JP2705023B2 - 被処理物の酸化方法 - Google Patents
被処理物の酸化方法Info
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Landscapes
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Cleaning In General (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は被処理物の酸化方法に
関し、特に、金属や半導体物質の表面を酸化被膜する方
法、あるいは、これら被処理物をドライ精密洗浄等の酸
化除去する方法に関する。後者の酸化除去する方法は、
具体的には、金属やガラス板の表面に付着した有機化合
物の汚れを除去する方法や、半導体製造工程においてシ
リコンウエハ上の不要になったフォトレジストを除去す
る方法がある。
関し、特に、金属や半導体物質の表面を酸化被膜する方
法、あるいは、これら被処理物をドライ精密洗浄等の酸
化除去する方法に関する。後者の酸化除去する方法は、
具体的には、金属やガラス板の表面に付着した有機化合
物の汚れを除去する方法や、半導体製造工程においてシ
リコンウエハ上の不要になったフォトレジストを除去す
る方法がある。
【0002】
【従来の技術】近年、金属やガラス等の被処理物を傷め
ることなく、その表面に付着した有機汚染物質を除去す
る方法や、その表面に酸化膜の層を形成する方法とし
て、紫外光とオゾンの協同作用を利用した処理技術が開
発され実用化に至っている。この技術は、例えば単行本
「オゾン利用の新技術」(三▲ゆう▼書房発行、昭和6
1年11月20日)の第9章(第301頁から第313
頁、以下文献甲という。)に、原理、装置、洗浄効果、
用途などが詳細に解説されている。それによると、低圧
水銀ランプから放射される真空紫外光である185nm
の光を、酸素を含む空気、あるいは酸素ガスに照射して
オゾンを発生させている。そして、同じ低圧水銀ランプ
から放射される遠紫外光である254nmの光で前記オ
ゾンの一部を分解し、オゾンの分解ガスである活性酸化
性分解物を発生させ、これを被処理物の表面に接触させ
るものである。そして、有機汚染物の洗浄について言え
ば、この接触によって被処理物の表面に付着した有機汚
染物を酸化させて二酸化炭素や水などの低分子酸化物に
変化させ、これを被処理物の表面上から除去することに
よって、当該被処理物の表面をドライ精密洗浄すること
ができる。
ることなく、その表面に付着した有機汚染物質を除去す
る方法や、その表面に酸化膜の層を形成する方法とし
て、紫外光とオゾンの協同作用を利用した処理技術が開
発され実用化に至っている。この技術は、例えば単行本
「オゾン利用の新技術」(三▲ゆう▼書房発行、昭和6
1年11月20日)の第9章(第301頁から第313
頁、以下文献甲という。)に、原理、装置、洗浄効果、
用途などが詳細に解説されている。それによると、低圧
水銀ランプから放射される真空紫外光である185nm
の光を、酸素を含む空気、あるいは酸素ガスに照射して
オゾンを発生させている。そして、同じ低圧水銀ランプ
から放射される遠紫外光である254nmの光で前記オ
ゾンの一部を分解し、オゾンの分解ガスである活性酸化
性分解物を発生させ、これを被処理物の表面に接触させ
るものである。そして、有機汚染物の洗浄について言え
ば、この接触によって被処理物の表面に付着した有機汚
染物を酸化させて二酸化炭素や水などの低分子酸化物に
変化させ、これを被処理物の表面上から除去することに
よって、当該被処理物の表面をドライ精密洗浄すること
ができる。
【0003】また、他の方法として、真空紫外光である
185nmの光によりオゾンを発生させるのではなく、
オゾン発生機で作ったオゾンを直接処理室へ導き、低圧
水銀ランプから放射される遠紫外光である254nmの
光をオゾンに照射してオゾンを分解し、オゾンと活性酸
化性分解物を被処理物の表面に接触させ、当該表面上の
有機汚染物を酸化除去するものがある。
185nmの光によりオゾンを発生させるのではなく、
オゾン発生機で作ったオゾンを直接処理室へ導き、低圧
水銀ランプから放射される遠紫外光である254nmの
光をオゾンに照射してオゾンを分解し、オゾンと活性酸
化性分解物を被処理物の表面に接触させ、当該表面上の
有機汚染物を酸化除去するものがある。
【0004】上記の文献甲に記載された技術では、オゾ
ン発生機を使用しない場合は、オゾン濃度が低くなって
しまうので、生成するオゾンの絶対量を多くするには1
85nmの光が透過する距離d(cm)の値と、酸素分
圧p(気圧)の値により決まる(d×p)の値をある一
定値以上にしなければならなかった。具体的にいえば、
酸素分圧pが0.2気圧の時には、距離dは10cm以
上が必要となってしまう。このように一般的には(d×
p)の値を、2より大きいものとしなければならないの
が現実であった。このため、装置が大型化してしまう欠
点があると同時に、高濃度のオゾンが得られないため、
有機汚染物の酸化除去等では処理スピードが遅かった。
また、オゾン発生機を使う場合は、それ自体が高価な装
置であり、経済的な問題が発生し、使用できる条件をせ
ばめていた。
ン発生機を使用しない場合は、オゾン濃度が低くなって
しまうので、生成するオゾンの絶対量を多くするには1
85nmの光が透過する距離d(cm)の値と、酸素分
圧p(気圧)の値により決まる(d×p)の値をある一
定値以上にしなければならなかった。具体的にいえば、
酸素分圧pが0.2気圧の時には、距離dは10cm以
上が必要となってしまう。このように一般的には(d×
p)の値を、2より大きいものとしなければならないの
が現実であった。このため、装置が大型化してしまう欠
点があると同時に、高濃度のオゾンが得られないため、
有機汚染物の酸化除去等では処理スピードが遅かった。
また、オゾン発生機を使う場合は、それ自体が高価な装
置であり、経済的な問題が発生し、使用できる条件をせ
ばめていた。
【0005】他方、紫外線とオゾンの共同作用の技術
は、例えば照明学会研究会資料(LS−90−8〜1
3)(社団法人 照明学会 1990年10月21日、
第36頁から第41頁、以下文献乙という。)に紹介さ
れているように、「光アッシャ」と呼ばれるシリコンウ
エハ上の不要フォトレジスト除去装置が開発されてい
る。この文献でも文献甲に記載された技術と同様、オゾ
ン発生機を使用する場合と使用しない場合の2通りの方
法が説明されているが、通常の厚さ、例えば約1μm程
度、を有するフォトレジストの除去を速やかに行うため
には、結局は、低圧水銀ランプとオゾン発生機の組み合
せが必要になる。従って、装置自体が高値になるととも
に、処理工程のコスト増大、設置床面積の増大等の欠点
が指摘されている。
は、例えば照明学会研究会資料(LS−90−8〜1
3)(社団法人 照明学会 1990年10月21日、
第36頁から第41頁、以下文献乙という。)に紹介さ
れているように、「光アッシャ」と呼ばれるシリコンウ
エハ上の不要フォトレジスト除去装置が開発されてい
る。この文献でも文献甲に記載された技術と同様、オゾ
ン発生機を使用する場合と使用しない場合の2通りの方
法が説明されているが、通常の厚さ、例えば約1μm程
度、を有するフォトレジストの除去を速やかに行うため
には、結局は、低圧水銀ランプとオゾン発生機の組み合
せが必要になる。従って、装置自体が高値になるととも
に、処理工程のコスト増大、設置床面積の増大等の欠点
が指摘されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、このよう
な事情に鑑みてなされたものであって、オゾン発生機を
使わなくても高濃度オゾンが得らることができて、この
オゾンから活性酸化性分解物を効率良く発生させること
により被処理物の酸化処理をスピードの速いものとする
ことである。また、処理装置自体も安くで小さくできる
処理方法を提供することにある。
な事情に鑑みてなされたものであって、オゾン発生機を
使わなくても高濃度オゾンが得らることができて、この
オゾンから活性酸化性分解物を効率良く発生させること
により被処理物の酸化処理をスピードの速いものとする
ことである。また、処理装置自体も安くで小さくできる
処理方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記発明の目的を達成す
るために、次のような酸化方法を採用する。 (1)キセノンガスを封入した誘電体バリヤ放電ランプ
から放射される真空紫外光を、酸素を含む流体に照射
し、光化学反応によってオゾンおよび活性酸化性分解物
を生成せしめ、このオゾンおよび活性酸化性分解物を被
処理物に接触せしめて、当該被処理物を酸化させるもの
である。 (2)また、上記(1) 記載の酸化方法を行いつつ、誘電
体バリヤ放電ランプから放射される真空紫外光を被処理
物体にも直接照射し、それらの協同作用で当該被処理物
を酸化させるものである。 (3)また、上記(1) 記載の酸化方法により発生したオ
ゾン及び活性酸化性分解物に遠紫外光で照射して、さら
に活性酸化性分解物を生成するとともにその活性度を高
めた後、被処理物に接触させて当該被処理物を酸化させ
るものである。 (4)キセノンガスを封入した誘電体バリヤ放電ランプ
から放射される真空紫外光と、遠紫外光光源から放射さ
れる遠紫外光とを、酸素を含む流体に同時に照射し、光
化学反応によってオゾンおよび活性酸化性分解物を生成
せしめ、このオゾンおよび活性酸化性分解物を被処理物
に接触させて、当該被処理物を酸化させるものである。 (5)また、上記(4) 記載の酸化方法において、被処理
物の物質面における遠紫外光の放射照度をI(mW/cm
2 )、誘電体バリヤ放電ランプと被処理物との間に存在
する酸素を含む流体に対して、前記ランプから放射され
る真空紫外光の透過最短距離をd(cm)、酸素分圧を
p(気圧)とした時、(p×d)/(1+I1/2 )の値
を0.33より小さく規定する。
るために、次のような酸化方法を採用する。 (1)キセノンガスを封入した誘電体バリヤ放電ランプ
から放射される真空紫外光を、酸素を含む流体に照射
し、光化学反応によってオゾンおよび活性酸化性分解物
を生成せしめ、このオゾンおよび活性酸化性分解物を被
処理物に接触せしめて、当該被処理物を酸化させるもの
である。 (2)また、上記(1) 記載の酸化方法を行いつつ、誘電
体バリヤ放電ランプから放射される真空紫外光を被処理
物体にも直接照射し、それらの協同作用で当該被処理物
を酸化させるものである。 (3)また、上記(1) 記載の酸化方法により発生したオ
ゾン及び活性酸化性分解物に遠紫外光で照射して、さら
