JP2025001381A - 標点打刻装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】簡易な構成で、精度良く試験体の表面に標点を打刻できる標点打刻装置を提供する。
【解決手段】標点打刻装置1は、長尺な試験体Tの表面に複数の標点P1,P2を打刻する。標点打刻装置1の基台2は、水平方向に沿って延びるベース部10と、ベース部10に取り付けられ、試験体Tを下方から支持する支持部20と、支持部20の上方位置に設けられ、打刻具3を取り付けるための取付部30と、ベース部10の延在方向において支持部20の側方位置に配置され、支持部20に支持された試験体Tの軸方向の一端部T1bに当接して、試験体Tの軸方向における位置を決める位置決め部50と、取付部30に設けられ、支持部20に支持された試験体Tを上方から固定する固定部40と、を有する。位置決め部50は、支持部20に対して延在方向に移動し、支持部20に支持された試験体Tの軸方向における位置を調整可能である。
【選択図】図2
【解決手段】標点打刻装置1は、長尺な試験体Tの表面に複数の標点P1,P2を打刻する。標点打刻装置1の基台2は、水平方向に沿って延びるベース部10と、ベース部10に取り付けられ、試験体Tを下方から支持する支持部20と、支持部20の上方位置に設けられ、打刻具3を取り付けるための取付部30と、ベース部10の延在方向において支持部20の側方位置に配置され、支持部20に支持された試験体Tの軸方向の一端部T1bに当接して、試験体Tの軸方向における位置を決める位置決め部50と、取付部30に設けられ、支持部20に支持された試験体Tを上方から固定する固定部40と、を有する。位置決め部50は、支持部20に対して延在方向に移動し、支持部20に支持された試験体Tの軸方向における位置を調整可能である。
【選択図】図2
Description
本発明は、標点打刻装置に係り、特に、長尺な試験体の表面に複数の標点を打刻するための標点打刻装置に関する。
ターンバックルの引張試験では、試験体のネジ部の伸びを測定することが定められている。ネジ部の伸びを測定するためには、長尺なネジ部の表面に2つの標点を打刻して、標点間を測定する必要がある。標点を打刻する試験体は、円柱状であり安定しないため、正確かつ安全に標点を打刻するのが難しかった。
そこで、特許文献1、特許文献2では、長尺な試験体に標点を打刻するために、試験体を下方から支持する基台と、標点を打刻するための打刻具と、を備えた装置が提案されている。
そこで、特許文献1、特許文献2では、長尺な試験体に標点を打刻するために、試験体を下方から支持する基台と、標点を打刻するための打刻具と、を備えた装置が提案されている。
特許文献1に記載の装置では、基台に支持された円筒状の試験体が天板部に覆われることで固定される。そして、天板部に形成された貫通孔を内包するようにガイド筒が天板部に配置される。ガイド筒に挿入されたポンチを錘で叩打することで、標点が試験体に打刻される。
特許文献2に記載の治具では、基台に支持された円筒状の試験体が上蓋に覆われることで固定される。そして、上蓋に形成された貫通孔に挿入されたポンチをハンマーで叩打することで、標点が試験体に打刻される。
ターンバックルの引張試験では、試験体のネジ加工始点から40mmの位置及びねじ加工終点から5mmの位置に標点を打刻する必要がある。そのため、試験体の軸方向における二つの標点位置の正確性が求められていた。
しかしながら、特許文献1に記載の装置では、試験体の上下方向における位置は天板部によって固定されるが、試験体の軸方向における位置は固定されていなかった。
しかしながら、特許文献1に記載の装置では、試験体の上下方向における位置は天板部によって固定されるが、試験体の軸方向における位置は固定されていなかった。
特許文献2に記載の装置では、試験体の長さに応じて長さを調整可能な基台に、コ字状の欠損部が形成される。そして、試験体のつかみ部が欠損部に嵌め込まれることで軸方向における位置が固定される。
しかしながら、試験体が基台に支持された状態で、軸方向における位置を調整することができなかった。また、試験体が支持される支持台自体を分割し、一方の支持台を他方の支持台に対して移動可能に構成しているため、部品点数が増加するおそれもあった。
しかしながら、試験体が基台に支持された状態で、軸方向における位置を調整することができなかった。また、試験体が支持される支持台自体を分割し、一方の支持台を他方の支持台に対して移動可能に構成しているため、部品点数が増加するおそれもあった。
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、簡易な構成で、精度良く試験体の表面に標点を打刻できる標点打刻装置を提供することにある。
