JP3062293B2 - Surface defect inspection equipment - Google Patents
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、鏡面として機能する
被検査面に向けて光を照射し、その反射光から塗装欠陥
等の表面欠陥の有無を検査する表面欠陥検査装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface defect inspection apparatus which irradiates a surface to be inspected functioning as a mirror surface with light, and inspects the reflected light for the presence or absence of a surface defect such as a coating defect.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、自動車等の車両の製造ラインに
おいては、車体に対する塗装は、製造ライン中に設けた
塗装ステーシヨンにおいてなされる。このような塗装ス
テーションにおいて車体の塗装がなされた後、この塗装
によって生じた塗装欠陥の検査が実行される事になる。
ここで、この塗装欠陥の検査は、従来から、人間の目視
検査によつて行われている。この目視検査においては、
塗膜面から微小な欠陥部を発見しなければならない、。
このため、検査者の神経的負担が大きく、また肉体的に
もきびしい作業を強いられることになつている。2. Description of the Related Art Generally, in a production line of a vehicle such as an automobile, painting of a vehicle body is performed at a painting station provided in the production line. After the body is painted in such a painting station, inspection for paint defects caused by the painting is performed.
Here, this inspection for paint defects has been conventionally performed by visual inspection of humans. In this visual inspection,
You have to find a small defect on the coating surface.
This imposes a heavy burden on the examiner and requires physically demanding work.
【0003】ところで、作業者の目視検査に頼らず、塗
装欠陥を検査する技術として、例えば、特開昭62−2
33710号公報には、物体の被検査面に光を照射し
て、その反射光をスクリーン上に投影させ、その投影像
の鮮映度から被検査面の表面欠陥を自動的に検出する検
査技術が開示されている。したがつて、上記の従来公報
に開示された技術を応用すれば、車体の塗装面に発生し
た塗装欠陥の自動検出が可能になり、従来の目視による
検査作業から検査者を解放させることができる。As a technique for inspecting a coating defect without relying on a visual inspection of an operator, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 62-2
No. 33710 discloses an inspection technique for irradiating a surface to be inspected of an object with light, projecting the reflected light on a screen, and automatically detecting a surface defect on the surface to be inspected from the sharpness of the projected image. Is disclosed. Therefore, if the technology disclosed in the above-mentioned conventional publication is applied, it is possible to automatically detect a coating defect generated on a painted surface of a vehicle body, and to relieve the inspector from the conventional visual inspection work. .
【0004】ところで、上記の従来公報に開示された光
照射による表面検査技術を、車体の塗装の自動検査に応
用する場合、図7に示すように、塗膜面Yの鏡面反射性
を利用し、この塗膜面Yに光源A1 から線的な(あるい
はスポツト的な)光を照射して、塗膜面Y上に、次に述
べるCCDカメラBのカメラ視野Fよりも充分に小さい
光照射領域を作り、この光照射領域からの反射光をCC
DカメラBによつて受光させる検査装置が考えられる。When the surface inspection technique by light irradiation disclosed in the above-mentioned conventional publication is applied to an automatic inspection of paint of a vehicle body, as shown in FIG. the coated surface Y to the line manner from the light source a 1 (or a Supotsuto manner) by irradiating light, on Nurimakumen Y, than the camera field of view F of the CCD camera B to be described below sufficiently small light irradiation Create an area and use the reflected light from this
An inspection device for receiving light by the D camera B is conceivable.
【0005】この検査装置では、CCDカメラBで作成
される受光画像は図8に示すようになつて、カメラ視野
Fをカバーする全体として暗い受光画像Cの中に塗膜面
Yの光照射領域が明るい線Dとなつて捉えられることに
なる。ここで、この光照射領域中に例えば球面を有する
形状と擬制する事の出来る塗装欠陥部Xがあつた場合、
この塗装欠陥部Xの球面において正反射が生じる事とな
る。詳細には、この塗装欠陥部Xにおいては、これを中
心とした周囲の風景が、光源A1 を含む比較的広い範囲
を凝縮した状態で映し出される事となる。そして、この
塗装欠陥部Xに映し出された像は、明るいが小さく写し
出された光源A1 とこれの周囲の広い暗い部分とを含む
ものである。従つて、カメラ受光面に対する塗装欠陥部
Xの入射光量に着目すれば、この光源A1 の暗い周囲部
分に対応する部分においては、光量が低下し、この結
果、上記の明るい線Dの中に黒く表面欠陥部Xが写し出
されることになる。[0005] In this inspection apparatus, the received light image formed by the CCD camera B is as shown in FIG. Becomes a bright line D. Here, when there is a paint defect X that can be simulated in the light irradiation area, for example, a shape having a spherical surface,
Regular reflection occurs on the spherical surface of the paint defect X. In particular, in the coating defect X, the surrounding landscape, mainly it is a fact to be displayed a relatively wide range including a light source A 1 in a state condensed. The image was projected to the coating defect X is bright but is intended to include a light source A 1 Projected small and large dark portion of the periphery of this. Accordance connexion, focusing the incident light amount of coating defect X with respect to the camera light receiving surface, in the portion corresponding to the dark peripheral portion of the light source A 1, the light amount decreases, as a result, in the bright line D The surface defect X is projected in black.
【0006】このようにして、画像処理技術によつて、
この黒点を識別することにより、塗装欠陥部Xを検出で
きることになる。また、この検査装置によれば、塗膜面
Yを線的に狭く照射するので、照射光量が少なくても、
光照射領域に入射する光の塗装欠陥部Xにおける正反射
方向が変化して、カメラBに入る光量が塗装欠陥部Xと
そうでない部分とで明瞭に差が出来、微小な欠陥をも検
出することが出来る事になる。As described above, according to the image processing technique,
By identifying the black spot, the paint defect X can be detected. Further, according to this inspection apparatus, since the coating film surface Y is irradiated linearly and narrowly, even if the irradiation light amount is small,
The direction of regular reflection of the light incident on the light irradiation area at the coating defect portion X changes, and the amount of light entering the camera B can be clearly different between the coating defect portion X and the other portion, and even a minute defect can be detected. You can do it.
【0007】しかし、上述した様に狭い光照射を行って
いるので、カメラ視野Fに対して光照射領域が小さす
ぎ、一方、カメラBが捉えることができる欠陥部Xは光
照射領域(すなわち受光画像中の線画像)の内部か、近
辺でしかない。このため、常に、カメラ視野Fの一部の
みを使用した表面検査しかできず、検査能率に欠ける問
題がある。However, since the narrow light irradiation is performed as described above, the light irradiation area is too small with respect to the camera field of view F, while the defective portion X that can be captured by the camera B is located in the light irradiation area (ie, the light receiving area). (In the line image in the image) or near it. For this reason, only the surface inspection using only a part of the camera field of view F can always be performed, and there is a problem that the inspection efficiency is lacking.
