JP2758515B2 - 投影データを獲得する方法及びct装置 - Google Patents
投影データを獲得する方法及びct装置Info
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
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- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
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- A61B6/4021—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータ断層撮影
(CT)システムに関し、更に詳しくは、焦点スポット
をCTの構台の回転平面に沿って制御し得るように偏移
させることができるx線管を有するCTシステムに関す
る。
(CT)システムに関し、更に詳しくは、焦点スポット
をCTの構台の回転平面に沿って制御し得るように偏移
させることができるx線管を有するCTシステムに関す
る。
【0002】
【従来の技術】コンピュータ断層撮影システムにおいて
は、x線源は所定のファンビーム角度を有するファンビ
ームを形成するようにコリメートされる。ファンビーム
は、「撮像平面」と呼ばれるデカルト座標系のx−y面
内に存在するように方向付けされ、被撮像体を透過し
て、撮像平面内に設けられているx線検出器列に達す
る。検出器列は「ピッチ(pitch )」上に中心が位置す
るように調整された検出素子で構成され、この検出素子
の各々はx線源から特定の検出素子に投射されたビーム
に沿った透過放射線の強度を測定する。透過放射線の強
度はx線に沿ったx線ビームの被撮像体による減衰に依
存している。ビームの中心およびその強度測定はx線源
の中心スポットと検出素子の中心を接続するラインによ
って示される射線(ray )によって識別される。
は、x線源は所定のファンビーム角度を有するファンビ
ームを形成するようにコリメートされる。ファンビーム
は、「撮像平面」と呼ばれるデカルト座標系のx−y面
内に存在するように方向付けされ、被撮像体を透過し
て、撮像平面内に設けられているx線検出器列に達す
る。検出器列は「ピッチ(pitch )」上に中心が位置す
るように調整された検出素子で構成され、この検出素子
の各々はx線源から特定の検出素子に投射されたビーム
に沿った透過放射線の強度を測定する。透過放射線の強
度はx線に沿ったx線ビームの被撮像体による減衰に依
存している。ビームの中心およびその強度測定はx線源
の中心スポットと検出素子の中心を接続するラインによ
って示される射線(ray )によって識別される。
【0003】x線源および検出器列は構台上において被
撮像体の周りを撮像平面内で回転し、ファンビームが被
撮像体と交差する角度は変化する。各構台角度におい
て、検出素子の各々からの強度信号からなる投影が得ら
れる。それから、構台は新しい角度に回転し、この処理
が繰り返されて、多くの構台角度における多くの投影が
収集され、断層撮影用の投影群が形成される。
撮像体の周りを撮像平面内で回転し、ファンビームが被
撮像体と交差する角度は変化する。各構台角度におい
て、検出素子の各々からの強度信号からなる投影が得ら
れる。それから、構台は新しい角度に回転し、この処理
が繰り返されて、多くの構台角度における多くの投影が
収集され、断層撮影用の投影群が形成される。
【0004】獲得された断層撮影用投影群は、本技術分
野で知られている再構成アルゴリズムに従ってスライス
画像を「再構成」するためにコンピュータ処理用に数値
形式で一般に記憶される。ファンビームの投影からなる
投影群はファンビーム再構成技術によって直接画像に再
構成されたり、または投影の強度データは平行ビームに
分類され、平行ビーム再構成技術によって再構成され
る。この再構成された断層撮影画像は通常のCRT管に
よって表示されたり、またはコンピュータ制御式カメラ
によってフィルム上の記録に変換される。
野で知られている再構成アルゴリズムに従ってスライス
画像を「再構成」するためにコンピュータ処理用に数値
形式で一般に記憶される。ファンビームの投影からなる
投影群はファンビーム再構成技術によって直接画像に再
構成されたり、または投影の強度データは平行ビームに
分類され、平行ビーム再構成技術によって再構成され
る。この再構成された断層撮影画像は通常のCRT管に
よって表示されたり、またはコンピュータ制御式カメラ
によってフィルム上の記録に変換される。
【0005】再構成されたCT画像の空間解像度は、被
撮像体の中心における各x線ビームの幅に部分的に依存
している。このビーム幅は、供給源の幅、x線管の焦点
スポットの大きさおよび検出素子の開口部によって主に
決定され、供給源および検出器からの距離とともに変化
する。幅aのほぼ矩形ビームの平均的動作では受信され
た画像の帯域を1/a以下の空間周波数に帯域制限す
る。
撮像体の中心における各x線ビームの幅に部分的に依存
している。このビーム幅は、供給源の幅、x線管の焦点
スポットの大きさおよび検出素子の開口部によって主に
決定され、供給源および検出器からの距離とともに変化
する。幅aのほぼ矩形ビームの平均的動作では受信され
た画像の帯域を1/a以下の空間周波数に帯域制限す
る。
【0006】被撮像体の中心近くで定められ、検出器の
ピッチによって決定されるビームの間隔はCTシステム
の空間サンプリング周波数を制御する。上述した1/a
の空間帯域制限を前提とした場合、サンプリング周波数
は再構成画像におけるエイリアシングの影響を避けるた
めにナイキスト(Nyquist )のサンプリングに従って約
2/aでなければならない。従って、エイリアシングを
除去するにはビーム幅の半分だけ離れている距離でビー
ムをサンプリングまたは読み取ることが必要である。通
常、ビーム幅はビーム間隔にほぼ等しいように最適化さ
れているので、サンプリングはビーム間隔当り2倍で理
想的に実行される。このサンプリングを以下「ダブルサ
ンプリング」と称する。
ピッチによって決定されるビームの間隔はCTシステム
の空間サンプリング周波数を制御する。上述した1/a
