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JP3052792B2 - Inverter device - Google Patents

Inverter device

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Publication number
JP3052792B2
JP3052792B2 JP7172576A JP17257695A JP3052792B2 JP 3052792 B2 JP3052792 B2 JP 3052792B2 JP 7172576 A JP7172576 A JP 7172576A JP 17257695 A JP17257695 A JP 17257695A JP 3052792 B2 JP3052792 B2 JP 3052792B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor switching
voltage
switching element
power supply
gate
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP7172576A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0923664A (en
Inventor
剛 山下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP7172576A priority Critical patent/JP3052792B2/en
Publication of JPH0923664A publication Critical patent/JPH0923664A/en
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電動機を駆動するため
のインバータ装置に関し、電気自動車等の電源電圧が変
動するものに適する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inverter for driving an electric motor, and is suitable for an electric vehicle or the like in which a power supply voltage fluctuates.

【0002】[0002]

【従来の技術】モータを駆動するインバータ装置とし
て、電気自動車のモータ駆動システムを図1に示す。図
1において、1は直流電源、2a,2b,2c,2d,
2e,2fは直流電源1が接続されたMOS入力型の半
導体スイッチング素子、3a,3b,3c,3d,3
e,3fはMOS入力型の半導体スイッチング素子2a
〜2fにそれぞれ逆並列に接続された還流用のダイオー
ド、4は3相モータ、5a,5bは、U相、W相のイン
バータ出力電流を検出する電流センサ、6は電流センサ
5a,5bの信号を増幅する電流信号増幅回路、7はコ
ントローラ、8は自動車のアクセルに備えられたアクセ
ルセンサ、9a,9b,9c,9d,9e,9fは同一
回路構成からなるゲート駆動回路である。
2. Description of the Related Art FIG. 1 shows a motor drive system for an electric vehicle as an inverter device for driving a motor. In FIG. 1, 1 is a DC power supply, 2a, 2b, 2c, 2d,
2e, 2f are MOS input type semiconductor switching elements to which the DC power supply 1 is connected, 3a, 3b, 3c, 3d, 3
e and 3f are MOS input type semiconductor switching elements 2a
2f, a three-phase motor, 4a and 5b are current sensors for detecting U-phase and W-phase inverter output currents, and 6 is a signal from the current sensors 5a and 5b. Is a controller, 8 is an accelerator sensor provided in the accelerator of the vehicle, and 9a, 9b, 9c, 9d, 9e, 9f are gate drive circuits having the same circuit configuration.

【0003】コントローラ7は、アクセルセンサ8のア
クセル信号に応じて3相モータ4が所定のトルクを出力
するようにゲート駆動回路9a〜9fを駆動して、半導
体スイッチング素子2a〜2fの通電状態を切換制御す
ることによって、直流電源1から3相モータ4への電流
路が切換えられる。
The controller 7 drives the gate drive circuits 9a to 9f so that the three-phase motor 4 outputs a predetermined torque according to the accelerator signal of the accelerator sensor 8, and changes the energized state of the semiconductor switching elements 2a to 2f. By controlling the switching, the current path from the DC power supply 1 to the three-phase motor 4 is switched.

【0004】以上の構成からなるモータ駆動システムに
おいて、従来のゲート駆動回路9a〜9fの回路構成
を、ゲート駆動回路9aを代表として図5に示す。図5
において、10は直流電源、11はフォトカプラ、1
2,13,14はトランジスタ、15〜18は抵抗、1
9はターンオン用ゲート抵抗、20はターンオフ用ゲー
ト抵抗、21はゲート抵抗である。
[0004] In the motor drive system having the above configuration, the circuit configuration of the conventional gate drive circuits 9a to 9f is shown in FIG. 5 with the gate drive circuit 9a as a representative. FIG.
, 10 is a DC power supply, 11 is a photocoupler, 1
2, 13, 14 are transistors, 15 to 18 are resistors, 1
9 is a turn-on gate resistance, 20 is a turn-off gate resistance, and 21 is a gate resistance.

【0005】次に、従来のゲート駆動回路9aの動作説
明をする。始めに、MOS入力型の半導体スイッチング
素子2aをターンオンさせる場合を説明する。コントロ
ーラ7がフォトカプラ11の一次側ダイオードを駆動す
ると、フォトカプラ11の二次側フォトトランジスタが
オンになり、トランジスタ12にベース電流を流させな
いようにするため、トランジスタ12はオフとなる。ト
ランジスタ12がオフになると、抵抗18を通じてトラ
ンジスタ13にベース電流が流れるため、トランジスタ
13はオンになる。トランジスタ13がオンになると、
抵抗19,21を通じてMOS入力型の半導体スイッチ
ング素子2aのゲートを充電し、ゲートが所定の電位
(スレッショルド電圧)以上になると、MOS入力型の
半導体スイッチング素子2aはオンになる。
Next, the operation of the conventional gate drive circuit 9a will be described. First, a case where the MOS input type semiconductor switching element 2a is turned on will be described. When the controller 7 drives the primary diode of the photocoupler 11, the secondary phototransistor of the photocoupler 11 is turned on, and the transistor 12 is turned off to prevent the base current from flowing through the transistor 12. When the transistor 12 is turned off, a base current flows to the transistor 13 through the resistor 18, so that the transistor 13 is turned on. When the transistor 13 is turned on,
The gate of the MOS input type semiconductor switching element 2a is charged through the resistors 19 and 21, and when the gate voltage exceeds a predetermined potential (threshold voltage), the MOS input type semiconductor switching element 2a is turned on.