【0008】また、被検査物が車体の塗装表面である
と、上記の光源A1ならびにCCDカメラBをロボツト
装置で車体の塗装表面にそつて移動させながら検査を行
うことになる。しかしながら、車体は互いに曲率の異な
る多くの曲面から構成されている。このため、これら曲
面部に検査箇所が移動すると、光源A1 によつて車体表
面にできている線的な照射形状が歪み、したがつてカメ
ラBの受光画像C中の線画像Dも図9に示すように歪む
こととなる。この結果、甚だしい場合には、カメラ視野
Fから線画像Dが逸脱することになる。このため正常な
検査ができなくなる。Further, when the object to be inspected is a vehicle body painted surface will be inspected while moving Te graduation to the body of the painted surface by the light source A 1 and robot device CCD camera B. However, the vehicle body is composed of many curved surfaces having different curvatures. Therefore, when the inspection point on these curved surfaces move, the linear specific illumination profile distortion that can turn by connexion body surface light source A 1, the is also a line image D in the light receiving image C of connexion camera B 9 Will be distorted as shown in FIG. As a result, in extreme cases, the line image D deviates from the camera field of view F. Therefore, normal inspection cannot be performed.
【0009】このため、自動車等の車両の車体において
は、塗膜面の正常な検査が困難であり、常にカメラ視野
F内に線画像Dが収まるようにするために、ロボツト装
置に複雑な制御をかけねばならなくなる問題がある。For this reason, it is difficult to normally inspect the coating film surface of a vehicle body such as an automobile, and in order to keep the line image D within the field of view F of the camera, complicated control is performed by the robot apparatus. There is a problem that must be applied.
【0010】以上のような難点を解消するため、図10
のように、塗膜面Yを広い光照射領域を有する光源A2
によつて照射し、カメラ視野Fと同等もしくはそれ以上
の範囲で面的に広く照射するようにし、この広い光照射
領域をカメラBによつて捉えることが考えられる。[0010] In order to solve the above difficulties, FIG.
A light source A 2 having a wide light irradiation area as shown in FIG.
It is conceivable that the light is radiated by the camera B, and the light is broadly radiated in the area equal to or larger than the field of view F of the camera.
【0011】[0011]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに広く塗膜面Yを照射すると、照射光量が大幅に増加
し、塗装欠陥部Xでの光のハレーションを生じて、微小
な塗装欠陥Xを明確に捉えることが出来なくなる。詳細
には、塗装欠陥部Xで映し出される像は、ほとんど光源
A2 のみとなり、この塗装欠陥部Xも明るく映し出され
る事となる。従つて、カメラ受光面に対する塗装欠陥部
Xの入射光量に着目すれば、この光源A2 で照射された
部分の光量と、塗装欠陥部Xで映し出された部分の光量
とがほぼ同一となり、この結果、上記の明るい線Dの中
に明るい表面欠陥部Xが写し出され、CCDカメラBが
微小な塗装欠陥部Xを明確に捉えることができなくなる
事になる。However, when the coating film surface Y is illuminated in such a wide manner, the amount of irradiation is greatly increased, and halation of light at the coating defect portion X is caused. You will not be able to catch it clearly. Specifically, the image to be displayed in the painting defect X, most light sources A 2 only becomes, and it is also displayed brightly the coating defect X. Accordance connexion, focusing the incident light amount of coating defect X with respect to the camera light receiving surface, a light amount of irradiated portion by the light source A 2, becomes the amount of projected portions in the painting defect X is substantially the same, the As a result, a bright surface defect X is displayed in the bright line D, and the CCD camera B cannot clearly catch the minute paint defect X.
【0012】この発明は、以上のような事情に鑑みなさ
れたもので、この発明の目的は、被検査面に存在する表
面欠陥の位置とその凹凸状態を正確に、かつ効率よく検
出することが出来る表面欠陥検査装置を提供することで
ある。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to accurately and efficiently detect the position of a surface defect existing on a surface to be inspected and its unevenness. An object of the present invention is to provide a surface defect inspection device that can perform the inspection.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、
目的を達成するため、この発明に係わる表面欠陥検査装
置は、鏡面として機能する被検査面に対向して配設さ
れ、この被検査面に向けて所定の方向に沿つて光度が大
から小に徐々に変化する様に設定された光度分布を有す
る光を照射する光照射手段と、前記被検査面で反射され
た前記光照射手段の像を撮影して、この光照射手段の光
度分布に対応する明暗ある受光画像を作成する撮像手段
と、この撮像手段で形成された受光画像に基づき、これ
の明部および暗部のそれぞれにおいて明るさが周囲とは
大きく異なる箇所を識別することにより、この識別され
た箇所を被検査面の表面欠陥部として検出する画像処理
手段とを具備する事を特徴としている。Means for Solving the Problems The above-mentioned problems are solved,
In order to achieve the object, a surface defect inspection apparatus according to the present invention is disposed so as to face a surface to be inspected that functions as a mirror surface, and the luminous intensity decreases from large to small along a predetermined direction toward the surface to be inspected. A light irradiating means for irradiating light having a light intensity distribution set so as to gradually change, and an image of the light irradiating means reflected on the surface to be inspected, and corresponding to the light intensity distribution of the light irradiating means An image pickup means for creating a bright and dark light-receiving image to be formed, and a part of the light part and the dark part whose brightness is significantly different from the surroundings is identified based on the light-receiving image formed by the image pickup means. Image processing means for detecting the spot as a surface defect on the surface to be inspected.
【0014】また、この発明に係わる表面欠陥検査装置
において、前記撮像手段は、前記被検査面で反射された
前記光照射手段の像を、その受光画像の形成範囲の全面
にわたり撮影する様に設定された視野を有することを特
徴としている。Further, in the surface defect inspection apparatus according to the present invention, the imaging means is set so as to photograph an image of the light irradiating means reflected on the surface to be inspected over the entire area of the light receiving image. It is characterized by having a limited field of view.
