth, in the wound film capacitor according to the present invention, the glass film as the first insulating film is in mass%, SiO 2 : 20 to 70%, Al 2 O 3 : 0 to 20%, B The glass composition may contain 2 O 3 : 0 to 17%, MgO 0 to 10%, CaO 0 to 15%, SrO 0 to 15%, BaO 0 to 40%.

このようにガラス組成を設定することにより、成形時に失透が生じ難くなるため、幅方向寸法及び長尺方向寸法が大きい上記絶縁フィルム(ガラスフィルム)を容易に成形することができる。従って、結果的に大容量のエネルギーが蓄積可能なコンデンサを効率よく製造することが可能となる。   By setting the glass composition in this manner, devitrification is less likely to occur at the time of molding, so that the insulating film (glass film) having a large width direction dimension and a long direction dimension can be easily formed. Therefore, as a result, a capacitor capable of storing a large amount of energy can be efficiently manufactured.

第十六に、本発明に係る巻回型フィルムコンデンサは、第一の絶縁フィルムとしてのガラスフィルムの巻き終わり及び/又は巻き始め側の長尺方向端部において、前記ガラスフィルムの表面同士が直接密着しているものであってもよい。   Sixteenth, in the wound film capacitor according to the present invention, the surfaces of the glass films are directly connected to each other at the end in the longitudinal direction on the winding end and / or winding start side of the glass film as the first insulating film. It may be in close contact.

このように、巻回体を構成するガラスフィルムの巻き終わり側又は/及び巻き始め側の長尺方向端部において、ガラスフィルムの表面同士を、接着剤などを介することなく直接的に密着させた形態をとることで、巻き終わり側の端部において絶縁フィルムとしてのガラスフィルムを固定することができる。従って、ガラスフィルムを含む二枚の絶縁フィルムをロール状に巻き取ってなる巻回体の形状を適正に維持することができる。また、ガラスフィルムの表面同士を固定するための要素を介在させずに済むため、巻回体を簡易に構成でき、かつ小型化できる。なお、密着させるガラスフィルムの表面同士としては、一つのガラスフィルムに含まれる二つの表面同士でも良いし、異なる二枚のガラスフィルムの一つの表面同士でも良い。   In this way, the glass film surfaces were brought into close contact with each other without using an adhesive or the like at the end in the longitudinal direction on the winding end side and / or the winding start side of the glass film constituting the wound body. By taking the form, the glass film as the insulating film can be fixed at the end portion on the winding end side. Therefore, the shape of the wound body obtained by winding the two insulating films including the glass film into a roll can be appropriately maintained. Moreover, since it is not necessary to interpose the element for fixing the surfaces of a glass film, a winding body can be comprised simply and can be reduced in size. In addition, as the surfaces of the glass films to be adhered, two surfaces included in one glass film may be used, or one surface of two different glass films may be used.

第十七に、本発明では、コンデンサを構成する巻回体の中心に、前記巻回体をその幅方向に貫通する貫通穴を設けたものであってもよい。   17thly, in this invention, the through-hole which penetrates the said wound body in the width direction may be provided in the center of the wound body which comprises a capacitor | condenser.

このように構成することで、コンデンサの中心には、その幅方向全域にわたって中空の空間が存在した状態となる。巻回体の中心に貫通穴を設けることで、巻回体の内側には絶縁体としての空気が存在することになるため、インダクタンスの増加を抑制して、高周波域におけるインピーダンスの上昇を可及的に回避することが可能となる。もちろん、巻回体の中心が中空の空間であれば、その分だけコンデンサを軽量化できるので、コンデンサの汎用化にとっても好適である。   With this configuration, a hollow space exists in the center of the capacitor over the entire width direction. By providing a through hole in the center of the wound body, air as an insulator exists inside the wound body, so that an increase in inductance is suppressed and an increase in impedance in the high frequency range is possible. Can be avoided. Of course, if the center of the wound body is a hollow space, the weight of the capacitor can be reduced by that amount, which is suitable for general use of the capacitor.

以上に述べたように、本発明によれば、大容量のエネルギーを瞬時に放出/蓄積することができ、且つ単位体積当たりで大きな面積を確保するとともに、耐熱性の高いコンデンサを提供することが可能となる。   As described above, according to the present invention, it is possible to instantaneously release / accumulate a large amount of energy, to secure a large area per unit volume, and to provide a capacitor with high heat resistance. It becomes possible.

本発明の巻回型フィルムコンデンサの幅方向の断面構造の一例を示す概念断面図である。It is a conceptual sectional view showing an example of the section structure of the winding type film capacitor of the present invention in the width direction. 本発明の巻回型フィルムコンデンサの一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of the winding type film capacitor of this invention. 本発明に係る他の巻回体の一部を仮想的に展開した状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the state which expanded a part of other winding body which concerns on this invention virtually. [実施例1]に係る第一のガラスフィルムの第一の表面と第二の表面に対して銀合金膜が成膜された状態を示す幅方向の断面概念図である。It is a cross-sectional conceptual diagram of the width direction which shows the state by which the silver alloy film was formed with respect to the 1st surface and 2nd surface of the 1st glass film which concerns on [Example 1]. [実施例1]に係る巻回型フィルムコンデンサのインピーダンス特性を表す図である。It is a figure showing the impedance characteristic of the winding type film capacitor which concerns on [Example 1].

以下、本発明の巻回型コンデンサを構成する各部材に関し、図1〜3を参照してそれぞれ詳述してゆく。   Hereinafter, each member constituting the wound capacitor of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

図1は、本発明の巻回型フィルムコンデンサの幅方向の断面構造の一例を示す概念断面図である。本実施形態では、第一及び第二の導電層がともに金属膜である。図1から分かるように、巻回型フィルムコンデンサ1は、第一の金属膜10、第一の絶縁フィルム(ガラスフィルム)11、第二の金属膜12、第二の絶縁フィルム13の順に積層された積層構造を有しており、この積層構造が巻取り回数に応じて繰り返されている。第一の絶縁フィルム(ガラスフィルム)11の第一の表面11aには、第一の金属膜10が成膜されると共に、第一の金属膜10が成膜されている第一の端縁部11cと第一の端縁部11cとは反対側となる第一の金属膜10が成膜されていない第二の端縁部11dとを有している。これにより、第一の金属膜10は、第一の絶縁フィルム(ガラスフィルム)11の第一の端縁部11c側にオフセットされる。また、第一の絶縁フィルム(ガラスフィルム)11の第二の表面11bには、第二の金属膜12が成膜されると共に、第二の金属膜12が成膜されている第三の端縁部11eと第三の端縁部11eとは反対側となる第二の金属膜12が成膜されていない第四の端縁部11fとを有している。これにより、第二の金属膜12は、第三の端縁部11e側にオフセットされる。また、第二の絶縁フィルム13は、第一の金属膜10と第二の金属膜12が接触しないように第一の金属膜10と第二の金属膜12の間に配置されている。そして、第一の絶縁フィルム(ガラスフィルム)11の第一の端面11gに第一の金属膜10と接し、第二の金属膜12と接しない第一の電極14が形成されており、且つ第一の絶縁フィルム(ガラスフィルム)11の第二の端面11hに第二の金属膜12と接し、第一の金属膜10と接しない第二の電極15が形成されている。第一の電極14により、巻回体の一方の側面が被覆されて、第一の金属膜10の端部全体が電気的に接続されると共に、第二の電極15により、巻回体の他方の側面が被覆されて、第二の金属膜12の端部全体が電気的に接続される。   FIG. 1 is a conceptual cross-sectional view showing an example of a cross-sectional structure in the width direction of the wound film capacitor of the present invention. In the present embodiment, the first and second conductive layers are both metal films. As can be seen from FIG. 1, the wound film capacitor 1 is laminated in the order of a first metal film 10, a first insulating film (glass film) 11, a second metal film 12, and a second insulating film 13. The laminated structure is repeated according to the number of windings. On the first surface 11 a of the first insulating film (glass film) 11, the first metal film 10 is formed, and the first edge portion on which the first metal film 10 is formed 11c and the 1st edge part 11c have the 2nd edge part 11d in which the 1st metal film 10 used as the other side is not formed into a film. As a result, the first metal film 10 is offset to the first edge portion 11 c side of the first insulating film (glass film) 11. In addition, a second metal film 12 is formed on the second surface 11b of the first insulating film (glass film) 11, and a third end where the second metal film 12 is formed. It has the 4th edge part 11f in which the 2nd metal film 12 used as the opposite side to the edge part 11e and the 3rd edge part 11e is not formed into a film. Thereby, the 2nd metal film 12 is offset by the 3rd edge part 11e side. The second insulating film 13 is disposed between the first metal film 10 and the second metal film 12 so that the first metal film 10 and the second metal film 12 do not contact each other. A first electrode 14 that is in contact with the first metal film 10 and not in contact with the second metal film 12 is formed on the first end face 11g of the first insulating film (glass film) 11, and A second electrode 15 that is in contact with the second metal film 12 and is not in contact with the first metal film 10 is formed on the second end surface 11 h of one insulating film (glass film) 11. One side surface of the wound body is covered by the first electrode 14 and the entire end portion of the first metal film 10 is electrically connected, and the other end of the wound body is covered by the second electrode 15. Are covered so that the entire end of the second metal film 12 is electrically connected.

図2は、本発明の巻回型フィルムコンデンサの一例を示す斜視図である。本実施形態に係る巻回型フィルムコンデンサ1は、巻回体16と、巻回体16にその幅方向で接する正負の電極14,15とを備える。各電極14,15には、図示しないリード線が取り付けられており、両電極14,15間に所定の電圧を印加できるようになっている。この形態では、巻回体16はコア17の周りにロール状に巻き取られている。   FIG. 2 is a perspective view showing an example of the wound film capacitor of the present invention. The wound film capacitor 1 according to this embodiment includes a wound body 16 and positive and negative electrodes 14 and 15 that are in contact with the wound body 16 in the width direction. A lead wire (not shown) is attached to each of the electrodes 14 and 15 so that a predetermined voltage can be applied between the electrodes 14 and 15. In this form, the wound body 16 is wound around the core 17 in a roll shape.

