JP3886642B2 - High frequency gain variable amplifier circuit - Google Patents
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 19
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 101100484930 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) VPS41 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- 101150073536 FET3 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は高周波利得可変増幅回路、特に超短波から準マイクロ波等の信号を対象とした利得可変機能を持つ増幅回路の構成に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、超短波から準マイクロ波等の信号を扱う通信装置等において、高周波信号の利得を可変制御する増幅回路が用いられており、この種の増幅回路としては、例えば図8に示されるものがある。
図8において、高周波信号を印加する入力端子T1には、デュアルゲート構造の第1の電界効果トランジスタ(以下FETとする)1が入力整合回路6を介して接続され、増幅処理を施した高周波信号を出力する出力端子T2には、利得可変時に上記第1のFET1の出力反射特性の劣化を後段に影響させないようにするために、第2のFET2が入力整合回路7を介して接続される。
【0003】
上記第1のFET1にはその動作を確保するために、図示の位置に抵抗素子(以下抵抗とする)9,10及び容量素子(以下容量とする)11、他方のFET2には抵抗12,13及び容量14が配置されており、この容量11,14は各FET1,2のソース電極(以下ソースとする)を高周波的に接地する役目をする。また、第1のFET1ドレイン(以下ドレインとする)と第2のFET2のゲート電極(以下ゲートとする)との間には、DCカットとインピーダンス整合のために、容量15が接続される。
【0004】
そして、上記のデュアル構造の第1のFET1の第2ゲートに、抵抗16を介して利得制御電圧を与えるための端子T3 が配置され、この利得制御電圧に基づいて第2のFET2から出力される信号の利得が制御される。また、これら第1のFET1及び第2のFET2のドレインと電源端子T4との間に、インダクタ18及び19が配置され、これらのインダクタ18,19により、各FET1と2のドレイン間の高周波的なアイソレーションが高くなる。なお、上記電源端子T4は容量20を介して高周波的に接地される。
【0005】
このような構成の利得可変増幅回路によれば、第2のFET2により第1のFET1の出力反射特性の劣化を後段に影響させない形で、所定の利得範囲での安定な動作を実現することができる。即ち、上記第2のFET2を使用しない場合は、上記第1のFET1の第2ゲート電極に利得制御電圧を印加して利得を変化させると、第1のFET1の出力反射特性の変化が大きいため、第1のFET1の後段に接続するフィルタや増幅器に影響を与え、通信装置系等の特性の悪化や不安定な動作を招くことになる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記図8のような従来の回路では、付加した上記第2のFET2を動作させるための新たな電流が必要になり、低消費電流動作を実現できないという問題があった。
【0007】
また、上記第2のFET2を配置した場合でも、増幅利得を変化させる場合に出力反射特性の劣化を十分に抑えることができず、しかも広帯域で動作させると、特定の周波数で入力反射特性の劣化が生じるという不具合もある。
更には、上記利得の可変幅を広くする回路構成にすると、総合利得可変特性の傾斜の直線性等を考慮した安定な動作が確保し難くなるという問題もある。
【0008】
本発明は上記間題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、低消費電流で動作させることができ、利得を変化させても入出力反射特性の劣化が小さくなり、かつ可変利得幅を広くする場合でも安定した動作が確保できる高周波利得可変増幅回路構造を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1記載の発明は、高周波信号をゲート電極に入力する第1のトランジスタと、当該高周波信号をドレイン電極から出力する第2のトランジスタと、上記第1のトランジスタのドレイン電極と上記第2のトランジスタのソース電極との間に接続され、上記電極間の高周波的なアイソレーションを大きくするためのインダクタ素子又は抵抗素子と、上記第2のトランジスタのソース電極での高周波的なインピーダンスを低くする容量素子と、を含み、上記第1及び第2のトランジスタが電源からの電流を直列に共有する構成とした高周波利得可変増幅回路であって、上記第1及び第2のトランジスタで得られる利得を変化させる可変抵抗素子として、第3のトランジスタ及びこの第3のトランジスタのドレイン・ソース電極間に配置した抵抗素子を、上記第1と第2のトランジスタ間の上記インダクタ素子又は抵抗素子に対し直列に接続したことを特徴とする。