前記課題は、本発明の標点打刻装置よれば、長尺な試験体の表面に複数の標点を打刻する標点打刻装置であって、前記試験体を下方から支持する基台と、前記基台に取り付けられ、前記試験体の表面に前記標点を上方から打刻する打刻具と、を備え、前記基台は、水平方向に沿って延びるベース部と、前記ベース部に取り付けられ、前記試験体を下方から支持する支持部と、前記支持部の上方位置に設けられ、前記打刻具を取り付けるための取付部と、前記ベース部の延在方向において前記支持部の側方位置に配置され、前記支持部に支持された前記試験体の軸方向の一端部に当接して、前記試験体の前記軸方向における位置を決める位置決め部と、前記取付部に設けられ、前記支持部に支持された前記試験体を上方から固定する固定部と、を有し、前記位置決め部は、前記支持部に対して前記延在方向に移動し、前記支持部に支持された前記試験体の前記軸方向における位置を調整可能であることにより解決される。
上記構成により、位置決め部によって、試験体の軸方向における位置を容易に決めることできる。また、試験体を支持部で支持した状態で、位置決め部を移動させることによって、試験体の軸方向における位置を微調整することができる。
したがって、位置決め部を移動させることで、打刻する位置を容易に調整できるため、簡易な構成で、精度良く試験体の表面に標点を打刻することができる。
したがって、位置決め部を移動させることで、打刻する位置を容易に調整できるため、簡易な構成で、精度良く試験体の表面に標点を打刻することができる。
このとき、前記取付部には、前記ベース部の前記延在方向に沿って並び、上下方向に貫通する第一取付孔及び第二取付孔が形成され、前記打刻具は、前記第一取付孔に着脱可能に取り付けられる第一打刻具と、前記第二取付孔に取り付けられる第二打刻具と、を有し、前記第一打刻具及び前記第二打刻具は、それぞれオートポンチであるとよい。
上記構成により、オートポンチによって標点が打刻されるため、安全かつ容易に標点を打刻することができる。また、オートポンチは着脱可能であるため、市販のポンチをそのまま用いることができる。そのため、装置専用のポンチを製造する必要がなく、製造コストを低減できる。
上記構成により、オートポンチによって標点が打刻されるため、安全かつ容易に標点を打刻することができる。また、オートポンチは着脱可能であるため、市販のポンチをそのまま用いることができる。そのため、装置専用のポンチを製造する必要がなく、製造コストを低減できる。
このとき、前記取付部には、前記ベース部の前記延在方向に沿って並び、上下方向に貫通する第一取付孔、第二取付孔、及び第三取付孔が形成され、前記打刻具は、前記第一取付孔に着脱可能に取り付けられる第一打刻具と、前記第二取付孔又は前記第三取付孔に着脱可能に取り付けられる第二打刻具と、を有し、前記第二取付孔及び前記第三取付孔は、同一形状を有し、上面視において一部重なるとよい。
上記構成により、長さが異なる試験体に打刻する場合であっても、打刻具を異なる取付孔に付け替えるだけで、打刻位置を容易に変更することができる。したがって、簡易な構成で、精度良く試験体の表面に標点を打刻することができる。
上記構成により、長さが異なる試験体に打刻する場合であっても、打刻具を異なる取付孔に付け替えるだけで、打刻位置を容易に変更することができる。したがって、簡易な構成で、精度良く試験体の表面に標点を打刻することができる。
このとき、前記支持部は、前記ベース部の前記延在方向に沿って延び、前記支持部の上面には、断面V字状の支持溝が形成されるとよい。
上記構成により、断面V字状の支持溝によって、試験体の幅方向における位置を固定することができる。
上記構成により、断面V字状の支持溝によって、試験体の幅方向における位置を固定することができる。
このとき、前記取付部には、前記支持部の上方位置において上下方向に貫通する貫通孔が形成され、前記固定部は、上下方向に延びる固定ネジであって、前記貫通孔と螺合され、前記取付部に対して上下方向に移動し、前記支持部に支持された前記試験体を上方から押圧するとよい。
上記構成により、試験体の上下位置が固定ネジによって固定されるため、簡易な構成で容易に試験体を固定することができる。
上記構成により、試験体の上下位置が固定ネジによって固定されるため、簡易な構成で容易に試験体を固定することができる。
このとき、前記標点打刻装置は、円柱状のネジ部を有する前記試験体の前記ネジ部の表面に複数の前記標点を打刻するために用いられ、前記支持部は、前記試験体の前記ネジ部を下方から支持するとよい。
上記構成により、支持部は、上方から打刻されるネジ部を下方から支持することができるため、安定して試験体を支持することができる。
上記構成により、支持部は、上方から打刻されるネジ部を下方から支持することができるため、安定して試験体を支持することができる。
本発明の標点打刻装置によれば、簡易な構成で、精度良く試験体の表面に標点を打刻することができる。
以下、本発明に係る実施形態について図1~図6を参照して説明する。
本実施形態は、長尺な試験体の表面に複数の標点を打刻するための標点打刻装置であって、簡易な構成で、精度良く試験体の表面に標点を打刻することができる「標点打刻装置」に関するものである。