【0015】また、この発明に係わる表面欠陥検査装置
において、前記撮像手段は、前記受光画像をビデオ信号
に変換するビデオ信号発生手段を備え、前記画像処理手
段は、前記ビデオ信号発生手段から出力されたビデオ信
号を処理し、この処理された値が予め設定された値を超
えるタイミングと、その変化状態とから、被検査面上に
存在する欠陥部の位置とその凹凸の状態を識別すること
を特徴としている。また、この発明に係わる表面欠陥検
査装置において、前記光照射手段から照射された光を拡
散させる光拡散手段を更に備えることを特徴としてい
る。また、この発明に係わる表面欠陥検査装置におい
て、前記光照射手段の光度分布は、該光照射手段に対す
る印加電圧を制御して変化させることを特徴としてい
る。Further, in the surface defect inspection apparatus according to the present invention, the imaging means includes a video signal generation means for converting the received light image into a video signal, and the image processing means outputs the video signal from the video signal generation means. Processing the processed video signal, and from the timing when the processed value exceeds a preset value and its change state, it is necessary to identify the position of the defective portion present on the surface to be inspected and the state of the unevenness. Features. Further, the surface defect inspection apparatus according to the present invention is characterized in that the apparatus further comprises a light diffusing means for diffusing the light irradiated from the light irradiating means. Further, in the surface defect inspection apparatus according to the present invention, the luminous intensity distribution of the light irradiating means is changed by controlling a voltage applied to the light irradiating means.
【0016】[0016]
【作用】上記構成によれば、光照射手段は、所定の方向
に沿つて光度が大から小に徐々に変化する様に設定され
た光度分布を有する光を照射するので、被検査面上に表
面欠陥があると、その部分での光の正反射方向が変化し
て、表面欠陥からの物体光は、この表面欠陥の周囲の明
るさと異なる事となる。このように、光照射手段の像を
反射して写し出している被検査面に表面欠陥があると、
この表面欠陥で光の正反射方向が変化して反射光の状態
が変化する。この反射光の変化の状態はこの表面欠陥の
凹凸の状態により異なる。従つて、表面欠陥からの反射
光の変化の状態は、画像処理手段で受光画像を画像処理
する事により検出され、その変化のタイミングおよび変
化状態から、表面欠陥の位置および表面欠陥の凹凸の状
態が検出される。According to the above arrangement, the light irradiating means irradiates light having a luminous intensity distribution set such that the luminous intensity gradually changes from large to small along a predetermined direction. If there is a surface defect, the direction of regular reflection of light at that portion changes, and the object light from the surface defect differs from the brightness around the surface defect. Thus, if there is a surface defect on the surface to be inspected that reflects and reflects the image of the light irradiation means,
Due to this surface defect, the direction of regular reflection of light changes, and the state of reflected light changes. The state of the change of the reflected light differs depending on the state of the unevenness of the surface defect. Therefore, the state of the change of the reflected light from the surface defect is detected by performing image processing on the received light image by the image processing means, and from the timing and the change state of the change, the position of the surface defect and the state of the unevenness of the surface defect Is detected.
【0017】[0017]
【実施例】以下、この発明に係わる表面欠陥検査装置の
一実施例の構成を説明する前に、この発明の動作原理
を、図1乃至図4を参照して説明する。ここで、図1は
被検査面11に凸状の欠陥部12を有する場合を示し、
図2は被検査面11に凹状の欠陥部12を有する場合を
示している。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Before describing the structure of an embodiment of a surface defect inspection apparatus according to the present invention, the principle of operation of the present invention will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 1 shows a case where the inspection target surface 11 has a convex defect portion 12,
FIG. 2 shows a case where a surface to be inspected 11 has a concave defect portion 12.
【0018】図1および図2において、光照射手段とし
ての光源13は、光の射出面13aから射出する光の光
度(線mの長さで表されている)がこの射出面の矢印A
1 で示す一つの方向に強から弱に変化する様に設定され
ている。In FIG. 1 and FIG. 2, a light source 13 as a light irradiating means has a light intensity (represented by the length of a line m) of light emitted from a light emitting surface 13a as indicated by an arrow A on the emitting surface.
It is set to change from strong to weak in one direction indicated by 1 .
【0019】ここで上述したように、光源13の光の射
出面13aから射出される光には、矢印A1 で示すよう
に、この射出面13aの一つの方向に関して光度が一様
に変化する様に、詳細には、矢印A1 で示す方向に沿つ
て徐々に光度が減少する様に、設定されている。そし
て、この光源13の像は、被検査面11で反射され、ビ
デオカメラ14で撮像されるようになされている。換言
すれば、ビデオカメラ14は、この被検査面11で反射
された光源13からの光を直接写し出すことが出来る様
に設定されたカメラ視野Fを有する様に、光源13に隣
接した状態で、被検査面11に対向して配設されてい
る。[0019] Here, as described above, the light emitted from the exit face 13a of the light source 13, as indicated by the arrow A 1, the light intensity with respect to one direction of the exit surface 13a is changed uniformly as, in particular, so as to decrease along connexion gradually intensity in the direction indicated by the arrow a 1, it is set. The image of the light source 13 is reflected by the surface 11 to be inspected, and is captured by the video camera 14. In other words, the video camera 14 is adjacent to the light source 13 so as to have a camera field of view F set so that the light from the light source 13 reflected on the surface 11 to be inspected can be directly projected. It is disposed so as to face the inspection surface 11.
【0020】このような構成により、図3および図4に
夫々示すように、このような光照射領域Sからの反射光
をとらえるビデオカメラ14の受光画像15において
は、光源13の光の射出面13aから射出される光の光
度が強から弱に変化する方向A 1 に対応する所の矢印A
2 で示す方向に沿つて、明るさが強から弱に変化する。
尚、これら図3及び図4においては、縦線の密度が疎で
ある程明るさが強い状態を示し、縦線の密度が密である
程明るさが暗い状態を示している。With such a configuration, FIG. 3 and FIG.
As shown respectively, the reflected light from the light irradiation area S
In the received light image 15 of the video camera 14
Is the light emitted from the light exit surface 13a of the light source 13.
Direction A in which the degree changes from strong to weak 1 Arrow A corresponding to
Two The brightness changes from strong to weak along the direction indicated by.
In FIGS. 3 and 4, the density of the vertical lines is low.
Brightness is high, and the density of vertical lines is high
The lower the brightness, the lower the brightness.
【0021】このような状態において、被検査面11に
欠陥部12が生じていると、この欠陥部12で光源13
からの光の正反射方向が変化する。この光の正反射方向
の変化により、ビデオカメラ14の受光画像15は、照
度が矢印A2 で示す方向に変化する状態で、この欠陥部
12の明るさの変化状態がほかの部分とは異なる事とな
る。In this state, if a defect 12 is formed on the surface 11 to be inspected, the light source 13
The direction of the specular reflection of light from the object changes. The specular reflection direction of the change of the light receiving image 15 of the video camera 14, in a state in which the illuminance is changed in the direction indicated by arrow A 2, the brightness of the changing state of the defect portion 12 is different from the rest of It will be.
