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JP3335839B2 - Electronic circuit device - Google Patents

Electronic circuit device

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JP3335839B2
JP3335839B2 JP06958496A JP6958496A JP3335839B2 JP 3335839 B2 JP3335839 B2 JP 3335839B2 JP 06958496 A JP06958496 A JP 06958496A JP 6958496 A JP6958496 A JP 6958496A JP 3335839 B2 JP3335839 B2 JP 3335839B2
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JP
Japan
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clock
delay
input terminal
electronic circuit
circuit device
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幸人 大脇
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Priority to US08/824,743 priority patent/US6124744A/en
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  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子回路装置、特
にLSI,IC等の半導体集積回路装置に係わり、これ
ら集積回路装置内あるいは装置間に安定したクロックを
供給する電子回路装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic circuit device, and more particularly to a semiconductor integrated circuit device such as an LSI or an IC, and more particularly to an electronic circuit device for supplying a stable clock within or between these integrated circuit devices.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子回路装置のなかで特にLSI
は、その高速化が進んでおり、現在既に500MHz以
上で動作するLSIも発表されている(K.Suzuk
i et al, ISSCC94p.214〜p.2
15)。こうしたLSI内及びLSI間での位相のずれ
即ち、クロックスキューを最小とする事が高速化のため
の重要な鍵である。図16を用いて問題となるクロック
スキューを説明する。クロックバッファ60から出力端
子61を介して出力されたクロック信号により第1及び
第2の論理回路64及び65が同期し動作するが、第1
の論理回路64がクロックバッファの近くに位置し、一
方、第2の論理回路65までの配線62が例えばチップ
の端から端のように長い場合、第1の論理回路64が受
ける信号61−1と比較し、第2の論理回路65が受け
る信号63−1は図に示すように配線遅延により遅くな
ってしまう。この信号の位相ずれΔtをクロックスキュ
ーという。
2. Description of the Related Art Recently, among electronic circuit devices, in particular, LSI
Has been developed, and an LSI operating at 500 MHz or higher has already been announced (K. Suzuk).
i et al, ISSCC94p. 214-p. 2
15). Minimizing the phase shift within the LSI and between the LSIs, that is, the clock skew is an important key for speeding up. The problematic clock skew will be described with reference to FIG. The first and second logic circuits 64 and 65 operate in synchronization with the clock signal output from the clock buffer 60 via the output terminal 61.
Is located near the clock buffer, while the wiring 62 to the second logic circuit 65 is long, for example, from end to end of the chip, the signal 61-1 received by the first logic circuit 64 Compared to the signal 63-1, the signal 63-1 received by the second logic circuit 65 is delayed due to wiring delay as shown in the figure. The phase shift Δt of this signal is called clock skew.

【0003】このクロックスキュー低減方法の一つとし
て従来知られているものにクロックソースから各クロッ
ク供給先のレシーバーまでの配線遅延をこの配線遅延と
同程度の遅延を発生する遅延回路により補償する方法が
ある。しかるに半導体製造工程等工程でのばらつきによ
り配線遅延と遅延補償回路の遅延は異なってしまう。
One of the clock skew reduction methods conventionally known is a method of compensating for a wiring delay from a clock source to a receiver to which each clock is supplied by a delay circuit which generates a delay equivalent to the wiring delay. There is. However, the wiring delay and the delay of the delay compensation circuit differ due to variations in a process such as a semiconductor manufacturing process.

【0004】即ち、例えば半導体装置の製造工程におい
ては上記配線の幅及び膜厚のばらつきに起因する抵抗の
ばらつき、配線上下の絶縁膜厚のばらつきに起因する配
線の寄生容量のばらつきにより抵抗Rと容量Cで決まる
配線遅延がばらついてしまう。一方、例えば遅延回路を
直列したCMOSインバーター列で構成するとこの遅延
はMOSトランジスタのゲート長、不純物プロファイ
ル、ゲート酸化膜厚等のばらつきに起因するしきい値ば
らつき、電流駆動能力ばらつき等によりばらついてしま
う。上記の配線遅延のばらつきと遅延補償回路の遅延ば
らつきは原因が異なる為、連動して変動せずある半導体
装置で遅延時間をあわせても製造した半導体装置では遅
延時間が異なりクロックスキューが発生してしまい、回
路が正常動作しなくなる場合があった。
That is, for example, in the manufacturing process of a semiconductor device, the resistance R is affected by the variation in resistance due to the variation in the width and thickness of the wiring and the variation in the parasitic capacitance of the wiring due to the variation in the insulating film thickness above and below the wiring. The wiring delay determined by the capacitance C varies. On the other hand, for example, if the delay circuit is constituted by a series of CMOS inverters, the delay varies due to variations in threshold voltage, current driving capability, etc. due to variations in the gate length, impurity profile, gate oxide film thickness, etc. of the MOS transistor. . Since the cause of the above-described variation in the wiring delay and the variation in the delay of the delay compensation circuit are different from each other, the delay time is different in the semiconductor device manufactured even if the delay time is adjusted in a certain semiconductor device and the clock skew occurs. As a result, the circuit may not operate normally.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このように従来のLS
I,IC等の半導体装置において、プロセスバラツキ等
に対して強くクロックの供給を安定に行なえ、回路の正
常動作を保証できるものは無かった。本発明はこのよう
な従来の問題点を解決したLSI内あるいはLSI間の
クロック供給を行なえる電子回路装置を提供するもので
ある。
As described above, the conventional LS
In semiconductor devices such as I and IC, there is no semiconductor device capable of stably supplying a clock with respect to process variation and the like, and guaranteeing normal operation of a circuit. An object of the present invention is to provide an electronic circuit device capable of supplying a clock within an LSI or between LSIs, which solves such a conventional problem.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本願第1の発明の骨子
は、メインシステム部と、そのメインシステム部に接続
されたサブシステム部とを有する電子回路装置におい
て、クロック・ソースと、互いの中間点に接続され、且
つ隣り合うように配置された往路部及び復路部、並びに
前記往路部の前段に配置された波形成形のための遅延路
が連続的に存在し、前記クロック・ソースからのクロッ
ク信号が前記遅延路の一端に入力されるクロック配線
と、前記往路部の任意の位置で夫々接続されると共に、
その任意の位置に隣接する前記復路部においても接続さ
れ、前記任意の位置における夫々のクロック信号間の遅
延レベル量に基づいて、前記クロック・ソースからのク
ロック信号に対して任意の遅延量を有するクロック信号
を供給する複数のクロック供給手段とを、前記メインシ
ステム部または前記サブシステム部の少なくとも一方に
備えることにある。本願第2の発明の骨子は、クロック
・ソースと、互いの中間点において接続され、且つ隣り
合うように配置された往路部及び復路部、並びに前記往
路部の前段に配置された波形成形のための遅延路が連続
的に存在し、前記クロック・ソースからのクロック信号
が前記遅延路の一端に入力されるクロック配線と、前記
往路部の任意の位置で夫々接続されると共に、その任意
の位置に隣接する前記復路部においても接続され、前記
任意の位置における夫々のクロック信号間の遅延レベル
に基づいて、前記クロック・ソースからのクロック信号
に対して任意の遅延量を有するクロック信号を供給する
複数のクロック供給手段とを備えることにある。
The gist of the first invention of the present application is an electronic circuit device having a main system unit and a sub system unit connected to the main system unit. A forward path and a return path connected to a point and arranged adjacent to each other, and a delay path for waveform shaping disposed before the forward path are continuously present, and a clock from the clock source is provided. A signal is input to one end of the delay path, and the clock wiring is connected to an arbitrary position of the forward path, respectively.
It is also connected in the return path portion adjacent to the arbitrary position, and has an arbitrary delay amount with respect to the clock signal from the clock source based on the delay level amount between the respective clock signals at the arbitrary position. A plurality of clock supply means for supplying a clock signal is provided in at least one of the main system unit and the subsystem unit. The gist of the second invention of the present application is a clock source, which is connected at an intermediate point between the clock source and a forward path and a return path, which are arranged adjacent to each other, and a waveform shaping disposed before the forward path. And a clock line from which a clock signal from the clock source is input to one end of the delay line is connected to an arbitrary position of the forward path portion, A clock signal having an arbitrary delay amount with respect to the clock signal from the clock source based on a delay level between respective clock signals at the arbitrary position. And a plurality of clock supply means.