の空間帯域制限を前提とした場合、サンプリング周波数
は再構成画像におけるエイリアシングの影響を避けるた
めにナイキスト(Nyquist )のサンプリングに従って約
2/aでなければならない。従って、エイリアシングを
除去するにはビーム幅の半分だけ離れている距離でビー
ムをサンプリングまたは読み取ることが必要である。通
常、ビーム幅はビーム間隔にほぼ等しいように最適化さ
れているので、サンプリングはビーム間隔当り2倍で理
想的に実行される。このサンプリングを以下「ダブルサ
ンプリング」と称する。
【0007】ダブルサンプリングを達成する概念的に簡
単な方法は、最初のサンプルの後に検出素子のピッチの
半分だけ検出素子をシフトして、第2のサンプルをとる
ことである。この方法では、各ビームはその幅(および
間隔)において2倍でサンプリングされる。それにも関
わらず、検出素子をそのピッチ(典型的には、1mm台
の)半分だけ迅速かつ正確に動かす場合に発生しやすい
機械的な問題によってこの方法を実行不可能にしてい
る。むしろ、他の2つの方法が使用されている。
単な方法は、最初のサンプルの後に検出素子のピッチの
半分だけ検出素子をシフトして、第2のサンプルをとる
ことである。この方法では、各ビームはその幅(および
間隔)において2倍でサンプリングされる。それにも関
わらず、検出素子をそのピッチ(典型的には、1mm台
の)半分だけ迅速かつ正確に動かす場合に発生しやすい
機械的な問題によってこの方法を実行不可能にしてい
る。むしろ、他の2つの方法が使用されている。
【0008】第1の方法は、構台の回転平面において検
出素子を構台の回転軸に対して検出器のピッチの4分の
1だけ片寄らせることである。180゜離れた角度で被
撮像体を通って投射されたビームは検出器のピッチの半
分、従って最適化されたビームのビーム間隔の半分だけ
互いから片寄る。
出素子を構台の回転軸に対して検出器のピッチの4分の
1だけ片寄らせることである。180゜離れた角度で被
撮像体を通って投射されたビームは検出器のピッチの半
分、従って最適化されたビームのビーム間隔の半分だけ
互いから片寄る。
【0009】この方法は比較的簡単であるが、全体で3
60゜の走査を必要とするので、360゜未満の走査デ
ータを獲得する角度の小さな走査技術では使用すること
はできない。更に、この方法を適切に実行するには、被
撮像体は各片寄りビームに対するデータ獲得の間動いて
はならない。構台が180゜回転するのに必要な時間の
長さは1秒台以上のものであるので、特に心臓のような
臓器の場合、被撮像体の体動は避けることができない。
60゜の走査を必要とするので、360゜未満の走査デ
ータを獲得する角度の小さな走査技術では使用すること
はできない。更に、この方法を適切に実行するには、被
撮像体は各片寄りビームに対するデータ獲得の間動いて
はならない。構台が180゜回転するのに必要な時間の
長さは1秒台以上のものであるので、特に心臓のような
臓器の場合、被撮像体の体動は避けることができない。
【0010】各ビームのダブルサンプリングを行う第2
の方法は、ビーム間隔の半分だけ各ビームをシフトする
ように必要な量だけx線源を偏移させることである。こ
の偏移は通常構台の回転平面内において構台の回転の接
線に沿って行われる。x線源の偏移はx線管を機械的に
動かすことなく電子的に容易に達成される。x線管にお
いては、電子ビームが焦点スポットのアノードに対して
加速されて、焦点スポットからx線放射を発生する。焦
点スポットは、本技術分野で周知であるように、局部的
な磁界または静電界を形成することによって電子ビーム
を偏向する偏向コイルまたはプレートをx線管内に設け
ることによってアノードの面上で動かされる。
の方法は、ビーム間隔の半分だけ各ビームをシフトする
ように必要な量だけx線源を偏移させることである。こ
の偏移は通常構台の回転平面内において構台の回転の接
線に沿って行われる。x線源の偏移はx線管を機械的に
動かすことなく電子的に容易に達成される。x線管にお
いては、電子ビームが焦点スポットのアノードに対して
加速されて、焦点スポットからx線放射を発生する。焦
点スポットは、本技術分野で周知であるように、局部的
な磁界または静電界を形成することによって電子ビーム
を偏向する偏向コイルまたはプレートをx線管内に設け
ることによってアノードの面上で動かされる。
【0011】ダブルサンプリングは、x線スポットが第
1の位置にある状態で第1の360゜の走査を行って第
1のデータ群をとり、焦点スポットを第2の位置にシフ
トさせた状態で第2の360゜の走査を行って第2のデ
ータ群をとることにより達成される。しかしながら、好
ましくは、隣接するサンプル間の体動による問題を避け
るために、x線ビームは各投影間に一方の位置から他方
の位置に迅速にシフトされる。
1の位置にある状態で第1の360゜の走査を行って第
1のデータ群をとり、焦点スポットを第2の位置にシフ
トさせた状態で第2の360゜の走査を行って第2のデ
ータ群をとることにより達成される。しかしながら、好
ましくは、隣接するサンプル間の体動による問題を避け
るために、x線ビームは各投影間に一方の位置から他方
の位置に迅速にシフトされる。
【0012】x線ビームを偏移させることのできる速度
は検出素子の獲得時間によって制限される。また、この
獲得時間は主に2つの要因すなわちx線ビームによって
刺激された後の検出器信号の減衰時間および投影データ
の所望の信号対雑音比に依存している。減衰時間は検出
器の設計による。信号対雑音比は主に検出器の積分時間
の関数であり、すなわち、検出器がどの程度長くx線エ
ネルギを集めることができるかということである。
は検出素子の獲得時間によって制限される。また、この
獲得時間は主に2つの要因すなわちx線ビームによって
刺激された後の検出器信号の減衰時間および投影データ
の所望の信号対雑音比に依存している。減衰時間は検出
器の設計による。信号対雑音比は主に検出器の積分時間
の関数であり、すなわち、検出器がどの程度長くx線エ
ネルギを集めることができるかということである。
【0013】獲得時間は、x線ビームがずれて片寄った
投影を発生するために焦点スポット間で偏移する速度を
制限する。従って、以下に更に詳細に説明するように、
偏移後の投影は(所望により)x線管の焦点スポットの
