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JP2584668B2 - Method for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Method for manufacturing semiconductor device

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Publication number
JP2584668B2
JP2584668B2 JP1055098A JP5509889A JP2584668B2 JP 2584668 B2 JP2584668 B2 JP 2584668B2 JP 1055098 A JP1055098 A JP 1055098A JP 5509889 A JP5509889 A JP 5509889A JP 2584668 B2 JP2584668 B2 JP 2584668B2
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JP
Japan
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wafer
semiconductor
tape
holding means
cut
Prior art date
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山田  豊
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Die Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 半導体チップの搬送方法の改良に関し、 半導体ウェーハがフルカットされて形成された半導体
チップが搬送中に損傷を受けることなく、シリコンその
他の塵が付着することがないようにする搬送方法を提供
することを目的とし、 テープの周辺部に囲い枠が貼着されているウェーハ保
持手段の前記のテープ上に半導体ウェーハを貼着し、こ
の半導体ウェーハをフルカットし、このフルカットされ
た半導体ウェーハが貼着されている前記のウェーハ保持
手段を、スペーサを介してウェーハ積層台上に積層して
ウェーハ積層体を形成し、このウェーハ積層体を防塵箱
に装入して搬送するように構成する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary] Regarding an improvement in a method of transporting semiconductor chips, a semiconductor chip formed by a full cut of a semiconductor wafer is not damaged during transportation, and silicon and other dust may adhere thereto. A semiconductor wafer is stuck on the tape of the wafer holding means to which an enclosing frame is stuck on the peripheral portion of the tape, and the semiconductor wafer is fully cut. The wafer holding means, to which the full-cut semiconductor wafer is attached, is stacked on a wafer stacking table via a spacer to form a wafer stack, and the wafer stack is loaded into a dustproof box. And transport it.

〔産業上の利用分野〕[Industrial applications]

本発明は、半導体チップの搬送方法の改良、特に、半
導体ウェーハがフルカットされて形成された半導体チッ
プが、搬送中に損傷を受けることがなく、また、シリコ
ン等の付着することがないようにする改良に関する。
The present invention is an improvement in the method of transporting semiconductor chips, and in particular, a semiconductor chip formed by cutting a semiconductor wafer in full, without being damaged during transportation, and so that silicon or the like does not adhere. To improve.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体装置の信頼性を高めるため、半導体装置が形成
された半導体ウェーハをダイシングして半導体チップに
分割分離するのに、従来のハーフカット方式に代えて、
フルカット方式が使用されるようになった。この方式
は、半導体ウェーハをダイサーを使用して完全にチップ
状に切断分離するもので、この切断分離された半導体チ
ップはコレットでピックアップされ、直接パッケージに
搭載されてボンディングされ封止されるか、または、一
旦トレイに収納されて搬送され、別の場所においてパッ
ケージに搭載されてボンディングされ、封止される。な
お、トレイに収納して搬送する場合には、複数個のトレ
イをアルミニウム箔等を介して積み重ねて搬送するのが
一般的である。
In order to increase the reliability of the semiconductor device, dicing the semiconductor wafer on which the semiconductor device is formed and dividing it into semiconductor chips, instead of the conventional half-cut method,
The full cut method has been used. In this method, a semiconductor wafer is completely cut and separated into chips using a dicer, and the cut and separated semiconductor chips are picked up by a collet, directly mounted on a package, bonded and sealed, or Alternatively, they are once stored in a tray and conveyed, mounted on a package at another place, bonded, and sealed. In the case where the trays are stored and transported, a plurality of trays are generally stacked and transported via aluminum foil or the like.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

半導体ウェーハがフルカットされて分割分離された半
導体チップをピックアップして直接パッケージに搭載し
てボンディングし、封止する場合には、半導体チップが
損傷を受ける可能性は少ないが、半導体チップを一旦ト
レイに収納し、このトレイを別の場所に搬送して、そこ
でパッケージに搭載する場合には、搬送時の振動によっ
て半導体チップがトレイに接触して損傷を受けたり、シ
リコンその他の塵が付着したりして、半導体装置の信頼
性が低下することがある。
When semiconductor chips that have been fully cut and separated into semiconductor wafers are picked up, directly mounted on a package, and bonded and sealed, there is little possibility that the semiconductor chips will be damaged. When the tray is transported to another location and mounted in a package, the semiconductor chips may be damaged by contact with the tray due to vibration during transport, or silicon or other dust may adhere. As a result, the reliability of the semiconductor device may be reduced.