【0007】[0007]

【0008】[0008]

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】本願第1の発明の実施例を説明す
る前にまず、この発明の前提となる往復クロック配線の
概略構成について、図1乃至図7を用いて説明する。図
1は本発明の第1の実施例に係る概略構成図である。1
はクロック信号の入力端子であり2、3がクロック信号
伝達を行う配線である。特に2は往路配線、3は復路配
線である。4は終端であり、5は配線の中点に当たる折
り返し点である。6−1は第1のレシーバー8の第1の
入力端子であり往路配線2と接続している事が特徴であ
る、6−2は第1のレシーバーの第2の入力端子であり
第1の入力端子6−1の物理的近傍で復路配線と接続し
ている事が特徴である。レシーバー8及び14は位相検
知器11、17とそれぞれ二つ一組で直列接続された可
変制御遅延回路9と10及び15と16より構成され
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Before describing an embodiment of the first invention of the present application, a schematic configuration of a round-trip clock wiring as a premise of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a schematic configuration diagram according to a first embodiment of the present invention. 1
Is a clock signal input terminal, and reference numerals 2 and 3 are wirings for transmitting the clock signal. In particular, 2 is a forward wiring, and 3 is a return wiring. Reference numeral 4 denotes a terminal, and reference numeral 5 denotes a turning point corresponding to a middle point of the wiring. 6-1 is a first input terminal of the first receiver 8 and is characterized in that it is connected to the outgoing wiring 2. 6-2 is a second input terminal of the first receiver and has a first input terminal. It is characterized in that it is connected to the return wiring in the physical vicinity of the input terminal 6-1. The receivers 8 and 14 are composed of phase detectors 11 and 17 and variable control delay circuits 9 and 10 and 15 and 16 respectively connected in series in pairs.

【0010】次に、図2を用いて信号入力端子6−1及
び6−2での信号の状態について説明する。ここでTa
をクロックの入力端子1から折り返し点5までの遅延時
間、Tbを入力端子1からレシーバーの第1の入力端子
6−1までの遅延時間とする。従って6−1での信号は
クロックの入力からTb遅延している。また第2の入力
端子6−2点については折り返し点5から終端4までの
遅延時間が入力端1から折り返し点5までの時間Taに
等しく、第2の入力端子6−2点から終端4までの遅延
時間は第2の入力端子6−2が6−1第1の入力端子の
物理的近傍である事からTbと等しくなる。従って、6
−2点での遅延は2XTa−Tbとなる。 6−1点 Tb 6−2点 2Ta−Tb 従って6−1点と6−2点の遅延時間の平均をとれば平
均値は(2Ta−Tb+Tb)/2=Taとなり、Tb
の位置に依存しない即ち入力端子の位置に依存しない一
定値となる。つまり、往路及び復路のそれぞれに互いに
物理的近傍に位置された2つの入力端子が設けられれ
ば、前記クロック配線2,3上のいずれの場所からもほ
ぼ一定化された位相信号を取り出すことが出来、この事
はチップ上どこでも同じ位相の信号を合成出来る事を示
している。
Next, the state of signals at the signal input terminals 6-1 and 6-2 will be described with reference to FIG. Where Ta
Is a delay time from the input terminal 1 of the clock to the turning point 5, and Tb is a delay time from the input terminal 1 to the first input terminal 6-1 of the receiver. Therefore, the signal at 6-1 is delayed by Tb from the input of the clock. For the second input terminal 6-2 point, the delay time from the turning point 5 to the end point 4 is equal to the time Ta from the input terminal 1 to the turning point 5 and from the second input terminal 6-2 point to the end point 4 Is equal to Tb because the second input terminal 6-2 is physically near the 6-1 first input terminal. Therefore, 6
The delay at the point -2 is 2XTa-Tb. 6-1 point Tb 6-2 points 2Ta-Tb Accordingly, if the average of the delay times of the 6-1 points and 6-2 points is obtained, the average value becomes (2Ta-Tb + Tb) / 2 = Ta, and Tb
, Ie, a constant value independent of the position of the input terminal. In other words, if two input terminals located physically close to each other are provided in each of the forward path and the return path, a substantially constant phase signal can be extracted from any place on the clock wirings 2 and 3. This indicates that signals of the same phase can be synthesized anywhere on the chip.