本発明の巻回型フィルムコンデンサにおいて、第一のガラスフィルムの厚さは50μm以下であり、40μm以下、30μm以下、20μm以下、10μm以下、8μm以下、6μm以下、5μm以下、3μm以下、特に1μm以下が好ましい。第一のガラスフィルムの厚さが小さい程、単位体積当たりの面積が大きくなるため、大容量のエネルギーを蓄え易くなる。また第一のガラスフィルムの可撓性が向上するため、第一のガラスフィルムの最小曲率半径を小さくすることができる。結果として、コンデンサの小型化を図り易くなる。更にデバイスを軽量化し易くなる。   In the wound film capacitor of the present invention, the thickness of the first glass film is 50 μm or less, 40 μm or less, 30 μm or less, 20 μm or less, 10 μm or less, 8 μm or less, 6 μm or less, 5 μm or less, 3 μm or less, particularly 1 μm. The following is preferred. The smaller the thickness of the first glass film, the larger the area per unit volume, so that a large amount of energy can be easily stored. Moreover, since the flexibility of a 1st glass film improves, the minimum curvature radius of a 1st glass film can be made small. As a result, it is easy to reduce the size of the capacitor. Furthermore, it becomes easy to reduce the weight of the device.

本発明の巻回型フィルムコンデンサは、第二のフィルムとして樹脂、紙などが用いられるが、ガラスフィルムを用いることが好ましい。第二のフィルムとしてガラスフィルムを用いることで、必須部材に関して、有機物を含有しない、オール無機のフィルムコンデンサの作製が可能になり、コンデンサの耐熱性を高めることができる。結果として、周囲の温度や環境によらず、コンデンサとしての機能を適正に発揮させることができる。第二のガラスフィルム厚さは50μm以下であり、40μm以下、30μm以下、20μm以下、10μm以下、8μm以下、6μm以下、5μm以下、3μm以下、特に1μm以下が好ましい。また、第二のフィルムの幅寸法は、第一のガラスフィルムの幅寸法よりも小さいことが好ましい。このようにすれば、巻回体の両側面に電極を形成し易くなる。   In the wound film capacitor of the present invention, resin, paper or the like is used as the second film, but it is preferable to use a glass film. By using a glass film as the second film, it becomes possible to produce an all-inorganic film capacitor that does not contain organic substances with respect to the essential members, and the heat resistance of the capacitor can be increased. As a result, the function as a capacitor can be appropriately exhibited regardless of the ambient temperature and environment. The thickness of the second glass film is 50 μm or less, preferably 40 μm or less, 30 μm or less, 20 μm or less, 10 μm or less, 8 μm or less, 6 μm or less, 5 μm or less, 3 μm or less, particularly 1 μm or less. Moreover, it is preferable that the width dimension of a 2nd film is smaller than the width dimension of a 1st glass film. If it does in this way, it will become easy to form an electrode on both sides of a winding object.

本発明の巻回型フィルムコンデンサは、第一のガラスフィルムの第一の表面に第一の金属膜が成膜されており、第一のガラスフィルムの第二の表面に第二の金属膜が成膜されていることが好ましい。これらの金属膜は電極として作用する。このようにすると金属膜と第一のガラスフィルムの密着性が高くなり、金属膜と第一のガラスフィルム間に空気層ができて静電容量が低下するという事態を回避することができる。   In the wound film capacitor of the present invention, the first metal film is formed on the first surface of the first glass film, and the second metal film is formed on the second surface of the first glass film. A film is preferably formed. These metal films act as electrodes. If it does in this way, the adhesiveness of a metal film and a 1st glass film becomes high, and it can avoid the situation where an air layer is made between a metal film and a 1st glass film, and an electrostatic capacitance falls.

本発明の巻回型フィルムコンデンサにおいて、導電層として、50℃以上の耐熱性を有する金属膜を用いる。このようにすれば、周辺温度が高くなっても金属膜が酸化・変質しにくく、高温環境下でもコンデンサの性能を発揮することができる。また、冷却装置等の設置が不要となり、コンデンサ装置全体としての小型化が可能になる。高温環境下において、金属膜が酸化したり、金属膜の変質、つまり金属膜表面が突起状に変形したり、表面粗さが大きくなったりすると、コンデンサの性能が低下したり、絶縁破壊の原因となったりする虞がある。そのため、金属膜の耐熱性は高いほど有利であり、より好ましくは80℃以上、100℃以上、150℃以上、200℃以上、300℃以上、400℃以上、500℃以上である。   In the wound film capacitor of the present invention, a metal film having a heat resistance of 50 ° C. or higher is used as the conductive layer. In this way, the metal film is unlikely to be oxidized or altered even when the ambient temperature is high, and the performance of the capacitor can be exhibited even in a high temperature environment. Further, it is not necessary to install a cooling device or the like, and the capacitor device as a whole can be downsized. If the metal film is oxidized or the metal film is altered, that is, the surface of the metal film is deformed in a high temperature environment, or the surface roughness is increased, the performance of the capacitor may be reduced, or the cause of dielectric breakdown may be There is a risk of becoming. Therefore, the higher the heat resistance of the metal film, the more advantageous, and more preferably 80 ° C or higher, 100 ° C or higher, 150 ° C or higher, 200 ° C or higher, 300 ° C or higher, 400 ° C or higher, 500 ° C or higher.

耐熱性が高い金属膜としては、例えば銀合金、アルミニウム-ネオジム合金、アルミニウム-タンタル合金、モリブデン-ニオブ合金が挙げられる。これらは高温環境下でも酸化・変質しにくく、高温環境下でも低抵抗値を示す。   Examples of the metal film having high heat resistance include a silver alloy, an aluminum-neodymium alloy, an aluminum-tantalum alloy, and a molybdenum-niobium alloy. These are not easily oxidized or denatured even in a high temperature environment, and show a low resistance value even in a high temperature environment.

本発明の巻回型フィルムコンデンサは、第一のガラスフィルムが幅方向に相対する第一の端面と第二の端面を有し、第一の金属膜が第一の端面側にオフセットして形成されており、且つ第二の金属膜が第二の端面側にオフセットして形成されていることが好ましい。そして、第一のガラスフィルムの第一の表面と第二の表面において金属膜の形成されていない領域は、端面から1mmまでの領域が好ましく、端面から3mm、端面から5mm、端面から7mmまでの領域が更に好ましい。このようにすれば、巻回体の両側面に電極を形成した場合に、第一の金属膜と第二の金属膜が電気的に接続される事態を有効に回避することができる。なお、第一のガラスフィルムの第一の表面と第二の表面において、導電層の形成されていない領域に導電層と同等の膜厚の絶縁膜を形成してもよい。   In the wound film capacitor of the present invention, the first glass film has a first end face and a second end face facing in the width direction, and the first metal film is formed offset to the first end face side. It is preferable that the second metal film is formed offset to the second end face side. And the area | region in which the metal film is not formed in the 1st surface of the 1st glass film and the 2nd surface is the area | region from 1 mm to an end surface, 3 mm from an end surface, 5 mm from an end surface, and 7 mm from an end surface A region is more preferred. If it does in this way, when an electrode is formed in the both sides | surfaces of a wound body, the situation where a 1st metal film and a 2nd metal film are electrically connected can be avoided effectively. In addition, you may form the insulating film of the film thickness equivalent to a conductive layer in the area | region in which the conductive layer is not formed in the 1st surface and 2nd surface of a 1st glass film.

本発明の巻回型フィルムコンデンサは、巻回体内の隣り合う第一の金属膜の端部が電気的に接続し、隣り合う第二の金属膜の端部も電気的に接続するように、巻回体の一方の側面に第一の金属膜と接し、第二の金属膜と接しない第一の電極が形成されており、且つ巻回体の他方の側面に第二の金属膜と接し、第一の金属膜には接しない第二の電極が形成されていることが好ましい。このようにすれば、インダクタとしての作用が抑制されるため、高周波での抵抗を抑制し易くなる。電極は、例えば、金属粉末を分散させた導電ペーストを第一のガラスフィルムの端面に塗布することにより形成することができる。   In the wound film capacitor of the present invention, the end portions of the adjacent first metal films in the wound body are electrically connected, and the end portions of the adjacent second metal films are also electrically connected. A first electrode that is in contact with the first metal film and is not in contact with the second metal film is formed on one side of the wound body, and is in contact with the second metal film on the other side of the wound body. It is preferable that a second electrode not in contact with the first metal film is formed. In this way, since the action as an inductor is suppressed, resistance at high frequencies can be easily suppressed. The electrode can be formed, for example, by applying a conductive paste in which metal powder is dispersed to the end surface of the first glass film.

上記電極は、50℃以上の耐熱性を有することが好ましい。耐熱性が高いと高温環境下でもコンデンサの性能を発揮することができる。また、冷却装置等の設置が不要となり、コンデンサ装置全体としての小型化が可能になる。電極の耐熱性はより好ましくは100℃以上、120℃以上、130℃以上、140℃以上、150℃以上、160℃以上、170℃以上、180℃以上、190℃以上、200℃以上、220℃以上、240℃以上、250℃以上、270℃以上、300℃以上、500℃以上である。一般的に用いられている有機系の導電性ペーストでは、例えば二液を混合することで樹脂を硬化させて電極を形成するものがあるが、その場合、形成された電極には有機成分が含まれることになる。高温環境下では電極から有機成分が揮発して体積収縮が起こるため、電極に目視確認できる程度の大きな亀裂を生じ、ひいてはコンデンサの破損につながる可能性がある。   The electrode preferably has a heat resistance of 50 ° C. or higher. If the heat resistance is high, the performance of the capacitor can be exhibited even in a high temperature environment. Further, it is not necessary to install a cooling device or the like, and the capacitor device as a whole can be downsized. The heat resistance of the electrode is more preferably 100 ° C or higher, 120 ° C or higher, 130 ° C or higher, 140 ° C or higher, 150 ° C or higher, 160 ° C or higher, 170 ° C or higher, 180 ° C or higher, 190 ° C or higher, 200 ° C or higher, 220 ° C. Above, it is 240 degreeC or more, 250 degreeC or more, 270 degreeC or more, 300 degreeC or more, 500 degreeC or more. Some commonly used organic conductive pastes form an electrode by curing a resin, for example, by mixing two liquids. In that case, the formed electrode contains an organic component. Will be. In a high temperature environment, organic components are volatilized from the electrode and volume shrinkage occurs, so that a large crack that can be visually confirmed is generated on the electrode, which may result in damage to the capacitor.