以下の説明中、図1に示すように、「上下方向」とは、作業台に標点打刻装置を設置する際の上下方向を意味する。また、「前後方向」とは、標点打刻装置の長さ方向及び試験体の軸方向を意味する。また、「左右方向」とは、「上下方向」及び「前後方向」と直交する方向であって、標点打刻装置の幅方向及び試験体の幅方向を意味する。
本実施形態は、長尺な試験体の表面に複数の標点を打刻するための標点打刻装置であって、簡易な構成で、精度良く試験体の表面に標点を打刻することができる「標点打刻装置」に関するものである。
以下の説明中、図1に示すように、「上下方向」とは、作業台に標点打刻装置を設置する際の上下方向を意味する。また、「前後方向」とは、標点打刻装置の長さ方向及び試験体の軸方向を意味する。また、「左右方向」とは、「上下方向」及び「前後方向」と直交する方向であって、標点打刻装置の幅方向及び試験体の幅方向を意味する。
<標点打刻装置>
本実施形態の標点打刻装置1は、図1、図2に示すように、長尺な試験体Tの表面に複数の標点Pを打刻するための装置である。
具体的には、標点打刻装置1は、円柱状の試験体Tのネジ部T1の外周面に二つの標点P(第一標点P1、第二標点P2)を打刻するために用いられる。
本実施形態の標点打刻装置1は、図1、図2に示すように、長尺な試験体Tの表面に複数の標点Pを打刻するための装置である。
具体的には、標点打刻装置1は、円柱状の試験体Tのネジ部T1の外周面に二つの標点P(第一標点P1、第二標点P2)を打刻するために用いられる。
ここで、打刻対象となる試験体Tについて詳しく説明する。図3に示すように、試験体Tは、例えばターンバックルの引張試験に用いられ、標点Pが打刻される円柱状のネジ部T1と、ネジ部T1を保持する円筒状の円筒保持部T2と、を有する。ネジ部T1の外周面の一部には、雄ネジT1aが形成される。円筒保持部T2の内部には、雄ネジT1aと螺合する雌ネジT2aが形成される。試験体Tは、円筒保持部T2の両端部に二つのネジ部T1が螺合されて構成される。
ターンバックルの引張試験に用いられる試験体Tの、ネジ部T1におけるネジ加工始点O1から40mmの位置には第一標点P1が打刻され、ネジ部T1におけるねじ加工終点O2から5mmの位置には第二標点P2が打刻される。
試験体Tの各ネジ部T1の表面には二つの標点Pが打刻され、該表面と反対側の面にも二つの標点Pが打刻される。なお、打刻される標点Pの数や位置はこれに限らない。
ターンバックルの引張試験に用いられる試験体Tの、ネジ部T1におけるネジ加工始点O1から40mmの位置には第一標点P1が打刻され、ネジ部T1におけるねじ加工終点O2から5mmの位置には第二標点P2が打刻される。
試験体Tの各ネジ部T1の表面には二つの標点Pが打刻され、該表面と反対側の面にも二つの標点Pが打刻される。なお、打刻される標点Pの数や位置はこれに限らない。
標点打刻装置1は、図1、図2に示すように、ネジ部T1と円筒保持部T2とを有する試験体Tのネジ部T1の表面に、二つの標点Pを打刻する。
標点打刻装置1は、試験体Tを下方から支持する基台2と、基台2に着脱可能に取り付けられ、試験体Tの表面に二つの標点Pを上方から打刻する打刻具3と、を備える。打刻具3は、第一標点P1を打刻する第一打刻具3Aと、第二標点P2を打刻する第二打刻具3Bと、を有する。
標点打刻装置1は、試験体Tを下方から支持する基台2と、基台2に着脱可能に取り付けられ、試験体Tの表面に二つの標点Pを上方から打刻する打刻具3と、を備える。打刻具3は、第一標点P1を打刻する第一打刻具3Aと、第二標点P2を打刻する第二打刻具3Bと、を有する。
<基台>
基台2は、図1、図2、図4~図6に示すように、水平方向(前後方向)に沿って延びるベース部10と、試験体Tを下方から支持する支持部20と、打刻具3を取り付けるための取付部30と、試験体Tを上方から固定する固定部40と、試験体Tの軸方向における位置を決める位置決め部50と、を有する。
基台2は、図1、図2、図4~図6に示すように、水平方向(前後方向)に沿って延びるベース部10と、試験体Tを下方から支持する支持部20と、打刻具3を取り付けるための取付部30と、試験体Tを上方から固定する固定部40と、試験体Tの軸方向における位置を決める位置決め部50と、を有する。
試験体Tの幅方向(左右方向)における位置は、支持部20によって決められる。試験体Tの上下方向における位置は、固定部40によって決められる。試験体Tの軸方向(前後方向)における位置は、位置決め部50によって決められる。
このように、標点打刻装置1は、支持部20、固定部40、及び位置決め部50によって、各方向から試験体Tを保持するため、精度良く試験体Tの表面に打刻することができる。特に、打刻する面が平面ではない場合であっても、各方向から試験体Tを保持することで、精度良く試験体Tの表面に打刻することができる。
このように、標点打刻装置1は、支持部20、固定部40、及び位置決め部50によって、各方向から試験体Tを保持するため、精度良く試験体Tの表面に打刻することができる。特に、打刻する面が平面ではない場合であっても、各方向から試験体Tを保持することで、精度良く試験体Tの表面に打刻することができる。