【0011】ここで、本発明における物理的近傍に位置
する入力端子の設け方の他の実施例について図3を用い
て説明する。実際にLSI等の半導体装置や電子回路装
置に適用する場合、図3(a)〜(d)に示す様にクロ
ック配線2,3に対してレシーバー81 ,82 ,83
介して複数の論理回路(図では省略)を接続することが
考えられる。この場合、クロック配線2,3に対するレ
シーバー81 ,82 ,83 への入力端子6−1,6−2
の位置としては、図3(a)に示す様にクロック配線
2,3と直交する直線上に配置してもよいし、図3
(b),(c)に示す様にΔl1 ,Δl2 だけ全体的に
左右どちらかにずらして配置してもよい。図3(b),
(c)の様にするとクロック配線2,3からレシーバー
1 ,82 ,83 への配線レイアウトが容易となる。
Here, another embodiment of the present invention, in which an input terminal located in the physical vicinity is provided, will be described with reference to FIG. Indeed when applied to a semiconductor device and electronic circuit devices such as LSI, a plurality through the receiver 81, 82, 8 3 the clock wirings 2 and 3 as shown in FIG. 3 (a) ~ (d) May be connected. In this case, the input terminal to the receiver 81, 82, 8 3 with respect to the clock line 2 6-1, 6-2
May be arranged on a straight line orthogonal to the clock wirings 2 and 3 as shown in FIG.
As shown in (b) and (c), they may be arranged so as to be shifted leftward or rightward by Δl 1 and Δl 2 as a whole. FIG. 3 (b),
In the case of (c), the wiring layout from the clock wirings 2 and 3 to the receivers 8 1 , 8 2 and 8 3 becomes easy.

【0012】また、図3(d)に示す様に折り返し点5
は必ずしも点でなくて良く往路2と復路3の間が所定距
離Lあっても良い。要は、第1の入力端子6−1と第2
の入力端子6−2におけるクロック位相またはクロック
遅延の平均がクロック配線のどの位置でもほぼ一定とな
ることが重要であり、物理的近傍とはここでは、その様
な位置関係を満たすものをいう。
Also, as shown in FIG.
Is not necessarily a point, and the distance between the forward path 2 and the return path 3 may be a predetermined distance L. In short, the first input terminal 6-1 and the second input terminal
It is important that the average of the clock phase or the clock delay at the input terminal 6-2 is substantially constant at any position on the clock wiring, and the physical vicinity here means one that satisfies such a positional relationship.

【0013】図3(d)において、Lを意図的に大きく
し、クロック配線2,3に囲まれる領域にレシーバー、
論理回路を配置することも出来る。また、変形例として
複数の論理回路のうち、特定の論理回路に対しては、他
とは位相をずらしたクロック信号を与えたい場合には、
その特定の論理回路の入力端子の位置は他の入力端子と
は変えて設ける様にすることも出来る。次に上記遅延時
間の平均をとる回路について説明する。
In FIG. 3D, L is intentionally increased, and a receiver is provided in a region surrounded by clock wirings 2 and 3.
Logic circuits can also be arranged. Further, as a modified example, when a clock signal having a phase shifted from the others is to be given to a specific logic circuit among a plurality of logic circuits,
The position of the input terminal of the specific logic circuit can be provided differently from the other input terminals. Next, a circuit for averaging the delay times will be described.

【0014】図1に示す様に第1の入力端子6−1は、
可変遅延回路9に入力し、さらにそれに直列に可変遅延
回路12が接続されている。可変遅延回路9と12の遅
延の合計と第2の入力端子6−2の配線遅延を受けた後
の信号の位相を位相比較器11で比較し、位相が合うよ
うに可変遅延回路9及び12の遅延を調整する。ここで
可変遅延回路9と12の遅延時間を等しく設定すると可
変遅延回路9の出力13では第1及び第2の入力端子6
−1と6−2の遅延時間の平均の遅延時間を持った出力
が得られる。次に位相比較器及び可変遅延回路の例を示
す。
As shown in FIG. 1, the first input terminal 6-1 is
The signal is input to the variable delay circuit 9, and a variable delay circuit 12 is connected in series with the input. The sum of the delays of the variable delay circuits 9 and 12 and the phase of the signal after receiving the wiring delay of the second input terminal 6-2 are compared by the phase comparator 11, and the variable delay circuits 9 and 12 are adjusted so that the phases match. Adjust delay. Here, if the delay times of the variable delay circuits 9 and 12 are set to be equal, the output 13 of the variable delay circuit 9 has the first and second input terminals 6.
An output having an average delay time of -1 and 6-2 is obtained. Next, examples of the phase comparator and the variable delay circuit will be described.

【0015】図4に位相比較器を示す。入力31と入力
32が共にHレベルの状態から一方がLレベルに遷移し
た事を検知すると位相比較を開始する。信号32が先に
下がると信号34がアクティブになり信号31が先に下
がると信号33がアクティブとなる。さらにもう一方の
信号が立ち下がるまでの期間を位相差として検知する。
FIG. 4 shows a phase comparator. When it is detected that both the input 31 and the input 32 have transitioned from the H level to the L level, the phase comparison is started. When the signal 32 falls first, the signal 34 becomes active, and when the signal 31 falls first, the signal 33 becomes active. Further, a period until the other signal falls is detected as a phase difference.

【0016】図5に可変遅延回路の例を示す。位相検知
器からの出力に従い遅れている場合は位相比較器出力信
号33により図5(a)の可変遅延回路用電位発生回路
スイッチ37が導通し、出力ノード(電流変調用入力)
40の電位が上がり、図5(b)の可変遅延回路ディレ
イ部のトランジスタ441 ,442 ,443 の電流駆動
能力が上がる為遅延時間が減少する。逆に早い場合は位
相比較器の出力信号34により、図5(a)の可変遅延
回路用電位発生回路のスイッチ38が導通し、出力ノー
ド40の電位が下がり図5(b)の可変遅延回路ディレ
イ部のトランジスタ441 ,442 ,443 の電流駆動
能力が減少し遅延が大きくなる。
FIG. 5 shows an example of a variable delay circuit. If the output is delayed according to the output from the phase detector, the potential generator switch 37 for the variable delay circuit shown in FIG. 5A is turned on by the phase comparator output signal 33, and the output node (current modulation input).
Up 40 potential, and FIG. 5 (b) the variable delay transistor 44 1 of circuit delay unit, 44 2, 44 3 the delay time for the current driving capability increases of decreases. On the contrary, when the output is early, the switch 38 of the potential generating circuit for the variable delay circuit shown in FIG. 5A is turned on by the output signal 34 of the phase comparator, and the potential of the output node 40 is reduced. transistor 44 1 of the delay section, 44 2, 44 3 of the current drive capability is reduced delay increases.