請求項2記載の発明は、上記第1のトランジスタのドレイン電極と上記第2のトランジスタのゲート電極の間に接続され、信号減衰器として動作する第4のトランジスタを設け、上記第1及び第2のトランジスタから得られる利得を可変する上記第3のトランジスタのゲート電極に印加される利得可変制御電圧を、上記第4のトランジスタのゲート電極にも接続し、上記第4のトランジスタのドレイン電極と上記電源の間、この第4のトランジスタのドレイン電極と接地電位の間、上記第4のトランジスタのソース電極と上記電源又は接地電位の間に、上記第3のトランジスタによる利得可変特性を加味した上記第4のトランジスタによる信号減衰特性の利得可変制御電圧に対する総合利得可変特性の傾斜の直線性を補正するためのバイアス抵抗素子を接続したことを特徴とする。
【0010】
請求項3記載の発明は、上記第4のトランジスタのソース電極側に配置した上記バイアス抵抗素子を、上記第2のトランジスタのゲート電極のバイアス抵抗も兼ねるように構成したことを特徴とする。
請求項4記載の発明は、上記第1のトランジスタ及び第2のトランジスタのそれぞれのドレイン・ゲート電極間に直列に抵抗素子及び容量素子を接続し、上記第1のトランジスタ及び第2のトランジスタを広帯域増幅器として構成し、上記入力端子と上記第1のトランジスタのゲート電極の間に、この入力端子から見て特定の周波数における入力反射特性を補正するためのインダクタ素子を接続したことを特徴とする。
請求項5記載の発明は、上記構成の利得可変増幅回路を集積回路として形成したことを特徴とする。
【0011】
上記請求項1の構成によれば、第1及び第2のトランジスタが従来のように電源電流を並列ではなく直列に共有することになるので、低電流で動作させることができる。また、可変抵抗機能を持つ第3のトランジスタ及び抵抗素子により、利得可変制御が実行され、かつ容量素子により第2のトランジスタのソースが高周波的に接地されるので、利得可変時の出力反射性の劣化を良好に抑制することができる。
【0012】
上記請求項2の構成によれば、第4のトランジスタを信号減衰器として機能させることにより、利得可変幅を大きくすることができ、バイアス抵抗素子の値を適宜選択することにより総合利得可変特性の傾斜の直線性を改善することができる。
上記請求項3の構成によれば、第4のトランジスタのソース電極側のバイアス抵抗素子と第2のトランジスタのゲート電極のバイアス抵抗素子を共用したので、抵抗素子の数が減ると共に、これらトランジスタ間に配置していたDCカットの容量素子も不要となる。
【0013】
上記請求項4の構成によれば、広帯域利得可変増幅回路となるが、この場合の特定周波数の入力反射特性の補正が行われるので、広帯域で利得可変させる動作において入力反射特性の劣化を小さく維持することができる。
上記請求項5の構成によれば、集積回路化しない場合に比べて端子数を減らすことができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
図1には、実施形態の第1例に係る高周波利得可変増幅回路の構成が示されており、図1において、高周波信号の入力端子T1と当該高周波信号の出力端子T2との間に、デュアル構造の第1のFET1、出力反射特性を改善するための第2のFET2、可変抵抗機能(詳細は後述)を担う第3のFET3が配置されるが、これらのFET1〜3は電源に対して直列に配置される。即ち、電源端子T4とグランド(GND)との間に、図示されるように第2のFET2のドレイン電極(以下ドレインとする)→そのソース電極(以下ソースとする)→第3のFET3のドレイン→そのソース→第1のFET1のドレイン(容量38でDCカットされる)→そのソースの順に接続される。これにより、これらのFET1〜3は電源電流を直列に共有することになる。
【0015】
上記第1のFET1は、自己バイアス方式の増幅器であり、そのソースは抵抗10により自己バイアスされ、ゲート電極(以下ゲートとする)は抵抗9により接地電位にバイアスされる。この第1のFET1のソースは、容量11によって高周波的なインピーダンスが下げられており、このソースと接地電位との間のインピーダンスが高周波的に影響を与えないようになっている。そして、このFET1の第2ゲートはそのソースへ短絡させる。また、この第1のFET1のドレイン・ゲート電極間に直列に、抵抗22及び容量23が接続され、これによって負帰還を構成して当該FET1を広帯域増幅器として動作させている。
【0016】
上記第2のFET2は、固定バイアス方式の増幅器であり、そのゲートは抵抗24と抵抗25で電源電圧を分割した電圧にバイアスされ、この第2のFET2においても、そのドレイン・ゲート電極間に直列に配置した抵抗26及び容量27によって負帰還を構成し、広帯域増幅器として動作させる。
【0017】
そして、この第2のFET2のソースと上記第1のFET1のドレインとの間に、この両者間の高周波的なアイソレーションを高くするためのインダクタ18(このインダクタの代りに抵抗を配置する場合もある)が配置されるが、このインダクタ18と第2のFET2のソースとの間に、利得可変時の可変抵抗機能を果たすため、上記第3のFET3と抵抗29(これは第3のFET3のドレイン・ソース電極間に配置)を並列に接続する。この第3のFET3のゲートに、抵抗30を介して利得可変制御電圧端子T3が配置される。この可変抵抗機能によれば、ここで発生する電圧降下を利用し、上記第1のFET1のドレインにかかる電圧を変えることによって、上記第1のFET1の利得を変化させることができる。
