JP2990858B2 - Exhaust gas treatment device and its cleaning method - Google Patents
Exhaust gas treatment device and its cleaning methodInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は真空処理装置の排気系よ
り取り外すことなく洗浄し、再生させることが可能なコ
ールドトラップとその清浄化方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cold trap which can be cleaned and regenerated without removing it from an exhaust system of a vacuum processing apparatus, and a method for cleaning the same.
【0002】大量の情報を高速に処理する必要から情報
処理装置は小形化と大容量化が行われており、これに使
用する部品とくに半導体部品は単位素子の小形化による
大容量化が行われてLSI やVLSIが実用化されている。2. Description of the Related Art Since it is necessary to process a large amount of information at a high speed, information processing apparatuses have been downsized and increased in capacity, and components used for this purpose, especially semiconductor parts, have been increased in capacity by downsizing unit elements. LSI and VLSI have been put to practical use.
【0003】こゝで、小形化は薄膜形成技術と写真蝕刻
技術( フォトリソグラフィ或いは電子線リソグラフィ)
により実現されている。そして、薄膜形成技術として当
初は真空蒸着技術やスパッタ技術などの物理的な方法
や、メッキなどの化学的方法が用いられ、主として金属
の薄膜が形成されていたが、現在では気相成長法(Chemi
cal Vapor Deposition 略してCVD)により金属のみなら
ず絶縁物や半導体などの薄膜が作られている。Here, miniaturization is achieved by thin film formation technology and photolithography technology (photolithography or electron beam lithography).
Has been realized. Initially, physical methods such as vacuum deposition technology and sputtering technology, and chemical methods such as plating were used as thin film formation technologies, and mainly metal thin films were formed. Chemi
cal Vapor Deposition (CVD for short) produces thin films of not only metals but also insulators and semiconductors.
【0004】また、CVD 法を改良した減圧CVD 法やプラ
ズマCVD 法を用いると膜質が向上し、また比較的低温で
成膜が可能なことから半導体デバイスの半導体層や層間
絶縁層の形成にこれらの方法が使用されるようになっ
た。[0004] The use of a reduced pressure CVD method or a plasma CVD method, which is an improved CVD method, improves the film quality and allows the film to be formed at a relatively low temperature. Therefore, these methods are used for forming a semiconductor layer or an interlayer insulating layer of a semiconductor device. Method was used.
【0005】こゝで、CVD は蒸気圧の高い化合物ガスを
キャリアガスと共に被処理基板上に導いて分解させる
か、或いは複数の化合物ガスを被処理基板上で反応させ
て薄膜を形成するもので、化合物ガスの被処理基板への
供給を正しく行うためにはキャリアガスの強制排気が必
要である。Here, CVD is a method in which a compound gas having a high vapor pressure is guided together with a carrier gas onto a substrate to be decomposed, or a plurality of compound gases are reacted on the substrate to form a thin film. In order to properly supply the compound gas to the substrate to be processed, it is necessary to forcibly exhaust the carrier gas.
【0006】一方、減圧CVD 法やプラズマCVD 法におい
ては、被処理基板が位置決めされる反応管は必要とする
真空度に減圧することが必要であって、CVD 装置の一部
に排気系を備えていることが必須である。On the other hand, in the low pressure CVD method or the plasma CVD method, it is necessary to reduce the pressure of a reaction tube in which a substrate to be processed is positioned to a required degree of vacuum, and an exhaust system is provided in a part of the CVD apparatus. Is essential.
【0007】また、写真蝕刻技術は被処理基板の上にパ
ターン形成すべき薄膜を薄膜形成技術を用いて形成した
後、スピンコート法などによりレジストを薄く被覆し、
ネガ型レジストを用いる場合は紫外線など電離放射線の
露光部が溶剤に対して不溶となり、一方、ポジ型の場合
は露光部が可溶となるのを利用してレジストパターンを
作り、これをマスクとして湿式エッチングまたはドライ
エッチングを行って薄膜パターンを形成する方法である
が、現在はパターン精度の点からドライエッチングが多
用されている。In the photolithography technique, a thin film to be patterned is formed on a substrate to be processed by using a thin film forming technique, and then a thin resist is coated by a spin coating method or the like.
When using a negative resist, the exposed part of ionizing radiation such as ultraviolet rays becomes insoluble in the solvent, while in the case of a positive resist, a resist pattern is made using the fact that the exposed part becomes soluble, and this is used as a mask. This is a method of forming a thin film pattern by performing wet etching or dry etching. At present, dry etching is frequently used in terms of pattern accuracy.