に活性酸化性分解物を生成するとともにその活性度を高
めた後、被処理物に接触させて当該被処理物を酸化させ
るものである。 (4)キセノンガスを封入した誘電体バリヤ放電ランプ
から放射される真空紫外光と、遠紫外光光源から放射さ
れる遠紫外光とを、酸素を含む流体に同時に照射し、光
化学反応によってオゾンおよび活性酸化性分解物を生成
せしめ、このオゾンおよび活性酸化性分解物を被処理物
に接触させて、当該被処理物を酸化させるものである。 (5)また、上記(4) 記載の酸化方法において、被処理
物の物質面における遠紫外光の放射照度をI(mW/cm
2 )、誘電体バリヤ放電ランプと被処理物との間に存在
する酸素を含む流体に対して、前記ランプから放射され
る真空紫外光の透過最短距離をd(cm)、酸素分圧を
p(気圧)とした時、(p×d)/(1+I1/2 )の値
を0.33より小さく規定する。
【0008】ここで、誘電体バリヤ放電ランプの形状と
しては、特に、二重円筒型もしくは平面型が使い易いこ
と、および、真空紫外光の取出部の全部もしくは一部
が、合成石英ガラス、サファイヤ、アルカリ金属ハライ
ドもしくはアルカリ土類金属ハライドのうちから選択さ
れた材料が良いことが言える。
しては、特に、二重円筒型もしくは平面型が使い易いこ
と、および、真空紫外光の取出部の全部もしくは一部
が、合成石英ガラス、サファイヤ、アルカリ金属ハライ
ドもしくはアルカリ土類金属ハライドのうちから選択さ
れた材料が良いことが言える。
【0009】また、遠紫外光光源としては、高圧水銀ラ
ンプ、低圧水銀ランプ、クリプトン沸素エキシマランプ
もしくはクリプトン沸素エキシマレーザが使用でき、更
に、被処理物の酸化させる際、当該被処理物は、真空紫
外光もしくは遠紫外光の少なくとも一方の照射を受けて
いると更に良い。
ンプ、低圧水銀ランプ、クリプトン沸素エキシマランプ
もしくはクリプトン沸素エキシマレーザが使用でき、更
に、被処理物の酸化させる際、当該被処理物は、真空紫
外光もしくは遠紫外光の少なくとも一方の照射を受けて
いると更に良い。
【0010】実用上は、誘電体バリヤ放電ランプと被処
理物との間に存在する酸素を含む流体に対して、前記ラ
ンプから放射された真空紫外光の透過最短距離をd(c
m)、酸素分圧をp(気圧)とした時、処理速度を現状
の方法より速くし、より経済効果を高めるために、d×
pを0.6より小さく規定するのが良いし、不要フォト
レジストの除去の場合であれば、被処理物を酸化せしめ
る際、当該表面の表層または当該物質の酸化物が気体と
して当該表面から遊離もしくは除去されるように酸化す
る。
理物との間に存在する酸素を含む流体に対して、前記ラ
ンプから放射された真空紫外光の透過最短距離をd(c
m)、酸素分圧をp(気圧)とした時、処理速度を現状
の方法より速くし、より経済効果を高めるために、d×
pを0.6より小さく規定するのが良いし、不要フォト
レジストの除去の場合であれば、被処理物を酸化せしめ
る際、当該表面の表層または当該物質の酸化物が気体と
して当該表面から遊離もしくは除去されるように酸化す
る。
【0011】
【作用】誘電体バリヤ放電ランプは、放電容器内にエキ
シマ分子を形成する放電用ガスを充満し、誘電体バリヤ
放電(別名オゾナイザ放電あるいは無声放電。電気学会
発行改訂新版(放電ハンドブック)平成1年6月再版7
刷発行第263ページ参照)によってエキシマ分子を形
成せしめ、該エキシマ分子から放射される光を取り出す
ものである。誘電体には石英ガラス等が使われ、放電路
に介在させることによってアーク放電の発生を抑え、ま
た特定の場所に放電が集中することもないので発生する
紫外線の密度もほぼ一様なものにできる。また、この誘
電体バリヤ放電ランプは、172nmという短波長の紫
外線を放射し、しかも線スペクトルに近い単一波長の光
を選択的に高効率に発生するという、従来の低圧水銀ラ
ンプや高圧アーク放電ランプにはない種々の特徴を有し
ている。誘電体バリア放電ランプについては、例えば、
特開平2−7353、アメリカ特許4,837,484 等に開示
されている。本発明では、放電容器に封入する放電用ガ
スとして、キセノンを有するガスが適用され、特に、キ
セノンガス、もしくはキセノンを主成分とするガスが使
われる。
シマ分子を形成する放電用ガスを充満し、誘電体バリヤ
放電(別名オゾナイザ放電あるいは無声放電。電気学会
発行改訂新版(放電ハンドブック)平成1年6月再版7
刷発行第263ページ参照)によってエキシマ分子を形
成せしめ、該エキシマ分子から放射される光を取り出す
ものである。誘電体には石英ガラス等が使われ、放電路
に介在させることによってアーク放電の発生を抑え、ま
た特定の場所に放電が集中することもないので発生する
紫外線の密度もほぼ一様なものにできる。また、この誘
電体バリヤ放電ランプは、172nmという短波長の紫
外線を放射し、しかも線スペクトルに近い単一波長の光
を選択的に高効率に発生するという、従来の低圧水銀ラ
ンプや高圧アーク放電ランプにはない種々の特徴を有し
ている。誘電体バリア放電ランプについては、例えば、
特開平2−7353、アメリカ特許4,837,484 等に開示
されている。本発明では、放電容器に封入する放電用ガ
スとして、キセノンを有するガスが適用され、特に、キ
セノンガス、もしくはキセノンを主成分とするガスが使
われる。
【0012】誘電体バリヤ放電ランプは、キセノン原子
が励起されてエキシマ状態となり(Xe2 *)、このエ
キシマ状態から再びキセノン原子に解離する時に波長約
172nmの光を発生する。この波長172nmの光を
酸素に照射すると、従来の低圧水銀ランプから放射され
る波長185nmの光を酸素に照射する場合よりも高濃
度のオゾンが得られることがわかり、さらにまた、この
高濃度のオゾンから活性酸化性分解物が得られることも
分かった。さらに、当該誘電体バリヤ放電ランプとは別
に設けた高圧水銀ランプや低圧水銀ランプから放射され
る波長254nmの光によっても高濃度オゾンから活性
酸化性分解物を得ることができる。
が励起されてエキシマ状態となり(Xe2 *)、このエ
キシマ状態から再びキセノン原子に解離する時に波長約
172nmの光を発生する。この波長172nmの光を
酸素に照射すると、従来の低圧水銀ランプから放射され
る波長185nmの光を酸素に照射する場合よりも高濃
度のオゾンが得られることがわかり、さらにまた、この
高濃度のオゾンから活性酸化性分解物が得られることも
分かった。さらに、当該誘電体バリヤ放電ランプとは別
に設けた高圧水銀ランプや低圧水銀ランプから放射され
る波長254nmの光によっても高濃度オゾンから活性
酸化性分解物を得ることができる。
【0013】この原理を化学反応式で記載すると以下の
ようになる。まず、酸素からオゾンO3 を生成する反応
は、 O2 +hγ1 →O3 そして、このオゾンO3 から活性酸化性分解物O、O*
の生成する反応は、 O3 +hγ1 →O* +2O O3 +hγ2 →O* +O2 となる。いずれも1個のフォトンで1個の反応が生ず
る。この式におけるhγ1、hγ2 はいずれも特定波長
の光を意味して、この場合は酸素、あるいはオゾンが特
定波長の光を吸収するという意味である。オゾンO3 の
生成反応は、波長200nmよりも短い真空紫外域の光
を酸素O2 が吸収して起こるものである。この吸収の度
合いは、一般的に、吸収係数と呼ばれ、波長の変化に応
じて連続的に変化するものであるが、この連続的な変化
の中でさらに急激な変化を有する。この急激な変化は、
波長150nmよりも大きい領域において顕著に起こ
り、特に、波長172nmの光に対する吸収係数は波長
185nmの光の吸収係数より1桁以上大きい。結果と
して、波長185nmの光を放射するランプを使う場合
と、前記ランプと同じ放射光強度の波長172nmの光
を放射するランプを使う場合とを比較すると、同じオゾ
ン量を得るのに、前者では20cm程度の透過距離を必
要をするのに対し、後者は1cm程度の透過距離を必要
とする。言い替えれば、同じ放射光強度でも波長172
nmの光を放射するランプによる被処理物の表面上にお
けるオゾン濃度(ppm)は、紫外光185nmの光を
放射するランプによる場合よりも約一桁高いことにな
る。他方、活性酸化性分解物を生成するためのオゾン分
解反応は、真空紫外光や遠紫外光に対するオゾンO3 の
吸収によるものであるが、このオゾンO3 の吸収は、波
長172nmや波長185nmの光に比べ、波長250
nmの光の方が数倍大きい。さらに、活性酸化性分解物
であっても、その活性度はO* の方がOよりも大きいと
考えられ、活性酸化性分解物に遠紫外光を照射すること
によって、活性度の高い分解物を増やすことができるの
で全体としては活性度を高めることができるといえる。
ようになる。まず、酸素からオゾンO3 を生成する反応
は、 O2 +hγ1 →O3 そして、このオゾンO3 から活性酸化性分解物O、O*
の生成する反応は、 O3 +hγ1 →O* +2O O3 +hγ2 →O* +O2 となる。いずれも1個のフォトンで1個の反応が生ず
る。この式におけるhγ1、hγ2 はいずれも特定波長
の光を意味して、この場合は酸素、あるいはオゾンが特
定波長の光を吸収するという意味である。オゾンO3 の
生成反応は、波長200nmよりも短い真空紫外域の光
を酸素O2 が吸収して起こるものである。この吸収の度
合いは、一般的に、吸収係数と呼ばれ、波長の変化に応
じて連続的に変化するものであるが、この連続的な変化
の中でさらに急激な変化を有する。この急激な変化は、
波長150nmよりも大きい領域において顕著に起こ
り、特に、波長172nmの光に対する吸収係数は波長
185nmの光の吸収係数より1桁以上大きい。結果と
して、波長185nmの光を放射するランプを使う場合
と、前記ランプと同じ放射光強度の波長172nmの光
を放射するランプを使う場合とを比較すると、同じオゾ
ン量を得るのに、前者では20cm程度の透過距離を必
要をするのに対し、後者は1cm程度の透過距離を必要
とする。言い替えれば、同じ放射光強度でも波長172
nmの光を放射するランプによる被処理物の表面上にお
けるオゾン濃度(ppm)は、紫外光185nmの光を
放射するランプによる場合よりも約一桁高いことにな
る。他方、活性酸化性分解物を生成するためのオゾン分
解反応は、真空紫外光や遠紫外光に対するオゾンO3 の
吸収によるものであるが、このオゾンO3 の吸収は、波
長172nmや波長185nmの光に比べ、波長250
nmの光の方が数倍大きい。さらに、活性酸化性分解物
であっても、その活性度はO* の方がOよりも大きいと
考えられ、活性酸化性分解物に遠紫外光を照射すること