移動によりビームの間隔の半分だけシフトするのみなら
ず、獲得時間の間に構台の回転によって理想的な獲得点
から回転する。従って、x線源を偏移させる1つの欠点
は、投影データが画像再構成用の最適位置で収集されな
いということである。投影データとその偏移後の画像と
の間のこのような不整合は中心から移動した点における
再構成画像の解像度を低下させる。
投影を発生するために焦点スポット間で偏移する速度を
制限する。従って、以下に更に詳細に説明するように、
偏移後の投影は(所望により)x線管の焦点スポットの
移動によりビームの間隔の半分だけシフトするのみなら
ず、獲得時間の間に構台の回転によって理想的な獲得点
から回転する。従って、x線源を偏移させる1つの欠点
は、投影データが画像再構成用の最適位置で収集されな
いということである。投影データとその偏移後の画像と
の間のこのような不整合は中心から移動した点における
再構成画像の解像度を低下させる。
【0014】
【発明の概要】本発明は、焦点スポットの偏移に伴なう
従来の欠点を有することなくデータの空間解像度を改良
した断層撮影投影データを獲得する方法および装置に関
する。特に、断層撮像システムは回転中心の周りに回転
することができる構台上に設けられた対向するx線源と
複数の一定間隔で設けられたx線検出素子を有してい
る。x線源は、焦点スポットを偏向させることによっ
て、または他の方法によって、ほぼ構台の回転平面内で
構台の回転に対する接線に沿って構台に対して動かすこ
とができる。
従来の欠点を有することなくデータの空間解像度を改良
した断層撮影投影データを獲得する方法および装置に関
する。特に、断層撮像システムは回転中心の周りに回転
することができる構台上に設けられた対向するx線源と
複数の一定間隔で設けられたx線検出素子を有してい
る。x線源は、焦点スポットを偏向させることによっ
て、または他の方法によって、ほぼ構台の回転平面内で
構台の回転に対する接線に沿って構台に対して動かすこ
とができる。
【0015】第1の投影は構台が角度dTだけ回転する
間に得られる。それから、x線源の位置が距離wだけ偏
移され、第2の投影が得られる。角度dTおよび距離w
は、第2の投影が第1の投影とインターレース(interl
ace )するように選択される。
間に得られる。それから、x線源の位置が距離wだけ偏
移され、第2の投影が得られる。角度dTおよび距離w
は、第2の投影が第1の投影とインターレース(interl
ace )するように選択される。
【0016】従って、本発明の目的は、投影の幾何学的
完全性を損なうことなく、CT投影の空間解像度を改良
することにある。構台の回転角度dTおよび偏移距離w
を適当に選択することによって、偏移後の投影データは
第1の投影データと一致し、第1の投影データと偏移後
の投影データを組み合わせたものは検出器間の間隔を低
減し、従って空間解像度を改良した投影と区別すること
ができない。
完全性を損なうことなく、CT投影の空間解像度を改良
することにある。構台の回転角度dTおよび偏移距離w
を適当に選択することによって、偏移後の投影データは
第1の投影データと一致し、第1の投影データと偏移後
の投影データを組み合わせたものは検出器間の間隔を低
減し、従って空間解像度を改良した投影と区別すること
ができない。
【0017】本発明の一実施例においては、x線源は検
出器のピッチよりも大きく投影データの空間位置をシフ
トする距離wだけ偏移させられる。構台の回転角度dT
は第1の投影と偏移後の投影とのインターレースを維持
するように調整される。この増大した偏移距離wはx線
源の偏移によって発生される投影の全体の数を低減す
る。
出器のピッチよりも大きく投影データの空間位置をシフ
トする距離wだけ偏移させられる。構台の回転角度dT
は第1の投影と偏移後の投影とのインターレースを維持
するように調整される。この増大した偏移距離wはx線
源の偏移によって発生される投影の全体の数を低減す
る。
【0018】本発明の他の目的は、CTシステムによっ
て得なければならない投影の数、従ってCTシステムに
よって処理されなければならないデータの量をあまり増
大することなく投影データの空間解像度を増大すること
にある。また、検出器のピッチ以上に投影データの空間
位置をシフトさせる距離だけx線源を偏移させることに
よって2つの投影をインターレースさせるのに必要な構
台の回転量が増大する。これは各投影毎のデータの積分
時間を長くすることを可能にする。
て得なければならない投影の数、従ってCTシステムに
よって処理されなければならないデータの量をあまり増
大することなく投影データの空間解像度を増大すること
にある。また、検出器のピッチ以上に投影データの空間
位置をシフトさせる距離だけx線源を偏移させることに
よって2つの投影をインターレースさせるのに必要な構
台の回転量が増大する。これは各投影毎のデータの積分
時間を長くすることを可能にする。
【0019】本発明の他の目的は、各投影の獲得時間を
実質的に制限することなく、x線源を偏移させることに
よって形成される2つの投影をインターレースさせるこ
とにある。長い獲得時間は遅い検出器を使用することを
可能にし、撮像データの信号対雑音比を改良する。
実質的に制限することなく、x線源を偏移させることに
よって形成される2つの投影をインターレースさせるこ
とにある。長い獲得時間は遅い検出器を使用することを
可能にし、撮像データの信号対雑音比を改良する。
【0020】本発明の上述した他の目的および利点は次
の説明から明らかになるであろう。この説明において
は、本発明の好適実施例が図示されている添付図面を参
照する。しかしながら、このような実施例は本発明の全
範囲を必ずしも示しているものでないので、本発明の範
囲を解釈するには特許請求の範囲を参照されたい。
の説明から明らかになるであろう。この説明において
は、本発明の好適実施例が図示されている添付図面を参
照する。しかしながら、このような実施例は本発明の全
範囲を必ずしも示しているものでないので、本発明の範
囲を解釈するには特許請求の範囲を参照されたい。
【0021】
【実施例の説明】図1を参照すると、「第3世代」のC
Tスキャナを表すCT構台16は、x線ファンビーム2
4を焦点スポット11から被撮像体12を通って検出器
列18に投射するように方向付けられたx線源10を有