ベース部10は、図1、図2、図4~図6に示すように、支持部20、取付部30、及び位置決め部50を取り付けるための、長尺な板状部材である。ベース部10は、試験体Tの軸方向に沿って前後方向に延びる。ベース部10の後方端部11側には、支持部20、取付部30が取り付けられ、前方端部12側には、位置決め部50が取り付けられる。
支持部20は、図1、図2に示すように、試験体Tを下方から支持する長尺な部材である。支持部20は、ベース部10の後方端部11側に取り付けられ、ベース部10の延在方向に沿って延びる。具体的には、支持部20は、試験体Tの軸方向に沿って前後方向に延び、試験体Tのネジ部T1を下方から支持する。
なお、本実施形態では、支持部20が一つの長尺な部材で構成されるが、複数の支持部20が試験体Tを下方から支持する構成としてもよい。
なお、本実施形態では、支持部20が一つの長尺な部材で構成されるが、複数の支持部20が試験体Tを下方から支持する構成としてもよい。
図4~図6に示すように、支持部20の支持面となる上面には、支持部20の延在方向に延びる断面V字状の支持溝20aが形成される。試験体Tは、支持溝20a上に載置され、上方から固定部40が押し当てられることによって、左右方向及び上下方向における位置が固定される。
取付部30は、図1、図2に示すように、支持部20の上方位置に設けられ、打刻具3を取り付けるための部材である。取付部30は、ベース部10の後方端部11側に取り付けられ、試験体Tの軸方向に沿って前後方向に延びる。
取付部30は、図4~図6に示すように、ベース部10の後方端部11から上方に立設する第一壁部31と、ベース部10の延在方向における中央部分から上方に立設する第二壁部32と、第一壁部31及び第二壁部32の上下方向における中間部分に取り付けられる中間取付部33と、第一壁部31及び第二壁部32の上端部に取り付けられる天板取付部34と、を有する。
取付部30は、図4~図6に示すように、ベース部10の後方端部11から上方に立設する第一壁部31と、ベース部10の延在方向における中央部分から上方に立設する第二壁部32と、第一壁部31及び第二壁部32の上下方向における中間部分に取り付けられる中間取付部33と、第一壁部31及び第二壁部32の上端部に取り付けられる天板取付部34と、を有する。
第一壁部31は、上下方向に長尺な板状部材であって、ベース部10の後方端部11にボルト等の固定具によって取り付けられる。
第一壁部31の下方部分には、試験体Tを挿通させるための第一挿通孔31aが形成される。第一挿通孔31aは、前後方向に貫通され、試験体Tを前後方向に挿通させることができる。
第一壁部31の下方部分には、試験体Tを挿通させるための第一挿通孔31aが形成される。第一挿通孔31aは、前後方向に貫通され、試験体Tを前後方向に挿通させることができる。
第二壁部32は、上下方向に長尺な板状部材であって、ベース部10の延在方向における中央部分にボルト等の固定具によって取り付けられる。
第二壁部32の下方部分には、試験体Tを挿通させるための第二挿通孔32aが形成される。第二挿通孔32aは、前後方向に貫通され、試験体Tを前後方向に挿通させることができる。
第二壁部32の下方部分には、試験体Tを挿通させるための第二挿通孔32aが形成される。第二挿通孔32aは、前後方向に貫通され、試験体Tを前後方向に挿通させることができる。
図2に示すように、第一挿通孔31aは、第二挿通孔32aよりも大きく形成される。具体的には、第一挿通孔31aは、試験体Tのネジ部T1及び円筒保持部T2を挿通可能な大きさに形成される。第二挿通孔32aは、試験体Tのネジ部T1を挿通可能な大きさに形成される。
試験体Tは、標点打刻装置1の長さ方向において、第一挿通孔31aから前方へ向かって挿入され、第二挿通孔32aを通って、位置決め部50に当接する。
試験体Tは、標点打刻装置1の長さ方向において、第一挿通孔31aから前方へ向かって挿入され、第二挿通孔32aを通って、位置決め部50に当接する。
中間取付部33は、図1、図2に示すように、前後方向に長尺な板状部材であって、第一壁部31及び第二壁部32の上下方向における中間部分にボルト等の固定具によって取り付けられる。
中間取付部33は、打刻具3を取り付けるための複数の取付孔35と、固定部40を取り付けるための貫通孔36を有する。複数の取付孔35及び貫通孔36は、支持部20の上方位置に設けられる。また、複数の取付孔35及び貫通孔36は、支持部20に試験体Tが載置されたとき、試験体Tと上下方向で重なる位置に形成される。
中間取付部33は、打刻具3を取り付けるための複数の取付孔35と、固定部40を取り付けるための貫通孔36を有する。複数の取付孔35及び貫通孔36は、支持部20の上方位置に設けられる。また、複数の取付孔35及び貫通孔36は、支持部20に試験体Tが載置されたとき、試験体Tと上下方向で重なる位置に形成される。
具体的には、中間取付部33には、試験体Tの軸方向(前後方向)に沿って並び、上下方向に貫通する第一取付孔35a、第二取付孔35b、及び第三取付孔35cが形成される。