によって、活性度の高い分解物を増やすことができるの
で全体としては活性度を高めることができるといえる。
【0014】つまり、この発明にかかる被処理物の酸化
方法は、真空紫外光である波長172nmの光を効率良
く放射する誘電体バリヤ放電ランプを使うという画期的
な方法により高い濃度のオゾンO3 を生成できることを
第1の特徴として、さらに遠紫外光である波長254n
mの光を放射するランプを併用することで、高い濃度の
オゾンO3 から効率良く活性酸化性分解物を生成でき、
かつその活性度を高めることを第2の特徴とする。これ
らの特徴を利用して被処理物の酸化を行うことで従来方
法に比べて処理スピードを大きく上げることができる。
具体的には、従来の方法である波長185nmの光によ
りオゾンO3 を生成させて、その際に波長254nmの
光によるオゾンO3 の吸収を併用させた場合に比べて、
この発明によれば活性酸化性分解物の濃度(ppm)は
1桁前後高いものとでき、従って、被処理物の酸化処理
を速くできることになる。ここで被処理物の酸化とは、
被処理物自体表面を酸化する場合と当該被処理物に付着
した物質を酸化する場合の両方を含む。
方法は、真空紫外光である波長172nmの光を効率良
く放射する誘電体バリヤ放電ランプを使うという画期的
な方法により高い濃度のオゾンO3 を生成できることを
第1の特徴として、さらに遠紫外光である波長254n
mの光を放射するランプを併用することで、高い濃度の
オゾンO3 から効率良く活性酸化性分解物を生成でき、
かつその活性度を高めることを第2の特徴とする。これ
らの特徴を利用して被処理物の酸化を行うことで従来方
法に比べて処理スピードを大きく上げることができる。
具体的には、従来の方法である波長185nmの光によ
りオゾンO3 を生成させて、その際に波長254nmの
光によるオゾンO3 の吸収を併用させた場合に比べて、
この発明によれば活性酸化性分解物の濃度(ppm)は
1桁前後高いものとでき、従って、被処理物の酸化処理
を速くできることになる。ここで被処理物の酸化とは、
被処理物自体表面を酸化する場合と当該被処理物に付着
した物質を酸化する場合の両方を含む。
【0015】
【実施例】図1はこの発明に使う誘電体バリヤ放電ラン
プ(以下「ランプ」とも称する)の一例の説明図であ
る。放電容器1は合成石英ガラスで平行平板型の形状を
なす。一般に被処理物は板状の物が多いので、この形状
は被処理物の表面をバッチ処理するのに都合が良い。寸
法形状は、例えば、内寸法で縦10cm×横10cm×
高さ0.6cmのものが適用される。網状電極2は、放
電容器1の上部と下部に設けられたモネル線からなる。
放電容器1の内部にはキセノンガスが充填され、電源3
により網状電極2に電力が供給されると、石英ガラスを
誘電体として放電容器1の内部において、例えばプラズ
マ長0.6cmの誘電体バリヤ放電が発生する。石英ガ
ラスは、真空紫外光の取出部も兼ねており、かかる放電
によって得られるエキシマ状態から真空紫外光である波
長172nmの光が放電容器1の外へ放出される。この
発明が対象とする有機汚染物を除去する処理は、一般的
には酸素雰囲気中で行われるので、ランプとしては、特
に、真空紫外光を良く透過する材料、例えば合成石英ガ
ラス板5で網状電極2を覆うことが好ましく、放電容器
1と石英ガラス板5の間にできる空所4には窒素ガスを
充填している。放電容器1の内部には、前述のごとく、
キセノンガスのみを封入する場合の他に、キセノンガス
を主成分としてネオン、アルゴン等を封入したものが用
いられる。また、キセノンガスの封入量は、例えば30
0Torrである。また、網状電極2からは、例えば4V2
0KHzの電圧が印加される。
プ(以下「ランプ」とも称する)の一例の説明図であ
る。放電容器1は合成石英ガラスで平行平板型の形状を
なす。一般に被処理物は板状の物が多いので、この形状
は被処理物の表面をバッチ処理するのに都合が良い。寸
法形状は、例えば、内寸法で縦10cm×横10cm×
高さ0.6cmのものが適用される。網状電極2は、放
電容器1の上部と下部に設けられたモネル線からなる。
放電容器1の内部にはキセノンガスが充填され、電源3
により網状電極2に電力が供給されると、石英ガラスを
誘電体として放電容器1の内部において、例えばプラズ
マ長0.6cmの誘電体バリヤ放電が発生する。石英ガ
ラスは、真空紫外光の取出部も兼ねており、かかる放電
によって得られるエキシマ状態から真空紫外光である波
長172nmの光が放電容器1の外へ放出される。この
発明が対象とする有機汚染物を除去する処理は、一般的
には酸素雰囲気中で行われるので、ランプとしては、特
に、真空紫外光を良く透過する材料、例えば合成石英ガ
ラス板5で網状電極2を覆うことが好ましく、放電容器
1と石英ガラス板5の間にできる空所4には窒素ガスを
充填している。放電容器1の内部には、前述のごとく、
キセノンガスのみを封入する場合の他に、キセノンガス
を主成分としてネオン、アルゴン等を封入したものが用
いられる。また、キセノンガスの封入量は、例えば30
0Torrである。また、網状電極2からは、例えば4V2
0KHzの電圧が印加される。
【0016】図2は上記誘電体バリヤ放電ランプを使っ
た被処理物の表面洗浄装置を示す。処理室7の内部に
は、試料台8とその上に載せられた被処理物9、および
誘電体バリヤ放電ランプ100(以下、単にランプとも
いう)を有する。被処理物9は、例えば1cm ×1cm のス
ライドガラスである。さらに、処理室7には、酸素を含
むガスの流入口10と排出口11が設けられ、入口10
には、例えば、混合室12とバルブ13を介して、窒素
ガス源14と酸素ガス源15が連結している。また、排
出口11には、必要に応じて、排出されるオゾンのため
の分解装置を取り付けることができる。ここで窒素ガス
を混入する理由は、酸素の分圧Pを変えて、洗浄効率を
調整するためである。このような装置によって、被処理
物9であるスライドガラスに対して、ランプ100から
の波長172nmの光を照射すると、前記した原理によ
り活性酸化性分解物を発生させて、スライドガラスに付
着した有機汚染物を酸化除去することができる。かかる
活性酸化性分解物の発生量と有機汚染物に対する洗浄効
果は、ランプ100の表面とスライドガラス表面との距
離d(cm)と処理室7内における酸素の分圧p(気圧)
の影響を大きく受けるので、混合室12において酸素の
分圧pを調整できるようにするとともに、図示略ではあ
るが試料台8に上下動機構を有する。この装置では、例
えばランプは電気入力20W、ランプ表面における光出
力は30mW/cm2 で点灯される。
た被処理物の表面洗浄装置を示す。処理室7の内部に
は、試料台8とその上に載せられた被処理物9、および
誘電体バリヤ放電ランプ100(以下、単にランプとも
いう)を有する。被処理物9は、例えば1cm ×1cm のス
ライドガラスである。さらに、処理室7には、酸素を含
むガスの流入口10と排出口11が設けられ、入口10
には、例えば、混合室12とバルブ13を介して、窒素
ガス源14と酸素ガス源15が連結している。また、排
出口11には、必要に応じて、排出されるオゾンのため
の分解装置を取り付けることができる。ここで窒素ガス
を混入する理由は、酸素の分圧Pを変えて、洗浄効率を
調整するためである。このような装置によって、被処理
物9であるスライドガラスに対して、ランプ100から
の波長172nmの光を照射すると、前記した原理によ
り活性酸化性分解物を発生させて、スライドガラスに付
着した有機汚染物を酸化除去することができる。かかる
活性酸化性分解物の発生量と有機汚染物に対する洗浄効
果は、ランプ100の表面とスライドガラス表面との距
離d(cm)と処理室7内における酸素の分圧p(気圧)
の影響を大きく受けるので、混合室12において酸素の
分圧pを調整できるようにするとともに、図示略ではあ
るが試料台8に上下動機構を有する。この装置では、例
えばランプは電気入力20W、ランプ表面における光出
力は30mW/cm2 で点灯される。
【0017】次に、図2に示した装置を使って、ランプ
100の表面とスライドガラス表面との距離d(cm)
と、処理室7内における酸素の分圧p(気圧)とを変化
させて、有機汚染物の洗浄速度を調べた実験例について
紹介する。実験では、ランプ100は前述の電気入力
(W)と光出力(mW/cm2 )で点灯させた。また、
この実験において洗浄時間とは次のように定義した。ス
ライドガラスを、イソプロピルアルコール(以下IPA
という。)中で、5分程度の超音波洗浄を施し、水に対
する接触角が20度であるものを作成する。そして、か
かるスライドガラスに対して、この発明にかかる洗浄方
法を実施することによって、その角度が3度になるまで
の時間を洗浄時間T(秒)とした。ここで水に対する接
触角とは、図12に示すように、スライドガラス上に有
する水滴が成す角度θであって、この角度θは、スライ
ドガラス表面の洗浄の度合いと大きな関連性を有する。
このことは前述の文献甲の第308〜第313ページに
詳しく記載される。ここで設定した3度という接触角度
は、前記文献甲の第309頁によると、有機汚染物の層
の厚さが0.1 分子層以下のものであって、スライドガラ
ス上に数個の分子が島上にところどころ付着している程
度のものと推定され、十分に洗浄されたものと見做すこ
とができる。一方、実験前の設定角度である20度と
は、有機汚染物の層の厚さは1分子以上のものであり単
分子層がスライドガラス上の全面に付着して広がってい
る程度のものである。
100の表面とスライドガラス表面との距離d(cm)
と、処理室7内における酸素の分圧p(気圧)とを変化
させて、有機汚染物の洗浄速度を調べた実験例について
紹介する。実験では、ランプ100は前述の電気入力
(W)と光出力(mW/cm2 )で点灯させた。また、
この実験において洗浄時間とは次のように定義した。ス
ライドガラスを、イソプロピルアルコール(以下IPA
という。)中で、5分程度の超音波洗浄を施し、水に対
する接触角が20度であるものを作成する。そして、か
かるスライドガラスに対して、この発明にかかる洗浄方
法を実施することによって、その角度が3度になるまで
の時間を洗浄時間T(秒)とした。ここで水に対する接
触角とは、図12に示すように、スライドガラス上に有
する水滴が成す角度θであって、この角度θは、スライ
ドガラス表面の洗浄の度合いと大きな関連性を有する。
このことは前述の文献甲の第308〜第313ページに
詳しく記載される。ここで設定した3度という接触角度
は、前記文献甲の第309頁によると、有機汚染物の層
の厚さが0.1 分子層以下のものであって、スライドガラ
ス上に数個の分子が島上にところどころ付着している程