している。検出器列18は多数の検出素子26から構成
され、この検出素子26は被撮像体12を通るx線の透
過の結果生ずる投影画像をともに検出する。構台16は
被撮像体12内に位置付けられている回転中心14の周
りを回転する。
Tスキャナを表すCT構台16は、x線ファンビーム2
4を焦点スポット11から被撮像体12を通って検出器
列18に投射するように方向付けられたx線源10を有
している。検出器列18は多数の検出素子26から構成
され、この検出素子26は被撮像体12を通るx線の透
過の結果生ずる投影画像をともに検出する。構台16は
被撮像体12内に位置付けられている回転中心14の周
りを回転する。
【0022】本発明とともに使用するのに適しているC
Tスキャナの制御システムは、構台関連制御モジュール
28を有し、この制御モジュール28はx線源10に電
力およびタイミング信号を供給し、x線管内の焦点スポ
ット11の位置を制御するx線コントローラ30と、構
台16の回転速度および位置を制御する構台モータコン
トローラ32と、検出器列18から投影データを受信
し、このデータを後のコンピュータ処理のためにディジ
タルワードに変換するデータ獲得システム34とを有し
ている。
Tスキャナの制御システムは、構台関連制御モジュール
28を有し、この制御モジュール28はx線源10に電
力およびタイミング信号を供給し、x線管内の焦点スポ
ット11の位置を制御するx線コントローラ30と、構
台16の回転速度および位置を制御する構台モータコン
トローラ32と、検出器列18から投影データを受信
し、このデータを後のコンピュータ処理のためにディジ
タルワードに変換するデータ獲得システム34とを有し
ている。
【0023】x線コントローラ30および構台モータコ
ントローラ32はコンピュータ36に接続されている。
コンピュータ36はディジタル・ゼネラル・エクリプス
(Data General Eclipse)社のMV/7800Cのような
汎用のミニコンピュータであり、以下に詳細に説明する
ように本発明によって構台の動きをx線ビームの位置に
同期させるようにプログラムされている。
ントローラ32はコンピュータ36に接続されている。
コンピュータ36はディジタル・ゼネラル・エクリプス
(Data General Eclipse)社のMV/7800Cのような
汎用のミニコンピュータであり、以下に詳細に説明する
ように本発明によって構台の動きをx線ビームの位置に
同期させるようにプログラムされている。
【0024】データ獲得システム34は画像再構成装置
38に接続されている。この画像再構成装置はデータ獲
得システム24を介して検出器列18からサンプリング
されディジタル化された信号を受信し、本技術分野で知
られている方法によって高速で画像を再構成する。この
画像再構成装置38は米国バージニア州のスターテクノ
ロジ(Star Technologies) 社によって製造されているよ
うなアレイプロセッサである。
38に接続されている。この画像再構成装置はデータ獲
得システム24を介して検出器列18からサンプリング
されディジタル化された信号を受信し、本技術分野で知
られている方法によって高速で画像を再構成する。この
画像再構成装置38は米国バージニア州のスターテクノ
ロジ(Star Technologies) 社によって製造されているよ
うなアレイプロセッサである。
【0025】コンピュータ36はオペレータコンソール
40を介して指令および走査パラメータを受信する。コ
ンソール40は一般にCRTディスプレイおよびキーボ
ードであり、これはオペレータに走査用のパラメータを
入力させたり、コンピュータ36からの再構成画像およ
び他の情報を表示する。大容量記憶装置42はCT撮像
システム用の動作プログラムを蓄積したり、オペレータ
によって将来参照される画像データを蓄積する手段を構
成している。
40を介して指令および走査パラメータを受信する。コ
ンソール40は一般にCRTディスプレイおよびキーボ
ードであり、これはオペレータに走査用のパラメータを
入力させたり、コンピュータ36からの再構成画像およ
び他の情報を表示する。大容量記憶装置42はCT撮像
システム用の動作プログラムを蓄積したり、オペレータ
によって将来参照される画像データを蓄積する手段を構
成している。
【0026】図2を参照すると、特定の検出素子26に
関連するファンビーム24の部分はx線焦点スポット1
1の中心および特定の検出素子26の中心を通る線に沿
った射線20によって識別される。また、この射線20
は回転中心14から射線20への垂直距離rおよび任意
の基準軸22からのその半径への回転角度Tによって示
される。
関連するファンビーム24の部分はx線焦点スポット1
1の中心および特定の検出素子26の中心を通る線に沿
った射線20によって識別される。また、この射線20
は回転中心14から射線20への垂直距離rおよび任意
の基準軸22からのその半径への回転角度Tによって示
される。
【0027】各射線20に対するrおよびTを値は、T
を水平軸およびrを垂直軸に示した図3のようなr−T
図に写像される。投影nのデータの獲得の開始において
は、投影の射線20は黒丸44によって示されるr−T
図上の位置にある。これらの黒丸44は単一の投影用の
r−T図の点の軌跡を定める投影線50に沿っている。
この投影線50はCTシステムの構造に依存しており、
ファンビーム24の中心線20に対する直線として近似
される。簡単にするため、3つの射線20のみの開始位
置44が図3に示されているが、本技術分野で理解され
ているように、投影は通常1000本の射線20および
対応する強度測定データを有している。
を水平軸およびrを垂直軸に示した図3のようなr−T
図に写像される。投影nのデータの獲得の開始において
は、投影の射線20は黒丸44によって示されるr−T
図上の位置にある。これらの黒丸44は単一の投影用の
r−T図の点の軌跡を定める投影線50に沿っている。
この投影線50はCTシステムの構造に依存しており、
ファンビーム24の中心線20に対する直線として近似
される。簡単にするため、3つの射線20のみの開始位
置44が図3に示されているが、本技術分野で理解され
ているように、投影は通常1000本の射線20および
