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JP3889311B2 - Printed wiring board - Google Patents

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JP3889311B2
JP3889311B2 JP2002143609A JP2002143609A JP3889311B2 JP 3889311 B2 JP3889311 B2 JP 3889311B2 JP 2002143609 A JP2002143609 A JP 2002143609A JP 2002143609 A JP2002143609 A JP 2002143609A JP 3889311 B2 JP3889311 B2 JP 3889311B2
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    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
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    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、半導体チップ搭載パッケージ、特に小型多ピン化を図った構造のCSP(Chip Scale Package)を搭載するプリント配線板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図5は従来のパッケージ実装後のプリント配線板を示す断面図、図6はパッケージ実装後のプリント配線板のB部詳細を示す断面図であり、図において、1はケース、2は半導体チップが搭載されたパッケージ、3はプリント配線板となるマザー基板である。4はマザー基板側ランド、5はパッケージ側ランド、6はマザー基板側ランド4およびパッケージ側ランド5を接合する半田ボール、7はマザー基板3上に形成されたベタパターン、8はベタパターン7を被覆するソルダレジストである。
【0003】
次に動作について説明する。
図5および図6において、半導体チップが搭載されたパッケージ2は、半田ボール6によりマザー基板側ランド4およびパッケージ側ランド5を接合することによってマザー基板3上に配置される。
また、マザー基板3上において、パッケージ側ランド5が配置されない中央部は、信号配線領域として使用されるか、または、グランド領域として使用される。グランド領域として使用される場合には、マザー基板3上にベタパターン7が形成され、表面をソルダレジスト8によって被覆することが一般的である。また、マザー基板3の剛性向上を目的として、ベタパターン7を形成する場合も同様にソルダレジスト8によって被覆することが一般的である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
従来のプリント配線板は以上のように構成されているので、マザー基板3の剛性向上を目的として、マザー基板3上のパッケージ側ランド5が配置されない中央部にベタパターン7を形成する場合においてもソルダレジスト8によって被覆される。
図7はマザー基板の裏面から外力が加わった状態を示す説明図であり、従来のプリント配線板では、この図7に示すように、マザー基板3の裏面から外力Wが加わった場合、パッケージ2は、ケース1との間に挟まれて、マザー基板3が変形することになる。この変形を繰り返し受けることにより、最内周に設けられる半田ボール6に応力疲労が発生し、マザー基板側ランド4およびパッケージ側ランド5の接合部が破断してしまう課題があった。
なお、この接合部の破断を解決するために、マザー基板3を厚板化したり、マザー基板3およびパッケージ2間の隙間に樹脂を注入する等の手段も考えられたが、工程が多くなってしまう等、製造コストが増大してしまう課題があった。
【0005】
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、曲げ剛性を向上したプリント配線板を得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るプリント配線板は、開口されたソルダレジストのベタパターン上に施されたニッケル/金メッキを備えたものである。
【0007】
この発明に係るプリント配線板は、ニッケル/金メッキ上に施されたクリーム半田を備えたものである。
【0008】
この発明に係るプリント配線板は、開口されたソルダレジストのベタパターン上に施された半田コートを備えたものである。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の一形態を説明する。
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1によるプリント配線板を示す平面図、図2はパッケージ実装後のプリント配線板のAA矢視部詳細を示す断面図であり、図において、2は半導体チップが搭載されたパッケージ(半導体チップ搭載パッケージ)、3はプリント配線板となるマザー基板である。4はマザー基板側ランド(半田付けランド)、6はマザー基板側ランド4およびパッケージ2側を接合する半田ボール、7はマザー基板側ランド4が配置されないマザー基板3上に形成されたベタパターン、11はベタパターン7を被覆すると共に、上部が開口されたソルダレジスト、12は開口されたソルダレジスト11のベタパターン7に施されたNi/Auメッキ(ニッケル/金メッキ)である。13は絶縁基板である。
【0010】
次に動作について説明する。
図1において、マザー基板側ランド4は、パターン形成した導体パターンを、ソルダレジスト11の開口によって表面に露出させる。絶縁基板13としては、ガラスエポキシ等の樹脂基板を用いる。ソルダレジスト11としては、液体ソルダレジストまたは熱硬化型等を用いる。マザー基板側ランド4は、銅箔の祖面化表面のアンカー効果によって絶縁基板13に接着している。
マザー基板側ランド4は、表面の酸化腐食防止および半田付けの媒体として、Ni/Auメッキ12の処理、またはフラックス塗布が施される。
【0011】
半導体チップが搭載されたパッケージ2のマザー基板3上への実装は、図2に示すように、マザー基板側ランド4上に、例えば、クリーム半田を塗布した後、半田ボール6が接触するようにパッケージ2を載置する。次いで、これを加熱溶融炉に入れてクリーム半田と半田ボール6とを溶融する。これにより、マザー基板側ランド4上に、半田ボール6が接合される。
また、マザー基板3上において、パッケージ2の接続端子が存在せず、マザー基板側ランド4が配置されない中央部に、ベタパターン7をマザー基板側ランド4と同一形成にて設ける。また、ソルダレジスト11によって、ベタパターン7を被覆すると共に、上部を開口し、開口されたソルダレジスト11のベタパターン7にNi/Auメッキ12を施す。