そして、中間取付部33の前後方向における第一取付孔35aと第二取付孔35bとの間には、上下方向に貫通する貫通孔36が形成される。図4に示すように、貫通孔36の内周面には、固定部40の雄ネジ部40aと螺合する雌ネジ部36aが形成される。
そして、中間取付部33の前後方向における第一取付孔35aと第二取付孔35bとの間には、上下方向に貫通する貫通孔36が形成される。図4に示すように、貫通孔36の内周面には、固定部40の雄ネジ部40aと螺合する雌ネジ部36aが形成される。
図5に示すように、第一取付孔35a、第二取付孔35b、及び第三取付孔35cは、同一形状を有する。具体的には、第一取付孔35a、第二取付孔35b、及び第三取付孔35cは、それぞれ円形状であって、打刻具3を挿入して保持可能な大きさに形成される。
また、第二取付孔35b及び第三取付孔35cは、上面視において一部重なるように形成される。言い換えると、第二取付孔35b及び第三取付孔35cは、上面視において瓢箪形状を有している。第二打刻具3Bが第二取付孔35b及び第三取付孔35cのいずれか一方に挿入されたときに、中間取付部33は、第二打刻具3Bを垂直に保持することができる。
また、第二取付孔35b及び第三取付孔35cは、上面視において一部重なるように形成される。言い換えると、第二取付孔35b及び第三取付孔35cは、上面視において瓢箪形状を有している。第二打刻具3Bが第二取付孔35b及び第三取付孔35cのいずれか一方に挿入されたときに、中間取付部33は、第二打刻具3Bを垂直に保持することができる。
なお、中間取付部33に形成される複数の取付孔35の数や位置は、試験体Tの打刻位置に応じて適宜変更可能である。また、複数の取付孔35の大きさや形状は、取り付けられる打刻具3の大きさや形状に応じて適宜変更可能である。
天板取付部34は、図1、図2に示すように、前後方向に長尺な板状部材であって、第一壁部31及び第二壁部32の上端部にボルト等の固定具によって取り付けられる。
天板取付部34は、打刻具3を取り付けるための複数の上方取付孔37と、固定部40を取り付けるための上方貫通孔38を有する。複数の上方取付孔37及び上方貫通孔38は、支持部20及び中間取付部33の上方位置に設けられる。また、複数の上方取付孔37及び上方貫通孔38は、支持部20に試験体Tが載置されたとき、試験体Tと上下方向で重なる位置に形成される。
天板取付部34は、打刻具3を取り付けるための複数の上方取付孔37と、固定部40を取り付けるための上方貫通孔38を有する。複数の上方取付孔37及び上方貫通孔38は、支持部20及び中間取付部33の上方位置に設けられる。また、複数の上方取付孔37及び上方貫通孔38は、支持部20に試験体Tが載置されたとき、試験体Tと上下方向で重なる位置に形成される。
具体的には、天板取付部34には、試験体Tの軸方向(前後方向)に沿って並び、上下方向に貫通する第一上方取付孔37a、第二上方取付孔37b、及び第三上方取付孔37cが形成される。
ここで、第一上方取付孔37a、第二上方取付孔37b、及び第三上方取付孔37cは、それぞれ、第一取付孔35a、第二取付孔35b、及び第三取付孔35cと同一形状を有する。そして、第一上方取付孔37a、第二上方取付孔37b、及び第三上方取付孔37cは、第一取付孔35a、第二取付孔35b、及び第三取付孔35cと上下方向でそれぞれ重なる位置に配置される。
ここで、第一上方取付孔37a、第二上方取付孔37b、及び第三上方取付孔37cは、それぞれ、第一取付孔35a、第二取付孔35b、及び第三取付孔35cと同一形状を有する。そして、第一上方取付孔37a、第二上方取付孔37b、及び第三上方取付孔37cは、第一取付孔35a、第二取付孔35b、及び第三取付孔35cと上下方向でそれぞれ重なる位置に配置される。
天板取付部34の前後方向における第一上方取付孔37aと第二上方取付孔37bとの間には、上下方向に貫通する上方貫通孔38が形成される。上方貫通孔38は、貫通孔36と上下方向で重なる位置に配置される。なお、図4に示すように、上方貫通孔38の孔径は、固定部40の雄ネジ部40aの径よりも大きく形成される。
このように、取付部30は、打刻具3が取付孔35と上方取付孔37に挿入されることで、打刻具3をより安定して保持することができる。
なお、天板取付部34に形成される複数の上方取付孔37の数や位置は、取付孔35と同様に、試験体Tの打刻位置に応じて適宜変更可能である。また、複数の上方取付孔37の大きさや形状も、取付孔35と同様に、取り付けられる打刻具3の大きさや形状に応じて適宜変更可能である。
なお、天板取付部34に形成される複数の上方取付孔37の数や位置は、取付孔35と同様に、試験体Tの打刻位置に応じて適宜変更可能である。また、複数の上方取付孔37の大きさや形状も、取付孔35と同様に、取り付けられる打刻具3の大きさや形状に応じて適宜変更可能である。
本実施形態では、固定部40が中間取付部33の貫通孔36に螺合する構成としたが、天板取付部34の上方貫通孔38に螺合する構成であってもよく、貫通孔36及び上方貫通孔38の両方に螺合する構成であってもよい。