対応する強度測定データを有している。
【0028】構台16が回転するに従って、射線20の
位置は黒丸44からr−T図に沿って水平に移動する。
水平線は構台16の回転によって生ずる増大するTに対
応する。射線20に沿ったx線放射の変化する強度はr
−T図上の水平線の長さによって示され、各投影毎の構
台の全回転分に等しい角度dTにわたって検出素子26
によって積分される。構台16がdTだけ回転した後、
その投影は完了し、構台16が投影線50’によって示
される次の投影n+1の開始位置に回転するまでデータ
はとられない。この投影用の射線20の開始位置が黒丸
46で示されている。
位置は黒丸44からr−T図に沿って水平に移動する。
水平線は構台16の回転によって生ずる増大するTに対
応する。射線20に沿ったx線放射の変化する強度はr
−T図上の水平線の長さによって示され、各投影毎の構
台の全回転分に等しい角度dTにわたって検出素子26
によって積分される。構台16がdTだけ回転した後、
その投影は完了し、構台16が投影線50’によって示
される次の投影n+1の開始位置に回転するまでデータ
はとられない。この投影用の射線20の開始位置が黒丸
46で示されている。
【0029】r−T のr軸に沿った射線20の分離は
投影データの空間サンプリング周波数を決定する。エイ
リアシングについて上述したように、このサンプリング
周波数は検出器18およびx線源10の配置構成によっ
て固定されるビーム間隔によって近似される。図4を参
照すると、ビーム間隔bs はファンビーム24の一番真
中の射線20に垂直な線48に沿った回転中心14の近
くで決定される。ビーム間隔bs は次式によりx線源1
0と中心14との間の距離Rs 、検出器18と中心14
との距離Rd 、および検出素子Pの間のピッチの関数で
ある。
投影データの空間サンプリング周波数を決定する。エイ
リアシングについて上述したように、このサンプリング
周波数は検出器18およびx線源10の配置構成によっ
て固定されるビーム間隔によって近似される。図4を参
照すると、ビーム間隔bs はファンビーム24の一番真
中の射線20に垂直な線48に沿った回転中心14の近
くで決定される。ビーム間隔bs は次式によりx線源1
0と中心14との間の距離Rs 、検出器18と中心14
との距離Rd 、および検出素子Pの間のピッチの関数で
ある。
【0030】
【数1】 この値は、焦点スポットの大きさおよび検出素子26の
開口部によって決定されるビーム幅bw に独立である。
それにも関わらず、ビーム幅は一般にビーム間隔に等し
いように最適化される。
開口部によって決定されるビーム幅bw に独立である。
それにも関わらず、ビーム幅は一般にビーム間隔に等し
いように最適化される。
【0031】
【数2】 ビーム幅bw は更にコリメーションによってビーム間隔
bs から低減されるが、単一の投影に対してはビーム間
隔bs は検出素子26のピッチによって固定されてい
る。
bs から低減されるが、単一の投影に対してはビーム間
隔bs は検出素子26のピッチによって固定されてい
る。
【0032】上述したように、第2の投影はx線の焦点
スポット11を偏移させることによって形成され、第1
の投影のビームと第2の投影のビームとの間の間隔
bs ’は焦点スポット11が偏移する距離に依存して任
意に変えることができる。このビーム間隔bs ’は偏移
距離wによって調整され、ビーム幅bs の空間サンプリ
ング速度s倍を構成する。
スポット11を偏移させることによって形成され、第1
の投影のビームと第2の投影のビームとの間の間隔
bs ’は焦点スポット11が偏移する距離に依存して任
意に変えることができる。このビーム間隔bs ’は偏移
距離wによって調整され、ビーム幅bs の空間サンプリ
ング速度s倍を構成する。
【0033】上述したようにエイリアシングを除去する
必要条件はサンプリングが各ビーム幅の少なくとも2倍
であること、すなわちs≦1/2であることである。し
かしながら、検出素子18の周期性の結果として、所望
のサンプリング速度はこのサンプリング速度の奇数倍、
すなわち次式で実際に得られる。
必要条件はサンプリングが各ビーム幅の少なくとも2倍
であること、すなわちs≦1/2であることである。し
かしながら、検出素子18の周期性の結果として、所望
のサンプリング速度はこのサンプリング速度の奇数倍、
すなわち次式で実際に得られる。
【0034】 s=[N+(1/n)] (3) ここにおいて、ダブルサンプリングの場合はn=2であ
り、N=0、1、2、3... 投影がビーム間隔の半分だけ偏移される場合には、各射
線は偏移された投影の対応する射線でダブルサンプリン
グされた対を形成する。しかしながら、投影がビーム間
隔の半分より大きな値、例えばビーム間隔の半分の3倍
の距離だけで偏移される場合には、各ビームは隣接する
ものに対応する偏移された投影群の射線によりダブルサ
ンプリングされた対を形成する。
り、N=0、1、2、3... 投影がビーム間隔の半分だけ偏移される場合には、各射
線は偏移された投影の対応する射線でダブルサンプリン
グされた対を形成する。しかしながら、投影がビーム間
隔の半分より大きな値、例えばビーム間隔の半分の3倍
の距離だけで偏移される場合には、各ビームは隣接する
ものに対応する偏移された投影群の射線によりダブルサ
ンプリングされた対を形成する。
【0035】次に、図5を参照すると、スポットの偏移
を使用した投影nにおいて、投影の射線20は投影線5
0に沿った黒丸44によって示される位置から開始す
る。検出素子18からの信号は、構台16が黒丸44か
ら延出している水平線によって示される角度dTを通っ
て回転するに従って積分される。
を使用した投影nにおいて、投影の射線20は投影線5
0に沿った黒丸44によって示される位置から開始す
る。検出素子18からの信号は、構台16が黒丸44か
ら延出している水平線によって示される角度dTを通っ
て回転するに従って積分される。
【0036】この第1の投影nの終了時、焦点スポット
11は新しい位置に偏移される。偏移の効果は、偏移の
軌線52に沿って射線20のrおよびTの位置を偏移線
50’上の白丸44’で示される位置まで迅速に動かす
ことである。構台16が増大するTの方向に回転し、偏
移の方向が構台の回転方向と反対である場合、スポット