【0017】以上により位相を比較し、位相をそろえる
事ができる。図5(a)において、35及び36は第1
及び第2の電流源、39はローパスフィルターであり、
図5(b)において40は電流変調用入力、411 ,4
2,413 は各インバータのPMOSロード、42
1 ,422 ,423 は各インバータのnMOSドライバ
ー、441 ,442 ,443 は各インバータの可変電流
源、45は第1のインバータの入力、46は第1のイン
バータの出力、47は第2のインバータの出力、48は
第3のインバータの出力である。
As described above, the phases can be compared and the phases can be aligned. In FIG. 5A, 35 and 36 are the first.
And a second current source 39 is a low-pass filter;
5 in (b) 40 is current modulation input, 41 1, 4
1 2, 41 3 PMOS loads of each inverter, 42
1, 42 2, 42 3 nMOS driver of each inverter, 44 1, 44 2, 44 3 is a variable current source of each inverter 45 is the input of the first inverter, 46 an output of the first inverter, 47 The output of the second inverter, 48, is the output of the third inverter.

【0018】又、図4,図5ではNMOS側のみを制御
したが、相補的に構成する事は容易であり図6に例を示
す。以上述べてきた本願第1の発明の実施例の前提とな
る往復クロック配線の概略構成によればクロックソース
から各クロック供給先のレシーバーまでの配線遅延を補
償することができる。しかしながら、この手法において
は往路と復路の配線遅延、位相のずれがそれぞれ等しい
ことが肝要であるが、厳密に言えば往路の信号を復路に
伝達するため往路の入力信号の波形に比較して、復路の
入力信号の波形がくずれ結果として位相の調整が困難と
なる場合がある。
In FIGS. 4 and 5, only the NMOS side is controlled. However, it is easy to construct a complementary structure, and FIG. 6 shows an example. According to the schematic configuration of the round-trip clock wiring which is the premise of the first embodiment of the present invention described above, the wiring delay from the clock source to the receiver to which each clock is supplied can be compensated. However, in this method, it is important that the outgoing path and the return path have the same wiring delay and phase shift, respectively.Strictly speaking, in order to transmit the forward path signal to the return path, compared to the input signal waveform of the forward path, Adjustment of the phase may be difficult as a result of the waveform of the input signal on the return path being distorted.

【0019】すなわち、図7に示すように図1において
同一の駆動バッファ21,22と同一のクロック配線
2,3を使用してもバッファ20の入力波形は通常のク
ロック同様シャープな波形であるが、一方、復路のバッ
ファ21の入力波形は往路2でなまった波形となってい
る。即ち、同じ構成のものに対して入力の波形が異なる
のであるから出力は異なる。図のように入力1と折り返
し点5までの遅延と折り返し点5から終端4での遅延が
異なることが起こり得る。この遅延が大きく異なると往
路と復路の位相を検知して動作するレシーバーは正常な
出力を出せず最悪の場合、論理回路の動作位相がずれ誤
動作してしまうという問題も生じる。
That is, as shown in FIG. 7, although the same drive buffers 21 and 22 and the same clock lines 2 and 3 are used in FIG. On the other hand, the input waveform of the buffer 21 on the return path is a waveform which is distorted on the outward path 2. In other words, the output is different because the input waveform is different for the same configuration. As shown in the figure, the delay between the input 1 and the turning point 5 and the delay from the turning point 5 to the terminal 4 may be different. If the delays differ greatly, a receiver that operates by detecting the phases of the forward path and the return path cannot output a normal output, and in the worst case, there is a problem that the operation phase of the logic circuit shifts and malfunctions.

【0020】このような問題を解決するために次に述べ
る本願第1の発明の実施例の構成を採用することができ
る。図8は本願第1の発明の第1の実施例を示す概略構
成図である。
In order to solve such a problem, the configuration of the first embodiment of the present invention described below can be adopted. FIG. 8 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of the first invention of the present application.

【0021】1はクロック信号の入力端子であり26,
2,3がクロック信号伝達を行うクロック配線である。
特に26は第1の往路配線、2は復路配線、3は第2の
往路配線である。4は終端であり、27は第1の折り返
し点、5は第2の折り返し点である。6−1は第1のレ
シーバー8の第1の入力端子であり復路2と接続してい
る事が特徴である、6−2は第1のレシーバー8の第2
の入力端子であり、6−1の物理的近傍で第2の往路3
と接続している事が特徴である。
Reference numeral 1 denotes a clock signal input terminal.
Reference numerals 2 and 3 are clock wires for transmitting a clock signal.
In particular, 26 is a first outward wiring, 2 is a return wiring, and 3 is a second outward wiring. Reference numeral 4 denotes a terminal, reference numeral 27 denotes a first turning point, and reference numeral 5 denotes a second turning point. 6-1 is a first input terminal of the first receiver 8 and is characterized by being connected to the return path 2. 6-2 is a second input terminal of the first receiver 8.
Of the second forward path 3 in the physical vicinity of 6-1.
It is characterized by being connected to

【0022】レシーバー8は位相検知11と一組の可変
制御遅延回路9,10よりなる。位相検知(比較)器1
1,17と可変遅延回路9,10,15,16について
は、図4乃至図6で説明したものと同様の構成のもので
良いため、ここでは詳細な説明を省略する。また、同様
の構成で入力端子7−1,7−2に接続される別のレシ
ーバー14も設けられている。
The receiver 8 comprises a phase detector 11 and a set of variable control delay circuits 9 and 10. Phase detector (comparator) 1
1 and 17 and the variable delay circuits 9, 10, 15, and 16 may have the same configuration as that described with reference to FIGS. 4 to 6, and thus a detailed description thereof will be omitted. Further, another receiver 14 having the same configuration and connected to the input terminals 7-1 and 7-2 is provided.

【0023】次に図9を用いて信号入力端子6−1及び
6−2での信号の状態を説明する。ここでTaを入力か
ら折り返し点までの遅延時間、Tbを第2の折り返し点
からレシーバーの第1の入力端子までの遅延時間とす
る。従って6−1での信号は2Ta−Tb遅延してお
り、6−2での信号は2Ta+Tb遅延している。 6−1点 2Ta−Tb 6−2点 2Ta+Tb 従って6−1点と6−2点の遅延時間の平均をとれば平
均値は(2Ta−Tb+2Ta+Tb)/2=2Taと
なりTb即ち位置に依存しない一定値となる。この事は
チップ上どこでも同じ位相の信号を合成出来る事を示し
ている。
Next, the state of signals at the signal input terminals 6-1 and 6-2 will be described with reference to FIG. Here, Ta is a delay time from the input to the turning point, and Tb is a delay time from the second turning point to the first input terminal of the receiver. Therefore, the signal at 6-1 is delayed by 2Ta-Tb, and the signal at 6-2 is delayed by 2Ta + Tb. 6-1 point 2Ta-Tb 6-2 points 2Ta + Tb Therefore, if the average of the delay times at points 6-1 and 6-2 is averaged, the average value is (2Ta-Tb + 2Ta + Tb) / 2 = 2Ta, which is constant regardless of position, that is, Tb. Value. This indicates that signals of the same phase can be synthesized anywhere on the chip.