また、打刻具3を安定して保持可能であれば、中間取付部33及び天板取付部34のうちいずれか一方のみで打刻具3を保持する構成としてもよい。
また、打刻具3を安定して保持可能であれば、中間取付部33及び天板取付部34のうちいずれか一方のみで打刻具3を保持する構成としてもよい。
固定部40は、図1、図2に示すように、支持部20に支持された試験体Tを上方から固定する部材であって、取付部30に取り付けられる。具体的には、固定部40は、上下方向に延びる固定ネジであって、取付部30の中間取付部33に形成された貫通孔36と螺合される。
図4に示すように、固定部40の外周面には、雄ネジ部40aが形成される。雄ネジ部40aは、貫通孔36の雌ネジ部36aに螺合する。
図4に示すように、固定部40の外周面には、雄ネジ部40aが形成される。雄ネジ部40aは、貫通孔36の雌ネジ部36aに螺合する。
固定部40は、図2に示すように、取付部30に対して上下方向に移動する。そして、固定部40の下端面40bが、支持部20に支持された試験体Tの表面を上方から押圧する。
したがって、作業者は、固定部40を回転させて、中間取付部33に対して下方に移動させることで、支持部20に支持された試験体Tを上方から容易に固定することができる。このように、試験体Tの上下位置が固定ネジによって固定されるため、簡易な構成で試験体Tを固定することができる。
したがって、作業者は、固定部40を回転させて、中間取付部33に対して下方に移動させることで、支持部20に支持された試験体Tを上方から容易に固定することができる。このように、試験体Tの上下位置が固定ネジによって固定されるため、簡易な構成で試験体Tを固定することができる。
位置決め部50は、図1、図2に示すように、試験体Tの軸方向における位置を決めるための部材であって、ベース部10の延在方向において支持部20の側方位置に配置される。具体的には、位置決め部50は、ベース部10の前方端部12に設けられ、支持部20に支持された試験体Tの前端部T1b(一端部)に当接する。
位置決め部50は、図4に示すように、ベース部10の前方端部12から上方に立設する取付壁部51と、取付壁部51に移動可能に取り付けられる調節ネジ52と、を有する。
位置決め部50は、図4に示すように、ベース部10の前方端部12から上方に立設する取付壁部51と、取付壁部51に移動可能に取り付けられる調節ネジ52と、を有する。
取付壁部51は、左右方向に長尺な板状部材であって、ベース部10の前方端部12にボルト等の固定具によって取り付けられる。
取付壁部51の中心部分には、調節ネジ52を前後方向に移動可能に取り付けるためのネジ孔51aが形成される。ネジ孔51aは、前後方向に貫通されて調節ネジ52のネジ部分52aと螺合し、調節ネジ52を前後方向に移動させることができる。
取付壁部51の中心部分には、調節ネジ52を前後方向に移動可能に取り付けるためのネジ孔51aが形成される。ネジ孔51aは、前後方向に貫通されて調節ネジ52のネジ部分52aと螺合し、調節ネジ52を前後方向に移動させることができる。
位置決め部50は、支持部20に対して前後方向に移動し、支持部20に支持された試験体Tの軸方向における位置を調整可能である。例えば、調節ネジ52の先端面52bが、支持部20に支持された試験体Tの前端部T1bに当接した状態から、調節ネジ52が取付壁部51に対して後方へ移動される。そして、試験体Tが支持部20に支持された状態で、調節ネジ52の先端面52bが、試験体Tの前端部T1bを押圧して移動させることで、打刻位置が微調整される。
このように、位置決め部50によって、試験体Tの軸方向における位置を容易に決めることできる。また、試験体Tを支持部20で支持した状態で、位置決め部50の調節ネジ52を移動させることによって、試験体Tの軸方向における位置を微調整することができる。
なお、試験体Tの軸方向における位置は、前端部T1bが調節ネジ52の先端面52bに当接することによって決められるが、試験体Tの円筒保持部T2の前端面T2bが、支持部20の後端面20bに当接することによって決められてもよい。
なお、試験体Tの軸方向における位置は、前端部T1bが調節ネジ52の先端面52bに当接することによって決められるが、試験体Tの円筒保持部T2の前端面T2bが、支持部20の後端面20bに当接することによって決められてもよい。
<打刻具>
打刻具3は、図4に示すように、基台2に着脱可能に取り付けられるポンチであって、第一取付孔35a及び第一上方取付孔37aに着脱可能に取り付けられる第一打刻具3Aと、第二取付孔35b及び第二上方取付孔37bに取り付けられる第二打刻具3Bと、を有する。
第一打刻具3Aと、第二打刻具3Bは、それぞれオートポンチである。オートポンチは、公知の自動式ポンチであって、作業者に把持される把持部3aと、内部に弾性バネを有する本体部3bと、試験体Tを叩打する叩打部3cと、を有する。打刻具3は、取付孔35及び上方取付孔37に嵌め込まれ、本体部3bの周囲を保持する保持リング3dによって保持される。