はより低いTおよびより高いrの位置44’に偏移す
る。焦点スポット11の移動量は白丸44’で示される
各射線20の新しい位置が位置44の間の中間になるよ
うに制御される。これはエイリアシングを除去するのに
必要なダブルサンプリングを提供する。
11は新しい位置に偏移される。偏移の効果は、偏移の
軌線52に沿って射線20のrおよびTの位置を偏移線
50’上の白丸44’で示される位置まで迅速に動かす
ことである。構台16が増大するTの方向に回転し、偏
移の方向が構台の回転方向と反対である場合、スポット
はより低いTおよびより高いrの位置44’に偏移す
る。焦点スポット11の移動量は白丸44’で示される
各射線20の新しい位置が位置44の間の中間になるよ
うに制御される。これはエイリアシングを除去するのに
必要なダブルサンプリングを提供する。
【0037】上述したように、焦点スポット11が偏移
する前に構台の回転dTにかかる時間はデータ獲得によ
って示される最小の値より大きいかまたは等しくなけれ
ばならない。検出器18に対する必要なデータ獲得時間
は偏移後の投影の開始位置44’を遅延させ、これらの
開始位置は最初の投影の開始位置44と一致しない。図
5に示すサンプリングはダブルサンプリングに必要なよ
うにビーム間隔bs の半分の所にあるが、偏移後の射線
の開始位置44’は最初の射線の開始位置44からTo
だけシフトしている。これは、dTが偏移量に無関係に
構台の回転を所望のビュー(view)数に分割するように
選択されるということから生ずる。
する前に構台の回転dTにかかる時間はデータ獲得によ
って示される最小の値より大きいかまたは等しくなけれ
ばならない。検出器18に対する必要なデータ獲得時間
は偏移後の投影の開始位置44’を遅延させ、これらの
開始位置は最初の投影の開始位置44と一致しない。図
5に示すサンプリングはダブルサンプリングに必要なよ
うにビーム間隔bs の半分の所にあるが、偏移後の射線
の開始位置44’は最初の射線の開始位置44からTo
だけシフトしている。これは、dTが偏移量に無関係に
構台の回転を所望のビュー(view)数に分割するように
選択されるということから生ずる。
【0038】偏移の速度に対してデータ獲得により課せ
られる時間の制約がない場合、偏移後の投影からのデー
タを初めの偏移前の投影のデータと一致させることは可
能である。図6を参照すると、偏移前の最初の投影nに
対する構台の回転量dTは値dT’に制限され、偏移前
の投影の開始位置44の投影線50は偏移後の投影の開
始位置44’の投影線50’と一致している。このよう
な状態は、「インターレース(interlace) 」と称する。
られる時間の制約がない場合、偏移後の投影からのデー
タを初めの偏移前の投影のデータと一致させることは可
能である。図6を参照すると、偏移前の最初の投影nに
対する構台の回転量dTは値dT’に制限され、偏移前
の投影の開始位置44の投影線50は偏移後の投影の開
始位置44’の投影線50’と一致している。このよう
な状態は、「インターレース(interlace) 」と称する。
【0039】インターレースに必要なdT’の値は次の
ように決定される。図4を再び参照すると、ファンビー
ムの中心近くの射線20の場合、隣接する射線20間の
rにおける変化は上述した式(1)によりほぼビーム間
隔bs =Rs [P/(Rs +Rd )]である。このよう
な射線20間におけるTの変化はほぼアークタンジェン
ト[P/(Rd +Rs )]であり、この場合、P<<R
s +Rdであるので、単にP/(Rd +Rs )である。
ように決定される。図4を再び参照すると、ファンビー
ムの中心近くの射線20の場合、隣接する射線20間の
rにおける変化は上述した式(1)によりほぼビーム間
隔bs =Rs [P/(Rs +Rd )]である。このよう
な射線20間におけるTの変化はほぼアークタンジェン
ト[P/(Rd +Rs )]であり、この場合、P<<R
s +Rdであるので、単にP/(Rd +Rs )である。
【0040】従って、r−T空間における投影線50の
傾斜は次式の通りである。
傾斜は次式の通りである。
【0041】
【数3】 同様にして、図7を参照すると、ファンビーム24の中
心近くの射線20の場合、w(ここにおいて、w<<R
s +Rd )に等しい距離の焦点スポット11の偏移は、
偏移の間隔ws =wRd /(Rd +Rs )に等しい値お
よび偏移角度wa =−w/(Rd +Rs )に等しい角度
Tだけ射線20のrを変化させる。従って、偏移の軌線
52の傾斜は次式の通りである。
心近くの射線20の場合、w(ここにおいて、w<<R
s +Rd )に等しい距離の焦点スポット11の偏移は、
偏移の間隔ws =wRd /(Rd +Rs )に等しい値お
よび偏移角度wa =−w/(Rd +Rs )に等しい角度
Tだけ射線20のrを変化させる。従って、偏移の軌線
52の傾斜は次式の通りである。
【0042】
【数4】 次に、図6の拡大部分を示している図8を参照すると、
偏移前の投影および偏移後の投影の投影線50および5
0’をインターレースさせるに必要な構台回転角度d
T’は投影線50および偏移軌線52の傾斜および所望
のサンプリング速度から容易に計算することができる。
偏移軌線52および投影線50は偏移前の投影データの
前の線からr軸に沿ったサンプリング距離sbs の所に
おいて交差しなければならないことが知られているの
で、次式の通りになる。
偏移前の投影および偏移後の投影の投影線50および5
0’をインターレースさせるに必要な構台回転角度d
T’は投影線50および偏移軌線52の傾斜および所望
のサンプリング速度から容易に計算することができる。
偏移軌線52および投影線50は偏移前の投影データの
前の線からr軸に沿ったサンプリング距離sbs の所に
おいて交差しなければならないことが知られているの
で、次式の通りになる。
【0043】
【数5】 または、式(1)で与えられるbs の値を代入すること
によって、次式のようになる。
によって、次式のようになる。
【0044】 dT’=sP/Rd (7) 焦点スポット11の必要な偏移量wも同様に決定され
る。図7に示す偏移に対する式によって次のようにな
る。
る。図7に示す偏移に対する式によって次のようにな
る。