【0022】そして、上述した欠陥部12が、図1に示
すように、凸状のものである場合には、この欠陥部12
の表面は、所謂凸面鏡として実質的に機能する。この結
果、この凸状の欠陥部12においては、凸面鏡の反射理
論に従い、光源13の射出面13aの光度の大きい部分
16からの光が主として射出面13aと対向する欠陥部
12の面12aに当たってその正反射方向が変化し、欠
陥部12からの反射光が欠陥部12の物体光としてビデ
オカメラ14に入射する。尚、このように、欠陥部12
の像を受光画像15において鮮明に写し出すために、ビ
デオカメラ14は被検査面11で合焦する様に、ピント
位置が調整される。When the above-mentioned defective portion 12 is convex as shown in FIG.
Surface substantially functions as a so-called convex mirror. As a result, according to the reflection theory of the convex mirror, light from the high luminous intensity portion 16 of the emission surface 13a of the light source 13 mainly hits the surface 12a of the defect portion 12 facing the emission surface 13a in accordance with the reflection theory of the convex mirror. The direction of specular reflection changes, and the reflected light from the defective portion 12 enters the video camera 14 as object light of the defective portion 12. In addition, as described above, the defect 12
The focus position of the video camera 14 is adjusted so that the video camera 14 is focused on the surface 11 to be inspected in order to clearly display the image in the received light image 15.
【0023】ここで、射出面13aに関する欠陥部12
の背後側の面12bには、射出面13aの光度が比較的
小さい部分17からの光しか入射しない。この結果、ビ
デオカメラ14には、欠陥部12の背後側の面12bか
らの反射光は殆ど入射しない。Here, the defective portion 12 related to the exit surface 13a
Only the light from the portion 17 of the emission surface 13a where the luminous intensity is relatively small is incident on the surface 12b on the rear side. As a result, the reflected light from the rear surface 12b of the defective portion 12 hardly enters the video camera 14.
【0024】したがつて、ビデオカメラ14の受光画像
15は、図3に示すように、欠陥部12が凸状のもので
は、ビデオカメラ14の受光画像15の明るいところか
ら暗いところに向かう矢印A2 で示す方向で、欠陥部1
2がはじめに他の部分よりも明るくなり、この明るい部
分を過ぎると他の部分よりも暗くなる。Accordingly, as shown in FIG. 3, when the defective portion 12 has a convex shape, the light reception image 15 of the video camera 14 has an arrow A from the bright part to the dark part of the light reception image 15 of the video camera 14. Defect part 1 in the direction indicated by 2
2 first becomes lighter than the other parts, and after this light part, it becomes darker than the other parts.
【0025】なお、欠陥部12が凹状のものである場合
には、この欠陥部12の表面は、所謂凹面鏡として実質
的に機能する。この結果、この凹状の欠陥部12の表面
においては、凹面鏡の反射理論に従い、光源13の射出
面13aの光度の大きい部分16からの光が、主として
欠陥部12の射出面13aから遠い側の面12cに当た
って正反射方向が変化し、その一部がビデオカメラ14
に入射する。しかし、欠陥部12の面12cと反対側の
面(即ち、射出面13に近い側の面)12dには、射出
面13aの光度が比較的小さい部分17からの光しか入
射せず、ビデオカメラ14には、欠陥部12の面12d
からは光が殆ど入射しない。When the defect 12 is concave, the surface of the defect 12 substantially functions as a so-called concave mirror. As a result, according to the reflection theory of the concave mirror, the light from the high-intensity portion 16 of the emission surface 13a of the light source 13 is mainly transmitted to the surface of the concave defect portion 12 farther from the emission surface 13a of the defect portion 12. 12c, the direction of specular reflection changes, and a part thereof
Incident on. However, only light from the portion 17 of the emission surface 13a where the luminous intensity is relatively small enters the surface 12d of the defect portion 12 on the opposite side to the surface 12c (that is, the surface closer to the emission surface 13). 14 has a surface 12d of the defect 12
Light hardly enters from
【0026】したがつて、ビデオカメラ14の受光画像
15は、図4に示すように、欠陥部12が凹状のもので
は、ビデオカメラ14の受光画像15の明るいところか
ら暗いところに向かう方向矢印A2 に沿つて、欠陥部1
2がはじめに他の部分よりも暗くなり、この暗い部分を
過ぎると他の部分よりも明るくなるように変化する。Accordingly, as shown in FIG. 4, when the defective portion 12 has a concave shape, the light receiving image 15 of the video camera 14 has a directional arrow A from the bright portion to the dark portion of the light receiving image 15 of the video camera 14. Defect 1 along 2
2 first becomes darker than the other parts, and after passing through this dark part, it changes to become lighter than the other parts.
【0027】そして、ビデオカメラ14は、その受光画
像15の明るさの変化に応じて変化するビデオ信号を出
力する。この後、ビデオカメラ14から出力されたビデ
オ信号を処理・演算した値、例えば、このビデオ信号の
微分信号が予め設定した閾値を越えるビデオ信号に対応
する走査線と、この走査線上で微分信号が上述した閾値
を越えいるタイミング、及び、このタイミング近傍での
上述した微分信号の符号の変化を検出する事により、受
光画像15内での表面欠陥部12の位置及び表面欠陥部
の凹凸状態を検出することが出来る事になる。The video camera 14 outputs a video signal that changes according to the change in the brightness of the received light image 15. Thereafter, a value obtained by processing and calculating a video signal output from the video camera 14, for example, a scanning line corresponding to a video signal in which a differential signal of the video signal exceeds a preset threshold, and a differential signal on this scanning line By detecting the timing exceeding the above-mentioned threshold value and the change in the sign of the above-mentioned differential signal near this timing, the position of the surface defect portion 12 in the light receiving image 15 and the unevenness state of the surface defect portion are detected. You can do it.
【0028】次に、上述の動作原理を用いたこの発明に
係わる表面欠陥検査装置の一実施例の構成を図5及び図
6を参照して、詳細に説明する。車体の塗装検査ステー
シヨン20には、図5に示すように、台座Bに載置さ
れ、ここに搬入された車体26の塗膜面27を検査して
塗装欠陥の有無を検出するための塗装欠陥検査装置とし
ての検査ロボツト装置21が装備されている。Next, the configuration of an embodiment of the surface defect inspection apparatus according to the present invention using the above-described operation principle will be described in detail with reference to FIGS. As shown in FIG. 5, the coating inspection station 20 for the vehicle body is mounted on a pedestal B, and inspects the coating surface 27 of the vehicle body 26 carried therein to detect a coating defect. An inspection robot device 21 as an inspection device is provided.