【0018】
また、この第2のFET2のソース電極は容量32で高周波的にGNDへ接地しており、このソース電極での直流電圧が利得可変時に変化しなければ増幅器の特性は大きく変らないため、利得可変時の当該第2のFET2の出力反射特性の劣化は小さくなる。
【0019】
更に、上記の第1のFET1と第2のFET2の間に、第4のFET4を接続し、これをFET1,2から構成される広帯域増幅器の段間における高周波減衰器として動作させている。即ち、この第4のFET4のドレインのバイアス電圧として、抵抗33と抵抗34で電源電圧を分圧した電圧を設定し、この第4のFET4のソースのバイアス電圧は、抵抗35で電源電圧にプルアップされる。そして、この第4のFET4のゲートは抵抗36を介して上述した制御電圧端子T3に接続される。
【0020】
この高周波減衰器としての第4のFET4は、減衰特性が最小のとき、当該FET4のドレイン・ソース間が導通状態となり、このとき、上記第4のFET4のドレインとソースには、上記抵抗33と抵抗35の並列合成抵抗と上記抵抗34で電源電圧を分圧したバイアスがかかる。そして、これらの抵抗値で第4のFET4のドレインとソースに異なるバイアスを印加することにより、減衰特性の傾斜を調整し、第3のFET3が持つ利得可変特性を含んだ形での上記第4のFET4による信号減衰特性の利得可変制御電圧に対する総合利得可変特性の傾斜の直線性を改善することができる。
【0021】
また、図示されるように、上記第2のFET2のゲートと第4のFET4のソースとの間には、DC(直流)カットをするための容量37が配置され、この第4のFET4のドレインと第1のFET1のドレインとの間にも、DCカット用の容量38が設けられる。
更に、上記入力端子T1と第1のFET1のゲートとの間には、容量39を介して、入力反射特性を改善するためのインダクタ40が接続されており、詳細は後述するが、このインダクタ40によって、広帯域で利得可変をする増幅器において特定周波数の入力反射特性の向上を図ることができる。
【0022】
このような第1例の構成によれば、上述したように、第1のFET1〜第3のFET3が電源電流を直列に共有することになるので、低電流で動作させることができる。
また、第2のFET2のソースとインダクタ18との間に、可変抵抗機能を持つ第3のFET3及び抵抗29を配置したので、従来のように第1のFET1の第2ゲートに制御電圧を与えるのではなく、第1のFET1と第2のFET2の間の可変抵抗機能で利得可変制御を行うことができる。
【0023】
即ち、上記端子T3に印加される利得可変制御電圧Vcは、抵抗30を介して上記第3のFET3のゲートに与えられ、この制御電圧Vcが上記第2のFET2のソース電圧Vsより高い程、可変抵抗部分の抵抗値は小さくなり、上記第1のFET1の利得は大きくなる。一方、当該利得可変制御電圧Vcが上記第2のFET2のソース電圧Vsより低い程、可変抵抗部分の抵抗値は大きくなり、上記第1のFET1の利得は小さくなる。
そして、このような利得可変制御において、上記の第2のFET2のソースが容量32によって高周波的に接地されるので、このソース電極の電圧は変化せず、出力反射特性の劣化が小さくなる。
【0024】
図4には、利得を変化させた場合の上記第2のFET2のソース電圧、第1のFET1のドレイン電圧及びソース電圧の変化が示されている。このグラフは、第1乃至第3のFET1〜3として、ピンチオフ電圧が−1VのGaAs(ガリウム砒素)MES(Metal Semiconductor)の電界効果トランジスタを用い、電源電圧(VDD)を3Vとし、利得可変制御電圧(Vc)を0〜3Vまで変えたときの各電圧の特性である。この図4に示されるように、第2のFET2のソース電圧は、利得が変わってもほとんど変化しておらず、第2のFET2の各電極の直流バイアスには変化がないことになり、出力反射特性の劣化が小さいことが理解される。
【0025】
図5には、上記実施形態の第1例の高周波利得可変回路において、第1乃至第4のFET1〜4に、上記と同様にピンチオフ電圧が−1VのGaAsMESFETを用い、電源電圧を3Vとして利得可変制御電圧(Vc)を0〜3Vまで変えたときの第4のFET4のドレイン電圧とソース電圧の特性が示されている。
【0026】
図示されるように、当該第1例の第4のFET4のドレイン電圧とソース電圧は、制御電圧が1Vよりも低くなるときに、異なる電圧が印加されるように設定されており、これによって、総合利得可変特性の傾斜をほぼ直線に維持することができる。この傾斜の直線性については、他の実施形態例と比較して後述する。
【0027】
図2には、実施形態の第2例の構成が示されており、この高周波利得可変増幅回路でも、上記第1例と同様に、入力端子T1と出力端子T2との間に、第1のFET1、第2のFET2及び第3のFET3が電源端子T4から接地電位を見て、電源電流を直列に共用するように接続し、この第1のFET1と第2のFET2の間には、第4のFET4を接続し、これを広帯域増幅器(第1及び第2のFET1,2で構成される)の段間における高周波減衰器として動作させる。
【0028】
そして、この第2例では、上記第4のFET4のドレインのバイアス電圧が図の抵抗33で電源電圧にプルアップし、上記第4のFET4のソースのバイアス電圧が図の抵抗24と抵抗25で電源電圧を分圧した電圧で設定されるようにし、上記第2のFETのゲートのバイアス抵抗である抵抗24,25を、第4のFET4のバイアス抵抗としても用いる。