電極形成材料のうち、有機系のものとして、想定される雰囲気温度下において支障ないものであれば、熱硬化性樹脂を用いても良いし、熱可塑性樹脂を用いても良い。例えば、メラミン樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、ポリプロピレン樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、ビニル樹脂、スチレン樹脂、各種エラストマー、また、エンプラやスーパーエンプラ等を用いることもできる。耐熱性の観点からは、エンプラやスーパーエンプラが好ましく、ポリアセタール樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアミド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリブチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレン樹脂、シンジオタクチックポリスチレン樹脂、非晶ポリアリレート樹脂、ポリサルフォン樹脂、フッ素樹脂、液晶ポリマー樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリエーテルサルフォン樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂等を用いることができる。本発明では、電極に要求される耐熱性に応じてこれら樹脂を適宜選択することができ、樹脂の特性に合わせた任意の方法で電極を形成できる。例えば熱可塑性樹脂を用いる場合は、軟化させた樹脂を被接触面に接触固定し必要に応じて成形した後に冷却することで電極を形成できる。もちろん、上述の各種樹脂をペースト状にした後に電極形成材料として用いることも可能である。   Of the electrode forming materials, a thermosetting resin or a thermoplastic resin may be used as long as it does not interfere with the assumed ambient temperature as an organic material. For example, melamine resin, epoxy resin, silicone resin, polypropylene resin, acrylic resin, urethane resin, vinyl resin, styrene resin, various elastomers, engineering plastics, super engineering plastics, and the like can also be used. From the viewpoint of heat resistance, engineering plastics and super engineering plastics are preferred, and polyacetal resin, polycarbonate resin, polyamide resin, polyphenylene ether resin, polybutylene terephthalate resin, polyethylene terephthalate resin, polyethylene resin, syndiotactic polystyrene resin, amorphous polyarylate resin Polysulfone resin, fluororesin, liquid crystal polymer resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polyphenylene sulfide resin, polyethersulfone resin, polyetheretherketone resin, and the like can be used. In the present invention, these resins can be appropriately selected according to the heat resistance required for the electrodes, and the electrodes can be formed by any method according to the characteristics of the resin. For example, in the case of using a thermoplastic resin, the electrode can be formed by cooling and fixing the softened resin to the contacted surface and forming it as necessary. Of course, the above-mentioned various resins can be used as an electrode forming material after being made into a paste.

特に、耐熱性が高い電極を得るためには、例えば、無機系の導電性ペースト等を用いて、金属粉末を分散させた無機物によって電極を形成すると良い。無機系の導電性ペーストとしては、例えば、金属粉末を分散させた水ガラスが挙げられる。水ガラスペーストは有機物を含まないため、高温環境下でも、形成後の電極に体積収縮や変形が起こることがなく、その結果コンデンサの破損を抑制することができる。   In particular, in order to obtain an electrode having high heat resistance, for example, the electrode may be formed of an inorganic material in which metal powder is dispersed using an inorganic conductive paste or the like. Examples of the inorganic conductive paste include water glass in which metal powder is dispersed. Since the water glass paste does not contain an organic substance, volume shrinkage or deformation does not occur in the formed electrode even in a high temperature environment, and as a result, damage to the capacitor can be suppressed.

また、前記水ガラスペーストに適宜水を添加することで、好ましい粘度へと粘性を低下させ、容易に電極を形成することが可能である。更に、電極形成後に水を蒸発させ、水ガラス中の脱水縮合を促進させることで、緻密な電極を形成することができる。   Further, by appropriately adding water to the water glass paste, it is possible to reduce the viscosity to a preferred viscosity and easily form an electrode. Furthermore, a dense electrode can be formed by evaporating water after electrode formation and promoting dehydration condensation in water glass.

本発明の巻回型フィルムコンデンサは、第一のガラスフィルムが100mm以下の最小曲率半径で巻き取られていることが好ましく、この最小曲率半径は、更に80mm以下、75mm以下、50mm以下、30mm以下、20mm以下、10mm以下、5mm以下、特に3mm以下が好ましい。第一のガラスフィルムを最小曲率半径が小さい状態で巻き取れば、単位体積当たりで大きな面積を確保できるため、大容量のエネルギーを蓄えることができる。   In the wound film capacitor of the present invention, the first glass film is preferably wound with a minimum curvature radius of 100 mm or less, and the minimum curvature radius is further 80 mm or less, 75 mm or less, 50 mm or less, 30 mm or less. , 20 mm or less, 10 mm or less, 5 mm or less, particularly 3 mm or less is preferable. If the first glass film is wound in a state where the minimum curvature radius is small, a large area can be secured per unit volume, so that a large amount of energy can be stored.

第一のガラスフィルムの長さ寸法は、好ましくは0.05m以上、0.5m以上、1m以上、3m以上、5m以上、10m以上、30m以上、50m以上、70m以上、特に100m以上である。第一のガラスフィルムの長さ寸法が小さ過ぎると、静電容量が小さくなるため、大容量のエネルギーを蓄積し難くなる。   The length dimension of the first glass film is preferably 0.05 m or more, 0.5 m or more, 1 m or more, 3 m or more, 5 m or more, 10 m or more, 30 m or more, 50 m or more, 70 m or more, particularly 100 m or more. When the length dimension of the first glass film is too small, the electrostatic capacity becomes small, so that it is difficult to accumulate a large amount of energy.

第一のガラスフィルムの(幅寸法/厚み)比は、好ましくは1000以上、1200以上、1400以上、1600以上、1800以上、2000以上、特に2400以上である。第一のガラスフィルムの(幅寸法/厚み)比が小さ過ぎると、静電容量が小さくなるため、大容量のエネルギーを蓄積し難くなる。   The (width dimension / thickness) ratio of the first glass film is preferably 1000 or more, 1200 or more, 1400 or more, 1600 or more, 1800 or more, 2000 or more, particularly 2400 or more. When the (width dimension / thickness) ratio of the first glass film is too small, the electrostatic capacity becomes small, so that it is difficult to accumulate a large amount of energy.

第一のガラスフィルムの誘電率は、好ましくは5以上、5.5以上、6以上、7以上、8以上、9以上、10以上、特に11以上である。第一のガラスフィルムの誘電率が低過ぎると、大容量のエネルギーを蓄積し難くなる。   The dielectric constant of the first glass film is preferably 5 or more, 5.5 or more, 6 or more, 7 or more, 8 or more, 9 or more, 10 or more, particularly 11 or more. If the dielectric constant of the first glass film is too low, it is difficult to store a large amount of energy.

第一のガラスフィルムの平均表面粗さRaは、好ましくは5nm以下、3nm以下、1nm以下、0.8nm以下、0.4nm以下、0.3nm以下、特に0.2nm以下である。第一のガラスフィルムの平均表面粗さRaが大き過ぎると、高電圧を印加した時に絶縁破壊を起こす電圧が低下し易くなる。   The average surface roughness Ra of the first glass film is preferably 5 nm or less, 3 nm or less, 1 nm or less, 0.8 nm or less, 0.4 nm or less, 0.3 nm or less, particularly 0.2 nm or less. If the average surface roughness Ra of the first glass film is too large, the voltage that causes dielectric breakdown when a high voltage is applied tends to decrease.

第一のガラスフィルムの表面粗さRmaxは、好ましくは10nm以下、5nm以下、特に3nm以下である。第一のガラスフィルムの表面粗さRmaxが大き過ぎると、高電圧を印加したときに絶縁破壊を起こす電圧が低下し易くなる。ここで、「平均表面粗さRmax」は、JIS B0601:2001に準拠した方法で測定した値を指す。   The surface roughness Rmax of the first glass film is preferably 10 nm or less, 5 nm or less, particularly 3 nm or less. If the surface roughness Rmax of the first glass film is too large, the voltage that causes dielectric breakdown when a high voltage is applied tends to decrease. Here, “average surface roughness Rmax” refers to a value measured by a method based on JIS B0601: 2001.

第一のガラスフィルムは、ガラス組成として、質量%で、SiO 20〜70%、Al 0〜20%、B 0〜17%、MgO 0〜10%、CaO 0〜15%、SrO 0〜15%、BaO 0〜40%を含有することが好ましい。 First glass film, as a glass composition, in mass%, SiO 2 20~70%, Al 2 O 3 0~20%, B 2 O 3 0~17%, 0~10% MgO, CaO 0~15 %, SrO 0 to 15%, BaO 0 to 40%.

上記のように各成分の含有量を限定した理由を以下に示す。なお、各成分の含有量の説明において、%表示は質量%を意味する。   The reason for limiting the content of each component as described above will be described below. In addition, in description of content of each component,% display means the mass%.

SiOの含有量が多くなると、溶融性、成形性が低下し易くなる。よって、SiOの含有量は、好ましくは70%以下、65%以下、60%以下、58%以下、55%以下、50%以下、特に45%以下である。一方、SiO2の含有量が少なくなると、ガラス網目構造を形成し難くなるため、ガラス化が困難になる。よって、SiO2の含有量は、好ましくは20%以上、25%以上、特に30%以上である。 When the content of SiO 2 is increased, the meltability and moldability tend to be lowered. Therefore, the content of SiO 2 is preferably 70% or less, 65% or less, 60% or less, 58% or less, 55% or less, 50% or less, particularly 45% or less. On the other hand, when the content of SiO2 is reduced, it becomes difficult to form a glass network structure, and vitrification becomes difficult. Therefore, the content of SiO2 is preferably 20% or more, 25% or more, particularly 30% or more.