【0024】第1の実施例での眼目は往路26により波
形整形された結果の波形が復路2に入力しており往路2
6と同じ復路2で波形整形された出力が第2の往路3に
入力している点にある。即ち2と3の遅延は同じく配線
26を介するので入力が同じあるいは同じに近い波形で
ある為、出力遅延も等しくできる。
In the first embodiment, the result of the waveform shaping by the outgoing path 26 is input to the inbound path 2.
6 in that the output whose waveform has been shaped in the return path 2 is input to the second forward path 3. That is, since the delays of 2 and 3 also have the same or nearly the same waveforms through the wiring 26, the output delays can be equalized.

【0025】ここで、第1の実施例の往路26は基本的
には位置の情報を持たず波形整形のみであるから、例え
ば変形例として配線を蛇行させて同じ長さにすることで
実現できる。ただし局所的な層間絶縁膜変動等よりプロ
セスバラツキに強いのは実施例1である。
Here, the outward path 26 of the first embodiment basically has no positional information and only waveform shaping, so that it can be realized, for example, by making the wiring meandering to have the same length as a modification. . However, it is the first embodiment that is more resistant to process variations due to local interlayer insulating film variation and the like.

【0026】次に図10に本願第1の発明による第2の
実施例を示す。第1の実施例と異なる点は往路を駆動す
るバッファ28と復路を駆動するバッファ29第2の往
路を駆動するバッファ30を設けている点である。ここ
でバッファ回路とは通常のCMOSインバータを複数段
直列接続したものやカレントミラー型作動増幅器等であ
る。第1の実施例と同じく往路の遅延(正確にはバッフ
ァでの遅延足す配線遅延)と復路(正確にはバッファで
の遅延足す配線遅延)が等しくなるように設計する。第
1の実施例と比較し特に長大な配線で伝搬波形の劣化が
問題になる場合この構成の方が好ましい。
Next, FIG. 10 shows a second embodiment according to the first invention of the present application. The difference from the first embodiment is that a buffer 28 for driving the forward path, a buffer 29 for driving the return path, and a buffer 30 for driving the second forward path are provided. Here, the buffer circuit is, for example, one in which a plurality of ordinary CMOS inverters are connected in series, a current mirror type operational amplifier, or the like. As in the first embodiment, the design is made such that the forward path delay (correctly, the delay in the buffer plus the wiring delay) and the return path (correctly, the delay in the buffer plus the wiring delay) are equal. This configuration is preferable when the deterioration of the propagation waveform becomes a problem particularly with a long wiring compared to the first embodiment.

【0027】この実施例においても往路26は基本的に
は位置の情報を持たず波形整形のみであるから、例えば
蛇行させて同じ長さにする事で実現できる。ただし局所
的な層間絶縁膜変動等よりプロセスバラツキに強いのは
実施例2である。
In this embodiment as well, the forward path 26 basically has no positional information and only performs waveform shaping, so that it can be realized, for example, by meandering to the same length. However, it is the second embodiment that is more resistant to process variations due to local interlayer insulation film variation and the like.

【0028】次に図11に本願第1の発明の好ましい使
用例を示す。半導体チップ61のほぼ中央に1往復半配
線(ないしは1往復半のバッファと配線)を設け、位相
を合わせたい論理回路60a,60b,60cとレシー
バー8a,8b,8cを一組としチップ61内に複数配
設する。チップ中央に配線する事によりチップ全体にほ
ぼ均等なクロックを供給し易い配置とする事ができる。
又、図11の実施例ではクロック入力をチップ端に設け
ているがチップ中央を起点としそこからチップ左右にそ
れぞれ配線しても良い。さらに又、本願第1の発明は半
導体チップのみならず後述する図14に示す様な複数の
LSIチップが搭載されたボードに対しても適用するこ
とが可能である。
Next, FIG. 11 shows a preferred use example of the first invention of the present application. One round trip half wiring (or one half round buffer and wiring) is provided at substantially the center of the semiconductor chip 61, and a set of logic circuits 60a, 60b, 60c and receivers 8a, 8b, 8c whose phases are to be matched is formed in the chip 61. Arrange multiple units. By wiring in the center of the chip, it is possible to arrange such that it is easy to supply a substantially uniform clock to the entire chip.
In the embodiment of FIG. 11, the clock input is provided at the chip end, but the clock input may be started from the center of the chip and wired to the left and right of the chip from there. Furthermore, the first invention of the present application can be applied not only to a semiconductor chip but also to a board on which a plurality of LSI chips as shown in FIG.

【0029】図12に本願第2の発明の一実施例を示
す。本実施例はこれまでのものと大きく異なっている。
これまでのものは基本的に往復配線に対し波形整形用の
入力部を設けたものであるが、この実施例ではチップ等
の基体上の1カ所のクロックソース70からほぼ同じ配
線幅の2本の配線73,74を時計回り反時計まわりと
2方向に設けている。これによりシャープな波形をいず
れの配線73,74をドライブするバッファ71,72
にも供給する事ができこれまでの実施例のような波形整
形の必要は無い。また配線1周分の遅延をTc,時計回
り配線73のバッファ部71からレシーバー入力部75
−2までの遅延をTdとするとバッファ72からレシー
バー入力部75−1までの遅延はTc−Tdと見積もら
れる為、 75−1点 Td 75−2点 Tc−Td の遅延であり、これらの平均をとる事により場所に依存
しないクロックを得られる。レシーバー77,78は前
述した図1のレシーバーの構成と同様でよい。
FIG. 12 shows an embodiment of the second invention of the present application. This embodiment is significantly different from the previous ones.
The conventional one is basically provided with a waveform shaping input section for the round-trip wiring, but in this embodiment, two clocks having substantially the same wiring width from one clock source 70 on a substrate such as a chip are provided. Are provided in two directions, clockwise and counterclockwise. As a result, buffers 71 and 72 for driving any of the wirings 73 and 74 can output sharp waveforms.
And the waveform shaping as in the previous embodiments is not required. The delay of one round of the wiring is Tc, and the buffer 71 of the clockwise wiring 73 is connected to the receiver input 75
Assuming that the delay up to −2 is Td, the delay from the buffer 72 to the receiver input unit 75-1 is estimated to be Tc−Td. , A clock that does not depend on the location can be obtained. The receivers 77 and 78 may have the same configuration as the receiver of FIG. 1 described above.

