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JP2641390B2 - プラズマ処理装置 - Google Patents

プラズマ処理装置

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JP2641390B2
JP2641390B2 JP6122978A JP12297894A JP2641390B2 JP 2641390 B2 JP2641390 B2 JP 2641390B2 JP 6122978 A JP6122978 A JP 6122978A JP 12297894 A JP12297894 A JP 12297894A JP 2641390 B2 JP2641390 B2 JP 2641390B2
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Japan
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plasma
processing apparatus
plasma processing
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誠二 寒川
己拔 篠原
博文 松本
勉 塚田
行人 中川
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Nihon Koshuha Co Ltd
NEC Corp
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Nihon Koshuha Co Ltd
Nippon Electric Co Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/321Radio frequency generated discharge the radio frequency energy being inductively coupled to the plasma
    • H01J37/3211Antennas, e.g. particular shapes of coils
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3266Magnetic control means
    • H01J37/32669Particular magnets or magnet arrangements for controlling the discharge

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はプラズマ処理装置に関
し、特に高周波電界を利用して生成したプラズマを用い
て基板表面の処理を行うプラズマ処理装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】従来、マイクロ波を利用したマイクロ波
プラズマエッチング装置として、2つの例が知られてい
る。第1の例は、図5に示すような特開昭56−155
35号公報記載のエッチング装置である。この装置はマ
イクロ波608による電子サイクロトロン共鳴放電中に
エッチング試料614をセットし、該試料のエッチング
処理を行うものである。一方、第2の例は、図6に示す
ような特開昭60−134423号公報記載の装置であ
る。このエッチング装置は、プラズマ生成室701内に
反応性ガスを導入し、マイクロ波と磁場を作用させてプ
ラズマ生成室内に反応性ガスプラズマを生成させ、磁気
コイルによる発散磁界を利用して基板714を設置した
反応室702に導入するものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の技術においては、マイクロ波や強磁界を用いるため装
置が大型で複雑になり、大口径化が難しいという問題点
がある。本発明は、このような従来の問題点を解決する
ためになされたもので、より低周波でマイクロ波と同様
に安定したプラズマを無磁場あるいは低磁場で生成でき
る100MHzから1GHzの高周波電界を均一に効率
よく導入できるアンテナを有する小型のプラズマ処理装
置を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、プラズマ生成
室内で高周波によって発生する電場を利用して処理ガス
をプラズマ化し、該プラズマを基板に照射して基板の表
面処理を行うプラズマ処理装置において、プラズマ生成
室内に導入波長の1/4長を有する複数のアンテナを放
射状に配置し、放射状に配置した各アンテナ間に、プラ
ズマ生成室の外周から導入波長の1/4長のアンテナを
交互に設置し、これらのアンテナに高周波信号を印加し
て励振させることを特徴とするプラズマ処理装置であ
る。本発明においては、互いに隣合ったアンテナに印加
される高周波の位相が180度ずれていることが好まし
い。さらにプラズマ生成室内に電場と直交する磁場を印
加する永久磁石がプラズマ生成室内または室外に設けら
れていることが好ましく、印加周波数が100MHzか
ら1GHzであることが好ましい。
【0005】
【作用】本発明では、プラズマ生成室内に複数のアンテ
ナを放射状に配置してインターデジタルに結合し、これ
に100MHzから1GHzの高周波信号を加えて励振
する。この時、アンテナの長さを波長の1/4に設定す
る。このアンテナにより均一に効率よく100MHzか
ら1GHzの高周波を導入でき、均一プラズマが生成可
能となる。また、100MHzから1GHzの高周波を