度のものと推定され、十分に洗浄されたものと見做すこ
とができる。一方、実験前の設定角度である20度と
は、有機汚染物の層の厚さは1分子以上のものであり単
分子層がスライドガラス上の全面に付着して広がってい
る程度のものである。
【0018】図3は実験の結果を表したもので、表中の
数値は洗浄時間T(秒)を示す。図におけるpとは、処
理室7における酸素の分圧であり、処理室7の全圧を1
気圧としての、(1−p)N2 +pO2 におけるp(気
圧)を示す。尚、比較のため、誘電体バリヤ放電ランプ
100に代えて電気入力450Wの低圧水銀ランプで同
様の実験を行ったところ、この低圧水銀ランプに対して
は最適条件である、酸素の分圧pが0.2 気圧、距離d
(cm) が12cmであっても、洗浄時間Tは約200秒
もかかった。そして、図3に示されている酸素の分圧p
が 0.1〜0.6 、距離d(cm) が 0.5〜5.0 の範囲におい
ては洗浄時間Tは200秒以上かかっている。
数値は洗浄時間T(秒)を示す。図におけるpとは、処
理室7における酸素の分圧であり、処理室7の全圧を1
気圧としての、(1−p)N2 +pO2 におけるp(気
圧)を示す。尚、比較のため、誘電体バリヤ放電ランプ
100に代えて電気入力450Wの低圧水銀ランプで同
様の実験を行ったところ、この低圧水銀ランプに対して
は最適条件である、酸素の分圧pが0.2 気圧、距離d
(cm) が12cmであっても、洗浄時間Tは約200秒
もかかった。そして、図3に示されている酸素の分圧p
が 0.1〜0.6 、距離d(cm) が 0.5〜5.0 の範囲におい
ては洗浄時間Tは200秒以上かかっている。
【0019】一般に、洗浄時間Tが、著しい経済効果を
生ずるを考えられているのは60秒以下である。従っ
て、洗浄時間Tが60秒以下の場合を許容洗浄処理時間
とすると、図3に示した結果から、距離(d)×酸素の
分圧(p)の値が、0.6以下において許容洗浄処理時
間内に処理できることが分かる。なお、この実験では、
酸素とともに混入するガスをして窒素ガスを用いたが、
窒素ガスの代わりに、アルゴンAr,クリプトンKr等
の不活性ガスを用いて同様の実験を行っても、洗浄時間
Tの値は実験データのバラツキの範囲内で一致した。
生ずるを考えられているのは60秒以下である。従っ
て、洗浄時間Tが60秒以下の場合を許容洗浄処理時間
とすると、図3に示した結果から、距離(d)×酸素の
分圧(p)の値が、0.6以下において許容洗浄処理時
間内に処理できることが分かる。なお、この実験では、
酸素とともに混入するガスをして窒素ガスを用いたが、
窒素ガスの代わりに、アルゴンAr,クリプトンKr等
の不活性ガスを用いて同様の実験を行っても、洗浄時間
Tの値は実験データのバラツキの範囲内で一致した。
【0020】図4は同じく誘電体バリヤ放電ランプを使
った被処理物の表面洗浄装置の別の一例を示す。この装
置は、誘電体バリヤ放電ランプ100の他にその四辺に
沿ってミラーと低圧水銀ランプからなる遠紫外光光源セ
ット101を配置している。従って、スライドガラス9
の近傍に流れる酸素ガスは、誘電体バリヤ放電ランプ1
00からの真空紫外光と遠紫外光光源セット101から
の遠紫外光とを受けることになる。更に、同図からは省
略したが、誘電体バリヤ放電ランプ100とスライドガ
ラス9との距離dが変えられるように、前記誘電体バリ
ヤ放電ランプは上下動できるような機構に取り付けられ
ている。ここで、誘電体バリヤ放電ランプ100から放
射される真空紫外光とは、波長1nm〜200nmの光
をいい、遠紫外光光源セット101から放射される遠紫
外光とは波長200nm〜370nmの光をいう。
った被処理物の表面洗浄装置の別の一例を示す。この装
置は、誘電体バリヤ放電ランプ100の他にその四辺に
沿ってミラーと低圧水銀ランプからなる遠紫外光光源セ
ット101を配置している。従って、スライドガラス9
の近傍に流れる酸素ガスは、誘電体バリヤ放電ランプ1
00からの真空紫外光と遠紫外光光源セット101から
の遠紫外光とを受けることになる。更に、同図からは省
略したが、誘電体バリヤ放電ランプ100とスライドガ
ラス9との距離dが変えられるように、前記誘電体バリ
ヤ放電ランプは上下動できるような機構に取り付けられ
ている。ここで、誘電体バリヤ放電ランプ100から放
射される真空紫外光とは、波長1nm〜200nmの光
をいい、遠紫外光光源セット101から放射される遠紫
外光とは波長200nm〜370nmの光をいう。
【0021】次に、この装置を使って前述と同様にスラ
イドガラスの洗浄実験を行った。実験は、遠紫外光であ
る波長254nmの光に対するスライドガラス9の面上
における照度を70mW/cm2、25mW/cm2、8mW/cm2と変
化させて、各々の照度において、距離dと酸素分圧pを
変化させて洗浄時間T(秒)を測定した。尚、誘電体バ
リヤ放電ランプ100からの真空紫外光の放射強度は、
真空紫外光の取出部、すなわちランプ100の下部にお
ける面で30mW/cm2 に設定した。ここにおいて、
遠紫外光254nmの照度は、p=0の状態であらかじ
め測定しておいた値である。これは酸素分圧Pの値によ
ってスライドガラスに到達する光量が変化するのでかか
る状態にて照度を測定している。
イドガラスの洗浄実験を行った。実験は、遠紫外光であ
る波長254nmの光に対するスライドガラス9の面上
における照度を70mW/cm2、25mW/cm2、8mW/cm2と変
化させて、各々の照度において、距離dと酸素分圧pを
変化させて洗浄時間T(秒)を測定した。尚、誘電体バ
リヤ放電ランプ100からの真空紫外光の放射強度は、
真空紫外光の取出部、すなわちランプ100の下部にお
ける面で30mW/cm2 に設定した。ここにおいて、
遠紫外光254nmの照度は、p=0の状態であらかじ
め測定しておいた値である。これは酸素分圧Pの値によ
ってスライドガラスに到達する光量が変化するのでかか
る状態にて照度を測定している。
【0022】この実験の結果を図5に示す。結果より、
洗浄時間Tが許容洗浄処理時間である60秒以下となる
ためには、(d×p)/(1+I1/2 )の値が、0.1
より小さいことが良いと導かれる。ここで、Iとは被処
理物体表面または当該表面上の物質面における遠紫外光
光源とその間で光吸収のない時の遠紫外光の放射強度を
いう。しかしながら、この実験では、誘電体バリヤ放電
ランプ100を、ランプ表面における照度が30mW/
cm2 で点灯させているが、現実には自然空冷の場合で
も、真空紫外光172nmの照度は300mW/cm2
まで上げることができる。そして、本発明者らは、この
ような高出力で上記ランプを点灯させた場合は、上述の
(d×p)/(1+I1/2 )の値が、0.33より小さ
い関係で洗浄処理をした場合でも、十分に許容時間内に
処理できることを見出している。
洗浄時間Tが許容洗浄処理時間である60秒以下となる
ためには、(d×p)/(1+I1/2 )の値が、0.1
より小さいことが良いと導かれる。ここで、Iとは被処
理物体表面または当該表面上の物質面における遠紫外光
光源とその間で光吸収のない時の遠紫外光の放射強度を
いう。しかしながら、この実験では、誘電体バリヤ放電
ランプ100を、ランプ表面における照度が30mW/
cm2 で点灯させているが、現実には自然空冷の場合で
も、真空紫外光172nmの照度は300mW/cm2
まで上げることができる。そして、本発明者らは、この
ような高出力で上記ランプを点灯させた場合は、上述の
(d×p)/(1+I1/2 )の値が、0.33より小さ
い関係で洗浄処理をした場合でも、十分に許容時間内に
処理できることを見出している。
【0023】図6は、請求項1もしくは請求項2に記載
された酸化方法のうち、金属表面上に付着した有機汚染
物を酸化除去する方法を示す説明図である。すなわち、
誘電体バリヤ放電ランプから放射される真空紫外光であ
る172nmの光によりオゾン及び活性酸化性分解物を
生成せしめ、このオゾン及び活性酸化性分解物により金
属表面上に付着した有機汚染物を酸化除去する方法につ
いて説明して、さらに、真空紫外光である172nmの
光を直接金属表面に照射することによって、これらの共
同作用により有機汚染物を酸化除去する方法についても
説明する。まず、装置の構成を説明すると、誘電体バリ
ヤ放電ランプ102は、沸化マグネシウムを表面にコー
トしたアルミニウムミラー16の中に配置され、ランプ
102の下方には被処理物であってその表面に有機汚染
物が付着されたアルミニウム板17が配置される。この
アルミニウム板17とランプ102との距離は、例えば
10cmである。ここで、ランプ102は、図1に示したも
のを用いることもできるが、後述する二重円筒型のもの
を用いることもできる。ミラー16内での雰囲気は、ミ
ラー16の上方から空気を流し込み、ランプ102やミ
ラー16等全体を冷却しながらアルミニウム板17に向
かうようにする。そして、雰囲気の全圧は約1気圧であ
り、酸素分圧は、例えば、約0.25気圧である。この
ような構成によって、キセノンガスを有するランプ10
2からは真空紫外光である172nmの光が効率良く放
射される。そして、流入される空気の中のうち酸素ガス
に当該光が照射されることによって光化学反応によって
オゾンが発生して、このオゾンにも当該真空紫外光の光
が照射されることによって活性酸化性分解物が生成され
る。そして、活性酸化性分解物がアルミニウム板17に
接触することによって、アルミニウム板17上に付着し
た有機汚染物を良好に洗浄することができる。この実施
例においては、ミラー16を使って酸素ガスをアルミニ
ウム板17上に効率良く配送できるとともに、ミラー1
6による反射光とランプ102からの直射光によってア
ルミニウム板17を直接照射あるいは、その近傍を照射
して光化学反応を起こさせるので洗浄効果を格別に高い
ものとすることができる。この方法による効果の一例を
示すと、ランプ102を電気入力20Wで点灯し、その
放射される真空紫外光である172nmの光をアルミニ
ウム板17に40秒照射すると、アルミニウム板の水に
対する接触角は、初期には40度であったものが10度
まで小さくなった。この程度にまで有機汚染物を洗浄で
きると、洗浄されたアルミニウム板17の表面に印刷イ
ンキを接着させても実用上充分な強度をもつことができ
る。また、このアルミニウム板17とランプ102との
距離dを0.3 cmまで近づけると、真空紫外光である17
2nmの光の照射は13秒程度で同様の効果を得ること
ができた。
された酸化方法のうち、金属表面上に付着した有機汚染
物を酸化除去する方法を示す説明図である。すなわち、
誘電体バリヤ放電ランプから放射される真空紫外光であ