【0030】図13に本願第2の発明の他の実施例を示
す。LSIチップ80上の外周に前記実施例のように配
線する。これによりチップ上の場所によらず位相を合わ
せる事が出来、複数の論理回路等の回路79に対して位
相差のないクロックを供給する事ができる。
FIG. 13 shows another embodiment of the second invention of the present application. The wiring is formed on the outer periphery of the LSI chip 80 as in the above embodiment. Thus, the phase can be adjusted regardless of the location on the chip, and a clock having no phase difference can be supplied to a plurality of circuits 79 such as logic circuits.

【0031】次に図14に本願第2の発明の第2の実施
例を示す。この実施例は、メインシステム部90と、こ
のメインシステム部90に結合部91を介して接続され
たサブシステム部92とからなる電子回路装置である。
この実施例ではサブシステム部92には、メインメモリ
93,キャッシュメモリ94,及び論理回路95が搭載
されており、これらそれぞれは前記第13図に示した実
施例のように1ケ所のクロックソースから時計回りと反
時計回りの2方向に配設された2本のロック配線96
a,96bにレシーバー97a,97b,97cを介し
て接続されている。
FIG. 14 shows a second embodiment of the second invention of the present application. This embodiment is an electronic circuit device including a main system unit 90 and a subsystem unit 92 connected to the main system unit 90 via a coupling unit 91.
In this embodiment, the subsystem 92 includes a main memory 93, a cache memory 94, and a logic circuit 95, each of which is provided by a single clock source as in the embodiment shown in FIG. Two lock wires 96 arranged in two directions, clockwise and counterclockwise.
a, 96b via receivers 97a, 97b, 97c.

【0032】このような構成によれば機能の異なる集積
回路装置間でそれぞれの集積回路装置に安定したクロッ
クを供給することができる。この実施例では、サブシス
テム部に本願第2の発明を適用した例を示したが、図1
4においてメインシステム部90に適用してもよい。ま
た、メイン及びサブの両システム部90,92に適用し
てもよい。
According to such a configuration, a stable clock can be supplied to each integrated circuit device between integrated circuit devices having different functions. In this embodiment, an example in which the second invention of the present application is applied to a subsystem unit has been described.
4 may be applied to the main system unit 90. Further, the present invention may be applied to both the main and sub system units 90 and 92.

【0033】尚、前記メインシステム部90には例え
ば、通信機器、画像機器、メモリ機器等、所定の機能を
達成するための電子回路群98が含まれている。又、図
14では全ての論理回路及びメモリーにクロックが入力
しているが選択的に1部の論理回路及びメモリーでも良
い。さらにまた、サブシステム部92側の回路をメイン
システム部90側の回路よりも高速に動作させたい場合
には、メインシステム部90側のクロックを発振器等を
介してn倍(n>1)としてサブシステム部92のクロ
ックソースとして供給することにより実現することがで
きる。両方のシステム部90,92に同様のクロックを
供給するのであれば前記発振器等は設けなくてもよい。
The main system section 90 includes an electronic circuit group 98 for achieving a predetermined function, such as a communication device, an image device, and a memory device. In FIG. 14, the clock is input to all the logic circuits and memories, but a part of the logic circuits and memories may be selectively used. Furthermore, when it is desired to operate the circuit on the subsystem 92 side faster than the circuit on the main system section 90 side, the clock on the main system section 90 side is made n times (n> 1) via an oscillator or the like. It can be realized by supplying it as a clock source of the subsystem 92. If the same clock is supplied to both the system units 90 and 92, the oscillator or the like need not be provided.

【0034】次に、本願第2の発明の他の適用例を図1
5(a),(b)に示す。図15(a)は基体100上
に時計回り、反時計回りの2本のクロック配線の対が複
数、この場合は2対101a,101b設けられた例で
あり、図15(b)は基体100上の中央部に時計回
り、反時計回りの2本のクロック配線102a,102
bが図14か図15(a)よりも微小な領域内に配設さ
れ、論理回路メモリ等の各種回路103はその周辺に配
置された例である。ここで前記基体100はLSIチッ
プ或いは、複数のLSIチップを搭載したボードと考え
てもよい。例えば、図14に示したようにメインメモ
リ、キャッシュメモリ、論理回路(CPU等)を搭載し
たボードと考えてもよい。この様に本願発明のクロック
配線の配置は、基体100上の論理回路やメモリ等の各
種回路のレイアウトに応じて適宜変更して実施すること
が可能である。又、実施例を示す図12、13、14、
15においては入力クロックのバッファを時計回り、反
時計回りクロック配線のそれぞれにもうけているが、こ
れらを共通化して1個のバッファとしその出力を分岐し
て配線し、時計回り、反時計回りとしても良い。
Next, another application example of the second invention of the present application is shown in FIG.
5 (a) and 5 (b). FIG. 15A shows an example in which a plurality of clockwise and counterclockwise pairs of clock wirings are provided on the base 100, in this case, two pairs 101a and 101b are provided. FIG. Clockwise and counterclockwise two clock wires 102a and 102 are provided in the upper central portion.
14B is an example in which various circuits 103 such as a logic circuit memory are disposed in a smaller area than in FIG. 14 or FIG. 15A. Here, the base 100 may be considered as an LSI chip or a board on which a plurality of LSI chips are mounted. For example, as shown in FIG. 14, the board may be considered as a board equipped with a main memory, a cache memory, and a logic circuit (such as a CPU). As described above, the arrangement of the clock wiring according to the present invention can be appropriately changed and implemented according to the layout of various circuits such as a logic circuit and a memory on the base 100. Also, FIGS.
In FIG. 15, an input clock buffer is provided for each of clockwise and counterclockwise clock wirings, but these are shared to form a single buffer, and its output is branched and wired. Is also good.

【0035】以上の本願第1及び第2の発明の実施例で
は1本の配線クロックを供給しているが、相補的な信号
を持つ2本の配線によりクロックを供給する場合でも2
本を一組としその一組を配線する事により同様の位相合
わせ効果を得る事ができる。
In the above-described first and second embodiments of the present invention, a single wiring clock is supplied. However, even when a clock is supplied by two wirings having complementary signals, two clocks are supplied.
The same phase matching effect can be obtained by combining books as one set and wiring the set.

