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JP3139803B2 - Impulse response measurement device - Google Patents

Impulse response measurement device

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Publication number
JP3139803B2
JP3139803B2 JP262692A JP262692A JP3139803B2 JP 3139803 B2 JP3139803 B2 JP 3139803B2 JP 262692 A JP262692 A JP 262692A JP 262692 A JP262692 A JP 262692A JP 3139803 B2 JP3139803 B2 JP 3139803B2
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JP
Japan
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signal
output
stored
storage means
calculating
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JP262692A
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Japanese (ja)
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Inventor
和也 岩田
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Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
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Publication of JPH05188105A publication Critical patent/JPH05188105A/en
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  • Circuit For Audible Band Transducer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、被測定物のインパルス
応答を測定するインパルス応答測定装置に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an impulse response measuring device for measuring an impulse response of an object to be measured.

【0002】[0002]

【従来の技術】コンパクトディスク(CD)に代表され
るディジタルオーディオの出現によって、ソースの音質
向上が著しくなった。これにともない音響機器の高音質
化を図るべく各部の検討がなされている。また、このよ
うな音響機器の高音質化を検討するにおいて、従来の音
響機器と高音質化を図った音響機器との音質差を聴感上
で確認するだけではなく、この音質差を定量的に確認す
るための測定手法の検討もなされている。すなわち測定
手法の一つとして、今日では被測定物のインパルス応答
を基に被測定物の過渡応答特性を多角的に解析する測定
手法が主流となっている。
2. Description of the Related Art With the advent of digital audio represented by a compact disk (CD), the sound quality of a source has been significantly improved. Along with this, various parts have been studied to improve the sound quality of audio equipment. In addition, when examining the improvement of sound quality of such audio equipment, not only is it possible to visually confirm the difference in sound quality between conventional audio equipment and sound equipment that achieves high sound quality, but also to quantify this difference in sound quality quantitatively. A measurement method for confirming is also being studied. That is, as one of the measurement methods, a measurement method which analyzes a transient response characteristic of a device under test based on an impulse response of the device under test has become mainstream.

【0003】そこで、従来より以下に示すインパルス応
答測定装置が知られている。以下、従来のインパルス応
答測定装置について図8を用いて説明する。図8におい
て、81は測定用信号を発生する信号発生器、82は被測定
物、83は被測定物82の出力を入力する入力端子、84は入
力端子83から入力された信号をアナログ信号からディジ
タル信号に変換するA/D変換器(アナログ/ディジタ
ル変換器)、85はA/D変換器84の出力を同期加算する
演算器、86は演算器85の出力を出力する出力端子であ
る。図9は信号発生器81の動作説明図、図10はA/D変
換器84の動作説明図、図11は演算器85の動作説明図、図
12は演算器85の動作フローである。
Therefore, an impulse response measuring device described below has been conventionally known. Hereinafter, a conventional impulse response measuring device will be described with reference to FIG. In FIG. 8, 81 is a signal generator for generating a signal for measurement, 82 is a device under test, 83 is an input terminal for inputting the output of the device under test 82, 84 is a signal input from the input terminal 83 from an analog signal. An A / D converter (analog / digital converter) for converting into a digital signal, an arithmetic unit 85 for synchronously adding the output of the A / D converter 84, and an output terminal 86 for outputting the output of the arithmetic unit 85. 9 is an explanatory diagram of the operation of the signal generator 81, FIG. 10 is an explanatory diagram of the operation of the A / D converter 84, and FIG.
12 is an operation flow of the arithmetic unit 85.

【0004】次に、この従来例の動作について説明をす
る。信号発生器81は図9(a) に示すようなパルス信号を
発生する。このパルス信号に対する被測定物82の応答信
号は図9(b) のようになる。この出力信号をA/D変換
器84でディジタル信号に変換すると、この変換した信号
は図9(c) のようになる。ところで、このインパルス応
答測定装置は、信号発生器81からインパルスに近い信号
を発生し、この信号発生器81の出力信号に対する被測定
物82の応答信号を被測定物82のインパルス応答としてい
る。この出力信号をA/D変換器84でディジタル信号に
変換する。すなわち、信号発生器81の出力パルスのパル
ス幅が小さいほど被測定物82のインパルス応答の精度が
上がる。
Next, the operation of this conventional example will be described. The signal generator 81 generates a pulse signal as shown in FIG. The response signal of the device under test 82 to this pulse signal is as shown in FIG. When this output signal is converted into a digital signal by the A / D converter 84, the converted signal becomes as shown in FIG. 9 (c). By the way, this impulse response measuring device generates a signal close to an impulse from a signal generator 81, and sets a response signal of the device under test 82 to an output signal of the signal generator 81 as an impulse response of the device under test 82. This output signal is converted into a digital signal by the A / D converter 84. That is, the smaller the pulse width of the output pulse of the signal generator 81, the higher the accuracy of the impulse response of the device under test 82.

【0005】しかも、このインパルス応答を用いて被測
定物82の特性を様々な角度から分析するためには、イン
パルス応答をディジタル信号に変換し保存する必要があ
る。そのため、被測定物82のインパルス応答信号はA/
D変換器84でディジタル信号に変換される。ところがA
/D変換器84はサンプリング周期間隔で入力信号をサン
プリングするためパルス幅が小さい信号をディジタル信
号に変換した場合図10に示すようになる。つまり、被測
定物82のインパルス応答信号を数回A/D変換した場合
A/D変換の開始タイミングにより異なる結果が得ら
れ、測定データの再現性および測定精度が低くなる。そ
こで、一つの被測定物に対して複数回の測定を行い、こ
の測定結果に対して演算器85により同期加算を行い、再
現性および測定精度の向上を図る。
In order to analyze the characteristics of the device under test 82 from various angles using the impulse response, it is necessary to convert the impulse response into a digital signal and store it. Therefore, the impulse response signal of the device under test 82 is A /
The digital signal is converted by the D converter 84. However, A
The / D converter 84 samples the input signal at the sampling cycle interval, and as shown in FIG. 10 when a signal having a small pulse width is converted into a digital signal. That is, when the impulse response signal of the device under test 82 is A / D-converted several times, different results are obtained depending on the start timing of the A / D conversion, and the reproducibility of the measurement data and the measurement accuracy are lowered. Therefore, a plurality of measurements are performed on one device under test, and the arithmetic unit 85 performs synchronous addition on the measurement results to improve reproducibility and measurement accuracy.

【0006】ここで、同期加算の手法としては、たとえ
ば図11(a) に示すようにA/D変換器84への入力信号が
所定の電圧値に最初に達したサンプリング点(時刻)、
すなわち入力信号をディジタル信号に変換したデータが
所定の数値に達した最初のサンプリング点(時刻)のデ
ータが図11(b) に示す演算器85内にあるメモリの所定の
アドレスに格納されるように測定データを配置する。
Here, as a method of synchronous addition, for example, as shown in FIG. 11A, a sampling point (time) when an input signal to the A / D converter 84 first reaches a predetermined voltage value,
That is, the data at the first sampling point (time) when the data obtained by converting the input signal into the digital signal reaches the predetermined numerical value is stored in the predetermined address of the memory in the arithmetic unit 85 shown in FIG. Place the measurement data in.

【0007】これを図12に示す動作フローに従って説明
すると、まず最初、被測定物82に対し、信号発生器81の
出力信号に対するインパルス応答信号をA/D変換器84
でディジタル信号に変換し、演算器85でA/D変換され
たデータが所定の数値を越える最初のサンプリング点を
見つける。そして、このサンプリング点のデータが演算
器85内のメモリの所定アドレスに格納されるように測定
したデータを記憶する。次に、同一の被測定物82に対し
てインパルス応答を測定し、A/D変換器84で変換され
たディジタルデータを演算器85が所定の数値に達した最
初のサンプリング点(時刻)を判断し、そのサンプリン
グ点のデータが演算器85内のメモリの所定アドレスに該
当するようにし、すでにメモリに記憶されているデータ
に加算して再びメモリに記憶する。以上の処理を所定回
行い平均化する。
This will be described with reference to the operation flow shown in FIG. 12. First, an impulse response signal corresponding to the output signal of the signal generator 81 is supplied to the device under test 82 by the A / D converter 84.
And the arithmetic unit 85 finds the first sampling point where the A / D converted data exceeds a predetermined numerical value. Then, the measured data is stored so that the data at the sampling point is stored at a predetermined address of the memory in the arithmetic unit 85. Next, the impulse response is measured for the same device under test 82, and the digital data converted by the A / D converter 84 is used to determine the first sampling point (time) when the arithmetic unit 85 reaches a predetermined numerical value. Then, the data at the sampling point is made to correspond to a predetermined address of the memory in the arithmetic unit 85, added to the data already stored in the memory, and stored in the memory again. The above processing is performed a predetermined number of times and averaged.

【0008】以上の同期加算を数式で表現する。A/D
変換器84でディジタルデータに変換されたインパルス応
答信号をx(i,j)(i=1,2,…,Mj=1,
2,…,N:iは測定回数、jはサンプリングナンバ
ー)、演算器85で所定の数値に最初に達したサンプリン
グ点をm、同期加算回数をMとすれば演算器85の出力y
(l)(l=1,2,…,N)は(数1)となる。ま
た、サンプリング点m(すなわちi=m)よりαサンプ
リング点以前(すなわちi=m−α)のデータから同期
加算するとすれば、iとlの関係は(数2)となる。
The above synchronous addition is expressed by a mathematical expression. A / D
The impulse response signal converted to digital data by the converter 84 is represented by x (i, j) (i = 1, 2,..., Mj = 1,
2,..., N: i is the number of measurements, j is a sampling number), m is the sampling point that first reaches a predetermined value in the arithmetic unit 85, and M is the output y of the arithmetic unit 85 if M is the number of synchronous additions.
(L) (l = 1, 2,..., N) becomes (Equation 1). Further, if the data is added synchronously from the data before the sampling point m (that is, i = m) and before the α sampling point (that is, i = m−α), the relationship between i and l becomes (Equation 2).

【0009】[0009]

【数1】 (Equation 1)

【0010】[0010]

【数2】 (Equation 2)

【0011】そして、演算器85の出力が出力端子86から
出力されるようになっている。このようにして、A/D
変換器84のサンプリング速度の限界による、あるいはサ
ンプリング開始タイミングの不揃いによる測定データの
再現性に対する影響を除去している。
The output of the arithmetic unit 85 is output from an output terminal 86. Thus, A / D
The influence on the reproducibility of the measurement data due to the limitation of the sampling speed of the converter 84 or the irregular sampling start timing is removed.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、被測定物のインパルス応答を高精度に測定
するには、高速でかつ量子化数の大きいA/D変換器が
必要であると言う問題と、および測定用信号は本来イン
パルスであるが現実にはインパルスを発生することは不
可能なため通常パルス状の信号を測定信号として用いる
が、このような測定信号では、信号の持つパワーが小さ
いため、たとえばスピーカのような大振幅時と小振幅時
で特性の異なる被測定物を対象とした場合、スピーカの
振動板の振動振幅が大振幅時に測定が困難であると言う
問題と、さらには、測定データの再現性を得るために同
期加算を行っているが現実には一サンプリング周期内の
任意の時刻にサンプリングしたデータの平均値、すなわ
ちサンプリング周期以下の時間窓でデータの平滑処理を
行ったデータであるため、被測定物のインパルス応答を
精度良く測定できないと言う問題を有していた。
However, in the above-mentioned conventional configuration, it is said that an A / D converter having a high speed and a large quantization number is required to measure the impulse response of the device under test with high accuracy. The problem is that the measurement signal is originally an impulse, but it is impossible to actually generate an impulse, so a pulse-like signal is usually used as the measurement signal. Because of its small size, for example, when measuring an object to be measured having different characteristics between a large amplitude and a small amplitude, such as a speaker, there is a problem that it is difficult to measure when the vibration amplitude of the diaphragm of the speaker is large. Is to perform synchronous addition in order to obtain reproducibility of measured data, but in reality, the average value of data sampled at an arbitrary time within one sampling cycle, that is, the sampling cycle For the following time window is data subjected to smoothing processing of the data had problem that can not be accurately measured the impulse response of the object to be measured.