【0006】次に、MOS入力型の半導体スイッチング
素子2aをターンオフする場合は、コントローラ7がフ
ォトカプラ11の一次側ダイオードの駆動を停止する
と、フォトカプラ11の二次側フォトトランジスタがオ
フになり、抵抗15,16を通じてトランジスタ12に
ベース電流が流れ、トランジスタ12がオンになる。ト
ランジスタ12がオンになると、抵抗18を通じてトラ
ンジスタ13に供給されていたベース電流が流れなくな
るため、トランジスタ13はオフになると同時に、トラ
ンジスタ12を通じてトランジスタ14にベース電流が
流れるためトランジスタ14がオンになる。トランジス
タ14がオンになると、抵抗20、21を通じてMOS
入力型の半導体スイッチング素子2aのゲートを放電
し、ゲートが所定の電位(スレッショルド電圧)以下に
なると、MOS入力型の半導体スイッチング素子2aは
オフになる。
Next, when the MOS input type semiconductor switching element 2a is turned off, when the controller 7 stops driving the primary diode of the photocoupler 11, the secondary phototransistor of the photocoupler 11 is turned off. A base current flows through the transistor 12 through the resistors 15 and 16, and the transistor 12 is turned on. When the transistor 12 is turned on, the base current supplied to the transistor 13 through the resistor 18 does not flow, so that the transistor 13 is turned off. At the same time, the base current flows to the transistor 14 through the transistor 12, so that the transistor 14 is turned on. When the transistor 14 is turned on, the MOS through the resistors 20 and 21
When the gate of the input-type semiconductor switching element 2a is discharged and the gate voltage falls below a predetermined potential (threshold voltage), the MOS-input-type semiconductor switching element 2a is turned off.

【0007】次に、MOS入力型の半導体スイッチング
素子のスイッチング特性について説明する。まず、ター
ンオンスイッチング特性について図6、図7を用いて説
明する。図6において、22は配線の浮遊インダクタン
スであり、23は負荷のインダクタンスである。図6に
おいて、MOS入力型の半導体スイッチング素子2dが
オンで、負荷電流ILが矢印(1)の方向に流れている
状態に、MOS入力型の半導体スイッチング素子2dを
ターンオフさせた場合の動作を考える。
Next, switching characteristics of the MOS input type semiconductor switching element will be described. First, the turn-on switching characteristics will be described with reference to FIGS. In FIG. 6, reference numeral 22 denotes the stray inductance of the wiring, and reference numeral 23 denotes the inductance of the load. In FIG. 6, consider the operation when the MOS input type semiconductor switching element 2d is turned off while the load current IL is flowing in the direction of arrow (1) while the MOS input type semiconductor switching element 2d is on. .

【0008】MOS入力型の半導体スイッチング素子2
dがオフになると、半導体スイッチング素子2dを流れ
ていた負荷電流ILは、負荷のインダクタンス23によ
りダイオード3aへ転流して、矢印(2)の向きへ流れ
る。次にMOS入力型の半導体スイッチング素子2dが
再度オンになると、ダイオード3aのキャリアを放出し
て逆回復するまで、矢印(3)に示すように、直流電源
1、浮遊インダクタンス22、ダイオード3a、及びM
OS入力型の半導体スイッチング素子2dからなる回路
を通じて瞬間短絡状態になる。尚、実際は他の配線部に
も、インダクタンスがあるが、説明を簡単にするために
省略した。
[0008] MOS input type semiconductor switching element 2
When d is turned off, the load current IL flowing through the semiconductor switching element 2d is commutated to the diode 3a by the load inductance 23 and flows in the direction of the arrow (2). Next, when the MOS input type semiconductor switching element 2d is turned on again, as shown by an arrow (3), the DC power supply 1, the floating inductance 22, the diode 3a, and M
The circuit is instantaneously short-circuited through a circuit including the OS input type semiconductor switching element 2d. Although the other wiring portions actually have inductance, they are omitted for the sake of simplicity.

【0009】ダイオード3aの逆方向に逆回復電流が流
れてダイオード3aは逆方向特性を回復するが、逆回復
電流の減衰が急になると、浮遊インダクタンス22によ
るサージ電圧がMOS入力型の半導体スイッチング素子
2aやダイオード3aに印加される。この逆回復電流
は、ダイオード3aの順方向電流Iを観測することによ
って見分けることができ、時刻t1でMOS入力型の半
導体スイッチング素子2dがオンになると、電流iはI
Lの大きさから減少して零となり、その後、逆回復電流
が流れた後に急激に零となり、この時点で浮遊インダク
タンス22によってMOS入力型の半導体スイッチング
素子2aやダイオード3aに大きなサージ電圧VDが印
加される。
The reverse recovery current flows in the reverse direction of the diode 3a, and the diode 3a recovers the reverse characteristic. However, when the reverse recovery current is attenuated rapidly, the surge voltage caused by the floating inductance 22 causes the MOS input type semiconductor switching element. 2a and the diode 3a. This reverse recovery current can be identified by observing the forward current I of the diode 3a. When the MOS input type semiconductor switching element 2d is turned on at time t1, the current i becomes I
L decreases from the magnitude of L to zero, and then suddenly becomes zero after a reverse recovery current flows. At this time, a large surge voltage VD is applied to the MOS input type semiconductor switching element 2a or the diode 3a by the floating inductance 22. Is done.