本発明の目的は、この欠点を解消することにあり、半
導体ウェーハがフルカットされて形成された半導体チッ
プが搬送中に損傷を受けることがなく、シリコンその他
の塵が付着することがないようにする搬送方法を提供す
ることにある。
An object of the present invention is to eliminate this drawback, so that a semiconductor chip formed by a full cut of a semiconductor wafer is not damaged during transportation and silicon and other dust are not attached. The purpose of the present invention is to provide a carrying method for carrying out the method.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明の目的は、テープ(11)の周辺部に囲い枠(1
2)が貼着されているウェーハ保持手段(1)の前記の
テープ(11)上に半導体ウェーハ(2)を貼着し、この
半導体ウェーハ(2)をフルカットし、このフルカット
された半導体ウェーハ(2)が貼着されている前記のウ
ェーハ保持手段(1)を、外径は前記の囲い枠(12)の
内径より大きく内径は前記の囲い枠(12)の内径より小
さいスペーサ(4)を介してウェーハ積層台(3)上に
積層してウェーハ積層体(6)を形成して搬送する工程
を有する半導体装置の製造方法によって達成される。
An object of the present invention is to provide an enclosing frame (1) around the tape (11).
A semiconductor wafer (2) is adhered on the tape (11) of the wafer holding means (1) to which 2) is adhered, and the semiconductor wafer (2) is fully cut. The above-mentioned wafer holding means (1) to which the wafer (2) is adhered is replaced with a spacer (4) having an outer diameter larger than the inner diameter of the enclosing frame (12) and an inner diameter smaller than the inner diameter of the enclosing frame (12). This is achieved by a method of manufacturing a semiconductor device having a step of forming a wafer stack (6) by stacking the wafer stack on a wafer stacking table (3) via the step (1)).

〔作用〕[Action]

本発明に係る半導体チップの搬送方法においては、半
導体ウェーハ2をウケーハ保持手段1のテープ11上に貼
着してフルカットする時に、テープ11はその厚さの約1/
3が切断されるように制御されるので、乗物の約2/3は切
断されずに残っており、半導体ウェーハ2がフルカット
されても半導体チップはウェーハ保持手段1のテープ11
の上に貼着されたまゝで、ばらばらに分離することはな
い。この状態のウェーハ保持手段1をスペーサ4を介し
てウェーハ積層台3上に積層し、上部に押さえ板5を載
せてウェーハ積層体6を形成し、このウェーハ積層体6
を防塵箱7の中に装入し、これを防塵箱7の側壁と蓋と
に設けられたスプリング71で押圧して防塵箱7内に固定
して搬送するので、フルカットされた半導体チップが相
互に接触したり、他の部材と接触したりすることがな
く、したがって半導体チップは損傷を受けることがな
く、シリコンその他の塵が半導体チップの表面に付着す
ることがなく、良好な状態で次の工程に送られ、そこで
ピックアップされ、パッケージに搭載される。
In the method for transporting semiconductor chips according to the present invention, when the semiconductor wafer 2 is stuck on the tape 11 of the wafer holding means 1 and full-cut, the tape 11 is about 1 / th of its thickness.
3 is controlled so as to be cut, so that about 2/3 of the vehicle remains uncut, and even if the semiconductor wafer 2 is fully cut, the semiconductor chips remain on the tape 11 of the wafer holding means 1.
It does not separate apart as it is stuck on top. The wafer holding means 1 in this state is stacked on the wafer stacking table 3 via the spacer 4, and a holding plate 5 is placed on the upper portion to form a wafer stacked body 6.
Is loaded into the dustproof box 7 and is pressed and fixed by the spring 71 provided on the side wall and the lid of the dustproof box 7 so as to be transported in the dustproof box 7, so that the fully cut semiconductor chip is It does not come into contact with each other or other members, so that the semiconductor chip is not damaged, silicon and other dust do not adhere to the surface of the semiconductor chip, and , Where it is picked up and mounted on a package.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照しつゝ、本発明の一実施例に係るフ
ルカットされた半導体チップの搬送方法について説明す
る。
Hereinafter, a method of transporting a fully cut semiconductor chip according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第2図、第3図参照 第2図は厚さ90〜100μm程度のポリエチレン等から
なるテープ11の周辺部に、ステンレス、アルミニウム等
からなる厚さ1mm程度の囲い枠12が貼着されているウェ
ーハ保持手段1のテープ11の中央部に半導体ウェーハ2
を貼着し、半導体ウェーハ2をダイサー(図示せず)に
よってフルカットした状態を示す平面図であり、第3図
は、そのA−A断面図である。なお、半導体ウェーハ2
をフルカットするとき、テープ11は30μm厚程度がカッ
トされるだけで完全には切断されないので、半導体ウェ
ーハ2がフルカットされても半導体チップはばらばらに
分離することなくテープ11に貼着されたまゝである。
2 and FIG. 3 FIG. 2 shows a surrounding frame 12 made of stainless steel, aluminum or the like having a thickness of about 1 mm adhered to a peripheral portion of a tape 11 made of polyethylene or the like having a thickness of about 90 to 100 μm. The semiconductor wafer 2 is placed at the center of the tape 11 of the wafer holding means 1.
And FIG. 3 is a plan view showing a state where the semiconductor wafer 2 is fully cut by a dicer (not shown), and FIG. 3 is a sectional view taken along line AA. The semiconductor wafer 2
When the semiconductor wafer 2 is fully cut, the semiconductor chips are not cut apart because the tape 11 is cut only to a thickness of about 30 μm and is not completely cut.ゝ.