【0008】こゝで、ドライエッチング方式には平行平
板型プラズマエッチング,反応性イオンエッチング(Re
active Ion Etching, 略称RIE)などがあり、反応性に富
む塩素イオン(Cl - ) や弗素イオン(F- ) をエッチャン
トとし、減圧雰囲気中でエッチングが行われているが、
これには排気系の使用が必須である。Here, the dry etching method includes a parallel plate type plasma etching and a reactive ion etching (Re
active ion etching (abbreviation RIE), etc., and etching is performed in a reduced-pressure atmosphere using reactive chlorine ions (Cl − ) and fluorine ions (F − ) as etchants.
This requires the use of an exhaust system.
【0009】本発明はかゝる反応性ガス成分の真空ポン
プへの吸引を阻止するのに使用するコールドトラップに
関するものである。The present invention relates to a cold trap used to prevent such a reactive gas component from being sucked into a vacuum pump.
【0010】[0010]
【従来の技術】CVD やドライエッチングは反応性に富む
ガスを用いて行うため、排気系にコールドトラップを備
えることは必須であるが、反応管から出てきた未反応ガ
スと副反応ガスの総てをコールドトラップで捕獲するこ
とは困難である。2. Description of the Related Art Since CVD and dry etching are performed using a highly reactive gas, it is essential to provide a cold trap in the exhaust system. However, the total amount of unreacted gas and by-product gas coming out of the reaction tube is required. It is difficult to capture all of them with a cold trap.
【0011】例えば、LSI やVLSIなどの集積回路の絶縁
層として窒化硅素( Si3N4)がよく使用されるが、減圧CV
D 法でシリコン(Si)などの被処理基板上に膜形成を行う
にはソース(供給源) として例えば、トリクロールシラ
ン(SiHCl3), アンモニア(NH3) および一酸化窒素(N2O)
の三成分系が使用されており、これらのガスは加熱され
ている被処理基板上で反応してSi3N4 膜が形成される
が、反応生成物は供給ガス成分の一部に過ぎぬことか
ら、大部分の供給ガスは排気系により反応管より吸引除
去され、真空ポンプとの間に設けてあるコールドトラッ
プにおいて捕獲されて液化する。For example, silicon nitride (Si 3 N 4 ) is often used as an insulating layer for integrated circuits such as LSI and VLSI.
In order to form a film on a substrate to be processed such as silicon (Si) by the method D, for example, trichlorsilane (SiHCl 3 ), ammonia (NH 3 ) and nitric oxide (N 2 O) are used as sources (supply sources).
These gases react on the heated substrate to form a Si 3 N 4 film, but the reaction product is only a part of the supply gas component Therefore, most of the supply gas is sucked and removed from the reaction tube by the exhaust system, and is captured and liquefied in a cold trap provided between the reaction tube and the vacuum pump.
【0012】然し、総てのガス成分が捕獲されるわけで
はなく、一部は排気系を構成するメカニカルブースタポ
ンプ, ドライポンプ, ターボポンプなどの真空ポンプに
吸引されてしまう。[0012] However, not all gas components are captured, and a part is sucked by a vacuum pump such as a mechanical booster pump , a dry pump , or a turbo pump that constitutes an exhaust system.
【0013】また、ドライエッチングの例として燐硅酸
ガラス( 略称PSG)よりなる絶縁層が付いた被処理基板を
プラズマエッチングしてパターン形成する場合について
説明すると、反応ガスとして四弗化炭素(CF4) と酸素
(O2) との混合ガスを用い、排気系によりチャンバ内を
0.1 torr程度の真空度に保持した状態で電極間に13.56
MHzの高周波電圧を加えてプラズマを生じさせて、F ラ
ジカルを作り、これをエッチャントとしてPSG のエッチ
ングが行われている。As an example of dry etching, a case where a substrate to be processed provided with an insulating layer made of phosphosilicate glass (PSG) is subjected to plasma etching to form a pattern will be described. Carbon tetrafluoride (CF) is used as a reactive gas. 4 ) Using a gas mixture of oxygen (O 2 ) and oxygen,
13.56 between the electrodes while maintaining a vacuum of about 0.1 torr
Plasma is generated by applying a high frequency voltage of MHz to generate F radicals, which are used as etchants to etch PSG.