【0012】
以上のように、この実施の形態1によれば、ソルダレジスト11に比較して硬度の高いNi(ニッケル)がベタパターン7上に施されるので、マザー基板3の曲げ剛性を向上させることができる。これにより、マザー基板3の裏面からの外力に対してマザー基板3の曲がり量が抑制され、パッケージ2の最内周に設けられる半田ボール6の発生応力を低減することができ、半田ボール6による接合信頼性を向上させることができる。
また、絶縁基板13上に、ベタパターン7とマザー基板側ランド4とを同一形成にて設け、次いでソルダレジスト11を設け、さらにベタパターン7およびマザー基板側ランド4上にNi/Auメッキ12を一括して施すことにより、製造工程が増えることなく、製造コストの増大を抑えることができる。
なお、ソルダレジスト11から露出したベタパターン7の表面処理として、Ni/Auメッキ12とフラックス塗布とを選択的に施す場合においても例外ではない。
【0013】
実施の形態2.
図3はこの発明の実施の形態2によるパッケージ実装後のプリント配線板の詳細を示す断面図であり、図において、14はパッケージ2の実装時に、マザー基板側ランド4上およびNi/Auメッキ12上に施されたクリーム半田である。
その他の構成については、図2と同一である。
【0014】
次に動作について説明する。
上記実施の形態1では、ベタパターン7の表面処理として、Ni/Auメッキ12を施したものを示したが、この実施の形態2では、パッケージ2の実装時に、マザー基板側ランド4上にクリーム半田を供給すると共に、Ni/Auメッキ12上にクリーム半田を供給し、溶融させるものである。
【0015】
以上のように、この実施の形態2によれば、ベタパターン7上にNi/Auメッキ12を施し、さらに、クリーム半田を溶融させることにより、さらなる剛性の向上を図ることができる。
また、このクリーム半田の供給および溶融は、マザー基板側ランド4上と一括して処理できるので、製造工程が増えることなく、製造コストの増大を抑えることができる。
【0016】
実施の形態3.
図4はこの発明の実施の形態3によるパッケージ実装後のプリント配線板の詳細を示す断面図であり、図において、15は開口されたソルダレジスト11のベタパターン7上およびマザー基板側ランド4上に施された半田コートである。
その他の構成については、図2と同一である。
【0017】
次に動作について説明する。
上記実施の形態1では、ベタパターン7およびマザー基板側ランド4上に、Ni/Auメッキ12を施したものを示したが、この実施の形態3では、そのNi/Auメッキ12の代わりに半田コート15を施したものである。
【0018】
以上のように、この実施の形態3によれば、ソルダレジスト11に比較して硬度の高い半田コート15がベタパターン7上に施されるので、マザー基板3の曲げ剛性を向上させることができる。これにより、マザー基板3の裏面からの外力に対してマザー基板3の曲がり量が抑制され、パッケージ2の最内周に設けられる半田ボール6の発生応力を低減することができ、半田ボール6による接合信頼性を向上させることができる。
また、絶縁基板13上に、ベタパターン7とマザー基板側ランド4とを同一形成にて設け、次いでソルダレジスト11を設け、さらにベタパターン7およびマザー基板側ランド4上に半田コート15を一括して施すことにより、製造工程が増えることなく、製造コストの増大を抑えることができる。
【0019】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、開口されたソルダレジストのベタパターン上に施されたニッケル/金メッキを備えるように構成したので、ニッケル/金メッキを施すことにより、ソルダレジストと比較して硬質のニッケルが表面に存在することになり、曲げ剛性を得ることができる。したがって、半導体チップ搭載パッケージを半田ボールでプリント配線板に接続する場合において、プリント配線板側の半田付けランドが配置されない中央部にこの構造を適用することで、この部分へのプリント配線板の裏面からの外力に対して曲げ剛性が上昇し、近傍の接合部への応力緩和を実現することができる効果がある。
【0020】
この発明によれば、ニッケル/金メッキ上に施されたクリーム半田を備えるように構成したので、ニッケル/金メッキ上にクリーム半田を施すことで、外力に対してさらに曲げ剛性が上昇し、近傍の接合部へのさらなる応力緩和を実現することができる。
また、クリーム半田のニッケル/金メッキ上への供給は、半田付けランドへの供給時に行われるので、製造工程が増えることなく、したがって、製造コストの増大を抑えることができる効果がある。
【0021】
この発明によれば、開口されたソルダレジストのベタパターン上に施された半田コートを備えるように構成したので、半田コートを施すことにより、ソルダレジストと比較して硬質の半田コートが表面に存在することになり、曲げ剛性を得ることができる。したがって、半導体チップ搭載パッケージを半田ボールでプリント配線板に接続する場合において、プリント配線板側の半田付けランドが配置されない中央部にこの構造を適用することで、この部分へのプリント配線板の裏面からの外力に対して曲げ剛性が上昇し、近傍の接合部への応力緩和を実現することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1によるプリント配線板を示す平面図である。
【図2】 パッケージ実装後のプリント配線板のAA矢視部詳細を示す断面図である。
【図3】 この発明の実施の形態2によるパッケージ実装後のプリント配線板の詳細を示す断面図である。
【図4】 この発明の実施の形態3によるパッケージ実装後のプリント配線板の詳細を示す断面図である。
【図5】 従来のパッケージ実装後のプリント配線板を示す断面図である。
【図6】 パッケージ実装後のプリント配線板のB部詳細を示す断面図である。
【図7】 マザー基板の裏面から外力が加わった状態を示す説明図である。
【符号の説明】
2 パッケージ(半導体チップ搭載パッケージ)、3 マザー基板(プリント配線板)、4 マザー基板側ランド(半田付けランド)、6 半田ボール、7 ベタパターン、11 ソルダレジスト、12 Ni/Auメッキ(ニッケル/金メッキ)、13 絶縁基板、14 クリーム半田、15 半田コート。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a semiconductor chip mounting package, and more particularly, to a printed wiring board on which a CSP (Chip Scale Package) having a structure with a small size and a large number of pins is mounted.
[0002]