【0029】このロボツト装置21は、任意の位置に移
動可能に、且つ、任意の姿勢を取ることが出来る様にな
された先端アーム22を備えている。この先端アーム2
2の先端には、上述した光源13(図1および図2参
照)に対応する光照射機構23と、上述したビデオカメ
ラ14(図1および図2参照)に対応するCCDカメラ
24とが支持金具25を介して取り付けられている。ロ
ボツト装置21に取り付けられた光照射機構23とCC
Dカメラ24とは、塗装検査ステーシヨン20に搬入さ
れた車体26の塗膜面27(図1および図2の被検査面
11に相当)をトレースし、その際、光照射機構23に
よつて照射された光が、車体26の表面の塗膜面27で
反射してCCDカメラ24に入射する。換言すれば、C
CDカメラ24の受光画像15には、鏡面として機能す
る塗膜面27を介して、光照射機構23が主として写し
出される様に、光照射機構23とCCDカメラ24との
互いの位置が設定されている。The robot device 21 includes a distal arm 22 which can be moved to an arbitrary position and can take an arbitrary posture. This tip arm 2
At the front end of the light source 2, a light irradiation mechanism 23 corresponding to the light source 13 (see FIGS. 1 and 2) and a CCD camera 24 corresponding to the video camera 14 (see FIGS. 1 and 2) are supported. 25 is attached. Light irradiation mechanism 23 attached to robot device 21 and CC
The D camera 24 traces the coating surface 27 (corresponding to the surface 11 to be inspected in FIGS. 1 and 2) of the vehicle body 26 carried into the coating inspection station 20, and irradiates the light with the light irradiating mechanism 23. The reflected light is reflected by the coating film surface 27 on the surface of the vehicle body 26 and enters the CCD camera 24. In other words, C
In the received light image 15 of the CD camera 24, the positions of the light irradiation mechanism 23 and the CCD camera 24 are set so that the light irradiation mechanism 23 is mainly projected through the coating surface 27 functioning as a mirror surface. I have.
【0030】また、このような光照射機構23とCCD
カメラ24を備えた塗装欠陥検査装置(検査ロボツト装
置)21においては、ホストコンピユータ31によつて
与えられる指令によつて、ロボツトコントローラ32が
駆動制御され、このロボツトコントローラ32により、
ロボツト装置21が具体的に駆動される様に構成されて
いる。The light irradiation mechanism 23 and the CCD
In a coating defect inspection apparatus (inspection robot apparatus) 21 provided with a camera 24, a robot controller 32 is driven and controlled by a command given by a host computer 31, and the robot controller 32
The robot device 21 is specifically driven.
【0031】このロボツト装置21は、内装されている
図示しないアクチユエータが作動する事により、光照射
機構23およびCCDカメラ24が車体26の表面をな
ぞるように、これら光照射機構23およびCCDカメラ
24を移動させるとともに、CCDカメラ24によつて
得られるビデオ信号を画像処理プロセツサ33に出力す
る。The robot unit 21 operates the light irradiating mechanism 23 and the CCD camera 24 so that the light irradiating mechanism 23 and the CCD camera 24 trace the surface of the vehicle body 26 when an actuator (not shown) provided therein is operated. While moving, the video signal obtained by the CCD camera 24 is output to the image processing processor 33.
【0032】この画像処理プロセツサ33では、既に述
べたように、ビデオ信号を増幅した後に微分し、その微
分信号が、予め設定した閾値を越えるビデオ信号の走査
線とこの走査線上でのタイミングの検出を行い、そのデ
ータをホストコンピユータ31に伝送して解析させる。
この解析により、塗装欠陥部12の位置の座標および塗
装欠陥部12が凸状であるか凹状であるかが検出され
る。In the image processing processor 33, as described above, the video signal is amplified and then differentiated, and the differentiated signal is used to detect the scanning line of the video signal exceeding a preset threshold and the timing on this scanning line. Is transmitted to the host computer 31 for analysis.
By this analysis, the coordinates of the position of the paint defect 12 and whether the paint defect 12 is convex or concave is detected.
【0033】このような情報処理により得られた検出結
果により、車体26の塗装面に存在する塗装欠陥部12
の凹凸に応じた補修が行なわれる。この補修作業は、欠
陥部12が凸状であるときは、その突出部分は小さく削
り取られ、塗装欠陥部12が凹状であるときは、この塗
装欠陥部12を含んで比較的広い範囲で塗膜が削り取ら
れる様に実施される。Based on the detection result obtained by such information processing, the paint defect 12 existing on the painted surface of the vehicle body 26 is determined.
Repair is performed according to the irregularities of the surface. In this repair work, when the defective portion 12 is convex, the protruding portion is cut off small, and when the defective portion 12 is concave, the coating film covers a relatively wide area including the defective portion 12. Is carried out so that is scraped off.
【0034】この補修は、人手により行なうこともでき
るが、通常、上述したロボツト装置21もしくはそれと
は別に設けた図示しない補修用のロボツト装置により、
自動的に行なわれる。This repair can be performed manually, but is usually performed by the above-described robot device 21 or a repair robot device (not shown) provided separately from the robot device.
Done automatically.
【0035】上述した光照射機構23は、図6に示すよ
うに、塗膜面27に対向する一側面が開放されたボツク
ス41と、このボックス41の内部に配設された複数本
の蛍光灯42(特に蛍光灯42に限られるものではな
い)とから構成されている。このボックス41の開放さ
れた一側面には、光フイルタ43が設置され、さらに、
この光フイルタ43の全面を覆うように拡散スクリーン
44が取り付けられている。As shown in FIG. 6, the light irradiation mechanism 23 includes a box 41 having one side open to the coating surface 27 and a plurality of fluorescent lamps disposed inside the box 41. 42 (not particularly limited to the fluorescent lamp 42). On one open side of the box 41, an optical filter 43 is installed.
A diffusion screen 44 is attached so as to cover the entire surface of the optical filter 43.