【0014】然し、このCF4 は総てがラジカル化するわ
けではなく、また、このラジカルは容易に元の基底状態
に戻り、またCF3,CF2 など多くの副反応生成物を生じて
おり、これらのガスはチャンバより排気され、かなりの
成分はコールドトラップにおいて捕獲されるものゝ、一
部の成分は排気系の真空ポンプに吸引されてしまう。However, not all of the CF 4 is radicalized, and the radical easily returns to the original ground state, and many side reaction products such as CF 3 and CF 2 are generated. These gases are exhausted from the chamber, and considerable components are captured in the cold trap. However, some components are sucked by the vacuum pump of the exhaust system.
【0015】このようにコールドトラップには反応ガス
成分が液化して蓄積されるが、また反応管或いはチャン
バにおいて被処理基板または管壁に形成された反応物が
剥離し、微細な粉塵となって排気系に吸引される途中で
トラップによって捕獲されて堆積する。As described above, the reaction gas components are liquefied and accumulated in the cold trap, but the reactant formed on the substrate to be processed or the tube wall in the reaction tube or chamber is separated and becomes fine dust. While being sucked into the exhaust system, it is captured and deposited by the trap.
【0016】図3は従来のコールドトラップ1の断面図
であって、管壁を貫いて吸気口2と排気口3があり、ま
た、蓋4の中央には液体窒素(N2)など冷媒の挿入筒が
あり、これより多数の遮蔽板5が水平方向に備えられて
おり、排気ガスは吸気口2より入り、排気口3より排出
する過程で、低温(N2の場合-195.8℃) に保持されてい
る遮蔽板5に触れて液化あるいは固化している。FIG. 3 is a cross-sectional view of a conventional cold trap 1 having an intake port 2 and an exhaust port 3 penetrating through a pipe wall, and a central portion of a lid 4 for a refrigerant such as liquid nitrogen (N 2 ). There is an insertion tube, and a larger number of shielding plates 5 are provided in the horizontal direction. Exhaust gas enters through the intake port 2 and is exhausted from the exhaust port 3, and reaches a low temperature (-195.8 ° C. in the case of N 2 ). It is liquefied or solidified by touching the held shield plate 5.
【0017】こゝで、コールドトラップ内で反応ガス成
分の堆積量が増すと反応管やチャンバの到達真空度が低
下し、また、コールドトラップからの蒸発が起こって不
良発生の原因となる。Here, when the deposition amount of the reaction gas component in the cold trap increases, the ultimate vacuum of the reaction tube and the chamber decreases, and evaporation from the cold trap occurs to cause a failure.
【0018】そのため、定期的に排気系から取り外して
洗浄処理を行っていた。然し、この取り外しと取り付け
には人手を要し、また、装着法が悪い場合は真空リーク
の原因となっている。For this reason, the cleaning process has been carried out by periodically removing from the exhaust system. However, this removal and attachment requires manpower, and a poor attachment method causes vacuum leaks.
【0019】[0019]
【発明が解決しようとする課題】CVD 装置やドライエッ
チング装置の排気系にはコールドドラップの使用が不可
避であり、量産工程においてはコールドトラップは定期
的に取り外して清浄化処理を行っている。It is inevitable to use a cold trap in an exhaust system of a CVD apparatus or a dry etching apparatus. In a mass production process, a cold trap is periodically removed to perform a cleaning process.
【0020】然し、この取り外しと取り付けには人手を
要し、また、真空リークの原因となり易い。そのため、
排気系より取り外すことなく洗浄可能なコールドトラッ
プを実用化することが課題である。However, this removal and attachment requires human labor and is likely to cause a vacuum leak. for that reason,
The challenge is to put a cold trap that can be cleaned without removing it from the exhaust system into practical use.
【0021】[0021]
【課題を解決するための手段】上記の課題は、真空処理
装置の排気系に付属し、前記装置より排出するガス処理
を行う排気ガス処理装置において、内壁内に、洗浄液を
噴出させる吹き出し孔をシャワー板又はシャワー管を備
えて構成することにより、或いは更に、前記内壁と外壁
との間に冷却用および加熱用の液体を収容する空隙部を
もつ二重構造をとって構成し、該外壁には前記空隙部を
加熱するヒータを備えることにより解決できる。そし
て、内部に設けてある吹き出し孔を備えたシャワー板又
はシャワー管より薬液を噴出させて、付着している析出
物を溶解除去するものである。その際、前記薬液による
析出物の除去は、少なくとも酸洗浄又はアルカリ洗浄を
含むようにする。 SUMMARY OF THE INVENTION The above object is achieved by a vacuum treatment.