Alの含有量は0〜20%である。Alの含有量が多くなると、ガラスに失透結晶が析出し易くなり、液相粘度が低下し易くなる。よって、Alの含有量は、好ましくは20%以下、18%以下、15%以下、12%以下、特に10%以下である。一方、Alの含有量が少なくなると、ガラス組成の成分バランスが損なわれて、ガラスが失透し易くなる。よって、Alの含有量は、好ましくは0%以上、1%以上、3%以上、特に5%以上である。 The content of Al 2 O 3 is 0 to 20%. When the content of Al 2 O 3 is increased, devitrified crystals are likely to be precipitated on the glass, and the liquid phase viscosity is likely to be lowered. Therefore, the content of Al 2 O 3 is preferably 20% or less, 18% or less, 15% or less, 12% or less, particularly 10% or less. On the other hand, when the content of Al 2 O 3 decreases, the component balance of the glass composition is impaired, and the glass is easily devitrified. Therefore, the content of Al 2 O 3 is preferably 0% or more, 1% or more, 3% or more, particularly 5% or more.

の含有量が多くなると、誘電率が低下し易くなり、また耐熱性が低下して、高温時のコンデンサの信頼性が低下し易くなる。よって、Bの含有量は、好ましくは15%以下、13%以下、11%以下、7%以下、特に5%以下である。 When the content of B 2 O 3 increases, the dielectric constant tends to decrease, and the heat resistance decreases, and the reliability of the capacitor at high temperatures tends to decrease. Therefore, the content of B 2 O 3 is preferably 15% or less, 13% or less, 11% or less, 7% or less, particularly 5% or less.

MgOは、歪点を高める成分であり、また高温粘度を低下させる成分である。しかし、MgOの含有量が多過ぎると、液相温度、密度、熱膨張係数が高くなり過ぎる。よって、MgOの含有量は、好ましくは10%以下、5%以下、3%以下、2%以下、1.5%以下、1%以下、特に0.5%以下である。   MgO is a component that increases the strain point and also decreases the high-temperature viscosity. However, when there is too much content of MgO, liquidus temperature, a density, and a thermal expansion coefficient will become high too much. Therefore, the content of MgO is preferably 10% or less, 5% or less, 3% or less, 2% or less, 1.5% or less, 1% or less, particularly 0.5% or less.

CaOの含有量が多くなると、密度、熱膨張係数が高くなり、またガラス組成の成分バランスが損なわれて、耐失透性が低下し易くなる。よって、CaOの含有量は、好ましくは15%以下、12%以下、10%以下、9%以下、特に8.5%以下である。一方、CaOの含有量が少なくなると、誘電率、溶融性が低下し易くなる。よって、CaOの含有量は、好ましくは0%以上、0.5%以上、1%以上、2%以上、3%以上、特に5%以上である。   When the content of CaO is increased, the density and the thermal expansion coefficient are increased, the component balance of the glass composition is impaired, and the devitrification resistance is easily lowered. Therefore, the content of CaO is preferably 15% or less, 12% or less, 10% or less, 9% or less, particularly 8.5% or less. On the other hand, when the content of CaO is reduced, the dielectric constant and meltability are likely to be lowered. Therefore, the content of CaO is preferably 0% or more, 0.5% or more, 1% or more, 2% or more, 3% or more, particularly 5% or more.

SrOの含有量が多くなると、密度、熱膨張係数が高くなり易い。よって、SrOの含有量は、好ましくは15%以下、特に12%以下である。一方、SrOの含有量が少なくなると、誘電率、溶融性が低下し易くなる。よって、SrOの含有量は、好ましくは0%以上、0.5%以上、1%以上、3%以上、特に5%以上である。   When the content of SrO increases, the density and the thermal expansion coefficient tend to increase. Therefore, the SrO content is preferably 15% or less, particularly 12% or less. On the other hand, when the content of SrO decreases, the dielectric constant and meltability tend to decrease. Therefore, the content of SrO is preferably 0% or more, 0.5% or more, 1% or more, 3% or more, particularly 5% or more.

BaOの含有量が多くなると、密度、熱膨張係数が高くなり易い。よって、BaOの含有量は、好ましくは40%以下、特に35%以下である。一方、BaOの含有量が少なくなると、誘電率が低下し易くなり、また失透の抑制が困難になる。よって、BaOの含有量は、好ましくは0%以上、0.5%以上、1%以上、2%以上、5%以上、10%以上、15%以上、20%以上、特に25%以上である。   When the content of BaO increases, the density and the thermal expansion coefficient tend to increase. Therefore, the BaO content is preferably 40% or less, particularly 35% or less. On the other hand, when the content of BaO decreases, the dielectric constant tends to decrease, and it becomes difficult to suppress devitrification. Therefore, the content of BaO is preferably 0% or more, 0.5% or more, 1% or more, 2% or more, 5% or more, 10% or more, 15% or more, 20% or more, particularly 25% or more. .

MgO、CaO、SrO及びBaOの各成分は、誘電率、耐失透性、溶融性、成形性を高める成分である。しかし、MgO+CaO+SrO+BaOの含有量(MgO、CaO、SrO及びBaOの合量)が少なくなると、誘電率を高め難くなることに加えて、融剤としての働きを十分に発揮できず、溶融性が低下し易くなる。よって、MgO+CaO+SrO+BaOの含有量は、好ましくは5%以上、10%以上、15%以上、20%以上、25%以上、特に30%以上である。一方、MgO+CaO+SrO+BaOの含有量が多くなると、密度が上昇し易くなる上、ガラス組成の成分バランスが崩れて、逆に耐失透性が低下する傾向にある。よって、MgO+CaO+SrO+BaOの含有量は、好ましくは60%以下、55%以下、特に50%以下である。   Each component of MgO, CaO, SrO, and BaO is a component that improves the dielectric constant, devitrification resistance, meltability, and moldability. However, if the content of MgO + CaO + SrO + BaO (the total amount of MgO, CaO, SrO and BaO) decreases, in addition to the difficulty of increasing the dielectric constant, the function as a flux cannot be fully exhibited, and the meltability decreases. It becomes easy. Therefore, the content of MgO + CaO + SrO + BaO is preferably 5% or more, 10% or more, 15% or more, 20% or more, 25% or more, particularly 30% or more. On the other hand, when the content of MgO + CaO + SrO + BaO increases, the density tends to increase, and the balance of the components of the glass composition is lost, and the devitrification resistance tends to decrease. Therefore, the content of MgO + CaO + SrO + BaO is preferably 60% or less, 55% or less, and particularly 50% or less.

LiO、NaO及びKOの各成分は、粘性を低下させて、熱膨張係数を調整する成分であるが、多量に含有させると、絶縁破壊を起こす電圧が低下し易くなる。また誘電率の温度特性が低下する傾向にある。よって、これらの成分の合量は、好ましくは15%以下、10%以下、5%以下、2%以下、1%以下、0.5%以下、特に0.1%以下である。 Each component of Li 2 O, Na 2 O, and K 2 O is a component that adjusts the thermal expansion coefficient by reducing the viscosity. In addition, the temperature characteristics of dielectric constant tend to decrease. Therefore, the total amount of these components is preferably 15% or less, 10% or less, 5% or less, 2% or less, 1% or less, 0.5% or less, particularly 0.1% or less.

ZnOは、誘電率を高める成分であり、また溶融性を高める成分であるが、多量に含有させると、ガラスが失透し易くなり、また密度が上昇し易くなる。よって、ZnOの含有量は、好ましくは0〜30%、0〜20%、0.5〜15%、特に1〜10%である。   ZnO is a component that increases the dielectric constant and also increases the meltability. However, if it is contained in a large amount, the glass tends to devitrify and the density tends to increase. Therefore, the content of ZnO is preferably 0 to 30%, 0 to 20%, 0.5 to 15%, particularly 1 to 10%.

ZrOは、誘電率を高める成分であるが、多量に含有させると、液相温度が急激に上昇し、ジルコンの失透異物が析出し易くなる。よって、ZrOの上限範囲は20%以下、15%以下、特に10%以下が好ましい。また、ZrOの下限範囲は0%以上、0.1%以上、0.5%以上、1%以上、2%以上、特に3%以上が好ましい。 ZrO 2 is a component that increases the dielectric constant, but if it is contained in a large amount, the liquidus temperature rises rapidly, and devitrified foreign substances of zircon are likely to precipitate. Therefore, the upper limit range of ZrO 2 is preferably 20% or less, 15% or less, and particularly preferably 10% or less. Further, the lower limit range of ZrO 2 is preferably 0% or more, 0.1% or more, 0.5% or more, 1% or more, 2% or more, and particularly preferably 3% or more.

、Nb、Laは、それぞれ20%まで添加することができる。これらの成分は、誘電率等を高める働きがあるが、多く含有させると、密度が上昇し易くなる。 Y 2 O 3 , Nb 2 O 3 , and La 2 O 3 can each be added up to 20%. These components have a function of increasing the dielectric constant and the like, but if they are contained in a large amount, the density tends to increase.