【0045】 w=ws (Rs +Rd )/Rd (8) しかしながら、所望のサンプリングを発生するには、w
s =sbs であり、式(1)から次のようになる。
s =sbs であり、式(1)から次のようになる。
【0046】 w=sP(Rs /Rd ) (9) 図6に示すダブルサンプリングの場合には、s=1/2
であるが、上述した式は一般の任意のサンプリング速度
に対して成立する。
であるが、上述した式は一般の任意のサンプリング速度
に対して成立する。
【0047】上述したように、図6に示すデータ獲得速
度は検出器18の減衰時間に対してはあまりにも速すぎ
るし、またデータサンプリングにおける許容し得る信号
対雑音比に対する適当な積分時間を与えるにはあまり速
すぎる。更に、全投影数はこのような迅速な偏移によっ
て著しく増大し、この結果不必要なデータができ、デー
タを低減する別のステップが必要になる。
度は検出器18の減衰時間に対してはあまりにも速すぎ
るし、またデータサンプリングにおける許容し得る信号
対雑音比に対する適当な積分時間を与えるにはあまり速
すぎる。更に、全投影数はこのような迅速な偏移によっ
て著しく増大し、この結果不必要なデータができ、デー
タを低減する別のステップが必要になる。
【0048】従って、本発明の他の実施例においては、
図9に示すように構台回転角度dT”ならびに偏移距離
wがずっと大きく増大されており、偏移後の投影44’
は図6に示すようなbs /2よりもむしろ3bs /2だ
け偏移させられたものとして偏移前の投影44とインタ
ーレースしている。この増大した偏移量に必要な構台の
回転dT”は式(6)から容易に導くことができ、次式
に等しくなる。
図9に示すように構台回転角度dT”ならびに偏移距離
wがずっと大きく増大されており、偏移後の投影44’
は図6に示すようなbs /2よりもむしろ3bs /2だ
け偏移させられたものとして偏移前の投影44とインタ
ーレースしている。この増大した偏移量に必要な構台の
回転dT”は式(6)から容易に導くことができ、次式
に等しくなる。
【0049】
【数6】 偏移量wは式(9)から次のようになる。
【0050】 w=3bs Rs /2Rd (11) 実際には、サンプリング速度sの項Nは所望の投影数を
発生するように選択される。所与のdT”の場合には、
全投影数は2π/2dT”に等しくなる。
発生するように選択される。所与のdT”の場合には、
全投影数は2π/2dT”に等しくなる。
【0051】インターレース状態における検出器列18
に対する焦点スポット11の移動の幾何学的関係は図1
0を参照することによって理解することができる。上述
した式(7)から構台16はまず角度dT’=sP/R
d だけ回転し、各検出素子26は距離Rd (sP/
Rd )=sPだけシフトし、焦点スポット11は距離R
s (sP/Rd )=sP(Rs /Rd )だけシフトす
る。そして、焦点スポット11は構台16の回転によっ
て反対方向に生ずる焦点スポット11の上述した移動に
等しい、式(9)による正確な距離w=sP(Rs /R
d )だけ偏移する。従って、焦点スポット11は空間的
に同じ絶対位置に戻るが、検出素子26はsPだけ、例
えば、s=1/2である場合には検出素子のピッチの半
分だけシフトさせられる。
に対する焦点スポット11の移動の幾何学的関係は図1
0を参照することによって理解することができる。上述
した式(7)から構台16はまず角度dT’=sP/R
d だけ回転し、各検出素子26は距離Rd (sP/
Rd )=sPだけシフトし、焦点スポット11は距離R
s (sP/Rd )=sP(Rs /Rd )だけシフトす
る。そして、焦点スポット11は構台16の回転によっ
て反対方向に生ずる焦点スポット11の上述した移動に
等しい、式(9)による正確な距離w=sP(Rs /R
d )だけ偏移する。従って、焦点スポット11は空間的
に同じ絶対位置に戻るが、検出素子26はsPだけ、例
えば、s=1/2である場合には検出素子のピッチの半
分だけシフトさせられる。
【0052】これとは異なって、図5の「インターレー
スしない」方法の場合の検出器列18に対する焦点スポ
ット11の移動の幾何学的関係が図11に示されてい
る。ここでは、焦点スポット11は空間的に同じ絶対位
置に戻らないのでインターレースは達成されず、従って
図5に示されている構台16の次の回転および積分期間
の間の焦点スポット11による点の軌跡は前の構台の回
転の期間の間の点の軌跡と異なる。構台16の回転中心
14の近くの点においては、シフトしたビーム20’を
形成する構台16の回転および焦点スポット11の偏移
によるビーム20のシフトは、構台の回転中心14近く
の点に対してビーム20および20’交互に正確に間隔
をおいてならぶようになる。しかしながら、シフト前の
ビーム20およびシフト後のビーム20’はここに定義
されるようにインターレースしない、すなわちビーム2
0相互の間にビーム20’が生じるようにならないの
で、ビーム20および20’が中心点14に近づいた
り、中心点14から離れるに従って、ビーム20’の正
しい間隔は失われることになる。
スしない」方法の場合の検出器列18に対する焦点スポ
ット11の移動の幾何学的関係が図11に示されてい
る。ここでは、焦点スポット11は空間的に同じ絶対位
置に戻らないのでインターレースは達成されず、従って
図5に示されている構台16の次の回転および積分期間
の間の焦点スポット11による点の軌跡は前の構台の回
転の期間の間の点の軌跡と異なる。構台16の回転中心
14の近くの点においては、シフトしたビーム20’を
形成する構台16の回転および焦点スポット11の偏移
によるビーム20のシフトは、構台の回転中心14近く
の点に対してビーム20および20’交互に正確に間隔
をおいてならぶようになる。しかしながら、シフト前の
ビーム20およびシフト後のビーム20’はここに定義
されるようにインターレースしない、すなわちビーム2
0相互の間にビーム20’が生じるようにならないの
で、ビーム20および20’が中心点14に近づいた
り、中心点14から離れるに従って、ビーム20’の正
しい間隔は失われることになる。
【0053】本発明の精神および範囲内に入る好適実施
例の多くの変更および変形は本技術分野に専門知識を有