る172nmの光によりオゾン及び活性酸化性分解物を
生成せしめ、このオゾン及び活性酸化性分解物により金
属表面上に付着した有機汚染物を酸化除去する方法につ
いて説明して、さらに、真空紫外光である172nmの
光を直接金属表面に照射することによって、これらの共
同作用により有機汚染物を酸化除去する方法についても
説明する。まず、装置の構成を説明すると、誘電体バリ
ヤ放電ランプ102は、沸化マグネシウムを表面にコー
トしたアルミニウムミラー16の中に配置され、ランプ
102の下方には被処理物であってその表面に有機汚染
物が付着されたアルミニウム板17が配置される。この
アルミニウム板17とランプ102との距離は、例えば
10cmである。ここで、ランプ102は、図1に示したも
のを用いることもできるが、後述する二重円筒型のもの
を用いることもできる。ミラー16内での雰囲気は、ミ
ラー16の上方から空気を流し込み、ランプ102やミ
ラー16等全体を冷却しながらアルミニウム板17に向
かうようにする。そして、雰囲気の全圧は約1気圧であ
り、酸素分圧は、例えば、約0.25気圧である。この
ような構成によって、キセノンガスを有するランプ10
2からは真空紫外光である172nmの光が効率良く放
射される。そして、流入される空気の中のうち酸素ガス
に当該光が照射されることによって光化学反応によって
オゾンが発生して、このオゾンにも当該真空紫外光の光
が照射されることによって活性酸化性分解物が生成され
る。そして、活性酸化性分解物がアルミニウム板17に
接触することによって、アルミニウム板17上に付着し
た有機汚染物を良好に洗浄することができる。この実施
例においては、ミラー16を使って酸素ガスをアルミニ
ウム板17上に効率良く配送できるとともに、ミラー1
6による反射光とランプ102からの直射光によってア
ルミニウム板17を直接照射あるいは、その近傍を照射
して光化学反応を起こさせるので洗浄効果を格別に高い
ものとすることができる。この方法による効果の一例を
示すと、ランプ102を電気入力20Wで点灯し、その
放射される真空紫外光である172nmの光をアルミニ
ウム板17に40秒照射すると、アルミニウム板の水に
対する接触角は、初期には40度であったものが10度
まで小さくなった。この程度にまで有機汚染物を洗浄で
きると、洗浄されたアルミニウム板17の表面に印刷イ
ンキを接着させても実用上充分な強度をもつことができ
る。また、このアルミニウム板17とランプ102との
距離dを0.3 cmまで近づけると、真空紫外光である17
2nmの光の照射は13秒程度で同様の効果を得ること
ができた。
【0024】図7には二重円筒型誘電体バリヤ放電ラン
プ102の一例を示す。放電容器18は、石英ガラス製
の内側管23と外側管24を同軸にした中空円筒状であ
って、略竹輪型の形状をなす。外側管24は誘電体バリ
ヤ放電ランプの誘電体と光取出部を兼任しており、内側
管23の外面には反射膜を兼ねたアルミニウム膜電極1
9が設けられ、外側管24の外面に光を透過ために金属
製の網状電極20が設けられている。放電空間21には
放電用ガスキセノンが充填されている。尚、網状電極2
0には電極酸化防止コート22が設けられており、図示
はしていないが、電極19の方にも設けておくと良い。
このような形状をなす二重円筒型誘電体バリヤ放電ラン
プは、一般的に、ロール巻きされたフィルムの表面を処
理する場合、フィルムを、ランプ管軸と直交する方向へ
移動せしめることによって、その表面を連続作業的に処
理するのに都合が良い。尚、かかるランプの一例を示す
と、放電容器18の全長約100mm、内側管23の外
径D1 は6mm、外側管24の内径D2 が8mmであ
り、これらは、例えば、OH基が重量で700ppm以
下を含む石英ガラスからなる。
プ102の一例を示す。放電容器18は、石英ガラス製
の内側管23と外側管24を同軸にした中空円筒状であ
って、略竹輪型の形状をなす。外側管24は誘電体バリ
ヤ放電ランプの誘電体と光取出部を兼任しており、内側
管23の外面には反射膜を兼ねたアルミニウム膜電極1
9が設けられ、外側管24の外面に光を透過ために金属
製の網状電極20が設けられている。放電空間21には
放電用ガスキセノンが充填されている。尚、網状電極2
0には電極酸化防止コート22が設けられており、図示
はしていないが、電極19の方にも設けておくと良い。
このような形状をなす二重円筒型誘電体バリヤ放電ラン
プは、一般的に、ロール巻きされたフィルムの表面を処
理する場合、フィルムを、ランプ管軸と直交する方向へ
移動せしめることによって、その表面を連続作業的に処
理するのに都合が良い。尚、かかるランプの一例を示す
と、放電容器18の全長約100mm、内側管23の外
径D1 は6mm、外側管24の内径D2 が8mmであ
り、これらは、例えば、OH基が重量で700ppm以
下を含む石英ガラスからなる。
【0025】図8は、請求項3に記載された酸化方法の
うち、金属表面上に付着した有機汚染物を酸化除去する
方法を示す説明図である。すなわち、誘電体バリヤ放電
ランプから放射される真空紫外光である172nmの光
によりオゾン及び活性酸化性分解物を生成させて、この
オゾン及び活性酸化性分解物に遠紫外光である波長25
4nmの光を照射して活性酸化性分解物を生成するとと
もにその活性度を高めて金属表面上の有機汚染物を酸化
除去するものである。まず、装置の構成を説明すると、
反応ダクト25は、全体的に偏平な形状をしており、そ
の中に、二重円筒型誘電体バリヤ放電ランプ102と低
圧水銀ランプ103とが、管軸を平行にして離間して配
置する。そして、反応ダクト25には、ランプ102の
方から流入した空気がランプ103の方へ流れるように
構成され、ランプ103の下流側には被処理洗浄物であ
るアルミニウム板17が配置される。このアルミニウム
板17には、ランプ102及びランプ103からの放射
光を直接照射しなくてもよいが、その位置によっては、
低圧水銀ランプ103からの遠紫外光を受けるようにす
ることもできる。ランプ102とランプ103の離間距
離は、例えば15cmであり、流入される空気は約1気圧で
ある。また、ランプ102は電気入力20Wで点灯さ
れ、ランプ103は電気入力450Wで点灯される。こ
のような構成において、反応ダクト25に流入された空
気は、ダクト内の上流側においてランプ102から放射
される真空紫外光である波長172nmの光を受ける。
そして、酸素が光化学反応を起こすことによって、オゾ
ンを発生させ、このオゾンから活性酸化性分解物も発生
する。これらオゾン及び活性酸化性分解物は、下流側に
向かって送風されるとともに、ランプ103から放射さ
れる遠紫外光である波長254nmに光を受けてより一
層活性度が強められる。そして、さらに下流側に配置さ
れたアルミニウム板17と接触することによって、その
表面に付着された有機汚染物を酸化除去することができ
る。この方法による効果の一例を示すと、約36秒間の
処理によって、アルニムウム板17は水に対する接触角
が最初40度のものが10度にまで小さくすることがで
きた。そして、この洗浄処理後のアルミニウム板17に
よれば、その表面に印刷インク等を接着させても、実用
上十分な強度を保つことができた。
うち、金属表面上に付着した有機汚染物を酸化除去する
方法を示す説明図である。すなわち、誘電体バリヤ放電
ランプから放射される真空紫外光である172nmの光
によりオゾン及び活性酸化性分解物を生成させて、この
オゾン及び活性酸化性分解物に遠紫外光である波長25
4nmの光を照射して活性酸化性分解物を生成するとと
もにその活性度を高めて金属表面上の有機汚染物を酸化
除去するものである。まず、装置の構成を説明すると、
反応ダクト25は、全体的に偏平な形状をしており、そ
の中に、二重円筒型誘電体バリヤ放電ランプ102と低
圧水銀ランプ103とが、管軸を平行にして離間して配
置する。そして、反応ダクト25には、ランプ102の
方から流入した空気がランプ103の方へ流れるように
構成され、ランプ103の下流側には被処理洗浄物であ
るアルミニウム板17が配置される。このアルミニウム
板17には、ランプ102及びランプ103からの放射
光を直接照射しなくてもよいが、その位置によっては、
低圧水銀ランプ103からの遠紫外光を受けるようにす
ることもできる。ランプ102とランプ103の離間距
離は、例えば15cmであり、流入される空気は約1気圧で
ある。また、ランプ102は電気入力20Wで点灯さ
れ、ランプ103は電気入力450Wで点灯される。こ
のような構成において、反応ダクト25に流入された空
気は、ダクト内の上流側においてランプ102から放射
される真空紫外光である波長172nmの光を受ける。
そして、酸素が光化学反応を起こすことによって、オゾ
ンを発生させ、このオゾンから活性酸化性分解物も発生
する。これらオゾン及び活性酸化性分解物は、下流側に
向かって送風されるとともに、ランプ103から放射さ
れる遠紫外光である波長254nmに光を受けてより一
層活性度が強められる。そして、さらに下流側に配置さ
れたアルミニウム板17と接触することによって、その
表面に付着された有機汚染物を酸化除去することができ
る。この方法による効果の一例を示すと、約36秒間の
処理によって、アルニムウム板17は水に対する接触角
が最初40度のものが10度にまで小さくすることがで
きた。そして、この洗浄処理後のアルミニウム板17に
よれば、その表面に印刷インク等を接着させても、実用
上十分な強度を保つことができた。
【0026】図9は、請求項4及び請求項5に記載され
た酸化方法のうち、金属表面上に付着した有機汚染物を
酸化除去する方法を示す説明図である。すなわち、誘電
体バリヤ放電ランプから放射される真空紫外光である1
72nmの光によりオゾン及び活性酸化性分解物を生成
させて、このオゾン及び活性酸化性分解物を有機汚染物
を有する金属表面に接触させるとともに、同時に、誘電
体バリヤ放電ランプとは別に設けた低圧水銀ランプより
放射される遠紫外光である254nmの光も金属表面に
照射するものである。つまり、誘電体バリヤ放電ランプ
と低圧水銀ランプの2つのランプを用いて酸化処理する
とともに、少なくとも一方は、金属表面への直接の照射
を行うものである。まず、装置の構成を説明すると、ミ
ラー16の中には、3つの二重円筒型誘電体バリヤ放電
ランプ102を略同一平面状に並べて、さらに2つの低
圧水銀ランプ103をランプ102により構成される平
面と平行に同じく略同一平面状に並べる。この場合の平
行とは、各々のランプの管軸同士が平行になるとを意味
して、管軸方向から見た時はランプがジクザグ状となる
ように配置している。ミラー16には図6で説明たもの