【0029】
即ち、この第4のFET4のドレインとソースは同一の特性を示すので、第1例の第4のFET4のドレイン側の抵抗33,34をソース側へ、一方ソース側の抵抗35をドレイン側へ配置することが可能である。そこで、第2例は第1例の抵抗33と34を抵抗24と25で代用し、抵抗35を抵抗33で代用することにより、第2のFET2のゲートのバイアス抵抗と第4のFET4のソースのバイアス抵抗を共用することができる。
この第2例によれば、抵抗素子の数を減らすことができると共に、DCカットの役目をする容量37も不要となり、部品点数の削減が図られるという利点がある。
【0030】
図3には、実施形態の第3例の構成が示されており、この第3例の場合も、上述した第1のFET1乃至第4のFET4及びそれに付属する接続構成は、第1例と同様となる。そして、この第3例では、上記第4のFETのドレインとソースに、電源電圧を抵抗42と抵抗43で分圧した電圧に対し更に抵抗44と抵抗45を介して設定された電圧が与えられる。
【0031】
このような第3例によっても、一つの電源ラインに第1のFET1から第3のFET3をシリーズに接続して低電流で動作させることができ、第3のFET3及び抵抗29の可変抵抗機能と高周波的接地のための容量32を設けることによって、出力反射特性の劣化を小さく維持することができるという利点がある。
【0032】
図6には、上記第1例、第2例及び第3例のそれぞれの回路での周波数の利得可変特性(第1例を実線、第2例を点線、第3例を鎖線で表す)が示される。この図6は、1.5GHzの周波数についての特性であり、この図から理解されるように、全ての例で40dB以上の範囲において利得可変が可能となっている。そして、第1例と第2例の回路は、上記第3例の回路よりも利得可変特性の傾斜の直線性が改善されている。
【0033】
即ち、第1例及び第2例は、第4のFET4の各電極のバイアス抵抗24,25,33〜35の値を調整することにより、第3のFET3によって与えられる利得可変特性を加味した総合利得可変特性傾斜の直線性が改善されているのに対し、この第3例の場合は、第4のFET4のドレインとソースが常に同じ電圧となるので、上記第4のFET4の信号減衰特性が与えられた状態での利得可変制御電圧に対する総合利得可変特性の傾斜の直線性が補償されないためである。
【0034】
更に、上記実施形態の第1例乃至第3例の高周波利得可変回路では、上述したように、入力端子T1と第1のFET1との間にインダクタ40を設けており、このインダクタ40によって、広帯域の利得可変増幅回路として構成したものを狭帯域周波数で動作させる場合に、利得可変時の特定の周波数における入力反射特性を改善することができる。
【0035】
図7には、上記第1例の回路において850MHzの特定周波数につき、利得可変制御電圧で利得可変制御を実行したときの入力VSWR(電圧定在波比)特性(実線)及び出力VSWR特性(点線)と、この第1例回路から上記インダクタ40を除いたときの入力VSWR特性(鎖線)が示される。この図7によれば、実線の第1例の特性が鎖線のインダクタ40を含まない場合の特性に比べて良好になっていることが分る。
【0036】
また、上記の各例の回路は集積回路化することが好ましく、これによれば端子数を少なくすることができる。即ち、従来の図8で集積回路化しない場合を考えると、インダクタ18に対する電源端子が必要で、これとGND端子を加えると、6本の端子を設けなければならない。これに対し、本発明では、各図に示されるように、入出力端子T1,T2、利得制御電圧端子T3、電源端子T4にGND端子を加えた5本となり、端子数が減ることになる。
【0037】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1の発明によれば、高周波利得可変増幅回路の入力側の第1トランジスタと出力側の第2トランジスタを電源端子から接地電位を見て、この電源電流を直列に共有する構成としたので、低電流での動作が可能となり、省電力化に貢献することができる。また、直列配置の第1と第2のトランジスタの間に、利得可変用の第3のトランジスタ及び抵抗素子を配置すると共に、第2のトランジスタのソース・接地電位間に高周波的接地のための容量素子を接続したので、第2のトランジスタの高周波的な出力インピーダンスを変えない状態で上記第1のトランジスタの利得を変化させ、利得可変時の出力反射性の劣化を抑制することが可能となる。
【0038】
請求項2と請求項3の発明によれば、当該増幅回路の利得可変幅を大きくするために、第4のトランジスタを上記第1と第2のトランジスタの信号ラインの間に配設し、高周波信号減衰器の機能を付加すると共に、バイアス抵抗素子を設けたので、第3のトランジスタと第4のトランジスタが一つの利得可変制御電圧で連動する高周波利得可変増幅器が構成される。また、第4のトランジスタの信号減衰特性をバイアス電圧で調整することにより、第3のトランジスタによって与えられる利得可変特性を加味した、上記第4のトランジスタによる信号減衰特性の利得可変制御電圧に対する総合利得可変特性の傾斜の直線性を改善することが可能となる。
【0039】
しかも、この請求項3の発明によれば、第2のトランジスタのゲート側のバイアス抵抗と、第4のトランジスタのソース側のバイアス抵抗を共用したので、バイアス抵抗及びDCカットのための容量素子が不要となり、回路素子の点数を減らすことができるという利点がある。