【0010】このサージ電圧VDは、直流電源電圧をV
B、浮遊インダクタンス22をLとすると、VD=L・
di/dt+VBとなる。サージ電圧VDをMOS入力
型の半導体スイッチング素子の定格電圧VS以下に抑え
ないと、素子そのものが耐圧破壊を起こしてしまうの
で、サージ電圧VDを小さくする必要がある。
This surge voltage VD is obtained by converting the DC power supply voltage to V
B, if the stray inductance 22 is L, VD = L
di / dt + VB. If the surge voltage VD is not suppressed below the rated voltage VS of the MOS input type semiconductor switching element, the element itself will break down withstand voltage. Therefore, it is necessary to reduce the surge voltage VD.

【0011】サージ電圧VDを小さくするには、直流電
源電圧VBを小さくするか、浮遊インダクタンス22の
Lの大きさを減少させるか、di/dtを低下させるか
のいずれかによってサージ電圧VDを小さくすることが
できるが、直流電源電圧VBを小さくすると、負荷に供
給する電力が制限されてしまい、また、浮遊インダクタ
ンス22のLを減少させることは配線上から限界がある
ので、一般にはdi/dtを減少させる方法が有効であ
る。
In order to reduce the surge voltage VD, the surge voltage VD is reduced by either reducing the DC power supply voltage VB, decreasing the magnitude of L of the floating inductance 22, or decreasing di / dt. However, if the DC power supply voltage VB is reduced, the power supplied to the load is limited, and the reduction of the L of the stray inductance 22 is limited from the viewpoint of wiring. Is effective.

【0012】di/dtを減少させる方法の一つにダイ
オードのリカバリー時間を短く設計する方法がある。さ
らに、リカバリー電流を緩やかに減衰させるソフトリカ
バリーダイオードも開発されているが、限界があり、図
7における波形Aは、MOS入力型の半導体スイッチン
グ素子2dを急速にオンさせた場合であり、その時の電
流の立ち上がりは速くサージ電圧VDも大きな値となっ
ていて、MOS入力型の半導体スイッチング素子の定格
VSを超えてしまっている。一方、波形Bは、MOS入
力型の半導体スイッチング素子2aを緩やかにオンさせ
た場合であり、逆電流iの値も、di/dtの値も小さ
く、従ってサージ電圧VDも低くなる。
One of the methods for reducing di / dt is to design the recovery time of a diode to be short. Further, a soft recovery diode for gradually attenuating the recovery current has been developed, but there is a limit, and the waveform A in FIG. 7 is a case where the MOS input type semiconductor switching element 2d is rapidly turned on. The current rises quickly and the surge voltage VD also has a large value, which exceeds the rated VS of the MOS input type semiconductor switching element. On the other hand, the waveform B is a case where the MOS input type semiconductor switching element 2a is slowly turned on, the value of the reverse current i and the value of di / dt are small, and the surge voltage VD is also low.

【0013】この時、MOS入力型の半導体スイッチン
グ素子2dのターンオン時間は、ゲートの充電時間に依
存し、MOS入力型の半導体スイッチング素子のターン
オンを長くするには、図5に示した回路のゲート抵抗1
9,21の抵抗値を大きくして、ゲート充電時間を長く
すればよい。ところが、di/dtを抑制するため、上
記のようにターンオン用ゲート抵抗19,21の抵抗値
を大きくして、MOS入力型の半導体スイッチング素子
のスイッチングスピードを遅くすることはスイッチング
損失を大きくしてしまい、インバータ装置の損失増大に
なるという問題がある。
At this time, the turn-on time of the MOS input type semiconductor switching element 2d depends on the charging time of the gate. To increase the turn-on time of the MOS input type semiconductor switching element, the gate of the circuit shown in FIG. Resistance 1
It is sufficient to increase the resistance values of the gates 9 and 21 to lengthen the gate charging time. However, in order to suppress di / dt, increasing the resistance values of the turn-on gate resistors 19 and 21 to decrease the switching speed of the MOS input type semiconductor switching element as described above increases switching loss. As a result, there is a problem that the loss of the inverter device increases.