と同様のものを適用できる。さらに、ランプ102と金
属の一例であるアルミニウム板17は、例えば0.3 cm程
度の距離まで接近させて処理することになるが、アルミ
ニウム板17の表面上では、ランプ103から放射され
る遠紫外光である254nmの光の照射を受ける所と受
けない所が発生して、また、ランプ102から放射され
る真空紫外光である172nmの光でもアルニミウム板
17上では照度ムラが生じてしまう。このため、アルミ
ニウム板17を載せる試料台8は、例えば、振巾3cm,4H
z で動かせる構造になっている。そして、ランプ10
2、ランプ103の配置やこの振巾の選択によって、ア
ルミニウム板17上での真空紫外光の照度の均一化をは
かりながら、遠紫外光の受け方を調節する。このような
構成によって、試料台8に載せられたアルミニウム板1
7は、ランプ102から放射される真空紫外光である1
72nmの光を受けることによって、空気に含まれる酸
素に光化学反応を起こさせて、オゾン及び活性酸化性分
解物を発生させる。また、同時に、ランプ103から放
射される遠紫外光である254nmの光を受けることに
よって上記オゾン及び活性酸化性分解物の活性度を高め
て、アルミニウム板17上の有機汚染物を酸化除去する
とができる。この方法による効果は、ランプ102を各
々電気入力20Wで、ランプ103を各々電気入力45
0Wで点灯すると、約6秒間でアルミニウム板17の水
に対する接触角は40度から10度に減少することがで
きた。
た酸化方法のうち、金属表面上に付着した有機汚染物を
酸化除去する方法を示す説明図である。すなわち、誘電
体バリヤ放電ランプから放射される真空紫外光である1
72nmの光によりオゾン及び活性酸化性分解物を生成
させて、このオゾン及び活性酸化性分解物を有機汚染物
を有する金属表面に接触させるとともに、同時に、誘電
体バリヤ放電ランプとは別に設けた低圧水銀ランプより
放射される遠紫外光である254nmの光も金属表面に
照射するものである。つまり、誘電体バリヤ放電ランプ
と低圧水銀ランプの2つのランプを用いて酸化処理する
とともに、少なくとも一方は、金属表面への直接の照射
を行うものである。まず、装置の構成を説明すると、ミ
ラー16の中には、3つの二重円筒型誘電体バリヤ放電
ランプ102を略同一平面状に並べて、さらに2つの低
圧水銀ランプ103をランプ102により構成される平
面と平行に同じく略同一平面状に並べる。この場合の平
行とは、各々のランプの管軸同士が平行になるとを意味
して、管軸方向から見た時はランプがジクザグ状となる
ように配置している。ミラー16には図6で説明たもの
と同様のものを適用できる。さらに、ランプ102と金
属の一例であるアルミニウム板17は、例えば0.3 cm程
度の距離まで接近させて処理することになるが、アルミ
ニウム板17の表面上では、ランプ103から放射され
る遠紫外光である254nmの光の照射を受ける所と受
けない所が発生して、また、ランプ102から放射され
る真空紫外光である172nmの光でもアルニミウム板
17上では照度ムラが生じてしまう。このため、アルミ
ニウム板17を載せる試料台8は、例えば、振巾3cm,4H
z で動かせる構造になっている。そして、ランプ10
2、ランプ103の配置やこの振巾の選択によって、ア
ルミニウム板17上での真空紫外光の照度の均一化をは
かりながら、遠紫外光の受け方を調節する。このような
構成によって、試料台8に載せられたアルミニウム板1
7は、ランプ102から放射される真空紫外光である1
72nmの光を受けることによって、空気に含まれる酸
素に光化学反応を起こさせて、オゾン及び活性酸化性分
解物を発生させる。また、同時に、ランプ103から放
射される遠紫外光である254nmの光を受けることに
よって上記オゾン及び活性酸化性分解物の活性度を高め
て、アルミニウム板17上の有機汚染物を酸化除去する
とができる。この方法による効果は、ランプ102を各
々電気入力20Wで、ランプ103を各々電気入力45
0Wで点灯すると、約6秒間でアルミニウム板17の水
に対する接触角は40度から10度に減少することがで
きた。
【0027】以上説明した実施例はアルミニウム板表面
に付着した有機汚染物を酸化除去するものであるが、次
に、図9に示した装置とほぼ同様の構成の装置を使っ
て、半導体ウエハ上に塗布されたフォトレジストを酸化
除去する、いわゆる光アッシングについて説明する。こ
の場合、試料台8には、ヒータ等の加熱機構や冷却水を
流すパイプを装備することにより、半導体ウエハの温度
を所定の温度まで加熱させることができ、前述と同様に
ランプ102、及びランプ103からの放射光をフォト
レジストに照射することによってアッシング処理をする
ことができる。一例をあげれば、半導体ウエハは200
℃に加熱して、フォトレジスト(東京応化工業(株)製
型式OMR83)を1μmの厚さで塗布した半導体ウエ
ハを処理すると、1秒間に15nmのスピードにてアッ
シングすることができた。
に付着した有機汚染物を酸化除去するものであるが、次
に、図9に示した装置とほぼ同様の構成の装置を使っ
て、半導体ウエハ上に塗布されたフォトレジストを酸化
除去する、いわゆる光アッシングについて説明する。こ
の場合、試料台8には、ヒータ等の加熱機構や冷却水を
流すパイプを装備することにより、半導体ウエハの温度
を所定の温度まで加熱させることができ、前述と同様に
ランプ102、及びランプ103からの放射光をフォト
レジストに照射することによってアッシング処理をする
ことができる。一例をあげれば、半導体ウエハは200
℃に加熱して、フォトレジスト(東京応化工業(株)製
型式OMR83)を1μmの厚さで塗布した半導体ウエ
ハを処理すると、1秒間に15nmのスピードにてアッ
シングすることができた。
【0028】次に、図9に示した装置とほぼ同様の装置
を使って、半導体ウエハの表面上に酸化シリコンの膜を
形成する方法について説明する。被処理物としてシリコ
ンウエハを試料台8に載せて、誘電体バリヤ放電ランプ
102を5本、低圧水銀ランプ103を4本、前述のご
とくジグザク状に配置する。そして、試料台8の温度
を、例えば400 ℃に加熱しておき、5Hzで往復運動を
させると、シリコンウエハ上に厚さ10nmの酸化シリ
コンの緻密な膜を作ることができ、この処理は2時間で
達成することができた。前述までの有機汚染物や不要フ
ォトレジストを除去する装置は、図示略ではあるが、か
かる排気物を吹き飛ばすような機構が設けられているの
に対して、本実施例の酸化膜の形成にかかる装置は、ラ
ンプと被処理物との間に存在する流体を安定的に保持制
御する機構が有する点で異なる。かかる機構も図9にお
いては省略している。
を使って、半導体ウエハの表面上に酸化シリコンの膜を
形成する方法について説明する。被処理物としてシリコ
ンウエハを試料台8に載せて、誘電体バリヤ放電ランプ
102を5本、低圧水銀ランプ103を4本、前述のご
とくジグザク状に配置する。そして、試料台8の温度
を、例えば400 ℃に加熱しておき、5Hzで往復運動を
させると、シリコンウエハ上に厚さ10nmの酸化シリ
コンの緻密な膜を作ることができ、この処理は2時間で
達成することができた。前述までの有機汚染物や不要フ
ォトレジストを除去する装置は、図示略ではあるが、か
かる排気物を吹き飛ばすような機構が設けられているの
に対して、本実施例の酸化膜の形成にかかる装置は、ラ
ンプと被処理物との間に存在する流体を安定的に保持制
御する機構が有する点で異なる。かかる機構も図9にお
いては省略している。
【0029】一般には、シリコンウエハの表面に薄い酸
化膜を形成することは、半導体装置製造における絶縁層
形成工程で普通に行われている。しかし、従来の方法
は、高湿電気炉のより、例えば850℃〜1000℃程
度の高温加熱で行われるのに対し、本発明の酸化被膜形
成方法は、これに比べて、著しく低い湿度、低い温度で
良質な酸化被膜を得ることができる。
化膜を形成することは、半導体装置製造における絶縁層
形成工程で普通に行われている。しかし、従来の方法
は、高湿電気炉のより、例えば850℃〜1000℃程
度の高温加熱で行われるのに対し、本発明の酸化被膜形
成方法は、これに比べて、著しく低い湿度、低い温度で
良質な酸化被膜を得ることができる。
【0030】次に、図10にシリコンウエハ上に酸化被
膜を形成する方法について、他の実施例を説明する。誘
電体バリヤ放電ランプの放電容器1は石英ガラスよりな
り、その内部に放電空間21を有する平面型のものであ
る。放電容器21には真空紫外光である172nmの光
を発生させるためにキセノンガスが充填されている。放
電容器21の外側には電極2を有するが放射光を取り出
すのが一方向のみであるため、一方の電極にはミラーを
兼ねたアルミニウム膜6が形成され、他方は網状電極で
あるので効率良く放射光を取り出すことができる。さら
に、本装置を酸素雰囲気中で使用するので石英ガラスに
は酸化防止コート22が設けられている。試料台28は
石英ガラスから成り、シリコンウエハ26がその台28
の上に載せられて、さらにその内部には加熱用のヒータ
27が組み込まれている。このような誘電体バリヤ放電
ランプの一例を挙げれば、放電容器1は厚さ1mmの石英
ガラスで、内寸法20cm×20cm×0.6cm で形成される。こ
のような装置において、大気中でランプ1とシリコンウ
エハ26との距離d(cm)を0.2に設定し、ランプから
放射される波長172nmの光の強度がランプ表面で約
100mW/cm2 になるように電源3でランプを点灯
制御する。この場合、ランプの電気入力は、例えば40
0Wである。そして、ヒータ27の制御温度を変えて、
シリコンウエハ26上に、厚さ10nmの緻密な酸化シ
リコンの膜の生成テストをした。尚、ヒータ27の制御
温度は最高600℃まで昇湿できるようになっている。
膜を形成する方法について、他の実施例を説明する。誘
電体バリヤ放電ランプの放電容器1は石英ガラスよりな
り、その内部に放電空間21を有する平面型のものであ
る。放電容器21には真空紫外光である172nmの光
を発生させるためにキセノンガスが充填されている。放
電容器21の外側には電極2を有するが放射光を取り出
すのが一方向のみであるため、一方の電極にはミラーを
兼ねたアルミニウム膜6が形成され、他方は網状電極で
あるので効率良く放射光を取り出すことができる。さら
に、本装置を酸素雰囲気中で使用するので石英ガラスに
は酸化防止コート22が設けられている。試料台28は
石英ガラスから成り、シリコンウエハ26がその台28
の上に載せられて、さらにその内部には加熱用のヒータ
27が組み込まれている。このような誘電体バリヤ放電
ランプの一例を挙げれば、放電容器1は厚さ1mmの石英