【0036】さらにまた、前記クロック配線の左右また
は上下にそれぞれVcc線またはVss線を配設し、隣
接配線からの雑音の影響を受けないようにシールドして
もよい。
Further, a Vcc line or a Vss line may be provided on the left and right or upper and lower sides of the clock wiring, respectively, and may be shielded from being affected by noise from an adjacent wiring.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、分散
した回路に回路の位置によらず同期したクロックを供給
する事ができる。また本発明において配線遅延を配線遅
延により検知するためプロセスばらつきにより効果が劣
化する事はない。
As described above, according to the present invention, a synchronized clock can be supplied to distributed circuits regardless of the positions of the circuits. Further, in the present invention, since the wiring delay is detected by the wiring delay, the effect does not deteriorate due to the process variation.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本願発明の概要を説明するための概略構成
図。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram for explaining the outline of the present invention.

【図2】 本願発明の概要を説明するための説明図。FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining an outline of the present invention.

【図3】 本願発明の概要を説明するための説明図。FIG. 3 is an explanatory diagram for explaining the outline of the present invention.

【図4】 本願発明の実施例に用いられる位相比較器の
回路図。
FIG. 4 is a circuit diagram of a phase comparator used in the embodiment of the present invention.

【図5】 本願発明の実施例に用いられる可変遅延回路
の回路図。
FIG. 5 is a circuit diagram of a variable delay circuit used in an embodiment of the present invention.

【図6】 本願発明の実施例に用いられる他の可変遅延
回路の回路図。
FIG. 6 is a circuit diagram of another variable delay circuit used in the embodiment of the present invention.

【図7】 本願第1の発明の実施例を説明するための説
明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining an embodiment of the first invention of the present application.

【図8】 本願第1の発明の実施例を示す概略構成図。FIG. 8 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of the first invention of the present application.

【図9】 本願第1の発明の第1の実施例を説明するた
めの説明図。
FIG. 9 is an explanatory diagram for explaining the first embodiment of the first invention of the present application.

【図10】 本願第1の発明の第2の実施例を示す概略
構成図。
FIG. 10 is a schematic configuration diagram showing a second embodiment of the first invention of the present application.

【図11】 本願第1の発明の使用例を説明するための
概略構成図。
FIG. 11 is a schematic configuration diagram for explaining a usage example of the first invention of the present application.

【図12】 本願第2の発明の一実施例を示す概略構成
図。
FIG. 12 is a schematic configuration diagram showing one embodiment of the second invention of the present application.

【図13】 本願第2の発明の実施例を示す概略構成
図。
FIG. 13 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of the second invention of the present application.

【図14】 本願第2の発明の使用例を示す概略構成
図。
FIG. 14 is a schematic configuration diagram showing a usage example of the second invention of the present application.

【図15】 本願第2の発明の他の適用例を示す概略構
成図。
FIG. 15 is a schematic configuration diagram showing another application example of the second invention of the present application.

【図16】 従来の問題点を説明するための説明図。FIG. 16 is an explanatory diagram for explaining a conventional problem.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…信号入力端子、2…復路、3…第2の往路、4…終
端、5…折り返し点、6−1…第1のレシーバーの第1
の入力端子、6−2…第1のレシーバーの第2の入力端
子、7−1…第2のレシーバーの第1の入力端子、7−
2…第2のレシーバーの第2の入力端子、8…第1のレ
シーバー、9…第1のレシーバーの第1の可変ディレイ
回路、10…第1のレシーバーの第2の可変ディレイ回
路、11…第1のレシーバーの位相検知回路、12…第
1のレシーバーの位相検知の出力、13…第1のレシー
バーの出力、14…第2のレシーバー、15…第2のレ
シーバーの第1の可変ディレイ回路、16…第2のレシ
ーバーの第2の可変ディレイ回路、17…第2のレシー
バーの位相検知回路、18…第2のレシーバーの位相検
知の出力、19…第1のレシーバーの出力、26…波形
整形器(第1の往路)、27…折り返し点
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Signal input terminal, 2 ... Return path, 3 ... Second outward path, 4 ... Terminal, 5 ... Return point, 6-1 ... First of first receiver
6-2... Second input terminal of the first receiver, 7-1... First input terminal of the second receiver, 7-
2 ... second input terminal of second receiver, 8 ... first receiver, 9 ... first variable delay circuit of first receiver, 10 ... second variable delay circuit of first receiver, 11 ... Phase detection circuit of first receiver, 12: output of phase detection of first receiver, 13: output of first receiver, 14: second receiver, 15: first variable delay circuit of second receiver , 16: second variable delay circuit of second receiver, 17: phase detection circuit of second receiver, 18: output of phase detection of second receiver, 19: output of first receiver, 26: waveform Shaper (first outgoing path), 27 ... turning point

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平8−54957(JP,A) 特開 平4−229634(JP,A) 特開 平4−205326(JP,A) 特開 平3−142553(JP,A) 特開 平6−96001(JP,A) 特開 昭57−79536(JP,A) 特開 平4−196462(JP,A) 特開 平2−51252(JP,A) 特開 平9−134226(JP,A) 特開 平8−181586(JP,A) 特開 平7−230336(JP,A) 特開 平6−236922(JP,A) 特開 平5−268206(JP,A) 特開 平5−12223(JP,A) 特開 平3−289813(JP,A) 特開 平9−97123(JP,A) 実開 昭64−27722(JP,U) 特表 平9−512935(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 1/10 H04L 7/00 H03K 5/00 H03K 19/0175 H01L 21/82 H01L 27/04 Continuation of front page (56) References JP-A-8-54957 (JP, A) JP-A-4-229634 (JP, A) JP-A-4-205326 (JP, A) JP-A-3-142553 (JP) JP-A-6-96001 (JP, A) JP-A-57-79536 (JP, A) JP-A-4-196462 (JP, A) JP-A-2-51252 (JP, A) JP-A-8-181586 (JP, A) JP-A-7-230336 (JP, A) JP-A-6-236922 (JP, A) JP-A-5-268206 (JP, A) A) JP-A-5-12223 (JP, A) JP-A-3-289813 (JP, A) JP-A-9-97123 (JP, A) JP-A 64-27722 (JP, U) −512935 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G06F 1/10 H04L 7/00 H03K 5/00 H03K 19/0175 H01L 21/82 H01L 27/04