【0013】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、測定信号にインパルスを用いる必要がないため、信
号が持つ時間軸方向の平均パワーが大きく信号の持つ周
波数対域が広帯域な信号たとえばホワイトノイズを用い
ることにより、スピーカのような被測定物に対してスピ
ーカの振動板の振動振幅が小振幅時から大振幅時までの
インパルス応答を測定することを可能とすることと、測
定信号にインパルスを用いる必要がなくディジタルソー
スなどから読みだしたディジタル信号を用いるため、デ
ィジタルソースなどのサンプリング周波数および量子化
数と同等の特性を持つA/D変換器を用いることで高精
度な測定を可能とすることと、ディジタルソースなどか
ら読みだしたディジタル信号を基準とし、A/D変換時
に生じるサンプリング開始点の不揃いを除去することに
より測定データの再現性などにおよぼす影響を除去して
測定することを可能とすることと、測定時に用いるディ
ジタルソースなどから読みだしたディジタル信号をアナ
ログ信号に変換するD/A変換器と被測定物の応答出力
をディジタル信号に変換するA/D変換器の信号に及ぼ
す影響を除去して測定することを可能とすることなどの
インパルス応答測定装置を提供することを目的とするも
のである。
The present invention solves the above-mentioned conventional problem. Since it is not necessary to use an impulse for the measurement signal, the signal has a large average power in the time axis direction and a signal having a wide frequency range. By using white noise, it is possible to measure the impulse response of the diaphragm of the speaker from a small amplitude to a large amplitude with respect to an object to be measured such as a speaker, Since it is not necessary to use an impulse and uses a digital signal read from a digital source, high-precision measurement is possible by using an A / D converter with characteristics equivalent to the sampling frequency and quantization number of the digital source. And a sampler generated at the time of A / D conversion based on a digital signal read from a digital source or the like. Removes any irregularities in the start points of the measurement, thereby eliminating the effects on the reproducibility of the measured data, etc., and converts the digital signal read from the digital source used for measurement into an analog signal And an impulse response measuring apparatus capable of removing an influence on a signal of an A / D converter for converting a response output of a device under test into a digital signal and performing measurement. The purpose is to do so.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明のインパルス応答測定装置は、ディジタルソー
スなどから読み出したディジタル信号を入力する第1の
入力端子と、前記第1の入力端子に入力されるディジタ
ル信号を記憶する第1の記憶手段と、前記第1の入力端
子に入力されるディジタル信号に同期した基準信号を発
生する第1の信号発生手段と、前記ディジタル信号をア
ナログ信号に変換したアナログ信号に対する被測定物の
応答出力信号を入力する第2の入力端子と、前記第2の
入力端子に入力されるアナログ信号を前記第1の信号発
生手段が出力する基準信号に基づきディジタル信号に変
換する第1の変換手段と、前記第1の変換手段の出力を
記憶する第2の記憶手段と、前記第2の記憶手段に記憶
されている信号と前記第1の記憶手段に記憶されている
信号間の時間ずれを前記第1の記憶手段に記憶されてい
る信号を基準として検出し前記第2の記憶手段に記憶さ
れている信号に対して補正する第1の演算手段と、前記
第1の演算手段の出力を記憶する第3の記憶手段と、前
記第1の記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを
算出する第2の演算手段と、前記第3の記憶手段に記憶
されている信号のスペクトルを算出する第3の演算手段
と、前記第3の演算手段の出力を前記第2の演算手段の
出力で除算する第4の演算手段と、前記第4の演算手段
の出力を記憶する第4の記憶手段と、前記第4の記憶手
段に記憶されている信号を時間軸信号に変換する第5の
演算手段とを備え、前記第5の演算手段の出力を出力す
るものである。
In order to achieve this object, an impulse response measuring apparatus according to the present invention comprises a first input terminal for inputting a digital signal read from a digital source or the like, and a first input terminal. First storage means for storing an input digital signal, first signal generation means for generating a reference signal synchronized with the digital signal input to the first input terminal, and converting the digital signal into an analog signal A second input terminal for inputting a response output signal of the device under test with respect to the converted analog signal, and a digital signal based on a reference signal output from the first signal generating means, the analog signal being input to the second input terminal. A first conversion unit for converting into a signal, a second storage unit for storing an output of the first conversion unit, and a signal stored in the second storage unit. The time lag between the signals stored in the first storage means is detected with reference to the signal stored in the first storage means, and the time lag is corrected for the signal stored in the second storage means. A first calculating unit that performs a calculation, a third storing unit that stores an output of the first calculating unit, a second calculating unit that calculates a spectrum of a signal stored in the first storing unit, A third calculating means for calculating a spectrum of the signal stored in the third storing means, a fourth calculating means for dividing an output of the third calculating means by an output of the second calculating means, A fourth storage means for storing an output of the fourth calculation means, and a fifth calculation means for converting a signal stored in the fourth storage means into a time axis signal; The output of the calculating means is output.

【0015】また、この目的を達成するために本発明の
インパルス応答測定装置は、ディジタルソースなどに記
録されているディジタル信号を入力する第3の入力端子
と、前記第3の入力端子に入力されるディジタル信号を
記憶する第5の記憶手段と、基準信号を発生する第2の
信号発生手段と、前記ディジタル信号を前記第2の信号
発生手段が出力する基準信号に基づきアナログ信号に変
換する第2の変換手段と、前記第2の変換手段の出力信
号を出力する出力端子と、前記出力端子から出力される
アナログ信号に対する被測定物の応答出力信号を入力す
る第4の入力端子と、前記第4の入力端子に入力される
アナログ信号を前記第2の信号発生手段が出力する基準
信号に基づきディジタル信号に変換する第3の変換手段
と、前記第3の変換手段の出力を記憶する第6の記憶手
段と、前記第6の記憶手段に記憶されている信号と前記
第5の記憶手段に記憶されている信号間の時間ずれを前
記第5の記憶手段に記憶されている信号を基準として検
出し前記第6の記憶手段に記憶されている信号に対して
補正する第6の演算手段と、前記第6の演算手段の出力
を記憶する第7の記憶手段と、前記第5の記憶手段に記
憶されている信号のスペクトルを算出する第7の演算手
段と、前記第7の記憶手段に記憶されている信号のスペ
クトルを算出する第8の演算手段と、前記第8の演算手
段の出力を前記第7の演算手段の出力で除算する第9の
演算手段と、前記第9の演算手段の出力を記憶する第8
の記憶手段と、前記第8の記憶手段に記憶されている信
号を時間軸信号に変換する第10の演算手段とを備え、
前記第10の演算手段の出力を出力するものである。
According to another aspect of the present invention, there is provided an impulse response measuring apparatus according to the present invention, wherein a third input terminal for inputting a digital signal recorded on a digital source or the like, and a signal input to the third input terminal. Fifth storage means for storing a digital signal, a second signal generation means for generating a reference signal, and a fifth signal conversion means for converting the digital signal into an analog signal based on the reference signal output from the second signal generation means. A second conversion means, an output terminal for outputting an output signal of the second conversion means, a fourth input terminal for inputting a response output signal of the device under test with respect to an analog signal output from the output terminal, Third conversion means for converting an analog signal input to a fourth input terminal into a digital signal based on a reference signal output by the second signal generation means; A sixth storage unit for storing an output of the unit, and a time lag between a signal stored in the sixth storage unit and a signal stored in the fifth storage unit is stored in the fifth storage unit. A sixth calculating means for detecting the stored signal as a reference and correcting the signal stored in the sixth storing means, and a seventh storing means for storing an output of the sixth calculating means A seventh calculating means for calculating the spectrum of the signal stored in the fifth storage means, an eighth calculating means for calculating the spectrum of the signal stored in the seventh storage means, A ninth operation means for dividing an output of the eighth operation means by an output of the seventh operation means, and an eighth operation means for storing an output of the ninth operation means.
Storage means, and tenth calculation means for converting a signal stored in the eighth storage means into a time axis signal,
The output of the tenth arithmetic means is output.

【0016】さらに、この目的を達成するために本発明
のインパルス応答測定装置は、ディジタルソースなどか
ら読み出したディジタル信号を入力する第5の入力端子
と、前記第5の入力端子に入力されるディジタル信号を
記憶する第9の記憶手段と、前記第5の入力端子に入力
されるディジタル信号に同期した基準信号を発生する第
3の信号発生手段と、前記ディジタル信号をアナログ信
号に変換したアナログ信号を入力する第6の入力端子
と、前記ディジタル信号をアナログ信号に変換したアナ
ログ信号に対する被測定物の応答出力信号を入力する第
7の入力端子と、前記第6の入力端子および前記第7の
入力端子に入力されるアナログ信号を選択切り換えする
第1の信号切り換え手段と、前記第1の信号切り換え手
段の出力を前記第3の信号発生手段が出力する基準信号
に基づきディジタル信号に変換する第4の変換手段と、
前記第4の変換手段の出力を前記第1の信号切り換え手
段と同期して切り換え出力する第2の信号切り換え手段
と、前記第1の信号切り換え手段が前記第6の入力端子
に入力されたアナログ信号を選択したときの前記第2の
信号切り換え手段が出力する前記第4の変換手段の出力
を記憶する第10の記憶手段と、前記第1の信号切り換
え手段が前記第7の入力端子に入力されたアナログ信号
を選択したときの前記第2の信号切り換え手段が出力す
る前記第4の変換手段の出力を記憶する第11の記憶手
段と、前記第10の記憶手段に記憶されている信号と前
記第9の記憶手段に記憶されている信号間の時間ずれを
前記第9の記憶手段に記憶されている信号を基準として
検出し前記第10の記憶手段に記憶されている信号に対
して補正する第11の演算手段と、前記第11の演算手
段の出力を記憶する第12の記憶手段と、前記第11の
記憶手段に記憶されている信号と前記第9の記憶手段に
記憶されている信号間の時間ずれを前記第9の記憶手段
に記憶されている信号を基準として検出し前記第11の
記憶手段に記憶されている信号に対して補正する第12
の演算手段と、前記第12の演算手段の出力を記憶する
第13の記憶手段と、前記第9の記憶手段に記憶されて
いる信号のスペクトルを算出する第13の演算手段と、
前記第12の記憶手段に記憶されている信号のスペクト
ルを算出する第14の演算手段と、前記第13の記憶手
段に記憶されている信号のスペクトルを算出する第15
の演算手段と、前記第14の演算手段の出力を前記第1
3の演算手段の出力で除算する第16の演算手段と、前
記第16の演算手段の出力を記憶する第14の記憶手段
と、前記第15の演算手段の出力を前記第13の演算手
段の出力で除算する第17の演算手段と、前記第17の
演算手段の出力を記憶する第15の記憶手段と、前記第
15の記憶手段に記憶されている信号を前記第14の記
憶手段に記憶されている信号で除算する第18の演算手
段と、前記第18の演算手段の出力を記憶する第16の
記憶手段と、前記第16の記憶手段に記憶されている信
号を時間軸信号に変換する第19の演算手段とを備え、
前記第19の演算手段の出力を出力するものである。
Further, in order to achieve this object, an impulse response measuring apparatus according to the present invention comprises a fifth input terminal for inputting a digital signal read out from a digital source or the like, and a digital signal input to the fifth input terminal. Ninth storage means for storing a signal, third signal generation means for generating a reference signal synchronized with a digital signal inputted to the fifth input terminal, and an analog signal obtained by converting the digital signal into an analog signal A sixth input terminal for inputting an input signal, a seventh input terminal for inputting a response output signal of the device under test with respect to the analog signal obtained by converting the digital signal into an analog signal, the sixth input terminal, and the seventh input terminal. First signal switching means for selectively switching an analog signal input to an input terminal; and an output of the first signal switching means to the third signal switching means. A fourth converting means for converting a digital signal based on the reference signal signal generating means outputs,
A second signal switching means for switching and outputting the output of the fourth conversion means in synchronization with the first signal switching means, and an analog signal supplied to the sixth input terminal by the first signal switching means. Tenth storage means for storing the output of the fourth conversion means output by the second signal switching means when a signal is selected, and inputting the first signal switching means to the seventh input terminal An eleventh storage unit for storing an output of the fourth conversion unit output by the second signal switching unit when the selected analog signal is selected, and a signal stored in the tenth storage unit. The time lag between the signals stored in the ninth storage means is detected with reference to the signal stored in the ninth storage means, and the signal stored in the tenth storage means is corrected. First Calculation means, a twelfth storage means for storing the output of the eleventh calculation means, and a signal between the signal stored in the eleventh storage means and the signal stored in the ninth storage means. A twelfth correction unit detects a time lag based on a signal stored in the ninth storage unit and corrects the signal stored in the eleventh storage unit.
Calculation means, a thirteenth storage means for storing an output of the twelfth calculation means, a thirteenth calculation means for calculating a spectrum of a signal stored in the ninth storage means,
Fourteenth operation means for calculating the spectrum of the signal stored in the twelfth storage means, and fifteenth operation means for calculating the spectrum of the signal stored in the thirteenth storage means
And the output of the fourteenth computing means is the first
A sixteenth calculating means for dividing by an output of the third calculating means, a fourteenth storing means for storing an output of the sixteenth calculating means, and an output of the thirteenth calculating means. Seventeenth calculating means for dividing by the output, fifteenth storing means for storing the output of the seventeenth calculating means, and storing the signal stored in the fifteenth storing means in the fourteenth storing means An eighteenth operation means for dividing by the signal which has been input, a sixteenth storage means for storing an output of the eighteenth operation means, and a signal stored in the sixteenth storage means being converted into a time axis signal. Nineteenth arithmetic means for performing
The output of the nineteenth arithmetic means is output.