清澄剤として、As、Sb、CeO、SnO、F、Cl、SOの群から選択される一種又は二種以上を0〜3%添加することができる。但し、As、Sb、Fは、環境的観点から、その使用を極力控えることが好ましく、それぞれの含有量は0.1%未満が好ましい。環境的観点から、清澄剤としては、SnO、Cl、SOが好ましい。SnO+Cl+SO(SnO2、Cl、SOの合量)の含有量は0.001〜1%、0.01〜0.5%、特に0.01〜0.3%が好ましい。SnOの含有量は0〜1%、0.01〜0.5%、特に0.05〜0.4%が好ましい。 As a fining agent, 0 to 3% of one or two or more selected from the group of As 2 O 3 , Sb 2 O 3 , CeO 2 , SnO 2 , F, Cl, and SO 3 can be added. However, it is preferable to refrain from using As 2 O 3 , Sb 2 O 3 and F as much as possible from an environmental viewpoint, and the content of each is preferably less than 0.1%. From the environmental point of view, SnO 2 , Cl and SO 3 are preferable as the fining agent. The content of SnO 2 + Cl + SO 3 (total amount of SnO 2, Cl and SO 3 ) is preferably 0.001 to 1%, 0.01 to 0.5%, and particularly preferably 0.01 to 0.3%. The SnO 2 content is preferably 0 to 1%, 0.01 to 0.5%, particularly preferably 0.05 to 0.4%.

上記の成分以外にも、例えば、他の成分を20%、特に10%までガラス組成中に添加することができる。   In addition to the above components, for example, other components can be added to the glass composition up to 20%, in particular up to 10%.

第一のガラスフィルムの液相温度は、好ましくは1200℃以下、1150℃以下、1090℃以下、1050℃以下、1030℃以下、特に1000℃以下である。第一のガラスフィルムの液相温度が高過ぎると、成形時にガラスが失透し易くなるため、第一のガラスフィルムの表面精度を高めることが困難になる。また、第一のガラスフィルムの液相粘度は、好ましくは103.5dPa・s以上、104.0dPa・s以上、104.5dPa・s以上、104.8dPa・s以上、特に105.0dPa・s以上である。第一のガラスフィルムの液相粘度が低過ぎると、成形時にガラスが失透し易くなるため、第一のガラスフィルムの表面精度を高めることが困難になる。なお、「液相粘度」は、液相温度におけるガラスの粘度を白金球引き上げ法で測定した値を指す。「液相温度」は、標準篩30メッシュ(500μm)を通過し、50メッシュ(300μm)に残るガラス粉末を白金ボートに入れ、温度勾配炉中に24時間保持して、結晶が析出する温度を測定した値を指す。 The liquidus temperature of the first glass film is preferably 1200 ° C. or lower, 1150 ° C. or lower, 1090 ° C. or lower, 1050 ° C. or lower, 1030 ° C. or lower, particularly 1000 ° C. or lower. If the liquidus temperature of the first glass film is too high, the glass tends to devitrify during molding, and it is difficult to increase the surface accuracy of the first glass film. Further, the liquid phase viscosity of the first glass film is preferably 10 3.5 dPa · s or more, 10 4.0 dPa · s or more, 10 4.5 dPa · s or more, 10 4.8 dPa · s or more. In particular, it is 10 5.0 dPa · s or more. If the liquidus viscosity of the first glass film is too low, the glass tends to devitrify during molding, and it becomes difficult to increase the surface accuracy of the first glass film. The “liquid phase viscosity” refers to a value obtained by measuring the viscosity of glass at the liquid phase temperature by a platinum ball pulling method. “Liquid phase temperature” refers to the temperature at which crystals pass through a standard sieve 30 mesh (500 μm) and the glass powder remaining on 50 mesh (300 μm) is placed in a platinum boat and kept in a temperature gradient furnace for 24 hours. Refers to the measured value.

第一のガラスフィルムの密度は4.5g/cm以下、4.0g/cm以下、3.6g/cm以下、3.3g/cm以下、3.0g/cm以下、2.8g/cm以下、特に2.5g/cm以下が好ましい。密度が小さい程、デバイスを軽量化し易くなる。ここで、「密度」は、周知のアルキメデス法で測定した値を指す。 The density of the first glass film is 4.5 g / cm 3 or less, 4.0 g / cm 3 or less, 3.6 g / cm 3 or less, 3.3 g / cm 3 or less, 3.0 g / cm 3 or less. It is preferably 8 g / cm 3 or less, particularly 2.5 g / cm 3 or less. The smaller the density, the easier it is to reduce the weight of the device. Here, “density” refers to a value measured by the well-known Archimedes method.

第一のガラスフィルムの熱膨張係数は、好ましくは25×10−7〜120×10−7/℃、30×10−7〜120×10−7/℃、40×10−7〜110×10−7/℃、60×10−7〜100×10−7/℃、特に70×10−7〜95×10−7/℃である。第一のガラスフィルムの熱膨張係数が上記範囲外になると、第一のガラスフィルムと金属膜の熱膨張係数が整合し難くなるため、金属膜の反りを防止し難くなる。ここで、「熱膨張係数」は、30〜380℃の温度範囲において、ディラトメーターにより測定した平均値を指す。 The thermal expansion coefficient of the first glass film is preferably 25 × 10 −7 to 120 × 10 −7 / ° C., 30 × 10 −7 to 120 × 10 −7 / ° C., and 40 × 10 −7 to 110 × 10. −7 / ° C., 60 × 10 −7 to 100 × 10 −7 / ° C., particularly 70 × 10 −7 to 95 × 10 −7 / ° C. If the thermal expansion coefficient of the first glass film is out of the above range, the thermal expansion coefficients of the first glass film and the metal film are difficult to match, making it difficult to prevent the metal film from warping. Here, the “thermal expansion coefficient” refers to an average value measured with a dilatometer in a temperature range of 30 to 380 ° C.

第一のガラスフィルムの102.5dPa・sにおける温度は、好ましくは1550℃以下、1450℃以下、1350℃以下、1250℃以下、1200℃以下、1170℃以下、特に1150℃以下である。第一のガラスフィルムの102.5dPa・sにおける温度が低い程、低温でガラスを溶融し易くなり、第一のガラスフィルムの製造コストを低廉化し易くなる。ここで、「102.5dPa・sにおける温度」は、白金球引き上げ法で測定した値を指す。 The temperature at 10 2.5 dPa · s of the first glass film is preferably 1550 ° C. or lower, 1450 ° C. or lower, 1350 ° C. or lower, 1250 ° C. or lower, 1200 ° C. or lower, 1170 ° C. or lower, particularly 1150 ° C. or lower. The lower the temperature at 10 2.5 dPa · s of the first glass film, the easier it is to melt the glass at a low temperature, and the manufacturing cost of the first glass film is likely to be reduced. Here, “temperature at 10 2.5 dPa · s” refers to a value measured by a platinum ball pulling method.

第一のガラスフィルムは未研磨の表面を有することが好ましく、第一のガラスフィルムの第一の表面と第二の表面の全部が未研磨であることが特に好ましい。ガラスの理論強度は非常に高いが、理論強度よりも遥かに低い応力でも破壊に至ることが多い。これは、ガラスの表面にグリフィスフローと呼ばれる小さな欠陥が成形後の工程、例えば研磨工程等で生じるからである。そこで、第一のガラスフィルムの表面を未研磨にすれば、本来の機械的強度を損ない難くなり、第一のガラスフィルムが破壊し難くなる。なお、リドロー法又はオーバーフローダウンドロー法であれば、未研磨で表面精度が高い第一のガラスフィルムを成形することができる。   The first glass film preferably has an unpolished surface, and it is particularly preferred that all of the first surface and the second surface of the first glass film are unpolished. Although the theoretical strength of glass is very high, it often leads to fracture even at a stress much lower than the theoretical strength. This is because a small defect called Griffith flow is generated on the surface of the glass in a post-molding process such as a polishing process. Therefore, if the surface of the first glass film is unpolished, the original mechanical strength is difficult to be damaged, and the first glass film is difficult to break. In addition, if it is a redraw method or an overflow downdraw method, the 1st glass film with high surface precision which is not grind | polished can be shape | molded.

第一のガラスフィルムはリドロー法で成形されていることが好ましい。このようにすれば、第一のガラスフィルムの厚みを低減し易くなる。また第一のガラスフィルムの表面品位を高めることができる。更に第一のガラスフィルムの両端面を火造り面にすることが可能になる。そして、両端面が火造り面であれば、第一のガラスフィルムが端面から破損し難くなる。なお、「リドロー法」は、成形済みのガラスを再度、軟化点付近の温度にまで加熱した後、延伸成形してガラスフィルムを成形する方法である。   The first glass film is preferably formed by a redraw method. If it does in this way, it will become easy to reduce the thickness of the 1st glass film. Moreover, the surface quality of the first glass film can be improved. Furthermore, it becomes possible to make the both end surfaces of a 1st glass film into a fire-making surface. And if a both-ends surface is a fire-making surface, it will become difficult to damage a 1st glass film from an end surface. The “redraw method” is a method for forming a glass film by heating a molded glass again to a temperature near the softening point, followed by stretching.

第一のガラスフィルムの成形方法として、リドロー法以外にも、種々の方法を採用することができる。例えば、オーバーフローダウンドロー法、スロットダウンドロー法、リドロー法等を採用することができる。なお、「オーバーフローダウンドロー法」は、フュージョン法とも称されており、溶融ガラスを耐熱性の樋状構造物の両側から溢れさせて、溢れた溶融ガラスを樋状構造物の下端で合流させながら、下方に延伸成形して第一のガラスフィルムを成形する方法である。オーバーフローダウンドロー法で第一のガラスフィルムを成形すれば、第一のガラスフィルムの表面品位を高めることができる。   Various methods other than the redraw method can be employed as the first glass film forming method. For example, an overflow down draw method, a slot down draw method, a redraw method, or the like can be employed. The “overflow down draw method” is also called a fusion method, and the molten glass overflows from both sides of the heat-resistant cage-like structure, and the overflowing molten glass is joined at the lower end of the cage-like structure. In this method, the first glass film is formed by drawing downward. If the first glass film is formed by the overflow down draw method, the surface quality of the first glass film can be improved.