【0036】この光フイルタ43は、蛍光灯42から出
る光の光度分布を、この拡散スクリーン44が形成する
光の射出面13aの一方向に対して、一様に変化させる
ために設けられている。詳細には、この光フィルタ43
は、光の射出面13a上にたとえば図6に示すように設
定したxy座標の同一のx座標値を有する点での光の透
過度は等しく、異なるy座標値を有する点での光の透過
度は、y座標値に応じて異なるように設定されている。
これによつて、図5に示す車体26の表面の塗膜面27
には、一方向に照度の変化がある光照射領域S(図1お
よび図2参照)が形成される。The optical filter 43 is provided for uniformly changing the luminous intensity distribution of the light emitted from the fluorescent lamp 42 in one direction of the light exit surface 13a formed by the diffusion screen 44. . Specifically, this optical filter 43
The light transmittance at points having the same x-coordinate value of the xy coordinates set on the light exit surface 13a as shown in FIG. 6, for example, is equal, and the light transmission at points having different y-coordinate values is obtained. The degree is set differently according to the y coordinate value.
Thereby, the coating film surface 27 on the surface of the vehicle body 26 shown in FIG.
Is formed a light irradiation area S (see FIGS. 1 and 2) in which the illuminance changes in one direction.
【0037】一方、この拡散スクリーン44は、光フイ
ルタ43を透過してくる光を拡散させ、蛍光灯42を間
隔おいて配置することにより、互いに隣接する蛍光灯4
2の間に対応する塗膜面27の部分において、照度の低
い領域が生じないようにするために配設されている。On the other hand, the diffusion screen 44 diffuses the light transmitted through the optical filter 43 and arranges the fluorescent lamps 42 at an interval, thereby forming the fluorescent lamps 4 adjacent to each other.
In the portion of the coating film surface 27 corresponding to the area between the two, a region with low illuminance is not provided.
【0038】なお、光照射機構23に付ける光度の変化
(勾配)は、図5に点線で示すように、光照射機構コン
トローラ34を設け、ホストコンピユータ31からの指
令により、各蛍光灯42の印加電圧を、この光照射機構
コントローラ34により変えることによつても作り出す
こともできる。この場合、この光フイルタ43は省略す
ることができる。The light intensity change (gradient) applied to the light irradiating mechanism 23 is controlled by providing a light irradiating mechanism controller 34 as shown by a dotted line in FIG. The voltage can also be created by changing the voltage by the light irradiation mechanism controller 34. In this case, the optical filter 43 can be omitted.
【0039】以上のように構成される塗装欠陥検査装置
では、塗装検査ステーシヨン20に塗装済の車体26が
搬入されるに伴い、塗装欠陥検査作業が開始される。す
なわち、ロボツト装置21がロボツトコントローラ32
に制御されて、光仮照射機構23とCCDカメラ24と
を一体の関係を保って、かつ、車体26の表面にこれら
光照射機構23とCCDカメラ24とが適切な距離を置
く状態で、車体26の表面形状に沿ってなぞるように移
動させる。In the paint defect inspection apparatus configured as described above, the paint defect inspection operation is started as the painted vehicle body 26 is carried into the paint inspection station 20. That is, the robot device 21 is connected to the robot controller 32.
The light temporary irradiation mechanism 23 and the CCD camera 24 are maintained in an integral relationship, and the light irradiation mechanism 23 and the CCD camera 24 are placed on the surface of the vehicle body 26 at an appropriate distance. It is moved so as to trace along the surface shape of 26.
【0040】このときに、図1および図2において説明
したように、カメラ視野Fには、鏡面である塗膜面27
で反射された光照射機構23における光度分布が一方向
に沿つて一様に変化する光光射出面13aが写し出され
る事となる。即ち、CCDカメラ24では、この光照射
機構23の光度分布に対応して一方向に明るさが一様に
変化する受光画像15が作成されることになる。At this time, as described with reference to FIGS.
Thus, the light emission surface 13a in which the luminous intensity distribution in the light irradiating mechanism 23 reflected uniformly by the light irradiation mechanism 23 uniformly changes in one direction is projected. That is, in the CCD camera 24, the light receiving image 15 whose brightness uniformly changes in one direction corresponding to the luminous intensity distribution of the light irradiation mechanism 23 is created.
【0041】したがつて、塗膜面27に塗装欠陥部12
が生じていると、その部分で光源13からの光の正反射
方向が変化し、図1乃至図4を参照した原理説明で述べ
たように、例えば、この塗装欠陥部12が凸状のもので
ある場合は、CCDカメラ24の受光画像15は、図3
に示すように、CCDカメラ24の受光画像15の明る
いところから暗いところに向かう方向A2 Bに沿つて、
塗装欠陥部12に対応する部分は、はじめに他の部分よ
りも明るくなり、この明るい部分を過ぎると他の部分よ
りも暗くなる様に変化する。Therefore, the coating defect portion 12 is formed on the coating film surface 27.
Occurs, the direction of the regular reflection of the light from the light source 13 changes at that portion, and as described in the principle description with reference to FIGS. , The received light image 15 of the CCD camera 24 is
As shown in the figure, along the direction A 2 B from the bright part to the dark part of the received light image 15 of the CCD camera 24,
The portion corresponding to the paint defect 12 first becomes brighter than the other portions, and after passing through the bright portion, changes to become darker than the other portions.
【0042】また、この塗装欠陥部12が凹状のもので
ある場合は、図4に示すように、CCDカメラ24の受
光画像15の明るいところから暗いところに向かう方向
矢印A2 に沿つて、塗装欠陥部12に対応する部分は、
はじめに他の部分よりも暗くなり、この暗い部分を過ぎ
ると他の部分よりも明るくなる様に変化する。そして、
CCDカメラ24は、その受光画像15の明るさの変化
に応じて変化するビデオ信号を画像処理プロセッサ33
に出力する。Further, if the coating defect 12 is of concave, as shown in FIG. 4, along connexion the direction of arrow A 2 toward the dark from where bright light image 15 of the CCD camera 24, paint The part corresponding to the defective part 12 is
At first, it becomes darker than other parts, and after passing through this dark part, it changes to become lighter than other parts. And
The CCD camera 24 outputs a video signal that changes according to the change in the brightness of the received light image 15 to an image processor 33.