Gas treatment attached to the exhaust system of the equipment and discharged from the equipment
In the exhaust gas treatment device that performs
Equipped with a shower plate or shower pipe
Or further comprising the inner wall and the outer wall
A gap for accommodating cooling and heating liquids
The outer wall has the above-mentioned void portion.
The problem can be solved by providing a heater for heating. Soshi
A shower plate with a vent hole provided inside
Ejects the chemical from the shower tube and deposits
The substance is dissolved and removed. At that time, depending on the chemical
To remove precipitates, use at least acid cleaning or alkali cleaning.
Include.
【0022】[0022]
【作用】本発明はコールドトラップを取り外すことなく
洗浄する方法としてコールドトラップに洗浄用薬液の供
給口と洗浄用薬液のスプレイ手段を新たに設け、またコ
ールドトラップを二重構造とし、コールドトラップとし
て働く場合にはこの間に液体N2などの冷媒を入れ、また
洗浄する場合には水などの加熱用液体を入れ、外部にヒ
ータを設けて加熱可能に構成するものである。According to the present invention, as a method for cleaning without removing the cold trap, a cold chemical trap supply port and a cleaning chemical spraying means are newly provided in the cold trap, and the cold trap has a double structure and functions as a cold trap. put coolant such as liquid N 2 during this time if, also when the washing put a heating liquid such as water, is to heatable configuration the heater provided outside.
【0023】そして、洗浄用薬液の供給口よりコックの
切り換えにより酸,アリカリ,水,低沸点溶剤などを供
給して洗浄を行うものである。図1は本発明に係るコー
ルドトラップの断面図であり、また、図2は本発明に係
るコールドドラップの洗浄操作の説明図である。The washing is performed by supplying an acid, alkali, water, a low boiling point solvent, and the like by switching the cock from the supply port of the cleaning chemical solution. FIG. 1 is a cross-sectional view of a cold trap according to the present invention, and FIG. 2 is an explanatory view of a cleaning operation of the cold trap according to the present invention.
【0024】すなわち、本発明に係るコールドトラップ
7は内壁部8と外壁部9との間に冷媒と加熱用液体とを
充填する空隙部10があり、この置換はコック11と12によ
り行われる。That is, the cold trap 7 according to the present invention has a gap 10 between the inner wall 8 and the outer wall 9 for filling the refrigerant and the liquid for heating, and this replacement is performed by the cocks 11 and 12.
【0025】また、中央には洗浄液供給管13があり、こ
れよりシャワー板14と螺旋状をしたシャワー管15が設け
られていて、その各々には洗浄液の吹き出し孔16があ
る。また、従来のように複数の遮蔽板17が設けられてい
る。A cleaning liquid supply pipe 13 is provided at the center, and a shower plate 14 having a spiral shape and a shower plate 14 are provided therefrom. Each of the shower pipes 15 has a cleaning liquid blowing hole 16. Further, a plurality of shielding plates 17 are provided as in the related art.
【0026】そして、このコールドトラップ7には従来
と同様に吸気口2と排気口3があり、また底部にはトラ
ップ液と洗浄液を排出する三方コック18が設けられてお
り、また、外壁部9の外側にはヒータ19が設けられてい
る。The cold trap 7 has an intake port 2 and an exhaust port 3 as in the prior art, and a bottom portion is provided with a three-way cock 18 for discharging a trap liquid and a cleaning liquid. Is provided with a heater 19 outside.
【0027】次に、このコールドトラップ7の洗浄法と
しては図2に示す反応炉21とコールドトラップ7との間
のコック22を閉じ、図1のコールドトラップ7の空隙部
10にある冷媒をコック11と12を用いて水などの加熱用液
体に置換し、ヒータ19に通電して所定の温度( 例えば90
℃) に加熱する。Next, as a method for cleaning the cold trap 7, the cock 22 between the reactor 21 and the cold trap 7 shown in FIG.
The coolant in 10 is replaced with a heating liquid such as water using cocks 11 and 12, and electricity is supplied to heater 19 to a predetermined temperature (for example, 90 ° C).
(° C).