[Prior art]
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a conventional printed wiring board after package mounting. FIG. 6 is a cross-sectional view showing details of a B portion of the printed wiring board after package mounting. In the figure, 1 is a case and 2 is a semiconductor chip. The package 3 is a mother board that becomes a printed wiring board. 4 is a mother substrate side land, 5 is a package side land, 6 is a solder ball for joining the mother substrate side land 4 and the package side land 5, 7 is a solid pattern formed on the mother substrate 3, and 8 is a solid pattern 7. Solder resist to be coated.
[0003]
Next, the operation will be described.
5 and 6, the package 2 on which the semiconductor chip is mounted is arranged on the mother substrate 3 by joining the mother substrate side land 4 and the package side land 5 with solder balls 6.
On the mother board 3, the central portion where the package-side land 5 is not disposed is used as a signal wiring area or a ground area. When used as a ground region, a solid pattern 7 is generally formed on the mother substrate 3 and the surface is generally covered with a solder resist 8. For the purpose of improving the rigidity of the mother substrate 3, the solid pattern 7 is generally covered with the solder resist 8 in the same manner.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Since the conventional printed wiring board is configured as described above, for the purpose of improving the rigidity of the mother board 3, even when the solid pattern 7 is formed in the center portion where the package-side land 5 on the mother board 3 is not disposed. Covered with solder resist 8.
FIG. 7 is an explanatory view showing a state in which an external force is applied from the back surface of the mother board. In the conventional printed wiring board, when an external force W is applied from the back surface of the mother board 3, as shown in FIG. Is sandwiched between the case 1 and the mother substrate 3 is deformed. By repeatedly receiving this deformation, there is a problem that stress fatigue occurs in the solder ball 6 provided on the innermost periphery, and the joint portion between the mother substrate side land 4 and the package side land 5 is broken.
In order to solve the breakage of the joint portion, means such as increasing the thickness of the mother substrate 3 or injecting resin into the gap between the mother substrate 3 and the package 2 have been considered, but the number of steps is increased. For example, the manufacturing cost increases.
[0005]
The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to obtain a printed wiring board with improved bending rigidity.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The printed wiring board according to the present invention is provided with nickel / gold plating applied on the solid pattern of the opened solder resist.
[0007]
The printed wiring board according to the present invention is provided with cream solder applied on nickel / gold plating .