ガラスで、内寸法20cm×20cm×0.6cm で形成される。こ
のような装置において、大気中でランプ1とシリコンウ
エハ26との距離d(cm)を0.2に設定し、ランプから
放射される波長172nmの光の強度がランプ表面で約
100mW/cm2 になるように電源3でランプを点灯
制御する。この場合、ランプの電気入力は、例えば40
0Wである。そして、ヒータ27の制御温度を変えて、
シリコンウエハ26上に、厚さ10nmの緻密な酸化シ
リコンの膜の生成テストをした。尚、ヒータ27の制御
温度は最高600℃まで昇湿できるようになっている。
【0031】結果は、ヒータ27によりシリコンウエハ
26を約450℃に保った場合には、約1.5時間で厚
さ10nmの酸化シリコンを作ることができ、また、同
500℃に保った場合は約40分で同じ酸化シリコンを
作ることができる。このことは、従来の高温酸化による
方法よりも、著しく低い温度で十分な酸化シリコンの絶
縁膜が得られることが分かった。
26を約450℃に保った場合には、約1.5時間で厚
さ10nmの酸化シリコンを作ることができ、また、同
500℃に保った場合は約40分で同じ酸化シリコンを
作ることができる。このことは、従来の高温酸化による
方法よりも、著しく低い温度で十分な酸化シリコンの絶
縁膜が得られることが分かった。
【0032】ここにおいて、キセノンガスが封入された
誘電体バリヤ放電ランプについて更に詳しく説明する。
誘電体バリヤ放電ランプは、波長200nmより短い波
長の真空紫外光を放射するものであるから、放電容器は
当該波長域の光を透過する誘電体で作られなければなら
ないが、当然に、用途によっては、当該光の取出部がラ
ンプの全方向である場合もあれば、特定の一方向である
場合もある。したがって、少なくとも当該光の取出部が
前記波長域の光を透過する構造になっていれば良く、か
つその取出部の材料としては、合成石英ガラスに限定さ
れることなく、サファイヤ、アルカリ金属ハライドやア
ルカリ土類金属ハライドの単結晶でも良い。そして、放
電容器の当該紫外光を取り出さない部分には、反射コー
トを設けたり、反射コートを兼ねた電極を設けても良
い。
誘電体バリヤ放電ランプについて更に詳しく説明する。
誘電体バリヤ放電ランプは、波長200nmより短い波
長の真空紫外光を放射するものであるから、放電容器は
当該波長域の光を透過する誘電体で作られなければなら
ないが、当然に、用途によっては、当該光の取出部がラ
ンプの全方向である場合もあれば、特定の一方向である
場合もある。したがって、少なくとも当該光の取出部が
前記波長域の光を透過する構造になっていれば良く、か
つその取出部の材料としては、合成石英ガラスに限定さ
れることなく、サファイヤ、アルカリ金属ハライドやア
ルカリ土類金属ハライドの単結晶でも良い。そして、放
電容器の当該紫外光を取り出さない部分には、反射コー
トを設けたり、反射コートを兼ねた電極を設けても良
い。
【0033】同様に、波長200nmから波長300n
mの遠紫外光を放射する遠紫外光光源としては、前記の
低圧水銀ランプに限らず、これらの波長域の光を放射す
る高圧水銀ランプ、波長240nmから波長255nm
を放射するクリプトン沸素エキシマランプ、クリプトン
沸素エキシマレーザが利用できる。
mの遠紫外光を放射する遠紫外光光源としては、前記の
低圧水銀ランプに限らず、これらの波長域の光を放射す
る高圧水銀ランプ、波長240nmから波長255nm
を放射するクリプトン沸素エキシマランプ、クリプトン
沸素エキシマレーザが利用できる。
【0034】図11には、誘電体バリア放電ランプを含
むランプ装置について示す。このランプ装置は、図1に
おける平行平板型の放電容器1の替わりに、図7に示し
た誘電体バリヤ放電ランプと類似の構造の二重円筒型誘
電体バリヤ放電ランプ33a、33b、33cを内蔵し
て、図1における合成石英ガラスの板5で覆う替わり
に、光反射板を兼ねた金属容器30に合成石英ガラスか
らなる光取り出し窓31を設けた平板型容器34を設置
した構成である。二重円筒型誘電体バリヤ放電ランプ3
3a、33b、33cは、例えば、外径は26.6m
m、放電ギャップ長は5mm、全長は300mmであ
る。放電用ガスは約40kPaのキセノンである。この
ランプ装置において誘電体バリヤ放電を行ったところ、
波長172nmに中心を有する真空紫外光が高効率で放
出された。また、空所4に1分間あたり数リットルの窒
素ガスを流すことにより、電極20a、20b、20c
の保護に加えて、空所4における真空紫外光の吸収が無
くなるので、実質的な平板状光源装置が得られた。この
実施例においては、高価な合成石英ガラス板を多数使用
することがないので、安価に平板状光源装置が得られる
という利点が生じる。
むランプ装置について示す。このランプ装置は、図1に
おける平行平板型の放電容器1の替わりに、図7に示し
た誘電体バリヤ放電ランプと類似の構造の二重円筒型誘
電体バリヤ放電ランプ33a、33b、33cを内蔵し
て、図1における合成石英ガラスの板5で覆う替わり
に、光反射板を兼ねた金属容器30に合成石英ガラスか
らなる光取り出し窓31を設けた平板型容器34を設置
した構成である。二重円筒型誘電体バリヤ放電ランプ3
3a、33b、33cは、例えば、外径は26.6m
m、放電ギャップ長は5mm、全長は300mmであ
る。放電用ガスは約40kPaのキセノンである。この
ランプ装置において誘電体バリヤ放電を行ったところ、
波長172nmに中心を有する真空紫外光が高効率で放
出された。また、空所4に1分間あたり数リットルの窒
素ガスを流すことにより、電極20a、20b、20c
の保護に加えて、空所4における真空紫外光の吸収が無
くなるので、実質的な平板状光源装置が得られた。この
実施例においては、高価な合成石英ガラス板を多数使用
することがないので、安価に平板状光源装置が得られる
という利点が生じる。
【0035】尚、本発明の被処理物の酸化方法は、金属
の表面を酸化処理するものとして、アルミニウムのアル
マイト処理、ステンレスへの印刷の前処理としての表面
酸化処理、さらにはガラス板に蒸着した金属酸化物の透
明度を向上させるための酸化処理にも利用できる。
の表面を酸化処理するものとして、アルミニウムのアル
マイト処理、ステンレスへの印刷の前処理としての表面
酸化処理、さらにはガラス板に蒸着した金属酸化物の透
明度を向上させるための酸化処理にも利用できる。
【0036】また、ガラスの表面の洗浄方法としては、
液晶表示板のガラスへの配電極、配線を行う前処理をす
るための精密洗浄に利用できる。また、この発明の技術
は金の熱圧着強度を向上させる場合にも役立つ。
液晶表示板のガラスへの配電極、配線を行う前処理をす
るための精密洗浄に利用できる。また、この発明の技術
は金の熱圧着強度を向上させる場合にも役立つ。
【0037】
【発明の効果】この発明にかかる被処理物の酸化方法
は、波長172nmの光である真空紫外光を放射する誘
電体バリヤ放電ランプを使うことにより、被処理物の表
面近傍に、高い濃度のオゾンと活性酸化性分解物が生ず
ることができるので、被処理物を酸化するスピードが著
しく速くなる。また、オゾンおよび活性酸化性分解物に
対して波長254nmの光である遠紫外光を照射するこ
とによって、活性酸化性分解物をより効率良く発生させ
て、かつ、その活性度を高めることができるので、結果
として被処理物の酸化処理が速く行われて、かつ、処理
装置が小型に設計できる。更にオゾン発生機を使ってい
ないので安価な処理方法が得られる。
は、波長172nmの光である真空紫外光を放射する誘
電体バリヤ放電ランプを使うことにより、被処理物の表
面近傍に、高い濃度のオゾンと活性酸化性分解物が生ず
ることができるので、被処理物を酸化するスピードが著
しく速くなる。また、オゾンおよび活性酸化性分解物に
対して波長254nmの光である遠紫外光を照射するこ
とによって、活性酸化性分解物をより効率良く発生させ
て、かつ、その活性度を高めることができるので、結果
として被処理物の酸化処理が速く行われて、かつ、処理
装置が小型に設計できる。更にオゾン発生機を使ってい
ないので安価な処理方法が得られる。
【図1】本発明に使用する平面型誘電体バリヤ放電ラン
プの一例の説明図である。
プの一例の説明図である。
【図2】スライドガラスの表面洗浄方法の説明図であ
る。
る。
【図3】表面洗浄結果のデータの表である。
【図4】スライドガラスの他の表面洗浄方法の説明図で
ある。
ある。
【図5】他の表面洗浄結果のデータの表である。
【図6】金属表面上の有機汚染物の酸化除去方法の実施
例の説明図である。
例の説明図である。
【図7】本発明に使用する二重円筒型誘電体バリヤ放電
ランプの一例の説明図である。
ランプの一例の説明図である。
【図8】金属表面上の有機汚染物の酸化除去方法の他の
実施例の説明図である。
実施例の説明図である。
【図9】金属表面上の有機汚染物の酸化除去方法の他の
実施例の説明図である。
実施例の説明図である。
【図10】シリコンウエハの低温酸化方法の説明図であ
る。
る。
【図11】二重円筒型誘電体バリヤ放電ランプを使った
光源装置の説明図である。
光源装置の説明図である。
【図12】スライドガラス上における水滴の状態を示す
図である。
図である。
1 放電容器 2 網状電極 3 電源 7 処理室 8 試料台 9 スライドガラス 10 酸化性流体入口 11 酸化性流体排出口 12 混合室 13 バルブ 16 ミラー 17 アルミニウム板 18 放電容器 19 電極 20 電極 21 放電空間 22 酸化防止コート 25 反応容器 100 誘電体バリヤ放電ランプ 101 遠紫外光光源セット 102 誘電体バリヤ放電ランプ 103 低圧水銀ランプ
フロントページの続き (72)発明者 磯 慎一 兵庫県姫路市別所町佐土1194番地 ウシ オ電機株式会社内 審査官 前田 仁志 (56)参考文献 特開 平2−97402(JP,A) 特開 平1−228590(JP,A) 特開 平4−182303(JP,A)
Claims (11)
- 【請求項1】キセノンガスを封入した誘電体バリヤ放電
ランプから放射される真空紫外光を酸素を含む流体に照
射させて、光化学反応によってオゾンおよび活性酸化性
分解物を生成せしめ、 このオゾンおよび活性酸化性分解物を被処理物に接触さ
せて酸化させることを特徴とする被処理物の酸化方法。 - 【請求項2】キセノンガスを封入した誘電体バリヤ放電
ランプから放射される真空紫外光を酸素を含む流体に照
射させて、光化学反応によってオゾンおよび活性酸化性
分解物を生成せしめ、 このオゾンおよび活性酸化性分解物を被処理物に接触さ
せて酸化させるとともに、前記真空紫外光を当該被処理