第4図、第5図参照 第4図は、アクリル等からなるウェーハ積層台3の平
面図であり、底板31の中央部には凹部が形成され、四隅
にはウェーハ保持手段1を積層するときの位置決め用の
案内部材32が設けられている。第5図は第4図のB−B
断面図である。
FIG. 4 is a plan view of the wafer stacking table 3 made of acrylic or the like. A concave portion is formed in the center of the bottom plate 31, and the wafer holding means 1 is stacked at the four corners. A guide member 32 for positioning is provided. FIG. 5 is BB of FIG.
It is sectional drawing.

第6図参照 第6図はウェーハ積層体6の断面図である。フルカッ
トされた半導体ウェーハ2が貼着されているウェーハ保
持手段1を10枚程度ウェーハ積層台3の底板31上に案内
部材32をガイドとして積層する。このとき、ウェーハ保
持手段1相互間には厚さ2〜3mm程度のリング状のテフ
ロンからなるスペーサ4を介在させる。テフロンはテー
プに貼着しないよう特性があるので好適である。また、
スペーサ4の内径をウェーハ保持手段1の囲い枠12の内
径より小さく形成しておけば、万一搬送中にテープ11が
振動しても、スペーサ4がテープ11に接触してその振動
を抑制する効果がある。積層されたウェーハ保持手段1
の最上部に押さえ板5を載せてウェーハ積層体6を形成
する。
FIG. 6 is a sectional view of the wafer stack 6. Approximately ten wafer holding units 1 to which the fully cut semiconductor wafers 2 are attached are stacked on the bottom plate 31 of the wafer stacking table 3 using the guide member 32 as a guide. At this time, a ring-shaped spacer 4 made of Teflon having a thickness of about 2 to 3 mm is interposed between the wafer holding means 1. Teflon is preferred because it has the property of not sticking to the tape. Also,
If the inner diameter of the spacer 4 is formed smaller than the inner diameter of the surrounding frame 12 of the wafer holding means 1, even if the tape 11 vibrates during conveyance, the spacer 4 contacts the tape 11 and suppresses the vibration. effective. Stacked wafer holding means 1
The holding plate 5 is placed on the uppermost part of the wafer to form a wafer stack 6.