第二の絶縁フィルムをガラスフィルムとする場合、上述した一方の絶縁フィルム7のガラス組成、物性、形状、表面性状、寸法、成形条件などの少なくとも1つを同一にすることが可能である。もちろん、コスト面や生産性の面で特に問題ないようであれば、ガラス組成、物性、形状、表面性状、寸法、成形条件などが異なるガラスフィルムを第二の絶縁フィルムに用いてもかまわない。   When the second insulating film is a glass film, it is possible to make at least one of the glass composition, physical properties, shape, surface properties, dimensions, molding conditions, etc. of the one insulating film 7 described above the same. Of course, glass films with different glass compositions, physical properties, shapes, surface properties, dimensions, molding conditions, and the like may be used for the second insulating film as long as there is no particular problem in terms of cost and productivity.

第一及び第二のガラスフィルムの材質としては、割れ難く、可撓性が高いものがより好ましいが、巻き取れるものであれば前述のガラス組成に限られず、種々の材質が使用可能であり、例えば、無アルカリガラス、ソーダガラス、アルカリ含有ガラス等が挙げられる。   As the material of the first and second glass films, those that are difficult to break and highly flexible are more preferable, but not limited to the glass composition described above as long as they can be wound, various materials can be used, For example, non-alkali glass, soda glass, alkali-containing glass and the like can be mentioned.

第二のフィルムとしてガラスフィルムを用いた場合、第二のガラスフィルムの厚みは、(第二のガラスフィルムの厚み/第一のガラスフィルムの厚み)比で、好ましくは0.3以上、0.4以上、0.5以上、0.6以上、0.7以上、0.8以上、特に0.9以上であり、更に、好ましくは3.0以下、2.5以下、2.0以下、1.8以下、1.5以下、1.3以下、1.2以下、1.1以下、特に1.05以下である。   When a glass film is used as the second film, the thickness of the second glass film is preferably (the thickness of the second glass film / the thickness of the first glass film), preferably 0.3 or more and 0.0. 4 or more, 0.5 or more, 0.6 or more, 0.7 or more, 0.8 or more, particularly 0.9 or more, more preferably 3.0 or less, 2.5 or less, 2.0 or less, 1.8 or less, 1.5 or less, 1.3 or less, 1.2 or less, 1.1 or less, particularly 1.05 or less.

また、第一のガラスフィルムと第二のガラスフィルムを巻きとる際には、各ガラスフィルムの巻取り速度や巻取り角度、巻取り方向等の製造条件を適切に管理することでガラスフィルム同士の擦接や不当な応力集中を抑制でき、ガラスフィルムの破壊確率を低下させることができる。   Moreover, when winding up the first glass film and the second glass film, by appropriately managing the manufacturing conditions such as the winding speed and winding angle of each glass film and the winding direction, Rubbing and unreasonable stress concentration can be suppressed, and the probability of breaking the glass film can be reduced.

なお、本発明の巻回型フィルムコンデンサは、本願発明の主旨を変更しない範囲であれば、当然に様々な形態が採用できる。すなわち、第一の金属膜が第一の絶縁フィルムの前記第一の表面に成膜されており、第二の金属膜が第二の絶縁フィルムの前記第三の表面に成膜されているものであってもよい。このようにすることで、一枚の絶縁フィルムにつき一つの導電層(金属膜)を形成すればよいので、条件によっては、一枚の絶縁フィルムに二つの導電層を設ける場合よりも当該絶縁フィルムの厚み寸法を小さくできる上、第一の金属膜付き第一の絶縁フィルムと、第二の金属膜付き第二の絶縁フィルムとを同一の構成にした場合は、コストや生産管理の点で有利である。   In addition, naturally the various form is employable as long as the winding type film capacitor of this invention is a range which does not change the main point of this invention. That is, the first metal film is formed on the first surface of the first insulating film, and the second metal film is formed on the third surface of the second insulating film It may be. In this way, one conductive layer (metal film) may be formed per one insulating film, so that depending on conditions, the insulating film may be more than the case where two conductive layers are provided on one insulating film. In addition, the first insulating film with the first metal film and the second insulating film with the second metal film have the same configuration, which is advantageous in terms of cost and production control. It is.

更には、コンデンサを構成する巻回体の中心に、巻回体をその幅方向に貫通するコアを有するものであってもよいし、コアを有さずに貫通穴を設けたものであってもよい。このように構成することで、インダクタンスの増加を抑制して、高周波域におけるインピーダンスの上昇を可及的に回避することが可能となる上、コンデンサを軽量化できる。なお、巻回体の中心に貫通穴を設けた巻回型フィルムコンデンサを作製する方法としては、例えばガラスフィルムをコアに巻き取った後、コアを除去することで得られる。   Furthermore, it may have a core that penetrates the winding body in the width direction at the center of the winding body that constitutes the capacitor, or may have a through hole without having a core. Also good. With this configuration, an increase in inductance can be suppressed and an increase in impedance in a high frequency range can be avoided as much as possible, and a capacitor can be reduced in weight. In addition, as a method of producing the winding type film capacitor which provided the through-hole in the center of a wound body, for example, after winding a glass film around a core, it is obtained by removing a core.

図3は、本発明に係る巻回体の一例を示す斜視図である。図3は、第一及び第二の導電層10,12と第一及び第二の絶縁フィルム11,13を仮想的に展開した状態を二点鎖線で示している。本実施形態に係る巻回体16は、第一及び第二の導電層10,12をともに金属膜とし、かつ第一の金属膜(第一の導電層10)が第一の絶縁フィルム11の第一の表面(ここでは外側の表面)11aに成膜されており、第二の金属膜(第二の導電層12)が第二の絶縁フィルム13の第三の表面(ここでは外側の表面)13aに成膜されている。そして、巻回体2の半径方向外側から、第一の導電層5、第一の絶縁フィルム7、第二の導電層6、第二の絶縁フィルム8の順に配置されるよう、二枚の絶縁フィルム7,8をロール状に巻き取った形状をなし、中心には貫通穴18が設けられている。なお、巻回体16の類似の実施形態として、巻回体16の半径方向外側から第一の絶縁フィルム11、第一の導電層10、第二の絶縁フィルム13、第二の導電層12の順に配置してもよい。   FIG. 3 is a perspective view showing an example of a wound body according to the present invention. FIG. 3 shows a state where the first and second conductive layers 10 and 12 and the first and second insulating films 11 and 13 are virtually developed by a two-dot chain line. In the wound body 16 according to this embodiment, the first and second conductive layers 10 and 12 are both metal films, and the first metal film (first conductive layer 10) is the first insulating film 11. The second metal film (second conductive layer 12) is formed on the first surface (here, the outer surface) 11a, and the third surface (here, the outer surface) of the second insulating film 13 is formed. ) 13a. Then, from the outside in the radial direction of the wound body 2, two insulating layers are arranged so that the first conductive layer 5, the first insulating film 7, the second conductive layer 6, and the second insulating film 8 are arranged in this order. The film 7 and 8 are rolled up, and a through hole 18 is provided at the center. As a similar embodiment of the wound body 16, the first insulating film 11, the first conductive layer 10, the second insulating film 13, and the second conductive layer 12 are formed from the outside in the radial direction of the wound body 16. You may arrange in order.

本発明の巻回型フィルムコンデンサは、耐熱性が高いため、高温環境下でも性能を発揮することができる。すなわち、高温環境下においても静電容量、誘電損失、等価直列抵抗等の特性が低下しないため、周囲の温度変動による性能ばらつきが少なく、信頼性が非常に高い。   Since the wound film capacitor of the present invention has high heat resistance, it can exhibit performance even in a high temperature environment. That is, since characteristics such as capacitance, dielectric loss, and equivalent series resistance do not deteriorate even in a high temperature environment, there is little performance variation due to ambient temperature fluctuations, and reliability is very high.

本発明の巻回型フィルムコンデンサは、静電容量に関し、測定値(26〜150℃)/測定値(室温26℃)の値が、±10%以内であり、好ましくは±5%以内、±4%以内、±3%以内、±2%以内、±1.5%以内である。   The wound film capacitor of the present invention has a measured value (26 to 150 ° C.) / Measured value (room temperature 26 ° C.) within ± 10%, preferably ± 5%, ± Within 4%, within ± 3%, within ± 2%, within ± 1.5%.

本発明の巻回型フィルムコンデンサは、誘電損失に関し、測定値(26〜150℃)/測定値(室温26℃)の値が、±10%以内であり、好ましくは±8%以内、±6%以内、±5%以内、±4%以内、±3%以内である。   The wound film capacitor of the present invention has a measured value (26 to 150 ° C.) / Measured value (room temperature 26 ° C.) within ± 10%, preferably within ± 8%, ± 6 regarding dielectric loss. %, ± 5%, ± 4%, and ± 3%.

本発明の巻回型フィルムコンデンサは、等価直列抵抗に関し、測定値(26〜150℃)/測定値(室温26℃)の値が、±10%以内であり、好ましくは±5%以内、±4%以内、±3%以内、±2%以内、±1.5%以内である。   The wound film capacitor of the present invention has a measured value (26 to 150 ° C.) / Measured value (room temperature 26 ° C.) within ± 10%, preferably within ± 5%, ± Within 4%, within ± 3%, within ± 2%, within ± 1.5%.

以下、実施例に基づいて、本発明を詳細に説明する。但し、本発明は以下の実施例に何ら限定されない。以下の実施例は単なる例示である。
[実施例1]
<ガラス基材の作製>
まず表1に記載のガラス組成になるように、ガラス原料を調合した後、得られたガラスバッチをガラス溶融炉に供給して1500〜1600℃で溶融した。次に、得られた溶融ガラスをカーボン板の上に流し出し、平板形状に成形した後、歪点より室温まで10時間かけて徐冷処理を行った。最後に、得られたガラス板について、必要に応じて加工を行い、種々の特性を評価した。その結果を表1に示す。
Hereinafter, based on an Example, this invention is demonstrated in detail. However, the present invention is not limited to the following examples. The following examples are merely illustrative.
[Example 1]
<Production of glass substrate>
First, after preparing a glass raw material so that it might become a glass composition of Table 1, the obtained glass batch was supplied to the glass melting furnace, and it fuse | melted at 1500-1600 degreeC. Next, after the obtained molten glass was poured on a carbon plate and formed into a flat plate shape, a slow cooling treatment was performed from the strain point to room temperature over 10 hours. Finally, the obtained glass plate was processed as necessary to evaluate various properties. The results are shown in Table 1.