【0014】次に、MOS入力型の半導体スイッチング
素子のターンオフスイッチング特性について、図6、図
7を用いて説明する。図6の負荷電流が(1)から
(2)に切り替わった時、MOS入力型の半導体スイッ
チング素子2dに流れていた電流はILから0に変化す
るため、MOS入力型の半導体スイッチング素子2dの
両端にサージ電圧VCが印加される。サージ電圧VC
は、VC=L・di/dt+VBで表され、ターンオン
スイッチング特性と同様にサージ電圧VCをMOS入力
型の半導体スイッチング素子の定格VS以下に抑えるに
は、di/dtの抑制しかなく、MOS入力型の半導体
スイッチング素子2dのターンオフ時間はゲートの放電
時間に依存し、MOS入力型の半導体スイッチング素子
のターンオフ時間を長くするには、図5に示した回路の
ゲート抵抗20、21の抵抗値を大きくして、ゲート放
電時間を長くすればよい。しかし、インバータ装置の損
失面に関しても、ターンオンスイッチング特性と同様
で、MOS入力型の半導体スイッチング素子のターンオ
フスイッチングスピードを遅くすることはスイッチング
損失を多くしてしまうという問題点がある。
Next, the turn-off switching characteristics of the MOS input type semiconductor switching element will be described with reference to FIGS. When the load current in FIG. 6 is switched from (1) to (2), the current flowing in the MOS input type semiconductor switching element 2d changes from IL to 0, and thus both ends of the MOS input type semiconductor switching element 2d. Is applied with a surge voltage VC. Surge voltage VC
Is represented by VC = L · di / dt + VB. In order to suppress the surge voltage VC to be equal to or lower than the rated VS of the MOS input type semiconductor switching element as in the case of the turn-on switching characteristics, only di / dt can be suppressed. The turn-off time of the semiconductor switching element 2d depends on the discharge time of the gate. To increase the turn-off time of the MOS input type semiconductor switching element, the resistance values of the gate resistors 20 and 21 of the circuit shown in FIG. Then, the gate discharge time may be extended. However, also with respect to the loss aspect of the inverter device, similarly to the turn-on switching characteristic, there is a problem in that decreasing the turn-off switching speed of the MOS input type semiconductor switching element increases the switching loss.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】MOS入力型の半導体
スイッチング素子にかかるサージ電圧は、L・di/d
t+VBで表されるので、商用電源から電力を供給され
る汎用インバータ装置では、直流電源電圧VBがほぼ一
定であることを考慮すると、L・di/dtの項だけに
着目すればよい。しかしながら、電気自動車のようなバ
ッテリを搭載した車両では、バッテリの充電時や長い急
な下り坂を下りた場合の回生時には、直流電源電圧VB
が上昇し、逆に加速中は、直流電源電圧VBが下降する
ように、直流電源電圧VBが大きく変動する。
The surge voltage applied to a MOS input type semiconductor switching element is L · di / d
Since it is represented by t + VB, in a general-purpose inverter device supplied with electric power from a commercial power supply, it is only necessary to pay attention to the term L · di / dt, considering that the DC power supply voltage VB is substantially constant. However, in a vehicle equipped with a battery such as an electric vehicle, the DC power supply voltage VB is used when the battery is charged or when the vehicle is regenerated when a long steep downhill is regenerated.
Rise, and conversely, during acceleration, the DC power supply voltage VB fluctuates greatly so that the DC power supply voltage VB decreases.

【0016】すなわち、上述のように直流電源電圧VB
が上昇した場合等は、L・di/dt+VBを考慮する
と、サージ電圧を抑制するためにスイッチングスピード
を遅くするが、直流電源電圧が低い場合には、スイッチ
ングスピードを速くしてサージ電圧を増やしても、サー
ジ電圧の絶対値としては小さいので、MOS入力型の半
導体スイッチング素子を耐圧破壊に至らしめることはな
く、スイッチング損失を低減できる。
That is, as described above, the DC power supply voltage VB
When the DC voltage increases, the switching speed is reduced in order to suppress the surge voltage in consideration of L · di / dt + VB. However, when the DC power supply voltage is low, the switching speed is increased to increase the surge voltage. However, since the absolute value of the surge voltage is small, the switching loss can be reduced without causing the breakdown voltage of the MOS input type semiconductor switching element.

【0017】本発明は、インバータ装置の直流電源電圧
が変動する電気自動車のようなモータ駆動システムにお
いて、直流電源電圧に応じてインバータ装置を構成する
MOS入力型の半導体スイッチング素子のスイッチング
スピードを適正に制御することにより、インバータ装置
のスイッチ損失低減を図ることを目的とするものであ
る。
According to the present invention, in a motor drive system such as an electric vehicle in which the DC power supply voltage of the inverter device fluctuates, the switching speed of the MOS input type semiconductor switching element constituting the inverter device is appropriately adjusted according to the DC power supply voltage. The control is intended to reduce the switch loss of the inverter device.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】本発明は、請求項1は、
直流電源と、該直流電源に対して直列接続された複数組
の電圧駆動型の半導体スイッチング素子と、該半導体ス
イッチング素子の各出力端に逆並列接続した帰還ダイオ
ードと、前記各半導体スイッチング素子をオン・オフ制
御する制御回路とを有し、前記半導体スイッチング素子
の各直列接続点に結線される負荷を通電制御するインバ
ータ装置において、前記制御回路に、前記直流電源の電
圧を検出する電圧検出手段と、該電圧検出手段に検出さ
れた前記直流電源の電圧に応じて前記半導体スイッチン
グ素子のスイッチングスピードを可変するスイッチング
スピード変更手段とを設けたことを技術的手段とする。
According to the present invention, claim 1 is:
A DC power supply, a plurality of sets of voltage-driven semiconductor switching elements connected in series to the DC power supply, a feedback diode connected in anti-parallel to each output terminal of the semiconductor switching element, and turning on each of the semiconductor switching elements. A control circuit for performing off-control, and an inverter device for controlling the energization of a load connected to each series connection point of the semiconductor switching elements, wherein in the control circuit, voltage detection means for detecting a voltage of the DC power supply; And a switching speed changing means for changing a switching speed of the semiconductor switching element according to the voltage of the DC power supply detected by the voltage detecting means.

【0019】請求項2は、請求項1において、前記半導
体スイッチング素子は、MOS入力型トランジスタであ
り、前記スイッチングスピード変更手段は、複数のゲー
ト抵抗の内の少なくとも1つのゲート抵抗にスイッチ手
段を並列接続させ、該スイッチ手段を前記直流電源の電
圧に応じて制御して、前記MOS入力型の半導体スイッ
チング素子のゲートの充放電インピーダンスを可変し
て、前記MOS入力型半導体スイッチング素子のゲート
の充放電時間を制御することで、前記MOS入力型の半
導体スイッチング素子のスイッチング時間を制御するこ
とを技術的手段とする。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the semiconductor switching element is a MOS input type transistor, and the switching speed changing means connects the switching means to at least one of the plurality of gate resistors in parallel. The switching means is controlled in accordance with the voltage of the DC power supply to vary the charging / discharging impedance of the gate of the MOS input type semiconductor switching element, thereby charging / discharging the gate of the MOS input type semiconductor switching element. The technical means is to control the switching time of the MOS input type semiconductor switching element by controlling the time.