[0008]
The printed wiring board according to the present invention is provided with a solder coat applied on the solid pattern of the opened solder resist.
[0009]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described below.
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a plan view showing a printed wiring board according to Embodiment 1 of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view showing details of the printed wiring board after mounting the package, taken along the line AA, and in FIG. A package (semiconductor chip mounting package) 3 is a mother substrate that becomes a printed wiring board. 4 is a mother board side land (soldering land), 6 is a solder ball for joining the mother board side land 4 and the package 2 side, 7 is a solid pattern formed on the mother board 3 where the mother board side land 4 is not disposed, 11 is a solder resist that covers the solid pattern 7 and has an upper opening, and 12 is a Ni / Au plating (nickel / gold plating) applied to the solid pattern 7 of the opened solder resist 11. Reference numeral 13 denotes an insulating substrate.
[0010]
Next, the operation will be described.
In FIG. 1, the mother substrate side land 4 exposes the patterned conductor pattern to the surface through the opening of the solder resist 11. As the insulating substrate 13, a resin substrate such as glass epoxy is used. As the solder resist 11, a liquid solder resist or a thermosetting type is used. The mother substrate-side land 4 is bonded to the insulating substrate 13 by the anchor effect of the surface of the copper foil.
The mother substrate side land 4 is subjected to Ni / Au plating 12 treatment or flux coating as a medium for preventing oxidative corrosion of the surface and soldering.
[0011]
As shown in FIG. 2, the package 2 on which the semiconductor chip is mounted is mounted on the mother substrate 3 such that, for example, cream solder is applied onto the land 4 on the mother substrate, and then the solder balls 6 come into contact with each other. The package 2 is placed. Next, this is put in a heating and melting furnace to melt the cream solder and the solder balls 6. As a result, the solder balls 6 are bonded onto the mother substrate side lands 4.
Further, on the mother substrate 3, the solid pattern 7 is provided in the same manner as the mother substrate side land 4 in the central portion where the connection terminal of the package 2 does not exist and the mother substrate side land 4 is not disposed. Further, the solid pattern 7 is covered with the solder resist 11 and the upper portion is opened, and the Ni / Au plating 12 is applied to the solid pattern 7 of the opened solder resist 11.
[0012]
As described above, according to the first embodiment, since Ni (nickel) having a higher hardness than that of the solder resist 11 is applied onto the solid pattern 7, the bending rigidity of the mother substrate 3 can be improved. it can. Thereby, the bending amount of the mother substrate 3 is suppressed with respect to the external force from the back surface of the mother substrate 3, and the generated stress of the solder ball 6 provided on the innermost periphery of the package 2 can be reduced. Bonding reliability can be improved.
Further, the solid pattern 7 and the mother substrate side land 4 are provided in the same formation on the insulating substrate 13, then the solder resist 11 is provided, and the Ni / Au plating 12 is further provided on the solid pattern 7 and the mother substrate side land 4. By applying them collectively, an increase in manufacturing cost can be suppressed without increasing manufacturing steps.
The surface treatment of the solid pattern 7 exposed from the solder resist 11 is no exception even when Ni / Au plating 12 and flux coating are selectively performed.
[0013]
Embodiment 2. FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing details of the printed wiring board after package mounting according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 3, reference numeral 14 denotes a pattern on the mother substrate side land 4 and Ni / Au plating 12 when the package 2 is mounted. It is cream solder applied on the top.
Other configurations are the same as those in FIG.
[0014]
Next, the operation will be described.
In the first embodiment, the surface treatment of the solid pattern 7 is performed with Ni / Au plating 12. However, in the second embodiment, when the package 2 is mounted, the cream is placed on the mother substrate side land 4. In addition to supplying solder, cream solder is supplied onto the Ni / Au plating 12 and melted.
[0015]
As described above, according to the second embodiment, the Ni / Au plating 12 is applied on the solid pattern 7 and the cream solder is melted to further improve the rigidity.
Further, since the supply and melting of the cream solder can be processed together with the mother substrate side land 4, the increase in the manufacturing cost can be suppressed without increasing the manufacturing process.
[0016]
Embodiment 3 FIG.
4 is a cross-sectional view showing details of the printed wiring board after package mounting according to the third embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 15 denotes a solid pattern 7 of the opened solder resist 11 and a land 4 on the mother substrate side. This is a solder coat applied to
Other configurations are the same as those in FIG.
[0017]
Next, the operation will be described.
In the first embodiment, the Ni / Au plating 12 is applied on the solid pattern 7 and the mother substrate side land 4. In the third embodiment, solder is used instead of the Ni / Au plating 12. A coat 15 is applied.