密度は、周知のアルキメデス法で測定した値である。   The density is a value measured by a well-known Archimedes method.

歪点と徐冷点は、ASTM C336−71の方法に基づいて測定した値である。   The strain point and the annealing point are values measured based on the method of ASTM C336-71.

軟化点は、ASTM C338−93の方法に基づいて測定した値である。   The softening point is a value measured based on the method of ASTM C338-93.

高温粘度104.0dPa・s、103.0dPa・s及び102.5dPa・sにおける温度は、白金球引き上げ法で測定した値である。 The temperatures at high temperature viscosities of 10 4.0 dPa · s, 10 3.0 dPa · s and 10 2.5 dPa · s are values measured by the platinum ball pulling method.

熱膨張係数は、30〜380℃の温度範囲において、ディラトメーターにより測定した平均値である。   The thermal expansion coefficient is an average value measured with a dilatometer in a temperature range of 30 to 380 ° C.

液相温度は、標準篩30メッシュ(500μm)を通過し、50メッシュ(300μm)に残るガラス粉末を白金ボートに入れ、温度勾配炉中に24時間保持して、結晶が析出する温度を測定した値である。   The liquid phase temperature passed through a standard sieve 30 mesh (500 μm), the glass powder remaining in 50 mesh (300 μm) was placed in a platinum boat and held in a temperature gradient furnace for 24 hours, and the temperature at which crystals precipitated was measured. Value.

液相粘度は、液相温度におけるガラスの粘度を白金球引き上げ法で測定した値である。   The liquid phase viscosity is a value obtained by measuring the viscosity of glass at the liquid phase temperature by a platinum ball pulling method.

誘電率は、ASTM D150に準拠した方法により測定した値である。
<コンデンサの作製>
上記試料No.1〜9に係るガラス板を軟化点付近まで加熱した後、リドロー法により延伸成形して、長さ寸法19.3m、幅寸法25mm、厚み10μmの第一のガラスフィルム及び長さ寸法19.3m、幅寸法22mm、厚み9μmであり、第一のガラスフィルムと同一材質の第二のガラスフィルムを得た。それぞれのガラスフィルムの平均表面粗さRaは0.2nmであった。
The dielectric constant is a value measured by a method based on ASTM D150.
<Production of capacitor>
Sample No. above. The glass plate according to 1 to 9 is heated to the vicinity of the softening point, and then stretch-molded by a redraw method to obtain a first glass film having a length dimension of 19.3 m, a width dimension of 25 mm, and a thickness of 10 μm, and a length dimension of 19.3 m. A second glass film having a width of 22 mm and a thickness of 9 μm and made of the same material as the first glass film was obtained. Each glass film had an average surface roughness Ra of 0.2 nm.

次に、得られた第一のガラスフィルムの第一の表面と第二の表面に対して、65nm厚の銀合金膜(第一の金属膜と第二の金属膜に相当する)を成膜した。このとき、銀合金膜は株式会社フルヤ金属製「APC−TR」を用いてスパッタにより成膜した。成膜に際し、第一の表面の一方の端面から6.5mmの領域をマスキングし、その部分について銀合金膜が成膜されないようにした。更に、第二の表面の一方の端面から6.5mmの領域をマスキングし、その部分について銀合金膜が成膜されないようにした。ここで、銀合金膜が成膜されていない部分は、第一のガラスフィルムの厚み方向から見て、互いに相対しないようにした。そして、銀合金膜を成膜した後、マスキングを除去した。なお、図4は、第一のガラスフィルム11の第一の表面11aと第二の表面11bに対して銀合金膜(10、12)が成膜された状態を示す幅方向の断面概念図である。   Next, a 65 nm thick silver alloy film (corresponding to the first metal film and the second metal film) is formed on the first surface and the second surface of the obtained first glass film. did. At this time, the silver alloy film was formed by sputtering using “APC-TR” manufactured by Furuya Metal Co., Ltd. During film formation, a region of 6.5 mm from one end face of the first surface was masked so that no silver alloy film was formed on that portion. Furthermore, a 6.5 mm region from one end face of the second surface was masked so that no silver alloy film was formed on that portion. Here, the portions where the silver alloy film was not formed were not opposed to each other when viewed from the thickness direction of the first glass film. And after forming a silver alloy film, masking was removed. FIG. 4 is a conceptual cross-sectional view in the width direction showing a state in which a silver alloy film (10, 12) is formed on the first surface 11a and the second surface 11b of the first glass film 11. is there.

続いて、第一のガラスフィルムと第二のガラスフィルムを重ねて、φ50mmのコアに巻き付けた。その後、コアを除去した。   Subsequently, the first glass film and the second glass film were overlapped and wound around a core of φ50 mm. Thereafter, the core was removed.

コアを除去した後、第一のガラスフィルムの一方の端面に導電性ペーストを塗布することにより、第一の表面上の金属膜(第一の金属膜に相当する)の端部全体が電気的に接続し、且つ第二の表面上の金属膜(第二の金属膜に相当する)の端部全体が電気的に接続しないように、巻回体の側面に電極(第一の電極に相当する)を形成した。同様な手順により、第一のガラスフィルムの他方の端面に導電性ペーストを塗布することにより、第二の表面上の金属膜(第二の金属膜に相当する)の端部全体が電気的に接続し、且つ第一の表面上の金属膜(第一の金属膜に相当する)の端部全体が電気的に接続しないように、巻回体の他方の側面に電極(第二の電極に相当する)を形成した。ここで、導電性ペーストとして、アレムコ社製パイロダクト597−Aを用いた。このとき、導電性ペーストに少量の水を添加することで電極として塗布しやすい粘度に調整し、端面に塗布した後、95℃にて2時間保持することで硬化させた。このようにして、試料No.1〜9に係る巻回型フィルムコンデンサを作製した。   After removing the core, the entire end of the metal film (corresponding to the first metal film) on the first surface is electrically applied by applying a conductive paste to one end surface of the first glass film. And an electrode (corresponding to the first electrode) on the side surface of the wound body so that the entire end of the metal film (corresponding to the second metal film) on the second surface is not electrically connected Formed). By applying a conductive paste to the other end face of the first glass film by a similar procedure, the entire end of the metal film (corresponding to the second metal film) on the second surface is electrically Connect the other end of the metal film on the first surface (corresponding to the first metal film) so as not to be electrically connected. Corresponding). Here, Pyroduct 597-A manufactured by Alemco was used as the conductive paste. At this time, a small amount of water was added to the conductive paste to adjust the viscosity so that it could be easily applied as an electrode, and after applying to the end face, it was cured by holding at 95 ° C. for 2 hours. In this way, sample no. The wound type film capacitor concerning 1-9 was produced.

試料No.1について、得られた巻回型フィルムコンデンサの静電容量をインピーダンスアナライザ(ソーラトロン社製1260型、測定条件:周波数1Hz〜32MHz、印加電圧100mV)を用いて測定したところ、図5に示す結果が得られた。1Hzでのインピーダンスより静電容量を算出したところ、2.3μFであった。また、大気中にて150℃で1時間熱処理後にテスターにて電極膜の抵抗をデジタルマルチメーター(カスタム社製M‐04)で測定したところ、変化が認められなかった。また、上述した手法と同様な手順により静電容量を測定したところ、2.3μFであり、熱処理前後で変化がなかった。外観において金属膜及び電極に破損等は確認されなかった。
[実施例2]
第一のガラスフィルムの幅寸法を50mm、厚みを20μmに、第二のガラスフィルムの幅寸法を45mm、厚みを18μmに変更したこと以外は、[実施例1]と同様の条件で試料No.1に係る巻回型フィルムコンデンサを作製した。
[実施例3]
成膜に際して、第一の表面の一方の端面から4.7mmの領域をマスキングし、第一のガラスフィルムの幅寸法を25.4mm、長さ寸法を12.1mとし、電極としてITWChemtronics社製CW2400を用いた以外は、[実施例1]と同様の条件で試料No.1に係る巻回型フィルムコンデンサを作製した。
Sample No. 1 was measured using an impedance analyzer (Solartron 1260 type, measurement conditions: frequency 1 Hz to 32 MHz, applied voltage 100 mV), the result shown in FIG. Obtained. When the capacitance was calculated from the impedance at 1 Hz, it was 2.3 μF. Further, when the resistance of the electrode film was measured with a digital multimeter (M-04 manufactured by Custom Corp.) with a tester after heat treatment at 150 ° C. for 1 hour in the atmosphere, no change was observed. Moreover, when the electrostatic capacitance was measured by the same procedure as described above, it was 2.3 μF, and there was no change before and after the heat treatment. In appearance, the metal film and the electrode were not damaged.
[Example 2]
Except that the width of the first glass film was changed to 50 mm and the thickness to 20 μm, the width of the second glass film was changed to 45 mm, and the thickness was changed to 18 μm, sample No. 1 was used under the same conditions as in [Example 1]. 1 was produced.
[Example 3]
At the time of film formation, an area of 4.7 mm from one end surface of the first surface is masked, the width dimension of the first glass film is 25.4 mm, the length dimension is 12.1 m, and CW2400 manufactured by ITW Chemtronics is used as an electrode. Sample No. 5 was used under the same conditions as in [Example 1], except that 1 was produced.