【0020】請求項3は、請求項1、2において、前記
半導体スイッチング素子は、MOS入力型トランジスタ
であり、前記電圧検出手段を、前記複数組のMOS入力
型トランジスタのそれぞれのゲートの充放電を行うゲー
ト駆動回路内にそれぞれ持つことを技術的手段とする。
請求項4は、請求項1、2において、前記半導体スイッ
チング素子は、MOS入力型トランジスタであり、前記
電圧検出手段を、前記複数組のMOS入力型トランジス
タそれぞれのゲートの充放電を行うゲート駆動回路外に
設け、前記直流電源の電圧が所定の電圧以上か以下か
を、前記ゲート駆動回路のすべてに送信することを技術
的手段とする。
According to a third aspect of the present invention, in the first and second aspects, the semiconductor switching element is a MOS input type transistor, and the voltage detecting means controls charging and discharging of each gate of the plurality of sets of the MOS input type transistors. The technical means is to have each in the gate drive circuit to perform.
4. A gate drive circuit according to claim 1, wherein said semiconductor switching element is a MOS input type transistor, and said voltage detection means charges and discharges a gate of each of said plurality of sets of MOS input type transistors. A technical means is provided outside and transmits to all of the gate drive circuits whether the voltage of the DC power supply is higher or lower than a predetermined voltage.

【0021】[0021]

【作用】本発明は、直流電源の電圧を電圧検出手段によ
って検出し、その電圧に応じて、例えば、半導体スイッ
チ素子のゲートの充放電時間を制御することなどによっ
て、半導体スイッチング素子のスイッチングスピードを
可変する。これにより、直流電源の電圧が高い場合に
は、半導体スイッチング素子のスイッチングスピードが
遅くなり、負荷インダクタンスにより半導体スイッチン
グ素子に加わるサージ電圧のL・di/dt成分が小さ
くなるため、大きなサージ電圧が半導体スイッチング素
子にかかることがない。一方、直流電源の電圧が低い場
合には、半導体スイッチング素子のスイッチングスピー
ドが速くなり、負荷インダクタンスにより半導体スイッ
チング素子に加わるサージ電圧のL・di/dt成分が
大きくなるが、このときの直流電源の電圧自体が低い状
態であるため、サージ電圧の絶対値が低くなり、半導体
スイッチング素子に耐圧を超えるサージ電圧がかかるこ
とがない。また、このとき、スイッチング時間が短くな
るため、スイッチング損失が小さくなる。
According to the present invention, the switching speed of a semiconductor switching element is controlled by detecting the voltage of a DC power supply by voltage detecting means and controlling the charge / discharge time of the gate of the semiconductor switching element in accordance with the voltage. Variable. Thus, when the voltage of the DC power supply is high, the switching speed of the semiconductor switching element is reduced, and the L · di / dt component of the surge voltage applied to the semiconductor switching element due to the load inductance is reduced. It does not affect the switching element. On the other hand, when the voltage of the DC power supply is low, the switching speed of the semiconductor switching element increases, and the L · di / dt component of the surge voltage applied to the semiconductor switching element due to the load inductance increases. Since the voltage itself is in a low state, the absolute value of the surge voltage is reduced, and a surge voltage exceeding the breakdown voltage is not applied to the semiconductor switching element. Further, at this time, the switching time is shortened, so that the switching loss is reduced.

【0022】[0022]

【発明の効果】本発明では、以上のとおり、直流電源の
電圧に応じて半導体スイッチング素子のスイッチングス
ピードを変更するため、直流電源の電圧が高い場合に
は、サージ電圧を小さくすることができ、また、直流電
源の電圧が低い場合には、スイッチング損失を小さくす
ることができる。
According to the present invention, as described above, the switching speed of the semiconductor switching element is changed according to the voltage of the DC power supply. Therefore, when the voltage of the DC power supply is high, the surge voltage can be reduced. When the voltage of the DC power supply is low, the switching loss can be reduced.

【0023】[0023]

【実施例】次に本発明のインバータ装置を図1に示す電
気自動車のモータ駆動システムの実施例に基づいて説明
する。本発明の特徴たる構成は、図1に示すモータ駆動
システムのゲート駆動回路9a〜9fにおいて適用され
ており、本発明の実施例となるゲート駆動回路9の回路
構成を図2に示す。図2において、24はオペアンプを
用いた差動増幅回路によって構成された公知の電圧検出
回路であって、モータ駆動システム内の直流電源1の電
圧を検出する。25aはコンパレータ、25bはコンパ
レータ25a内の出力トランジスタ、26は基準電圧
源、27,28はトランジスタ、29はP型MOSFE
T、30はN型MOSFET、31〜45は抵抗、46
はダイオード、47はフォトカプラである。なお、図2
において、図5と同符号を付したものは同一構成を示
す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an inverter device according to the present invention will be described based on an embodiment of a motor drive system for an electric vehicle shown in FIG. The characteristic configuration of the present invention is applied to the gate drive circuits 9a to 9f of the motor drive system shown in FIG. 1, and the circuit configuration of the gate drive circuit 9 according to the embodiment of the present invention is shown in FIG. In FIG. 2, reference numeral 24 denotes a known voltage detection circuit constituted by a differential amplifier circuit using an operational amplifier, which detects the voltage of the DC power supply 1 in the motor drive system. 25a is a comparator, 25b is an output transistor in the comparator 25a, 26 is a reference voltage source, 27 and 28 are transistors, and 29 is a P-type MOSFET.
T and 30 are N-type MOSFETs, 31 to 45 are resistors, 46
Is a diode, and 47 is a photocoupler. Note that FIG.
In FIG. 5, components denoted by the same reference numerals as those in FIG. 5 indicate the same configuration.