Output to
【0043】画像処理プロセツサ33にこのビデオ信号
が入力されると、この画像処理プロセツサ33は、塗装
欠陥部12の存在に基づいてCCDカメラ24から出力
するビデオ信号の微分信号が予め設定した閾値を越える
ビデオ信号の走査線と、この走査線上での微分信号がこ
の閾値を越えるるタイミングと、このタイミング近傍で
のこの微分信号の符号の変化とを検出する。この検出に
より、受光画像15内での塗装欠陥部12の位置と、塗
装欠陥部12の凹凸形状とを検出する。この検出データ
とロボツト装置21の先端アーム22の位置はメモリに
記憶される。そして、塗装欠陥部12の補修時には、こ
のメモリの記憶内容を取り出し、既に述べたようにし
て、塗装欠陥部12の補修が行なわれる。When this video signal is input to the image processing processor 33, the image processing processor 33 sets the differential signal of the video signal output from the CCD camera 24 based on the presence of the paint defect 12 to a predetermined threshold value. A video signal scanning line exceeding the timing, a timing at which the differential signal on the scanning line exceeds the threshold value, and a change in the sign of the differential signal near the timing are detected. By this detection, the position of the paint defect 12 in the received light image 15 and the uneven shape of the paint defect 12 are detected. The detected data and the position of the tip arm 22 of the robot device 21 are stored in a memory. At the time of repairing the defective paint portion 12, the stored contents of the memory are taken out, and the repair of the defective paint portion 12 is performed as described above.
【0044】以上詳述した様に、この一実施例において
は、被検査面11を面的に広い範囲で照射しても、塗装
欠陥部12をこれの周囲とは明るさに差がある明瞭な画
像として取られることが出来る事になる。As described in detail above, in this embodiment, even if the surface 11 to be inspected is irradiated over a wide area, the paint defect 12 has a clear difference in brightness from its surroundings. It can be taken as a perfect image.
【0045】また、上述したように塗装欠陥部12の存
在による所のCCDカメラ24から出力するビデオ信号
の変化が、このビデオ信号の微分信号が予め設定した閾
値を越えるビデオ信号の走査線と、この走査線上で微分
信号が上述した閾値を越えるタイミングと、このタイミ
ング近傍での上記微分信号の符号の変化とを検出するこ
とにより、受光画像15内での塗装欠陥部12の位置お
よび塗装欠陥部12の凹凸を検出することができ、塗装
欠陥部12が微小であつても、確実に塗装欠陥部12と
してとらえることができる。Further, as described above, the change in the video signal output from the CCD camera 24 due to the presence of the paint defect portion 12 is caused by the difference between the video signal scanning line and the video signal scanning line whose differential signal exceeds a preset threshold value. By detecting the timing at which the differentiated signal exceeds the above-described threshold value on this scanning line and the change in the sign of the differentiated signal near this timing, the position of the paint defect portion 12 in the light-receiving image 15 and the paint defect portion are detected. The unevenness of the coating 12 can be detected, and even if the coating defective portion 12 is minute, it can be reliably recognized as the coating defective portion 12.
【0046】この発明は、上述した一実施例の構成に限
定されることなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲で
種々変形可能である事は言うまでもない。例えば、上述
した一実施例においては、塗装欠陥部12の検出を画像
処理プロセツサ33により行う様に説明したが、この発
明は、このような構成に限定されることなく、CCDカ
メラ24からのビデオ信号を、検査者がモニタテレビを
モニタすることにより、塗装欠陥部12を検出して、そ
の形状および位置等の情報を記録装置に記憶させること
もできる。It is needless to say that the present invention is not limited to the configuration of the above-described embodiment, but can be variously modified without departing from the gist of the present invention. For example, in the embodiment described above, the detection of the paint defect 12 is performed by the image processing processor 33. However, the present invention is not limited to such a configuration, and the video from the CCD camera 24 is not limited to such a configuration. By monitoring the signal on the monitor television, the inspector can detect the paint defect 12 and store the information such as the shape and position of the paint defect 12 in the recording device.
【0047】[0047]
【発明の効果】以上詳述した様に、この発明に係わる表
面欠陥検査装置は、鏡面として機能する被検査面に対向
して配設され、この被検査面に向けて所定の方向に沿つ
て光度が大から小に徐々に変化する様に設定された光度
分布を有する光を照射する光照射手段と、前記被検査面
で反射された前記光照射手段の像を撮影して、この光照
射手段の光度分布に対応する明暗ある受光画像を作成す
る撮像手段と、この撮像手段で形成された受光画像に基
づき、これの明部および暗部のそれぞれにおいて明るさ
が周囲とは大きく異なる箇所を識別することにより、こ
の識別された箇所を被検査面の表面欠陥部として検出す
る画像処理手段とを具備する事を特徴としている。As described above in detail, the surface defect inspection apparatus according to the present invention is disposed so as to face a surface to be inspected functioning as a mirror surface, and is directed along a predetermined direction toward the surface to be inspected. A light irradiating unit for irradiating light having a luminous intensity distribution set so that the luminous intensity gradually changes from large to small; and taking an image of the light irradiating unit reflected on the surface to be inspected, and Imaging means for creating a bright and dark light-receiving image corresponding to the luminous intensity distribution of the means, and, based on the light-receiving image formed by the imaging means, identify portions of the bright portion and the dark portion in which the brightness is significantly different from the surroundings. Therefore, the image processing device is characterized by including image processing means for detecting the identified portion as a surface defect on the surface to be inspected.
【0048】また、この発明に係わる表面欠陥検査装置
において、前記カメラは、前記被検査面で反射された前
記光照射手段の像を、その受光画像の形成範囲の全面に
渡り撮影する様に設定された視野を有する事を特徴とし
ている。Further, in the surface defect inspection apparatus according to the present invention, the camera is set so as to photograph the image of the light irradiating means reflected on the surface to be inspected over the entire area of the light receiving image. It has a featured visual field.
【0049】また、この発明に係わる表面欠陥検査装置
において、前記撮像手段は、前記受光画像をビデオ信号
に変換するビデオ信号発生手段を備え、前記画像処理手
段は、このビデオ信号発生手段から出力されたビデオ信
号を処理し、この処理された値が予め設定された値を越
えるタイミングと、その変化状態とから、被検査面上に
存在する欠陥部の位置とその凹凸の状態を識別する事を
特徴としている。従つて、この発明によれば、被検査面
に存在する表面欠陥を正確に、かつ効率よく検出し得る
表面欠陥検査装置が提供される事になる。Further, in the surface defect inspection apparatus according to the present invention, the image pickup means includes a video signal generation means for converting the received light image into a video signal, and the image processing means outputs the video signal from the video signal generation means. The video signal is processed, and the position of the defective portion on the surface to be inspected and the state of the unevenness are identified from the timing at which the processed value exceeds a preset value and its change state. Features. Therefore, according to the present invention, a surface defect inspection apparatus capable of accurately and efficiently detecting a surface defect existing on a surface to be inspected is provided.
【図1】及びFIG. 1 and
【図2】夫々、この発明に係わる表面欠陥検査装置の動
作原理を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining the operation principle of the surface defect inspection device according to the present invention.