する者に明らかであろう。本発明の範囲内に入る種々の
実施例を公にするために、特許請求の範囲が設けられて
いる。
例の多くの変更および変形は本技術分野に専門知識を有
する者に明らかであろう。本発明の範囲内に入る種々の
実施例を公にするために、特許請求の範囲が設けられて
いる。
【図1】本発明を使用するのに適しているCTシステム
の構成図である。
の構成図である。
【図2】図1のシステムによって出力されるx線ファン
ビームを詳細に示す平面図である。
ビームを詳細に示す平面図である。
【図3】x線源を偏移させることなく図1のCTシステ
ムで得られる投影データの射線の角度Tおよび半径rを
示すグラフである。
ムで得られる投影データの射線の角度Tおよび半径rを
示すグラフである。
【図4】ビーム間隔、ビーム角度および検出器間隔の間
の関係を示す図2のファンビームの詳細を示す拡大図で
ある。
の関係を示す図2のファンビームの詳細を示す拡大図で
ある。
【図5】従来技術によるx線源を偏移させた場合の図3
と同様な射線の角度Tおよび半径rを示すグラフであ
る。
と同様な射線の角度Tおよび半径rを示すグラフであ
る。
【図6】図5に類似したグラフであるが、2つの投影を
インターレースするように偏移量が構台の回転角度で調
整されている場合を示すグラフである。
インターレースするように偏移量が構台の回転角度で調
整されている場合を示すグラフである。
【図7】ファンビームの射線の幾何学的配置によりx線
源を偏移させた効果を示す図2のファンビームの詳細を
示す拡大図である。
源を偏移させた効果を示す図2のファンビームの詳細を
示す拡大図である。
【図8】x線源を動かすことによって発生する2つの投
影群をインターレースさせるのに必要な構台の回転dT
およびx線源の変位の間の関係の計算を示す図6の詳細
な拡大図である。
影群をインターレースさせるのに必要な構台の回転dT
およびx線源の変位の間の関係の計算を示す図6の詳細
な拡大図である。
【図9】図6に類似したグラフであるが、投影の数を減
らし、獲得時間を増大するように偏移量が検出器のピッ
チより大きくなっている場合を示すグラフである。
らし、獲得時間を増大するように偏移量が検出器のピッ
チより大きくなっている場合を示すグラフである。
【図10】図9に説明したように本発明に従って偏移さ
せた場合の焦点スポットおよび検出器列の動きを示す図
2のファンビームの詳細を示す平面図である。
せた場合の焦点スポットおよび検出器列の動きを示す図
2のファンビームの詳細を示す平面図である。
【図11】図5に示すような従来技術の偏移量の場合の
焦点スポットおよび検出器列の動きを示す図2のファン
ビームの詳細を示す平面図である。
焦点スポットおよび検出器列の動きを示す図2のファン
ビームの詳細を示す平面図である。
10 x線源 11 焦点スポット 12 被撮像体 16 CT構台 18 検出器列 24 x線ファンビーム 26 検出素子 30 x線コントローラ 32 構台モータコントローラ 34 データ獲得システム 36 コンピュータ 38 画像再構成装置 40 コンソール 42 大容量記憶装置
Claims (1)
- 【請求項1】 中心の周りに回転可能な構台と、 該構台上に装着されており、該構台に関する第1及び第
2の位置から且つ該構台の回転平面内においてx線を発
生するx線源と、 分離距離Pを有している一定の間隔で周期的に設けられ
た複数の検出器素子から成っており、前記x線源からの
射線に沿って受け取った放射線から投影データを測定す
る検出器であって、前記射線は、前記中心に関して所定
の角度T及び半径rを有している、検出器と、 第1及び第2の射線を有している第1及び第2の投影デ
ータを発生するように、前記x線源からのx線を2つの
異なる前記位置の間でシフトさせるx線制御手段と、 前記第1の射線及び前記第2の射線のいずれもが単一の
投影線の軌跡に沿った半径r及び角度Tの値を有するよ
うに、前記x線制御手段による前記x線源のシフトを前
記構台の回転に関して調整する構台制御手段とを備えて
おり、 該構台制御手段は、前記第1の位置から前記第2の位置
へのx線のシフトがP(Rs /Rd )に等しい偏移距離
wであるときに、sP/Rd に等しい角度dTだけ前記
構台を回転させており、ここで、 Pは検出器素子の間の間隔であり、 sは空間サンプリング周波数3/2であり、 Rs は前記x線源と前記中心との間の距離であり、 Rd は前記検出器と前記中心との間の距離である物体を
撮像するCT装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/540,995 US5173852A (en) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | Computed tomography system with translatable focal spot |
| US540,995 | 1990-06-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04231940A JPH04231940A (ja) | 1992-08-20 |
| JP2758515B2 true JP2758515B2 (ja) | 1998-05-28 |
Family
ID=24157763
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3170389A Expired - Fee Related JP2758515B2 (ja) | 1990-06-20 | 1991-06-17 | 投影データを獲得する方法及びct装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5173852A (ja) |
| EP (1) | EP0467532B1 (ja) |
| JP (1) | JP2758515B2 (ja) |
| CA (1) | CA2042230A1 (ja) |
| DE (1) | DE69114932T2 (ja) |
| IL (1) | IL98397A (ja) |
Cited By (1)
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