Claims (10)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 メインシステム部と、そのメインシステ
ム部に接続されたサブシステム部とを有する電子回路装
置において、クロック・ソースと、互いの中間点に接続
され、且つ隣り合うように配置された往路部及び復路
部、並びに前記往路部の前段に配置された波形成形のた
めの遅延路が連続的に存在し、前記クロック・ソースか
らのクロック信号が前記遅延路の一端に入力されるクロ
ック配線と、前記往路部の任意の位置で夫々接続される
と共に、その任意の位置に隣接する前記復路部において
も接続され、前記任意の位置における夫々のクロック信
号間の遅延レベル量に基づいて、前記クロック・ソース
からのクロック信号に対して任意の遅延量を有するクロ
ック信号を供給する複数のクロック供給手段とを、前記
メインシステム部または前記サブシステム部の少なくと
も一方に備えることを特徴とする電子回路装置。
1. An electronic circuit device having a main system unit and a subsystem unit connected to the main system unit, wherein the clock source and the clock source are connected to an intermediate point of each other and arranged so as to be adjacent to each other. A clock path in which a forward path section, a return path section, and a delay path for waveform shaping arranged before the forward path section are continuously present, and a clock signal from the clock source is input to one end of the delay path And connected at an arbitrary position on the outward path, and also connected at the return path adjacent to the arbitrary position, based on a delay level between respective clock signals at the arbitrary position, A plurality of clock supply means for supplying a clock signal having an arbitrary delay amount with respect to a clock signal from a clock source; An electronic circuit device is provided in at least one of the subsystem units.
【請求項2】 クロック・ソースと、互いの中間点にお
いて接続され、且つ隣り合うように配置された往路部及
び復路部、並びに前記往路部の前段に配置された波形成
形のための遅延路が連続的に存在し、前記クロック・ソ
ースからのクロック信号が前記遅延路の一端に入力され
るクロック配線と、前記往路部の任意の位置で夫々接続
されると共に、その任意の位置に隣接する前記復路部に
おいても接続され、前記任意の位置における夫々のクロ
ック信号間の遅延レベルに基づいて、前記クロック・ソ
ースからのクロック信号に対して任意の遅延量を有する
クロック信号を供給する複数のクロック供給手段とを備
えることを特徴とする電子回路装置。
2. A forward path section and a return path section which are connected to a clock source at an intermediate point of each other and are disposed adjacent to each other, and a delay path for waveform shaping disposed at a stage preceding the forward path section. A clock line that exists continuously and is connected to a clock line from which a clock signal from the clock source is input to one end of the delay path at an arbitrary position on the outward path, and is adjacent to the arbitrary position. A plurality of clock supplies, which are also connected in the return path and supply a clock signal having an arbitrary delay amount with respect to the clock signal from the clock source based on the delay level between the respective clock signals at the arbitrary position. And an electronic circuit device.
【請求項3】 前記往路部の任意の位置に接続された第
1の入力端子と、その任意の位置に隣接する前記復路部
に接続された第2の入力端子と、一端が前記第1の入力
端子に、他端が位相比較器に接続された、前記第1の入
力端子から入力されるクロック信号を任意に遅延させる
ための直列接続された二つの可変制御遅延回路と、前記
第2の入力端子に接続され、前記第2の入力端子から入
力されるクロック信号と前記二つの可変制御遅延回路に
より遅延されたクロック信号との位相差を検出し、その
位相差に応じて前記二つの可変制御遅延回路に対して、
遅延量を変更するための制御信号を供給する位相比較器
とを有することを特徴とする請求項1又は2に記載の電
子回路装置。
3. A first input terminal connected to an arbitrary position on the outward path, a second input terminal connected to the return path adjacent to the arbitrary position, and one end of the first input terminal connected to the first input terminal. Two variable control delay circuits connected in series to an input terminal, the other end of which is connected to a phase comparator, for arbitrarily delaying a clock signal input from the first input terminal, and the second variable control delay circuit; A phase difference between a clock signal connected to an input terminal and input from the second input terminal and a clock signal delayed by the two variable control delay circuits is detected, and the two variable signals are detected in accordance with the phase difference. For the control delay circuit,
The electronic circuit device according to claim 1, further comprising a phase comparator that supplies a control signal for changing a delay amount.
【請求項4】 前記位相比較器は、前記位相差が0(ゼ
ロ)となるように、前記二つの可変制御遅延回路におけ
る遅延量を変更する制御信号を供給することを特徴とす
る請求項3に記載の電子回路装置。
4. The phase comparator supplies a control signal for changing a delay amount in the two variable control delay circuits so that the phase difference becomes 0 (zero). An electronic circuit device according to claim 1.
【請求項5】 前記遅延路、往路部、及び復路部は、夫
々、駆動バッファに接続された一つの入力端子を有する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の電子回路装
置。
5. The electronic circuit device according to claim 1, wherein the delay path, the forward path section, and the return path section each have one input terminal connected to a drive buffer.
【請求項6】 前記クロック配線は、前記メインシステ
ム部または前記サブシステム部の中央部に伸びているこ
とを特徴とする請求項1に記載の電子回路装置。
6. The electronic circuit device according to claim 1, wherein the clock wiring extends to a center of the main system unit or the sub system unit.
【請求項7】 前記クロック配線は、相補的な信号を供
給する二本の信号線を有することを特徴とする請求項1
又は2に記載の電子回路装置。
7. The clock line according to claim 1, wherein the clock line has two signal lines for supplying complementary signals.
Or the electronic circuit device according to 2.
【請求項8】 前記クロック配線に並行に配置された電
源配線Vcc及び電源配線Vssを更に有することを特
徴とする請求項1又は2に記載の電子回路装置。
8. The electronic circuit device according to claim 1, further comprising a power supply wiring Vcc and a power supply wiring Vss arranged in parallel with said clock wiring.
【請求項9】 前記メインシステム部または前記サブシ
ステム部のクロック信号のn倍の周波数(n>1)のク
ロック信号を前記メインシステム部または前記サブシス
テム部に供給する発振器を更に備えることを特徴とする
請求項1に記載の電子回路装置。
9. An oscillator for supplying a clock signal having a frequency n times (n> 1) of a clock signal of the main system unit or the sub-system unit to the main system unit or the sub-system unit. The electronic circuit device according to claim 1, wherein
【請求項10】 複数の駆動バッファがクロック配線の
夫々に等間隔に挿入されていることを特徴とする請求項
1又は2に記載の電子回路装置。
10. The electronic circuit device according to claim 1, wherein a plurality of driving buffers are inserted at equal intervals in each of the clock wirings.
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