【0017】[0017]

【作用】本発明は上記した構成により、以下のような作
用をする。すなわち、ディジタルソースなどから読みだ
したディジタル信号を第1の入力端子に入力し、第1の
記憶手段に記憶する。そのとき、第1の信号発生手段は
入力されたディジタル信号に同期した基準信号を発生
し、第1の変換手段に供給する。また、前述のディジタ
ル信号をアナログ信号に変換した信号に対する被測定物
の応答信号を第2の入力端子に入力すると、第1の変換
手段は第1の信号発生手段が出力する基準信号に基づ
き、このアナログ信号をディジタル信号に変換する。変
換された信号は第2の記憶手段に記憶される。次に、第
1の演算手段は、第2の記憶手段に記憶されている信号
と第1の記憶手段に記憶されている信号間の時間ずれを
第1の記憶手段に記憶されている信号を基準として補正
する。そして、第1の演算手段の出力である、第2の記
憶手段に記憶されている信号に対する補正出力が第3の
記憶手段に記憶される。次に、第2の演算手段は第1の
記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを算出す
る。同様に第3の演算手段は第3の記憶手段に記憶され
ている信号のスペクトルを算出する。そして、第4の演
算手段は第3の演算手段の出力を第2の演算手段の出力
で除算を行う。第4の演算手段の出力は第4の記憶手段
に記憶される。次に、第5の演算手段は第4の記憶手段
に記憶されているスペクトル信号を周波数領域から時間
軸領域に変換する。そして、第5の演算手段の出力を出
力する。すなわち、測定用信号に対する被測定物の出力
信号のスペクトルを測定用信号のスペクトルで周波数領
域において除算し、この除算結果を周波数領域から時間
軸領域に変換してインパルス応答を算出し出力するよう
にしている。
According to the present invention, the following operations are performed by the above configuration. That is, a digital signal read from a digital source or the like is input to the first input terminal and stored in the first storage means. At this time, the first signal generating means generates a reference signal synchronized with the input digital signal and supplies it to the first converting means. When a response signal of the device under test with respect to the signal obtained by converting the digital signal into an analog signal is input to a second input terminal, the first conversion means outputs a signal based on a reference signal output from the first signal generation means. This analog signal is converted into a digital signal. The converted signal is stored in the second storage means. Next, the first calculating means calculates the time lag between the signal stored in the second storage means and the signal stored in the first storage means by using the signal stored in the first storage means. Correct as a reference. Then, a correction output for the signal stored in the second storage unit, which is the output of the first calculation unit, is stored in the third storage unit. Next, the second calculation means calculates the spectrum of the signal stored in the first storage means. Similarly, the third calculation means calculates the spectrum of the signal stored in the third storage means. Then, the fourth arithmetic means divides the output of the third arithmetic means by the output of the second arithmetic means. The output of the fourth operation means is stored in the fourth storage means. Next, the fifth calculation means converts the spectrum signal stored in the fourth storage means from the frequency domain to the time axis domain. Then, the output of the fifth calculating means is output. That is, the spectrum of the output signal of the device under test with respect to the signal for measurement is divided by the spectrum of the signal for measurement in the frequency domain, and the result of the division is converted from the frequency domain to the time domain to calculate and output an impulse response. ing.

【0018】また、本発明は上記した構成により、以下
のような作用をする。すなわち、ディジタルソースなど
から読みだしたディジタル信号を第3の入力端子に入力
し、第5の記憶手段に記憶する。第2の信号発生手段は
基準信号を発生し、第2および第3の変換手段に供給す
る。また、前述のディジタル信号を第2の信号発生手段
が発生する基準信号に基づきアナログ信号に変換し、出
力端子から出力する。この出力端子から出力されるアナ
ログ信号を被測定物に供給する。この信号に対する被測
定物の応答信号を第4の入力端子に入力すると、第3の
変換手段は第2の信号発生手段が出力する基準信号に基
づき、このアナログ信号をディジタル信号に変換する。
変換された信号は第6の記憶手段に記憶される。次に、
第6の演算手段は、第6の記憶手段に記憶されている信
号と第5の記憶手段に記憶されている信号間の時間ずれ
を第5の記憶手段に記憶されている信号を基準として補
正する。そして、第6の演算手段の出力である、第6の
記憶手段に記憶されている信号に対する補正出力が第7
の記憶手段に記憶される。次に、第7の演算手段は第5
の記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを算出す
る。同様に第8の演算手段は第7の記憶手段に記憶され
ている信号のスペクトルを算出する。そして、第9の演
算手段は第8の演算手段の出力を第7の演算手段の出力
で除算を行う。第9の演算手段の出力は第8の記憶手段
に記憶される。次に、第10の演算手段は第8の記憶手段
に記憶されているスペクトル信号を周波数領域から時間
軸領域に変換する。そして、第10の演算手段の出力を出
力する。すなわち、測定用信号に対する被測定物の出力
信号のスペクトルを測定用信号のスペクトルで周波数領
域において除算し、この除算結果を周波数領域から時間
軸領域に変換してインパルス応答を算出し出力するよう
にしている。
Further, according to the present invention, the following operation is achieved by the above-described configuration. That is, a digital signal read from a digital source or the like is input to the third input terminal and stored in the fifth storage means. The second signal generating means generates a reference signal and supplies it to the second and third converting means. Further, the digital signal is converted into an analog signal based on the reference signal generated by the second signal generating means, and is output from an output terminal. An analog signal output from the output terminal is supplied to the device under test. When a response signal of the device under test to this signal is input to the fourth input terminal, the third converter converts the analog signal into a digital signal based on the reference signal output from the second signal generator.
The converted signal is stored in the sixth storage means. next,
The sixth calculating means corrects a time lag between the signal stored in the sixth storage means and the signal stored in the fifth storage means based on the signal stored in the fifth storage means. I do. Then, the correction output for the signal stored in the sixth storage means, which is the output of the sixth arithmetic means, is the seventh output.
Is stored in the storage means. Next, the seventh calculating means sets the fifth
The spectrum of the signal stored in the storage means is calculated. Similarly, the eighth calculation means calculates the spectrum of the signal stored in the seventh storage means. Then, the ninth operation means divides the output of the eighth operation means by the output of the seventh operation means. The output of the ninth operation means is stored in the eighth storage means. Next, the tenth arithmetic means converts the spectrum signal stored in the eighth storage means from the frequency domain to the time axis domain. Then, the output of the tenth calculation means is output. That is, the spectrum of the output signal of the device under test with respect to the signal for measurement is divided by the spectrum of the signal for measurement in the frequency domain, and the result of the division is converted from the frequency domain to the time domain to calculate and output an impulse response. ing.

【0019】さらに、本発明は上記した構成により、以
下のような作用をする。すなわち、ディジタルソースな
どから読みだしたディジタル信号を第5の入力端子に入
力し、第9の記憶手段に記憶する。そのとき、第3の信
号発生手段は入力されたディジタル信号に同期した基準
信号を発生し、第4の変換手段に供給する。また、前述
のディジタル信号をアナログ信号に変換したアナログ信
号を第6の入力端子に、前述のディジタル信号をアナロ
グ信号に変換した信号に対する被測定物の応答信号を第
7の入力端子に入力すると、第1の信号切り換え手段は
第6および第7の入力端子に入力されるアナログ信号を
選択切り換えする。第1の信号切り換え手段で選択した
信号が第4の変換手段に入力される。第4の変換手段は
第3の信号発生手段が出力する基準信号に基づき、この
アナログ信号をディジタル信号に変換する。そして、第
6の入力端子から入力された信号を変換した信号は第2
の信号切り換え手段により第10の記憶手段に出力され、
第10の記憶手段で記憶される。また、第7の入力端子か
ら入力された信号を変換した信号は第2の信号切り換え
手段により第11の記憶手段に出力され、第11の記憶手段
で記憶される。次に、第11の演算手段は、第10の記憶手
段に記憶されている信号と第9の記憶手段に記憶されて
いる信号間の時間ずれを第9の記憶手段に記憶されてい
る信号を基準として補正する。そして、第11の演算手段
の出力である、第10の記憶手段に記憶されている信号に
対する補正出力が第12の記憶手段に記憶される。同様
に、第12の演算手段は、第11の記憶手段に記憶されてい
る信号と第9の記憶手段に記憶されている信号間の時間
ずれを第9の記憶手段に記憶されている信号を基準とし
て補正する。そして、第12の演算手段の出力である、第
11の記憶手段に記憶されている信号に対する補正出力が
第13の記憶手段に記憶される。次に、第13の演算手段は
第9の記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを算
出する。同様に、第14の演算手段は第12の記憶手段に記
憶されている信号のスペクトルを算出する。そして、第
15の演算手段は第13の記憶手段に記憶されている信号の
スペクトルを算出する。そして、第16の演算手段は第14
の演算手段の出力を第13の演算手段の出力で除算を行
う。第16の演算手段の出力は第14の記憶手段に記憶され
る。同様に、第17の演算手段は第16の演算手段の出力を
第14の演算手段の出力で除算を行う。第17の演算手段の
出力は第15の記憶手段に記憶される。次に、第18の演算
手段は、第15の記憶手段に記憶されている信号を第14の
記憶手段に記憶されている信号で除算を行う。そして、
その出力は第16の記憶手段に記憶される。そして、第19
の演算手段は、第8の記憶手段に記憶されているスペク
トル信号を周波数領域から時間軸領域に変換する。そし
て、第19の演算手段の出力を出力する。すなわち、測定
用信号に対する被測定物の出力信号のスペクトルを測定
用信号のスペクトルで周波数領域において除算し、この
除算結果を周波数領域から時間軸領域に変換してインパ
ルス応答を算出し出力するようにしている。
Further, according to the present invention, the following operation is achieved by the above configuration. That is, a digital signal read from a digital source or the like is input to the fifth input terminal and stored in the ninth storage means. At this time, the third signal generating means generates a reference signal synchronized with the input digital signal and supplies it to the fourth converting means. When an analog signal obtained by converting the digital signal into an analog signal is input to a sixth input terminal, and a response signal of the device under test to the signal obtained by converting the digital signal into an analog signal is input to a seventh input terminal, The first signal switching means selectively switches an analog signal input to the sixth and seventh input terminals. The signal selected by the first signal switching means is input to the fourth conversion means. The fourth converter converts the analog signal into a digital signal based on the reference signal output from the third signal generator. The signal obtained by converting the signal input from the sixth input terminal is the second signal.
Is output to the tenth storage means by the signal switching means of
Stored in the tenth storage means. The signal obtained by converting the signal input from the seventh input terminal is output to the eleventh storage means by the second signal switching means and stored in the eleventh storage means. Next, the eleventh arithmetic means calculates the time lag between the signal stored in the tenth storage means and the signal stored in the ninth storage means by using the signal stored in the ninth storage means. Correct as a reference. Then, the correction output for the signal stored in the tenth storage means, which is the output of the eleventh calculation means, is stored in the twelfth storage means. Similarly, the twelfth computing means calculates the time lag between the signal stored in the eleventh storage means and the signal stored in the ninth storage means by subtracting the signal stored in the ninth storage means from the signal stored in the ninth storage means. Correct as a reference. And, the output of the twelfth arithmetic means,
The correction output for the signal stored in the eleventh storage means is stored in the thirteenth storage means. Next, the thirteenth calculation means calculates the spectrum of the signal stored in the ninth storage means. Similarly, the fourteenth calculation means calculates the spectrum of the signal stored in the twelfth storage means. And the second
The fifteen calculation means calculates the spectrum of the signal stored in the thirteenth storage means. And the sixteenth arithmetic means is the fourteenth
The output of the calculating means is divided by the output of the thirteenth calculating means. The output of the sixteenth operation means is stored in the fourteenth storage means. Similarly, the seventeenth computing means divides the output of the sixteenth computing means by the output of the fourteenth computing means. The output of the seventeenth operation means is stored in the fifteenth storage means. Next, the eighteenth operation means divides the signal stored in the fifteenth storage means by the signal stored in the fourteenth storage means. And
The output is stored in the sixteenth storage means. And the nineteenth
The calculating means converts the spectrum signal stored in the eighth storage means from the frequency domain to the time axis domain. Then, the output of the nineteenth calculation means is output. That is, the spectrum of the output signal of the device under test with respect to the signal for measurement is divided by the spectrum of the signal for measurement in the frequency domain, and the result of the division is converted from the frequency domain to the time domain to calculate and output an impulse response. ing.