【0040】
請求項4の発明によれば、上記第1と第2のトランジスタに負帰還回路を付加して広帯域の利得可変増幅回路とした場合で、この第1のトランジスタのゲートと入力端子の間にインダクタを配置し、所定帯域内の特定周波数における入力反射特性を良好にしたので、利得可変時の入力反射特性の劣化を改善することが可能となる。
【0041】
請求項5の発明によれば、上記請求項1乃至請求項4の増幅器を集積回路とすることにより、少ない端子で安定した動作する増幅回路が得られるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態の第1例に係る高周波利得可変増幅回路の構成を示す図である。
【図2】実施形態の第2例に係る高周波利得可変増幅回路の構成を示す図である。
【図3】実施形態の第3例に係る高周波利得可変増幅回路の構成を示す図である。
【図4】第1例の回路において、利得可変制御電圧を変えたときの第1のFETのソース電極電圧及びドレイン電極電圧、第2のFETのソース電極電圧の特性を示すグラフである。
【図5】第1例の回路において、利得可変制御電圧を変えたときの第4のFETのドレイン電極電圧及びソース電極電圧の特性を示すグラフである。
【図6】第1例、第2例及び第3例の回路において、利得可変制御電圧を変えたときの利得特性(第1例を実線、第2例を点線、第3例を鎖線で表す)を示すグラフである。
【図7】第1例の回路において、利得可変制御電圧を変えたときの入力VSWR特性(実線)及び出力VSWR特性(点線)、第1例回路からインダクタ素子を取り除いた場合の入力VSWR特性(鎖線)を示すグラフである。
【図8】従来の高周波利得可変増幅回路の構成を示す図である。
【符号の説明】
T1 … 入力端子、T2 … 出力端子、
T3 … 利得可変制御電圧端子、T4 … 電源端子、
1 … 第1のFET、2 … 第2のFET、
3 … 第3のFET、4 … 第4のFET、
6 … 入力整合回路、7 … 出力整合回路、
9,10,13,16,22,24,25,26,29,30,33〜36,42〜45 … 抵抗素子、
11,14,20,21,23,27,32,37〜39 … 容量素子、
18,19,40 … インダクタ素子。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a high-frequency gain variable amplifier circuit, and more particularly to a configuration of an amplifier circuit having a variable gain function for signals from ultrashort to quasi-microwave.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, an amplifier circuit that variably controls the gain of a high-frequency signal has been used in a communication apparatus or the like that handles signals such as ultra-short waves to quasi-microwaves. As this type of amplifier circuit, for example, the one shown in FIG. is there.
In FIG. 8, a dual-gate first field effect transistor (hereinafter referred to as FET) 1 is connected to an input terminal T1 to which a high-frequency signal is applied via an
[0003]
In order to ensure the operation of the
[0004]
A terminal T3 for providing a gain control voltage via the
[0005]
According to the variable gain amplifying circuit having such a configuration, the
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, the conventional circuit as shown in FIG. 8 requires a new current for operating the added
[0007]
Further, even when the
Furthermore, if the circuit configuration is made to widen the variable gain range, there is a problem that it is difficult to ensure a stable operation considering the linearity of the slope of the overall variable gain characteristic.