第1図参照 第1図に示すように、前記のウェーハ積層体6をアク
リル等からなる防塵箱7に装入する。防塵箱7の側面及
び蓋にはアルミニウム等の板からなるスプリング71が設
けられているので、ウェーハ積層体6はこのスプリング
によって押圧されて防塵箱7の中で動かないように固定
される。この状態で次工程に搬送すれば、内部に収納さ
れているフルカットされた半導体チップは、搬送中に他
の半導体チップまたは他の部材に接触することがないの
で、半導体チップは損傷されることがなく、また、シリ
コン等の塵が表面に付着することもない。
See FIG. 1. As shown in FIG. 1, the above-mentioned wafer laminated body 6 is placed in a dustproof box 7 made of acrylic or the like. Since a spring 71 made of a plate made of aluminum or the like is provided on the side surface and the lid of the dustproof box 7, the wafer stack 6 is pressed by the spring and fixed so as not to move in the dustproof box 7. If the semiconductor chip is transported to the next step in this state, the semiconductor chip that is fully cut inside does not come into contact with other semiconductor chips or other members during transportation, so the semiconductor chip may be damaged. And no dust such as silicon adheres to the surface.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明せるとおり、本発明に係る半導体装置の製造
方法においては、半導体ウェーハがフルカットされ形成
された半導体チップは、なお、ウェーハ保持手段のテー
プ上に貼着されており、この半導体チップが貼着されて
いるウェーハ保持手段をウェーハ積層台上にスペーサを
介して複数個積層し、これを防塵箱内に固定して搬送す
るので、半導体チップは搬送中に動いて他の半導体チッ
プまたは他の部材に接触することがなく、したがって半
導体チップは損傷を受けることがなく、また、シリコン
等の塵が付着することがなく、次工程に送られる。
As described above, in the method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention, the semiconductor chip formed by cutting the semiconductor wafer in full is still attached to the tape of the wafer holding means. A plurality of the wafer holding means are stacked on the wafer stacking table via a spacer, and the semiconductor chips are transported while being fixed in the dust-proof box. There is no contact with the member, so that the semiconductor chip is not damaged, and dust such as silicon does not adhere, and is sent to the next step.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、本発明の一実施例に係るウェーハ積層体を防
塵箱内に装入した状態を示す断面図である。 第2図は、ウェーハ保持手段の平面図である。 第3図は、第2図のA−A断面図である。 第4図は、ウェーハ積層台の平面図である。 第5図は、第4図のB−B断面図である。 第6図は、ウェーハ積層体の断面図である。 1……ウェーハ保持手段、11……テープ、12……囲い
枠、2……半導体ウェーハ、3……ウェーハ積層台、31
……底板、32……案内部材、4……スペーサ、5……押
さえ板、6……ウェーハ積層体、7……防塵箱、71……
スプリング。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a state in which a wafer stack according to one embodiment of the present invention is loaded in a dustproof box. FIG. 2 is a plan view of the wafer holding means. FIG. 3 is a sectional view taken along line AA of FIG. FIG. 4 is a plan view of the wafer stacking table. FIG. 5 is a sectional view taken along line BB of FIG. FIG. 6 is a sectional view of a wafer laminated body. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Wafer holding means, 11 ... Tape, 12 ... Enclosure frame, 2 ... Semiconductor wafer, 3 ... Wafer lamination table, 31
... bottom plate, 32 ... guide member, 4 ... spacer, 5 ... holding plate, 6 ... wafer stack, 7 ... dustproof box, 71 ...
spring.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】テープ(11)の周辺部に囲い枠(12)が貼
着されてなるウェーハ保持手段(1)の前記テープ(1
1)上に半導体ウェーハ(2)を貼着し、 該半導体ウェーハ(2)をフルカットし、 該フルカットされた半導体ウェーハ(2)が貼着されて
なる前記ウェーハ保持手段(1)を、外径は前記囲い枠
(12)の内径より大きく内径は前記囲い枠(12)の内径
より小さいスペーサ(4)を介してウェーハ積層台
(3)上に積層してウェーハ積層体(6)を形成して搬
送する 工程を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
The tape (1) of a wafer holding means (1) comprising an enclosing frame (12) attached to a peripheral portion of the tape (11).
1) A semiconductor wafer (2) is adhered on the semiconductor wafer (2), the semiconductor wafer (2) is fully cut, and the wafer holding means (1) on which the fully cut semiconductor wafer (2) is adhered is The outer diameter is larger than the inner diameter of the surrounding frame (12) and the inner diameter is smaller than the inner diameter of the surrounding frame (12) via the spacer (4). A method for manufacturing a semiconductor device, comprising a step of forming and transporting.
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