【図3】及びFIG. 3 and
【図4】夫々、被検査面に凸状および凹状の欠陥がある
ときのカメラの画像の形成状態を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a state in which an image is formed by a camera when a surface to be inspected has a convex defect and a concave defect.
【図5】この発明に係わる表面欠陥検査装置の一実施例
の構成を、自動車の車体の塗装欠陥検査装置に適用した
場合で示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing a case in which the configuration of one embodiment of the surface defect inspection apparatus according to the present invention is applied to a coating defect inspection apparatus for an automobile body.
【図6】、図5に示す光照射機構の構成を取り出して示
す分解斜視図である。FIG. 6 is an exploded perspective view showing the configuration of the light irradiation mechanism shown in FIG. 5;
【図7】従来の表面欠陥検査装置の構成を概略的に示す
図である。FIG. 7 is a diagram schematically showing a configuration of a conventional surface defect inspection apparatus.
【図8】図7の表面欠陥検査装置のカメラにより得られ
る画像の形成状態を示す図である。8 is a diagram showing a state of forming an image obtained by a camera of the surface defect inspection device of FIG. 7;
【図9】被検査面が曲面のときにカメラにより得られる
画像の形成状態を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a state of forming an image obtained by a camera when the surface to be inspected is a curved surface.
【図10】図7に示す従来装置とは異なる従来の表面欠
陥検査装置構成を概略的に示す図である。10 is a diagram schematically showing a configuration of a conventional surface defect inspection device different from the conventional device shown in FIG. 7;
11 被検査面、12 欠陥部、13 光源、1
4 ビデオカメラ、15 受光画像、16 光度
の大きい位置、17 光度の小さい位置、21ロボツ
ト装置、23 光照射機構、24 CCDカメラ、
25 支持金具、26 車体、27 塗膜面、3
1 ホストコンピユータ、32 ロボツトコントロ
ーラ、33 画像処理プロセツサ、41 ボツク
ス、42 蛍光灯、43 光フイルタ、44 拡
散スクリーンである。11 inspection surface, 12 defect part, 13 light source, 1
4 video camera, 15 received light image, 16 position with high luminous intensity, 17 position with low luminous intensity, 21 robot unit, 23 light irradiation mechanism, 24 CCD camera,
25 support bracket, 26 vehicle body, 27 coating surface, 3
1 host computer, 32 robot controller, 33 image processing processor, 41 box, 42 fluorescent lamp, 43 light filter, 44 diffusion screen.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宇都宮 昭則 広島県安芸郡府中町新地3番1号 マツ ダ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭64−3547(JP,A) 実開 昭61−199661(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/88 G01B 11/30 H04N 7/18 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Akinori Utsunomiya 3-1 Shinchi, Fuchu-cho, Aki-gun, Hiroshima Prefecture Inside Mazda Co., Ltd. (56) References JP-A-64-3547 (JP, A) Real-life Sho-61 -199661 (JP, U) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 21/88 G01B 11/30 H04N 7/18
Claims (5)
配設され、この被検査面に向けて所定の方向に沿って光
度が大から小に徐々に変化する様に設定された光度分布
を有する光を照射する光照射手段と、 前記被検査面で反射された前記光照射手段の像を撮影し
て、この光照射手段の光度分布に対応する明暗ある受光
画像を作成する撮像手段と、 この撮像手段で形成された受光画像に基づき、該受光画
像の明部及び暗部の夫々において明るさが周囲とは大き
く異なる箇所を識別することにより、この識別された箇
所を被検査面の表面欠陥部として検出する画像処理手段
とを備えることを特徴とする表面欠陥検査装置。1. A luminous intensity distribution disposed opposite a surface to be inspected functioning as a mirror surface and set so that the luminous intensity gradually changes from large to small along a predetermined direction toward the surface to be inspected. Light irradiating means for irradiating light having an image capturing means for taking an image of the light irradiating means reflected on the surface to be inspected and creating a bright and dark light-receiving image corresponding to a luminous intensity distribution of the light irradiating means; Based on the light-receiving image formed by the imaging means, a bright portion and a dark portion of the light-receiving image each identify a portion where the brightness is significantly different from the surroundings, so that the identified portion is located on the surface of the surface to be inspected. A surface defect inspection apparatus comprising: an image processing unit that detects a defect.
れた前記光照射手段の像を、その受光画像の形成範囲の
全面にわたり撮影する様に設定された視野を有すること
を特徴とする請求項1に記載の表面欠陥検査装置。2. The imaging device according to claim 1, wherein the imaging unit has a field of view set so as to capture an image of the light irradiation unit reflected on the surface to be inspected over the entire area of a light receiving image. The surface defect inspection device according to claim 1.
信号に変換するビデオ信号発生手段を備え、 前記画像処理手段は、前記ビデオ信号発生手段から出力
されたビデオ信号を処理し、この処理された値が予め設
定された値を超えるタイミングと、その変化状態とか
ら、被検査面上に存在する欠陥部の位置とその凹凸の状
態を識別することを特徴とする請求項1に記載の表面欠
陥検査装置。3. The image pickup means includes a video signal generation means for converting the received light image into a video signal, and the image processing means processes a video signal output from the video signal generation means, and performs the processing. 2. The surface according to claim 1, wherein the position of the defective portion existing on the surface to be inspected and the state of the unevenness thereof are identified from the timing at which the value exceeds a preset value and the change state thereof. Defect inspection equipment.
させる光拡散手段を更に備えることを特徴とする請求項
1に記載の表面欠陥検査装置。4. The surface defect inspection apparatus according to claim 1, further comprising a light diffusing unit for diffusing light emitted from the light irradiating unit.
手段に対する印加電圧を制御して変化させることを特徴
とする請求項1に記載の表面欠陥検査装置。 Light distribution according to claim 5, wherein said light irradiating means, a surface defect inspection apparatus according to claim 1, wherein the changing by controlling the voltage applied to the light emitting means.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3134092A JP3062293B2 (en) | 1990-08-28 | 1991-06-05 | Surface defect inspection equipment |
| KR1019910011074A KR920001190A (en) | 1990-06-28 | 1991-06-28 | Surface Defect Inspection System |
| DE4121464A DE4121464A1 (en) | 1990-06-28 | 1991-06-28 | DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECTS |
| US07/723,174 US5237404A (en) | 1990-06-28 | 1991-06-28 | Inspection apparatus with improved detection of surface defects over large and curved surfaces |
Applications Claiming Priority (3)
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