物にも照射させて、それらの協同作用で当該被処理物を
酸化させることを特徴とする被処理物の酸化方法。 - 【請求項3】キセノンガスを封入した誘電体バリヤ放電
ランプから放射される真空紫外光を酸素を含む流体に照
射させて、光化学反応によってオゾンおよび活性酸化性
分解物を生成せしめ、 このオゾンおよび活性酸化性分解物に遠紫外光を照射さ
せて活性度を高めて、当該活性度の高まったオゾンおよ
び活性酸化性分解物を被処理物に接触させて酸化させる
ことを特徴とする被処理物の酸化方法。 - 【請求項4】キセノンガスを封入した誘電体バリヤ放電
ランプから放射される真空紫外光と、遠紫外光光源から
放射される遠紫外光とを、酸素を含む流体に同時に照射
させて、光化学反応によってオゾンおよび活性酸化性分
解物を生成せしめ、 このオゾンおよび活性酸化性分解物を被処理物に接触さ
せて酸化させることをを特徴とする被処理物の酸化方
法。 - 【請求項5】被処理物を酸化させる際に、 当該被処理物が、真空紫外光もしくは遠紫外光の少なく
とも一方の照射を受けていることを特徴とする、 請求項3もしくは請求項4記載の被処理物の酸化方法。 - 【請求項6】遠紫外光光源は、高圧水銀ランプ、低圧水
銀ランプ、クリプトン沸素エキシマランプ、もしくはク
リプトン沸素エキシマレーザであることを特徴とする、 請求項3から請求項5のいずれかに記載の被処理物の酸
化方法。 - 【請求項7】誘電体バリヤ放電ランプと被処理物との間
に酸素を含む流体を存在させ、当該ランプから放射され
る真空紫外光の当該流体に対する透過最短距離をd(c
m)として、また、当該流体の酸素分圧をp(気圧)と
した時に、 d×pが0.6より小さく規定したことを特徴とする、 請求項2に記載の被処理物の酸化方法。 - 【請求項8】被処理物を酸化させる際に、 被処理物の表層または当該被処理物の酸化物が気体とし
て当該被処理物から除去されるように酸化することを特
徴とする、 請求項1から請求項7のいずれかに記載の被処理物の酸
化方法。 - 【請求項9】誘電体バリヤ放電ランプの形状が、二重円
筒型もしくは平面型であることを特徴とする、 請求項1から請求項8のいずれかに記載の被処理物の酸
化方法。 - 【請求項10】誘電体バリヤ放電ランプの真空紫外光の
取出部は、合成石英ガラス、サファイヤ、アルカリ金属
ハライド、もしくはアルカリ土類金属ハライドのうちか
ら選択された材料から成ることを特徴とする、 請求項9に記載の被処理物の酸化方法。 - 【請求項11】キセノンガスを封入した誘電体バリヤ放
電ランプから放射される真空紫外光と、遠紫外光光源か
ら放射される遠紫外光とを、酸素を含む流体に照射し
て、光化学反応によってオゾンおよび活性酸化性分解物
を生成せしめ、 このオゾンおよび活性酸化性分解物を被処理物に接触さ
せるとともに前記両紫外光を当該被処理物にも照射させ
て、 これらの協同作用で当該被処理物を酸化させる際に、当
該被処理物の表面における遠紫外光光源との間で光吸収
のない時の遠紫外光の放射照度をI(mW/cm2 )と
して、 誘電体バリヤ放電ランプと当該被処理物の間に存在する
酸素を含む流体に対して、前記ランプから放射される真
空紫外光の透過最短距離をd(cm)、酸素分圧をp
(気圧)とした時、 (p×d)/(1+I1/2 )の値を、0.33より小さ
く規定してなることを特徴とする被処理物の酸化方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29199994A JP2705023B2 (ja) | 1993-11-26 | 1994-11-02 | 被処理物の酸化方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31923893 | 1993-11-26 | ||
| JP5-319238 | 1993-11-26 | ||
| JP29199994A JP2705023B2 (ja) | 1993-11-26 | 1994-11-02 | 被処理物の酸化方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07196303A JPH07196303A (ja) | 1995-08-01 |
| JP2705023B2 true JP2705023B2 (ja) | 1998-01-26 |
Family
ID=26558794
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29199994A Expired - Lifetime JP2705023B2 (ja) | 1993-11-26 | 1994-11-02 | 被処理物の酸化方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2705023B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11872104B2 (en) | 2018-05-08 | 2024-01-16 | Wonik Qnc Corporation | Implant surface modification treatment device |
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| JP3385259B2 (ja) | 2000-03-15 | 2003-03-10 | 株式会社エム・ディ・コム | 誘電体バリヤ放電ランプ及びそれを利用したドライ洗浄装置 |
| WO2003049173A1 (en) | 2001-12-07 | 2003-06-12 | Tokyo Electron Limited | Nitriding method for insulation film, semiconductor device and production method for semiconductor device, substrate treating device and substrate treating method |
| JP4729704B2 (ja) * | 2005-10-20 | 2011-07-20 | 国立大学法人名古屋大学 | 金属酸化物膜の製造方法 |
| JP5104990B2 (ja) * | 2006-03-17 | 2012-12-19 | 日本軽金属株式会社 | アルミニウム塗装材及びその製造方法 |
| JP5056090B2 (ja) * | 2006-03-17 | 2012-10-24 | 日本軽金属株式会社 | アルミニウム塗装材及びその製造方法 |
| JP2008041998A (ja) * | 2006-08-08 | 2008-02-21 | Ushio Inc | 基板乾燥装置及び基板乾燥方法 |
| JP5019156B2 (ja) * | 2006-08-21 | 2012-09-05 | ウシオ電機株式会社 | エキシマランプ装置 |
| TW200921297A (en) * | 2007-09-25 | 2009-05-16 | Renesas Tech Corp | Method and apparatus for manufacturing semiconductor device, and resist material |
| JP5597951B2 (ja) * | 2009-08-20 | 2014-10-01 | ウシオ電機株式会社 | 紫外線照射装置 |
| JP5586316B2 (ja) * | 2010-05-06 | 2014-09-10 | 信越化学工業株式会社 | Uvオゾン洗浄装置 |
| JP2012002971A (ja) * | 2010-06-16 | 2012-01-05 | Seiko Epson Corp | 偏光素子及びその製造方法、液晶装置、電子機器 |
| JP2012002972A (ja) * | 2010-06-16 | 2012-01-05 | Seiko Epson Corp | 偏光素子及びその製造方法、液晶装置、電子機器 |
| DE102015011228B4 (de) * | 2015-08-27 | 2017-06-14 | Süss Microtec Photomask Equipment Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zum Aufbringen eines mit UV-Strahlung beaufschlagten flüssigen Mediums auf ein Substrat |
| JP6764665B2 (ja) | 2016-03-17 | 2020-10-07 | 東京応化工業株式会社 | 表面処理方法、帯電防止剤及び親水化処理剤 |
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| JP7053191B2 (ja) * | 2017-08-30 | 2022-04-12 | 株式会社オーク製作所 | オゾン生成装置および紫外線照射装置 |
| JP7291988B2 (ja) * | 2017-08-30 | 2023-06-16 | 株式会社オーク製作所 | オゾン生成装置および紫外線照射装置 |
| WO2020164686A1 (en) * | 2019-02-12 | 2020-08-20 | Applied Materials, Inc. | Method for cleaning a vacuum system, method for vacuum processing of a substrate, and apparatus for vacuum processing a substrate |
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-
1994
- 1994-11-02 JP JP29199994A patent/JP2705023B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11872104B2 (en) | 2018-05-08 | 2024-01-16 | Wonik Qnc Corporation | Implant surface modification treatment device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07196303A (ja) | 1995-08-01 |
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