【0020】[0020]

【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。図1は本発明の第1の実施例におけ
るインパルス応答測定装置のブロック図を示す。図1に
おいて、1はディジタルソースなどから読みだしたディ
ジタル信号を入力する入力端子、2は入力端子1に入力
されたディジタル信号を記憶するメモリ、3は入力端子
1から入力されるディジタル信号に同期して基準信号を
発生する信号発生器、4はディジタル信号をアナログ信
号に変換した信号に対する被測定物の応答出力信号を入
力する入力端子、5は入力端子4に入力されたアナログ
信号をディジタル信号に変換するA/D変換器、6はA
/D変換器5の出力を記憶するメモリ、7はメモリ6に
記憶されている信号とメモリ2に記憶されている信号間
との時間ずれをメモリ2に記憶されている信号を基準に
して補正する演算器、8は演算器7の出力を記憶するメ
モリ、9はメモリ2に記憶されている信号のスペクトル
を算出する演算器、10はメモリ8に記憶されている信号
のスペクトルを算出する演算器、11は演算器10の出力を
演算器9の出力で除算する演算器、12は演算器11の出力
を記憶するメモリ、13はメモリ12の記憶されているスペ
クトル信号を時間軸信号に変換する演算器、14は演算器
13の出力信号を出力する出力端子である。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a block diagram of an impulse response measuring device according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an input terminal for inputting a digital signal read from a digital source or the like, 2 denotes a memory for storing a digital signal input to the input terminal 1, and 3 denotes a digital signal input from the input terminal 1. A signal generator for generating a reference signal, and 4 an input terminal for inputting a response output signal of the device under test with respect to a signal obtained by converting a digital signal to an analog signal, and 5 a digital signal for converting the analog signal input to the input terminal 4 into a digital signal. A / D converter for converting to A
A memory for storing the output of the / D converter 5; and 7 for correcting the time lag between the signal stored in the memory 6 and the signal stored in the memory 2 with reference to the signal stored in the memory 2. 8 is a memory for storing the output of the arithmetic unit 7, 9 is an arithmetic unit for calculating the spectrum of the signal stored in the memory 2, and 10 is an arithmetic for calculating the spectrum of the signal stored in the memory 8. , An arithmetic unit for dividing an output of the arithmetic unit by an output of the arithmetic unit, a memory for storing an output of the arithmetic unit, and a conversion of a spectrum signal stored in the memory into a time axis signal Computing unit, 14 is a computing unit
This is an output terminal for outputting the 13 output signals.

【0021】また、図2は第1の実施例におけるインパ
ルス応答測定装置の入力端子1,4に入力されるディジ
タル信号とアナログ信号を説明する説明図であり、21は
コンパクトディスク(CD)、22はCD21を再生するC
Dプレーヤ、23はCDプレーヤ22のアナログ信号出力端
子、24はCDプレーヤ22のディジタル信号出力端子、25
は被測定物である。図3および図4は第1の実施例のイ
ンパルス応答測定装置における演算器7の動作説明図で
ある。
FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining digital signals and analog signals input to the input terminals 1 and 4 of the impulse response measuring device according to the first embodiment. Reference numeral 21 denotes a compact disc (CD); Is C to play CD21
D player, 23 is an analog signal output terminal of the CD player 22, 24 is a digital signal output terminal of the CD player 22, 25
Is an object to be measured. 3 and 4 are explanatory diagrams of the operation of the calculator 7 in the impulse response measuring device according to the first embodiment.

【0022】このように構成された本発明の第1の実施
例のインパルス応答測定装置について、以下その動作に
ついて説明する。たとえばホワイトノイズが記録されて
いるCD21の所定のトラックをCDプレーヤ22で再生す
る。ディジタル信号出力端子24からは、CDプレーヤ22
がCD21から読み取ったディジタル信号が出力される。
このディジタル信号出力端子24を入力端子1に接続する
と、入力されたディジタル信号はメモリ2に記憶され
る。また、これと同時に信号発生器3は入力端子1から
入力されるディジタル信号に同期した基準信号を発生
し、その出力信号をA/D変換器5に供給する。
The operation of the thus configured impulse response measuring device of the first embodiment of the present invention will be described below. For example, a predetermined track of the CD 21 on which white noise is recorded is reproduced by the CD player 22. From the digital signal output terminal 24, the CD player 22
Output a digital signal read from the CD 21.
When the digital signal output terminal 24 is connected to the input terminal 1, the input digital signal is stored in the memory 2. At the same time, the signal generator 3 generates a reference signal synchronized with the digital signal input from the input terminal 1 and supplies the output signal to the A / D converter 5.

【0023】さらに、同時刻にCDプレーヤ22のアナロ
グ信号出力端子23からは入力端子1に入力されるディジ
タル信号をアナログ信号に変換した信号が出力され、被
測定物25に供給される。すると、被測定物25は入力され
たアナログ信号に対する応答出力信号を出力し、この出
力信号は入力端子4に入力される。入力端子4から入力
されたアナログ信号はA/D変換器5に入力される。そ
して、A/D変換器5は信号発生器3の出力信号を動作
基準として入力されたアナログ信号をディジタル信号に
変換する。そして、入力端子4から入力されたアナログ
信号をA/D変換器5でディジタル信号に変換した信号
がメモリ6に記憶される。すなわち、入力端子4に入力
されたアナログ信号は、入力端子1に入力されるディジ
タル信号と同期してディジタル信号に変換され、メモリ
6に記憶される。
At the same time, a signal obtained by converting a digital signal input to the input terminal 1 into an analog signal is output from the analog signal output terminal 23 of the CD player 22 and supplied to the device under test 25. Then, the device under test 25 outputs a response output signal to the input analog signal, and this output signal is input to the input terminal 4. The analog signal input from the input terminal 4 is input to the A / D converter 5. The A / D converter 5 converts the input analog signal into a digital signal using the output signal of the signal generator 3 as an operation reference. Then, a signal obtained by converting the analog signal input from the input terminal 4 into a digital signal by the A / D converter 5 is stored in the memory 6. That is, the analog signal input to the input terminal 4 is converted into a digital signal in synchronization with the digital signal input to the input terminal 1 and stored in the memory 6.

【0024】ところで、このようにしてメモリ2,6に
記憶された信号間には図3に示すような時間ずれT0
存在する。すなわち、入力端子1に入力されるディジタ
ル信号に同期してA/D変換器5が動作するため本来メ
モリ2とメモリ6に記憶されている信号間には時間ずれ
は存在しない。しかし、実際素子の動作速度には限界が
あるため時間ずれは発生する。しかし、そのずれは一定
である。すなわち、nサンプル目の時間ずれΔT(n)は
(数3)で表現できる。ΔT(n) を図3に示す。
By the way, there is a time lag T 0 between the signals stored in the memories 2 and 6 as shown in FIG. That is, since the A / D converter 5 operates in synchronization with the digital signal input to the input terminal 1, there is no time lag between the signals originally stored in the memories 2 and 6. However, there is a limit in the operating speed of the actual element, so that a time lag occurs. However, the deviation is constant. That is, the time shift ΔT (n) of the n-th sample can be expressed by (Equation 3). ΔT (n) is shown in FIG.

【0025】[0025]

【数3】 (Equation 3)

【0026】そして、演算器7は、この時間ずれをメモ
リ2に記憶されている信号を基準として除去する。ここ
で、演算器7の動作は時間ずれの検出、検出した時
間ずれの補正の2段階からなる。この動作を説明する。
まず、メモリ2とメモリ6に記憶されている信号間の時
間ずれの検出は、メモリ2から時間ずれを検出するデー
タを中心に所定サンプル数のデータを抽出する。次に、
メモリ2から抽出したデータに相当するデータをメモリ
6からも抽出する。そして、このメモリ6から抽出した
データがサンプリングされた時刻からk/Nサンプル
(k=0,1,2,…,N−1)時間遅れしたN組のデ
ータを生成する。このN組のデータを生成する手法の一
例を以下に説明する。サンプリング周期をTs 、標本化
関数をS(m) (m=−N0 ,…,0,…,N0 )とする
とk/Nサンプルに相当する時間t d (k) は(数4)と
なる。
The arithmetic unit 7 notes this time lag.
The signal stored in the memory 2 is removed based on the signal. here
The operation of the arithmetic unit 7 is performed when the time lag is detected and detected.
It consists of two stages of correction of the shift. This operation will be described.
First, the time between the signals stored in the memory 2 and the memory 6
The detection of the time lag is performed by detecting the time lag from the memory 2.
Data of a predetermined number of samples is extracted mainly from the data. next,
The data corresponding to the data extracted from the memory 2 is stored in the memory
6 is also extracted. And extracted from this memory 6
K / N samples from the time the data was sampled
(K = 0, 1, 2, ..., N-1) N sets of data delayed
Generate data. One of the methods for generating this N sets of data
An example is described below. Set the sampling period to Ts, Sampling
Let the function be S (m) (m = -N0, ..., 0, ..., N0)
And the time t corresponding to k / N samples d(k) is (Equation 4)
Become.

【0027】[0027]

【数4】 (Equation 4)

【0028】また、メモリ6から抽出したデータをx
(i) (i=1,2,…,M)とすれば、x(i) に対して
k/Nサンプル時間遅れしたデータxc (i,k)は、(数
5)となる。このxc (i,k)を図4(a) に示す。
The data extracted from the memory 6 is represented by x
(i) If (i = 1, 2,..., M), data x c (i, k) delayed by k / N sample times from x (i) becomes (Equation 5). This x c (i, k) is shown in FIG.

【0029】[0029]

【数5】 (Equation 5)

【0030】そして、以上の処理で生成したN組のデー
タxc (i,k)とメモリ2から抽出したデータy(i) (i
=1,2,…,M)との相関係数C(k) を(数6)に基
づいて求める。
The N sets of data x c (i, k) generated by the above processing and the data y (i) (i
= 1, 2,..., M) based on (Equation 6).