得られた巻回型フィルムコンデンサの静電容量をインピーダンスアナライザ(ソーラトロン社製1260型、測定条件:周波数1Hz〜32MHz、印加電圧100mV)を用いて測定した。1Hzでのインピーダンスより静電容量を算出したところ、1.91μFであった。その後、雰囲気温度を室温(26℃)、50℃、75℃、100℃、125℃、150℃の順に変化させて、静電容量、誘電損失、等価直列抵抗を測定したところ、表2に示す結果が得られた。なお、外観において金属膜及び電極に破損等は確認されなかった。   The capacitance of the obtained wound film capacitor was measured using an impedance analyzer (Solartron 1260 type, measurement conditions: frequency 1 Hz to 32 MHz, applied voltage 100 mV). The capacitance was calculated from the impedance at 1 Hz to be 1.91 μF. Thereafter, the capacitance, dielectric loss, and equivalent series resistance were measured by changing the ambient temperature in the order of room temperature (26 ° C.), 50 ° C., 75 ° C., 100 ° C., 125 ° C., and 150 ° C. Results were obtained. In addition, the appearance of the metal film and the electrode were not damaged.

[比較例1]
金属膜を銅膜、電極として、ITWChemtronics社製CW2400を用いた以外、全て実施例1と同様な構成として巻回型フィルムコンデンサを作製した。大気中にて150℃で1時間熱処理後にテスターにて電極膜の抵抗をデジタルマルチメーター(カスタム社製M‐04)で測定を試みたが、金属膜は通電しなかった。さらに温度を300℃にあげて熱処理したところ、電極に亀裂が認められた。
[Comparative Example 1]
A wound film capacitor was fabricated with the same configuration as in Example 1 except that CW2400 manufactured by ITW Chemtronics was used as the copper film and the electrode as the metal film. After the heat treatment at 150 ° C. for 1 hour in the atmosphere, the resistance of the electrode film was measured with a digital multimeter (M-04 manufactured by Custom Corp.) with a tester, but the metal film was not energized. Furthermore, when the temperature was increased to 300 ° C., the electrode was cracked.

1 巻回型フィルムコンデンサ
10 第一の金属膜(第一の導電層)
11 第一の絶縁フィルム(ガラスフィルム)
11a 第一の表面
11b 第二の表面
12 第二の金属膜(第二の導電層)
13 第二の絶縁フィルム
13a 第三の表面
14 第一の電極
15 第二の電極
16 巻回体
17 コア
18 貫通穴
1 wound film capacitor 10 first metal film (first conductive layer)
11 First insulation film (glass film)
11a First surface 11b Second surface 12 Second metal film (second conductive layer)
13 Second insulating film 13a Third surface 14 First electrode 15 Second electrode 16 Winding body 17 Core 18 Through hole

Claims (17)

第一及び第二の導電層と、第一及び第二の絶縁フィルムとが、前記第一の導電層、前記第一の絶縁フィルム、前記第二の導電層、前記第二の絶縁フィルムの順に重なり合った状態でロール状に巻き取られた形態をなす巻回体を備えた巻回型フィルムコンデンサであって、
前記第一の絶縁フィルムは厚み方向で相反する向きを指向する第一の表面と第二の表面とを有し、
前記第二の絶縁フィルムは厚み方向で相反する向きを指向する第三の表面と第四の表面とを有するとともに、
前記第一の表面と前記第三の表面、前記第二の表面と前記第四の表面とは各々同じ向きを指向しており、
少なくとも前記第一の絶縁フィルムはガラスフィルムであって、かつ
少なくとも前記第一の導電層が50℃以上の耐熱性を有する金属膜である巻回型フィルムコンデンサ。
The first and second conductive layers and the first and second insulating films are in the order of the first conductive layer, the first insulating film, the second conductive layer, and the second insulating film. A wound film capacitor including a wound body that is wound into a roll shape in an overlapping state,
The first insulating film has a first surface and a second surface oriented in opposite directions in the thickness direction,
The second insulating film has a third surface and a fourth surface directed in opposite directions in the thickness direction, and
The first surface and the third surface, the second surface and the fourth surface are each directed in the same direction,
A wound film capacitor in which at least the first insulating film is a glass film, and at least the first conductive layer is a metal film having heat resistance of 50 ° C. or higher.
前記第二の絶縁フィルムはガラスフィルムである請求項1に記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The wound film capacitor according to claim 1, wherein the second insulating film is a glass film. 前記第一及び第二の導電層はともに50℃以上の耐熱性を有する金属膜であり、前記第一の絶縁フィルムの前記第一の表面と前記第二の表面にそれぞれ成膜されている請求項1又は2に記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The first and second conductive layers are both metal films having a heat resistance of 50 ° C. or higher, and are formed on the first surface and the second surface of the first insulating film, respectively. Item 3. A wound film capacitor according to Item 1 or 2. 前記第一及び第二の導電層はともに50℃以上の耐熱性を有する金属膜であり、前記第一の絶縁フィルムの前記第一の表面と前記第二の絶縁フィルムの前記第三の表面にそれぞれ成膜されている請求項1又は2に記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The first and second conductive layers are both metal films having a heat resistance of 50 ° C. or more, and are formed on the first surface of the first insulating film and the third surface of the second insulating film. The wound film capacitor according to claim 1 or 2, wherein each film is formed. 前記第一の導電層は前記幅方向一方を指向する第一の側端面と、前記幅方向他方を指向する第二の側端面とを有し、
前記第二の導電層は前記幅方向一方を指向する第三の側端面と、前記幅方向他方を指向する第四の側端面とを有し、
前記第一の導電層の前記第二の側端面は、前記第二の導電層の前記第四の側端面よりも前記幅方向一方の側にオフセットしており、かつ
前記第二の導電層の前記第三の側端面は、前記第一の導電層の前記第一の側端面よりも前記幅方向他方の側にオフセットしている請求項1〜4の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。
The first conductive layer has a first side end face that faces one side in the width direction and a second side end face that faces the other side in the width direction,
The second conductive layer has a third side end face that faces one side in the width direction, and a fourth side end face that faces the other side in the width direction,
The second side end surface of the first conductive layer is offset to one side in the width direction from the fourth side end surface of the second conductive layer, and the second conductive layer 5. The wound film capacitor according to claim 1, wherein the third side end face is offset to the other side in the width direction from the first side end face of the first conductive layer. .
前記巻回体の幅方向一方の側に、前記第一の導電層と接しかつ前記第二の導電層と離れている第一の電極が設けられ、
前記巻回体の幅方向他方の側に、前記第二の導電層と接しかつ前記第一の導電層と離れている第二の電極が設けられている請求項1〜5の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。
A first electrode in contact with the first conductive layer and separated from the second conductive layer is provided on one side in the width direction of the wound body,
The second electrode in contact with the second conductive layer and separated from the first conductive layer is provided on the other side in the width direction of the wound body. Winding film capacitor.
前記第一及び/又は第二の電極が50℃以上の耐熱性を有する請求項6に記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The wound film capacitor according to claim 6, wherein the first and / or second electrode has a heat resistance of 50 ° C. or higher. 前記第一及び/又は第二の電極が、金属粉末を分散させた無機物からなることを特徴とする請求項6又は7に記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The wound film capacitor according to claim 6 or 7, wherein the first and / or second electrode is made of an inorganic material in which metal powder is dispersed. 前記第一の絶縁フィルムの厚み寸法が50μm以下である請求項1〜8の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The wound film capacitor according to any one of claims 1 to 8, wherein the first insulating film has a thickness of 50 µm or less. 前記巻回体の最小巻き取り径が100mm以下である請求項1〜9の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The wound film capacitor according to any one of claims 1 to 9, wherein a minimum winding diameter of the wound body is 100 mm or less. 前記第一の絶縁フィルムの長尺方向寸法が0.05m以上である請求項1〜10の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The wound film capacitor according to any one of claims 1 to 10, wherein a dimension in a longitudinal direction of the first insulating film is 0.05 m or more. 前記第一の絶縁フィルムの幅方向寸法を前記第一の絶縁フィルムの厚み寸法で除した値が1000以上である請求項1〜11の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The wound film capacitor according to any one of claims 1 to 11, wherein a value obtained by dividing a width direction dimension of the first insulating film by a thickness dimension of the first insulating film is 1000 or more. 前記第一の絶縁フィルムとしてのガラスフィルムの比誘電率が5.0以上である請求項1〜12の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The winding film capacitor according to any one of claims 1 to 12, wherein the glass film as the first insulating film has a relative dielectric constant of 5.0 or more. 前記第一の絶縁フィルムの厚み方向一方を指向する第一の表面又は前記厚み方向他方を指向する第二の表面の算術平均粗さRaが5nm以下である請求項1〜13の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The arithmetic average roughness Ra of the first surface oriented in one thickness direction of the first insulating film or the second surface oriented in the other thickness direction is 5 nm or less. Winding film capacitor. 前記第一の絶縁フィルムとしてのガラスフィルムが、質量%で、SiO:20〜70%、Al:0〜20%、B:0〜17%、MgO:0〜10%、CaO:0〜15%、SrO:0〜15%、BaO:0〜40%を含有するガラス組成をなす請求項1〜14の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。 Glass film as the first insulating film, in mass%, SiO 2: 20~70%, Al 2 O 3: 0~20%, B 2 O 3: 0~17%, MgO: 0~10% The wound film capacitor according to any one of claims 1 to 14, which has a glass composition containing CaO: 0 to 15%, SrO: 0 to 15%, BaO: 0 to 40%. 前記第一の絶縁フィルムとしてのガラスフィルムの巻き終わり及び/又は巻き始め側の長尺方向端部において、前記ガラスフィルムの表面同士が直接密着している請求項1〜15の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The surface of the said glass film is closely_contact | adhering directly in the elongate direction edge part of the winding end of the glass film as said 1st insulating film, and / or the winding start side. Winding film capacitor. 前記巻回体の中心に、前記巻回体をその幅方向に貫通する貫通穴が設けられている請求項1〜16の何れかに記載の巻回型フィルムコンデンサ。   The wound film capacitor according to any one of claims 1 to 16, wherein a through-hole penetrating the wound body in the width direction is provided at a center of the wound body.
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