【0028】この状態で図2のコック23を開き、三方コ
ック18と連動させて酸,アルカリ,水,低沸点溶剤(例
えばメチルアルコール)と順次に切り換えて酸洗浄,水
洗洗浄,アルカリ洗浄,溶剤洗浄を行う。In this state, the cock 23 shown in FIG. 2 is opened, and in conjunction with the three-way cock 18, the acid, alkali, water, and a low-boiling solvent (eg, methyl alcohol) are sequentially switched to carry out acid washing, water washing, alkali washing, and solvent washing. Perform cleaning.
【0029】同図においては酸洗浄, 水洗洗浄, アルカ
リ洗浄と溶剤洗浄とを酸・アルカリ用排管24と溶剤用排
管25に分けて行う場合を示している。このようにしてコ
ールドトラップ7の洗浄が終わった後は排気系26を駆動
してガス出しを充分に行った後、コールドトラップの空
隙部の加熱用液体を冷媒に置換することによって洗浄処
理が終わる。FIG. 3 shows a case where acid washing, water washing, alkali washing and solvent washing are performed separately for an acid / alkali exhaust pipe 24 and a solvent exhaust pipe 25. After the cleaning of the cold trap 7 is completed in this manner, the exhaust system 26 is driven to sufficiently discharge gas, and then the cleaning liquid is replaced with a coolant to replace the heating liquid in the gap of the cold trap, thereby completing the cleaning process. .
【0030】[0030]
【実施例】反応ガスとしてSiHCl3,NH3,N20の三成分ガス
を使用してSi基板上にSi3N4 の絶縁層を形成する減圧CV
D 炉のコールドトラップに本発明に係るトラップを使用
した。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Reduced pressure CV for forming an insulating layer of Si 3 N 4 on a Si substrate using a ternary gas of SiHCl 3 , NH 3 , N 20 as a reaction gas
The trap according to the present invention was used as a cold trap for the D furnace.
【0031】先ず、図2に示すコック22を閉じ、反応炉
21の排気系と遮断した後、図1に示すコールドトラップ
7の三方コック18を開いてコールドトラップ7の中に溜
まっている液化ガスを除いた。First, the cock 22 shown in FIG.
After shutting off the exhaust system 21, the three-way cock 18 of the cold trap 7 shown in FIG. 1 was opened to remove the liquefied gas accumulated in the cold trap 7.
【0032】次に、コック11と12を開いて液体N2を取り
出し、水に置換し、ヒータ19に通電して水温を90℃に保
ち、循環機能付き恒温槽を用いて循環させた。この状態
でコック23と酸, アルカリ, 水, 溶剤の各容器に備えて
あるバルブを使用し、まず酸として弗酸(HF)の50%液を
シャワー板14とシャワー管15の吹き出し孔16から噴出さ
せ、そのまゝ20分間保持した後、三方コック18を酸・ア
ルカリ配管側に切り換えて排液した後、水を供給して充
分に洗浄した。Next, take out the liquid N 2 to open the cock 11 and 12, to replace the water, keeping the water temperature 90 ° C. by energizing the heater 19, was circulated with a circulating function thermostatic bath. In this state, use the cock 23 and the valves provided for each of the acid, alkali, water, and solvent containers. First, a 50% solution of hydrofluoric acid (HF) as an acid is supplied through the shower plate 14 and the outlet 16 of the shower pipe 15. After being ejected and kept for 20 minutes, the three-way cock 18 was switched to the acid / alkali piping side to drain the liquid, and then water was supplied to sufficiently wash.
【0033】次に、アンモニア(NH3) の50%液を同様な
方法で供給し、20分間保持した後、三方コック18を酸・
アルカリ配管側に切り換えて排液した。次に、溶剤とし
てエチルアルコールを供給しコールドトラップ内を洗浄
して溶剤用配管より除去した後、三方コック18を閉じ、
排気系を動作してコールドトラップ内を充分に乾燥させ
て後、空隙部の水を液体N2に置換して洗浄処理が終わっ
た。Next, a 50% solution of ammonia (NH 3 ) is supplied in the same manner, and the solution is kept for 20 minutes.
The liquid was drained after switching to the alkaline piping side. Next, after supplying ethyl alcohol as a solvent to wash the inside of the cold trap and remove it from the solvent pipe, close the three-way cock 18,
After the inside of the cold trap was sufficiently dried by operating the exhaust system, the water in the voids was replaced with liquid N 2 to complete the cleaning process.