【0031】[0031]

【数6】 (Equation 6)

【0032】このように算出した相関係数が最大となる
とき、(k=k0)の時間遅れtd (k0)がメモリ2とメモリ6
に記憶されている信号間の時間ずれとなる。このC(k)
を図4(b) に示す。ここで、Nを大きくすれば、時間ず
れの検出精度は向上する。
[0032] When the correlation coefficient calculated in this way becomes the maximum, the time lag t d (k 0) of the (k = k 0) is the memory 2 and memory 6
Is a time lag between the signals stored in the. This C (k)
Is shown in FIG. 4 (b). Here, if N is increased, the accuracy of detecting the time lag is improved.

【0033】次に、検出した時間ずれをメモリ6に記憶
されている信号に対して(数5)を用いて補正する。そ
して、この補正した信号がメモリ8に記憶される。以上
の処理により、メモリ2に記憶されている信号とメモリ
8に記憶されている信号間の時間ずれは除去され、メモ
リ8に記憶されている信号は、被測定物25のCDプレー
ヤ22がCD21からメモリ2に記憶されている信号と同一
の信号を再生したアナログ再生信号に対する応答信号を
ディジタル信号に変換した信号である。
Next, the detected time lag is corrected for the signal stored in the memory 6 using (Equation 5). Then, the corrected signal is stored in the memory 8. By the above processing, the time lag between the signal stored in the memory 2 and the signal stored in the memory 8 is removed, and the signal stored in the memory 8 is read by the CD player 22 of the device under test 25 by the CD 21 Is a signal obtained by converting a response signal to an analog reproduction signal obtained by reproducing the same signal as the signal stored in the memory 2 into a digital signal.

【0034】以上のメモリ2およびメモリ8に記憶され
ているデータに対して信号処理を行い被測定物25のイン
パルス応答を測定するわけであるが、ここではまずその
測定原理について説明する。メモリ2およびメモリ8に
記憶されている信号をそれぞれx(i) ,y(i) 、被測定
物25のインパルス応答をh(i) (i=0,1,…,N−
1)とすると、(数7)が成立する。
Signal processing is performed on the data stored in the memory 2 and the memory 8 to measure the impulse response of the device under test 25. Here, the principle of the measurement will be described first. The signals stored in the memory 2 and the memory 8 are x (i) and y (i), respectively, and the impulse response of the device under test 25 is h (i) (i = 0, 1,..., N−
Assuming 1), (Equation 7) holds.

【0035】[0035]

【数7】 (Equation 7)

【0036】さらに、(数7)を周波数領域で記述する
と(数8)となる。
Further, when Expression 7 is described in the frequency domain, Expression 8 is obtained.

【0037】[0037]

【数8】 (Equation 8)

【0038】ただし、x(i) ,y(i) ,h(i) のスペク
トルをX(k) ,Y(k) ,H(k) とする。(数8)からH
(k) は(数9)で算出できる。
Here, the spectra of x (i), y (i) and h (i) are X (k), Y (k) and H (k). (Equation 8) to H
(k) can be calculated by (Equation 9).

【0039】[0039]

【数9】 (Equation 9)

【0040】したがって、h(i) はH(k) を周波数領域
から時間軸領域に変換することで算出することができ
る。次に、各部の動作説明を行う。演算器9,10はそれ
ぞれメモリ2および8に記憶されている信号のスペクト
ルを求める。ここで、時間離散信号からスペクトルを算
出する手法の一例としてDFTを用いる。メモリ2およ
びメモリ8に記憶されている信号をそれぞれx(i) ,y
(i) とすれば、それらのスペクトルのX(k),Y(k) は
(数10)、(数11)で表現できる。
Therefore, h (i) can be calculated by converting H (k) from the frequency domain to the time axis domain. Next, the operation of each unit will be described. Arithmetic units 9 and 10 determine the spectra of the signals stored in memories 2 and 8, respectively. Here, DFT is used as an example of a method of calculating a spectrum from a time discrete signal. The signals stored in the memory 2 and the memory 8 are respectively expressed as x (i) and y
Assuming (i), X (k) and Y (k) of those spectra can be expressed by (Equation 10) and (Equation 11).

【0041】[0041]

【数10】 [Equation 10]

【0042】[0042]

【数11】 [Equation 11]

【0043】次に、演算器11は、このように算出したメ
モリ2および8に記憶されている信号のスペクトルの比
H(k) を(数9)に基づいて算出する。そして、算出さ
れた比がメモリ12に記憶される。次に、メモリ12に記憶
されているスペクトル信号が演算器13で(数12)に基づ
き再び時間軸信号h(i) に変換される。
Next, the arithmetic unit 11 calculates the ratio H (k) of the spectrum of the signal stored in the memories 2 and 8 thus calculated based on (Equation 9). Then, the calculated ratio is stored in the memory 12. Next, the spectrum signal stored in the memory 12 is converted again into a time axis signal h (i) by the calculator 13 based on (Equation 12).

【0044】[0044]

【数12】 (Equation 12)

【0045】この変換され信号h(i) が出力端子14から
出力される。したがって、本発明の第1の実施例では、
ディジタルソースなどから読みだしたディジタル信号と
その読み取ったディジタル信号をアナログ信号に変換し
た信号に対する被測定物の応答出力であるアナログ信号
をソースに記録されているディジタル信号と同期した形
でディジタル信号に変換して、両者の時間ずれを除去し
た後、両信号のスペクトルを算出する。そして、周波数
領域上で両者の比を取り再び時間軸信号に変換する。以
上の処理より、被測定物のインパルス応答を測定するこ
とができる。
The converted signal h (i) is output from the output terminal 14. Therefore, in the first embodiment of the present invention,
A digital signal read from a digital source or the like and an analog signal that is the response output of the DUT to a signal obtained by converting the read digital signal to an analog signal are converted into digital signals in a form synchronized with the digital signal recorded in the source. After converting and removing the time lag between the two, the spectra of both signals are calculated. Then, the ratio between the two is obtained in the frequency domain, and is converted again into a time axis signal. Through the above processing, the impulse response of the device under test can be measured.

【0046】なお、第1の実施例では、演算器7におい
てメモリ2,6に記憶されている信号間の時間ずれを算
出する際に、k/Nサンプル時間差の有る信号を生成し
た。この生成に標本化関数を用いたが、これは以下の手
法を用いても可能である。すなわち、メモリ6から抽出
した信号をDFTし、これに対して、振幅が1で、位相
h (k) が(数13)で表現される伝達関数G(k) (数1
4)を乗算し、乗算結果をIDFTすることでk/Nサ
ンプル時間遅れを持つデータが生成できる。
In the first embodiment, when calculating the time lag between the signals stored in the memories 2 and 6 in the arithmetic unit 7, a signal having a k / N sample time difference is generated. The sampling function is used for this generation, but this can also be performed using the following method. That is, the signal extracted from the memory 6 is subjected to DFT, and the transfer function G (k) (Expression 1) having an amplitude of 1 and the phase Ph (k) expressed by (Expression 13) is obtained.
By multiplying by 4) and IDFT of the multiplication result, data having a k / N sample time delay can be generated.

【0047】[0047]

【数13】 (Equation 13)

【0048】[0048]

【数14】 [Equation 14]

【0049】また、第1の実施例では、演算器7におい
てメモリ2に記憶されている信号とメモリ6に記憶され
ている信号間の時間ずれを検出する際に、各メモリに記
憶されている信号の一ポイントを中心としたデータを抽
出して信号処理を行ったが、複数ポイントに対して時間
ずれを検出し、補正しても良い。
In the first embodiment, when the arithmetic unit 7 detects a time lag between the signal stored in the memory 2 and the signal stored in the memory 6, the signal is stored in each memory. Although the signal processing is performed by extracting data centered on one point of the signal, a time lag may be detected and corrected for a plurality of points.

【0050】さらに、第1の実施例では、1回の測定デ
ータからのみインパルス応答を測定しているが、測定時
に混入する外部雑音を除去するために複数回測定を行
い、得られた結果を加算平均しても良い。また、第1の
実施例では、ディジタルソースに記録されているディジ
タル信号を基準にして、A/D変換時に生じるA/D変
換のラッチタイミングなどの時間ずれを除去しているた
め、従来のように加算平均を行うことによる測定データ
の品質劣化が生じない。図5は本発明の第2の実施例に
おけるインパルス応答測定装置のブロック図を示す。図
5において、51はディジタルソースなどから読みだした
ディジタル信号を入力する入力端子、52は入力端子51に
入力されたディジタル信号を記憶するメモリ、53は基準
信号を発生する信号発生器、54は入力端子51に入力され
るディジタル信号をアナログ信号に変換するD/A変換
器、55はD/A変換器54の出力を出力する出力端子、56
は出力端子55から出力されるアナログ信号に対する被測
定物の応答出力を入力する入力端子、57は入力端子56か
ら入力されるアナログ信号をディジタル信号に変換する
A/D変換器、58はA/D変換器57の出力を記憶するメ
モリ、59はメモリ58に記憶されている信号とメモリ52に
記憶されている信号間との時間ずれをメモリ52に記憶さ
れている信号を基準にして補正する演算器、510 は演算
器59の出力を記憶するメモリ、511 はメモリ52に記憶さ
れている信号のスペクトルを算出する演算器、512 はメ
モリ510 に記憶されている信号のスペクトルを算出する
演算器、513 は演算器512 の出力を演算器511 の出力で
除算する演算器、514 は演算器513 の出力を記憶するメ
モリ、515 はメモリ514 に記憶されているスペクトル信
号を時間軸信号に変換する演算器、516 は演算器515 の
出力信号を出力する出力端子である。
Further, in the first embodiment, the impulse response is measured only from one measurement data. However, the measurement is performed a plurality of times in order to remove external noise mixed in at the time of the measurement, and the obtained result is obtained. The averaging may be performed. In the first embodiment, a time lag such as an A / D conversion latch timing generated at the time of A / D conversion is removed based on a digital signal recorded in a digital source. The quality of the measurement data does not deteriorate due to the addition and averaging of the data. FIG. 5 is a block diagram of an impulse response measuring device according to a second embodiment of the present invention. 5, reference numeral 51 denotes an input terminal for inputting a digital signal read from a digital source or the like; 52, a memory for storing the digital signal input to the input terminal 51; 53, a signal generator for generating a reference signal; A D / A converter for converting a digital signal input to the input terminal 51 into an analog signal; 55, an output terminal for outputting the output of the D / A converter 54;
Is an input terminal for inputting a response output of the device under test to an analog signal output from the output terminal 55, 57 is an A / D converter for converting an analog signal input from the input terminal 56 into a digital signal, and 58 is an A / D converter. A memory for storing the output of the D converter 57. A memory 59 corrects the time lag between the signal stored in the memory 58 and the signal stored in the memory 52 with reference to the signal stored in the memory 52. An arithmetic unit, 510 is a memory for storing the output of the arithmetic unit 59, 511 is an arithmetic unit for calculating the spectrum of the signal stored in the memory 52, and 512 is an arithmetic unit for calculating the spectrum of the signal stored in the memory 510. , 513 are arithmetic units for dividing the output of the arithmetic unit 512 by the output of the arithmetic unit 511, 514 is a memory for storing the output of the arithmetic unit 513, and 515 is for converting the spectrum signal stored in the memory 514 into a time axis signal. The computing unit, 516 Output terminal for outputting the output signal of the calculator 515.

【0051】このように構成された本発明の第2の実施
例のインパルス応答測定装置について、以下その動作に
ついて説明する。まず、入力端子51にディジタルソース
などから読み出したディジタル信号が入力され、メモリ
52に記憶される。ここで、たとえば入力端子51に入力さ
れるディジタル信号は、第1の実施例のようなCDプレ
ーヤ22のディジタル出力端子24から出力されるディジタ
ル信号や、あるメモリに記憶されているディジタル信号
であっても良い。また、信号発生器53はD/A変換器54
やA/D変換器57の動作基準となる信号(サンプリング
クロック)を発生し、D/A変換器54およびA/D変換
器57にサンプリングクロックを供給する。
The operation of the thus configured impulse response measuring device of the second embodiment of the present invention will be described below. First, a digital signal read from a digital source or the like is input to the input terminal 51, and is stored in the memory.
Stored in 52. Here, for example, the digital signal input to the input terminal 51 is a digital signal output from the digital output terminal 24 of the CD player 22 as in the first embodiment or a digital signal stored in a certain memory. May be. The signal generator 53 is a D / A converter 54.
And a signal (sampling clock) serving as an operation reference of the A / D converter 57 is supplied to the D / A converter 54 and the A / D converter 57.