[0008]
The present invention has been made in view of the above problems, and its purpose is to enable operation with low current consumption, to reduce deterioration of input / output reflection characteristics even when the gain is changed, and to provide a variable gain width. An object of the present invention is to provide a high-frequency gain variable amplifier circuit structure that can ensure a stable operation even when widening is performed.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the invention described in
According to a second aspect of the present invention, there is provided a fourth transistor which is connected between the drain electrode of the first transistor and the gate electrode of the second transistor and operates as a signal attenuator. The variable gain control voltage applied to the gate electrode of the third transistor that changes the gain obtained from the transistor is connected to the gate electrode of the fourth transistor, and the drain electrode of the fourth transistor and the gate electrode of the fourth transistor The third transistor, taking into account the variable gain characteristics of the third transistor, between the power source, between the drain electrode of the fourth transistor and the ground potential, and between the source electrode of the fourth transistor and the power source or the ground potential. Bias for correcting the linearity of the slope of the overall variable gain characteristic with respect to the variable gain control voltage of the signal attenuation characteristic of the transistor 4 Characterized in that connecting the anti element.
[0010]
According to a third aspect of the present invention, the bias resistance element disposed on the source electrode side of the fourth transistor is configured to also serve as a bias resistance of the gate electrode of the second transistor.
According to a fourth aspect of the present invention, a resistor element and a capacitor element are connected in series between the drain and gate electrodes of the first transistor and the second transistor, and the first transistor and the second transistor are connected in a wide band. It is configured as an amplifier, and an inductor element for correcting input reflection characteristics at a specific frequency when viewed from the input terminal is connected between the input terminal and the gate electrode of the first transistor.
The invention described in
[0011]
According to the configuration of the first aspect, since the first and second transistors share the power supply current in series instead of in parallel as in the prior art, they can be operated with a low current. Further, since the variable gain control is executed by the third transistor and the resistive element having the variable resistance function, and the source of the second transistor is grounded at a high frequency by the capacitive element, the output reflectivity when the gain is variable can be obtained. Degradation can be satisfactorily suppressed.
[0012]
According to the configuration of the second aspect, the variable gain width can be increased by causing the fourth transistor to function as a signal attenuator, and the total gain variable characteristic can be increased by appropriately selecting the value of the bias resistance element. The linearity of the slope can be improved.
According to the third aspect of the present invention, since the bias resistance element on the source electrode side of the fourth transistor and the bias resistance element on the gate electrode of the second transistor are shared, the number of resistance elements is reduced and the number of resistance elements is reduced. The DC-cut capacitive element arranged in the above is also unnecessary.
[0013]
According to the configuration of the fourth aspect, the wideband gain variable amplifier circuit is provided. In this case, the input reflection characteristic of a specific frequency is corrected, so that the deterioration of the input reflection characteristic is kept small in the operation of varying the gain in a wide band. can do.
According to the configuration of the fifth aspect, the number of terminals can be reduced as compared with the case where the circuit is not integrated.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 shows a configuration of a high-frequency gain variable amplifier circuit according to a first example of the embodiment. In FIG. 1, a dual is provided between an input terminal T1 for a high-frequency signal and an output terminal T2 for the high-frequency signal. A
[0015]
The
[0016]
The
[0017]
An
[0018]
Further, the source electrode of the
[0019]
Further, a fourth FET 4 is connected between the
[0020]
The fourth FET 4 as the high-frequency attenuator is in a conductive state between the drain and source of the FET 4 when the attenuation characteristic is minimum. At this time, the
[0021]
As shown in the figure, a
Further, an
[0022]
According to such a configuration of the first example, as described above, the
Further, since the
[0023]
That is, the variable gain control voltage Vc applied to the terminal T3 is applied to the gate of the
In such variable gain control, the source of the
[0024]
FIG. 4 shows changes in the source voltage of the
[0025]
In FIG. 5, in the high frequency gain variable circuit of the first example of the above embodiment, GaAs MESFETs having a pinch-off voltage of -1V are used for the first to
[0026]
As shown in the figure, the drain voltage and the source voltage of the fourth FET 4 of the first example are set so that different voltages are applied when the control voltage is lower than 1 V. The slope of the overall gain variable characteristic can be maintained almost linear. This linearity of inclination will be described later in comparison with other embodiments.