【0024】次に以上の構成からなるゲート駆動回路9
の動作について説明する。モータ駆動システム内の直流
電源1の電圧が所定の電圧以上であるとすると、コンパ
レータ25a内の出力トランジスタ25bがオフになる
ため、抵抗33、35を通じてトランジスタ27にベー
ス電流が流れるため、トランジスタ27がオンになる。
トランジスタ27がオンになると、トランジスタ28に
ベース電流が供給されるため、トランジスタ28がオン
になる。トランジスタ27がオンになると、N型MOS
FET30のゲートが放電されるため、N型MOSFE
T30がオフになる。また、トランジスタ28がオンに
なるため、P型MOSFET29のゲートが充電される
ため、P型MOSFET29がオフになる。このとき、
MOS入力型の半導体スイッチング素子のゲートの充電
抵抗は、抵抗44,19,21の直列抵抗となり、ゲー
トの放電抵抗は、抵抗21,20,45の直列抵抗とな
る。
Next, the gate drive circuit 9 having the above configuration
Will be described. If the voltage of the DC power supply 1 in the motor drive system is equal to or higher than a predetermined voltage, the output transistor 25b in the comparator 25a is turned off, and a base current flows through the transistor 27 through the resistors 33 and 35. Turn on.
When the transistor 27 is turned on, a base current is supplied to the transistor 28, so that the transistor 28 is turned on. When the transistor 27 is turned on, an N-type MOS
Since the gate of the FET 30 is discharged, the N-type MOSFET
T30 turns off. Further, since the transistor 28 is turned on, the gate of the P-type MOSFET 29 is charged, so that the P-type MOSFET 29 is turned off. At this time,
The charging resistance of the gate of the MOS input type semiconductor switching element is a series resistance of the resistances 44, 19, and 21, and the discharging resistance of the gate is a series resistance of the resistances 21, 20, and 45.

【0025】逆に、インバータ装置の直流電源電圧が所
定の電圧以下であるとすると、コンパレータ25a内の
出力トランジスタ25bがオンになるため、トランジス
タ27にベース電流が供給されず、トランジスタ27は
オフになる。トランジスタ27がオフになると、トラン
ジスタ28にベース電流が供給されないため、トランジ
スタ28がオフになる。ここで、ダイオード46はトラ
ンジスタ27がオフの状態で、抵抗37,42,43に
トランジスタ28のベース電流が流れてトランジスタ2
8が誤ってオンにならないように逆阻止している。トラ
ンジスタ28がオフになると、P型MOSFET29の
ゲートがソースに対して負にバイアスされるため、P型
MOSFET29はオンになる。また、トランジスタ2
7がオフになっているので、抵抗34,42を通じてN
型MOSFET30のゲートがソースに対して正にバイ
アスされるので、N型MOSFET30はオンになる。
Conversely, if the DC power supply voltage of the inverter device is equal to or lower than a predetermined voltage, the output transistor 25b in the comparator 25a is turned on, so that no base current is supplied to the transistor 27 and the transistor 27 is turned off. Become. When the transistor 27 is turned off, the base current is not supplied to the transistor 28, so that the transistor 28 is turned off. Here, when the transistor 27 is turned off, the base current of the transistor 28 flows through the resistors 37, 42, and 43, so that the diode 46 is turned on.
8 prevents reverse turning on by mistake. When the transistor 28 is turned off, the gate of the P-type MOSFET 29 is negatively biased with respect to the source, so that the P-type MOSFET 29 is turned on. Transistor 2
7 is turned off, so that N
The N-type MOSFET 30 is turned on because the gate of the type MOSFET 30 is positively biased with respect to the source.

【0026】数A(アンペア)クラスのMOSFET
は、オンになるとオン抵抗が数十ミリオームとなるの
で、このときMOS入力型の半導体スイッチング素子の
ゲートの充電抵抗は、ほとんど抵抗19,21の直列抵
抗となり、ゲートの放電抵抗は、抵抗21,20の直列
抵抗となる。従って、モータ駆動システム内の直流電源
1の電圧が所定の電圧以下になると、MOS入力型の半
導体スイッチング素子のゲートの充放電が速くなり、充
放電時間が短くなる。その結果、MOS入力型の半導体
スイッチング素子がターンオフ及びターンオンするとき
に発生するサージ電圧のL・di/dt分は増えるが、
直流電源1の電圧が低い状態なので、サージ電圧の絶対
値が低いため、MOS入力型の半導体スイッチング素子
を耐圧破壊に至らしめることなしに、スイッチング損失
を低減できる。
MOSFET of several A (ampere) class
Is turned on, the ON resistance becomes several tens of milliohms. At this time, the charge resistance of the gate of the MOS input type semiconductor switching element is almost a series resistance of the resistances 19 and 21, and the discharge resistance of the gate is the resistance 21 and 20 series resistance. Therefore, when the voltage of the DC power supply 1 in the motor drive system becomes equal to or lower than a predetermined voltage, the charge and discharge of the gate of the MOS input type semiconductor switching element become faster, and the charge and discharge time becomes shorter. As a result, the surge voltage L · di / dt generated when the MOS input type semiconductor switching element is turned off and turned on increases,
Since the voltage of the DC power supply 1 is low, the absolute value of the surge voltage is low, so that the switching loss can be reduced without causing the breakdown voltage of the MOS input type semiconductor switching element.