【0052】D/A変換器54は信号発生器53から出力さ
れるサンプリング信号のタイミングに従って入力端子51
から入力されるディジタル信号をアナログ信号に変換
し、出力端子55から出力する。出力端子55から出力され
たアナログ信号を被測定物に供給すると、被測定物は入
力された信号に対する応答出力信号を出力する。この応
答出力信号を入力端子56を介して入力する。すると、A
/D変換器57は信号発生器53から出力されるサンプリン
グクロックのタイミングに従って、入力端子56から入力
されたアナログ信号をディジタル信号に変換する。変換
されたディジタル信号はメモリ58に記憶される。すなわ
ち、メモリ52とメモリ58にそれぞれ記憶されているディ
ジタル信号間には、原理的には時間ずれが存在しなく
て、実存する電子素子の動作速度に起因する時間ずれの
みが存在する。
The D / A converter 54 has an input terminal 51 according to the timing of the sampling signal output from the signal generator 53.
Is converted to an analog signal and output from an output terminal 55. When the analog signal output from the output terminal 55 is supplied to the device under test, the device under test outputs a response output signal to the input signal. This response output signal is input via the input terminal 56. Then A
The / D converter 57 converts the analog signal input from the input terminal 56 into a digital signal according to the timing of the sampling clock output from the signal generator 53. The converted digital signal is stored in the memory 58. That is, in principle, there is no time lag between the digital signals stored in the memory 52 and the memory 58, but only a time lag due to the operating speed of the existing electronic element.

【0053】以下、メモリ52、メモリ58、演算器59、メ
モリ510 、演算器511 、演算器512、演算器513 、メモ
リ514 、演算器515 、出力端子516 は、それぞれ第1の
実施例のメモリ2、メモリ6、演算器7、メモリ8、演
算器9、演算器10、演算器11、メモリ12、演算器13、出
力端子14と全く同一の動作を行うのでその動作説明は省
略する。
Hereinafter, the memory 52, the memory 58, the computing unit 59, the memory 510, the computing unit 511, the computing unit 512, the computing unit 513, the memory 514, the computing unit 515, and the output terminal 516 are respectively the memories of the first embodiment. 2. The operations are exactly the same as those of the memory 6, the arithmetic unit 7, the memory 8, the arithmetic unit 9, the arithmetic unit 10, the arithmetic unit 11, the memory 12, the arithmetic unit 13, and the output terminal 14, and the description of the operation is omitted.

【0054】したがって、本発明の第2の実施例では、
ディジタルソースなどから読みだしたディジタル信号と
その読みだしたディジタル信号を信号発生器で発生させ
た基準信号に基づきアナログ信号に変換しこの信号に対
する被測定物の応答出力であるアナログ信号を前述の基
準信号に基づいてディジタル信号に変換して、両者の時
間ずれを除去した後、両信号のスペクトルを算出する。
そして、周波数領域上で両者の比を取り再び時間軸信号
に変換する。以上の処理より、被測定物のインパルス応
答を測定することができる。
Therefore, in the second embodiment of the present invention,
A digital signal read from a digital source or the like and the read digital signal are converted into an analog signal based on a reference signal generated by a signal generator. After converting the signals into digital signals based on the signals and removing the time lag between them, the spectra of both signals are calculated.
Then, the ratio between the two is obtained in the frequency domain, and is converted again into a time axis signal. Through the above processing, the impulse response of the device under test can be measured.

【0055】なお、第2の実施例において、D/A変換
器54は入力端子51から入力されたディジタル信号をアナ
ログ信号に変換したが、メモリ52に記憶されているディ
ジタル信号をアナログ信号に変換して出力端子55から出
力するようにしても良い。
In the second embodiment, the D / A converter 54 converts the digital signal input from the input terminal 51 into an analog signal, but converts the digital signal stored in the memory 52 into an analog signal. And output from the output terminal 55.

【0056】図6は本発明の第3の実施例におけるイン
パルス応答測定装置のブロック図を示す。図6におい
て、61はディジタルソースなどから読みだしたディジタ
ル信号を入力する入力端子、62は入力端子61に入力され
たディジタル信号を記憶するメモリ、63は基準信号を発
生する信号発生器、64は入力端子61に入力されるディジ
タル信号をアナログ信号に変更した信号を入力する入力
端子、65は入力端子64に入力されるアナログ信号に対す
る被測定物の出力応答信号を入力する入力端子、66は入
力端子64および入力端子65から入力される信号を選択切
り換えする信号切り換え器、67は信号切り換え器66の出
力をディジタル信号に変換するA/D変換器、68はA/
D変換器67の出力を信号切り換え器66に同期して切り換
える信号切り換え器、69は信号切り換え器66が入力端子
64に入力される信号を選択したときのA/D変換器67の
出力を選択切り換えした信号切り換え器68の出力を記憶
するメモリ、610 は信号切り換え器66が入力端子65に入
力される信号を選択したときのA/D変換器67の出力を
選択切り換えした信号切り換え器68の出力を記憶するメ
モリ、611 はメモリ69に記憶されている信号とメモリ62
に記憶されている信号間との時間ずれをメモリ62に記憶
されている信号を基準にして補正する演算器、612 は演
算器611 の出力を記憶するメモリ、613 はメモリ610 に
記憶されている信号とメモリ62に記憶されている信号間
との時間ずれをメモリ62に記憶されている信号を基準に
して補正する演算器、614 は演算器613 の出力を記憶す
るメモリ、615 はメモリ62に記憶されている信号のスペ
クトルを算出する演算器、616 はメモリ612 に記憶され
ている信号のスペクトルを算出する演算器、617 はメモ
リ614 に記憶されている信号のスペクトルを算出する演
算器、618 は演算器616 の出力を演算器615 の出力で除
算する演算器、619 は演算器617 の出力を演算器615 の
出力で除算する演算器、620 は演算器619 の出力を演算
器618 の出力で除算する演算器、621 は演算器620 の出
力を記憶するメモリ、622 はメモリ621 に記憶されてい
るスペクトル信号を時間軸信号に変換する演算器、623
は演算器622の出力信号を出力する出力端子である。図
7は第3の実施例の動作概念を説明する説明図である。
FIG. 6 is a block diagram showing an impulse response measuring device according to a third embodiment of the present invention. 6, reference numeral 61 denotes an input terminal for inputting a digital signal read from a digital source or the like, 62 denotes a memory for storing the digital signal input to the input terminal 61, 63 denotes a signal generator for generating a reference signal, and 64 denotes a signal generator for generating a reference signal. An input terminal for inputting a signal obtained by converting a digital signal input to the input terminal 61 into an analog signal, an input terminal 65 for inputting an output response signal of the device under test with respect to an analog signal input to the input terminal 64, and an input terminal 66. A signal switch for selecting and switching a signal input from the terminal 64 and the input terminal 65; 67, an A / D converter for converting the output of the signal switch 66 into a digital signal;
A signal switch for switching the output of the D converter 67 in synchronization with the signal switch 66. 69 is an input terminal of the signal switch 66.
A memory for storing the output of the signal switch 68 in which the output of the A / D converter 67 is selected and switched when the signal input to 64 is selected. A memory for storing the output of the signal switch 68 which selectively switches the output of the A / D converter 67 when selected, and 611 is a signal stored in the memory 69 and a memory 62
612 is a memory that stores the output of the calculator 611, and 613 is a memory that stores the output of the calculator 611. An arithmetic unit that corrects the time lag between the signal and the signal stored in the memory 62 based on the signal stored in the memory 62, 614 is a memory that stores the output of the arithmetic unit 613, and 615 is a memory that stores the output of the arithmetic unit 613. A calculator for calculating the spectrum of the stored signal, 616 is a calculator for calculating the spectrum of the signal stored in the memory 612, 617 is a calculator for calculating the spectrum of the signal stored in the memory 614, 618 Is a calculator that divides the output of the calculator 616 by the output of the calculator 615, 619 is a calculator that divides the output of the calculator 617 by the output of the calculator 615, and 620 is the output of the calculator 618 that is the output of the calculator 619. 621 is the operation unit of the operation unit 620. Memory for storing the force, 622 calculator for converting the spectrum signals stored in the memory 621 in the time axis signal, 623
Is an output terminal for outputting the output signal of the arithmetic unit 622. FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining the operation concept of the third embodiment.

【0057】このように構成された本発明の第3の実施
例のインパルス応答測定装置について、以下その動作に
ついて説明する。まず、入力端子61にディジタルソース
などから読み出したディジタル信号が入力され、メモリ
62に記憶される。ここで、たとえば入力端子61に入力さ
れるディジタル信号は、第1の実施例のようなCDプレ
ーヤ22のディジタル出力端子24から出力されるディジタ
ル信号とする。また、信号発生器63は入力端子61から入
力されるディジタル信号に同期してA/D変換器67の動
作基準となる信号(サンプリングクロック)を発生し、
A/D変換器67にサンプリングクロックを供給する。
The operation of the thus configured impulse response measuring apparatus according to the third embodiment of the present invention will be described below. First, a digital signal read from a digital source or the like is input to the input terminal 61, and is stored in the memory.
Stored in 62. Here, for example, the digital signal input to the input terminal 61 is a digital signal output from the digital output terminal 24 of the CD player 22 as in the first embodiment. The signal generator 63 generates a signal (sampling clock) serving as an operation reference of the A / D converter 67 in synchronization with the digital signal input from the input terminal 61.
The sampling clock is supplied to the A / D converter 67.

【0058】また、入力端子64には、入力端子61から入
力されるディジタル信号をアナログ信号に変換した信
号、たとえばCDプレーヤ22のアナログ出力端子23から
出力されるアナログ信号が入力される。このアナログ信
号は信号切り換え器66により選択されA/D変換器67に
入力され、信号発生器63の出力するクロックに同期して
入力端子64から入力されるアナログ信号をディジタル信
号に変換する。そして、信号切り換え器68は信号切り換
え器66に同期して切り換わりA/D変換器67の出力をメ
モリ69で記憶される。同様に、入力端子64から入力され
るアナログ信号に対する被測定物の応答出力、たとえば
被測定物25の出力信号を入力端子65に入力される。そし
て、信号切り換え器66で選択されA/D変換器67で信号
発生器63の出力クロックを動作基準としてアナログ信号
をディジタル信号に変換し、信号切り換え器68で選択切
り換えされメモリ610 に記憶される。
A signal obtained by converting a digital signal input from the input terminal 61 into an analog signal, for example, an analog signal output from the analog output terminal 23 of the CD player 22 is input to the input terminal 64. This analog signal is selected by the signal switch 66 and input to the A / D converter 67. The analog signal input from the input terminal 64 is converted into a digital signal in synchronization with the clock output from the signal generator 63. The signal switch 68 is switched in synchronization with the signal switch 66, and the output of the A / D converter 67 is stored in the memory 69. Similarly, a response output of the device under test to an analog signal input from the input terminal 64, for example, an output signal of the device under test 25 is input to the input terminal 65. Then, the analog signal is converted into a digital signal by using the output clock of the signal generator 63 by the A / D converter 67 and selected by the signal switch 66, and is selectively switched by the signal switch 68 and stored in the memory 610. .