[0027]
FIG. 2 shows the configuration of the second example of the embodiment. In this high-frequency gain variable amplifier circuit as well, the first example is provided between the input terminal T1 and the output terminal T2, as in the first example. The FET1, the second FET2, and the third FET3 are connected so as to share the power supply current in series when the ground potential is seen from the power supply terminal T4, and between the first FET1 and the second FET2, 4 FETs 4 are connected, and this is operated as a high-frequency attenuator between the stages of the broadband amplifier (comprising the first and
[0028]
In the second example, the drain bias voltage of the fourth FET 4 is pulled up to the power supply voltage by the
[0029]
That is, since the drain and the source of the fourth FET 4 exhibit the same characteristics, the
According to the second example, the number of resistance elements can be reduced, and the
[0030]
FIG. 3 shows the configuration of the third example of the embodiment, and also in the case of the third example, the first to fourth FETs 4 to 4 and the connection configuration attached thereto are the same as those of the first example. It becomes the same. In this third example, a voltage set via a
[0031]
According to the third example, the
[0032]
FIG. 6 shows frequency gain variable characteristics (the first example is represented by a solid line, the second example is represented by a dotted line, and the third example is represented by a chain line) in each of the circuits of the first example, the second example, and the third example. Indicated. FIG. 6 shows the characteristics for a frequency of 1.5 GHz. As can be understood from this figure, the gain can be varied in a range of 40 dB or more in all examples. In the circuits of the first and second examples, the linearity of the slope of the variable gain characteristic is improved as compared with the circuit of the third example.
[0033]
That is, in the first example and the second example, the values of the
[0034]
Furthermore, in the high-frequency gain variable circuits of the first to third examples of the above-described embodiment, as described above, the
[0035]
FIG. 7 shows an input VSWR (voltage standing wave ratio) characteristic (solid line) and an output VSWR characteristic (dotted line) when variable gain control is executed with a variable gain control voltage for a specific frequency of 850 MHz in the circuit of the first example. ) And the input VSWR characteristic (dashed line) when the
[0036]
Moreover, it is preferable that the circuits of the above examples are integrated circuits, and according to this, the number of terminals can be reduced. That is, considering the case where the conventional integrated circuit is not used in FIG. 8, a power supply terminal for the
[0037]
【The invention's effect】
As described above, according to the first aspect of the present invention, the first transistor on the input side and the second transistor on the output side of the high frequency gain variable amplifier circuit are viewed from the power supply terminal and the power supply current is connected in series. Since the configuration is shared, it is possible to operate at a low current and contribute to power saving. In addition, a third transistor for variable gain and a resistance element are arranged between the first and second transistors arranged in series, and a capacitor for high-frequency grounding is provided between the source and ground potential of the second transistor. Since the elements are connected, it is possible to change the gain of the first transistor without changing the high frequency output impedance of the second transistor, and to suppress the deterioration of output reflectivity when the gain is variable.
[0038]
According to the second and third aspects of the invention, in order to increase the gain variable width of the amplifier circuit, the fourth transistor is disposed between the signal lines of the first and second transistors, Since the function of the signal attenuator is added and the bias resistance element is provided, a high-frequency gain variable amplifier in which the third transistor and the fourth transistor are interlocked with one gain variable control voltage is configured. Further, by adjusting the signal attenuation characteristic of the fourth transistor with the bias voltage, the total gain with respect to the gain variable control voltage of the signal attenuation characteristic of the fourth transistor, taking into account the variable gain characteristic given by the third transistor. It becomes possible to improve the linearity of the slope of the variable characteristic.
[0039]
Moreover, according to the third aspect of the present invention, since the bias resistance on the gate side of the second transistor and the bias resistance on the source side of the fourth transistor are shared, the bias resistance and the capacitive element for DC cut are provided. There is an advantage that it becomes unnecessary and the number of circuit elements can be reduced.
[0040]
According to a fourth aspect of the present invention, when a negative feedback circuit is added to the first and second transistors to form a wide-band gain variable amplifier circuit, an inductor is provided between the gate and the input terminal of the first transistor. Since the input reflection characteristics at a specific frequency within a predetermined band are improved, it is possible to improve the deterioration of the input reflection characteristics when the gain is variable.
[0041]
According to the invention of
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a high-frequency gain variable amplifier circuit according to a first example of an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a high-frequency gain variable amplifier circuit according to a second example of the embodiment.
FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of a high-frequency gain variable amplifier circuit according to a third example of the embodiment.
4 is a graph showing the characteristics of the source electrode voltage and drain electrode voltage of the first FET and the source electrode voltage of the second FET when the variable gain control voltage is changed in the circuit of the first example. FIG.
FIG. 5 is a graph showing the characteristics of the drain electrode voltage and the source electrode voltage of the fourth FET when the gain variable control voltage is changed in the circuit of the first example.
6 shows gain characteristics when the variable gain control voltage is changed in the circuits of the first example, the second example, and the third example (the first example is represented by a solid line, the second example is represented by a dotted line, and the third example is represented by a chain line). ).
7 shows input VSWR characteristics (solid line) and output VSWR characteristics (dotted line) when the variable gain control voltage is changed in the circuit of the first example, and input VSWR characteristics when the inductor element is removed from the circuit of the first example ( It is a graph which shows a dashed line.
FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a conventional high-frequency gain variable amplifier circuit.
[Explanation of symbols]
T1 ... input terminal, T2 ... output terminal,
T3: Variable gain control voltage terminal, T4: Power supply terminal,
1 ... 1st FET, 2 ... 2nd FET,
3 ... 3rd FET, 4 ... 4th FET,
6 ... Input matching circuit, 7 ... Output matching circuit,
9, 10, 13, 16, 22, 24, 25, 26, 29, 30, 33 to 36, 42 to 45 ... resistance elements,
11, 14, 20, 21, 23, 27, 32, 37 to 39 ... capacitive elements,
18, 19, 40: Inductor element.
Claims (5)
上記第1及び第2のトランジスタで得られる利得を変化させる可変抵抗素子として、第3のトランジスタ及びこの第3のトランジスタのドレイン・ソース電極間に配置した抵抗素子を、上記第1と第2のトランジスタ間の上記インダクタ素子又は抵抗素子に対し直列に接続したことを特徴とする高周波利得可変増幅回路。A first transistor that inputs a high-frequency signal to the gate electrode, a second transistor that outputs the high-frequency signal from the drain electrode, and a drain electrode of the first transistor and a source electrode of the second transistor An inductor element or resistor element connected to increase the high-frequency isolation between the electrodes, and a capacitor element reducing the high-frequency impedance at the source electrode of the second transistor, The first and second transistors share the current from the power supply in series ,
As a variable resistance element for changing the gain obtained above Symbol first and second transistors, the third transistor and a resistor element disposed between the drain and source electrode of the third transistor, the first and second A high-frequency gain variable amplifier circuit, wherein the inductor element or resistor element is connected in series between the transistors.
上記第4のトランジスタのドレイン電極と上記電源の間、この第4のトランジスタのドレイン電極と接地電位の間、上記第4のトランジスタのソース電極と上記電源又は接地電位の間に、上記第3のトランジスタによる利得可変特性を加味した上記第4のトランジスタによる信号減衰特性の利得可変制御電圧に対する総合利得可変特性の傾斜の直線性を補正するためのバイアス抵抗素子を接続したことを特徴とする上記請求項1記載の高周波利得可変増幅回路。A fourth transistor connected between the drain electrode of the first transistor and the gate electrode of the second transistor and operating as a signal attenuator is provided, and the gain obtained from the first and second transistors is variable. A variable gain control voltage applied to the gate electrode of the third transistor is also connected to the gate electrode of the fourth transistor;
Between the drain electrode of the fourth transistor and the power source, between the drain electrode of the fourth transistor and the ground potential, and between the source electrode of the fourth transistor and the power source or the ground potential, The bias resistor element for correcting the linearity of the slope of the overall variable gain characteristic with respect to the variable gain control voltage of the signal attenuation characteristic of the fourth transistor in consideration of the variable gain characteristic of the transistor is connected. Item 5. A high-frequency gain variable amplifier circuit according to Item 1.
上記入力端子と上記第1のトランジスタのゲート電極の間に、この入力端子から見て特定の周波数における入力反射特性を補正するためのインダクタ素子を接続したことを特徴とする上記請求項1乃至3記載の高周波利得可変増幅回路。A resistor element and a capacitor element are connected in series between the drain and gate electrodes of the first transistor and the second transistor, respectively, and the first transistor and the second transistor are configured as a broadband amplifier,
4. An inductor element for correcting an input reflection characteristic at a specific frequency when viewed from the input terminal is connected between the input terminal and the gate electrode of the first transistor. The high-frequency gain variable amplifier circuit described.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16634698A JP3886642B2 (en) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | High frequency gain variable amplifier circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16634698A JP3886642B2 (en) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | High frequency gain variable amplifier circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11346131A JPH11346131A (en) | 1999-12-14 |
| JP3886642B2 true JP3886642B2 (en) | 2007-02-28 |
Family
ID=15829681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16634698A Expired - Lifetime JP3886642B2 (en) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | High frequency gain variable amplifier circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3886642B2 (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4220694B2 (en) * | 2001-03-27 | 2009-02-04 | パナソニック株式会社 | High frequency variable gain amplifier |
| JP3934067B2 (en) | 2003-02-06 | 2007-06-20 | 松下電器産業株式会社 | Attenuator switch and mobile phone terminal device using the same |
| JP4616189B2 (en) * | 2006-02-15 | 2011-01-19 | Dxアンテナ株式会社 | High frequency amplifier |
| CN112994629B (en) * | 2021-02-09 | 2023-10-03 | 广州慧智微电子股份有限公司 | Bias circuit, device and equipment of power amplifier |
-
1998
- 1998-05-29 JP JP16634698A patent/JP3886642B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11346131A (en) | 1999-12-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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