【0027】図3に本実施例のゲート駆動回路を用いた
場合のMOS入力型の半導体スイッチング素子にかかる
サージ電圧波形およびMOS入力型の半導体スイッチン
グ素子に流れる電流波形を示す。図中、(A)はモータ
駆動システムの直流電源1の電圧VBが高い場合であ
り、(B),(C)は低い場合である。また、(A),
(B)は本発明の制御を行った場合であり、(C)は制
御を行わない従来技術による場合である。なお、VMAX
はMOS入力型の半導体スイッチング素子の耐圧定格で
ある。
FIG. 3 shows a surge voltage waveform applied to the MOS input type semiconductor switching element and a current waveform flowing through the MOS input type semiconductor switching element when the gate drive circuit of this embodiment is used. In the figure, (A) shows the case where the voltage VB of the DC power supply 1 of the motor drive system is high, and (B) and (C) show the cases where it is low. (A),
(B) shows the case where the control of the present invention is performed, and (C) shows the case of the conventional technique without the control. Note that VMAX
Is the withstand voltage rating of the MOS input type semiconductor switching element.

【0028】図3において、VB1>VB2であり、
(A)と(B)とを比較すると、モータ駆動システムの
直流電源1の電圧VBが低い場合の(B)は、スイッチ
ングスピードが速くなる(di/dtが大きくなる)
が、サージ電圧のレベルは(A),(B)とも、VMAX
以下で、(B)と(C)とを比較すると、(B)の場合
はスイッチング時間が短くなるので、サージ電圧のレベ
ルは大きくなるが、MOS入力型の半導体スイッチング
素子を耐圧破壊させるレベルのVMAX に至っていない。
また、スイッチング時間が短くなるので、制御なしの場
合と比較すると、スイッチング損失が小さくなるのが分
かる。
In FIG. 3, VB1> VB2,
Comparing (A) and (B), when the voltage VB of the DC power supply 1 of the motor drive system is low (B), the switching speed increases (di / dt increases).
However, the surge voltage level is VMAX for both (A) and (B).
Comparing (B) and (C) below, in the case of (B), the switching time is short and the level of the surge voltage is high, but the level of the breakdown voltage of the MOS input type semiconductor switching element is high. VMAX has not been reached.
Also, since the switching time is shortened, it can be seen that the switching loss is reduced as compared with the case without control.

【0029】図4に本発明の第2実施例のゲート駆動回
路を示す。図4において、47はフォトカプラである。
第2実施例では、直流電源1の電圧を検出する電圧検出
手段をコントローラ7内に設け、コントローラ7から各
ゲート駆動回路9a〜9fのフォトカプラ47へ、直流
電源1の電圧が所定の電圧以上か以下かの信号を送出す
るため、各ゲート駆動回路の電圧検出回路を省略でき
る。
FIG. 4 shows a gate drive circuit according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 4, reference numeral 47 denotes a photocoupler.
In the second embodiment, a voltage detecting means for detecting the voltage of the DC power supply 1 is provided in the controller 7, and the voltage of the DC power supply 1 is equal to or higher than a predetermined voltage from the controller 7 to the photocoupler 47 of each of the gate drive circuits 9a to 9f. Since the following signal is transmitted, the voltage detection circuit of each gate drive circuit can be omitted.

【0030】以上の各実施例では、単電源用のゲート駆
動回路を示したが、両電源用のゲート駆動回路でもよ
い。また、13,14,27,28としてパイポーラト
ランジスタを用いたが、FET等の他のスイッチ手段で
もよい。また、コントローラ7とゲート駆動回路のイン
ターフェースとしてフォトカプラを用いたが、パルスト
ランス等の他の絶縁手段でもよい。また、ターンオンと
ターンオフの高速化を同時に行ったが、別々に行っても
よい。また、スイッチングスピードについて、高速化と
低速化の2段階で分けたが、それ以上の複数段階で分け
てもよく、ターンオンとターンオフとで、段階数を別々
に設定してもよい。また、直流電源電圧の検出手段とし
て電圧検出回路を用いたが、アイソレーションアンプ等
の他の絶縁手段を用いてもよい。
In each of the above embodiments, the gate drive circuit for a single power supply has been described, but a gate drive circuit for a dual power supply may be used. Although the bipolar transistors are used as 13, 14, 27, and 28, other switching means such as FETs may be used. Further, although a photocoupler is used as an interface between the controller 7 and the gate drive circuit, other insulating means such as a pulse transformer may be used. In addition, although the speed-up of the turn-on and the turn-off is performed at the same time, they may be performed separately. Further, the switching speed is divided into two stages of high speed and low speed. However, the switching speed may be divided into more than two stages, and the number of stages may be set separately for turn-on and turn-off. Further, although a voltage detection circuit is used as the DC power supply voltage detecting means, other insulating means such as an isolation amplifier may be used.

【0031】以上のとおり、本発明では、電源電圧が変
動するようなインバータ装置において、インバータ装置
を構成するMOS入力型の半導体スイッチング素子のス
イッチングスピードを電源電圧に応じて適正に制御する
ことによって、インバータ装置のスイッチング損失を低
減することができる。
As described above, according to the present invention, in an inverter device in which the power supply voltage fluctuates, the switching speed of the MOS input type semiconductor switching element constituting the inverter device is appropriately controlled according to the power supply voltage. The switching loss of the inverter device can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例を示す電気自動車のモータ駆動
システムを示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a motor drive system of an electric vehicle according to an embodiment of the present invention.