打刻具3は、図4に示すように、基台2に着脱可能に取り付けられるポンチであって、第一取付孔35a及び第一上方取付孔37aに着脱可能に取り付けられる第一打刻具3Aと、第二取付孔35b及び第二上方取付孔37bに取り付けられる第二打刻具3Bと、を有する。
第一打刻具3Aと、第二打刻具3Bは、それぞれオートポンチである。オートポンチは、公知の自動式ポンチであって、作業者に把持される把持部3aと、内部に弾性バネを有する本体部3bと、試験体Tを叩打する叩打部3cと、を有する。打刻具3は、取付孔35及び上方取付孔37に嵌め込まれ、本体部3bの周囲を保持する保持リング3dによって保持される。
作業者が把持部3aに所定の力を加えると、本体部3bの弾性バネ(不図示)の力によって叩打部3cが試験体Tを叩打し、試験体Tの表面に標点Pが打刻される。なお、打刻具3は、オートポンチに限らず、作業者がハンマーで叩打部3cを叩打して打刻する手動式のポンチであってもよい。
本実施形態では、第一打刻具3Aが第一取付孔35aに着脱可能に取り付けられ、第二打刻具3Bが第二取付孔35b及び第三取付孔35cのいずれか一方に着脱可能に取り付けられる。そのため、試験体Tの長さ(打刻位置)に応じて、第二打刻具3Bを第二取付孔35b又は第三取付孔35cに取り付けることで、打刻位置を簡単に変更できる。したがって、簡易な構成で精度良く、容易に試験体Tに標点Pを打刻することができる。
なお、打刻具3は、一つであってもよく、三つ以上設けられてもよい。また、打刻具3は、取付部30に固定されていてもよい。
なお、打刻具3は、一つであってもよく、三つ以上設けられてもよい。また、打刻具3は、取付部30に固定されていてもよい。
以上の構成により、位置決め部50によって試験体Tの軸方向における位置を容易に決めることでき、試験体Tを支持部20で支持した状態で、位置決め部50の調節ネジ52を移動させることによって、試験体Tの軸方向における位置を微調整することができる。
位置決め部50を移動させることで、打刻する位置を容易に調整できるため、簡易な構成で、精度良く試験体Tの表面に標点Pを打刻することができる。
位置決め部50を移動させることで、打刻する位置を容易に調整できるため、簡易な構成で、精度良く試験体Tの表面に標点Pを打刻することができる。
上記実施形態では、主として本発明に係る標点打刻装置に関して説明した。
ただし、上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするための一例に過ぎず、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本発明にはその等価物が含まれることは勿論である。
特に、上記の実施形態にて説明したものは、あくまで一例に過ぎず本発明を限定するものではない。
ただし、上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするための一例に過ぎず、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本発明にはその等価物が含まれることは勿論である。
特に、上記の実施形態にて説明したものは、あくまで一例に過ぎず本発明を限定するものではない。
1 標点打刻装置
2 基台
3 打刻具
3A 第一打刻具
3B 第二打刻具
3a 把持部
3b 本体部
3c 叩打部
3d 保持リング
10 ベース部
11 後方端部
12 前方端部
20 支持部
20a 支持溝
20b 後端面
30 取付部
31 第一壁部
31a 第一挿通孔
32 第二壁部
32a 第二挿通孔
33 中間取付部
34 天板取付部
35 取付孔
35a 第一取付孔
35b 第二取付孔
35c 第三取付孔
36 貫通孔
36a 雌ネジ部
37 上方取付孔
37a 第一上方取付孔
37b 第二上方取付孔
37c 第三上方取付孔
38 上方貫通孔
40 固定部
40a 雄ネジ部
40b 下端面
50 位置決め部
51 取付壁部
51a ネジ孔
52 調節ネジ
52a ネジ部分
52b 先端面
T 試験体
T1 ネジ部
T1a 雄ネジ
T1b 前端部
T2 円筒保持部
T2a 雌ネジ
T2b 前端面
P 標点
P1 第一標点
P2 第二標点
O1 ネジ加工始点
O2 ねじ加工終点
2 基台
3 打刻具
3A 第一打刻具
3B 第二打刻具
3a 把持部
3b 本体部
3c 叩打部
3d 保持リング
10 ベース部
11 後方端部
12 前方端部
20 支持部
20a 支持溝
20b 後端面
30 取付部
31 第一壁部
31a 第一挿通孔
32 第二壁部
32a 第二挿通孔
33 中間取付部
34 天板取付部
35 取付孔
35a 第一取付孔
35b 第二取付孔
35c 第三取付孔
36 貫通孔
36a 雌ネジ部
37 上方取付孔
37a 第一上方取付孔
37b 第二上方取付孔
37c 第三上方取付孔
38 上方貫通孔
40 固定部
40a 雄ネジ部
40b 下端面
50 位置決め部
51 取付壁部
51a ネジ孔
52 調節ネジ