[0018]
As described above, according to the third embodiment, since the solder coat 15 having a higher hardness than the solder resist 11 is applied on the solid pattern 7, the bending rigidity of the mother substrate 3 can be improved. . Thereby, the bending amount of the mother substrate 3 is suppressed with respect to the external force from the back surface of the mother substrate 3, and the generated stress of the solder ball 6 provided on the innermost periphery of the package 2 can be reduced. Bonding reliability can be improved.
Further, the solid pattern 7 and the mother substrate side land 4 are provided in the same formation on the insulating substrate 13, then the solder resist 11 is provided, and the solder coat 15 is collectively applied to the solid pattern 7 and the mother substrate side land 4. As a result, the increase in manufacturing cost can be suppressed without increasing the number of manufacturing steps.
[0019]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, since the nickel / gold plating provided on the solid pattern of the opened solder resist is provided, it is harder than the solder resist by applying the nickel / gold plating. Therefore, the bending rigidity can be obtained. Therefore, when connecting a semiconductor chip mounting package to a printed wiring board with solder balls, this structure is applied to the central portion where the soldering land on the printed wiring board side is not arranged, so that the back surface of the printed wiring board to this portion As a result, the bending rigidity is increased with respect to the external force, and the stress relaxation to the nearby joint can be realized.
[0020]
According to the present invention, since the cream solder applied on the nickel / gold plating is provided, the bending rigidity is further increased with respect to the external force by applying the cream solder on the nickel / gold plating. Further stress relaxation to the part can be realized.
Further, the supply of the cream solder onto the nickel / gold plating is performed at the time of supply to the soldering land, so that there is an effect that the manufacturing process is not increased, and therefore the increase in the manufacturing cost can be suppressed.
[0021]
According to the present invention, since the solder coat applied on the solid pattern of the opened solder resist is provided, a hard solder coat is present on the surface as compared with the solder resist by applying the solder coat. Therefore, bending rigidity can be obtained. Therefore, when connecting a semiconductor chip mounting package to a printed wiring board with solder balls, this structure is applied to the central portion where the soldering land on the printed wiring board side is not arranged, so that the back surface of the printed wiring board to this portion As a result, the bending rigidity is increased with respect to the external force, and the stress relaxation to the nearby joint can be realized.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing a printed wiring board according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view showing details of the printed circuit board after mounting the package, taken along the line AA.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing details of a printed wiring board after package mounting according to Embodiment 2 of the present invention;
FIG. 4 is a sectional view showing details of a printed wiring board after package mounting according to a third embodiment of the present invention;
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a printed wiring board after a conventional package mounting.
FIG. 6 is a cross-sectional view showing details of a B portion of the printed wiring board after package mounting.
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a state in which an external force is applied from the back surface of the mother board.
[Explanation of symbols]
2 package (semiconductor chip mounting package), 3 mother board (printed wiring board), 4 mother board side land (soldering land), 6 solder ball, 7 solid pattern, 11 solder resist, 12 Ni / Au plating (nickel / gold plating) ), 13 insulating substrate, 14 cream solder, 15 solder coat.

Claims (3)

半導体チップ搭載パッケージが配置され、半田付けランドが配置されない中央部の絶縁基板上に形成されたベタパターンと、
上記ベタパターンを被覆すると共に、上部が開口されたソルダレジストと、
上記開口されたソルダレジストのベタパターン上に施されたニッケル/金メッキとを備えたプリント配線板。
A solid pattern formed on the insulating substrate in the center where the semiconductor chip mounting package is disposed and the soldering land is not disposed;
A solder resist that covers the solid pattern and is opened at the top;
The printed wiring board provided with the nickel / gold plating given on the solid pattern of the said soldering resist opened.
ニッケル/金メッキ上に施されたクリーム半田を備えたことを特徴とするプリント配線板。A printed wiring board comprising a cream solder applied on nickel / gold plating . 半導体チップ搭載パッケージが配置され、半田付けランドが配置されない中央部の絶縁基板上に形成されたベタパターンと、
上記ベタパターンを被覆すると共に、上部が開口されたソルダレジストと、
上記開口されたソルダレジストのベタパターン上に施された半田コートとを備えたプリント配線板。
A solid pattern formed on the insulating substrate in the center where the semiconductor chip mounting package is disposed and the soldering land is not disposed;
A solder resist that covers the solid pattern and is opened at the top;
A printed wiring board comprising: a solder coat applied on the solid pattern of the solder resist that is opened.
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