【0034】[0034]
【発明の効果】本発明の実施によりCVD 装置やドライエ
ッチング装置の排気系を構成するコールドトラップをそ
のまゝの状態で洗浄することができ、これによりコール
ドトラップの除去・装着の工数を無くすることができ
る。According to the present invention, the cold trap constituting the exhaust system of the CVD apparatus or the dry etching apparatus can be cleaned as it is, thereby eliminating the man-hour for removing and installing the cold trap. be able to.
【図1】本発明に係るコールドトラップの断面図であ
る。FIG. 1 is a sectional view of a cold trap according to the present invention.
【図2】排気系を説明する断面図である。FIG. 2 is a sectional view illustrating an exhaust system.
【図3】従来のコールドトラップの断面図である。FIG. 3 is a sectional view of a conventional cold trap.
【符号の説明】 1,7 コールドトラップ 2 吸気口 3 排気口 8 内壁部 9 外壁部 10 空隙部 11,12,22,23 コック 14 シャワー板 15 シャワー管 16 吹き出し孔 17 遮蔽板 18 三方コック 19 ヒータ[Description of Signs] 1,7 Cold trap 2 Inlet 3 Exhaust 8 Inner wall 9 Outer wall 10 Void 11,12,22,23 Cock 14 Shower plate 15 Shower tube 16 Blow-out hole 17 Shield plate 18 Three-way cock 19 Heater
Claims (5)
置より排出するガスの処理を行う排気ガス処理装置にお
いて、 内壁内に、洗浄液を噴出させる吹き出し孔を備えたシャ
ワー板又はシャワー管を備えて構成されていることを特
徴とする排気ガス処理装置。 1. An apparatus attached to an exhaust system of a vacuum processing apparatus,
Exhaust gas treatment equipment that processes gas exhausted from
And the inside wall has a blowout hole for blowing out the cleaning liquid.
It is characterized that it is equipped with a work plate or a shower tube.
Exhaust gas treatment equipment.
熱用の液体を収容する空隙部をもつ二重構造をとって構It has a double structure with a cavity for containing heat liquid.
成されており、該外壁には前記空隙部を加熱するヒータThe outer wall has a heater for heating the gap.
を備えて構成されていることを特徴とする請求項1記載2. The apparatus according to claim 1, wherein the apparatus comprises:
の排気ガス処理装置。Exhaust gas treatment equipment.
行う排気ガス処理装置の洗浄化方法において、In the cleaning method of the exhaust gas treatment device to be performed, 内部に設けてある吹き出し孔を備えたシャワー板又はシShower plate or sieve with internal vent holes
ャワー管より薬液を噴出させて、付着している析出物をA chemical solution is spouted from the shower pipe to remove attached deposits.
溶解除去することを特徴とする排気ガス処理装置の清浄Purification of exhaust gas treatment equipment characterized by dissolving and removing
化方法。Method.
とも酸洗浄又はアルカリ洗浄を含むことを特徴とする請And acid cleaning or alkali cleaning.
求項3記載の排気ガス処理装置の清浄化方法。The method for purifying an exhaust gas treatment apparatus according to claim 3.
の間に冷却用および加熱用の液体を収容する空隙部を二Two gaps containing liquids for cooling and heating
重構造をとって構成されており、前記空隙部に冷媒を満The space is filled with a refrigerant.
たして内壁部を冷却することで、真空処理装置より排出After cooling the inner wall, it is discharged from the vacuum processing unit.
する凝縮性成分の液化又は固化を行うものであり、Liquefaction or solidification of condensable components to be performed, 前記空隙部の冷媒を加熱用液体に置換した後、該液体をAfter replacing the refrigerant in the gap with a heating liquid, the liquid is
加熱した状態で前記シャワー板又はシャワー管より薬液In the heated state, a chemical solution from the shower plate or shower tube
を噴出させて前記析出物の除去を行い、次いで加熱によTo remove the precipitate, and then heating
り内壁内部を乾燥させ、然る後に該空隙部の加熱用液体To dry the inside of the inner wall, and then heat the heating liquid in the void.
を冷媒と再度置換することを特徴とする請求項3記載の4. The method according to claim 3, wherein
排気ガス処理装置の清浄化方法。A method for cleaning an exhaust gas treatment device.
Priority Applications (1)
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| JP3147696A JP2990858B2 (en) | 1991-06-20 | 1991-06-20 | Exhaust gas treatment device and its cleaning method |
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Publications (2)
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|---|---|
| JPH04370380A JPH04370380A (en) | 1992-12-22 |
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1991
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