【図2】第1実施例のモータ駆動システムのゲート駆動
回路を示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a gate drive circuit of the motor drive system according to the first embodiment.

【図3】第1実施例の作動を示す波形図である。FIG. 3 is a waveform chart showing the operation of the first embodiment.

【図4】第2実施例のモータ駆動システムのゲート駆動
回路を示す回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a gate drive circuit of a motor drive system according to a second embodiment.

【図5】従来技術としてのゲート駆動回路を示す回路図
である。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a gate drive circuit as a conventional technique.

【図6】従来技術としてのゲート駆動回路を動作説明の
ための部分回路図である。
FIG. 6 is a partial circuit diagram for explaining the operation of a gate drive circuit as a conventional technique.

【図7】従来技術としてのゲート駆動回路を動作説明の
ための波形図である。
FIG. 7 is a waveform diagram for explaining the operation of a gate drive circuit as a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 直流電源 2a〜2f MOS入力型の半導体スイッチング素子 3a〜3f ダイオード(帰還ダイオード) 4 3相モータ 7 コントローラ 9 ゲート駆動回路(制御回路、スイッチングスピード
変更手段) 24 電圧検出回路(電圧検出手段)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 DC power supply 2a-2f MOS input type semiconductor switching element 3a-3f Diode (feedback diode) 4 Three-phase motor 7 Controller 9 Gate drive circuit (control circuit, switching speed change means) 24 Voltage detection circuit (voltage detection means)

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 直流電源と、 該直流電源に対して直列接続された複数組の電圧駆動型
の半導体スイッチング素子と、 該半導体スイッチング素子の各出力端に逆並列接続した
帰還ダイオードと、 前記各半導体スイッチング素子をオン・オフ制御する制
御回路とを有し、前記半導体スイッチング素子の各直列
接続点に結線される負荷を通電制御するインバータ装置
において、 前記制御回路に、 前記直流電源の電圧を検出する電圧検出手段と、 該電圧検出手段に検出された前記直流電源の電圧に応じ
て前記半導体スイッチング素子のスイッチングスピード
を可変するスイッチングスピード変更手段とを設けたこ
とを特徴とするインバータ装置。
A DC power supply; a plurality of voltage-driven semiconductor switching elements connected in series to the DC power supply; a feedback diode connected in anti-parallel to each output terminal of the semiconductor switching element; A control circuit for controlling on / off of the semiconductor switching element; and an inverter device for controlling energization of a load connected to each series connection point of the semiconductor switching element, wherein the control circuit detects a voltage of the DC power supply. An inverter device, comprising: a voltage detecting unit that performs switching; and a switching speed changing unit that changes a switching speed of the semiconductor switching element according to a voltage of the DC power supply detected by the voltage detecting unit.
【請求項2】 前記半導体スイッチング素子は、MOS
入力型トランジスタであり、前記スイッチングスピード
変更手段は、複数のゲート抵抗の内の少なくとも1つの
ゲート抵抗にスイッチ手段を並列接続させ、該スイッチ
手段を前記直流電源の電圧に応じて制御して、前記MO
S入力型の半導体スイッチング素子のゲートの充放電イ
ンピーダンスを可変して、前記MOS入力型半導体スイ
ッチング素子のゲートの充放電時間を制御することで、
前記MOS入力型の半導体スイッチング素子のスイッチ
ング時間を制御することを特徴とする請求項1記載のイ
ンバータ装置。
2. The semiconductor switching device according to claim 1, wherein the semiconductor switching element is a MOS.
An input-type transistor, wherein the switching speed changing means connects a switch means to at least one of the plurality of gate resistors in parallel, and controls the switch means according to a voltage of the DC power supply; MO
By varying the charging / discharging impedance of the gate of the S-input type semiconductor switching element and controlling the charging / discharging time of the gate of the MOS-input type semiconductor switching element,
2. The inverter device according to claim 1, wherein a switching time of the MOS input type semiconductor switching element is controlled.
【請求項3】 前記半導体スイッチング素子は、MOS
入力型トランジスタであり、前記電圧検出手段を、前記
複数組のMOS入力型トランジスタのそれぞれのゲート
の充放電を行うゲート駆動回路内にそれぞれ持つことを
特徴とする請求項1または2に記載のインバータ装置。
3. The semiconductor switching device according to claim 1, wherein the semiconductor switching element is a MOS.
The inverter according to claim 1 or 2, wherein the inverter is an input transistor, and the voltage detection means is provided in a gate drive circuit that charges and discharges each gate of the plurality of sets of MOS input transistors. apparatus.
【請求項4】 前記半導体スイッチング素子は、MOS
入力型トランジスタであり、前記電圧検出手段を、前記
複数組のMOS入力型トランジスタそれぞれのゲートの
充放電を行うゲート駆動回路外に設け、前記直流電源の
電圧が所定の電圧以上か以下かを、前記ゲート駆動回路
のすべてに送信することを特徴とする請求項1または2
に記載のインバータ装置。
4. The semiconductor switching device according to claim 1, wherein the semiconductor switching element is a MOS.
An input type transistor, wherein the voltage detecting means is provided outside a gate drive circuit for charging / discharging the gates of each of the plurality of sets of MOS input type transistors, and whether the voltage of the DC power supply is equal to or higher than a predetermined voltage, 3. The transmission to all of the gate drive circuits.
3. The inverter device according to claim 1.
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