【0059】メモリ62、メモリ69およびメモリ610 にそ
れぞれ記憶されているディジタル信号間には、原理的に
は時間ずれが存在しなくて、実存する電子素子の動作速
度に起因する時間ずれのみが存在する。この時間ずれを
メモリ62に記憶されている信号を基準にして、演算器61
1 ではメモリ69とメモリ62に記憶されている信号間の時
間ずれを検出し、メモリ69に記憶されている信号に対し
てその時間ずれを補正し、その出力はメモリ612 に記憶
される。同様に、この時間ずれをメモリ62に記憶されて
いる信号を基準にして、演算器613 ではメモリ610 とメ
モリ62に記憶されている信号間の時間ずれを検出し、メ
モリ610 に記憶されている信号に対してその時間ずれを
補正し、その出力はメモリ613 に記憶される。この演算
器611 ,613 の動作は第1の実施例における演算器7と
同一の動作をする。
In principle, there is no time lag between the digital signals stored in the memory 62, the memory 69 and the memory 610, but only the time lag caused by the operating speed of the existing electronic element. I do. Based on the signal stored in the memory 62,
In 1, the time lag between the signals stored in the memory 69 and the memory 62 is detected, the time lag is corrected for the signal stored in the memory 69, and the output is stored in the memory 612. Similarly, the arithmetic unit 613 detects the time lag between the signals stored in the memory 610 and the memory 62 based on the time lag based on the signal stored in the memory 62 and stores the time lag in the memory 610. The signal is corrected for its time lag and its output is stored in memory 613. The operation of the computing units 611 and 613 is the same as that of the computing unit 7 in the first embodiment.

【0060】次に、メモリ62,612 ,614 に記憶されて
いる信号のスペクトルがそれぞれ演算器615 ,616 ,61
7 で算出される。この演算器615 ,616 ,617 は第1の
実施例における演算器10と同一の動作を行う。そして、
演算器618 は演算器616 の出力を演算器615 の出力で除
算する。また、演算器619 は演算器617 の出力を演算器
615 の出力で除算する。この演算器618 および619 は第
1の実施例の演算器11と同一の動作をする。次に、演算
器620 は演算器619 の出力を演算器618 の出力で除算す
る。その結果が、メモリ621 に記憶される。そして、演
算器622 はメモリ621 に記憶されているスペクトル信号
を時間軸信号に変換する。この演算器622 は第1の実施
例における演算器13と同一の動作を行う。そして、演算
器622 の出力が出力端子623 から出力される。
Next, the spectrums of the signals stored in the memories 62, 612, 614 are calculated by the computing units 615, 616, 61, respectively.
Calculated by 7. The operation units 615, 616, and 617 perform the same operation as the operation unit 10 in the first embodiment. And
The computing unit 618 divides the output of the computing unit 616 by the output of the computing unit 615. The computing unit 619 outputs the output of the computing unit 617 to the computing unit.
Divide by 615 output. The operation units 618 and 619 operate in the same manner as the operation unit 11 of the first embodiment. Next, the computing unit 620 divides the output of the computing unit 619 by the output of the computing unit 618. The result is stored in the memory 621. Then, the calculator 622 converts the spectrum signal stored in the memory 621 into a time axis signal. The operation unit 622 performs the same operation as the operation unit 13 in the first embodiment. Then, the output of the arithmetic unit 622 is output from the output terminal 623.

【0061】次に、演算器618 ,619 ,622 の動作原理
を図7を用いて説明する。たとえばCDプレーヤ22のア
ナログ信号出力部分の伝達関数71をH1 (W) 、A/D変
換器67の伝達関数72をH2 (w) 、被測定物25の伝達関数
73をH3 (w) とすれば、入力端子64から入力される信号
の入力端子61から入力される信号に対する伝達関数をG
1 (w) 、また、入力端子65から入力される信号の入力端
子61から入力される信号に対する伝達関数をG2 (w) と
すれば、信号切り換え器74,75 で選択切り換えられたと
きのそれぞれの関係は(数15)、(数16)で表すことが
できる。
Next, the principle of operation of the arithmetic units 618, 619 and 622 will be described with reference to FIG. For example, the transfer function 71 of the analog signal output portion of the CD player 22 is H 1 (W), the transfer function 72 of the A / D converter 67 is H 2 (w), and the transfer function of the DUT 25 is
If 73 is H 3 (w), the transfer function of the signal input from the input terminal 64 to the signal input from the input terminal 61 is G
If the transfer function of the signal input from the input terminal 65 with respect to the signal input from the input terminal 61 is G 2 (w), and the transfer function is selectively switched by the signal switches 74 and 75, Each relationship can be expressed by (Equation 15) and (Equation 16).

【0062】[0062]

【数15】 (Equation 15)

【0063】[0063]

【数16】 (Equation 16)

【0064】しかし、本来測定すべき伝達関数はH
3 (w) であるため、(数17)を用いることでH3 (w) が
算出できる。
However, the transfer function to be measured is H
Since it is 3 (w), H 3 (w) can be calculated by using (Equation 17).

【0065】[0065]

【数17】 [Equation 17]

【0066】このH3 (w) を時間軸信号に変換すること
で被測定物のインパルス応答を算出できる。したがっ
て、本発明の第3の実施例では、ディジタルソースなど
から読みだしたディジタル信号とその読みだしたディジ
タル信号を発生させた基準信号に基づきアナログ信号に
変換し、この信号に対する被測定物の応答出力であるア
ナログ信号を前述の基準信号に基づいてディジタル信号
に変換して、両者の時間ずれを除去した後、両信号のス
ペクトルを算出し、そして、周波数領域上で両者の比を
取り再び時間軸信号に変換する。以上の処理より、被測
定物のインパルス応答を測定することができる。
By converting this H 3 (w) into a time axis signal, the impulse response of the device under test can be calculated. Therefore, in the third embodiment of the present invention, the digital signal read from a digital source or the like and the read digital signal are converted into an analog signal based on the generated reference signal, and the response of the device under test to this signal is converted. The output analog signal is converted into a digital signal based on the above-mentioned reference signal, and after removing the time lag between the two, the spectra of both signals are calculated. Convert to axis signal. Through the above processing, the impulse response of the device under test can be measured.

【0067】すなわち、本発明の第3の実施例では、デ
ィジタルソースなどから読みだしたディジタル信号とそ
の読み取ったディジタル信号をアナログ信号に変換した
信号とこのアナログ信号に対する被測定物の応答出力で
あるアナログ信号をソースに記録されているディジタル
信号と同期した形でディジタル信号に変換して、三者の
時間ずれを除去した後、3信号のスペクトルを算出す
る。そして、周波数領域上でディジタルソースなどから
読みだしたディジタル信号とその信号をアナログ信号に
変換した信号との比とディジタルソースなどから読みだ
したディジタル信号とその信号をアナログ信号に変換し
た信号に対する被測定物の応答出力との比を算出し、さ
らに両者の比を算出し、再び時間軸信号に変換する。以
上の処理より、測定システムの特性の影響を受けずに被
測定物のインパルス応答を測定することができる。
That is, in the third embodiment of the present invention, a digital signal read from a digital source or the like, a signal obtained by converting the read digital signal into an analog signal, and a response output of the device under test to the analog signal are shown. The analog signal is converted into a digital signal in synchronization with the digital signal recorded in the source, and after removing the time lag between the three, the spectrum of the three signals is calculated. Then, in the frequency domain, the ratio between the digital signal read from a digital source or the like and the signal obtained by converting the signal into an analog signal, and the ratio of the digital signal read from a digital source or the like and the signal obtained by converting the signal to an analog signal are obtained. The ratio to the response output of the measured object is calculated, the ratio between the two is calculated, and the ratio is converted back to the time axis signal. Through the above processing, the impulse response of the device under test can be measured without being affected by the characteristics of the measurement system.

【0068】[0068]

【発明の効果】以上のように、本発明によればディジタ
ルソースなどから読みだしたディジタル信号をアナログ
信号に変換した信号に対する被測定物の応答出力信号を
ディジタルソースなどから読みだしたディジタル信号と
同期して入力し、ディジタル信号に変換する。この変換
した入力信号とディジタル信号の時間ずれをディジタル
信号を基準として補正し、補正した信号とディジタル信
号との比を周波数領域で算出し、再び時間軸信号に変換
することで被測定物のインパルス応答を算出する。
As described above, according to the present invention, a response signal of a device under test to a signal obtained by converting a digital signal read from a digital source or the like into an analog signal and a digital signal read from the digital source or the like are output. Input synchronously and convert to digital signal. The time lag between the converted input signal and the digital signal is corrected based on the digital signal, the ratio between the corrected signal and the digital signal is calculated in the frequency domain, and the ratio is converted back to a time axis signal, thereby obtaining an impulse of the DUT. Calculate the response.

【0069】したがって、本発明では、測定信号にイン
パルスを用いる必要がないため、信号が持つ時間軸方向
の平均パワーが大きく、信号の持つ周波数対域が広帯域
な信号たとえばホワイトノイズを用いることで、スピー
カのような被測定物に対してスピーカの振動板の振動振
幅が小振幅のときから大振幅のときまでのインパルス応
答を測定することが可能となる効果が得られる。また、
測定信号にインパルスを用いる必要がなくディジタルソ
ースに記録されている信号を用いるため、ディジタルソ
ースのサンプリング周波数および量子化数と同等の特性
を持つA/D変換器を用いることで高精度な測定が可能
となる効果が得られる。さらに、ディジタルソースに記
録されているディジタル信号を基準とし、A/D変換時
に生じるサンプリング開始点の不揃いを除去することで
測定データの再現性などにおよぼす影響を除去して測定
することが可能となる効果が得られる。さらに、被測定
物に入力するアナログ信号すなわちディジタルソースな
どから読みだしたディジタル信号をアナログ信号に変換
した信号のディジタルソースなどから読みだしたディジ
タル信号に対する伝達関数と被測定物のディジタルソー
スなどから読みだしたディジタル信号に対する伝達関数
を算出し、両者の比を算出することで、ディジタルソー
スなどから読みだしたディジタル信号をアナログ信号に
変換する部分および入力されたアナログ信号をディジタ
ル信号に変換する部分の測定信号に対する影響を除去し
て、被測定物のインパルス応答を測定することができる
効果が得られる。
Therefore, in the present invention, since it is not necessary to use an impulse for the measurement signal, the average power in the time axis direction of the signal is large, and the signal has a wide frequency range, for example, a white noise. The effect that it becomes possible to measure the impulse response from the time when the vibration amplitude of the diaphragm of the speaker is a small amplitude to the time when the vibration amplitude of the diaphragm of the speaker is large for an object to be measured such as a speaker. Also,
Since it is not necessary to use an impulse for the measurement signal and a signal recorded in a digital source is used, high-precision measurement can be performed by using an A / D converter having characteristics equivalent to the sampling frequency and quantization number of the digital source. A possible effect is obtained. Furthermore, it is possible to remove the influence on the reproducibility of the measurement data by removing the irregularity of the sampling start points generated at the time of A / D conversion with reference to the digital signal recorded in the digital source. Is obtained. In addition, the transfer function of the analog signal input to the device under test, that is, the digital signal read from a digital source or the like, converted to an analog signal for the digital signal read from the digital source or the like and the read function from the digital source of the device under test or the like are read. By calculating the transfer function for the obtained digital signal and calculating the ratio of the two, the part that converts the digital signal read from a digital source or the like into an analog signal and the part that converts the input analog signal into a digital signal can be used. The effect of removing the influence on the measurement signal and measuring the impulse response of the device under test is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例におけるインパルス応答
測定装置のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of an impulse response measuring device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施例におけるインパルス応答
測定装置に入力されるディジタル信号とアナログ信号を
説明する説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a digital signal and an analog signal input to the impulse response measuring device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1の実施例のインパルス応答測定装
置における時間ずれを説明する説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram for explaining a time lag in the impulse response measuring device according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1の実施例のインパルス応答測定装
置における演算器の動作を説明する説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating an operation of a calculator in the impulse response measurement device according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第2の実施例におけるインパルス応答
測定装置のブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram of an impulse response measuring device according to a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第3の実施例におけるインパルス応答
測定装置のブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram of an impulse response measuring device according to a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第3の実施例の動作を説明する説明図
である。
FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating an operation of a third example of the present invention.

【図8】従来のインパルス応答測定装置である。FIG. 8 shows a conventional impulse response measuring device.

【図9】同従来のインパルス応答測定装置における信号
発生器の動作説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of an operation of a signal generator in the conventional impulse response measuring device.

【図10】同従来のインパルス応答測定装置におけるA/
D変換器の動作説明図である。
FIG. 10 shows A / A in the conventional impulse response measurement device.
It is operation | movement explanatory drawing of a D converter.