用いるので、低磁界印加で電子サイクロトロン共鳴条件
を満たすことが可能であり、簡易な装置で高密度プラズ
マ生成が可能となる。また、放射状に配置した各アンテ
ナ間に、プラズマ生成室の外周から導入波長の1/4長
のアンテナを交互に設置し、該アンテナに高周波信号を
印加すること、および互いに隣合ったアンテナに印加さ
れる高周波の位相を180度ずらすことによって、より
均一な高周波電界を形成することが可能となる。
【0006】
【実施例】次に、本発明の実施例について、図面を参照
して詳細に説明する。図1はプラズマ処理装置の一参考
の構成図である。本装置は、高周波電界によりプラズ
マを生成する直径500mmのプラズマ生成室1で構成
され、該プラズマ生成室は、基板搬送室(図示せず。)
に隣接して設置されている。このプラズマ生成室1には
プラズマ生成用のガスを導入するガス導入口2が設けら
れているとともに、300MHz程度の高周波電界を導
入するアルミ製のアンテナ3が放射状に設置されてい
る。このアンテナ3は、プラズマ生成室内に直接設置さ
れる場合もあるが、プラズマ処理中の金属汚染を避ける
必要がある場合には、石英やセラミックスのような誘電
膜を介して設置される。図中、4は高周波印加点、10
は基板ホルダ、11は基板、12はRF電源である。
【0007】また、図2はプラズマ生成室1上面に永久
磁石8を配置し、電子サイクロトロン共鳴プラズマを生
成させるプラズマ処理装置の一例である。例えば、30
0MHzの高周波を印加する場合、電子サイクロトロン
共鳴を満たす磁場強度は100G程度である。磁力線
は、電界の向きに対して垂直に設定されている。
【0008】図3は本発明におけるアンテナ構造の一実
施例の構成図である。プラズマ生成室1の中心軸上に設
置された円筒から、導入波長の1/4長のアンテナ3を
偶数個放射状に設置してある。放射状アンテナ3の各ア
ンテナ間に外周方向から導入波長の1/4長のアンテナ
3aを配列してインターデジタルに結合させた構成であ
る。本構成にすることによって、均一な高周波電界が形
成できる。
【0009】図4は磁場を印加する場合の図2とは別の
一参考例におけるアンテナ構造の構成図である。電子サ
イクロトロン共鳴を満足するため、放射状アンテナの間
に極性が交互に異なる永久磁石8を配置して、電界に直
交する磁界を発生させるように構成されている。
【0010】また、本発明においてアンテナにコンデン
サを挿入した場合には実効的な共振周波数を変化させる
ことができ、印加周波数を可変することが出来る。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のプラズマ
処理装置によれば、100MHzから1GHzの高周波
電界を均一に効率よく導入でき、小型で簡易なプラズマ
処理装置を実現できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】プラズマ処理装置の一参考例の構成図である。
【図2】プラズマ処理装置の別の一参考例の構成図であ
る。
【図3】本発明を適用したアンテナ構造の一実施例を示
す構成図である。
【図4】アンテナ構造の一参考例を示す構成図である。
【図5】従来例によるプラズマ処理装置の一例の構成図
である。
【図6】従来例によるプラズマ処理装置の別の一例の構
成図である。
【符号の説明】
1 プラズマ生成室 2 ガス導入口 3 アンテナ 4 高周波印加点 5 水冷管 6 冷却水入口 7 冷却水出口 8 永久磁石 9 プラズマ 10 基板ホルダ 11 基板 12 RF電源 607 ガス導入口 608 マイクロ波 614 エッチング試料 701 プラズマ生成室 702 反応室 706 マイクロ波電源 712 排気 713 プラズマ引き出し窓 714 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 篠原 己拔 横浜市緑区中山町1119番地 日本高周波 株式会社内 (72)発明者 松本 博文 横浜市緑区中山町1119番地 日本高周波 株式会社内 (72)発明者 塚田 勉 東京都府中市四谷5丁目8番1号 日電 アネルバ株式会社内 (72)発明者 中川 行人 東京都府中市四谷5丁目8番1号 日電 アネルバ株式会社内 (56)参考文献 特開 平1−258400(JP,A) 特開 平5−32489(JP,A) 特開 平4−290428(JP,A)

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プラズマ生成室内で高周波によって発生
    する電場を利用して処理ガスをプラズマ化し、該プラズ
    マを基板に照射して基板の表面処理を行うプラズマ処理
    装置において、プラズマ生成室内に導入波長の1/4長
    を有する複数のアンテナを放射状に配置し、放射状に配
    置した各アンテナ間に、プラズマ生成室の外周から導入
    波長の1/4長のアンテナを交互に設置し、これらのア
    ンテナに高周波信号を印加して励振させることを特徴と
    するプラズマ処理装置。
  2. 【請求項2】 互いに隣合ったアンテナに印加される高
    周波の位相が180度ずれている請求項1記載のプラズ
    マ処理装置。
  3. 【請求項3】 プラズマ生成室内に電場と直交する磁場
    を印加する永久磁石がプラズマ生成室内または室外に設
    けられている請求項1または2記載のプラズマ処理装
    置。
  4. 【請求項4】 印加周波数が100MHzから1GHz
    である請求項1〜3のいずれかに記載のプラズマ処理装
    置。
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