52a ネジ部分
52b 先端面
T 試験体
T1 ネジ部
T1a 雄ネジ
T1b 前端部
T2 円筒保持部
T2a 雌ネジ
T2b 前端面
P 標点
P1 第一標点
P2 第二標点
O1 ネジ加工始点
O2 ねじ加工終点
Claims (6)
- 長尺な試験体の表面に複数の標点を打刻する標点打刻装置であって、
前記試験体を下方から支持する基台と、
前記基台に取り付けられ、前記試験体の表面に前記標点を上方から打刻する打刻具と、を備え、
前記基台は、
水平方向に沿って延びるベース部と、
前記ベース部に取り付けられ、前記試験体を下方から支持する支持部と、
前記支持部の上方位置に設けられ、前記打刻具を取り付けるための取付部と、
前記ベース部の延在方向において前記支持部の側方位置に配置され、前記支持部に支持された前記試験体の軸方向の一端部に当接して、前記試験体の前記軸方向における位置を決める位置決め部と、
前記取付部に設けられ、前記支持部に支持された前記試験体を上方から固定する固定部と、を有し、
前記位置決め部は、前記支持部に対して前記延在方向に移動し、前記支持部に支持された前記試験体の前記軸方向における位置を調整可能であることを特徴とする標点打刻装置。 - 前記取付部には、前記ベース部の前記延在方向に沿って並び、上下方向に貫通する第一取付孔及び第二取付孔が形成され、
前記打刻具は、前記第一取付孔に着脱可能に取り付けられる第一打刻具と、前記第二取付孔に取り付けられる第二打刻具と、を有し、
前記第一打刻具及び前記第二打刻具は、それぞれオートポンチであることを特徴とする請求項1に記載の標点打刻装置。 - 前記取付部には、前記ベース部の前記延在方向に沿って並び、上下方向に貫通する第一取付孔、第二取付孔、及び第三取付孔が形成され、
前記打刻具は、前記第一取付孔に着脱可能に取り付けられる第一打刻具と、前記第二取付孔又は前記第三取付孔に着脱可能に取り付けられる第二打刻具と、を有し、
前記第二取付孔及び前記第三取付孔は、同一形状を有し、上面視において一部重なることを特徴とする請求項1に記載の標点打刻装置。 - 前記支持部は、前記ベース部の前記延在方向に沿って延び、
前記支持部の上面には、断面V字状の支持溝が形成されることを特徴とする請求項1又は2に記載の標点打刻装置。 - 前記取付部には、前記支持部の上方位置において上下方向に貫通する貫通孔が形成され、
前記固定部は、上下方向に延びる固定ネジであって、前記貫通孔と螺合され、前記取付部に対して上下方向に移動し、前記支持部に支持された前記試験体を上方から押圧することを特徴とする請求項1又は2に記載の標点打刻装置。 - 前記標点打刻装置は、円柱状のネジ部を有する前記試験体の前記ネジ部の表面に複数の前記標点を打刻するために用いられ、
前記支持部は、前記試験体の前記ネジ部を下方から支持することを特徴とする請求項1又は2に記載の標点打刻装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2023100921A JP2025001381A (ja) | 2023-06-20 | 2023-06-20 | 標点打刻装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2023100921A JP2025001381A (ja) | 2023-06-20 | 2023-06-20 | 標点打刻装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2025001381A true JP2025001381A (ja) | 2025-01-08 |
Family
ID=94129424
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2023100921A Pending JP2025001381A (ja) | 2023-06-20 | 2023-06-20 | 標点打刻装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2025001381A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10914574B2 (en) | 2017-03-02 | 2021-02-09 | Ckd Corporation | Three-dimensional measurement device |
-
2023
- 2023-06-20 JP JP2023100921A patent/JP2025001381A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10914574B2 (en) | 2017-03-02 | 2021-02-09 | Ckd Corporation | Three-dimensional measurement device |
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