【図11】同従来のインパルス応答測定装置における演算
器の動作説明図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating the operation of a computing unit in the conventional impulse response measurement device.

【図12】同従来のインパルス応答測定装置における演算
器の動作フロー図である。
FIG. 12 is an operation flowchart of an arithmetic unit in the conventional impulse response measurement device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 入力端子 2 メモリ 3 入力端子 4 A/D変換器 5 信号発生器 6 メモリ 7 演算器 8 メモリ 9 演算器 10 演算器 11 演算器 12 メモリ 13 演算器 14 出力端子 1 input terminal 2 memory 3 input terminal 4 A / D converter 5 signal generator 6 memory 7 computing unit 8 memory 9 computing unit 10 computing unit 11 computing unit 12 memory 13 computing unit 14 output terminal

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ディジタルソースなどから読み出したデ
ィジタル信号を入力する第1の入力端子と、前記第1の
入力端子に入力されるディジタル信号を記憶する第1の
記憶手段と、前記第1の入力端子に入力されるディジタ
ル信号に同期した基準信号を発生する第1の信号発生手
段と、前記ディジタル信号をアナログ信号に変換したア
ナログ信号に対する被測定物の応答出力信号を入力する
第2の入力端子と、前記第2の入力端子に入力されるア
ナログ信号を前記第1の信号発生手段が出力する基準信
号に基づきディジタル信号に変換する第1の変換手段
と、前記第1の変換手段の出力を記憶する第2の記憶手
段と、前記第2の記憶手段に記憶されている信号と前記
第1の記憶手段に記憶されている信号間の時間ずれを前
記第1の記憶手段に記憶されている信号を基準として検
出し前記第2の記憶手段に記憶されている信号に対して
補正する第1の演算手段と、前記第1の演算手段の出力
を記憶する第3の記憶手段と、前記第1の記憶手段に記
憶されている信号のスペクトルを算出する第2の演算手
段と、前記第3の記憶手段に記憶されている信号のスペ
クトルを算出する第3の演算手段と、前記第3の演算手
段の出力を前記第2の演算手段の出力で除算する第4の
演算手段と、前記第4の演算手段の出力を記憶する第4
の記憶手段と、前記第4の記憶手段に記憶されている信
号を時間軸信号に変換する第5の演算手段とを備え、前
記第5の演算手段の出力を出力することを特徴とするイ
ンパルス応答測定装置。
1. A first input terminal for inputting a digital signal read from a digital source or the like, first storage means for storing a digital signal input to the first input terminal, and the first input terminal First signal generating means for generating a reference signal synchronized with a digital signal input to a terminal, and a second input terminal for inputting a response output signal of the device under test with respect to the analog signal obtained by converting the digital signal into an analog signal And a reference signal output from the first signal generation means for converting an analog signal input to the second input terminal.
First converting means for converting a signal stored in the second converting means into a digital signal based on the signal, a second storing means for storing an output of the first converting means, A first means for detecting a time lag between signals stored in the storage means with reference to the signal stored in the first storage means and correcting the signal stored in the second storage means; Calculating means, third storing means for storing the output of the first calculating means, second calculating means for calculating the spectrum of the signal stored in the first storing means, A third calculating means for calculating a spectrum of the signal stored in the storage means, a fourth calculating means for dividing an output of the third calculating means by an output of the second calculating means, The fourth storing the output of the arithmetic means
And a fifth calculating means for converting a signal stored in the fourth storing means into a time axis signal, and outputting an output of the fifth calculating means. Response measuring device.
【請求項2】 ディジタルソースなどに記録されている
ディジタル信号を入力する第3の入力端子と、前記第3
の入力端子に入力されるディジタル信号を記憶する第5
の記憶手段と、基準信号を発生する第2の信号発生手段
と、前記ディジタル信号を前記第2の信号発生手段が出
力する基準信号に基づきアナログ信号に変換する第2の
変換手段と、前記第2の変換手段の出力信号を出力する
出力端子と、前記出力端子から出力されるアナログ信号
に対する被測定物の応答出力信号を入力する第4の入力
端子と、前記第4の入力端子に入力されるアナログ信号
を前記第2の信号発生手段が出力する基準信号に基づき
ディジタル信号に変換する第3の変換手段と、前記第3
の変換手段の出力を記憶する第6の記憶手段と、前記第
6の記憶手段に記憶されている信号と前記第5の記憶手
段に記憶されてい る信号間の時間ずれを前記第5の記憶
手段に記憶されている信号を基準として検出し前記第6
の記憶手段に記憶されている信号に対して補正する第6
の演算手段と、前記第6の演算手段の出力を記憶する第
7の記憶手段と、前記第5の記憶手段に記憶されている
信号のスペクトルを算出する第7の演算手段と、前記第
7の記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを算出
する第8の演算手段と、前記第8の演算手段の出力を前
記第7の演算手段の出力で除算する第9の演算手段と、
前記第9の演算手段の出力を記憶する第8の記憶手段
と、前記第8の記憶手段に記憶されている信号を時間軸
信号に変換する第10の演算手段とを備え、前記第10
の演算手段の出力を出力することを特徴とするインパル
ス応答測定装置。
2. It is recorded on a digital source or the like.
A third input terminal for inputting a digital signal;
Of the digital signal input to the input terminal
Storage means, and second signal generation means for generating a reference signal
And the second signal generating means outputs the digital signal.
A second method of converting an analog signal based on the input reference signal
Converting means for outputting an output signal of the second converting means;
An output terminal and an analog signal output from the output terminal
Fourth input for inputting a response output signal of the device under test to
Terminal and an analog signal input to the fourth input terminal
Based on the reference signal output by the second signal generation means.
A third converting means for converting into a digital signal;
A sixth storage unit for storing the output of the conversion unit,
The signal stored in the storage means and the fifth storage means.
The fifth memory of the time difference between the signals that have been stored in the stage
Means based on the signal stored in the
6th correction for the signal stored in the storage means
Calculating means for storing the output of the sixth calculating means.
7 and the fifth storage means.
A seventh calculating means for calculating a spectrum of the signal;
7 calculates the spectrum of the signal stored in the storage means
And an output of the eighth calculating means.
Ninth operation means for dividing by an output of the seventh operation means,
Eighth storage means for storing the output of the ninth operation means
And a signal stored in the eighth storage means on a time axis.
And a tenth operation means for converting the signal into a signal.
An impulse response measuring device, which outputs the output of the calculating means .
【請求項3】 ディジタルソースなどから読み出したデ
ィジタル信号を入力する第5の入力端子と、前記第5の
入力端子に入力されるディジタル信号を記憶する第9の
記憶手段と、前記第5の入力端子に入力されるディジタ
ル信号に同期した基準信号を発生する第3の信号発生手
段と、前記ディジタル信号をアナログ信号に変換したア
ナログ信号を入力する第6の入力端子と、前記ディジタ
ル信号をアナログ信号に変換したアナログ信号に対する
被測定物の応答出力信号を入力する第7の入力端子と、
前記第6の入力端子および前記第7の入力端子に入力さ
れるアナログ信号を選択切り換えする第1の信号切り換
え手段と、前記第1の信号切り換え手段の出力を前記第
3の信号発生手段が出力する基準信号に基づきディジタ
ル信号に変換する第4の変換手段と、前記第4の変換手
段の出力を前記第1の信号切り換え手段と同期して切り
換え出力する第2の信号切り換え手段と、前記第1の信
号切り換え手段が前記第6の入力端子に入力されたアナ
ログ信号を選択したときの前記第2の信号切り換え手段
が出力する前記第4の変換手段の出力を記憶する第10
の記憶手段と、前記第1の信号切り換え手段が前記第7
の入力端子に入力されたアナログ信号を選択したときの
前記第2の信号切り換え手段が出力する前記第4の変換
手段の出力を記憶する第11の記憶手段と、前記第10
の記憶手段に記憶されている信号と前記第9の記憶手段
に記憶されている信号間の時間ずれを前記第9の記憶手
段に記憶されている信号を基準として検出し前記第10
の記憶手段に記憶されている信号に対して補正する第1
1の演算手段と、前記第11の演算手段の出力を記憶す
る第12の記憶手段と、前記第11の記 憶手段に記憶さ
れている信号と前記第9の記憶手段に記憶されている信
号間の時間ずれを前記第9の記憶手段に記憶されている
信号を基準として検出し前記第11の記憶手段に記憶さ
れている信号に対して補正する第12の演算手段と、前
記第12の演算手段の出力を記憶する第13の記憶手段
と、前記第9の記憶手段に記憶されている信号のスペク
トルを算出する第13の演算手段と、前記第12の記憶
手段に記憶されている信号のスペクトルを算出する第1
4の演算手段と、前記第13の記憶手段に記憶されてい
る信号のスペクトルを算出する第15の演算手段と、前
記第14の演算手段の出力を前記第13の演算手段の出
力で除算する第16の演算手段と、前記第16の演算手
段の出力を記憶する第14の記憶手段と、前記第15の
演算手段の出力を前記第13の演算手段の出力で除算す
る第17の演算手段と、前記第17の演算手段の出力を
記憶する第15の記憶手段と、前記第15の記憶手段に
記憶されている信号を前記第14の記憶手段に記憶され
ている信号で除算する第18の演算手段と、前記第18
の演算手段の出力を記憶する第16の記憶手段と、前記
第16の記憶手段に記憶されている信号を時間軸信号に
変換する第19の演算手段とを備え、前記第19の演算
手段の出力を出力することを特徴とするインパルス応答
測定装置。
3. Data read from a digital source or the like.
A fifth input terminal for inputting a digital signal;
A ninth memory for storing a digital signal input to the input terminal
Storage means, and a digital signal input to the fifth input terminal
Signal generating means for generating a reference signal synchronized with the base signal
A digital signal converting the digital signal into an analog signal.
A sixth input terminal for inputting a analog signal;
To the analog signal converted from the analog signal to the analog signal.
A seventh input terminal for inputting a response output signal of the device under test;
Input to the sixth input terminal and the seventh input terminal.
Signal switching for selectively switching the analog signal to be output
Output means and the output of the first signal switching means.
3 based on the reference signal output by the signal generating means.
A fourth converting means for converting the signal into a signal,
The output of the stage is switched off in synchronization with the first signal switching means.
A second signal switching means for switching and outputting the first signal;
Signal switching means is provided for the analog signal input to the sixth input terminal.
The second signal switching means when a log signal is selected
The tenth storing the output of the fourth converter output by the
Storage means, and the first signal switching means comprises the seventh signal switching means.
When the analog signal input to the
The fourth conversion output by the second signal switching means
An eleventh storage means for storing an output of the means,
Signal stored in the storage means and the ninth storage means
The time lag between the signals stored in the ninth storage means.
Detecting the signal based on the signal stored in the
The first method for correcting the signal stored in the storage means
The first arithmetic means and the output of the eleventh arithmetic means are stored.
Storage of the first 12 and storage means, the eleventh memorize means that
And the signal stored in the ninth storage means.
The time lag between signals is stored in the ninth storage means.
The signal is detected on the basis of the signal and stored in the eleventh storage means.
Twelfth computing means for correcting the signal
Thirteenth storage means for storing the output of the twelfth arithmetic means
And the spectrum of the signal stored in the ninth storage means.
A thirteenth calculating means for calculating the torque, and the twelfth memory
Calculating the spectrum of the signal stored in the means;
And the storage means stored in the thirteenth storage means.
A fifteenth calculating means for calculating the spectrum of the signal
The output of the fourteenth arithmetic means is output from the thirteenth arithmetic means.
Sixteenth computing means for dividing by force, and the sixteenth computing means
A fourteenth storage means for storing the output of the stage;
The output of the calculating means is divided by the output of the thirteenth calculating means.
A seventeenth computing means, and an output of the seventeenth computing means.
A fifteenth storage means for storing, and the fifteenth storage means
The stored signal is stored in the fourteenth storage means.
An eighteenth operation means for dividing by the signal
A sixteenth storage unit for storing the output of the arithmetic unit;
The signal stored in the sixteenth storage means is converted to a time axis signal.
A nineteenth operation means for converting, the nineteenth operation
An impulse response measuring device for outputting an output of the means .
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